KR20140011660A - 센서 허브를 포함하는 단말기 및 단말기의 제어 방법 - Google Patents

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Abstract

상술한 과제를 달성하기 위하여, 본 발명의 일 실시 예에 따르는 1개 이상의 센서 및 센서 허브를 포함하는 단말기에서 상기 센서 허브를 통한 제어 방법은 단말기의 상태 정보를 수신하는 단계; 수신된 상기 상태 정보를 기반으로 센서 샘플링 주기를 결정하는 단계; 및 상기 결정된 센서 샘플링 주기에 따라서 상기 1개 이상의 센서로부터 측정값을 수신하는 단계를 포함한다. 본 발명의 일 측면에 따르는 단말기는 단말기의 상태 정보를 측정하는 1개 이상의 센서; 및 상기 1개 이상의 센서를 제어하는 센서 허브를 포함하며 상기 센서 허브는 상기 단말기의 상태 정보를 수신하며, 수신된 상기 상태정보를 기반으로 센서 샘플링 주기를 결정하며, 상기 결정된 센서 샘플링 주기에 따라 상기 1개 이상의 센서로부터 측정값을 수신하는 것을 특징으로 한다. 본 발명의 일 실시 예에 따르면 단말기에서 별도로 센서를 제어하는 센서 허브를 구비함으로써 메인 프로세서의 부하와 관계 없이 센서를 제어하고, 센서 측정을 위해 센서 허브만 웨이크 업 함으로써 단말기 시스템의 오버헤드를 줄일 수 있는 효과가 있다. 또한 수신된 단말기의 상태값을 기반으로 센서 허브가 센서 샘플링 주기 시간을 결정함으로써 단말기 상태를 고려한 샘플링을 통해 사용성이 향상되고, 샘플링 주기가 짧아짐으로써 초래될 수 있는 전력소비 증가를 방지할 수 있는 효과가 있다.

Description

센서 허브를 포함하는 단말기 및 단말기의 제어 방법{TERMINAL INCLUDING SENSOR HUB AND METHOD FOR CONTROLLING TERMINAL THEREOF}
본 발명은 센서를 제어하는 센서허브를 포함하는 단말기 및 단말기의 제어 방법에 관한 것이다. 보다 자세히 센서허브를 통한 단말기의 상태 정보를 기반으로 센서 샘플링 주기를 결정하는 것에 관한 발명이다.
기존에 센서를 포함하는 단말기의 경우 센서를 제어하기 위한 프로세서가 별도로 존재하지 않았다. 이에 따라 단말기가 슬립(sleep)상태에 진입할 경우 센서를 별도로 제어할 방법이 없었다. 또한 메인 프로세서의 부하(load)가 높아짐에 따라 센서를 제어하는 성능이 떨어지는 문제점이 있었다.
그리고 단말기의 슬립 상태에서 센서를 통한 상태 값을 측정하기 위해 프로세서를 웨이크 업(wake up)하는 단계를 거치게 되는데 이 경우 메인 프로세서를 웨이크 업 하기 위해 시스템 전체의 오버헤드가 커지는 단점이 있었다.
또한 센서를 통한 단말기의 상태값을 신속하게 측정하기 위해 웨이크 업 하는 주기를 짧게 할 경우 전력 소모가 늘어나는 단점이 있다. 반대로 전력 소모를 줄이기 위해 웨이크 업 하는 주기를 길게 할 경우 필요한 시기에 센서를 통해 단말기의 상태 값을 측정할 수 없는 문제점이 있었다.
본 발명은 상술한 문제점을 해결하기 위하여 제안된 것으로 센서를 제어하는 센서허브를 포함하고, 센서 샘플링 주기를 단말기의 상태 값에 기반하여 결정함으로써 전력 소비를 절감하고 사용성이 향상되는 단말기를 제공하는 데에 그 목적이 있다.
상술한 과제를 달성하기 위하여, 본 발명의 일 실시 예에 따르는 1개 이상의 센서 및 센서 허브를 포함하는 단말기에서 상기 센서 허브를 통한 제어 방법은 단말기의 상태 정보를 수신하는 단계; 수신된 상기 상태 정보를 기반으로 센서 샘플링 주기를 결정하는 단계; 및 상기 결정된 센서 샘플링 주기에 따라서 상기 1개 이상의 센서로부터 측정값을 수신하는 단계를 포함한다.
