KR20130031143A

KR20130031143A - 토스터

Info

Publication number: KR20130031143A
Application number: KR1020110094894A
Authority: KR
Inventors: 김상식; 조경아; 임기주
Original assignee: 고려대학교 산학협력단
Priority date: 2011-09-20
Filing date: 2011-09-20
Publication date: 2013-03-28

Abstract

본 발명의 일 실시예에 따른 토스터는 피조리물의 삽입 또는 인출을 위한 슬롯이 제공되며, 투명하게 형성되는 관찰부를 구비하는 몸체부; 상기 슬롯에 삽입된 상기 피조리물을 가열하기 위해 상기 피조리물의 적어도 일측에 배치되며, 제1 면과 제2 면을 구비하는 베이스, 상기 제1 면의 소정 영역에 적층되고 다수의 도전성 나노 파티클이 물리적으로 연계(necking)된 발열층 및 상기 발열층을 보호하는 보호층을 구비하는 발열부; 및 상기 발열부와 상기 몸체부 사이에 배치되어 상기 피조리물을 조리하기 위한 열이 상기 몸체부로의 전달을 차단하는 단열부;를 포함하며, 상기 발열부 및 상기 단열부는 상기 관찰부를 통해 상기 피조리물의 가열정도가 관찰되도록 투명하게 형성될 수 있다.

Description

토스터{Toaster}

본 발명은 토스터에 관한 것으로, 보다 상세하게는 피조리물인 식빵 등을 굽는 동안 식빵의 상태를 외부에서 용이하게 확인가능하도록 하는 토스터에 관한 것이다.

일반적으로 빵을 굽는 장치, 즉, 토스터는 여러 종류가 있다.

예를 들어, 빵을 만드는 용도로 사용되는 오븐 형태의 토스터부터 단지 식빵과 같이 기존에 만들어진 빵을 살짝 구워서 먹을 수 있도록 하는 토스터 등 다양하다.

그런데, 오븐 형태의 토스터는 밀가루 반죽을 이용하여 빵을 만들 수도 있는 등 장점이 많기는 하나 비교적 비싼 편이어서, 직접 빵을 만들 필요는 없고 단지 식빵과 같이 이미 만들어진 빵을 구워서 먹고자 하는 사람들은 이미 만들어진 빵을 살짝 굽는 형태의 토스터를 많이 이용하고 있다.

이러한 토스터는 몸체에 식빵을 삽입 또는 인출할 수 있는 구멍이 형성되어 있고, 상기 구멍을 통해 삽입되는 식빵의 양측에 식빵을 굽기 위한 가열수단이 마련되어 있다.

그리고, 토스터의 종류에 따라 상기 식빵을 자동으로 인출할 수 있는 인출수단이 제공되기도 하며, 또한 일정한 시간 후 자동으로 가열수단을 정지시키기 위한 타이머 등이 마련되어 있다.

또한, 종래의 토스터는 식빵을 토스토 몸체의 구멍에 삽입한 후 타이머를 세팅하면 타이머가 초기상태로 리턴되는 동안 가열수단이 가열되어 식빵이 먹기 좋은 상태로 굽게 된다.

그러면, 인출수단을 통해 수동 또는 자동으로 인출이 이루어지고, 사용자는 편리하게 토스터를 사용하여 식빵을 구울 수 있다.

그러나, 종래의 토스터는 식빵을 굽는 과정에서 실제 식빵이 구워지는 상태를 외부에서 확인할 수 없다는 문제가 있다.

상기와 같은 문제점은 토스터의 외장 케이스의 특성, 즉, 종래의 토스터의 외장 케이스가 금속 또는 불투명의 플라스틱으로 형성되기 때문에 발생될 수 있다.

또한, 상기와 같은 문제점은 토스터의 외장 케이스 뿐만 아니라, 식빵을 가열하는 가열수단의 한계로 인하여 부딪치는 문제이기도 하다.

따라서, 토스터를 구성하는 구성요소를 개선하여 사용자의 식성에 따라 실제 식빵의 구워진 상태를 실시간으로 확인할 수 있도록 하는 연구가 시급한 실정이다.

본 발명의 목적은 피조리물인 식빵이 발열부에 의해 구워진 상태를 실시간으로 확인할 수 있으며, 상기 발열부가 단시간에 충분히 발열되도록 함으로써 소비전력을 절감시킬 수 있도록 하는 토스터를 제공하는 것이다.

