KR20150064094A - 분석 물질들을 검출하는 방법 - Google Patents

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KR20150064094A
KR20150064094A KR1020157010119A KR20157010119A KR20150064094A KR 20150064094 A KR20150064094 A KR 20150064094A KR 1020157010119 A KR1020157010119 A KR 1020157010119A KR 20157010119 A KR20157010119 A KR 20157010119A KR 20150064094 A KR20150064094 A KR 20150064094A
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뵤른 크리스텐슨
스벤 호프만
토마스 모리츠
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메트롬 아게
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Abstract

유량 분석 및 크로마토그래피에서 분석 물질들을 검출하는 방법이 설명된다. 이 방법은 다음의 단계들, 즉 a) 하나 이상의 광원, 광 도파관, 하나 이상의 분석 물질을 갖는 시료를 함유한 컨테이너, 및 하나 이상의 검출기를 제공하는 단계; b) 하나 또는 다양한 규정된 파장들 및/또는 파장 범위들의 광에 시료를 함유한 컨테이너를 노출시키는 단계; 및 c) 하나의 또는 다양한 규정된 파장들 및/또는 파장 범위들의 광에 시료 컨테이너가 노출된 후 하나 이상의 검출기를 통해 결과적인 광파들을 검출하는 단계를 포함하고, 여기서 광파들이 시료 컨테이너에 진입하기 전에 비연성의 또는 연성 없이 배열된 광 도파관을 통해 광파들을 전송함으로써 시료가 조사된다. 상기 비연성의 또는 연성 없이 배열된 광 도파관은 간섭에 취약하지 않으며, 많은 시간을 요구하지 않고 순차적 또는 동시에 하나 이상의 파장을 이용한 선택적 조사를 가능하게 한다.

Description

분석 물질들을 검출하는 방법{METHOD FOR DETECTING ANALYTES}
본 발명은 크로마토그래피(chromatography), 특히 이온 및 액체 크로마토그래피에서 분석 물질(analyte)들을 검출하는 방법에 관한 것으로서, 이 방법은 비연성(non-flexible) 광 도파관들을 통한 광파들의 전송을 포함한다. 더구나, 본 발명은 크로마토그래피, 특히 이온 및 플로우 크로마토그래피에서, 그리고 연속적 플로우 분석(continuous flow analysis, CFA), 특히 세그먼트된 플로우 분석(segmented flow analysis, SFA), 플로우 주입 분석(flow injection analysis, FIA), 및 순차적 주입 분석(sequential injection analysis, SIA)에서 분석 물질들을 검출하는 경우 광파들을 전송하기 위한 비연성 광 도파관들의 사용에 관한 것이다.
광파들의 도움으로 분석 물질을 검출하기 위한 종래 기술에 공지된 방법들은 광파들을 전송하기 위해 상이한 프로세스들을 이용한다. 종래의 방법들에서, 스펙트럼의 넓은 영역을 커버하는 광원들이 이용된다. 개별 파장들 또는 파장 영역들을 이용하여 샘플들을 선택적으로 조사(irradiating)하기 위한 간섭 필터들이 이용된다. 이들 방법의 단점은 동시에 복수의 규정된 파장들 또는 좁은 파장 영역들에서 조사하는 프로세스를 수행할 수 없다는 사실로 구성된다. 게다가, 샘플들을 유동시키는데 있어서 필터 변경은 너무 시간 소모적이다.
제US2011/0188042A1호는 샘플들의 스펙트럼 분석법, 특히 흡광 및 형광 분광법(absorption and fluorescence spectroscopy)을 설명한다. 이러한 방법에서, 개별 파장들을 갖는 발광 다이오드들이 광원들로서 사용되는데, 광원들의 방출된 광파들은 함께 다발화된 다양한 개별적인 광섬유 케이블들을 통해 플로우 셀일 수도 있는 샘플 셀로 가이드된다. 그 후, 전송된 광 또는 형광이 하나 또는 복수의 포토다이오드에 의해 획득된다.
