KR20140087716A - System for verifying measurement result - Google Patents

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KR20140087716A
KR20140087716A KR1020120158295A KR20120158295A KR20140087716A KR 20140087716 A KR20140087716 A KR 20140087716A KR 1020120158295 A KR1020120158295 A KR 1020120158295A KR 20120158295 A KR20120158295 A KR 20120158295A KR 20140087716 A KR20140087716 A KR 20140087716A
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김종우
천정미
박재현
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동우 화인켐 주식회사
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Abstract

A system to verify measurement results is disclosed. According to an embodiment of the present invention, the system to verify measurement results comprises: a first measuring device which measures an object at every unit area, and transmits the measurement result information of the unit areas; a marking device which marks a code pattern including index information at every unit area of the object; a reader which extracts the index information of a fixed unit area from the code pattern of the relevant unit area of the object; a second measuring device which remeasures the unit area whose index information is extracted, and transmits the remeasurement result information of the unit area; and a verifying device which receives the measurement result information of the first measuring device and the remeasurement result information of the second measuring device respectively, and verifies the measurement results of the first measuring device by comparing the measurement result information of the first measuring device with the remeasurement result information of the second measuring device.

Description

측정 결과 검증 시스템{SYSTEM FOR VERIFYING MEASUREMENT RESULT}{SYSTEM FOR VERIFYING MEASUREMENT RESULT}

본 발명의 실시예는 검증 기술에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 측정 장치에서 측정한 결과를 검증할 수 있는 측정 결과 검증 시스템에 관한 것이다.
Embodiments of the present invention relate to verification techniques, and more particularly, to a measurement result verification system that can verify the results of measurements made by a measurement device.

일반적으로, 패턴화 리타더(Patterned Retarder)는 편광 안경 방식의 입체 화상표시장치에 적용되어 입체 영상을 구현하는데 이용될 수 있다. 또한, 패턴화 리타더는 반투과형 LCD 등의 일면에 제공되어 반사부와 투과부의 광학 특성을 각각 최적화하는 보상 필름의 기능을 함으로써, 외부의 빛의 밝기에 상관없이 LCD 화상의 양호한 식별력을 얻도록 하는데 이용될 수도 있다. 패턴화 리타더는 복굴절 매질 또는 위상차 필름이라고도 한다.In general, a patterned retarder can be applied to a stereoscopic image display apparatus using polarizing glasses to be used for realizing a stereoscopic image. In addition, the patterning retarder is provided on one side of a semi-transmissive LCD or the like to function as a compensation film for optimizing the optical characteristics of the reflective portion and the transmissive portion, respectively, so as to obtain a good discrimination power of the LCD image regardless of the brightness of the external light. . The patterned retarder is also referred to as a birefringent medium or a retardation film.

도 1은 일반적인 패턴화 리타더를 나타낸 사시도이다.1 is a perspective view showing a general patterning retarder.

도 1을 참조하면, 패턴화 리타더(10)는 기재 필름(11), 배향층(13), 및 액정 코팅층(15)을 포함한다. 여기서, 액정 코팅층(15)은 제1 편광 패턴 영역(21)과 제2 편광 패턴 영역(23)이 스트라이프(Stripe) 형상을 이루며 교대로 반복하여 배치되는 구조를 가진다. Referring to FIG. 1, the patterned retarder 10 includes a base film 11, an orientation layer 13, and a liquid crystal coating layer 15. Here, the liquid crystal coating layer 15 has a structure in which the first polarization pattern region 21 and the second polarization pattern region 23 have a stripe shape and are repeatedly arranged alternately.

제1 편광 패턴 영역(21)은 투과하는 빛을 좌원편광(Left Circularly Polarization)시키도록 형성할 수 있고, 제2 편광 패턴 영역(23)은 투과하는 빛을 우원편광(Right Circularly Polarization)시키도록 형성할 수 있다. 즉, 액정 코팅층(15)은 투과하는 빛을 좌원편광시키는 영역과 우원편광시키는 영역이 교대로 반복하여 배치되는 구조를 가진다.The first polarization pattern region 21 may be formed to circularly polarize the transmitted light and the second polarized light pattern region 23 may be formed to circularly polarize the transmitted light. can do. That is, the liquid crystal coating layer 15 has a structure in which the left-handed circularly polarized light region and the right-handed circularly polarized light region are arranged alternately and repeatedly.

제1 편광 패턴 영역(21)을 투과한 빛은 사용자의 편광 안경에서 좌원편광 필름을 통과하고, 제2 편광 패턴 영역(23)을 투과한 빛은 사용자의 편광 안경에서 우원편광 필름을 통과한다. 이와 같이, 제1 편광 패턴 영역(21) 및 제2 편광 패턴 영역(23)을 통해 사용자의 사용자의 양안(兩眼)에 서로 다른 이미지를 맺히게 하여 입체 영상을 구현할 수 있게 된다. The light transmitted through the first polarizing pattern area 21 passes through the left circularly polarizing film in the user's polarizing glasses and the light transmitted through the second polarizing pattern area 23 passes through the right circularly polarizing film in the user's polarizing glasses. As described above, a stereoscopic image can be realized by forming different images on the user's two eyes through the first polarization pattern area 21 and the second polarization pattern area 23.

제1 편광 패턴 영역(21)과 제2 편광 패턴 영역(23)은 각각 입체화상표시장치의 화소 영역 중 홀수 번째 화소 라인 및 짝수 번째 화소 라인에 대응되어 형성된다. 이때, 제1 편광 패턴 영역(21) 및 제2 편광 패턴 영역(23)의 폭이 기 설정된 폭과 차이가 나게 형성되거나 제1 편광 패턴 영역(21) 및 제2 편광 패턴 영역(23)이 직선으로 형성되지 않고 굴곡지게 형성되는 경우, 크로스 토크(Cross-Talk) 현상이 발생하여 영상이 흐려 보이게 되며, 그로 인해 시청자가 어지러움을 느끼게 된다. 따라서, 제1 편광 패턴 영역(21) 및 제2 편광 패턴 영역(23)의 폭이 기 설정된 폭대로 형성되었는지, 그리고 제1 편광 패턴 영역(21) 및 제2 편광 패턴 영역(23)이 일정한 정도의 직진도를 갖고 형성되었는지 여부를 측정하여야 할 필요가 있다.The first polarization pattern region 21 and the second polarization pattern region 23 are formed so as to correspond to the odd-numbered pixel lines and the even-numbered pixel lines, respectively, of the pixel regions of the stereoscopic image display apparatus. At this time, the widths of the first and second polarization pattern regions 21 and 23 may be different from the predetermined width, or the first and second polarization pattern regions 21 and 23 may be formed in a straight line A cross-talk phenomenon occurs and the image is blurred, thereby causing the viewer to feel dizziness. Therefore, it is determined whether or not the widths of the first and second polarization pattern regions 21 and 23 are formed to have predetermined widths and the first and second polarization pattern regions 21 and 23 are formed to a predetermined degree It is necessary to measure whether or not it is formed with straightness of the straight line.

한편, 현재 생산 중인 인라인(In-line) 상에서 측정한 측정 데이터(인라인 측정 데이터)는 오프라인에서 단위 제품 상태로 측정한 측정 데이터(오프라인 측정 데이터)와 비교하여 검증할 수 있다. 그런데, 인라인 측정 데이터를 오프라인 측정 데이터와 비교하기 위해서는 인라인 상에서 연속적으로 생산되는 패턴화 리타더(10) 중 오프라인 측정 데이터의 단위 제품에 해당하는 위치를 검출할 수 있어야 하는데, 해당 단위 제품의 위치를 정확히 검출하기 어렵다는 문제점이 있다. 따라서, 인라인 상에서 연속적으로 생산되는 패턴화 리타더(10)를 각 단위 제품 영역 별로 식별할 수 있도록 하여 인라인 측정 데이터와 오프라인 측정 데이터를 비교 검증할 수 있는 방안이 요구된다.
On the other hand, measurement data (in-line measurement data) measured on the in-line currently produced can be verified by comparison with measurement data (off-line measurement data) measured in offline unit product state. However, in order to compare the in-line measurement data with the off-line measurement data, it is necessary to be able to detect the position corresponding to the unit product of the off-line measurement data among the patterning retarders 10 continuously produced in inline. There is a problem that it is difficult to accurately detect. Therefore, it is required to provide a method of comparing the inline measurement data with the offline measurement data by making it possible to identify the patterning retarder 10 continuously produced in the inline by each unit product area.

본 발명의 실시예는 인라인 상에서 측정한 측정 결과를 검증할 수 있는 측정 결과 검증 시스템을 제공하고자 한다.
Embodiments of the present invention provide a measurement result verification system that can verify measurement results measured in-line.

