KR20150042723A - 광 분산을 측정하기 위한 장치 및 수신 광학 수단을 테스트하기 위한 방법 - Google Patents

광 분산을 측정하기 위한 장치 및 수신 광학 수단을 테스트하기 위한 방법 Download PDF

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Abstract

본 발명은 측정 영역(12)으로부터의 광 분산을 측정하기 위한 장치(10)에 관한 것이며, 이 장치는 광선(18)을 측정 용적(12) 내부로 발송하기 위한 광 송신기(14) 및 측정 영역(12) 내에서 분산된 광을 검출하기 위한 수신 광학 수단(24)을 갖춘 광 수신기(22)를 구비하며, 이 경우에는 광 송신기(14) 및 수신 광학 수단(24)의 광학 축들이 서로에 대하여 소정의 각을 형성하고 측정 영역(12)에서 서로 교차하는 측정 모드와 광 송신기(14) 및 수신 광학 수단(24)의 광학 축들이 서로에 대하여 평행하게 정렬되고 광선(18)이 오염을 확인하기 위하여 수신 광학 수단(24)을 연속으로 스쳐서 지나가는 테스트 모드 사이에서 교체를 실행하기 위한 조정 유닛이 제공되었다. 이때 상기 수신 광학 수단(24)은 이동 가능한 회전 축(32)에 회전 가능하게 고정되어 있으며, 상기 조정 유닛은 테스트 모드에서 처음에는 수신 광학 수단(24)의 광학 축이 광 송신기(14)의 광학 축에 대하여 평행하게 될 때까지 상기 수신 광학 수단(24)을 회전 축을 중심으로 회전시키고 그 다음에는 상기 수신 광학 수단(24)과 함께 상기 회전 축(32)을 이동시킨다.

Description

광 분산을 측정하기 위한 장치 및 수신 광학 수단을 테스트하기 위한 방법 {DEVICE FOR MEASURING THE LIGHT DISPERSION AND METHOD FOR TESTING A RECEIVING-OPTICAL SYSTEM}
본 발명은 청구항 1 및 청구항 11의 서문에 따른, 측정 영역으로부터의 광 분산을 측정하기 위한 장치 및 이와 같은 측정 장치의 수신 광학 수단을 테스트하기 위한 방법에 관한 것이다.
분산 광 측정의 경우에는, 측정 용적이 광원에 의해서 조사(irradiating)된다. 측정 용적 내부에 분산 중심, 예를 들어 먼지 입자 또는 기타의 입자가 있으면, 광이 분산된다. 조사된 광에 대하여 각을 형성하면서 설치된 광 수신기는 상기 분산 광을 기록하고, 이 분산 광은 측정 용적 내부에 있는 입자의 종류 및 양에 대한 추론을 가능케 한다. 분산 광 측정은 예를 들어 환경 측정 기술 또는 방출 측정 기술에 사용된다.
시간이 지남에 따라 오염 또는 다른 효과들에 의해서 측정 정확성이 부정적인 영향을 받을 수 있다. 이와 같은 부정적인 영향을 보상하기 위하여, 심지어 적합성에 대하여 테스트 된 방출 측정 장치에서 이미 기술된 자체 테스트 기능이 공지되어 있다. 자체 테스트의 한 가지 가능성은, 광원을 갖춘 광 수신기의 광학 경계면을 테스트하는 것이다. 이 목적을 위하여 광 수신기는 자신의 측정 위치로부터 테스트 위치로 이동하며, 이 테스트 위치에서는 광이 측정 용적 내에서 분산되지 않고 직접적인 가시선(line of sight) 안에서 수신된다. 테스트 위치에서 예상되는 수신 세기가 최대 신호에 상응함으로써, 결과적으로 광학 경계면의 대표적인 전송 측정이 가능해진다. 수신 광학 수단이 오염되면, 예상되는 신호가 그에 상응하게 약화되고, 이로부터 오염 및 그 오염 정도에 대한 추론이 이루어질 수 있다.
