KR20140129313A - 전기 상호접속부의 신호 품질 판정 - Google Patents

전기 상호접속부의 신호 품질 판정 Download PDF

Info

Publication number
KR20140129313A
KR20140129313A KR1020147027097A KR20147027097A KR20140129313A KR 20140129313 A KR20140129313 A KR 20140129313A KR 1020147027097 A KR1020147027097 A KR 1020147027097A KR 20147027097 A KR20147027097 A KR 20147027097A KR 20140129313 A KR20140129313 A KR 20140129313A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
signal
channel
noise
response
modified
Prior art date
Application number
KR1020147027097A
Other languages
English (en)
Other versions
KR101619009B1 (ko
Inventor
리차드 멜리츠
애디 란
Original Assignee
인텔 코오퍼레이션
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 인텔 코오퍼레이션 filed Critical 인텔 코오퍼레이션
Publication of KR20140129313A publication Critical patent/KR20140129313A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR101619009B1 publication Critical patent/KR101619009B1/ko

Links

Images

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04B—TRANSMISSION
    • H04B3/00—Line transmission systems
    • H04B3/02—Details
    • H04B3/46—Monitoring; Testing
    • H04B3/487—Testing crosstalk effects
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04B—TRANSMISSION
    • H04B3/00—Line transmission systems
    • H04B3/02—Details
    • H04B3/46—Monitoring; Testing

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Cable Transmission Systems, Equalization Of Radio And Reduction Of Echo (AREA)
  • Dc Digital Transmission (AREA)
  • Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)
  • Small-Scale Networks (AREA)

Abstract

네트워크 장치는 이더넷 통신 프로토콜을 이용하여 외부 장치와 통신하기 위해 각 채널에 연결되도록 구성된 전송 회로(Tx) 및 수신 회로(Rx)를 포함하는 PHY 회로; 및 상기 채널들 중에서 스루 채널과 적어도 하나의 크로스톡 채널을 지정하고; 시간 도메인에서, 제1 응답 신호의 근사 이용가능 신호 전압을 판정하고 - 상기 제1 응답 신호는 상기 스루 채널에 인가된 테스트 신호에 대한 응답임 - ; 상기 제1 응답 신호의 제1 노이즈 프로파일을 판정하고; 제2 응답 신호의 제2 노이즈 프로파일을 판정하고 - 상기 제2 응답 신호는 크로스톡 채널에 인가되고 상기 스루 채널에 관해 측정된 상기 테스트 신호에 대한 응답임 - ; 적어도 부분적으로, 상기 이용가능 신호 전압과 상기 노이즈 프로파일들을 기반으로 상기 스루 채널의 신호대잡음비를 판정하도록 구성된 테스트 회로를 포함할 수 있다.