본 발명의 일 측면에 따르는 단말기는 단말기의 상태 정보를 측정하는 1개 이상의 센서; 및 상기 1개 이상의 센서를 제어하는 센서 허브를 포함하며 상기 센서 허브는 상기 단말기의 상태 정보를 수신하며, 수신된 상기 상태정보를 기반으로 센서 샘플링 주기를 결정하며, 상기 결정된 센서 샘플링 주기에 따라 상기 1개 이상의 센서로부터 측정값을 수신하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 일 실시 예에 따르면 단말기에서 별도로 센서를 제어하는 센서 허브를 구비함으로써 메인 프로세서의 부하와 관계 없이 센서를 제어하고, 센서 측정을 위해 센서 허브만 웨이크 업 함으로써 단말기 시스템의 오버헤드를 줄일 수 있는 효과가 있다. 또한 수신된 단말기의 상태값을 기반으로 센서 허브가 센서 샘플링 주기 시간을 결정함으로써 단말기 상태를 고려한 샘플링 및 상기 샘플링 결과를 활용하여 센서 샘플링 주기 결정을 통해 사용성이 향상되고, 샘플링 주기가 과도하게 짧아짐으로 발생할 수 있는 전력 소모 증가를 억제하고, 샘플링 주기를 길게 함으로써 단말기의 반응성이 떨어지는 것을 방지하는 효과가 있다.
도 1은 실시 예에 따른 단말기의 구성을 나타내는 블록도이다.
도 2는 실시 예에 따른 센서 유닛의 구성을 나타내는 블록도이다.
도 3은 실시 예에 따른 센서 허브의 구성을 나타내는 블록도이다.
도 4는 실시 예에 따른 단말기의 구동 방법을 나타내는 순서도이다.
도 5는 또 다른 실시 예에 따른 단말기의 구동 방법을 나타내는 순서도이다.
이하, 본 발명의 실시 예를 첨부된 도면을 참조하여 상세하게 설명한다.
실시 예를 설명함에 있어서 본 발명이 속하는 기술 분야에 익히 알려져 있고 본 발명과 직접적으로 관련이 없는 기술 내용에 대해서는 설명을 생략한다. 이는 불필요한 설명을 생략함으로써 본 발명의 요지를 흐리지 않고 더욱 명확히 전달하기 위함이다.
마찬가지 이유로 첨부 도면에 있어서 일부 구성요소는 과장되거나 생략되거나 개략적으로 도시되었다. 또한, 각 구성요소의 크기는 실제 크기를 전적으로 반영하는 것이 아니다. 각 도면에서 동일한 또는 대응하는 구성요소에는 동일한 참조 번호를 부여하였다.
이하, 본 발명의 실시 예들에 의하여 센서 허브를 포함하는 단말기 및 단말기의 제어 방법을 설명하기 위한 도면들을 참고하여 본 발명에 대해 설명하도록 한다.
도 1은 실시 예에 따른 단말기의 구성을 나타내는 블록도이다.
도 1을 참조하면 실시 예에 따라는 단말기(100)은 애플리케이션 프로세서(Application Processor, AP)(110), 센서 허브(Senor Hub)(120) 및 센서 유닛(Sensor Unit)(130)을 포함할 수 있다.
AP(110)은 단말기(100)를 제어하는 메인 프로세서일 수 있다. 상기 메인 프로세서는 마이크로 프로세서를 포함할 수 있으며, AP(110)는 단말기(100)의 각 구성 요소를 제어 할 수 있다.
실시 예에 따라 AP(110)은 센서 허브(120)를 제어해 센서 유닛(130)에 포함되는 적어도 하나의 센서로부터 측정된 단말기의 상태 값을 센서 허브(120)를 통해 수신할 수 있다.
또한 AP(110)는 단말기가 미사용일 때는 전력 절감을 위해 전력 소비를 최소한으로 하는 슬립 상태로 구동될 수 있다. 상기 슬립 상태에서 상기 AP(110)는 최소의 전원만으로 구동 될 수 있으며, AP(110)는 외부에서 입력되는 신호에 따라 슬립 상태에서 AP(110)를 통상 사용 상태로 구동할 수 있다. 실시 예에 따라 상기 외부에서 입력되는 신호는 사용자 입력 신호 또는 단말기의 타 구성 요소에서 수신되는 웨이크 업 신호일 수 있다.
이와 같이 슬립 상태에서 통상 사용 상태로 구동되는 것을 웨이크 업(Wake up)한다고 표현할 수 있다. 또한 슬립 상태에서 웨이크 업 상태로 변경되기 위해 AP(110) 외부에서 입력되는 신호를 웨이크 업 신호라고 할 수 있다.
상기 웨이크 업 신호에는 AP(110)의 웨이크 업을 지시하는 신호 외에도 1개 이상의 단말기 상태 정보를 포함할 수 있다. 이와 같이 슬립과 웨이크 업으로 구동되기 위해 AP(110)는 슬립시 저전력으로 구동될 수 있는 부분을 별도로 구비할 수 있다.
