KR20100092620A - 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법 - Google Patents

플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법 Download PDF

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Abstract

본 발명은 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법에 관한 것이다.
본 발명에 따른 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법은 복수의 서브필드(Sub-Field) 중 임의의 두 개의 서브필드의 어드레스 기간에서 스캔 전극에 스캔 신호를 공급하는 순서를 다르게 하는 과정 및 각각의 서브필드에서 스캔 신호를 공급하는 순서에 따라 어드레스 기간 이전의 리셋 기간에서 스캔 전극에 공급되는 상승 램프 신호(Ramp-Up)의 최대 전압을 다르게 조절하는 과정을 포함할 수 있다.

Description

플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법{Method for Driving of Plasma Display Panel}
본 발명은 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법에 관한 것이다.
플라즈마 디스플레이 패널은 격벽으로 구획된 방전 셀(Cell) 내에 형성된 형광체 층을 포함하고, 아울러 복수의 전극(Electrode)을 포함한다.
플라즈마 디스플레이 패널의 전극에 구동 신호를 공급하면, 방전 셀 내에서는 공급되는 구동 신호에 의해 방전이 발생한다. 여기서, 방전 셀 내에서 구동 신호에 의해 방전이 될 때, 방전 셀 내에 충진 되어 있는 방전 가스가 진공자외선(Vacuum Ultraviolet rays)을 발생하고, 이러한 진공 자외선이 방전 셀 내에 형성된 형광체를 발광시켜 가시 광을 발생시킨다. 이러한 가시 광에 의해 플라즈마 디스플레이 패널의 화면상에 영상이 표시된다.
본 발명은 스캔 신호의 공급 순서에 따른 벽전하의 부족현상을 해소하기 위해 일정 주기마다 스캔 신호의 공급 순서를 변환하면서도, 변환한 스캔 신호의 공 급 순서에 따라 리셋 기간에서 공급되는 상승 램프(Ramp-Up) 신호의 최대 전압 및 하강 램프(Ramp-Down) 신호의 최저 전압 중 적어도 하나를 조절하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법을 제공하는데 그 목적이 있다.
본 발명에 따른 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법은 복수의 서브필드(Sub-Field) 중 임의의 두 개의 서브필드의 어드레스 기간에서 스캔 전극에 스캔 신호를 공급하는 순서를 다르게 하는 과정 및 각각의 서브필드에서 스캔 신호를 공급하는 순서에 따라 어드레스 기간 이전의 리셋 기간에서 스캔 전극에 공급되는 상승 램프 신호(Ramp-Up)의 최대 전압을 다르게 조절하는 과정을 포함할 수 있다.
또한, 스캔 신호를 공급하는 순서가 늦을수록 상승 램프 신호의 최대 전압을 크게 하는 것을 특징으로 할 수 있다.
또한, 스캔 신호를 공급하는 순서가 늦을수록 상승 램프 신호의 펄스폭을 크게 하는 것을 특징으로 할 수 있다.
또한, 임의의 두 개의 서브필드는 제 1 서브필드와 제 2 서브필드를 포함하고, 제 1 서브필드의 어드레스 기간에서는 복수의 스캔 전극 중 제 1 스캔 전극에 스캔 신호를 공급한 이후에 제 2 스캔 전극에 스캔 신호를 공급하고, 제 2 서브필드의 어드레스 기간에서는 제 2 스캔 전극에 스캔 신호를 공급한 이후에 제 1 스캔 전극에 스캔 신호를 공급하고, 제 1 서브필드의 리셋 기간에서 제 2 스캔 전극에 공급되는 상승 램프 신호의 최대 전압은 제 1 스캔 전극에 공급되는 상승 램프 신호의 최대 전압보다 크고, 제 2 서브필드의 리셋 기간에서 제 1 스캔 전극에 공급 되는 상승 램프 신호의 최대 전압은 제 2 스캔 전극에 공급되는 상승 램프 신호의 최대 전압보다 큰 것을 특징으로 할 수 있다.
또한, 임의의 두 개의 서브필드는 제 1 서브필드와 제 2 서브필드를 포함하고, 제 1 서브필드의 어드레스 기간에서는 복수의 스캔 전극 중 홀수 번째 스캔 전극들에 순차적으로 스캔 신호를 공급한 후, 짝수 번째 스캔 전극들에 스캔 신호를 순차적으로 공급하고, 제 1 서브필드의 리셋 기간에서 짝수 번째 스캔 전극들에 공급되는 상승 램프 신호의 최대 전압은 홀수 번째 스캔 전극들에 공급되는 상승 램프 신호의 최대 전압보다 크고, 제 2 서브필드의 어드레스 기간에서는 복수의 스캔 전극 중 짝수 번째 스캔 전극들에 순차적으로 스캔 신호를 공급한 후, 홀수 번째 스캔 전극들에 스캔 신호를 순차적으로 공급하고, 제 2 서브필드의 리셋 기간에서 홀수 번째 스캔 전극들에 공급되는 상승 램프 신호의 최대 전압은 짝수 번째 스캔 전극들에 공급되는 상승 램프 신호의 최대 전압보다 큰 것을 특징으로 할 수 있다.
또한, 제 1 서브필드의 어드레스 기간에서 홀수 번째 스캔 전극들 중 마지막 홀수 번째 스캔 전극에 공급되는 스캔 신호와 짝수 번째 스캔 전극들 중 첫 짝수 번째 스캔 전극에 공급되는 스캔 신호의 시간 차이 및 제 2 서브필드의 어드레스 기간에서 짝수 번째 스캔 전극들 중 마지막 짝수 번째 스캔 전극에 공급되는 스캔 신호와 홀수 번째 스캔 전극들 중 첫 홀수 번째 스캔 전극에 공급되는 스캔 신호의 시간 차이는 다른 임의의 두 개의 스캔 신호 간의 시간 차이보다 큰 것을 특징으로 할 수 있다.
또한, 제 1 서브필드의 어드레스 기간에서 홀수 번째 스캔 전극들 중 마지막 홀수 번째 스캔 전극에 공급되는 스캔 신호와 짝수 번째 스캔 전극들 중 첫 짝수 번째 스캔 전극에 공급되는 스캔 신호의 시간 차이 및 제 2 서브필드의 어드레스 기간에서 짝수 번째 스캔 전극들 중 마지막 짝수 번째 스캔 전극에 공급되는 스캔 신호와 홀수 번째 스캔 전극들 중 첫 홀수 번째 스캔 전극에 공급되는 스캔 신호의 시간 차이는 하나의 스캔 신호의 펄스폭보다 큰 것을 특징으로 할 수 있다.
또한, 본 발명에 따른 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법은 복수의 서브필드(Sub-Field) 중 임의의 두 개의 서브필드의 어드레스 기간에서 스캔 전극에 스캔 신호를 공급하는 순서를 다르게 하는 과정 및 각각의 서브필드에서 스캔 신호를 공급하는 순서에 따라 어드레스 기간 이전의 리셋 기간에서 스캔 전극에 공급되는 하강 램프 신호(Ramp-Down)의 최저 전압을 다르게 조절하는 과정을 포함할 수 있다.
또한, 스캔 신호를 공급하는 순서가 빠를수록 하강 램프 신호의 최저 전압을 낮게 하는 것을 특징으로 할 수 있다.
또한, 스캔 신호를 공급하는 순서가 빠를수록 하강 램프 신호의 펄스폭을 크게 하는 것을 특징으로 할 수 있다.
또한, 임의의 두 개의 서브필드는 제 1 서브필드와 제 2 서브필드를 포함하고, 제 1 서브필드의 어드레스 기간에서는 복수의 스캔 전극 중 제 1 스캔 전극에 스캔 신호를 공급한 이후에 제 2 스캔 전극에 스캔 신호를 공급하고, 제 2 서브필드의 어드레스 기간에서는 제 2 스캔 전극에 스캔 신호를 공급한 이후에 제 1 스캔 전극에 스캔 신호를 공급하고, 제 1 서브필드의 리셋 기간에서 제 1 스캔 전극에 공급되는 하강 램프 신호의 최저 전압은 제 2 스캔 전극에 공급되는 하강 램프 신호의 최저 전압보다 낮고, 제 2 서브필드의 리셋 기간에서 제 2 스캔 전극에 공급되는 하강 램프 신호의 최저 전압은 제 1 스캔 전극에 공급되는 하강 램프 신호의 최저 전압보다 낮은 것을 특징으로 할 수 있다.
또한, 제 1 서브필드의 어드레스 기간에서 제 1 스캔 전극에 스캔 신호를 공급한 이후에 전압이 점진적으로 하강하는 하강 신호를 공급하고, 제 2 스캔 전극에는 스캔 신호를 공급하기 이전에 전압이 점진적으로 하강하는 하강 신호를 공급하고, 제 2 서브필드의 어드레스 기간에서 제 2 스캔 전극에 스캔 신호를 공급한 이후에 전압이 점진적으로 하강하는 하강 신호를 공급하고, 제 1 스캔 전극에는 스캔 신호를 공급하기 이전에 전압이 점진적으로 하강하는 하강 신호를 공급하는 것을 특징으로 할 수 있다.
또한, 제 1, 2 서브필드의 어드레스 기간에서 제 1, 2 스캔 전극에 공급되는 하강 신호의 하강 기울기와 최저 전압은 서로 동일할 수 있다.
또한, 제 1 서브필드의 어드레스 기간에서 제 1 스캔 전극에 공급되는 하강 신호의 최저 전압은 리셋 기간에서 제 1 스캔 전극에 공급되는 하강 램프 신호의 최저 전압과 동일하고, 제 2 스캔 전극에 공급되는 하강 신호의 최저 전압은 리셋 기간에서 제 2 스캔 전극에 공급되는 하강 램프 신호의 최저 전압보다 낮고, 제 2 서브필드의 어드레스 기간에서 제 2 스캔 전극에 공급되는 하강 신호의 최저 전압은 리셋 기간에서 제 2 스캔 전극에 공급되는 하강 램프 신호의 최저 전압과 동일하고, 제 1 스캔 전극에 공급되는 하강 신호의 최저 전압은 리셋 기간에서 제 1 스 캔 전극에 공급되는 하강 램프 신호의 최저 전압보다 낮은 것을 특징으로 할 수 있다.
또한, 제 1, 2 서브필드에서 제 1, 2 스캔 전극에 공급되는 하강 신호의 펄스폭은 하나의 스캔 신호의 펄스폭보다 클 수 있다.
또한, 제 1 서브필드의 어드레스 기간에서 제 1 스캔 전극에 하강 신호가 공급될 때는 제 1 스캔 전극에 대응되는 방전셀에서 방전이 발생하지 않고, 제 2 스캔 전극에 하강 신호가 공급될 때는 제 2 스캔 전극에 대응되는 방전셀에서 방전이 발생하고, 제 2 서브필드의 어드레스 기간에서 제 2 스캔 전극에 하강 신호가 공급될 때는 제 2 스캔 전극에 대응되는 방전셀에서 방전이 발생하지 않고, 제 1 스캔 전극에 하강 신호가 공급될 때는 제 1 스캔 전극에 대응되는 방전셀에서 방전이 발생하는 것을 특징으로 할 수 있다.
