CN109632830B

CN109632830B - 样品检测方法、样品检测设备及计算机可读存储介质

Info

Publication number: CN109632830B
Application number: CN201910018964.1A
Authority: CN
Inventors: 黄继欣; 王大鹏; 丁炯
Original assignee: Shenzhen JPT Optoelectronics Co Ltd
Current assignee: Shenzhen JPT Optoelectronics Co Ltd
Priority date: 2019-01-09
Filing date: 2019-01-09
Publication date: 2021-05-25
Anticipated expiration: 2039-01-09
Also published as: CN109632830A

Abstract

本申请提供一种样品检测方法、样品检测设备及计算机可读存储介质。方法通过线阵相机采集可透光样品的初始图像，其中，初始图像为双色光源发出的双色光在依次穿透可透光样品、偏光镜后并照射在线阵相机上时，由线阵相机采集得到的图像；双色光源照射在可透光样品上的双色光包括透过起偏镜形成的蓝光偏振光以及不透过起偏镜的红光非偏振光；根据蓝光偏振光及红光非偏振光对初始图像进行分离，得到与蓝光偏振光对应的第一图像及与红光非偏振光对应的第二图像；根据第一图像及第二图像确定可透光样品的检测结果，能够改善现有技术中因样品存在尘埃、划痕等造成的非应力信息干扰检测结果而使得检测的结果可靠性差的技术问题。

Description

样品检测方法、样品检测设备及计算机可读存储介质

技术领域

本发明涉及基于光学的测量技术领域，具体而言，涉及一种样品检测方法、样品检测设备及计算机可读存储介质。

背景技术

在对可透光的样品(如玻璃)的内部进行应力检测时，在现有技术中，通常是利用检测光透射样品，然后依靠人眼经过调整好角度的偏振镜观测被检测光穿透的样品，从而依据经验判定样品内部的应力。若采用现有的设备来替代人工检测，由于样品的表面容易存在尘埃、划痕等干扰，使得机器设备在代替人工检测时，所检测应力纹的可靠性差。

发明内容

本申请提供一种样品检测方法、样品检测设备及计算机可读存储介质。

为了实现上述目的，本申请实施例所提供的技术方案如下所示：

第一方面，本申请实施例提供一种样品检测方法，应用于检测可透光样品的样品检测设备，所述样品检测设备包括：线阵相机、偏光镜、起偏镜、双色光源；所述方法包括：

所述线阵相机采集所述可透光样品的初始图像，其中，所述初始图像为所述双色光源发出的双色光在依次穿透所述可透光样品、所述偏光镜后并照射在所述线阵相机上时，由所述线阵相机采集得到的图像；所述双色光源照射在所述可透光样品上的双色光包括透过所述起偏镜形成的蓝光偏振光以及不透过所述起偏镜的红光非偏振光；

