KR20140125746A - 테스트 어댑터 - Google Patents

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KR20140125746A
KR20140125746A KR20140046780A KR20140046780A KR20140125746A KR 20140125746 A KR20140125746 A KR 20140125746A KR 20140046780 A KR20140046780 A KR 20140046780A KR 20140046780 A KR20140046780 A KR 20140046780A KR 20140125746 A KR20140125746 A KR 20140125746A
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KR
South Korea
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test adapter
product stand
structures
stand
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Application number
KR20140046780A
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Inventor
하피아 베사
아호라 주카
Original Assignee
피케이씨 일렉트로닉스 오와이
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Publication date
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Abstract

본 발명은 테스트될 전자 제품용 테스트 어댑터에 관한 것으로, 테스트 어댑터(TA)는 지지 구조물(100) 및 상기 제품(DUT)을 위한 지지 구조물 상에 지지된 제품 스탠드(200)를 포함한다. 상기 제품 스탠드는 제품 스탠드의 수직 이동(U)을 제어하는 가이드 구조물(301 내지 304)에 의해 상기 지지 구조물(100)에 지지된다. 제품 스탠드(200)는 상부 위치(TOP)로부터 가이드 구조물(301 내지 304)에 의해 지지된 하부 위치(LOW)로 가동되도록 위로부터 직접적인 또는 간접적인 프레싱 이동으로 배열된다. 테스트 어댑터는 하부 위치(LOW)에 제품 스탠드(200)를 유지하기 위한 그리고 테스트 어댑터의 래치 구조물(501, 502)을 잠금 위치에 유지하기 위한 유지 구조물(701, 701)을 포함하며, 래치 구조물(501, 502)은 상기 제품을 제품 스탠드(200)에 잠금하기 위해 배열된다.

Description

테스트 어댑터 {TEST ADAPTER}
본 발명은 테스트될 전자 제품용 테스트 어댑터에 관한 것으로, 상기 테스트 어댑터는 지지 구조물 및 상기 제품을 위한 지지 구조물 상에 지지되는 제품 스탠드를 포함한다.
테스트 어댑터들은 전자 산업에서 설계된 시제품(prototype) 또는 완제품의 작동을 테스트하기 위해 제품 개발 단계 또는 생산 단계 동안 사용된다. 상기 제품은 테스트되며, 즉 DUT(Device under test; 피시험 장치)는 예를 들면 셀 방식 무선 네트워크에서 사용된 휴대폰과 같은 무선 네트워크용 단자일 수 있다. 테스트 어댑터는 테스팅 스테이션에 속하거나 테스팅 스테이션에 부착가능한 플랫폼이며, 이 플랫폼을 통하여 테스트될 제품이 예를 들면 송수신기 또는 사용자 인터페이스의 작동을 테스트하는 목적을 위해 테스팅 스테이션의 시스템들에 연결될 수 있다.
어댑터의 기본 구조물은 기부에 의해 지지되는, 즉 실제로 기부 상의, 제품 스탠드를 포함하며 이 제품 스탠드 상에 휴대폰과 같은 제품이 배치된다. 제품 스탠드는 플라스틱으로 제조될 수 있으며 제품 스탠드의 기본 형상에서 제품 스탠드가 예를 들면 하부 측(lowersided) 직사각형 트레이일 수 있으며 이 트레이에서 트레이의 형상은 어느 정도로 테스트될 제품의 저부의 형태일 수 있다. 제품 스탠드는 각각의 제품에 대해 교체가능할 수 있다.
