KR100715293B1 - 한조의 x축 전반사 거울을 이용한 비전검사방법 - Google Patents

한조의 x축 전반사 거울을 이용한 비전검사방법 Download PDF

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Abstract

한조의 X축 전반사 거울을 이용한 비전검사방법이 개시된다. 개시된 비전검사장치는 촬영위치 제어모듈에 한조의 X축 전반사 거울이 설치된다. 이와 같은 구성에 따르면, 2개의 광경로를 통해 검사대상물의 영상을 획득할 수 있는 비전검사방법을 구현할 수 있어, X축 방향으로 면적이 큰 검사대상물의 비전검사시 표면실장부품의 형상왜곡정도를 최소화할 수 있다.

Description

한조의 X축 전반사 거울을 이용한 비전검사방법{vision inspection method using the same}
도 1은 본 발명에 따른 한조의 X축 전반사거울을 이용한 비전검사장치의 전체 구성도이다.
도 2는 본 발명에 따른 비전검사방법을 설명하기 위한 순서도이다.
도 3은 본 발명에 따른 비전검사방법의 또 다른 실시예를 설명하기 위한 순서도이다.
도 4는 본 발명의 비전검사장치의 검사대상물로써 적용되는 사각판형태 인쇄회로기판이 다분할된 상태를 보인 기판위치 제어모듈의 평면구성도이다.
<도면주요부위에 대한 부호의 설명>
1 : 비전검사장치 2 : 기판위치 제어모듈
3 : 독립조명부 4 : 촬영위치 제어모듈
5 : 카메라 6 : 종속조명부
7,7' : 검사대상물 21,21' : 컨베이어 몸체
22,22' : 볼스크류 23,23' : 제 1,2 스탭모터
24 : 감지센서 25 : 스토퍼
41 : Y축 회전모터 42,42' : 제 1,2 X축 회전모터
61 : 반반사거울 62 : 2차조명등
411,421,421' : 전반사거울
본 발명은 한조의 X축 전반사 거울을 이용한 비전검사방법에 관한 것이다.
일반적으로, 인쇄회로기판(PCB) 등에 표면실장부품을 조립하는 표면실장기술(SMT; Surface Mounting Technology)은 표면실장부품(SMD; Surface Mounting Device)을 소형화/집적화하는 기술과, 이러한 표면실장부품을 정밀하게 조립하기 위한 정밀조립장비의 개발 및 각종 조립장비를 운용하는 기술을 포함한다.
여기서, 표면실장라인은 표면실장기와 비전검사장치와 같은 장비로 구성된다. 상기 표면실장기는 표면실장부품을 인쇄회로기판상에 실장하는 장비로서 Tape, Stick, Tray 형태로 공급되는 각종 표면실장부품을 부품공급기(Feeder)로부터 공급받아 인쇄회로기판상의 실장위치에 올려놓는 작업을 수행한다. 그리고, 상기 비전검사장치는 표면실장부품의 납땜공정 완료전 또는 완료 후, 표면실장부품의 실장상태를 검사하며 검사결과에 따라 다음공정으로 인쇄회로기판을 이송시키게 된다.
이때, 기존의 비전검사방법은 컨베이어를 통해 납땜이 완료된 인쇄회로기판이 수평이송되면 위치조절장치에서 초기 위치를 조절하고, 조절이 완료된 후 조명 등이 인쇄회로기판을 조사하면 카메라가 각 표면실장부품의 납땜 부위를 촬영한다. 이후 비전검사장치는 납땜부위의 조사상태를 모니터로 출력하고 연산하므로서 실장의 양호/불량을 검사하거나, 표면실장부품의 실장 유/무를 검사하게 된다.
하지만, 종래 비전검사장치는 검사대상물인 인쇄회로기판상의 여러 표면실장부품을 촬영하기 위해 카메라를 고정하고 인쇄회로기판을 이동시키거나, 또 다르게는 인쇄회로기판을 고정하고 카메라를 이동시키기 방식을 적용함에 따라 각 구성요소의 구동시 부하가 크고 정지시에는 진동이 심한 문제점이 있다. 또한, 기존의 비전검사장치는 카메라 또는 인쇄회로기판이 이동할 수 있는 공간을 확보해야하므로 장치자체가 대형화되어 넓은 설치공간을 차지하는 문제점이 있다.