선행 기술은 광 수신기를 광원의 빔(beam) 내부로 이동시킬 수 있는 다양한 구조에 대하여 알고 있다. 가장 단순한 경우에, 광 송신기 및 광 수신기는 이들이 직접적인 가시선 안에 있게 될 때까지 서로에 대하여 피봇팅 된다. 과잉 제어를 피하기 위하여, 가시선 내에는 감쇠 필터가 배치될 수 있다. 수신 광학 수단의 부정적인 영향을 공간 해상도로 검출하고자 하는 경우에는, 광선이 점진적으로 수신 광학 수단을 스캐닝하기 위하여 자체 테스트 동안 상대적인 운동이 제공된다. 예를 들면 광 검출기가 원형 트랙 상에서 피봇팅 될 수 있다. 그러나 이와 같은 상황에서의 단점은, 광이 자체 테스트 동안 상이한 각을 형성함으로써 그 결과가 변조된다는 것이다.
종래 방식에 따른 추가의 슬라이드 기계 장치는 판 스프링의 자유 단부에 광 수신기를 배치한다. 자체 테스트를 위하여 판 스프링은 광 수신기가 광 송신기의 가시선 안에 놓이게 될 때까지 슬라이드에 의해서 구부러진다. 이때에는 판 스프링의 작은 움직임조차도 원하는 스캐닝에 도달하기에 충분하다. 또한, 이와 같은 구조에서는 광 수신기가 원형 트랙 상에서 움직인다. 그밖에, 판 스프링은 변경되는 기계적인 하중에 의해서 피로해지고, 최악의 경우에는 파괴된다.
유럽 공고 특허 출원서 EP 1 881 319 B1호에는, 수신 광학 수단이 강제 곡선을 통해 가이드 됨으로써 광 분산을 측정하기 위한 장치의 수신 광학 수단을 테스트하는 방식이 공지되어 있다. 상기 강제 곡선은 2개의 섹션을 구비하며, 이 경우 제 1 섹션에서 실시되는 방법에서는 수신 광학 수단이 발송된 광선에 의해 스쳐 지나가는 방식으로 테스트가 이루어지는 한편, 제 2 섹션은 수신 광학 수단이 측정 위치로부터 처음 테스트 위치로 넘어가도록 보증해준다. 이와 같은 구조는 상기와 같은 문제점을 해결해주지만, 구조적으로 볼 때 모든 분산 광 측정 장치를 위해서 이용될 수는 없다.
전체적으로 볼 때, 공지된 기계 장치들은 소수의 적용 예에서는 적합하다고 입증되었지만, 정확성에 대한 요구 조건을 항상 충족시키지는 않으며, 지나치게 많은 설치 공간을 요구하거나 다른 여러 가지 이유에서 구조적으로 개별적인 적용 예에 적합하지 않다.
본 발명의 과제는, 자체 테스트를 실행하기 위한 한 가지 대안을 제시하는 것이다.
상기 과제는 측정 영역으로부터의 광 분산을 측정하기 위한 청구항 1에 따른 장치에 의해서 그리고 이와 같은 측정 장치의 수신 광학 수단을 테스트하기 위한 청구항 11에 따른 방법에 의해서 해결된다. 분산 광 측정을 위해서는 측정 모드와 테스트 모드 사이에서 교체가 이루어진다. 측정 모드에서는 광 송신기 및 수신 광학 수단의 광학 축들이 서로에 대하여 소정의 각, 특히 예각을 형성함으로써, 결과적으로 광 송신기로부터 광 수신기까지 직접적인 가시선이 형성되지 않게 된다. 이와 같은 방식에 의해서는, 에어로졸과 같은 테스트할 매체에 의해 측정 영역 또는 측정 용적 내에서 분산되는 광이 기록된다. 테스트 모드에서는 수신 광학 수단이 오염 또는 기타의 부정적인 영향에 대하여 테스트 된다. 이때 본 발명은 수신 광학 수단을 이동 가능한 회전 축에 회전 가능하게 고정시키려는 기본적인 아이디어로부터 출발한다. 이와 같은 아이디어는 우선 광학 축들이 광 송신기의 광학 축에 대하여 평행하게 놓일 때까지 수신 광학 수단이 회전 축을 중심으로 피봇팅 할 수 있게 한다. 그 다음에 이어서 상기 회전 축이 이동하게 되는데, 이와 같은 상황은 수신 광학 수단의 광학 축의 평행 이동을 야기하고, 이러한 평행 이동은 상기와 같은 방식으로 광 송신기까지의 직접적인 가시선 하에서 점진적으로 스캐닝 될 수 있다.
