KR20120088750A - 유리 패널의 품질을 분석하기 위한 방법 - Google Patents

유리 패널의 품질을 분석하기 위한 방법 Download PDF

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KR20120088750A
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쌩-고벵 글래스 프랑스
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Abstract

본 발명은 유리 패널, 특히 자동차 유리 패널의 품질을 분석하는 방법에 관한 것으로, 상기 방법은 유리 패널(2)의 외부 상에 유리 패널(2)의 외부 표면을 반사함으로써 생성된 테스트 차트(4)의 디지털 이미지를 생성하는 단계로서, 상기 테스트 차트(4)는 그 사이에 경계선을 한정하는 복수의 콘트라스팅된 요소로 구성된 패턴을 갖는, 생성 단계와; 생성된 이미지에 따라 유리 패널(2)의 대표적인 크기를 계산하는 단계로서, 상기 계산 단계는 처리 유닛(8)에 의해 수행되는, 계산 단계와; 대표적인 크기에 대해 계산된 값을 기준 값과 비교하는 단계를 포함한다. 대표적인 크기는 유리 패널(2)의 외부 표면으로부터 반사함으로써 생성된 테스트 차트 이미지의 변형을 보여준다.

Description

유리 패널의 품질을 분석하기 위한 방법{METHOD FOR ANALYSING THE QUALITY OF A GLASS PANEL}
본 발명은 글레이징(glazing) 유닛, 특히 자동차 글레이징 유닛의 품질의 분석 분야에 관한 것이다.
본 발명은 더 구체적으로 글레이징의 품질을 분석하기 위한 방법에 관한 것으로, 상기 방법은,
- 글레이징에 의한 반사시 생성된 테스트 차트의 디지털 이미지를 생성하는 단계로서, 상기 테스트 차트는 복수의 콘트라스팅된(contrasted) 요소들 사이에서 경계선을 한정하는 복수의 콘트라스팅된 요소로 구성된 패턴을 나타내는, 생성 단계와;
- 생성된 이미지로부터 글레이징을 나타내는 양을 계산하는 단계로서, 상기 계산 단계는 처리 유닛에 의해 수행되는, 계산 단계와;
- 기준 값에 관련된 대표적인 양에 대한 계산된 값을 비교하는 단계를 포함한다.
WO-A-02/42715는 디지털화된 이미지의 각 픽셀에 대한 디지털 처리에 의해 2방향으로 국부 상(local phases)을 추출하는 것으로 구성된 글레이징 유닛의 표면을 분석하기 위한 방법을 기재한다. 국부 상의 변경은 글레이징의 표면의 국부 경사의 변경을 계산할 수 있게 하여, 그로부터 곡률에서의 변경 또는 표면의 높이에서의 변경을 도출할 수 있다.
글레이징의 곡률에서의 변경을 기준 양과 비교함으로써, 글레이징을 거부할 지에 관한 선택을 진행할 수 있다.
그럼에도 불구하고, 이러한 가능한 선택 기준이 확실히 글레이징의 곡률을 판단할 수 있게 하지만, 글레징에 의한 반사시 생성된 이미지의 미적인 품질을 판단하는 것이 반드시 가능하지 않다. 이러한 관점에서, 관찰자의 위치에 따라, 표면 결함은 반사시 이미지 상에 동일한 효과를 갖지 않을 것이다.
반사시 글레이징의 미적인 품질을 판단하기 위한 그러한 방법을 이용하려는 시도가 이루어지면, 몇몇 글레이징 유닛은 그럼에도 불구하고 사실상 미적으로 불리하지 않고도 종종 거부되며, 또는 그 반대로도 그러하다.
더욱이, 이러한 유형의 방법을 통해, 글레이징의 에지 상의 계산된 양은 일반적으로 신뢰가능하지 않다.
마지막으로, 이러한 유형의 방법은 길고 어려운 교정을 요구한다.
WO-A-2007/115621 및 US-B-6 392 754는 또한 글레이징의 표면의 형태를 측정하는 것에 관한 방법을 기재한다. 이들 방법은 특히 글레이징의 미적인 품질의 펑가의 관련성에 관해 동일한 단점을 갖는다.
본 발명의 하나의 목적은 글레이징의 반사시 미적임 품질의 평가에 관련되는 기술적 기준에 기초하여 글레이징을 거부할 지를 선택할 수 있게 하는 글레이징 유닛에 의해 반사시 생성된 이미지의 품질을 분석하기 위한 방법을 제공하는 것이다.
이 때문에, 본 발명의 주제는 글레이징 유닛의 품질을 분석하기 위한 방법이며, 상기 방법은,
- 글레이징으로부터 멀어지는 방향으로 글레이징의 외부 표면에 의해 반사시 생성된 테스트 차트의 디지털 이미지를 생성하는 단계로서, 상기 테스트 차트는 복수의 콘트라스팅된 요소들 사이에서 경계선을 한정하는 복수의 콘트라스팅된 요소로 구성된 패턴을 나타내는, 생성 단계와;
- 생성된 이미지로부터 글레이징을 나타내는 양을 계산하는 단계로서, 상기 계산 단계는 처리 유닛에 의해 수행되는, 계산 단계와;
- 기준 값에 관련된 대표적인 양에 대한 계산된 값을 비교하는 단계를 포함하며,
상기 대표적인 양은 글레이징의 외부 표면에 의해 반사시 생성된 테스트 차트의 이미지의 변형을 나타내는 것을 특징으로 한다.
본 발명은, 글레이징의 치수적 특징으로부터가 아닌, 외부로부터 글레이징의 외부 표면에 의해 생성된 반사시 이미지에 기초하여, 글레이징 유닛에 의해 생성된 반사시 이미지의 품질을 판단할 수 있게 하는 장점을 갖는다. 글레이징을 거부할 지의 선택은 글레이징에 의해 바깥쪽으로 반사시 생성된 이미지의 미적인 품질의 평가의 시점으로부터 관련된다.
본 발명에 의해, 글레이징은 보일 수 없는 및/또는 미적이지 않은 것으로 판단되지 않은 기하학적 결함을 제공할 때 거부되는 것으로부터 방지된다. 이와 반대로, 심각한 표면 결함을 제공하지 않고 항상 반사시 생성된 이미지에서의 인식가능한 미적인 결함을 생성하는 글레이징 유닛이 더 양호하게 선택될 것이다.
더욱이, 본 발명은 글레이징의 전체 지역에 걸쳐, 특히 글레이징의 에지 상에 결함을 평가할 수 있게 한다.