根据所述蓝光偏振光及所述红光非偏振光对所述初始图像进行分离，得到与所述蓝光偏振光对应的第一图像及与所述红光非偏振光对应的第二图像；

根据所述第一图像及所述第二图像确定所述可透光样品的检测结果，所述检测结果包括与应力对应的第一检测结果、与非应力对应的第二检测结果中的至少一种。

结合第一方面，在一些可选的实施方式中，根据所述第一图像及所述第二图像确定所述可透光样品的检测结果，包括：

通过预设灰度处理策略将所述第一图像及所述第二图像进行灰度处理，得到与所述第一图像对应的第一灰度图，以及与所述第二图像对应的第二灰度图；

根据所述第一灰度图及所述第二灰度图确定所述可透光样品的所述检测结果。

结合第一方面，在一些可选的实施方式中，根据所述第一灰度图及所述第二灰度图确定所述可透光样品的检测结果，包括：

遍历所述第一灰度图与所述第二灰度图在相同区域中的图片的第一灰度值与第二灰度值；

在所述第一灰度值与所述第二灰度值的差值大于或等于预设阈值时，确定表征所述第一灰度图与所述第二灰度图在所述相同区域中的应力异常的所述第一检测结果；

在所述第一灰度值与所述第二灰度值的差值小于所述预设阈值时，确定表征所述第一灰度图与所述第二灰度图在所述相同区域中的应力正常的所述第一检测结果。

结合第一方面，在一些可选的实施方式中，所述方法还包括：

根据所述第二灰度图确定与非应力对应的第二检测结果。

结合第一方面，在一些可选的实施方式中，根据所述第二灰度图确定与非应力对应的第二检测结果，包括：

将所述第二灰度图划分为多个子区域，并计算每个所述子区域的灰度值；

根据所有子区域的灰度值，确定每个所述子区域的灰度值的离散系数；

在所述离散系数大于或等于预设离散阈值时，确定表征所述离散系数对应的子区域的存在非应力异常的第二检测结果；

在所述离散系数小于所述预设离散阈值时，确定表征所述离散系数对应的子区域的不存在非应力异常的第二检测结果。

对存在非应力异常的子区域进行标记。

第二方面，本申请实施例还提供一种样品检测设备，所述样品检测设备包括：线阵相机、偏光镜、起偏镜、双色光源及处理模块；

所述线阵相机用于采集可透光样品的初始图像，其中，所述初始图像为所述双色光源发出的双色光在依次穿透所述可透光样品、所述偏光镜后并照射在所述线阵相机上时，由所述线阵相机采集得到的图像，所述双色光源照射在所述可透光样品上的双色光包括透过所述起偏镜形成的蓝光偏振光以及不透过所述起偏镜的红光非偏振光；

所述处理模块用于根据所述蓝光偏振光及所述红光非偏振光对所述初始图像进行分离，得到与所述蓝光偏振光对应的第一图像及与所述红光非偏振光对应的第二图像；

所述处理模块还用于根据所述第一图像及所述第二图像确定所述可透光样品的检测结果，所述检测结果包括与应力对应的第一检测结果、与非应力对应的第二检测结果中的至少一种。

结合第二方面，在一些可选的实施方式中，所述处理模块还用于：

根据所述第二灰度图确定与非应力对应的第二检测结果。

第三方面，本申请实施例还提供一种计算机可读存储介质，所述可读存储介质中存储有计算机程序，当所述计算机程序在计算机上运行时，使得所述计算机执行上述的方法。

相对于现有技术而言，本申请提供的样品检测方法、样品检测设备及计算机可读存储介质至少具有以下有益效果：在本方案中，若可透光样品的表面存在尘埃、划痕等非应力信息，且存在应力信息，通过蓝光偏振光能够使得分离得到的第一图像中包括样品的应力信息及非应力信息，通过红光非偏振光能够使得分离得到的第二图像中包括样品的非应力信息，有利于对非应力信息进行滤除而确定出样品的应力信息，改善现有技术中因样品存在尘埃、划痕等造成的非应力信息干扰检测结果而使得检测的结果可靠性差的技术问题。

为使本申请的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举本申请实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍。应当理解，以下附图仅示出了本申请的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1为本申请实施例提供的样品检测设备的结构示意图。

图2为本申请实施例提供的样品检测设备的电路方框示意图。

图3为本申请实施例提供的样品检测方法的流程示意图。

图4a为本申请实施例提供的第一灰度图像的线条示意图。

图4b为本申请实施例提供的第二灰度图像的线条示意图。

图4c为本申请实施例提供的基于第一灰度图像和第二灰度图像的得到的应力检测的结果示意图。

图标：10-样品检测设备；11-线阵相机；12-偏光镜；13-起偏镜；14-双色光源；15-处理模块；20-可透光样品。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅仅是本申请的一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本申请实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。

因此，以下对在附图中提供的本申请的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本申请的范围，而是仅仅表示本申请的选定实施例。基于本申请的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。此外，术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

下面结合附图，对本申请的一些实施方式作详细说明。在不冲突的情况下，下述的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

