KR20120037006A - 광 디스크 매체에의 광 기록 방법 및 광 기록 장치 - Google Patents

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Abstract

레이저 광을 복수의 출력으로 변조하여 형성하고, 상기 기록 펄스 열을 광 디스크 매체에 조사하여 마크를 형성하고, 또한 상기 마크 및 마크간의 스페이스의 에지 위치에 관한 정보로서 정보를 기록하는 광 기록 방법이 제공된다. 상기 기록 데이터는 마크 및 스페이스의 조합인 부호화 데이터로 부호화된다. 상기 부호화 데이터 중에서, 상기 마크를, 그 마크 길이와, 그 마크의 전후의 스페이스 길이의 조합에 따라서 분류한다. 상기 분류 결과에 따라서, 상기 마크를 형성하기 위한 기록 펄스 열의 단부로부터 두 번째의 펄스 에지의 위치를 변화시켜서 상기 기록 펄스 열을 제어한다. 상기 기록 펄스 열을 광 디스크 매체에 조사하여 상기 마크를 형성한다.

Description

광 디스크 매체에의 광 기록 방법 및 광 기록 장치{METHOD AND DEVICE FOR OPTICAL RECORDING ONTO OPTICAL DISC MEDIUM}
본 발명은, 광 디스크 매체에 레이저 광을 조사하여 마크를 형성함으로써 정보를 기록하는 광 기록 방법과 광 디스크 기록 장치에 관한 것이다.
DVD-RAM 등의 광 디스크는, 레이저 광을 조사하고 가열시의 레이저 출력을 제어함으로써 기록막의 냉각 속도를 변화시켜서, 기록막상에 비정질(非晶質; amorphous) 마크를 형성한 상변화(相變化) 디스크이다. 이러한 광 디스크 매체에 있어서 기록/재생시의 정보 전송 속도를 향상시키기 위해서는, 기록 선밀도(線密度)를 증가시키거나, 기록 매체에 대한 광 스폿(spot)의 주사 속도를 증가시킬 수도 있다. 그리고, 기록 선밀도를 증가시키기 위해서는, 마크 길이 및 스페이스 길이 그 자체를 축소하거나, 또는 마크 길이 및 스페이스 길이를 미소하게 변화시킴으로써 마크 에지(edge) 위치를 검출하는 시간 폭을 좁게 하는 방법이 있다. 그러나, 기록 선밀도를 증가시키는 방법에서는, 재생 신호의 S/N비가 문제가 되어서, 기록 선밀도를 대폭적으로 증가시킬 수는 없다.
기록 밀도를 증가시키기 위하여, 기록하는 마크와 스페이스의 길이를 짧게 하는 경우, 특히 스페이스 길이가 짧아지면, 기록된 마크의 종단(終端; ending end portion)의 열(熱)이 스페이스 부분을 통하여 전도되어서 다음 마크의 시단(始端; starting end portion)의 온도 상승에 영향을 주거나, 반대로 다음에 기록된 마크의 시단의 열이 이전 마크의 종단의 냉각 과정에 영향을 줄 수도 있는 열 간섭을 일으킨다. 종래기술의 기록 방법에서는 열 간섭이 발생하면, 마크 에지 위치가 변동하여, 재생시의 오류율이 증가하는 문제가 있었다.
또한, 디스크상에 정확한 길이의 마크 및 스페이스가 형성되어 있어도, 광 스폿의 크기에 의해서 결정되는 재생 광학계의 주파수 특성으로 인하여, 재생시에 검출되는 짧은 마크 및 스페이스의 에지 위치가, 이상적인 값과 다르게 재생되는 문제가 발생할 수도 있다. 이러한 검출 에지와 이상적인 값과의 편차를 일반적으로 부호간 간섭이라고 한다. 마크 및 스페이스의 크기가 광 스폿에 비하여 작아지면 부호간 간섭이 현저하게 되어서 재생시의 지터(jitter)가 증대하여, 오류율이 증가하는 문제가 있었다.
그러므로, 일본국 특허 공보 제2679596호 공보에 나타내는 바와 같이, 레이저 출력을 2치 값으로 구동하고, 마크의 시단 부분의 위치를, 기록하는 마크의 길이 및 그 전의 스페이스 길이에 따라서 변화시키고, 마크의 종단 부분의 위치를, 기록하는 마크의 길이 및 그 후의 스페이스 길이에 따라서 변화시켜 기록하는 방법이 개시되어 있다. 이로써, 고밀도 기록시의 마크간의 열 간섭 및 재생시의 주파수 특성에 의한 부호간 간섭의 발생을 보상한다.
또한, 일본국 특허 공개 공보 제2004-185796호에 나타내는 바와 같이, 레이저 출력을 3치 이상의 값으로 구동하고, 마크의 시단 부분의 위치를, 기록하는 마크의 길이에 따라서 변화시키고, 마크의 종단 부분의 위치를, 기록하는 마크의 길이에 따라서 변화시켜 기록하는 방법이 개시되어 있다. 이로써, 고밀도 기록시의 마크간의 열 간섭 및 재생시의 주파수 특성에 의한 부호간 간섭의 발생을 보상한다. 또한, 이 경우에, 냉각 펄스의 폭을 변경함으로써 마크의 종단부의 종단 위치를 제어하는 방법이 개시되어 있다.
도 13A~도 13F는, 종래기술에 의한 장치에서의, 기록 부호 열(列)의 마크 및 스페이스와, 그것을 기록하는 기록 파형 발생 동작의 일례를 설명하는 도면이다.
도 13A는 기록 동작의 시간 기준이 되고, 또한 주기가 Tw인 기준 시간 신호(128)를 나타낸다. 도 13B는 기록 데이터를 부호기(113)에서 NRZI 변환한 결과의 기록 부호 열(126)을 나타낸다. 여기서, Tw는 검출 윈도(window) 폭이고, 또한 기록 부호 열(126)에 있어서의 마크 길이 및 스페이스 길이의 기본 단위이다. 도 13C는 광 디스크상에 실제로 기록되는 마크와 스페이스의 이미지를 나타내고, 레이저 광의 스폿은 도 13C의 좌측으로부터 우측 방향으로 주사한다. 마크(301)는 기록 부호 열(126) 중의 "1" 레벨에 1 대 1로 대응하고, 그 기간에 비례한 길이로 형성된다. 도 13D는 마크(301) 및 스페이스(302)의 선두로부터의 경과 시간을 Tw를 단위로 하여 측정하는 카운트 신호(205)이다.
도 13F는 도 13B의 기록 부호 열(126)에 대응한, 종래의 장치에 있어서의 기록 파형의 일례이다. 이러한 기록 파형(303)은, 카운트 신호(205)와 기록 부호 열(126)을 참조하여 생성된다.
도 14A~F는, 종래기술에 의한 장치에서의, 기록 부호 열의 마크 및 스페이스와, 그것을 기록하는 기록 파형 발생 동작의 일례를 설명하는 도면이다. 도 14A는 기록 동작의 시간 기준이 되고, 또한 주기가 Tw인 기준 시간 신호(128)를 나타낸다. 도 14B는 기록 데이터를 부호기(113)에서 NRZI 변환한 결과의 기록 부호 열(126)을 나타낸다. 여기서, Tw는 검출 윈도 폭이고, 또한 기록 부호 열(126)에 있어서의 마크 길이 및 스페이스 길이의 기본 단위이다. 도 14C~F는 마크 길이가 2T~5T인 마크의 기록 마크 형성시의 기록 펄스 신호(125)의 파형을 나타내는 타이밍도이다. 기록 펄스 신호(125)는 레벨 변조되어 있고, 도 14C의 경우에, 가장 높은 레벨인 최대 출력(Pw), 중간 레벨의 소거 출력(Pe) 및 가장 낮은 레벨인 최저 출력(Pb)의 3 레벨로 되어 있다.
종래의 기록 보상에서는, 상기한 바와 같이 각각의 선두 펄스의 개시 위치를 기준 시간 신호로부터 변화(shift)시키는 변화량 dTtop을, 기록하는 마크의 마크 길이에 따라서 변화시켜서, 기록하는 마크의 시단 위치를 변화시킨다. 또한, 냉각 펄스의 종료 위치를 기준 시간 신호로부터 변화시키는 변화량 dTe를, 기록하는 마크의 마크 길이에 따라서 변화시켜서, 기록하는 마크의 종단 위치를 변화시킨다.
상기 제1종래기술에서는, 출력을 2치 값으로 변조한다. 따라서, 상변화형 디스크와 같이 가열 부분의 냉각 속도로써 마크의 형성을 제어할 수 있는 매체에 대하여 멀티 펄스 기록을 실행하는 경우에는, 가열 부분이 충분히 냉각되기 전에 다음의 광 펄스가 조사(照射)되어서, 정상적인 마크 형성에 방해가 된다. 즉, 열량의 투입량이 과대해져서, 마크 형상이 눈물 방울 형상으로 되어 올바른 마크가 형성되지 않는 문제가 있었다.
또한, 마크 형성 과정에서, 미소한 마크를 형성하는 경우, 가장 짧은 마크 길이의 마크로 인하여 부호간 간섭이 증가한다. 이에 대한 대책으로서, 재생 광학계의 주파수 특성을 보정하기 위하여, 전기적인 주파수 보정 회로(이퀄라이저)를 이용하여, 부호간 간섭을 저감할 수 있지만, 특히 미소한 마크의 형성시에 이퀄라이저의 부스트(boost) 값이 증가한다. 이와 같이 이퀄라이저의 부스트 값을 증가시켜서, 재생 시스템의 부호간 간섭을 제거하면, 고주파 영역의 노이즈 성분이 증가하므로, 바람직한 지터를 얻을 수 없다.
또한, 상기 제2종래기술에서는, 마크의 종단 에지를 보상할 때에, 냉각 펄스의 종단 위치를 제어함으로써, 마크 종단부의 재결정화를 촉진하여 기록 마크의 종단 위치를 제어한다.
그러나, 예를 들면, 무기재료를 이용한 추기형(追記型)의 광 기록 매체의 경우, 마크의 형성이 불가역(不可逆; irreversible) 특성 때문에 기록막의 재결정화 과정을 거치지 않으므로, 냉각 펄스의 폭을 제어하여 마크의 종단 위치를 제어할 수 없는 매체가 있다. 이러한 매체의 경우, 마크의 종단 위치에서의 지터가 증가하여, 재생 신호의 오류율을 증가시키는 원인이 된다.
이상 설명한 바와 같이, 상기의 종래기술로써는 고밀도 기록시에, 마크를 충분한 정밀도로 형성할 수 없고, 결과적으로 충분한 기록면 밀도와 신뢰성을 실현할 수 없다.
따라서, 본 발명의 목적은, 여러 가지 광 디스크 매체에 대하여 열 간섭 및 부호간 간섭을 정밀하게 보상하여 기록할 수 있는 광 기록 방법 및 광 기록 장치를 제공하는 것이다.
본 발명에 의한 광 기록 방법은, 레이저 광을 복수의 출력 레벨로 변조하여 형성한 기록 펄스 열을 광 디스크 매체에 조사하여 마크를 형성하고, 또한 상기 마크 및 마크간의 스페이스의 에지 위치에 관한 정보로서 정보를 기록하는 광 기록 방법으로서,
기록 데이터를 부호화하여 마크 및 스페이스의 조합인 부호화 데이터를 작성하는 단계와,
상기 부호화 데이터 중 상기 마크를, 그 마크 길이와 그 전후의 스페이스 길이의 조합에 따라서 분류하는 단계와,
상기 분류 결과에 따라서, 상기 마크를 형성하기 위한 기록 펄스 열의 단부로부터 두 번째의 펄스 에지의 위치를 변화시켜서 상기 기록 펄스 열을 제어하는 단계와,
상기 기록 펄스 열을 광 디스크 매체에 조사하여 상기 마크를 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.
본 발명에 의한 광 기록 장치는, 레이저 광을 복수의 출력 레벨로 변조하여 형성한 기록 펄스 열을 광 디스크 매체에 조사하여 마크를 형성하고, 또한 상기 마크 및 마크간의 스페이스의 에지 위치에 관한 정보로서 정보를 기록하는 광 기록 장치로서,
기록 데이터를 부호화하여 마크 및 스페이스의 조합인 부호화 데이터를 작성하는 부호화 수단과,
상기 부호화 데이터 중 상기 마크를, 그 마크 길이와, 그 전후의 스페이스 길이의 조합에 따라서 분류하는 분류 수단과,
상기 분류 결과에 따라서, 상기 마크를 형성하기 위한 기록 펄스 열의 단부로부터 두 번째의 펄스 에지의 위치를 변화시킨 기록 펄스 열을 작성하는 기록 파형 발생 수단과,
상기 기록 펄스 열을 광 디스크 매체에 조사하여 상기 마크를 형성하는 레이저 구동 수단을 포함하는 것을 특징으로 한다.
이상 설명한 바와 같이, 본 발명에 의한 광 기록 방법에 의하면, 기록하는 각각의 마크를, 그 마크 길이와 그 전후의 스페이스 길이의 조합에 따라서 분류하고, 상기 분류 결과에 따라서 각각의 마크를 기록하는 기록 펄스 열의 단부로부터 두 번째의 펄스 에지의 위치를 에지 변화량 dTF2 및/또는 dTE2만큼 변화시켜서 기록 펄스 신호를 제어한다. 이에 따라서, 광 디스크 매체에 형성되는 마크의 시단 위치 및 종단 위치를 정밀하게 제어할 수 있다. 또한, 기록 마크의 마크 길이뿐만 아니라 전후의 스페이스 길이에 따라서 펄스 에지를 제어하므로, 부호간 간섭을 고려하여, 마크의 시단 위치 및 종단 위치를 더욱 정밀하게 제어할 수 있다. 이에 따라서 기록/재생 동작의 신뢰도를 향상시키고, 또한 동시에 정보 기록 장치 및 기록 매체의 소형화를 실현할 수 있다.
도 1은 본 발명의 제1실시형태에 의한 광 기록 장치의 구성을 나타내는 블록도.
도 2A 내지 2F는 본 발명의 제1실시형태에 의한 광 기록 방법에서의 타이밍도.
도 3A 내지 3F는 본 발명의 제1실시형태에 의한 광 기록 방법에서의 마크 길이와, 기록 펄스 열의 기록 파형과의 관계를 나타내는 타이밍도.
도 4A 내지 4D는 본 발명의 제1실시형태에 의한 광 기록 방법에서의 기록 펄스 열의 제어의 예를 나타내는 도면.
도 5A 내지 5D는 본 발명의 제1실시형태에 의한 광 기록 방법에서의 기록 펄스 열의 제어의 다른 예를 나타내는 도면.
도 6A 내지 6D는 본 발명의 제1실시형태에 의한 광 기록 방법에서의 기록 펄스 열의 제어의 또 다른 예를 나타내는 도면.
도 7은 본 발명의 제1실시형태에 의한 광 기록 방법의 흐름도.
도 8은 본 발명의 제1실시형태에 의한 광 기록 방법에서의 기록 보상 테이블을 작성하는 방법의 흐름도.
도 9A 내지 9F는 본 발명의 제2실시형태에 의한 광 기록 방법에서의 마크 길이와, 기록 펄스 열의 파형과의 관계를 나타내는 타이밍도.
도 10A 내지 10J는 본 발명의 제3실시형태에 의한 광 기록 방법에서의 마크 길이와, 기록 펄스 열의 파형과의 관계를 나타내는 타이밍도.
도 11A 내지 11D는 본 발명의 제4실시형태에 의한 재생 방법에서의 재생 신호 파형을 나타내는 개략도.
도 12는 본 발명의 제4실시형태에 의한 재생 방법에서의 파형 등화(等化) 특성을 나타내는 도면.
도 13A 내지 13F는 종래기술의 광 기록 방법에서의 타이밍도.
도 14A 내지 14F는 종래기술의 광 기록 방법에서의 마크 길이와, 기록 펄스 열의 기록 파형과의 관계를 나타내는 타이밍도.
이하, 본 발명의 실시형태를 설명한다. 본 실시형태에서는 기록 매체로서 상변화 광 디스크를 예로 하여 설명하지만, 본 발명은 이것에 한정되는 것이 아니고, 기록 매체에 에너지를 주입하여 미기록부의 물리적 특성과는 상이한 물리적 특성을 갖는 마크를 형성함으로써 정보를 기록하는 기록 매체에 대한 공통의 기술이다.