이에, 상기와 같은 문제점을 해결하기 위해 본 출원인에 의해 대한민국 특허등록출원 2003-66656호로 선 출원된 "전반사거울을 이용한 비전검사장치 및 비전검사방법"에서는 X축 전반사 거울과 Y축 전반사 거울을 회전시켜 촬영위치를 변경함에 따라 구동 토크와 진동을 최소화함은 물론 촬영위치의 변경작업을 수행할 수 있는 비전검사장치를 제안한 바 있다. 특히, 선출원 발명은 고정형 직접조사방식의 독립조명부를 구비하여, 카메라에 입사되는 광량을 증가시키므로써 검사대상물(인쇄회로기판)의 명확한 영상을 획득할 수 있고, 이와 같이 검사대상물에 직접조사방식을 채택하여 인쇄회로기판과 같이 크고 작은 표면실장부품이 실장된 검사대상물의 비전검사시 그림자의 발생을 방지하므로써 정확한 검사를 수행할 수 있는 효과를 갖는다.
하지만, 상기한 선출원 발명의 비전검사장치는 인쇄회로기판과 같은 검사대 상물이 X축 방향(길이방향)으로 큰 면적을 가지면 영상을 획득하는 카메라 렌즈의 초점심도를 벗어나는 부분에서 초점이 정확하게 맞혀지지 않는 문제점이 있다. 이렇게 카메라 렌즈의 초점이 정확하게 맞혀지지 않은 상태에서 검사공정을 진행하면, 정확한 검사가 어렵고 X축 전반사 거울의 수직중심에서 멀어질수록 검사대상물이 수직방향으로부터 기울어져 보이게 되므로 표면실장부품의 형상왜곡정도가 심화되는 문제점이 있다.
한편, 상기한 선출원 발명의 비전검사장치는 X축 방향은 물론 Y축 방향으로 면적이 넓은 검사대상물에 대해서도 정확한 영상을 획득할 수 없는 문제점이 있다. 이와 같은 문제점을 해결하기 위해서는 필연적으로 검사대상물을 Y축 방향으로 움직이며 비전검사를 수행해야 한다. 그리고, 실제 인쇄회로기판의 생산라인에 설치되는 선출원 발명의 비전검사장치는 검사대상물(인쇄회로기판)의 크기에 따라 Y축 방향(폭방향)으로 폭조절이 가능하도록 기판위치 제어모듈(컨베이어)을 구성하고 있다. 이와 같은 기판위치 제어모듈은 두개의 컨베이어 몸체 중에서 어느 하나를 고정설치하고, 고정된 컨베이어 몸체에 볼스크류와 핸들을 장착하여 다른 하나의 컨베이어 몸체에 연동시키므로써 인쇄회로기판의 크기에 따라 작업자가 수동으로 컨베이어의 폭을 조절하도록 구성된다. 기판위치 제어모듈의 또 다른 형태로는 볼스크류에 스탭모터를 장착하여 자동으로 폭조절을 수행할 수 있는 컨베이어를 적용하여, 검사대상물(인쇄회로기판)을 자동이동시키며 비전검사를 수행하고 있다.
하지만, 상기와 같은 기판위치 제어모듈의 컨베이어를 통해 검사대상물(인쇄회로기판)을 Y축 방향(폭방향)으로 왕복이동시키며 비전검사를 수행할 경우, 컨베 이어의 이동을 위하여 많은 시간이 소요되므로 그만큼 검사시간이 늘어나게 되어 검사효율이 저하되는 문제점이 있다.
이에, 본 발명은 본 출원인에 의해 선출원 된 발명이 갖는 제반적인 문제점을 해결하고자 창안된 것으로,
본 발명의 목적은 한조의 X축 전반사 거울을 설치하여, 2개의 광경로를 통해 검사대상물의 영상을 획득하므로써, X축 방향으로 면적이 큰 검사대상물의 비전검사시 표면실장부품의 형상왜곡정도를 최소화하여 정확한 영상을 획득할 수 있는 한조의 X축 전반사 거울을 이용한 비전검사방법을 제공함에 있다.
또 다르게는 검사대상물의 폭조절이 가능한 기판위치 제어모듈을 통해 Y축 방향으로 면적이 큰 검사대상물을 검사함에 있어서도, 검사대상물의 이동을 최소화하여 검사효율을 증대할 수 있는 한조의 X축 전반사 거울을 이용한 비전검사방법을 제공함에 있다.
