KR20120112901A - 적외선 흡수체 및 이를 이용한 적외선 검출기 - Google Patents

적외선 흡수체 및 이를 이용한 적외선 검출기 Download PDF

Info

Publication number
KR20120112901A
KR20120112901A KR1020110030480A KR20110030480A KR20120112901A KR 20120112901 A KR20120112901 A KR 20120112901A KR 1020110030480 A KR1020110030480 A KR 1020110030480A KR 20110030480 A KR20110030480 A KR 20110030480A KR 20120112901 A KR20120112901 A KR 20120112901A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
infrared
heat
infrared absorber
layer
absorber according
Prior art date
Application number
KR1020110030480A
Other languages
English (en)
Other versions
KR101244459B1 (ko
Inventor
박재홍
김희연
안치원
현문섭
Original Assignee
한국과학기술원
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 한국과학기술원 filed Critical 한국과학기술원
Priority to KR1020110030480A priority Critical patent/KR101244459B1/ko
Publication of KR20120112901A publication Critical patent/KR20120112901A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR101244459B1 publication Critical patent/KR101244459B1/ko

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/10Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using electric radiation detectors
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/02Details
    • G01J1/0252Constructional arrangements for compensating for fluctuations caused by, e.g. temperature, or using cooling or temperature stabilization of parts of the device; Controlling the atmosphere inside a photometer; Purge systems, cleaning devices
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/58Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using absorption; using extinction effect
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14643Photodiode arrays; MOS imagers
    • H01L27/14649Infrared imagers

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)

Abstract

열 흡수층으로 입사하는 적외선 에너지를 열로 변환하는 적외선 흡수체 및 변환된 열을 감지하는 적외선 감지체를 이용하여 적외선을 검출하기 위한 적외선 검출기가 개시되어 있다. 이러한 적외선 흡수체는 열을 감지할 수 있는 열 감지체층과 귀금속을 포함하는 열 흡수층을 포함한다. 열 흡수층은 열 감지체층의 상부 또는 하부에 제공된다. 이러한 적외선 흡수체는 80% 이상 또는 90% 이상의 적외선 흡수율을 나타내어 산업적으로 매우 유리하다.