(제1실시형태)
도 1은 본 발명의 제1실시형태에 의한 광 기록/재생 장치의 구성을 나타내는 블록도이다. 이 광 기록/재생 장치는, 기록 시스템으로서, 부호기(113)와, 기준 시간 발생기(119)와, 카운터(200)와, 분류기(201)와, 기록 파형 발생기(112)와, 기록 보상기(118)와, 레이저 구동 회로(111)와, 출력 설정기(114)와, 레이저(100)와, 대물 렌즈(116) 등의 광학계를 구비하고 있다. 또한, 이 광 기록/재생 장치는, 재생 시스템으로서, 검출 렌즈(106) 등의 광학계와, 광 검출기(100)와, 전치 증폭기(101)와, 파형 등화기(103)와, 2치(値)화기(104)와, 복호기(105)와, 재생 변화 측정기(170)를 구비하고 있다. 또한, 상기 광학계는, 대물 렌즈(116), 검출 렌즈(106) 이외에, 조준(collimator) 렌즈(109), 하프 미러(half mirror)(108)를 포함한다.
우선, 이 광 기록/재생 장치의 각각의 구성 요소에 대하여 설명한다. 부호기(113)는, 기록되는 기록 데이터(127)를, 광 디스크(117)상에 형성되는 마크와 스페이스의 마크 길이, 스페이스 길이 및 그 선두 위치에 관한 정보인 기록 부호 열(NRZI)(126)로 변환한다. 기록 부호 열(126)은, 분류기(201), 기록 파형 발생기(112) 및 카운터(200)에 전송된다.
분류기(201)는, 기록 부호 열(126)의 각각의 마크를, 그 마크 길이(부호 길이) 및 그 마크의 전후의 스페이스 길이에 의해서 소정의 규칙에 따라서 분류한다. 분류기(201)는 그 결과를 분류 신호(204)로서 기록 파형 발생기(112)에 입력한다.
카운터(200)는, 기록 부호 열(126)을 참조하고, 기준 시간 발생기(119)가 발생하는 기준 시간 신호(128)를 단위로 하여 마크의 선두 위치로부터의 경과 시간을 측정하고, 카운트 신호(205)를 생성한다. 또한, 부호기(113) 및 기록 파형 발생기(112)는, 각각, 기준 시간 신호(128)에 동기되어 동작한다. 기준 시간 신호(128)는 디스크(117)상의 워블(wobble)로부터 신호를 판독하고, 그 신호를 PLL 처리하여 동기시킴으로써 생성된다.
기록 보상기(118)는, 디스크상의 특정 영역에 미리 기록되어 있는 정보를 판독하고, 각각의 마크 길이 및 그 전후의 스페이스 길이에 따라서 기록 파형 발생기에 의해서 발생시키는 각각의 기록 펄스 파형의 펄스 위치 이동량을 정의하는 기록 보상 테이블 데이터를 저장하고, 상기 기록 보상 테이블 데이터를 기록 파형 발생기에 송출한다.
기록 파형 발생기(112)는, NRZI 열, 분류 신호 및 기록 보상 테이블 데이터에 따라서 펄스상의 파형을 시간축을 따라서 보상한다. 이에 따라서, NRZI 열은 기록 파형에 대응하는 기록 펄스 신호(125)로 변환된다. 기록 펄스 신호(125)는, 레이저 출력 레벨에 따라서 3 단계의 레벨로 형성된다.
기록 보상기(118)는, 이후에 설명하는 바와 같이, 기록 펄스 신호(125)의 단부로부터 두 번째의 펄스 에지의 위치를 변화시키는 에지 변화량 dTF2 및/또는 dTE2를 정의하는 기록 보상 테이블을 저장하고 있다. 기록 보상기(118)는, 이 기록 보상 테이블을 기록 파형 발생기(112)에 전송하고, 상기 분류 신호에 따라서 각각의 마크 길이의 펄스가 분류되어 각각의 기록 펄스의 위치 및 폭이 보상된 기록 펄스를 포함하는 기록 펄스 신호(125)가 레이저 구동 회로에 전송된다.
레이저 구동 회로(111)는, 상기 기록 펄스 신호(125)의 3개의 레벨(Pw, Pe, Pb)의 각각에 대응하는 레이저 출력을, 출력 설정기(114)에 의해서 설정된 출력 레벨로 설정하고, 레이저 구동 전류(124)로써 레이저(110)를 구동해서 광 디스크(117)상에 펄스 형상의 광을 조사하여 기록 마크를 형성한다.
이어서, 이 광 기록/재생 장치의 기록 시스템에 의한 광 디스크(117)에의 정보의 기록 방법에 대하여 설명한다.
기록 펄스 신호(125)가 레이저 구동 회로(111)에 전송된다. 레이저 구동 회로(111)는, 기록 펄스 신호(125)와, 출력 설정기(114)에 의해서 설정된 출력을 참조해서, 기록 펄스 신호(125)의 레벨에 따라서 레이저 구동 전류(124)를 발생하여, 레이저(110)를 기록 펄스 신호(125)의 소정의 기록 파형에 따라서 발광시킨다. 레이저(110)로부터 방출된 레이저 광(123)은, 조준 렌즈(109), 하프 미러(108) 및 대물 렌즈(116)를 통과하여 광 디스크(117)상에 집속(集束)되어서, 기록막을 가열하여 마크와 스페이스를 형성한다.
이어서, 이 광 기록/재생 장치의 재생 시스템에 의한 재생 방법을 설명한다.
정보의 재생시에는, 기록된 마크를 훼손하지 않는 정도의 낮은 출력 레벨의 레이저 광(123)이 광 디스크(117)상의 마크 열(列)을 주사한다. 광 디스크(117)로부터의 반사광은, 대물 렌즈(116)와 하프 미러(108)를 통과하여, 검출 렌즈(106)에 입사한다. 레이저 광은 검출 렌즈(106)를 통과하여 광 검출기(100)상에 집속된다. 집속된 광은, 광 검출기(100)상의 광 강도 분포의 강약에 따라서, 전기 신호로 변환된다. 전기 신호는, 각각의 광 검출기(100)에 설치된 전치 증폭기(101)에 의하여 증폭되어서, 광 디스크(117)상의 주사 위치에서의 마크의 유무에 대응하는 재생 신호(120)가 된다. 재생 신호(120)는, 파형 등화기(103)에 의해서 파형 등화 처리되고, 또한 2치화기(104)에 의해서 "0" 또는 "1"의 2치의 데이터로 변경된 후, PLL에 의해서 동기화되어 2치화 재생 신호(121)로 변환된다. 복호기(105)는, 이 2치화 재생 신호(121)에 대하여, 부호기(113)에서의 변환과 반대인 역변환을 실시하여 재생 데이터(122)를 생성한다.
여기서 예를 들면, 기준 시간 신호의 주파수는, 66 MHz, Tw는 약 15 nsec이다. 디스크는 4.92 m/sec의 일정한 선속도로 회전한다. 레이저 광으로서는, 파장이 405 nm인 반도체 레이저를 이용한다. 대물 렌즈의 NA는 0.85이다. 광 디스크(117)는, 정보를 기록할 수 있는 기록면이 단층인 단층 디스크라도 좋고, 또는 정보를 기록할 수 있는 기록면이 한쪽에 2층으로 형성된 2층 디스크라도 좋다. 또한, 광 디스크 매체(117)는, 상변화 기록 재료를 이용한 재기록형 광 디스크 매체, 또는 1회만 기록할 수 있는 추기형 광 디스크 매체 중 어느 것이라도 좋다. 부호화 방식은, (1, 7) 변조 이외에 17PP 변조 또는 8-16 변조라도 좋다. (1, 7) 변조 및 17PP 변조의 경우에 최단의 부호 길이는 2Tw이다. 8-16 변조의 경우에는, 최단의 부호 길이가 3Tw가 되는데, 이 경우, (1, 7) 변조를 이용한 본 실시형태에 의한 부호 길이에 1을 더한 것으로 취급해도 좋다.
도 2A~2F는, 이 광 기록/재생 장치에서의, 기록 부호 열의 마크와 스페이스 및 그것을 기록하는 기록 파형 발생 동작의 일례를 설명하는 도면이다.
도 2A는 기록 동작의 시간 기준이 되는 기준 시간 신호(128)이고, 주기가 Tw이다. 도 2B는 기록 데이터를 부호기(113)에서 NRZI 변환한 결과의 기록 부호 열(126)을 나타낸다. 여기서, Tw는 검출 윈도 폭이고, 기록 부호 열(126)에서의 마크 길이와 스페이스 길이의 변화량의 최소 단위이다. 도 2C는 광 디스크상에 실제로 기록되는 마크와 스페이스의 이미지를 나타내고, 레이저 광의 스폿은 도 2C의 좌측으로부터 우측 방향으로 주사한다. 마크(301)는 기록 부호 열(126) 중의 "1" 레벨에 1 대 1로 대응하고, 그 기간에 비례한 길이로 형성된다. 도 2D는 마크(301) 및 스페이스(302)의 선두로부터의 경과 시간을 Tw를 단위로 하여 측정하는 카운트 신호(205)이다.
도 2E는 이 기록/재생 장치에서의 분류 신호(204)의 개략도이고, 본 실시형태에서는, 마크가 각각의 마크의 마크 길이의 값과, 그 마크의 전후의 스페이스 길이인 3개의 값의 조합으로 분류되어 있다. 예를 들면, 도 2E에서, "4-5-2"는, 마크 길이가 5Tw이고, 그 마크 전의 스페이스 길이가 4Tw이고, 그 마크 다음의 마크 길이가 2Tw인 마크를 나타낸다. 또한, 어떤 경우에는, w를 생략하여 각각의 길이를 4T와 2T로 나타낼 수도 있다. 또한, 어떤 경우에는, 스페이스 길이를 4Ts로 나타내고, 마크 길이를 2Tm으로 나타낼 수도 있다.
도 2F는, 실제로 기록되는 광 파형의 일례로서, 도 2B의 기록 부호 열(126)에 대응하는 기록 펄스 신호를 나타낸다. 이러한 기록 펄스 신호(125)는, 카운트 신호(205), 기록 부호 열(126), 분류 신호(204) 및 기록 보상기(118)로부터 출력되는 기록 보상 테이블 데이터를 참조하여 생성된다.
이어서, 이 광 기록/재생 장치에서의 기록 보상 방법을 설명한다.
도 3A~3F는 마크의 마크 길이와 기록 펄스 신호(125)의 기록 파형과의 관계를 나타내는 개략도이다. 도 3A는 기록 동작의 시간 기준이 되는 기준 시간 신호(128)를 나타내고, 주기가 Tw이다. 도 3B는 마크 선두로부터의 경과 시간을 기준 시간 신호(128)의 기준 시간 Tw를 단위로 하여 측정하는, 카운터(200)로부터 발생된 카운트 신호(205)를 나타낸다. 카운트 신호가 0으로 이행(移行)하는 타이밍은 마크 또는 스페이스의 선두에 해당한다. 도 3C~3F는, 기록 마크 형성시의 기록 펄스 신호(125)이다. 기록 펄스 신호(125)는, 레벨 변조되어 있고, 가장 높은 레벨인 최대 출력(Pw), 중간 레벨의 소거 출력(Pe) 및 가장 낮은 레벨인 최저 출력(Pb)의 3 레벨로 되어 있다. 또한, 최종 펄스 후, 냉각 펄스가 최저 출력 레벨로 형성된다.
기록 펄스 신호(125)를, 3개의 출력 레벨 값을 갖도록 변조했지만, 최종 펄스 후의 냉각 펄스의 최저 출력과, 중간 펄스 사이의 최저 출력이 상이한, 합계 4개의 출력 레벨을 갖도록 변조할 수도 있다. 도 3A~3F에서는, 최저 출력 레벨이 소거 출력 레벨보다도 낮은 출력 레벨이지만, 최저 출력 레벨이 소거 출력 레벨과 최대 출력 레벨 사이의 출력 레벨이라도 좋다. 또한, 도 3C~3F에서는, 4Tw 마크의 기록 펄스 신호는 1개의 중간 펄스를 포함하지만, 마크 길이(부호 길이)가 5Tw 또는 6Tw로 1Tw씩 길어짐에 따라서 중간 펄스의 개수가 1개씩 증가한다.
이 기록 보상(적응 보상)에 의하면, 각각의 마크를 그 마크 길이와 그 전후의 스페이스 길이에 따라서 분류하고, 또한 각각의 마크를 기록하는 기록 펄스 열의 단부(端部)로부터 두 번째의 펄스 에지의 위치를 상기 분류 결과에 따라서 에지 변화량 dTF2 및/또는 dTE2만큼 변화시켜서 기록 펄스 신호를 제어함으로써, 광 디스크 매체에 형성하는 마크의 시단 위치 및 종단 위치를 정밀하게 제어한다. 종래기술에서와 같이 기록 펄스 열의 시단 dTtop 및 종단 dTe의 위치를 변화시키는 경우에는, 마크의 시단 위치 및 종단 위치가 크게 변화하여, 정밀하게 제어할 수 없다. 상기한 바와 같이, 기록 펄스 신호의 단부로부터 두 번째의 펄스 에지의 위치를 에지 변화량 dTF2 및/또는 dTE2만큼 변화시킴으로써 마크의 시단 위치 및 종단 위치를 더욱 정밀하게 제어할 수 있다. 또한, 기록하는 마크의 마크 길이뿐만 아니라 그 전후의 스페이스 길이에 따라서 펄스 에지를 제어하므로, 부호간 간섭을 고려하여, 마크의 시단 위치나 종단 위치를 더욱 정밀하게 제어할 수 있다.
이 광 기록 방법에 있어서의 기록 보상 방법에 대하여, 도 7의 흐름도를 이용하여 설명한다.
(a) 우선, 기록 데이터를 부호화하여 마크와 스페이스의 조합으로 구성되는 부호화 데이터를 작성한다(S01). 이 부호화 데이터는, 도 2B의 기록 부호 열(126)에 대응한다.
(b) 마크를, 그 마크 길이와 그 전후의 스페이스 길이와의 조합에 따라서 분류한다(S02). 도 2E에서, 2T 마크는 "2-2-3"으로 표시되고, 3T 마크는 "3-3-4"로 표시되고, 5T 마크는 "4-5-2"로 표시되고, 6T 마크는 "2-6-2"로 표시되어 있다. 이것들은 "전(前) 스페이스 길이", "마크 길이" 및 "후(後) 스페이스 길이"의 순서의 조합으로 표시되어 있다.
(c) 마크를 형성하기 위한 기록 펄스 열의 단부로부터 두 번째의 펄스 에지의 위치를 분류 결과에 따라서 변화시켜서 기록 펄스 열을 제어한다(S03). 예를 들면, 도 3C에서는, 시단으로부터 두 번째의 펄스 에지의 위치를 에지 변화량 dTF2만큼 변화시킨다. 도 3D에서는, 시단으로부터 두 번째의 펄스 에지의 위치를 에지 변화량 dTF2만큼 변화시키고, 및/또는 종단으로부터 두 번째의 펄스 에지의 위치를 에지 변화량 dTE2만큼 변화시킨다.
(d) 기록 펄스 열을 광 디스크 매체(117)에 조사하여 마크를 형성한다(S04).
도 4A~4D는, 마크 길이가 4T인 마크(301)를 기록하는 경우에, 기록 펄스 열의 시단으로부터 두 번째의 펄스 에지의 위치를 에지 변화량 dTF2만큼 변화시키는 경우를 나타내는 개략도이다. 도 4A는 기록 동작의 시간 기준이 되는 기준 시간 신호(128)이고, 도 4B는 카운터(200)로부터 발생하는 카운트 신호(205)이다. 도 4C는 기록 펄스 열(125)이고, 그 시단으로부터 두 번째의 펄스 에지의 위치를 에지 변화량 dTF2만큼 변화시켰다. 도 4D는 도 4C의 기록 펄스 열에 의해서 기록된, 마크 길이가 4T인 마크(301)의 이미지를 나타내는 도면으로서, 그 시단 위치를 정밀하게 제어할 수 있는 것을 나타내고 있다. 이 에지 변화량 dTF2는, 이하의 표 1에 나타내는 바와 같이, 기록하는 마크의 마크 길이 및 그 전의 스페이스 길이에 의한 분류 결과에 따라서 규정되어 있다.
dTF2
마크 길이
2T 3T >=4T
전(前) 스페이스 길이