본 발명의 일 실시예에 따른 토스터의 상기 나노 파티클은 산화물 반도체 물질로 형성될 수 있다.

본 발명의 일 실시예에 따른 토스터의 상기 나노 파티클은 ZnO, SnO, MgO, InO 중의 적어도 어느 하나의 산화물과 실리카 중의 적어도 어느 하나로 형성될 수 있다.

본 발명의 일 실시예에 따른 토스터의 상기 산화물은 In, Sb, Al, Ga, C, Sn 중 적어도 어느 하나인 도펀트를 포함할 수 있다.

본 발명의 일 실시예에 따른 토스터의 상기 발열층과 베이스의 사이에는 상호 연계된 다수의 나노 파티클을 포함하는 접착력 강화층이 더 구비될 수 있다.

본 발명의 일 실시예에 따른 토스터의 상기 단열부는 내열성이 100℃이상이고, 강도가 49MPa이상이며, 굴곡탄성율이 2.4GPa을 구비하는 수지일 수 있다.

본 발명의 일 실시예에 따른 토스터의 상기 단열부는 실리카 에어로겔 판재 또는 유리에 실리카 에어로겔 용액을 코팅해서 형성될 수 있다.

본 발명의 일 실시예에 따른 토스터의 상기 몸체부와 상기 단열부는 소정거리 이격되어 형성될 수 있다.

본 발명의 일 실시예에 따른 토스터의 상기 몸체부는 상기 슬릿을 개폐하도록 커버를 구비할 수 있다.

본 발명의 일 실시예에 따른 토스터의 상기 커버는 일측이 상기 몸체부와 힌지 결합에 의해 회동 가능할 수 있다.

본 발명의 일 실시예에 따른 토스터는 상기 몸체부의 하측에 형성된 개구부를 통해 삽탈 가능하게 구비되어 상기 피조리물의 부스러기를 수집하는 수집부;를 더 포함할 수 있다.

본 발명에 따른 토스터는 피조리물을 굽기 위한 발열부의 발열 시간을 최소로 하여 소비전력을 절감시킬 수 있다.

또한, 피조리물이 발열부에 의해 구원진 상태를 실시간으로 확인 가능할 수 있다.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 토스터를 도시한 개략 사시도.
도 2은 본 발명의 일 실시예에 따른 토스터를 도시한 개략 분해 사시도.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 토스터에 제공되는 발열부, 단열부 및 관찰부의 배치를 도시한 개략 단면도.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 토스터에 제공되는 발열부의 변형가능한 실시예를 도시한 개략 단면도.
도 5은 본 발명의 다른 일 실시예에 따른 토스터를 도시한 개략 사시도.
도 6은 본 발명의 또 다른 일 실시예에 따른 토스터를 도시한 개략 사시도.

이하에서는 도면을 참조하여 본 발명의 구체적인 실시예를 상세하게 설명한다. 다만, 본 발명의 사상은 제시되는 실시예에 제한되지 아니하고, 본 발명의 사상을 이해하는 당업자는 동일한 사상의 범위 내에서 다른 구성요소를 추가, 변경, 삭제 등을 통하여, 퇴보적인 다른 발명이나 본 발명 사상의 범위 내에 포함되는 다른 실시예를 용이하게 제안할 수 있을 것이나, 이 또한 본원 발명 사상 범위 내에 포함된다고 할 것이다.

또한, 각 실시예의 도면에 나타나는 동일한 사상의 범위 내의 기능이 동일한 구성요소는 동일한 참조부호를 사용하여 설명한다.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 토스터를 도시한 개략 사시도이며, 도 2은 본 발명의 일 실시예에 따른 토스터를 도시한 개략 분해 사시도이고, 도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 토스터에 제공되는 발열부, 단열부 및 관찰부의 배치를 도시한 개략 단면도이다.

도 1 내지 도 3를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 토스터(10)는 관찰부(150)를 구비하는 몸체부(100), 피조리물(X)인 식빵을 가열 또는 굽는 발열부(200) 및 단열부(300)를 포함할 수 있다.