상기한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 구체적인 수단으로는;
검사대상물을 적정 검사위치에 이동/고정시키는 기판위치 제어모듈;
상기 기판위치 제어모듈의 직상부에 설치되는 독립조명부;
상기 독립조명부의 직상부에 마련되며, X축 전반사거울이 설치된 X축 회전모터와 Y축 전반사거울이 설치된 Y축 회전모터를 구비하여 상기 검사대상물의 원하는 위치좌표로 각 전반사거울의 반사각도를 변경하는 촬영위치 제어모듈;
상기 검사대상물의 영상을 획득하는 카메라;
상기 기판위치 제어모듈과 촬영위치 제어모듈을 제어하는 모션 콘트롤러를 포함하는 제어부; 및
상기 획득한 영상을 판독하여 불량여부를 판정하는 비전처리부;를 포함하되,
상기 촬영위치 제어모듈은 상기 카메라에 근접설치되는 Y축 회전모터를 중심으로 하여 제 1 X축 회전모터와 제 2 X축 회전모터를 좌,우대칭되게 설치하여 제 1,2 광경로를 갖도록 구성한 한조의 X축 전반사거울을 이용한 비전검사장치를 구비하므로써 달성된다.
이때, 상기 기판위치 제어모듈은 제 1,2 컨베이어 몸체에 한조의 볼스크류를 설치하고, 상기 각 볼스크류에는 제 1,2 스탭모터를 장착하여 상기 제 1,2 컨베이어 몸체의 폭조절을 수행하되, 상기 제 1,2 스탭모터는 동시에 제어되어 검사대상물을 Y축 방향으로 이동시킬 수 있도록 구성된다.
상기한 비전검사장치를 통해 구현되는 비전검사방법은 모션 컨트롤러에 검사대상물의 X축한계좌표(Xb)를 등록하는 단계; 상기 모션 컨트롤러에 의해 기판위치 제어모듈을 제어하여 상기 검사대상물을 적정 검사위치에 고정하고, 독립조명부에서 상기 검사대상물을 조명하는 단계; 상기 모션 콘트롤러에서 상기 검사대상물의 위치좌표와 X축한계좌표(Xb)를 비교하여 촬영위치 제어모듈의 광경로를 결정하는 단계; 상기 촬영위치 제어모듈에서 결정된 광경로를 통해 상기 검사대상물의 영상을 카메라에 전달하는 단계; 카메라에 입사되는 영상을 디지털 데이터로 변환하는 단계; 및 상기 카메라를 통해 획득한 영상을 판독하여 상기 검사대상물의 표면실장 부품의 양호, 불량여부를 판정하는 단계;를 포함한다.
이때, 상기 광경로를 결정하는 단계에서는 상기 검사대상물의 위치좌표가 상기 X축한계좌표(Xb)보다 작을 경우 상기 촬영위치 제어모듈의 제 1 X축 회전모터와 Y축 회전모터에 부착된 전반사거울에 의해 형성되는 제 1 광경로를 통해 검사를 진행하고, 상기 검사대상물의 위치좌표가 상기 X축한계좌표(Xb)보다 큰 경우에는 상기 촬영위치 제어모듈의 제 1 X축 회전모터와 Y축 회전모터에 부착된 전반사거울에 의해 형성되는 제 2 광경로를 통해 검사를 진행한다.
또한, 상기 X축한계좌표(Xb)는 상기 검사대상물이 X축 방향(길이방향)에서 이분할되는 지점의 좌표와 동일하게 설정된다.
상기한 비전검사장치을 통해 구현되는 또 다른 비전검사방법은 모션 컨트롤러에 검사대상물의 X축한계좌표(Xb)를 등록하고, 검사대상물을 선정하는 단계; 상기 모션 콘트롤러에 상기 검사대상물의 Y축한계좌표(Yb)를 등록하는 단계; 상기 모션 컨트롤러에서 상기 검사대상물의 검사영역을 다분할하고, 각 검사영역의 검사순서를 결정하는 단계; 상기 모션 컨트롤러를 통해 기판위치 제어모듈을 제어하여 상기 검사대상물을 적정 검사위치에 고정한 후, 독립조명부에서 상기 검사대상물을 조명하는 단계; 상기 모션 콘트롤러에서 결정된 검사순서에 따라 다분할된 각 검사영역을 순차적으로 검사하되, 상기 X축한계좌표(Xb)를 기준으로 하여 상기 검사대상물의 길이방향으로 양분된 검사영역의 영상을 상기 촬영위치 제어모듈의 제1,2 광경로를 통해 순차적으로 획득하는 단계; 상기 기판위치 제어모듈을 통해 검사대상물을 Y축한계좌표(Yb)만큼 이동하는 단계; 상기 X축한계좌표(Xb)를 기준으로 하 여 상기 검사대상물의 길이방향으로 양분된 검사영역의 영상을 상기 촬영위치 제어모듈의 제2,1 광경로를 통해 순차적으로 획득하는 단계; 상기 각 검사영역별로 카메라에 입사되는 영상을 디지털 데이터로 변환하는 단계; 및 상기 카메라를 통해 획득한 영상을 판독하여 상기 검사대상물에 실장된 부품의 양호, 불량여부를 판정하는 단계;를 포함한다.