이러한 셋업은 특히 기계적 영향들과의 관계에서 비교적 하자가 일어나기 쉽다고 알려져 있다.
Betschon 등의 “Novel Optical Titration Sensor based on Integrated Planar Polymer Waveguides,” SENSOR+TEST Conferences 2011, OPTO Proceedings, 4.2는 적정(titration)에서 사용되고 인쇄 회로 기판에 병합되어 있는 평면 광 도파관(planar optical waveguide)을 포함하는 광학 센서를 설명하고 있다. 검출기뿐 아니라 광원들, 광 도파관은 유리 막대 내에 병합된 인쇄 회로 기판 상에 위치한다. 적정 중에, 유리 막대는 적정 용기에 담겨 있는데, 이 적정 용기에는 분석 물질들이 위치한다. 이 디바이스는 예를 들어, 액체 크로마토그래피 또는 연속적 플로우 분석(CFA)의 경우와 같이 유동중인 용액들 내에서 분석 물질들을 측정하는 문제를 해결하지 못한다.
그러므로, 본 발명은 종래 기술의 단점들을 회피할 목적에 기초하는데, 특히 연속적 플로우 분석(CFA) 및 크로마토그래피(구체적으로, 액체 크로마토그래피)에서 분석 물질들에 대한 검출 방법을 개발할 목적에 기초하며, 이 방법은 동시에, 선택적으로, 시간 소모 없이 하나 이상의 파장의 광으로 샘플들을 조사하는 것을 가능하게 한다. 게다가, 이 방법은 예를 들어, 기계적 영향들에 의한 오류들에 쉽게 영향을 받지 않아야 하고, 소량의 분석 물질들을 검출할 정도로 충분히 민감해야 한다.
본 발명의 제1 양태는 연속적 플로우 분석(CFA) 및 크로마토그래피에서 분석 물질들을 검출하는 방법에 관한 것이며,
a) 하나 이상의 광원, 광 도파관, 하나 이상의 분석 물질을 갖는 샘플을 함유한 컨테이너, 및 하나 이상의 검출기를 제공하는 단계,
b) 하나의 파장 또는 상이한 규정된 파장들 및/또는 파장 영역들의 광에 샘플을 함유한 컨테이너를 노출시키는 단계, 및
c) 하나의 파장 또는 상이한 규정된 파장들 및/또는 파장 영역들의 광에 샘플 컨테이너를 노출시킨 후 하나 이상의 검출기를 통해 결과적인 광파들을 획득하는 단계
를 포함하고, 단일의, 가능하게는 분기된, 비연성 광 도파관을 통한 샘플 컨테이너 내로의 진입 이전에 전송중에 있는 광파들에 의해 샘플이 조사된다.
전술된 방법은 특히, 연속적 플로우 분석(CFA) 및 이온 및 플로우 크로마토그래피에 적용될 수 있다. 분석 물질들은 가시광, UV, IR, 또는 NIR 광 스펙트럼 범위들 중 적어도 하나로부터 파장들 또는 파장 영역들을 흡수하거나, 이에 대한 결과로서 형광을 내거나, 이러한 광들을 반사시키는 발색단(chromophore)들 및/또는 이온들을 함유하는 화합물일 수 있다.
제공된 광원 또는 광원들은 텅스텐 램프들, 레이저들, 및/또는 발광 다이오드들일 수 있다. 특히, 레이저들 및 발광 다이오드들이 선호된다. 레이저들 및 발광 다이오드들은 가시광, UV, IR 및 NIR 영역으로부터 규정된 파장들 또는 좁게 규정된 파장 영역들을 갖는 광을 방출하는데, 이 광은 광 도파관을 통해 가이드된다. 후속으로, 적어도 하나의 분해 물질을 갖는 액체 샘플을 함유한 샘플 컨테이너가 하나의 파장 또는 상이하게 규정된 파장들 및/또는 파장 영역들의 이러한 광에 노출된다. 샘플은 단 하나의 파장 또는 동시에 복수의 파장들 또는 파장 영역들의 광으로 선택적으로 조사될 수 있는데, 그 이유는 광원들은 서로 독립적으로 스위칭 온 및 오프될 수 있기 때문이다.