또한, 임의의 두 개의 서브필드는 제 1 서브필드와 제 2 서브필드를 포함하고, 제 1 서브필드의 어드레스 기간에서는 복수의 스캔 전극 중 홀수 번째 스캔 전극들에 순차적으로 스캔 신호를 공급한 후, 짝수 번째 스캔 전극들에 스캔 신호를 순차적으로 공급하고, 제 1 서브필드의 리셋 기간에서 홀수 번째 스캔 전극들에 공급되는 하강 램프 신호의 최저 전압은 짝수 번째 스캔 전극들에 공급되는 하강 램프 신호의 최저 전압보다 낮고, 제 2 서브필드의 어드레스 기간에서는 복수의 스캔 전극 중 짝수 번째 스캔 전극들에 순차적으로 스캔 신호를 공급한 후, 홀수 번째 스캔 전극들에 상기 스캔 신호를 순차적으로 공급하고, 제 2 서브필드의 리셋 기간에서 짝수 번째 스캔 전극들에 공급되는 하강 램프 신호의 최저 전압은 홀수 번째 스캔 전극들에 공급되는 하강 램프 신호의 최저 전압보다 낮은 것을 특징으로 할 수 있다.
또한, 제 1 서브필드의 어드레스 기간에서 홀수 번째 스캔 전극들 중 마지막 홀수 번째 스캔 전극에 공급되는 스캔 신호와 짝수 번째 스캔 전극들 중 첫 짝수 번째 스캔 전극에 공급되는 스캔 신호의 시간 차이 및 제 2 서브필드의 어드레스 기간에서 짝수 번째 스캔 전극들 중 마지막 짝수 번째 스캔 전극에 공급되는 스캔 신호와 홀수 번째 스캔 전극들 중 첫 홀수 번째 스캔 전극에 공급되는 스캔 신호의 시간 차이는 다른 임의의 두 개의 스캔 신호 간의 시간 차이보다 큰 것을 특징으로 할 수 있다.
또한, 제 1 서브필드의 어드레스 기간에서 홀수 번째 스캔 전극들 중 마지막 홀수 번째 스캔 전극에 공급되는 스캔 신호와 짝수 번째 스캔 전극들 중 첫 짝수 번째 스캔 전극에 공급되는 스캔 신호의 시간 차이 및 제 2 서브필드의 어드레스 기간에서 짝수 번째 스캔 전극들 중 마지막 짝수 번째 스캔 전극에 공급되는 스캔 신호와 홀수 번째 스캔 전극들 중 첫 홀수 번째 스캔 전극에 공급되는 스캔 신호의 시간 차이는 하나의 스캔 신호의 펄스폭보다 큰 것을 특징으로 할 수 있다.
또한, 본 발명에 따른 또 다른 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법은 복수의 서브필드(Sub-Field) 중 임의의 두 개의 서브필드의 어드레스 기간에서 스캔 전극에 스캔 신호를 공급하는 순서를 다르게 하는 과정과, 각각의 서브필드에서 스캔 신호를 공급하는 순서에 따라 어드레스 기간 이전의 리셋 기간에서 스캔 전극에 공급되는 상승 램프 신호(Ramp-Up)의 최대 전압을 다르게 조절하는 과정 및 각각의 서브필드에서 스캔 신호를 공급하는 순서에 따라 어드레스 기간 이전의 리셋 기간에서 스캔 전극에 공급되는 하강 램프 신호(Ramp-Down)의 최저 전압을 다르게 조절하는 과정을 포함할 수 있다.
본 발명에 따른 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법은 일정 주기마다 스캔 신호의 공급 순서를 변환하면서, 변환한 스캔 신호의 공급 순서에 따라 리셋 기간에서 공급되는 상승 램프(Ramp-Up) 신호의 최대 전압 및 하강 램프(Ramp-Down) 신호의 최저 전압 중 적어도 하나를 다르게 조절함으로써, 어드레스 방전을 안정시키며 휘도 단차를 줄이는 효과가 있다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법을 상세히 설명한다.
도 1은 플라즈마 디스플레이 장치의 구성에 대해 설명하기 위한 도면이다.
도 1을 살펴보면, 플라즈마 디스플레이 장치는 플라즈마 디스플레이 패널(100)과 구동부(110)를 포함할 수 있다.
플라즈마 디스플레이 패널(100)은 서로 나란한 스캔 전극(Y1~Yn)과 서스테인 전극(Z1~Zn)을 포함하고, 아울러 스캔 전극 및 서스테인 전극과 교차하는 어드레스 전극(X1~Xm)을 포함할 수 있다. 아울러, 플라즈마 디스플레이 패널(100)은 복수의 서브필드(Subfield)를 포함하는 프레임(Frame)으로 영상을 구현할 수 있다.
구동부(110)는 플라즈마 디스플레이 패널(100)의 스캔 전극, 서스테인 전극 또는 어드레스 전극 중 적어도 하나로 구동신호를 공급하여, 플라즈마 디스플레이 패널(100)의 화면에 영상이 구현되도록 할 수 있다. 바람직하게는, 구동부(110)는 일정 주기마다 플라즈마 디스플레이 패널(100)의 스캔 전극에 스캔 신호를 공급하는 순서를 변경하면서, 변경한 스캔 신호의 공급 순서에 따라 상승 램프 신호(Ramp-Up)의 최대 전압 및 하강 램프 신호(Ramp-Down)의 최저 전압 중 적어도 하나를 조절할 수 있다. 자세하게는, 구동부(110)는 복수의 서브필드(Sub-Field) 중 임의의 두 개의 서브필드의 어드레스 기간에서 스캔 전극에 스캔 신호를 공급하는 순서를 다르게 하면서, 각각의 서브필드에서 스캔 신호를 공급하는 순서에 따라 어드레스 기간 이전의 리셋 기간에서 스캔 전극에 공급되는 상승 램프 신호(Ramp-Up)의 최대 전압을 다르게 조절하고, 각각의 서브필드에서 스캔 신호를 공급하는 순서에 따라 어드레스 기간 이전의 리셋 기간에서 스캔 전극에 공급되는 하강 램프 신호(Ramp-Down)의 최저 전압을 다르게 조절할 수 있다.
여기, 도 1에서는 구동부(110)가 하나의 보드(Board) 형태로 이루어지는 경우만 도시하고 있지만, 본 발명에서 구동부(110)는 플라즈마 디스플레이 패널(100)에 형성된 전극에 따라 복수개의 보드 형태로 나누어지는 것도 가능하다. 예를 들면, 구동부(110)는 플라즈마 디스플레이 패널(100)의 스캔 전극을 구동시키는 제 1 구동부(미도시)와, 서스테인 전극을 구동시키는 제 2 구동부와, 어드레스 전극을 구동시키는 제 3 구동부(미도시)로 나누어질 수 있는 것이다.
도 2는 플라즈마 디스플레이 패널의 구조에 대해 설명하기 위한 도면이다.
도 2를 살펴보면, 플라즈마 디스플레이 패널(100)은 서로 나란한 스캔 전 극(202, Y)과 서스테인 전극(203, Z)이 형성되는 전면 기판(201)과, 스캔 전극(202, Y) 및 서스테인 전극(203, Z)과 교차하는 어드레스 전극(213, X)이 형성되는 후면 기판(211)을 포함할 수 있다.
스캔 전극(202, Y)과 서스테인 전극(203, Z)이 형성된 전면 기판(201)에는 스캔 전극(202, Y) 및 서스테인 전극(203, Z)의 방전 전류를 제한하며 스캔 전극(202, Y)과 서스테인 전극(203, Z) 간을 절연시키는 상부 유전체 층(204)이 배치될 수 있다.
상부 유전체 층(204)이 형성된 전면 기판(201)에는 방전 조건을 용이하게 하기 위한 보호 층(205)이 형성될 수 있다. 이러한 보호 층(205)은 2차 전자 방출 계수가 높은 재질, 예컨대 산화마그네슘(MgO) 재질을 포함할 수 있다.
후면 기판(211) 상에는 어드레스 전극(213, X)이 형성되고, 이러한 어드레스 전극(213, X)이 형성된 후면 기판(211)의 상부에는 어드레스 전극(213, X)을 덮으며 어드레스 전극(213, X)을 절연시키는 하부 유전체 층(215)이 형성될 수 있다.
하부 유전체 층(215)의 상부에는 방전 공간 즉, 방전 셀을 구획하기 위한 스트라이프 타입(Stripe Type), 웰 타입(Well Type), 델타 타입(Delta Type), 벌집 타입 등의 격벽(212)이 형성될 수 있다. 이에 따라, 전면 기판(201)과 후면 기판(211)의 사이에서 적색(Red : R)광을 방출하는 제 1 방전 셀, 청색(Blue : B)광을 방출하는 제 2 방전 셀 및 녹색(Green : G)광을 방출하는 제 3 방전 셀 등이 형성될 수 있다.
격벽(212)은 제 1 격벽(212b)과 제 2 격벽(212a)을 포함하고, 제 1 격 벽(212b)의 높이와 제 2 격벽(212a)의 높이가 서로 다를 수 있다.
한편, 방전셀에서는 어드레스 전극(213)이 스캔 전극(202) 및 서스테인 전극(203)과 교차할 수 있다. 즉, 방전셀은 어드레스 전극(213)이 스캔 전극(202) 및 서스테인 전극(203)과 교차하는 지점에 형성되는 것이다.
격벽(212)에 의해 구획된 방전 셀 내에는 소정의 방전 가스가 채워질 수 있다.
아울러, 격벽(212)에 의해 구획된 방전 셀 내에는 어드레스 방전 시 화상표시를 위한 가시 광을 방출하는 형광체 층(214)이 형성될 수 있다. 예를 들면, 적색 광을 발생시키는 제 1 형광체 층, 청색 광을 발생시키는 제 2 형광체 층 및 녹색 광을 발생시키는 제 3 형광체 층이 형성될 수 있다.
또한, 후면 기판(211) 상에 형성되는 어드레스 전극(213)은 폭이나 두께가 실질적으로 일정할 수도 있지만, 방전 셀 내부에서의 폭이나 두께가 방전 셀 외부에서의 폭이나 두께와 다를 수도 있을 것이다. 예컨대, 방전 셀 내부에서의 폭이나 두께가 방전 셀 외부에서의 그것보다 더 넓거나 두꺼울 수 있을 것이다.
스캔 전극(202), 서스테인 전극(203) 및 어드레스 전극(213) 중 적어도 하나로 소정의 신호가 공급되면 방전셀 내에서는 방전이 발생할 수 있다. 이와 같이, 방전셀 내에서 방전이 발생하게 되면, 방전셀 내에 채워진 방전 가스에 의해 자외선이 발생할 수 있고, 이러한 자외선이 형광체층(214)의 형광체 입자에 조사될 수 있다. 그러면, 자외선이 조사된 형광체 입자가 가시광선을 발산함으로써 플라즈마 디스플레이 패널(100)의 화면에는 소정의 영상이 표시될 수 있는 것이다.
도 3은 영상의 계조를 구현하기 위한 영상 프레임(Frame)에 대해 설명하기 위한 도면이다.
도 3을 살펴보면 영상의 계조(Gray Level)를 구현하기 위한 프레임은 복수의 서브필드(Subfield, SF1~SF8)를 포함할 수 있다.
아울러, 복수의 서브필드는 방전셀을 방전이 발생하지 않을 방전셀을 선택하거나 혹은 방전이 발생하는 방전셀을 선택하기 위한 어드레스 기간(Address Period) 및 방전횟수에 따라 계조를 구현하는 서스테인 기간(Sustain Period)을 포함할 수 있다.
예를 들어, 256 계조로 영상을 표시하고자 하는 경우에 예컨대 하나의 프레임은 도 3과 같이 8개의 서브필드들(SF1 내지 SF8)로 나누어지고, 8개의 서브 필드들(SF1 내지 SF8) 각각은 어드레스 기간과 서스테인 기간을 포함할 수 있다.
또는, 프레임의 복수의 서브필드 중 적어도 하나의 서브필드는 초기화를 위한 리셋 기간을 더 포함하는 것도 가능하다.