이때, 상기 Y축한계좌표(Yb)는 상기 검사대상물이 Y축 방향(폭방향)에서 이분할되는 지점의 좌표와 동일하게 설정된다.
이하, 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부도면에 의거 상세히 설명하기로 한다.
본 발명의 비전검사장치는 표면실장라인에서 표면실장작업을 마친 인쇄회로기판의 표면실장부품을 검사할 경우 선행장비의 컨베이어를 통해 다음 공정으로 이동되기 이전에 비전검사를 실시할 수 있도록 설치된다. 이와 같은 비전검사장치는 선,후행 장비의 컨베이어와 컨베이어 사이에 형성되는 사공간에 삽입하는 방식으로 설치할 수 있고, 선,후행장비와 연계시키지 않고 단독 테이블형태로도 사용할 수 있다.
도 1a는 본 발명에 따른 한조의 X축 전반사거울을 이용한 비전검사장치의 전체 구성도이고, 도 1b는 본 발명에 따른 비전검사장치에 있어 기판위치 제어모듈을 설명하기 위한 평면 구성도이다.
도 1a 및 도 1b를 참조하면, 비전검사장치(1)는 검사대상물(7 : 인쇄회로기판)을 적정 검사위치에 이동/고정시키는 기판위치 제어모듈(2)과, 상기 기판위치 제어모듈(2)의 직상부에 설치되는 독립조명부(3)와, 상기 독립조명부(3)의 직상부에 마련되는 촬영위치 제어모듈(4)과, 상기 검사대상물(7)의 영상을 획득하는 카메라(5)와, 상기 기판위치 제어모듈(2) 및 촬영위치 제어모듈(4)을 제어하는 모션 콘트롤러(도면에 미도시됨.)를 포함하는 제어부(도면에 미도시됨.)와, 획득한 영상을 판독하여 불량여부를 판정하는 비전처리부(도면에 미도시됨.)를 포함한다. 그리고, 상기 촬영위치 제어모듈(4)과 카메라(5)의 사이에는 반반사거울(61)과 2차조명등(62)으로 구성되는 종속조명부(6)를 더 포함시킬 수도 있다.
상기 기판위치 제어모듈(2)은 도 1b에서와 같이 선행장비의 컨베이어를 따라 이동하는 검사대상물(인쇄회로기판)을 적합한 검사위치에 고정시키는 컨베이어 구조물로 구성된다. 이와 같은 기판위치 제어모듈(2)은 제 1,2 컨베이어 몸체(21,21')에 한조의 볼스크류(22,22')를 설치하되, 이러한 볼스크류(22,22')에는 제 1,2 스탭모터(23,23')를 각각 장착하여 자동으로 폭조절을 수행할 수 있도록 구성된다. 그리고, 기판위치 제어모듈(2)은 검사대상물(인쇄회로기판)의 흐름과 위치를 감지하는 감지센서(24)와, 검사대상물(인쇄회로기판)을 정지시키는 스토퍼(25)를 포함한다.
이에 따라, 기판위치 제어모듈(2)은 감지센서(24)에 의해 선행장비에서 이송되는 검사대상물(인쇄회로기판)의 흐름을 감지하고, 스토퍼(25)를 작동시켜 거사대상물(인쇄회로기판)을 적정검사위치에 이송/고정하는 기능을 수행한다. 그리고, 상기 제 1 스탭모터(23)는 볼스크류를 구동시켜 제 1 컨베이어 몸체(21)를 Y축 방향으로 이동시키고, 이와 동시에 제 2 스탭모터는 볼스크류를 구동시켜 제 2 컨베이 어 몸체(21')를 Y축 방향으로 이동시키므로써 검사대상물(인쇄회로기판)에 대응하게 각 컨베이어 몸체(21,21')의 폭을 조절함은 물론 검사대상물(인쇄회로기판)을 Y축방향으로 자유롭게 이동시키는 기능을 수행한다.
한편, 상기 촬영위치 제어모듈(4)은 상기 독립조명부(3)의 직상부에 구비된다. 이와 같은 촬영위치 제어모듈(4)은 전반사거울이 구동축에 부착되는 X축 회전모터와 Y축 회전모터로 구성되는데, 본 발명에서는 상기 카메라(5)에 근접설치되는 회전모터(41)와 전반사거울(411)을 Y축 방향으로 정하고, 카메라(5)로부터의 광경로가 Y축 전반사거울(411)에 의해 90°로 꺾이는 양쪽방향에 X축 회전모터 즉, 제 1 X축 회전모터(42)와 제 2 X축 회전모터(42')를 좌,우대칭되게 설치한다.