 2T a1 a2 a3
3T a4 a5 a6
4T a7 a8 a9
>=5T a10 a11 a12
이 에지 변화량 dTF2로서, 2T, 3T 및 4T 이상의 3종류의 마크 길이로 분류된, 기록 마크의 마크 길이와, 2T, 3T, 4T 및 5T 이상의 4종류의 스페이스 길이로 분류된 전(前) 스페이스 길이에 대하여, 합계 3×4=12종류의 값(a1~a12)이 규정되어 있다. 이 경우에, 에지 변화량 dTF2는, 3종류의 마크 길이 및 4종류의 전 스페이스 길이에 대하여 합계 12종류로 분류되어 있지만, 본 발명은 이것에 한정되는 것은 아니다. 예를 들면, 마크 길이를 마찬가지로 4종류로 하여 총 16종류의 에지 변화량을 규정해도 좋다. 또한, 마크 길이를 2종류, 5종류, 또는 그 이상의 마크 길이로 분류해도 좋고, 전 스페이스 길이를 2종류, 3종류, 5종류, 또는 그 이상의 전 스페이스 길이로 분류해도 좋다. 또한, 이 에지 변화량 dTF2를, 예를 들면, a1=5 nsec와 같이 절대 시간 값으로 규정해도 좋고, 또는 기준 시간 신호에 따라서 Tw/16의 정수배(整數倍)의 값으로 규정해도 좋다.
상기한 바와 같이, 기록 펄스 신호의 시단으로부터 두 번째의 펄스 에지의 위치를 에지 변화량 dTF2만큼 변화시킴으로써, 마크의 시단 위치를 더욱 정밀하게 제어할 수 있다. 또한, 기록 마크의 마크 길이뿐만 아니라 전 스페이스 길이에 따라서 펄스 에지를 제어하므로, 부호간 간섭을 고려하여, 마크(301)의 시단 위치를 더욱 정밀하게 제어할 수 있다.
도 5A~5D는, 마크 길이가 4T인 마크(301)를 기록하는 경우에, 기록 펄스 열의 종단으로부터 두 번째의 펄스 에지의 위치를 에지 변화량 dTE2만큼 변화시키는 경우를 나타내는 개략도이다. 도 5A 및 도 5B는 도 4A 및 도 4B와 동일하다.
도 5C는 기록 펄스 열(125)이고, 그 종단으로부터 두 번째의 펄스 에지의 위치를 에지 변화량 dTE2만큼 변화시켰다. 도 5D는 도 5C의 기록 펄스 열에 의해서 기록된, 마크 길이가 4T인 마크(301)의 이미지를 나타내는 도면으로서, 그 종단 위치를 정밀하게 제어할 수 있는 것을 나타내고 있다. 이 에지 변화량 dTE2는, 이하의 표 2에 나타내는 바와 같이, 기록하는 마크의 마크 길이 및 그 후의 스페이스 길이에 의한 분류 결과에 따라서 규정되어 있다.
dTE2
마크 길이
2T 3T >=4T
후(後) 스페이스 길이