아울러, 프레임의 복수의 서브필드 중 적어도 하나의 서브필드는 서스테인 기간을 포함하지 않을 수 있다.
한편, 서스테인 기간에 공급되는 서스테인 신호의 개수를 조절하여 해당 서브필드의 가중치를 설정할 수 있다. 즉, 서스테인 기간을 이용하여 각각의 서브필드에 소정의 가중치를 부여할 수 있다. 예를 들면, 제 1 서브필드의 가중치를 20으로 설정하고, 제 2 서브필드의 가중치를 21로 설정하는 방법으로 각 서브필드의 가 중치가 2n(단, n = 0, 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7)의 비율로 증가되도록 설정할 수 있다. 이와 같이 각 서브필드에서 가중치에 따라 각 서브필드의 서스테인 기간에서 공급되는 서스테인 신호의 개수를 조절함으로써 다양한 영상의 계조를 구현할 수 있다.
여기, 도 3에서는 하나의 영상 프레임이 8개의 서브필드로 이루어진 경우만으로 도시하고 설명하였지만, 이와는 다르게 하나의 영상 프레임을 이루는 서브필드의 개수는 다양하게 변경될 수 있다. 예를 들면, 제 1 서브필드부터 제 12 서브필드까지의 12개의 서브필드로 하나의 영상 프레임을 구성할 수도 있고, 10개의 서브필드로 하나의 영상 프레임을 구성할 수도 있는 것이다.
또한, 여기 도 3에서는 하나의 영상 프레임에서 가중치의 크기가 증가하는 순서에 따라 서브필드들이 배열되었지만, 이와는 다르게 하나의 영상 프레임에서 서브필드들이 가중치가 감소하는 순서에 따라 배열될 수도 있고, 또는 가중치에 관계없이 서브필드들이 배열될 수도 있는 것이다.
한편, 프레임에 포함된 복수의 서브필드 중 적어도 하나는 선택적 소거 서브필드(Selective Erase Subfield, SE)이고, 아울러 복수의 서브필드 중 적어도 하나는 선택적 쓰기 서브필드(Selective Write Subfield, SW)인 것도 가능하다.
하나의 프레임이 적어도 하나의 선택적 소거 서브필드와 선택적 쓰기 서브필드를 포함하는 경우에는, 프레임의 복수의 서브필드 중 첫 번째 서브필드 또는 첫 번째 서브필드와 두 번째 서브필드가 선택적 쓰기 서브필드이고, 나머지는 선택적 소거 서브필드인 것이 바람직할 수 있다.
여기서, 선택적 소거 서브필드는 어드레스 기간에서 어드레스 전극에 데이터 신호(Data)가 공급된 방전셀을 어드레스 기간 이후의 서스테인 기간에서 오프(Off)시키는 서브필드이다.
이러한 선택적 소거 서브필드는 오프시킬 방전셀을 선택하기 위한 어드레스 기간과 어드레스 기간에서 선택되지 않은 방전셀에서 서스테인 방전을 발생시키는 서스테인 기간을 포함할 수 있다.
선택적 쓰기 서브필드는 어드레스 기간에서 어드레스 전극에 데이터 신호(Data)가 공급된 방전셀을 어드레스 기간 이후의 서스테인 기간에서 온(On)시키는 서브필드이다.
이러한 선택적 쓰기 서브필드는 방전셀들을 초기화하기 위한 리셋 기간, 온시킬 방전셀을 선택하기 위한 어드레스 기간 및 어드레스 기간에서 선택된 방전셀에서 서스테인 방전을 발생시키는 서스테인 기간을 포함할 수 있다.
도 4는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법을 개략적으로 설명하기 위한 도면이다. 이하에서 설명될 구동 파형은 앞선 도 1의 구동부(110)가 공급하는 것이다.
도 4를 살펴보면, 프레임(Frame)의 복수의 서브필드(Sub-Field) 중 적어도 하나의 서브필드의 초기화를 위한 리셋 기간(Reset Period : RP)에서는 스캔 전극(Y)으로 리셋 신호(RS)를 공급할 수 있다. 여기서, 리셋 신호(RS)는 전압이 점진적으로 상승하는 상승 램프 신호(Ramp-Up : RU) 및 전압이 점진적으로 하강하는 하강 램프 신호(Ramp-Down : RD)를 포함할 수 있다.
예를 들면, 리셋 기간의 셋업 기간(SU)에서는 스캔 전극에 상승 램프 신호(RU)가 공급되고, 셋업 기간 이후의 셋다운 기간(SD)에서는 스캔 전극에 하강 램프 신호(RD)가 공급될 수 있다.
스캔 전극에 상승 램프 신호가 공급되면, 상승 램프 신호에 의해 방전 셀 내에는 약한 암방전(Dark Discharge), 즉 셋업 방전이 일어난다. 이 셋업 방전에 의해 방전 셀 내에는 벽 전하(Wall Charge)의 분포가 균일해질 수 있다.
상승 램프 신호가 공급된 이후, 스캔 전극에 하강 램프 신호가 공급되면, 방전 셀 내에서 미약한 소거 방전(Erase Discharge), 즉 셋다운 방전이 발생한다. 이 셋다운 방전에 의해 방전 셀 내에는 어드레스 방전이 안정되게 일어날 수 있을 정도의 벽전하가 균일하게 잔류될 수 있다.
리셋 기간 이후의 어드레스 기간(AP)에서는 하강 램프 신호의 최저 전압보다는 높은 전압을 갖는 스캔 기준 신호(Ybias)가 스캔 전극에 공급될 수 있다.
또한, 어드레스 기간에서는 스캔 기준 신호(Ybias)의 전압으로부터 하강하는 스캔 신호(Sc)가 스캔 전극에 공급될 수 있다.
한편, 적어도 하나의 서브필드의 어드레스 기간에서 스캔 전극으로 공급되는 스캔 신호의 펄스폭은 다른 서브필드의 스캔 신호의 펄스폭과 다를 수 있다. 예컨대, 시간상 뒤에 위치하는 서브필드에서의 스캔 신호의 폭이 앞에 위치하는 서브필드에서의 스캔 신호의 폭보다 작을 수 있다. 또한, 서브필드의 배열 순서에 따른 스캔 신호 폭의 감소는 2.6㎲(마이크로초), 2.3㎲, 2.1㎲, 1.9㎲ 등과 같이 점진적으로 이루어질 수 있거나 2.6㎲, 2.3㎲, 2.3㎲, 2.1㎲......1.9㎲, 1.9㎲ 등과 같 이 이루어질 수도 있다.
이와 같이, 스캔 신호가 스캔 전극으로 공급될 때, 스캔 신호에 대응되게 어드레스 전극(X)에 데이터 신호(Dt)가 공급될 수 있다.
이러한 스캔 신호와 데이터 신호가 공급되면, 스캔 신호와 데이터 신호 간의 전압 차와 리셋 기간에 생성된 벽 전하들에 의한 벽 전압이 더해지면서 데이터 신호가 공급되는 방전 셀 내에는 어드레스 방전이 발생될 수 있다.
아울러, 어드레스 방전이 발생하는 어드레스 기간에서 서스테인 전극에는 스캔 전극과 어드레스 전극 사이에서 어드레스 방전이 효과적으로 발생하도록 하기 위해 서스테인 기준 신호(Zbias)신호를 공급할 수 있다.
어드레스 기간 이후의 서스테인 기간(SP)에서는 스캔 전극 또는 서스테인 전극 중 적어도 하나에 서스테인 신호(SUS)가 공급될 수 있다. 예를 들면, 스캔 전극과 서스테인 전극에 교번적으로 서스테인 신호가 공급될 수 있다.
이러한 서스테인 신호가 공급되면, 어드레스 방전에 의해 선택된 방전 셀은 방전 셀 내의 벽 전압과 서스테인 신호의 서스테인 전압(Vs)이 더해지면서 서스테인 신호가 공급될 때 스캔 전극과 서스테인 전극 사이에 서스테인 방전 즉, 표시방전이 발생될 수 있다.
이러한 방식으로 영상을 구현할 수 있다.
도 5a 및 도 5b 내지 도 9는 본 발명에 따른 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법의 일례에 대해 설명하기 위한 도면이다.
먼저, 도 5a를 살펴보면 어드레스 기간에서 스캔 전극에 스캔 신호(Sc)를 공 급하는 순서에 따라 리셋 기간에서 공급되는 상승 램프 신호(Ramp-Up)의 최대 전압을 조절할 수 있다.
아울러, 스캔 신호를 공급하는 순서가 늦을수록 상승 램프 신호의 최대 전압을 크게 하는 것이 가능할 수 있다.
예를 들면, 도 5a의 경우와 같이 제 1 스캔 전극(Y1)과 제 2 스캔 전극(Y2) 중 제 2 스캔 전극보다 제 1 스캔 전극에 먼저 스캔 신호가 공급될 수 있다. 이러한 경우에는, 제 1 스캔 전극에는 리셋 기간이 종료된 시점부터 d1의 시간이 흐른 이후에 스캔 신호가 공급되고, 제 2 스캔 전극에는 리셋 기간이 종료된 시점부터 d1보다 긴 d2의 시간이 흐른 이후에 스캔 신호가 공급될 수 있다.
이러한 도 5a와 같은 경우에, 제 1 스캔 전극에는 리셋 기간에서 최대 전압이 제 1 전압(V1)인 제 1 상승 램프 신호(RU1)가 공급되고, 제 2 스캔 전극에는 리셋 기간에서 최대 전압이 제 1 전압(V1)보다 높은 제 2 전압(V2)인 제 2 상승 램프 신호(RU2)가 공급될 수 있다. 그러면, 제 1 스캔 전극에 대응되는 방전셀에서 발생하는 어드레스 방전과 제 2 스캔 전극에 대응되는 방전셀에서 발생하는 어드레스 방전을 균일하게 할 수 있다.
또한, 복수의 스캔 전극(Y1~Yn)을 스캔 순서에 따라 적어도 2개의 스캔 전극 그룹으로 구분하고, 구분한 스캔 전극 그룹별로 상승 램프 신호의 최대 전압을 다르게 하는 것이 가능하다.
예를 들면, 도 5b의 경우와 같이 스캔 신호가 Y1, Y2......Yn의 순서로 공급되는 경우에, 복수의 스캔 전극(Y1~Yn) 중 Y1~Y((n/2)-1)을 제 1 스캔 전극 그 룹(500), Y(n/2)~Yn을 제 2 스캔 전극 그룹(510)으로 구분할 수 있다.
여기서, 제 1 스캔 전극 그룹(500)에는 앞선 도 5a의 제 1 스캔 전극(Y1)과 같이 리셋 기간에서 최대 전압이 제 1 전압(V1)인 제 1 상승 램프 신호(RU1)를 공급하고, 제 2 스캔 전극 그룹(510)에는 앞선 도 5a의 제 2 전극 전극(Y2)과 같이 리셋 기간에서 최대 전압이 제 1 전압(V1)보다 높은 제 2 전압(V2)인 제 2 상승 램프 신호(RU2)를 공급할 수 있다.
상기와 같이, 스캔 신호가 공급되는 순서에 따라 상승 램프 신호의 최대 전압을 조절하는 이유에 대해 도 6을 참조하여 설명한다.
도 6을 살펴보면, 스캔 신호가 공급되는 순서에 관계없이 최대 전압이 동일한 상승 램프 신호를 공급하는 경우의 일례가 도시되어 있다.
이러한 경우에는, 리셋 기간의 종료 시점에서 복수의 방전셀 내에 분포하는 벽전하의 양이 실질적으로 동등수준일 수 있다.