Description

적외선 흡수체 및 이를 이용한 적외선 검출기 {INFRA RED ADSORBER AND INFRA RED DETECTOR USING THE SAME}
본 발명은 적외선 흡수율이 높은 적외선 흡수체 및 이를 이용하는 적외선 검출기에 관한 것이다.
종래의 열형 적외선 검출기로는 예를 들어 특허 문헌 1 또는 2에 기재된 적외선 검출기가 있다. 일본 특허 제2523895호(특허 문헌 1)에는 초전형 적외선 고체 촬상 장치가 개시되어 있다. 이 장치의 적외선 흡수막은 광범위한 적외선 영역에 감도를 갖는 유기물층과 파장 10㎛ 부근의 흡수율이 높은 SiO2 층으로 이루어진 적층 구조를 갖는다.
일본 특허 제3608427호(특허 문헌 2)에는 열형 적외선 센서가 개시되어 있다. 이 일본 특허 문헌에서의 적외선 흡수체로는 외부로부터의 입사 적외선의 에너지를 열로 변환하기 위한 적외선 흡수체로서, 적어도 2개 이상의 금속막을 각각 적외선 반사층과 흡수층으로 가지고 있고 그 얇은 금속막들 사이에 적외선 감지막이 위치하고 있는 형태를 갖는다. 이러한 적외선 흡수체에서의 적외선 흡수율은 최대 50% 정도에 불과하다.
또한, 적외선을 검출할 때에는 넓은 파장역의 적외선을 흡수할 수 있는 능력이 확보되고 또한 다양한 영역대의 특수 파장의 적외선을 선택적으로 고효율로 검출할 수 있는 것이 바람직하다. 특허 문헌 2에는 검출 가능한 파장역의 광대역화에 관해서는 전혀 제시되어 있지 않다.
더욱이, 현재까지 알려진 열 흡수층으로는 Ti 계열의 금속이 사용되고 있으며, 이의 적외선 흡수율은 약 70%정도에 해당하여, 그 이상의 적외선 흡수율을 갖는 새로운 적외선 흡수체의 개발이 요구되는 실정이다.
특허 문헌 1 : 일본 특허 제2523895호 공보 특허 문헌 2 : 일본 특허 제3608427호 공보
본 발명은 종래기술의 한계를 극복하기 위해 안출된 것으로, 본 발명의 목적은 적외선을 보다 효율적으로 흡수하여 적외선 에너지를 열로 변환할 수 있는 적외선 흡수체를 제공하는 데에 있다.
본 발명의 다른 목적은 보다 효율적인 적외선 흡수체를 제조하여 그 적외선 흡수체를 포함하는 적외선 검출기를 제공하는 데에 있다.
상기 및 그 밖의 목적을 달성하기 위하여, 본 발명은,
열을 감지할 수 있는 하나 이상의 열 감지체층; 및
귀금속을 포함하고 상기 열 감지체층의 상부 또는 하부에 적층되어 있는 하나 이상의 열 흡수층;을 포함하며, 상기 열 흡수층으로 입사하는 적외선 에너지를 열로 변환하는 적외선 흡수체를 제공한다.
본 발명의 보다 바람직한 구체예에 따르면, 상기 열 흡수층 중의 어느 하나 이상의 열 흡수층 상에 패시베이션층이 2 내지 1000nm 두께로 제공되거나 동종 또는 이종 금속막으로 패시베이션한 구조로 형성된 층이 제공될 수 있다. 이러한 패시베이션층(또는 유전체층)은 열 흡수율을 다소 떨어뜨릴 수 있으나 열 흡수층의 직접적인 손상을 회피할 수 있어 제품에의 적용에는 유리하다.
본 발명의 더욱 더 바람직한 구체예에 따르면, 상기 열 감지체층의 하부에 적층되어 적외선을 투과시키며 상기 열 감지체층을 지지할 수 있는 지지 기판으로서, 바람직하게는 Ge 계열, Si 계열 또는 이들 계열의 혼합 계열 지지 기판을 더 포함한다.
상기 열 흡수층 중의 적어도 하나의 열 흡수층에 포함되어 있는 귀금속은 나노미터 크기의 입자 또는 클러스터 형태로 제공되거나 막(film) 형태로 제공될 수 있다. 이러한 열 흡수층은 2 내지 50 nm 의 두께를 갖는 것이 바람직하다. 열 흡수층이 2nm 이하의 두께를 갖는 경우에는 적외선이 투과되고 각각 50nm 이상의 두께를 갖는 경우에는 적외선이 반사되어 적외선 흡수율에 오히려 부정적인 영향을 미칠 수 있다.
본 발명에서 사용되는 귀금속으로는 금(Au), 은(Ag) 및 백금(Pt)으로부터 선택되며, 이들 귀금속은 단독으로 또는 조합적으로 선택될 수 있다. (실시예 데이터 참조).
또한, 열 감지체층(10)으로는 적외선을 감지할 수 있는 물질이 사용되며, 바람직하게는 비정질 실리콘, 바나듐 옥사이드(V2O3) 등의 적외선 열 에너지를 다른 종류의 에너지로 변환하는 능력이 있는 재료 중에서 선택되는 화합물이 사용된다.
또한, 본 발명은 상기한 형태의 적외선 흡수체와 상기 적외선 흡수체로부터의 열을 전기적인 양으로 변환하는 열전 변환부를 포함하는 적외선 검출기를 제공한다.
본 발명에 의한 적외선 흡수체는 하기 실시예를 통해 확인되는 바와 같이 종래의 Ti 계 박막의 약 70% 흡수율인 것과 비교하여 90% 이상의 흡수율을 나타내며, 특히 은(Ag)이 나노클러스터 또는 막(film) 형태로 적용되었을 때는 97%의 열 흡수율 나타낼 정도로 종래기술 보다 월등히 우수하다.
