KR20110064987A - Substrate transferring apparatus, substrate inspecting apparatus using the same - Google Patents

Substrate transferring apparatus, substrate inspecting apparatus using the same Download PDF

Info

Publication number
KR20110064987A
KR20110064987A KR1020090121799A KR20090121799A KR20110064987A KR 20110064987 A KR20110064987 A KR 20110064987A KR 1020090121799 A KR1020090121799 A KR 1020090121799A KR 20090121799 A KR20090121799 A KR 20090121799A KR 20110064987 A KR20110064987 A KR 20110064987A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
substrate
injection
supply
transfer
supported
Prior art date
Application number
KR1020090121799A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR101162056B1 (en
Inventor
조현우
Original Assignee
엘아이지에이디피 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 엘아이지에이디피 주식회사 filed Critical 엘아이지에이디피 주식회사
Priority to KR1020090121799A priority Critical patent/KR101162056B1/en
Publication of KR20110064987A publication Critical patent/KR20110064987A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR101162056B1 publication Critical patent/KR101162056B1/en

Links

Images

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/677—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
    • H01L21/67784—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations using air tracks
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B65—CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
    • B65G—TRANSPORT OR STORAGE DEVICES, e.g. CONVEYORS FOR LOADING OR TIPPING, SHOP CONVEYOR SYSTEMS OR PNEUMATIC TUBE CONVEYORS
    • B65G47/00—Article or material-handling devices associated with conveyors; Methods employing such devices
    • B65G47/74—Feeding, transfer, or discharging devices of particular kinds or types
    • B65G47/90—Devices for picking-up and depositing articles or materials
    • B65G47/91—Devices for picking-up and depositing articles or materials incorporating pneumatic, e.g. suction, grippers
    • B65G47/911—Devices for picking-up and depositing articles or materials incorporating pneumatic, e.g. suction, grippers with air blasts producing partial vacuum
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B65—CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
    • B65G—TRANSPORT OR STORAGE DEVICES, e.g. CONVEYORS FOR LOADING OR TIPPING, SHOP CONVEYOR SYSTEMS OR PNEUMATIC TUBE CONVEYORS
    • B65G49/00—Conveying systems characterised by their application for specified purposes not otherwise provided for
    • B65G49/05—Conveying systems characterised by their application for specified purposes not otherwise provided for for fragile or damageable materials or articles
    • B65G49/06—Conveying systems characterised by their application for specified purposes not otherwise provided for for fragile or damageable materials or articles for fragile sheets, e.g. glass
    • B65G49/063—Transporting devices for sheet glass
    • B65G49/064—Transporting devices for sheet glass in a horizontal position
    • B65G49/065—Transporting devices for sheet glass in a horizontal position supported partially or completely on fluid cushions, e.g. a gas cushion
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B65—CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
    • B65G—TRANSPORT OR STORAGE DEVICES, e.g. CONVEYORS FOR LOADING OR TIPPING, SHOP CONVEYOR SYSTEMS OR PNEUMATIC TUBE CONVEYORS
    • B65G51/00—Conveying articles through pipes or tubes by fluid flow or pressure; Conveying articles over a flat surface, e.g. the base of a trough, by jets located in the surface
    • B65G51/02—Directly conveying the articles, e.g. slips, sheets, stockings, containers or workpieces, by flowing gases
    • B65G51/03—Directly conveying the articles, e.g. slips, sheets, stockings, containers or workpieces, by flowing gases over a flat surface or in troughs
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1303—Apparatus specially adapted to the manufacture of LCDs
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B65—CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
    • B65G—TRANSPORT OR STORAGE DEVICES, e.g. CONVEYORS FOR LOADING OR TIPPING, SHOP CONVEYOR SYSTEMS OR PNEUMATIC TUBE CONVEYORS
    • B65G2249/00—Aspects relating to conveying systems for the manufacture of fragile sheets
    • B65G2249/04—Arrangements of vacuum systems or suction cups
    • B65G2249/045—Details of suction cups suction cups

Abstract

PURPOSE: A substrate transferring apparatus and a substrate inspecting apparatus using the same are provided to reduce cost required for installation by supporting a substrate using a transferring part. CONSTITUTION: A transferring part(110) transfers a substrate(S) to one direction. The transferring part is composed of a roller(111), a roller support(113), and a rotary motor(115). A spraying part(130) maintains the flatness of the substrate by spraying gas toward the substrate. An inspecting part(150) inspects the substrate in a transferring process. The inspecting part includes a camera(151) and a camera support(153).

Description

기판 이송장치 및 이를 이용한 기판 검사장치{SUBSTRATE TRANSFERRING APPARATUS, SUBSTRATE INSPECTING APPARATUS USING THE SAME}SUBSTRATE TRANSFERRING APPARATUS, SUBSTRATE INSPECTING APPARATUS USING THE SAME}

본 발명은 기판 이송장치 및 이를 이용한 기판 검사장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 외부로부터 반입되는 기판을 이송하는 기판 이송장치 및 이를 이용한 기판 검사장치에 관한 것이다.The present invention relates to a substrate transfer apparatus and a substrate inspection apparatus using the same, and more particularly, to a substrate transfer apparatus for transferring a substrate carried from the outside and a substrate inspection apparatus using the same.

LCD(Liquid Crystal Display)와 같은 평판 디스플레이 장치의 제조공정에서 기판 상에 형성된 스크래치나 각종 얼룩 등을 검사하여 불량률을 감소하기 위한 목적으로 기판 검사장치가 사용되고 있다.BACKGROUND In the manufacturing process of a flat panel display device such as an LCD (Liquid Crystal Display), a substrate inspection apparatus is used for the purpose of reducing scratch rate by inspecting scratches or various stains formed on a substrate.