공지된 어댑터 모델들은 하나 또는 둘 이상의 소형 전자 모터들 및/또는 공압 실린더들을 사용하며 이 소형 전자 모터들 및/또는 공압 실린더들은 상기 제품을 제품 스탠드 상의 제 위치에 잠금하기 위해, 제품 스탠드 및 그 위의 제품에 대해 잠금 브래킷들을 이동시킨다. 상기 제품으로의 전기 연결은 또한 전기 모터들/공압 실린더들이 지지 구조물에 지지되는 커넥터들 및/또는 접촉 핀들을 제품상의 I/O 포트들 또는 다른 커넥터들과 같은 상대-피스(counter-piece)들과 접촉되게 이동시키는 방식으로 하나 또는 둘 이상의 소형 전기 모터들 및/또는 공압 실린더들을 이용함으로써 공지된 해법들로 달성된다. 전기 모터들/공압 실린더들은 예를 들면 알루미늄으로 제조된 지지 구조물의 저부 표면과 접촉하고 리프팅 또는 측방향 이동에 의해, 전기 모터들/공압 실린더들은 하나 또는 둘 이상의 잠금 부재들을 이들의 잠금 위치로 이동시키고 접촉 핀 또는 대응하는 커넥터가 제품상의 상대-피스들과 접촉한다. 공지된 어댑터에서, 지지 구조물 아래에 3개의 소형 전기 모터들이 있다. 종래의 어댑터 모델에서, 예를 들면 알루미늄 지지 프레임을 통하여 관통하는 구멍들에 의해 테스팅 시스템으로부터 지지 프레임을 통하여 지지 프레임 상에 있는 제품 상에 위치된 테스트 제품으로 전기 연결부를 형성하는 것이 가능하다. 상기 연결부는 당연히 2방 연결부일 수 있어서 테스팅 시스템은 가진 신호(excitation signal)의 공급 및 테스트된 제품의 응답의 측정 양자 모두를 할 수 있다.
그러나, 공지된 해법들과 관련된 문제점, 특히 수 개의(several) 전기 모터들 및/또는 공압 실린더들의 요구에 대한 그리고 수 개의 전기 모터들 및/또는 공압 실린더들이 어댑터들의 제조시에 유발하는 비용에 대한 문제점이 있다. 제품 스탠드 상으로의 제품의 잠금은 구체적인 문제점이다.
따라서, 공지된 해법들에서 문제점들의 개수를 줄일 수 있는 신규한 테스트 어댑터들을 개발하기 위한 요구가 있다.
본 발명의 목적은 향상된 테스트 어댑터를 제공하는 것이다. 이는 본 발명의 테스트 어댑터에 의해 달성되며, 이 테스트 어댑터는 제품 스탠드가 상기 제품 스탠드의 수직 상하 이동을 제어하는 가이드 구조물에 의해 지지 구조물에 지지되고 상부로부터의 직접 또는 간접 프레싱 이동에 의해 제품 스탠드가 가이드 구조물 상에서 상부 위치로부터 하부 위치로 가동되도록 배열되고 테스트 어댑터는 제품 스탠드를 하부 위치에 유지하기 위한 그리고 어댑터 내의 래치 구조물을 잠금 위치에 유지하기 위한 유지 구조물을 포함하며, 래치 구조물은 제품을 제품 스탠드에 잠금하기 위해 배열된다.
본 발명의 바람직한 실시예들은 종속 청구항들에 개시된다. 바람직한 실시예들은 기본 발명의 장점들을 강화한다.
본 발명의 해법은 수 개의 장점들을 제공하며, 특히 가능하게는 고가의 전기 모터들/공압 실린더들의 사용을 회피하거나 적어도 고가의 전기 모터들/공압 실린더들에 대한 요구를 상당히 줄이는 장점들을 제공한다. 본 발명은 제품을 위한 비용-효율적인 잠금 구조물을 제공한다. 본 발명은 또한 제품 및 이의 제품 스탠드를 하방으로 프레스하기 위해 수동 작동을 활용하는 것을 가능하게 할 수 있는데, 이는 수동 작업을 하는 작업자가 보통 제품을 테스트 어댑터의 제품 스탠드 상에 배치하는 작업자이기 때문이며, 그 결과 다음 단계 동안 동일한 작업자가 제품을 이의 제품 스탠드를 이용하여 하부 위치로 프레스하기가 용이하며, 하부 위치에서 래치는 이의 잠금 위치에서 잠금되며, 일 실시예에서 테스트 어댑터에서의 커넥터들 또는 다른 접촉 구조물이 제품과 접촉하게 될 수 있다.
지금부터, 본 발명은 바람직한 실시예들과 관련하여 그리고 첨부된 도면들을 참조하여 더 상세하게 설명될 것이다.
