KR20120109808A - 독립식 배출장치 제어기 및 그에 의해 제어되는 충격완화 전자부품 배출장치 - Google Patents

독립식 배출장치 제어기 및 그에 의해 제어되는 충격완화 전자부품 배출장치 Download PDF

Info

Publication number
KR20120109808A
KR20120109808A KR1020110027406A KR20110027406A KR20120109808A KR 20120109808 A KR20120109808 A KR 20120109808A KR 1020110027406 A KR1020110027406 A KR 1020110027406A KR 20110027406 A KR20110027406 A KR 20110027406A KR 20120109808 A KR20120109808 A KR 20120109808A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
normal
discharge
signal
electronic component
discharge device
Prior art date
Application number
KR1020110027406A
Other languages
English (en)
Inventor
김동현
배정태
안의종
김진석
이석호
김영민
Original Assignee
윈텍 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 윈텍 주식회사 filed Critical 윈텍 주식회사
Priority to KR1020110027406A priority Critical patent/KR20120109808A/ko
Publication of KR20120109808A publication Critical patent/KR20120109808A/ko

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2893Handling, conveying or loading, e.g. belts, boats, vacuum fingers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67242Apparatus for monitoring, sorting or marking
    • H01L21/67271Sorting devices
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/677Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L22/00Testing or measuring during manufacture or treatment; Reliability measurements, i.e. testing of parts without further processing to modify the parts as such; Structural arrangements therefor
    • H01L22/30Structural arrangements specially adapted for testing or measuring during manufacture or treatment, or specially adapted for reliability measurements

Abstract

본 발명은 검사를 마친 전자부품의 배출장치에 독립적으로 동작신호를 제공하는 독립식 배출장치 제어기에 관한 것으로, 특히 검사장치를 전반적으로 제어하는 공정 제어기로부터 제공된 공정 배출신호가 온전하지 않은 경우에도, 상기 공정 배출신호를 기초로 정상 배출신호를 독립적으로 생성하여 배출장치를 제어함으로써, 배출장치가 전자부품을 정상적으로 배출할 수 있는 독립식 배출장치 제어기에 관한 것이다.
이를 위해, 본 발명에 따른 독립식 배출장치 제어기는 검사를 마친 전자부품의 배출장치에 독립적으로 동작신호를 제공하는 독립식 배출장치 제어기에 있어서, 검사장치의 공정을 제어하는 공정 제어기로부터 상기 배출장치를 제어하는 공정 배출신호를 입력받아서, 상기 공정 배출신호가 정상적으로 가져야 하는 정상 배출신호를 생성하는 정상신호 생성부 및 상기 공정 배출신호가 정상적으로 가져야 하는 정상 배출신호 정보를 저장하였다가 상기 입력된 공정 배출신호에 따라 상기 정상신호 생성부에 상기 정상 배출신호 정보를 제공하는 정상정보 메모리를 포함하는 것을 특징으로 한다.

