KR102178319B1 - 표시패널의 휘도 균일도 검사장치 및 그 방법 - Google Patents
표시패널의 휘도 균일도 검사장치 및 그 방법 Download PDFInfo
- Publication number
- KR102178319B1 KR102178319B1 KR1020140051931A KR20140051931A KR102178319B1 KR 102178319 B1 KR102178319 B1 KR 102178319B1 KR 1020140051931 A KR1020140051931 A KR 1020140051931A KR 20140051931 A KR20140051931 A KR 20140051931A KR 102178319 B1 KR102178319 B1 KR 102178319B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- image
- display panel
- luminance
- distorted
- images
- Prior art date
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 16
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 claims description 7
- 238000000605 extraction Methods 0.000 claims description 5
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 4
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 4
- 238000007781 pre-processing Methods 0.000 claims description 4
- 239000000428 dust Substances 0.000 claims description 3
- 230000010287 polarization Effects 0.000 claims description 3
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 2
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 claims 1
- 239000011574 phosphorus Substances 0.000 claims 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 abstract description 3
- 238000003780 insertion Methods 0.000 abstract description 2
- 230000037431 insertion Effects 0.000 abstract description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 3
- 238000012805 post-processing Methods 0.000 description 3
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 1
- 230000002542 deteriorative effect Effects 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/0002—Inspection of images, e.g. flaw detection
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T5/00—Image enhancement or restoration
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T5/00—Image enhancement or restoration
- G06T5/40—Image enhancement or restoration using histogram techniques
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)
- Electroluminescent Light Sources (AREA)
Abstract
실시예에 따른 표시패널의 휘도 균일도 검사장치는 표시패널의 영상을 수집하는 영상 촬영부와, 상기 수집된 영상으로부터 왜곡된 영상 정보를 분석하고, 분석된 왜곡된 휘영상 정보를 보정하여 영상을 재구성하는 영상 추출부와, 상기 영상 추출부로부터 재구성된 영상으로부터 휘도 균일도를 측정하여 보상값을 추출하는 휘도 보상부를 포함할 수 있다.
실시예는 표시패널에 다른 매개체 및 이물질의 삽입에 의한 영상의 왜곡을 제거함으로써, 보다 효과적으로 표시패널의 휘도 균일도를 측정할 수 있는 효과가 있다.
실시예는 표시패널에 다른 매개체 및 이물질의 삽입에 의한 영상의 왜곡을 제거함으로써, 보다 효과적으로 표시패널의 휘도 균일도를 측정할 수 있는 효과가 있다.
Description
실시예는 표시장치의 휘도 균일도를 검사 및 보상하기 위한 휘도 균일도 검사장치에 관한 것이다.
최근 정보화 사회가 발전함에 따라 디스플레이 분야에 대한 요구도 다양한 형태로 증가하고 있으며, 이에 부응하여 박형화, 경량화, 저소비 전력화 등의 특징을 지닌 여러 평판표시장치(Flat Panel Display Device),예를 들어, 액정표시장치(Liquid Crystal Display Device), 플라즈마 표시장치(Plasma Display Panel Device), 유기발광 다이오드 표시장치(Organic Light Emitting Diode Display Device) 등이 연구되고 있다.
표시장치의 제조공정은 표시패널을 제조하는 공정과 완성된 표시패널에 대한 휘도 균일도를 검사하는 공정 등을 포함한다. 종래 표시패널의 휘도 균일도 검사는 왜곡을 발생시킬 수 있는 매개체와 주변 환경을 배제한 상태에서 영상 촬영 장치를 이용하여 패널의 실질적인 영상을 촬영하여 휘도 균일도를 검사하고 보상을 수행한다.
하지만, 패널의 전후면에 부착되는 편광필름, 보호필름 등의 매개체 또는 긁힘, 이물질에 의해 표시패널의 휘도의 왜곡이 발생되고 이로 인해 표시패널의 휘도 균일도 측정 효율을 떨어뜨리게 된다.
상기와 같은 문제점을 해결하기 위해, 실시예는 왜곡된 휘도로 인해 휘도 균일도의 측정 효율이 떨어지는 것을 방지하기 위한 휘도 균일도 검사장치를 제공하는 것을 그 목적으로 한다.