불량요인을 검사하기 위한 기판 검사장치 중에서 특히, 인라인 검사(In-Line FPD Automatic Optical Inspection)는 TFT LCD 기판이나, PDP, 컬러필터 등의 기판 등을 안내하면서 광학렌즈와 CCD 카메라를 사용하여 검사 대상물의 이미지를 캡쳐한 후 비전 이미지 프로세싱 알고리즘을 적용하여 사용자가 찾아내고자 하는 각종 결함을 검출해 내는 장비이다.In particular, in-line inspection (In-Line FPD Automatic Optical Inspection) is to inspect the defect factors by using the optical lens and CCD camera while guiding the TFT LCD substrate, the substrate such as PDP, color filter, etc. After capturing the image of the device, the vision image processing algorithm is applied to detect various defects that the user wants to find.

이러한 검사장비는 검사시스템으로서의 역할을 다하기 위해서는 검출한 결함의 위치와 크기를 정확하게 알아내어 검출된 결함으로 찾아가 복원시키는 리페어(repair) 공정을 진행할 수 있다.In order to perform a role as an inspection system, such inspection equipment may perform a repair process that accurately locates and detects a detected defect and finds and restores the detected defect.

도 1a 및 도 1b는 종래의 기판 검사장치로 기판이 반입되어 안착되는 상태를 나타낸 작동도이다. 1A and 1B are operation diagrams showing a state in which a substrate is loaded and seated in a conventional substrate inspection apparatus.

도 1a 및 도 1b를 참조하면, 기판 검사장치는 기판(S)의 양측을 구름지지하여 기판(S)을 일측방향으로 이송하는 롤러(10), 기판(S)을 지지하여 기판 검사장치로 기판(S)을 반입시키는 이송로봇(미도시)의 포크(1)의 인출입을 원활하게 하는 리프트핀(20) 및 이송되는 기판(S)으로 기체를 분사하는 분사스테이지(30)를 포함한다. Referring to FIGS. 1A and 1B, the substrate inspecting apparatus supports the rollers 10 and the substrate S, which support the both sides of the substrate S to transport the substrate S in one direction, and the substrate as the substrate inspecting apparatus. Lift pin 20 to facilitate the withdrawal of the fork (1) of the transfer robot (not shown) to carry (S) and the injection stage 30 for injecting gas to the substrate (S) to be transported.

이에, 기판(S)은 이송로봇(미도시)의 포크(1)에 지지되어 기판 검사장치로 반입된다. 기판 검사장치로 반입된 기판(S)은 분사스테이지(30)의 상측에 위치하며, 기판(S)을 수취하기 위해 리프트핀(20)이 분사스테이지(30)의 상부로 상승한다. 리프트핀(20)은 기판(S)을 지지하고, 이송로봇(미도시)은 포크(1)를 하강시켜 포크(1)를 기판 검사장치(100)로부터 반출해낸다. Accordingly, the substrate S is supported by the fork 1 of the transfer robot (not shown) and brought into the substrate inspection apparatus. The substrate S carried into the substrate inspection apparatus is positioned above the spraying stage 30, and the lift pin 20 rises to the upper portion of the spraying stage 30 to receive the substrate S. The lift pin 20 supports the substrate S, and the transport robot (not shown) lowers the fork 1 to take out the fork 1 from the substrate inspection apparatus 100.

그리고 리프트핀(20)은 하강하여 기판(S)을 롤러(10)에 안착시키며, 분사스테이지(30)는 기판(S)으로 기체를 분사하여 기판(S)이 쳐지지 않도록 한다. 이후, 롤러(111)의 회전에 따라 기판(S)은 일측방향으로 이송되고, 카메라(미도시)를 사용하여 기판(S)을 검사한다.The lift pin 20 descends to seat the substrate S on the roller 10, and the spraying stage 30 sprays gas onto the substrate S so that the substrate S is not struck. Subsequently, as the roller 111 rotates, the substrate S is transferred in one direction, and the substrate S is inspected using a camera (not shown).

이와 같이 기판 검사장치는 외부로부터 반입되는 기판(S)을 리프트핀(20)에 지지하고, 리프트핀(20)을 하강시켜 기판(S)을 롤러(11)에 안착시킨다.As described above, the substrate inspection apparatus supports the substrate S, which is carried in from the outside, on the lift pin 20, and lowers the lift pin 20 to seat the substrate S on the roller 11.

하지만 이러한 기판 검사장치는 리프트핀(20)을 구동시키기 위한 구동수단을 별도로 마련해야 하므로, 장치의 구성이 복잡해지고, 설비 투자비용이 증가하는 문제점이 있다.However, such a substrate inspection device has to provide a separate drive means for driving the lift pin 20, there is a problem that the configuration of the device is complicated, the equipment investment cost increases.

본 발명의 목적은 간편한 구성으로 외부로부터 반입되는 기판을 이송부에 지지되록 한 기판 이송장치 및 이를 이용한 기판 검사장치를 제공하기 위한 것이다.SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a substrate transfer device and a substrate inspection device using the same so as to support a substrate carried in from the outside with a simple configuration.

기판 이송장치는 이송로봇의 포크에 지지되어 반입되는 기판을 지지하여 상기 기판을 일측방향으로 이송하는 이송부;및 상기 이송부에 지지되는 상기 기판으로부터 이격되고, 상기 포크가 승강될 수 있는 통로가 형성되며, 상기 이송부에 지지되는 상기 기판으로 기체를 분사하여 상기 기판의 평탄도를 유지시키는 분사부;를 포함한다.The substrate transport apparatus supports a substrate supported by a fork of a transport robot and transports the substrate in one direction; and a substrate spaced apart from the substrate supported by the transport unit, and a passage through which the fork can be elevated is formed. And an injection unit for injecting gas into the substrate supported by the transfer unit to maintain flatness of the substrate.

상기 분사부는 상기 기판의 이송방향으로 배치되는 복수의 분사레일을 포함하며, 복수의 상기 분사레일은 상기 포크가 통과할 수 있는 거리로 이격되어 배치될 수 있다.The spraying unit may include a plurality of spraying rails disposed in a transport direction of the substrate, and the plurality of spraying rails may be spaced apart from each other by a distance through which the fork passes.

