KR20120122300A - 색차 분석을 이용한 편광판 얼룩 자동 검사방법 - Google Patents

색차 분석을 이용한 편광판 얼룩 자동 검사방법 Download PDF

Info

Publication number
KR20120122300A
KR20120122300A KR1020110040370A KR20110040370A KR20120122300A KR 20120122300 A KR20120122300 A KR 20120122300A KR 1020110040370 A KR1020110040370 A KR 1020110040370A KR 20110040370 A KR20110040370 A KR 20110040370A KR 20120122300 A KR20120122300 A KR 20120122300A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
polarizing plate
data
color difference
polarizing
inspected
Prior art date
Application number
KR1020110040370A
Other languages
English (en)
Other versions
KR101440974B1 (ko
Inventor
이종근
나균일
Original Assignee
주식회사 엘지화학
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 엘지화학 filed Critical 주식회사 엘지화학
Priority to KR1020110040370A priority Critical patent/KR101440974B1/ko
Priority to JP2012094553A priority patent/JP5645142B2/ja
Priority to US13/457,078 priority patent/US8625095B2/en
Publication of KR20120122300A publication Critical patent/KR20120122300A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR101440974B1 publication Critical patent/KR101440974B1/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/94—Investigating contamination, e.g. dust
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/21—Polarisation-affecting properties
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/958—Inspecting transparent materials or objects, e.g. windscreens
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1306—Details
    • G02F1/1309—Repairing; Testing

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Polarising Elements (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)

Abstract

본 발명은 색차 분석을 이용한 편광판 얼룩자동 검사 방법에 관한 것으로, (a) 적어도 1장의 기준 편광판에 피검사 편광판 또는 편광소자를 장착하는 단계; (b) 상기 피검사 편광판 또는 편광소자에 광을 조사하는 단계; (c) 상기 피검사 편광판 또는 편광소자를 촬영하는 단계; 및 (d) 상기 (c) 단계에서 촬영된 화상으로부터 추출된 데이터를 이용하여 각 화소의 색차를 연산하고, 상기 연산된 색차 데이터를 이용하여 얼룩의 정도를 수치화하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.