상술한 목적을 달성하기 위하여, 실시예에 따른 표시패널의 휘도 균일도 검사장치는 표시패널의 영상을 수집하는 영상 촬영부와, 상기 수집된 영상으로부터 왜곡된 영상 정보를 분석하고, 분석된 왜곡된 휘영상 정보를 보정하여 영상을 재구성하는 영상 추출부와, 상기 영상 추출부로부터 재구성된 영상으로부터 휘도 균일도를 측정하여 보상값을 추출하는 휘도 보상부를 포함할 수 있다.
또한, 상술한 목적을 달성하기 위하여, 실시예에 따른 표시패널의 휘도 균일도 검사방법은 표시패널의 영상을 수집하는 단계와, 수집된 영상으로부터 왜곡된 영상 정보를 분석하는 단계와, 상기 왜곡된 영상을 보정하여 영상을 재구성하는 단계와, 상기 재구성한 영상의 휘도 균일도를 측정하는 단계와, 상기 휘도 균일도에 따른 패널의 보상 데이터를 측정하는 단계를 포함할 수 있다.
실시예는 표시패널에 다른 매개체 및 이물질의 삽입에 의한 영상의 왜곡을 제거함으로써, 보다 효과적으로 표시패널의 휘도 균일도를 측정할 수 있는 효과가 있다.
또한, 실시예는 표시패널의 휘도 균일도를 측정하여 보상 값을 제공함으로써, 표시패널의 생산성을 향상시킬 수 있는 효과가 있다.
도 1은 실시예에 따른 표시패널의 휘도 균일도 검사장치를 나타낸 블럭도이다.
도 2는 실시예에 따른 표시패널의 휘도 균일도 검사 방법을 나타낸 순서도이다.
도 3 내지 도 8은 실시예에 따른 표시패널의 휘도 균일도 검사 방법의 세부 동작을 나타낸 도면이다.
도 2는 실시예에 따른 표시패널의 휘도 균일도 검사 방법을 나타낸 순서도이다.
도 3 내지 도 8은 실시예에 따른 표시패널의 휘도 균일도 검사 방법의 세부 동작을 나타낸 도면이다.
이하, 도면을 참조하여 실시예를 상세히 설명하기로 한다.
도 1은 실시예에 따른 표시패널의 휘도 균일도 검사장치를 나타낸 블럭도이다.
도 1을 참조하면, 실시예에 따른 표시패널의 휘도 균일도 검사장치는 영상 촬영부(100)와, 상기 영상 촬영부(100)로부터 수집된 영상의 왜곡된 영상 정보를 분석하고, 왜곡된 영상 정보를 보정하여 영상을 재구성하는 영상 추출부(200)와, 상기 영상 추출부(200)로부터 재구성된 영상으로부터 휘도 균일도를 측정하여 보상값을 추출하는 휘도 보상부(300)를 포함할 수 있다.
영상 촬영부(100)는 영상이 표시되는 표시패널을 촬영할 수 있다. 이러한 영상 촬영부(100)로는 비전 카메라. CCD 카메라 또는 이미지 센서일 수도 있다. 영상 촬영부(100)는 이에 한정되지 않으며, 영상을 촬영할 수 있다면 다양한 영상 촬영 장치가 사용될 수 있다. 표시패널은 액정패널, OLED 패널 등 다양한 표시패널을 포함할 수 있다.
영상 촬영부(100)로부터 촬영된 영상에는 매채체에 의한 빛의 굴절로 발생하는 왜곡이 발생된 영상 또는 매개체의 편광, 불투명성에 의한 왜곡이 발생된 영상, 매개체에 의하여 발생하는 빛의 반사, 굴절에 의한 왜곡이 발생된 영상 또는 매개체에 존재하는 패턴과 영상 촬영부의 센서 특징에 의해 왜곡이 발생된 영상 또는 표시패널, 표시패널에 부착된 터치패널, EMI 필터, 먼지 등의 이물에 의해 왜곡이 발생된 영상일 수 있다. 매개체로는 표시패널의 일측에 부착된 편광 필름, 보호 필름. 터치패널, ENI 필터 등 다양한 구성 요소일 수 있다.