본 발명이 갖는 장점은, 예를 들어 사전에 결정된 하우징 또는 광학 성분들의 특정한 위치 설정 및 정렬과 같이 상기 광학 성분의 크기, 형태 및 배열 상태에 대하여 제기되는 부수적인 조건들을 충족시키는 기계적인 구조가 발견되었다는 것이다. 이 경우에는 기계적인 조정시의 높은 안정성 및 수명과 동시에 유리한 제조 및 간단한 조립, 작동 개시 및 정렬에 도달된다.
수신 광학 수단은 바람직하게 제 1 고정 요소에 고정되어 있으며, 상기 제 1 고정 요소는 이동 가능한 회전 축에 회전 가능하게 고정되어 있다. 수신 광학 수단 자체가 상기 회전 축을 위한 기계적인 작용점을 제공해 주지 않는 경우가 자주 있기 때문에, 결국 상기 수신 광학 수단은 그 대신에 제 1 고정 요소에 고정된다. 그럼으로써, 수신 광학 수단은 제 1 고정 요소의 회전 동작 및 이동 동작을 직접적으로 함께 실행한다.
광 분산 측정 장치는 바람직하게 일체로 회전하도록 고정된 제 2 고정 요소를 구비하며, 상기 제 2 고정 요소로부터 회전 축이 시작된다. 이로써, 상기 회전 축은 제 2 고정 요소 및 제 1 고정 요소 그리고 수신 광학 수단을 구비하게 된다. 이때 상기 제 2 고정 요소는 일체로 회전하도록 고정된 대응 부재를 형성하고, 이 대응 부재에 대하여 수신 광학 수단이 회전 축을 중심으로 피봇팅 된다.
제 2 고정 요소는 바람직하게 이동 가능하게 지지 되어 있는데, 특히 적어도 하나의 레일 또는 선형 가이드부 상에 지지 되어 있다. 가능한 이동 방향은 광 송신기의 광학 축에 대하여 수직인 적어도 한 가지 성분을 갖는다. 이와 같은 사실은 회전 축 및 그와 더불어 수신 광학 수단이 테스트 모드에서 스캐닝 동안에 광선을 통과하게 하기 위하여 이용된다.
바람직하게는, 테스트 모드로부터 측정 모드로 교체될 때에 수신 광학 수단을 출발 위치로 역으로 이동시키기 위하여 제 1 복원 요소가 제공되었다. 예를 들어 상기 제 1 복원 요소는 스프링을 구비하고, 이 스프링은 회전 축의 이동 동안에 팽창되고, 그 다음에 이어서 상기 스프링은 정지 위치로 되돌아간다. 상기 제 1 복원 요소는 바람직하게 제 2 고정 요소 및 고정 점에, 말하자면 하우징에 고정되어 있다.
조정 유닛은 바람직하게 슬라이드 요소를 구비하고, 이 슬라이드 요소는 제 1 위치로부터 제 2 위치로 직선 형태로 이동할 수 있다. 이와 같은 슬라이드 요소의 직선 형태의 이동은 2개 부분으로 나누어진 피봇팅 운동 및 병진 운동으로 전환된다. 상기 슬라이드 요소는 회전 축에 대하여 변위 된 일 점에서 수신 광학 수단에 작용하거나 제 1 고정 요소에 작용한다. 처음에는 수신 광학 수단이 피봇팅 동작에 의해서 벗어난다. 수신 광학 수단 및 광 송신기의 광학 축들이 평행하게 정렬되어 있으면, 피봇팅 운동이 종료되며, 슬라이드 요소는 수신 광학 수단을 스캐닝하기 위하여 상기 수신 광학 수단의 평행 이동을 야기한다.
