KR20150007480A - 적층 세라믹 커패시터 및 그 실장 기판 - Google Patents
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- 239000003985 ceramic capacitor Substances 0.000 title claims abstract description 68
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims abstract description 104
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 claims abstract description 58
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims abstract description 28
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 21
- 239000000696 magnetic material Substances 0.000 claims description 3
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 8
- 239000000463 material Substances 0.000 description 8
- KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N Palladium Chemical compound [Pd] KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 6
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 6
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 5
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 4
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 4
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 4
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 3
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 3
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 2
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 2
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 2
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 2
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JRPBQTZRNDNNOP-UHFFFAOYSA-N barium titanate Chemical compound [Ba+2].[Ba+2].[O-][Ti]([O-])([O-])[O-] JRPBQTZRNDNNOP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910002113 barium titanate Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011230 binding agent Substances 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 238000007598 dipping method Methods 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 230000005669 field effect Effects 0.000 description 1
- 238000010304 firing Methods 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 238000007646 gravure printing Methods 0.000 description 1
- 238000003475 lamination Methods 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 239000003960 organic solvent Substances 0.000 description 1
- 230000003071 parasitic effect Effects 0.000 description 1
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 1
- 238000007639 printing Methods 0.000 description 1
- 238000007650 screen-printing Methods 0.000 description 1
- VEALVRVVWBQVSL-UHFFFAOYSA-N strontium titanate Chemical compound [Sr+2].[O-][Ti]([O-])=O VEALVRVVWBQVSL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JBQYATWDVHIOAR-UHFFFAOYSA-N tellanylidenegermanium Chemical compound [Te]=[Ge] JBQYATWDVHIOAR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000859 α-Fe Inorganic materials 0.000 description 1
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-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G4/00—Fixed capacitors; Processes of their manufacture
- H01G4/002—Details
- H01G4/018—Dielectrics
- H01G4/06—Solid dielectrics
- H01G4/08—Inorganic dielectrics
- H01G4/12—Ceramic dielectrics
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- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G4/00—Fixed capacitors; Processes of their manufacture
- H01G4/30—Stacked capacitors
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- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G2/00—Details of capacitors not covered by a single one of groups H01G4/00-H01G11/00
- H01G2/02—Mountings
- H01G2/06—Mountings specially adapted for mounting on a printed-circuit support
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- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G4/00—Fixed capacitors; Processes of their manufacture
- H01G4/002—Details
- H01G4/005—Electrodes
- H01G4/012—Form of non-self-supporting electrodes
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G4/00—Fixed capacitors; Processes of their manufacture
- H01G4/002—Details
- H01G4/228—Terminals
- H01G4/232—Terminals electrically connecting two or more layers of a stacked or rolled capacitor
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- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/0213—Electrical arrangements not otherwise provided for
- H05K1/0237—High frequency adaptations
- H05K1/0243—Printed circuits associated with mounted high frequency components
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- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2201/00—Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
- H05K2201/10—Details of components or other objects attached to or integrated in a printed circuit board
- H05K2201/10007—Types of components
- H05K2201/10015—Non-printed capacitor
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- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/30—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
- H05K3/32—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
- H05K3/34—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
- H05K3/341—Surface mounted components
- H05K3/3431—Leadless components
- H05K3/3442—Leadless components having edge contacts, e.g. leadless chip capacitors, chip carriers
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Abstract
본 발명은, 복수의 유전체층을 포함하며, 서로 마주보는 제1, 제2 주면, 서로 마주보는 제1, 제2 측면 및 서로 마주보는 제1, 제2 단면을 가지는 세라믹 본체; 상기 세라믹 본체 내에 형성되며, 제1 측면으로 노출된 리드를 갖는 제1 내부전극과 제2 단면으로 노출된 제2 내부전극을 포함하는 커패시터부; 상기 세라믹 본체 내에 형성된 적어도 일 극성의 제1 내지 제3 내부 연결도체; 및 상기 세라믹 본체의 외측에 형성되며, 상기 제1, 제2 내부전극 및 제1 내지 제3 내부 연결도체와 전기적으로 연결된 제1 내지 제4 외부 전극;을 포함하며, 상기 제1, 제2 내부 연결도체와 제3 내부 연결도체는 병렬 연결되고, 상기 제1 내지 제3 내부 연결도체와 상기 커패시터부는 직렬 연결된 것을 특징으로 하는 적층 세라믹 커패시터를 제공한다.
Description
본 발명은 적층 세라믹 커패시터 및 그 실장 기판에 관한 것이다.
적층 칩 전자 부품의 하나인 적층 세라믹 커패시터는 액정 표시 장치(LCD: Liquid Crystal Display) 및 플라즈마 표시 장치 패널(PDP: Plasma Display Panel) 등의 영상 기기, 컴퓨터, 스마트폰 및 휴대폰 등 여러 전자 제품의 인쇄회로기판에 장착되어 전기를 충전시키거나 또는 방전시키는 역할을 하는 칩 형태의 콘덴서이다.
이러한 적층 세라믹 커패시터(MLCC: Multi-Layered Ceramic Capacitor)는 소형이면서 고용량이 보장되고 실장이 용이하다는 장점을 인하여 다양한 전자 장치의 부품으로 사용될 수 있다.
상기 적층 세라믹 커패시터는 복수의 유전체층과, 상기 유전체층 사이에 서로 다른 극성의 내부 전극이 번갈아 적층된 구조를 가질 수 있다.
특히, 컴퓨터 등의 중앙 처리 장치(CPU)를 위한 전원 공급장치는 낮은 전압을 제공하는 과정에서 부하 전류의 급격한 변화로 인한 전압 노이즈가 발생하는 문제가 있다.
또한, 전원 공급장치의 효율이 점점 더 중요해지는 현실에서 손실을 줄이기 위해 더욱 빠른 스위칭 속도가 필요하다.
그러나, 스위칭 속도가 증가하면 그로 인한 EMI(Electromagnetic Interference)의 상승과 같이 부정적인 상쇄 현상들이 생길 수 있다.
또한, DC/DC 컨버터(Converter)를 구성하는 FET(Field Effect Transistors)가 스위칭할 때 배선의 인덕턴스와 상기 FET의 기생용량에 의해 링잉(Ringing)이 발생해 고주파 노이즈를 방사하면서 주변 회로에 장해를 가져오는 사례가 문제되고 있다.
즉, 배선의 인덕턴스와 FET 등의 스위치 소자가 가지는 정전 용량에 의해서 공진이 일어나고 그 고주파 전력에 의해 전자파 장해를 유발하는 것이다.