영상 촬영부(100)는 매개체가 부착된 상태에서 영상을 촬영하여 왜곡된 휘도 정보를 포함하는 영상을 수집할 수 있다.
영상 추출부(200)는 수집된 영상으로부터 왜곡된 영상을 감쇄시키도록 영상을 재구성하여 추출할 수 있다. 이러한 영상 추출부(200)는 영상 왜곡 분석부(230)와, 패널 영상 추출부(250)를 포함할 수 있다. 여기서, 영상 추출부(200)는 전처리부(210)와 후처리부(270)를 더 포함할 수 있다. 전처리부(210)와 후처리부(270)는 휘도 정보의 분석 및 추출한 영상으로부터 데이터를 산출하기 위해 필요한 처리를 수행할 수 있다. 여기서, 전처리부(210)와 후처리부(270)는 생략될 수 있다.
영상 왜곡 분석부(230)는 다수의 영상을 이용하여 왜곡된 영상을 분석할 수 있다. 영상 왜곡 분석부(230)는 휘도 정보를 이용하여 왜곡된 영상을 분석할 수 있다. 영상 왜곡 분석부(230)는 다수의 영상을 비교하여 특정 영역의 휘도 값의 측정값이 임계값 이상이면 왜곡된 영상이라고 판단할 수 있다. 영상 왜곡 분석부(230)는 n개 이상 예컨대, 3개 이상의 영상을 이용하여 영상을 서로 비교할 수 있다.
패널 영상 추출부(250)는 왜곡된 영상을 감쇄시켜 영상을 재구성할 수 있다. 패널 영상 추출부(250)는 왜곡된 영상 영역의 휘도 정보를 감쇄시킬 수 있으며, 이로부터 왜곡 영상이 거의 제거된 패널 영상을 추출할 수 있게 된다.
휘도 보상부(300)는 왜곡 영상의 거의 제거된 패널 영상으로부터 휘도 균일도를 측정하여 보상값을 추출할 수 있다. 이러한 휘도 보상부(300)는 보상 타겟 생성부(310)와 보상 데이터 산출부(330)를 포함할 수 있다.
보상 타겟 생성부(310)는 왜곡 영상이 거의 제거된 재구성된 영상으로부터 휘도 균일도를 측정할 수 있다. 보상 데이터 산출부(330)는 휘도 차이가 나는 영역 해당하는 휘도 값을 보상할 수 있도록 보상값을 산출할 수 있다.
따라서, 휘도 보상부(300)로부터 산출된 휘도 보상값은 표시패널을 구동하는 티콘(T-con)에 공급되어 표시패널의 휘도를 균일하게 할 수 있다.
이하에서는 실시예에 따른 표시패널의 휘도 균일도 검사 방법을 보다 상세하게 설명하기로 한다. 도 2는 실시예에 따른 표시패널의 휘도 균일도 검사 방법을 나타낸 순서도이고, 도 3 내지 도 8은 실시예에 따른 표시패널의 휘도 균일도 검사 방법의 세부 동작을 나타낸 도면이다.
도 2를 참조하면, 실시예에 따른 표시패널의 휘도 균일도 검사방법은 표시패널의 영상을 수집하는 단계(S100)와, 수집된 영상으로부터 왜곡된 휘도 정보를 분석하는 단계(S110)와, 상기 왜곡된 영상을 보정하여 영상을 재구성하는 단계(S120)와, 상기 재구성한 영상의 휘도 균일도를 검사하는 단계(S130)와, 상기 휘도 균일도에 따른 패널 보상 데이터를 측정하는 단계(S140)와, 패널 보상 데이터를 적용하는 단계(S150)를 포함할 수 있다.
도 3에 도시된 바와 같이, 영상 촬영부(100)는 표시패널(400)의 일측을 촬영하여 영상을 수집할 수 있다. 표시패널(400)의 전면 및 후면에는 각각 별도의 매개체(410,420)가 더 배치될 수 있다. 매개체(410,420)는 편광 필름, 보호필름, 터치패널, EMI 필터 등을 포함할 수 있다.