본 발명은 또한 교정 없이 분석을 가능하게 한다.
특정한 실시예에 따라, 본 발명에 따른 방법은 단독으로 또는 모든 기술적으로 가능한 조합으로 취해진, 다음의 하나 이상의 특징을 포함한다:
- 대표적인 양은 글레이징의 외부 표면에 의해 반사시 생성된 테스트 차트의 이미지의 경계선의 변형을 나타내고;
- 대표적인 양은 글레이징의 지역에서, 글레이징의 외부 표면에 의해 반사시 생성된 테스트 차트의 이미지의 각 경계선의 변형을 나타내고;
- 콘트라스팅된 요소는 교대로 된 어둠 및 밝음 밴드들 사이에서 평행한 경계선을 한정하는 교대로 된 어둠 및 밝음 밴드이고, 경계선은 글레이징의 미리 결정된 지역에서 글레이징의 결함의 예상된 방향으로 20° 내지 70°의 각도, 바람직하게 20° 내지 60°의 각도, 바람직하게 40° 내지 60°의 각도, 바람직하게 대략 45°의 각도를 형성하도록 배향되고;
- 상기 대표적인 양의 적어도 하나는 통계량이고;
- 통계량은 단독으로 또는 임의의 가능한 조합으로 취해진, 다음의 양으로부터 선택되고: 평균, 가중치 평균, 중앙값(median), 표준 편차, 기준 값 위 또는 아래의 발생 횟수, 최대치 또는 최소치;
- 상기 대표적인 양은 적어도 콘트라스팅된 요소의 주 배향을 나타내는 적어도 하나의 라인의 배향에 대한 값을 나타내는 양 및/또는 적어도 하나의 콘트라스팅된 요소의 주 배향을 나타내는 적어도 하나의 라인의 배향의 국부 변경을 나타내는 양 및/또는 적어도 하나의 콘트라스팅된 요소의 치수를 나타내는 양 및/또는 적어도 하나의 콘트라스팅된 요소의 치수에 대한 국부 변경의 대표적인 양을 포함하고;
- 콘트라스팅된 요소의 주 배향을 나타내는 라인의 국부 변경은 o(Pk+s)- o(Pk)의 계산을 포함하고, s는 선택 단계이고, o(Pk)는 인덱스(k)의 픽셀(Pk)에서 콘트라스팅된 요소의 주 배향을 나타내는 라인의 배향에 대한 값이고;
- 콘트라스팅된 요소의 주 배향을 나타내는 라인은 콘트라스팅된 요소를 적어도 부분적으로 한정하는 경계선 중 하나이고;
- 밴드(12)의 주 배향을 나타내는 라인은 밴드(12)를 한정하는 경계선(13) 중 하나이고;
- 상기 치수는 콘트라스팅된 요소의 국부 두께(e(Pk)) 또는 2개의 콘트라스팅된 요소 사이의 거리이고;
- 국부 두께는 2개의 인접한 경계선 사이의 거리에 의해 계산되고;
- 상기 치수의 상대적인 국부 변경도는 e(Pk+s)-e(Pk)를 계산하는 것을 포함하고, e(Pk)는 인덱스(k)의 픽셀(Pk)에서 콘트라스팅된 요소의 상기 치수의 값이고, s는 변경도의 단계이고;
- 계산은 여러 개의 경계선 및/또는 여러 개의 콘트라스팅된 요소에 대해 반복되고;
- 계산은 이미지를 분석하기 위해 하나 이상의 미리 한정된 지역 내에서 반복되고;
- 방법은 제 1 이미지와 상이한 적어도 하나의 보충 이미지에 대해 반복되고;
- 보충 이미지는, 콘트라스팅된 요소가 교대로 된 어둠 및 밝음 밴드 사이에서 평행한 경계선(13)을 한정하지만, 제 1 이미지를 얻기 위해 사용된 테스트 차트의 경계선(13)의 방향으로 30° 내지 150°의 각도, 바람직하게 60° 내지 120°의 각도, 더 바람직하게 80° 내지 100°의 각도, 바람직하게 대략 90°의 각도를 형성하는 교대로 된 어둠 및 밝음 밴드인 테스트 차트에 대해 얻어지고;
- 제 2 이미지에 사용된 테스트 차트의 경계선(13)은 글레이징의 미리 결정된 지역에서 글레이징의 결함의 예상된 방향으로 20° 내지 70°의 각도, 바람직하게 20° 내지 60°의 각도, 바람직하게 40° 내지 60°의 각도, 바람직하게 대략 45°의 각도를 형성하도록 배향되고;
- 장치와 글레이징의 평면의 법선 사이의 입사각은 차량의 측면 글레이징 유닛에 대해 0° 내지 90°, 바람직하게 40° 내지 70°, 바람직하게 차량 루프에 대해 60° 내지 80°에 놓이고;
- 장치의 축과 글레이징의 평면의 법선 사이의 입사각은 테스트 차트의 평면과 글레이징의 평면 사이의 각도와 동일하고;
- 콘트라스팅된 요소는 밴드 및/또는 정사각형 및/또는 스폿(spot)이고;
- 이미지의 생성 단계는
* 복수의 콘트라스팅된 요소 사이에서 경계선을 한정하는 복수의 콘트라스팅된 요소로 구성된 패턴을 갖는 테스트 차트에 글레이징을 노출시키는 단계와;
* 디지털 센서를 갖는 장치에 의해, 글레이징에 의해 장치쪽으로 반사된 이미지의 디지털 획득 단계를 포함하고,
- 글레이징에 의해 반사시 생성된 테스트 차트의 이미지는 글레이징의 외부 표면으로부터, 예를 들어 글레이징의 이론적 표면으로부터, 글레이징의 측정된 표면으로부터, 또는 글레이징의 곡률의 시뮬레이션에 의해 얻어진 표면으로부터 시뮬레이션에 의해 얻어지고;
- 상기 방법은 비교 결과에 따라 글레이징을 거부할 지를 선택하는 단계를 포함한다.
본 발명의 다른 주제는 형성된 글레이징의 품질을 분석하는 방법이 뒤따르는 글레이징을 형성하는 방법을 포함하는 글레이징 유닛을 생성하는 방법으로서, 품질을 분석하는 방법은 위에서 설명된 바와 같은 것을 특징으로 한다.
