KR20120076110A - 필름형 프로브장치 - Google Patents
필름형 프로브장치 Download PDFInfo
- Publication number
- KR20120076110A KR20120076110A KR1020100138121A KR20100138121A KR20120076110A KR 20120076110 A KR20120076110 A KR 20120076110A KR 1020100138121 A KR1020100138121 A KR 1020100138121A KR 20100138121 A KR20100138121 A KR 20100138121A KR 20120076110 A KR20120076110 A KR 20120076110A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- fixed
- movable body
- film
- type probe
- probe device
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
- G01R1/07307—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
- G01R1/0735—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card arranged on a flexible frame or film
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R3/00—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture or maintenance of measuring instruments, e.g. of probe tips
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/26—Testing of individual semiconductor devices
- G01R31/2601—Apparatus or methods therefor
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
- G01R31/2886—Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks
- G01R31/2887—Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks involving moving the probe head or the IC under test; docking stations
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Abstract
본 발명은 필름형 프로브장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 바디블록에 완충부재를 구비하는 한편, 가동몸체는 고정몸체에 대하여 승강하지 않고 위치고정시키는 필름형 프로브장치에 관한 것이다.
본 발명에 의한 필름형 프로브장치는 스테이지에 고정되는 고정몸체; 상기 고정몸체의 측벽을 따라 승강이 가능한 가동몸체; 상기 가동몸체를 상기 고정몸체의 소정위치에 고정하는 위치조절나사; 상기 가동몸체의 저면에 고정되며 완충부재를 구비하는 바디블록; 및 상기 바디블록의 저면에 고정되는 절연필름에 패턴배선이 형성되고, 상기 패턴배선이 피검사체와 접촉하는 프로브시트;를 포함한다.
본 발명에 의한 필름형 프로브장치는 스테이지에 고정되는 고정몸체; 상기 고정몸체의 측벽을 따라 승강이 가능한 가동몸체; 상기 가동몸체를 상기 고정몸체의 소정위치에 고정하는 위치조절나사; 상기 가동몸체의 저면에 고정되며 완충부재를 구비하는 바디블록; 및 상기 바디블록의 저면에 고정되는 절연필름에 패턴배선이 형성되고, 상기 패턴배선이 피검사체와 접촉하는 프로브시트;를 포함한다.
Description
본 발명은 필름형 프로브장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 바디블록에 완충부재를 구비하는 한편, 가동몸체는 고정몸체에 대하여 승강하지 않고 위치고정시키는 필름형 프로브장치에 관한 것이다.
일반적으로 평판표시소자나 반도체 등의 제조공정에서는 수차례의 전기적 검사를 한다.
이 중 평판표시소자는 TFT기판과 칼라필터기판 사이에 액정을 주입하는 셀공정과, 셀에 구동IC를 부착하는 모듈공정과, 모듈에 프레임을 장착하는 세트공정으로 이루어지는데, 예를 들어 모듈공정 전에 셀의 전기적 검사를 수행하게 된다.
보다 구체적으로 설명하면, 셀의 자장자리 부분에는 전기적 신호(영상신호, 동기신호, 색상신호 등)가 인가되도록 하는 수십 내지 수 백개의 접속단자가 고밀도로 배치되는 패드가 복수개 형성되는데, 이러한 셀의 패드에 구동IC를 부착하기 전에 셀의 전기적 검사를 수행하는 것이다.
이러한 각 공정의 전기적 검사를 수행하기 위하여 종래에는 블레이드 타입의 프로브 장치가 이용된다.
도 1을 참조하면, 종래의 프로브장치(1)는 피검사체(P)가 안착되는 스테이지(미도시)의 상부에 고정되는 고정몸체(10)와, 상기 고정몸체(10)의 전면에 장착되는 가동몸체(20)가 구비되며, 상기 가동몸체(20)의 저면에는 블레이드(31)가 구비된 프로브블록(30)이 볼트(B)에 의해 고정된다. 상기 블레이드(B)의 일측 끝단은 피검사체(P)에 접촉하고, 타측 끝단은 TAB IC에 접촉한다.