Description

색차 분석을 이용한 편광판 얼룩 자동 검사방법{Automatic inspection method for stain in the polarizing plate using color difference analysis}
본 발명은 편광판 얼룩 자동 검사 방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 색차 분석을 이용하여 편광판의 얼룩 정도를 객관적으로 판별할 수 있고, 생산 라인에서 편광판 불량 여부를 실시간으로 모니터링할 수 있을 뿐 아니라, 재단 후 편광판 품질 검사가 자동으로 실시될 수 있도록 고안된 편광판 얼룩 자동 검사 방법에 관한 것이다.
편광판은 액정 표시 소자에 특정 편광방향을 갖는 빛을 투과시키기 위해 사용되는 광학 소자를 말한다. 일반적으로 편광판은 PVA(폴리비닐알코올, Polyvinyl alcohol)필름을 염색, 가교, 연신하여 제조된다.
종래의 일반적인 편광판 공정은 PVA 필름을 요오드 또는 염료로 염착하는 단계, 붕산 등을 첨가하여 요오드 또는 염료를 PVA 필름에 가교시키는 단계, PVA 필름을 연신시키는 단계로 이루어지며, 이때 상기 염착, 가교, 연신 단계는 개별적으로 진행될 수도 있고, 동시에 진행될 수도 있을 뿐 아니라, 이들 각각의 단계들의 순서 역시 고정적이지 않다. PVA 필름의 염착, 가교, 연신 단계가 완료된 다음, 이를 건조시킴으로써 PVA 소자가 만들어진다. 이와 같이 제조된 PVA 소자의 일면 또는 양면에 PVA 접착제 등을 이용하여, TAC (트리아세틸 셀루로오스, Triacetyl Cellulose) 필름과 같은 보호 필름을 접착시킴으로써 편광판이 완성된다.
그런데 이와 같이 제조된 편광판은 제조 공정에서의 불균일한 염착 또는 접착불량 등의 여러 가지 원인에 의해 편광판의 연신 방향(MD: machine direction)으로 줄무늬 얼룩이 발생하는 경우가 존재하게 되며, 이러한 얼룩이 심하면 화면의 밝기가 불균일하여, 최종 제품의 불량이 야기되는 문제가 발생한다. 따라서, 편광판의 얼룩 정도를 측정하고, 불량품을 선별하는 선별 작업이 요구된다. 일반적으로 편광판의 얼룩 검사는 검사자의 육안 관찰에 의해 이루어지는데, 이러한 방법은 검사자의 주관에 따라 제품의 불량 정도가 판별되므로 균일한 품질의 제품을 생산해내기 어렵다는 문제점이 있다.
따라서, 최근 편광판의 얼룩 정도를 수치화하는 방법이 모색되고 있으며, 그 모색의 결과 a) 흡수축이 평행한 기준 편광판 사이에 피검사 편광판의 흡수축이 기준편광판의 흡수축과 직교하도록 피검사 편광판을 장착하고, b) 상기 피검사 편광판을 향하여 광을 조사한 상태에서 피검사 편광판을 촬영하여 얻은 데이터 중 명암데이터를 활용하여 편광판 얼룩을 수치적으로 정량화하고, 이를 통해 편광판의 얼룩을 객관적으로 검사할 수 있도록 개발된 편광판 얼룩 검사방법을 제시한 바 있다.
그러나, 이러한 기술의 경우, 기준 편광판과 피검사 편광판의 흡수축이 직교하므로 피검사 편광판을 투과하는 광량이 극히 작아 분석 가능한 영상 데이터를 얻기 위해서는 촬상장치의 노출시간이 상대적으로 길어지며, 과한 노출 시간으로 인해 촬영 화상으로부터 추출한 RGB 데이터를 이용하여 얻어진 얼룩 형태와 육안에 의해 관찰되는 얼룩 형태 사이에 차이가 생기는 문제가 있었다. 또한, 종래 기술의 경우 촬영한 화상으로부터 추출한 데이터 중 명암데이터를 계산하여 얼룩을 수치화하므로, 미세한 색상차이로 인한 얼룩은 확인하기 어렵다는 한계가 있었다.
따라서, 상술한 문제점을 해결할 수 있는, 편광판의 얼룩 정량화 및 자동 검사 방법의 개발이 요구되었다.
본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로, 피검사 편광판을 촬영한 영상을 분석가능한 영상 데이터로 처리하는 공정이 필요 없고, 촬영된 영상 데이터를 분석하여 실제 얼룩 형태와 차이가 없는 결과를 얻을 수 있는 색차 분석을 이용한 편광판 얼룩 자동 검사방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.
이를 위해 본 발명은, 일 측면에서, (a) 적어도 1장의 기준 편광판에 피검사 편광판 또는 편광소자를 장착하는 단계; (b) 상기 피검사 편광판 또는 편광소자에 광을 조사하는 단계; (c) 상기 피검사 편광판 또는 편광소자를 촬영하는 단계; 및 (d) 상기 (c) 단계에서 촬영된 화상으로부터 추출된 데이터를 이용하여 각 화소의 색차를 연산하고, 상기 연산된 색차 데이터를 이용하여 얼룩의 정도를 수치화하는 단계를 포함하는 색차 분석을 이용한 편광판 얼룩 자동 검사방법을 제공한다.
여기서, 상기 (a) 단계의 기준 편광판은 적어도 2장이 바람직하고, 상기 적어도 2장의 기준 편광판의 흡수축은 서로 평행함이 바람직하다.
한편, 상기 (a) 단계의 피검사 편광판 또는 편광소자는 상기 기준 편광판 상에 장착될 수 있으며, 바람직하게는 상기 적어도 2장의 기준 편광판 사이에 장착된다.
상기 장착된 피검사 편광판 또는 편광소자(30)에 대한 휘도가 바람직하게는 2.5 내지 20 니트(nit)가 되도록, 보다 바람직하게는 2.5 내지 15 니트(nit)가 되도록, 가장 바람직하게는 5 내지 10 니트(nit)가 되도록 상기 피검사 편광판 또는 편광소자는 그 흡수축이 상기 기준 편광판의 흡수축과 기울어져 장착될 수 있다.