도 1은 본 발명에 따른 적외선 흡수체가 적용될 수 있는 다양한 예를 보여주는 사진으로서, 에너지 절감을 모니터링할 수 있는 방사 에너지 감지기술 분야에의 응용, 환경오염 모니터링 분야에의 응용, 발열성 질병 진단기기 분야에의 응용, 체내 적외선 감지를 통한 보조의료기기에의 응용, 군사용 감지기기에의 응용 및 자동차 시야 보조 기기에의 응용을 보여주는 사진이다.
도 2는 본 발명의 바람직한 제 1 구체예에 따른 적외선 흡수체의 적층 구조를 도해하는 도면이다.
도 3은 본 발명의 바람직한 제 2 구체예에 따른 적외선 흡수체의 적층 구조를 도해하는 도면이다.
도 4는 본 발명의 바람직한 제 3 구체예에 따른 적외선 흡수체의 적층 구조를 도해하는 도면이다.
도 5는 본 발명의 바람직한 제 4 구체예에 따른 적외선 흡수체의 적층 구조를 도해하는 도면이다.
도 6은 본 발명의 바람직한 제 5 구체예에 따른 적외선 흡수체의 적층 구조를 도해하는 도면이다.
도 7은 본 발명의 바람직한 제 1, 3 및 5 구체예에 따른 적외선 흡수체에서 사용되는 귀금속 나노입자들이 분포되어 있는 것을 전자현미경 사진으로, 특히 도 7a는 Ag 50% 면밀도일 때를 나타내고, 도 7b는 Ag 100% 면밀도일 때를 나타낸다.
도 8은 본 발명의 바람직한 제 2, 제 3, 제 4 및 제 5 구체예 따른 귀금속 막 적외선 흡수체가 증착 또는 적층된 기판의 모식도이다.
도 9는 8㎛ 파장에서 하기 실시예 1 내지 5 및 비교예 1 및 2을 통해 얻은 적외선 흡수율 결과를 나타내는 그래프이다.
도 10은 본 발명의 바람직한 구체예에 따른 적외선 흡수체가 적용되어 구성되는 적외선 검출기의 블록도이다.
도 11은 본 발명에 따른 적외선 흡수체가 적용되었을 때의 흡수율과 통상적인 Ti 금속 흡수층과 비정질 실리콘만으로 적외선 흡수체가 이루어졌을 때를 비교의 목적상 평균하여 나타낸 그래프이다.
도 12는 도 11에서 "B" 의 경우에 적외선 검출기를 통해 촬영한 사진이다.
도 13은 도 11에서 "A" 의 경우에 적외선 검출기를 통해 촬영한 사진이다.
이하, 본 발명은 첨부된 예시 도면을 참조하여 보다 상세하게 설명된다. 다만, 본 발명을 설명함에 있어서, 이미 공지된 기능 혹은 구성에 대한 설명은, 본 발명의 요지를 명료하게 하기 위하여 생략하기로 한다.
본 발명에 따른 적외선 흡수체는 도 1에 예시적으로 도시된 바와 같이 에너지 절감을 모니터링할 수 있는 방사 에너지 감지기술 분야, 환경오염 모니터링 분야, 발열성 질병 진단기기 분야, 체내 적외선 감지를 통한 보조의료기기 분야, 군사용 감지기기 분야 및 자동차 시야 보조기기 분야에 응용될 수 있다.
본 발명에 따른 적외선 흡수체는 2 내지 25㎛ 파장 영역의 적외선을 흡수한다. 이러한 목적 하의 본 발명에 따른 적외선 흡수체는 적외선을 감지할 수 있는 열 감지체층(10)과 귀금속을 포함하는 하나 이상의 열 흡수층(20)을 포함한다. 하나 이상의 상기 열 흡수층(20)은 상기 열 감지체층(10) 상에 적층되고, 상기 열 감지체층(10)의 하부에는 필요에 따라 Ge 계열, Si 계열 또는 이들 계열의 혼합 계열 지지 기판이 적층된다. 열 감지체층(10)에서 사용될 수 있는 물질로는 다양하게 공지되어 있으며, 대표적으로는 비정질 실리콘과 바나듐 옥사이드가 언급될 수 있다. 상기 지지 기판은 적외선을 투과할 수 있는 물질로 이루어지며, Ge 계열 단결정 또는 Si 계열 단결정이 대표적으로 사용될 수 있다. 한편으로는, 지지 기판은 당업자에게는 자명한 것으로, 이하의 설명에서는 생략될 것이다. 이하에서는 본 발명을 각각 구체예별로 살펴보기로 한다.
제 1 구체예
도 2에는 본 발명의 바람직한 제 1 구체예에 따른 적외선 흡수체의 적층 구조가 도해되어 있다.
도 2를 참조하면, 본 발명의 바람직한 제 1 구체예에 따른 적외선 흡수체는 열 감지체층(10)과 나노미터 크기의 귀금속 입자 또는 클러스터로 이루어진 열 흡수층(20a)을 포함한다. 도 2에서는 본 발명의 이해를 돕기 위해 나노미터 크기의 귀금속 입자 또는 클러스터를 각각 타원형의 단층으로 나타내었으나, 도면을 볼 때에는 이들 나노미터 크기의 귀금속 입자 또는 클러스터가 다양한 형태로 상호 적층되어 있는 것으로 이해되어야 한다.
본 발명의 바람직한 제 1 구체예에 따른 적외선 흡수체에서 사용되는 열 감지체층(10)으로는 적외선을 감지할 수 있는 물질이라면 어떠한 물질도 사용될 수 있으며, 대표적으로는 비정질 실리콘(a-Si), 바나듐(III) 옥사이드(V2O3)가 사용된다.