在对可透光的样品(如玻璃)的内部进行应力检测时，在现有技术中，通常是利用检测光透射样品，然后依靠人眼经过调整好角度的偏振镜观测被检测光穿透的样品，从而依据经验判定样品内部的应力。若采用现有的设备来替代人工检测，由于样品的表面容易存在尘埃、划痕等干扰，使得机器设备在代替人工检测时，所检测应力纹的可靠性差，而人工检测的速度慢、效率低，需要耗费的人力资源多。

鉴于上述问题，本申请申请人经过长期研究探索，提出以下实施例以解决上述问题。下面结合附图，对本申请实施例作详细说明。在不冲突的情况下，下述的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

请结合参照图1和图2，本申请实施例提供一种样品检测设备10，可以对可透光样品20相应参数进行检测。例如，样品检测设备10可以对可透光样品20的应力、表面划痕、灰尘颗粒等进行检测。其中，可透光样品20包括但不限于可透光的玻璃片、可透光的树脂片、可透光的熟料片等。比如，可透光样品20(可透光样品20可以简称为样品)可以为无色的透明玻璃。

在本实施例中，样品检测设备10可以包括线阵相机11、偏光镜12、起偏镜13、双色光源14及处理模块15。

线阵相机11用于采集可透光样品20的初始图像。其中，初始图像为双色光源14发出的双色光在依次穿透可透光样品20、偏光镜12后并照射在线阵相机11上时，由线阵相机11采集得到的图像；双色光源14照射在可透光样品20上的双色光包括透过起偏镜13形成的蓝光偏振光以及不透过起偏镜13的红光非偏振光。

偏光镜12用于对可以对透过可透光样品20的偏振光进行检测。可理解地，偏振光在透过偏光镜12时，可以产生相应的光学物理效应。线阵相机11可以捕捉到该光学物理效应，从而对得到初始图像。

可选地，偏光镜12可以包括四分之一波片(或称为1/4波片)及检偏镜，四分之一波片与检偏镜堆叠设置，以使透过样品的双色光从四分之一波片的一侧射入检偏镜，然后从检偏镜远离四分之一波片的一侧射出。当然，透过样品的双色光也可以是从检偏镜的一侧射入四分之一波片，然后从四分之一波片远离检偏镜的一侧射出，四分之一波片与检偏镜相对位置可以根据实际情况进行设置，这里不作具体限定。

可理解地，四分之一波片及检偏镜能够相互配合，以对蓝光偏振光进行检测。例如，当线偏振光(如蓝光偏振光)垂直入射1/4波片，并且光波的振动方向和1/4波片的光轴面成θ角，出射后形成椭圆偏振光。比如，当θ＝45°时，出射光为圆偏振光。波片光轴方向平行于波片平面，负晶体构成的四分之一波片的光轴方向就是快轴方向。正晶体构成的四分之一波片的快轴方向垂直于光轴方向，且位于该波片平面内。

在本实施例中，检偏镜可以确定透过检偏镜的光的种类。例如，在测试透过检偏镜的光的过程中，可以旋转检偏镜。当检偏镜在某一位置时，如光强为零，则当前光为线偏振光。

在本实施例中，起偏镜13可以用于对非偏振光进行偏光处理，从而得到偏振光。可理解地，起偏镜13可以将未定义或混合极化的光束转换为明确定义的偏振光束，即偏振光。例如，对应非偏振光的蓝光，起偏器可以透过特定极化方向的蓝光，阻挡非特定方向的蓝光透过该起偏器，从而能够将非偏振光的蓝光转化为偏振光的蓝光。

在本实施例中，双色光源14可以发出单一颜色的红光及单一颜色的蓝光。其中，蓝光需要经过偏光处理，使得输出的蓝光为偏振光(即蓝光偏振光)，比如，可以将蓝光透过起偏镜13输出，便可以使得非偏振光的蓝光转换为偏振光的蓝光，也就是说照射在样品上的蓝光为偏振光。双色光源14发出的红光为非偏振光，可以无需进行偏光处理，也就是说照射在样品上的红光为非偏振光。