Description

독립식 배출장치 제어기 및 그에 의해 제어되는 충격완화 전자부품 배출장치{Independance type controller for ejection apparatus and shock absorber type electric parts ejecting device controlled by the same}
본 발명은 검사를 마친 전자부품의 배출장치에 독립적으로 동작신호를 제공하는 독립식 배출장치 제어기에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 검사장치를 전반적으로 제어하는 공정 제어기로부터 제공된 공정 배출신호가 온전하지 않은 경우에도, 상기 공정 배출신호를 기초로 정상 배출신호를 독립적으로 생성하여 배출장치를 제어함으로써, 배출장치가 전자부품을 정상적으로 배출할 수 있는 독립식 배출장치 제어기에 관한 것이다.
또한, 본 발명은 이상과 같이 독립식 배출장치 제어기에 의해 정상적으로 배출된 전자부품의 손상 없이 부품 수집통 내에 수집할 수 있도록, 상기 전자부품의 배출시 충격 발생의 원인이 되는 비행거리를 줄일 수 있는 충격완화 전자부품 배출장치에 관한 것이다.
일반적으로 적층형 세라믹 커패시터(MLCC: Multilayer ceramic capacitor)나 LED(Light Emitting Diode)를 비롯한 그 외 다양한 전자부품은 대량 생산에 적합하면서도 불량율을 감소시킬 수 있도록 생산된 전자부품을 검사하여 불량품을 자동으로 선별 및 제거하는 공정을 수행한다.
이를 위해 종래에는 전자부품을 공급하고, 공급된 전자부품을 정렬하여 이송시키는 과정에서, 상기 이송 중인 전자부품의 검사면을 카메라로 촬상하여 영상 처리함으로써, 전자부품에 불량이 있는지의 여부를 자동으로 검사하는 검사장치가 주로 사용되어 왔다.
예컨대, 도 1에 도시된 바와 같이, 검사장치는 전자부품을 검사 스테이지(S)로 공급하는 부품 공급부(110)와, 검사 스테이지(S)를 통해 이송 중인 전자부품의 배치 상태를 판단하는 방향 식별부(120)와, 전자부품을 1차로 정렬시키는 1차 정렬부(130)와, 전자부품을 2차로 정렬시키는 2차 정렬부(140)와, 전자부품의 표면을 촬상 및 분석하여 전자부품의 이상 유무를 검사하는 검사부(150) 및 검사부(150)의 검사 결과에 따라 정상인 전자부품과 비정상인 전자부품으로 분리하여 배출 및 수집하는 부품 배출부(160)를 포함하였다.
그리고, 도 2에 도시된 바와 같이, 검사장치의 전반적인 공정을 제어하는 공정 제어기(10)는 상기 검사부(150)를 통해 판별된 각 전자 부품의 양호, 불량 혹은 재검사 여부 등에 따라 전자 부품을 정확한 타이밍에 분리 배출하여 각각 수집하도록, 일 예로 솔레노이드 밸브로 이루어진 불량품 배출밸브(161)와, 정상품 배출밸브(162) 및 재검사 배출밸브(163)에 각각 공정 배출신호를 제공하였다.
그러나, 이상과 같은 경우에는 공정 제어기(10) 단독으로 부품 공급부(110) 부터 부품 배출부(160)까지의 모든 구성을 장시간에 걸쳐 제어함에 따라 과부하나 시스템 메모리의 리소스 부족 등이 발생하거나, 공정 배출신호를 전송하는 통신선로의 이상발생, 혹은 신호 전송 중 각종 주변 장치로부터의 노이즈 유입의 유입 등 공정 배출신호를 배출장치로 온전하게 제공하지 못하게 하는 다양한 문제점들이 존재하였다.
따라서, 정상적이라면 도 3의 (a)와 같이 온전한 불량품 배출밸브(161)를 위한 공정 배출신호와, 정상품 배출밸브(162)를 위한 공정 배출신호 및 재검사 배출밸브(163)를 위한 공정 배출신호를 각 배출밸브(161 내지 163)에 제공해야 함에도, 도 3의 (b)와 같이 불량품 배출밸브(161)를 위한 공정 배출신호의 파형이 일그러져(과도한 상승 시간 지연)(t4~t5) 불량품 배출밸브(161)가 늦게 동작하거나, 정상품 배출밸브(162)를 위한 공정 배출신호가 정상시간 동안 유지되지 않아서(t2~t3) 유량 부족으로 전자부품이 배출되지 않거나, 혹은 정상품 배출밸브(162)를 위한 또 다른 공정 배출신호가 정상시간보다 길어서(t8~t9) 후속으로 공급중인 전자부품에 영향을 주는 등 배출시 다양한 오류를 발생시킨다는 문제점이 있었다.
또한, 종래에는 검사를 마친 전자부품 배출시 이상과 같은 부품 배출부(160)에서 전자부품에 공기압을 가하여 해당 전자부품을 양호 전자부품 수집통, 불량 전자부품 수집통, 혹은 재검사 요청 전자부품 수집통 등으로 분류하여 수집하는데, 이때 고압의 공기로 전자부품을 날려보내 수집통으로 던져지는 방식을 사용하였기 때문에 부품 배출부(160)에 고장이 발생하지 않는 경우에도 전자부품이 수집통에 부딧히는 과정에서 충격이 발생하고 전자부품의 파손이 발생할 우려가 크다는 문제점이 있었다.