한편, 상기 (b) 단계와 (c) 단계 사이에, 상기 피검사 편광판 또는 편광소자의 흡수축이 상기 기준 편광판의 흡수축과 기울어지도록 상기 피검사 편광판 또는 편광소자를 회전시키는 회전 단계를 더 포함할 수 있으며, 이 때, 상기 장착된 피검사 편광판에 대한 휘도가 바람직하게는 2.5 내지 20 니트(nit)가 되도록, 보다 바람직하게는 2.5 내지 15 니트(nit)가 되도록, 가장 바람직하게는 5 내지 10 니트(nit)가 되도록 상기 피검사 편광판 또는 편광소자를 회전시킨다.
한편, 상기 (d) 단계는 (d-1) 상기 (c) 단계에서 촬영된 화상으로부터, 상기 화상을 이루는 각 화소의 데이터를 추출하는 단계; (d-2) 상기 (d-1) 단계에서 추출된 데이터로부터 각 화소의 위치를 파악하여 검사영역을 설정하는 단계; (d-3) 상기 (d-2) 단계에서 설정된 검사영역 내에서, 상기 (d-1)에서 추출된 데이터로부터 각 화소의 색 좌표를 파악하여 각 화소의 색차를 연산하는 단계; (d-4) 상기 (d-3) 단계에서 측정된 각 화소의 색차 데이터를 기계방향(MD, machine direction)에 대하여 평균화하는 단계; (d-5) 상기 (d-4) 단계에서 평균화된 값을 횡방향(TD, transverse direction)으로 분석함으로써 최대 색차 진폭 값을 계산하는 단계; 및 (d-6) 상기 (d-5) 단계에서 계산된 최대 색차 진폭값을 기 설정된 얼룩의 정도를 나타내는 수치데이터와 대비하여 얼룩의 정도를 정량화하는 단계를 포함한다.
여기서, 상기 (d-1) 단계에서 추출된 각 화소의 데이터는 RGB 데이터와 위치데이터를 포함함이 바람직하다.
한편, 상기 (d-1) 단계와 상기 (d-2) 단계 사이에, 상기 (d-1) 단계에서 추출된 각 화소의 데이터 중 상기 RGB 데이터의 명암비가 높아지도록 처리하는 데이터 가공단계를 포함할 수 있다.
여기서, 상기 데이터 가공단계는, 상기 (d-1) 단계에서 추출된 각 화소의 데이터 중 상기 RGB 데이터를 색상, 채도 및 명암 데이터로 변환하는 데이터 변환 단계; 상기 변환된 데이터로부터 명암데이터를 분리하여 히스토그램 균등화 처리를 하는 데이터 처리 단계; 및 상기 히스토그램 균등화 처리된 명암데이터와, 상기 색상 및 채도 데이터를 RGB 데이터로 재변환하는 데이터 재변환 단계를 포함한다.
한편, 본 발명의 색차 분석을 이용한 편광판 얼룩 자동 검사방법은 상기 (d) 단계 이후에 상기 (d) 단계에서 수치화된 얼룩의 정도를 가시화하는 단계를 더 포함할 수 있다.
본 발명의 색차 분석을 이용한 편광판 얼룩 자동 검사방법을 이용하면, 사람이 일일이 편광판을 검사하지 않고, 생산 라인에서 실시간으로 편광판의 얼룩 정도를 모니터할 수 있으므로, 품질 관리 능력이 향상되고, 생산 시간이 단축되며, 생산 효율이 향상된다는 장점이 있다.
또한, 본 발명의 색차 분석을 이용한 편광판 얼룩 자동 검사방법은, 촬영시 피검사 편광판의 휘도가 일정 범위 확보되어, 얼룩을 분석하기에 적합한 영상을 용이하게 얻을 수 있다는 장점이 있다.
또한, 본 발명의 색차 분석을 이용한 편광판 얼룩 자동 검사방법은 촬영된 영상으로부터 추출한 데이터를 명암비가 높아지도록 처리함으로써, 보다 정확하게 미세 얼룩을 검출할 수 있다는 장점이 있다.
또한, 본 발명의 색차 분석을 이용한 편광판 얼룩 자동 검사방법은 객관적인 기준을 통해 편광판의 얼룩 정도를 수치화하므로, 제품의 품질이 일정하게 유지된다는 장점이 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 색차 분석을 이용한 편광판 얼룩 자동 검사방법을 설명하기 위한 플로우 차트이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 색차 분석을 이용한 편광판 얼룩 자동 검사방법에 있어서 설정된 검사영역의 일례를 보여주는 도면이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 색차 분석을 이용한 편광판 얼룩 자동 검사방법에 의해 연산된 횡방향(TD, transverse direction)에 따른 색차의 변화를 보여주는 그래프이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 색차 분석을 이용한 편광판 얼룩 자동 검사방법을 적용한 장치의 일례를 보여주는 도면이다.
이하, 도면을 참조하여 본 발명을 보다 구체적으로 설명한다.
다만, 하기 도면들은 본 발명을 보다 잘 이해할 수 있도록 하기 위해 작성된 것으로, 본 발명의 일 실시예에 불과하며, 본 발명이 이에 한정되는 것은 아니다. 또한, 하기 도면에서 동일한 도면 부호는 동일한 구성요소를 나타내며, 원활한 설명을 위해 도면 상에 나타난 구성요소들은 과장, 축소 또는 생략될 수 있음을 밝힌다.
도 1은 본 발명의 색차 분석을 이용한 편광판 얼룩 자동 검사방법의 흐름을 보여주는 플로우 차트이며, 도 2는 본 발명의 색차 분석을 이용한 편광판 얼룩 자동 검사방법에서 설정된 검사영역의 일례를 보여주는 도면이고, 도 3은 본 발명의 색차 분석을 이용한 편광판 얼룩 자동 검사방법에 의해 연산된 횡방향(TD, transverse direction)에 따른 색차의 변화를 보여주는 그래프이며, 도 4는 본 발명의 색차 분석을 이용한 편광판 얼룩 자동 검사방법을 적용한 장치의 일례이다.
도 1 내지 도 4를 참조하면, 본 발명의 색차 분석을 이용한 편광판 얼룩 자동 검사방법은 피검사 편광판 장착 단계(S100), 광 조사 단계(S200), 촬영 단계(S300), 얼룩 정량화 단계(S400)를 포함한다.
