JP2015036625A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2015036625A5
JP2015036625A5 JP2013167429A JP2013167429A JP2015036625A5 JP 2015036625 A5 JP2015036625 A5 JP 2015036625A5 JP 2013167429 A JP2013167429 A JP 2013167429A JP 2013167429 A JP2013167429 A JP 2013167429A JP 2015036625 A5 JP2015036625 A5 JP 2015036625A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
printed circuit
circuit board
tray
inspection
flexible printed
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2013167429A
Other languages
English (en)
Japanese (ja)
Other versions
JP5797240B2 (ja
JP2015036625A (ja
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP2013167429A priority Critical patent/JP5797240B2/ja
Priority claimed from JP2013167429A external-priority patent/JP5797240B2/ja
Publication of JP2015036625A publication Critical patent/JP2015036625A/ja
Publication of JP2015036625A5 publication Critical patent/JP2015036625A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5797240B2 publication Critical patent/JP5797240B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

JP2013167429A 2013-08-12 2013-08-12 プリント基板検査装置 Active JP5797240B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013167429A JP5797240B2 (ja) 2013-08-12 2013-08-12 プリント基板検査装置

Applications Claiming Priority (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013167429A JP5797240B2 (ja) 2013-08-12 2013-08-12 プリント基板検査装置
PCT/JP2014/070549 WO2015022875A1 (ja) 2013-08-12 2014-08-05 プリント基板検査装置
CN201480032844.2A CN105358994B (zh) 2013-08-12 2014-08-05 印刷基板检查装置
KR1020157036531A KR101735992B1 (ko) 2013-08-12 2014-08-05 프린트 기판 검사 장치
TW103127590A TWI528040B (zh) 2013-08-12 2014-08-12 Printed board inspection device

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2015036625A JP2015036625A (ja) 2015-02-23
JP2015036625A5 true JP2015036625A5 (ko) 2015-05-07
JP5797240B2 JP5797240B2 (ja) 2015-10-21

Family

ID=52468262

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2013167429A Active JP5797240B2 (ja) 2013-08-12 2013-08-12 プリント基板検査装置

Country Status (5)

Country Link
JP (1) JP5797240B2 (ko)
KR (1) KR101735992B1 (ko)
CN (1) CN105358994B (ko)
TW (1) TWI528040B (ko)
WO (1) WO2015022875A1 (ko)

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR200485752Y1 (ko) * 2015-12-21 2018-02-19 (주)영우디에스피 디스플레이 패널 검사용 프로브 유닛 클램핑 장치
JP6611251B2 (ja) * 2016-03-22 2019-11-27 ヤマハファインテック株式会社 検査治具、検査装置及び検査方法
JP6564345B2 (ja) * 2016-05-25 2019-08-21 ヤマハファインテック株式会社 電気検査方法及び電気検査装置
JP6726077B2 (ja) * 2016-10-13 2020-07-22 ヤマハファインテック株式会社 処理装置
CN107015058A (zh) * 2017-03-17 2017-08-04 广东长盈精密技术有限公司 自动化测试装置
EP3470857A1 (en) * 2017-10-10 2019-04-17 Fitech sp. z o.o. Press assembly for an in-circuit tester
WO2019130949A1 (ja) * 2017-12-26 2019-07-04 日本電産リード株式会社 基板検査装置
KR102200527B1 (ko) * 2019-04-19 2021-01-11 주식회사 아이에스시 소켓 보드 조립체
WO2021124862A1 (ja) * 2019-12-20 2021-06-24 日本電産リード株式会社 検査装置

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0454468A (en) * 1990-06-25 1992-02-21 Hitachi Electron Eng Co Ltd Conduction/insulation inspection device for ceramic wiring board
JPH0735808A (ja) * 1993-07-21 1995-02-07 Matsushita Electric Ind Co Ltd コンタクトプローブ移動式回路基板両面検査装置
JP3313939B2 (ja) * 1995-06-13 2002-08-12 セイコープレシジョン株式会社 ワーク供給装置
JP4047456B2 (ja) * 1998-05-29 2008-02-13 日置電機株式会社 回路基板検査装置
CN2518113Y (zh) * 2001-12-14 2002-10-23 耀华电子股份有限公司 电路板测试用复合式模具
CN2658755Y (zh) * 2003-09-19 2004-11-24 王云阶 复合式治具
JP4481111B2 (ja) * 2004-08-26 2010-06-16 三井金属鉱業株式会社 導体パターンの電気検査用前処理方法、導体パターンの電気検査方法、導体パターンの電気検査用前処理装置、導体パターンの電気検査装置、検査済みプリント配線板、及び検査済み半導体装置
JP4835317B2 (ja) * 2006-08-10 2011-12-14 パナソニック株式会社 プリント配線板の電気検査方法
JP2011185702A (ja) * 2010-03-08 2011-09-22 Yamaha Fine Technologies Co Ltd 回路基板の電気検査方法及び電気検査装置
JP2011242260A (ja) * 2010-05-18 2011-12-01 Gardian Japan Co Ltd 配線検査治具

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2015036625A5 (ko)
JP5797240B2 (ja) プリント基板検査装置
JP2004228332A (ja) 電気検査装置
JP2012159422A5 (ko)
CN102095900A (zh) 检测系统
US20200400743A1 (en) Wafer inspection system, wafer inspection apparatus and prober
JP2009128204A (ja) 検査用保持部材及び検査用保持部材の製造方法
EP2921868A1 (en) Apparatus for inspecting vertically aligned flexible circuit boards
KR101466739B1 (ko) 인쇄회로기판 검사장치
JP4497354B2 (ja) プリント基板における導電パターンの製造方法および製造装置
CN106932615A (zh) 检查夹具及具备该检查夹具的检查装置
JP2008039725A5 (ko)
TWI544220B (zh) Electrical inspection device
JPH08166430A (ja) 回路パターンの電気的特性を測定する装置
JP2008230731A (ja) ワーク検査装置のワーク位置決め方法、ワーク搬送パレット、環境試験装置および環境試験システム
CN101520487B (zh) 电测治具
JP2008226881A5 (ko)
JP6349142B2 (ja) 印刷配線板の検査方法および検査装置ならびに検査治具
WO2020051830A1 (zh) 线路板电测设备
JP2008175595A (ja) 基板検査装置
KR101511175B1 (ko) 위치조절이 가능한 핀 블록
JP6341693B2 (ja) 基板保持装置および基板検査装置
KR100371665B1 (ko) 인쇄회로기판 검사장비용 검사핀 유닛
JP6570354B2 (ja) 回路基板検査装置およびコンタクトチェック方法
JP2015212669A (ja) 半導体検査装置及び半導体検査方法