본 발명은 전술한 바와 같은 문제점을 해결하기 위해 제안된 것으로, 본 발명은 검사를 마친 전자부품의 배출장치에 독립적으로 동작신호를 제공하는 독립식 배출장치 제어기에 있어서, 검사장치를 전반적으로 제어하는 공정 제어기로부터 제공된 공정 배출신호가 온전하지 않은 경우에도, 상기 공정 배출신호를 기초로 정상 배출신호를 독립적으로 생성하여 배출장치를 제어함으로써, 배출장치가 전자부품을 정상적으로 배출할 수 있는 독립식 배출장치 제어기를 제공하고자 한다.
또한, 본 발명은 이상과 같이 독립식 배출장치 제어기에 의해 정상적으로 배출된 전자부품의 손상 없이 부품 수집통 내에 수집할 수 있도록, 상기 전자부품의 배출시 충격 발생의 원인이 되는 비행거리를 줄일 수 있는 충격완화 전자부품 배출장치를 제공하고자 한다.
이를 위해, 본 발명에 따른 독립식 배출장치 제어기는 검사를 마친 전자부품의 배출장치에 독립적으로 동작신호를 제공하는 독립식 배출장치 제어기에 있어서, 검사장치의 공정을 제어하는 공정 제어기로부터 상기 배출장치를 제어하는 공정 배출신호를 입력받아서, 상기 공정 배출신호가 정상적으로 가져야 하는 정상 배출신호를 생성하는 정상신호 생성부; 및 상기 공정 배출신호가 정상적으로 가져야 하는 정상 배출신호 정보를 저장하였다가 상기 입력된 공정 배출신호에 따라 상기 정상신호 생성부에 상기 정상 배출신호 정보를 제공하는 정상정보 메모리;를 포함하는 것을 특징으로 한다.
이때, 상기 정상신호 생성부는 검사 결과별로 서로 다른 공정 배출신호를 입력받아서, 각각의 공정 배출신호가 정상적으로 가져야 하는 정상 배출 신호를 각각 생성하는 것이 바람직하다.
또한, 상기 정상신호 생성부는 상기 공정 배출신호에 따라 상기 정상정보 메모리에 저장된 정보를 참조하여 상기 정상 배출신호를 새롭게 생성하는 것이 바람직하다.
또한, 상기 정상정보 메모리에 저장된 상기 정상 배출신호 정보는 상기 배출장치의 동작 시간을 결정하도록 소정 시간 동안의 펄스폭을 갖는 펄스 정보이며, 상기 정상신호 생성부는 상기 공정 배출신호가 입력된 시점에, 상기 정상정보 메모리에 저장된 펄스폭을 갖는 온전한 파형의 펄스를 생성하여 상기 정상 배출신호로서 제공하는 것이 바람직하다.
한편, 본 발명에 따른 충격완화 전자부품 배출장치는 이상과 같은 구성으로 이루어진 독립식 배출장치 제어기의 제어신호에 따라 검사를 마친 전자부품을 배출하는 충격완화 부품 배출장치에 있어서, 상기 독립식 배출 장치 제어기의 배출신호에 따라 상기 전자부품을 향해 공기압을 가하여 상기 전자부품을 부품 수집통으로 날려보내는 공기압부와; 상기 공기압부에 의해 날려보내진 전자부품을 받아 상기 부품 수집통의 상부까지 이송함으로써 상기 공기압부에 의해 날려보내지는 전자부품의 비행거리를 줄이는 1차 이송부; 및 상기 부품 수집통 내에 경사지게 설치되며, 상기 1차 이송부에 의해 이송된 상기 전자부품을 입력받아 상기 부품 수집통 바닥면까지 이송함으로써 상기 전자부품이 상기 부품 수집통에 부딧히는 충격을 완화시키는 2차 이송부;를 포함하는 것을 특징으로 한다.
이때, 상기 1차 이송부는 상기 전자부품을 이송받아 수평 이송시키는 수평 이송부를 포함하는 것이 바람직하다.
또한, 상기 수평 이송부의 단부에 연결 설치되어 상기 수평 이송부로부터 배출된 전자부품을 받아 상기 부품 수집통으로 낙하시키는 경사 이송부를 더 포함하는 것이 바람직하다.
또한, 상기 1차 이송부와 공기압부 사이에 설치되며, 상기 공기압부에 의해 날려보내진 전자부품이 부딧혀 상기 1차 이송부 위로 떨어지도록 하는 충격완화 커튼을 더 포함하는 것이 바람직하다.
이상과 같은 본 발명에 따른 독립식 배출장치 제어기에 의하면, 검사장치를 전반적으로 제어하는 공정 제어기로부터 제공된 공정 배출신호가 온전하지 않은 경우에도, 상기 공정 배출신호를 기초로 정상 배출신호를 독립적으로 생성하여 배출장치를 제어한다. 따라서, 정상 또는 양호 여부 등에 따라 전자부품을 정상적으로 배출할 수 있도록 함으로써 검사된 부품의 신뢰도를 향상시킴은 물론 검사 시간을 단축시킬 수 있게 한다.
또한, 본 발명은 이상과 같이 독립식 배출장치 제어기에 의해 정상적으로 배출된 전자부품의 손상 없이 부품 수집통 내에 수집할 수 있도록, 상기 전자부품의 배출시 충격 발생의 원인이 되는 비행거리를 줄일 수 있어서, 검사 후 정상적으로 배출된 전자부품이 수집통에 부딧혀 파손되는 것을 방지함은 물론, 전자부품의 상태 변화를 방지하여 전자부품의 검사 결과를 보장할 수 있게 한다.
도 1은 종래 기술에 따른 전자부품 검사장치를 나타낸 평면도이다.
도 2는 종래 기술에 따른 전자부품 검사장치의 배출장치 제어부를 나타낸 블록도이다.
도 3은 종래 기술에 따른 전자부품 검사장치의 공정 배출신호를 나타낸 파형도이다.
도 4는 본 발명에 따른 독립식 배출장치 제어기를 나타낸 블록도이다.
도 5는 본 발명에 따른 독립식 배출장치 제어기의 정상 배출신호를 나타낸 파형도이다.
도 6은 본 발명의 제1실시예에 따른 충격완화 전자부품 배출장치를 나타낸 사시도이다.