도 1은 상부 위치에 제품이 있는 테스트 어댑터의 평면도이며,
도 2는 도 1의 A-A의 횡단면을 도시하며,
도 3은 도 1의 B-B의 횡단면을 도시하며,
도 4는 제품이 하방-프레스 위치에 있는 테스트 어댑터의 평면도이며,
도 5는 도 4의 C-C의 횡단면을 도시하며,
도 6은 도 4의 D-D의 횡단면을 도시하며,
도 7은 제품이 이의 상부 위치에 있는, 즉 테스트 어댑터가 하방으로 프레스되기 전의 테스트 어댑터의 평면도이며,
도 8은 도 7에서 화살표(A1)의 방향으로부터 볼 때 제품을 구비한 테스트 어댑터의 측면도이며,
도 9는 제품이 상부 위치에 있지 않은, 즉 하방으로 프레스되기 전의 테스트 어댑터의 평면도이며,
도 10은 도 9에서 화살표(A2)의 방향으로부터 볼 때 제품이 없는 테스트 어댑터의 측면도이며,
도 11은 하방 프레스 후 도 7에 따른 상황을 도시하며,
도 12는 하방 프레스 후 도 8에 따른 상황 및 동시에 도 11에서 화살표(A3)의 방향으로부터 볼 때 도 11에 따른 상황을 도시하며,
도 13은 하방 프레스 후 도 9에 따른 상황을 도시하며,
도 14는 하방 프레스 후 도 10에 따른 상황 및 동시에 도 13에서 화살표(A4)의 방향으로부터 볼 때 도 13에 따른 상황을 도시하며,
도 15 내지 도 17은 상이한 단계들, 제품이 없는 단계, 제품이 있는 단계, 제품이 제 위치에 잠금된 단계에서의 테스트 어댑터를 도시하며,
도 18은 제품과의 테스트 접촉을 설정하기 위한, 핀과 같은, 접촉 구조물을 구비한 도 3에서 도시된 바와 같은 테스트 어댑터를 도시한다.
본 발명은 테스트될 전자 제품용 테스트 어댑터(TA)이고 제품은 DUT(피시험 장치)로 표시된다. DUT는 셀 방식 네트워크에서 사용되는 휴대폰과 같은 무선 네트워크 단자일 수 있지만, 이에 제한되지 않는다.
테스트 어댑터는 지지 구조물(100) 및 제품(DUT)용 지지 구조물(100) 상에 지지된 제품 스탠드(200)를 포함한다. 도 18을 참조하면, 어댑터(TA)는 또한 제품(DUT)에 테스트 접촉을 설정하기 위한, 커넥터 또는 소정의 다른 접촉 구조물과 같은, 하나 또는 둘 이상의 접촉 구조물(C)들을 포함한다. 제품(DUT)에 대한 테스트 접촉을 설정하는 것은 대안적으로 USB 접속을 통하여 일어날 수 있다.
지지 구조물은 평면형 피스(planar piece)이고 예를 들면 알루미늄으로 제조된다.
이어서 지지 구조물(100)은, 지지 피트(feet)(102)와 같은 저부 지지부(102)들 상에 있으며 저부 지지부(102)는 이어서 전자 구성요소들을 구비한 바람직한 구성요소 구성뿐만 아니라 예를 들면 외부 테스팅 시스템 또는 전원으로의 연결 포트를 구비한 회로 기판일 수 있는 작동 유닛(도시안됨) 상에 있을 수 있다.
제품 스탠드(200)는 제품 스탠드의 수직 이동(U)을 제어하는 가이드 구조물(301 내지 304)에 의해 지지 구조물(100)에 지지된다.
제품 스탠드(100) 및 그 위의 제품(DUT)의 수직 이동(U)은 제품 스탠드(200)의 상부 위치와 하부 위치를 서로 비교할 때 볼 수 있다. 도 1 내지 도 3, 도 7 내지 도 10 및 도 16 내지 도 17은 상부 위치를 도시한다. 도 4 내지 도 6, 도 11 내지 도 14 및 도 17은 하부 위치를 도시한다.
일 실시예에서, 가이드 구조물은 분배되고 수 개의 가이드 구조물 요소(301 내지 304)들을 포함한다. 가이드 구조물 요소들은 이들의 상부 측면들로부터 제품 스탠드(200)의 모서리들 또는 다른 에지 영역들에 체결된다.
일 실시예에서, 가이드 구조물은 스프링 구조물(301c, 302c, 303c) 또는 제품 스탠드(30)를 이의 상부 위치로 복귀시키기 위한 소정의 다른 유지 구조물을 포함한다. 가이드 구조물 요소(301 내지 304)들은 이들 자체의 복귀 구조물들을 가지며, 이의 스프링(301c, 302c, 303c 및 304c)들이 도 2, 도 3, 도 8, 도 10, 도 15, 도 16, 및 도 18에 도시된다.