Description

전기 상호접속부의 신호 품질 판정{DETERMINING THE SIGNAL QUALITY OF AN ELECTRICAL INTERCONNECT}
이 출원은 2012년 3월 12일자 출원된 미합중국 예비 출원 시리얼 번호 61/609,804의 이익을 주장하며, 이는 참조로 그의 전부가 통합되어 있다.
본 공개는 전기 상호접속부(electrical interconnect)의 신호 품질을 판정하는 것에 관한 것이다.
전기 상호접속부 또는 채널은, 광의에서, 임의 2개의 기능 유닛, 예를 들어, 임의 2개의 집적 회로 사이에 존재할 수 있고, 그러한 기능 유닛들은 복수의 상호접속부 또는 채널들을 가질 수 있다. 채널 그 자체와 다른 채널들로부터의 크로스톡의 함수로서, 주어진 채널 상의 노이즈, 궁극적으로는 신호대잡음비(SNR)를 판정하는 것은 일반적으로, 주어진 채널에 관한 조건들의 변경에 잘 맞지 않고 채널 품질 측정을 실시간 또는 거의 실시간으로 할 수 없는 계산 집약적이고 시간 집약적인 프로세스를 수반한다. 예를 들어, 눈 높이/폭 측정 및/또는 주파수 도메인 SNR 계산을 이용하는 종래의 접근방식은 통상 실시간으로 실행될 수 없는 계산 집약적인 프로세스이다. 더욱이, 노이즈를 판정하기 위한 종래의 접근방식들은 고속 통신 네트워크에 필요한 정확도와 견고성이 부족하다.
청구된 주제의 피처들과 장점들은 그와 일관성이 있는 실시 예들에 대한 다음의 상세한 설명으로부터 자명해질 것이고 이 설명은 첨부 도면을 참조해서 고려되어야 한다.
도 1은 본 공개의 다양한 실시 예에 일치하는 시스템을 보여주고 있다.
도 2는 본 공개의 일 실시 예에 따른 동작들의 흐름도이다.
도 3은 본 공개의 일 실시 예에 따른 스루 채널(through channel)의 측정된 신호 및 수정된 신호의 신호 플롯을 보여주고 있다.
도 4는 본 공개의 일 실시 예에 따른 스루 채널의 수정된 신호의 샘플링 신호 플롯을 보여주고 있다.
도 5는 본 공개의 일 실시 예에 따른 스루 채널의 PDF 플롯의 예를 보여주고 있다.
도 6은 본 공개의 다른 실시 예에 따른 동작들의 흐름도이다.
도 7은 본 공개의 일 실시 예에 따른 크로스톡 채널의 수정된 크로스톡 신호 일부의 신호 플롯을 보여주고 있다.
도 8은 본 공개의 일 실시 예에 따른 크로스톡 채널들의 PDF 플롯들의 예를 보여주고 있다.
도 9는 본 공개의 다른 실시 예에 따른 동작들의 흐름도이다.
도 10은 본 공개의 일 실시 예에 따른 PDF 플롯들의 조합의 예를 보여주고 있다.
도 11은 본 공개의 다른 실시 예에 따른 동작들의 흐름도이다.
도 12는 본 공개의 다른 실시 예에 따른 동작들의 흐름도이다.
다음의 상세한 설명이 예시적인 실시 예들을 참조해서 이루어질지라도, 이들의 많은 변경, 수정 및 변형은 이 방면에 숙련된 자들에게는 자명할 것이다.
일반적으로, 이 공개는 짧은 지속기간 테스트 신호를 이용하여 전기 채널의 신호 품질을 판정하기 위한 방법 및 시스템을 기술한다. 여기에 기술된 방법들은 채널의 노이즈 프로파일을 어림 잡기 위해서 시-도메인 계산(주파수-도메인 계산이 아닌)을 이용한다. 노이즈 프로파일은 적어도 주어진 채널 규격의 준수 레벨(compliance level)에 가깝게 어림잡을 수 있다. 여기에 기술된 시-도메인 접근방식은 종래의 채널 품질 메트릭 판정 프로세스에 비해서 상당한 장점들, 예를 들어, 상당히 축소된 프로세서 및 메모리 필요조건을 제공한다.
도 1은 본 공개의 다양한 실시 예에 따른 시스템(100)을 보여주고 있다. 도 1에 도시된 시스템(100)은 일반적으로 제1 네트워크 장치(102) 및 제2 네트워크 장치(104)를 포함한다. 네트워크 장치(102, 104)는 복수의 상호접속부, 또는 채널(110, 112,..., 114, 116)을 통해서 서로 통신한다. 여기에 이용된 "채널"은 유선, 구리 트레이스, 커넥터, 패키지, 인터포저, 와이어 본드, 비아, 케이블 등의 임의 조합으로서 정의될 수 있다. 예를 들어, 채널(110, 112,..., 114, 116)은, 예를 들어, 구리 트윈-액시얼 케이블, 인쇄 회로 기판의 백플레인 트레이스 등을 포함할 수 있는 매체 종속 인터페이스를 포함할 수 있다. 일부 실시 예들에서, 채널(110, 112,..., 114, 116)은 네트워크 장치들(102 및 104) 간의 개별 연결을 제공하는 복수의 논리적 및/또는 물리적 채널들(예로, 차동 쌍 채널)을 포함할 수 있다. 시스템(100)은, 예를 들어, 네트워크 시스템을 나타낼 수 있고 네트워크 장치(102 및 104)는 각각 네트워크 제어기(예로, 네트워크 인터페이스 카드(NIC), 네트워크 인터페이스 회로, 등), 스위치, 라우터, 네트워크 노드 요소(예로, 서버 시스템, 블레이드 시스템 등) 및/또는 다른 네트워크 장치를 나타낼 수 있으며, 다음의 설명은 네트워크 시스템을 참조로 진행된다. 그러나, 기능 유닛들에 관련된 하나 이상의 채널의 채널 품질을 판정함으로써 기능 유닛들 간의 통신이 유리하게 개선될 수 있는 임의 시스템에 본 공개가 적용되었음을 인식해야 한다.
네트워크 장치(102, 104)는 각각, 예를 들어, 이더넷 통신 프로토콜을 이용하여 서로 통신하도록 구성될 수 있다. 이더넷 통신 프로토콜은 전송 제어 프로토콜/인터넷 프로토콜(TCP/IP)을 이용한 통신을 가능하게 해준다. 이더넷 통신 프로토콜은 IEEE(Institute of Electrical and Electronic Engineers)에 의해서 2002년 3월에 발표된 타이틀이 "IEEE 802.3 Standard"인 이더넷 표준뿐만 아니라 이 표준의 모든 변형 및/또는 나중 버전들을 준수하거나 이들과 호환될 수 있다. 이하 기술된 예들에서, 이더넷 통신 프로토콜은, IEEE 프로젝트이며 "Amendment to IEEE Standard 802.3-2008"로서 발표되었으며 공식적인 타이틀이 "IEEE Standard for Information Technoloy-Telecommunications and Information Exchange Between Systems-Local and Metropolitan Area Networks-Specific Requirements Part 3: Carrier Sense Multiple Access with Collision Detection(CSMA/CD) Access Method and Physical Layer Specifications Amendment: Physical Layer Specifications and Mesurement. Parameters for 100 Gbs/s operation Over Backplanes and Copper Cables"인 IEEE802.3bj 표준을 따르거나 이와 호환될 수 있다. 언급된 바와 같이, 본 공개는 넓은 적용성을 가지며 다른 통신 프로토콜, 예를 들어, PCI 익스프레스, 이피니밴드, 파이버 채널, 선더볼트, HDMI, 등, 예로, 임의 2개의 기능 유닛 간의 임의 통신 프로토콜과 함께 이용될 수 있다.
네트워크 장치(102, 104)는 채널(110, 112,..., 114, 116)을 통해서, 일반적으로 네트워크 장치(102)를 네트워크 장치(104)에 인터페이스하도록 구성된 각자의 PHY 회로(118 및 120)를 포함한다. PHY 회로(118/120)는, 예를 들어, 10GBASE-KR, 40GBASE-KR4, 40GBASE-CR4, 100GBASE-CR10, 100GBASE-CR4, 100GBASE-KR4, 및/또는 100GBASE-KP4를 포함할 수 있는 앞서 언급한 IEEE 802.3 이더넷 통신 프로토콜 및/또는 앞서 언급한 IEEE 802.3/802.3bj 이더넷 통신 프로토콜을 준수하며 및/또는 후-개발 통신 프로토콜을 준수하는 다른 PHY 회로를 따르거나 이들과 호환될 수 있다. PHY 회로(118 및 120)는 각각 데이터 패킷 및/또는 프레임을 전송하도록 구성된 전송 회로(Tx)(122, 124 및 126, 128)를 포함한다. PHY 회로(118 및 120)는 각각 대응 Tx 회로로부터 데이터 패킷 및/또는 프레임을 수신하도록 구성된 대응 수신 회로(Rx)(130, 132 및 134, 136)를 포함한다. 물론, PHY 회로(118/120)는 또한 아날로그-디지털 및 디지털-아날로그 변환, 데이터의 인코딩 및 디코딩, 아날로그 기생 제거(analog parasitic cancellation)(예를 들어, 크로스톡 제거), 및 수신 데이터의 복원을 실행하도록 구성된 인코딩/디코딩 회로(도시되지 않음)를 포함할 수 있다. Rx 회로(110)는 링크된 Tx 회로로부터 데이터 수신의 타이밍을 조정하도록 구성된 위상 고정 루프 회로(PLL, 도시되지 않음)를 포함할 수 있다. Tx 및 Rx 회로는 앞서 언급한 이더넷 통신 프로토콜에 의해서 정의될 수 있는 연계 신호 필터들을 가질 수 있다. 신호 필터들은 하나 이상의 조정가능 필터 파라미터를 갖는 조정가능 필터들과 고정 또는 비-조정가능 필터들을 포함할 수 있다. 고정 필터들은, 예를 들어, 고역 필터, 저역 필터 등을 포함할 수 있다. 조정가능 필터들은, 예를 들어, 유한 임펄스 응답(FIR) 필터, 연속 시간 선형 필터(액티브 및/또는 패시브), 결정 피드백 이퀄라이저(DFE) 필터, 이산 시간 아날로그 필터, 디지털 필터 등을 포함할 수 있다. 조정가능 필터 파라미터는, 예를 들어, 탭(tap) 계수(또는 웨이트), 주파수 전달 함수(주파수당 이득 또는 감쇄), 극점 및 영점, 임펄스 응답, 스텝 응답, 프리-커서, 포스트-커서, Rx 이득 계수, 이득, 감쇄, 및/또는 다른 공지된 또는 후-개발된 필터 특성 등을 포함할 수 있다.
도 1에 도시된 채널(110, 112,..., 114, 116)은 스루 채널 및 크로스톡 채널로 표현될 수 있다. 여기서 이용되는 "스루 채널"은 일반적으로 두 지점 간의 저-저항 연결(예로, 직접 물리적 연결)로서 표현된다. 도 1의 스루 채널들은 Tx/Rx 회로의 직접 연결로 표현되어 있고; 채널(110)은 Tx/Rx(122, 130)용의 스루 채널이고; 채널(112)은 Tx/Rx(126, 134;...)용의 스루 채널이며; 채널(114)은 Tx/Rx(124, 132)용의 스루 채널이고; 채널(116)은 Tx/Rx(128, 136)용의 스루 채널이다. 여기에 이용되는 "크로스톡 채널"은 일반적으로 두 지점 간의 고-저항 연결로 정의되며, 전자기 노이즈(예로, 무선 주파수 노이즈 등)로 표현될 수 있다. 크로스톡 채널들은 근(near) 및 원(far) 크로스톡 채널로서 더 분류될 수 있다. "근" 크로스톡 채널은 당해 스루 채널에 비교적 가까운(예로, 공간적으로 가까운) 채널로서 정의되고, "원" 크로스톡 채널은 당해 스루 채널로부터 비교적 멀리 있는(예로, 공간적으로 먼) 채널로서 정의된다. 채널(110)(Rx 회로(130))을 스루 채널이라 하면, 예를 들어, 근 크로스톡 채널들은 이 채널들의 Tx 회로(126 및 128)가 네트워크 장치(104)에 포함되어 있기 때문에 채널(112 및 126)이고, 원 크로스톡 채널은 Tx 회로(124)가 네트워크 장치(104)로부터 공간적으로 멀리 있는 네트워크 장치(102)에 포함되어 있기 때문에 채널(114)이다. 물론, 이는 단지 근 및 원 크로스톡 채널들의 예일 뿐이고, 다른 실시 예들에서, 채널들은 특정 운영 환경, 노이즈 특성 등에 맞는 식으로 정의될 수 있다.
네트워크 장치(102)는 그에 연결된 적어도 한 채널(110, 112,..., 114, 116)의 품질을 테스트하도록 구성된 테스트 회로(106)를 포함한다. 몇몇 실시 예들에서는, 네트워크 장치(102)는 또한 그에 연결된 적어도 한 채널(110, 112,..., 114, 116)의 품질을 테스트하도록 구성된 테스트 회로(108)를 포함할 수 있다. 동작시, 테스트 회로(106 및/또는 108)는 스루 채널을 지정하고, 지정된 스루 채널 및 적어도 하나의 크로스톡 채널에 관한 테스트 신호를 생성하고, 스루 채널에 관한 테스트 신호에 응답해서 스루 채널의 전기 특성을 측정하고, 하나 이상의 크로스톡 채널에 관한 테스트 신호에 응답해서 스루 채널의 전기 특성을 측정하도록 구성되어 있다. 전기 특성은, 예를 들어, 노이즈, 왜곡, 손실, 분산(dispersion) 등, 및 /또는 채널의 신호 품질에 영향을 주는 다른 공지된 또는 후-발견된 속성을 포함할 수 있다. 전기 특성은 노이즈의 관점에서 평가될 수 있다. 게다가, 테스트 회로(106/108)는 스루 채널들 및 크로스톡 채널들의 전기 특성을 펄스 응답 모음으로 변환하고, 시-도메인에서, 이하 설명되는 방법을 이용하여, 예를 들어, 스루 채널의 신호대잡음(SNR)을 판정하기 위해 펄스 응답들을 평가하도록 구성되어 있다.
스루 채널 응답 및 노이즈 판정