1. 본 발명의 일 실시예에 따른 측정 결과 검증 시스템은, 피검사체를 단위 영역마다 측정하고, 상기 단위 영역의 측정 결과 정보를 전송하는 제1 측정 장치; 상기 피검사체의 단위 영역마다 인덱스 정보를 포함하는 코드 패턴을 마킹하는 마킹 장치; 상기 피검사체의 소정 단위 영역의 코드 패턴에서 해당 단위 영역의 인덱스 정보를 추출하는 리더기; 상기 인덱스 정보를 추출한 단위 영역을 재측정하고, 상기 단위 영역의 재측정 결과 정보를 전송하는 제2 측정 장치; 및 상기 제1 측정 장치의 측정 결과 정보 및 상기 제2 측정 장치의 재측정 결과 정보를 각각 수신하고, 상기 리더기가 추출한 인덱스 정보에 대응되는 제1 측정 장치의 측정 결과 정보와 상기 제2 측정 장치의 재측정 결과 정보를 비교하여 상기 제1 측정 장치의 측정 결과를 검증하는 검증 장치를 포함한다.1. A measurement result verification system according to an embodiment of the present invention includes: a first measurement device that measures an object to be examined in units of unit areas and transmits measurement result information of the unit areas; A marking device for marking a code pattern including index information for each unit area of the object to be inspected; A reader for extracting index information of the unit area in a code pattern of a predetermined unit area of the subject; A second measuring device for re-measuring the unit area from which the index information is extracted and transmitting re-measurement result information of the unit area; And a second measuring device that receives the measurement result information of the first measuring device and the remeasurement result information of the second measuring device, and transmits the measurement result information of the first measuring device corresponding to the index information extracted by the reader, And a verification device for comparing the re-measurement result information and verifying the measurement result of the first measurement device.

2. 본 발명의 다른 실시예에 따른 측정 결과 검증 시스템은, 피검사체를 단위 영역마다 측정하고, 상기 단위 영역의 측정 결과 정보를 전송하는 제1 측정 장치; 상기 제1 측정 장치의 측정 결과 정보를 수신하고, 상기 피검사체의 단위 영역마다 해당 단위 영역의 측정 결과 정보 및 인덱스 정보를 포함하는 코드 패턴을 마킹하는 마킹 장치; 상기 피검사체의 소정 단위 영역의 코드 패턴에서 해당 단위 영역의 측정 결과 정보 및 인덱스 정보를 추출하는 리더기; 상기 측정 결과 정보 및 인덱스 정보를 추출한 단위 영역을 재측정하고, 상기 단위 영역의 재측정 결과 정보를 전송하는 제2 측정 장치; 및 상기 제2 측정 장치의 재측정 결과 정보를 수신하고, 상기 리더기가 추출한 측정 결과 정보와 상기 제2 측정 장치의 재측정 결과 정보를 비교하여 상기 제1 측정 장치의 측정 결과를 검증하는 검증 장치를 포함한다.2. A measurement result verification system according to another embodiment of the present invention includes: a first measurement device that measures an object to be inspected at each unit area and transmits measurement result information of the unit area; A marking device for receiving measurement result information of the first measurement device and marking a code pattern including measurement result information and index information of the unit area for each unit area of the subject; A reader for extracting measurement result information and index information of the unit area in a code pattern of a predetermined unit area of the subject; A second measuring device for re-measuring the unit area from which the measurement result information and the index information are extracted, and transmitting re-measurement result information of the unit area; And a verification device that receives the remeasurement result information of the second measurement device and compares the measurement result information extracted by the reader with the remeasurement result information of the second measurement device to verify the measurement result of the first measurement device .

3. 1 또는 2에 있어서, 상기 제1 측정 장치는 인라인 측정 장치이고, 상기 제2 측정 장치는 오프라인 측정 장치인 것을 특징으로 한다.3. The apparatus according to 1 or 2, wherein the first measuring apparatus is an in-line measuring apparatus and the second measuring apparatus is an off-line measuring apparatus.

4. 3에서, 상기 제1 측정 장치는, 상기 피검사체를 일정 방향으로 이송시키는 이송부; 상기 피검사체의 상부에서 소정 각도로 빛을 조사하는 조명부; 상기 피검사체에서 반사되는 빛을 수광하여 상기 피검사체를 단위 영역마다 촬영하는 촬영부; 및 상기 단위 영역마다 촬영된 영상을 분석하여 측정하고, 상기 단위 영역의 측정 결과 정보를 전송하는 영상 분석부를 포함하며, 상기 촬영부는, 상기 이송부 중 상기 피검사체와 접촉하는 부분을 촬영하도록 촬영 지점이 설정된다.In Section 4.3, the first measuring device includes a conveying portion for conveying the test subject in a predetermined direction; An illumination unit for irradiating light at a predetermined angle from an upper portion of the object to be inspected; A photographing unit that receives light reflected from the subject and photographs the subject in units of a unit area; And an image analyzer for analyzing and measuring an image photographed for each of the unit areas and transmitting measurement result information of the unit area, wherein the photographing part includes a photographing point for photographing a part of the conveying part that contacts the subject, Respectively.

5. 4에서, 상기 피검사체는, 제1 편광 패턴 영역과 제2 편광 패턴 영역이 교대로 형성되는 패턴화 리타더이다.5. 4, the object to be inspected is a patterned retarder in which a first polarization pattern area and a second polarization pattern area are alternately formed.

6. 5에서, 상기 제1 측정 장치는, 상기 조명부와 상기 패턴화 리타더 사이에 형성되는 선편광 필터; 및 상기 패턴화 리타더와 상기 촬영부 사이에 형성되는 원편광 필터를 더 포함하며, 상기 영상 분석부는, 상기 제1 편광 패턴 영역의 폭, 상기 제2 편광 패턴 영역의 폭, 상기 제1 편광 패턴 영역의 직진도, 상기 제2 편광 패턴 영역의 직진도, 및 상기 패턴화 리타더의 전체 폭 중 적어도 하나를 분석한다.6. 5, wherein the first measuring device comprises: a linearly polarized light filter formed between the illumination unit and the patterned retarder; And a circular polarization filter formed between the patterning retarder and the photographing unit, wherein the image analyzing unit is configured to calculate the width of the first polarization pattern area, the width of the second polarization pattern area, The straightness of the region, the straightness of the second polarization pattern region, and the entire width of the patterned retarder.

7. 4에서, 상기 제1 측정 장치는, 상기 피검사체의 이송 속도를 측정하는 이송 속도 측정부를 더 포함하며, 상기 촬영부는, 상기 피검사체의 이송 속도에 따라 상기 피검사체를 단위 영역마다 촬영하도록 촬영 주기를 조절한다.7. The apparatus according to claim 7, wherein the first measuring apparatus further comprises a conveying speed measuring unit for measuring a conveying speed of the subject, and the photographing unit photographs the subject in units of the area according to the conveying speed of the subject Adjust the shooting cycle.

8. 4에서, 상기 이송부는, 롤, 롤러 컨베이어, 무한궤도형 벨트 및 이송 스테이지로 이루어진 군에서 선택된다.
8. 4, the transfer part is selected from the group consisting of a roll, a roller conveyor, an endless belt and a transfer stage.

본 발명의 실시예에 의하면, 인라인 측정 장치의 측정 결과를 오프라인 측정 장치의 재측정 결과와 비교하여 검증할 수 있게 된다. 여기서, 인라인 측정 장치의 측정 결과와 오프라인 측정 장치의 재측정 결과 사이의 일치도가 기 설정된 값을 초과하는 경우, 인라인 측정 장치의 정확도를 신뢰할 수 있으며, 그로 인해 인라인 측정 장치의 측정 결과를 보증할 수 있게 된다. 반면, 인라인 측정 장치의 측정 결과와 오프라인 측정 장치의 재측정 결과 사이의 일치도가 기 설정된 값 미만인 경우, 인라인 측정 장치의 정확도가 떨어지는 것을 확인할 수 있으며, 인라인 측정 장치의 정확도를 높이기 위한 방안을 마련할 수 있게 된다.According to the embodiment of the present invention, the measurement result of the in-line measurement apparatus can be verified by comparing with the re-measurement result of the offline measurement apparatus. Here, when the degree of agreement between the measurement result of the in-line measuring device and the re-measurement result of the off-line measuring device exceeds a predetermined value, the accuracy of the in-line measuring device can be relied on, . On the other hand, if the degree of agreement between the measurement result of the in-line measuring device and the re-measurement result of the off-line measuring device is less than the preset value, it can be confirmed that the accuracy of the in-line measuring device is lowered and a measure for increasing the accuracy of the in- .