이에 따라, 촬영위치 제어모듈(4)은 제 1,2 광경로, 즉 Y축 회전모터(41)와 제 1 X축 회전모터(42)의 전반사거울(411,421)에 의해 형성되는 제 1 광경로와, Y축 회전모터(41)와 제 2 X축 회전모터(42')의 전반사거울(411,421')에 의해 형성되는 제 2 광경로를 갖게 된다.
이에, 상기와 같은 구성을 갖는 본 발명에 따른 한조의 X축 전반사거울을 이용한 비전검사장치를 통해 구현되는 비전검사방법에 대하여 살펴보기로 한다.
본 발명의 비전검사방법은 검사대상물(7 : 인쇄회로기판)을 기판위치 제어모듈(2)을 통해 적정 검사위치에 고정한 후, 독립조명부(3)에서 검사대상물(인쇄회로기판)을 조명한 상태에서 촬영위치 제어모듈(4)의 전반사 거울을 회동시켜 입사각을 변경하므로써 촬영위치좌표를 변경하면서 검사대상물(인쇄회로기판)의 영상을 카메라(5)에 반사하고, 카메라(5)는 입사되는 영상을 디지털 데이터로 변환한 후, 비전처리부에서 획득한 영상을 판독하여 검사대상물(7 : 인쇄회로기판)에 실장된 표면실장부품의 양호, 불량여부를 판정하는 단계를 포함하되, 검사대상물(7 : 인쇄회로기판)을 적정검사위치에 고정하기 이전단계에서 검사대상물(인쇄회로기판)의 X축한계좌표(Xb)를 등록하고, 촬영위치 제어모듈(4)을 통해 영상을 반사하는 단계에서는 상기 검사대상물(7 : 인쇄회로기판)의 위치좌표와 X축한계좌표(Xb)를 비교하여 촬영위치 제어모듈(4)의 광경로를 결정하는 단계를 포함한다.
도 2는 본 발명에 따른 비전검사방법을 설명하기 위한 순서도이다.
도 2를 참조하면, X축한계좌표(Xb)를 등록하는 단계에서는 제 1,2 X축 회전모터에 부착된 전반사거울의 초점을 고려하여 X축한계좌표(Xb)를 결정한 후, 제어부의 모션콘트롤러에 사전등록한다. 이때, X축한계좌표(Xb)는 검사대상물(인쇄회로기판)이 X축 방향(길이방향)으로 이분할되는 지점의 좌표와 동일하게 설정함이 바람직하다.
그리고, 촬영위치 제어모듈(4)의 광경로를 결정하는 단계에서는 검사대상물(7 : 인쇄회로기판)의 위치좌표에 따라 어느 광경로를 사용할 지를 판단한 후 광경로를 결정하는데, 검사대상물(7 : 인쇄회로기판)의 검사위치좌표(x,y)에서 x좌표가 X축한계좌표(Xb)보다 작은 쪽에 위치하면 제 1 광경로, 즉 Y축 회전모터(41) 및 제 1 X축 회전모터(42)의 전반사거울(411,421)에 의해 형성되는 광경로를 통해 검사를 수행하고, 검사대상물(7 : 인쇄회로기판)의 검사위치좌표(x,y)에서 x좌표가 X축한계좌표(Xb)보다 큰 쪽에 위치하면 제 2 광경로, 즉 Y축 회전모터(41) 및 제 2 X축 회전모터(42')의 전반사거울(411,421')에 의해 형성되는 광경로를 통 해 검사를 수행한다.
이에 따라, 본 발명의 비전검사방법은 검사대상물(7 : 인쇄회로기판)을 X축 방향으로 이분할한 후, 분할된 각 검사영역에 대하여 제 1,2 광경로를 선택하여 검사를 수행하므로써, X축 방향(길이방향)으로 길이가 긴 검사대상물(인쇄회로기판)에 대해서도 표면실장부품의 형상왜곡정도를 최소화할 수 있어 정확한 영상을 획득할 수 있다.
도 3은 본 발명에 따른 비전검사방법의 또 다른 실시예를 설명하기 위한 순서도인데, 본 발명의 또 다른 실시예에 의한 비전검사방법은 X축 방향은 물론 Y축 방향으로 면적이 큰 검사대상물(인쇄회로기판)을 검사하기 위해 촬영위치 제어모듈에서 광경로를 변경함과 아울러 기판위치 제어모듈에서 검사대상물을 Y축 방향으로 이동시키는 단계를 더 포함한다.