 2T b1 b2 b3
3T b4 b5 b6
4T b7 b8 b9
>=5T b10 b11 b12
이 에지 변화량 dTE2로서, 2T, 3T 및 4T 이상의 3종류의 마크 길이로 분류된, 기록 마크의 마크 길이와, 2T, 3T, 4T 및 5T 이상의 4종류의 스페이스 길이로 분류된 후(後) 스페이스 길이에 대하여, 합계 3×4=12종류의 값(b1~b12)이 규정되어 있다. 이 경우에, 에지 변화량 dTE2는, 3종류의 마크 길이 및 4종류의 후 스페이스 길이에 대하여 합계 12종류로 분류되어 있지만, 본 발명은 이것에 한정되는 것은 아니다. 예를 들면, 마크 길이를 마찬가지로 4종류로 하여 총 16종류의 에지 변화량을 규정해도 좋다. 또한, 마크 길이를 2종류, 5종류, 또는 그 이상의 마크 길이로 분류해도 좋고, 후 스페이스 길이를 2종류, 3종류, 5종류, 또는 그 이상의 후 스페이스 길이로 분류해도 좋다. 또한, 이 에지 변화량 dTE2를, b4=6 nsec와 같이 절대 시간 값으로 규정해도 좋고, 또는 기준 시간 신호에 따라서 Tw/16의 정수배의 값으로 규정해도 좋다.
상기한 바와 같이, 기록 펄스 신호의 종단으로부터 두 번째의 펄스 에지의 위치를 에지 변화량 dTE2만큼 변화시킴으로써, 마크의 종단 위치를 더욱 정밀하게 제어할 수 있다. 또한, 기록 마크의 마크 길이뿐만 아니라 후 스페이스 길이에 따라서 펄스 에지를 제어하므로, 부호간 간섭을 고려하여, 마크(301)의 종단 위치를 더욱 정밀하게 제어할 수 있다.
2T 마크의 기록 펄스에서는, 도 3A 내지 3F와 같이 dTF2 및 dTE2가 동일한 펄스 에지 위치에 겹쳐져 있다. 상기와 같이 동일한 펄스 에지 위치에 2개의 펄스 에지 변화량이 부여되어 있는 경우의 에지 변화량의 설정 방법에 대하여 설명한다. 예를 들면, 도 2E에서, 2T 마크의 전 스페이스 길이가 3T이고 후 스페이스 길이가 4T인 "3-2-4"의 배열의 경우에, 표 1의 "a4"와 표 2의 "b7"이 선택된다. 이 경우에, "a4+b7"을 2T 마크의 dTF2 및 dTE2로서 규정한다. 상기와 같이 조합함으로써, 1개의 펄스 에지에 2개의 에지 변화량이 부가되어 있는 경우, 전 스페이스와 후 스페이스의 조합에 따라서 펄스 에지 위치를 변화시킬 수 있다.
도 6A~6D는, 기록 펄스 열의 시단으로부터 두 번째의 펄스 에지의 위치를 에지 변화량 dTF2만큼 변화시키는 경우(도 4C) 및 기록 펄스 열의 종단으로부터 두 번째의 펄스 에지의 위치를 에지 변화량 dTE2만큼 변화시키는 경우(도 5C)에 추가하여, 다른 펄스 에지의 위치를 변화시키는 경우를 나타내는 개략도이다. 도 6A 및 도 6B는, 도 4A 및 도 4B와 동일하다. 도 6C는 기록 펄스 열(125)이고, 시단으로부터 두 번째의 펄스 에지의 위치를 에지 변화량 dTF2만큼 변화시키는 경우, 종단으로부터 두 번째의 펄스 에지의 위치를 에지 변화량 dTE2만큼 변화시키는 경우, 시단의 펄스 에지의 위치를 에지 변화량 dTF1만큼 변화시키는 경우, 종단의 펄스 에지의 위치를 에지 변화량 dTE1만큼 변화시키는 경우, 시단으로부터 세 번째의 펄스 에지의 위치를 에지 변화량 dTF3만큼 변화시키는 경우 및 종단으로부터 세 번째의 펄스 에지의 위치를 에지 변화량 dTF3만큼 변화시키는 경우를 종합적으로 나타내고 있다.
도 6D는 도 6C의 기록 펄스 열에 의해서 기록된, 마크 길이가 4T인 마크(301)의 이미지를 나타내는 도면으로서, 그 시단 위치와 종단 위치를 정밀하게 제어할 수 있는 것을 나타내고 있다. 상기 에지 변화량 dTF1은, 이하의 표 3에 나타내는 바와 같이, 기록하는 마크의 마크 길이 및 그 전의 스페이스 길이의 분류 결과에 따라서 규정되어 있다. 상기 에지 변화량 dTE1은, 이하의 표 4에 나타내는 바와 같이, 기록하는 마크의 마크 길이 및 그 후의 스페이스 길이의 분류 결과에 따라서 규정되어 있다. 상기 에지 변화량 dTF3은, 이하의 표 5에 나타내는 바와 같이, 기록하는 마크의 마크 길이 및 그 전의 스페이스 길이의 분류 결과에 따라서 규정되어 있다. 상기 에지 변화량 dTE3은, 이하의 표 6에 나타내는 바와 같이, 기록하는 마크의 마크 길이 및 그 후의 스페이스 길이의 분류 결과에 따라서 규정되어 있다.
dTF1
마크 길이
2T 3T >=4T
전(前) 스페이스 길이

 2T c1 c2 c3
3T c4 c5 c6
4T c7 c8 c9
>=5T c10 c11 c12
이 에지 변화량 dTF1로서, 2T, 3T 및 4T 이상의 3종류의 마크 길이로 분류된, 기록 마크의 마크 길이와, 2T, 3T, 4T 및 5T 이상의 4종류의 스페이스 길이로 분류된 전(前) 스페이스 길이에 대하여, 합계 3×4=12종류의 값(c1~c12)이 규정되어 있다. 이 경우에, 에지 변화량 dTF1은, 3종류의 마크 길이 및 4종류의 전 스페이스 길이에 대하여 합계 12종류로 분류되어 있지만, 본 발명은 이것에 한정되는 것은 아니다. 예를 들면, 마크 길이를 마찬가지로 4종류로 하여 총 16종류의 에지 변화량을 규정해도 좋다. 또한, 마크 길이를 2종류, 5종류, 또는 그 이상의 마크 길이로 분류해도 좋고, 전 스페이스 길이를 1종류, 2종류, 3종류, 5종류, 또는 그 이상의 전 스페이스 길이로 분류해도 좋다. 또한, 이 에지 변화량 dTF1을, c6=5 nsec와 같이 절대 시간 값으로 규정해도 좋고, 또는 기준 시간 신호에 따라서 Tw/16의 정수배의 값으로 규정해도 좋다.
상기한 바와 같이, 기록 펄스 신호의 종단으로부터 두 번째의 펄스 에지의 위치를 에지 변화량 dTF2 및/또는 dTE2만큼 변화시키고, 또한 시단의 펄스 에지의 위치를 에지 변화량 dTF1만큼 변화시킴으로서, 마크(301)의 시단 위치를 어느 정도 큰 단위로 제어하면서 더욱 정밀하게 제어할 수 있다.
dTE1
마크 길이
2T 3T >=4T
후(後) 스페이스 길이