각각의 가이드 구조물 요소(301 내지 304)는 제품 스탠드(200)와 접촉하는 제 1 부분, 즉 상부 부분(301a, 302a, 303a, 304a) 및 지지 구조물(100)과 접촉하는 제 2 부분, 즉 하부 부분(301b, 302b, 303b, 304b)을 갖는다. 일 실시예에서, 제 1 부분(301a)은 제 2 부분(301b)에 끼워 넣어진다. 도 12, 도 14, 도 15 및 도 16을 참조하면, 예를 들면, 끼워 넣어짐(nestedness)은 제 1 부분(301a, 302a, 303a, 304a), 즉 제품 스탠드(200)와 접촉하는 부분이 내부 부분이고 제 2 부분(301b, 302b, 303b, 304b), 즉 지지 구조물과 접촉하는 부분이 외부 부분임을 의미한다.
제품 스탠드(200)는 위로부터 직접 또는 간접 프레싱 이동에 의해 배열되어 상부 위치(TOP)로부터 가이드 구조물(301 내지 304)에 의해 지지된 하부 위치(LOW)로 가동된다. 테스트 어댑터(TA)는 제품 스탠트(200)를 이의 하부 위치(LOW)에 유지하기 위한 그리고 어댑터에서 래치 구조물(501 및 502)을 이의 잠금 위치에 유지하기 위한 유지 구조물(701 및 702)을 포함한다. 래치 구조물(501 및 502)은 제품(DUT)을 제품 스탠드(200)에 잠금하기 위해 배열된다. 위로부터의 프레싱 이동의 개시자(initiator)가 테스트 어댑터(TA)를 이용하는 작업자, 예를 들면 테스트 스테이션의 조작자일 수 있다. 프레싱은 또한 간접적으로 제품 스탠드(200)로 지향될 수 있으며, 즉, 조작자는 제품(DUT)의 상부 표면을 프레스할 수 있다. 예를 들면, 도 15에 따른 시작 상황에서, 조작자는 먼저 DUT를 이의 상부 위치(TOP)에 있는 제품 스탠드(200) 상의 제위치에 세팅하고 이어서 도 16에 따른 상황에서 조작자는 수동으로 DUT의 상부 표면을 프레스하는데, 이는 도 17에 따른 상황, 즉 하부 위치(LOW)를 초래한다. 래치 구조물(501 및 502)은 제품(DUT) 상에 있도록 터닝되었고 전자기성일 수 있는 유지 구조물(701, 702)은 제품 스탠드(200)를 하부 위치에 유지한다.
래치 구조물(501, 502)은 제품 스탠드(200)에 있고 하부 위치(LOW)로의 제품 스탠드의 이동으로부터 이의 폐쇄 위치(예를 들면 도 17)로 이동하기 위한 명령을 수신하도록 배열된다. 대응하여, 래치 구조물(501 및 502)은 상부 위치(TOP)로의 제품 스탠드의 이동으로부터 이의 폐쇄 위치(예를 들면 도 17)로부터 이동하기 위한 명령을 수신하도록 배열된다. 래치 구조물은 스프링과 같은 복귀 장치(555)를 포함하며 이 복귀 장치는 래치 구조물(501, 502)이 가이드 로울(801, 802)과 접촉된채 유지되는 것을 보장하고 또한 래치 구조물(501, 502)들이 개방되는, 즉 래치들의 상부 부분이 제품(DUT)로부터 멀어지게 터닝하는 것을 보장한다.
일 실시예에서, 래치 구조물(501 내지 502)은 액슬 또는 소정의 다른 회전 체결부(501a, 502a)에 의해 제품 스탠드(200)의 제품 공간(200a)의 에지에 체결된다. 래치 구조물(501 및 502)은 양면식이며(two-sided) 제품 스탠드(200)의 제품 공간(200a)의 하나의 에지 상에 제 1 래치(501) 및 제품 스탠드(200)의 제 2 제품 공간(200a)의 마주하는 에지 상에 제 2 래치(502)를 포함한다.