상부면의 폭이 하부면의 폭보다 작은 사다리꼴의 단면 형상으로 이루어져 상기 이송부에 지지되는 상기 기판을 향해 경사진 양측면을 가지며, 상부면으로 개방되는 제1 분사구와, 상기 이송부에 지지되는 상기 기판을 향해 양측면으로 개방되는 제2 분사구가 형성될 수 있다. The first surface of the upper surface has a trapezoidal cross-sectional shape smaller than the width of the lower surface and has both sides inclined toward the substrate supported by the conveying portion, the first injection port opening to the upper surface and the substrate supported by the conveying portion Second injection holes that are open to both sides toward each other may be formed.

상기 분사부는 상기 분사레일의 하부에 결합되며, 상기 제1 분사구와 연통되는 제1 공급로;상기 제1 공급로의 단부에 연결되어 상기 기체를 공급하는 제1 공급 펌프;상기 분사레일의 하부에 결합되며, 상기 제2 분사구와 연통되는 제2 공급로;및 상기 제1 공급로의 단부에 연결되어 상기 기체를 공급하는 제2 공급펌프;를 포함할 수 있다.The injection unit is coupled to the lower portion of the injection rail, the first supply passage in communication with the first injection port; A first supply pump connected to the end of the first supply passage for supplying the gas; Under the injection rail A second supply path coupled to the second injection port and in communication with the second injection hole; and a second supply pump connected to an end of the first supply path to supply the gas.

제2 공급펌프의 공급압력은 상기 제1 공급펌프의 공급압력보다 클 수 있다.The supply pressure of the second supply pump may be greater than the supply pressure of the first supply pump.

상기 이송부는 상기 기판의 이송방향에 교차하는 방향으로 이격되어 상기 기판을 구름 지지하는 복수의 롤러;및 복수의 상기 롤러를 상기 기판의 이송방향으로 회전시키는 회전모터;를 포함할 수 있다.The transfer unit may include a plurality of rollers spaced apart from each other in a direction crossing the transfer direction of the substrate to support the substrate; and a rotation motor for rotating the plurality of rollers in the transfer direction of the substrate.

한편, 기판 검사장치는 이송로봇의 포크에 지지되어 반입되는 기판을 지지하여 상기 기판을 일측방향으로 이송하는 이송부;및 상기 이송부에 지지되는 상기 기판으로부터 이격되고, 상기 포크가 승강될 수 있는 통로가 형성되며, 상기 이송부에 지지되는 상기 기판으로 기체를 분사하여 상기 기판의 평탄도를 유지시키는 분사부;및 상기 이송부에 의해 이송되는 상기 기판의 이송경로에 배치되어 상기 기판을 검사하는 검사부;를 포함할 수 있다.On the other hand, the substrate inspection apparatus is supported by a fork of the transfer robot for transporting the substrate to carry the substrate in one direction; and a passage spaced apart from the substrate supported by the transfer portion, the fork can be elevated It is formed, the injection unit for maintaining the flatness of the substrate by injecting a gas to the substrate supported by the transfer unit; and an inspection unit disposed in the transfer path of the substrate conveyed by the transfer unit to inspect the substrate; can do.

상기 분사부는 상기 기판의 이송방향으로 배치되는 복수의 분사레일을 포함하며, 복수의 상기 분사레일은 상기 포크가 통과할 수 있는 거리로 이격되어 배치될 수 있다.The spraying unit may include a plurality of spraying rails disposed in a transport direction of the substrate, and the plurality of spraying rails may be spaced apart from each other by a distance through which the fork passes.

상부면의 폭이 하부면의 폭보다 작은 사다리꼴의 단면 형상으로 이루어져 상기 이송부에 지지되는 상기 기판을 향해 경사진 양측면을 가지며, 상부면으로 개방되는 제1 분사구와, 상기 이송부에 지지되는 상기 기판을 향해 양측면으로 개방되는 제2 분사구가 형성될 수 있다. The first surface of the upper surface has a trapezoidal cross-sectional shape smaller than the width of the lower surface and has both sides inclined toward the substrate supported by the conveying portion, the first injection port opening to the upper surface and the substrate supported by the conveying portion Second injection holes that are open to both sides toward each other may be formed.

상기 분사부는 상기 분사레일의 하부에 결합되며, 상기 제1 분사구와 연통되는 제1 공급로;상기 제1 공급로의 단부에 연결되어 상기 기체를 공급하는 제1 공급펌프;상기 분사레일의 하부에 결합되며, 상기 제2 분사구와 연통되는 제2 공급로;및 상기 제1 공급로의 단부에 연결되어 상기 기체를 공급하는 제2 공급펌프;를 포함할 수 있다.The injection unit is coupled to the lower portion of the injection rail, the first supply passage in communication with the first injection port; A first supply pump connected to the end of the first supply passage for supplying the gas; Under the injection rail A second supply path coupled to the second injection port and in communication with the second injection hole; and a second supply pump connected to an end of the first supply path to supply the gas.

제2 공급펌프의 공급압력은 상기 제1 공급펌프의 공급압력보다 클 수 있다.The supply pressure of the second supply pump may be greater than the supply pressure of the first supply pump.

상기 검사부는 상기 이송부에 의해 이송되는 상기 기판의 상부에 배치되어 상기 기판을 촬영하는 카메라;및 상기 카메라를 상기 이송부로부터 이격 지지하는 카메라지지대;를 포함하는 것을 특징으로 하는 기판 검사장치. The inspection unit comprises a camera disposed on an upper portion of the substrate conveyed by the transfer unit for photographing the substrate; and a camera support for supporting the camera spaced apart from the transfer unit.

상기 이송부는 상기 기판의 이송방향에 교차하는 방향으로 이격되어 상기 기판을 구름 지지하는 복수의 롤러;및 복수의 상기 롤러를 상기 기판의 이송방향으로 회전시키는 회전모터;를 포함하는 것을 특징으로 하는 기판 검사장치.The transfer unit is a plurality of rollers spaced apart in a direction crossing the transfer direction of the substrate to support the substrate; and a rotating motor for rotating the plurality of rollers in the transfer direction of the substrate; Inspection device.