可理解地，基于蓝光偏振光的特性，可以使得线阵相机11在单一的蓝光偏振光照射下采集的图像中包括应力信息及非应力信息。其中，应力信息包括：因样品内部异常的应力，使得蓝光偏振光透过该样品时，会在样品异常的应力部位形成阴影图案。非应力信息包括但不限于：因样品表面附着的尘埃、划痕等，使得红光非偏振光在穿透该样品时，会在样品有尘埃、划痕的部位形成阴影图案。基于红光非偏振光的特性，可以使得线阵相机11在单一红光非偏振光照射下采集的图像中包括不包括应力信息，而是包括非应力信息。

请参照图2，可选地，样品检测设备10还可以包括存储模块以及样品检测装置，线阵相机11、处理模块15、存储模块以及样品检测装置各个元件之间直接或间接地电性连接，以实现数据的传输或交互。例如，这些元件相互之间可通过一条或多条通讯总线或信号线实现电性连接。

处理模块15可以是一种集成电路芯片，具有信号的处理能力。上述处理模块15可以是通用处理器。例如，该处理器可以是中央处理器(Central Processing Unit，CPU)、图形处理器(Graphics Processing Unit，GPU)、网络处理器(Network Processor，NP)等；还可以是数字信号处理器(DSP)、专用集成电路(ASIC)、现场可编程门阵列(FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件。可以实现或者执行本申请实施例中的公开的各方法、步骤及逻辑框图。

存储模块可以是，但不限于，随机存取存储器，只读存储器，可编程只读存储器，可擦除可编程只读存储器，电可擦除可编程只读存储器等。在本实施例中，存储模块可以用于存储采集的图像及处理过程中的图像(如第一灰度图像、第二灰度图像)。当然，存储模块还可以用于存储程序，处理模块15在接收到执行指令后，执行该程序。

进一步地，样品检测装置包括至少一个可以软件或固件(firmware)的形式存储于存储模块中或固化在样品检测设备10操作系统(operating system，OS)中的软件功能模块。处理模块15用于执行存储模块中存储的可执行模块，例如样品检测装置所包括的软件功能模块及计算机程序等。

可以理解的是，图2所示的结构仅为样品检测设备10的一种结构示意图，样品检测设备10还可以包括比图2所示更多的组件。图2中所示的各组件可以采用硬件、软件或其组合实现。

请参照图3，本申请实施例提供的样品检测方法可以应用于上述的样品检测设备10。由样品检测设备10执行或实现样品检测方法的各步骤，能够改善现有技术中因样品存在尘埃、划痕等造成的非应力信息干扰检测结果而使得检测的结果可靠性差的技术问题。

下面将对图3所示的样品检测方法的各步骤进行详细阐述：

步骤S210，线阵相机11采集可透光样品20的初始图像，其中，初始图像为双色光源14发出的双色光在依次穿透可透光样品20、偏光镜12后并照射在线阵相机11上时，由线阵相机11采集得到的图像；双色光源14照射在可透光样品20上的双色光包括透过起偏镜13形成的蓝光偏振光以及不透过起偏镜13的红光非偏振光。

在本实施例中，线阵相机11包括线阵图像传感器。线阵图像传感器包括电荷耦合元件(Charge-coupled Device，CCD)，可以用电荷量表示信号大小，用耦合方式传输信号。比如，线阵相机11可以分多次采集样品的图像，每次采集样品中的呈线条状的区域的图像，通过多次采集然后组合形成该样品的完整图像。