그리고, 인라인 상에서 패턴화 리타더가 일정 방향으로 이송될 때, 촬영부가 항상 이송부 상에 위치한 패턴화 리타더를 촬영하도록 함으로써, 모터의 주기적인 진동 또는 외부 충격에 의한 불규칙한 진동 및 떨림이 발생하더라도 패턴화 리타더의 촬영 영상이 왜곡되는 것을 줄일 수 있게 되며, 그로 인해 인라인 상에서도 제1 편광 패턴 영역과 제2 편광 패턴 영역의 폭 및 직진도를 실시간으로 분석할 수 있게 된다. 또한, 조명부와 패턴화 리타더 사이에 선편광 필터를 설치하고, 패턴화 리타더와 촬영부 사이에 원편광 필터를 설치함으로써, 패턴화 리타더의 촬영 영상에서 제1 편광 패턴 영역과 제2 편광 패턴 영역이 선명하게 구별되도록 할 수 있으며, 그로 인해 제1 편광 패턴 영역과 제2 편광 패턴 영역의 폭 및 직진도를 정확하게 분석할 수 있게 된다.
When the patterning retarder is transported in a certain direction on the inline, the photographing section always photographs the patterning retarder positioned on the conveying section, so that even if irregular vibration and tremble due to external vibration or shock of the motor occur, It is possible to reduce the distortion of the photographed image of the ferrotherator, and thus it is possible to analyze the width and the straightness of the first and second polarization pattern areas in real time on the inline line. In addition, by providing a linearly polarized light filter between the illumination unit and the patterning retarder and providing a circularly polarizing filter between the patterning retarder and the photographing unit, the first polarizing pattern area and the second polarizing pattern The area can be clearly distinguished, and thereby the width and the straightness of the first and second polarization pattern areas can be accurately analyzed.

도 1은 일반적인 패턴화 리타더를 나타낸 사시도.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 측정 결과 검증 시스템의 구성을 나타낸 도면.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 인라인 측정 장치의 구성을 나타낸 도면.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 패턴화 리타더를 나타낸 평면도.1 is a perspective view showing a general patterning retarder.
2 shows a configuration of a measurement result verification system according to an embodiment of the present invention.
3 illustrates a configuration of an in-line measurement apparatus according to an embodiment of the present invention.
4 is a plan view of a patterned retarder according to an embodiment of the present invention.

이하, 도 2 내지 도 4를 참조하여 본 발명의 측정 결과 검증 시스템의 구체적인 실시예를 설명하기로 한다. 그러나 이는 예시적 실시예에 불과하며 본 발명은 이에 제한되지 않는다.Hereinafter, a specific embodiment of the measurement result verification system of the present invention will be described with reference to FIG. 2 to FIG. However, this is an exemplary embodiment only and the present invention is not limited thereto.

본 발명을 설명함에 있어서, 본 발명과 관련된 공지기술에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명을 생략하기로 한다. 그리고, 후술되는 용어들은 본 발명에서의 기능을 고려하여 정의된 용어들로서 이는 사용자, 운용자의 의도 또는 관례 등에 따라 달라질 수 있다. 그러므로 그 정의는 본 명세서 전반에 걸친 내용을 토대로 내려져야 할 것이다.In the following description, a detailed description of known functions and configurations incorporated herein will be omitted when it may make the subject matter of the present invention rather unclear. The following terms are defined in consideration of the functions of the present invention, and may be changed according to the intention or custom of the user, the operator, and the like. Therefore, the definition should be based on the contents throughout this specification.

본 발명의 기술적 사상은 청구범위에 의해 결정되며, 이하 실시예는 진보적인 본 발명의 기술적 사상을 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진자에게 효율적으로 설명하기 위한 일 수단일 뿐이다.
The technical idea of the present invention is determined by the claims, and the following embodiments are merely a means for efficiently describing the technical idea of the present invention to a person having ordinary skill in the art to which the present invention belongs.

도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 측정 결과 검증 시스템의 구성을 나타낸 도면이다. 2 is a diagram illustrating a configuration of a measurement result verification system according to an embodiment of the present invention.

도 2를 참조하면, 측정 결과 검증 시스템(100)은 제1 측정 장치(102), 마킹 장치(104), 리더기(106), 제2 측정 장치(108), 및 검증 장치(110)를 포함한다.2, the measurement result verification system 100 includes a first measurement device 102, a marking device 104, a reader 106, a second measurement device 108, and a verification device 110 .

제1 측정 장치(102)는 피검사체(150)를 제조하는 과정인 인라인(In-line) 상에서 피검사체(150)를 측정할 수 있다. 즉, 제1 측정 장치(102)는 인라인 측정 장치일 수 있다. 이때, 피검사체(150)는 인라인 설비 내에서 이송부에 의해 일정 방향으로 이송된다. 그러나, 제1 측정 장치(102)가 인라인 측정 장치에 한정되는 것은 아니다. 피검사체(150)는 예를 들어, 패턴화 리타더일 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니며 그 이외의 다양한 시트 형태의 제품 또는 필름 형태의 제품이 피검사체가 될 수 있음은 물론이다. 이하에서는, 편의상 피검사체(150)가 패턴화 리타더인 것으로 하여 설명하기로 한다.The first measuring device 102 can measure the subject 150 in-line, which is the process of manufacturing the subject 150. [ That is, the first measuring device 102 may be an in-line measuring device. At this time, the subject 150 is transported in a certain direction by the transporting unit in the inline facility. However, the first measuring device 102 is not limited to the inline measuring device. The subject 150 may be, for example, a patterned retarder, but the present invention is not limited thereto. It is a matter of course that the product in the form of various sheets or the product in the form of a film may be the subject. Hereinafter, it is assumed that the subject 150 is a patterned retarder for the sake of convenience.

제1 측정 장치(102)는 일정 주기마다 피검사체(150)를 촬영하고, 촬영 영상을 분석하여 피검사체(150)의 제1 편광 패턴 영역의 폭, 제2 편광 패턴 영역의 폭, 제1 편광 패턴 영역의 직진도, 제2 편광 패턴 영역의 직진도, 및 피검사체(150)의 전체 폭 등을 측정할 수 있다. 제1 측정 장치(102)의 구성 및 동작에 대한 자세한 설명은 도 3 및 도 4를 참조하여 후술하기로 한다. 제1 측정 장치(102)는 피검사체(150)의 측정 결과 정보를 마킹 장치(104)로 전송할 수 있다.The first measuring device 102 photographs the subject 150 at regular intervals and analyzes the photographed image to determine the width of the first polarizing pattern area of the subject 150 and the width of the second polarizing pattern area, The straightness of the pattern area, the straightness of the second polarization pattern area, and the overall width of the object 150 can be measured. A detailed description of the configuration and operation of the first measurement apparatus 102 will be given later with reference to Figs. 3 and 4. Fig. The first measuring device 102 can transmit the measurement result information of the subject 150 to the marking device 104. [

제1 측정 장치(102)는 피검사체(150)의 단위 영역마다 피검사체(150)를 촬영하여 측정할 수 있다. 여기서, 단위 영역은 단위 제품 영역일 수 있다. 즉, 인라인 상에서 연속적으로 제조되는 피검사체(150)는 결국 일정 크기로 커팅되어 개별 단위 제품을 이루게 된다. 이때, 제1 측정 장치(102)는 피검사체(150)의 단위 제품 영역마다 피검사체(150)를 촬영하고 측정하여 각 단위 제품 영역을 이루는 피검사체(150)의 측정 결과 정보를 마킹 장치(104)로 전송할 수 있다. 그러나, 단위 영역이 단위 제품 영역으로 한정되는 것은 아니며, 그 이외에 다양하게 설정될 수 있다.The first measuring device 102 can measure and measure the subject 150 for each unit area of the subject 150. [ Here, the unit area may be a unit product area. That is, the subject 150 to be continuously produced in line is eventually cut to a predetermined size to form individual unit products. The first measuring device 102 photographs and measures the subject 150 for each unit product area of the subject 150 and outputs measurement result information of the subject 150 constituting each unit product area to the marking device 104 ). However, the unit area is not limited to the unit product area, and may be variously set.

마킹 장치(104)는 인라인 상에서 피검사체(150)에 주기적으로 코드 패턴(160)을 마킹할 수 있다. 마킹 장치(104)는 피검사체(150)의 단위 영역마다 코드 패턴(160)을 마킹할 수 있다. 코드 패턴(160)에는 해당 단위 영역의 측정 결과 정보 및 인덱스 정보가 포함된다. 여기서, 인덱스 정보는 해당 단위 영역을 식별하기 위한 정보이다. 예를 들어, 인덱스 정보는 해당 단위 영역이 전체 피검사체(150)에서 몇 번째 단위 제품 영역인지를 나타내는 제품 번호일 수 있다. 코드 패턴(160)은 예를 들어, 바코드와 같은 데이터 매트릭스(Data Matrix) 형태로 이루어질 수 있다.The marking device 104 may periodically mark the code pattern 160 on the subject 150 in-line. The marking device 104 can mark the code pattern 160 for each unit area of the test object 150. [ The code pattern 160 includes measurement result information and index information of the corresponding unit area. Here, the index information is information for identifying the corresponding unit area. For example, the index information may be a product number indicating a unit product area of the entire subject 150 in the unit area. The code pattern 160 may be in the form of a data matrix, for example, a barcode.