특정 실시예에 따라, 본 발명에 따른 글레이징을 생성하는 방법은 단독으로 또는 모든 기술적으로 가능한 조합에 따라 취해진, 다음의 하나 이상의 특징을 포함하고;
- 글레이징을 형성하는 방법은 미리 결정된 지역에서 글레이징의 결함의 상기 예상된 방향을 한정하는 글레이징을 성형하는 단계를 포함하고;
- 글레이징을 성형하는 단계는 적어도 하나의 롤러와 접촉하는 단계를 포함하고, 결함의 예상된 방향은 롤러의 축을 따라 있거나 이러한 방향에 수직이고;
- 글레이징을 성형하는 단계는 예를 들어 프레싱을 위해 또는 중력 하에 글레이징이 가라앉도록 하기 위해 글레이징의 에지를 고정하는 단계를 포함하고, 에지의 영역에서 결함의 예상된 방향은 각 에지에 평행하거나 이에 수직이다.
본 발명의 주제는 또한 글레이징 유닛의 품질을 분석하는 디바이스이며, 상기 디바이스는 글레이징으로부터 멀어지는 방향으로 글레이징의 외부 표면에 의해 반사시 생성된 테스트 차트의 디지털 이미지를 생성하는 수단과, 생성된 이미지를 처리하는 처리 유닛을 포함하고, 상기 처리 유닛은 메모리와 컴퓨터를 포함하고, 상기 디바이스는 전술한 품질 분석 방법을 구현할 수 있고, 메모리는 전술한 품질 분석 방법을 구현할 수 있는 프로그램을 포함하고, 프로그램은 생성된 이미지로부터 글레이징의 대표적인 양을 계산할 수 있고, 대표적인 양은 글레이징의 외부 표면에 의해 반사시 생성된 테스트 차트의 이미지의 변형을 나타내는 것을 특징으로 한다.
디바이스의 특정한 실시예에 따라, 이미지를 생성하는 수단은 테스트 차트, 및 디지털 센서를 갖는 장치를 포함하고, 테스트 차트 및 장치는 글레이징의 외부 표면에 의해 반사시 생성된 테스트 차트의 이미지를 각각 생성하고 획득하도록 배치되고, 테스트 차트는 예를 들어 스크린이고, 상기 디바이스는 예를 들어 테스트 차트 패턴을 스크린 상에 투사하기 위한 프로젝터를 포함한다.
본 발명은 단지 예로서 주어지고, 첨부 도면을 참조하여 이루어진 다음의 설명을 읽음으로써 더 잘 이해될 것이다.
본 발명은, 글레이징의 반사시 미적임 품질의 평가에 관련되는 기술적 기준에 기초하여 글레이징을 거부할 지를 선택할 수 있게 하는 글레이징 유닛에 의해 반사시 생성된 이미지의 품질을 분석하기 위한 방법에 효과적이다.
도 1은 본 발명에 따라 글레이징 유닛의 품질을 분석하는 디바이스를 도시한 개략도.
도 2는 테스트 차트 패턴의 예를 도시한 확대도.
도 3 및 도 4는 도 1의 디바이스 및 도 2의 패턴을 갖는 2개의 상이한 유닛에 의해 반사시 얻어진 원본 디지털 이미지를 도시한 도면으로서, 도 3의 글레이징은 어떠한 주요한 결함을 나타내지 않는 반면, 도 4의 글레이징은 이들을 나타내는, 원본 디지털 이미지를 도시한 도면.
도 5 및 도 6은 본 발명에 따른 알고리즘에 의해 처리한 후에 도 3 및 도 4의 이미지를 각각 도시한 도면.
도 7 및 도 8은 분석된 2가지 유형의 변형을 도시한 개략도.
도 9 및 도 10은, 테스트 차트 패턴이 유리한 방식으로 배향되는 본 발명의 실시예의 변형에 따라 동일한 글레이징에 의해 얻어진 반사시 이미지를 도시한 도면.
도 11 및 도 12는 도 9 및 도 10에 대한 비교로서 제공되고, 동일한 글레이징이지만 테스트 차트 패턴의 다른 배향에 대해 얻어진 이미지를 도시한 도면.
도 13은 도 9 내지 도 12의 프레임형(framed) 지역에서, 결함에 대해 테스트 차트의 밴드의 배향의 함수로서, 라디안/픽셀 단위로 배형의 국부 변경의 평균을 계산하기 위해 얻어진 결과를 도시한 도면.
도 1은 글레이징 유닛(2)의 외부 표면에 의해 반사시 생성된 이미지의 분석을 수행하는데 적합한 본 발명에 따른 디바이스(1)를 도시한다.
디바이스는 테스트 차트(4)와, 디지털 카메라(6)와, 장치(6)에 의해 생성된 이미지를 처리하기 위한 유닛(8)을 포함한다.
테스트 차트(4)는 여기서 이미지가 그 위에 프로젝터(10)에 의해 투사된 스크린이다. 이러한 이미지는 예를 들어 도 2에 도시된 바와 같이, 교대로 된 밝음 및 어둠 밴드의 패턴이다. 이 이미지는 더 구체적으로 복수의 콘트라스팅된 요소(12) 사이에서 경계선(13)을 한정하는 복수의 콘트라스팅된 요소(12)로 구성된 패턴으로 이루어진다.
테스트 차트(4)는 바람직하게 평평하다. 이 테스트 차트(4)는 예를 들어 글레이징(2)의 표면과 0° 내지 90°의 각도를 형성하는 평면에서 연장한다. 이러한 각도는 예를 들어 차량의 측면 글레이징 유닛에 대해 40° 내지 70°, 예를 들어 60°로 놓여서, 실제 관찰 상태에 가능한 한 가까워지도록 한다. 차량 루프에 대해, 이러한 각도는 예를 들어 60° 내지 80°, 예를 들어 대략 75°에 놓일 것이다. 예를 들어 40°에서의 더 큰 각도는 2차 반사로 인해 임의의 교란을 감소시킬 수 있게 한다.
예를 들어 CCD 센서를 갖는 카메라(또는 사진용 장치)인 디지털 장치(6)는 반사시 테스트 차트(4)의 이미지를 수신하도록 배치된다. 예시된 예에서, 장치(6)는 글레이징(2)에 대해 테스트 차트(4)에 반대 방향으로 위치된다.
디지털 장치(6)의 축과 글레이징(2)의 평면의 법선 사이의 각도(α)는 테스트 차트(4)의 평면과 글레이징(2)의 평면 사이의 각도(β)와 동일하다.