실시예에서 단말기(100)가 휴대 통신 단말기이고 AP(110)이 슬립 상태에 있을 때 단말기 내의 콜 프로세서(Call Processor, CP)가 호 수신을 감지하고, 상기 CP는 AP(110)에 호 수신을 알림을 포함하는 웨이크 업 신호를 송신할 수 있다.
AP(110)는 웨이크 업한 뒤 통상 사용 상태로 구동 될 때 수신된 상기 웨이크 업 신호에 포함된 상기 1개 이상의 단말기 상태 정보에 기반하여 동작 방법을 결정할 수 있다.
실시 예에 따라 상기 웨이크 업 신호에는 센서 유닛(130)이 측정한 단말기(100) 주변의 밝기 정보를 포함할 수 있다. AP(110)는 수신된 상기 밝기 정보를 기반으로 표시부(140)를 구동할 때 배경 조명의 밝기를 결정할 수 있다. 보다 구체적으로 단말기(100) 주변의 밝기가 밝은 경우 상기 배경 조명의 밝기도 밝게 할 수 있고, 어두울 경우 그에 따라 상기 배경 조명의 밝기를 어둡게 함으로써 사용상을 향상하고, 전력 소비를 줄일 수 있는 효과가 있다.
또 다른 실시예에 따르면, 상기 웨이크 업 신호에는 센서 유닛(130)이 측정한 단말기 주위의 소음 정보를 포함할 수 있다. AP(110)는 수신된 상기 소음 정보에 따라 스피커부(150)를 구동할 때 소리의 크기를 조절할 수 있다. 보다 구체적으로 수신된 상기 소음 정보를 기반으로 AP(110)가 단말기(100)주변이 시끄러울 경우 AP(110)는 스피거부(150)에서 발생하는 소리를 보다 크게 변경할 수 있다.
센서 허브(120)는 AP(110)의 제어에 의해 구동 될 수 있다. 또한 AP(110)가 슬립 상태일 때도 센서 허브(120)는 웨이크 업 상태로 구동 될 수 있다. 센서 허브(120)는 센서 유닛(130)을 제어하여 센서 유닛(130)에 포함된 하나 이상의 센서로부터 측정값을 수신할 수 있다.
센서 허브(120)를 통해 센서 유닛(130)을 제어함으로써 AP(110)의 로드와 관계없이 센서 유닛(130)을 제어할 수 있다. 또한 센서 허브(120)는 저전력으로 구동될 수 있도록 설계될 수 있다. 따라서 AP(110)가 슬립 상태에 있는 경우에도 센서 허브(120)를 구동함으로써 저전력으로 센서 유닛(130)을 제어할 수 있다. 또한 센서 허브(120)는 센서 유닛(130)에 포함된 1개 이상의 센서를 개별적으로 제어할 수 있다.
또한 센서 허브(120)는 슬립 상태와 웨이크 업 상태로 구동될 수 있다. 슬립 상태로 구동될 경우 통상 사용상태보다 저 전력으로 구동될 수 있으며, 웨이크 업 하기 위한 신호를 수신하는 부분 또는 웨이크 업 주기를 계산하기 위한 부분만을 구동하도록 할 수 있다. 이와 같이 구동함으로써 센서 허브(120)를 구동하는 전력을 줄일 수 있는 효과가 있다. 웨이크 업 상태에서 센서 허브(120)은 AP(110) 및 센서 유닛(130)과 통상 구동 상태로 동작할 수 있다.
보다 자세히 AP(110)가 슬립 상태에 진입하는 것에 대응하여 센서 허브(120)가 슬립 상에 진입할 수 있다. 센서 허브(120)는 슬립 상태에 진입한 경우에도 일정 주기로 센서 유닛(130)을 샘플링 할 수 있다. 이와 같이 슬립 상태에서 일정 주기를 두고 센서 유닛(130)을 샘플링 함으로써 전력 소비 절감이 가능하다. 상기 일정 주기를 센서 샘플링 주기라고 할 수 있다.
또한 센서 허브(120)는 단말기(100)의 상태값에 따라 상기 센서 샘플링 주기를 다르게 할 수 있다. 보다 구체적으로 사용자가 단말기(100)에 입력이 적은 상황에서는 상기 센서 샘플링 주기를 보다 길게 함으로써 절력 절감 효과를 높일 수 있다.