슬라이드 요소의 끝이 가늘어진 면은 바람직하게 수신 광학 수단 또는 제 1 고정 요소와 접촉하고 있다. 상기 끝이 가늘어진 면은 작용 영역을 형성하고, 이 작용 영역에 의해서 수신 광학 수단이 피봇팅 된 후에 이동된다. 바람직하게 수신 광학 수단 또는 제 1 고정 요소는 상응하는 비스듬한 면을 갖고, 이 비스듬한 면은 슬라이드 요소의 끝이 가늘어진 면에 접촉한다.
바람직하게는, 수신 광학 수단의 광학 축이 광 송신기의 광학 축에 대하여 평행하게 서 있는 경우에 회전 운동을 종료시키기 위하여 특히 제 2 고정 요소 상에 제 1 스토퍼가 제공되었다. 더 상세하게 말해서, 상기 제 1 스토퍼는 직접적인 가시선을 갖는 원하는 평행한 테스트 위치를 초과하는 회전 운동을 방지해준다. 회전 운동이 종료되자마자, 제 1 스토퍼는 필연적으로 조정 유닛에 의한 추가의 작용, 특히 비스듬한 작용 면을 갖는 슬라이드 요소의 추가 작용을 야기하게 되는데, 이와 같은 추가 작용은 회전 운동의 속행에 의한 경우와 다른 형태로, 다시 말하자면 수신 광학 수단의 스캐닝을 위해서 이용되는 이동 동작에 의한 경우와 다른 형태로 슬라이드 요소를 벗어나게 한다.
바람직하게는, 테스트 모드로부터 측정 모드로 교체될 때에 수신 광학 수단을 출발 위치로 역으로 회전시키기 위하여 제 2 복원 요소가 제공되었다. 더 상세하게 말해서, 이동 유닛 또는 슬라이드 요소로부터 하중이 제거되면, 수신 광학 수단은 광선에 대하여 소정의 각을 형성하는 자신의 측정 위치로 역으로 회전된다. 제 2 복원 요소로서는 예를 들어 수신 광학 수단 혹은 제 1 고정 요소와 제 2 고정 요소 사이에 고정된 스프링이 사용될 수 있다.
바람직하게는, 수신 광학 수단을 출발 위치까지 최대한 역으로 회전시키기 위하여 특히 제 2 고정 요소 상에 제 2 스토퍼가 제공되었다. 그럼으로써, 테스트 모드로부터 측정 모드로 교체될 때에 역으로 회전하는 동작이 원하는 분산 각을 초과해서 이루어지는 상황이 방지된다.
본 발명에 따른 방법은 유사한 방식으로 개선될 수 있고, 유사한 장점들을 보여준다. 이와 같은 바람직한 특징들은 예에 불과하며, 독립 청구항들과 연관된 종속 청구항들에서 최종적인 형태로 기재되지 않는다.
본 발명은 실시 예들 및 첨부된 도면을 참조하는 추가의 특징 및 장점과 관련하여 이하에서 또한 상세하게 설명된다. 도면 부분의 각각의 도면에 대한 설명:
도 1은 측정 모드에서 광 분산을 측정하기 위한 장치의 개략도를 보여주고,
도 2는 회전 운동이 종료된 후에 테스트 모드로 교체될 때의 그리고 후속하는 이동 동작이 시작될 때의 도 1에 따른 장치의 개략도를 보여주며; 그리고
도 3은 도 2에 따른 위치에서 시작된 이동 동작이 종료된 후의 도 1에 따른 장치의 개략도를 보여준다.
도 1은 측정 모드에서 광 분산 측정 장치(10)의 개략도를 보여준다. 파선의 원에 의해서 표시된 측정 영역 또는 측정 용적(12) 내부에는 매체, 예를 들어 가스 또는 액체가 있다. 측정 용적(12)은 도면에서 개방되어 있지만, 상응하는 광 투과용 윈도우를 구비하는 측정 셀에 의해서 제한될 수도 있으며, 이와 같은 상황은 적어도 액체가 매질인 경우에도 필요하다.