컨테이너는 특히, 바람직하게 10μl/min과 10ml/min 사이의 유량(flow rate)으로 액체 샘플이 반복해서 흘러 들어가고 흘러 나가는 인입구(inlet)와 배출구(outlet) 모두를 포함하는 플로우 셀이다. 컨테이너는 광을 진입 및 진출시키기 위한 진입 윈도우 및 진출 윈도우를 포함하는데, 특히 규정된 파장 영역들에 대해 투명해지도록 구성된 유리, 플라스틱, 또는 석영으로 이루어진다.
적어도 하나의 분석 물질을 갖는 액체 샘플을 함유한 샘플 컨테이너가 광원으로부터의 광(이 광은 광 도파관에 의해 전송됨)에 의해 조사된 이후, 결과적인 광은 전송 광, 반사 광, 또는 형광일 수 있다. 광은 컨테이너를 통과한 후, 반사된 후, 또는 형광에 의해 방출된 후, 하나 이상의 검출기에 의해 획득된다.
여기서, 검출기가 결과적인 광파들을 획득하는 측정 인터벌은, 바람직하게는, 광원의 스위칭 시간 중에 일어나지만, 샘플의 조사의 시작 이후 개시된다. 하나의 가능한 실시예에서, 방사 인터벌의 시간의 절반이 경과할 때에만 측정이 개시된다. 측정 인터벌은 또한 방사 인터벌의 종료시 종료된다.
추가적인 방법 단계에서, 방사 인터벌의 종료 후에 신호 세기의 추가 측정이 수행된다. 조사 동안에 착수되지 않는 이러한 제2 측정은, 이러한 방식에서, 결과를 왜곡시키는 백그라운드 신호들을 제거하기 위해, 조사 중에 측정된 세기들로부터, 구축된 드롭 오프 신호 세기들이 차감되도록 하는 역할을 한다.
광파 신호들의 구축 이후의 추가적인 방법 단계는 수학적 평가 방법을 포함하는데, 이 방법에 의해 순차적 또는 동시에 방출된 복수의 파장들에 대한 응답을 구성하는 획득 신호들이 평가된다.
활용된 검출기 또는 검출기들은 특히, 진공 포토 셀, 방사 서머커플(radiation thermocouple), 광전자 증배관(photomultiplier), 및/또는 포토다이오드이다. 특히 바람직하게, 포토다이오드, 특히 CCD 및 CMS 센서가 이용된다.
특히, 본 발명에 따른 광 도파관은 인쇄 회로 기판 상에 부착되거나 또는 인쇄 회로 기판 내에 병합될 수 있다. 이것은, 광 도파관이 광 도파관 자신, 또는 광 도파관이 부착되거나 병합되어 있는 인쇄 회로 기판을 포함하는 조합 상에서, 유연하지 않고 바람직하게 평면이라는 사실로 구별된다. 본 문맥에서, 비연성(non-flexible)은 광 도파관 또는 인쇄 회로 기판을 구성하는 광 도파관이 광의 전송 중에 손실 또는 회복 불가능한 손상을 초래하는 구부러짐이 가능할 만큼 충분히 잘 휘어지지 않는다는 것을 의미한다. 이러한 특성은 기계적 영향들과 관련된 하자에 대한 취약성을 제거한다. 이에 따라, 광섬유의 직경의 200배 이상의 반경으로 광 섬유를 구부리는 것은 전송 손실들을 일으킨다. 본 발명에 범위 내에서 발견한 것은 광 도파관의 경직된 배열 또는 고착화가 본 발명에 따라 센서의 감도 및 재현도(reproducibility)를 개선한다는 것이다. 회복 불가능한 손상은 광 섬유의 직경의 600배 이상의 반경으로 광 섬유를 구부릴 때 일어난다.