예를 들면 단말기(100)가 알람 기능을 지원하고, 사용자가 단말기(100)의 수면 알람 기능을 작동시킨 경우 센서 허브(120)는 상기 센서 샘플링 주기를 보다 길게 할 수 있다. 상기 센서 샘플링 주기는 실시예에 따라 10ms, 20ms, 60ms 및 200ms 사이에서 선택될 수 있으며, 다른 실시예에서는 5ms 내지 1000ms 사이에서 특정의 값을 선택할 수 있다. 또한 알람 시각이 임박한 경우 센서 허브(120)는 상기 센서 샘플링 주기를 보다 짧게 할 수 있다. 이외에도 센서 허브(120) 센서 유닛(130)의 측정 값이 필요한 빈도에 따라 센서 샘플링 주기를 조절할 수 있다. 센서 허브(120)는 상기 측정 값이 필요한 빈도를 센서 유닛(130)이 측정한 상태 값 또는 AP(110)를 통해 입력 받는 값을 기반으로 결정할 수 있다.
또한 센서 허브(120)는 실시 예에 따라 AP(110)의 일부분의 구성요소로 포함될 수 있다. 보다 구체적으로 AP(110)는 원칩 프로세서로 구성될 수 있으며, AP(110)는 센서허브(120)를 포함할 수 있으며, 보다 자세히 센서허브(120)는 AP(110)의 일부 컴포넌트(component)로 배치될 수 있다. 이와 같이 배치될 경우 AP(110)가 슬립 상태에 있는 경우에도 센서허브(120)를 포함하는 컴포넌트는 동작 상태에 있을 수 있으며, 센서허브(120)에 특정 선호가 입력될 경우 센서허브(120)는 AP(110)에 웨이크 업 신호를 보낼 수 있다.
도 2는 실시 예에 따른 센서 유닛의 구성을 나타내는 블록도이다.
도 1 및 2를 참고하면, 센서 유닛(130)은 1개 이상의 센서를 포함할 수 있다.
실시예에서 센서 유닛(130)은 가속도 센서(210)을 포함할 수 있다. 가속도 센서(210)는 단말기(100)에 가해지는 가속도를 측정할 수 있다.
센서 유닛(130)은 또한 자이로스코프 센서(220)을 포함할 수 있다. 자이로 스코프 센서(220)은 단말기(100)의 3차원 움직임을 감지할 수 있다.
실시예에 따라 센서 허브(120)는 센서 샘플링 주기가 경과하고 가속도 센서(210) 및 자이로 스코프 센서(220) 중 하나 이상의 센서에 측정된 단말기의 움직임이 기 설정값의 범위에 있거나 지난 주기에 비해서 변화하는 변화량이 기설정 값의 범위에 있을 경우 다음 센서 샘플링 주기를 변경할 수 있다. 보다 자세히 단말기(100)으 움직임이 더 커진 것으로 감지될 경우 센서 허브(120)은 센서 샘플링 주기를 보다 짧게 할 수 있다.
센서 유닛(130)은 자기장의 변화를 측정할 수 있는 자기 센서(230) 및 기압의 변화를 측정할 수 있는 기압계 센서(240) 중 하나 이상을 포함할 수 있다. 실시 예에 따라 자기 센서(230)가 측정한 자기장의 변화가 기 설정 범위에 있거나 기압계 센서(240)가 측정한 기압의 변화가 기 설정 값 범위에 있을 경우 센서 샘플링 주기를 변경할 수 있다.
센서 유닛(130)은 단말기(100)주변의 조도를 측정하고, 측정된 조도를 기반으로 단말기에 근접한 물체가 있는지 및 근접한 물체의 거리를 측정할 수 있는 근접조도 센서(250)를 포함할 수 있다. 상기 근접조도 센서(250)가 측정한 측정값이 기설정 값의 범위에 해당할 경우 센서 허브(120)는 센서 샘플링 주기를 변경할 수 있다. 또한 센서 허브(250)는 근접 조도 센서(250)가 측정한 조도 정보를 AP(110)에 송신할 수 있다.
실시예에 따라 센서 허브(120)는 조도 정보를 웨이크 업 신호와 함께 AP(110)에 송신함으로써 AP(110)는 웨이크 업 이후에 작동에 상기 조도 정보를 참고 할 수 있다. 한편 근접조도 센서(250)외의 타 센서가 측정한 값도 센서 허브(120)가 AP(110)에 웨이크 업 신호를 송신할 때 함께 전달될 수 있다.
센서 유닛(130)은 단말기 주변의 동작 정보를 인식할 수 있는 동작 인식 센서(260)를 포함할 수 있다. 동작 인식 센서(260)는 사용자의 제스츄어 입력을 수신할 수 있으며 수신된 제스츄어 입력을 기반으로 센서 샘플링 주기를 변경할 수 있다.
센서 유닛(130)은 색 정보를 인식할 수 있는 RGB 센서(270), 온도 정보를 인식할 수 있는 온도 센서(280) 및 적외선 입력을 수신할 수 있는 적외선 센서(290)중 하나 이상을 포함할 수 있다.