 2T d1 d2 d3
3T d4 d5 d6
4T d7 d8 d9
>=5T d10 d11 d12
이 에지 변화량 dTE1로서, 2T, 3T 및 4T 이상의 3종류의 마크 길이로 분류된, 기록 마크의 마크 길이와, 2T, 3T, 4T 및 5T 이상의 4종류의 스페이스 길이로 분류된 후(後) 스페이스 길이에 대하여, 합계 3×4=12종류의 값(d1~d12)이 규정되어 있다. 이 경우에, 에지 변화량 dTE1은, 3종류의 마크 길이 및 4종류의 후 스페이스 길이에 대하여 합계 12종류로 분류되어 있지만, 본 발명은 이것에 한정되는 것은 아니다. 예를 들면, 마크 길이를 마찬가지로 4종류로 하여 총 16종류의 에지 변화량을 규정해도 좋다. 또한, 마크 길이를 2종류, 5종류, 또는 그 이상의 마크 길이로 분류해도 좋고, 후 스페이스 길이를 1종류, 2종류, 3종류, 5종류, 또는 그 이상의 후 스페이스 길이로 분류해도 좋다. 또한, 이 에지 변화량 dTE1을, d5=6 nsec와 같이 절대 시간 값으로 규정해도 좋고, 또는 기준 시간 신호에 따라서 Tw/16의 정수배의 값으로 규정해도 좋다.
상기한 바와 같이, 기록 펄스 신호의 종단으로부터 두 번째의 펄스 에지의 위치를 에지 변화량 dTF2 및/또는 dTE2만큼 변화시키고, 또한 종단의 펄스 에지의 위치를 에지 변화량 dTE1만큼 변화시킴으로서, 마크(301)의 종단 위치를 어느 정도 큰 단위로 제어하면서 더욱 정밀하게 제어할 수 있다.
dTF3
마크 길이
3T >=4T
전(前) 스페이스 길이

 2T e1 e2
3T e3 e4
4T e5 e6
>=5T e7 e8
이 에지 변화량 dTF3으로서, 3T 및 4T 이상의 2종류의 마크 길이로 분류된, 기록 마크의 마크 길이와, 2T, 3T, 4T 및 5T 이상의 4종류의 스페이스 길이로 분류된 전(前) 스페이스 길이에 대하여, 합계 2×4=8종류의 값(e1~e8)이 규정되어 있다. 이 경우에, 에지 변화량 dTF3은, 2종류의 마크 길이 및 4종류의 전 스페이스 길이에 대하여 합계 8종류로 분류되어 있지만, 본 발명은 이것에 한정되는 것은 아니다. 예를 들면, 마크 길이를 마찬가지로 3T, 4T 및 5T의 3종류로 하여 총 12종류의 에지 변화량을 규정해도 좋다. 또한, 마크 길이를 4종류, 5종류, 또는 그 이상의 마크 길이로 분류해도 좋고, 전 스페이스 길이를 1종류, 2종류, 3종류, 5종류, 또는 그 이상의 전 스페이스 길이로 분류해도 좋다. 또한, 일정한 에지 변화량으로 해도 좋다. 또한, 이 에지 변화량 dTF3을, e8=6 nsec와 같이 절대 시간 값으로 규정해도 좋고, 또는 기준 시간 신호에 따라서 Tw/16의 정수배의 값으로 규정해도 좋다.
dTE3
마크 길이
3T >=4T
후(後) 스페이스 길이

 2T f1 f2
3T f3 f4
4T f5 f6
>=5T f7 f8
이 에지 변화량 dTE3으로서, 3T 및 4T 이상의 2종류의 마크 길이로 분류된, 기록 마크의 마크 길이와, 2T, 3T, 4T 및 5T 이상의 4종류의 스페이스 길이로 분류된 후(後) 스페이스 길이에 대하여, 합계 2×4=8종류의 값(f1~f8)이 규정되어 있다. 이 경우에, 에지 변화량 dTE3은, 2종류의 마크 길이 및 4종류의 후 스페이스 길이에 대하여 합계 8종류로 분류되어 있지만, 본 발명은 이것에 한정되는 것은 아니다. 예를 들면, 마크 길이를 마찬가지로 3T, 4T 및 5T의 3종류로 하여 총 12종류의 에지 변화량을 규정해도 좋다. 또한, 마크 길이를 4종류, 5종류, 또는 그 이상의 마크 길이로 분류해도 좋고, 후 스페이스 길이를 1종류, 2종류, 3종류, 5종류, 또는 그 이상의 후 스페이스 길이로 분류해도 좋다. 또한, 일정한 에지 변화량으로 해도 좋다. 또한, 이 에지 변화량 dTE3을, f6=5 nsec와 같이 절대 시간 값으로 규정해도 좋고, 또는 기준 시간 신호에 따라서 Tw/16의 정수배의 값으로 규정해도 좋다.
또한, 상기 에지 변화량을, 표 7~표 10과 같이, 간단히 2T 및 3T 이상의 2종류의 전후의 스페이스 길이에 대하여 규정해도 좋다. 광 디스크에 집속된 광을 조사하여 고밀도 기록을 실행하는 경우에는, 최소의 기록 마크 및 스페이스는 광 스폿만큼 작아지므로, 광학적인 MTF의 영향에 의해서 최단 마크와 최단 스페이스의 신호가 부호간 간섭을 일으켜서, 정확한 에지 위치에 기록하거나 또는 정확한 에지 위치로부터 재생할 수 없게 된다. 따라서, 스페이스 길이를 최소치인 2T 및 그 이외의 스페이스 길이로 분류하는 것만으로 부호간 간섭을 고려한 충분한 기록 특성을 얻을 수 있는 경우에는, 에지 변화량을 상기와 같이 간단히 분류함으로써, 기록 보상 테이블을 간편화하여, 장치를 간략화할 수 있는 이점이 있다.
dTF2
마크 길이
2T 3T 4T >=5T
전(前) 스페이스 길이 2T g1 g2 g3 g4
>=3T g5 g6 g7 g8
dTE2
마크 길이
2T 3T 4T >=5T
후(後) 스페이스 길이 2T h1 h2 h3 h4
>=3T h5 h6 h7 h8
dTF1
마크 길이
2T 3T 4T >=5T
전(前) 스페이스 길이 2T i1 i2 i3 i4
>=3T i5 i6 i7 i8
dTE1
마크 길이
2T 3T 4T >=5T
후(後) 스페이스 길이 2T j1 j2 j3 j4
>=3T j5 j6 j7 j8
또한, 표 11~표 14와 같이, 마크 길이가 2T인 경우 및 스페이스 길이가 2T인 경우의 에지 변화량이, 마크 길이가 3T 이상인 경우 및 스페이스 길이가 3T 이상인 경우의 에지 변화량과 상이하도록 에지 변화량을 간략하게 규정할 수도 있다. 이것은 3Ts 이상(3T 이상의 스페이스)과 3Tm 이상(3T 이상의 마크)의 경우의 부호간 간섭이 특히 적은 경우에 유리하다.
dTF2
마크 길이
2T 3T >=4T
전(前) 스페이스 길이

 2T k1 k2 k3
3T k4 k5 k6
4T k7
>=5T k8
dTE2
마크 길이
2T 3T >=4T
후(後) 스페이스 길이

 2T l1 l2 l3
3T l4 l5 l6
4T l7
>=5T l8
dTF1
마크 길이
2T 3T >=4T
전(前) 스페이스 길이

 2T m1 m2 m3
3T m4 m5 m6
4T m7
>=5T m8
dTE1
마크 길이
2T 3T >=4T
후(後) 스페이스 길이

 2T n1 n2 n3
3T n4 n5 n6
4T n7
>=5T n8
또한, 상기 각각의 에지 변화량을 나타내는 기록 보상 테이블에 대하여 설명한다.
기록 보상기(118)에 저장된 기록 보상 테이블은, 광 디스크(117)의 리드 인(lead-in) 영역이라고 하는 영역에 디스크의 제조시 또는 그 이후에 미리 기록되어 있는 정보를 판독하여 취득한 기록 보상 테이블, 또는 광 디스크(117)상의 시험 기록 영역에 소정의 기록 펄스 신호를 이용하여 실제로 시험 기록을 실행하여, 그 시험 기록된 마크 및 스페이스를 재생하고, 에지 변화량을 측정하여, 가장 바람직한 신호 품질을 제공할 수 있는 조건을 결정함으로써 습득한 결과에 의해서 작성된 기록 보상 테이블이면 어느 것이라도 좋다.
제1방법에서는, 광 디스크(117)의 소정 영역에 기록된 기록 보상 테이블을 재생 데이터로서 취득하여, 기록 보상기(118)에 저장한다.
이어서, 제2방법에 따라서, 광 디스크(117)에 소정의 기록 부호 열의 시험 기록을 실행하여, 기록 보상 테이블을 작성하는 방법에 대하여, 도 8의 흐름도를 이용하여 설명한다.
(a) 마크를, 그 마크 길이와 그 전후의 스페이스 길이의 조합에 따라서 분류하고, 그 분류된 마크의 시험 기록을 실행한다(S11).
(b) 시험 기록한 마크 및 스페이스를 재생하여 재생 신호를 얻는다(S12).
(c) 재생 신호에 따라서, 마크의 마크 길이와 그 전후의 스페이스 길이의 조합에 대응하는 펄스 에지 변화량을 규정하는 테이블을 작성한다(S13). 재생 신호는 전치 증폭기(101)에 의해서 증폭되어서 재생 신호(120)가 되고, 이어서 파형 등화기(103) 및 2치화기(104)를 통과하여 2치화 재생 신호(121)가 된다. 생성된 2치화 재생 신호(121)는 또한 재생 변화 측정기(170)에 전송된다. 재생 변화 측정기(170)는, PLL에 의해서 동기화된 2치화 신호와, 동기화되기 전의 2치화 신호를 비교하여, 각각의 마크 및 스페이스의 변화량을 측정하고, 측정 결과를 기록 보상기(118)에 전송한다.
또한, 상기한 바와 같이 광 디스크(117)의 시험 기록 영역을 이용하여 시험 기록을 실행하는 경우에는, 측정된 에지 변화량에 따라서 기록 보상 테이블 데이터를 수시로 갱신한 후, 상기의 기록 동작을 다시 실행하고, 재생시의 PLL 클록과 2치화 재생 신호의 에지 변화를 감소시킬 수 있는 기록 보상 테이블을 탐색하기 위하여, 기록을 반복적으로 실행해도 좋다.
(제2실시형태)
도 9는 본 발명의 제2실시형태에 의한 광 기록 방법에서의, 기록하는 마크의 마크 길이와 기록 펄스 신호(125)와의 관계를 나타내는 타이밍도이다. 이 광 기록 방법은, 최대 출력 레벨(Pw)에서의 최종 펄스의 폭 Tlp를, 마크의 마크 길이 및 후 스페이스 길이의 조합에 의한 마크의 분류 결과에 따라서 제어하는 점이 제1실시형태에 의한 광 기록 방법과 상이하다.
상기 최종 펄스의 폭 Tlp는, 이하의 표 15에 나타내는 바와 같이, 3T 및 4T 이상의 2종류의 마크 길이로 분류된, 기록하는 마크의 마크 길이와, 2T, 3T, 4T 및 5T 이상의 4종류의 스페이스 길이로 분류된 전(前) 스페이스 길이에 대하여, 합계 2×4=8종류의 값(o1~o8)이 규정되어 있다.
Tlp
 마크 길이
3T >=4T
전(前) 스페이스 길이