구체적으로, 마킹 장치(104)는 제1 측정 장치(102)로부터 측정 결과 정보를 주기적으로 수신하고, 피검사체(150)의 단위 영역마다 해당 단위 영역의 측정 결과 정보 및 인덱스 정보를 포함하는 코드 패턴(160)을 각각 형성하며, 형성한 각 코드 패턴(160)을 피검사체(150)의 해당 단위 영역에 마킹할 수 있다. 이때, 코드 패턴(160)은 피검사체(150) 중 실제 제품으로 사용되지 않고 버려지는 영역(예를 들어, 피검사체(150)의 가장 자리 부분)에 마킹될 수 있다.Specifically, the marking device 104 periodically receives the measurement result information from the first measurement device 102, and generates a code pattern including the measurement result information of the unit area and the index information for each unit area of the subject 150 And each code pattern 160 formed may be marked on a corresponding unit area of the test object 150. In this case, At this time, the code pattern 160 may be marked on an area of the subject 150 that is not used as an actual product but discarded (for example, the edge portion of the subject 150).

리더기(106)는 피검사체(150)의 단위 영역(151)에 마킹된 코드 패턴(160)을 판독한다. 이때, 리더기(106)는 단위 영역(151)으로 커팅된 제품의 코드 패턴(160)을 판독할 수 있다. 리더기(106)는 코드 패턴(160)에서 해당 단위 영역(151)의 측정 결과 정보 및 인덱스 정보를 추출하여 검증 장치(110)로 전송한다.The reader 106 reads the code pattern 160 marked on the unit area 151 of the subject 150. [ At this time, the reader 106 can read the code pattern 160 of the cut product in the unit area 151. The reader 106 extracts measurement result information and index information of the corresponding unit area 151 from the code pattern 160 and transmits the extracted measurement result information and the index information to the verification device 110.

제2 측정 장치(108)는 오프라인(Off-line) 상에서 피검사체(150)를 재측정할 수 있다. 즉, 제2 측정 장치(108)는 피검사체(150)를 제조 중인 인라인 밖의 오프라인 상에서 피검사체(150)를 재측정할 수 있다. 그러나, 제2 측정 장치(108)가 오프라인 측정 장치에 한정되는 것은 아니다. 제2 측정 장치(108)는 피검사체(150)의 단위 영역(151)으로 커팅된 제품을 재측정할 수 있다. 이때, 제2 측정 장치(108)는 리더기(106)가 코드 패턴(160)을 판독한 단위 영역(151)을 재측정하게 된다.The second measuring device 108 can re-measure the object 150 on the off-line. That is, the second measuring device 108 can re-measure the subject 150 on the off-line outside the inline in which the subject 150 is being manufactured. However, the second measuring device 108 is not limited to the offline measuring device. The second measuring device 108 can remeasure the cut product into the unit area 151 of the inspection object 150. [ At this time, the second measuring device 108 re-measures the unit area 151 in which the reader 106 has read the code pattern 160.

제2 측정 장치(108)는 제1 측정 장치(102)와 동일한 사항을 재측정할 수 있다. 예를 들어, 제2 측정 장치(108)는 단위 영역(151) 내의 제1 편광 패턴 영역의 폭, 제2 편광 패턴 영역의 폭, 제1 편광 패턴 영역의 직진도, 제2 편광 패턴 영역의 직진도, 및 단위 영역(151)의 전체 폭 등을 측정할 수 있다. 제2 측정 장치(108)는 단위 영역(151)을 재측정한 재측정 결과 정보를 검증 장치(110)로 전송할 수 있다.The second measuring device 108 can re-measure the same thing as the first measuring device 102. [ For example, the second measuring device 108 measures the width of the first polarization pattern area in the unit area 151, the width of the second polarization pattern area, the straightness of the first polarization pattern area, The total width of the unit area 151, and the like can be measured. The second measuring device 108 may transmit the remeasurement result information obtained by re-measuring the unit area 151 to the verification device 110. [

여기서는, 리더기(106)와 제2 측정 장치(108)가 별개로 형성되는 것으로 도시하였으나, 이에 한정되는 것은 아니며 리더기(106)는 제2 측정 장치(108)에 일체로 형성될 수도 있다. 이 경우, 제2 측정 장치(108)는 단위 영역(151)의 코드 패턴(160)을 판독하여 해당 단위 영역(151)의 측정 결과 정보 및 인덱스 정보를 검증 장치(110)로 전송하고, 단위 영역(151)을 재측정한 측정 결과 정보를 검증 장치(110)로 전송하게 된다.Here, the reader 106 and the second measuring device 108 are separately formed, but the present invention is not limited thereto. The reader 106 may be integrally formed with the second measuring device 108. In this case, the second measurement device 108 reads the code pattern 160 of the unit area 151 and transmits measurement result information and index information of the unit area 151 to the verification device 110, And transmits the measurement result information re-measured to the verification device (110).

검증 장치(110)는 리더기(106)로부터 수신한 단위 영역(151)의 측정 결과 정보와 제2 측정 장치(108)로부터 수신한 단위 영역(151)의 재측정 결과 정보를 비교하여 제1 측정 장치(108)의 측정 결과를 검증한다. 이때, 검증 장치(110)는 리더기(106)로부터 수신한 단위 영역(151)의 인덱스 정보를 통해 해당 단위 영역(151)이 전체 피검사체(150) 중 어느 부분에 해당하는지 여부를 용이하게 알 수 있게 된다.The verification device 110 compares the measurement result information of the unit area 151 received from the reader 106 with the remeasurement result information of the unit area 151 received from the second measurement device 108, (108). At this time, the verification apparatus 110 can easily know whether the corresponding unit area 151 corresponds to the entire subject 150 through the index information of the unit area 151 received from the reader 106 .

검증 장치(110)는 단위 영역(151)의 측정 결과 정보와 단위 영역(151)의 재측정 결과 정보가 어느 정도 일치하는지 여부를 통해 제1 측정 장치(108)의 측정 결과를 검증할 수 있다. 여기서, 단위 영역(151)의 측정 결과 정보와 단위 영역(151)의 재측정 결과 정보 사이의 일치도가 기 설정된 값을 초과하는 경우, 제1 측정 장치(102)의 정확도를 신뢰할 수 있으며, 그로 인해 제1 측정 장치(102)의 측정 결과를 보증할 수 있게 된다. 반면, 단위 영역(151)의 측정 결과 정보와 단위 영역(151)의 재측정 결과 정보 사이의 일치도가 기 설정된 값 미만인 경우, 제1 측정 장치(102)의 정확도가 떨어지는 것을 확인할 수 있으며, 제1 측정 장치(102)의 정확도를 높이기 위한 방안을 마련할 수 있게 된다.The verification device 110 can verify the measurement result of the first measurement device 108 through the measurement result information of the unit area 151 and the re-measurement result information of the unit area 151 to some extent. Here, when the degree of agreement between the measurement result information of the unit area 151 and the re-measurement result information of the unit area 151 exceeds a predetermined value, the accuracy of the first measurement device 102 can be relied on, The measurement result of the first measuring device 102 can be guaranteed. On the other hand, when the match degree between the measurement result information of the unit area 151 and the re-measurement result information of the unit area 151 is less than a preset value, it can be confirmed that the accuracy of the first measurement device 102 is lowered. A measure for increasing the accuracy of the measuring apparatus 102 can be provided.