열 흡수층(20a)은 상기 열 감지체층(10) 상에 제공된다. 상기 열 흡수층(20a)은 나노미터 크기의 귀금속 입자 또는 클러스터(특히 도 7 참조)가 상기 열 감지체층(10) 상에 적층되는 형태로 제공된다. 사용될 수 있는 귀금속으로는 바람직하게는 금(Au), 은(Ag), 백금(Pt) 또는 이들이 혼합된 귀금속 혼합물이 사용된다. 특히, 나노미터 크기의 은 입자 또는 클러스터가 더욱 더 바람직하게 사용된다. 이때, 나노미터 크기의 귀금속 입자 또는 클러스터 형태로 제공되는 열 흡수층(20a)은 2 내지 50nm의 두께로 제공되는 것이 바람직하다. 두께가 지나치게 작으면 적외선을 투과하고 두께가 지나치게 크면 오히려 적외선을 반사하여, 흡수 대상 파장 범위(2 내지 25㎛)의 적외선을 흡수할 수 없어 열 흡수층으로의 기능을 할 수 없게 된다.
파장을 갖는 빛 에너지를 손실 없이 흡수하기 위해서는 빛 에너지와 그 구조 소재의 임피던스(impedance)가 일치(matching)되어야 한다. 특히 진공 상태에서 빛 에너지의 임피던스는 공기의 전기장과 자기장의 비율인 377 오옴(Ω) 이기 때문에 진공 상태에서 빛 에너지의 임피던스와 금속막 또는 금속 나노클러스터막의 임피던스의 매칭을 위해서는 그 막의 임피던스를 단위 면적당 377 오옴(Ω)이 될 수 있는 두께로 증착하여야 한다. 이때 그 두께는 그 막의 조성 및 그 막을 증착하는 방법과 조건에 따라 2 내지 50nm의 편차를 갖는다. 이러한 이론적인 기준에 따라 열 흡수층(20a)의 두께로는 2 내지 50nm가 바람직하다.
본 구체예에는 도시되어 있지만, 열 감지체층(10)의 하부에는 열 감지체층(10)과 열 흡수층(20a)을 함께 지지하기 위한 지지기판이 제공된다. 이러한 지지기판은 Ge 계열, Si 계열 또는 이들 계열의 혼합 계열 화합물 또는 단결정을 포함하여 형성된다.
여기서 열 흡수층(20a)으로서의 금속 나노미터 크기의 입자로 형성된 막 또는 나노미터 크기의 클러스터막은 습식 또는 건식 증착방법, 또는 산란 및/또는 분산법에 의한 증착에 의해 형성될 수 있다.
이와 같은 구성을 갖는 본 발명의 바람직한 제 1 구체예에 따른 적외선 흡수체는 종래의 Ti 계 화합물로 구성된 열 흡수층을 사용하였을 때의 약 70%에 비하여 90% 이상의 적외선 흡수율을 나타낸다(실시예에 따른 표 1 및 도 9 참조).
제 2 구체예
도 3에는 본 발명의 바람직한 제 2 구체예에 따른 적외선 흡수체의 적층 구조가 도해되어 있다.
도 3을 참조하면, 본 발명의 바람직한 제 2 구체예에 따른 적외선 흡수체는 열 감지체층(10)과 귀금속이 막(film) 형태(특히 도 8 참조)로 제공된 열 흡수층(20b)을 포함한다.
본 발명의 바람직한 제 2 구체예에 따른 적외선 흡수체에서 사용되는 열 감지체층(10)으로는 제 1 구체예와 마찬가지로 적외선을 감지할 수 있는 물질이라면 어떠한 물질도 사용될 수 있으며, 대표적으로는 비정질 실리콘(a-Si), 바나듐(III) 옥사이드(V2O3)가 사용된다.
열 흡수층(20b)은 상기 열 감지체층(10) 상에 제공된다. 상기 열 흡수층(20b)은 귀금속이 막 형태로 상기 열 감지체층(10) 상에 적층되는 형태로 제공된다. 이때, 사용될 수 있는 귀금속으로는 바람직하게는 금(Au), 은(Ag), 백금(Pt) 또는 이들이 혼합된 귀금속 혼합물이 사용된다. 이때, 막 형태로 제공되는 열 흡수층(20b)은 2 내지 50nm의 두께로 제공된다. 열 흡수층(20b)의 두께가 지나치게 작으면 적외선을 투과하고 두께가 지나치게 크면 오히려 적외선을 반사하여, 흡수 대상 파장 범위(2 내지 25㎛)의 적외선을 흡수할 수 없어 열 흡수층으로의 기능을 할 수 없게 된다.
본 구체예에는 도시되어 있지만, 열 감지체층(10)의 하부에는 열 감지체층(10)과 열 흡수층(20b)을 함께 지지하기 위한 지지기판이 제공된다. 이러한 지지기판은 Ge 계열, Si 계열 또는 이들 계열의 혼합 계열 화합물 또는 단결정을 포함하여 형성된다.
여기서 열 흡수층(20b)으로서의 금속 나노미터 크기의 입자로 형성된 막 또는 나노미터 크기의 클러스터막은 습식 또는 건식 증착방법, 또는 산란 및/또는 분산법에 의한 증착에 의해 형성될 수 있다.
이와 같은 구성을 갖는 본 발명의 바람직한 제 2 구체예에 따른 적외선 흡수체는 종래의 Ti 계 화합물로 구성된 열 흡수층을 사용하였을 때의 약 70%에 비하여 90% 이상의 적외선 흡수율을 나타낸다(실시예에 따른 표 1 및 도 9 참조).
제 3 구체예
도 4에는 본 발명의 바람직한 제 3 구체예에 따른 적외선 흡수체의 적층 구조가 도해되어 있다.