몸체부(100)는 본 발명의 일 실시예에 따른 토스터(10)의 외관을 형성할 수 있으며, 일반적으로 상측면에 피조리물(X)인 식빵이 삽입 또는 인출되도록 하는 슬롯(110)이 형성될 수 있다.

또한, 상기 몸체부(100)는 소정의 내부 공간을 형성할 수 있으며, 상기 내부 공간에는 발열부(200) 및 단열부(300)가 배치될 수 있다.

여기서, 상기 슬롯(110)은 피조리물(X)인 식빵의 삽입 또는 인출을 용이하게 하도록 상기 식빵보다 크게 형성될 수 있으며, 다수개의 상기 식빵의 삽입 또는 인출을 할 수 있도록 이격된 열 또는 연속되어 길게 형성된 행으로 형성될 수 있다.

또한, 상기 몸체부(100)는 투명하게 형성되는 관찰부(150)를 구비할 수 있으며, 상기 관찰부(150)는 상기 몸체부(100)의 일면에 부착되는 투명 창일 수 있다.

구체적으로, 상기 관찰부(150)는 도 1 또는 도 2에 도시된 바와 같이 상기 몸체부(100)의 전면부 및 후면부 중 적어도 하나에 부착될 수 있으나, 이에 한정되지 않으며 당업자의 의도에 맞게 다양하게 위치 변경할 수 있다.

상기 관찰부(150)는 유리, 아크릴 등 다양한 재질로 구성될 수 있으며, 외부에서 본 발명에 따른 토스터(10)의 내부, 즉, 식빵이 상기 토스터(10)의 내부 공간에 배치된 후 발열부(200)에 의해 상기 식빵의 구워진 상태를 확인할 수 있을 정도의 빛 투과율을 가지면 된다.

또한, 도 1 또는 도 2에서는 상기 관찰부(150)의 형상을 사각형상으로 도시하였으나, 상기 관찰부(150)는 식빵의 구원진 상태를 외부에서 확인이 가능한 범위내에서 다양하게 변형될 수 있다.

상기 몸체부(100)의 일측면에는 선택적으로 상기 몸체부(100)의 내부 공간으로 식빵을 삽입하거나 상기 내부 공간에서 외부로 유출하도록 하는 레버(120)가 배치될 수 있다.

즉, 상기 레버(120)는 식빵을 지지하는 받침부(130)의 이동을 제어할 수 있으며, 상기 식빵이 상기 받침부(130)에 배치되면 상기 레버(120)를 수동 또는 자동으로 이동시켜 상기 받침부(130)가 상기 몸체부(100)의 내부 공간의 하측으로 이동되게 한다.

여기서, 식빵은 상기 레버(120)에 의한 상기 받침부(130)의 하측 이동에 의해 몸체부(100)의 내부 공간으로 삽입되게 되며, 타임조절버튼(미도시)에 의한 시간 조절에 의해 설정된 시간이 완료되면, 상기 레버(120)는 자동 또는 수동으로 리턴되어 상기 식빵은 상기 몸체부(100)의 외부로 돌출되게 된다.

또한, 상기와 같은 상기 받침부(130)의 일련의 과정은 상기 레버(120)와 연동되는 다양한 통상의 제어수단에 의해 구현될 수 있음을 밝혀둔다.

발열부(200)는 피조리물(X)인 식빵이 슬롯(110)에 삽입되어 몸체부(100)의 내부공간에 배치되면 상기 식빵을 굽기 위한 열을 제공하는 수단일 수 있으며, 상기 관찰부(150)를 통해 식빵의 가열정도가 관찰되도록 투명하게 형성될 수 있다.

구체적으로, 상기 발열부(200)는 제1 몇과 제2 면을 구비하는 베이스(210), 발열층(220) 및 보호층(230)을 구비할 수 있다.

도 3에 도시된 바와 같이, 베이스(210)의 일측면인 제1 면에 발열층(220)과 보호층(230)이 순서대로 적층되어 있으며, 상기 보호층(230)은 상기 발열층(220)을 전기, 물리적으로 보호하는 것으로 절연성 물질로 형성될 수 있다.

상기 발열층(220)은 실리카 또는 산화물반도체 등으로 된 다수의 도전성 나노 파티클이 물리적으로 연계(necking)된 성긴 조직(loose texture) 구조를 가질 수 있다.