안쪽으로 굴곡진 글레이징 유닛의 경우에, 글레이징(4)의 평면은 예를 들어 글레이징(2)의 중심에 접선 방향의 평면으로서 간주될 것이다.
디지털 장치(6)는 글레이징(2)에 의해 생성된 테스트 차트(4)의 반사시 이미지의 디지털화된 이미지를 처리 유닛(8)에 제공한다.
각 글레이징(2)에 의해 생성된 원본 이미지는 반사시 상이한 품질 레벨을 나타내는 2개의 아날로그 글레이징 유닛(2)에 대해 도 3 및 도 4에서 각각 도시된다. 이 예에서, 차량 루프가 특히 고려된다.
디지털 방식으로 얻어진 이미지는 이미지의 적어도 하나의 미리 한정된 지역(Z)에 대해 처리 유닛(8)에 의해 자동 방식으로 처리된다. 도 3 및 도 4에 도시된 예에서, 지역(Z)은 글레이징에 의해 생성된 전체 이미지에 대응하지만, 특히 연결 해제된(disconnected) 여러 개의 별도의 지역(Z)으로 구성될 수 있다는 것이 주지되어야 한다.
처리 유닛(8)은, 처리 프로그램이 리코딩되는 메모리(14)와, 처리 프로그램을 수행할 수 있는 컴퓨터(16)를 포함한다.
처리 프로그램은 컴퓨터(16)에 의해, 글레이징(2)에 의해 반사시 생성된 이미지의 변형을 나타내는 양에 대한 계산을 수행할 수 있다.
대표적인 양은 대응하는 글레이징(2)에 대해 계산된 양과 기준 양 사이의 비교 결과에 따라 글레이징(2)을 거부할 지를 선택하기 위해 사용된다.
기준 양은 예를 들어 기준 샘플 상의 측정 및 계산에 의해 얻어진다.
대표적인 양은 더 구체적으로, 설명된 예에서, 경계선의 배향에서의 국부 변경의 통계량 및/또는 콘트라스팅된 요소의 두께의 상대적인 국부 변경의 통계량이다. 더 구체적으로, 본 발명에 따라, 적어도 하나의 콘트라스팅된 요소의 주 배향을 나타내는 라인의 배향에서의 국부 변경을 나타내는 양 및/또는 적어도 하나의 콘트라스팅된 요소의 선형 치수의 상대적인 국부 변경을 나타내는 양의 문제이다. 콘트라스팅된 요소의 주 배향을 나타내는 라인은 여기서 콘트라스팅된 요소를 한정하는 경계선 중 하나이다.
따라서, 더 구체적으로, 본 발명에 따라, 글레이징(2)에 의해 반사시 생성된 이미지의 변형을 나타내는 양, 특히 콘트라스팅된 요소 및/또는 경계선의 변형을 나타내는 양의 문제이다. 언급된 것 이외의 통계량은 아래에 설명되는 변경에 설명된 것으로서 구상될 수 있다.
경계선의 배향의 국부 변경은 경계선의 국부 변경도에 의해 또는 이러한 변경도에 비례하는 양에 의해 계산된다.
이에 따라 프로그램은 경계선(13)의 인덱스(k)의 각 픽셀(Pk)에 대해, 양{To(Pk) = [o(Pk+s) - o(Pk)]/s}을 계산할 수 있으며, s는 선택 단계이고, o(Pk)는 픽셀(Pk)에서의 경계선의 국부 배향의 양이다.
계산을 위해, o(Pk)는 픽셀(Pk)에서 경계선에 법선 배향에 대한 양인 것으로 선택되었다. 변경으로서, 물론 접선 배향의 양 또는 법선 배향의 양의 임의의 개정된 함수로 구성될 수 있다.
To(Pk)의 계산은 경계선(13)의 각 픽셀(Pk)에 대해 반복되고, 그런 후에 미리 결정된 분석 지역(Z) 내부에서 각 밴드(12)에 대해 반복된다.
도 5 및 도 6은 처리 이후에 도 3 및 도 4의 각각의 이미지를 도시한다. 경계선(13)은 더 구체적으로 보일 수 있어서, 이들 사이에서 밴드(12) 및 밴드(12)의 중간 라인(18)을 한정한다.
변경도의 양을 시각적으로 야기하기 위해, 도 5 및 도 6에 도시된 경계선(13)의 각 픽셀은 양에 따라 채색되었다. 이에 따라 변경도의 높은 양에 대응하는 픽셀은 더 밝게 나타난다.
계산에 뒤이은 단계에서, 프로그램은 처리 유닛(8)이 각 분석 지역(Z) 내부에서 경계선(13)의 각 픽셀의 변경도(To)의 평균(Mo)을 계산하도록 하는 능력을 갖는다.
Mo의 양은 각 글레이징 유닛(2) 및 각 분석 지역(Z)에 대한 기준 양과 비교된다. 유닛(8)의 처리 프로그램은 예를 들어 이러한 비교를 수행할 수 있다. 기준 양은 각 지역(Z)에 대해 한정되고, 예를 들어 상이한 지역(Z)에 대해 상이하다.
도 4의 글레이징(2)에 대해 얻어진 Mo의 양은 도 3의 글레이징(2)에 대한 Mo의 양보다 더 크다. 이에 따라 도 3의 글레이징(2)은 예를 들어 반사시 더 양호한 미적인 품질을 갖는 것으로 고려될 것이다.
비교 결과는 예를 들어 도 4의 글레이징(2)의 거부를 초래하는 반면, 도 3의 글레이징(2)은 유지될 것이다. 도 3의 글레이징(2)은 예를 들어 다른 테스트를 통과할 것이다.
일례로, 도 7은 배향에서 국부 변경도를 계산함으로써 나타난 변형의 유형을 도시한다.
본 예에 사용된 제 2 통계량은 콘트라스팅된 요소(12)의 선형 치수에서의 상대적인 국부 변경이다. 선형 치수는 여기서 밴드(12)의 국부 두께인 것으로 선택되었다.
전술한 바와 같이, 각 밴드(12)는 제 1 경계선(13) 및 제 2 경계선(13)에 의해 한정된다. 각 밴드(12)는 전술한 바와 같이 중간 라인(18)을 소유한다.
밴드(12)의 중간 라인(18)은, 각 픽셀(Pk)이 밴드(12)를 한정하는 경계선(13)으로부터 등거리에 있다.