본 발명에 따른 기판 이송장치 및 이를 이용한 기판 검사장치는 간편한 구성으로도 외부로부터 반입되는 기판을 이송부에 지지되록 하므로, 장비를 간소화 할 수 있으며, 설비 투자비용을 절감할 수 있는 효과가 있다. The substrate transfer apparatus and the substrate inspection apparatus using the same according to the present invention support the substrate to be transferred from the outside even with a simple configuration, thereby simplifying the equipment and reducing the equipment investment cost.

이하, 본 실시예에 따른 기판 검사장치에 대해 첨부된 도면을 참조하여 상세 히 설명하도록 한다. Hereinafter, a board inspection apparatus according to the present embodiment will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 2는 본 실시예에 따른 기판 검사장치를 나타낸 사시도이고, 도 3은 본 실시예에 따른 기판 검사장치를 나타낸 평면도이다.2 is a perspective view showing a substrate inspection apparatus according to the present embodiment, Figure 3 is a plan view showing a substrate inspection apparatus according to the present embodiment.

도 2 및 도 3을 참조하면, 기판 검사장치(100)는 이송부(110), 분사부(130) 및 검사부(150)를 포함한다.2 and 3, the substrate inspection apparatus 100 includes a transfer unit 110, an injection unit 130, and an inspection unit 150.

이송부(110)는 외부로부터 반입되는 기판(S)을 일측방향으로 이송하기 위한 것으로, 롤러(111), 롤러지지대(113) 및 회전모터(115)를 포함한다. The transfer unit 110 is used to transfer the substrate S loaded from the outside in one direction, and includes a roller 111, a roller support 113, and a rotating motor 115.

롤러(111)는 복수로 마련되어 기판(S)의 이송방향 즉, 도 2에 표기된 x축 방향으로 배치된다. 그리고 복수의 롤러(111)는 기판(S)의 이송방향에 교차하는 방향 즉, 도 2에 표기된 y축 방향으로 이격되어 기판(S)의 양측을 구름지지한다. The roller 111 is provided in plurality, and is arrange | positioned in the conveyance direction of the board | substrate S, ie, the x-axis direction shown in FIG. The plurality of rollers 111 are spaced apart from each other in the direction crossing the transfer direction of the substrate S, that is, in the y-axis direction shown in FIG. 2, to support both sides of the substrate S.

이러한 복수의 롤러(111)는 회전축이 롤러지지대(113)에 지지되어 회전모터(115)에 의해 회전되도록 설치된다. 즉, 회전모터(115)의 출력단에는 회전모터(115)에 의해 제공되는 회전력을 각 롤러(111)의 회전축으로 전달하기 위한 주동기어(115a)가 설치되며, 각 롤러(111)의 회전축에는 주동기어(115a)에 의해 회전되는 종동기어(111a)가 설치된다. The plurality of rollers 111 are installed such that the rotating shaft is supported by the roller support 113 to be rotated by the rotating motor 115. That is, at the output end of the rotary motor 115, a main gear 115a for transmitting the rotational force provided by the rotary motor 115 to the rotary shaft of each roller 111 is installed, the main shaft on the rotary shaft of each roller 111 The driven gear 111a rotated by the gear 115a is provided.

상술된 설명에서 롤러(111)를 회전시키기 위한 구동수단으로, 회전모터(115), 주동기어(115a) 및 종동기어(111a)를 예를 들어 설명하고 있으나, 다른 실시예로 구동수단은 회전모터, 주동풀리 및 종동풀리로 변형실시될 수 있을 것이다. In the above description, as the driving means for rotating the roller 111, the rotary motor 115, the main gear (115a) and the driven gear (111a) is described by way of example, in another embodiment the drive means is a rotary motor It can be modified to be driven pulley and driven pulley.

도 4는 본 실시예에 따른 기판 검사장치를 도 3에 표기된 I-I'선을 기준으로 절단하여 분사부를 나타낸 단면도이다. FIG. 4 is a cross-sectional view of the spraying unit by cutting the substrate inspection apparatus according to the present embodiment based on line II ′ shown in FIG. 3.

도 2 내지 도 4를 참조하면, 분사부(130)는 롤러(111)에 지지되는 기판(S)으로 기체를 분사하여 기판(S)의 평탄도를 유지하기 위한 것으로, 분사레일(131), 제1 공급로(133), 제2 공급로(135), 제1 공급펌프(137) 및 제2 공급펌프(139)를 포함한다. 2 to 4, the injection unit 130 is to maintain the flatness of the substrate (S) by injecting gas to the substrate (S) supported by the roller 111, the injection rail 131, The first supply path 133, the second supply path 135, the first supply pump 137 and the second supply pump 139 are included.

분사레일(131)은 기판(S)의 이송방향으로 배치된다. 그리고 분사레일(131)은 롤러(111)에 지지되는 기판(S)의 하부면으로부터 이격되도록 배치된다. 특히, 복수의 분사레일(131)은 롤러(111)에 기판(S)을 안착시킨 포크(1)가 복수의 분사레일(131)의 사이를 통과하여 원활하게 승강될 수 있는 거리로 이격되는 것이 바람직하다.The injection rail 131 is disposed in the transport direction of the substrate S. And the injection rail 131 is disposed to be spaced apart from the lower surface of the substrate (S) supported by the roller 111. In particular, the plurality of spraying rails 131 are spaced apart from each other by a distance at which the fork 1 having the substrate S seated on the roller 111 may pass smoothly between the plurality of spraying rails 131. desirable.

분사레일(131)은 상부면의 폭이 하부면의 폭보다 작은 사다리꼴의 종단면을 가진다. 따라서 분사레일(131)의 양측면은 롤러(111)에 지지되는 기판(S)을 향하도록 경사진다. 분사레일(131)에는 상부면으로 개방되는 제1 분사구(133a)와 양측면으로 개방되는 제2 분사구(135a)가 형성된다. The injection rail 131 has a trapezoidal longitudinal section whose width of the upper surface is smaller than that of the lower surface. Therefore, both side surfaces of the injection rail 131 are inclined to face the substrate S supported by the roller 111. The injection rail 131 is formed with a first injection hole 133a which opens to an upper surface and a second injection hole 135a which opens to both side surfaces.