도 4를 참조하면, 본 발명의 바람직한 제 3 구체예에 따른 적외선 흡수체는 상기한 본 발명의 바람직한 제 1 구체예의 구성에 더하여 열 흡수층(20a) 상에 패시베이션층(30)을 더 포함한다. 도 4에서도 마찬가지로 본 발명의 이해를 돕기 위해 나노미터 크기의 귀금속 입자 또는 클러스터를 각각 타원형의 단층으로 나타내었으나, 도면을 볼 때에는 이들 나노미터 크기의 귀금속 입자 또는 클러스터가 다양한 형태로 상호 적층되어 있는 것으로 이해되어야 한다. 또한, 나노미터 크기의 귀금속 입자 또는 귀금속 클러스터와 페이베이션층 사이의 빈 공간은 도식상 불가피하게 표현되었으나, 패이베이션층으로 모두 충전되어 없는 것으로 이해되어야 한다.
본 구체예의 구성 중 도면부호 30으로 도시된 패시베이션층의 부가적 구성을 제외하고는 상기한 본 발명의 바람직한 제 1 구체예와 동일하며, 동일 구성에 대한 설명은 생략하기로 한다.
패시베이션층(30)은 열 흡수층(20a) 상에 적층되며, 바람직하게는 2 내지 1000 nm의 두께를 갖는다. 대안적으로, 패시베이션층(30)으로는 적외선 감지물질로서 예를 들어 일반적인 적외선 감지물질인 비정질 실리콘 또는 바나듐옥사이드 단독으로 또는 다른 금속성 물질로 이루어진 금속막으로 패시베이션된 구조일 수 있다.
여기서 열 흡수층(20a)으로서의 금속 나노미터 크기의 입자로 형성된 막 또는 나노미터 크기의 클러스터막은 습식 또는 건식 증착방법, 또는 산란 및/또는 분산법에 의한 증착에 의해 형성될 수 있다.
이와 같은 구성을 갖는 본 발명의 바람직한 제 3 구체예에 따른 적외선 흡수체는 종래의 Ti 계 화합물로 구성된 열 흡수층을 사용하였을 때의 약 70%에 비하여 80% 이상의 적외선 흡수율을 나타낸다(실시예에 따른 표 1 참조). 비록 상기한 제 1 구체예와 제 2 구체예에 비해서 적외선 흡수율은 다소 떨어지나, 열 흡수층의 직접적인 손상을 피할 수 있어서 제품 적용 형태로는 유리하다.
제 4 구체예
도 5에는 본 발명의 바람직한 제 4 구체예에 따른 적외선 흡수체의 적층 구조가 도해되어 있다.
도 5를 참조하면, 본 발명의 바람직한 제 4 구체예에 따른 적외선 흡수체는 상기한 본 발명의 바람직한 제 3 구체예를 변형한 것으로, 나노미터 크기의 귀금속 입자 또는 클러스터 형태로 제공되는 열 흡수층(20a) 대신에 귀금속이 막 형태로 제공된 열 흡수층(20b)을 사용하여 제조된 것만 상이하다.
여기서 열 흡수층(20b)으로서의 금속 나노미터 크기의 입자로 형성된 막 또는 나노미터 크기의 클러스터막은 습식 또는 건식 증착방법, 또는 산란 및/또는 분산법에 의한 증착에 의해 형성될 수 있다.
이와 같은 구성을 갖는 본 발명의 바람직한 제 4 구체예에 따른 적외선 흡수체는 종래의 Ti 계 화합물로 구성된 열 흡수층을 사용하였을 때의 약 70%에 비하여 80% 이상의 적외선 흡수율을 나타낸다. 비록 상기한 제 1 구체예와 제 2 구체예에 비해서 적외선 흡수율은 다소 떨어지나, 열 흡수층의 직접적인 손상을 피할 수 있어서 상기한 제 3 구체예와 같이 제품 적용 형태로는 유리하다.
제 5 구체예
도 6에는 본 발명의 바람직한 제 5 구체예에 따른 적외선 흡수체의 적층 구조가 도해되어 있다.
도 6을 참조하면, 본 발명의 바람직한 제 5 구체예에 따른 적외선 흡수체는 나노미터 크기의 귀금속 입자 또는 클러스터가 제공되어 있는 열 흡수층(20a)과 귀금속이 막 형태로 그 상부에 제공되어 있는 열 흡수층(20b)이 열 감지체층(10) 사이에 제공된다는 점을 제외하고 본 발명의 제 3 구체예와 제 4 구체예가 혼용된 형태를 갖는다. 또한 이렇게 열 감지체층(10) 사이에 나노미터 크기의 귀금속 입자 또는 클러스터가 제공되어 있으며, 귀금속 막이 열 감지체층(10) 상부에 제공된 구조에서는 이러한 귀금속 나노입자 또는 클러스터에 들어가 있는 깊이와 그 분포상태에 따라 열 감지체층 자체의 주요 감지특성인 저항이 변화될 수 있는 특성이 부여될 수 있다.
여기서 열 흡수층(20b)으로서의 금속 나노미터 크기의 입자로 형성된 막 또는 나노미터 크기의 클러스터막은 습식 또는 건식 증착방법, 또는 산란 및/또는 분산법에 의한 증착에 의해 형성될 수 있다.
이와 같은 구성을 갖는 본 발명의 바람직한 제 5 구체예에 따른 적외선 흡수체는 종래의 Ti 계 화합물로 구성된 열 흡수층을 사용하였을 때의 약 70%에 비하여 80% 이상의 적외선 흡수율을 나타낸다. 비록 상기한 제 1 구체예와 제 2 구체예에 비해서 적외선 흡수율은 다소 떨어지나, 열 흡수층의 직접적인 손상을 피할 수 있어서 상기한 제 3 구체예와 같이 제품 적용 형태로는 유리하다.