국부 두께(e(Pk))는 이 예에서 분석 지역(Z)의 각 밴드(12)의 중간 라인(18)의 각 픽셀(Pk)에 대해 계산된다. 이러한 국부 두께는 중간 라인(18)의 픽셀(Pk)과 밴드(12)의 경계선(13) 중 하나 사이의 거리의 두배로 구성된다.
e(Pk)의 계산은 중간 라인(18)의 인덱스(k)의 각 픽셀(Pk)에 대해 반복되고, 각 분석 지역(Z) 내부에서 각 밴드(12)에 대해 반복된다.
e(Pk)의 양은 메모리(14)에 저장되고, 대응하는 픽셀(Pk)과 연관된다.
선형 치수의 상대적인 국부 변경도는 중간 라인(18)의 인덱스(k)의 각 픽셀(Pk)에 대해 Te(Pk) = [e(Pk+s) - e(Pk)]/s.e(Pk)]에 의해 계산되고, s는 변경도의 단계이다.
Te(Pk)의 계산은 각 밴드(12)의 중앙 라인(18)의 인덱스(k)의 각 픽셀(Pk) 및 지역(Z)의 각 밴드(12)에 대해 각 지역(Z) 내부에서 반복된다.
그런 후에, 프로그램은, 처리 유닛(8)이 각 분석 지역(Z) 내부에서, 중앙 라인(18)의 모든 픽셀에 대한 변경도(Te)의 평균(Me)을 계산하는 것을 보장할 수 있다.
배향의 국부 변경도(To)에 대한 것과 동일한 방식으로, 평균(Me)은 각 지역(Z)에 대한 기준 값과 비교되고, 글레이징을 거부할 지의 선택은 이러한 비교 또는 이들 비교들의 결과에 기초한다.
도 8은 두께의 상대적인 국부 변경도를 계산함으로써 나타나는 변형의 일례를 도시한다.
전술한 디바이스와 별도로, 본 발명의 주제는 또한 즉 일반적인 방식으로 상기 디바이스를 구현하는 방법이며, 방법은,
- 글레이징으로부터 멀어지는 방향으로 글레이징의 외부 표면에 의해 반사시 생성된 테스트 차트의 디지털 이미지를 생성하는 단계로서, 상기 테스트 차트는 복수의 콘트라스팅된 요소들 사이에서 경계선을 한정하는 복수의 콘트라스팅된 요소로 구성된 패턴을 나타내는, 생성 단계와;
- 생성된 이미지로부터 글레이징을 나타내는 양을 계산하는 단계로서, 상기 계산 단계는 처리 유닛에 의해 수행되는, 계산 단계와;
- 기준 값에 관련된 대표적인 양에 대한 계산된 값을 비교하는 단계로서, 대표적인 양은 글레이징의 외부 표면에 의해 반사시 생성된 테스트 차트의 이미지의 변형을 나타내는, 비교 단계를 포함한다.
특정 실시예에 따라, 본 발명에 따른 방법은 전술한 특징을 갖는다.
변경으로서, 방법은 다양한 이미지에 대한 결과에 따라 거부 선택을 하기 위해 적어도 하나의 보충 이미지, 예를 들어 3개의 보충 이미지에 대해 반복된다. 테스트 차트의 패턴은 예를 들어 각 보충 이미지에 대해 얻어진다. 다른 예에 따라, 보충 이미지를 생성하기 위해 테스트 차트(4)보다는 글레이징(2)이 터닝된다.
또한 변경으로서, 콘트라스팅된 요소의 배향은 예를 들어 밴드를 한정하는 경계선 중 하나에 평행하거나 중앙 라인에 평행한 라인에 의해 나타난다. 또한 각 계수(k 및 1-k)에 대해 2개의 인접 경계선의 가중치 평균에 대응하는 라인으로 구성될 수 있으며, k는 0 내지 1이다.
추가 변경으로서, 통계량은 가중치 평균, 중앙값, 표준 편차, 최대치, 최소치, 기준 값 위 또는 아래의 발생 횟수, 임의의 적합한 유형의 다른 통계량, 또는 임의의 적합한 유형의 이들 여러 양의 조합이다.
그러나, 통계량이 바람직하더라도, 기준 양과 직접 비교되는 원래 양의 변경의 경우일 수 있다.
변경으로서, 상기 분석 지역(Z)의 상이한 수가 한정된다. 분석 지역 또는 지역들(Z)의 수, 위치 및 정도는 임의의 적합한 유형으로부터 선택된다.
또한 변경으로서, 대표적인 양은 콘트라스팅된 요소의 치수 또는 이러한 치수의 통계량이지만, 이러한 치수의 상대적인 국부 변경도일 필요는 없다. 따라서 예를 들어, 밴드의 두께의 국부 양을 기준 값과 비교하는 것이 가능할 것이다. 변경으로서, 배향을 나타내는 라인의 배향의 국부 양, 즉 경계선은 기준 양과 비교될 것이다. 치수는 예를 들어 선형(두께, 거리) 또는 면적이다.
추가 변경으로서, 콘트라스팅된 요소는 밴드 및/또는 정사각형 및/또는 스폿 및/또는 임의의 적합한 유형의 기하학적 요소들 중 하나이다.
정사각형의 경우에, 치수는 예를 들어 정사각형 사이의 거리 또는 정사각형의 크기 치수이다.
스폿의 경우에, 더 구체적으로 스폿의 치수 및/또는 스폿 사이의 거리 및/또는 바람직한 방향으로 변형된 경우 스폿의 배향에 관해 관심을 가질 것이다.
또한 변경으로서, 이미지는 글레이징의 외부 표면으로부터, 예를 들어 글레이징의 이론적 표면으로부터, 측정된 표면으로부터, 또는 글레이징의 곡률의 시뮬레이션에 의해 얻어진 표면으로부터 시뮬레이션에 의해 얻어진다. 그런 후에 테스트 차트 및 디지털 장치의 사용은 필요하지 않다.
추가 변경으로서, 콘트라스팅된 요소의 이미지는 스크린 상의 투사에 의해 얻어지지 않고, 자체로 콘트라스팅된 테스트 차트에 의해 얻어진다.
또한 변경으로서, 본 발명에 따른 방법은 글레이징의 외부 표면의 높이를 계산하는 알려진 유형의 방법과 조합된다. 2가지 방법은 실제로 보상되는 데이터를 제공할 수 있다.
도 9 및 도 10에 도시된 대안적인 실시예에 따라, 테스트 차트의 패턴은 교대로 된 밝음 및 어둠 밴드 사이에서 결함의 예상된 방향에 대해 45°의 각도를 형성하는 평행한 경계선을 한정하는 교대로 된 밝음 및 어둠 밴드로 구성된다.