도 7은 본 발명의 제1실시예에 따른 충격완화 전자부품 배출장치를 나타낸 정단면도이다.
도 8은 본 발명의 제2실시예에 따른 충격완화 전자부품 배출장치를 나타낸 사시도이다.
도 9는 본 발명의 제2실시예에 따른 충격완화 전자부품 배출장치를 나타낸 정단면도이다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 독립식 배출장치 제어기에 대해 상세히 설명한다.
단, 이하에서 설명할 본 발명에 따른 독립식 배출장치 제어기는 도 1을 통해 설명한 바와 같은 검사장치에 적용되는 것을 일 예로 들어 설명하나 본 발명은 이에 한정하지 아니하고, 그 외 검사를 마친 전자부품을 배출하는 장치가 있기만 하면 적용될 수 있음은 자명할 것이다.
또한, 이하에서는 고압의 압축 공기를 이용하여 전자부품을 배출하는 배출장치에 적용되는 것을 예로 들었기 때문에 솔레노이드 밸브와 같은 배출밸브에 제어신호를 인가하는 것으로 하였으나, 그 외 전기모터 방식을 비롯한 각종 배출장치에도 적용될 수 있음은 자명할 것이다.
먼저, 도 4에 도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 독립식 배출장치 제어기(20)는 검사를 마친 전자부품의 배출장치에 독립적으로 동작신호를 제공할 수 있도록 정상신호 생성부(21)와, 정상정보 메모리(22) 및 타이머(23)를 포함한다.
아울러, 정상신호 생성부(21)의 입력측은 공정 제어기(10)의 출력측과 연결되어 있고, 정상신호 생성부(21)의 출력측은 각각 솔레노이드 밸브로 이루어진 불량품 배출밸브(161)와, 정상품 배출밸브(162) 및 재검사 배출밸브(163)에 각각 연결되어 있다.
이때, 정상신호 생성부(21)는 검사장치의 공정을 제어하는 공정 제어기(10)(예: 공정 PC 등)로부터 배출장치(161 내지 163)를 제어하는 배출신호(이하, '공정 배출신호'라 함)를 입력받아서, 공정 배출신호가 정상적으로 가져야 하는 정상적인 배출신호(이하, '정상 배출신호'라 함)를 생성하고, 아울러 생성된 정상 배출신호를 이용하여 배출장치(161 내지 163)를 독립하여 제어하는 것으로, 바람직하게는 전송 중 노이즈가 유입되는 것을 방지하도록 배출장치(161 내지 163)에 직접 연결되어 있다.
배출장치(161 내지 163)는 본 발명에서 일 실시예로서 설명하고 있는 불량품 배출밸브(161)와, 정상품 배출밸브(162) 및 재검사 배출밸브(163)를 의미하는 것으로, 정상신호 생성부(21)는 이들에 연결되어 정상 배출신호를 각각 생성하여 제어한다.
정상정보 메모리(22)는 상기 공정 제어기(10)가 제공하는 공정 배출신호가 정상적으로 가져야 하는 정상 배출신호 정보를 저장하는 것으로, 공정 제어기(10)로부터 공정 배출신호가 입력되면 정상신호 생성부(21)에서 그에 해당하는 정상 배출신호를 읽어들여 정상 배출신호 생성할 수 있게 하며, 정상 배출신호 정보는 관리자에 의해 기록된다.
따라서, 공정 제어기(10)가 장시간에 걸쳐 프로세스를 처리함에 따라 과부하나 시스템 메모리의 리소스 부족 등이 발생하거나, 공정 배출신호를 전송하는 통신선로에 이상이 발생하거나, 혹은 신호 전송 중 각종 주변 장치로부터의 외부 노이즈 유입의 유입 등의 이유로 공정 제어기(10)에서 제공된 공정 배출신호에 오류가 있더라도, 본 발명은 정상신호 생성부(21)가 별도의 정상 배출신호를 생성하여 제공하므로, 배출장치(161 내지 163)가 항시 정상적으로 작동된다.
특히, 정상신호 생성부(21)는 공정 제어기(10)로부터 검사 결과별로 서로 다른 공정 배출신호를 입력받아서, 각각의 공정 배출신호가 정상적으로 가져야 하는 정상 배출 신호를 각각 생성하는 것이 바람직한데, 이는 검사를 마치고 이송된 전자부품들은 검사 결과에 따라 불량품 배출밸브(161)와, 정상품 배출밸브(162) 및 재검사 배출밸브(163) 중 어느 하나를 통해 배출되고, 각 배출밸브는 수집 장치까지의 거리 차이를 비롯한 다양한 이유로 최적의 배출신호가 서로 다를 수 있기 때문이다.
또한, 정상신호 생성부(21)는 공정 제어기(10)로부터 제공되는 공정 배출신호에 따라 정상정보 메모리(22)에 저장된 정보를 참조하여 정상 배출신호를 새롭게 생성하는 것이 바람직한데, 이는 오류가 발생한 공정 배출신호의 오류를 정정하는 것보다는 정상 배출신호를 새로이 생성하는 것이 프로세스 처리 속도 측면에서 월등히 유리하기 때문이다.
또한, 정상정보 메모리(22)에 저장된 정상 배출신호에 대한 정보는 배출장치(161 내지 163)의 동작 시간을 결정하도록 소정 시간 동안의 펄스폭을 갖는 펄스 정보이며, 아울러 정상신호 생성부(21)는 공정 배출신호가 입력된 시점에, 타이머(23)를 참조하여 정상정보 메모리(22)에 저장된 펄스폭을 갖는 온전한 파형의 펄스를 생성하여 제공하는 것이 바람직한데, 이는 공정 배출신호로서 온전하지 못한 펄스가 입력된 경우 그 순간 온전한 펄스를 생성하여 제공하기 위한 것이다.