특히, 최근의 스마트폰, 태블릿(Tablet) PC 등과 같은 소형 휴대 단말기에서는 전원 회로와 무선 회로, 음성 회로 등의 아날로그 회로가 서로 인접해 있어 통신 장해나 음질 열화의 한 요인이 되고 있다.
일반적으로, 상기의 문제를 해결하기 위하여 FET에 C-R 스너버(Snubber)를 추가하는 연구가 이루어지고 있으나, 이러한 방법은 스위칭 시의 전력 중 일부가 상기 C-R 스너버(Snubber)에서 소비되어 DC/DC 컨버터(Converter)의 변환 효율이 저하되는 문제가 있다.
따라서, DC/DC 컨버터(Converter)의 변환 효율의 저하를 막으면서도, 상기 링잉(Ringing)을 억제시켜 노이즈를 저감할 수 있는 연구는 여전히 필요한 실정이다.
본 발명은 적층 세라믹 커패시터 및 그 실장 기판에 관한 것이다.
본 발명의 일 실시형태는, 복수의 유전체층을 포함하며, 서로 마주보는 제1, 제2 주면, 서로 마주보는 제1, 제2 측면 및 서로 마주보는 제1, 제2 단면을 가지는 세라믹 본체; 상기 세라믹 본체 내에 형성되며, 제1 측면으로 노출된 리드를 갖는 제1 내부전극과 제2 단면으로 노출된 제2 내부전극을 포함하는 커패시터부; 상기 세라믹 본체 내에 형성된 적어도 일 극성의 제1 내지 제3 내부 연결도체; 및 상기 세라믹 본체의 외측에 형성되며, 상기 제1, 제2 내부전극 및 제1 내지 제3 내부 연결도체와 전기적으로 연결된 제1 내지 제4 외부 전극;을 포함하며, 상기 제1, 제2 내부 연결도체와 제3 내부 연결도체는 병렬 연결되고, 상기 제1 내지 제3 내부 연결도체와 상기 커패시터부는 직렬 연결된 것을 특징으로 하는 적층 세라믹 커패시터를 제공한다.
본 발명의 일 실시 예에서, 상기 제1 및 제2 외부 전극은 상기 세라믹 본체의 서로 마주보는 제1 및 제2 단면에 배치되고, 상기 제3 및 제4 외부 전극은 상기 세라믹 본체의 서로 마주보는 제1 및 제2 측면에 배치될 수 있다.
본 발명의 일 실시 예에서, 상기 제1 및 제2 내부 연결도체는 비자성체 물질을 포함하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 일 실시 예에서, 상기 제1 내부 연결도체는 제1 단면 및 제2 측면으로 노출될 수 있다.
본 발명의 일 실시 예에서, 상기 제2 내부 연결도체는 제1 및 제2 측면으로 노출될 수 있다.
본 발명의 일 실시 예에서, 상기 제3 내부 연결도체는 제1 단면 및 제1 측면으로 노출될 수 있다.
본 발명의 일 실시 예에서, 상기 적층 세라믹 커패시터의 등가직렬저항(ESR)은 상기 제1 내지 제3 내부 연결도체에 의해 조절될 수 있다.
본 발명의 일 실시 예에서, 상기 적층 세라믹 커패시터의 등가직렬저항(ESR)은 저주파 영역에 비해 고주파 영역에서 증가하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 다른 실시형태는, 복수의 유전체층을 포함하며, 서로 마주보는 제1, 제2 주면, 서로 마주보는 제1, 제2 측면 및 서로 마주보는 제1, 제2 단면을 가지는 세라믹 본체; 상기 세라믹 본체 내에 형성되며, 제2 측면으로 노출된 리드를 갖는 제1 내부전극과 제2 단면으로 노출된 제2 내부전극을 포함하는 커패시터부; 상기 세라믹 본체 내에 형성된 적어도 일 극성의 제1 내지 제3 내부 연결도체; 및상기 세라믹 본체의 외측에 형성되며, 상기 제1, 제2 내부전극 및 제1 내지 제3 내부 연결도체와 전기적으로 연결된 제1 내지 제4 외부 전극;을 포함하며, 상기 제1 내부 연결도체와 제2 및 제3 내부 연결도체는 병렬 연결되고, 상기 제1 내지 제3 내부 연결도체와 상기 커패시터부는 직렬 연결된 것을 특징으로 하는 적층 세라믹 커패시터를 제공한다.
본 발명의 일 실시 예에서, 상기 제1 및 제2 외부 전극은 상기 세라믹 본체의 서로 마주보는 제1 및 제2 단면에 배치되고, 상기 제3 및 제4 외부 전극은 상기 세라믹 본체의 서로 마주보는 제1 및 제2 측면에 배치될 수 있다.
상기 제1 내부 연결도체는 비자성체 물질을 포함하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 일 실시 예에서, 상기 제1 내부 연결도체는 제1 단면 및 제2 측면으로 노출될 수 있다.
본 발명의 일 실시 예에서, 상기 제2 내부 연결도체는 제1 단면 및 제1 측면으로 노출될 수 있다.
본 발명의 일 실시 예에서, 상기 제3 내부 연결도체는 제1 및 제2 측면으로 노출될 수 있다.
본 발명의 일 실시 예에서, 상기 적층 세라믹 커패시터의 등가직렬저항(ESR)은 상기 제1 내지 제3 내부 연결도체에 의해 조절될 수 있다.
본 발명의 일 실시 예에서, 상기 적층 세라믹 커패시터의 등가직렬저항(ESR)은 저주파 영역에 비해 고주파 영역에서 증가하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 또 다른 실시형태는, 상부에 제1 및 제2 전극 패드를 갖는 인쇄회로기판; 및 상기 인쇄회로기판 위에 설치된 상기 적층 세라믹 커패시터;를 포함하는 적층 세라믹 커패시터의 실장 기판을 제공한다.
본 발명에 따르면, 커패시터에 병렬 연결된 인덕터와 저항을 부가하여 고주파 대역의 저항 성분을 증가시킴으로써 공진을 억제하는 DC-DC 컨버터용 적층 세라믹 커패시터를 구현할 수 있다.
이로 인하여, 종래 구조에 비하여 변환 효율에 영향을 주지 않으면서도, 공진을 억제하며 노이즈를 저감할 수 있다.