이와 같이 다양한 형태로 제시될 수 있는 본 발명에 따른 적외선 흡수체는 도 10에 도시된 바와 같이 적외선 검출기에 적용될 수 있다. 이러한 적외선 검출기 자체는 당업자에게는 자명한 것으로, 적외선 흡수체(10)와 적외선 감지체 (20) 및 상기 적외선 흡수체(10)와 적외선 감지체(20)로 특수한 파장의 적외선을 선택적으로 증폭하기 위해 그 적외선 파장의 4분의 1만큼의 거리를 비워둔 적외선 선택부(40) 및 특정 파장의 감지된 적외선을 전기 신호로 출력할 수 있는 회로기판(50)를 포함한다. 즉, 열 흡수층(20)으로 입사하는 적외선 에너지를 열 감지체층(10)에서 감지하고, 이후 특정 파장의 열선택부(40) 및 전기신호 출력부(50)를 거쳐 그 특정 파장의 열이 전기적인 양 또는 신호로 변환되어 거쳐 검출된다.
이하, 본 발명은 하기의 실시예로 설명된다. 하기 실시예는 본 발명을 설명하기 위한 것일 뿐, 본 발명이 하기의 실시예로 한정되는 것은 아니다.
실시예 1 내지 5
적외선 파장은 2~25㎛로 하고, Ge 기판, 비정질 실리콘, 나노미터 크기의 귀금속 입자 또는 클러스터 또는 귀금속 막을 하기 표 1과 같이 적층되게 제조한 후 적외선 흡수율을 평가하여 그 결과를 하기 표 1 (특수 파장 8㎛에서의 예) 및 도 9 (전체 적외선 파장인 2~25㎛에서의 예)에 제시하였다. 상세한 실험 및 평가 과정은 다음과 같다.
먼저 적외선 투과율이 약 98%로 우수한 Ge 기판상에 건식증착 방법의 하나인 화학기상증착(CVD, Chemical Vapor Deposition)방법으로 적외선 감지체의 일종인 비정질 실리콘을 1000ㅕ의 두께로 증착하여 1종의 시편을 준비하였다. 이어서 상기 시편과 같은 시편(a-Si/Ge)에 적외선 흡수체로서 Ag, Au, Pt 막을 150ㅕ의 두께로 증착하여 다른 3가지 종류의 시편을 준비하였다. 또한 위 a-Si/Ge 시편에 다른 형태의 적외선 흡수체로서 50ㅕ(면밀도 50%)와 150ㅕ(면밀도 100%) 두께의 Ag 나노입자를 건식증착 방법의 일종인 스퍼터링(sputtering) 방법으로 증착하여 다른 2가지 종류의 시편을 준비하였다. 또한 a-Si/Ge 시편에 다른 형태의 적외선 흡수체로서 50ㅕ(면밀도 50%) 두께의 Ag 나노입자를 증착한 후 그 상부에 다시 동종의 적외선 감지체인 두께 1000ㅕ의 비정질 Si를 증착하여 다른 1종의 시편을 증착하였다. 위 총 7종으로 준비된 시편을 FT-IR 장비를 이용하여 2~25㎛에서의 적외선을 입사시킨 후 흡수된 양을 측정함으로써 위 파장영역에서의 적외선 흡수율을 측정하였다.
비교예 1 및 2
적외선 파장은 2~25㎛로 하고, 비교예 1을 통해서는 하기 표 1과 같이 Ge 기판과 비정질 실리콘만으로 구성되었을 때의 적외선 흡수율을 평가하였고, 비교예 2를 통해서는 하기 표 1과 같이 150ㅕ 두께의 Ti 막을 열 흡수층으로 적용하여 적외선 흡수율을 평가하여 그 결과를 하기 표 1 (특수 파장 8㎛에서의 예) 및 도 9 (전체 적외선 파장인 2~25㎛에서의 예)에 제시하였다. 실험 및 평가 방법은 실시예 1 내지 5와 같다.
8㎛ 파장에서의 흡수율
구성막 적외선 흡수율
실시예 1 Ge / a-Si / 150 Å Ag 막 97 %
실시예 2 Ge / a-Si / 50 Å Ag 나노입자 92 %
실시예 3 Ge / a-Si / 50 Å Ag 나노입자 / a-Si 81 %
실시예 4 Ge / a-Si / 150 Å Au 막 94 %
실시예 5 Ge / a-Si / 150 Å Pt 막 94 %
비교예 1 Ge / a-Si 9.5 %
비교예 2 Ge / a-Si / 150 Å Ti 막 70 %
상기 표 1을 통해 확인되는 바와 같이, 본 발명에 따른 적외선 흡수체를 사용하였을 때에는 비교예 1 및 특히 비교예 2의 70% 인 것과 대비하여 최소 80% 이상의 높은 적외선 흡수율을 나타내었다.
특히, 실시예 1에서 95% 이상의 가장 높은 적외선 흡수율이 관찰되었으며, 실시예 2, 4, 5에서도 90% 이상의 상당히 높은 적외선 흡수율을 나타내었다.
도 11은 도 9에 제시되어 있는 그래프를 실시예들의 평균치와 비교예 2의 값을 대비하여 나타낸 그래프이고, 도 12는 도 11의 A일 때의 촬상 영상이고, 도 12는 도 11의 B일 때의 촬영 영상을 나타낸 것이다.
이상에서는 본 발명의 바람직한 구체예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술분야의 숙련된 당업자라면 하기의 특허청구범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.
10 : 열 감지체층
20 : 열 흡수층 (20a, 20b, 20c,...)
30 : 패시베이션층
40 : 특정 파장 적외선 선택부
50 : 신호 전달 및 처리부