도 2는 본 공개의 일 실시 예에 따른 동작들(200)의 흐름도이다. 특히, 흐름도(200)는 지정된 스루 채널의 테스트 신호에 대한 응답을 판정하고 스루 채널에 관련된 적어도 하나의 노이즈 특성을 판정하는 테스트 회로 동작을 보여주고 있다. 도 1을 계속 참조하면, 이 실시 예의 동작들은 스루 채널을 지정하는 일(202)을 포함한다. 위에 기술된 예와 일치되게, 채널(110)은 스루 채널이고, 모든 다른 채널(112,..., 114, 116)은 크로스톡 채널이라고 상정한다. 동작들은 또한 지정된 스루 채널의 전송(Tx) 회로에서 테스트 신호를 생성하고 스루 채널의 수신(Rx) 회로에서 테스트 신호에 대한 응답을 측정하여(204) 스루 채널 측정된 신호를 구하는 일(206)을 포함한다. 예를 들어, 테스트 회로(104)는 스루 채널(110)에 관한 테스트 신호를 생성하도록 테스트 회로(102)에 지시하도록 구성될 수 있다. 테스트 신호는, 예를 들어, 분리된 심볼 또는 알려져 있는 길이를 갖는 일련의 심볼을 포함할 수 있다. "심볼"은 Tx 회로로부터 전송된 정보를 인코딩하는 "단위 간격"(UI)로 표시된 고정 지속기간을 갖는 몇몇 공지된 파형들 중 하나이다. 예를 들어, 앞서 언급한 이더넷 통신 프로토콜과 일치하는, 펄스 진폭 변조(PAM) 신호는 비트(1 또는 0)를 정전압 레벨(2개의 가능한 전압 중 하나의 선택)로 인코딩하고 또는 유사하게 비트 쌍을 1 UI의 지속기간 동안 구동되는 4개의 가능한 전압 중 하나의 선택으로 인코딩한다. 동작들은 또한 스루 채널 수정된 신호를 구하기 위해서(210) Tx 및/또는 Rx 회로에 관련된 적어도 하나의 신호 필터의 적어도 한 조정가능 파라미터로 측정된 신호를 수정하는 일(208)을 포함할 수 있다. Tx 및/또는 Rx 신호 필터들은 앞서 언급한 이더넷 통신 프로토콜에서 정의될 수 있듯이 하나 이상의 프리셋 기능 및/또는 계수에 의해서 정의될 수 있고, 앞서 언급한 이더넷 통신 프로토콜에 의해 정의될 수 있듯이 수학적인 표현으로 나타내어질 수 있다.
동작들(204-210)의 개념은 도 3에 도시되어 있다. 도 3은 본 공개의 일 실시 예에 따른 스루 채널의 측정된 신호(302) 및 수정된 신호(304)의 신호 플롯(300)을 보여주고 있다. 신호 플롯(300)은 시간에 대한 신호 진폭의 플롯이다. 측정된 신호(302)는 Rx 회로에 의해 측정된 것으로 테스트 신호를 나타낸다. 수정된 신호(304)는 스루 채널의 Tx 및/또는 Rx 회로에 관련된 적어도 하나의 신호 필터의 최소 파라미터에 의해 수정된 것으로, 측정된 신호(302)의 수정을 나타낸다. 일반적으로, 측정된 신호(302)의 이용가능 신호 진폭은 수정된 신호(304)의 이용가능 신호 진폭보다 크다. Tx 및/또는 Rx 회로는 테스트 신호를 시간에 맞추어서 "스프레드(spread)"시킬 수 있으며, 그래서, 최종 측정되고 수정된 신호들은 일반적으로 1 UI보다 길며 스루 채널에 관련된 메모리 사이즈만큼 길 수 있다. 이 예에서, 1 UI는 20-60 피코초 정도일 수 있지만, 측정되고 수정된 신호들은 길이가 몇자릿수 더 길 수 있다(예로, 수 나노초).
도 2를 다시 참조하면서 도 1을 참조하면, 이 실시 예의 동작들은 수정된 신호의 제1 포지티브 영 교차를 판정하는 일(212)을 더 포함할 수 있다. 동작들은 또한 기준으로서 제1 포지티브 영 교차를 이용하여 수정된 신호를 샘플링하는 일(214)을 포함할 수 있다. 몇몇 실시 예에서, 샘플링 레이트는 테스트 신호 속성과 부합하도록 대략 UI 시간이 되게 선택될 수 있다. 동작들은 또한 제1 영 교차로부터 1 UI 간격으로 신호 진폭을 판정하는 일(216)을 포함할 수 있다. 동작들은 또한 샘플링된 수정된 신호 내의 간섭 신호 영역을 지정하는 일(218)을 포함할 수 있다. 간섭 신호 영역은 포지티브 또는 네거티브 시간 방향으로, 제1 포지티브 영 교차로부터 선택된 UI 샘플 수로서 선택될 수 있다. 몇몇 실시 예에서, 간섭 신호 영역은 앞서 언급한 이더넷 통신 프로토콜에 의해 정의될 수 있듯이 DFE에 의해 설정된 "탭"의 수에 기반을 둘 수 있다. DFE는 통상 앞서 검출된 심볼들을 기반으로, 현 심볼에 영향을 줄 수 있는 심볼간 간섭을 예측하도록 구성되어 있다. 이 간섭의 시간은 통상 탭들로서 정의되며, DFE는 또한 탭들에 의해 지정된 시간 기간 내의 심볼간 간섭을 전부 또는 부분적으로 제거하도록 구성되어 있다. "준수(compliant)" Rx 회로는, 적어도 부분적으로, 탭들의 수에 의해 정의될 수 있고, "준수"는 앞서 언급한 이더넷 통신 프로토콜에 의해 정의될 수 있다. 이러한 동작은 또한 간섭 영역 내의 샘플들의 진폭 값들을 제로잉(zeroing)하는 일(218)을 포함할 수 있다. 동작들은 또한 간섭 신호 영역 밖에 있는 적어도 하나의 대상 영역을 지정하는 일(220)을 포함할 수 있다. 일반적으로는 적어도 하나의 대상 영역을 노이즈로 고려한다. 이 실시 예에 따른 동작들은 또한 적어도 부분적으로 적어도 하나의 대상 영역 내의 노이즈 샘플들(이 영역 내의 노이즈 샘플들을 여기서는 "ISC"라고도 부른다)을 기반으로 성능지수(FOM)를 판정하는 일(222)을 포함할 수 있다. 몇몇 실시 예에서, FOM은 또한 여기서 ONS라 불리는 다른 노이즈 소스에 기반을 둘 수 있다. ONS는, 예를 들어, 앞서 언급한 이더넷 프로토콜에 의해 정의될 수 있듯이, 지터, Rx 회로 전압 이득 노이즈, 외부 RF 간섭, 전원 및/또는 회선 공급 노이즈, 우주 방사선(cosmic radiation), 및/또는 다른 노이즈 소스를 포함할 수 있다. ONS는 RMS(root-mean-square) 값, 함수, 계수, 수학적 표현 등으로 표현될 수 있다. FOM은 수정된 신호의 신호대잡음비(S/N 또는 SNR)를 나타낼 수 있고, 다음 식을 평가함으로써 생성될 수 있다:
FOM = S/√(∑ISC2 + ONS2).
동작들(212-222)의 개념은 도 4에 도시되어 있다. 도 4는 본 공개의 일 실시 예에 따른 스루 채널의 수정된 신호(304)의 샘플링의 신호 플롯(400)을 보여주고 있다. 제1 포지티브 영 교차(402)는 샘플링 기준으로 이용된다. 신호 진폭(406)(S)은 제1 영 교차(402)로부터 1 UI(404)에서 판정된다. 전체 파형은 제1 영 교차(402)를 기준으로 이용하여, 예시적 샘플(414, 416, 및 418)로 도시된 I UI 간격들에서 샘플링된다. 간섭 신호 영역(408)은 샘플들의 모음(414)을 포함한다. 이 예에서, 당해 2개 영역(410 및 412)은 간섭 신호 영역(408) 밖에 있는 것으로 정의된다. 당해 영역들(410 및 412) 내의 샘플들은 수정된 신호(304)에 관련된 노이즈를 나타내며 위에서 기술된 바와 같이 FOM을 판정하는데 이용된다.
도 2를 다시 참조하면서 도 1을 참조해 보면, 적어도 하나의 신호 필터가 1보다 많은 조정가능 필터 파라미터 설정을 포함할 수 있기 때문에, 동작들(208-222)은 n개의 조정가능 신호 필터 파라미터 각각에 대해서 반복될 수 있고, 그래서 n개의 조정가능 필터 파라미터의 각각에 대해서 하나씩, n 수의 FOM이 생성된다(223). 이 실시 예의 동작들은 또한 n개의 FOM 모음으로부터 가장 큰 FOM을 판정하는 일(224)을 포함할 수 있다. 가장 큰 FOM은 일반적으로 n개의 FOM 모음의 가장 큰 신호대잡음비를 나타낸다. 그래서, 가장 큰 FOM을 산출하는 조정가능 필터 설정은 또한 가장 낮은 수의 데이터 에러 확률을 산출할 수 있다. 이 실시 예의 동작들은 또한 스루 채널의 노이즈 프로파일을 생성하는 일(226)을 포함한다. 일례의 실시 예에서, 노이즈 프로파일은 가장 큰 FOM을 생성한 샘플들을 이용하여 스루 채널의 확률 밀도 함수(PDF)를 생성하고(226) 따라서 스루 채널 노이즈 PDF를 구하는 일(228)을 포함할 수 있다. 일반적으로, 스루 채널 노이즈 PDF는 노이즈 전압 값들의 확률을 나타낸다. 이 실시 예의 동작들은 또한 스루 채널 노이즈 PDF를 기반으로 적어도 하나의 채널 품질 파라미터에 관련된 메트릭(metric)을 생성하는 일(230)을 포함할 수 있다. 이 메트릭은, 예를 들어, 노이즈 메트릭 NTC(스루 채널의 노이즈)를 포함할 수 있다. NTC는, 예를 들어, PDF를 누적 밀도 함수(CDF)로 변환하고, 타겟 메트릭과 같은(또는 대략 같은) CDF의 확률을 판정하고, 이 확률에 관련된 전압을 판정함으로써 판정될 수 있다. 타겟 메트릭은, 예를 들어, 앞서 언급한 이더넷 프로토콜에 의해 정의될 수 있는 바와 같이 심볼 에러율(SER, 예로, 10-5)을 포함할 수 있다.
도 5는 본 공개의 일 실시 예에 따른 스루 채널 노이즈의 PDF 플롯(500)을 예로 보여주고 있다. x-축은 노이즈 전압(크기)이고, y-축은 P의 로그(log)이며, 여기서 P는 Tx 회로가 의사-랜덤 심볼들을 생성하고 있는 경우 전압 존재의 확률을 나타낸다. PDF 그래프(502)는 일반적으로 파라볼릭이며 노이즈의 특정 전압의 확률을 나타낸다.
크로스톡 채널 응답 및 노이즈 판정
도 6은 본 공개의 다른 실시 예에 따른 동작들의 흐름도(600)이다. 특히, 흐름도(600)는 적어도 하나의 크로스톡 채널의, 테스트 신호에 대한 응답을 판정하고 크로스톡 채널에 관련된 적어도 하나의 노이즈 특성을 판정하는 테스트 회로 동작들을 보여주고 있다. 도 1을 계속 참조하면, 이 실시 예의 동작들은 지정된 크로스톡 채널의 Tx 회로에서 테스트 신호를 생성하고 스루 채널의 Rx 회로에서 응답을 측정하는 일(602)을 포함하고, 그 결과 측정된 크로스톡 신호가 구해진다(604). 동작들은 또한 스루 채널(위에서 기술된)의 가장 큰 FOM을 생성한 Tx 및/또는 Rx 필터 특성 및 파라미터로 측정된 크로스톡 신호를 수정하는 일(608)을 포함할 수 있고, 그 결과 수정된 크로스톡 신호가 생성된다(608). 동작들은 또한 수정된 크로스톡 신호를 복수의(m) UI 세그먼트로 분할하는 일(610)을 포함할 수 있고, 여기서 m은 일반적으로 수정된 크로스톡 신호의 전체 시간 길이에 의해 정의된다. 동작들은 각 UI 세그먼트를 p 수의 샘플로 분할하는 일(612)을 더 포함할 수 있다. 수 p는, 예를 들어, 각 UI 세그먼트 내의 이용가능 신호 전압 값들이 샘플링되는 것을 합리적으로 보장하는 수정된 크로스톡 신호의 분해능(resolution)을 기반으로 선택될 수 있다. 몇몇 실시 예에서, 수 p는 앞서 언급한 이더넷 통신 프로토콜에 의해 정의(제안된 최소값으로)될 수 있다. 동작들은 또한 p개의 샘플 모음을 생성하는 일을 포함할 수 있고, 각 샘플 모음은 1 UI 떨어져 있는 m개의 샘플을 포함한다(614).
동작들(610-614)의 개념은 도 7에 도시되어 있다. 도 7은 본 공개의 일 실시 예에 따른 크로스톡 채널의 수정된 크로스톡 신호(702)의 일부의 신호 플롯(700)을 보여주고 있다. 신호(702)는 m개의 UI 세그먼트로 분할되며, 그 중 하나가 704에 도시되어 있다. m개의 UI 세그먼트 각각은 P 수의 샘플로 더 분할되며, 그러한 샘플들 중 수개가 706에 도시되어 있다. 샘플 모음들은 1 UI 간격을 두고 있는 각 UI 세그먼트로부터의 샘플을 이용하여 생성될 수 있다. 이와 같이, 예를 들어, 샘플들(708, 710, 712 및 714)은 수정된 크로스톡 신호(702)의 일부에 대한 샘플 모음의 일부를 형성할 수 있다.
다시 도 6을 참조하고 도 1을 더 참조하면, 이 실시 예의 동작들은 또한 p개의 샘플 모음 각각에 대한 노이즈 프로파일을 생성하는 일(616)을 더 포함할 수 있다. 일례의 실시 예에서, 노이즈 프로파일은 p개의 샘플 모음 각각에 대한 PDF를 생성하는 일(616)을 더 포함할 수 있다. 동작들은 p 수의 PDF들 중에서, 최악 노이즈 프로파일을 시사하는 메트릭을 갖고 있는 PDF를 선택하는 일을 더 포함할 수 있다. 몇몇 실시 예에서, 여기에 이용된 메트릭은 변동(variance)이며, 그래서 가장 큰 변동을 갖는 PDF가 선택될 수 있다(618). 복수의 크로스톡 채널(y)이 있기 때문에, 동작들(602-618)은 y 크로스톡 채널들 각각에 대해서 반복될 수 있고, 그래서 y 수의 크로스톡 PDF(620)가 생성된다. 이 실시 예의 동작들은 또한 크로스톡 PDF를 기반으로 적어도 하나의 채널 품질 파라미터에 관련된 메트릭을 생성하는 일(622)을 포함할 수 있다. 도 2의 실시 예와 유사하게, 메트릭은, 예를 들어, 노이즈 메트릭 Ny(크로스톡 채널의 노이즈)를 포함할 수 있다. Ny는, 예를 들어, PDF를 누적 밀도 함수(CDF)로 변환하고, 타겟 메트릭과 같은(또는 대략 같은) CDF의 확률을 판정하고, 이 확률에 관련된 전압을 판정함으로써 판정될 수 있다. 타겟 메트릭은, 예를 들어, 앞서 언급한 이더넷 프로토콜에 의해 정의될 수 있는 바와 같이, 심볼 에러율(SER, 예로, 10-5)을 포함할 수 있다. 이 실시 예의 동작들은 또한 다른 노이즈 소스들의 하나 이상의 PDF를 생성하는 일(626)을 포함할 수 있고, 그래서 다른 노이즈 PDF를 구할 수 있다(628).