제1 공급로(133)와 제2 공급로(135)는 분사레일(131)의 하부에 결합된다. 제1 공급로(133)는 제1 분사구(133a)와 연통되며, 제2 공급로(135)는 제2 분사구(135a)와 연통된다. 제1 공급펌프(137)는 제1 공급로(133)의 단부에 연결되며, 제2 공급펌프(139)는 제2 공급로(135)의 단부에 연결된다. 따라서 제1 공급펌프(137)와 제2 공급펌프(139)는 제1 공급로(133)와 제2 공급로(135)로 각각 다른 공급압력으로 기체를 공급할 수 있다. The first supply path 133 and the second supply path 135 are coupled to the lower portion of the injection rail 131. The first supply passage 133 communicates with the first injection hole 133a, and the second supply passage 135 communicates with the second injection hole 135a. The first supply pump 137 is connected to the end of the first supply path 133, and the second supply pump 139 is connected to the end of the second supply path 135. Accordingly, the first supply pump 137 and the second supply pump 139 may supply gas to the first supply path 133 and the second supply path 135 at different supply pressures.

여기서, 제1 분사구(133a)와 기판(S)과의 거리는 제2 분사구(135a)와 기판(S)과의 거리보다 짧다. 즉, 제1 공급펌프(137)의 공급압력과 제2 공급펌프(139)의 공급압력이 동일하거나, 제1 공급펌프(137)의 공급압력이 제2 공급펌프(139)의 공급압력보다 크면, 제1 분사구(133a)와 제2 분사구를 통해 분사되는 기체의 압력이 서로 다르게 분사될 수 있어 기판의 평탄도를 유지하기 곤란하게 된다. Here, the distance between the first injection hole 133a and the substrate S is shorter than the distance between the second injection hole 135a and the substrate S. That is, when the supply pressure of the first supply pump 137 and the supply pressure of the second supply pump 139 are the same or the supply pressure of the first supply pump 137 is greater than the supply pressure of the second supply pump 139. The pressure of the gas injected through the first injection hole 133a and the second injection hole may be different from each other, making it difficult to maintain the flatness of the substrate.

따라서 제2 공급펌프(139)의 공급압력은 제2 분사구(135a)를 통해 기판(S)에 도달하는 기체의 압력이 제1 분사구(133a)를 통해 기판(S)에 도달하는 기체의 압력과 동일한 압력을 가질 수 있도록 제1 공급펌프(137)의 공급압력보다 높은 것이 바람직하다. Therefore, the supply pressure of the second supply pump 139 is equal to the pressure of the gas reaching the substrate S through the first injection hole 133a and the pressure of the gas reaching the substrate S through the second injection hole 135a. It is preferable that the supply pressure of the first supply pump 137 is higher than the supply pressure so as to have the same pressure.

한편, 검사부(150)는 이송부(110)에 의해 이송되는 기판(S)을 검사하기 위한 것으로, 카메라(151) 및 카메라지지대(153)를 포함한다. On the other hand, the inspection unit 150 to inspect the substrate (S) transferred by the transfer unit 110, and includes a camera 151 and the camera support 153.

카메라(151)는 복수로 마련되어 카메라지지대(153)에 지지된다. 카메라지지대(153)는 이송부(110)에 의해 이송되는 기판(S)으로부터 카메라(151)를 이격시킨다. 카메라(151)는 복수로 마련되어 기판(S)의 이송방향에 교차하는 방향으로 배치됨으로써, 카메라지지대(153)의 하부를 통과하는 기판(S)을 스캔 할 수 있다. The camera 151 is provided in plural and supported by the camera support 153. The camera support 153 spaces the camera 151 from the substrate S transferred by the transfer unit 110. The camera 151 may be provided in plural and disposed in a direction crossing the transfer direction of the substrate S to scan the substrate S passing through the lower portion of the camera support 153.

이하, 본 실시예에 따른 기판 검사장치의 기판의 반입 및 기판의 이송 동작에 대해 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명하도록 한다. Hereinafter, the carrying-in and transferring of the substrate of the substrate inspection apparatus according to the present embodiment will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 5는 본 실시예에 따른 기판 검사장치로 이송로봇의 포크에 지지되는 기판이 이송되는 상태를 나타낸 작동도이며, 도 6는 본 실시예에 따른 기판 검사장치에 서 이송부에 의해 기판이 이송되는 상태를 나타낸 작동도이다.5 is an operation view showing a state in which the substrate supported on the fork of the transfer robot to the substrate inspection apparatus according to the present embodiment is transferred, Figure 6 is a substrate is transferred by the transfer unit in the substrate inspection apparatus according to this embodiment This is an operation diagram showing the state.

도 5 및 도 6을 참조하면, 기판(S)은 이송로봇(미도시)에 의해 외부로부터 기판 검사장치(100)로 반입된다. 기판(S)은 포크(1)에 지지되어 롤러(111) 및 분사레일(131)의 상측에 위치한다. 5 and 6, the substrate S is brought into the substrate inspection apparatus 100 from the outside by a transfer robot (not shown). The substrate S is supported by the fork 1 and positioned above the roller 111 and the injection rail 131.

이송로봇(미도시)은 포크(1)를 하강시키고, 기판(S)은 롤러(111)에 지지된다. 이때, 포크(1)는 복수의 분사레일(131)의 사이로 통과하여 분사레일(131)의 하측에 위치한다. 이송로봇(미도시)은 이송부(110)로부터 포크(1)를 반출해낸다.The transfer robot (not shown) lowers the fork 1 and the substrate S is supported by the roller 111. At this time, the fork 1 passes between the plurality of injection rails 131 and is positioned below the injection rail 131. The transfer robot (not shown) carries out the fork 1 from the transfer unit 110.

이와 함께, 제1 공급펌프(137) 및 제2 공급펌프(139)는 제1 공급로(133) 및 제2 공급로(135)로 기체를 공급한다. 기체는 제1 공급로(133)와 제2 공급로(135)를 통해 제1 분사구(133a) 및 제2 분사구(135a)로 공급되며, 제1 분사구(133a) 및 제2 분사구(135a)를 통해 기판(S)으로 분사된다. In addition, the first supply pump 137 and the second supply pump 139 supply gas to the first supply path 133 and the second supply path 135. The gas is supplied to the first injection holes 133a and the second injection holes 135a through the first supply path 133 and the second supply path 135, and the first injection holes 133a and the second injection holes 135a are provided. It is injected to the substrate (S) through.