상대적으로 스캔 신호의 공급 순서가 빠른 제 1 스캔 전극(Y1)에 대응되는 방전셀에서는 리셋 기간의 종료 시점부터 d1의 시간이 지난 이후에 어드레스 방전이 발생할 수 있다. 이에 따라, 어드레스 방전의 발생시점에서 방전셀 내에는 충분한 양의 벽전하가 존재할 수 있다. 따라서 이러한 경우에 안정적인 어드레스 방전이 발생할 수 있다.
반면에, 스캔 신호의 공급 순서가 제 1 스캔 전극에 비해 늦은 제 2 스캔 전극(Y2)에 대응되는 방전셀에서는 리셋 기간의 종료 시점부터 d1보다 긴 d2의 시간이 지난 이후에 어드레스 방전이 발생할 수 있다.
여기서, 리셋 기간의 종료 시점부터 어드레스 방전이 발생하는 시점까지는 방전셀 내에서 방전이 발생하지 않고, 이에 따라 방전셀 내에서 공간전하와 벽전하가 결합하는 재결합 현상으로 인해 방전셀 내의 벽전압이 과도하게 감소할 수 있다.
이에 따라, 리셋 기간의 종료 시점부터 d2의 시간이 흐른 이후에 스캔 신호가 공급되는 제 2 스캔 전극(Y2)에 대응되는 방전셀의 경우에는 어드레스 방전의 발생시점에서 방전셀 내에 존재하는 벽전하의 양이 과도하게 적을 수 있다.
이러한 경우에는, 어드레스 전극에 데이터 신호가 공급되고, 이에 대응하여 스캔 전극에 스캔 신호가 공급되더라도 방전셀 내에서 어드레스 방전이 발생하지 않는 현상이 발생할 수 있다.
반면에, 도 5a의 본 발명과 같이 스캔 순서가 제 1 스캔 전극(Y1)에 비해 늦은 제 2 스캔 전극(Y2)의 경우에 리셋 기간에서 공급되는 제 2 상승 램프 신호(RU2)의 최대 전압을 제 1 전압(V1)보다 높은 제 2 전압(V2)으로 하는 경우에는 리셋 기간에서 제 2 스캔 전극에 대응하는 방전셀 내에 형성되는 벽전하의 양을 증가시킬 수 있다. 즉, 리셋 기간에서 제 2 스캔 전극에 대응하는 방전셀에 형성되는 벽전하의 양을 제 1 스캔 전극에 대응하는 방전셀에 형성되는 벽전하의 양보다 더 많게 하는 것이다.
그러면, 제 2 스캔 전극에 대응하는 방전셀에서 리셋 기간의 종료 시점부터 d2의 시간이 지난 이후에 어드레스 방전이 발생하더라도, 어드레스 방전의 발생 시점에서 충분한 양의 벽전하를 확보할 수 있기 때문에 어드레스 방전을 안정시킬 수 있는 것이다.
아울러, 본 발명에서는 임의의 두 개의 서브필드에서는 스캔 전극에 스캔 신호를 공급하는 순서를 다르게 할 수 있다.
예를 들면, 도 7의 (a)의 경우와 같이 제 1 서브필드(SF1)에서는 Y1, Y2......Yn의 순서로 스캔 신호를 공급하고, 제 2 서브필드(SF2)에서는 (b)의 경우와 같이 Yn......Y2, Y1의 순서로 스캔 신호를 공급할 수 있다.
이러한 도 7의 경우는 제 1 서브필드(SF1)에서의 스캔 신호의 공급방향과 제 2 서브필드(SF2)에서의 스캔 신호의 공급방향이 서로 반대인 경우이다.
도 7의 (a)와 같이 Y1, Y2......Yn의 순서로 스캔 신호를 공급하는 제 1 서브필드에서는 도 8의 (a)와 같이 리셋 기간에서 제 1 스캔 전극에 최대 전압이 제 1 전압(V1)인 제 1 상승 램프 신호(RU1)를 공급하고, 제 2 스캔 전극에는 최대 전압이 제 1 전압(V1)보다 높은 제 2 전압(V2)인 제 2 상승 램프 신호(RU2)를 공급할 수 있다.
반면에, 도 7의 (b)와 같이 Yn, Yn-1......Y2, Y1의 순서로 스캔 신호를 공급하는 제 2 서브필드에서는 제 1 서브필드와는 반대로 도 8의 (b)와 같이 리셋 기간에서 제 1 스캔 전극에 제 2 상승 램프 신호(RU2)를 공급하고, 제 2 스캔 전극에는 제 1 상승 램프 신호(RU1)를 공급할 수 있다.
즉, 임의의 두 개의 서브필드, 예컨대 제 1 서브필드와 제 2 서브필드에서 스캔 신호의 공급 순서를 다르게 조절하고, 다르게 조절된 스캔 순서에 따라 리셋 기간에서 공급되는 상승 램프 신호의 최대 전압을 다르게 조절하는 것이다.
이와 같이, 임의의 두 개의 서브필드에서 스캔 신호를 공급하는 순서를 다르게 조절하면서, 조절한 스캔 순서에 따라 상승 램프 신호의 최대 전압을 다르게 조절하는 이유에 대해 도 9를 참조하여 설명하면 다음과 같다.
도 9와 같이, 실질적으로 모든 서브필드의 어드레스 기간에서 Y1, Y2......Yn의 순서로 복수의 스캔 전극(Y1~Yn)에 스캔 신호를 공급하는 경우를 가정하여 보자.
여기서, 복수의 스캔 전극(Y1~Yn) 중 Y1~Y((n/2)-1)을 제 1 스캔 전극 그룹(900), Y(n/2)~Yn을 제 2 스캔 전극 그룹(910)으로 구분하고, 제 2 스캔 전극 그룹(910)에 비해 스캔 신호의 공급 순서가 빠른 제 1 스캔 전극 그룹(900)에는 (a)와 같이 리셋 기간에서 제 1 상승 램프 신호(RU1)를 공급하고, 제 2 스캔 전극 그룹(910)에는 (b)와 같이 리셋 기간에서 제 2 상승 램프 신호(RU2)를 공급할 수 있다.
이러한 경우에는, 리셋 기간에서 스캔 순서가 늦은 제 2 스캔 전극 그룹(910)에 대응되는 방전셀들 내에 상대적으로 많은 양의 벽전하를 형성할 수 있고, 이에 따라 어드레스 방전을 안정시키는 것이 가능하다.
반면에, 제 1 스캔 전극 그룹(900)에는 리셋 기간에 최대 전압이 상대적으로 낮은 제 1 상승 램프 신호가 공급되고, 제 2 스캔 전극 그룹(910)에는 리셋 기간에서 최대 전압이 제 1 상승 램프 신호의 최대 전압 보다 높은 제 2 상승 램프 신호가 계속해서 공급되기 때문에 리셋 기간에서 제 1 스캔 전극 그룹(900)에 대응하는 방전셀에서 발생하는 광량이 제 2 스캔 전극 그룹(910)에 대응하는 방전셀에서 발 생하는 광량에 비해 더 적을 수 있다.
따라서 도 9와 같이 제 1 스캔 전극 그룹(900)이 위치하는 영역(Top)의 휘도가 제 2 스캔 전극 그룹(910)이 위치하는 영역(Bottom)의 휘도보다 낮을 수 있고, 이에 따라 화면에 휘도 단차가 발생함으로써 화질이 악화될 수 있다.
반면에, 본 발명에서와 같이 스캔 순서에 따라 상승 램프 신호의 최대 전압을 다르게 조절하면서 임의의 두 개의 서브필드에서 스캔 신호를 공급하는 순서를 다르게 조절하는 경우에는 제 1 스캔 전극 그룹(900)과 제 2 스캔 전극 그룹(910)에 최대 전압이 서로 다른 상승 램프 신호를 교대로 공급할 수 있기 때문에 휘도 단차의 발생을 억제할 수 있다. 이에 따라, 영상의 화질을 개선할 수 있는 것이다.
도 10 내지 도 12는 더미 영역을 고려한 구동방법의 일례를 설명하기 위한 도면이다.
먼저, 도 10을 살펴보면, 스캔 전극이 배치되는 전면 기판(101)에는 영상이 표시되는 영역인 유효 영역(Active area : 1000)과 유효 영역(1000)의 외곽에 배치되는 더미 영역(Dummy area : 1010, 1020)을 포함할 수 있다.
아울러, 유효 영역(1000)에는 제 1 스캔 전극(Y1)부터 제 n 스캔 전극(Yn)이 배치될 수 있으며, 더미 영역(1010, 1020)에는 더미 스캔 전극(Yd1~Yd4)이 배치될 수 있다. 여기, 도 10에서는 더미 스캔 전극(Yd1~Yd4)의 개수가 4개인 것으로 도시하고 있지만, 더미 영역(1010, 1020)에 배치되는 더미 스캔 전극(Yd1~Yd4)의 개수는 다양하게 변경될 수 있다. 바람직하게는, 더미 영역(1010, 1020) 중 제 1 스 캔 전극(Y1)쪽에 마련된 제 1 더미 영역(1010)에 배치되는 더미 스캔 전극(Yd1, Yd2)의 개수는 제 n 스캔 전극(Yn)쪽에 마련된 제 2 더미 영역(1020)에 배치되는 더미 스캔 전극(Yd3, Yd4)의 개수와 동일할 수 있다.
한편, 전면 기판(101)은 직사각형 형태로서 L1길이를 갖는 장변과 L1보다 짧은 L2길이를 갖는 단변을 구비한다.
유효 영역(1000)에 배치되는 스캔 전극(Y1~Yn)에 스캔 신호가 공급되는 순서를 보면 앞선 도 11의 경우와 같이 임의의 제 1 서브필드의 어드레스 기간에서는 전면 기판(101)의 일측 장변으로부터 타측 장변을 향하는 방향으로 유효 영역(1000)에 배치되는 복수의 스캔 전극(Y1~Yn)에 순차적으로 스캔 신호를 공급할 수 있다.
여기서, 전면 기판(101)의 일측 장변은 제 1 스캔 전극(Y1)이 배치되는 쪽의 장변이고, 타측 장변은 제 n 스캔 전극(Yn)이 배치되는 쪽의 장변인 것으로서, 제 1 서브필드에서는 제 1 스캔 전극(Y1)부터 제 n 스캔 전극(Yn)까지 순차적으로 스캔 신호가 공급되는 것을 의미할 수 있다.
아울러, 임의의 제 2 서브필드의 어드레스 기간에서는 도 12의 경우와 같이 전면 기판(101)의 타측 장변으로부터 일측 장변을 향하는 방향으로 유효 영역(1000)에 배치되는 복수의 스캔 전극(Y1~Yn)에 순차적으로 스캔 신호를 공급할 수 있다. 즉, 제 2 프레임에서는 제 n 스캔 전극(Yn)부터 제 1 스캔 전극(Y1)까지 순차적으로 스캔 신호가 공급되는 것을 의미할 수 있다.
또한, 유효 영역(1000)에 배치되는 방전셀 내에서 어드레스 방전을 보다 안 정적으로 발생시키기 위해 더미 영역(1010, 1020)에 배치되는 더미 스캔 전극(Yd1~Yd4)에도 스캔 신호를 공급할 수 있다.
예를 들면, 제 1 서브필드에서는 도 11의 경우와 같이 스캔 신호 중 공급시점이 가장 빠른 첫 번째 스캔 신호는 t0시점에서 제 1 더미 영역(1010)에 배치되는 제 1 더미 스캔 전극(Yd1)에 공급되고, 두 번째 스캔 신호는 t1시점에서 제 2 더미 스캔 전극(Yd2)에 공급될 수 있다.