상기 피검사 편광판 장착 단계(S100)는, 적어도 1장의 기준 편광판(20)에 피검사 편광판 또는 편광소자(30)를 장착하는 단계이다.
여기서, 상기 기준 편광판(20)은 당해 기술분야에서 일반적으로 사용되는 편광판 또는 편광판 반제품 또는 편광소자 등이 사용될 수 있으며, 예를 들면, 표면코팅이 되어있지 않은 클리어 TAC(Clear TAC) (예를 들면 주식회사 후지필름의 UZ TAC)이 사용된 단체 투과도 41.0~42.5% 사이의 편광판 반제품 등이 사용될 수 있다.
또한, 상기 기준 편광판(20)은 적어도 1장일 수 있으나, 적어도 2장인 것이 보다 바람직하며, 이는, 일반적으로 여러 요인에 의해 편광이 변화될 수 있으므로, 1장의 편광판만으로 흡수축과 평행한 편광성분을 완전히 흡수할 수 없기 때문이다.
여기서, 상기 기준 편광판(20)이 적어도 2장인 경우, 적어도 2장의 기준 편광판(20)의 흡수축은 서로 평행함이 바람직하다. 이는 흡수축이 평행한 적어도 2장의 기준 편광판을 이용하여 기준 편광판의 흡수축과 평행한 편광성분의 흡수를 최대화하고, 피검사 편광판 또는 편광소자의 투과축과 평행한 편광 성분 이외의 성분을 최소화하여 얼룩의 시인성을 향상시킬 수 있기 때문이다.
한편, 상기 피검사 편광판 장착 단계(S100)는, 적어도 1장의 기준 편광판(20) 상에 장착될 수 있으나, 적어도 2장의 기준 편광판(20) 사이에 장착됨이 보다 바람직하다. 이는, 기준 편광판의 흡수축과 평행한 편광성분의 흡수율을 증가시켜 얼룩의 시인성을 향상시키기 위함이다. 일반적으로, 편광은 여러 요인에 의해 변화될 수 있으므로, 편광판의 흡수축과 평행한 편광성분이더라도 편광판을 투과할 수 있기 때문에 1장의 편광판만으로는 흡수축과 평행한 편광성분을 완전히 흡수할 수 없다. 따라서, 적어도 2장의 기준 편광판 사이에 피검사 편광판 또는 편광소자를 장착하여, 기준 편광판의 흡수축과 평행한 편광성분의 흡수를 최대화하고, 피검사 편광판 또는 편광소자의 투과축과 평행한 편광 성분 이외의 성분을 최소화하여 얼룩의 시인성을 향상시키는 것이다.
한편, 피검사 편광판 또는 편광소자(30)는, 광 조사시 그 휘도가 바람직하게는 2.5 내지 20 니트(nit)가 되도록, 보다 바람직하게는 2.5 내지 15 니트(nit)가 되도록, 가장 바람직하게는 5 내지 10 니트(nit)가 되도록, 상기 피검사 편광판 장착 단계(S100)에서 상기 피검사 편광판 또는 편광소자(30)의 흡수축이 상기 기준 편광판(20)의 흡수축과 기울어져 배치되도록 장착할 수 있다. 또는, 상기 광조사 단계(S200)와 상기 촬영단계(300) 사이에, 상기 피검사 편광판 또는 편광소자를 회전시키는 단계를 더 포함함으로써, 상기 장착된 피검사 편광판에 대한 휘도가 바람직하게는 2.5 내지 20 니트(nit)가 되도록, 보다 바람직하게는 2.5 내지 15 니트(nit)가 되도록, 가장 바람직하게는 5 내지 10 니트(nit)가 되도록 상기 피검사 편광판 또는 편광소자(30)를 회전시켜 상기 피검사 편광판 또는 편광소자(30)의 흡수축이 상기 기준 편광판(20)의 흡수축과 기울어지도록 할 수 있다.
여기서, 니트(nit)란 휘도의 단위로서 1cd/m2 또는 0.00001sb의 광도를 가지는 표면 밝기를 말하며, 소정의 휘도 범위를 갖도록 피검사 편광판 또는 편광소자의 흡수축과 기준 편광판의 흡수축을 기울어져 배치시킴은 얼룩 분석이 가능한 화상을 용이하게 얻게 하기 위함이다. 구체적으로 광 조사시 상기 장착된 피검사 편광판 또는 편광소자에 대한 휘도가 2.5 니트(nit) 미만인 경우 피검사 편광판 또는 편광소자를 통과하는 광량이 극히 작아 얼룩 분석이 가능한 화상을 얻기 위해서 상당한 시간이 필요하며, 20 니트(nit)를 초과하는 경우 피검사 편광판 또는 편광소자를 통과하는 광량이 너무 많아져 편광판의 얼룩 형태를 정밀하게 촬영하기 어려워지며, 그 결과 편광판의 얼룩을 정확히 검출하기 어려워지기 때문이다. 또한, 종래와 같이 기준 편광판의 흡수축과 피검사 편광판 또는 편광소자의 흡수축이 직교하여 배치되는 경우 광원으로부터 피검사 편광판을 향해 광을 조사하여도 피검사 편광판을 통과하는 광량이 극히 작아 얼룩 분석하기 위한 화상을 얻는 과정이 오래 걸리게 되기 때문에, 일정한 광량을 확보하도록 기준 편광판의 흡수축과 피검사 편광판 또는 편광소자의 흡수축이 기울어짐이 바람직하다.
다음으로, 상기 광 조사 단계(S200)는, 상기 피검사 편광판 또는 편광소자(30)에 광을 조사하는 단계이다. 이 때, 광 조사에 이용하는 광원 수단(10)은 일반적으로 디스플레이 장치에 사용되는 백라이트 유닛 또는 LED 광원 등이 이용될 수 있으며, 상기 피검사 편광판 또는 편광소자(30)의 하부 즉 피검사 편광판 또는 편광소자(30)의 후면에 위치한다. 또한, 상기 광원 수단(10)의 세기는 상기 피검사 편광판 또는 편광소자의 광 조사 시 2.5 내지 20 니트(nit)가 되도록 설정함이 바람직하다.
다음으로, 상기 촬영 단계(S300)는 상기 피검사 편광판 또는 편광소자를 촬영하는 단계이다. 이 때, 촬영수단(50)은 상기 피검사 편광판 또는 편광소자(30)의 상부 즉 피검사 편광판 또는 편광소자(30)의 전면에 위치하며, 일반 디지털 카메라, CCD 카메라, 고속 카메라 등일 수 있다.