이는 발열층(220) 형성을 위한 열처리 조건에 따르는 것으로, 치밀한 조직(Close-Packed Texture)을 가지게 하거나, 완전한 막 상태를 가지게 할 수도 있다.

종래에, 발열체로 사용되던 CNT(carbon nano tube) 물질은 200℃가 되면 물성을 유지 못하는 문제가 있어, 빠른 가열이 힘든 문제가 있지만, 상기 발열층(220)은 400℃ 이상도 견디기 때문에 보다 빠른 가열이 가능하다.

따라서, 본 발명에 따른 발열부(200)는 단시간에 충분히 발열되도록 함으로써 소비전력을 절감시킬 수 있도록 하는 토스터(10)를 제공할 수 있다.

여기서, 상기 발열층(220)은 단일 층으로 형성될 수도 있으나, 다수의 발열층 유닛이 하나로 집적된 적층 구조를 가질 수 있으며, 이는 단일 층의 발열층으로부터 필요한 물리적 특성이나 전기적 특성을 얻을 수 없는 경우에 적용할 수 있다.

한편, 상기 발열층(220)과 베이스(210)의 사이에는 발열층(220)을 베이스(210)에 확고히 고정하기 위한 접착력 강화층(240)이 마련될 수 있다.

상기 접착력 강화층(240)은 도전체로서 전기적 저항을 가지며, 따라서, 발열층(220)의 한 요소로서의 기능을 가질 수 있으나, 상기 접착력 강화층(240)은 선택적인 요소임을 밝혀둔다.

상기 접착력 강화층(240)은 실리카나 폴리머로 형성될 수 있으며, 여기에 도전성 입자, 예를 들어 나노 파티클이 포함될 수 있다.

여기서, 상기 발열층(220) 및 상기 접착력 강화층(240)을 구성하는 상기 나노 파티클은 나노 파티클 분산액으로 스프레이 코팅, 스핀 코팅, 디핑 방법, 브러슁(Brushing) 또는 기타 습식 코팅 방법에 의해 형성될 수 있다.

여기서, 상기 나노 파티클은 도핑 된 산화물 반도체로서 ZnO, SnO, MgO, InO 중의 적어도 어느 하나와 실리카 중 적어도 어느 하나가 이용될 수 있다.

또한, 도펀트로는 In, Sb, Al, Ga, C, Sn 중에 적어도 어느 하나가 이용될 수 있다.

또한, 상기 발열층(220)은 베이스(210)에 나노 파티클 분산액이 코팅된 후 열처리를 하면, 상기 나노 파티클은 소결되어 물리적으로 연계(necking)될 수 있다.

단열부(300)는 피조리물(X)인 식빵을 조리하기 위한 열이 상기 몸체부(100)로의 전달을 차단하도록 발열부(200)와 상기 몸체부(100) 사이에 배치될 수 있다.

구체적으로, 상기 단열부(300)는 상기 발열부(200)와 상기 몸체부(100)에 구비되는 관찰부(150) 사이에 배치될 수 있다.

또한, 상기 단열부(300)는 발열부(200)와 마찬가지로 몸체부(100)에 구비되는 관찰부(150)를 통해 식빵의 가열정도가 관찰되도록 투명하게 형성될 수 있다.

여기서, 상기 단열부(300)는 일예로서 내열 투명 유리일 수 있으며, 이는 열팽창율이 낮고 급격한 온도 변화에도 잘 깨어지지 않으며 연화온도가 보통 유리보다 높은 유리일 수 있다.

다만, 상기 단열부(300)는 내열 투명 유리에 한정되지 않으며, 투명하게 형성되는 동시에 몸체부(100)로의 열의 전달을 차단할 수 있는 수단이면 모두 적용가능할 수 있다.

즉, 실리카 에어로겔 판재나 유리에 실리카 에어로겔 용액을 코팅해서 상기 단열부(300)를 형성할 수도 있다.

구체적으로, 상기 단열부(300)는 내열성이 100℃이상이고, 강도가 49.0MPa이상이며, 굴곡탄성율이 2.4GPa을 갖는 고기능성 수지일 수 있으며, 일명 엔지니어링 플라스틱(이하 엔프라)일 수 있다.