센서 유닛(130)에 포함된 센서가 측정된 정보를 기반으로 센서 허브(120)는 센서 샘플링 주기를 변경하거나 AP(110)에 웨이크 업 신호를 송신할 수 있다.
도 3은 실시 예에 따른 센서 허브의 구성을 나타내는 블록도이다.
도 3을 참고하면, 센서 허브(120)은 데이터를 저장할 수 있는 저장부(310), 센서 허브(120)의 동작을 제어하는 제어부(320) 및 데이터를 송수신하는 송수신부(330)를 포함할 수 있다.
송수신부(330)는 AP(110) 또는 센서 유닛(130)과 데이터를 송수신 할 수 있다. 보다 구체적으로 AP(110)로부터 단말기(100)에 입력된 사용자 입력 또는 사용자 설정 값을 수신할 수 있고, AP(110)로 웨이크 업 신호를 송신할 수 있다.
또한 송수신부(330)는 센서 유닛(130)으로 제어 신호를 송신할 수 있고, 센서 유닛(130)으로부터 측정된 값을 수신할 수 있다.
저장부(310)는 AP(110) 또는 센서 유닛(130)으로부터 수신된 측정값 저장할 수 있다. 또한 센서 허브(120)가 센서 샘플링 주기를 변경하는데 기준이 되는 측정값 정보를 저장할 수 있다. 또한 센서 허브(120)에 설정 가능한 센서 샘플링 주기를 저장할 수 있다.
제어부(320)는 저장부(310) 및 송수신부(330)를 제어하며, 송수신부(330)를 통해 수신된 값 및 저장부(310)에 저장된 정보를 기반으로 AP(110) 및 센서 유닛(130)에 송신할 데이터 결정 및 센서 샘플링 주기를 결정할 수 있다.
도 4는 실시 예에 따른 단말기의 구동 방법을 나타내는 순서도이다.
도 1 및 도 4를 참고 하면 단계 410에서 센서 허브(120)은 단말의 상태 값을 저장할 수 있다. 상기 단말의 상태 값은 센서 유닛(130)이 측정한 단말의 상태 값 또는 AP(110)를 통해 수신된 단말의 상태 값 일 수 있다. AP(110)를 통해 수신된 단말의 상태 값은 사용자의 입력 값 또는 CP를 포함하는 타 프로세서로부터 수신된 값일 수 있다. 또한 실시 예에 따라 AP(110)를 통해 사용자의 직접 입력 값을 수신할 수 있다. 센서 허브(120)는 상기 저장된 단말의 상태 값을 기반으로 센서 샘플링 주기를 결정할 수 있다.
단계 420에서 AP(110)은 슬립 상태에 진입할 수 있다. AP(110)가 슬립하는 것은 실시 예에 따라 사용자 입력에 의해 단말기의 작동이 정지되는 경우, 장기간 사용자의 입력이 없는 경우, 센서 허브(120)가 수신한 센서 유닛(130)의 측정 값이 특정 범위에 해당할 경우 및 전력 소비를 줄여야 하는 경우 중 하나 이상일 수 있다. AP(110)가 슬립 상태에 들어갈 경우 AP(110)를 통해 구동되는 연산의 대부분은 실행되지 않으며 소비되는 전력이 줄어들게 된다. AP(110)는 웨이크 업 신호를 수신하는 모듈만을 동작 상태에 둘 수 있으며 상기 웨이크 업 신호가 수신될 경우 슬립 상태에서 구동하지 않았던 모듈을 다시 구동시킬 수 있다. AP(110)가 슬립 상태로 진입할 경우 센서 허브(120) 역시 슬립 상태에 진입할 수 있다.
단계 430에서 센서 허브(120)은 웨이크 업 하고, 단계 440에서 센서 허브(120)는 센서 유닛(130)을 제어하여서 센서 유닛(130)이 측정한 측정 값을 수신할 수 있다. 센서 유닛(130)이 측정한 측정 값은 단말기의 상태 정보일 수 있다.
단계 450에서 센서 허브(120)는 AP(110)가 웨이크 업 상태인지 판단할 수 있다. AP(110)는 센서 허브(120)의 웨이크 업 신호에 의해 웨이크 업 상태가 될 수 있다. 또한 실시 예에 따라 CP와 같은 단말기의 구성요소로부터 웨이크 업 신호를 수신하여 웨이크 업 상태가 될 수도 있다. 판단 결과 AP(110)가 웨이크 업 상태일 경우 단계 410으로 가서 단말기의 상태 값을 저장하고 통상 구동 절차를 반복하게 된다.