본 발명의 범위 내에서, 광 도파관이 부착되거나 병합되어 있는 인쇄 회로 기판들은 특히, 광 섬유 조직(예를 들어, FR4)을 갖는 에폭시 수지로부터 제조될 수 있고, 600N/mm 내지 200N/mm, 바람직하게 500N/mm 내지 300N/mm의 영역의 횡 굽힘 강도(transverse flexural strength)와, 600N/mm 내지 200N/mm, 바람직하게 500N/mm 내지 300N/mm의 영역의 종 굽힘 강도(longitudinal flexural strength)를 갖는 것이 바람직하다.
광 도파관들은 또한 전술된 굽힘 강도들을 갖는 기판들 상에 적층된 폴리이미드 인쇄 회로 기판들 내에 병합될 수 있다.
광학 도파관은 단일의 가이드이며, 이 가이드를 통해 상이한 파장을 갖는 상이한 광원들로부터의 광파들이 가이드된다. 옵션으로서, 광 도파관은 분기될 수 있는데, 즉 광파들은 광 도파관의 길이를 따라 상이한 지점들에서 광 도파관에 진입한다.
추가적으로, 하나 이상의 광원, 특히 발광 다이오드들이 인쇄 회로 기판 상에 부착되거나, 특히 인쇄 회로 기판 내에 병합될 수 있다.
여기에, 광 도파관이 병합되어 있는 인쇄 회로 기판은 다음과 같이 구성될 수 있는데, 즉 광학 신호를 평가하기 위한 전자 부품들이 조립되어 배치된 인쇄 회로 기판은 최하부 층을 구성한다. 소위 광학 층, 즉 광 도파관 셋업이 최하부 층 상에 배열된다. 광 도파관은 백킹 층(backing layer), 코어 층(core layer), 및 코팅 층(coating layer)을 포함한다. 코어 층은 도광 구조체(light-guiding structure)들을 포함한다.
3개의 모든 층들이 광학적으로 투명한 UV 경화 중합체 물질들로부터 제조될 수 있는데, 코어 층의 중합체는 백킹 층 및 코팅 층의 중합체와 상이하며, 백킹 층 및 코팅 층은 각자 상이하거나 동일할 수 있다. 그 중에서도, 중합체 층들을 위한 물질로서 폴리카보네이트(polycarbonate) 및 PMMA가 사용된다.
코어 층의 가시 광에 대한 굴절률은, 백킹 층 및 코팅 층의 굴절률들보다 높으며, 바람직하게 1.50와 1.60 사이에 있다. 백킹 층 및 코팅 층에 대한 통상의 굴절률들은 1.47과 1.57 사이에 있다.
통상적으로, 백킹 층 및 코팅 층은 각각 10μm 내지 500μm , 바람직하게 50μm 와 200μm 사이의 층 두께를 갖는다. 코어 층은 1μm 와 500μm 사이의 층 두께를 가질 수 있다.
통상적인 광 도파관들을 생성하는 방법이 예를 들어, 특허 출원 제EP 2 219 059 A2호에 설명되어 있다.
코어 층의 굴절률에 정합하는 접착제의 도움으로, 하나 이상의 LED 광원들이 인쇄 회로 기판의 상측 상에 주조되고, 이러한 LED 광원들에 의해 방출된 방사가 광 도파관에 결합될 수 있도록 코어 층과 관련지어 배열된다. 여기에서, 광 결합을 위한 부품들을 이용하여 결합이 일어날 수 있는데, 그 부품의 생산은 예를 들어, 제EP 1 715 368 B1호에 설명된다. 특히 바람직하게, 인쇄 회로 기판은 복수의 광원의 광이 결합되는 단 하나의 광 도파관을 포함한다.
광 도파관으로부터의 광의 배출 표면에 대하여 70°와 110° 사이의 각도, 바람직하게 90°의 각도로 플로우 셀이 배열된다. 여기에서, 반드시 결합 소자에 의해 광을 결합할 필요가 있는 것은 아니다. 오히려, 광 도파관은 플로우 셀의 측벽에 정확히 맞도록 정합된다. 또한, 접착제와 같은 접합 물질들이 플로우 셀과 광 도파관 사이에 요구되지 않는다. 이러한 셋업은 결합 소자들로서 복잡하고 값비싼 렌즈 시스템들을 포함하는 종래의 포토다이오드 어레이 검출기들과는 구별된다.