다음으로, 상기 얼룩 정량화 단계(S400)는 상기 촬영단계(S300)에서 촬영된 화상으로부터 데이터를 추출하고, 상기 추출된 데이터를 이용하여 색차를 연산하며, 상기 연산된 색차 데이터를 이용하여 얼룩의 정도를 수치화한다. 이러한 과정은, 일반적으로 컴퓨터 등의 연산수단(60)에서 수행되어진다.
여기서, 상기 얼룩 정량화 단계(S400)는 구체적으로 다음과 같은 순서로 진행된다. 우선, 상기 촬영 단계(S300)에서 촬영된 화상으로부터, 상기 화상을 이루는 각 화소의 데이터를 추출한다. 여기서, 상기 각 화소의 데이터는 위치 데이터 및 RGB 데이터를 포함한다(S410).
다음으로, 상기 단계 S410에서 추출된 각 화소의 데이터 중 상기 RGB 데이터의 명암비가 높아지도록 처리하는 데이터 가공단계를 필요에 따라 포함할 수 있다(S420).
여기서, 상기 데이터 가공단계(S420)는 데이터 변환단계(S421), 데이터 처리단계(S422), 데이터 재변환 단계(S423)로 이루어진다.
상기 데이터 변환단계(S421)는 상기 단계 S410에서 추출된 각 화소의 데이터 중 상기 RGB 데이터를 색상, 채도 및 명암데이터(HSI 데이터)로 변환하는 단계로서 이는 RGB 데이터에 비해 HSI 데이터가 가공이 용이하기 때문이다.
한편, 상기 데이터 처리 단계(S422)는 상기 데이터 변환단계(S421)에서 변환된 데이터로부터 명암데이터를 추출하여 히스토그램 균등화 처리하는 단계이다. 여기서, 히스토그램 균등화는 어둡게 촬영된 영상의 히스토그램을 조절하여 명암분포가 빈약한 영상을 균일하게 만들어 주는 프로세스로서, 영상의 밝기 분포를 재분배하여 명암대비를 최대화하는 역할을 하며, 히스토그램 균등화 처리는 종래 알려진 방법에 따라 진행된다.
한편, 상기 데이터 재변환 단계(S423)는 상기 명암데이터 추출단계(S422)에서 히스토그램 균등화 처리된 명암데이터와 상기 색상 및 채도 데이터를 결합하여 RGB 데이터로 재변환하는 단계이다.
다음으로, 상기 단계 S410에서 추출된 데이터로부터 각 화소의 위치를 파악하여 검사 영역을 설정한다(S430). 즉, 각 화소의 위치데이터를 이용하여 검사 영역을 설정한다.
여기서, 검사 영역은 도 2에 도시된 바와 같이 촬영된 화상의 기계방향(MD, machine direction)에 대한 화소수의 1/10 이하의 화소들이 포함되는 것이 바람직하다. 이는 미세한 부분에 있는 얼룩(A)까지도 검출하여 정량화하기 위함이다. 만약 검사영역이 피검사 편광판 또는 편광소자의 기계방향(MD, machine direction)에 대한 화소수의 1/10을 초과하는 경우, 미세 얼룩에 대한 유효한 값을 얻기 어려워진다.
또한, 상기 촬영된 화상의 기계방향(MD, machine direction)으로 적어도 10개의 화소, 바람직하게는 100 개 이상의 화소를 포함한다. 이는 미세 얼룩의 정량화에 있어서 효율성을 확보하기 위함이다.
다음으로, 상기 단계 S430에서 설정된 검사영역 내에서, 상기 단계 S410에서 추출된 데이터로부터 각 화소의 색 좌표를 파악하여 각 화소의 색차를 측정한다(S440). 즉, 검사 영역 내 각 화소의 RGB 데이터로부터 색좌표를 파악하여 각 화소의 색차를 연산한다.
구체적으로 색차 연산 과정은, 촬영된 화상의 전체 영역에서 모든 화소의 색좌표(예를 들면, CIELAB's 색좌표 (L*,a*,b*))를 확인하여 최빈값을 기준값으로 설정하고(기준값의 색좌표 (L1 *, a1 *, b1 *)), 상기 설정된 검사 영역 내의 모든 화소(각 화소의 색좌표 (L2 *, a2 *, b2 *)) 에 대해 하기 식 1에 따라 색차를 연산한다.
[식 1]
Figure pat00001
여기서, 기준값의 색좌표는 (L1 *, a1 *, b1 *)이며, 각 화소의 색좌표 (L2 *, a2 *, b2 *)이고, △Eab *는 각 화소에서의 색차이다.
다음으로, 상기 단계 S440에서 연산된 각 화소의 색차 데이터를 기계방향(MD, machine direction)에 대해 평균화한다(S450). 이는, 검사 영역의 각 열의 색차값을 평균화하는 것을 말한다.
다음으로, 상기 단계 S450에서 평균화된 색차의 평균값을 횡방향(TD, transverse direction)으로 분석함으로써 최대 색차 진폭값을 계산한다(S460). 이 때, 횡방향(TD, transverse direction)으로 색차의 평균값을 확인하면서 국부적인 최대 및 최소 값을 확인하고, 국부적인 색차의 진폭값이 기 설정된 임계값보다 큰 경우에 그 값을 저장하고, 저장된 값을 이용하여 최대 색차 진폭 값을 계산한다. 여기서, 기 설정된 임계값은 임의의 값일 수 있으나, 일반적으로 노이즈로 판단되어질 수 있는 최대의 진폭값을 말한다.
다음으로, 상기 단계 S460에서 계산된 최대 색차 진폭값을 기 설정된 얼룩의 정도를 나타내는 수치데이터와 비교하여 매칭함으로써, 피검사 편광판 또는 편광소자의 얼룩 정도를 정량화한다(S470). 기 설정된 얼룩의 정도를 나타내는 수치데이터의 일례로서, 최대 색차 진폭값의 크기가 0~4인 경우 수치데이터를 5, 5~8인 경우 4, 9~12인 경우 3, 13~16인 경우 2, 17 이상인 경우는 수치데이터를 1로 할 수 있다. 여기서, 상기 수치데이터 중 5는 육안으로 관찰 시 얼룩이 보이지 않는 경우와 일치하며, 1은 육안으로 관찰시 얼룩이 가장 심한 경우와 일치한다.
한편, 본 발명의 색차 분석을 이용한 편광판 얼룩 자동 검사방법은 상기 단계 S470 이후에, 상기 단계 S470에서 정량화된 수치 데이터를 가시화할 수도 있다. 여기서, 수치 데이터를 가시화하는 수단은 모니터 등의 디스플레이 등이 이용될 수 있다.