 2T o1 o2
3T o3 o4
4T o5 o6
>=5T o7 o8
상기와 같이, dTE1을 각각의 후(後) 스페이스 길이에 대하여 분류하는 대신에, Tlp를 각각의 후 스페이스 길이에 대하여 분류함으로써, 특히 추기형 기록 매체의 경우에 마크의 종단 위치를 정밀하게 제어할 수 있다.
(제3실시형태)
도 10A~10J는 본 발명의 제3실시형태에 의한 광 기록 방법에서의, 기록하는 마크의 마크 길이와 기록 펄스 신호(125)의 관계를 나타내는 타이밍도이다. 이 광 기록 방법은, 기록 펄스 신호(125)가, 중간 펄스의 수가 마크 길이의 값에 비례하지 않는 파형을 갖는 점에서, 제1실시형태에 의한 광 기록 방법과 상이하다. 이 광 기록 방법에 의하면, 도 10C~10J에 나타내는 바와 같이, 2Tw, 3Tw 및 4Tw의 마크 길이를 갖는 마크의 기록 펄스 신호의 경우에는, 최대 출력 레벨의 펄스의 수가 1개이다. 또한, 5Tw 및 6Tw의 마크 길이를 갖는 마크의 기록 펄스 신호(125)의 경우에는, 최대 출력 레벨의 펄스의 수가 2개이다. 또한, 7Tw 및 8Tw의 마크 길이를 갖는 마크의 기록 펄스 신호(125)의 경우에는, 최대 출력 레벨의 펄스의 수가 3개이다. 또한, 9Tw의 마크 길이를 갖는 마크의 기록 펄스 신호(125)의 경우에는, 최대 출력 레벨의 펄스의 수가 4개이다.
또한, 단일 기록 매체에 상이한 기록 속도로 기록 가능한 경우에, 도 3A~3F의 기록 펄스 신호와 도 10의 기록 펄스 신호 모두를 기록 전송 속도에 따라서 서로 스위칭(switching)하여 이용할 수 있다. 예를 들면, 기록 전송 속도가 낮은 경우에는, 도 3A~3F의 기록 펄스 신호를 이용하여 기록하고, 기록 전송 속도가 높은 경우에는, 도 10A~10J의 기록 펄스 신호를 이용하여 기록해도 좋다.
도 10A~10J의 기록 펄스 신호에 있어서, 최대 출력 레벨의 펄스의 폭이 약 1Tw이고, 또한 최저 출력의 펄스의 폭이 약 1Tw이지만, 상기 기록 보상 후에 각각의 마크 길이의 펄스의 폭은 0.5Tw 이상인 것이 바람직하다. 이 경우에, 레이저의 응답 속도가 기록 펄스 신호에 거의 영향을 주지 않으므로, 기록 조건을 완화할 수 있다.
상기의 일련의 동작으로써, 본 실시형태의 광 디스크 기록 방법에 의하면, 마크의 시단 부분의 위치와 종단 부분의 위치에 대하여, 기록하는 마크의 마크 길이 및 그 전후의 스페이스 길이에 따라서, 기록 펄스의, 선두 펄스와 최종 펄스의 위치 및 폭을 수시로 변화시켜서, 재생시의 부호간 간섭을 감소시켜, 양호한 신호 품질을 얻을 수 있다.
(제4실시형태)
본 발명에 의한 광 기록/재생 장치를 이용한 재생 방법에 대하여 설명한다. 본 재생 방법은 도 12에 나타내는 주파수 특성을 갖는 파형 등화를 실행하는 것을 특징으로 한다.
본 재생 방법에서는, 광 디스크(117)에 기록된 마크를 레이저 광으로써 판독하고, 검출 렌즈(106), 광 검출기(100) 및 전치 증폭기(101)를 이용하여 재생 신호(120)를 생성한다. 이 재생 신호(120)는, 파형 등화기(103)에 의해서 그 주파수 특성이 보정된다. 또한, 상기 신호는 2치화기(104)에 의해서 2치화 재생 신호(121)로 변환된 후, 복호기(105)에 의해서 역변환 처리되어 재생 데이터(122)가 생성된다.
주파수에 따라서 광 출력이 감쇠하는 것을 관측할 수 있다. 즉, 2Tw 신호, 3Tw 신호, 4Tw 신호 및 8Tw 신호 등 중에서, 2Tw 신호 등 주파수가 높은 신호일수록 작은 마크이기 때문에 재생되는 진폭이 작아진다. 따라서, 이러한 출력 감쇠를 보정하기 위하여, 본 재생 방법에서는, 주파수가 더 높은 신호일수록 출력 진폭을 더 크게 하도록 이퀄라이저의 특성을 설정한다.
도 12는 파형 등화기(103)(이퀄라이저)의 주파수 특성을 개략적으로 나타내는 도면으로서, 입력 신호에 대한 출력 신호의 진폭비를 나타낸다. 이 도면에서, 가로축은 신호 주파수를 나타내고, 2Tw 신호, 3Tw 신호, 4Tw 신호 및 8Tw 신호의 주파수를 개략적으로 나타낸다. 세로축은, 파형 등화기(103)의 출력 진폭을 대수(對數)로 나타낸 것이다. 파형 등화기(103)는, 고역 통과 필터(High Pass Filter), 2Tw에 대응하는 주파수보다 약간 높은 주파수에서 최대인 대역 통과 필터(Band Pass Filter), 또는 이것들과 증폭기의 조합일 수도 있다.
따라서, 마크와 스페이스는, 최소 마크 길이가 짧으면 짧을수록, 2Tw 신호 등의 주파수가 높은 신호의 출력 진폭과, 8Tw 신호 등의 주파수가 낮은 신호의 출력 진폭의 차, 즉, 특성 곡선의 경사가 더 커진다. 이로 인하여, 예를 들면, 4Tw 신호의 주파수의 출력 진폭과, 8Tw 신호의 주파수의 출력 진폭의 차가 증대한다.
따라서, 재생 주파수 특성의 최대 편이(偏移)(peak shift)를 방지하고, 노이즈 주파수 분포를 변화시켜서 재생 신호의 SNR(신호 대 잡음비)을 양호하게 하여, 재생 신호의 오류율을 개선할 수 있는 특성을 구비하는 것이 바람직하다.
도 11A~11D는 마크 형상의 차이에 의한 재생 신호 특성의 차이를 나타내는 개략도이다. 도 11A와 11C는 좌측으로부터 우측 방향으로 광을 주사하여 기록 마크를 형성한 후의 마크 형상의 개략도이다. 도 11B와 11D는 각각의 마크 형상이 형성된 후, 기록된 마크를 소거하지 않는 강도의 광으로써 상기 마크를 판독함으로써 생성된 재생 신호를 나타낸다.
도 11A는 상변화를 이용한 재기록형 매체의 대표적인 마크 형상을 나타내는 개략도이다. 가장 작은 2Tw 마크(1001)가 은행(銀杏)형의 마크로서 형성되어 있다. 이 마크는, 냉각 펄스에 의해서 마크 종단부가 뒤로부터 재결정화됨으로써 은행형 마크로 형성된다. 도 11B는 도 11A의 마크를 재생했을 때의 재생 신호를 나타낸다. 도면에서와 같이 2Tw 마크와 2Tw 스페이스가 서로 인접한 경우, 재생 신호 진폭이 최소로 된다. 이 경우, I2가 최소 진폭이다.
한편, 도 11C는 상변화를 이용한 추기형 디스크에 형성된 마크 형상의 일례를 나타내는 개략도이다. 추기형 디스크에서는, 냉각 펄스에 의한 재결정화를 거치지 않고 마크가 형성된다. 따라서, 2Tw 마크(1003)가, 다른 긴 마크에 비하여 폭 방향으로 더 좁은 원형으로 형성된다. 2Tw 마크가 다른 마크의 크기에 비하여, 폭 방향으로 더 작은 크기로 형성되는 경우, 도 11D의 재생 신호의 최소 진폭 I2는, MTF의 영향을 받아서 도 11B의 최소 진폭보다도 더 작아지므로, 2Tw 마크의 부호간 간섭이 증대하여, 재생 최대 편이가 발생한다.
도 12에 나타내는 파형 등화기의 재생 주파수 특성에 있어서 최대 부스트 값(Bp)을 크게 하면, 재생 신호의 진폭이 증대하는 동시에 노이즈가 증가한다. 특히, 부스트가 과대하게 되면, 신호 주파수 대역보다도 높은 주파수 대역의 노이즈가 증가하여, 재생 신호의 S/N이 열화(劣化)되는 불리한 문제가 발생한다. 또한, 과대한 부스트 상태에서는, 신호 성분 중 저역 주파수 성분(4Tw~8Tw)이 부호간 간섭을 증대시키므로, 재생 특성을 나쁘게 한다. 이와 같이, 2Tw 마크 등의 기록 마크가 다른 마크에 비하여 특히 더 작게 형성되는 경우, 마크 길이만에 의한 기록 보상으로써 2T 마크의 부호간 간섭을 보상할 수 있지만, 스페이스에 의한 부호간 간섭이 남아있어서 재생 신호의 특성을 나쁘게 한다. 따라서, 상기 실시형태에서 설명한 바와 같이, 마크 기록시에, 특히 2Tw 스페이스를 고려하여, 기록 펄스 신호의 단부로부터 두 번째의 펄스 에지를 마크 길이와 그 전후의 스페이스 길이에 따른 에지 변화량 dTF2 및/또는 dTE2만큼 변화시키고, 또한 기록 펄스 신호의 시단 에지 및 종단 에지를 보상함으로써, 특히 2Tw 스페이스에 의해서 발생된 부호간 간섭을 감소시켜서, 부스트 값이 낮은 경우에도 재생 신호의 특성을 향상시킬 수 있다.
또한, 도 11C와 같은 마크를 기록할 수 있는 추기형 기록 매체 등의 광 기록 매체에 데이터를 기록하는 경우에, 기록 보상을 위한 목표 부스트 값은 기록 보상의 보상 정밀도에 좌우된다. 예를 들면, 약 Tw/16의 보상 정밀도로 기록 보상을 실행하는 경우에는, 기록시에 부스트 값을 약 1 dB 내지 2 dB 증가시키는 것이 바람직하다. 또한, 시험 기록시, 처음에는 스페이스 보상을 하지 않는 상태에서 기록을 실행하고, 지터 및 오류율 등의 재생 신호 특성이 기준치를 만족시키지 않는 경우에만, 스페이스 보상을 포함한 기록 동작을 실행해도 좋다.
또한, 기록 신호로부터 최소 마크 길이의 신호를 제거한 부호 열을 이용하여 제1시험 기록을 실행한 후, 마크 길이가 3T 이상인 부호 길이의 기록 보상 테이블을 작성하고, 이어서, 2Tw 신호를 포함하는 부호 열로 제2시험 기록을 실행한 후, 2Tw 신호를 포함하는 신호의 기록 보상 테이블을 작성해도 좋다. 도 11D와 같이 재생 신호 진폭이 극히 작은 경우, 2Tw 신호의 기록 마크 위치가 정확하지 않으면, 길이가 3Tw 이상인 더 긴 마크와 스페이스를 올바르게 위치시키는 것이 곤란할 수도 있다. 상기한 바와 같이 부호간 간섭을 크게 일으키는 신호를 재생하는 경우, 우선 3Tw 이상의 부호 길이의 마크를 기록하고, 이어서 3Tw 이상의 마크와 스페이스의 에지 위치의 정확한 기록 보상을 실행한 후, 2Tw 신호를 포함하는 신호를 기록하고, 2Tw의 마크와 스페이스의 기록 위치를 정확하게 보상하여, 더욱 정확하고 효율적으로 기록함으로써, 재생 신호 품질을 향상시킬 수 있다.
또한, 상기한 바와 같이 3Tw 이상의 부호 길이의 신호를 기록하는 경우, 기록 보상시에 재생 이퀄라이저의 부스트 값을, 2Tw 신호를 포함하는 통상의 기록 부호 열을 기록할 때의 부스트 값에 비하여 1 dB 내지 2 dB 감소시킬 수도 있다. 이 경우에, 2Tw 신호를 포함하지 않으므로, 재생 신호의 진폭은 비교적 크고 부호간 간섭의 발생은 심하지 않다. 따라서, 통상의 부스트 값보다 약간 작은 부스트 값으로써, 긴 마크의 에지 위치를 제어함으로써, 에지 변화가 적은 신호를 기록할 수 있다.