도 3을 참조하면, 우선, 모션 컨트롤러에 검사대상물(인쇄회로기판)의 X축한계좌표(Xb)를 등록하고, 검사대상물(인쇄회로기판)을 선정한다.
이때에는, 여러가지 형태의 검사대상물별로 X축한계좌표(Xb)를 입력하며, 이렇게 입력된 X축한계좌표(Xb)를 기준으로 검사대상물(인쇄회로기판)을 선정하게 된다.
이후, 상기 모션 콘트롤러에 상기 검사대상물(인쇄회로기판)의 Y축한계좌표(Yb)를 등록한다. 이러한 Y축한계좌표(Yb)는 검사대상물(인쇄회로기판)을 Y축 방향으로 이분할되는 지점과 동일하게 설정된다.
위와 같이 검사대상물(인쇄회로기판)에 대한 X축한계좌표(Xb)와 Y축한계좌표(Yb)를 입력하면, 모션컨트롤러에서는 하나의 광경로에서 검사가 가능한 검사대상물(인쇄회로기판)의 검사영역을 다분할하고, 각 검사영역의 검사순서를 결정한다.
이때, 다분할되는 검사영역은 검사대상물이 사각판형태 인쇄회로기판일 경우 각 검사영역의 면적이 동일하게 4분할함이 바람직한데, 도 4는 본 발명의 비전검사장치의 검사대상물로써 적용되는 사각판형태 인쇄회로기판가 다분할된 상태를 보인 기판위치 제어모듈의 평면구성도이다.
도 4를 참조하면, 검사대상물(7')로써 사각판형태 인쇄회로기판은 X축한계좌표(Xb)와 Y축한계좌표(Yb)가 인쇄회로기판의 X, Y축 방향으로 이분할되는 지점과 동일하므로 인쇄회로기판은 십자형태로 분할되며, 모션컨트롤러는 모든 검사위치에 대하여 검사영역을 할당한다. 이와 같이 분할된 검사영역을 A-B-C-D로 지정하면, 각 검사영역의 검사순서는 반시계방향인 A-B-C-D로 정해진다.
이후, 상기 모션 컨트롤러를 통해 기판위치 제어모듈을 제어하여 상기 검사대상물(7' : 인쇄회로기판)을 적정 검사위치에 고정한 후, 독립조명부에서 상기 검사대상물(7' : 인쇄회로기판)을 조명한다. 이때, 컨베이어 구조물로 구성되는 기판위치 제어모듈(2)을 통해 인입되는 검사대상물(7' : 인쇄회로기판)은 A검사영역의 Y축 방향 이분할지점에 Y축 회전모터(41)의 전반사거울(411)이 위치하도록 이동/고정된다.
이후, 상기 모션 콘트롤러에서 결정된 검사순서에 따라 다분할된 각 검사영역을 순차적으로 검사하되, 상기 X축한계좌표(Xb)를 기준으로 하여 상기 검사대상 물(인쇄회로기판)의 X축 방향(길이방향)으로 양분된 검사영역의 영상을 상기 촬영위치 제어모듈(4)의 제 1,2 광경로를 통해 순차적으로 획득한다. 즉, 전술한 바와 같이 검사영역이 A-B-C-D로 분할된 경우, Y축 회전모터(41) 및 제 1 X축 회전모터(42)의 전반사거울(411,421)에 의해 형성되는 제 1 광경로를 통해 A검사영역의 영상을 획득하고, Y축 회전모터(41) 및 제 2 X축 회전모터(42')의 전반사거울(411,421')에 의해 형성되는 제 2 광경로를 통해 B검사영역의 영상을 획득한다.
이와 같이 A,B검사영역의 영상획득이 완료되면, 상기 기판위치 제어모듈(2)을 통해 검사대상물(인쇄회로기판)을 Y축한계좌표(Yb)만큼 이동시킨다. 도 4를 참조하면, 검사대상물(7' : 인쇄회로기판)의 이동은 기판위치 제어모듈(2)에 구비되는 한조의 볼스크류(22,22') 및 제 1,2 스탭모터(23,23')를 이용하여 검사대상물(7')을 -Yb만큼 이동하되, C검사영역의 Y축 방향 이분할지점이 Y축 회전모터(41)의 전반사거울(411)의 중앙에 일치하도록 검사대상물(7' : 인쇄회로기판)을 이동시킨다. 이때, 볼스크류(22,22')를 구동하는 각 스탭모터(23,23')는 컨베이어 몸체(21,21')를 동시에 이동시킬 수 있도록 동기운전된다.