판단 결과 AP(110)가 웨이크 업 상태가 아닐 경우 센서 허브(120)는 단계 460에서 센서 허브(120)은 단계 440에서 수신된 센서 유닛(130)의 측정 값을 기반으로 상태 값을 결정할 수 있다. 상기 상태 값은 센서 허브(120)가 슬립 상태에서 센서 유닛(130)로부터 측정 값을 수신하는 주기를 포함할 수 있다. 상기 측정 값을 수신하는 주기를 센서 샘플링 주기라 할 수 있다. 상기 센서 유닛(130)의 측정 값을 기반으로 센서 샘플링 주기를 결정함으로써 단말기 주변 상태에 따라 샘플링 주기를 선택적으로 조절할 수 있다. 이로써 전력소비 절감과 단말기의 반응성 향상을 가지고 올 수 있다.
실시 예에서 센서 허브(120)은 센서 유닛(130)의 측정 값에 따라 센서 샘플링 주기를 결정 할 수 있다. 센서 유닛(130)이 측정한 측정 값에 따라 단말기(100)에 사용자 입력이 자주 없을 것으로 예상될 경우 센서 허브(120)는 상기 센서 샘플링 주기를 길게 할 수 있다. 또한 가까운 시간에 사용자의 입력이 예상되거나, 센서 유닛(130)의 측정 값의 변화가 심할 경우 상기 센서 샘플링 주기를 보다 짧게 할 수 있다.
단계 470에서 센서 허브(120)는 슬립 상태에 진입하게 된다. 단계 480에서 센서 허브(120)는 단계 460에서 결정된 센서 샘플링 주기시간이 경과하였을 경우 단계 430으로 진행하여 웨이크 업 하고 센서 유닛(130)으로부터 측정 값을 수신할 수 있다. 센서 샘플링 주기가 경과하지 않은 경우 센서 허브(120)는 슬립 상태를 유지하면서 단말기에서 소모되는 전력을 절감할 수 있다.
도 5는 또 다른 실시 예에 따른 단말기의 구동 방법을 나타내는 순서도이다.
도 1 및 도 5를 참고하면 단계 510에서 센서 허브(120)은 사용 상태에 따른 센서 허브(120)의 웨이크 업 주기를 결정할 수 있다. 상기 사용 상태는 센서 유닛(130)이 측정한 측정값 또는 사용자의 입력에 기반할 수 있다. 센서 허브(120)의 웨이크 업 주기는 센서 유닛(130)의 샘플링 주기해 해당하고, 센서 샘플링 주기라 칭할 수 있다. 보다 구체적으로 단말기(100)가 수면 알람 기능을 지원하고 사용자 입력에 의해 수면 알람 기능이 설정 된 경우 센서 허브(120)은 상기 센서 샘플링 주기를 보다 길게 설정할 수 있다. 실시 예에 따라 기존에 센서 샘플링 주기는 20ms로 설정되고 수면 알람 기능이 설정된 경우 센서 샘플링 주기는 200ms로 설정될 수 있다. 또한 알람 시간에 인접하였을 경우 단말기(100)가 보다 주면의 상황을 민감하게 측정하여야 하고 이때 센서 샘플링 주기를 다시 20ms로 결정할 수 있다. 이와 같은 실시 예에서 상기 사용 상태는 알람 설정 시각일 수 있다.
단계 520에서 센서 허브(120)은 슬립 상태에 진입하게 되고 단계 510에서 결정된 센서 샘플링 시간 동안 슬립 상태로 동작할 수 있다. 슬립 상태에서 센서 허브(120)는 센서 샘플링 주기의 경과를 판단할 수 있는 최소한의 기능만 동작하고 이외의 기능은 작동하지 않고, 이와 같이 동작함으로써 전력 소비를 최소화 할 수 있다.
단계 530에서 센서 허브(120)는 AP(110)이 웨이크 업 하였는지 판단할 수 있다. 실시 예에 따라 AP(110)의 웨이크 업 여부는 AP(110)로부터 수신된 신호로부터 판단할 수 있다. AP(110)는 제어 신호를 송신하여 센서 허브(120)를 웨이크 업 상태로 동작하게 할 수 있다.
AP(110)가 웨이크 업 되는 상황은 실시 예에 따라 사용자의 입력에 의한 웨이크 업 및 CP의 동작에 의한 웨이크 업 중 하나 이상의 상황일 수 있다.
실시 예에 따라 AP(110)는 슬립 상태에서 센서허브(120)가 송신하는 웨이크 업 신호에의 웨이크 업 할 수 있다. 또한 AP(110)는 단말기(100)의 다른 구성요소로부터 수신되는 웨이크 업 신호를 기반으로 웨이크 업 할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, AP(110)는 단말기에서 전화 관련 동작을 하는 CP로부터 웨이크 업 신호를 수신할 수 있다. 상기 CP는 AP(110)가 슬립 상태로 동작하는 경우에도 동작할 수 있으므로 단말기(100)외부로부터 호 요청(call request)를 포함하는 신호를 수신할 경우 상기 콜 프로세서는 AP(110)에 웨이크 업 신호를 송신할 수 있다.