또한, 본 발명의 일 실시형태에 따른 적층 세라믹 커패시터는 저주파 영역에서는 ESR이 작고, 고주파 영역에서는 ESR이 증가하는 특성을 가지기 때문에 DC-DC 컨버터의 전력 전환에 필요한 스위칭 전류를 소비하지 않고 고주파 영역에서 증가하는 ESR에 의해서 링잉(Ringing) 현상을 억제할 수 있다.
또한, 상기 구조에 있어서, 부품의 소형화가 가능하며, 이로 인하여 더 높은 전류에서도 사용 가능한 효과가 있으며 실장 공간과 비용을 줄일 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시형태에 따른 적층 세라믹 커패시터의 사시도이다.
도 2는 도 1의 A-A' 단면도이다.
도 3은 도 1에 도시된 적층 세라믹 커패시터에 사용가능한 제1 및 제2 내부 전극을 나타내는 평면도이다.
도 4는 도 3에 도시된 제1 및 제2 내부전극과 함께 사용가능한 제1 및 제2 내부 연결도체를 나타내는 평면도이다.
도 5는 도 3에 도시된 제1 및 제2 내부전극과 함께 사용가능한 제3 내부 연결도체를 나타내는 평면도이다.
도 6은 도 1에 도시된 적층 세라믹 커패시터의 등가회로도이다.
도 7은 본 발명의 다른 실시형태에 따른 적층 세라믹 커패시터의 사시도이다.
도 8은 도 7에 도시된 적층 세라믹 커패시터에 사용가능한 제1 및 제2 내부 전극을 나타내는 평면도이다.
도 9는 도 8에 도시된 제1 및 제2 내부전극과 함께 사용가능한 제1 내부 연결도체를 나타내는 평면도이다.
도 10은 도 8에 도시된 제1 및 제2 내부전극과 함께 사용가능한 제2 및 제3 내부 연결도체를 나타내는 평면도이다.
도 11은 도 1의 적층 세라믹 커패시터가 인쇄회로기판에 실장된 모습을 도시한 사시도이다.
도 12는 도 11의 적층 세라믹 커패시터 및 인쇄회로기판을 길이 방향으로 절단하여 도시한 단면도이다.
도 13은 본 발명의 실시예와 비교예의 ESR을 비교한 그래프이다.
도 2는 도 1의 A-A' 단면도이다.
도 3은 도 1에 도시된 적층 세라믹 커패시터에 사용가능한 제1 및 제2 내부 전극을 나타내는 평면도이다.
도 4는 도 3에 도시된 제1 및 제2 내부전극과 함께 사용가능한 제1 및 제2 내부 연결도체를 나타내는 평면도이다.
도 5는 도 3에 도시된 제1 및 제2 내부전극과 함께 사용가능한 제3 내부 연결도체를 나타내는 평면도이다.
도 6은 도 1에 도시된 적층 세라믹 커패시터의 등가회로도이다.
도 7은 본 발명의 다른 실시형태에 따른 적층 세라믹 커패시터의 사시도이다.
도 8은 도 7에 도시된 적층 세라믹 커패시터에 사용가능한 제1 및 제2 내부 전극을 나타내는 평면도이다.
도 9는 도 8에 도시된 제1 및 제2 내부전극과 함께 사용가능한 제1 내부 연결도체를 나타내는 평면도이다.
도 10은 도 8에 도시된 제1 및 제2 내부전극과 함께 사용가능한 제2 및 제3 내부 연결도체를 나타내는 평면도이다.
도 11은 도 1의 적층 세라믹 커패시터가 인쇄회로기판에 실장된 모습을 도시한 사시도이다.
도 12는 도 11의 적층 세라믹 커패시터 및 인쇄회로기판을 길이 방향으로 절단하여 도시한 단면도이다.
도 13은 본 발명의 실시예와 비교예의 ESR을 비교한 그래프이다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시 형태들을 설명한다.
그러나, 본 발명의 실시 형태는 여러 가지 다른 형태로 변형될 수 있으며, 본 발명의 범위가 이하 설명하는 실시 형태로 한정되는 것은 아니다.
또한, 본 발명의 실시 형태는 당해 기술 분야에서 평균적인 지식을 가진 자에게 본 발명을 더욱 완전하게 설명하기 위해서 제공되는 것이다.
도면에서 요소들의 형상 및 크기 등은 보다 명확한 설명을 위해 과장될 수 있다.
또한, 각 실시 예의 도면에 나타난 동일한 사상의 범위 내의 기능이 동일한 구성 요소는 동일한 참조 부호를 사용하여 설명한다.
본 발명의 실시 예들을 명확하게 설명하기 위해 육면체의 방향을 정의하면, 도면 상에 표시된 L, W 및 T는 각각 길이 방향, 폭 방향 및 두께 방향을 나타낸다. 여기서, 두께 방향은 유전체층이 적층된 적층 방향과 동일한 개념으로 사용될 수 있다.
적층 세라믹 커패시터
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시형태를 상세히 설명한다.
도 1은 본 발명의 일 실시형태에 따른 적층 세라믹 커패시터의 사시도이다.
도 2는 도 1의 A-A' 단면도이다.
도 1 및 도 2를 참조하면, 본 발명의 일 실시형태에 따른 적층 세라믹 커패시터(100)는 복수의 유전체층(111)을 포함하며, 서로 마주보는 제1, 제2 주면, 서로 마주보는 제1, 제2 측면 및 서로 마주보는 제1, 제2 단면을 가지는 세라믹 본체(110)를 포함할 수 있다.
본 실시형태에서, 상기 세라믹 본체(110)는 서로 대향하는 제1 주면(5) 및 제 2주면(6)과 상기 제1 주면 및 제2 주면을 연결하는 제1 측면(3), 제2 측면(4), 제1 단면(1) 및 제2 단면(2)을 가질 수 있다.
상기 세라믹 본체(110)의 형상에 특별히 제한은 없지만, 도시된 바와 같이 육면체 형상일 수 있다.
상기 세라믹 본체(110)는 복수의 유전체층(111)이 적층됨으로써 형성되며, 상기 세라믹 본체(110)의 내에는 복수의 제1 및 제2 내부 전극들(121, 122)이 유전체층(111)을 사이에 두고 서로 분리되어 배치될 수 있다.
상기 세라믹 본체(110)를 구성하는 복수의 유전체층(111)은 소결된 상태로서, 인접하는 유전체층끼리의 경계는 확인할 수 없을 정도로 일체화되어 있을 수 있다.