도 4에 도시된 바와 같이, 영상 촬영부(100)로부터 수집된 영상은 휘도 왜곡(112)이 발생된 영상일 수 있다. 왜곡(112)이 발생한 영상은 매개체의 편광, 불투명성에 의한 왜곡을 포함한 영상(110)일 수 있다.
이와 다르게, 도 5에 도시된 바와 같이, 영상 촬영부로부터 수집된 영상은 매개체에 의한 빛의 굴절로 발생하는 왜곡이 발생된 영상(120)이거나, 매개체에 의하여 발생하는 빛의 반사, 굴절에 의한 왜곡이 발생된 영상(130)이거나, 매개체에 존재하는 패턴과 영상 촬영부의 센서 특징에 의해 왜곡이 발생된 영상(140) 또는 표시패널, 표시패널에 부착된 터치패널, EMI 필터, 먼지 등의 이물에 의해 왜곡이 발생된 영상(150)일 수 있다.
상기에서와 같이, 왜곡이 발생한 영상(110)이 수집되면, 수집된 영상으로부터 왜곡된 영상을 분석하는 단계(S110)를 수행할 수 있다. 왜곡 영상은 동일한 조건으로 여러 장의 왜곡이 발생한 영상을 더 수집하고, 다수의 영상을 비교하여 특정 영역의 차이값에 의해 왜곡 영상을 판단할 수 있다. 보다 상세하게는 특정 영역의 휘도 값의 차이가 임계값 이상이면 왜곡된 영상이라고 판단할 수 있다.
수집된 영상으로부터 왜곡 영상의 분석을 마치면, 왜곡된 영상을 보정하여 영상을 재구성하는 단계(S120)를 수행할 수 있다.
왜곡 영상의 보정은 왜곡 영상이 발생한 영역의 휘도 값을 감쇄시켜 보정할 수 있으며, 도 6에 도시된 바와 같이, 왜곡된 영상이 거의 제거된 상태의 표시패널의 영상(110)을 수집할 수 있게 된다.
왜곡 영상이 거의 제거된 표시패널의 영상(110)이 수집되면 표시패널의 휘도 균일도를 측정하는 단계(S130)를 수행할 수 있다.
도 7에 도시된 바와 같이, 휘도 균일도는 재구성된 영상(110)의 전 영역에서의 휘도 균일도를 측정할 수 있으며, 각 영역에 따라 휘도 정보를 그래프로 나타낼 수 있다. 이로부터 영상의 휘도 균일도를 측정할 수 있게 된다.
상기와 같이, 각 영역에서의 휘도 정보가 수집되면 그래프 정보에 따라 표시패널의 보상 데이터를 계산(S140)하게 되고, 계산된 보상 데이터를 패널을 구동시키는 T-con에 전송(S150)하여 표시패널의 휘도를 보상할 수 있다.
실시예에 따른 표시패널의 휘도 균일도 검사장치에 의해 도 8에 도시된 바와 같이, 표시패널의 실제 영상(110)은 휘도가 균일한 영상을 얻을 수 있게 된다.
상기에서는 도면 및 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허청구범위에 기재된 실시예의 기술적 사상으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 실시예는 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음은 이해할 수 있을 것이다.