AP(110)가 웨이크 업 된 경우 단계 570에서 센서 허브(120)는 그동안 측정된 센서 유닛(130)의 측정값 또는 AP(110)으로부터 수신된 웨이크 업 신호를 기만으로 센서 샘플링 주기를 다시 결정할 수 있다. 이후 AP(110)가 웨이크 업 상태로 동작할 때 센서 허브(120)는 센서 유닛(130)의 측정 값을 수신하여 저장하고, AP(110)에 송신하는 동작을 할 수 있다.
AP(110)가 웨이크 업 하지 않은 경우 단계 540에서 센서 허브(120)는 상기 결정된 센서 샘플링 시간이 경과할 때까지 슬립 상태로 구동된다.
상기 결정된 센서 샘플링 시간이 경과한 경우 단계 550에서 센서 허브(120)는 슬립 상태에서 웨이크 업 상태로 구동되게 되고, 센서 유닛(130)을 제어하여 센서 유닛(130)에 포함된 적어도 하나의 센서로부터 측정값을 수신할 수 있다.
또한 센서 허브(120)는 수신된 상기 측정값을 기반으로 센서 샘플링 주기를 다시 결정 할 수 있다. 실시 예에 따라 수신된 상기 측정값의 변화 량이 기 설정 값 이하일 경우 센서 샘플링 주기를 보다 길게 결정할 수 있으며, 변화 량이 다른 기 설정 값 이상일 경우 센서 샘플링 주기를 보다 짧게 결정할 수 있으며, 기 설정 범위 이내일 경우 센서 샘플링 주기를 동일하게 결정할 수 있다.
단계 560에서 센서 허브(120)는 단계 550에서 수신된 상기 측정값을 기반으로 AP(110)를 웨이크 업 해야 하는지 판단할 수 있다. 센서 허브(120)는 단계 550에서 수신된 측정 값이 기 설정된 범위에 해당하거나, 상기 수신된 측정값의 변화량이 기 설정된 범위에 해당하는 경우에 AP(110)를 웨이크 업 하게 된다.
AP(110)를 웨이크 업 하도록 결정 할 경우, 센서 허브(120)는 상기 수신된 측정값을 포함하는 웨이크 업 신호를 AP(110)에 송신할 수 있다. 이 경우 단계 570으로 진행하여 AP(110)를 웨이크 업 하고, 수신된 상기 측정값을 기반으로 센서 샘플링 주기를 다시 결정할 수 있다.
센서 허브(120)가 AP(110)을 웨이크 업이 필요 없다고 판단할 경우 단계 520으로 진행하여 정해진 센서 샘플링 주기 동안 센서 허브(120)은 슬립 상태로 동작한다.
본 발명이 속하는 기술분야의 통상의 지식을 가진 자는 본 발명이 그 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시 예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 한다. 본 발명의 범위는 상기 상세한 설명보다는 후술하는 특허청구의 범위에 의하여 나타내어지며, 특허청구의 범위의 의미 및 범위 그리고 그 균등 개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.
한편, 본 명세서와 도면에는 본 발명의 바람직한 실시 예에 대하여 개시하였으며, 비록 특정 용어들이 사용되었으나, 이는 단지 본 발명의 기술 내용을 쉽게 설명하고 발명의 이해를 돕기 위한 일반적인 의미에서 사용된 것이지, 본 발명의 범위를 한정하고자 하는 것은 아니다. 여기에 개시된 실시 예 외에도 본 발명의 기술적 사상에 바탕을 둔 다른 변형 예들이 실시 가능하다는 것은 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 자명한 것이다.
100 : 단말기
110 : 애플리케이션 프로세서(Application Processor, AP)
120 : 센서 허브
130 : 센서 유닛

Claims (20)

1개 이상의 센서 및 센서 허브를 포함하는 단말기에서 상기 센서 허브를 통한 제어 방법에 있어서,
단말기의 상태 정보를 수신하는 단계;
수신된 상기 상태 정보를 기반으로 센서 샘플링 주기를 결정하는 단계; 및
상기 결정된 센서 샘플링 주기에 따라서 상기 1개 이상의 센서로부터 측정값을 수신하는 단계를 포함하는 제어방법.
제1항에 있어서,
상기 상태 정보를 수신하는 단계는
상기 1개 이상의 센서로부터 측정된 단말기의 상태 정보를 수신하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 제어방법.