이와 같이 검사대상물(7')을 Y축한계좌표(Yb)만큼 이동시킨 후에는 상기 X축한계좌표(Xb)를 기준으로 하여 상기 검사대상물(7' : 인쇄회로기판)의 길이방향으로 양분된 검사영역의 영상을 상기 촬영위치 제어모듈의 제 2,1 광경로를 통해 순차적으로 획득한다. 즉, B검사영역의 영상획득을 마친 상태에서 촬영위치 제어모듈(4)은 Y축 회전모터(41) 및 제 2 X축 회전모터(42')의 전반사거울(411,421')에 의해 형성되는 제 2 광경로가 설정되어 있으므로, 이러한 제 2 광경로를 통해 C검사영역의 영상을 획득한 후, Y축 회전모터(41) 및 제 1 X축 회전모터(42)의 전반사거울(411,421)에 의해 형성되는 제 1광경로를 통해 D검사영역의 영상을 획득한다.
한편, 각 검사영역별로 카메라(5)에 입사되는 영상은 디지털 데이터로 변환하는 단계(S8)를 거친 후, 비전처리부에서 획득한 영상을 판독하여 각 검사영역에 실장된 표면실장부품의 양호, 불량여부를 판정하게 된다.
이에 따라, 본 발명의 또 다른 실시예에 의한 비전검사방법은 검사대상물( 인쇄회로기판)의 검사영역을 다분할한 상태에서 각 검사영역의 검사하되, 기판위치 제어모듈에 의해 검사대상물(인쇄회로기판)을 Y축 방향으로 이동시키는 동작을 최소화할 수 있는 검사순서를 통해 검사를 수행함에 따라 검사효율을 증대할 수 있는 것이다.
이상과 같이 본 발명에 따른 한조의 X축 전반사 거울을 이용한 비전검사장치 및 비전검사방법은 2개의 광경로를 통해 검사대상물(인쇄회로기판)의 영상을 획득할 수 있도록 촬영위치 제어모듈에 한조의 X축 전반사 거울을 설치하여, X축 방향으로 면적이 큰 검사대상물(인쇄회로기판)의 비전검사시 표면실장부품의 형상왜곡정도를 최소화함에 따라 정확한 영상을 획득할 수 있는 효과가 있다.
또한, 검사대상물(인쇄회로기판)이 X축 방향은 물론 Y축 방향으로 면적이 큰 경우에도 검사대상물의 검사영역을 다분할하고 검사대상물(인쇄회로기판)의 이 동을 최소화할 수 있는 검사순서에 의거 비전검사를 수행하므로써 검사효율을 증대할 수 있는 효과가 있다.

Claims (7)

  1. 삭제
  2. 삭제
  3. 모션컨트롤러에 검사대상물의 X축한계좌표(Xb)를 등록하는 단계;
    상기 모션컨트롤러의 제어를 받는 기판위치 제어모듈이 검사대상물을 적정 검사위치에 고정하고, 상기 고정된 검사대상물을 독립조명부에서 조명하는 단계;
    상기 모션컨트롤러가 기판위치 제어모듈에 의해 위치 고정된 검사대상물의 좌표와 기등록된 X축한계좌표(Xb)를 비교하여 촬영위치 제어모듈의 광경로를 결정하는 단계;
    상기 촬영위치 제어모듈에서 결정된 광경로에 따라 카메라가 검사대상물의 영상을 촬영한 후 이를 디지털 데이터로 변환하여 비전검사부에 출력하는 단계;
    상기 비전검사부가 카메라에 의해 변환 출력된 영상데이터를 판독하여 상기 검사대상물의 표면실장부품의 양호, 불량여부를 판정하는 단계; 를 포함하여 진행하고,
    상기 비전검사부의 검사대상물에 대한 비전검사는,
    상기 검사대상물의 위치좌표가 상기 X축한계좌표(Xb)보다 작을 경우 촬영위치 제어모듈의 제 1 X축 회전모터와 Y축 회전모터에 부착된 전반사거울에 의해 형성되는 제 1 광경로를 통해 진행하고,
    상기 검사대상물의 위치좌표가 상기 X축한계좌표(Xb)보다 큰 경우에는 상기 촬영위치 제어모듈의 제 1 X축 회전모터와 Y축 회전모터에 부착된 전반사거울에 의해 형성되는 제 2 광경로를 통해 진행하는 것을 특징으로 하는 한조의 X축 전반사 거울을 이용한 비전검사방법.