도 8은 본 공개의 일 실시 예에 따른 크로스톡 채널들의 PDF 플롯(800)의 예를 보여주고 있다. PDF 플롯들(802, 804,..., 806) 각각은 y 크로스특 채널들 각각의 선택된 PDF들을 나타내며, 즉 각 PDF는 위에서 설명한 바와 같이 각 크로스톡 채널에 대한 샘플 모음들의 가장 큰 변동을 나타낸다.
PDF 들의 결합 및 스루 채널 SNR 판정
도 9는 본 공개의 다른 실시 예에 따른 동작들의 흐름도(900)이다. 특히, 흐름도(900)는 스루 채널 및 적어도 하나의 크로스톡 채널에 대해 생성된 노이즈 프로파일들을 결합하고 스루 채널의 신호대잡음비를 판정하는 테스트 회로 동작들을 보여주고 있다. 이 실시 예의 동작들은 크로스톡 채널 PF들을 결합하고 신호 크로스톡 PDF를 생성하는 일(902)을 포함한다. PDF들의 결합은 공지된 및/또는 후-개발되는 콘볼루션 방법들을 이용하여 실행될 수 있다. 몇몇 실시 예에서, 크로스톡 PDF들의 하나 이상의 서브세트(subset)는 하나 이상의 중간 PDF가 생성되도록 결합될 수 있다. 예를 들어, 근 크로스톡 PDF들은 전체 근 크로스톡 PDF가 생성되도록 결합될 수 있고, 원 크로스톡 PDF들은 전체 원 크로스톡 PDF가 생성되도록 결합될 수 있다. 이는, 예를 들어, 근 및 원 크로스톡 채널들로부터의 노이즈의 상대적인 기여를 판정할 수 있게 해준다. 물론 이는 단지 본 공개의 교시에 따라 생성될 수 있는 크로스톡 PDF들의 다양한 결합의 한 예이고, 다른 예의 결합도 최종 결과 또는 중간 동작으로서 유용한 노이즈 정보를 생성할 수 있다. 이 실시 예의 동작들은 또한 스루 채널 PDF, 적어도 하나의 최종 크로스톡 PDF, 및, 몇몇 실시 예에서는, 적어도 하나의 다른 노이즈 소스 PDF를 결합하는 일(904)을 포함할 수 있다. 이 실시 예의 동작들은 또한 스루 채널, 적어도 하나의 크로스톡 채널, 및 몇몇 실시 예에서는, 적어도 하나의 다른 노이즈 소스 PDF의 결합 PDF들을 기반으로, 적어도 하나의 채널 품질 파라미터에 관련된 노이즈 메트릭 N을 생성하는 일(906)을 포함할 수 있다. 여기서, N은 모든 관련 노이즈 소스들로부터의 전체 노이즈를 나타낼 수 있다. 이 실시 예의 동작들은 또한 S 및 N을 이용하여 스루 채널 SNR을 판정하는 일(908)을 포함할 수 있다. 일례의 실시 예에서, 채널 운용 마진(COM)은 다음과 같이 결정될 수 있다:
COM = 20 log (S/N).
SNR 및/또는 COM은 스루 채널이 앞서 언급한 이더넷 통신 프로토콜을 준수하는지 여부를 판정하는데 이용될 수 있다. 그래서, 본 공개의 테스트 회로는, 예를 들어, 채널 그 자체가 준수하는지 여부를 판정하기 위해서 개별 채널들의 분리 테스팅을 허용한다. 게다가, 본 실시 예들 중 임의 실시 예의 신호 조정 동작들은 직접 시간 도메인에서 평가될 수 있고, 그래서 상당한 프로세서 오버헤드 및 메모리 필요조건이 절감된다. 게다가, 중간 노이즈 메트릭들(예로, NTC 및/또는 Ny)의 생성은 트러블슈팅(troubleshooting) 등을 위한 개별 및/또는 덩어리 노이즈 소스들의 분석을 가능하게 한다.
동작들(902-906)의 개념은 도 10에 도시되어 있다. 도 10은 본 공개의 일 실시 예에 따른 PDF들의 결합의 예를 보여주고 있다. 이 예에서, 복수의 크로스톡 채널 PDF(802, 804,..., 806)은 단일 크로스톡 PDF(1002)가 형성되도록 결합, 즉 콘볼루션된다. 단일 크로스톡 PDF(1002)는 전체 노이즈 PDF(1006)가 형성되도록 다른 노이즈 소스 PDF(1004) 및 스루 채널 PDF(502)와 콘볼루션될 수 있다.
도 11은 본 공개의 다른 실시 예에 따른 동작들의 흐름도(1100)이다. 특히, 흐름도(1100)는 스루 채널의 신호대잡음비를 판정하는 테스트 회로 동작을 보여주고 있다. 이 실시 예의 동작들은 스루 채널에 관해 측정되고 스루 채널에 관한 테스트 신호에 대한 응답으로 생성된 제1 응답 신호의 근사 이용가능 신호 진폭 S를 판정하는 일(1102)을 포함한다. 이 실시 예의 동작들은 또한 제1 수정된 신호를 생성하기 위해서 제1 응답 신호를 적어도 하나의 신호 필터로 수정하는 일(1104)을 포함한다. 이 실시 예의 동작들은 또한 제1 수정된 신호의 노이즈 영역을 판정하는 일(1106)을 포함한다. 동작들은 또한 제1 수정된 신호의 노이즈 영역의 적어도 일부의 제1 확률 밀도 함수(PDF)를 생성하는 일(1108)을 포함할 수 있다. 이 실시 예의 동작들은 또한 스루 채널에 관해 측정되고 크로스톡 채널에 관한 테스트 신호에 대한 응답으로 생성된 제2 응답 신호를 판정하는 일(1110)을 포함한다. 이 실시 예의 동작들은 또한 제2 수정된 신호를 생성하기 위해서 제2 응답 신호를 적어도 하나의 신호 필터로 수정하는 일(1112)을 포함한다. 이 실시 예의 동작들은 또한 제2 수정된 신호의 적어도 일부의 제2 PDF를 생성하는 일(1114)을 포함한다. 이 실시 예의 동작들은 또한 스루 채널의 전체 노이즈 PDF를 생성하기 위해서 제1 및 제2 PDF를 결합하는 일(1116)을 포함한다. 이 실시 예의 동작들은 또한 적어도 부분적으로 S 및 전체 노이즈 PDF를 기반으로, 스루 채널의 신호대잡음비를 판정하는 일(1118)을 포함한다.
도 12는 본 공개의 다른 실시 예에 따른 동작들의 흐름도(1200)이다. 특히, 흐름도(1200)는 스루 채널의 신호대잡음비를 판정하는 동작들을 보여주고 있다. 이 실시 예의 동작들은, 시간 도메인에서, 제1 응답 신호의 근사 이용가능 신호 전압을 판정하는 일(1202)을 포함하고; 여기서 제1 응답 신호는 스루 채널에 인가된 테스트 신호에 대한 응답이다. 이 실시 예의 동작들은 또한 스루 채널에 인가된 테스트 신호에 대한 응답인 제1 응답 신호의 제1 노이즈 프로파일을 판정하는 일(1204)을 포함한다. 이 실시 예의 동작들은 또한 제2 응답 신호의 제2 노이즈 프로파일을 판정하는 일(1206)을 포함하고; 여기서 제2 응답 신호는 크로스톡 채널에 인가되고 스루 채널에 대해 측정된 테스트 신호에 대한 응답이다. 이 실시 예의 동작들은 또한, 적어도 부분적으로, 근사 이용가능 신호 진폭과 제1 및 제2 노이즈 프로파일을 기반으로 스루 채널의 신호대잡음비를 판정하는 일(1208)을 포함한다.
도 2, 6, 9, 11 및 12의 흐름도가 다양한 실시 예에 따른 동작들을 보여주고 있지만, 도 2, 6, 9, 11 및/또는 12에 도시된 동작들 전부가 다른 실시 예들에 필요한 것은 아니다. 게다가, 본 공개의 다른 실시 예들에서, 도 2, 6, 9, 11 및/또는 12에 도시된 동작들, 및/또는 여기에 기술된 다른 동작들은 도면들 어디에도 구체적으로 도시되지 않은 식으로 결합될 수 있으며, 그러한 실시 예들은 도 2, 6, 9, 11 및/또는 12에 도시되어 있는 동작들보다 다소 많거나 적은 동작들을 포함할 수 있음을 충분히 생각해 볼 수 있다. 그래서, 한 도면에 정확하게 도시되지 않은 피처들 및/또는 동작들에 관련된 청구항들은 본 공개의 범위 및 내용 안에 속하는 것으로 보아야 한다.
앞의 설명은 대표적인 시스템 아키텍처 및 방법들을 예로 든 것이며 본 공개에 대한 수정들도 가능하다. 예를 들어, 테스트 회로(106 및/또는 108)는, 다른 실시 예들에서, 네트워크 장치(102 및/또는 104)의 일부라기보다는 외부 테스트 설비(도시되지 않음)의 일부를 형성할 수 있다. 테스트 설비는 하나 이상의 채널의 신호 품질을 판정하는데 이용될 수 있고, 이는 하나 이상의 기능 유닛(예로, 네트워크 장치들, 등)이 채널에 연결되기 전 또는 후에 실행될 수 있다. 테스트 설비는 Tx 및 Rx 회로를 에뮬레이트(emulate)하고, 이에 관련된 조정가능 및 고정 필터들을 에뮬레이트하고, 테스트 신호들을 생성 및 수신하고, 및/또는 앞서 언급한 이더넷 통신 프로토콜에 의해 정의될 수 있는 다른 기능 또는 동작들을 에뮬레이트하도록 구성될 수 있다. 다른 수정들도 또한 가능하다. 예를 들어, 장치(102 및/또는 104)는 또한 호스트 프로세서, 칩셋 회로 및 시스템 메모리를 포함할 수 있다. 호스트 프로세서는 하나 이상의 프로세서를 포함할 수 있고, 시스템 소프트웨어를 실행하도록 구성될 수 있다. 시스템 소프트웨어는, 예를 들어, 운영 시스템 코드(예로, OS 커널 코드) 및 근거리 통신망(LAN) 드라이버 코드를 포함할 수 있다. LAN 드라이버 코드는, 적어도 부분적으로, 네트워크 장치(102/104)의 동작을 제어하도록 구성될 수 있다. 시스템 메모리는 네트워크 장치(102/104)에 의해 송수신되는 하나 이상의 데이터 패킷을 저장하도록 구성된 I/O 메모리 버퍼들을 포함할 수 있다. 칩셋 회로는 일반적으로 프로세서, 네트워크 장치(102/104) 및 시스템 메모리 간의 통신을 제어하기 위해서 "노스 브릿지" 회로(도시되지 않음)를 포함할 수 있다.
네트워크 장치(102 및/또는 104)는 시스템 자원들을 관리하고, 예를 들어, 장치(102/104)에서 실행되는 태스크들을 제어하기 위해서 운영 시스템(OS, 도시되지 않음)을 더 포함할 수 있다. 예를 들어, OS는 마이크로소프트 윈도우즈, HP-UX, 리눅스, 또는 UNIX를 이용하여 구현될 수 있고, 물론 다른 운영 시스템들도 이용될 수 있다. 몇몇 실시 예들에서, OS는 하나 이상의 처리 유닛에서 실행되는 다양한 운영 시스템(가상 머신들)에 기저 하드웨어용의 앱스트랙션 계층(a layer of abstraction)을 제공할 수 있는 가상 머신 모니터(또는 하이퍼바이저)로 대체될 수 있다. 운영 시스템 및/또는 가상 머신은 하나 이상의 프로토콜 스택을 구현할 수 있다. 프로토콜 스택은 패킷들을 처리하기 위해 하나 이상의 프로그램을 실행할 수 있다. 프로토콜 스택의 예는 네트워크를 통해 송신 및/또는 수신하기 위해서 패킷들을 핸들링(예로, 처리 또는 생성)하기 위한 하나 이상의 프로그램을 포함하는 TCP/IP(Transport Control Protocol/Internet Protocol) 프로토콜 스택이다. 프로토콜 스택은 대안으로, 예를 들어, TCP 오프로드 엔진 및/또는 네트워크 장치(102/104)와 같은 전용 서브-시스템에 포함될 수 있다. TCP 오프로드 엔진 회로는 호스트 CPU 및/또는 소프트웨어가 개입될 필요없이, 예를 들어, 패킷 전송, 패킷 분할, 패킷 리어셈블리, 에러 체크, 전송 확인, 전송 재시도, 등을 제공하도록 구성될 수 있다.
시스템 메모리는 다음과 같은 유형의 메모리를 포함할 수 있다: 반도체 펌웨어 메모리, 프로그램가능 메모리, 비-휘발성 메모리, 판독 전용 메모리, 전기 프로그램가능 메모리, 랜덤 액세스 메모리, 플래시 메모리, 자기 디스크 메모리, 및/또는 광학 디스크 메모리. 부가적 또는 대안적인 시스템 메모리는 다른 및/또는 후-개발될 유형의 컴퓨터-판독가능 메모리를 포함할 수 있다.
여기서 임의 실시 예에 이용된 "회로"는, 예를 들어, 단독으로 또는 임의 조합으로, 하드웨어에 내장된 회로, 프로그램가능 회로, 상태 머신 회로, 및/또는 프로그램가능 회로에 의해 실행되는 명령어들을 저장하는 펌웨어를 포함할 수 있다. 회로는 주문형 IC(ASIC), 시스템 온 칩(SoC), 필드 프로그램가능 게이트 어레이(FPGA), 디지털 신호 프로세서(DSP), 전용 및/또는 기성품 프로세서, 등을 포함할 수 있는 반도체 집적 회로(IC)로 구현될 수 있다.
여기에 기술된 동작들의 실시 예들은 하나 이상의 프로세서에 의해서 실행될 때 방법들을 수행하는 명령어들을 개별적으로 또는 조합으로 저장하고 있는 하나 이상의 저장 매체를 포함하는 시스템에 구현될 수 있다. 프로세서는, 예를 들어, 네트워크 제어기(104) 내의 처리 유닛 및.또는 프로그램가능 회로 및/또는 다른 처리 유닛 또는 프로그램가능 회로를 포함할 수 있다. 그래서, 여기에 기술된 방법들에 따른 동작들은 수 개의 상이한 물리적 장소들에 있는 처리 구조들과 같은 복수의 물리적 장치들 전반에 분포될 수 있다. 저장 매체는 임의 타임의 유형인 비-일시 저장 매체, 예를 들어, 플로피 디스크, 컴팩 디스크 판독 전용 메모리(CD-ROM), 재기록가능 컴팩 디스크(CD-RW) 및 자기-광학 디스크를 포함하는 디스크 중 임의 타입의 디스크, 판독 전용 메모리(ROM), 동적 및 정적 RAM과 같은 랜덤 액세스 메모리, 소거가능 프로그램가능 판독 전용 메모리(EPROM), 전기 소거가능 프로그램가능 판독 전용 메모리(EEPROM), 플래시 메모리, 자기 또는 광학 카드와 같은 반도체 장치, 또는 전자 명령어들을 저장하기에 적합한 임의 유형의 저장 매체를 포함할 수 있다.