관련 송신 광학 수단(16)을 구비하는 광 송신기(14)는 광선(18)을 측정 용적(12) 내부로 송신한다. 광 송신기(14)는 바람직하게 높은 세기의 명확하게 다발로 묶인 광선(18)을 발생시키기 위하여 레이저 광원을 포함한다. 측정 용적(12)을 방해 없이 투과하는 광선(18)의 비율은 마주 놓인 측에서 광 트랩(20)(light trap) 내부에 흡수되거나 그곳에서 반사된다. 측정 용적(12) 내에 분산 중심, 예를 들어 먼지 또는 다른 입자가 있으면, 적어도 광선(18)의 일 부분이 광 트랩(20)까지의 직접적인 가시선으로부터 분산된다.
앞에 수신 광학 수단(24)이 배치되어 있는 광 수신기(22)는 측정 용적(12)을 지향하고 있다. 엄격하게 말하자면, 효과적인 측정 용적(12)은 다름 아닌 광선(18)의 교차 영역 및 수신 구경으로서 결정된다. 자체 수신 광학 수단(24)을 구비하는 광 수신기(22)는 하우징(26) 내부에 배치될 수 있다. 분산된 광 비율을 결정하기 위하여, 광 수신기(22)의 광학 축 혹은 상기 광 수신기의 수신 광학 수단(24)의 광학 축은 광 송신기(14)의 광학 축에 대하여 예를 들어 15°의 예각을 형성한다. 이로써, 광은 상응하는 전방향 분산의 형태로 수신된다. 역방향 분산을 측정하기 위하여, 대안적으로 상응하는 둔각이 선택될 수 있는데, 다시 말하자면 이때 광 수신기(22)는 측정 용적(12)의 다른 측에서 광 송신기(14) 옆에 놓인다. 광 수신기(22)는 예를 들어 산란 광뿐만 아니라 직접적인 광선(18)까지도 검출할 수 있기 위하여 바람직하게 큰 다이내믹 범위를 갖는 포토 다이오드이다.
평가 유닛(28)은 수신 신호 및 특히 산란 광의 세기로부터 측정 용적(12) 내에 있는 매체에 대한 최종적인 판단을 끌어내기 위하여 광 수신기(22)에 연결되어 있다. 이로써, 예를 들어 가시거리(visibility range)가 결정될 수 있고, 연기 발생 또는 공기가 유해 물질로 오염된 정도를 참조해서 버닝(burning) 상태가 검출될 수 있다.
도 1은 측정 모드에서 광 분산 측정 장치(10)를 보여주며, 이 측정 모드에서는 광 수신기가 측정 용적(12)에 대하여 측정할 산란 각을 형성하면서 배치되어 있다. 수신 광학 수단(24)이 오염에 대하여 그리고 기타의 부정적인 영향에 대하여 테스트 되는 테스트 모드로 선택적으로 넘어가도록 하기 위하여, 이하에서 더 상세하게 설명되는 조정 기계 장치가 제공되었다. 이때 "수신 광학 수단(24)의 체크"라는 표현은 일관적으로 외부로 폐쇄되는 투명한 경계면, 말하자면 하우징(26)의 윈도우가 테스트 된다는 내용을 의미하기도 한다. 그러나 수신 광학 수단(24)은 도면에 도시된 바와 달리 자체적으로 하우징(26)의 외부 천이부도 형성할 수 있다.
상기 기계 장치는 제 1 고정 요소(30)를 포함하며, 상기 제 1 고정 요소에는 수신 광학 수단(24) 및 이 수신 광학 수단의 하우징(26)이 일체로 회전하도록 그리고 위치 고정되도록 설치되어 있다. 그렇기 때문에 상기 제 1 고정 요소(30)의 각각의 운동은 직접 수신 광학 수단(24)으로 전달된다. 제 1 고정 요소(30)는 회전 축(32), 예를 들어 핀, 저널 또는 로드에 고정되어 있으며, 이로써 회전 축을 중심으로 피봇팅 또는 회전될 수 있다.