샘플의 조사 이후의 결과적인 광파들을 획득한 검출기가 마찬가지로 인쇄 회로 기판 상에 배열될 수 있다.
광 도파관 또는 광 도파관들 및 광원 또는 광원들을 포함하는 인쇄 회로 기판은 특히 바람직한 실시예에서 광에 대해 불투명하고 및/또는 열 전도성의 덮개에 의해 둘러싸여진다. 광에 대해 불투명하고 및/또는 열 전도성의 덮개는 광원들의 전력에 악영향을 미치지 않기 위해 온도 변화들에 대한 보호재로서 역할을 하고, 산란 광으로부터의 쉴드재로서 역할을 한다. 바람직하게, 금속 하우징, 특히 알루미늄 하우징이 덮개용으로서 사용된다. 하우징에는 냉방, 특히 펠티어 냉방(Peltier cooling)이 추가적으로 제공될 수 있다.
더구나, 본 발명은 또한 연속적 플로우 분석(continuous flow analysis, CFA) 및 크로마토그래피, 특히 이온 및/또는 액체 크로마토그래피에서 분석 물질의 검출 중에 광파들을 전송하기 위한 비연성 광 도파관의 사용을 포함한다. 분석 물질들 및 전송된 광파들의 광 도파관, 파장들, 또는 파장 영역들은 전술된 바와 같다. 본 발명에 따른 셋업의 감도 및 재현도는 놀랍게도 포토미터(photometer)와 같은 정지형 시스템에서의 사용뿐 아니라 플로우 셀에서의 사용을 허락한다.
본 발명은 예시적인 실시예들 및 도면들에 기반하여 상세하게 후술될 것이며, 본 발명의 요지는 바람직한 실시예로 제한하려는 것은 아니다.
도 1: 광 도파관, 광원 및 플로우 셀이 부착되어 있거나 또는 병합되어 있는 인쇄 회로 기판의 셋업의 계략적 예시.
도 2a: 분기되지 않은 광 도파관의 개략적 예시.
도 2b: 분기된 광 도파관의 개략적 예시.
도 3: LED 광원의 방사 사이클.
도 4: 광 검출기의 측정 사이클.
도 5: 복수의 LED 광원들의 도움으로 플로우 주입 분석에서 샘플을 조사(irradiating)할 때의 측정 사이클의 도면.
도 6: 크롬 디페닐 카르바졸(chromium diphenylcarbazole) 용액의 크로마토그램.
도 1은 인쇄 회로 기판의 개략적 셋업을 도시한다. 광 신호를 평가하기 위한 전자 부품들이 조립되어 있는 인쇄 회로 기판은 최하부 층(7)을 구성한다. 소위 광학 층, 즉 광 도파관 셋업이 최하부 층(7) 상에 배열된다. 광 도파관은 백킹 층(backing layer; 6)을 포함하고, 중심에 코어 층(core layer; 5)을 포함하고, 상부에 코팅 층(coating layer)을 포함한다. 코어 층(5)은 도광 구조체들을 포함한다. 코어 층의 굴절률에 정합하는 접착제(1)의 도움으로, 하나 이상의 LED 광원들(2)은, 인쇄 회로 기판의 상측 상에 주조되고, 이러한 LED 광원들에 의해 방출된 방사가 광 도파관에 결합될 수 있도록 코어 층과 관련지어 배열된다. 여기에서, 광 결합을 위한 부품을 이용하여 결합이 일어날 수 있는데, 그 부품의 생산은 예를 들어, EP 1 715 368 B1에 설명되어 있다. 인쇄 회로 기판은 단 하나의 광 도파관을 포함하며, 이 광 도파관에 복수의 광원들의 광이 결합된다. 도면부호 3으로 표시된 층은 광 도파관의 캐리어 물질을 나타낸다. 도 1은 광 도파관으로부터의 광에 의해 조사된(irradiated) 분석 물질 또는 분석 물질들을 함유한 플로우 셀, 및 검출기 또는 검출기들을 도시하지 않는다.