몇몇 실시 예에서, 하드웨어 서술 언어는 여기에 기술된 다양한 동작 및/또는 회로를 위한 회로 및/또는 논리 구현을 규정하는데 이용될 수 있다. 예를 들어, 일 실시 예에서, 하드웨어 서술 언어는 여기에 기술된 하나 이상의 회로 및/또는 모듈의 반도체 제조를 가능하게 하는 초고속 집적 회로(VHSIC) 하드웨어 서술 언어(VHDL)을 따르거나 준수할 수 있다. VHDL은 IEEE 표준 1076-1987, IEEE 표준 1076.2, IEEE1076.1, VHDL-2006의 IEEE Draft 3.0, VHDL-2008의 IEEE Draft 4.0 및/또는 IEEE VHDL 표준 및/또는 다른 하드웨어 서술 표준의 다른 버전을 따르거나 준수할 수 있다.
여기서 임의 실시 예에 이용된 "회로"는, 예를 들어, 단독으로 또는 임의 조합으로, 하드웨어 회로, 프로그램가능 회로, 상태 머신 회로, 및/또는 프로그램가능 회로에 의해 실행되는 명령어들을 저장하는 펌웨어를 포함할 수 있다. 회로는 주문형 IC(ASIC), 시스템 온 칩(SoC), 필드 프로그램가능 게이트 어레이(FPGA), 디지털 신호 프로세서(DSP), 전용 및/또는 기성품 프로세서, 등을 포함할 수 있는 반도체 집적 회로(IC)로 구현될 수 있다. 여기에 기술된 임의 동작, 또는 그의 임이 서브세트 또는 조합은 모듈로 구현될 수 있다. "모듈"은, 예를 들어, 언급된 기능을 실행하도록 구성되어 있는, 애플리케이션, 명령어 세트, 실행가능 코드, 등 및/또는 회로, 등을 포함할 수 있다.
따라서, 본 공개의 일례는 전송 회로(Tx) 및 수신 회로(Rx)를 포함하는 PHY 회로 - 상기 Tx 회로 및 상기 Rx 회로는 채널들을 통해서 외부 장치와 통신할 수 있도록 각 채널에 연결되게 구성되어 있고, 상기 네트워크 장치는 이더넷 통신 프로토콜을 이용하여 상기 외부 장치와 통신하도록 구성되어 있음 - ; 및 테스트 회로를 포함하는 네트워크 장치이다. 상기 테스트 회로는 상기 채널들 중에서 스루 채널과 적어도 하나의 크로스톡 채널을 지정하고; 상기 스루 채널에 대해 측정되고 상기 스루 채널에 관한 테스트 신호에 대한 응답으로 생성되는 제1 응답 신호의 근사 이용가능 신호 진폭 S를 판정하고; 제1 수정된 신호를 생성하기 위해서 적어도 하나의 신호 필터로 상기 제1 응답 신호를 수정하고; 상기 제1 수정된 신호의 노이즈 영역을 판정하고; 상기 제1 수정된 신호의 노이즈 영역의 적어도 일부의 제1 확률 밀도 함수(PDF)를 생성하고; 상기 스루 채널에 대해 측정되고 크로스톡 채널에 관한 테스트 신호에 대한 응답으로 생성되는 제2 응답 신호를 판정하고; 제2 수정된 신호를 생성하기 위해서 상기 적어도 하나의 신호 필터로 상기 제2 응답 신호를 수정하고; 상기 제2 수정된 신호의 적어도 일부의 제2 PDF를 생성하고; 상기 스루 채널의 전체 노이즈 PDF를 생성하기 위해 상기 제1 및 제2 PDF들을 결합하고; 적어도 부분적으로, S 및 전체 노이즈 PDF를 기반으로 상기 스루 채널의 신호대잡음비를 판정하도록 구성되어 있는 테스트 회로를 포함하도록 구성되어 있다.
다른 예의 네트워크 장치는 앞서 언급한 컴포넌트들 중 일부 또는 전부를 포함하며 여기서 신호 필터는 상기 Tx 및/또는 Rx 회로에 관련된 필터를 포함한다.
다른 예의 네트워크 장치는 앞서 언급한 컴포넌트들 중 일부 또는 전부를 포함하며 여기서 상기 테스트 회로는 복수의 조정가능 필터 설정으로 상기 제1 측정된 신호를 수정하고, 그리고 각각의 조정가능 필터 설정에 대해서: 각각의 조정가능 필터 설정마다 복수의 수정된 신호를 생성하고; 각 수정된 신호에 대해서, 상기 테스트 신호에 기반을 둔 샘플링 레이트로 상기 신호를 샘플링하고; 각 수정된 신호에 대해서, 근사 이용가능 신호 진폭을 판정하고; 각 수정된 신호에 대해서, 노이즈 영역을 판정하고; 각 수정된 신호에 대해서, 적어도 부분적으로, 상기 이용가능 신호 진폭과 상기 노이즈 영역을 기반으로 신호대잡음비를 판정하고; 가장 큰 신호대잡음비를 갖는 상기 수정된 신호들 중 하나를 선택하도록 더 구성되어 있으며, 여기서 상기 제1 PDF는 상기 선택된 수정된 신호를 이용하여 생성된다.
다른 예의 네트워크 장치는 앞서 언급한 컴포넌트들 중 일부 또는 전부를 포함하며 여기서 상기 테스트 회로는 상기 제1 수정된 신호의 제1 포지티브 영 교차를 판정하고; 상기 테스트 신호에 기반을 둔 샘플링 레이트로 상기 제1 수정된 신호를 샘플링하고; 상기 제1 수정된 신호의 일부를 간섭 신호 영역으로 지정하도록 더 구성되어 있으며, 상기 간섭 신호 영역은 상기 Rx 회로의 적어도 한 파라미터에 기반을 두고 있고 상기 노이즈 영역은 상기 간섭 영역 밖에 있다.
다른 예의 네트워크 장치는 앞서 언급한 컴포넌트들 중 일부 또는 전부를 포함하며 여기서 상기 테스트 회로는 복수의 크로스톡 채널 각각에 대해서, 상기 스루 채널에 대해 측정되고 상기 복수의 크로스톡 채널들 각각에 관한 테스트 신호에 대한 응답으로 생성되는 복수의 대응 응답 신호를 판정하고; 상기 복수의 응답 신호들 각각에 대해서, 수정된 신호를 생성하기 위해 상기 응답 신호를 상기 적어도 하나의 신호 필터로 수정하고; 상기 복수의 응답 신호들 각각에 대해서, 상기 수정된 신호의 적어도 일부의 PDF를 생성하며; 상기 복수의 응답 신호 PDF 중에서, 가장 큰 변동을 갖는 PDF를 선택하도록 더 구성되어 있다.
다른 예의 네트워크 장치는 앞서 언급한 컴포넌트들 중 일부 또는 전부를 포함하며 여기서 상기 테스트 회로는 적어도 하나의 부가 노이즈 소스에 관련된 제3 PDF를 생성하고; 상기 제1, 제2 및 제3 PDF를 기반으로 상기 스루 채널의 신호대잡음비를 판정하도록 더 구성되어 있다.
다른 예의 네트워크 장치는 앞서 언급한 컴포넌트들 중 일부 또는 전부를 포함하며 여기서 상기 테스트 회로는 상기 전체 노이즈 PDF를 기반으로, 적어도 하나의 채널 품질 파라미터에 관련된 메트릭을 생성하도록 더 구성되어 있으며; 상기 메트릭은 이더넷 통신 프로토콜에 의해 정의된 타겟 메트릭에 기반을 두고 있는 노이즈 메트릭이다.
다른 예의 네트워크 장치는 앞서 언급한 컴포넌트들 중 일부 또는 전부를 포함하며 여기서 상기 타겟 메트릭은 심볼 에러율(SER)이며, 상기 메트릭은 상기 스루 채널의 채널 품질에 대한, 이더넷 통신 프로토콜에 의해 정의된 준수 측정(compliance measure)에 이용된다.
본 공개의 다른 예는 이더넷 통신 프로토콜을 이용하여 서로 통신할 수 있게 구성되어 있는 제1 장치와 제2 장치 간에 통신 경로를 제공하는 스루 채널의 신호대잡음비를 판정하는 방법이며, 이 방법은: 상기 스루 채널에 대해 측정되고 상기 스루 채널에 관한 테스트 신호에 대한 응답으로 생성되는 제1 응답 신호의 근사 이용가능 신호 진폭 S를 판정하는 단계; 제1 수정된 신호를 생성하기 위해서 적어도 하나의 신호 필터로 상기 제1 응답 신호를 수정하는 단계; 상기 제1 수정된 신호의 노이즈 영역을 판정하는 단계; 상기 제1 수정된 신호의 노이즈 영역의 적어도 일부의 제1 확률 밀도 함수(PDF)를 생성하는 단계; 상기 스루 채널에 대해 측정되고 크로스톡 채널에 관한 테스트 신호에 대한 응답으로 생성되는 제2 응답 신호를 판정하는 단계; 제2 수정된 신호를 생성하기 위해서 상기 적어도 하나의 신호 필터로 상기 제2 응답 신호를 수정하는 단계; 상기 제2 수정된 신호의 적어도 일부의 제2 PDF를 생성하는 단계; 상기 스루 채널의 전체 노이즈 PDF를 생성하기 위해 상기 제1 및 제2 PDF들을 결합하는 단계; 및 적어도 부분적으로, S 및 전체 노이즈 PDF를 기반으로 상기 스루 채널의 신호대잡음비를 판정하는 단계를 포함한다.
다른 예의 방법은 앞서 언급한 동작들의 일부 또는 전부를 포함하며 여기서 상기 신호 필터는 상기 스루 채널에 연결된 상기 전송 회로(Tx) 및/또는 상기 수신 회로(Rx)에 관련된 필터를 포함한다.
다른 예의 방법은 앞서 언급한 동작들의 일부 또는 전부를 포함하며 복수의 조정가능 필터 설정으로 상기 제1 측정된 신호를 수정하는 단계 및, 각각의 조정가능 필터 설정을 위해: 각각의 조정가능 필터 설정마다 복수의 수정된 신호를 생성하고; 각 수정된 신호에 대해서, 상기 테스트 신호에 기반을 둔 샘플링 레이트로 상기 신호를 샘플링하고; 각 수정된 신호에 대해서, 근사 이용가능 신호 진폭을 판정하고; 각 수정된 신호에 대해서, 노이즈 영역을 판정하고; 각 수정된 신호에 대해서, 적어도 부분적으로, 상기 이용가능 신호 진폭과 상기 노이즈 영역을 기반으로 신호대잡음비를 판정하고; 가장 큰 신호대잡음비를 갖는 상기 수정된 신호들 중 하나를 선택하는 단계를 더 포함하고; 여기서 상기 제1 PDF는 상기 선택된 수정된 신호를 이용하여 생성된다.
다른 예의 방법은 앞서 언급한 동작들의 일부 또는 전부를 포함하며 상기 제1 수정된 신호의 제1 포지티브 영 교차를 판정하는 단계; 상기 테스트 신호에 기반을 둔 샘플링 레이트로 상기 제1 수정된 신호를 샘플링하는 단계; 상기 제1 수정된 신호의 일부를 간섭 신호 영역으로 지정하는 단계를 더 포함하며, 여기서 상기 간섭 신호 영역은 상기 스루 채널에 연결된 수신 회로의 적어도 하나의 파라미터에 기반을 두고 있고 상기 노이즈 영역은 상기 간섭 영역 밖에 있다.
다른 예의 방법은 앞서 언급한 동작들의 일부 또는 전부를 포함하며 복수의 크로스톡 채널 각각에 대해서, 상기 스루 채널에 대해 측정되고 상기 복수의 크로스톡 채널들 각각에 관한 테스트 신호에 대한 응답으로 생성되는 복수의 대응 응답 신호를 판정하는 단계; 상기 복수의 응답 신호들 각각에 대해서, 수정된 신호를 생성하기 위해 상기 응답 신호를 상기 적어도 하나의 신호 필터로 수정하는 단계; 상기 복수의 응답 신호들 각각에 대해서, 상기 수정된 신호의 적어도 일부의 PDF를 생성하는 단계; 및 상기 복수의 응답 신호 PDF 중에서, 가장 큰 변동을 갖는 PDF를 선택하는 단계를 더 포함한다.
다른 예의 방법은 앞서 언급한 동작들의 일부 또는 전부를 포함하며 적어도 하나의 부가 노이즈 소스에 관련된 제3 PDF를 생성하는 단계; 및 상기 제1, 제2 및 제3 PDF를 기반으로 상기 스루 채널의 신호대잡음비를 판정하는 단계를 더 포함한다.
다른 예의 방법은 앞서 언급한 동작들의 일부 또는 전부를 포함하며 상기 전체 노이즈 PDF를 기반으로, 적어도 하나의 채널 품질 파라미터에 관련된 메트릭을 생성하는 단계를 더 포함하고; 상기 메트릭은 이더넷 통신 프로토콜에 의해 정의된 타겟 메트릭에 기반을 두고 있는 노이즈 메트릭이다.
다른 예의 방법은 앞서 언급한 동작들의 일부 또는 전부를 포함하며 여기서 상기 타겟 메트릭은 심볼 에러율(SER)이며, 상기 메트릭은 상기 스루 채널의 채널 품질에 대한, 이더넷 통신 프로토콜에 의해 정의된 준수 측정에 이용된다.
다른 예의 방법은 앞서 언급한 동작들의 일부 또는 전부를 포함하며 하나 이상의 프로세서에 의해 실행될 때 앞의 동작들 중 임의 동작을 이끌어내는 명령어들을 개별적으로 또는 조합으로 저장하고 있는 하나 이상의 비-일시 저장 장치를 포함하는 시스템을 더 포함한다.
본 공개의 다른 예는 전송 회로(Tx) 및 수신 회로(Rx)를 포함하는 PHY 회로 - 상기 Tx 회로 및 상기 Rx 회로는 채널들을 통해서 외부 장치와 통신할 수 있도록 각 채널에 연결되게 구성되어 있고, 상기 네트워크 장치는 이더넷 통신 프로토콜을 이용하여 상기 외부 장치와 통신하도록 구성되어 있음 - ; 및 상기 채널들 중에서 스루 채널과 적어도 하나의 크로스톡 채널을 지정하고; 시간 도메인에서, 제1 응답 신호의 근사 이용가능 신호 전압을 판정하고 - 상기 제1 응답 신호는 상기 스루 채널에 인가된 테스트 신호에 대한 응답임 - ; 상기 스루 채널에 인가된 테스트 신호에 대한 응답인 상기 제1 응답 신호의 제1 노이즈 프로파일을 판정하고; 제2 응답 신호의 제2 노이즈 프로파일을 판정하고 - 상기 제2 응답 신호는 크로스톡 채널에 인가되고 상기 스루 채널에 관해 측정된 상기 테스트 신호에 대한 응답임 - ; 적어도 부분적으로, 상기 근사 이용가능 신호 전압과 상기 제1 및 제2 노이즈 프로파일을 기반으로 상기 스루 채널의 신호대잡음비를 판정하도록 구성된 테스트 회로를 포함하는 네트워크 장치이다.
다른 예의 네트워크 장치는 앞서 언급한 컴포넌트들 중 일부 또는 전부를 포함하고 여기서 상기 신호 필터는 상기 Tx 및 Rx 회로에 관련된 필터를 포함한다.