한편, 여기서는 제1 측정 장치(102)가 피검사체(150)의 단위 영역 별로 측정 결과 정보를 마킹 장치(104)로 전송하고, 마킹 장치(104)가 피검사체(150)의 각 단위 영역마다 측정 결과 정보 및 인덱스 정보를 포함하는 코드 패턴(160)을 마킹하는 것으로 도시하였으나, 이에 한정되는 것은 아니다. 즉, 제1 측정 장치(102)가 피검사체(150)의 단위 영역 별 측정 결과 정보를 검증 장치(110)로 전송하고, 마킹 장치(104)는 피검사체(150)의 각 단위 영역마다 인덱스 정보만을 포함하는 코드 패턴(160)을 마킹할 수도 있다. 이때, 검증 장치(110)는 제1 측정 장치(102)로부터 수신한 측정 결과 정보를 순차적으로 저장할 수 있다. 이 경우, 리더기(106)는 피검사체(150)의 단위 영역(151)에 마킹된 코드 패턴(160)에서 인덱스 정보를 추출하여 검증 장치(110)로 전송하고, 제2 측정 장치(108)는 리더기(106)가 인덱스 정보를 추출한 단위 영역(151)을 재측정하여 해당 단위 영역(151)의 재측정 결과 정보를 검증 장치(110)로 전송하게 된다. 그러면, 검증 장치(110)는 리더기(106)로부터 수신한 인덱스 정보를 통해 해당 단위 영역의 측정 결과 정보를 추출하여 제2 측정 장치(108)로부터 수신한 재측정 결과 정보와 비교하게 된다.The first measuring device 102 transmits the measurement result information to the marking device 104 for each unit area of the subject 150 and the marking device 104 measures each unit area of the subject 150 The code pattern 160 including the result information and the index information is marked. However, the present invention is not limited thereto. That is, the first measuring device 102 transmits the measurement result information for each unit area of the subject 150 to the verification device 110, and the marking device 104 transmits the index information for each unit area of the subject 150 Lt; RTI ID = 0.0 > 160 < / RTI > At this time, the verification apparatus 110 can sequentially store measurement result information received from the first measurement apparatus 102. [ In this case, the reader 106 extracts the index information from the code pattern 160 marked on the unit area 151 of the subject 150 and transmits it to the verification device 110, and the second measurement device 108 The reader 106 re-measures the unit area 151 from which the index information has been extracted and transmits the re-measurement result information of the unit area 151 to the verification device 110. Then, the verification apparatus 110 extracts the measurement result information of the corresponding unit area from the index information received from the reader 106, and compares the measurement result information with the remeasurement result information received from the second measurement apparatus 108.

본 발명의 실시예에 의하면, 제1 측정 장치(102)의 측정 결과를 제2 측정 장치(108)의 재측정 결과와 비교하여 검증할 수 있게 된다. 여기서, 제1 측정 장치(102)의 측정 결과와 제2 측정 장치(108)의 재측정 결과 사이의 일치도가 기 설정된 값을 초과하는 경우, 제1 측정 장치(102)의 정확도를 신뢰할 수 있으며, 그로 인해 제1 측정 장치(102)의 측정 결과를 보증할 수 있게 된다. 반면, 제1 측정 장치(102)의 측정 결과와 제2 측정 장치(108)의 재측정 결과 사이의 일치도가 기 설정된 값 미만인 경우, 제1 측정 장치(102)의 정확도가 떨어지는 것을 확인할 수 있으며, 제1 측정 장치(102)의 정확도를 높이기 위한 방안을 마련할 수 있게 된다.
According to the embodiment of the present invention, the measurement result of the first measurement device 102 can be verified and compared with the remeasurement result of the second measurement device 108. Here, when the degree of agreement between the measurement result of the first measurement device 102 and the remeasurement result of the second measurement device 108 exceeds a preset value, the accuracy of the first measurement device 102 can be relied upon, So that the measurement result of the first measuring device 102 can be guaranteed. On the other hand, if the degree of agreement between the measurement result of the first measurement device 102 and the remeasurement result of the second measurement device 108 is less than a predetermined value, it can be confirmed that the accuracy of the first measurement device 102 is low, A measure for increasing the accuracy of the first measuring device 102 can be provided.

도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 제1 측정 장치의 구성을 나타낸 도면이고, 도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 패턴화 리타더를 나타낸 평면도이다. 여기서는 제1 측정 장치가 인라인 측정 장치인 것으로 도시하였다.FIG. 3 is a view showing a configuration of a first measuring apparatus according to an embodiment of the present invention, and FIG. 4 is a plan view showing a patterning retarder according to an embodiment of the present invention. Here, it is shown that the first measuring apparatus is an in-line measuring apparatus.

도 3 및 도 4를 참조하면, 제1 측정 장치(102)는 이송롤(202), 조명부(204), 제1 편광 필터(206), 제2 편광 필터(208), 촬영부(210), 이송 속도 측정부(212), 및 영상 분석부(214)를 포함한다.3 and 4, the first measuring device 102 includes a conveying roll 202, an illumination unit 204, a first polarizing filter 206, a second polarizing filter 208, a photographing unit 210, A conveying speed measuring unit 212, and an image analyzing unit 214.

이송롤(202)은 인라인(In-Line) 상에서 패턴화 리타더(150)를 일정 방향으로 이동시키는 역할을 한다. 본 발명에 있어서, 이송부는 필름을 이송시킬 수 있는 수단이라면 특별히 제한되지 않으나, 예를 들면 롤, 롤러 컨베이어, 무한궤도형 벨트 및 이송 스테이지로 이루어진 군에서 선택될 수 있다. 본 실시예에서는 롤을 예시로 하여 설명하도록 한다. The transfer roll 202 serves to move the patterning retarder 150 in a certain direction on an in-line basis. In the present invention, the transfer section is not particularly limited as long as it is a means capable of transferring the film, and may be selected from the group consisting of, for example, a roll, a roller conveyor, an endless belt and a transfer stage. In the present embodiment, rolls will be described as an example.

또한, 여기서는, 설명의 편의상 1개의 이송롤(202)을 도시하였으나, 이에 한정되는 것은 아니며 패턴화 리타더(150)를 제조 생산하는 인라인 설비 내에는 패턴화 리타더(150)를 이송시키기 위한 복수 개의 이송롤(202)들이 상호 이격하여 형성될 수 있다. 이때, 이송롤(202)의 회전 속도에 따라 패턴화 리타더(150)의 이송 속도가 결정된다. Although one feed roll 202 is shown here for the sake of explanation, it is not limited thereto. In the inline equipment for manufacturing and producing the patterned retarder 150, a plurality of conveying rollers 202 for conveying the patterning retarder 150 The two transfer rolls 202 may be spaced apart from each other. At this time, the feeding speed of the patterning retarder 150 is determined according to the rotating speed of the feeding roll 202.

패턴화 리타더(150)에는 도 4에 도시된 바와 같이, 제1 편광 패턴 영역(152)과 제2 편광 패턴 영역(154)이 스트라이프 형상을 이루며 교대로 형성된다. 이때, 제1 편광 패턴 영역(152)의 액정 배향 각도를 α라 하고, 제2 편광 패턴 영역(154)의 액정 배향 각도를 β라 한다. 제1 편광 패턴 영역(152)의 액정 배향 각도(α)와 제2 편광 패턴 영역(154)의 액정 배향 각도(β)는 서로 수직을 이룬다. α및 β는 제1 편광 패턴 영역(152) 및 제2 편광 패턴 영역(154)의 길이 방향을 기준축으로 하였을 때, 기준축과 이루는 각도를 말한다. 제1 편광 패턴 영역(152)은 α의 액정 배향 각도를 가짐으로써 α의 위상차를 갖게 되고, 제2 편광 패턴 영역(154)은 β의 액정 배향 각도를 가짐으로써 β의 위상차를 갖게 된다. 이때, α 및 β가 서로 수직을 이루기 때문에, 제1 편광 패턴 영역(152)은 조사된 빛을 좌원편광시키고, 제2 편광 패턴 영역(154)은 조사된 빛을 우원편광시키게 된다.As shown in FIG. 4, the patterning retarder 150 has a first polarization pattern area 152 and a second polarization pattern area 154 formed in a stripe shape and alternately. At this time, the liquid crystal alignment angle of the first polarization pattern area 152 is?, And the liquid crystal alignment angle of the second polarization pattern area 154 is?. The liquid crystal orientation angle alpha of the first polarization pattern area 152 and the liquid crystal orientation angle beta of the second polarization pattern area 154 are perpendicular to each other. alpha and beta refer to an angle formed with the reference axis when the longitudinal direction of the first polarization pattern area 152 and the second polarization pattern area 154 is taken as a reference axis. The first polarizing pattern area 152 has a phase difference of alpha by having a liquid crystal orientation angle of alpha and the second polarizing pattern area 154 has a phase difference of beta by having a liquid crystal orientation angle of beta. At this time, because? And? Are perpendicular to each other, the first polarizing pattern region 152 circularly polarizes the irradiated light and the second polarizing pattern region 154 polarizes the irradiated light.

조명부(204)는 패턴화 리타더(150)의 영상을 획득하기 위해 빛을 조사하는 역할을 한다. 조명부(204)는 패턴화 리타더(150)의 상부에서 일정 각도(θ)로 빛을 조사할 수 있다. 조명부(204)는 예를 들어, LED 램프, 형광등, 백열 전구, 및 할로겐 램프 등 다양한 광원 장치가 사용될 수 있다.The illumination unit 204 serves to irradiate light to acquire an image of the patterned retarder 150. The illumination unit 204 can irradiate light at an angle? At an upper portion of the patterned retarder 150. As the illumination unit 204, various light source devices such as an LED lamp, a fluorescent lamp, an incandescent lamp, and a halogen lamp may be used.