일 실시예에서, 지지 구조물(100)은 제품 스탠드 상의 잠금 위치로 가이드하기 위해 배열되는 가이드 로울(801 및 802) 또는 소정의 다른 가이드를 갖는다. 지지 구조물에 있고 제품 스탠드(200) 상의 래치 구조물(501, 502)용으로 의도되는 가이드 로울(801, 802) 등은 액슬(801a, 802a)(도 3 및 도 6) 또는 소정의 다른 회전 체결부(801a, 802a)에 의해 지지 구조물(100)에 체결된다. 가이드 로울(801, 802)은 소형 베어링일 수 있다.
래치 구조물(501, 502)의 회전 체결부(501a, 502a)의 스윙 축선의 방향 및 래치 구조물(501, 502)을 회전시키기 위해 지향하는 가이드의 회전 체결부의 회전 방향이 본질적으로 평행하다.
아래에서 유지 구조물(701, 702)을 논의하는데, 유지 구조물에 의해 이의 제품(DUT)을 구비한 제품 스탠드(200)가 도 4 내지 도 6, 도 11 내지 도 14 및 도 17에 도시된 하부 위치에 유지된다. 일 실시예에서, 자기(magnetic) 부착을 활성 및 비활성시키기 위한 전기 제어부를 구비한 유지 구조물은 자성을 갖는다. 일 실시예에서, 자기 유지 구조물의 제 1 부분(701)은 이때 전자석이며 자기 유지 구조물의 제 2 부분은 강자성 피스(702)이다. 전자석(701) 및 이의 제어부에 의해, 하부 위치 및 상방 방출 양자 모두를 활성화하기가 용이하다.
위에서 설명된 것을 참조하면, 이에 따라 자기 유지 구조물의 전기 제어부가 지지 구조물(100)에 스위치(110)를 포함하며, 스위치의 스위치 부분(110a)은 제품 스탠드(200)의 제품 공간(200a)의 저부(200b)를 관통하는 채널에서 제품 스탠드(200)의 제품 공간(200a)의 저부(200b)의 근처로 연장한다. 푸시 버튼과 같은 스위치 부분(110a)은 제품 스탠드가 하부 위치에 있을 때 자기 부착을 활성화하기 위해 배열된다. 이는 제품 스탠드(200)의 하방 프레싱 이동의 마지막에 제품(DUT)의 저부가 스위치 부분(110a)을 하방으로 프레스하고 전자석(701)을 활성화하여, 이에 의해 전자석(701) 및 제품 스탠드(200)의 저부에 있는 대응 피스(702)가 서로 부착된다는 사실로부터 초래된다. 스위치(110) 및 스위치 부분(110a)은 전자석을 활성화하기 위해 배열된다.
또한, 별개의 스위치(150)가 있을 수 있으며, 이 별개 스위치에 의해 전자석(701)이 비활성화되며, 이 경우 스프링(301c, 302c, 303c) 및 제 4 가이드 구조물 요소의 스프링이 제품(DUT)을 구비한 제품 스탠드(200)를 상부 위치로 리프트할 수 있고, 동시에 래치 구조물(501, 502)이 개방되고 제품 스탠드(200)로부터 제품(DUT)을 제거하는 것을 가능하게 한다.
자기 유지 구조물은 지지 구조물(100)에 있는 제 1 부분(701), 및 제품 스탠드(200)에 있는 제 2 부분(702)을 포함한다. 제품 스탠드(200)가 이의 하부 위치에 있을 때(도 4 내지 도 6, 도 11 내지 도 14 및 도 17), 자기 유지 구조물의 제 2 부분(702)은 도면들에서와 같이 서로 접촉하거나 적어도 자기력 하에서 서로 근접한 위치에 남아 있게 된다.
특히 도 2 내지 도 3, 도 5, 도 6 및 도 10 내지 도 12는 자기 유지 구조물의 제 1 부분(701)이 지지 구조물 아래 체결되고 지지 구조물(100)을 통하여 적어도 부분적으로 연장하는 것을 도시한다. 대응하여, 자기 유지 구조물의 제 2 부분(702)은 제품 스탠드의 저부 표면 측 상에 있다. 자기 유지 구조물의 제 1 부분(701) 및 제 2 부분(702)은 본질적으로 정렬되는 것을 볼 수 있다. 제 1 부분(701) 또는 전자석의 상부 표면은 지지 구조물(100)의 상부 표면과 같은 높이일 수 있거나 이의 아래 있을 수 있거나 이의 위에 있을 수 있으며, 도면들에서는, 지지 구조물의 상부 표면 아래에 있다.