다른 예의 네트워크 장치는 앞서 언급한 컴포넌트들 중 일부 또는 전부를 포함하고 여기서 상기 테스트 회로는 복수의 조정가능 필터 설정으로 상기 제1 측정된 신호를 수정하고, 그리고 각각의 조정가능 필터 설정에 대해서: 각각의 조정가능 필터 설정마다 복수의 수정된 신호를 생성하고; 각 수정된 신호에 대해서, 상기 테스트 신호에 기반을 둔 샘플링 레이트로 상기 신호를 샘플링하고; 각 수정된 신호에 대해서, 근사 이용가능 신호 진폭을 판정하고; 각 수정된 신호에 대해서, 노이즈 영역을 판정하고; 각 수정된 신호에 대해서, 적어도 부분적으로, 상기 이용가능 신호 진폭과 상기 노이즈 영역을 기반으로 신호대잡음비를 판정하고; 가장 큰 신호대잡음비를 갖는 상기 수정된 신호들 중 하나를 선택하도록 더 구성되어 있으며, 여기서 상기 제1 노이즈 프로파일은 상기 선택된 수정된 신호를 이용하여 생성된다.
다른 예의 네트워크 장치는 앞서 언급한 컴포넌트들 중 일부 또는 전부를 포함하고 여기서 상기 테스트 회로는 상기 제1 응답 신호의 제1 포지티브 영 교차를 판정하고; 상기 테스트 신호에 기반을 둔 샘플링 레이트로 상기 제1 응답 신호를 샘플링하고; 상기 제1 응답 신호의 일부를 간섭 신호 영역으로 지정하여 판정되는 상기 제1 노이즈 프로파일을 판정하도록 더 구성되어 있으며, 상기 간섭 신호 영역은 상기 Rx 회로의 적어도 한 파라미터에 기반을 두고 있고 상기 노이즈 프로파일은 상기 간섭 영역 밖에 있는 상기 제1 응답 신호의 영역을 기반으로 판정된다.
다른 예의 네트워크 장치는 앞서 언급한 컴포넌트들 중 일부 또는 전부를 포함하고 여기서 상기 테스트 회로는 복수의 크로스톡 채널 각각에 대해서, 상기 스루 채널에 대해 측정되고 상기 복수의 크로스톡 채널들 각각에 관한 테스트 신호에 대한 응답으로 생성되는 복수의 대응 응답 신호를 판정함으로써 상기 제2 노이즈 프로파일을 판정하고; 상기 복수의 응답 신호들 각각에 대해서, 수정된 신호를 생성하기 위해 상기 응답 신호를 상기 적어도 하나의 신호 필터로 수정하고; 상기 복수의 응답 신호들 각각에 대해서, 상기 수정된 신호의 적어도 일부의 노이즈 프로파일을 생성하며; 상기 복수의 응답 신호 노이즈 프로파일 중에서, 가장 큰 변동을 갖는 노이즈 프로파일을 선택하도록 더 구성되어 있다.
다른 예의 네트워크 장치는 앞서 언급한 컴포넌트들 중 일부 또는 전부를 포함하고 여기서 상기 테스트 회로는 적어도 하나의 부가 노이즈 소스에 관련된 제3 노이즈 프로파일을 생성하고; 상기 제1, 제2 및 제3 노이즈 프로파일을 기반으로 상기 스루 채널의 신호대잡음비를 판정하도록 더 구성되어 있다.
다른 예의 네트워크 장치는 앞서 언급한 컴포넌트들 중 일부 또는 전부를 포함하고 여기서 상기 테스트 회로는 상기 제1 및 제2 노이즈 프로파일을 기반으로, 적어도 하나의 채널 품질 파라미터에 관련된 메트릭을 생성하도록 더 구성되어 있으며; 상기 메트릭은 이더넷 통신 프로토콜에 의해 정의된 타겟 메트릭에 기반을 두고 있는 노이즈 메트릭이다.
다른 예의 네트워크 장치는 앞서 언급한 컴포넌트들 중 일부 또는 전부를 포함하고 여기서 상기 타겟 메트릭은 심볼 에러율(SER)이며, 상기 메트릭은 상기 스루 채널의 채널 품질에 대한, 이더넷 통신 프로토콜에 의해 정의된 준수 측정(compliance measure)에 이용된다.
본 공개의 다른 예는 하나 이상의 프로세서에 의해 실행될 때 복수의 채널들 중에서 스루 채널과 적어도 하나의 크로스톡 채널을 지정하고; 시간 도메인에서, 제1 응답 신호의 근사 이용가능 신호 전압을 판정하고 - 상기 제1 응답 신호는 상기 스루 채널에 인가된 테스트 신호에 대한 응답임 - ; 상기 스루 채널에 인가된 테스트 신호에 대한 응답인 상기 제1 응답 신호의 제1 노이즈 프로파일을 판정하고; 제2 응답 신호의 제2 노이즈 프로파일을 판정하고 - 상기 제2 응답 신호는 크로스톡 채널에 인가되고 상기 스루 채널에 관해 측정된 상기 테스트 신호에 대한 응답임 - ; 적어도 부분적으로, 상기 근사 이용가능 신호 전압과 상기 제1 및 제2 노이즈 프로파일을 기반으로 상기 스루 채널의 신호대잡음비를 판정하는 동작들을 이끌어내는 명령어들을 개별적으로 또는 조합으로 저장하고 있는 하나 이상의 비-일시 저장 장치를 포함하는 시스템이다.
다른 예의 시스템은 앞서 언급한 동작들 중 일부 또는 전부를 포함하고 여기서 상기 신호 필터는 상기 Tx 및 Rx 회로에 관련된 필터를 포함한다.
다른 예의 시스템은 앞서 언급한 동작들 중 일부 또는 전부를 포함하고 여기서 상기 명령어들은 복수의 조정가능 필터 설정으로 상기 제1 측정된 신호를 수정하고, 그리고 각각의 조정가능 필터 설정에 대해서: 각각의 조정가능 필터 설정마다 복수의 수정된 신호를 생성하고; 각 수정된 신호에 대해서, 상기 테스트 신호에 기반을 둔 샘플링 레이트로 상기 신호를 샘플링하고; 각 수정된 신호에 대해서, 근사 이용가능 신호 진폭을 판정하고; 각 수정된 신호에 대해서, 노이즈 영역을 판정하고; 각 수정된 신호에 대해서, 적어도 부분적으로, 상기 이용가능 신호 진폭과 상기 노이즈 영역을 기반으로 신호대잡음비를 판정하고; 가장 큰 신호대잡음비를 갖는 상기 수정된 신호들 중 하나를 선택하는 것을 포함하는 추가 동작들을 이끌어내며, 여기서 상기 제1 노이즈 프로파일은 상기 선택된 수정된 신호를 이용하여 생성된다.
다른 예의 시스템은 앞서 언급한 동작들 중 일부 또는 전부를 포함하고 여기서 상기 명령어들은 상기 제1 응답 신호의 제1 포지티브 영 교차를 판정하고; 상기 테스트 신호에 기반을 둔 샘플링 레이트로 상기 제1 응답 신호를 샘플링하고; 상기 제1 응답 신호의 일부를 간섭 신호 영역으로 지정하여 판정되는 상기 제1 노이즈 프로파일을 판정하는 것을 포함하는 추가 동작들을 이끌어내며, 상기 간섭 신호 영역은 상기 Rx 회로의 적어도 한 파라미터에 기반을 두고 있고 상기 노이즈 프로파일은 상기 간섭 영역 밖에 있는 상기 제1 응답 신호의 영역을 기반으로 판정된다.
다른 예의 시스템은 앞서 언급한 동작들 중 일부 또는 전부를 포함하고 여기서 상기 명령어들은 복수의 크로스톡 채널 각각에 대해서, 상기 스루 채널에 대해 측정되고 상기 복수의 크로스톡 채널들 각각에 관한 테스트 신호에 대한 응답으로 생성되는 복수의 대응 응답 신호를 판정함으로써 상기 제2 노이즈 프로파일을 판정하고; 상기 복수의 응답 신호들 각각에 대해서, 수정된 신호를 생성하기 위해 상기 응답 신호를 상기 적어도 하나의 신호 필터로 수정하고; 상기 복수의 응답 신호들 각각에 대해서, 상기 수정된 신호의 적어도 일부의 노이즈 프로파일을 생성하며; 상기 복수의 응답 신호 노이즈 프로파일 중에서, 가장 큰 변동을 갖는 노이즈 프로파일을 선택하는 것을 포함하는 추가 동작들을 이끌어낸다.
다른 예의 시스템은 앞서 언급한 동작들 중 일부 또는 전부를 포함하고 여기서 상기 명령어들은 적어도 하나의 부가 노이즈 소스에 관련된 제3 노이즈 프로파일을 생성하고; 상기 제1, 제2 및 제3 노이즈 프로파일을 기반으로 상기 스루 채널의 신호대잡음비를 판정하는 것을 포함하는 추가 동작들을 이끌어낸다.
다른 예의 시스템은 앞서 언급한 동작들 중 일부 또는 전부를 포함하고 여기서 상기 명령어들은 상기 제1 및 제2 노이즈 프로파일을 기반으로, 적어도 하나의 채널 품질 파라미터에 관련된 메트릭을 생성하는 것을 포함하는 추가 동작들을 이끌어내며; 상기 메트릭은 이더넷 통신 프로토콜에 의해 정의된 타겟 메트릭에 기반을 두고 있는 노이즈 메트릭이다.
다른 예의 시스템은 앞서 언급한 동작들 중 일부 또는 전부를 포함하고 여기서 상기 타겟 메트릭은 심볼 에러율(SER)이며, 상기 메트릭은 상기 스루 채널의 채널 품질에 대한, 이더넷 통신 프로토콜에 의해 정의된 준수 측정에 이용된다.
본 공개의 다른 예는 2개의 기능 유닛 간의 복수의 채널을 테스트할 수 있게 구성된 테스트를 회로를 포함하는 테스트 설비이며, 상기 테스트 회로는 상기 채널들에 연결되도록 구성되는 네트워크 장치들에 관련된 전송 회로(Tx) 및 수신 회로(Rx)를 포함하는 PHY 회로를 에뮬레이트하고 상기 채널들에 관련된 적어도 하나의 신호 필터를 에뮬레이트하도록 더 구성되어 있고, 여기서 상기 채널들, 상기 PHY 회로 및 적어도 하나의 신호 필터는, 적어도 부분적으로, 이더넷 통신 프로토콜에 의해 정의되고; 상기 테스트 회로는: 상기 채널들 중에서 스루 채널과 적어도 하나의 크로스톡 채널을 지정하고; 시간 도메인에서, 제1 응답 신호의 근사 이용가능 신호 전압을 판정하고 - 상기 제1 응답 신호는 상기 스루 채널에 인가된 테스트 신호에 대한 응답임 - ; 상기 스루 채널에 인가된 테스트 신호에 대한 응답인 상기 제1 응답 신호의 제1 노이즈 프로파일을 판정하고; 제2 응답 신호의 제2 노이즈 프로파일을 판정하고 - 상기 제2 응답 신호는 크로스톡 채널에 인가되고 상기 스루 채널에 관해 측정된 상기 테스트 신호에 대한 응답임 - ; 적어도 부분적으로, 상기 근사 이용가능 신호 전압과 상기 제1 및 제2 노이즈 프로파일을 기반으로 상기 스루 채널의 신호대잡음비를 판정하도록 더 구성되어 있다.
다른 예의 네트워크 장치는 앞서 언급한 컴포넌트들 중 일부 또는 전부를 포함하고 여기서 상시 신호 필터는 상기 Tx 및 Rx 회로에 관련된 필터를 포함한다.
다른 예의 네트워크 장치는 앞서 언급한 컴포넌트들 중 일부 또는 전부를 포함하고 여기서 상기 테스트 회로는 복수의 조정가능 필터 설정으로 상기 제1 측정된 신호를 수정하고, 각각의 조정가능 필터 설정을 위해: 각각의 조정가능 필터 설정마다 복수의 수정된 신호를 생성하고; 각 수정된 신호에 대해서, 상기 테스트 신호에 기반을 둔 샘플링 레이트로 상기 신호를 샘플링하고; 각 수정된 신호에 대해서, 근사 이용가능 신호 진폭을 판정하고; 각 수정된 신호에 대해서, 노이즈 영역을 판정하고; 각 수정된 신호에 대해서, 적어도 부분적으로, 상기 이용가능 신호 진폭과 상기 노이즈 영역을 기반으로 신호대잡음비를 판정하고; 가장 큰 신호대잡음비를 갖는 상기 수정된 신호들 중 하나를 선택하도록 더 구성되어 있으며, 여기서 상기 제1 노이즈 프로파일은 상기 선택된 수정된 신호를 이용하여 생성된다.
다른 예의 네트워크 장치는 앞서 언급한 컴포넌트들 중 일부 또는 전부를 포함하고 여기서 상기 테스트 회로는 상기 제1 응답 신호의 제1 포지티브 영 교차를 판정하고; 상기 테스트 신호에 기반을 둔 샘플링 레이트로 상기 제1 응답 신호를 샘플링하고; 상기 제1 응답 신호의 일부를 간섭 신호 영역으로 지정하여 판정되는 상기 제1 노이즈 프로파일을 판정하도록 더 구성되어 있으며, 상기 간섭 신호 영역은 상기 Rx 회로의 적어도 한 파라미터에 기반을 두고 있고 상기 노이즈 프로파일은 상기 간섭 영역 밖에 있는 상기 제1 응답 신호의 영역을 기반으로 판정된다.
다른 예의 네트워크 장치는 앞서 언급한 컴포넌트들 중 일부 또는 전부를 포함하고 여기서 상기 테스트 회로는 복수의 크로스톡 채널 각각에 대해서, 상기 스루 채널에 대해 측정되고 상기 복수의 크로스톡 채널들 각각에 관한 테스트 신호에 대한 응답으로 생성되는 복수의 대응 응답 신호를 판정함으로써 상기 제2 노이즈 프로파일을 판정하고; 상기 복수의 응답 신호들 각각에 대해서, 수정된 신호를 생성하기 위해 상기 응답 신호를 상기 적어도 하나의 신호 필터로 수정하고; 상기 복수의 응답 신호들 각각에 대해서, 상기 수정된 신호의 적어도 일부의 노이즈 프로파일을 생성하며; 상기 복수의 응답 신호 노이즈 프로파일 중에서, 가장 큰 변동을 갖는 노이즈 프로파일을 선택하도록 더 구성되어 있다.
다른 예의 네트워크 장치는 앞서 언급한 컴포넌트들 중 일부 또는 전부를 포함하고 여기서 상기 테스트 회로는 적어도 하나의 부가 노이즈 소스에 관련된 제3 노이즈 프로파일을 생성하고; 상기 제1, 제2 및 제3 노이즈 프로파일을 기반으로 상기 스루 채널의 신호대잡음비를 판정하도록 더 구성되어 있다.
다른 예의 네트워크 장치는 앞서 언급한 컴포넌트들 중 일부 또는 전부를 포함하고 여기서 상기 테스트 회로는 상기 제1 및 제2 노이즈 프로파일을 기반으로, 적어도 하나의 채널 품질 파라미터에 관련된 메트릭을 생성하도록 더 구성되어 있으며; 상기 메트릭은 이더넷 통신 프로토콜에 의해 정의된 타겟 메트릭에 기반을 두고 있는 노이즈 메트릭이다.
다른 예의 네트워크 장치는 앞서 언급한 컴포넌트들 중 일부 또는 전부를 포함하고 여기서 상기 타겟 메트릭은 심볼 에러율(SER)이며, 상기 메트릭은 상기 스루 채널의 채널 품질에 대한, 이더넷 통신 프로토콜에 의해 정의된 준수 측정에 이용된다.
여기에 이용된 용어들 및 표현들은 제한이 아닌 설명의 관점에서 이용되고 있고, 그러한 용어들 및 표현들의 이용에 있어서, 도시되고 기술된 피처들(또는 그들의 일부)의 임의 균등물을 배제하는 것이 아니며 청구항들의 범위 내에서 다양한 수정이 행해질 수 있음을 이해하여야 한다. 따라서, 청구항들은 그러한 모든 균등물을 포괄하는 것이다.
다양한 피처, 양태 및 실시 예가 여기서 기술되었다. 그러한 피처들, 양태들 및 실시 예들은 이 방면에 숙련된 자들이 이해하듯이 변경 및 수정은 물론이고 서로 조합될 수 있다. 본 공개는, 그러므로, 그러한 조합, 변경 및 수정을 포괄하는 것으로 간주하여야 한다.