상술한 본 발명의 색차 분석을 이용한 편광판 얼룩 자동 검사방법에 따르면, 촬영시 피검사 편광판의 휘도가 일정 범위 확보되어, 얼룩을 분석하기에 적합한 영상을 용이하게 얻을 수 있고, 촬영된 영상으로부터 추출한 데이터를 명암비가 높아지도록 처리함으로써, 보다 정확하게 미세 얼룩을 검출할 수 있으며, 객관적인 기준을 통해 편광판의 얼룩 정도를 수치화하므로, 제품의 품질을 일정하게 유지할 수 있다는 장점이 있다.
이하, 구체적인 실시예를 통해 본 발명에 대해 보다 상세히 설명한다.
[실시예 1]
미연신 PVA 필름을 염착조 온도를 25~30℃, 체류 시간 1~5분으로 하여 염색한 후, 5~6배로 연신하여 편광 소자를 제조하였다. 편광소자의 보호필름은 UZ Grade에 두께는 80㎛이고, 헤이즈(Haze)가 존재하는 보호필름을 사용하였다.
이렇게 제조된 편광판을 기준 편광판(LG화학 제조, RB60SR10, 단체투과도 39.7%)위에 장착한 후, 42인치 백라이트(LG Display, 색온도 10,000K)로 광조사한다. 광 조사시 상기 제조된 편광판의 휘도가 5 nit가 되도록 그 흡수축을 기준 편광판의 흡수축과 기울여져 배치시킨다. 그 후 상기 백라이트 위에서 디지털 카메라(Nikon, D3100 Zoom lens)로 촬영한 후, 상기 촬영된 화상을 컴퓨터로 전송하였다. 상기 컴퓨터는 전송된 화상으로부터 각 화소의 데이터들을 추출하고, 그 추출된 데이터 중 RGB 데이터를 색상, 명암 및 채도 데이터(HSI 데이터)로 변환하고, 그 변환된 HSI 데이터로부터 명암데이터를 추출하여 히스토그램 균등화처리를 한 후, 균등화 처리된 명암데이터와 색상 및 채도 데이터를 결합하여 HSI 데이터를 RGB 데이터로 재변환하였다. 4608X3000의 화소수를 가지는 화상 전체를 10개의 영역으로 분할한 다음, 각각의 검사 영역 내에서 4608X300개의 모든 화소의 색차를 계산하고 기계방향으로 300개의 화소의 색차값을 평균화한 다음, 횡방향으로 4608개의 평균 색차값을 분석하여 검사영역에서의 최대 진폭값을 계산, 저장하고, 저장된 값들을 가시화하도록 프로그램을 수행하였다. 여기서 사용된 프로그램은 Image J와 C++로 만들어진 소스를 활용하였다. 또한, 저장된 최대 진폭값과 기 설정된 얼룩 정도를 나타내는 수치데이터를 대비하여 얼룩 정도를 정량화하였다. 기설정된 수치데이터는 색차의 진폭값의 크기가 0~4인 경우 5, 5~8인 경우 4, 9~12인 경우 3, 13~16인 경우 2, 17 이상인 경우는 1로 하였다. 상기 수치데이터 중 5는 육안으로 관찰 시 얼룩이 보이지 않는 경우와 일치하며, 1은 육안으로 관찰시 얼룩이 가장 심한 경우와 일치한다. 피검사 편광판의 검사 결과 도출된 최대 진폭값과 얼룩의 정도를 나타내는 수치는 표 1에 기재하였다.
[실시예 2]
WVEA(제조사: 주식회사 후지필름)와 UZ Clear TAC(제조사: 주식회사 후지필름)으로 이루어지며 두께는 60㎛인 보상필름이 추가된 것을 제외하고는 실시예 1과 동일한 방법으로 편광판을 제조하였으며, 제조된 편광판을 실시예 1과 동일한 방법으로 진폭을 계산하고, 얼룩 정도를 정량화하였다. 피검사 편광판의 검사 결과 도출된 최대 진폭값과 얼룩의 정도를 나타내는 수치는 표 1에 기재하였다.
[실시예 3]
편광소자를 보호하는 필름의 종류를 UZ 와 UZ Clear 60㎛으로 변경한 것을 제외하고는 실시예 1과 동일한 방법으로 편광판을 제조하였으며, 제조된 편광판을 실시예 1과 동일한 방법으로 진폭을 계산하고, 얼룩 정도를 정량화하였다. 피검사 편광판의 검사 결과 도출된 최대 진폭값과 얼룩의 정도를 나타내는 수치는 표 1에 기재하였다.
[실시예 4]
편광소자를 보호하는 필름의 종류를 Hard Coating Grade(제조사: 주식회사 코니카)와 UZ Clear 40㎛(제조사: 주식회사 코니카)으로 변경한 것을 제외하고는 실시예 1과 동일한 방법으로 편광판을 제조하였으며, 제조된 편광판을 실시예 1과 동일한 방법으로 진폭을 계산하고, 얼룩 정도를 정량화하였다. 피검사 편광판의 검사 결과 도출된 최대 진폭값과 얼룩의 정도를 나타내는 수치는 표 1에 기재하였다.
[실시예 5]
미연신 PVA 필름을 염착조 온도를 25~30℃, 체류 시간 1~5분으로 하여 염색한 후, 5~6배로 연신하여 편광 소자를 제조하였다. 편광소자의 보호필름을 WVEA와 UZ Haze로 이루어지며 두께는 60㎛인 필름을 사용하였다. 이렇게 제조된 편광판을 실시예 1과 동일한 방법으로 진폭을 계산하고, 얼룩의 정도를 정량화하였다. 피검사 편광판의 검사 결과 도출된 최대 진폭값과 얼룩의 정도를 나타내는 수치는 표 1에 기재하였다.
색차 최대 진폭값 얼룩의 정도를 나타내는 수치
실시예 1 9.28 3
실시예 2 6.32 4
실시예 3 3.82 5
실시예 4 23.63 1
실시예 5 12.78 2
상기 표 1에 따르면, 본 발명의 색차 분석을 이용한 편광판 얼룩 자동 검사방법에 의해 계산된 최대 진폭 값을 이용하여 얼룩의 정도를 정량화하였음을 확인할 수 있다. 또한, 이렇게 정량화된 얼룩의 정도는 육안으로 관찰한 경우의 얼룩 정도와 일치하므로, 본 발명의 방법으로 측정된 최대 진폭 값이 편광판 얼룩(줄무늬)의 시인성을 대변할 수 있는 효과를 갖는다.
10 광원
20 기준 편광판
30 피검사 편광판 또는 편광소자
50 촬영 장치
60 연산 수단
70 디스플레이
A 얼룩