즉, 도 4의 (a)와 같이 불량품 배출밸브(161)를 위한 펄스 타입 공정 배출신호의 상승 시간에 과도한 딜레이가 존재하는 경우, 정상신호 생성부(21)는 상기 일그러진 펄스의 입력이 시작(t5 시점)되는 즉시, 도 4의 (b)와 같은 정상 배출신호를 생성하여 불량품 배출밸브(161)를 제어함으로써, 불량품 배출밸브(161)가 정확한 시점에 전자부품을 배출할 수 있게 한다.
또한, 도 4의 (a)와 같이 정상품 배출밸브(162)를 위한 공정 배출신호가 정상시간 동안 유지되지 못하고 짧은 경우, 정상신호 생성부(21)는 상기 폭이 좁은 펄스의 입력이 시작(t3)되는 즉시, 도 4의 (b)와 같이 정상에 해당하는 조금더 넓은 폭의 정상 배출신호를 생성하여 정상품 배출밸브(162)를 제어함으로써, 전자부품이 적절한 압축 공기의 유량에 의해 정상적으로 배출될 수 있게 한다.
또한, 도 4의 (a)와 같이 또 다른 정상품 배출밸브(162)를 위한 공정 배출신호가 정상시간보다 긴 경우, 정상신호 생성부(21)는 상기 폭이 넓은 펄스의 입력이 시작(t9)되는 즉시, 도 4의 (b)와 같이 정상에 해당하는 조금더 좁은 폭의 정상 배출신호를 생성하여 정상품 배출밸브(162)를 제어함으로써, 후속으로 공급중인 다른 전자부품에 영향을 주는 것을 방지하고 해당 전자부품만 정상적으로 배출할 수 있게 한다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 제1실시예에 따른 충격완화 전자부품 배출장치에 대해 상세히 설명한다.
도 6 및 도 7에 도시된 바와 같이, 본 발명의 제1실시예에 따른 충격완화 전자부품 배출장치(260)는 상기 독립식 배출 장치 제어기(20)의 배출신호에 따라 전자부품(c)을 향해 공기압을 가하여 전자부품(c)을 부품 수집통(266a, 266b, 267a, 267b)으로 날려보내는 공기압부(261, 262)와, 상기 공기압부(261, 262)에 의해 날려보내진 전자부품(c)을 받아 부품 수집통(266a, 266b, 267a, 267b)의 상부까지 이송함으로써 전자부품(c)의 비행거리를 줄이는 1차 이송부(263, 264, 265, 266) 및 상기 부품 수집통(266a, 266b, 267a, 267b) 내에 경사지게 설치되며, 1차 이송부(263, 264, 265, 266)에 의해 이송된 전자부품(c)을 입력받아 부품 수집통(266a, 266b, 267a, 267b) 바닥면까지 이송함으로써 전자부품(c)이 부품 수집통(266a, 266b, 267a, 267b)에 부딧히는 충격을 완화시키는 2차 이송부(S1, S2, S3, S4)를 포함한다.
여기서, 상기 공기압부(261, 262)는 배출용 솔레노이드 밸브 및 노즐 등을 포함하여 공기압으로 전자부품(c)을 배출하는 장치로서, 일 예로 검사 스테이지(S) 위에 2개의 전자부품(c)을 나란히 공급하며 동시에 2개의 전자부품(c)을 검사한 경우에는 1열용 공기압부(261) 및 2열용 공기압부(262)를 각각 별도로 동작시켜 각 열의 전자부품(c)을 부품 수집통(266a, 266b, 267a, 267b)으로 각각 배출시킨다.
또한, 부품 수집통(266a, 266b, 267a, 267b)은 1열용 정상부품 수집통(266a) 및 1열용 불량부품 수집통(266b)을 포함하고, 그와 유사하게 2열용 정상부품 수집통(267a) 및 2열용 불량부품 수집통(267b)을 포함하여, 상기 1열용 공기압부(261)는 1열용 정상부품 수집통(266a) 또는 1열용 불량부품 수집통(266b) 중 어느 하나로 전자부품(c)을 배출하고, 상기 2열용 공기압부(262)는 2열용 정상부품 수집통(267a) 또는 2열용 불량부품 수집통(267b) 중 어느 하나로 전자부품(c)을 배출한다.
또한, 1열용 1차 이송부(263, 264)는 수평 이송부의 예로서 1열용 직선 슈터(263)를 사용하고, 상기 1열용 직선 슈터(263)의 단부에 연결 설치되어 1열용 직선 슈터(263)로부터 배출된 전자부품(c)을 받아 부품 수집통(266a, 266b)으로 낙하시키는 경사 이송부로서 1열용 경사 슈터(264)를 사용할 수 있다. 아울러, 2차 이송부(S1, S2)는 부품 수집통(266a, 266b) 내에 경사지게 설치된 경사판이 사용될 수 있다. 물론, 이러한 구성은 2열용 1차 이송부(265, 266) 및 2차 이송부(S3, S4) 역시 마찬가지이다.
따라서, 본 발명은 부품 수집통(266a, 266b, 267a, 267b)보다 거리가 가까운 1차 이송부(263, 264, 265, 266)까지 전자부품(c)을 날려보내면 되므로 상대적으로 작은 공기압을 가하게 되고, 그에 따라 상대적으로 짧은 거리를 날아 착지한 전자부품(c)에 가해지는 충격이 완화되며, 1차 이송부(263, 264, 265, 266) 위에 안정적으로 놓여져 이송된 후, 2차 이송부(S1, S2, S3, S4)를 따라 부품 수집통(266a, 266b, 267a, 267b)의 바닥면까지 천천히 미끄러져 내려가 수집되므로 전자부품(c)과 수집통의 충돌에 의한 충격 역시 완화할 수 있게 한다.