또한, 본 발명의 각 실시형태에서는, 기록 출력을 3개의 레이저 출력 레벨로 변조하는 경우를 예로 하여 설명했지만, 냉각 펄스의 출력 레벨이 중간 펄스 사이의 최저 출력 레벨과 상이한 4개의 출력 레벨에 의한 변조를 실행하여 동일한 효과를 얻을 수 있는 것은 말할 필요도 없다.
또한, 본 발명을, 여러 가지 실시형태로 나타낸 이하의 구성으로 실시할 수도 있다. 제1구성에 의하면, 본 발명의 광 기록/재생 방법은, 광 디스크 매체에 레이저 광을 복수의 출력으로 스위칭해서 조사(照射)하여, 정보를 복수의 길이의 마크 및 스페이스의 에지 위치에 관한 정보로서 기록하는 광 기록 방법으로서, 기록 마크의 형성시에, 레이저 출력을, 제1출력이 제2출력보다 크고 제2출력이 제3출력보다 큰, 3치 이상의 펄스 형상으로 변조하고, 기록 부호 열 중의 마크를, 마크 길이(부호 길이) 및 그 전후의 스페이스 길이를 참조하여 소정의 규칙에 따라서 분류하고, 기록시에 변조 펄스의 제1출력을 갖는 구간의 선두 펄스의 폭 또는 개시 위치와, 변조 펄스의 제1출력을 갖는 구간의 최종 펄스의 폭 또는 종료 위치를, 상기 부호 길이의 분류에 따라서, 수시로 변화시켜서, 기록시의 기록 마크의, 시단 부분의 위치 및 종단 부분의 위치를 변화시키는 것을 특징으로 한다.
제2구성에 의하면, 본 발명의 광 기록/재생 방법에 있어서, 상기 기록 마크의 종단 부분의 위치에 대하여, 상기 펄스 형상으로 변조된 후의 상기 제1출력을 갖는 구간의 최종 펄스의 폭 또는 종료 위치를, 기록하는 마크의 마크 길이 및 그 후의 스페이스 길이에 따라서 수시로 변화시켜 기록하는 것을 특징으로 한다.
제3구성에 의하면, 본 발명의 광 기록/재생 방법에 있어서, 상기 기록 마크의 시단 부분의 위치에 대하여, 상기 펄스 형상으로 변조된 후의 상기 제1출력을 갖는 제1펄스의 폭 또는 개시 위치를, 기록하는 마크의 마크 길이 및 그 전의 스페이스 길이에 따라서 수시로 변화시켜 기록하는 것을 특징으로 한다.
제4구성에 의하면, 본 발명의 광 기록/재생 방법에 있어서, 기록 부호 열 중의 마크 길이를 n, n+1 및 n+2 이상의 적어도 3종류의 부호 길이(n: 양(+)의 정수(整數))로 분류하고, 또한 상기 기록 부호 열 중의 상기 마크 길이의 전후의 스페이스 길이를 n 및 n+1 이상의 적어도 2종류의 부호 길이로 분류하는 것을 특징으로 한다.
제5구성에 의하면, 본 발명의 광 기록/재생 방법에 있어서, 기록 부호 열 중의 마크 길이를 n, n+1 및 n+2 이상의 적어도 3종류의 부호 길이로 분류하고, 또한 상기 기록 부호 열 중의 상기 마크 길이의 전후의 스페이스 길이를 n, n+1, n+2 및 n+3 이상의 적어도 4종류의 부호 길이로 분류하는 것을 특징으로 한다.
제6구성에 의하면, 본 발명의 광 기록/재생 방법에 있어서, 기록 부호 열 중의 마크 길이를 n, n+1 및 n+2 이상의 적어도 3종류의 부호 길이로 분류하고, 상기 기록 부호 열 중의 마크 길이가 n인 경우, 상기 기록 부호 열 중의 상기 마크 길이(n)의 전후의 스페이스 길이를 n, n+1, n+2 및 n+3 이상의 적어도 4종류의 부호 길이로 분류하고, 상기 기록 부호 열 중의 마크 길이가 n+1 및 n+2 이상인 경우, 상기 기록 부호 열 중의 상기 마크 길이(n+1 및 n+2 이상)의 전후의 스페이스 길이를 n 및 n+1 이상의 적어도 2종류의 부호 길이로 분류하는 것을 특징으로 한다.
제7구성에 의하면, 본 발명의 광 기록/재생 방법에 있어서, 기록 부호 열 중의 마크 길이를 n, n+1 및 n+2 이상의 적어도 3종류의 부호 길이로 분류하여 제1시험 기록을 실행하고, 또한 상기 기록 부호 열 중의 상기 마크 길이의 전후의 스페이스 길이를 n, n+1, n+2 및 n+3 이상의 적어도 4종류의 부호 길이로 분류하여 제2시험 기록을 실행하는 것을 특징으로 한다.
제8구성에 의하면, 본 발명의 광 기록/재생 방법에 있어서, 상기 제1시험 기록시에, 부호 길이가 n+1 이상인 부호 열을 포함하는 기록 부호 열을 기록하고, 또한 상기 제2시험 기록시에, 부호 길이가 n 이상인 부호 열을 포함하는 기록 부호 열을 기록하는 것을 특징으로 한다.
제9구성에 의하면, 본 발명의 광 기록/재생 방법에 있어서, 상기 제2시험 기록 후의 재생시의 재생 이퀄라이저의 부스트 값은 상기 제1시험 기록 후의 재생시의 재생 이퀄라이저의 부스트 값과 상이한 것을 특징으로 한다.
제10구성에 의하면, 본 발명의 광 기록/재생 방법에 있어서, 상기 제2시험 기록 후의 재생시의 재생 이퀄라이저의 부스트 값을 상기 제1시험 기록 후의 재생시의 재생 이퀄라이저의 부스트 값에 비하여 약 1 dB 증가시키는 것을 특징으로 한다.
제11구성에 의하면, 본 발명의 광 기록/재생 장치는, 광 디스크 매체에 레이저 광을 복수의 출력으로 스위칭해서 조사하여, 미기록부(未記錄部)와는 물리적 특성이 상이한 마크를 형성하여 정보를 기록하는 광 기록 장치에 있어서, 상기 광 기록 장치는, 레이저 광의 출력을 변조하는 레이저 구동 수단과, 정보를 기록 부호 열로 변환하는 부호화 수단과, 상기 기록 부호 열 중의 마크를, 마크 길이(부호 길이) 및 그 전후의 스페이스 길이를 참조하여 소정의 규칙에 따라서 분류하는 분류 수단을 갖고, 변조 펄스의 제1출력을 갖는 구간의 선두 펄스의 폭 또는 개시 위치와, 변조 펄스의 제1출력을 갖는 구간의 최종 펄스의 폭 또는 종료 위치를 변화시키는 기록 파형 발생 수단을 구비하고, 기록시에 상기 분류 수단에 의한 분류에 따라서, 기록 마크의, 시단 부분의 위치 및 종단 부분의 위치를 변화시키는 것을 특징으로 한다.
제12구성에 의하면, 본 발명의 광 기록/재생 장치는, 상기 기록 마크의 종단 부분의 위치에 대하여, 상기 펄스 형상으로 변조된 후의 상기 제1출력을 갖는 구간의 최종 펄스의 폭 또는 종료 위치를, 기록하는 마크의 마크 길이 및 그 후의 스페이스 길이에 따라서 수시로 변화시켜서 레이저를 구동시키는 구동 수단을 포함하는 것을 특징으로 한다.
제13구성에 의하면, 본 발명의 광 기록/재생 장치는, 상기 기록 마크의 시단 부분의 위치에 대하여, 상기 펄스 형상으로 변조된 후의 상기 제1출력을 갖는 제1펄스의 폭 또는 개시 위치를, 기록하는 마크의 마크 길이 및 그 전의 스페이스 길이에 따라서 수시로 변화시켜서 레이저를 구동시키는 구동 수단을 포함하는 것을 특징으로 한다.
제14구성에 의하면, 본 발명의 광 기록/재생 장치에 있어서, 상기 분류 수단은, 기록 부호 열 중의 마크 길이를 n, n+1 및 n+2 이상의 적어도 3종류의 부호 길이(n: 양의 정수(整數))로 분류하고, 또한 상기 기록 부호 열 중의 상기 마크 길이의 전후의 스페이스 길이를 n 및 n+1 이상의 적어도 2종류의 부호 길이로 분류하는 것을 특징으로 한다.
제15구성에 의하면, 본 발명의 광 기록/재생 장치에 있어서, 상기 분류 수단은, 기록 부호 열 중의 마크 길이를 n, n+1 및 n+2 이상의 적어도 3종류의 부호 길이로 분류하고, 또한 상기 기록 부호 열 중의 상기 마크 길이의 전후의 스페이스 길이를 n, n+1, n+2 및 n+3 이상의 적어도 4종류의 부호 길이로 분류한다.
제16구성에 의하면, 본 발명의 광 기록/재생 장치에 있어서, 상기 분류 수단은, 기록 부호 열 중의 마크 길이를 n, n+1 및 n+2 이상의 적어도 3종류의 부호 길이로 분류하고, 상기 기록 부호 열 중의 마크 길이가 n인 경우, 상기 기록 부호 열 중의 상기 마크 길이(n)의 전후의 스페이스 길이를 n, n+1, n+2 및 n+3 이상의 적어도 4종류의 부호 길이로 분류하고, 상기 기록 부호 열 중의 마크 길이가 n+1 및 n+2 이상인 경우, 상기 기록 부호 열 중의 상기 마크 길이(n+1 및 n+2 이상)의 전후의 스페이스 길이를 n 및 n+1 이상의 적어도 2종류의 부호 길이로 분류하는 것을 특징으로 한다.
제17구성에 의하면, 본 발명의 광 기록/재생 장치에 있어서, 기록 부호 열 중의 마크 길이를 n, n+1 및 n+2 이상의 적어도 3종류의 부호 길이로 분류하여 제1시험 기록을 실행하고, 또한 상기 기록 부호 열 중의 상기 마크 길이의 전후의 스페이스 길이를 n, n+1, n+2 및 n+3 이상의 적어도 4종류의 부호 길이로 분류하여 제2시험 기록을 실행하는 것을 특징으로 한다.
제18구성에 의하면, 본 발명의 광 기록/재생 장치에 있어서, 상기 제1시험 기록시에, 부호 길이가 n+1 이상인 부호 열을 포함하는 기록 부호 열을 기록하고, 또한 상기 제2시험 기록시에, 부호 길이가 n 이상인 부호 열을 포함하는 기록 부호 열을 기록하는 것을 특징으로 한다.
제19구성에 의하면, 본 발명의 광 기록/재생 장치에 있어서, 상기 제2시험 기록 후의 재생시의 재생 이퀄라이저의 부스트 값은 상기 제1시험 기록 후의 재생시의 재생 이퀄라이저의 부스트 값과 상이한 것을 특징으로 한다.
제20구성에 의하면, 본 발명의 광 기록/재생 장치에 있어서, 상기 제2시험 기록 후의 재생시의 재생 이퀄라이저의 부스트 값을 상기 제1시험 기록 후의 재생시의 재생 이퀄라이저의 부스트 값에 비하여 약 1 dB 증가시키는 것을 특징으로 한다.
본 발명에 의한 광 디스크 매체에의 광 기록 방법 및 광 기록 장치는, 디지털 가전기기 및 정보 처리 장치를 포함한 전기기기 산업 등에 이용할 수 있다.
110: 레이저 111: 레이저 구동 회로
112: 기록 파형 발생 회로 113: 부호기
117: 광 디스크 119: 기준 시간 발생기
122: 재생 데이터 126: 기록 부호 열
127: 기록 데이터 128: 기준 시간 신호
200: 카운터 201: 분류기
202: 기록 파형 테이블 204: 분류 신호