그리고 유효 영역(1000)에 배치되는 스캔 전극(Y1~Yn)에는 제 1 스캔 전극(Y1)부터 제 n 스캔 전극(Yn)까지 순차적으로 스캔 신호가 공급될 수 있다.
그리고 제 1 스캔 전극(Y1)부터 제 n 스캔 전극(Yn)까지 스캔 신호의 공급이 종료되면 제 2 더미 영역(1020)에 배치되는 제 3 더미 스캔 전극(Yd3)에 t10시점에서 스캔 신호를 공급하고, 이후 제 4 더미 스캔 전극(Yd4)에 t11시점에서 스캔 신호를 공급할 수 있다.
아울러, 임의의 제 2 서브필드에서는 도 12의 경우와 같이 제 1 서브필드와는 역순으로 스캔 신호 중 공급시점이 가장 빠른 첫 번째 스캔 신호는 t0시점에서 제 2 더미 영역(1020)에 배치되는 제 4 더미 스캔 전극(Yd4)에 공급되고, 두 번째 스캔 신호는 t1시점에서 제 3 더미 스캔 전극(Yd3)에 공급될 수 있다.
그리고 유효 영역(1000)에 배치되는 스캔 전극(Y1~Yn)에는 제 n 스캔 전극(Yn)부터 제 1 스캔 전극(Y1)까지 순차적으로 스캔 신호가 공급될 수 있다.
그리고 제 n 스캔 전극(Yn)부터 제 1 스캔 전극(Y1)까지 스캔 신호의 공급이 종료되면 제 1 더미 영역(1010)에 배치되는 제 2 더미 스캔 전극(Yd2)에 t12시점에 서 스캔 신호를 공급하고, 이후 제 1 더미 스캔 전극(Yd1)에 t13시점에서 스캔 신호를 공급할 수 있다.
이와 같이, 유효 영역(1000)에 배치된 스캔 전극(Y1~Yn)뿐만 아니라, 더미 영역(1010, 1020)에 배치되는 더미 스캔 전극(Yd1~Yd4)에도 스캔 신호를 공급하게 되면, 더미 영역(1010, 1020)과 유효 영역(1000)의 경계 부분에서 벽전하의 양을 충분히 증가시킬 수 있어서 어드레스 방전을 더욱 안정시킬 수 있다.
아울러, 더미 스캔 전극(Yd1~Yd4)에 스캔 신호를 공급하는 순서도 유효 영역(1000)에 배치되는 스캔 전극(Y1~Yn)에 공급되는 스캔 신호의 공급 순서에 따라 일정 주기에 따라 다르게 변환하게 되면 어드레스 방전을 더욱 안정시키는 것이 가능하다.
아울러, 상기와 같은 방법으로 더미 영역(1010, 1020)에 배치되는 더미 스캔 전극에 스캔 신호를 공급하는 경우에는 복수의 스캔 신호 중 공급시점이 가장 빠른 첫 번째 스캔 신호와 공급시점이 가장 늦은 마지막 스캔 신호는 더미 영역(1010, 1020)에 배치되는 더미 스캔 전극(Yd1~Yd4)에 공급될 수 있다.
도 13은 스캔 신호를 공급하는 순서를 전환하는 주기에 대해 설명하기 위한 도면이다. 여기서, A 방식은 도 8의 (a)의 경우와 같이 제 1 스캔 전극(Y1)부터 제 n 스캔 전극(Yn)까지 순차적으로 스캔 신호를 공급하면서 스캔 순서에 따라 상승 램프 신호의 최대 전압을 조절하는 방식이고, B 방식은 도 8의 (b)의 경우와 같이 제 n 스캔 전극(Yn)부터 제 1 스캔 전극(Y1)까지 역순으로 스캔 신호를 공급하면서 스캔 순서에 따라 상승 램프 신호의 최대 전압을 조절하는 방식이라고 가정하 자.
도 13을 살펴보면, 복수의 스캔 전극에 스캔 신호를 공급하는 순서는 일정 주기마다 변경될 수 있다.
예를 들면, (a)와 같이 한 프레임마다 스캔 신호를 공급하는 순서를 역순으로 전환할 수 있다.
자세하게는, 제 1 프레임(Frame1)의 모든 서브필드에서는 A 방식으로 스캔 신호를 공급하고, 제 2 프레임(Frame2)의 모든 서브필드에서는 B 방식으로 스캔 신호를 공급할 수 있고, 이후 제 3 프레임(Frame3)에서는 또 다시 A 방식으로 스캔 신호를 공급할 수 있다.
이와 같이, 한 개의 프레임 주기 마다 스캔 신호를 공급하는 순서를 역순으로 전환할 수 있다.
또는, (b)와 같이 제 1 프레임(Frame1)과 제 2 프레임(Frame2)에서는 A 방식으로 스캔 신호를 공급하고, 제 3 프레임(Frame3)과 제 4 프레임(Frame4)에서는 B 방식으로 스캔 신호를 공급할 수 있고, 이후 제 5 프레임(Frame5)과 제 6 프레임(Frame6)에서는 또 다시 A 방식으로 스캔 신호를 공급할 수 있다.
이와 같이, 두 개의 프레임 주기 마다 스캔 신호를 공급하는 순서를 역순으로 전환할 수 있다.
또는, (C)와 같이 제 1 프레임(Frame1), 제 2 프레임(Frame2) 및 제 3 프레임(Frame3)에서는 A 방식으로 스캔 신호를 공급하고, 제 4 프레임(Frame4), 제 5 프레임(Frame5) 및 제 6 프레임(Frame6)에서는 B 방식으로 스캔 신호를 공급할 수 있다.
이와 같이, 세 개의 프레임 주기 마다 스캔 신호를 공급하는 순서를 역순으로 전환할 수 있다.
도 13의 경우와 같이 소정 개수의 프레임을 주기로 하여 스캔 신호를 공급하는 순서를 다르게 하는 것이 가능하고, 아울러 소정 개수의 서브필드를 주기로 하여 스캔 신호를 공급하는 순서를 다르게 하는 것도 가능할 수 있다.
도 14 내지 도 15는 스캔 전극 그룹을 구분하는 또 다른 방법의 일례를 설명하기 위한 도면이다. 이하에서는, 앞서 상세히 설명한 내용에 대해서는 중복되는 생략하기로 한다.
먼저, 도 14를 살펴보면 복수의 스캔 전극(Y1~Yn)들을 홀수 번째 스캔 전극(Y1, Y3, Y5......Y(n-1))들을 포함하는 홀수 스캔 전극 그룹(Yodd)고, 짝수 번째 스캔 전극(Y2, Y4......Yn)들을 포함하는 짝수 스캔 전극 그룹(Yeven)으로 구분할 수 있다.
아울러, 홀수 번째 스캔 전극들에 순차적으로 스캔 신호를 공급한 이후에, 다시 짝수 번째 스캔 전극들에 순차적으로 스캔 신호를 공급할 수 있다. 즉, 스캔 신호의 공급 순서가 Y1, Y3......Y(n-1), Y2, Y4......Yn인 것이다.
이러한 경우에도, 도 15의 (a)와 같이 제 1 서브필드(SF1)에서는 홀수 스캔 전극 그룹(Yodd)의 스캔 전극들에 스캔 신호를 순차적으로 공급하고, 이후 짝수 스캔 전극 그룹(Yeven)에 순차적으로 스캔 신호를 공급할 수 있다.
아울러, 리셋 기간에서 홀수 스캔 전극 그룹의 스캔 전극들에 최대 전압이 제 1 전압(V1)인 제 1 상승 램프 신호(RU1)를 공급하고, 짝수 스캔 전극 그룹의 스캔 전극들에는 최대 전압이 제 1 전압(V1)보다 높은 제 2 전압(V2)인 제 2 상승 램프 신호(RU2)를 공급할 수 있다.
또한, 도 15의 (b)와 같이 제 2 서브필드(SF2)에서는 짝수 스캔 전극 그룹(Yeven)의 스캔 전극들에 스캔 신호를 순차적으로 공급하고, 이후 홀수 스캔 전극 그룹(Yodd)에 순차적으로 스캔 신호를 공급할 수 있다.
아울러, 리셋 기간에서 짝수 스캔 전극 그룹의 스캔 전극들에 최대 전압이 제 1 전압(V1)인 제 1 상승 램프 신호(RU1)를 공급하고, 홀수 스캔 전극 그룹의 스캔 전극들에는 최대 전압이 제 1 전압(V1)보다 높은 제 2 전압(V2)인 제 2 상승 램프 신호(RU2)를 공급할 수 있다.
상기와 같은 방법을 사용하게 되면, 인접하는 임의의 두 개의 스캔 전극에는 최대 전압이 서로 다른 상승 램프 신호를 공급할 수 있으며, 아울러 일정 주기에 따라 이를 교번할 수 있기 때문에 휘도 단차를 더욱 개선할 수 있다.
도 16 내지 도 19는 스캔 신호들 간의 시간차이에 대해 설명하기 위한 도면이다.
먼저, 도 16을 살펴보면 임의의 두 개의 스캔 전극 그룹 사이의 연속하는 두 개의 스캔 신호간의 시간 차이는 각각의 스캔 전극 그룹 내의 임의의 두 개의 스캔 신호간의 시간 차이보다 클 수 있다.
예를 들면, 앞선 도 5b의 경우와 같이 복수의 스캔 전극(Y1~Yn) 중 Y1~Y((n/2)-1)을 제 1 스캔 전극 그룹(500)으로 구분하고, Y(n/2)~Yn을 제 2 스캔 전극 그룹(510)으로 구분하며, Y1, Y2......Yn의 순서로 스캔 신호를 공급하는 경우에를 가정하여 보자.
이러한 경우에, 도 16과 같이 제 1 스캔 전극 그룹(500)과 제 2 스캔 전극 그룹(510) 사이의 연속하는 두 개의 스캔 신호, 즉 Y((n/2)-1)에 공급되는 스캔 신호와 Y(n/2)에 공급되는 스캔 신호 간의 시간 차이(W2)는 제 1 스캔 전극 그룹(500) 내의 Y1에 공급되는 스캔 신호와 Y2에 공급되는 스캔 신호의 시간 차이(W1) 및 제 2 스캔 전극 그룹(500) 내의 Y(n-1)에 공급되는 스캔 신호와 Yn에 공급되는 스캔 신호의 시간 차이(W3)보다 클 수 있다. 여기서, 인접하는 두 개의 스캔 신호간의 시간 차이는 앞선 스캔 신호의 종료 시점과 다음 스캔 신호의 공급 시점 간의 시간 차이를 의미할 수 있다.
이와 같이, 제 1 스캔 전극 그룹(500)과 제 2 스캔 전극 그룹(510)의 사이에서 연속하는 두 개의 스캔 신호간의 시간 차이를 상대적으로 크게 하게 되면, 제 1 스캔 전극 그룹(500)에 스캔 신호를 공급하기 위한 제 1 구동회로와 제 2 스캔 전극 그룹(510)에 스캔 신호를 공급하기 위한 제 2 구동회로 사이의 오작동을 방지할 수 있다.
예를 들어, 도 16과 같이 제 1 스캔 전극 그룹(500)에 먼저 스캔 신호를 순차적으로 공급하고, 이후 제 2 스캔 전극 그룹(510)에 순차적으로 스캔 신호를 공급하는 경우에는 제 1 구동회로가 Y((n/2)-1)에 스캔 신호를 공급한 이후에, 구동회로를 전환하여 Y(n/2)에는 제 2 구동회로가 스캔 신호를 공급해야 한다.