제1 편광 필터(206)는 조명부(204)와 패턴화 리타더(150) 사이에 형성된다. 이 경우, 조명부(204)에서 조사된 빛은 제1 편광 필터(206)를 투과한 후 패턴화 리타더(150)에서 반사된다. 제1 편광 필터(206)는 선편광 필터(PL)가 사용될 수 있다. 이 경우, 1차 편광 필터(206)는 조명부(204)에서 조사되는 빛 중 일정한 방향의 선편광만 투과시키고 나머지 방향의 편광은 차단시킨다. 제1 편광 필터(206)는 당분야에서 사용되는 선편광 필터가 제한 없이 사용될 수 있으며, 예를 들면, 유리나 투명 고분자 기판 상에 접합된 선편광자층을 포함하는 구조를 가질 수 있다.The first polarizing filter 206 is formed between the illumination portion 204 and the patterned retarder 150. In this case, the light irradiated from the illumination unit 204 is reflected by the patterned retarder 150 after passing through the first polarizing filter 206. The first polarization filter 206 may be a linear polarization filter PL. In this case, the primary polarizing filter 206 transmits only linear light in a certain direction out of the light emitted from the illumination unit 204, and blocks polarized light in the other direction. The first polarizing filter 206 may have a structure including a line polarizer layer bonded on glass or a transparent polymer substrate, for example, without limitation, a linearly polarized light filter used in the art.

제2 편광 필터(208)는 패턴화 리타더(150)와 촬영부(210) 사이에 형성된다. 이 경우, 패턴화 리타더(150)에서 반사된 빛은 제2 편광 필터(208)를 투과한 후 촬영부(210)로 수광된다. 제2 편광 필터(208)는 원편광 필터(CPL)가 사용될 수 있다. 이때, 제2 편광 필터(208)는 제1 편광 패턴 영역(152) 및 제2 편광 패턴 영역(154) 중 어느 하나의 위상차와 동일한 위상차를 갖는 원편광 필터를 사용한다. 이 경우, 패턴화 리타더(150) 중 어느 하나의 편광 패턴 영역에서 반사된 빛은 차단하고 다른 하나의 편광 패턴 영역에서 반사된 빛은 통과시키기 때문에, 패턴화 리타더(150)를 촬영한 영상에서 제1 편광 패턴 영역(152)과 제2 편광 패턴 영역(154) 간에 밝기 대비가 높게 나타나게 된다. 제2 편광 필터(208)는 당분야에서 사용되는 원편광 필터가 제한 없이 사용될 수 있으며, 예를 들면, 유리나 투명 고분자 기판 상에 접합된 선편광자층 및 1/4 파장판을 포함하는 구조를 가질 수 있다. 이 때, 제2 편광 필터(208)의 선편광자층은 그 흡수축이 제1 편광 필터(206)의 선편광자층의 흡수축과 평행하지 않은 것으로 선택되며, 바람직하게는 수직인 것으로 선택된다.The second polarizing filter 208 is formed between the patterned retarder 150 and the photographing unit 210. In this case, the light reflected by the patterned retarder 150 passes through the second polarizing filter 208 and is then received by the photographing unit 210. The second polarizing filter 208 may be a circularly polarized light filter (CPL). At this time, the second polarizing filter 208 uses a circularly polarized light filter having the same phase difference as that of any one of the first polarization pattern area 152 and the second polarization pattern area 154. In this case, since the light reflected from any one of the polarization pattern regions of the patterned retarder 150 is blocked and the light reflected from the other polarization pattern region passes through the patterned retarder 150, The brightness contrast between the first polarization pattern area 152 and the second polarization pattern area 154 is high. The second polarizing filter 208 may have a structure including a linear polarizer layer and a 1/4 wave plate bonded on glass or a transparent polymer substrate without limitation to a circular polarizing filter used in the art . At this time, the linear polarizer layer of the second polarizing filter 208 is selected such that its absorption axis is not parallel to the absorption axis of the linear polarizer layer of the first polarizing filter 206, and is preferably selected to be vertical.

촬영부(210)는 패턴화 리타더(150)의 상부에 형성된다. 촬영부(210)는 패턴화 리타더(150)에서 반사되는 빛을 수광하여 패턴화 리타더(150)를 촬영한다. 촬영부(210)는 패턴화 리타더(150)에서 반사되는 빛의 각도에 대응하여 설치될 수 있다. 촬영부(210)는 영상 분석부(214)가 발생하는 촬영 제어 신호에 따라 패턴화 리타더(150)를 촬영할 수 있다. 이때, 촬영부(210)는 촬영 제어 신호에 따라 패턴화 리타더(150)를 기 설정된 단위 영역마다 촬영하도록 촬영 주기를 조절할 수 있다. 촬영부(210)는 패턴화 리타더(150)를 촬영한 촬영 영상을 영상 분석부(214)로 전송한다.The photographing unit 210 is formed on the patterned retarder 150. The photographing unit 210 receives the light reflected from the patterning retarder 150 and photographs the patterning retarder 150. The photographing unit 210 may be installed corresponding to the angle of the light reflected by the patterning retarder 150. The photographing unit 210 can photograph the patterning retarder 150 according to the photographing control signal generated by the image analyzing unit 214. [ At this time, the photographing unit 210 may adjust the photographing period so that the patterning retarder 150 is photographed in every preset unit area in accordance with the photographing control signal. The photographing unit 210 transmits the photographed image of the patterned retarder 150 to the image analysis unit 214.

촬영부(210)는 이송롤(202) 중 패턴화 리타더(150)와 접촉하는 부분을 촬영하도록 촬영 지점이 미리 설정될 수 있다. 그러면, 패턴화 리타더(150)가 일정 방향으로 이송될 때, 촬영부(210)는 항상 이송롤(202) 상에 위치한 패턴화 리타더(150)를 촬영하게 된다. 이 경우, 패턴화 리타더(150)의 촬영 시, 패턴화 리타더(150)의 촬영되는 부분은 항상 이송롤(202)에 의해 지지되어 평평도가 일정 수준으로 유지되므로, 진동이나 떨림으로 인한 촬영 영상의 왜곡을 줄일 수 있게 된다. The photographing unit 210 may be preset with a photographing point so as to photograph a portion of the conveying roll 202 in contact with the patterning retarder 150. [ Then, when the patterning retarder 150 is transported in a certain direction, the photographing unit 210 always photographs the patterning retarder 150 located on the transporting roll 202. In this case, at the time of photographing of the patterning retarder 150, the portion of the patterning retarder 150 to be photographed is always supported by the conveying rollers 202 and the flatness is maintained at a constant level, The distortion of the photographed image can be reduced.

여기서, 촬영부(210)가 항상 이송롤(202) 상에 위치한 패턴화 리타더(150)를 촬영하기 때문에, 촬영부(210)는 반사 조명을 사용하여 패턴화 리타더(150)를 촬영하게 된다. 그래서, 조명부(204)는 패턴화 리타더(150)의 상부에서 일정 각도(θ)로 빛을 조사하도록 설치된다.Since the photographing unit 210 always photographs the patterning retarder 150 positioned on the conveying roll 202, the photographing unit 210 photographs the patterning retarder 150 using the reflected light do. Thus, the illumination unit 204 is installed to irradiate the light at a certain angle [theta] from the top of the patterned retarder 150. [

이송 속도 측정부(212)는 패턴화 리타더(150)의 이송 속도를 측정한다. 이송 속도 측정부(212)는 예를 들어, 이송롤(202)과 연동되어 형성되는 엔코더로 이루어질 수 있다. 이 경우, 이송롤(202)의 회전 속도를 계측하여 패턴화 리타더(150)의 이송 속도를 측정할 수 있게 된다. 여기서는, 이송 속도 측정부(212)가 이송롤(202)과 연동되어 형성된 엔코더인 것으로 도시하였으나, 이에 한정되는 것은 아니며 이송 속도 측정부(212)는 그 이외의 다양한 속도 측정 수단으로 이루어질 수 있다. 이송 속도 측정부(212)는 패턴화 리타더(150)의 이송 속도를 영상 분석부(214)로 전송할 수 있다. 이때, 이송 속도 측정부(212)는 패턴화 리타더(150)의 이송 속도를 일정 주기로 전송할 수 있다.The conveying speed measuring unit 212 measures the conveying speed of the patterning retarder 150. The feed rate measuring unit 212 may be formed of, for example, an encoder formed in association with the feed roll 202. In this case, it is possible to measure the conveying speed of the patterning retarder 150 by measuring the rotational speed of the conveying roll 202. Here, the conveyance velocity measuring unit 212 is shown as an encoder formed in association with the conveyance roll 202, but the present invention is not limited to this, and the conveyance velocity measuring unit 212 may be composed of various other velocity measuring means. The feed rate measuring unit 212 may transmit the feed rate of the patterning retarder 150 to the image analyzer 214. At this time, the conveying speed measuring unit 212 may transmit the conveying speed of the patterning retarder 150 at regular intervals.