도 2는 좌측에, 광원들(2, 3, 및 4)로부터의 광파들이 화살표 방향으로 한 지점에 진입하는, 분기되지 않은 광 도파관(1)의 개략적인 예시(도 2a)를 도시한다. 개략적 예시(도 2b)는 광원들(2, 3, 및 4)로부터의 광파들이 광 도파관(1)의 길이를 따라 화살표 방향으로 상이한 지점들에 진입하는 광 도파관(1)의 분기된 셋업을 도시한다.
도 3은 LED 광원에 의한 방사 사이클을 도시한다. x축은 시간을 나타내고, y축 상의 심볼들(“+” 및 “-”)은 광원이 “+” 위치에서 스위칭 온 상태에 있고, “-” 위치에서 스위칭 오프 상태에 있다는 것을 규정한다. LED 광원은 0에서 y까지의 시간 인터벌에서 스위칭 온된다.
도 4는 광원의 방사 사이클의 시간 인터벌 중의 광 검출기의 측정 사이클을 도시한다. x축은 시간을 나타내고, y축은 LED 광원이 스위칭 온(“+”) 상태에 있거나, 스위칭 오프(“-”) 상태에 있는지 여부에 관한 규정을 나타낸다. LED 광원은 0에서 y까지의 시간 인터벌 동안 스위칭 온된다. x에서 y까지의 시간 인터벌은 광 센서가 스위칭 온되는 시구간이다. 0에서 x까지의 시간 인터벌에서는 광 신호들의 검출 또는 측정이 존재하지 않는다.
도 5는 x축에서 시간 t를 나타내고, y축에서 다양한 LED 광원들의 스위칭 사이클들을 나타내는 도면을 도시한다. 개별 광원들(1 내지 8)은 시간 오프셋 방식으로 인터벌마다 연속적으로 스위칭 온 및 오프된다. 각자의 LED 광원은 “-” 위치에서 스위칭 오프되고, “+” 위치에서 스위칭 온되는데, 이들 위치는 y축 상에서 규정되어 있다. 다양한 측정 사이클들이 “a”에서 “e”까지의 x축에 규정되어 있다. LED 광원들(1 내지 8)의 스위칭 사이클 및 백그라운드 신호들을 결정하기 위한 사이클로 구성된 측정 사이클은 “a”에서 “e”까지 연장된다. 조사된(irradiated) 샘플을 통과한 광은 “a”에서 “b”까지의 시간 인터벌 동안 검출기에 의해 측정된다. 이를 위해, LED 광원들(1 내지 8)은 연속적으로 스위칭 온 및 오프된다. 백그라운드 신호는 x축 상의 “b”에서 “c”까지의 시간 인터벌에서 구축되는데, 이 동안에 모든 LED 광원들은 스위칭 오프된다. 시간 인터벌“c”에서 “e”까지 전체 측정 사이클은 반복된다.
도 6은 본 발명에 따른 방법을 이용하여 측정된 5 ppb의 크롬 디페닐 카르바졸 용액의 예시적인 크로마토그램을 도시한다. 여기에서, 0.8mL/min의 유량을 갖는 4.0mmol/L의 NaHCO3 및 12mmol/L의 Na2CO3는 40℃의 컬럼 온도(column temperature)에서 Metrosep A Supp 5-100/4.0 컬럼에서의 용리제(eluent)로서 사용되었다.
측정 인터벌은 3ms이었고, 520±15nm의 파장에서 3ms의 사이클 정지 및 2ms의 지연 시간을 가졌다. 측정된 신호 높이는 대략 7.73mV이고, 대략 0.3mV의 신호 잡음을 갖는다. 용리 시간은 t=5.73min이다. 신호 대 잡음비는 대략 1:26이다.