다만, 1차 이송부(263, 264, 265, 266)와 공기압부(261, 262) 사이에는 부드러운 재질의 천 등으로 이루어진 충격완화 커튼(263a)이 설치되어 있는 것이 바람직한데, 충격완화 커튼(263a)은 전자부품(c)의 비행경로 상에 위치하고 있어서 공기압부(261, 262)에 의해 날려보내진 전자부품(c)이 부딧혀 1차 이송부(263, 264, 265, 266) 위로 떨어지도록 함으로써 비행거리 증가에 따른 충격을 더욱더 완화할 수 있도록 하는 것이 바람직할 것이다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 제2실시예에 따른 충격완화 전자부품 배출장치에 대해 상세히 설명한다.
도 8 및 도 9에 도시된 바와 같이, 본 발명의 제2실시예에 따른 충격완화 전자부품 배출장치(360)는 상기 독립식 배출 장치 제어기(20)의 배출신호에 따라 전자부품(c)을 향해 공기압을 가하여 전자부품(c)을 부품 수집통으로 날려보내는 공기압부(361, 362)와, 상기 공기압부(361, 362)에 의해 날려보내진 전자부품(c)을 받아 부품 수집통(365a, 365b, 365c, 366a, 366b, 366c)의 상부까지 이송함으로써 공기압부(361, 362)에 의해 날려보내지는 전자부품(c)의 비행거리를 줄이는 1차 이송부(363, 364) 및 상기 부품 수집통(365a, 365b, 365c, 366a, 366b, 366c) 내에 경사지게 설치되며, 1차 이송부(363, 364)에 의해 이송된 전자부품(c)을 입력받아 부품 수집통(365a, 365b, 365c, 366a, 366b, 366c) 바닥면까지 이송함으로써 상기 전자부품(c)이 부품 수집통(365a, 365b, 365c, 366a, 366b, 366c)에 부딧히는 충격을 완화시키는 2차 이송부(367)를 포함한다. 또한, 1차 이송부(363, 364)와 공기압부(361, 362) 사이에는 부드러운 재질의 천 등으로 이루어진 충격완화 커튼(363a)이 설치되어 있다. 이점은 위에서 설명한 본 발명의 제1실시예와 같다.
그러나, 본 발명의 제2실시예에서는 1열용 공기압부(361)에 의해 배출되는 전자부품(c)을 수집하는 부품 수집통(365a, 365b, 365c)으로서 1열용 정상부품 수집통(365a)과, 1열용 불량부품 수집통(365b) 및 1열용 재검사 부품 수집통(365c)을 포함하고, 2열용 공기압부(362)에 의해 배출되는 전자부품(c)을 수집하는 부품 수집통(366a, 366b, 366c)으로서 2열용 정상부품 수집통(366a)과, 2열용 불량부품 수집통(366b) 및 2열용 재검사 부품 수집통(366c)을 포함하고 있어서, 위에서 설명한 제1실시예에 비해 재검사 부품 수집통(365c, 366c)을 더 포함한다는 점에서 차이가 있음을 알 수 있다. 즉, 본 발명은 부품 수집통(365a, 365b, 365c, 366a, 366b, 366c)의 종류와 갯수에 무관하게 적용될 수 있다는 것이다.
또한, 본 발명의 제2실시예에서는 1차 이송부(363, 364)로서 제1실시예의 직선 슈터(263, 264) 및 경사 슈터(265, 266) 대신 컨베이어(363, 364)를 사용한다는 점에서 차이가 있음을 알 수 있다. 즉, 본 발명은 비행거리를 줄여 충격을 완화할 수만 있다면 전자부품(c)을 이송할 수 있는 다양한 수단이 적용될 수 있다는 것이다.
이상, 본 발명의 특정 실시예에 대하여 상술하였다. 그러나, 본 발명의 사상 및 범위는 이러한 특정 실시예에 한정되는 것이 아니라, 본 발명의 요지를 변경하지 않는 범위 내에서 다양하게 수정 및 변형이 가능하다는 것을 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이해할 것이다.
따라서, 이상에서 기술한 실시예들은 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이므로, 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 하며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다.
10: 공정 제어기 21: 정상신호 생성부
22: 정상정보 메모리 23: 타이머
161: 불량품 배출밸브 162: 정상품 배출밸브
163: 재검사 배출밸브
260, 360: 충격완화 전자부품 배출장치
261, 262, 361, 362: 공기압부
263, 264, 265, 266, 363, 364: 1차 이송부
S1, S2, S3, S4, 367: 2차 이송부
263a, 363a: 충격완화 커튼
c: 전자부품