제1항에 있어서,
상기 측정값을 수신하는 단계는
상기 센서 샘플링 주기 동안 상기 센서 허브를 슬립(sleep)상태로 유지하고 상기 센서 샘플링 주기가 경과한 후 상기 1개 이상의 센서 중 적어도 하나로부터 측정값을 수신하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 제어방법.
제1항에 있어서,
상기 수신된 측정값을 기반으로 상기 센서 샘플링 주기를 업데이트 하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 제어방법.
제1항에 있어서,
상기 수신된 측정값 중 적어도 하나가 기 설정된 범위에 있을 경우 애플리케이션 프로세서(Application Processor, AP)에 웨이크 업(Wake-up) 신호를 송신하는 단계를 더 포함하는 제어방법.
제5항에 있어서,
상기 웨이크 업 신호를 송신하는 단계는 상기 수신된 측정값 정보를 AP에 송신하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 제어방법.
제1항에 있어서,
상기 센서 샘플링 주기를 결정하는 단계는
수신된 상기 단말기의 상태 정보에 따라 각 센서에 따라 각기 센서 샘플링 주기를 다르게 결정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 제어방법.
제1항에 있어서,
상기 상태 정보를 수신하는 단계는 애플리케이션 프로세서(Application Processor, AP)로부터 단말기의 상태 정보를 수신하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 제어방법.
제8항에 있어서,
상기 센서 샘플링 주기가 결정된 이후 소정의 시간이 경과할 경우 상기 센서 샘플링 주기를 변경하는 단계를 더 포함하며,
상기 소정의 시간은 상기 AP로부터 수신된 단말기의 상태 정보를 기반으로 결정되는 것을 특징으로 하는 제어방법.
단말기의 상태 정보를 측정하는 1개 이상의 센서; 및
상기 1개 이상의 센서를 제어하는 센서 허브를 포함하며
상기 센서 허브는 상기 단말기의 상태 정보를 수신하며, 수신된 상기 상태정보를 기반으로 센서 샘플링 주기를 결정하며, 상기 결정된 센서 샘플링 주기에 따라 상기 1개 이상의 센서로부터 측정값을 수신하는 것을 특징으로 하는 단말기.
제10항에 있어서,
상기 센서 허브는 상기 1개 이상의 센서로부터 상기 단말기의 상태 정보를 수신하는 것을 특징으로 하는 단말기.
제10항에 있어서,
상기 센서 허브는 상기 센서 샘플링 주기 동안 상기 센서 허브를 슬립(sleep)상태로 유지하고 상기 상기 센서 샘플링 주기가 경과 한 후 상기 1개 이상의 센서 중 적어도 하나로부터 측정값을 수신하는 것을 특징으로 하는 단말기.
제10항에 있어서,
상기 센서 허브는 상기 수신된 측정값을 기반으로 상기 센서 샘플링 주기를 업데이트 하는 것을 특징으로 하는 단말기.
제10항에 있어서,
단말기의 동작을 제어하는 애플리케이션 프로세서(Application Processor, AP)를 더 포함하며
상기 센서허브는 상기 수신된 측정값 중 적어도 하나를 기반으로 상기 AP에 웨이크 업(Wake-up) 신호를 송신하는 것을 특징으로 하는 단말기.
제14항에 있어서,
상기 센서허브는 단계는 상기 수신된 측정값 중 적어도 하나를 AP에 송신하는 것을 특징으로 하는 단말기.
제10항에 있어서,
상기 센서 허브는 상기 단말기의 상태 정보에 따라 각 센서에 따라 각기 센서 샘플링 주기를 다르게 결정하는 것을 특징으로 하는 단말기.
제10항에 있어서,
상기 센서허브는 애플리케이션 프로세서(Application Processor, AP)로부터 단말기의 상태 정보를 수신하는 것을 특징으로 하는 단말기.
제17항에 있어서,
상기 센서허브는 상기 센서 샘플링 주기가 결정 이후 상기 상기 AP로부터 수신된 단말기의 상태 정보를 기반으로 결정된 소정의 시간이 경과할 경우 상기 센서 샘플링 주기를 변경하는 것을 특징으로 하는 단말기.
제10항에 있어서,
상기 1개 이상의 센서는,
가속도 센서, 자이로스코프 센서, 자기 센서, 기압계 센서, 근접조도 센서, 동작 인식 센서, RGB센서, 온도 센서 및 적외선 센서 중 하나 이상을 포함하는 것을 특징으로 하는 단말기.
1개 이상의 센서를 제어하는 센서 허브에 있어서,
상기 1개 이상의 센서로부터 측정 값을 수신하는 송수신부;
상기 수신된 측정값을 기반으로 상기 센서를 샘플링하는 센서 샘플링 주기를 결정하는 제어부를 포함하는 센서 허브.
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