KR20110008976A - 비전검사장치 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (6)
- 부품 조립과정에서 조립 또는 실장된 검사대상물을 카메라로 촬영한 후 촬영된 이미지를 미리 입력된 대상 이미지와 비교하여 검사대상물의 양호 또는 불량을 판별하기 위한 비전검사장치로서,상기 검사대상물을 검사위치에 고정 또는 이송시키는 스테이지부와;상기 스테이지부의 상부에 위치하며, 상기 검사대상물에 조명을 제공하는 조명부와;상기 조명부의 상부에 설치되며, 상기 검사대상물의 영상을 반사시키기 위한 미러부와;상기 미러부의 좌, 우측에 각각 설치되어 상기 반사된 검사대상물의 영상을 촬영하는 제 1 카메라부 및 제 2 카메라부와;상기 제 1 카메라부 및 제 2 카메라부에서 촬영된 영상을 판독하여 상기 검사대상물의 양호 또는 불량을 판별하는 비전처리부와;상기 스테이지부와 상기 미러부 및 제 1, 2 카메라부를 제어하는 모션 컨트롤러를 포함하는 제어부;를 포함하며,상기 제 1 카메라부와 제 2 카메라부는 상이한 배율의 렌즈를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 비전검사장치.
- 제 1 항에 있어서,상기 미러부는,상기 제 1 카메라부와 제 2 카메라부의 하부에 각각 배치되는 제 1, 2 고정미러부와;상기 제 1, 2 고정미러부 사이에 배치되며, 서로 예각을 이루는 2 개의 반사면을 포함하는 가동미러부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 비전검사장치.
- 제 2 항에 있어서,상기 미러부는 상기 가동미러부를 좌, 우측으로 구동시키기 위한 제어모터를 추가적으로 포함하는 것을 특징으로 하는 비전검사장치.
- 제 1 항에 있어서,상기 조명부는,상기 조명부의 상부에 설치되며, 상기 검사대상물에 수직으로 입사되는 광원을 제공하기 위한 제 1 조명부와;상기 제 1 조명부의 하부에 설치되며, 상기 검사대상물에 수직보다 작은 각으로 입사되는 광원을 제공하기 위한 제 2 조명부와;상기 제 2 조명부의 하부에 설치되며, 상기 제 2 조명부에서 제공되는 광원 입사각보다 작은 각으로 입사되는 광원을 제공하기 위한 제 3 조명부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 비전검사장치.
- 제 4 항에 있어서,상기 제 1 조명부는,상기 제 1 조명부의 측부에 배치되어 수평성분의 광원을 제공하는 제 1 램프와;상기 제 1 램프와 일정거리 이격되어 사선으로 배치되는 반반사거울;을 포함하며,상기 제 1 램프에서 조사되는 수평성분의 광원이 상기 반반사거울에 의해 수직성분의 광원으로 반사되는 것을 특징으로 하는 비전검사장치.
- 제 1 항에 있어서,상기 제어부는 미리 설정된 상기 검사대상물의 촬영범위에 따라 상기 제 1 카메라부 또는 제 2 카메라부에 촬영제어신호를 전송하는 것을 특징으로 하는 비전검사장치.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020090066559A KR101123051B1 (ko) | 2009-07-21 | 2009-07-21 | 비전검사장치 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020090066559A KR101123051B1 (ko) | 2009-07-21 | 2009-07-21 | 비전검사장치 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20110008976A true KR20110008976A (ko) | 2011-01-27 |
KR101123051B1 KR101123051B1 (ko) | 2012-03-15 |
Family
ID=43614905
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020090066559A KR101123051B1 (ko) | 2009-07-21 | 2009-07-21 | 비전검사장치 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR101123051B1 (ko) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101245623B1 (ko) * | 2011-03-31 | 2013-03-20 | 주식회사 미르기술 | 가시광선의 격자무늬와 자외선 또는 적외선 격자 무늬를 이용한 비전검사장치 |
KR200470103Y1 (ko) * | 2012-03-30 | 2013-11-27 | 제이엘씨(주) | 무기이엘을 이용한 로봇비젼용 조명 장치 |
KR20210155410A (ko) * | 2020-06-15 | 2021-12-23 | (주) 인텍플러스 | 표면 검사장치 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100281881B1 (ko) * | 1998-07-01 | 2001-02-15 | 윤종용 | 인쇄회로기판의크림솔더검사장치및검사방법 |
KR20060056695A (ko) * | 2004-11-22 | 2006-05-25 | (주) 인텍플러스 | 표면결함 검사장치 및 검사방법 |
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2009
- 2009-07-21 KR KR1020090066559A patent/KR101123051B1/ko active IP Right Grant
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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KR101245623B1 (ko) * | 2011-03-31 | 2013-03-20 | 주식회사 미르기술 | 가시광선의 격자무늬와 자외선 또는 적외선 격자 무늬를 이용한 비전검사장치 |
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KR20210155410A (ko) * | 2020-06-15 | 2021-12-23 | (주) 인텍플러스 | 표면 검사장치 |
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KR101123051B1 (ko) | 2012-03-15 |
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