이때, 제 1 구동회로에서 제 2 구동회로로 구동회로가 전환될 때, 외부에서 가해지는 노이즈(Noise) 등의 원인으로 인해 제 1 구동회로의 동작이 소정 시간 지연된다면, 순간적으로 제 1 구동회로와 제 2 구동회로가 함께 동작하게 됨으로써 방전이 불안정해지거나 혹은 제 1, 2 구동회로가 손상을 입을 수 있다.
이와 같이, 구동회로가 전환될 때의 문제점은 임의의 서브필드 별로 스캔 신호의 공급 순서를 빈번하게 변경하는 경우에는 더욱 심화될 수 있다.
반면에, 도 16의 경우와 같이 제 1 스캔 전극 그룹(500)과 제 2 스캔 전극 그룹(510) 사이에서 연속하는 두 개의 스캔 신호(Y((n/2)-1), Y(n/2))의 시간 차이를 다른 임의의 두 개의 스캔 신호의 시간 차이보다 크게 하는 경우에는 구동회로의 전환시점에서 충분한 시간을 확보할 수 있기 때문에 구동 안정성 및 방전 안정성을 향상시킬 수 있다.
또한, 앞선 도 14 내지 도 15의 경우와 같이 복수의 스캔 전극들을 홀수 스캔 전극 그룹과 짝수 스캔 전극 그룹으로 구분하여 동작하는 경우에는 홀수 스캔 전극 그룹과 짝수 스캔 전극 그룹 사이에서 연속하는 두 개의 스캔 신호의 시간 차이를 상대적으로 크게 할 수 있다.
예를 들면, 도 17의 경우와 같이 Y(n-1)에 공급되는 스캔 신호의 종료시점과 Y2에 공급되는 스캔 신호의 공급시점 사이의 시간 차이(W20)를 다른 임의의 두 개의 스캔 신호의 시간 차이, 예컨대 Y1에 공급되는 스캔 신호의 종료시점과 Y3에 공급되는 스캔 신호의 공급시점 간의 시간 차이(W10)보다 크게 할 수 있다.
여기서, 스캔 전극 그룹 사이의 연속하는 두 개의 스캔 신호간의 시간 차이는 하나의 스캔 신호의 펄스폭보다 큰 것이 바람직할 수 있다.
예를 들면, 도 18의 경우와 같이 Y(n-1)에 공급되는 스캔 신호의 종료시점과 Y2에 공급되는 스캔 신호의 공급시점 사이의 시간 차이(W20)는 하나의 스캔 신호의 펄스폭(Ws)보다 클 수 있다.
또는, 임의의 두 개의 스캔 전극 그룹 사이의 연속하는 두 개의 스캔 신호는 시간적으로 서로 이격되는데 반해, 각각의 스캔 전극 그룹 내의 임의의 연속하는 두 개의 스캔 신호는 서로 중첩될 수 있다.
예를 들면, 도 19의 경우와 같이 Y(n-1)에 공급되는 스캔 신호의 종료시점과 Y2에 공급되는 스캔 신호의 공급시점은 Wa2의 시간차이를 두고 이격되는데 반해, Y1에 공급되는 스캔 신호와 Y3에 공급되는 스캔 신호는 Wa1의 시간만큼 중첩(Overlap)될 수 있다. 여기서, Y(n-1)에 공급되는 스캔 신호의 종료시점과 Y2에 공급되는 스캔 신호의 공급시점간이 시간 차이(Wa2)는 하나의 스캔 신호의 펄스폭(Ws)보다 클 수 있다.
이러한 경우에는, 동일한 스캔 전극 그룹 내에서는 임의의 연속하는 두 개의 스캔 신호를 중첩시킴으로써 어드레스 기간의 길이를 줄여 구동시간을 안정적으로 확보하면서도, 서로 다른 스캔 전극 그룹 사이에서 연속하는 두 개의 스캔 신호는 시간적으로 이격시킴으로써 구동 안정성 및 방전 안정성을 향상시키는 것이 가능하다.
도 20 내지 도 22는 상승 램프 신호의 구성 및 공급방법의 일례에 대해 설명하기 위한 도면이다.
먼저, 도 20의 (a)와 같이 제 1 상승 램프 신호(RU1)와 제 2 상승 램프 신 호(RU2)는 전압의 상승 기울기가 실질적으로 동일하면서 그 최대 전압이 서로 상이할 수 있다.
이러한 경우에는 최대 전압이 상대적으로 높은 제 2 상승 램프 신호(RU2)의 펄스폭(S2)이 제 1 상승 램프 신호(RU1)의 펄스폭(S1)보다 더 넓을 수 있다.
즉, 스캔 신호를 공급하는 순서가 늦을수록 상승 램프 신호의 최대 전압을 크게 하는 것은, 스캔 신호를 공급하는 순서가 늦을수록 상승 램프 신호의 펄스폭을 크게 하는 것을 의미할 수 있는 것이다.
또는, 도 20의 (b)의 경우와 같이 제 1 상승 램프 신호(RU1)의 펄스폭(S3)과 제 2 상승 램프 신호(RU2)의 펄스폭(S3)을 실질적으로 동일하게 하면서도 제 2 상승 램프 신호(RU2)의 최대 전압(V2)을 제 1 상승 램프 신호(RU1)의 최대 전압(V1)보다 높게 하는 것이 가능할 수 있다.
도 20의 (a)와 (b)의 방법을 비교하면, (b)의 경우는 제 1 전압(V1)을 공급하는 제 1 전압원과 제 2 전압(V2)을 공급하는 제 2 전압원을 따로 구비하거나, 혹은 램프 발생 회로를 따로 구비해야 하는데 비해, (a)의 경우는 단순히 스위칭 소자의 동작 타이밍만을 조절하는 방법으로 구현이 가능할 수 있다.
예를 들어, 스캔 구동회로가 도 21과 같은 구조를 갖는 경우를 가정하여 보자.
도 21과 같이, 스캔 구동회로는 제 10 스위치(S10)와 제 11 스위치(S11)를 포함하는 제 1 회로(2100)와 제 20 스위치(S20)와 제 21 스위치(S21)를 포함하는 제 2 회로(2110)를 포함할 수 있다. 여기서, 제 1 회로(2100)는 제 11 스위 치(S11)와 제 10 스위치(S10)의 사이에서 복수의 스캔 전극 중 홀수 번째 스캔 전극들에 구동신호를 공급하고, 제 2 회로(2110)는 제 20 스위치(S20)와 제 21 스위치(S21)의 사이에서 복수의 스캔 전극 중 짝수 번째 스캔 전극들에 구동신호를 공급할 수 있다.
이러한 구성의 스캔 구동회로 중 제 1 회로(2100)의 제 10 스위치(S10)와 제 2 회로(2110)의 제 20 스위치(S20)는 도 22와 같이 T1시점에서 턴-온(Turn-On)될 수 있다.
이후, 제 10 스위치(S10)는 T2시점에서 턴-오프(Turn-Off)되고, 제 20 스위치(S20)는 T2시점에서 계속 턴-온상태를 유지하다가 T3시점에서 턴-오프될 수 있다.
그러면, 홀수 번째 스캔 전극들에는 최대 전압이 제 1 전압(V1)인 제 1 상승 램프 신호(RU1)이 공급되고, 짝수 번째 스캔 전극들에는 최대 전압이 제 2 전압(V2)인 제 2 상승 램프 신호(RU2)가 공급될 수 있다.
도 23 내지 도 24는 스캔 순서에 따라 하강 램프 신호의 최저 전압을 조절하는 방법의 일례를 설명하기 위한 도면이다. 이하에서는 이상에서 상세히 설명한 내용에 대해서는 중복되는 설명을 생략하기로 한다.
먼저, 도 23을 살펴보면 어드레스 기간에서 스캔 전극에 스캔 신호(Sc)를 공급하는 순서에 따라 리셋 기간에서 공급되는 하강 램프 신호(Ramp-Down)의 최저 전압을 조절할 수 있다.
아울러, 스캔 신호를 공급하는 순서가 빠를수록 하강 램프 신호의 최저 전압 을 낮게 하는 것이 가능할 수 있다.
앞선 도 14의 경우와 같이 복수의 스캔 전극 중 홀수 번째 스캔 전극들을 포함하는 홀수 스캔 전극 그룹(Yodd)에 순차적으로 스캔 신호를 공급하고, 이후 짝수 번째 스캔 전극들을 포함하는 짝수 스캔 전극 그룹(Yeven)에 순차적으로 스캔 신호를 공급하는 경우를 가정하면, 홀수 스캔 전극 그룹에는 리셋 기간에서 최저 전압이 제 10 전압(V10)인 제 1 하강 램프 신호(RD1)가 공급되고, 짝수 스캔 전극 그룹에는 리셋 기간에서 최저 전압이 제 10 전압(V10)보다 높은 제 20 전압(V20)인 제 2 하강 램프 신호(RD2)가 공급될 수 있다.
그러면, 홀수 스캔 전극 그룹에 대응되는 방전셀에서 발생하는 어드레스 방전과 짝수 스캔 전극 그룹에 대응되는 방전셀에서 발생하는 어드레스 방전을 균일하게 할 수 있다.
보다 자세하게는, 짝수 스캔 전극 그룹에 공급되는 제 2 하강 램프 신호는 그 최저 전압(V20)이 홀수 스캔 전극 그룹에 공급되는 제 1 하강 램프 신호의 최저 전압(V10)보다 더 높기 때문에 리셋 기간의 후반부, 즉 하강 램프 신호가 공급되는 부분에서 짝수 스캔 전극 그룹에 대응하는 방전셀 내에서 소거되는 벽전하의 양은 홀수 스캔 전극 그룹에 대응하는 방전셀 내에서 소거되는 벽전하의 양에 비해 상대적으로 적을 수 있다.
따라서 짝수 스캔 전극 그룹의 스캔 신호의 공급 순서가 홀수 스캔 전극 그룹에 비해 더 늦더라도, 짝수 스캔 전극 그룹에 대응하는 방전셀에서는 리셋 기간에서 이미 충분한 양의 벽전하를 확보할 수 있기 때문에 공간전하와 벽전하의 재결 합이 발생하더라도 어드레스 방전을 충분히 안정시키는 것이 가능한 것이다.
아울러, 임의의 두 개의 서브필드에서 스캔 신호를 공급하는 순서를 다르게 변경하는 경우에는, 도 24의 (a)와 같이 제 1 서브필드(SF1)에서는 리셋 기간에서 홀수 스캔 전극 그룹(Yodd)에 최저 전압이 제 10 전압(V10)인 제 1 하강 램프 신호(RD1)를 공급하고, 짝수 스캔 전극 그룹(Yeven)에는 최저 전압이 제 10 전압(V10)보다 높은 제 20 전압(V20)인 제 2 하강 램프 신호(RD2)를 공급할 수 있다.
아울러, 제 2 서브필드(SF2)에서는 도 24의 (b)와 같이 리셋 기간에서 짝수 스캔 전극 그룹(Yeven)에 최저 전압이 제 10 전압(V10)인 제 1 하강 램프 신호(RD1)를 공급하고, 홀수 스캔 전극 그룹(Yodd)에는 최저 전압이 제 10 전압(V10)보다 높은 제 20 전압(V20)인 제 2 하강 램프 신호(RD2)를 공급할 수 있다.
도 25 내지 도 26은 하강 램프 신호의 구성에 대해 설명하기 위한 도면이다.
먼저, 도 25를 살펴보면, 제 1 하강 램프 신호(RD1)와 제 2 하강 램프 신호(RD2)는 전압의 하강 기울기가 실질적으로 동일하면서 그 최저 전압이 서로 상이할 수 있다.