Claims (16)

  1. (a) 적어도 1장의 기준 편광판에 피검사 편광판 또는 편광소자를 장착하는 단계;
    (b) 상기 피검사 편광판 또는 편광소자에 광을 조사하는 단계;
    (c) 상기 피검사 편광판 또는 편광소자를 촬영하는 단계; 및
    (d) 상기 (c) 단계에서 촬영된 화상으로부터 추출된 데이터를 이용하여 각 화소의 색차를 연산하고, 상기 연산된 색차 데이터를 이용하여 얼룩의 정도를 수치화하는 단계를 포함하는 색차 분석을 이용한 편광판 얼룩 자동 검사방법.
  2. 제1항에 있어서, 상기 (a) 단계의 피검사 편광판 또는 편광소자는 상기 적어도 1장의 기준편광판 상에 장착되는 것인 색차 분석을 이용한 편광판 얼룩 자동 검사방법.
  3. 제1항에 있어서, 상기 (a) 단계의 기준 편광판은 적어도 2장이며, 상기 피검사 편광판 또는 편광소자는 상기 적어도 2장의 기준 편광판 사이에 장착되는 것인 색차 분석을 이용한 편광판 얼룩 자동 검사방법.
  4. 제3항에 있어서, 상기 (a) 단계의 상기 적어도 2장의 기준 편광판은 흡수축이 서로 평행한 것인 색차 분석을 이용한 편광판 얼룩 자동 검사방법.
  5. 제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 (a) 단계는 상기 피검사 편광판 또는 편광소자에 대한 휘도가 2.5 내지 20 니트(nit)가 되도록, 상기 피검사 편광판의 흡수축이 상기 기준 편광판의 흡수축과 기울어져 배치되는 것인 색차 분석을 이용한 편광판 얼룩 자동 검사방법.
  6. 제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 (a) 단계는 상기 피검사 편광판 또는 편광소자에 대한 휘도가 2.5 내지 15 니트(nit)가 되도록, 상기 피검사 편광판의 흡수축이 상기 기준 편광판의 흡수축과 기울어져 배치되는 것인 색차 분석을 이용한 편광판 얼룩 자동 검사방법.
  7. 제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 (a) 단계는 상기 피검사 편광판 또는 편광소자에 대한 휘도가 5 내지 10 니트(nit)가 되도록, 상기 피검사 편광판의 흡수축이 상기 기준 편광판의 흡수축과 기울어져 배치되는 것인 색차 분석을 이용한 편광판 얼룩 자동 검사방법.
  8. 제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 (b) 단계와 (c)단계 사이에, 상기 피검사 편광판 또는 편광소자의 흡수축이 상기 기준 편광판의 흡수축과 기울어지도록 상기 피검사 편광판 또는 편광소자를 회전시키는 회전단계를 더 포함하는 색차 분석을 이용한 편광판 얼룩 자동 검사방법.
  9. 제8항에 있어서, 상기 피검사 편광판 또는 편광소자에 대한 휘도가 2.5 내지 20 니트(nit)가 되도록, 상기 피검사 편광판 또는 편광소자를 회전시키는 것인 색차 분석을 이용한 편광판 얼룩 자동 검사방법.
  10. 제8항에 있어서, 상기 피검사 편광판 또는 편광소자에 대한 휘도가 2.5 내지 15 니트(nit)가 되도록, 상기 피검사 편광판 또는 편광소자를 회전시키는 것인 색차 분석을 이용한 편광판 얼룩 자동 검사방법.
  11. 제8항에 있어서, 상기 피검사 편광판 또는 편광소자에 대한 휘도가 5 내지 10 니트(nit)가 되도록, 상기 피검사 편광판 또는 편광소자를 회전시키는 것인 색차 분석을 이용한 편광판 얼룩 자동 검사방법.
  12. 제1항에 있어서, 상기 (d) 단계는,
    (d-1) 상기 (c) 단계에서 촬영된 화상으로부터, 상기 화상을 이루는 각 화소의 데이터를 추출하는 단계;
    (d-2) 상기 (d-1) 단계에서 추출된 데이터로부터 각 화소의 위치를 파악하여 검사영역을 설정하는 단계;
    (d-3) 상기 (d-2) 단계에서 설정된 검사영역 내에서, 상기 (d-1)에서 추출된 데이터로부터 각 화소의 색 좌표를 파악하여 각 화소의 색차를 연산하는 단계;
    (d-4) 상기 (d-3) 단계에서 연산된 각 화소의 색차 데이터를 기계방향(MD, machine direction)에 대하여 평균화하는 단계;
    (d-5) 상기 (d-4) 단계에서 평균화된 값을 횡방향(TD, transverse direction)으로 분석함으로써 최대 색차 진폭값을 계산하는 단계; 및
    (d-6) 상기 (d-5) 단계에서 계산된 최대 색차 진폭값을 기 설정된 얼룩의 정도를 나타내는 수치데이터와 대비하여 얼룩의 정도를 정량화하는 단계를 포함하는 색차 분석을 이용한 편광판 얼룩 자동 검사방법.
  13. 제12항에 있어서, 상기 (d-1) 단계에서 추출된 각 화소의 데이터는 RGB 데이터와 위치데이터를 포함하는 색차 분석을 이용한 편광판 얼룩 자동 검사 방법.
  14. 제13항에 있어서, 상기 (d-1) 단계와 상기 (d-2) 단계 사이에,
    상기 (d-1) 단계에서 추출된 각 화소의 데이터 중 상기 RGB 데이터의 명암비가 높아지도록 처리하는 데이터 가공단계를 포함하는 색차 분석을 이용한 편광판 얼룩 자동 검사 방법.
  15. 제14항에 있어서, 상기 데이터 가공단계는,
    상기 (d-1) 단계에서 추출된 각 화소의 데이터 중 상기 RGB 데이터를 색상, 채도 및 명암 데이터로 변환하는 데이터 변환 단계;
    상기 변환된 데이터로부터 명암데이터를 분리하여 히스토그램 균등화 처리를 하는 데이터 처리 단계; 및
    상기 히스토그램 균등화 처리된 명암데이터와, 상기 색상 및 채도 데이터를 RGB 데이터로 재변환하는 데이터 재변환 단계를 포함하는 색차 분석을 이용한 편광판 얼룩 자동 검사방법.
  16. 제1항에 있어서, 상기 (d) 단계 이후에 상기 (d) 단계에서 수치화된 얼룩의 정도를 가시화하는 단계를 더 포함하는 색차 분석을 이용한 편광판 얼룩 자동 검사 방법.
KR1020110040370A 2011-04-28 2011-04-28 색차 분석을 이용한 편광판 얼룩 자동 검사방법 KR101440974B1 (ko)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020110040370A KR101440974B1 (ko) 2011-04-28 2011-04-28 색차 분석을 이용한 편광판 얼룩 자동 검사방법
JP2012094553A JP5645142B2 (ja) 2011-04-28 2012-04-18 色差分析を用いた偏光板のムラ自動検査装置及び検査方法
US13/457,078 US8625095B2 (en) 2011-04-28 2012-04-26 Automatic inspection apparatus for detecting stains on polarizing plate using color difference analysis and inspection method thereof