실제로, 방법은 매우 자주 글레이징의 성형에 링크된 결함, 예를 들어 롤러(예를 들어 컨베이어 롤러 또는 형성 롤러)와의 접촉에 의해 또는 글레이징이 중력(특히 글레이징의 에지 상에서)에 의해 변형될 때 글레이징을 신장시킴으로써 생성된 결함을 검출하는 것에 관한 것이다. 이들 결함은 연장되고, 하나 이상의 알려진 미리 결정된 지역(예를 들어 에지 상의)에서 그리고 각 지역에 대한 알려진 예상된 방향(예를 들어 롤러의 축 방향 또는 에지의 방향)에서 항상 나타난다.
차량 루프 또는 앞유리(windscreens), 더 구체적으로 실질적으로 직사각형 윤곽을 갖는 글레이징 유닛 상에서, 이들 결함의 방향은 이들 글레이징 유닛의 에지에 실질적으로 평행하거나, 수직이다.
이러한 변경에 따라, 테스트 차트의 경계선은 결함의 예상된 방향과 45°의 각도를 형성한다. 이러한 변경에 따라, 2개의 이미지가 획득되는데, 제 1 이미지는 결함의 예상된 방향에 대해 45°에서의 제 1 배향에 대한 것이고, 제 2 이미지는 여전히 45°에 있으면서, 제 1 이미지를 얻는데 사용된 테스트 차트의 패턴과 90°의 각도를 형성한다.
비교로서, 도 11 및 도 12는 결함의 방향에 대해 0° 내지 90°로 배향된 테스트 차트의 패턴을 도시한다.
본 발명의 이러한 변경에 따른 테스트 차트의 배향(도 9 및/또는 도 10)은, 결함이 보이지 않는 도 12 상에서 얻어진 결과와 대조적으로, 단일 이미지가 얻어지더라도, 결함이 검출되는 것을 보장하는 장점을 갖는다.
더욱이, 테스트 차트의 밴드의 그러한 배향은 결함의 정도를 시각화할 수 있다.
실제로, 도 9 및 도 10에 보여지는 바와 같이, 결함이 보이지만 그 정도가 판단하기에 어려운 도 11과, 결함이 보이지 않는 도 12와 대조적으로, 결함의 폭 및 길이를 추정하는 것이 가능하다.
그런 후에, 밴드의 그러한 배향은, 수행된 계산이 고려된 각 경계선에 대한 배향에서의 국부 변경의 계산, 또는 고려된 각 밴드의 두께의 국부 변경의 계산일 때 특히 효과적이다.
계산이 특히 결함의 심각함을 고려할 때 신뢰성있게 된다는 것이 증명되었다.
테스트 차트의 밴드의 배향은 물론 정확히 45°일 필요는 없다. 일반적으로, 예를 들어 20° 내지 70°, 바람직하게 20° 내지 60° , 바람직하게 40° 내지 60°, 바람직하게 대략 45°이다.
도 13은 도 9 내지 도 12에 프레임형 미리 결정된 지역에서, 결함의 방향에 대해 테스트 차트의 밴드의 배향의 함수로서, 라디안/픽셀 단위로 배향의 국부 변경의 평균에 대해 얻어진 결과를 도시한다.
이 때문에, 배향에서의 국부 변경에 대한 양은 프레임형 지역 내부에서 각 경계선의 각 픽셀에 대해 계산되었다. 이들 양의 평균이 계산되었다. 프로세스는 결함의 방향에 대해 테스트 차트의 밴드의 다양한 배향에 대해 반복되었다.
도 13에 도시된 결과는 아래의 표 1에 표시된다:
결함의 검출에 대해 테스트 차트의 밴드의 정도에서의 배향 라디안/픽셀 단위로, 프레임형 지역 내부에서 경계선의 각 픽셀에 대한 배향의 국부 변경의 평균
0 0.00061639
10 0.00154289
20 0.0018542
30 0.00124808
40 0.00159506
50 0.0016801
60 0.00155938
70 0.00139837
80 0.00098004
90 0.005612
100 0.00064534
110 0.00095308
120 0.0012686
130 0.00160588
140 0.00155077
150 0.0015935
160 0.00191364
170 0.00154529
도 13의 결과가 도시될 때, 결함의 검출은 20° 내지 70°, 이때 100° 내지 160°, 더 구체적으로 20° 내지 60°, 및 120° 내지 160°의 배향에 대한 최적치에 있다.
결과는 대칭적이고, 이에 따라 일반적으로, 각도가 20° 내지 70°, 바람직하게 20°내지 60°에 있어야 하는데, 이것이 물론 각각 110° 내지 160°, 120° 내지 160°의 각도와 등가적이라는 것을 고려할 수 있다.
40° 내지 60°, 바람직하게 대략 45°의 바람직한 범위는 다양한 유형의 이미지 처리로 더 강력하다는 장점을 제공한다.
더욱이, 단일 이미지와의 분석을 수행하는 것이 가능하지만, 30° 내지 150°, 바람직하게 60° 내지 120°, 더 바람직하게 80° 내지 100°, 바람직하게 대략 90°의 각도를 그들 사이에서 형성하는 여러 개의 상이한 이미지와의 분석을 수행하는 것은 결함의 검출 및 수량화(quantification)가 더욱 더 신뢰성있게 한다. 처리 시간과 진단의 신뢰성 사이의 절충 문제가 있다는 것이 주지되어야 한다.
바람직하게, 2개의 이미지 각각은 결함의 예상된 방향에 대해 20° 내지 70°, 바람직하게 20° 내지 60° , 바람직하게 40°내지 60°, 바람직하게 대략 45°로 테스트 차트의 밴드의 배향을 갖는다.
더욱이 분석 방법은, 생산 라인으로부터 각 글레이징 유닛의 품질의 분석을 갖는 생산 방법에 병합될 수 있다는 장점을 갖는다. 처리 시간은 실제로 충분히 짧은데, 예를 들어 하나의 이미지에 대해 약 3초이고, 분석 디바이스는 충분히 작은 영역을 차지한다.
마지막으로, 본 발명이 임의의 차량 글레이징 유닛, 특히 측면 글레이징 유닛, 루프, 앞유리, 후방 윈도우 등에 적용될 수 있다는 것이 주지되어야 한다.