이때, 제2 공급펌프(139)는 제1 공급펌프(137)의 공급압력보다 높은 공급압력으로 기체를 공급한다. 즉, 제2 공급펌프(139)는 제2 분사구(135a)를 통해 기판(S)으로 분사되는 기체와 제1 분사구(133a)를 통해 기판(S)으로 분사되는 기체가 동일한 압력으로 기판(S)에 도달할 수 있도록 제1 공급펌프(137)의 공급압력보다 높은 공급압력으로 기체를 공급한다. At this time, the second supply pump 139 supplies the gas at a supply pressure higher than the supply pressure of the first supply pump 137. That is, the second supply pump 139 is a substrate S at the same pressure between the gas injected into the substrate S through the second injection hole 135a and the gas injected into the substrate S through the first injection hole 133a. Gas is supplied at a supply pressure higher than the supply pressure of the first supply pump 137 so as to be reached.

이에 따라 복수의 분사레일(131)의 상측 및 복수의 분사레일(131)의 사이로 분사되는 기체는 기판(S)이 분사레일(131)에 접촉되지 않도록 하며, 동일한 압력으로 기판(S)을 가압하여 이송부(110)에 지지되는 기판(S)의 평탄도가 유지되도록 한다. Accordingly, the gas injected between the upper side of the plurality of injection rails 131 and the plurality of injection rails 131 prevents the substrate S from contacting the injection rail 131 and pressurizes the substrate S at the same pressure. The flatness of the substrate S supported by the transfer unit 110 is maintained.

이와 같이 기판(S)이 롤러(111)에 안착되고, 분사부(130)에 의해 기판(S)의 평탄도가 유지되면, 회전모터(115)는 주동기어(115a)를 회전시킨다. 주동기어(115a)가 회전됨에 따라 종동기어(111a)가 회전되고, 종동기어(111a)의 회전에 따라 각 롤러(111)는 일측방향으로 회전된다. 각 롤러(111)가 회전됨에 따라 기판(S)은 일측방향으로 이송된다. 카메라(151)는 이송되는 기판(S)의 표면을 스캔하여 기판(S)의 결함 등을 검사할 수 있도록 한다.As described above, when the substrate S is seated on the roller 111 and the flatness of the substrate S is maintained by the injection unit 130, the rotation motor 115 rotates the main gear 115a. As the main gear 115a is rotated, the driven gear 111a is rotated, and each roller 111 is rotated in one direction according to the rotation of the driven gear 111a. As each roller 111 is rotated, the substrate S is transferred in one direction. The camera 151 scans the surface of the substrate S to be transferred so that defects of the substrate S may be inspected.

상술한 바와 같이, 기판 검사장치(100)는 이송로봇(미도시)의 포크(1)에 지지되어 외부로부터 반입되는 기판(S)의 평탄도를 유지하여 기판(S)을 지지하고 이송하므로, 기판(S)이 쳐지면서 발생될 수 있는 기판(S)의 손상을 방지할 수 있다.As described above, the substrate inspection apparatus 100 supports and transports the substrate S by maintaining the flatness of the substrate S supported by the fork 1 of the transport robot (not shown) and carried in from the outside. Damage to the substrate S, which may occur while the substrate S is knocked over, can be prevented.

한편, 상술된 기판 검사장치(100)에서 검사부(150)의 구성을 제외한 이송부(110) 및 분사부(130)를 이용하여 기판(S)의 표면에 흡집을 내지 않고, 기판(S)의 평탄도를 유지하며 기판(S)을 안전하게 이송할 수 있는 기판 이송장치를 구성할 수 있다.On the other hand, in the above-described substrate inspection apparatus 100 by using the transfer unit 110 and the injection unit 130 except for the configuration of the inspection unit 150 is not absorbed to the surface of the substrate (S), the flatness of the substrate (S) It is possible to configure a substrate transfer device that can safely transport the substrate (S) while maintaining the degree.

도 1a 및 도 1b는 종래의 기판 검사장치로 기판이 반입되어 안착되는 상태를 나타낸 작동도이다. 1A and 1B are operation diagrams showing a state in which a substrate is loaded and seated in a conventional substrate inspection apparatus.

도 2는 본 실시예에 따른 기판 검사장치를 나타낸 사시도이다.2 is a perspective view showing a substrate inspection apparatus according to the present embodiment.

도 3은 본 실시예에 따른 기판 검사장치를 나타낸 평면도이다.3 is a plan view showing a substrate inspection apparatus according to the present embodiment.

도 4는 본 실시예에 따른 기판 검사장치를 도 3에 표기된 I-I'선을 기준으로 절단하여 분사부를 나타낸 단면도이다.FIG. 4 is a cross-sectional view of the spraying unit by cutting the substrate inspection apparatus according to the present embodiment based on line II ′ shown in FIG. 3.

도 5는 본 실시예에 따른 기판 검사장치로 이송로봇의 포크에 지지되는 기판이 이송되는 상태를 나타낸 작동도이다. 5 is an operation diagram showing a state in which the substrate supported by the fork of the transfer robot to the substrate inspection apparatus according to the present embodiment is transferred.

도 6는 본 실시예에 따른 기판 검사장치에서 이송부에 의해 기판이 이송되는 상태를 나타낸 작동도이다.6 is an operation diagram showing a state in which the substrate is transferred by the transfer unit in the substrate inspection apparatus according to the present embodiment.