여기서, 상기 엔프라보다 내열성이 높은, 즉, 내열성이 150℃ 이상의 고온에서 장기 사용 가능한 수지를 슈퍼엔지니어링 플라스틱(이하 슈퍼엔프라)이라고 하며, 상기 단열부(300)는 상기 슈퍼 엔프라로 구성될 수도 있다.

또한, 단열부(300)를 구성할 수 있는 상기 엔프라 또는 상기 슈퍼 엔프라는 가열하면 연화 및 유동하여 성형이 가능한 열가소성 또는 가열하면 경화되는 열경화성 중 하나일 수 있다.

여기서, 상기 엔프라 또는 상기 슈퍼 엔프라 중 열가소성 수지는 다시 결정구조의 유무에 따라 결정성 수지와 비결정성 수지로 분류될 수 있으며, 이에 대해서는 이하 상세히 설명하기로 한다.

결정성 수지는 일반적으로 불투명하고 내열성 높으며, 내용제성이 뛰어난 특성이 있다. 또한, 흐름이 양호하고, 박막성형에 적절하며, 내마찰성 및 내마모성이 뛰어나다.

그리고, 접동성이 양호하고 고강성 및 고경도이며, 수축률이 크다는 특성이 있다.

반면에, 비결정성 수지는 투명하나 내용제성이 결정성 수지보다 떨어지며, 유동이 나쁘며, 마모성이 크다는 단점이 있으나, 잘 깨지지 않으며, 수축율이 작다는 특성이 있다.

이하, 상기 엔프라 또는 상기 슈퍼 엔프라를 구성할 수 있는 물질에 대해 상세히 살펴보면, 상기 엔프라 중 결정성 수지로는 Syndiotactic polystyrene(SPS),폴리아미드(Nylon:PA), polyacetal(POM), PBT, 변성 폴리 페닐렌에테르(mPPE), PET 또는 일 수 있으며, 상기 슈퍼 엔프라 중 결정성 수지로는 포리페닐렌 설파이드(PPS), 불소 수지, 폴리에테르에테르케톤(PEEK), 액정 폴리머(LCP), 또는 폴리에테르니트릴(PEN) 일 수 있다.

상기 엔프라 중 결정성 수지 중 하나인 Syndiotactic polystyrene(SPS)는 메타로센촉매를 이용한 신형 엔프라로, 저주파로부터 고주파까지 전기적 특성(유전특성)이 뛰어나며, 내열성(열변형온도250℃ /GF30%), 내약품성, 내가수분해성, 칫수안정성, 도금성, 저비중, 난연성이 뛰어난 특성이 있다.

또한, 나일론이라 불리우는 폴리아미드(PA)는 화학 구조의 종류에 따라 PA 6, PA 66, PA 46, PA 612 등 다양한 종류가 있으며, 내충격성, 내마찰, 마모성, 내약품성(강산, 페놀은 제외), 내유성, 가스차단성 등이 뛰어나고 흡수성이 높다는 특성이 있다.

또한, Polyacetal(POM)는 내피로성, 내마찰, 마모성, 저소음성, 내약품성, 내크리프성, 칫수안정성이 뛰어나며 동시에 기타 물성 밸런스도 좋으며, 흡수성이 다소 약하다는 특성이 있는 수지이다.

또한, Poly Butylene Terephthalate(PBT)는 분자중에 에스테르결합을 가지며, 고강성, 내열성, 내열 노화성, 전기 특성, 내후성, 내약품성, 칫수안정성 및 성형성이 뛰어난 수지일 수 있다.

또한, 변성 폴리 페닐렌에테르(mPPE)은 강성, 내충격성, 내피로성등이 넓은 온도 범위에서 안정한 수지로, 저성형 수축율, 칫수 안정성, 저비중, 저흡수률, 내열수성이 뛰어난 특성이 있다.

또한, 내약품성 면은 산, 알칼리에 강한 측면을 갖지만, 방향족 탄화수소, 할로겐화탄화수소에는 약한 특성이 있다.

여기서, 슈퍼 엔프라 중 결정성 수지 중 하나인 포리페닐렌 설파이드(PPS)는 매우 내열성(열변형온도260℃ 이상)이 높으며, 기계적강도, 강성, 난소성, 전기 특성, 칫수 안정성, 내크리프성이 뛰어난 특성이 있다.