100: 영상 촬영부 200: 영상 추출부
230: 영상 왜곡 분석부 250: 패널 영상 추출부
300: 휘도 보상부 310: 보상 타겟 생성부
330: 보상 데이터 산출부 400: 표시 패널
230: 영상 왜곡 분석부 250: 패널 영상 추출부
300: 휘도 보상부 310: 보상 타겟 생성부
330: 보상 데이터 산출부 400: 표시 패널
Claims (10)
- 표시패널의 영상을 수집하는 영상 촬영부;
상기 수집된 영상으로부터 왜곡된 영상 정보를 분석하고, 분석된 왜곡된 영상 정보를 보정하여 영상을 재구성하는 영상 추출부; 및
상기 영상 추출부로부터 재구성된 영상으로부터 휘도 균일도를 측정하여 보상값을 추출하는 휘도 보상부;를 포함하되,
상기 수집된 영상은 동일 조건하의 복수 개의 영상이고,
상기 영상 추출부는,
상기 수집된 복수 개의 영상을 재배치하는 전처리부;
상기 전처리부를 통해 재배치된 복수 개의 영상을 비교하되, 상기 복수 개의 영상을 전체 영역에 대해 분석하여 상기 전체 영역 중 휘도 값의 차이가 임계값 이상인 특정 영역이 검출되면 왜곡된 영상으로 판단하는 분석을 처리하는 영상 왜곡 분석부; 및
상기 왜곡된 영상의 상기 특정 영역의 휘도 정보를 감쇄시켜 영상을 재구성하는 패널 영상 추출부를 포함하는 표시패널의 휘도 균일도 검사장치. - 삭제
- 제 1 항에 있어서,
상기 전처리부는 3개 이상의 영상을 수집하여 재배치하는 표시패널의 휘도 균일도 검사장치. - 삭제
- 제 1 항에 있어서,
상기 휘도 보상부는 재구성된 영상으로부터 영상의 휘도 균일도를 측정하는 보상 타겟 생성부와, 상기 추출된 휘도 균일도에 따라 보상 데이터를 산출하는 보상 데이터 산출부를 포함하는 표시패널의 휘도 균일도 검사장치. - 제 5 항에 있어서,
상기 영상 촬영부로부터 수집된 영상은 매채체에 의한 빛의 굴절로 발생하는 왜곡이 발생된 영상 또는 매개체의 편광, 불투명성에 의한 왜곡이 발생된 영상, 매개체에 의하여 발생하는 빛의 반사, 굴절에 의한 왜곡이 발생된 영상 또는 매개체에 존재하는 패턴과 영상 촬영부의 센서 특징에 의해 왜곡이 발생된 영상 또는 표시패널, 표시패널에 부착된 터치패널, EMI 필터, 먼지 등의 이물에 의해 왜곡이 발생된 영상인 표시패널의 휘도 균일도 검사장치. - 표시패널의 영상을 수집하는 단계;
수집된 영상으로부터 왜곡된 영상 정보를 분석하는 단계;
상기 왜곡된 영상을 보정하여 영상을 재구성하는 단계;
상기 재구성한 영상의 휘도 균일도를 측정하는 단계; 및
상기 휘도 균일도에 따른 패널의 보상 데이터를 측정하는 단계;를 포함하되,
상기 수집된 영상은 동일 조건하의 복수 개의 영상이고,
상기 왜곡된 영상 정보를 분석하는 단계는,
상기 복수 개의 영상을 비교하되, 상기 복수 개의 영상을 전체 영역에 대해 분석하여 상기 전체 영역 중 휘도 값의 차이가 임계값 이상인 특정 영역이 검출되면 왜곡된 영상으로 판단하고,
상기 영상을 재구성하는 단계는,
상기 왜곡된 영상의 상기 특정 영역의 휘도 정보를 감쇄시켜 영상을 재구성하는, 표시패널의 휘도 균일도 검사방법. - 삭제
- 삭제
- 제 7 항에 있어서,
상기 휘도 균일도는 재구성된 영상으로부터 영상의 얼룩을 추출하고, 상기 추출된 얼룩으로부터 보상 데이터를 산출하는 표시패널의 휘도 균일도 검사방법
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020140051931A KR102178319B1 (ko) | 2014-04-29 | 2014-04-29 | 표시패널의 휘도 균일도 검사장치 및 그 방법 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020140051931A KR102178319B1 (ko) | 2014-04-29 | 2014-04-29 | 표시패널의 휘도 균일도 검사장치 및 그 방법 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR20150125155A KR20150125155A (ko) | 2015-11-09 |
| KR102178319B1 true KR102178319B1 (ko) | 2020-11-13 |
Family
ID=54604726
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1020140051931A KR102178319B1 (ko) | 2014-04-29 | 2014-04-29 | 표시패널의 휘도 균일도 검사장치 및 그 방법 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR102178319B1 (ko) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR102431430B1 (ko) * | 2015-12-29 | 2022-08-12 | 삼성디스플레이 주식회사 | 휘도 왜곡 보상 장치, 이를 이용한 휘도 왜곡 보상 방법, 및 이를 포함하는 표시 패널 검사 시스템 |
| KR102516350B1 (ko) * | 2016-12-23 | 2023-03-31 | 엘지디스플레이 주식회사 | 보상데이터 생성방법 및 장치 |