이 때 상기 블레이드(31)의 일측 끝단이 피검사체(P)에 접촉할 때, 복수의 블레이드(31)가 피검사체(P)에 균일하게 접촉하기 위하여 OD(over drive)를 가하는데, 이 때 접촉충격을 흡수하기 위하여 상기 가동몸체(20)를 고정몸체(10)에 대하여 상승시킨다. 종래의 프로브장치(1)는 상기 가동몸체(20)를 고정몸체(10)에 대하여 승강시키기 위한 구성요소로 LM가이드(40)를 구비한다. 상기 LM가이드(40)는 내장된 구를 회전시켜 직선왕복운동을 하는 공지의 요소이다.
그러나 상기 LM가이드(40)를 별도로 구비하기 때문에 구성부품이 많고, 원가가 비싸며, 고장이 빈번히 발생한다는 문제점이 있다.
본 발명은 상술한 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로서, 본 발명의 목적은 바디블록에 완충부재를 구비하는 한편, 가동몸체는 고정몸체에 대하여 승강하지 않고 위치고정시키는 필름형 프로브장치을 제공함에 있다.
위와 같은 기술적 과제를 해결하기 위하여 본 발명에 의한 필름형 프로브장치는 스테이지에 고정되는 고정몸체; 상기 고정몸체의 측벽을 따라 승강이 가능한 가동몸체; 상기 가동몸체를 상기 고정몸체의 소정위치에 고정하는 위치조절나사; 상기 가동몸체의 저면에 고정되며 완충부재를 구비하는 바디블록; 및 상기 바디블록의 저면에 고정되는 절연필름에 패턴배선이 형성되고, 상기 패턴배선이 피검사체와 접촉하는 프로브시트;를 포함한다.
또한 상기 가동몸체에는 상기 위치조절나사가 관통하는 장홀이 형성되는 것이 바람직하다.
또한 상기 고정몸체와 가동몸체 중 어느 하나에는 가이드홈이 형성되며, 다른 하나에는 상기 가이드홈에 형상맞춤되는 가이드돌기가 구비되는 것이 바람직하다.
또한 상기 가동몸체를 원점으로 복귀시키는 스프링이 더 구비되는 것이 바람직하다.
또한 상기 완충부재는 상기 패턴배선이 상기 피검사체에 접촉할 때 접촉충격을 완화하는 것이 바람직하다.
또한 상기 프로브시트는 상기 절연필름상에 상기 피검사체의 구동신호를 출력하는 구동IC가 실장되는 것이 바람직하다.
본 발명에 따르면, 바디블록에 완충부재를 구비하는 한편, 가동몸체는 고정몸체에 대하여 승강하지 않고 위치고정시키기 때문에 승강을 위한 부품이 감소하고 구조가 단순하다.
따라서 원가가 감소되고, 고장발생이 현저히 감소된다.
도 1은 종래 프로브장치를 나타낸 것이다.
도 2 내지 도 6은 본 발명에 의한 프로브장치를 나타낸 것이다.
도 2 내지 도 6은 본 발명에 의한 프로브장치를 나타낸 것이다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 구성 및 작용을 설명한다.
도 2를 참조하면, 본 발명에 의한 프로브장치(100)는 스테이지(미도시)에 고정되는 고정몸체(110)와, 상기 고정몸체(110)의 전면에 구비되는 가동몸체(120)와, 상기 가동몸체(120)를 고정몸체(110)에 고정하는 위치조절나사(도 5의 124 참조)와, 상기 가동몸체(120)의 저면에 고정되는 바디블록(130)을 포함한다.
상기 바디블록(130)의 저면에는 프로브시트(132)와 FPC(133)가 구비되며, 상기 프로브시트(132)에 형성된 패턴배선을 피검사체에 접촉할 때 발생하는 접촉충격을 완화하는 완충부재(131)가 구비된다.