또한, 내약품성은 특히 뛰어나고, 대부분의 산, 알칼리, 유기 용제에 강한 특성이 있으며, 슈퍼 엔프라 중에서는 특히 가격대 성능비가 뛰어난 수지로 사용량이 지속 증가하고 있다.

또한, 불소 수지는 분자중에 불소를 함유하는 수지(PTFE,PFA,FEP,E/TFE,PVDF등)의 총칭일 수 있으며, 내열성, 내한성, 내약품성, 내열 수성, 내후성이 상당히 뛰어나며, 비점착성, 저마찰성, 고주파 특성이 뛰어날 수 있다.

또한, 폴리에테르에테르케톤(PEEK)은 열가소성 수지 중 최고 레벨의 내열성 (연속 사용 온도240℃, 열변형온도300℃/GF30%)을 보유할 수 있으며, 난연성, 저불순물성, 내열수성, 내방사선성, 내약품성, 내피로성도 매우 양호한 특성이 있다.

또한, 액정 폴리머(LCP)는 용융시에 액정성을 나타내는 수지로, 유동성이 지극히 양호하며, 강성, 강도, 성형성 및 흡수률이 낮고 칫수 안정성이 뛰어난 특성이 있다.

또한, 폴리에테르니트릴(PEN)은 열가소성 수지 중 최고 수준의 내열성(연속 사용 온도230℃, 열변형온도330℃/GF30%)을 구비하고 있으며, 강도는 엔프라의 약 2배이며, 난소성, 저불순 물성, 내열수성, 내약품성, 내피로성, 내크리프성 및 접동성도 매우 양호한 특성이 있다.

여기서, 상기 엔프라 또는 상기 슈퍼 엔프라를 구성할 수 있는 물질 중 비결정성 수지에 대해 살펴보면, 상기 엔프라 중 비결정성 수지로는 Poly Carbonate(PC) 또는 Modified Poly Phenyl Ether(mPPE)일 수 있으며, 상기 슈퍼 엔프라 중 비결정 수지로는 폴리설폰(PolySulfon:PSF), 폴리에스테르설폰(PES), 폴리아릴레이트(Poly Arylate:PAR), 폴리 아미드이미드(Poly Amide Imide:PAI), 폴리에테르이미드(Poly Ether Imide:PEI), 폴리이미드(Poly Imide:PI) 일 수 있다.

상기 슈퍼 엔프라 중 비결정 수지 중 하나일 수 있는 폴리설폰(PSF)은 무색투명의 수지로, 내열성 및 내가수분해성이 뛰어나며, 고온에서 산, 알칼리 및 열수에 대해 안정한 특성이 있다.

또한, 내크리프성, 저온 특성, 전기 특성, 난연성 및 칫수안정성이 뛰어난 특성이 있다.

또한, 폴리에테르설폰(PES)는 무색투명의 수지로, 내열성, 내가수분해성, 난연성, 내크리프성이 뛰어나며, 칫수 안정성도 양호하다.

또한, 폴리아릴레이트(PAR)는 내열성(Tg:195℃), 자외선 배리어성, 내충격성, 표면 경도, 내크리프성, 회복굴곡탄성이 뛰어난 특성이 있다.

또한, 폴리 아미드이미드(PAI)는 내열성 (연속 사용 온도250℃), 내충격성, 내피로성, 난연성, 내마찰 마모성, 내약품성, 내스트레스 크랙성이 뛰어나며, 전기 특성도 양호한 특성이 있다.

또한, 폴리에테르이미드(PEI)는 무색투명의 수지로, 내열성, 기계 특성, 난소성, 전기 특성이 뛰어난 특성이 있다.

또한, 폴리이미드(PI)는 열가소성이며, 유기 고분자 중 최고 레벨의 내열성 (연속 사용 온도250℃ 이상)을 구비하며, 난연성, 기계적강도, 내마모성, 내크리프성, 내방사선성, 칫수 안정성이 뛰어난 특성이 있다.

추가로, 단열부(300)를 구성할 수 있는 상기 엔프라 또는 상기 슈퍼 엔프라 중 가열하면 경화되는 열경화성인 수지는 페놀, 요소, 멜라민, 알키드, 불포화 폴리에스텔, 에폭시, 디아릴프탈레이트, 실리콘 및 폴리우레탄 중 적어도 하나일 수 있다.