Claims (16)

  1. 열을 감지할 수 있는 하나 이상의 열 감지체층(10); 및
    귀금속을 포함하고 상기 열 감지체층(10)의 상부 또는 하부에 적층되어 있는 하나 이상의 열 흡수층(20);을 포함하며, 상기 열 흡수층(20)으로 입사하는 적외선 에너지를 열로 변환하는 적외선 흡수체.
  2. 제 1항에 있어서, 상기 열 흡수층(20)의 두께가 2 내지 50 nm 인 것을 특징으로 하는 적외선 흡수체.
  3. 제 2항에 있어서, 상기 열 흡수층(20) 중의 적어도 하나의 열 흡수층(20)에 포함되어 있는 귀금속이 나노미터 크기의 입자 또는 클러스터 형태로 제공되어 있는 것을 특징으로 하는 적외선 흡수체.
  4. 제 3항에 있어서, 상기 귀금속이 금(Au), 은(Ag) 및 백금(Pt)으로 구성된 군으로부터 단독으로 또는 조합적으로 선택되는 것을 특징으로 하는 적외선 흡수체.
  5. 제 3항에 있어서, 상기 귀금속이 은(Ag) 인 것을 특징으로 하는 적외선 흡수체.
  6. 제 2항에 있어서, 상기 열 흡수층(20) 중의 적어도 하나의 열 흡수층(20)에 포함되어 있는 귀금속이 막(film) 형태로 제공되어 있는 것을 특징으로 하는 적외선 흡수체.
  7. 제 6항에 있어서, 상기 귀금속이 금(Au), 은(Ag) 및 백금(Pt)으로 구성된 군으로부터 단독으로 또는 조합적으로 선택되는 것을 특징으로 하는 적외선 흡수체.
  8. 제 6항에 있어서, 상기 귀금속이 은(Ag) 인 것을 특징으로 하는 적외선 흡수체.
  9. 제 1항 내지 제 8항 중의 어느 한 항에 있어서, 상기 열 감지체층(10) 중의 어느 하나 이상의 열 감지체층(10)의 하부에 적층되어 있는 Ge 계열, Si 계열 또는 이들 계열의 혼합 계열 지지 기판을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 적외선 흡수체.
  10. 제 9항에 있어서, 상기 열 흡수층(20) 중의 어느 하나 이상의 열 흡수층(20) 상에 적층되어 있는 패시베이션층(30)을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 적외선 흡수체.
  11. 제 10항에 있어서, 상기 패시베이션층(30)의 두께가 2 내지 1000 nm 인 것을 특징으로 하는 적외선 흡수체.
  12. 제 10항에 있어서, 상기 열 감지체층(10)이 비정질 실리콘 또는 바나듐 옥사이드(V2O3)를 포함하여 열 전기적 에너지 변환이 가능한 열 흡수체 중에서 선택되는 화합물을 포함하는 것을 특징으로 하는 적외선 흡수체.
  13. 제 1항 내지 제 8항 중의 어느 한 항에 있어서, 상기 열 흡수층(20) 중의 어느 하나 이상의 열 흡수층(20) 상에 적층되어 있는 패시베이션층(30)을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 적외선 흡수체.
  14. 제 13항에 있어서, 상기 패시베이션층(30)의 두께가 2 내지 1000 nm 인 것을 특징으로 하는 적외선 흡수체.
  15. 제 14항에 있어서, 상기 열 감지체층(10)이 비정질 실리콘 또는 바나듐 옥사이드(V2O3)를 포함하여 열 전기적 에너지 변환이 가능한 열 흡수체 중에서 선택되는 화합물을 포함하는 것을 특징으로 하는 적외선 흡수체.
  16. 제 1항 내지 제 15항 중의 어느 한 항에 따른 적외선 흡수체 및 적외선 감지체와 특정 파장의 검출 및 증폭을 위해서 원하는 파장의 4분의 1의 거리만큼 빈공간을 둔 적외선 선택부 및 상기 선택되어 감지된 특정 파장의 적외선 에너지를 전기에너지로 신호 전달 및 출력을 위해 구성된 신호전달 및 처리부를 포함하는 적외선 검출기.
KR1020110030480A 2011-04-04 2011-04-04 적외선 흡수체 및 이를 이용한 적외선 검출기 KR101244459B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020110030480A KR101244459B1 (ko) 2011-04-04 2011-04-04 적외선 흡수체 및 이를 이용한 적외선 검출기