在本实施例中，照射在样品上的双色光包括为偏振光的蓝光以及为非偏振光的红光。申请人研究发现，若样品表面存在尘埃颗粒、划痕等，且内部存在异常的应力时，若采用蓝光偏振光照射在该样品上，可以使得线阵相机11采集的样品的图像中包括应力信息及非应力信息；若采用红光非偏振光照射在该样品上，可以使得线阵相机11采集的样品的图像中包括仅包括非应力信息，而不包括应力信息。

其中，应力信息指：因样品内部异常的应力，使得蓝光偏振光透过该样品时，在样品异常的应力部位形成的第一阴影图案，该第一阴影图案便为应力信息。非应力信息指：因样品表面附着的尘埃、划痕等，使得红光非偏振光在穿透该样品时，在样品有尘埃、划痕的部位形成的第二阴影图案，该第二阴影图案便为非应力信息。异常应力的部位可以指该部位的内应力远大于或远小于其他部位的应力，可以根据实际情况进行确定。

步骤S220，根据蓝光偏振光及红光非偏振光对初始图像进行分离，得到与蓝光偏振光对应的第一图像及与红光非偏振光对应的第二图像。

可选地，线性相机为24位真彩色相机。真彩色是指在组成一幅彩色图像的每个像素值中，有红(R)，绿(G)，蓝(B)三个基色分量，每个基色分量可以决定显示物品的基色强度。R、G、B本身就是相互独立的颜色通道，在这种前提下，处理模块15可以将每个通道所获取的图像信息单独提取出来，即可以分离出单色图像。在本实施例中，通过采用红色和蓝色的双色光源14，可以增强图像传感器对这两通道图像的获取，使得获取的图像中保留的相应的阴影图案更为明显。

可理解地，若可透光样品20中存在异常的应力部位，且表面存在划痕或尘埃颗粒等。那么，分离得到的第一图像中通常包括应力信息及非应力信息。分离得到的第二图像中通常包括非应力信息而不包括应力信息。若可透光样品20中存在异常的应力部位，而不存在非应力引起的阴影部位(比如，样品表面无脏污、无灰尘颗粒、无划痕等)，此时，分离得到的第一图像中通常包括应力信息，而不包括非应力信息；分离得到的第二图像中通常不包括非应力信息，也不包括应力信息。

若可透光样品20实际为合格的产品，也就是样品中不存在异常的应力部位，此时，分离得到的第一及第二图像中均不包括应力信息。

步骤S230，根据第一图像及第二图像确定可透光样品20的检测结果，检测结果包括与应力对应的第一检测结果、与非应力对应的第二检测结果中的至少一种。

在本实施例中，处理模块15可以对第一图像与第二图像中的相同区域是否存在阴影图案进行识别比对，从而确定出相应的检测结果。例如，若在第一图像与第二图像相同的区域中，第一图像中的该区域存在明显的阴影(其中，明显的阴影指该区域的阴影与其他区域的色差较大，比如色差超过一预设值，该预设值可以根据实际情况进行设置)，第二图像中的该区域不存在明显的阴影，此时，便确定表征该区域应力异常的第一检测结果。若在第一图像与第二图像相同的区域中，均存在明显的阴影，此时，便确定表征该区域存在污渍或划痕等非应力信息的第二检测结果。若在第一图像与第二图像相同的区域中，均不存在明显的阴影，此时则确定表征该区域检测合格或正常的检测结果。

可选地，步骤S230可以包括：通过预设灰度处理策略将第一图像及第二图像进行灰度处理，得到与第一图像对应的第一灰度图，以及与第二图像对应的第二灰度图；根据第一灰度图及第二灰度图确定可透光样品20的检测结果。

在本实施例中，可以通过对第一图像和第二图像进行二值化处理，也就是对第一图像和第二图像进行灰度处理。基于此，若样品中存在上述的因应力信息或非应力信息形成的阴影图案，灰度处理后的灰度图有助于凸显所要获得的缺陷信号或非缺陷信号，从而有助于提高检测结果的可靠性及准确性。其中，缺陷信号指应力异常形成的阴影图案，非缺陷信号指因存在非应力信息而形成的阴影图案。