Claims (28)

  1. 글레이징 유닛(2)의 품질을 분석하는 방법으로서,
    - 글레이징(2)으로부터 멀어지는 방향으로 글레이징(2)의 외부 표면에 의해 반사시 생성된 테스트 차트(4)의 디지털 이미지를 생성하는 단계로서, 상기 테스트 차트(4)는 복수의 콘트라스팅된 요소들(12) 사이에서 경계선(13)을 한정하는 복수의 콘트라스팅된 요소(12)로 구성된 패턴을 나타내는, 생성 단계와;
    - 생성된 이미지로부터 글레이징(2)을 나타내는 양을 계산하는 단계로서, 상기 계산 단계는 처리 유닛(8)에 의해 수행되는, 계산 단계와;
    - 기준 값에 관련된 대표적인 양에 대한 계산된 값을 비교하는 단계를 포함하는, 글레이징 유닛(2)의 품질을 분석하는 방법에 있어서,
    상기 대표적인 양은 글레이징(2)의 외부 표면에 의해 반사시 생성된 테스트 차트(4)의 이미지의 변형을 나타내는 것을 특징으로 하는, 글레이징 유닛의 품질을 분석하는 방법.
  2. 제 1항에 있어서, 상기 콘트라스팅된 요소는 교대로 된 어둠(dark) 및 밝음(light) 밴드들 사이에서 평행한 경계선(13)을 한정하는 교대로 된 어둠 및 밝음 밴드이고, 상기 경계선은 글레이징의 미리 결정된 지역에서 글레이징의 결함의 예상된 방향으로 20° 내지 70°의 각도, 바람직하게 20° 내지 60°의 각도, 바람직하게 40° 내지 60°의 각도, 바람직하게 대략 45°의 각도를 형성하도록 배향되는 것을 특징으로 하는, 글레이징 유닛의 품질을 분석하는 방법.
  3. 제 1항 또는 제 2항에 있어서, 상기 대표적인 양의 적어도 하나는 통계량인 것을 특징으로 하는, 글레이징 유닛의 품질을 분석하는 방법.
  4. 제 3항에 있어서, 상기 통계량은 단독으로 또는 임의의 가능한 조합으로 취해진, 다음의 양, 즉 평균, 가중치 평균, 중앙값(median), 표준 편차, 기준 값 위 또는 아래의 발생 횟수, 최대치 또는 최소치로부터 선택되는 것을 특징으로 하는, 글레이징 유닛의 품질을 분석하는 방법.
  5. 제 1항 내지 제 4항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 대표적인 양은 적어도 콘트라스팅된 요소(12)의 주 배향을 나타내는 적어도 하나의 라인(13)의 배향에 대한 값을 나타내는 양 및/또는 적어도 하나의 콘트라스팅된 요소(12)의 주 배향을 나타내는 적어도 하나의 라인(13)의 배향의 국부 변경을 나타내는 양 및/또는 적어도 하나의 콘트라스팅된 요소(12)의 치수를 나타내는 양 및/또는 적어도 하나의 콘트라스팅된 요소(12)의 치수에 대한 국부 변경의 대표적인 양을 포함하는 것을 특징으로 하는, 글레이징 유닛의 품질을 분석하는 방법.
  6. 제 5항에 있어서, 콘트라스팅된 요소(12)의 주 배향을 나타내는 라인(13)의 국부 변경은 o(Pk+s)- o(Pk)의 계산을 포함하고, s는 선택 단계이고, o(Pk)는 인덱스(k)의 픽셀(Pk)에서 콘트라스팅된 요소의 주 배향을 나타내는 라인의 배향에 대한 값인 것을 특징으로 하는, 글레이징 유닛의 품질을 분석하는 방법.
  7. 제 6항에 있어서, 콘트라스팅된 요소(12)의 주 배향을 나타내는 라인은 콘트라스팅된 요소(12)를 적어도 부분적으로 한정하는 경계선(13) 중 하나인 것을 특징으로 하는, 글레이징 유닛의 품질을 분석하는 방법.
  8. 제 2항 또는 제 6항에 있어서, 밴드(12)의 주 배향을 나타내는 라인은 밴드(12)를 한정하는 경계선(13) 중의 하나인 것을 특징으로 하는, 글레이징 유닛의 품질을 분석하는 방법.
  9. 제 5항 내지 제 8항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 치수는 콘트라스팅된 요소(12)의 국부 두께(e(Pk)) 또는 2개의 콘트라스팅된 요소(12) 사이의 거리인 것을 특징으로 하는, 글레이징 유닛의 품질을 분석하는 방법.
  10. 제 9항에 있어서, 상기 국부 두께는 2개의 인접 경계선(13) 사이의 거리에 의해 계산되는 것을 특징으로 하는, 글레이징 유닛의 품질을 분석하는 방법.
  11. 제 9항 또는 제 10항에 있어서,
    상기 치수의 상대적인 국부 변경도는 e(Pk+s)-e(Pk)를 계산하는 것을 포함하고, e(Pk)는 인덱스(k)의 픽셀(Pk)에서 콘트라스팅된 요소의 상기 치수의 값이고, s는 변경도의 단계인 것을 특징으로 하는, 글레이징 유닛의 품질을 분석하는 방법.
  12. 제 1항 내지 제 11항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 계산은 여러 개의 경계선(13) 및/또는 여러 개의 콘트라스팅된 요소(12)에 대해 반복되는 것을 특징으로 하는, 글레이징 유닛의 품질을 분석하는 방법.
  13. 제 1항 내지 제 12항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 계산은 이미지를 분석하기 위해 하나 이상의 미리 한정된 지역(Z) 내에서 반복되는 것을 특징으로 하는, 글레이징 유닛의 품질을 분석하는 방법.
  14. 제 1항 내지 제 13항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 방법은 제 1 이미지와 상이한 적어도 하나의 보충 이미지에 대해 반복되는 것을 특징으로 하는, 글레이징 유닛의 품질을 분석하는 방법.
  15. 제 2항 또는 제 14항에 있어서, 상기 보충 이미지는, 콘트라스팅된 요소가 교대로 된 어둠 및 밝음 밴드 사이에서 평행한 경계선(13)을 한정하지만, 제 1 이미지를 얻기 위해 사용된 테스트 차트의 경계선(13)의 방향으로 30° 내지 150°의 각도, 바람직하게 60° 내지 120°의 각도, 더 바람직하게 80° 내지 100°의 각도, 바람직하게 대략 90°의 각도를 형성하는 교대로 된 어둠 및 밝음 밴드인 테스트 차트에 대해 얻어지는 것을 특징으로 하는, 글레이징 유닛의 품질을 분석하는 방법.