<도면의 주요부분에 대한 부호 설명>Description of the Related Art [0002]

100 : 기판 검사장치 110 : 이송부100: substrate inspection device 110: transfer unit

111 : 롤러 130 : 분사부111 roller 130 injection part

131 : 분사롤러 133 : 제1 공급로131: injection roller 133: first supply path

135 : 제2 공급로 137 : 제1 공급펌프135: second supply path 137: first supply pump

139 : 제2 공급펌프 150 : 검사부139: second supply pump 150: inspection unit

Claims (13)

이송로봇의 포크에 지지되어 반입되는 기판을 지지하여 상기 기판을 일측방향으로 이송하는 이송부;및A transfer unit for supporting a substrate to be loaded and supported by a fork of a transfer robot to transfer the substrate in one direction; and 상기 이송부에 지지되는 상기 기판으로부터 이격되고, 상기 포크가 승강될 수 있는 통로가 형성되며, 상기 이송부에 지지되는 상기 기판으로 기체를 분사하여 상기 기판의 평탄도를 유지시키는 분사부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 기판 이송장치.And an injection unit spaced apart from the substrate supported by the transfer unit, a passage through which the fork is lifted, and spraying gas to the substrate supported by the transfer unit to maintain flatness of the substrate. Substrate transfer device characterized in that. 제1 항에 있어서, 상기 분사부는The method of claim 1, wherein the injection unit 상기 기판의 이송방향으로 배치되는 복수의 분사레일을 포함하며,It includes a plurality of injection rail disposed in the conveying direction of the substrate, 복수의 상기 분사레일은 상기 포크가 통과할 수 있는 거리로 이격되어 배치되는 것을 특징으로 하는 기판 이송장치.A plurality of the injection rail is a substrate transfer device, characterized in that spaced apart from the distance that the fork can pass. 제2 항에 있어서, 상기 분사레일은The method of claim 2, wherein the injection rail 상부면의 폭이 하부면의 폭보다 작은 사다리꼴의 단면 형상으로 이루어져 상기 이송부에 지지되는 상기 기판을 향해 경사진 양측면을 가지며,The width of the upper surface has a trapezoidal cross-sectional shape smaller than the width of the lower surface has both sides inclined toward the substrate supported on the conveying portion, 상부면으로 개방되는 제1 분사구와, 상기 이송부에 지지되는 상기 기판을 향해 양측면으로 개방되는 제2 분사구가 형성되는 것을 특징으로 하는 기판 이송장치.And a first injection hole opening to an upper surface and a second injection hole opening to both sides toward the substrate supported by the transfer part. 제3 항에 있어서, 상기 분사부는The method of claim 3, wherein the injection portion 상기 분사레일의 하부에 결합되며, 상기 제1 분사구와 연통되는 제1 공급로; A first supply path coupled to a lower portion of the injection rail and in communication with the first injection hole; 상기 제1 공급로의 단부에 연결되어 상기 기체를 공급하는 제1 공급펌프;A first supply pump connected to an end of the first supply path to supply the gas; 상기 분사레일의 하부에 결합되며, 상기 제2 분사구와 연통되는 제2 공급로;및A second supply path coupled to a lower portion of the injection rail and in communication with the second injection hole; and 상기 제1 공급로의 단부에 연결되어 상기 기체를 공급하는 제2 공급펌프;를 포함하는 것을 특징으로 하는 기판 이송장치.And a second supply pump connected to an end of the first supply path to supply the gas. 제4 항에 있어서, 상기 제2 공급펌프의 공급압력은 상기 제1 공급펌프의 공급압력보다 큰 것을 특징으로 하는 기판 이송장치.The substrate transport apparatus of claim 4, wherein a supply pressure of the second supply pump is greater than a supply pressure of the first supply pump. 제1 항에 있어서, 상기 이송부는The method of claim 1, wherein the transfer unit 상기 기판의 이송방향에 교차하는 방향으로 이격되어 상기 기판을 구름 지지하는 복수의 롤러;및A plurality of rollers spaced apart from each other in a direction crossing the transfer direction of the substrate to support the substrate; and 복수의 상기 롤러를 상기 기판의 이송방향으로 회전시키는 회전모터;를 포함하는 것을 특징으로 하는 기판 이송장치.And a rotation motor for rotating a plurality of the rollers in a conveying direction of the substrate. 이송로봇의 포크에 지지되어 반입되는 기판을 지지하여 상기 기판을 일측방향으로 이송하는 이송부;A transfer unit which transfers the substrate in one direction by supporting a substrate loaded and supported by a fork of a transfer robot; 상기 이송부에 지지되는 상기 기판으로부터 이격되고, 상기 포크가 승강될 수 있는 통로가 형성되며, 상기 이송부에 지지되는 상기 기판으로 기체를 분사하여 상기 기판의 평탄도를 유지시키는 분사부;및An injection unit spaced apart from the substrate supported by the transfer unit, a passage through which the fork is lifted, and spraying gas onto the substrate supported by the transfer unit to maintain flatness of the substrate; and 상기 이송부에 의해 이송되는 상기 기판의 이송경로에 배치되어 상기 기판을 검사하는 검사부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 기판 검사장치.And an inspection unit disposed on a transfer path of the substrate transferred by the transfer unit to inspect the substrate. 제7 항에 있어서, 상기 분사부는The method of claim 7, wherein the injection portion 상기 기판의 이송방향으로 배치되는 복수의 분사레일을 포함하며,It includes a plurality of injection rail disposed in the conveying direction of the substrate, 복수의 상기 분사레일은 상기 포크가 통과할 수 있는 거리로 이격되어 배치되는 것을 특징으로 하는 기판 검사장치.A plurality of the injection rail is substrate inspection apparatus, characterized in that spaced apart from the distance that the fork can pass. 제8 항에 있어서, 상기 분사레일은The method of claim 8, wherein the injection rail 상부면의 폭이 하부면의 폭보다 작은 사다리꼴의 단면 형상으로 이루어져 상기 이송부에 지지되는 상기 기판을 향해 경사진 양측면을 가지며,The width of the upper surface has a trapezoidal cross-sectional shape smaller than the width of the lower surface has both sides inclined toward the substrate supported on the conveying portion, 상부면으로 개방되는 제1 분사구와, 상기 이송부에 지지되는 상기 기판을 향해 양측면으로 개방되는 제2 분사구가 형성되는 것을 특징으로 하는 기판 검사장치.And a first injection hole opening to an upper surface and a second injection hole opening to both sides toward the substrate supported by the transfer part. 제9 항에 있어서, 상기 분사부는The method of claim 9, wherein the injection portion 상기 분사레일의 하부에 결합되며, 상기 제1 분사구와 연통되는 제1 공급로; A first supply path coupled to a lower portion of the injection rail and in communication with the first injection hole; 상기 제1 공급로의 단부에 연결되어 상기 기체를 공급하는 제1 공급펌프;A first supply pump connected to an end of the first supply path to supply the gas; 상기 분사레일의 하부에 결합되며, 상기 제2 분사구와 연통되는 제2 공급로;및A second supply path coupled to a lower portion of the injection rail and in communication with the second injection hole; and 상기 제1 공급로의 단부에 연결되어 상기 기체를 공급하는 제2 공급펌프;를 포함하는 것을 특징으로 하는 기판 검사장치.And a second supply pump connected to an end of the first supply path to supply the gas. 제10 항에 있어서, 상기 제2 공급펌프의 공급압력은 상기 제1 공급펌프의 공급압력보다 큰 것을 특징으로 하는 기판 검사장치.The apparatus of claim 10, wherein a supply pressure of the second supply pump is greater than a supply pressure of the first supply pump. 제7 항에 있어서, 상기 검사부는The method of claim 7, wherein the inspection unit 상기 이송부에 의해 이송되는 상기 기판의 상부에 배치되어 상기 기판을 촬영하는 카메라;및A camera disposed on an upper portion of the substrate transferred by the transfer unit to photograph the substrate; and 상기 카메라를 상기 이송부로부터 이격 지지하는 카메라지지대;를 포함하는 것을 특징으로 하는 기판 검사장치. And a camera support for supporting the camera away from the transfer part. 제7 항에 있어서, 상기 이송부는The method of claim 7, wherein the transfer unit 상기 기판의 이송방향에 교차하는 방향으로 이격되어 상기 기판을 구름 지지하는 복수의 롤러;및A plurality of rollers spaced apart from each other in a direction crossing the transfer direction of the substrate to support the substrate; and 복수의 상기 롤러를 상기 기판의 이송방향으로 회전시키는 회전모터;를 포함하는 것을 특징으로 하는 기판 검사장치.And a rotary motor for rotating the plurality of rollers in a conveying direction of the substrate.
KR1020090121799A 2009-12-09 2009-12-09 Substrate transferring apparatus, substrate inspecting apparatus using the same KR101162056B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020090121799A KR101162056B1 (en) 2009-12-09 2009-12-09 Substrate transferring apparatus, substrate inspecting apparatus using the same