회전 축(32)은 제 2 고정 요소(34)에 고정되어 있으며, 상기 제 2 고정 요소 자체는 산란 광 측정 장치(10)에 대하여 일체로 회전하도록 고정되어 있다. 제 2 고정 요소(34)는 재차 레일(36) 상에 지지가 되어 있고, 이로써 광 송신기(14)의 광학 축에 대하여 그리고 그와 더불어 광선(18)에 대하여 수직인 방향으로 이동될 수 있다. 제 1 스프링(38)은 한 편으로는 제 2 고정 요소(34)에 고정되어 있고, 다른 한 편으로는 산란 광 측정 장치(10) 내에 고정되어 있다. 이로써, 제 2 고정 요소(34)의 이동은 제 1 스프링(38)의 탄성력에 대항해서 이루어지며, 하중이 가해지지 않는 경우에는 제 1 스프링(38)이 제 2 고정 요소(34)를 출발 위치로 역으로 끌어당긴다. 상응하는 위치에서는 상기와 같은 동작이 대안적으로 자체 중량에 의해서도 이루어질 수 있다.
또한, 제 2 고정 요소(34) 상에는 제 1 스토퍼(40) 및 제 2 스토퍼(42)가 있으며, 이들 스토퍼는 양측에서 제 1 고정 요소(30)의 가능한 회전 운동을 제한한다. 제 2 스프링(44)이 제 1 고정 요소(30) 및 제 2 고정 요소(34)에 고정되어 있음으로써, 결과적으로 회전 축(32)을 중심으로 이루어지는 제 1 고정 요소(30)의 회전 운동은 제 2 스프링(44)의 탄성력에 대항해서 이루어진다. 제 1 고정 요소(30)에 다른 힘이 작용하지 않으면, 제 2 스프링(44)이 제 1 고정 요소(30)를 회전 운동의 출발 위치로 역으로 끌어당긴다.
슬라이드 요소(46)는 제 1 위치와 제 2 위치 사이에서 직선의 이동 동작이 이루어지도록 할 목적으로 제공되었다. 이동 동작은 바람직하게 광 송신기(14)의 광학 축에 대하여 평행하게 이루어지지만, 그와 달리 경사진 장소도 가능할 수 있다. 슬라이드 요소(46)는 끝이 가늘어진 면(48)에 의해서 제 1 고정 요소(30)와 접촉한다. 접촉 면 영역에서는 제 1 고정 요소도 테이퍼링 부분(50)을 갖는다. 슬라이드 요소(46)의 운동은 도면에 도시되지 않은 구동 장치에 의해서 야기되며, 상기 구동 장치는 예를 들어 평가 유닛(28)에 의해서 응답 된다.
조정 기계 장치의 상기와 같은 요소들의 협력 작용은 도 2 및 도 3에 의해서 설명된다. 테스트 모드는 2개의 단계를 가지며, 이 경우에 제 1 단계에서는 수신 광학 수단(24)이 회전됨으로써, 결과적으로 처음에 광선(18)에 대하여 산란 각을 형성하는 상기 수신 광학 수단의 광학 축은 광 송신기(14)에 대하여 평행하게 그리고 그로 인해 광 송신기(14)에 대하여 직접적인 가시 선 안에 정렬된다.
상기 제 1 단계의 종료 상태는 도 2에 도시되어 있다. 슬라이드 요소는 도 1에 따른 측정 모드의 제 1 위치로부터 중간 위치로 이동된다. 이때 슬라이드 요소(46)는 제 1 고정 요소(30)와 끝이 가늘어진 면(48) 간의 접촉에 의해서 제 1 고정 요소(30)와 함께 움직인다. 제 1 고정 요소(30)가 회전 축(32)을 중심으로 회전함으로써, 상기 제 1 고정 요소(30)는 벗어나되, 특히 스토퍼(40)가 추가의 회전 동작을 차단하게 될 때까지 벗어난다.
그 다음의 제 2 단계에서는 수신 광학 수단(24)이 평행하게 이동됨으로써, 결과적으로 광 송신기(14)와 광 수신기(22) 사이에서 직접적인 가시 선이 유지되는 가운데 광선(18)은 수신 광학 수단(24) 위로 움직이게 되고, 이로써 광선은 오염 또는 다른 부정적인 영향에 대하여 상기 수신 광학 수단(24)을 공간 해상도로 스캐닝하게 된다.