Claims (8)

  1. 검사를 마친 전자부품의 배출장치에 독립적으로 동작신호를 제공하는 독립식 배출장치 제어기에 있어서,
    검사장치의 공정을 제어하는 공정 제어기로부터 상기 배출장치를 제어하는 공정 배출신호를 입력받아서, 상기 공정 배출신호가 정상적으로 가져야 하는 정상 배출신호를 생성하는 정상신호 생성부; 및
    상기 공정 배출신호가 정상적으로 가져야 하는 정상 배출신호 정보를 저장하였다가 상기 입력된 공정 배출신호에 따라 상기 정상신호 생성부에 상기 정상 배출신호 정보를 제공하는 정상정보 메모리;를 포함하는 것을 특징으로 하는 독립식 배출장치 제어기.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 정상신호 생성부는 검사 결과별로 서로 다른 공정 배출신호를 입력받아서, 각각의 공정 배출신호가 정상적으로 가져야 하는 정상 배출 신호를 각각 생성하는 것을 특징으로 하는 독립식 배출장치 제어기.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 정상신호 생성부는 상기 공정 배출신호에 따라 상기 정상정보 메모리에 저장된 정보를 참조하여 상기 정상 배출신호를 새롭게 생성하는 것을 특징으로 하는 독립식 배출장치 제어기.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 정상정보 메모리에 저장된 상기 정상 배출신호 정보는 상기 배출장치의 동작 시간을 결정하도록 소정 시간 동안의 펄스폭을 갖는 펄스 정보이며,
    상기 정상신호 생성부는 상기 공정 배출신호가 입력된 시점에, 상기 정상정보 메모리에 저장된 펄스폭을 갖는 온전한 파형의 펄스를 생성하여 상기 정상 배출신호로서 제공하는 것을 특징으로 하는 독립식 배출장치 제어기.
  5. 제1항 내지 제4항 중 어느 하나의 항과 같은 구성으로 이루어진 독립식 배출장치 제어기의 제어신호에 따라 검사를 마친 전자부품을 배출하는 충격완화 부품 배출장치에 있어서,
    상기 독립식 배출 장치 제어기의 배출신호에 따라 상기 전자부품을 향해 공기압을 가하여 상기 전자부품을 부품 수집통으로 날려보내는 공기압부와;
    상기 공기압부에 의해 날려보내진 전자부품을 받아 상기 부품 수집통의 상부까지 이송함으로써 상기 공기압부에 의해 날려보내지는 전자부품의 비행거리를 줄이는 1차 이송부; 및
    상기 부품 수집통 내에 경사지게 설치되며, 상기 1차 이송부에 의해 이송된 상기 전자부품을 입력받아 상기 부품 수집통 바닥면까지 이송함으로써 상기 전자부품이 상기 부품 수집통에 부딧히는 충격을 완화시키는 2차 이송부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 충격완화 부품 배출장치.
  6. 제5항에 있어서,
    상기 1차 이송부는 상기 전자부품을 이송받아 수평 이송시키는 수평 이송부를 포함하는 것을 특징으로 하는 충격완화 부품 배출장치.
  7. 제6항에 있어서,
    상기 수평 이송부의 단부에 연결 설치되어 상기 수평 이송부로부터 배출된 전자부품을 받아 상기 부품 수집통으로 낙하시키는 경사 이송부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 충격완화 부품 배출장치.
  8. 제5항에 있어서,
    상기 1차 이송부와 공기압부 사이에 설치되며, 상기 공기압부에 의해 날려보내진 전자부품이 부딧혀 상기 1차 이송부 위로 떨어지도록 하는 충격완화 커튼을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 충격완화 전자부품 배출장치.
KR1020110027406A 2011-03-28 2011-03-28 독립식 배출장치 제어기 및 그에 의해 제어되는 충격완화 전자부품 배출장치 KR20120109808A (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020110027406A KR20120109808A (ko) 2011-03-28 2011-03-28 독립식 배출장치 제어기 및 그에 의해 제어되는 충격완화 전자부품 배출장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020110027406A KR20120109808A (ko) 2011-03-28 2011-03-28 독립식 배출장치 제어기 및 그에 의해 제어되는 충격완화 전자부품 배출장치