  16. 제 15항에 있어서, 제 2 이미지에 사용된 테스트 차트의 경계선(13)은 글레이징의 미리 결정된 지역에서 글레이징의 결함의 예상된 방향으로 20° 내지 70°의 각도, 바람직하게 20° 내지 60°의 각도, 바람직하게 40° 내지 60°의 각도, 바람직하게 대략 45°의 각도를 형성하도록 배향되는 것을 특징으로 하는, 글레이징 유닛의 품질을 분석하는 방법.
  17. 제 1항 내지 제 16항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 장치와 글레이징의 평면의 법선 사이의 입사각(α)은 차량의 측면 글레이징 유닛에 대해 0° 내지 90°, 바람직하게 40° 내지 70°, 바람직하게 차량 루프에 대해 60° 내지 80°에 놓이는 것을 특징으로 하는, 글레이징 유닛의 품질을 분석하는 방법.
  18. 제 1항 내지 제 17항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 장치의 축과 글레이징(2)의 평면의 법선 사이의 입사각(α)은 테스트 차트(4)의 평면과 글레이징(2)의 평면 사이의 각도(β)와 동일한 것을 특징으로 하는, 글레이징 유닛의 품질을 분석하는 방법.
  19. 제 1항 내지 제 18항 중 어느 한 항에 있어서, 콘트라스팅된 요소(12)는 밴드 및/또는 정사각형 및/또는 스폿(spot)인 것을 특징으로 하는, 글레이징 유닛의 품질을 분석하는 방법.
  20. 제 1항 내지 제 19항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 이미지의 생성 단계는
    - 복수의 콘트라스팅된 요소(12) 사이에서 경계선(13)을 한정하는 복수의 콘트라스팅된 요소(12)로 구성된 패턴을 갖는 테스트 차트(4)에 글레이징을 노출시키는 단계와;
    - 디지털 센서를 갖는 장치(6)에 의해, 글레이징(2)에 의해 장치(6)쪽으로 반사된 이미지의 디지털 획득 단계를
    포함하는 것을 특징으로 하는, 글레이징 유닛의 품질을 분석하는 방법.
  21. 제 1항 내지 제 19항 중 어느 한 항에 있어서, 글레이징(2)에 의해 반사시 생성된 테스트 차트(4)의 이미지는 글레이징(2)의 외부 표면으로부터, 예를 들어 글레이징(2)의 이론적 표면으로부터, 글레이징(2)의 측정된 표면으로부터, 또는 글레이징(2)의 곡률의 시뮬레이션에 의해 얻어진 표면으로부터 시뮬레이션에 의해 얻어지는 것을 특징으로 하는, 글레이징 유닛의 품질을 분석하는 방법.
  22. 제 1항 내지 제 21항 중 어느 한 항에 있어서, 비교 결과에 따라 글레이징(2)을 거부할 지를 선택하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는, 글레이징 유닛의 품질을 분석하는 방법.
  23. 형성된 글레이징(2)의 품질을 분석하는 방법이 뒤따르는 글레이징(2)을 형성하는 방법을 포함하는, 글레이징 유닛을 생성하는 방법으로서,
    상기 품질을 분석하는 방법은 제 1항 내지 제 22항 중 어느 한 항에 기재된 것을 특징으로 하는, 글레이징 유닛을 생성하는 방법.
  24. 제 2항 또는 제23항에 있어서, 상기 글레이징을 형성하는 방법은 미리 결정된 지역에서 글레이징의 결함의 상기 예상된 방향을 한정하는 글레이징을 성형하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는, 글레이징 유닛을 생성하는 방법.
  25. 제 24항에 있어서, 글레이징을 성형하는 단계는 적어도 하나의 롤러와 접촉하는 단계를 포함하고, 결함의 예상된 방향은 롤러의 축을 따라 있거나 이러한 방향에 수직인 것을 특징으로 하는, 글레이징 유닛을 생성하는 방법.
  26. 제 24항에 있어서, 글레이징을 성형하는 단계는 예를 들어 프레싱을 위해 또는 중력 하에 글레이징이 가라앉도록 하기 위해 글레이징의 에지를 고정하는 단계를 포함하고, 에지의 영역에서 결함의 예상된 방향은 각 에지에 평행하거나 이에 수직인 것을 특징으로 하는, 글레이징 유닛을 생성하는 방법.
  27. 글레이징 유닛(2)의 품질을 분석하는 디바이스(1)로서, 상기 디바이스는 글레이징(2)으로부터 멀어지는 방향으로 글레이징(2)의 외부 표면에 의해 반사시 생성된 테스트 차트(4)의 디지털 이미지를 생성하는 수단(4, 10, 6)과, 생성된 이미지를 처리하는 처리 유닛(8)을 포함하고, 상기 처리 유닛(8)은 메모리(14)와 컴퓨터(16)를 포함하는, 글레이징 유닛(2)의 품질을 분석하는 디바이스(1)에 있어서,
    상기 메모리는 제 1항 내지 제 26항 중 어느 한 항에 기재된 방법을 구현할 수 있는 프로그램을 포함하고, 상기 프로그램은 생성된 이미지로부터 글레이징(2)의 대표적인 양을 계산할 수 있고, 상기 대표적인 양은 글레이징(2)의 외부 표면에 의해 반사시 생성된 테스트 차트(4)의 이미지의 변형을 나타내는 것을 특징으로 하는, 글레이징 유닛의 품질을 분석하는 디바이스.
  28. 제 27항에 있어서, 상기 이미지를 생성하는 수단은 테스트 차트(4), 및 디지털 센서를 갖는 장치(6)를 포함하고, 상기 테스트 차트(4) 및 상기 장치(6)는 글레이징(2)의 외부 표면에 의해 반사시 생성된 테스트 차트(4)의 이미지를 각각 생성하고 획득하도록 배치되고, 상기 테스트 차트(4)는 예를 들어 스크린이고, 상기 디바이스(1)는 예를 들어 테스트 차트 패턴을 스크린 상에 투사하기 위한 프로젝터(10)를 포함하는 것을 특징으로 하는, 글레이징 유닛의 품질을 분석하는 디바이스.
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CN (1) CN102859347B (ko)
BR (1) BR112012009529A2 (ko)
EA (1) EA021862B1 (ko)
FR (2) FR2951544A1 (ko)
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