도 3은 제 2 단계가 끝날 때의 또는 제 2 단계가 끝나기 직전의 산란 광 측정 장치(10)를 보여준다. 슬라이드 요소(46)는 도 2에 따른 중간 위치로부터 계속해서 도 3에서 도달된 제 2 위치의 방향으로 이동된다. 제 1 고정 요소(30)는 스토퍼(40)로 인해 더 이상 회전 운동에 의해서 슬라이드 요소(46)를 벗어날 수 없다. 그 대신에 끝이 가늘어진 면(48)이 제 2 고정 요소(34)가 레일(36) 상에서 이동하도록 도와준다. 제 2 고정 요소(34)의 이동 영역이 도시된 예에서는 발생 가능한 편차와 상관없이 바람직하게 직선 형태로 시작되어야만 하기 때문에, 결과적으로 광선(18)은 슬라이드 요소(46)의 중간 위치에서는 수신 광학 수단(24)의 하단부 영역에 그리고 슬라이드 요소(46)의 제 2 위치에서는 수신 광학 수단(24)의 상단부 영역에 충돌하게 된다. 이때 광선(18)은 수신 광학 수단(24)을 직선으로 한 번 완전히 스쳐 지나간다.
평가 유닛(28)은 공장에서부터 사전에 결정되었거나 학습 된 기대 동작을 가지며, 상기 평가 유닛은 에러 없는 작동을 위해 세기를 측정해야만 하고, 그렇기 때문에 테스트 모드에서 편차를 검출하여 송신 출력 혹은 수신 감도의 역동적인 적응 또는 기대 요구 조건과 같은 필요한 조치들을 취할 수 있다. 이로써, 테스트 위치로의 주기적인 교체에 의해서는 산란 광 측정 장치(10) 자체가 수신 광학 수단(24)의 오염, 손상 또는 다른 부정적인 영향에 의한 오류에 대하여 체크 된다. 이와 동시에 바람직하게는 송신 광학 수단(16)의 부정적인 영향도 검출된다.
테스트 모드로부터 측정 모드로의 복귀 전환을 위한 테스트의 종료 후에 슬라이드 요소(46)가 재차 제 1 위치로 역으로 움직이면, 우선 제 1 스프링(38)이 제 2 고정 요소(34)를 레일(36) 상에서 상기 제 2 고정 요소의 출발 위치로 역으로 끌어당긴다. 그동안에 수신 광학 수단(24)의 추가의 스캐닝이 이루어질 수 있다. 그 다음에 이어서, 제 1 고정 요소(30)가 제 2 스토퍼(42)로 인해 더 이상 제 2 스프링(44)을 따를 수 없고 이로 인해 수신 광학 수단이 재차 측정 모드의 출발 위치에 도달하게 때까지, 제 2 스프링(44)도 함께 끌어 당겨지고 이때 제 1 고정 요소(30)는 회전 축(32)을 중심으로 회전한다.

Claims (11)

  1. 측정 영역(12)으로부터의 광 분산을 측정하기 위한 장치(10)로서,
    상기 장치는 광선(18)을 측정 영역(12) 내부로 발송하기 위한 광 송신기(14) 및 측정 영역(12) 내에서 분산된 광을 검출하기 위한 수신 광학 수단(24)을 갖춘 광 수신기(22)를 구비하며, 광 송신기(14) 및 수신 광학 수단(24)의 광학 축들이 서로에 대하여 소정의 각을 형성하고 측정 영역(12)에서 서로 교차하는 측정 모드와 광 송신기(14) 및 수신 광학 수단(24)의 광학 축들이 서로에 대하여 평행하게 정렬되고 광선(18)이 오염을 확인하기 위하여 수신 광학 수단(24)을 연속으로 스쳐서 지나가는 테스트 모드 사이에서 교체를 실행하기 위하여 조정 유닛이 제공된, 광 분산을 측정하기 위한 장치에 있어서,
    상기 수신 광학 수단(24)은 이동 가능한 회전 축(32)에 회전 가능하게 고정되어 있으며, 상기 조정 유닛은 테스트 모드에서 처음에는 수신 광학 수단(24)의 광학 축이 광 송신기(14)의 광학 축에 대하여 평행하게 될 때까지 상기 수신 광학 수단(24)을 회전 축을 중심으로 회전시키고, 그 다음에는 상기 수신 광학 수단(24)과 함께 상기 회전 축(32)을 이동시키는 것을 특징으로 하는, 광 분산을 측정하기 위한 장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    수신 광학 수단(24)은 제 1 고정 요소(30)에 고정되고, 상기 제 1 고정 요소는 이동 가능한 회전 축(32)에 회전 가능하게 고정되는, 광 분산을 측정하기 위한 장치.