Claims (15)

  1. 연속적 플로우 분석(continuous flow analysis) 및 크로마토그래피(chromatography)에서의 분석 물질(analyte)들의 검출 동안 광파들을 전송하기 위한 비연성(non-flexible)이거나 연성 없이 배열된 광 도파관의 이용.
  2. 제1항에 있어서, 상기 크로마토그래피는 이온 크로마토그래피인 것인, 광 도파관의 이용.
  3. 연속적 플로우 분석 및 크로마토그래피에서 분석 물질들을 검출하는 방법으로서,
    a) 하나 이상의 광원들, 광 도파관, 하나 이상의 분석 물질을 갖는 샘플을 함유한 컨테이너, 및 하나 이상의 검출기의 제공;
    b) 하나의 파장 또는 상이한 규정된 파장들 및/또는 파장 영역들의 광에 대한 상기 샘플을 함유한 상기 컨테이너의 노출; 및
    c) 상기 하나의 파장 또는 상이한 규정된 파장들 및/또는 파장 영역들의 광에 대한 샘플 컨테이너의 노출 이후의 상기 하나 이상의 검출기를 통한 결과적인 광파들의 획득
    을 포함하고, 단일의, 가능하게는 분기된, 비연성이거나 또는 연성 없이 배열된 광 도파관을 통해 샘플 컨테이너 내로의 진입 전에 전송중에 있는 광파들에 의해 상기 샘플이 조사(irradiated)되는 것인, 분석 물질 검출 방법.
  4. 제3항에 있어서, 상기 크로마토그래피는 이온 크로마토그래피인 것인, 분석 물질 검출 방법.
  5. 제3항 및 제4항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 컨테이너는 플로우 셀인 것인, 분석 물질 검출 방법.
  6. 제3항 내지 제5항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 광원들은, 특히, 가시광, UV, IR, 및/또는 NIR 범위로부터의 광을 방출하는 LED들인 것인, 분석 물질 검출 방법.
  7. 제3항 내지 제6항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 광 도파관은 백킹 층(backing layer), 코어 층(core layer), 및 코팅 층(coating layer)을 포함하는 것인, 분석 물질 검출 방법.
  8. 제7항에 있어서, 상기 코팅 층 및 상기 백킹 층은 굴절률이 1.47 내지 1.5인 중합체를 포함하고, 상기 코어 층은 굴절률이 1.40 내지 1.50인 중합체를 포함하는 것인, 분석 물질 검출 방법.
  9. 제3항 내지 제8항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 광 도파관 및 상기 광원 또는 광원들은 인쇄 회로 기판 상에 부착되고, 특히, 인쇄 회로 기판 내에 병합되는 것인, 분석 물질 검출 방법.
  10. 제9항에 있어서, 상기 인쇄 회로 기판은 상기 광 도파관의 영역에서 적어도 광에 대해 불투명하고 및/또는 열 전도성의 덮개에 의해 덮히고, 특히, 둘러싸여 있는 것인, 분석 물질 검출 방법.
  11. 제3항 내지 제10항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 샘플을 조사(irradiating)한 이후에 획득될 광파들은 전송 광, 반사 또는 형광을 초래시키는 것인, 분석 물질 검출 방법.
  12. 제3항 내지 제11항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 검출기는 하나 이상의 포토다이오드, 특히 CCD 센서인 것인, 분석 물질 검출 방법.
  13. 제3항 내지 제12항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 검출기의 측정 인터벌은 상기 광원의 스위칭 시간 중에, 그리고 상기 샘플이 조사(irradiated)되기 시작한 이후에 개시되는 것인, 분석 물질 검출 방법.
  14. 제13항에 있어서, 상기 조사(irradiation)가 완료된 이후 추가적인 측정 인터벌이 일어나는 것인, 분석 물질 검출 방법.
  15. 제3항 내지 제14항 중 어느 한 항에 있어서, 복수의 순차적이거나 동시에 방출된 파장들의 획득된 신호들은 수학적 평가 방법을 이용한 추가적인 방법 단계에서 평가되는 것인, 분석 물질 검출 방법.
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