可选地，根据第一灰度图及第二灰度图确定可透光样品20的检测结果的步骤，可以包括：遍历第一灰度图与第二灰度图在相同区域中的图片的第一灰度值与第二灰度值；在第一灰度值与第二灰度值的差值大于或等于预设阈值时，确定表征第一灰度图与第二灰度图在相同区域中的应力异常的第一检测结果；在第一灰度值与第二灰度值的差值小于预设阈值时，确定表征第一灰度图与第二灰度图在相同区域中的应力正常的第一检测结果。

在本实施例中，预设阈值可以根据实际情况进行设置，方便用户筛选出应力异常的部位形成的阴影，以及由非应力信息形成的阴影。在本实施例中，可以通过卷积的方式来计算第一灰度图与第二灰度图在相同区域中的图片的第一灰度值与第二灰度值，以提高运算速度。

在对灰度值或色差值进行计算之前，方法还可以包括：对第一图像及第二图像进行信号滤除，以过滤第一图像与第二图像中可能存在的噪声信号。可理解地，在获取图像过程中可能得到的一些噪声信号干扰，比如，由于机械运动、电流或外部电磁干扰等变化所引起的噪声信号干扰。通过滤除的操作步骤，能够提高所获取的图像中的存在的颜色特征、纹理特征的有效性，从而有助于提高检测结果的可靠度及准确度。

当然，上述的第一灰度图像及第二灰度图像也可以进行上述的滤除操作。另外，还可以对第一灰度图像及第二灰度图像进行平滑处理，然后使得图像亮度平缓渐变，减小突变梯度，改善图像质量。

可选地，方法还可以包括：根据第二灰度图确定与非应力对应的第二检测结果。

在本实施例中，第二灰度图中通常不包括应力信息。若样品中存在因非应力信息形成的阴影，那么，处理模块15便可以根据图像中各区域的灰度值来确定出非应力信息，以及对应的具体位置。

其中，根据第二灰度图确定与非应力对应的第二检测结果的步骤，可以包括：将第二灰度图划分为多个子区域，并计算每个子区域的灰度值；根据所有子区域的灰度值，确定每个子区域的灰度值的离散系数；在离散系数大于或等于预设离散阈值时，确定表征离散系数对应的子区域的存在非应力异常的第二检测结果；在离散系数小于预设离散阈值时，确定表征离散系数对应的子区域的不存在非应力异常的第二检测结果。

其中，存在非应力异常指样品中存在污渍或划痕等，或者指由非应力形成的阴影图案。不存在非应力异常指样品中不存在污渍或划痕等，或者指不存在由非应力形成的阴影图案。预设离散阈值可以根据实际情况进行设置，这里不作具体限定。

可选地，方法还可以包括：对存在非应力异常的子区域进行标记，或者对应力异常的子区域进行标记。其中，非应力异常指样品中存在污渍(如灰尘)、划痕等。通过标记，可以方便用户直观地确定出非应力异常/应力异常的区域的位置。

请结合参照图4a、图4b及图4c，假如可透光样品20中存在应力信息及非应力信息，线阵相机11通过上述的方式采集到初始图像后，可以分离得到如图4a所示的第一灰度图像，以及如图4b所示的第二灰度图像，基于图4a、图4b得到的仅包括应力信息的图4c。

可理解地，在图4a中，包括了应力异常形成的阴影以及非应力信息形成的阴影。在图4b中，包括了非应力信息形成的阴影，不包括应力异常形成的阴影。处理模块15可以基于图4b中的各区域中的阴影来过滤图4a中在相同区域的阴影，从而使得图4a中仅包括如图4c中所示的由应力异常形成的阴影。基于此，样品检测设备10便能改善现有技术中因样品存在尘埃、划痕等造成的非应力信息干扰检测结果而使得检测的结果可靠性差的技术问题。