Claims (3)

  1. 광 디스크 매체에, 레이저 광을 복수의 출력 레벨로 변조해서 형성한 기록 펄스 열을 조사해서 마크를 형성하고, 상기 마크 및 마크간의 스페이스의 에지 위치에 관한 정보로서 정보를 광 디스크 매체에 기록하는 광 기록 방법에 있어서,
    기록 데이터를 부호화하여 마크 및 스페이스의 조합으로 이루어지는 부호화 데이터를 작성하는 단계와,
    상기 마크의 길이가 최단인 경우에, 해당 마크를 형성하기 위한 기록 펄스 열의 시단(始端)으로부터 두 번째의 펄스 에지의 위치를, 최단의 상기 마크 길이와 전(前) 및 후(後)의 스페이스 길이의 조합에 의한 분류 결과에 따라 변화시킴으로써 상기 기록 펄스 열을 제어하는 단계와,
    상기 기록 펄스 열을 조사함으로써 상기 마크를 광 디스크 매체에 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 광 기록 방법.
  2. 광 디스크 매체에, 레이저 광을 복수의 출력 레벨로 변조해서 형성한 기록 펄스 열을 조사해서 마크를 형성하고, 상기 마크 및 마크간의 스페이스의 에지 위치에 관한 정보로서 정보가 기록되는 광 디스크 매체에 있어서,
    상기 광 디스크 매체에는
    기록 데이터를 부호화하여 마크 및 스페이스의 조합으로 이루어지는 부호화 데이터를 작성하는 단계와,
    상기 마크의 길이가 최단인 경우에, 해당 마크를 형성하기 위한 기록 펄스 열의 시단으로부터 두 번째의 펄스 에지의 위치를, 최단의 상기 마크 길이와 전(前) 및 후(後)의 스페이스 길이의 조합에 의한 분류 결과에 따라 변화시킴으로써 상기 기록 펄스 열을 제어하는 단계와,
    상기 기록 펄스 열을 조사함으로써 상기 마크를 광 디스크 매체에 형성하는 단계를 포함하는 방법에 의해,
    정보가 기록되는 광 디스크 매체.
  3. 제2항에 기재된 광 디스크 매체를 재생하는 방법에 있어서,
    상기 광 디스크 매체에 레이저 광을 조사하는 단계와,
    상기 마크 및 마크간의 스페이스의 에지 위치에 관한 정보에 근거하여 정보를 재생하는 단계를 포함하는
    광 디스크 매체의 재생 방법.
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Families Citing this family (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007317343A (ja) * 2006-04-28 2007-12-06 Sharp Corp 記録パラメータ設定装置、そのプログラムおよび該プログラムを記録したコンピュータ読取り可能な記録媒体、情報記録媒体、ならびに記録パラメータ設定方法
JP2007323719A (ja) * 2006-05-31 2007-12-13 Toshiba Corp 光ディスク、情報記録方法、情報再生方法
JP5019951B2 (ja) 2007-05-29 2012-09-05 三菱電機株式会社 光記録方法及び光記録装置
US8089843B2 (en) * 2007-08-10 2012-01-03 Sony Disc & Digital Solutions, Inc. Recording drive waveform adjusting method for manufacturing master disc, master disc manufacturing method, master disc manufacturing apparatus, and master disc
JP2009080895A (ja) 2007-09-26 2009-04-16 Toshiba Corp 情報記録媒体及びこの媒体を用いたディスク装置
JP2009110602A (ja) * 2007-10-30 2009-05-21 Toshiba Corp 光ディスク装置及び光ディスク処理方法
US8045439B1 (en) * 2008-01-22 2011-10-25 Marvell International Ltd. System and method for storing data to an optical recording device
US8289829B2 (en) 2008-10-01 2012-10-16 Panasonic Corporation Information recording medium and recording/reproduction apparatus
CN101874268B (zh) * 2008-10-01 2014-06-18 松下电器产业株式会社 信息记录介质及记录再生装置
US20100080095A1 (en) * 2008-10-01 2010-04-01 Panasonic Corporation Recording control method, recording/reproduction method, recording control apparatus and recording/reproduction apparatus
US8072862B1 (en) 2008-10-06 2011-12-06 Marvell International Ltd. Adaptive distortion corrector
RU2502139C2 (ru) * 2008-10-09 2013-12-20 Панасоник Корпорэйшн Способ оптической записи, оптическое устройство записи, устройство экспонирования носителя-мастера, оптический носитель записи информации и способ воспроизведения
JP2010129149A (ja) * 2008-11-28 2010-06-10 Samsung Electronics Co Ltd 光ディスクドライブの記録方法及び光ディスクドライブ
WO2010067496A1 (ja) * 2008-12-09 2010-06-17 パナソニック株式会社 光記録方法、光記録装置、原盤露光装置、光学的情報記録媒体および再生方法
MX2010012859A (es) * 2009-03-06 2011-03-15 Panasonic Corp Medio optico de grabacion de informacion, dispositivo de grabacion de informacion, dispositivo de reproduccion de informacion, metodo de grabacion de informcion, metodo de reproduccion de informacion y metodo para fabricar un medio optico de grabacion de informacion.
WO2011074267A1 (ja) * 2009-12-18 2011-06-23 パナソニック株式会社 光学的情報記録方法、光学的情報記録装置、光学的情報再生方法、光学的情報再生装置および光学的情報記録媒体
US8959365B2 (en) * 2012-07-01 2015-02-17 Speedtrack, Inc. Methods of providing fast search, analysis, and data retrieval of encrypted data without decryption
JP6975914B2 (ja) * 2018-03-09 2021-12-01 パナソニックＩｐマネジメント株式会社 光ディスク記録方法、光ディスク装置及び集積回路

Family Cites Families (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5490126A (en) * 1993-04-07 1996-02-06 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Apparatus for recording and reproducing data on a disk
JP2679596B2 (ja) 1993-11-09 1997-11-19 松下電器産業株式会社 ディスク記録方法およびディスク記録装置
DE69618034T2 (de) * 1995-10-09 2002-05-16 Matsushita Electric Ind Co Ltd Aufnahmegerät für optische Information
MY125795A (en) 1998-07-23 2006-08-30 Samsung Electronics Co Ltd Adaptive writing method for high-density optical recording apparatus and circuit thereof
TW468177B (en) * 1998-08-04 2001-12-11 Hitachi Ltd Data storage method, data storage medium and data storage recording device
US6925040B1 (en) * 1998-08-04 2005-08-02 Hitachi, Ltd. Information recording method, information recording medium and information recording apparatus
JP3076033B1 (ja) * 1998-09-14 2000-08-14 松下電器産業株式会社 光学情報の記録再生装置および情報記録媒体
JP4075185B2 (ja) * 1999-01-29 2008-04-16 松下電器産業株式会社 光学的情報記録再生方法及び光学的情報記録再生装置
US6975571B1 (en) 1999-03-19 2005-12-13 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Method for optically recording information and device for optically recording information by the same
KR100297789B1 (ko) * 1999-06-03 2001-10-29 윤종용 다양한 형태의 광기록 매체에 적합한 기록 펄스 발생 방법 및이에 적합한 기록장치
US6894965B2 (en) * 2000-04-07 2005-05-17 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Method for recording/reproducing data on/from optical disk
JP2002008237A (ja) * 2000-06-23 2002-01-11 Fujitsu Ltd 情報記録方法及びその実施に使用する情報記録装置
JP4567153B2 (ja) * 2000-07-07 2010-10-20 株式会社アイオイ・システム 二線式遠隔制御システム及び二線式表示装置
JP2002260234A (ja) * 2001-03-02 2002-09-13 Sony Corp 記録再生装置および方法、記録媒体、並びにプログラム
US6630110B2 (en) * 2001-03-14 2003-10-07 Global Aromatics, Inc. Method and apparatus for specialized candle
JP4351813B2 (ja) * 2001-04-20 2009-10-28 株式会社東芝 光ディスク装置
JP2004185796A (ja) 2002-11-21 2004-07-02 Matsushita Electric Ind Co Ltd 記録再生方法および記録再生装置
ATE368924T1 (de) * 2002-11-21 2007-08-15 Matsushita Electric Ind Co Ltd Verfahren und vorrichtung, um einen aufzeichnungspuls mittles daten aus dem benutzerfeld einer optischen scheibe zu justieren.
JP2005038559A (ja) 2003-07-18 2005-02-10 Sony Corp 情報記録装置及び方法
JP2005092942A (ja) * 2003-09-16 2005-04-07 Hitachi Ltd 光ディスク記録方法、光ディスク装置、及び光ディスク

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