자기 유지 구조물의 제 2 부분(702), 또는 상부 부분(702)은 대칭적으로 고른 부착을 달성하기 위하여 제품 스탠드(200)의 중심 지점의 영역에 있다.
테스트 어댑터의 하나 또는 둘 이상의 테스트 접촉 구조물(C)들은 제품 스탠드(200) 내의 개구(204)를 통하여 제품(DUT)과의 연결이 가능한 장소로 연장한다.
상이한 실시예들의 개별 특징들은 또한 다른 실시예들을 가능하게 하기 위하여 결합될 수 있다.
기술이 진보함에 따라, 본 발명의 기본적 아이디어가 다수의 상이한 방식들로 실시될 수 있다는 것이 당업자에게 명백하게 될 것이다. 본 발명 및 이의 실시예들은 이에 따라 위에서 설명된 예들로 제한되지 않지만 청구범위의 범위 내에서 변화될 수 있다.

Claims (17)

  1. 테스트될 전자 제품용 테스트 어댑터로서,
    상기 테스트 어댑터(TA)는 지지 구조물(100) 및 상기 제품(DUT)용 지지 구조물 상에 지지된 제품 스탠드(200)를 포함하는, 테스트 어댑터에 있어서,
    상기 제품 스탠드는 상기 제품 스탠드의 수직 이동(U)을 제어하는 가이드 구조물(301 내지 304)에 의해 상기 지지 구조물(100)에 지지되고, 상기 제품 스탠드(200)는 위로부터의 직접적인 또는 간접적인 프레싱 이동에 의해 상기 가이드 구조물(301 내지 304) 상의 상부 위치(TOP)로부터 하부 위치(LOW)로 가동되도록 배열되고, 테스트 어댑터는 제품 스탠드(200)를 하부 위치(LOW)에 유지하기 위한 그리고 상기 어댑터 내의 래치 구조물(501, 502)을 잠금 위치에 유지하기 위한 유지 구조물(701, 702)을 포함하며, 래치 구조물(501, 502)은 상기 제품을 상기 제품 스탠드(200)에 잠금하기 위해 배열되는 것을 특징으로 하는,
    테스트 어댑터.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 래치 구조물(501, 502)은 제품 스탠드에 있고
    하부 위치(LOW)로의 상기 제품 스탠드(200)의 이동으로부터 폐쇄 위치로 이동시키는 명령을 수신하고 상부 위치(TOP)로의 상기 제품 스탠드의 이동으로부터 상기 폐쇄 위치로부터 이동시키는 명령을 수신하도록 배열되는 것을 특징으로 하는,
    테스트 어댑터.
  3. 제 2 항에 있어서,
    상기 래치 구조물(501, 502)은 액슬 또는 소정의 다른 회전 체결부(501a, 502a)에 의해 상기 제품 스탠드(200)의 제품 공간(200a)의 에지에 체결되는 것을 특징으로 하는,
    테스트 어댑터.
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 래치 구조물(501, 502)은 양면식이며(two-sided) 제품 스탠드(200)의 제품 공간(200a)의 하나의 에지 상에 제 1 래치(501) 및 제품 스탠드(200)의 제 2 제품 공간(200a)의 마주하는 에지 상에 제 2 래치(502)를 포함하는 것을 특징으로 하는,
    테스트 어댑터.
  5. 제 1 항에 있어서,
    자기 부착을 활성화 및 비활성화하기 위한 전기 제어부(110, 110a, 150)를 구비한 상기 유지 구조물(501, 502)이 자성을 가지는 것을 특징으로 하는,
    테스트 어댑터.
  6. 제 5 항에 있어서,
    상기 자기 유지 구조물은 지지 구조물(100)에 제 1 부분(701) 및 제품 스탠드(200)에 제 2 부분(702)을 포함하며, 상기 제품 스탠드(200)가 하부 위치(LOW)에 있을 때, 상기 자기 유지 구조물의 제 1 부분(701) 및 제 2 부분(702)은 서로 접촉하거나 적어도 자기력 하에서 서로 근접하는 것을 특징으로 하는,
    테스트 어댑터.