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020110030480A KR101244459B1 (ko) 2011-04-04 2011-04-04 적외선 흡수체 및 이를 이용한 적외선 검출기

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20120112901A true KR20120112901A (ko) 2012-10-12
KR101244459B1 KR101244459B1 (ko) 2013-03-18

Family

ID=47282618

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020110030480A KR101244459B1 (ko) 2011-04-04 2011-04-04 적외선 흡수체 및 이를 이용한 적외선 검출기

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101244459B1 (ko)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101684383B1 (ko) 2015-05-08 2016-12-08 울산과학기술원 박막형 적외선 흡수체 제조방법

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000121429A (ja) * 1998-08-11 2000-04-28 Nikon Corp 赤外線吸収体及びこれを用いた熱型赤外線検出装置
KR100509443B1 (ko) * 2004-08-04 2005-08-22 주식회사 오카스 2층 구조의 볼로미터형 적외선 센서 및 그 제조방법
JP2007051915A (ja) * 2005-08-17 2007-03-01 Matsushita Electric Works Ltd 赤外線センサ

Also Published As

Publication number Publication date
KR101244459B1 (ko) 2013-03-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Zha et al. Infrared photodetectors based on 2D materials and nanophotonics
JP3597069B2 (ja) 複数の赤外波長帯を検出する熱型赤外アレイセンサ
US8969850B2 (en) Nano-structure arrays for EMR imaging
US9091591B2 (en) Infrared thermal detector and method of manufacturing the same
TWI596745B (zh) 多堆疊薄膜輻射熱計
KR101427431B1 (ko) 적외선 흡수체 및 열형 적외선 검출기
US20150226612A1 (en) Bolometric detector with a mim structure including a thermometer element
US11723225B2 (en) Imaging device and imaging system
CN105977335A (zh) 短波光学热探测器及其焦平面阵列器件
CN102998725B (zh) 用于吸收太赫兹辐射的粗糙黑化金属薄膜及其制备方法
CN110187420A (zh) 一种双频段超材料吸波器及折射率传感器
EP2638574A1 (en) Plasmon induced hot carrier device, method for using the same, and method for manufacturing the same
KR101244459B1 (ko) 적외선 흡수체 및 이를 이용한 적외선 검출기
Sood et al. Nanostructure technology for EO/IR detector applications
WO2012111851A1 (ja) 赤外線検知センサアレイおよび赤外線検知装置
JP2001153722A (ja) 熱型赤外線検出素子およびこれを用いた撮像装置
CN107356342A (zh) 一种立体双层结构的热释电非制冷自选频红外探测器
CN113659015A (zh) 一种红外探测器及其制备方法和红外探测系统
US20210164840A1 (en) High speed and spectrally selective pyroelectric detectors with plasmonic structures and methods of making and using same
JP4896515B2 (ja) 赤外線検知素子
AU2007353817B2 (en) Conduction structure for infrared microbolometer sensors
CN113270538A (zh) 基于纳米红外吸收层的红外探测器敏感元及其制备方法
JP2005207830A (ja) 赤外線センサ
JP2002071451A (ja) 熱型赤外線検出素子及びそれを用いた赤外線撮像素子
Hyun et al. Broadband enhancement of infrared absorption in microbolometers using Ag nanocrystals

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
AMND Amendment
E601 Decision to refuse application
AMND Amendment
X701 Decision to grant (after re-examination)
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20151224

Year of fee payment: 4

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20170102

Year of fee payment: 5

LAPS Lapse due to unpaid annual fee