Claims (25)

  1. 네트워크 장치로서,
    전송 회로(Tx) 및 수신 회로(Rx)를 포함하는 PHY 회로 - 상기 Tx 회로 및 상기 Rx 회로는 채널들을 통해서 외부 장치와 통신하기 위해 각 채널에 연결되게 구성되어 있고, 상기 네트워크 장치는 이더넷 통신 프로토콜을 이용하여 상기 외부 장치와 통신하도록 구성되어 있음 - ; 및
    상기 채널들 중에서 스루 채널과 적어도 하나의 크로스톡 채널을 지정하고;
    상기 스루 채널에 대해 측정되고 상기 스루 채널에 관한 테스트 신호에 대한 응답으로 생성되는 제1 응답 신호의 근사 이용가능 신호 진폭 S를 판정하고;
    제1 수정된 신호를 생성하기 위해서 적어도 하나의 신호 필터로 상기 제1 응답 신호를 수정하고;
    상기 제1 수정된 신호의 노이즈 영역을 판정하고;
    상기 제1 수정된 신호의 노이즈 영역의 적어도 일부의 제1 확률 밀도 함수(PDF)를 생성하고;
    상기 스루 채널에 대해 측정되고 크로스톡 채널에 관한 테스트 신호에 대한 응답으로 생성되는 제2 응답 신호를 판정하고;
    제2 수정된 신호를 생성하기 위해서 상기 적어도 하나의 신호 필터로 상기 제2 응답 신호를 수정하고;
    상기 제2 수정된 신호의 적어도 일부의 제2 PDF를 생성하고;
    상기 스루 채널의 전체 노이즈 PDF를 생성하기 위해 상기 제1 및 제2 PDF들을 결합하고;
    적어도 부분적으로, S 및 전체 노이즈 PDF를 기반으로 상기 스루 채널의 신호대잡음비를 판정하도록 구성되어 있는 테스트 회로
    를 포함하는 네트워크 장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 신호 필터는 상기 Tx 회로 및/또는 Rx 회로에 관련된 필터를 포함하는, 네트워크 장치.
  3. 제1항에 있어서, 상기 테스트 회로는 복수의 조정가능 필터 설정으로 상기 제1 측정된 신호를 수정하고, 그리고 각각의 조정가능 필터 설정에 대해서:
    각각의 조정가능 필터 설정마다 하니씩, 복수의 수정된 신호를 생성하고;
    각 수정된 신호에 대해서, 상기 테스트 신호에 기반을 둔 샘플링 레이트로 상기 신호를 샘플링하고;
    각 수정된 신호에 대해서, 근사 이용가능 신호 진폭을 판정하고;
    각 수정된 신호에 대해서, 노이즈 영역을 판정하고;
    각 수정된 신호에 대해서, 적어도 부분적으로, 상기 이용가능 신호 진폭과 상기 노이즈 영역을 기반으로 신호대잡음비를 판정하고;
    상기 수정된 신호들 중 가장 큰 신호대잡음비를 갖는 하나를 선택하도록 더 구성되어 있으며,
    상기 제1 PDF는 상기 선택된 수정된 신호를 이용하여 생성되는, 네트워크 장치.
  4. 제1항에 있어서, 상기 테스트 회로는:
    상기 제1 수정된 신호의 제1 포지티브 영 교차를 판정하고;
    상기 테스트 신호에 기반을 둔 샘플링 레이트로 상기 제1 수정된 신호를 샘플링하고;
    상기 제1 수정된 신호의 일부를 간섭 신호 영역으로 지정하도록 더 구성되어 있으며,
    상기 간섭 신호 영역은 상기 Rx 회로의 적어도 한 파라미터에 기반을 두고 있고, 상기 노이즈 영역은 상기 간섭 영역 밖에 있는, 네트워크 장치.
  5. 제1항에 있어서, 상기 테스트 회로는:
    복수의 크로스톡 채널 각각에 대해서, 상기 스루 채널에 대해 각각 측정되고 상기 복수의 크로스톡 채널들 각각에 관한 테스트 신호에 대한 응답으로 생성되는 복수의 대응 응답 신호를 판정하고;
    상기 복수의 응답 신호 각각에 대해서, 수정된 신호를 생성하기 위해 상기 응답 신호를 상기 적어도 하나의 신호 필터로 수정하고;
    상기 복수의 응답 신호 각각에 대해서, 상기 수정된 신호의 적어도 일부의 PDF를 생성하며;
    상기 복수의 응답 신호 PDF 중에서, 가장 큰 변동(variance)을 갖는 PDF를 선택하도록 더 구성되어 있는, 네트워크 장치.
  6. 제1항에 있어서, 상기 테스트 회로는:
    적어도 하나의 부가 노이즈 소스에 관련된 제3 PDF를 생성하고;
    상기 제1, 제2 및 제3 PDF를 기반으로 상기 스루 채널의 신호대잡음비를 판정하도록 더 구성되어 있는, 네트워크 장치.
  7. 제1항에 있어서, 상기 테스트 회로는:
    상기 전체 노이즈 PDF를 기반으로, 적어도 하나의 채널 품질 파라미터에 관련된 메트릭을 생성하도록 더 구성되어 있으며, 상기 메트릭은 이더넷 통신 프로토콜에 의해 정의된 타겟 메트릭에 기반을 두고 있는 노이즈 메트릭인, 네트워크 장치.
  8. 제7항에 있어서, 상기 타겟 메트릭은 심볼 에러율(SER)이며, 상기 메트릭은 상기 스루 채널의 채널 품질에 대한, 이더넷 통신 프로토콜에 의해 정의된 준수 측정(compliance measure)에 이용되는, 네트워크 장치.
  9. 이더넷 통신 프로토콜을 이용하여 서로 통신하도록 구성되어 있는 제1 장치와 제2 장치 간에 통신 경로를 제공하는 스루 채널의 신호대잡음비를 판정하는 방법으로서,
    상기 스루 채널에 대해 측정되고 상기 스루 채널에 관한 테스트 신호에 대한 응답으로 생성되는 제1 응답 신호의 근사 이용가능 신호 진폭 S를 판정하는 단계;
    제1 수정된 신호를 생성하기 위해서 적어도 하나의 신호 필터로 상기 제1 응답 신호를 수정하는 단계;
    상기 제1 수정된 신호의 노이즈 영역을 판정하는 단계;
    상기 제1 수정된 신호의 노이즈 영역의 적어도 일부의 제1 확률 밀도 함수(PDF)를 생성하는 단계;
    상기 스루 채널에 대해 측정되고 크로스톡 채널에 관한 테스트 신호에 대한 응답으로 생성되는 제2 응답 신호를 판정하는 단계;
    제2 수정된 신호를 생성하기 위해서 상기 적어도 하나의 신호 필터로 상기 제2 응답 신호를 수정하는 단계;
    상기 제2 수정된 신호의 적어도 일부의 제2 PDF를 생성하는 단계;
    상기 스루 채널의 전체 노이즈 PDF를 생성하기 위해 상기 제1 및 제2 PDF들을 결합하는 단계; 및
    적어도 부분적으로, S 및 전체 노이즈 PDF를 기반으로 상기 스루 채널의 신호대잡음비를 판정하는 단계를 포함하는 방법.
  10. 제9항에 있어서, 상기 신호 필터는 상기 스루 채널에 연결된 전송 회로(Tx) 및/또는 수신 회로(Rx)에 관련된 필터를 포함하는 방법.
  11. 제9항에 있어서,
    복수의 조정가능 필터 설정으로 상기 제1 측정된 신호를 수정하는 단계 및, 각각의 조정가능 필터 설정에 대해서:
    각각의 조정가능 필터 설정마다 하나씩, 복수의 수정된 신호를 생성하고;
    각 수정된 신호에 대해서, 상기 테스트 신호에 기반을 둔 샘플링 레이트로 상기 신호를 샘플링하고;
    각 수정된 신호에 대해서, 근사 이용가능 신호 진폭을 판정하고;
    각 수정된 신호에 대해서, 노이즈 영역을 판정하고;
    각 수정된 신호에 대해서, 적어도 부분적으로, 상기 이용가능 신호 진폭과 상기 노이즈 영역을 기반으로 신호대잡음비를 판정하고;
    상기 수정된 신호들 중 가장 큰 신호대잡음비를 갖는 하나를 선택하는 단계를 더 포함하고;
    상기 제1 PDF는 상기 선택된 수정된 신호를 이용하여 생성되는 방법.
  12. 제9항에 있어서,
    상기 제1 수정된 신호의 제1 포지티브 영 교차를 판정하는 단계;
    상기 테스트 신호에 기반을 둔 샘플링 레이트로 상기 제1 수정된 신호를 샘플링하는 단계; 및
    상기 제1 수정된 신호의 일부를 간섭 신호 영역으로 지정하는 단계를 더 포함하며,
    상기 간섭 신호 영역은 상기 스루 채널에 연결된 수신 회로의 적어도 하나의 파라미터에 기반을 두고 있고, 상기 노이즈 영역은 상기 간섭 영역 밖에 있는 방법.
  13. 제9항에 있어서,
    복수의 크로스톡 채널 각각에 대해서, 각각 상기 스루 채널에 대해 측정되고 상기 복수의 크로스톡 채널 각각에 관한 테스트 신호에 대한 응답으로 생성되는 복수의 대응 응답 신호를 판정하는 단계;
    상기 복수의 응답 신호들 각각에 대해서, 수정된 신호를 생성하기 위해 상기 응답 신호를 상기 적어도 하나의 신호 필터로 수정하는 단계;
    상기 복수의 응답 신호들 각각에 대해서, 상기 수정된 신호의 적어도 일부의 PDF를 생성하는 단계; 및
    상기 복수의 응답 신호 PDF 중에서, 가장 큰 변동을 갖는 PDF를 선택하는 단계를 더 포함하는 방법.
  14. 제9항에 있어서,
    적어도 하나의 부가 노이즈 소스에 관련된 제3 PDF를 생성하는 단계; 및
    상기 제1, 제2 및 제3 PDF를 기반으로 상기 스루 채널의 신호대잡음비를 판정하는 단계를 더 포함하는 방법.
  15. 제9항에 있어서,
    상기 전체 노이즈 PDF를 기반으로, 적어도 하나의 채널 품질 파라미터에 관련된 메트릭을 생성하는 단계를 더 포함하고, 상기 메트릭은 이더넷 통신 프로토콜에 의해 정의된 타겟 메트릭에 기반을 두고 있는 노이즈 메트릭인 방법.
  16. 제15항에 있어서, 상기 타겟 메트릭은 심볼 에러율(SER)이며, 상기 메트릭은 상기 스루 채널의 채널 품질에 대한, 이더넷 통신 프로토콜에 의해 정의된 준수 측정에 이용되는 방법.
  17. 하나 이상의 프로세서에 의해 실행될 때 제9항 내지 제16항 중 어느 한 항에 따른 동작들을 포함하는 동작들을 이끌어내는 명령어들을 개별적으로 또는 조합으로 저장하고 있는 하나 이상의 비-일시 저장 장치를 포함하는 시스템.
  18. 네트워크 장치로서,
    전송 회로(Tx) 및 수신 회로(Rx)를 포함하는 PHY 회로 - 상기 Tx 회로 및 상기 Rx 회로는 채널들을 통해서 외부 장치와 통신하기 위해 각 채널에 연결되게 구성되어 있고, 상기 네트워크 장치는 이더넷 통신 프로토콜을 이용하여 상기 외부 장치와 통신하도록 구성되어 있음 - ; 및
    상기 채널들 중에서 스루 채널과 적어도 하나의 크로스톡 채널을 지정하고;
    시간 도메인에서, 제1 응답 신호의 근사 이용가능 신호 전압을 판정하고 - 상기 제1 응답 신호는 상기 스루 채널에 인가된 테스트 신호에 대한 응답임 - ;
    상기 스루 채널에 인가된 테스트 신호에 대한 응답인 상기 제1 응답 신호의 제1 노이즈 프로파일을 판정하고;
    제2 응답 신호의 제2 노이즈 프로파일을 판정하고 - 상기 제2 응답 신호는 크로스톡 채널에 인가되고 상기 스루 채널에 관해 측정된 상기 테스트 신호에 대한 응답임 - ;
    적어도 부분적으로, 상기 근사 이용가능 신호 전압과 상기 제1 및 제2 노이즈 프로파일을 기반으로 상기 스루 채널의 신호대잡음비를 판정하도록 구성된 테스트 회로
    를 포함하는 네트워크 장치.
  19. 제18항에 있어서, 상기 신호 필터는 상기 Tx 회로 및/또는 Rx 회로에 관련된 필터를 포함하는, 네트워크 장치.
  20. 제18항에 있어서, 상기 테스트 회로는 복수의 조정가능 필터 설정으로 상기 제1 응답 신호를 수정하고, 그리고 각각의 조정가능 필터 설정에 대해서:
    각각의 조정가능 필터 설정마다 하나씩, 복수의 수정된 신호를 생성하고;
    각 수정된 신호에 대해서, 상기 테스트 신호에 기반을 둔 샘플링 레이트로 상기 신호를 샘플링하고;
    각 수정된 신호에 대해서, 근사 이용가능 신호 진폭을 판정하고;
    각 수정된 신호에 대해서, 노이즈 영역을 판정하고;
    각 수정된 신호에 대해서, 적어도 부분적으로, 상기 이용가능 신호 진폭과 상기 노이즈 영역을 기반으로 신호대잡음비를 판정하고;
    상기 수정된 신호들 중 가장 큰 신호대잡음비를 갖는 하나를 선택하도록 더 구성되어 있으며,
    상기 제1 노이즈 프로파일은 상기 선택된 수정된 신호를 이용하여 생성되는, 네트워크 장치.
  21. 제18항에 있어서, 상기 테스트 회로는:
    상기 제1 응답 신호의 제1 포지티브 영 교차를 판정하고;
    상기 테스트 신호에 기반을 둔 샘플링 레이트로 상기 제1 응답 신호를 샘플링하고;
    상기 제1 응답 신호의 일부를 간섭 신호 영역으로 지정함으로써 상기 제1 노이즈 프로파일을 판정하도록 더 구성되어 있으며,
    상기 간섭 신호 영역은 상기 Rx 회로의 적어도 한 파라미터에 기반을 두고 있고, 상기 노이즈 프로파일은 상기 간섭 영역 밖에 있는 상기 제1 응답 신호의 영역을 기반으로 판정되는, 네트워크 장치.
  22. 제18항에 있어서, 상기 테스트 회로는:
    복수의 크로스톡 채널 각각에 대해서, 상기 스루 채널에 대해 각각 측정되고 상기 복수의 크로스톡 채널 각각에 관한 테스트 신호에 대한 응답으로 생성되는 복수의 대응 응답 신호를 판정함으로써 상기 제2 노이즈 프로파일을 판정하고;
    상기 복수의 응답 신호 각각에 대해서, 수정된 신호를 생성하기 위해 상기 응답 신호를 상기 적어도 하나의 신호 필터로 수정하고;
    상기 복수의 응답 신호 각각에 대해서, 상기 수정된 신호의 적어도 일부의 노이즈 프로파일을 생성하며;
    상기 복수의 응답 신호 노이즈 프로파일 중에서, 가장 큰 변동을 갖는 노이즈 프로파일을 선택하도록 더 구성되어 있는, 네트워크 장치.
  23. 제18항에 있어서, 상기 테스트 회로는:
    적어도 하나의 부가 노이즈 소스에 관련된 제3 노이즈 프로파일을 생성하고;
    상기 제1, 제2 및 제3 노이즈 프로파일을 기반으로 상기 스루 채널의 신호대잡음비를 판정하도록 더 구성되어 있는, 네트워크 장치.
  24. 제18항에 있어서, 상기 테스트 회로는:
    상기 제1 및 제2 노이즈 프로파일을 기반으로, 적어도 하나의 채널 품질 파라미터에 관련된 메트릭을 생성하도록 더 구성되어 있으며, 상기 메트릭은 이더넷 통신 프로토콜에 의해 정의된 타겟 메트릭에 기반을 두고 있는 노이즈 메트릭인, 네트워크 장치.
  25. 제24항에 있어서, 상기 타겟 메트릭은 심볼 에러율(SER)이며, 상기 메트릭은 상기 스루 채널의 채널 품질에 대한, 이더넷 통신 프로토콜에 의해 정의된 준수 측정에 이용되는, 네트워크 장치.
KR1020147027097A 2012-03-12 2013-03-08 전기 상호접속부의 신호 품질 판정 KR101619009B1 (ko)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US201261609804P 2012-03-12 2012-03-12
US61/609,804 2012-03-12
PCT/US2013/029886 WO2013138180A1 (en) 2012-03-12 2013-03-08 Determining the signal quality of an electrical interconnect