  4. 삭제
  5. 제 3항에 있어서, 상기 X축한계좌표(Xb)는 촬영위치 제어모듈에 포함되는 전반사거울의 초점을 고려하여 상기 검사대상물이 X축 방향(길이방향)으로 이분할되는 지점의 좌표와 동일하게 설정됨을 특징으로 하는 한조의 X축 전반사 거울을 이용한 비전검사방법.
  6. 모션 컨트롤러에 검사대상물의 X축한계좌표(Xb)를 사전 등록하고, 상기 X축한계좌표(Xb)를 기준으로 검사대상물을 선정하는 단계;
    상기 모션 콘트롤러에 상기 검사대상물의 Y축한계좌표(Yb)를 사전 등록하는 단계;
    상기 모션 컨트롤러에 사전 등록된 X축한계좌표(Xb)와 Y축한계좌표(Yb)를 참조하여 상기 검사대상물의 검사영역을 다분할하고, 분할된 각 검사영역의 검사순서를 결정하는 단계;
    상기 모션 컨트롤러의 제어를 받는 기판위치 제어모듈이 상기 검사대상물을 적정 검사위치에 고정하고, 상기 고정된 검사대상물을 독립조명부에서 조명하는 단계;
    상기 모션 콘트롤러에 의해 결정된 검사순서에 따라 다분할된 각 검사영역을 순차적으로 검사하되, 상기 X축한계좌표(Xb)를 기준으로 상기 검사대상물의 길이방향으로 양분된 검사영역의 영상을 촬영위치 제어모듈의 제1,2 광경로를 통해 카메라에서 순차적으로 획득하는 단계;
    상기 카메라를 통해 X축한계좌표(Xb)를 기준으로 순차적인 영상 획득이 이루어질 때, 기판위치 제어모듈이 검사대상물을 Y축한계좌표(Yb)만큼 이동시키는 단계;
    상기 X축한계좌표(Xb)를 기준으로 상기 검사대상물의 길이방향으로 양분된 검사영역의 영상을 상기 촬영위치 제어모듈의 제 2,1 광경로를 통해 카메라에서 순차적으로 획득하는 단계;
    상기 각 검사영역별로 카메라에 의해 영상 획득시, 상기 영상을 카메라가 디지털 데이터로 변환한 후 비전검사부로 출력하는 단계; 및
    비전검사부가 카메라를 통해 디지털 데이터로 변환출력되는 영상을 판독하여 상기 검사대상물의 표면실장부품의 양호, 불량여부를 판정하는 단계; 를 포함하여 진행하는 것을 특징으로 하는 한조의 X축 전반사 거울을 이용한 비전검사방법.
  7. 제 6항에 있어서, 상기 Y축한계좌표(Yb)는 상기 검사대상물이 Y축 방향(폭방향)에서 이분할되는 지점의 좌표와 동일하게 설정됨을 특징으로 하는 한조의 X축 전반사 거울을 이용한 비전검사방법.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101015807B1 (ko) * 2008-04-08 2011-02-22 한국영상기술(주) 표면 검사 장치 및 표면 검사 방법
KR101045370B1 (ko) * 2009-08-21 2011-06-30 주식회사 나래나노텍 롤과 인쇄 대상물 간의 실시간 얼라인 확인 장치 및 방법, 및 이를 구비한 패턴 형성용 롤 인쇄 장치
KR102246343B1 (ko) * 2019-08-14 2021-04-30 한국생산기술연구원 라만 분석을 이용한 화학 증착 공정용 인시츄 물성 평가 장치

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06213635A (ja) * 1993-01-21 1994-08-05 Matsushita Electric Ind Co Ltd 実装済みプリント基板の検査装置
KR19990050121A (ko) * 1997-12-16 1999-07-05 윤종용 화상 인식 부품 검사장치
KR20010017027A (ko) * 1999-08-06 2001-03-05 주식회사 성진네텍 가동거울을 이용한 제품 검사방법 및 컴퓨터 비젼시스템
KR20010076687A (ko) * 2000-01-27 2001-08-16 김주환 라인스캔 카메라 및 미러를 이용한 대형 패널 표면 검사장치

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06213635A (ja) * 1993-01-21 1994-08-05 Matsushita Electric Ind Co Ltd 実装済みプリント基板の検査装置
KR19990050121A (ko) * 1997-12-16 1999-07-05 윤종용 화상 인식 부품 검사장치
KR20010017027A (ko) * 1999-08-06 2001-03-05 주식회사 성진네텍 가동거울을 이용한 제품 검사방법 및 컴퓨터 비젼시스템
KR20010076687A (ko) * 2000-01-27 2001-08-16 김주환 라인스캔 카메라 및 미러를 이용한 대형 패널 표면 검사장치

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