또한 상기 고정몸체(110)와 가동몸체(120) 사이에는 압축스프링(S)이 구비되어 상기 가동몸체(110)를 원점으로 복귀시킨다.
도 3 내지 도 5를 참조하면, 상기 고정몸체(110)의 일측벽에는 가이드홈(111)이 형성되며, 상기 가동몸체(120)의 대향되는 측벽에는 상기 가이드홈(111)에 형상맞춤되는 가이드돌기(121)가 구비된다. 따라서 상기 가동몸체(120)는 상기 고정몸체(110)의 측벽을 따라 상하방향으로 움직임이 가능한 구조이다.
또한 상기 가동몸체(120)와 고정몸체(110)를 관통하여 체결함으로서 상기 가동몸체(120)를 고정몸체(110)의 소정위치에 고정하는 위치조절나사(124)가 구비되고, 따라서, 상기 고정몸체(110)에는 볼트홀(112)이 형성되고, 특히, 상기 가동몸체(120)에는 상기 위치조절나사(124)가 관통하는 장홀(122)이 형성된다. 따라서 상기 위치조절나사(124)를 완전히 분리하지 않고 느슨하게 한 상태에서 상기 가동몸체(120)를 승강하여 위치를 조절한 다음, 상기 위치조절나사(124)를 체결하여 고정몸체(110)에 가동몸체(120)를 완전히 고정하는 것이다.
또한 상기 가동몸체(120)의 저면에 형성된 고정부에 바디블록을 볼트(B)로 고정한다.
도 6을 참조하면, 상기 바디블록에는 프로브시트(132)가 구비되는데, 상기 프로브시트(132)는 절연필름(132a)에 패턴배선이 형성되고, 상기 절연필름상에는 구동IC(C)가 실장된다. 상기 구동IC(C)는 상기 피검사체를 구동하는 구동신호를 출력하는 구성요소이며, 상기 프로브시트(132)는 액정패널의 TAB IC일 수 있다. 또한 구동IC를 기준으로 전방에 형성된 패턴배선(132b)은 피검사체에 접촉하고, 후방에 형성된 패턴배선(132c)은 FPC(도 2의 133참조)와 연결된다.
도 2를 참조하여 본 발명에 의한 프로브장치(100)의 작동상태를 설명한다. 상기 프로브시트(132)의 패턴배선을 피검사체에 접촉하여 구동IC(C)에서 출력된 구동신호를 피검사체에 인가하여 피검사체를 검사한다.
이와 같이 프로브시트(132)의 패턴배선이 피검사체에 접촉할 때 발생하는 접촉충격은 패턴배선의 상부에 구비된 완충부재(131)에 의해 흡수한다. 따라서 종래의 프로브장치와 달리 가동몸체(120)를 고정몸체(110)에 대하여 상승하지 않아도 완충부재에서 접촉충격을 흡수하기 때문에 피검사체를 보호할 수 있는 것이다.
100: 프로브장치 110: 고정몸체
120: 가동몸체 130: 바디블록
131: 완충부재
120: 가동몸체 130: 바디블록
131: 완충부재
Claims (6)
- 스테이지에 고정되는 고정몸체;
상기 고정몸체의 측벽을 따라 승강이 가능한 가동몸체;
상기 가동몸체를 상기 고정몸체의 소정위치에 고정하는 위치조절나사;
상기 가동몸체의 저면에 고정되며 완충부재를 구비하는 바디블록; 및
상기 바디블록의 저면에 고정되는 절연필름에 패턴배선이 형성되고, 상기 패턴배선이 피검사체와 접촉하는 프로브시트;를 포함하는 것을 특징으로 하는 필름형 프로브장치.
- 제1항에 있어서,
상기 가동몸체에는 상기 위치조절나사가 관통하는 장홀이 형성되는 것을 특징으로 하는 필름형 프로브장치.