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20120109808A true KR20120109808A (ko) 2012-10-09

Family

ID=47280876

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020110027406A KR20120109808A (ko) 2011-03-28 2011-03-28 독립식 배출장치 제어기 및 그에 의해 제어되는 충격완화 전자부품 배출장치

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR20120109808A (ko)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101528735B1 (ko) * 2013-12-27 2015-06-15 주식회사 로보스타 엠엘씨씨칩어레이 플레이트 배출장치 및 그것을 구비한 엠엘씨씨칩 단면 검사장비
CN111289867A (zh) * 2020-02-24 2020-06-16 上海御渡半导体科技有限公司 一种半导体自动化测试系统的自保持式供电装置及方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101528735B1 (ko) * 2013-12-27 2015-06-15 주식회사 로보스타 엠엘씨씨칩어레이 플레이트 배출장치 및 그것을 구비한 엠엘씨씨칩 단면 검사장비
CN111289867A (zh) * 2020-02-24 2020-06-16 上海御渡半导体科技有限公司 一种半导体自动化测试系统的自保持式供电装置及方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN110523909B (zh) 一种基于机器人视觉的自动送钉系统及方法
CN103998344B (zh) 香烟包装编码系统和相关方法
US10118201B2 (en) Inspection and sorting machine
JP2020108965A (ja) 錠剤印刷装置及び錠剤製造方法
US20210163249A1 (en) Apparatus and method for stacking card-like data carriers
CN213737330U (zh) 一种粮食不完善粒的多类型缺陷分拣设备
JP5711011B2 (ja) 物品選別装置
KR20120109808A (ko) 독립식 배출장치 제어기 및 그에 의해 제어되는 충격완화 전자부품 배출장치
JP5628536B2 (ja) 選別装置
KR101226124B1 (ko) 형상검사부가 구비된 계수장치
KR101960662B1 (ko) 물품분류장치 및 그 운전방법
CN106624756A (zh) 一种自动螺丝装配机
JP2002079187A (ja) 不良品の排出方法
CN105234096B (zh) 半导体元件测试分类设备
US6618935B1 (en) Method for equipping substrates with components
JP2013046909A (ja) 物品分類装置
TWI543290B (zh) Classification and collection method and device for electronic component sorting equipment
CN102962208B (zh) 一种半导体分类装置
US9463655B2 (en) Recording device and recording method
JP2007275696A (ja) 複数条並列選果装置
JP4792178B2 (ja) チップ型部品の選別装置
CN112640075A (zh) 元件分类装置
JPH07231197A (ja) 電子部品装着方法及び装置
CN115283273A (zh) 一种多级排出且结构紧凑的元器件处理装置
KR102124318B1 (ko) Led 모듈 분류 시스템

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E601 Decision to refuse application