영상 분석부(214)는 이송 속도 측정부(212)로부터 전송받은 패턴화 리타더(150)의 이송 속도에 따라 패턴화 리타더(150)의 기 설정된 단위 영역 별로 패턴화 리타더(150)를 촬영 하도록 하는 촬영 제어 신호를 촬영부(210)로 발생시킬 수 있다. 여기서는, 영상 분석부(214)가 촬영 제어 신호를 촬영부(210)로 발생시키는 것으로 도시하였으나, 이에 한정되는 것은 아니며 이송 속도 측정부(212)가 직접 촬영 제어 신호를 촬영부(210)로 발생시킬 수도 있다.The image analyzer 214 determines the patterning retarder 150 for each predetermined unit area of the patterning retarder 150 according to the conveying speed of the patterning retarder 150 received from the conveying speed measuring unit 212 The photographing unit 210 can generate a photographing control signal for photographing. In this case, the image analysis unit 214 generates the image pickup control signal to the image pickup unit 210, but the present invention is not limited thereto. The transfer speed measurement unit 212 directly generates the image pickup control signal to the image pickup unit 210 .

영상 분석부(214)는 패턴화 리타더(150)의 촬영 영상을 통해 제1 편광 패턴 영역(152)의 폭(W1), 제2 편광 패턴 영역(154)의 폭(W2), 제1 편광 패턴 영역(152)의 직진도, 제2 편광 패턴 영역(154)의 직진도, 및 패턴화 리타더(150)의 전체 폭(TW)을 측정할 수 있다. The image analyzing unit 214 analyzes the width W1 of the first polarization pattern area 152, the width W2 of the second polarization pattern area 154, The straightness of the pattern region 152, the straightness of the second polarization pattern region 154, and the total width TW of the patterned retarder 150 can be measured.

구체적으로, 조명부(204)에서 조사되고 패턴화 리타더(150)에서 반사된 빛은 원편광 필터(CPL)인 제2 편광 필터(208)를 투과한 후 촬영부(210)로 수광된다. 이때, 제2 편광 필터(208)가 제1 편광 패턴 영역(152) 및 제2 편광 패턴 영역(154) 중 어느 하나의 위상차와 동일한 위상차를 갖는 경우, 제2 편광 필터(208)와 동일한 위상차를 갖는 편광 패턴 영역에서 반사된 빛은 통과시키고, 제2 편광 필터(208)와 다른 위상차를 갖는 편광 패턴 영역에서 반사된 빛은 차단시키게 된다. 그러면, 패턴화 리타더(150)를 촬영한 영상에서 제2 편광 필터(208)와 동일한 위상차를 갖는 편광 패턴 영역은 밝게 나타나고, 제2 편광 필터(208)와 다른 위상차를 갖는 편광 패턴 영역은 어둡게 나타나기 때문에, 제1 편광 패턴 영역(152)과 제2 편광 패턴 영역(154) 간에 명암 대비가 뚜렷하게 나타나게 된다. 이 경우, 영상 분석부(214)가 패턴화 리타더(150)의 촬영 영상에서 제1 편광 패턴 영역(152)과 제2 편광 패턴 영역(154)을 선명히 구별할 수 있기 때문에, 각 편광 패턴 영역의 폭 및 직진도를 용이하게 측정할 수 있게 된다. 이때, 영상 분석부(214)는 제1 편광 패턴 영역(152)과 제2 편광 패턴 영역(154)의 경계를 보다 명확히 하기 위해 패턴화 리타더(150)의 촬영 영상에 에지 필터를 적용할 수 있다. Specifically, the light irradiated from the illumination unit 204 and reflected by the patterned retarder 150 is transmitted through the second polarizing filter 208, which is a circularly polarized light filter (CPL), and is then received by the photographing unit 210. At this time, when the second polarizing filter 208 has the same retardation as that of any one of the first polarizing pattern area 152 and the second polarizing pattern area 154, the same retardation as that of the second polarizing filter 208 And blocks the light reflected from the polarization pattern area having a phase difference different from that of the second polarized light filter 208. The polarization pattern area having the same phase difference as that of the second polarized light filter 208 appears bright in the image of the patterned retarder 150 and the polarization pattern area having a phase difference different from that of the second polarized light filter 208 is dark The contrast between the first polarized light pattern area 152 and the second polarized light pattern area 154 is conspicuous. In this case, since the image analysis unit 214 can clearly distinguish the first polarization pattern area 152 and the second polarization pattern area 154 from the photographed image of the patterning retarder 150, It is possible to easily measure the width and the straightness. At this time, the image analyzer 214 may apply an edge filter to the photographed image of the patterning retarder 150 to further clarify the boundary between the first polarization pattern area 152 and the second polarization pattern area 154 have.

영상 분석부(214)는 제1 편광 패턴 영역(152)의 폭(W1), 제2 편광 패턴 영역(154)의 폭(W2), 제1 편광 패턴 영역(152)의 직진도, 제2 편광 패턴 영역(154)의 직진도, 및 패턴화 리타더(150)의 전체 폭(TW)에 대한 측정 결과 정보를 마킹 장치(104)로 전송할 수 있다. 그러나, 이에 한정되는 것은 아니며, 영상 분석부(214)는 상기 측정 결과 정보를 검증 장치(110)로 전송할 수도 있다.The image analyzing section 214 calculates the width W1 of the first polarization pattern area 152, the width W2 of the second polarization pattern area 154, the straightness of the first polarization pattern area 152, The measurement result information on the straightness of the pattern area 154 and the entire width TW of the patterning retarder 150 may be transmitted to the marking device 104. [ However, the present invention is not limited thereto, and the image analysis unit 214 may transmit the measurement result information to the verification apparatus 110.

본 발명의 실시예에 의하면, 인라인 상에서 패턴화 리타더(150)가 일정 방향으로 이송될 때, 촬영부(210)가 항상 이송롤(202) 상에 위치한 패턴화 리타더(150)를 촬영하도록 함으로써, 모터의 주기적인 진동 또는 외부 충격에 의한 불규칙한 진동 및 떨림이 발생하더라도 패턴화 리타더(150)의 촬영 영상이 왜곡되는 것을 줄일 수 있게 되며, 그로 인해 인라인 상에서도 제1 편광 패턴 영역(152)과 제2 편광 패턴 영역(154)의 폭 및 직진도를 실시간으로 분석할 수 있게 된다. 또한, 조명부(204)와 패턴화 리타더(150) 사이에 선편광 필터를 설치하고, 패턴화 리타더(150)와 촬영부(210) 사이에 원편광 필터를 설치함으로써, 패턴화 리타더(150)의 촬영 영상에서 제1 편광 패턴 영역(152)과 제2 편광 패턴 영역(154)이 선명하게 구별되도록 할 수 있으며, 그로 인해 제1 편광 패턴 영역(152)과 제2 편광 패턴 영역(154)의 폭 및 직진도를 정확하게 분석할 수 있게 된다.
According to the embodiment of the present invention, when the patterning retarder 150 is transported in a certain direction on the inline, the photographing unit 210 always photographs the patterning retarder 150 located on the transporting roll 202 It is possible to reduce the distortion of the photographed image of the patterning retarder 150 even if irregular vibration or tremor due to periodic vibration or external impact of the motor occurs. As a result, even when the first polarization pattern area 152 is in- And the width and the straightness of the second polarization pattern area 154 can be analyzed in real time. A linear polarization filter is provided between the illumination unit 204 and the patterning retarder 150 and a circular polarization filter is provided between the patterning retarder 150 and the photographing unit 210 to form the patterning retarder 150 The first polarizing pattern area 152 and the second polarizing pattern area 154 can be clearly distinguished from each other in the captured image of the first polarizing pattern area 152 and the second polarizing pattern area 154, It is possible to accurately analyze the width and straightness of the tire.