이러한 경우에는 최저 전압이 상대적으로 높은 제 2 하강 램프 신호(RD2)의 펄스폭(S10)이 제 1 하강 램프 신호(RD1)의 펄스폭(S20)보다 더 좁을 수 있다.
즉, 스캔 신호를 공급하는 순서가 빠를수록 하강 램프 신호의 최저 전압을 낮게 하는 것은, 스캔 신호를 공급하는 순서가 빠를수록 하강 램프 신호의 펄스폭을 크게 하는 것을 의미할 수 있는 것이다.
또는, 도 26의 경우와 같이 제 1 하강 램프 신호(RD1)의 펄스폭(S30)과 제 2 하강 램프 신호(RD2)의 펄스폭(S30)을 실질적으로 동일하게 하면서도 제 2 상승 하강 신호(RD2)의 최저 전압(V20)을 제 1 하강 램프 신호(RD1)의 최저 전압(V10)보다 높게 하는 것이 가능할 수 있다.
도 25와 도 26의 방법을 비교하면, 도 26의 경우는 제 10 전압(V10)을 공급하는 제 10 전압원과 제 20 전압(V20)을 공급하는 제 20 전압원을 따로 구비하거나, 혹은 램프 발생 회로를 따로 구비해야 하는데 비해, 도 25의 경우는 단순히 스위칭 소자의 동작 타이밍만을 조절하는 방법으로 구현이 가능할 수 있다.
도 27 내지 도 30은 스캔 순서에 따라 하강 램프 신호의 최저 전압을 조절하는 또 다른 방법의 일례를 설명하기 위한 도면이다. 이하에서는 앞서 상세히 설명한 내용에 대해서는 중복되는 설명을 생략하기로 한다.
먼저, 도 27을 살펴보면 스캔 순서에 따라 리셋 기간에서 스캔 전극에 공급되는 하강 램프 신호의 최저 전압을 다르게 조절하면서, 아울러 스캔 순서에 따라 어드레스 기간에서 스캔 신호의 이전 또는 이후에 스캔 전극에 전압이 점진적으로 하강하는 하강 신호(FS1, FS2, FS3, FS4)를 공급할 수 있다.
자세하게는, 도 27의 (a)와 같이 제 1 서브필드(SF1)에서는 홀수 스캔 전극 그룹(Yodd)에 스캔 신호를 공급한 이후에 짝수 스캔 전극 그룹(Yeven)에 스캔 신호를 공급한다.
아울러, 홀수 스캔 전극 그룹에는 리셋 기간에서 최저 전압이 제 5 전압(V5)인 제 1 하강 램프 신호(RD1)를 공급하고, 아울러 어드레스 기간에서 스캔 신호의 공급 이후에 스캔 전극에 제 1 하강 신호(FS1)를 공급할 수 있다.
또한, 짝수 스캔 전극 그룹에는 리셋 기간에서 최저 전압이 제 5 전압(V5)보다 높은 제 6 전압(V6)인 제 2 하강 램프 신호(RD2)를 공급하고, 아울러 어드레스 기간에서 스캔 신호의 공급 이전에 스캔 전극에 제 2 하강 신호(FS2)를 공급할 수 있다.
여기서, 홀수 스캔 전극 그룹에 대응되는 방전셀에서는 스캔 신호의 공급 이후에 제 1 하강 신호(FS1)가 공급되기 때문에, 제 1 하강 신호가 공급되는 시점에서 도 28의 (b)와 같은 벽전하의 상태를 가질 수 있다. 즉, 스캔 전극 상에는 양의 벽전하들이 형성되고, 서스테인 전극 상에는 음의 벽전하들이 형성될 수 있는 것이다.
따라서 홀수 스캔 전극 그룹에 제 1 하강 신호가 공급되더라도 이에 대응하는 방전셀 내에서는 방전이 발생하지 않고, 이에 따라 어드레스 방전 직후의 벽전하의 상태가 유지될 수 있다.
반면에, 짝수 스캔 전극 그룹에 대응되는 방전셀에서는 스캔 신호의 공급 이전에 제 2 하강 신호(FS2)가 공급되기 때문에, 제 2 하강 신호가 공급되는 시점에서 도 28의 (a)와 같은 벽전하의 상태를 가질 수 있다. 즉, 스캔 전극 상에는 음의 벽전하들이 형성되고, 서스테인 전극 상에는 양의 벽전하들이 형성될 수 있는 것이다.
아울러, 짝수 스캔 전극 그룹에는 리셋 기간에서 최저 전압이 상대적으로 높은 제 2 하강 램프 신호(RD2)가 공급되기 때문에 이에 대응하는 방전셀내에는 리셋 기간의 종료시점에서 상대적으로 많은 양의 벽전하들이 존재할 수 있다. 따라서 짝수 스캔 전극 그룹에 제 2 하강 신호가 공급되면, 이에 대응하는 방전셀 내에서는 방전이 발생함으로써 벽전하의 일부가 소거되어 어드레스 방전에 유리한 벽전하의 상태가 될 수 있다.
이에 따라, 스캔 신호의 공급 순서가 상대적으로 늦은 짝수 스캔 전극 그룹에 대응되는 방전셀 에서의 어드레스 방전을 보다 효과적으로 안정시킬 수 있다.
또는, 짝수 번째 스캔 전극 그룹보다 스캔 신호의 공급 순서가 빠른 홀수 번째 스캔 전극 그룹에서는 제 1 하강 신호(FS1)가 공급되지 않는 것도 무방할 수 있다.
그러나 홀수 번째 스캔 전극 그룹에 제 1 하강 신호(FS1)를 공급하지 않기 위해서는 또 다른 구동회로 또는 다른 구동 프로그램이 필요하다. 이러한 또 다른 구동회로 또는 구동 프로그램은 제조 단가의 상승을 야기할 수 있다.
따라서 도 27의 경우와 홀수 번째 스캔 전극 그룹에도 제 1 하강 신호(FS1)를 공급하는 것이 제조 단가의 측면에서 유리할 수 있다. 제 1 하강 신호와 제 2 하강 신호가 실질적으로 동일하다는 조건 하에 홀수 번째 스캔 전극 그룹과 짝수 번째 스캔 전극 그룹에 제 1 하강 신호 또는 제 2 하강 신호를 공급하는 것이 제조단가의 측면에서 유리할 수 있다.
한편, 제 2 서브필드(SF2)에서는 도 27의 (b)와 같이 짝수 스캔 전극 그룹(Yeven)에 스캔 신호를 공급한 이후에 홀수 스캔 전극 그룹(Yodd)에 스캔 신호를 공급한다.
아울러, 짝수 스캔 전극 그룹에는 리셋 기간에서 최저 전압이 제 5 전압(V5) 인 제 1 하강 램프 신호(RD1)를 공급하고, 아울러 어드레스 기간에서 스캔 신호의 공급 이후에 스캔 전극에 제 3 하강 신호(FS3)를 공급할 수 있다.
또한, 홀수 스캔 전극 그룹에는 리셋 기간에서 최저 전압이 제 5 전압(V5)보다 높은 제 6 전압(V6)인 제 2 하강 램프 신호(RD2)를 공급하고, 아울러 어드레스 기간에서 스캔 신호의 공급 이전에 스캔 전극에 제 4 하강 신호(FS4)를 공급할 수 있다.
여기서, 제 1, 2, 3, 4 하강 신호(FS1, FS, FS3, FS4)의 하강 기울기 및 최저 전압은 실질적으로 동일할 수 있다.
아울러, 구동회로의 단순화를 위해 제 1 하강 신호(FS1)의 최저 전압(V5)과 제 1 하강 램프 신호(RD1)의 최저 전압(V5)은 실질적으로 동일한 것이 바람직할 수 있고, 아울러 제 1, 2, 3, 4 하강 신호(FS1, FS2, FS3, FS4)의 하강 기울기는 서로 동일한 것이 바람직할 수 있으며, 아울러 제 1, 2, 3, 4 하강 신호(FS1, FS2, FS3, FS4)의 최저 전압도 실질적으로 동일한 것이 바람직할 수 있다.
아울러, 제 2 하강 램프 신호(RD2)의 최저 전압(V6)은 제 1, 2, 3, 4 하강 신호(FS1, FS2, FS3, FS4)의 최저 전압(V5)보다 높을 수 있다.
아울러, 셋다운 방전의 효율을 향상시키기 위해 제 1 하강 램프 신호(RD1)의 최저 전압, 즉 제 5 전압(V5)과 제 2 하강 램프 신호(RD2)의 최저 전압, 즉 제 6 전압(V6)은 그라운드 레벨(GND))의 전압보다 낮은 전압일 수 있다.
또한, 도 29의 경우와 같이 제 1 하강 램프 신호(RD1)의 하강 기울기와 제 2 하강 램프 신호(RD2)의 하강 기울기는 실질적으로 서로 동일한 것이 바람직할 수 있으며, 아울러 어드레스 방전을 효율을 향상시키기 위해서는 제 5 전압(V5)과 제 6 전압(V6)은 스캔 신호의 최저 전압(-Vy)보다 높은 전압일 수 있다.
또한, 도 30의 경우와 같이 제 1, 2, 3, 4 하강 신호(FS1, FS2, FS3, FS4)의 펄스폭(S30)은 하나의 스캔 신호의 펄스폭(Ws)보다 넓고, 아울러 제 2 하강 램프 신호(RD2)의 최저 전압(V6)의 유지 기간의 길이(S31) 보다 큰 것이 바람직할 수 있다.
도 31은 스캔 순서에 따라 하강 램프 신호의 최저 전압을 조절하는 방법의 일례를 설명하기 위한 도면이다. 이하에서는 이상에서 상세히 설명한 내용에 대해서는 중복되는 설명을 생략하기로 한다.
도 31을 살펴보면, 각각의 서브필드에서 스캔 신호의 공급 순서에 따라 상승 램프 신호의 최대 전압을 조절하면서, 이와 함께 스캔 신호의 공급 순서에 따라 하강 램프 신호의 최저 전압을 조절할 수 있다.
이에 대해서는 앞서 상세히 설명하였기 때문에 중복되는 설명을 생략한다.
이와 같이, 상술한 본 발명의 기술적 구성은 본 발명이 속하는 기술분야의 당업자가 본 발명의 그 기술적 사상이나 필수적 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다.
그러므로 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적인 것이 아닌 것으로서 이해되어야 하고, 본 발명의 범위는 전술한 상세한 설명보다는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어지며, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 등가개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범 위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.
도 1은 플라즈마 디스플레이 장치의 구성에 대해 설명하기 위한 도면.
도 2는 플라즈마 디스플레이 패널의 구조에 대해 설명하기 위한 도면.
도 3은 영상의 계조를 구현하기 위한 영상 프레임(Frame)에 대해 설명하기 위한 도면.
도 4는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법을 개략적으로 설명하기 위한 도면.
도 5a 및 도 5b 내지 도 9는 본 발명에 따른 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법의 일례에 대해 설명하기 위한 도면.
도 10 내지 도 12는 더미 영역을 고려한 구동방법의 일례를 설명하기 위한 도면.
도 13은 스캔 신호를 공급하는 순서를 전환하는 주기에 대해 설명하기 위한 도면.
도 14 내지 도 15는 스캔 전극 그룹을 구분하는 또 다른 방법의 일례를 설명하기 위한 도면.
도 16 내지 도 19는 스캔 신호들 간의 시간차이에 대해 설명하기 위한 도면.
도 20 내지 도 22는 상승 램프 신호의 구성 및 공급방법의 일례에 대해 설명하기 위한 도면.
도 23 내지 도 24는 스캔 순서에 따라 하강 램프 신호의 최저 전압을 조절하는 방법의 일례를 설명하기 위한 도면.