상기 유전체층(111)은 세라믹 파우더, 유기 용제 및 유기 바인더를 포함하는 세라믹 그린시트의 소성에 의하여 형성될 수 있다. 상기 세라믹 파우더는 높은 유전율을 갖는 물질로서 이에 제한되는 것은 아니나 티탄산바륨(BaTiO3)계 재료, 티탄산스트론튬(SrTiO3)계 재료 등을 사용할 수 있다.
상기 적층 세라믹 커패시터(100)는 상기 세라믹 본체(110) 내에 형성되며, 제1 측면(3)으로 노출된 리드(121a)를 갖는 제1 내부전극(121)과 제2 단면(2)으로 노출된 제2 내부전극(122)을 포함하는 커패시터부를 포함할 수 있다.
또한, 상기 적층 세라믹 커패시터(100)는 상기 세라믹 본체(110) 내에 형성된 적어도 일 극성의 제1 내지 제3 내부 연결도체(123, 124, 125)를 포함할 수 있다.
상기 제1 내지 제3 내부 연결도체(123, 124, 125) 중 상기 제1 및 제2 내부 연결도체(123, 124)는 상기 적층 세라믹 커패시터(100) 내에서 1-턴(1-turn)의 인덕터(L)를 형성할 수 있다.
상기 제1 및 제2 내부 연결도체(123, 124)에 의해 형성되는 인덕터(L)는 1 내지 5 nH 정도의 인덕턴스를 얻을 수 있으나, 이에 반드시 제한되는 것은 아니다.
또한, 상기 제1 내지 제3 내부 연결도체(123, 124, 125) 중 상기 제3 내부 연결도체(125)는 상기 적층 세라믹 커패시터(100) 내에서 저항(R)을 형성할 수 있다.
상기 제3 내부 연결도체(125)에 의해 형성되는 저항(R)은 상기 제3 내부 연결도체(125)의 치수, 면적 또는 적층수에 따라 다양한 값으로 제어될 수 있다.
상기 저항(R)값은 이에 제한되는 것은 아니나, 예를 들어 0.1 내지 1.0 Ω 정도를 형성할 수 있다.
상기와 같이, 제1 내지 제3 내부 연결도체(123, 124, 125)에 의해 형성될 수 있는 인덕터의 인덕턴스와 저항의 저항값에 의해 유효 주파수를 조정하고 고주파 영역에서 증가하는 등가직렬저항(ESR)에 의해 링잉(Ringing)을 억제할 수 있고, 이에 따라 노이즈를 저감할 수 있다.
본 발명의 일 실시형태에 따른 적층 세라믹 커패시터(100)가 포함하는 상기 제1 및 제2 내부전극(121, 122)은 도전성 금속을 포함하는 도전성 페이스트에 의하여 형성될 수 있다.
상기 도전성 금속은 이에 제한되는 것은 아니나, 니켈(Ni), 구리(Cu), 팔라듐(Pd), 또는 이들의 합금일 수 있다.
유전체층을 형성하는 세라믹 그린시트 상에 스크린 인쇄법 또는 그라비아 인쇄법과 같은 인쇄법을 통하여 도전성 페이스트로 내부 전극을 인쇄할 수 있다.
내부전극이 인쇄된 세라믹 그린시트를 번갈아가며 적층하고 소성하여 세라믹 본체를 형성할 수 있다.
한편, 상기 제1 및 제2 내부 연결도체(123, 124)는 인덕터(L)를 형성할 수 있는 재료이면 특별히 제한되는 것은 아니며, 예를 들어 비자성체 물질을 포함하여 형성될 수 있다.
상기 비자성체 물질은 이에 제한되는 것은 아니나, 아연(Zn), 구리(Cu), 티타늄(Ti), 또는 이들의 합금을 포함하는 페라이트일 수 있다.
상기 제3 내부 연결도체(125)는 저항(R)을 형성할 수 있는 재료이면 특별히 제한되는 것은 아니며, 예를 들어 상기 제1 및 제2 내부전극(121, 122)과 유사하게 도전성 금속을 포함하는 도전성 페이스트에 의하여 형성될 수 있다.
상기 도전성 금속은 이에 제한되는 것은 아니나, 니켈(Ni), 구리(Cu), 팔라듐(Pd), 또는 이들의 합금일 수 있다.
또한, 적층 세라믹 커패시터(100)는 상기 세라믹 본체(110)의 외측에 형성되며, 상기 제1 및 제2 내부전극(121, 122)과 제1 내지 제3 내부 연결도체(123, 124, 125)를 전기적으로 연결하는 제1 내지 제4 외부 전극(131, 132, 133, 134)을 포함할 수 있다.
상기 제1 및 제2 외부 전극(131, 132)은 상기 세라믹 본체(110)의 서로 마주보는 제1 및 제2 단면(1, 2)에 배치되고, 제3 및 제4 외부 전극(133, 134)은 서로 마주보는 제1 및 제2 측면(3, 4)에 배치될 수 있다.
본 발명의 일 실시형태에 따르면, 전원 라인과 연결을 위한 외부 단자로 사용되는 제1 및 제2 외부 전극(131, 132)을 제외한 2개의 외부 전극(133, 134)은 ESR 조정용 외부 전극으로 사용되는 형태로 이해할 수 있다.
다만, 외부 단자로 사용되는 제1 및 제2 외부 전극은 원하는 ESR 특성에 맞게 임의로 선택될 수 있으므로, 특별히 제한되는 것은 아니다.
상기 제1 내지 제4 외부전극(131, 132, 133, 134)은 도전성 금속을 포함하는 도전성 페이스트에 의하여 형성될 수 있다.
상기 도전성 금속은 이에 제한되는 것은 아니나, 니켈(Ni), 구리(Cu), 주석(Sn), 또는 이들의 합금일 수 있다.
상기 도전성 페이스트는 절연성 물질을 더 포함할 수 있으며, 이에 제한되는 것은 아니나, 예를 들어 상기 절연성 물질은 글라스일 수 있다.
상기 제1 내지 제4 외부전극(131, 132, 133, 134)을 형성하는 방법은 특별히 제한되지 않으며, 상기 세라믹 본체를 디핑(dipping)하여 형성할 수도 있으며, 도금 등의 다른 방법을 사용할 수도 있음은 물론이다.
상기 적층 세라믹 커패시터(100)는 총 4개의 외부 전극을 갖는 4단자 커패시터이나, 본 발명이 이에 한정되는 것은 아니다.
도 3은 도 1에 도시된 적층 세라믹 커패시터에 사용가능한 제1 및 제2 내부 전극을 나타내는 평면도이다.