  3. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
    일체로 회전하도록 고정된 제 2 고정 요소(34)를 구비하며, 상기 제 2 고정 요소로부터 회전 축(32)이 시작되는, 광 분산을 측정하기 위한 장치.
  4. 제 3 항에 있어서,
    제 2 고정 요소(34)는 이동 가능하게 지지 되었으며, 특히 하나 이상의 레일(36) 또는 선형 가이드부 상에 이동 가능하게 지지 되는, 광 분산을 측정하기 위한 장치.
  5. 제 1 항 내지 제 4 항 중 어느 한 항에 있어서,
    테스트 모드로부터 측정 모드로의 교체시에 수신 광학 수단(24)을 출발 위치로 역으로 이동시키기 위하여 제 1 복원 요소(38)가 제공되는, 광 분산을 측정하기 위한 장치.
  6. 제 1 항 내지 제 5 항 중 어느 한 항에 있어서,
    조정 유닛은 슬라이드 요소(46)를 구비하고, 상기 슬라이드 요소는 제 1 위치로부터 제 2 위치로 직선 형태로 이동할 수 있는, 광 분산을 측정하기 위한 장치.
  7. 제 6 항에 있어서,
    슬라이드 요소(46)의 끝이 가늘어진 면(48)은 수신 광학 수단(24) 또는 제 1 고정 요소(30)와 접촉하는, 광 분산을 측정하기 위한 장치.
  8. 제 1 항 내지 제 7 항 중 어느 한 항에 있어서,
    수신 광학 수단(24)의 광학 축이 광 송신기(14)의 광학 축에 대하여 평행한 경우에 회전 운동을 종료시키기 위하여 제 1 스토퍼(40)가 특히 제 2 고정 요소(34) 상에 제공되는, 광 분산을 측정하기 위한 장치.
  9. 제 1 항 내지 제 8 항 중 어느 한 항에 있어서,
    테스트 모드로부터 측정 모드로의 교체시에 수신 광학 수단(24)을 출발 위치로 역으로 회전시키기 위하여 제 2 복원 요소(44)가 제공되는, 광 분산을 측정하기 위한 장치.
  10. 제 1 항 내지 제 9 항 중 어느 한 항에 있어서,
    수신 광학 수단(24)을 최대 출발 위치까지 역으로 회전시키기 위하여 제 2 스토퍼(42)가 특히 제 2 고정 요소(34) 상에 제공되는, 광 분산을 측정하기 위한 장치.
  11. 광 분산을 측정하기 위한 장치, 특히 제 1 항 내지 제 10 항 중 어느 한 항에 따른 장치(10)의 수신 광학 수단(24)을 테스트하기 위한 방법으로서,
    수신 광학 수단(24)의 광학 축이 광선(18)에 대하여 평행하게 될 때까지 기울어짐으로써, 상기 수신 광학 수단(24)은 테스트 모드에서 광선(18)에 의해 스캐닝 되고, 그 다음에 이어서 평행하게 이동되는, 수신 광학 수단을 테스트하기 위한 방법에 있어서,
    가장 먼저 상기 수신 광학 수단(24)이 회전 축(32)을 중심으로 기울어지고, 그 다음에는 상기 회전 축(32)이 수신 광학 수단(24)과 함께 이동되는 것을 특징으로 하는, 수신 광학 수단을 테스트하기 위한 방법.
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