여기서, 몸체부(100)의 관찰부(150), 단열부(300) 및 발열부(200)의 배치에 대해 살펴보면, 상기 구성요소들은 모두 이격되어 배치되거나 접촉되어 배치될 수 있다.

구체적으로, 상기 단열부(300)와 상기 관찰부(150)는 이격되어 소정의 간격을 형성할 수 있으며, 상기 소정의 간격으로 인해 상기 발열부(200)로부터 방출되는 열이 상기 단열부(300)를 따라 상기 관찰부(150)에 직접적으로 전달되는 것을 방지할 수 있다.

이로써, 사용자가 관찰부(150)에 손을 대는 경우 열에 의한 상처 등의 부작용을 방지할 수 있다.

또한, 상기 구성요소들은 접촉 또는 이격된 상태로 모두 투명할 수 있으므로, 외부에서 관찰부(150)를 통해 피조리물(X)인 식빵의 구워진 상태를 실시간으로 확인할 수 있다.

도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 토스터에 제공되는 발열부의 변형가능한 실시예를 도시한 개략 단면도이다.

도 4를 참조하면, 발열부(200)는 베이스(210) 위에 발열층(220)이 형성되고 그 양측에 전극(250a), 배선(250b), 접속부 또는 단자(250c)를 포함하는 급전부(250)가 마련된다.

도 4에서 급전부(250)를 대표하는 것으로 전극(250a)은 발열층(220)에 직접 접촉되며, 배선(250b)은 외부 회로에 발열층(220)을 연결하며, 단자(250c)는 배선(250b)을 전극(250a)에 안정적으로 고정시킨다.

여기서, 외부 회로는 상기 발열층(220)에 전원을 인가하는 회로일 수 있다.

상기 발열층(220) 위에는 보호층(230)이 마련되는데, 이는 발열층(220) 양측의 전극(250a)을 포함하는 급전부(250)를 덮거나 덮지 않을 수 있다.

여기서, 상기 발열층(220)과 베이스(210) 사이에는 앞서 언급한 접착력 강화층(미도시)이 배치될 수 있으며, 상기 발열층(220) 및 상기 접착층 강화층(미도시)은 나노 파티클을 포함할 수 있다.

상기 나노 파티클은 도 1 내지 도 3을 참조로 설명한 바와 동일할 수 있다.

도 5은 본 발명의 다른 일 실시예에 따른 토스터를 도시한 개략 사시도이다.

도 5를 참조하면, 본 발명의 다른 일 실시예에 따른 토스터(10)는 상기 몸체부(100)에 형성된 슬롯(110)을 개폐하도록 하는 커버(140)를 구비할 수 있다.

상기 커버(140)는 일측이 상기 몸체부(100)와 힌지 결합에 의해 회동 가능할 수 있으며, 회동 여부는 자동 또는 수동에 의해 구현될 수 있다.

상기 커버(140)는 슬롯(110)에 피조리물(X)인 식빵을 삽입한 후 몸체부(100)의 내부 공간에 배치되면 상기 슬롯(110)을 덮을 수 있으며, 이로 인해 발열부(200)에 의한 열을 외부로 누설되는 것을 방지할 수 있다.

따라서, 발열부(200)의 열효율을 극대화할 수 있으며, 그만큼 소비전력을 절감할 수 있다.

또한, 본 발명의 다른 일 실시예에 따른 토스터(10)를 사용하지 않는 경우, 상기 커버(140)로 상기 슬롯(110)을 덮어 외부의 이물이 몸체부(100)의 내부 공간으로 유입되는 것을 방지할 수 있다.

여기서, 투명한 몸체부(100)에 형성되는 관찰부(150), 단열부(300) 및 발열부(200)로 인하여 외부에서 관찰부(150)를 통해 피조리물(X)인 식빵의 구워진 상태를 실시간으로 확인할 수 있다.

도 6은 본 발명의 또 다른 일 실시예에 따른 토스터를 도시한 개략 사시도.

도 6을 참조하면, 본 발명의 또 다른 일 실시예에 따른 토스터(10)는 수집부(160)를 구비할 수 있다.

상기 수집부(160)는 상기 몸체부(100)의 하측에 형성된 개구부(170)를 통해 삽탈 가능할 수 있으며, 피조리물(X)인 식빵의 부스러기를 수집하는 구성요소일 수 있다.