도 4는 도 3에 도시된 제1 및 제2 내부전극과 함께 사용가능한 제1 및 제2 내부 연결도체를 나타내는 평면도이다.
도 5는 도 3에 도시된 제1 및 제2 내부전극과 함께 사용가능한 제3 내부 연결도체를 나타내는 평면도이다.
이하, 본 발명의 일 실시형태에 따른 적층 세라믹 커패시터(100)의 구성 중 제1, 제2 내부전극(121, 122), 제1 내지 제3 내부 연결도체(123, 124, 125) 및 외부전극(131, 132, 133, 134)에 대하여 도 2 내지 도 5를 참조하여 자세히 설명하도록 한다.
도 2 및 도 3을 참조하면, 상기 커패시터부(C)는 상기 세라믹 본체(110) 내에 형성되며, 제1 측면(3)으로 노출된 리드(121a)를 갖는 제1 내부전극(121)과 제2 단면(2)으로 노출된 제2 내부전극(122)을 포함하여, 정전 용량을 형성할 수 있다.
상기 커패시터부(C)는 상기 세라믹 본체(110) 내에서 특별히 제한 없이 배치될 수 있으며, 목표 용량값을 구현하기 위하여 복수개가 적층될 수 있다.
상기 제1 및 제2 내부 전극(121, 122)은 상기 제1 내지 제3 내부 연결도체(123, 124, 125)와 함께 유전체층(111)을 사이에 두고 교대로 배치될 수 있다.
도 3에 도시된 제1 및 제2 내부 전극(121, 122)은 각각 하나씩 도시되어 있으나, 실제 적용되는 형태에서의 내부 전극은 복수 개일 수 있다.
도 4 및 도 5를 참조하면, 상기 제1 내지 제3 내부 연결도체(123, 124, 125)는 각각 하나가 도시되어 있으나, 적어도 일 극성의 내부 연결도체는 복수개로 제공될 수도 있다.
한편, 도 3, 도 4 및 도 5에 도시된 순서에 따라 적층될 수 있으나, 필요에 따라 다양한 순서로 적층될 수 있다.
예를 들어, 도 2에 도시된 바와 같이 제1 내지 제3 내부 연결도체(123, 124, 125)가 커패시터부(C) 사이에 위치하도록 배치될 수도 있다.
본 발명의 일 실시 예에서, 상기 제1 내부 연결도체(123)는 제1 단면 및 제2 측면으로 노출될 수 있으나, 이에 제한되는 것은 아니다.
또한, 본 발명의 일 실시 예에서, 상기 제2 내부 연결도체(124)는 제1 및 제2 측면으로 노출될 수 있으나, 이에 제한되는 것은 아니다.
또한, 본 발명의 일 실시 예에서, 상기 제3 내부 연결도체(125)는 제1 단면 및 제1 측면으로 노출될 수 있으나, 이에 제한되는 것은 아니다.
본 발명의 일 실시 예에서, 상기 제1 내부 연결도체(123)는 제1 단면(1) 및 제2 측면(4)으로 노출되며, 상기 제2 내부 연결도체(124)와 제4 외부전극(134)을 통해 연결될 수 있으나, 이에 제한되는 것은 아니다.
본 발명의 일 실시 예에서, 상기 제1 및 제2 내부 연결도체(123, 124)는 상기 제3 내부 연결도체(125)와 병렬 연결될 수 있다.
본 발명의 일 실시 예에서, 상기 제1 및 제2 내부 연결도체(123, 124)는 인덕터(L)를 형성할 수 있으며, 제1 내부 연결도체(123)의 일단이 제1 외부전극(131)과 연결되며, 제2 내부 연결도체(124)의 일단이 상기 제1 내부전극(121)과 제3 외부전극(133)을 통해 연결될 수 있다.
또한, 상기 제3 내부 연결도체(125)는 일단이 제1 외부전극(131)과 연결되며, 타단이 상기 제1 내부전극(121)과 제3 외부전극(133)을 통해 연결될 수 있다.
도 4 및 도 5에 도시된 상기 제1 내지 제3 내부 연결도체(123, 124, 125)의 패턴 형상은 본 발명의 일 실시형태에 따른 것에 불과하며, ESR을 조절하기 위하여 다양한 패턴 형상을 가질 수 있음은 물론이다.
예를 들면, 도 3에 도시된 제1 및 제2 내부 전극(121, 122)의 패턴 형상과 동일한 형태일 수도 있다.
본 발명의 일 실시 형태에 따르면, 상기 제1 내지 제3 내부 연결도체(123, 124, 125)에 의해 상기 적층 세라믹 커패시터의 등가직렬저항(ESR)이 조절될 수 있다.
즉, 후술하는 바와 같이 상기 제1, 제2 내부 연결도체(123, 124)와 제3 내부 연결도체(125)는 병렬 연결되고, 상기 제1 내지 제3 내부 연결도체(123, 124, 125)와 상기 커패시터부(C)는 직렬 연결될 수 있다.
상기와 같은 연결을 통해, 제1 내지 제3 내부 연결도체(123, 124, 125)에 의해 상기 적층 세라믹 커패시터의 등가직렬저항(ESR)이 조절될 수 있다.
본 발명의 일 실시형태에 따르면, 상기 적층 세라믹 커패시터의 등가직렬저항(ESR)은 저주파 영역에 비해 고주파 영역에서 증가하는 특성을 가질 수 있다.
이로 인하여, 저주파 영역에서의 등가직렬저항(ESR)이 작기 때문에 DC-DC 컨버터의 전력 변환에 필요한 스위칭 전류를 소비하지 않고, 고주파 영역에서 증가하는 등가직렬저항(ESR)에 의해서 링잉 현상을 억제시켜 노이즈를 저감할 수 있다.
또한, 상기 적층 세라믹 커패시터는 상기 커패시터부(C)와 인덕터(L) 및 저항(R)을 형성하는 제1 내지 제3 내부 연결도체(123, 124, 125)를 포함함으로써 DC-DC 컨버터의 변환 효율에 영향을 주지 않으면서 공진을 억제하고 노이즈를 저감할 수 있다.
또한, 본 실시형태에서는, 전원 라인과 연결을 위한 외부 단자로 제1 및 제2 외부전극(131, 132)이 사용될 수 있으며, 예를 들어 제1 외부전극(131)은 전원단에 연결되고, 제2 외부전극(132)은 그라운드에 연결될 수 있다.