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020090121799A KR101162056B1 (en) 2009-12-09 2009-12-09 Substrate transferring apparatus, substrate inspecting apparatus using the same

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20110064987A true KR20110064987A (en) 2011-06-15
KR101162056B1 KR101162056B1 (en) 2012-07-03

Family

ID=44398329

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020090121799A KR101162056B1 (en) 2009-12-09 2009-12-09 Substrate transferring apparatus, substrate inspecting apparatus using the same

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101162056B1 (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104062785A (en) * 2014-06-25 2014-09-24 苏州华兴源创电子科技有限公司 Detection end device for liquid crystal module detector
CN106367574A (en) * 2015-07-21 2017-02-01 Posco公司 Fluid jet roller device for moving steel plate and plates

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101625343B1 (en) 2015-12-21 2016-05-27 정용환 Transfer plate and method of manufacturing the same

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6736588B1 (en) 2003-05-09 2004-05-18 Photon Dynamics, Inc. Integrated large glass handling system
US20070151296A1 (en) 2005-12-22 2007-07-05 Photon Dynamics, Inc. Method and apparatus for handling and aligning glass substrates

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104062785A (en) * 2014-06-25 2014-09-24 苏州华兴源创电子科技有限公司 Detection end device for liquid crystal module detector
CN104062785B (en) * 2014-06-25 2016-08-17 苏州华兴源创电子科技有限公司 A kind of test side head unit being used on liquid crystal module detector
CN106367574A (en) * 2015-07-21 2017-02-01 Posco公司 Fluid jet roller device for moving steel plate and plates

Also Published As

Publication number Publication date
KR101162056B1 (en) 2012-07-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5490052B2 (en) Display apparatus inspection apparatus and inspection method
KR101362454B1 (en) Apparatus for optical inspection
KR102044788B1 (en) Inspection Apparatus for Glass substrate
KR20060104666A (en) Apparatus and method for inspecting polarizing film
US20190131156A1 (en) Substrate transfer apparatus and substrate inspection apparatus including the same
KR100971436B1 (en) System and method for attaching polarizer to glass
KR100804033B1 (en) Apparatus for inspecting optical film
KR101720008B1 (en) The normal temperature ascon composition for repair
KR101032089B1 (en) Inspection apparatus for flat panel display
KR101162056B1 (en) Substrate transferring apparatus, substrate inspecting apparatus using the same
KR20120110666A (en) Apparatus and method for manufacturing display device of in-line type
TW201915477A (en) AOI in-line stage with transport device capable of [theta]-axis alignment
KR20050000479A (en) Device for Cutting Glass Substrate in Manufacturing Process of Flat Type Display
KR101185532B1 (en) Apparatus for transferring substrate and method using thereof
KR101577767B1 (en) In-Line Moving Stage Apparatus
KR100915691B1 (en) Inspection apparatus flat display pannel and inspection method thereby
JP4492155B2 (en) Semiconductor wafer carrier holding hole detection device and detection method, and semiconductor wafer polishing method
TWI231964B (en) LCD panel auto gripping apparatus and method for use in a panel carrier for an automatic probe unit
KR100892088B1 (en) Non-Contact Film Inspection Equipment by using Porous type Air Floating
KR100920222B1 (en) Film inspection method and system
KR101210939B1 (en) Substrate Transfering Apparatus and FPD Automatic Optical Inspection Using Same
KR100676071B1 (en) Automatic transport system of tray transport for backlight unit
KR20090065841A (en) Flat panel display inspection system
KR100805848B1 (en) The automatic assembly progress for Back light unit
KR101743479B1 (en) Processing method for display glass vision inspection appratus

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
LAPS Lapse due to unpaid annual fee