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020110040370A KR101440974B1 (ko) 2011-04-28 2011-04-28 색차 분석을 이용한 편광판 얼룩 자동 검사방법

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20120122300A true KR20120122300A (ko) 2012-11-07
KR101440974B1 KR101440974B1 (ko) 2014-09-17

Family

ID=47508577

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020110040370A KR101440974B1 (ko) 2011-04-28 2011-04-28 색차 분석을 이용한 편광판 얼룩 자동 검사방법

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101440974B1 (ko)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20140140149A (ko) 2013-05-28 2014-12-09 동우 화인켐 주식회사 편광자 또는 보호필름의 눌림 부위의 보정 방법
KR20150003012A (ko) 2013-06-28 2015-01-08 동우 화인켐 주식회사 편광판의 돌출 시인 부위의 보정 방법

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001041716A (ja) * 1998-07-21 2001-02-16 Sony Corp 液晶表示パネルの検査方法及び検査装置
JP2001116925A (ja) * 1999-10-20 2001-04-27 Sumitomo Chem Co Ltd 光学シートの検査方法
JP2007171029A (ja) 2005-12-22 2007-07-05 Fujifilm Corp 検査装置、表示デバイスシミュレート装置及び検査方法
KR101188756B1 (ko) * 2008-09-18 2012-10-10 주식회사 엘지화학 편광판 얼룩 자동 검사 시스템 및 이를 이용한 편광판 얼룩검사 방법

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20140140149A (ko) 2013-05-28 2014-12-09 동우 화인켐 주식회사 편광자 또는 보호필름의 눌림 부위의 보정 방법
KR20150003012A (ko) 2013-06-28 2015-01-08 동우 화인켐 주식회사 편광판의 돌출 시인 부위의 보정 방법

Also Published As

Publication number Publication date
KR101440974B1 (ko) 2014-09-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI431262B (zh) 因不均勻染色導致偏光片瑕疵之檢測方法及使用其之自動檢測系統
JP5645142B2 (ja) 色差分析を用いた偏光板のムラ自動検査装置及び検査方法
TW201610418A (zh) 偏光薄膜缺陷監測方法
TWI495867B (zh) Application of repeated exposure to multiple exposure image blending detection method
US8842270B2 (en) Method and inspection device for bright spot defect detection of a polarizer
KR101440975B1 (ko) 색차 분석을 이용한 편광판 얼룩 자동 검사 장치
JP2007170961A (ja) 検査装置及び検査方法
KR101188756B1 (ko) 편광판 얼룩 자동 검사 시스템 및 이를 이용한 편광판 얼룩검사 방법
KR102178319B1 (ko) 표시패널의 휘도 균일도 검사장치 및 그 방법
KR20120122300A (ko) 색차 분석을 이용한 편광판 얼룩 자동 검사방법
KR101608843B1 (ko) 개선된 베버의 법칙을 이용한 얼룩 결함 자동 검출 시스템 및 방법
KR20080006454A (ko) 액정패널의 검사방법 및 화상처리장치
CN108490002A (zh) 一种微结构棱镜镜片质量检测方法
WO2019117802A1 (en) A system for obtaining 3d images of objects and a process thereof
CN109632830B (zh) 样品检测方法、样品检测设备及计算机可读存储介质
KR20140006582A (ko) 표시패널의 얼룩 검사 장치 및 그 방법
JP3224620B2 (ja) 周期性パターンのムラ定量化方法
KR20210105185A (ko) 얼룩 결함 검사 방법
KR20220065111A (ko) 얼룩 자동 검사 장치 및 이를 이용한 얼룩 검사 방법
KR20220065110A (ko) 얼룩 자동 검사 장치 및 이를 이용한 얼룩 검사 방법
KR20220114792A (ko) 얼룩 자동 검사 장치 및 이를 이용한 얼룩 검사 방법
US11268880B1 (en) Method of detecting the cleanliness of a lens using differential flat field correction of pupil incidence
KR20220053304A (ko) 얼룩 자동 검사 장치 및 이를 이용한 얼룩 검사 방법
Turchette et al. Inspection of Optics using ISO Specifications
KR101046106B1 (ko) 컬러필터의 수지 얼룩 결함 형상화 방법

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20170718

Year of fee payment: 4

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20180619

Year of fee payment: 5

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20190625

Year of fee payment: 6