한편, 상기 하나의 제1 및 제2 외부 전극(131, 132)을 제외한 2개의 외부 전극인 제3 및 제4 외부전극(133, 134)은 ESR 조정용 외부 전극으로 사용될 수 있으며, 비접촉 단자(No Contact terminal)로 이해할 수 있다.
도 6은 도 1에 도시된 적층 세라믹 커패시터의 등가회로도이다.
도 6을 참조하면, 인덕터(L)를 형성하는 상기 제1, 제2 내부 연결도체(123, 124)와 저항(R)을 형성하는 제3 내부 연결도체(125)는 병렬 연결되고, 상기 인덕터(L) 및 저항(R)을 형성하는 상기 제1 내지 제3 내부 연결도체(123, 124, 125)와 상기 커패시터부(C)는 직렬 연결될 수 있다.
상기와 같이 본 발명의 일 실시형태에 따른 적층 세라믹 커패시터는 하나의 커패시터(C), 인덕터(L) 및 저항(R)을 가지며 각각의 값을 제어할 수 있다.
본 발명의 일 실시형태에 따른 적층 세라믹 커패시터는 상술한 내부전극 (121, 122), 내부 연결도체(123, 124, 125) 및 외부전극(131, 132, 133, 134)의 구조를 가짐으로써, 공진을 억제하는 DC-DC 컨버터용 적층 세라믹 커패시터를 구현할 수 있다.
또한, 본 발명의 일 실시형태에 따른 적층 세라믹 커패시터는 저주파 영역에서는 ESR이 작고, 고주파 영역에서는 ESR이 증가하는 특성을 가지기 때문에 DC-DC 컨버터의 전력 전환에 필요한 스위칭 전류를 소비하지 않고 고주파 영역에서 증가하는 ESR에 의해서 링잉(Ringing) 현상을 억제할 수 있다.
도 7은 본 발명의 다른 실시형태에 따른 적층 세라믹 커패시터의 사시도이다.
도 8은 도 7에 도시된 적층 세라믹 커패시터에 사용가능한 제1 및 제2 내부 전극을 나타내는 평면도이다.
도 9는 도 8에 도시된 제1 및 제2 내부전극과 함께 사용가능한 제1 내부 연결도체를 나타내는 평면도이다.
도 10은 도 8에 도시된 제1 및 제2 내부전극과 함께 사용가능한 제2 및 제3 내부 연결도체를 나타내는 평면도이다.
도 7 내지 도 10을 참조하면, 본 발명의 다른 실시형태에 따른 적층 세라믹 커패시터(200)는 복수의 유전체층(211)을 포함하며, 서로 마주보는 제1, 제2 주면, 서로 마주보는 제1, 제2 측면 및 서로 마주보는 제1, 제2 단면을 가지는 세라믹 본체(210); 상기 세라믹 본체(210) 내에 형성되며, 제2 측면으로 노출된 리드(221a)를 갖는 제1 내부전극(221)과 제2 단면으로 노출된 제2 내부전극(222)을 포함하는 커패시터부; 상기 세라믹 본체(210) 내에 형성된 적어도 일 극성의 제1 내지 제3 내부 연결도체(223, 224, 225); 및 상기 세라믹 본체의 외측에 형성되며, 상기 제1, 제2 내부전극(221, 222) 및 제1 내지 제3 내부 연결도체(223, 224, 225)와 전기적으로 연결된 제1 내지 제4 외부 전극(231, 232, 233, 234);을 포함하며, 상기 제1 내부 연결도체(223)와 제2 및 제3 내부 연결도체(224, 225)는 병렬 연결되고, 상기 제1 내지 제3 내부 연결도체(223, 224, 225)와 상기 커패시터부는 직렬 연결된 것을 특징으로 하는 적층 세라믹 커패시터를 제공한다.
상기 본 발명의 다른 실시형태에 따른 적층 세라믹 커패시터의 특징 중 상술한 본 발명의 일 실시형태에 따른 적층 세라믹 커패시터의 특징과 동일한 부분은 중복을 피하기 위하여 여기서는 생략하도록 한다.
상기 제1 및 제2 외부 전극(231, 232)은 상기 세라믹 본체의 서로 마주보는 제1 및 제2 단면(1, 2)에 배치되고, 상기 제3 및 제4 외부 전극(233, 234)은 상기 세라믹 본체(210)의 서로 마주보는 제1 및 제2 측면(3, 4)에 배치될 수 있다.
상기 제1 내부 연결도체(223)는 비자성체 물질을 포함하는 것을 특징으로 한다.
상기 제1 내부 연결도체(223)는 제1 단면(1) 및 제2 측면(4)으로 노출될 수 있다.
상기 제2 내부 연결도체(224)는 제1 단면(1) 및 제1 측면(3)으로 노출될 수 있다.
상기 제3 내부 연결도체(225)는 제1 및 제2 측면(3, 4)으로 노출될 수 있다.
본 발명의 일 실시 예에서, 상기 적층 세라믹 커패시터의 등가직렬저항(ESR)은 상기 제1 내지 제3 내부 연결도체(223, 224, 225)에 의해 조절될 수 있다.
상기 적층 세라믹 커패시터의 등가직렬저항(ESR)은 저주파 영역에 비해 고주파 영역에서 증가하는 것을 특징으로 한다.
적층 세라믹 커패시터의 실장 기판
도 11은 도 1의 적층 세라믹 커패시터가 인쇄회로기판에 실장된 모습을 도시한 사시도이다.
도 12는 도 11의 적층 세라믹 커패시터 및 인쇄회로기판을 길이 방향으로 절단하여 도시한 단면도이다.
도 11 및 도 12을 참조하면, 본 실시 형태에 따른 적층 세라믹 커패시터(100)의 실장 기판(300)은 적층 세라믹 커패시터(100)가 수평하도록 실장되는 인쇄회로기판(310)과, 인쇄회로기판(310)의 상면에 서로 이격되게 형성된 제1 및 제2 전극 패드(321, 322)을 포함한다.
이때, 적층 세라믹 커패시터(100)는 제1 및 제2 외부 전극(131, 132)이 각각 제1 및 제2 전극 패드(321, 322) 위에 접촉되게 위치한 상태에서 솔더링(330)에 의해 인쇄회로기판(310)과 전기적으로 연결될 수 있다.
도 13은 본 발명의 실시예와 비교예의 ESR을 비교한 그래프이다.