여기서, 본 발명에 따른 토스터(10)는 식빵이 구워지는 동안 부스러기가 발생할 수 있으며, 이는 상기 수집부(160)의 내부 공간에 수집된 후, 토스터(10)의 사용이 완료되면, 상기 수집부(160)를 몸체부(100)로부터 인출하여 부스러기를 제거할 수 있다.

여기서, 본 발명의 또 다른 일 실시예에 따른 토스터(10)는 투명한 몸체부(100)에 형성되는 관찰부(150), 단열부(300) 및 발열부(200)로 인하여 외부에서 관찰부(150)를 통해 피조리물(X)인 식빵의 구워진 상태를 실시간으로 확인할 수 있음은 앞선 실시예와 동일하다.

이상의 실시예를 통해, 본 발명에 따른 토스터(10)는 피조리물(X)인 식빵을 굽기 위한 발열부(200)의 발열 시간을 최소로 하여 소비전력을 절감시킬 수 있다.

또한, 피조리물(X)인 식빵이 발열부(200)에 의해 구원진 상태를 실시간으로 확인 가능할 수 있다.

상기에서는 본 발명에 따른 실시예를 기준으로 본 발명의 구성과 특징을 설명하였으나 본 발명은 이에 한정되지 않으며, 본 발명의 사상과 범위내에서 다양하게 변경 또는 변형할 수 있음은 본 발명이 속하는 기술분야의 당업자에게 명백한 것이며, 따라서 이와 같은 변경 또는 변형은 첨부된 특허청구범위에 속함을 밝혀둔다.

10: 토스터 100: 몸체부
110: 슬롯 120: 레버
130: 받침부 140: 커버
150: 관찰부 160: 수집부
200: 발열부 300: 단열부

Claims

피조리물의 삽입 또는 인출을 위한 슬롯이 제공되며, 투명하게 형성되는 관찰부를 구비하는 몸체부;
상기 슬롯에 삽입된 상기 피조리물을 가열하기 위해 상기 피조리물의 적어도 일측에 배치되며, 제1 면과 제2 면을 구비하는 베이스, 상기 제1 면의 소정 영역에 적층되고 다수의 도전성 나노 파티클이 물리적으로 연계(necking)된 발열층 및 상기 발열층을 보호하는 보호층을 구비하는 발열부; 및
상기 발열부와 상기 몸체부 사이에 배치되어 상기 피조리물을 조리하기 위한 열이 상기 몸체부로의 전달을 차단하는 단열부;를 포함하며,
상기 발열부 및 상기 단열부는 상기 관찰부를 통해 상기 피조리물의 가열정도가 관찰되도록 투명하게 형성되는 토스터.
제1항에 있어서,
상기 나노 파티클은 산화물 반도체 물질로 형성되는 토스터.
제1항 또는 제2항에 있어서,
상기 나노 파티클은 ZnO, SnO, MgO, InO 중의 적어도 어느 하나의 산화물과 실리카 중의 적어도 어느 하나로 형성되는 토스터.
제3항에 있어서,
상기 산화물은 In, Sb, Al, Ga, C, Sn 중 적어도 어느 하나인 도펀트를 포함하는 토스터.
제1항에 있어서,
상기 발열층과 베이스의 사이에는 상호 연계된 다수의 나노 파티클을 포함하는 접착력 강화층이 더 구비되는 토스터.
제1항에 있어서,
상기 단열부는 내열성이 100℃이상이고, 강도가 49MPa이상이며, 굴곡탄성율이 2.4GPa을 구비하는 수지인 토스터.
제1항에 있어서,
상기 단열부는 실리카 에어로겔 판재 또는 유리에 실리카 에어로겔 용액을 코팅해서 형성되는 토스터.
제1항에 있어서,
상기 몸체부와 상기 단열부는 소정거리 이격되어 형성되는 토스터.
제1항에 있어서,
상기 몸체부는 상기 슬릿을 개폐하도록 커버를 구비하는 토스터.
제9항에 있어서,
상기 커버는 일측이 상기 몸체부와 힌지 결합에 의해 회동 가능한 토스터.
제1항에 있어서,
상기 몸체부의 하측에 형성된 개구부를 통해 삽탈 가능하게 구비되어 상기 피조리물의 부스러기를 수집하는 수집부;를 더 포함하는 토스터.