  7. 제 6 항에 있어서,
    상기 자기 유지 구조물의 제 1 부분(701)은 전자석이고 상기 자기 유지 구조물의 제 2 부분(702)은 강자성 피스(piece)(702)인 것을 특징으로 하는,
    테스트 어댑터.
  8. 제 6 항 또는 제 7 항에 있어서,
    상기 자기 유지 구조물의 제 1 부분(701)은 상기 지지 구조물(100) 아래 체결되고 상기 지지 구조물(100)을 통하여 적어도 부분적으로 연장하고, 상기 자기 유지 구조물의 제 2 부분(702)은 상기 제품 스탠드(200)의 저부 표면의 측부 상에 있는 것을 특징으로 하는,
    테스트 어댑터.
  9. 제 8 항에 있어서,
    상기 자기 유지 구조물의 제 1 부분(701) 및 제 2 부분(702)이 본질적으로 정렬되는 것을 특징으로 하는,
    테스트 어댑터.
  10. 제 6 항 내지 제 9 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 자기 유지 구조물의 제 2 부분(702)은 상기 제품 스탠드(200)의 중심 지점의 영역에 있는 것을 특징으로 하는,
    테스트 어댑터.
  11. 제 1 항에 있어서,
    상기 가이드 구조물(301 내지 304)은 상기 제품 스탠드(200)를 상부 위치(TOP)로 복귀시키기 위한 스프링 구조물 또는 소정의 다른 복귀 구조물(301c, 302c, 303c)을 포함하는 것을 특징으로 하는,
    테스트 어댑터.
  12. 제 1 항 또는 제 11 항에 있어서,
    상기 가이드 구조물(301 내지 304)이 분배되고 수 개의(several) 가이드 구조물 요소들을 포함하며, 상기 가이드 구조물 요소(301 내지 304)들은 이들의 상부 측면들로부터 상기 제품 스탠드(200)의 모서리들 또는 다른 에지 영역들과 접촉하는 것을 특징으로 하는,
    테스트 어댑터.
  13. 제 1 항 내지 제 4 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 지지 구조물(100)은 상기 제품 스탠드(200) 상의 상기 래치 구조물(501, 502)을 이의 잠금 위치로 가이드하기 위해 배열되는 가이드 로울 또는 소정의 다른 가이드(801, 802)를 갖는 것을 특징으로 하는,
    테스트 어댑터.
  14. 제 13 항에 있어서,
    상기 지지 구조물(100)에 연결되고 상기 제품 스탠드(200) 상의 래치 구조물(501, 502)용으로 의도된 가이드(801, 802)는 액슬(801a, 802a) 또는 소정의 다른 회전 체결부(801a, 802a)에 의해 상기 지지 구조물(100)에 체결되는 것을 특징으로 하는,
    테스트 어댑터.
  15. 제 3 항 및 제 14 항에 있어서,
    상기 래치 구조물(501, 502)의 회전 체결부(501a, 502a)의 스윙 축선의 방향 및 상기 래치 구조물을 회전시키기 위해 지향되는 가이드의 회전 체결부(801a, 802a)의 회전 방향이 본질적으로 평행한 것을 특징으로 하는,
    테스트 어댑터.
  16. 제 5 항 내지 제 10 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 자기 유지 구조물(501, 502)의 전기 제어부는 상기 지지 구조물(100)에 스위치(110)를 포함하며, 상기 스위치의 스위치 부분(110a)은 제품 스탠드(200)의 제품 공간(200a)의 저부(200b)를 관통하는 채널(210)에서 제품 스탠드(200)의 제품 공간(200a)의 저부(200b)의 근처로 연장하고, 상기 제품 스탠드(200)가 하부 위치(LOW)에 있을 때 상기 스위치 부분(110a)은 자기 부착을 활성화하도록 배열되는 것을 특징으로 하는,
    테스트 어댑터.
  17. 제 1 항에 있어서,
    상기 제품 스탠드(200)의 하부 위치(LOW)에서, 상기 제품과의 테스트 접촉을 설정하기 위해 상기 테스트 어댑터의 하나 또는 둘 이상의 접촉 구조물(C)이 상기 제품 스탠드(200) 내의 개구(204)를 통하여 상기 제품과의 연결이 가능한 장소로 연장하는 것을 특징으로 하는,
    테스트 어댑터.
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