도 13을 참조하면, 본 발명의 일 실시형태에 따른 적층 세라믹 커패시터는 종래의 적층 세라믹 커패시터인 비교예에 비하여 저주파 영역에서는 ESR이 작고, 고주파 영역에서는 ESR이 보다 크기 때문에, DC-DC 컨버터의 전력 전환에 필요한 스위칭 전류를 소비하지 않고 고주파 영역에서 증가하는 ESR에 의해서 링잉(Ringing) 현상을 억제할 수 있음을 알 수 있다.
이상에서 본 발명의 실시 형태에 대하여 상세하게 설명하였지만 본 발명의 권리 범위는 이에 한정되는 것은 아니고, 청구 범위에 기재된 본 발명의 기술적 사항을 벗어나지 않는 범위 내에서 다양한 수정 및 변형이 가능하다는 것은 당 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자에게는 자명할 것이다.
100, 200; 적층 세라믹 커패시터 110, 210; 세라믹 본체
111, 211; 유전체층
121, 122, 221, 222; 제1 및 제2 내부 전극
123, 124, 125, 223, 224, 225; 제1 내지 제3 내부 연결도체
121a, 221a; 리드
131, 132, 133, 134, 231, 232, 233, 234; 제1 내지 제4 외부 전극
300; 실장 기판 310; 인쇄회로기판 321, 322; 제1 및 제2 전극 패드 330; 솔더링
111, 211; 유전체층
121, 122, 221, 222; 제1 및 제2 내부 전극
123, 124, 125, 223, 224, 225; 제1 내지 제3 내부 연결도체
121a, 221a; 리드
131, 132, 133, 134, 231, 232, 233, 234; 제1 내지 제4 외부 전극
300; 실장 기판 310; 인쇄회로기판 321, 322; 제1 및 제2 전극 패드 330; 솔더링
Claims (17)
- 복수의 유전체층을 포함하며, 서로 마주보는 제1, 제2 주면, 서로 마주보는 제1, 제2 측면 및 서로 마주보는 제1, 제2 단면을 가지는 세라믹 본체;
상기 세라믹 본체 내에 형성되며, 제1 측면으로 노출된 리드를 갖는 제1 내부전극과 제2 단면으로 노출된 제2 내부전극을 포함하는 커패시터부;
상기 세라믹 본체 내에 형성된 적어도 일 극성의 제1 내지 제3 내부 연결도체; 및
상기 세라믹 본체의 외측에 형성되며, 상기 제1, 제2 내부전극 및 제1 내지 제3 내부 연결도체와 전기적으로 연결된 제1 내지 제4 외부 전극;을 포함하며,
상기 제1, 제2 내부 연결도체와 제3 내부 연결도체는 병렬 연결되고, 상기 제1 내지 제3 내부 연결도체와 상기 커패시터부는 직렬 연결된 것을 특징으로 하는 적층 세라믹 커패시터.
- 제1항에 있어서,
상기 제1 및 제2 외부 전극은 상기 세라믹 본체의 서로 마주보는 제1 및 제2 단면에 배치되고, 상기 제3 및 제4 외부 전극은 상기 세라믹 본체의 서로 마주보는 제1 및 제2 측면에 배치된 적층 세라믹 커패시터.
- 제1항에 있어서,
상기 제1 및 제2 내부 연결도체는 비자성체 물질을 포함하는 적층 세라믹 커패시터.
- 제1항에 있어서,
상기 제1 내부 연결도체는 제1 단면 및 제2 측면으로 노출되는 적층 세라믹 커패시터.
- 제1항에 있어서,
상기 제2 내부 연결도체는 제1 및 제2 측면으로 노출되는 적층 세라믹 커패시터.
- 제1항에 있어서,
상기 제3 내부 연결도체는 제1 단면 및 제1 측면으로 노출되는 적층 세라믹 커패시터.
- 제1항에 있어서,
상기 적층 세라믹 커패시터의 등가직렬저항(ESR)은 상기 제1 내지 제3 내부 연결도체에 의해 조절되는 것을 특징으로 하는 적층 세라믹 커패시터.
- 제1항에 있어서,
상기 적층 세라믹 커패시터의 등가직렬저항(ESR)은 저주파 영역에 비해 고주파 영역에서 증가하는 적층 세라믹 커패시터.
- 복수의 유전체층을 포함하며, 서로 마주보는 제1, 제2 주면, 서로 마주보는 제1, 제2 측면 및 서로 마주보는 제1, 제2 단면을 가지는 세라믹 본체;
상기 세라믹 본체 내에 형성되며, 제2 측면으로 노출된 리드를 갖는 제1 내부전극과 제2 단면으로 노출된 제2 내부전극을 포함하는 커패시터부;
상기 세라믹 본체 내에 형성된 적어도 일 극성의 제1 내지 제3 내부 연결도체; 및
상기 세라믹 본체의 외측에 형성되며, 상기 제1, 제2 내부전극 및 제1 내지 제3 내부 연결도체와 전기적으로 연결된 제1 내지 제4 외부 전극;을 포함하며,
상기 제1 내부 연결도체와 제2 및 제3 내부 연결도체는 병렬 연결되고, 상기 제1 내지 제3 내부 연결도체와 상기 커패시터부는 직렬 연결된 것을 특징으로 하는 적층 세라믹 커패시터.
- 제9항에 있어서,
상기 제1 및 제2 외부 전극은 상기 세라믹 본체의 서로 마주보는 제1 및 제2 단면에 배치되고, 상기 제3 및 제4 외부 전극은 상기 세라믹 본체의 서로 마주보는 제1 및 제2 측면에 배치된 적층 세라믹 커패시터.
- 제9항에 있어서,
상기 제1 내부 연결도체는 비자성체 물질을 포함하는 적층 세라믹 커패시터.
- 제9항에 있어서,
상기 제1 내부 연결도체는 제1 단면 및 제2 측면으로 노출되는 적층 세라믹 커패시터.
- 제9항에 있어서,
상기 제2 내부 연결도체는 제1 단면 및 제1 측면으로 노출되는 적층 세라믹 커패시터.
- 제9항에 있어서,
상기 제3 내부 연결도체는 제1 및 제2 측면으로 노출되는 적층 세라믹 커패시터.
- 제9항에 있어서,
상기 적층 세라믹 커패시터의 등가직렬저항(ESR)은 상기 제1 내지 제3 내부 연결도체에 의해 조절되는 것을 특징으로 하는 적층 세라믹 커패시터.
- 제9항에 있어서,
상기 적층 세라믹 커패시터의 등가직렬저항(ESR)은 저주파 영역에 비해 고주파 영역에서 증가하는 적층 세라믹 커패시터.