| KR102447017B1 (ko) | 2017-11-29 | 2022-09-27 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시 장치 |
| CN111609998A (zh) * | 2020-05-11 | 2020-09-01 | 歌尔股份有限公司 | 光照均匀性的检测方法、检测装置和可读存储介质 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5371135B2 (ja) * | 2010-05-14 | 2013-12-18 | Ｎｅｃディスプレイソリューションズ株式会社 | 輝度補正装置、輝度補正システムおよび輝度補正方法 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100739764B1 (ko) * | 2005-11-28 | 2007-07-13 | 삼성전자주식회사 | 입체 영상 신호 처리 장치 및 방법 |
-
2014
- 2014-04-29 KR KR1020140051931A patent/KR102178319B1/ko active IP Right Grant
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5371135B2 (ja) * | 2010-05-14 | 2013-12-18 | Ｎｅｃディスプレイソリューションズ株式会社 | 輝度補正装置、輝度補正システムおよび輝度補正方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR20150125155A (ko) | 2015-11-09 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US10928331B2 (en) | Display defect detection method, apparatus, and device for display screen | |
| CN103369347B (zh) | 相机瑕疵缺陷检测 | |
| TWI536341B (zh) | 顯示補償方法與顯示補償系統 | |
| KR101830679B1 (ko) | 표시 패널 검사 장치 및 그 방법 | |
| KR102178319B1 (ko) | 표시패널의 휘도 균일도 검사장치 및 그 방법 | |
| CN110620887B (zh) | 图像生成装置和图像生成方法 | |
| CN104749801B (zh) | 高精度自动光学检测方法和系统 | |
| JP2014164221A (ja) | 表示パネルの欠陥検出方法及び表示パネルの欠陥検出装置 | |
| KR20090076166A (ko) | 화상 분석을 이용한 편광판 얼룩 검사 방법 및 이를 이용한 편광판 얼룩 자동 검사 시스템 | |
| JP2009229197A (ja) | 線状欠陥検出方法および線状欠陥検出装置 | |
| JP2005172559A (ja) | パネルの線欠陥検出方法及び装置 | |
| US8842270B2 (en) | Method and inspection device for bright spot defect detection of a polarizer | |
| WO2010001973A1 (ja) | 画像検査処理装置、画像検査処理方法、プログラム、及び、記録媒体 | |
| KR101966075B1 (ko) | 표시장치의 얼룩 검출 장치 및 방법 | |
| KR102454986B1 (ko) | 얼룩 검출 장치 및 이를 이용한 얼룩 검출 방법 | |
| US20130222605A1 (en) | Testing an optical characteristic of a camera component | |
| CN102215323A (zh) | 图像划痕损伤的修复 | |
| JP5243486B2 (ja) | ケーブル位置検出装置、ケーブル位置検出方法及びケーブル位置検出プログラム | |
| KR20120122301A (ko) | 색차 분석을 이용한 편광판 얼룩 자동 검사 장치 | |
| KR101993654B1 (ko) | 표시패널의 얼룩 검사 장치 및 그 방법 | |
| Parikh et al. | Enhancement of Electroluminescence images for fault detection in photovoltaic panels | |
| CN103630547B (zh) | 具有周期性结构的光学薄膜的瑕疵检测方法及其检测装置 | |
| TWI493177B (zh) | 一種檢測具週期性結構光學薄膜的瑕疵檢測方法及其檢測裝置 | |
| JP6591176B2 (ja) | 保護フィルムのギラツキ評価値算出方法及び保護フィルムのギラツキ評価値算出装置 | |
| KR20120122300A (ko) | 색차 분석을 이용한 편광판 얼룩 자동 검사방법 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A201 | Request for examination | ||
| E902 | Notification of reason for refusal | ||
| E701 | Decision to grant or registration of patent right |