- 제1항에 있어서,
상기 고정몸체와 가동몸체 중 어느 하나에는 가이드홈이 형성되며, 다른 하나에는 상기 가이드홈에 형상맞춤되는 가이드돌기가 구비되는 것을 특징으로 하는 필름형 프로브장치.
- 제1항에 있어서,
상기 가동몸체를 원점으로 복귀시키는 스프링이 더 구비되는 것을 특징으로 하는 필름형 프로브장치.
- 제1항에 있어서,
상기 완충부재는 상기 패턴배선이 상기 피검사체에 접촉할 때 접촉충격을 완화하는 것을 특징으로 하는 필름형 프로브장치.
- 제1항에 있어서,
상기 프로브시트는 상기 절연필름상에 상기 피검사체의 구동신호를 출력하는 구동IC가 실장되는 것을 특징으로 하는 필름형 프로브장치.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020100138121A KR20120076110A (ko) | 2010-12-29 | 2010-12-29 | 필름형 프로브장치 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020100138121A KR20120076110A (ko) | 2010-12-29 | 2010-12-29 | 필름형 프로브장치 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20120076110A true KR20120076110A (ko) | 2012-07-09 |
Family
ID=46709884
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020100138121A KR20120076110A (ko) | 2010-12-29 | 2010-12-29 | 필름형 프로브장치 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR20120076110A (ko) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101471977B1 (ko) * | 2014-10-27 | 2014-12-10 | 주식회사 디엠엔티 | 프로브 장치 |
-
2010
- 2010-12-29 KR KR1020100138121A patent/KR20120076110A/ko not_active Application Discontinuation
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101471977B1 (ko) * | 2014-10-27 | 2014-12-10 | 주식회사 디엠엔티 | 프로브 장치 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100793699B1 (ko) | 평판 디스플레이 모듈의 테스트용 지그 | |
US10113944B2 (en) | Circuit board testing apparatus and circuit board testing method | |
US9767721B2 (en) | Inspection apparatus and inspection method | |
US9599844B2 (en) | Inspection apparatus | |
WO2013145839A1 (ja) | 欠陥検出装置 | |
KR100774914B1 (ko) | 평판 디스플레이 모듈의 테스트용 지그 | |
CN101059605A (zh) | 检查显示板的装置和方法 | |
KR200471343Y1 (ko) | 수직형 매니퓰레이터 | |
KR100533193B1 (ko) | 평판표시패널 검사용 프로브 장치 | |
KR20120076110A (ko) | 필름형 프로브장치 | |
KR101010534B1 (ko) | 비주얼검사용 머니퓰레이터부 및 프로브블록부를 구비한 프로브 유닛 | |
KR200447630Y1 (ko) | 표면실장기판 검사기 | |
KR20110032016A (ko) | 디스플레이 패널 검사장치의 워크테이블 | |
JP2012159359A (ja) | 検査装置および検査方法 | |
KR20100008339U (ko) | 이물에 의한 컨텍 불량을 방지할 수 있는 탭 아이씨 직접 컨텍 타입의 프로브 유니트 | |
KR101000456B1 (ko) | 유지 및 보수가 용이한 프로브유닛 | |
KR20050082431A (ko) | 평판표시소자 검사용 프로브 조립체 | |
KR101242372B1 (ko) | 패널 테스트용 글라스 범프 타입 프로브 블록 | |
CN202736444U (zh) | 一种tft阵列检测框架及检测设备 | |
KR20080027569A (ko) | 표시 패널의 검사 장치 및 검사 방법 | |
KR101309621B1 (ko) | 디스플레이 패널 검사용 프로브 유니트 | |
KR101789670B1 (ko) | 오엘이디 패널 검사용 커넥터 | |
KR20110138652A (ko) | 디스플레이 패널 검사를 위한 프로브 유닛 | |
CN219834235U (zh) | 适用于pcb类型摄像模组的可靠性测试治具 | |
KR20120040484A (ko) | 블레이드타입 프로브블록 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E601 | Decision to refuse application |