- 상부에 제1 및 제2 전극 패드를 갖는 인쇄회로기판; 및
상기 인쇄회로기판 위에 설치된 상기 제1항 내지 제16항 중 어느 한 항의 적층 세라믹 커패시터;를 포함하는 적층 세라믹 커패시터의 실장 기판.
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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KR1020130081443A KR101504017B1 (ko) | 2013-07-11 | 2013-07-11 | 적층 세라믹 커패시터 및 그 실장 기판 |
US14/047,930 US9136059B2 (en) | 2013-07-11 | 2013-10-07 | Multilayer ceramic capacitor and board for mounting the same |
JP2013211728A JP2015019036A (ja) | 2013-07-11 | 2013-10-09 | 積層セラミックキャパシタ及びその実装基板 |
CN201310535995.7A CN104282437B (zh) | 2013-07-11 | 2013-11-01 | 多层陶瓷电容器和用于安装该多层陶瓷电容器的板 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020130081443A KR101504017B1 (ko) | 2013-07-11 | 2013-07-11 | 적층 세라믹 커패시터 및 그 실장 기판 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20150007480A true KR20150007480A (ko) | 2015-01-21 |
KR101504017B1 KR101504017B1 (ko) | 2015-03-18 |
Family
ID=52257238
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020130081443A KR101504017B1 (ko) | 2013-07-11 | 2013-07-11 | 적층 세라믹 커패시터 및 그 실장 기판 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9136059B2 (ko) |
JP (1) | JP2015019036A (ko) |
KR (1) | KR101504017B1 (ko) |
CN (1) | CN104282437B (ko) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10283268B2 (en) | 2015-12-04 | 2019-05-07 | Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. | Multilayer capacitor and board having the same |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014239259A (ja) * | 2014-08-13 | 2014-12-18 | 株式会社村田製作所 | 積層コンデンサ及び積層コンデンサの実装構造体 |
WO2017083693A1 (en) | 2015-11-12 | 2017-05-18 | Arizona Board Of Regents On Behalf Of Arizona State University | Method of preparing metal diboride dispersions and films |
JP2018093164A (ja) | 2016-12-02 | 2018-06-14 | サムソン エレクトロ−メカニックス カンパニーリミテッド. | 積層セラミック電子部品及びその実装基板 |
CN109887708B (zh) * | 2017-11-29 | 2021-04-09 | 株式会社村田制作所 | 电子部件 |
CN108112161B (zh) * | 2017-12-22 | 2019-11-01 | 维沃移动通信有限公司 | 一种电路板、电子设备及电路板的制作方法 |
KR102150549B1 (ko) * | 2018-11-30 | 2020-09-01 | 삼성전기주식회사 | 커패시터 부품 |
Family Cites Families (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5678551U (ko) * | 1979-11-22 | 1981-06-25 | ||
JPH0360148A (ja) | 1989-07-28 | 1991-03-15 | Murata Mfg Co Ltd | 積層型lcr素子 |
JPH05347527A (ja) | 1992-06-12 | 1993-12-27 | Murata Mfg Co Ltd | ノイズフィルタ |
JPH07254528A (ja) * | 1994-03-16 | 1995-10-03 | Murata Mfg Co Ltd | 積層型ノイズフィルタ |
JPH07263278A (ja) * | 1994-03-18 | 1995-10-13 | Tdk Corp | コンデンサ |
JPH08139548A (ja) * | 1994-11-10 | 1996-05-31 | Taiyo Yuden Co Ltd | 積層emiフィルタ |
JP3907599B2 (ja) | 2003-03-07 | 2007-04-18 | Tdk株式会社 | 積層コンデンサ |
JP4604553B2 (ja) * | 2004-05-25 | 2011-01-05 | 株式会社村田製作所 | 積層セラミック電子部品およびその製造方法 |
JP4086812B2 (ja) | 2004-05-31 | 2008-05-14 | Tdk株式会社 | 積層コンデンサ |
JP4600082B2 (ja) | 2005-02-24 | 2010-12-15 | 株式会社村田製作所 | 積層型複合電子部品 |
JP4335237B2 (ja) * | 2006-07-21 | 2009-09-30 | Tdk株式会社 | 貫通型積層コンデンサ |
JP4626605B2 (ja) | 2006-11-07 | 2011-02-09 | 株式会社村田製作所 | 積層コンデンサ |
KR100925603B1 (ko) * | 2007-09-28 | 2009-11-06 | 삼성전기주식회사 | 적층형 캐패시터 |
JP4645637B2 (ja) * | 2007-11-15 | 2011-03-09 | Tdk株式会社 | 積層コンデンサ |
KR100916476B1 (ko) | 2007-11-30 | 2009-09-08 | 삼성전기주식회사 | 적층형 칩 커패시터 및 이를 구비한 회로기판 장치 |
JP4924490B2 (ja) * | 2008-03-10 | 2012-04-25 | Tdk株式会社 | 貫通型積層コンデンサ |
JP4450084B2 (ja) * | 2008-03-14 | 2010-04-14 | Tdk株式会社 | 積層コンデンサ及び積層コンデンサの実装構造 |
KR100983121B1 (ko) * | 2008-08-07 | 2010-09-17 | 삼성전기주식회사 | 적층형 칩 커패시터 |
JP5218545B2 (ja) | 2010-12-24 | 2013-06-26 | Tdk株式会社 | 積層コンデンサ |
KR101994712B1 (ko) | 2013-04-22 | 2019-09-30 | 삼성전기주식회사 | 적층 세라믹 커패시터 및 그 실장 기판 |
-
2013
- 2013-07-11 KR KR1020130081443A patent/KR101504017B1/ko active IP Right Grant
- 2013-10-07 US US14/047,930 patent/US9136059B2/en active Active
- 2013-10-09 JP JP2013211728A patent/JP2015019036A/ja active Pending
- 2013-11-01 CN CN201310535995.7A patent/CN104282437B/zh not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10283268B2 (en) | 2015-12-04 | 2019-05-07 | Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. | Multilayer capacitor and board having the same |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2015019036A (ja) | 2015-01-29 |
CN104282437A (zh) | 2015-01-14 |
US20150014033A1 (en) | 2015-01-15 |
CN104282437B (zh) | 2017-10-31 |
KR101504017B1 (ko) | 2015-03-18 |
US9136059B2 (en) | 2015-09-15 |
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A201 | Request for examination | ||
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FPAY | Annual fee payment |
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