另外，相比于现有技术中采用人工检测的方式，本申请可以通过样品检测设备10自动完成样品应力的检测，能够缩短单次检测的时长，提高检测效率，有助于对大量的样品进行检查，能够改善现有技术中因采用人工检测的而使得检测速度慢、效率低，需要耗费的人力资源多的技术问题。

需要说明的是，所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为描述的方便和简洁，上述描述的样品检测设备10的具体工作过程，可以参考前述方法中的各步骤对应过程，在此不再过多赘述。

本申请实施例还提供一种计算机可读存储介质。可读存储介质中存储有计算机程序，当计算机程序在计算机上运行时，使得计算机执行如上述实施例中的样品检测方法。

通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到本申请可以通过硬件实现，也可以借助软件加必要的通用硬件平台的方式来实现，基于这样的理解，本申请的技术方案可以以软件产品的形式体现出来，该软件产品可以存储在一个非易失性存储介质(可以是CD-ROM，U盘，移动硬盘等)中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本申请各个实施场景所述的方法。

综上所述，本申请提供一种样品检测方法、样品检测设备及计算机可读存储介质。方法通过线阵相机采集可透光样品的初始图像，其中，初始图像为双色光源发出的双色光在依次穿透可透光样品、偏光镜后并照射在线阵相机上时，由线阵相机采集得到的图像；双色光源照射在可透光样品上的双色光包括透过起偏镜形成的蓝光偏振光以及不透过起偏镜的红光非偏振光；根据蓝光偏振光及红光非偏振光对初始图像进行分离，得到与蓝光偏振光对应的第一图像及与红光非偏振光对应的第二图像；根据第一图像及第二图像确定可透光样品的检测结果，检测结果包括与应力对应的第一检测结果、与非应力对应的第二检测结果中的至少一种。在本方案中，通过蓝光偏振光能够使得分离得到的第一图像中包括样品的应力信息及非应力信息，通过红光非偏振光能够使得分离得到的第二图像中包括样品的非应力信息，从而能够确定出样品的应力信息，改善现有技术中因样品存在尘埃、划痕等造成的非应力信息干扰检测结果而使得检测的结果可靠性差的技术问题。

以上所述仅为本申请的优选实施例而已，并不用于限制本申请，对于本领域的技术人员来说，本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请的保护范围之内。

Claims

1.一种样品检测方法，其特征在于，应用于检测可透光样品的样品检测设备，所述样品检测设备包括：线阵相机、偏光镜、起偏镜、双色光源；所述方法包括：

根据所述蓝光偏振光及所述红光非偏振光对所述初始图像进行分离，得到与所述蓝光偏振光对应的第一图像及与所述红光非偏振光对应的第二图像，所述第一图像包括与应力及非应力对应的信息，所述第二图像包括与非应力对应的信息；

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述第一图像及所述第二图像确定所述可透光样品的检测结果，包括：

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，根据所述第一灰度图及所述第二灰度图确定所述可透光样品的检测结果，包括：

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

根据所述第二灰度图确定与非应力对应的第二检测结果。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，根据所述第二灰度图确定与非应力对应的第二检测结果，包括：

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

对存在非应力异常的子区域进行标记。

7.一种样品检测设备，其特征在于，所述样品检测设备包括：线阵相机、偏光镜、起偏镜、双色光源及处理模块；

所述处理模块用于根据所述蓝光偏振光及所述红光非偏振光对所述初始图像进行分离，得到与所述蓝光偏振光对应的第一图像及与所述红光非偏振光对应的第二图像，所述第一图像包括与应力及非应力对应的信息，所述第二图像包括与非应力对应的信息；

8.根据权利要求7所述的设备，其特征在于，所述处理模块还用于：

9.根据权利要求8所述的设备，其特征在于，所述处理模块还用于：

根据所述第二灰度图确定与非应力对应的第二检测结果。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述可读存储介质中存储有计算机程序，当所述计算机程序在计算机上运行时，使得所述计算机执行如权利要求1-6中任意一项所述的方法。