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020167011354A Division KR101698732B1 (ko) 2012-03-12 2013-03-08 전기 상호접속부의 신호 품질 판정

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20140129313A true KR20140129313A (ko) 2014-11-06
KR101619009B1 KR101619009B1 (ko) 2016-05-18

Family

ID=49161676

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020147027097A KR101619009B1 (ko) 2012-03-12 2013-03-08 전기 상호접속부의 신호 품질 판정
KR1020167011354A KR101698732B1 (ko) 2012-03-12 2013-03-08 전기 상호접속부의 신호 품질 판정

Family Applications After (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020167011354A KR101698732B1 (ko) 2012-03-12 2013-03-08 전기 상호접속부의 신호 품질 판정

Country Status (7)

Country Link
US (2) US9197288B2 (ko)
KR (2) KR101619009B1 (ko)
CN (2) CN104365024B (ko)
AU (2) AU2013232410B2 (ko)
DE (1) DE112013001382T5 (ko)
TW (1) TWI493906B (ko)
WO (1) WO2013138180A1 (ko)

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104365024B (zh) 2012-03-12 2017-05-03 英特尔公司 确定电气互连的信号质量
US8982938B2 (en) 2012-12-13 2015-03-17 Intel Corporation Distortion measurement for limiting jitter in PAM transmitters
US9337893B2 (en) * 2013-12-10 2016-05-10 Qualcomm Incorporated Crosstalk analysis methods using superposition
US20160239453A1 (en) * 2015-02-12 2016-08-18 Molex, Llc Method of evaluating a channel
US9595495B1 (en) * 2015-09-28 2017-03-14 Altera Corporation Multi-level signaling for on-package chip-to-chip interconnect through silicon bridge
US11128481B2 (en) * 2018-10-08 2021-09-21 Schweitzer Engineering Laboratories, Inc. Hardware accelerated communication frame
CN109309512B (zh) * 2018-11-23 2023-09-08 四川灵通电讯有限公司 铜线传输系统信道质量测试及配置协商装置及应用方法
JP2022049407A (ja) * 2020-09-16 2022-03-29 キオクシア株式会社 情報処理システム、ストレージデバイス、およびキャリブレーション方法
WO2022150744A1 (en) 2021-01-11 2022-07-14 Ysi, Inc. Induced crosstalk circuit for improved sensor linearity

Family Cites Families (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US687090A (en) * 1900-09-10 1901-11-19 Armand Wache Apparatus or gear for transmitting motion at variable speed.
US4649505A (en) * 1984-07-02 1987-03-10 General Electric Company Two-input crosstalk-resistant adaptive noise canceller
US6317466B1 (en) 1998-04-15 2001-11-13 Lucent Technologies Inc. Wireless communications system having a space-time architecture employing multi-element antennas at both the transmitter and receiver
US6870901B1 (en) 1999-11-11 2005-03-22 Tokyo Electron Limited Design and architecture of an impairment diagnosis system for use in communications systems
US7502426B2 (en) * 2003-09-09 2009-03-10 Interdigital Technology Corporation Method for estimating signal magnitude, noise power, and signal-to-noise ratio of received signals
JP4543737B2 (ja) * 2004-05-10 2010-09-15 ソニー株式会社 無線通信システム、無線通信装置及び無線通信方法、並びにコンピュータ・プログラム
US20060023817A1 (en) 2004-07-28 2006-02-02 Alcatel Enhanced viterbi equalizer and algorithm
US7809336B2 (en) * 2005-03-07 2010-10-05 Qualcomm Incorporated Rate selection for a quasi-orthogonal communication system
US20060268976A1 (en) * 2005-05-03 2006-11-30 Motorola, Inc. Method and apparatus for determining channel quality and performing adaptive modulation coding within a multi carrier communication system
US7899638B2 (en) * 2005-10-18 2011-03-01 Lecroy Corporation Estimating bit error rate performance of signals
US8239432B2 (en) * 2007-10-05 2012-08-07 Micron Technology, Inc. Incorporating noise and/or jitter into waveform generation
WO2010041233A1 (en) * 2008-10-06 2010-04-15 Ceragon Networks Ltd. Snr estimation
US8244491B1 (en) * 2008-12-23 2012-08-14 Cadence Design Systems, Inc. Statistical static timing analysis of signal with crosstalk induced delay change in integrated circuit
JP5262820B2 (ja) 2009-02-20 2013-08-14 日本電気株式会社 信号検出装置及び信号検出方法
KR101653433B1 (ko) * 2009-02-27 2016-09-01 이카노스 커뮤니케이션스, 인크. 자기-유도 원단 크로스토크를 완화시키는 시스템 및 방법
US8498408B2 (en) 2009-06-29 2013-07-30 Alcatel Lucent Crosstalk estimation and power setting based on interpolation in a multi-channel communication system
US8504334B2 (en) * 2010-07-16 2013-08-06 Micron Technology, Inc. Simulating the transmission and simultaneous switching output noise of signals in a computer system
JP5989008B2 (ja) 2011-02-08 2016-09-07 イカノス・コミュニケーションズ・インコーポレイテッドＩｋａｎｏｓ Ｃｏｍｍｕｎｉｃａｔｉｏｎｓ，Ｉｎｃ． 同期式マルチユーザマルチキャリア通信においてスペクトル効率を改善し漏話雑音をプロファイリングするシステムおよび方法
CN104365024B (zh) 2012-03-12 2017-05-03 英特尔公司 确定电气互连的信号质量

Also Published As

Publication number Publication date
TWI493906B (zh) 2015-07-21
CN105846857A (zh) 2016-08-10
TW201404058A (zh) 2014-01-16
DE112013001382T5 (de) 2014-11-27
US20160182124A1 (en) 2016-06-23
AU2016202048A1 (en) 2016-04-28
AU2013232410A1 (en) 2014-09-18
US9197288B2 (en) 2015-11-24
AU2013232410B2 (en) 2016-03-31
US20140072023A1 (en) 2014-03-13
US9906267B2 (en) 2018-02-27
KR20160054621A (ko) 2016-05-16
CN104365024A (zh) 2015-02-18
CN105846857B (zh) 2019-07-12
AU2016202048B2 (en) 2017-12-14
WO2013138180A1 (en) 2013-09-19
KR101619009B1 (ko) 2016-05-18
CN104365024B (zh) 2017-05-03
KR101698732B1 (ko) 2017-01-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101619009B1 (ko) 전기 상호접속부의 신호 품질 판정
US10069606B2 (en) Transmitter noise in system budget
US10355890B2 (en) Repeatable backchannel link adaptation for high speed serial interfaces
JP7223029B2 (ja) 適合性試験方法及び装置、並びに記憶媒体
CN107797099B (zh) 一种多通道数字接收机实时内定标处理方法及装置
KR101497626B1 (ko) 조절 가능한 유한 임펄스 응답 송신기
CN116760433B (zh) 基带脉冲响应信号测量方法、装置、电子设备及介质
WO2018035719A1 (zh) 一种时钟恢复电路中鉴相信号的获取方法以及鉴相器
US10862717B2 (en) Multirate data for S-parameter extraction
US20140208146A1 (en) Time Protocol Latency Correction Based On Forward Error Correction Status
WO2020043012A1 (en) Signal skew measurement method, apparatus, medium, and electronic device
CN107241287B (zh) 一种前缀长度确定方法及装置
CN109217953B (zh) 一种基于分析通道信噪比的降噪方法与系统
CN105515685B (zh) 一种高斯白噪声功率测量方法及装置
CN106527577B (zh) 调整时钟信号的方法和装置
Rangan et al. A Generic Algorithm for Speed Based Performance Estimation and Computation for Universal Serial Bus 3.0 SuperSpeed Bulk Transaction
KR20230010400A (ko) 타임-인터리빙된 아날로그-디지털 컨버터의 부정합들을 교정하기 장치 및 방법
US9946321B2 (en) System and method to proactively screen component wear through time domain response profiling
Penugonda Generating fast and accurate compliance reports for various data rates

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20190328

Year of fee payment: 4