이상에서 대표적인 실시예를 통하여 본 발명에 대하여 상세하게 설명하였으나, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는 상술한 실시예에 대하여 본 발명의 범주에서 벗어나지 않는 한도 내에서 다양한 변형이 가능함을 이해할 것이다. 그러므로 본 발명의 권리범위는 설명된 실시예에 국한되어 정해져서는 안 되며, 후술하는 특허청구범위뿐만 아니라 이 특허청구범위와 균등한 것들에 의해 정해져야 한다.
While the present invention has been particularly shown and described with reference to exemplary embodiments thereof, it is clearly understood that the same is by way of illustration and example only and is not to be taken by way of limitation, I will understand. Therefore, the scope of the present invention should not be limited to the above-described embodiments, but should be determined by equivalents to the appended claims, as well as the appended claims.

100 : 측정 결과 검증 시스템 102 : 제1 측정 장치
104 : 마킹 장치 106 : 리더기
108 : 제2 측정 장치 110 : 검증 장치
150 : 피검사체 151 : 단위 영역
152 : 제1 편광 패턴 영역 154 : 제2 편광 패턴 영역
160 : 코드 패턴 202 : 이송롤
204 : 조명부 206 : 제1 편광 필터
208 : 제2 편광 필터 210 : 촬영부
212 : 이송 속도 측정부 214 : 영상 분석부100: measurement result verification system 102: first measurement device
104: marking device 106: reader
108: second measuring device 110: verification device
150: Subject 151: Unit area
152: first polarization pattern area 154: second polarization pattern area
160: Code pattern 202: Feed roll
204: illumination unit 206: first polarizing filter
208: second polarizing filter 210:
212: conveying speed measuring unit 214: image analyzing unit

Claims (8)

피검사체를 단위 영역마다 측정하고, 상기 단위 영역의 측정 결과 정보를 전송하는 제1 측정 장치;
상기 피검사체의 단위 영역마다 인덱스 정보를 포함하는 코드 패턴을 마킹하는 마킹 장치;
상기 피검사체의 소정 단위 영역의 코드 패턴에서 해당 단위 영역의 인덱스 정보를 추출하는 리더기;
상기 인덱스 정보를 추출한 단위 영역을 재측정하고, 상기 단위 영역의 재측정 결과 정보를 전송하는 제2 측정 장치; 및
상기 제1 측정 장치의 측정 결과 정보 및 상기 제2 측정 장치의 재측정 결과 정보를 각각 수신하고, 상기 리더기가 추출한 인덱스 정보에 대응되는 제1 측정 장치의 측정 결과 정보와 상기 제2 측정 장치의 재측정 결과 정보를 비교하여 상기 제1 측정 장치의 측정 결과를 검증하는 검증 장치를 포함하는, 측정 결과 검증 시스템.
A first measuring device that measures the subject in units of unit areas and transmits measurement result information of the unit areas;
A marking device for marking a code pattern including index information for each unit area of the object to be inspected;
A reader for extracting index information of the unit area in a code pattern of a predetermined unit area of the subject;
A second measuring device for re-measuring the unit area from which the index information is extracted and transmitting re-measurement result information of the unit area; And
And a second measurement device that receives the measurement result information of the first measurement device and the remeasurement result information of the second measurement device respectively and transmits measurement result information of the first measurement device corresponding to the index information extracted by the reader, And a verification device for comparing the measurement result information and verifying the measurement result of the first measurement device.
피검사체를 단위 영역마다 측정하고, 상기 단위 영역의 측정 결과 정보를 전송하는 제1 측정 장치;
상기 제1 측정 장치의 측정 결과 정보를 수신하고, 상기 피검사체의 단위 영역마다 해당 단위 영역의 측정 결과 정보 및 인덱스 정보를 포함하는 코드 패턴을 마킹하는 마킹 장치;
상기 피검사체의 소정 단위 영역의 코드 패턴에서 해당 단위 영역의 측정 결과 정보 및 인덱스 정보를 추출하는 리더기;
상기 측정 결과 정보 및 인덱스 정보를 추출한 단위 영역을 재측정하고, 상기 단위 영역의 재측정 결과 정보를 전송하는 제2 측정 장치; 및
상기 제2 측정 장치의 재측정 결과 정보를 수신하고, 상기 리더기가 추출한 측정 결과 정보와 상기 제2 측정 장치의 재측정 결과 정보를 비교하여 상기 제1 측정 장치의 측정 결과를 검증하는 검증 장치를 포함하는, 측정 결과 검증 시스템.
A first measuring device that measures the subject in units of unit areas and transmits measurement result information of the unit areas;
A marking device for receiving measurement result information of the first measurement device and marking a code pattern including measurement result information and index information of the unit area for each unit area of the subject;
A reader for extracting measurement result information and index information of the unit area in a code pattern of a predetermined unit area of the subject;
A second measuring device for re-measuring the unit area from which the measurement result information and the index information are extracted, and transmitting re-measurement result information of the unit area; And
And a verification device for receiving the remeasurement result information of the second measurement device and comparing the measurement result information extracted by the reader with the remeasurement result information of the second measurement device to verify the measurement result of the first measurement device Measurement result verification system.
제1항 또는 제2항에 있어서,
상기 제1 측정 장치는 인라인 측정 장치이고, 상기 제2 측정 장치는 오프라인 측정 장치인, 측정 결과 검증 시스템.
3. The method according to claim 1 or 2,
Wherein the first measurement device is an inline measurement device and the second measurement device is an offline measurement device.
제3항에 있어서,
상기 제1 측정 장치는,
상기 피검사체를 일정 방향으로 이송시키는 이송부;
상기 피검사체의 상부에서 소정 각도로 빛을 조사하는 조명부;
상기 피검사체에서 반사되는 빛을 수광하여 상기 피검사체를 단위 영역마다 촬영하는 촬영부; 및
상기 단위 영역마다 촬영된 영상을 분석하여 측정하고, 상기 단위 영역의 측정 결과 정보를 전송하는 영상 분석부를 포함하며,
상기 촬영부는, 상기 이송부 중 상기 피검사체와 접촉하는 부분을 촬영하도록 촬영 지점이 설정되는, 측정 결과 검증 시스템.
The method of claim 3,
The first measuring device includes:
A conveying unit for conveying the object to be inspected in a predetermined direction;
An illumination unit for irradiating light at a predetermined angle from an upper portion of the object to be inspected;
A photographing unit that receives light reflected from the subject and photographs the subject in units of a unit area; And
And an image analyzing unit for analyzing and measuring images photographed for each unit area and transmitting measurement result information of the unit area,
Wherein the photographing unit sets a photographing point so as to photograph a portion of the conveying unit that is in contact with the subject.
제4항에 있어서,
상기 피검사체는,
제1 편광 패턴 영역과 제2 편광 패턴 영역이 교대로 형성되는 패턴화 리타더인, 측정 결과 검증 시스템.
5. The method of claim 4,
The object to be inspected comprises:
Wherein the first polarizing pattern area and the second polarizing pattern area are alternately formed.
제5항에 있어서,
상기 제1 측정 장치는,
상기 조명부와 상기 패턴화 리타더 사이에 형성되는 선편광 필터; 및
상기 패턴화 리타더와 상기 촬영부 사이에 형성되는 원편광 필터를 더 포함하며,
상기 영상 분석부는, 상기 제1 편광 패턴 영역의 폭, 상기 제2 편광 패턴 영역의 폭, 상기 제1 편광 패턴 영역의 직진도, 상기 제2 편광 패턴 영역의 직진도, 및 상기 패턴화 리타더의 전체 폭 중 적어도 하나를 분석하는, 측정 결과 검증 시스템.
6. The method of claim 5,
The first measuring device includes:
A linearly polarized light filter formed between the illumination unit and the patterned retarder; And
Further comprising a circular polarization filter formed between the patterning retarder and the photographing unit,
Wherein the image analyzing unit calculates the width of the first polarization pattern area, the width of the second polarization pattern area, the straightness of the first polarization pattern area, the straightness of the second polarization pattern area, Analyzing at least one of the total width.
제4항에 있어서,
상기 제1 측정 장치는,
상기 피검사체의 이송 속도를 측정하는 이송 속도 측정부를 더 포함하며,
상기 촬영부는, 상기 피검사체의 이송 속도에 따라 상기 피검사체를 단위 영역마다 촬영하도록 촬영 주기를 조절하는, 측정 결과 검증 시스템.
5. The method of claim 4,
The first measuring device includes:
Further comprising a conveying speed measuring unit for measuring a conveying speed of the object,
Wherein the photographing section adjusts the photographing period so as to photograph the subject in units of regions in accordance with the conveyance speed of the subject.
제4항에 있어서,
상기 이송부는,
롤, 롤러 컨베이어, 무한궤도형 벨트 및 이송 스테이지로 이루어진 군에서 선택되는 것인, 측정 결과 검증 시스템.5. The method of claim 4,
The transfer unit
Rolls, roller conveyors, endless track belts, and transfer stages.
KR1020120158295A 2012-12-31 2012-12-31 System for verifying measurement result KR20140087716A (en)

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