도 25 내지 도 26은 하강 램프 신호의 구성에 대해 설명하기 위한 도면.
도 27 내지 도 30은 스캔 순서에 따라 하강 램프 신호의 최저 전압을 조절하는 또 다른 방법의 일례를 설명하기 위한 도면.
도 31은 스캔 순서에 따라 하강 램프 신호의 최저 전압을 조절하는 방법의 일례를 설명하기 위한 도면.

Claims (20)

  1. 복수의 스캔 전극을 포함하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법에 있어서,
    복수의 서브필드(Sub-Field) 중 임의의 두 개의 서브필드의 어드레스 기간에서 상기 스캔 전극에 스캔 신호를 공급하는 순서를 다르게 하는 과정; 및
    각각의 상기 서브필드에서 상기 스캔 신호를 공급하는 순서에 따라 상기 어드레스 기간 이전의 리셋 기간에서 상기 스캔 전극에 공급되는 상승 램프 신호(Ramp-Up)의 최대 전압을 다르게 조절하는 과정;
    을 포함하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 스캔 신호를 공급하는 순서가 늦을수록 상기 상승 램프 신호의 최대 전압을 크게 하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법.
  3. 제 2 항에 있어서,
    상기 스캔 신호를 공급하는 순서가 늦을수록 상기 상승 램프 신호의 펄스폭을 크게 하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법.
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 임의의 두 개의 서브필드는 제 1 서브필드와 제 2 서브필드를 포함하고,
    상기 제 1 서브필드의 어드레스 기간에서는 복수의 상기 스캔 전극 중 제 1 스캔 전극에 스캔 신호를 공급한 이후에 제 2 스캔 전극에 스캔 신호를 공급하고,
    상기 제 2 서브필드의 어드레스 기간에서는 상기 제 2 스캔 전극에 스캔 신호를 공급한 이후에 상기 제 1 스캔 전극에 스캔 신호를 공급하고,
    상기 제 1 서브필드의 리셋 기간에서 상기 제 2 스캔 전극에 공급되는 상승 램프 신호의 최대 전압은 상기 제 1 스캔 전극에 공급되는 상승 램프 신호의 최대 전압보다 크고,
    상기 제 2 서브필드의 리셋 기간에서 상기 제 1 스캔 전극에 공급되는 상승 램프 신호의 최대 전압은 상기 제 2 스캔 전극에 공급되는 상승 램프 신호의 최대 전압보다 큰 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법.
  5. 제 1 항에 있어서,
    상기 임의의 두 개의 서브필드는 제 1 서브필드와 제 2 서브필드를 포함하고,
    상기 제 1 서브필드의 어드레스 기간에서는 복수의 상기 스캔 전극 중 홀수 번째 스캔 전극들에 순차적으로 상기 스캔 신호를 공급한 후, 짝수 번째 스캔 전극들에 상기 스캔 신호를 순차적으로 공급하고,
    상기 제 1 서브필드의 리셋 기간에서 상기 짝수 번째 스캔 전극들에 공급되 는 상승 램프 신호의 최대 전압은 상기 홀수 번째 스캔 전극들에 공급되는 상승 램프 신호의 최대 전압보다 크고,
    상기 제 2 서브필드의 어드레스 기간에서는 복수의 상기 스캔 전극 중 짝수 번째 스캔 전극들에 순차적으로 상기 스캔 신호를 공급한 후, 홀수 번째 스캔 전극들에 상기 스캔 신호를 순차적으로 공급하고,
    상기 제 2 서브필드의 리셋 기간에서 상기 홀수 번째 스캔 전극들에 공급되는 상승 램프 신호의 최대 전압은 상기 짝수 번째 스캔 전극들에 공급되는 상승 램프 신호의 최대 전압보다 큰 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법.
  6. 제 5 항에 있어서,
    상기 제 1 서브필드의 어드레스 기간에서 상기 홀수 번째 스캔 전극들 중 마지막 홀수 번째 스캔 전극에 공급되는 스캔 신호와 상기 짝수 번째 스캔 전극들 중 첫 짝수 번째 스캔 전극에 공급되는 스캔 신호의 시간 차이 및 상기 제 2 서브필드의 어드레스 기간에서 상기 짝수 번째 스캔 전극들 중 마지막 짝수 번째 스캔 전극에 공급되는 스캔 신호와 상기 홀수 번째 스캔 전극들 중 첫 홀수 번째 스캔 전극에 공급되는 스캔 신호의 시간 차이는 다른 임의의 두 개의 스캔 신호 간의 시간 차이보다 큰 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법.
  7. 제 6 항에 있어서,
    상기 제 1 서브필드의 어드레스 기간에서 상기 홀수 번째 스캔 전극들 중 마지막 홀수 번째 스캔 전극에 공급되는 스캔 신호와 상기 짝수 번째 스캔 전극들 중 첫 짝수 번째 스캔 전극에 공급되는 스캔 신호의 시간 차이 및 상기 제 2 서브필드의 어드레스 기간에서 상기 짝수 번째 스캔 전극들 중 마지막 짝수 번째 스캔 전극에 공급되는 스캔 신호와 상기 홀수 번째 스캔 전극들 중 첫 홀수 번째 스캔 전극에 공급되는 스캔 신호의 시간 차이는 하나의 상기 스캔 신호의 펄스폭보다 큰 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법.
  8. 복수의 스캔 전극을 포함하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법에 있어서,
    복수의 서브필드(Sub-Field) 중 임의의 두 개의 서브필드의 어드레스 기간에서 상기 스캔 전극에 스캔 신호를 공급하는 순서를 다르게 하는 과정; 및
    각각의 상기 서브필드에서 상기 스캔 신호를 공급하는 순서에 따라 상기 어드레스 기간 이전의 리셋 기간에서 상기 스캔 전극에 공급되는 하강 램프 신호(Ramp-Down)의 최저 전압을 다르게 조절하는 과정;
    을 포함하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법.
  9. 제 8 항에 있어서,
    상기 스캔 신호를 공급하는 순서가 빠를수록 상기 하강 램프 신호의 최저 전압을 낮게 하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법.
  10. 제 9 항에 있어서,
    상기 스캔 신호를 공급하는 순서가 빠를수록 상기 하강 램프 신호의 펄스폭을 크게 하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법.
  11. 제 8 항에 있어서,
    상기 임의의 두 개의 서브필드는 제 1 서브필드와 제 2 서브필드를 포함하고,
    상기 제 1 서브필드의 어드레스 기간에서는 복수의 상기 스캔 전극 중 제 1 스캔 전극에 스캔 신호를 공급한 이후에 제 2 스캔 전극에 스캔 신호를 공급하고,
    상기 제 2 서브필드의 어드레스 기간에서는 상기 제 2 스캔 전극에 스캔 신호를 공급한 이후에 상기 제 1 스캔 전극에 스캔 신호를 공급하고,
    상기 제 1 서브필드의 리셋 기간에서 상기 제 1 스캔 전극에 공급되는 하강 램프 신호의 최저 전압은 상기 제 2 스캔 전극에 공급되는 하강 램프 신호의 최저 전압보다 낮고,
    상기 제 2 서브필드의 리셋 기간에서 상기 제 2 스캔 전극에 공급되는 하강 램프 신호의 최저 전압은 상기 제 1 스캔 전극에 공급되는 하강 램프 신호의 최저 전압보다 낮은 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법.
  12. 제 11 항에 있어서,
    상기 제 1 서브필드의 어드레스 기간에서 상기 제 1 스캔 전극에 스캔 신호를 공급한 이후에 전압이 점진적으로 하강하는 하강 신호를 공급하고, 상기 제 2 스캔 전극에는 스캔 신호를 공급하기 이전에 전압이 점진적으로 하강하는 하강 신호를 공급하고,
    상기 제 2 서브필드의 어드레스 기간에서 상기 제 2 스캔 전극에 스캔 신호를 공급한 이후에 전압이 점진적으로 하강하는 하강 신호를 공급하고, 상기 제 1 스캔 전극에는 스캔 신호를 공급하기 이전에 전압이 점진적으로 하강하는 하강 신호를 공급하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법.
  13. 제 12 항에 있어서,
    상기 제 1, 2 서브필드의 어드레스 기간에서 상기 제 1, 2 스캔 전극에 공급되는 하강 신호의 하강 기울기와 최저 전압은 서로 동일한 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법.
  14. 제 12 항에 있어서,
    상기 제 1 서브필드의 어드레스 기간에서 상기 제 1 스캔 전극에 공급되는 하강 신호의 최저 전압은 리셋 기간에서 상기 제 1 스캔 전극에 공급되는 하강 램프 신호의 최저 전압과 동일하고, 상기 제 2 스캔 전극에 공급되는 하강 신호의 최저 전압은 리셋 기간에서 상기 제 2 스캔 전극에 공급되는 하강 램프 신호의 최저 전압보다 낮고,
    상기 제 2 서브필드의 어드레스 기간에서 상기 제 2 스캔 전극에 공급되는 하강 신호의 최저 전압은 리셋 기간에서 상기 제 2 스캔 전극에 공급되는 하강 램프 신호의 최저 전압과 동일하고, 상기 제 1 스캔 전극에 공급되는 하강 신호의 최저 전압은 리셋 기간에서 상기 제 1 스캔 전극에 공급되는 하강 램프 신호의 최저 전압보다 낮은 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법.
  15. 제 12 항에 있어서,
    상기 제 1, 2 서브필드에서 상기 제 1, 2 스캔 전극에 공급되는 하강 신호의 펄스폭은 하나의 상기 스캔 신호의 펄스폭보다 큰 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법.
  16. 제 12 항에 있어서,
    상기 제 1 서브필드의 어드레스 기간에서 상기 제 1 스캔 전극에 상기 하강 신호가 공급될 때는 제 1 스캔 전극에 대응되는 방전셀에서 방전이 발생하지 않고, 상기 제 2 스캔 전극에 상기 하강 신호가 공급될 때는 상기 제 2 스캔 전극에 대응되는 방전셀에서 방전이 발생하고,
    상기 제 2 서브필드의 어드레스 기간에서 상기 제 2 스캔 전극에 상기 하강 신호가 공급될 때는 제 2 스캔 전극에 대응되는 방전셀에서 방전이 발생하지 않고, 상기 제 1 스캔 전극에 상기 하강 신호가 공급될 때는 상기 제 1 스캔 전극에 대응되는 방전셀에서 방전이 발생하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법.
  17. 제 8 항에 있어서,
    상기 임의의 두 개의 서브필드는 제 1 서브필드와 제 2 서브필드를 포함하고,
    상기 제 1 서브필드의 어드레스 기간에서는 복수의 상기 스캔 전극 중 홀수 번째 스캔 전극들에 순차적으로 상기 스캔 신호를 공급한 후, 짝수 번째 스캔 전극들에 상기 스캔 신호를 순차적으로 공급하고,
    상기 제 1 서브필드의 리셋 기간에서 상기 홀수 번째 스캔 전극들에 공급되는 하강 램프 신호의 최저 전압은 상기 짝수 번째 스캔 전극들에 공급되는 하강 램프 신호의 최저 전압보다 낮고,
    상기 제 2 서브필드의 어드레스 기간에서는 복수의 상기 스캔 전극 중 짝수 번째 스캔 전극들에 순차적으로 상기 스캔 신호를 공급한 후, 홀수 번째 스캔 전극들에 상기 스캔 신호를 순차적으로 공급하고,
    상기 제 2 서브필드의 리셋 기간에서 상기 짝수 번째 스캔 전극들에 공급되는 하강 램프 신호의 최저 전압은 상기 홀수 번째 스캔 전극들에 공급되는 하강 램프 신호의 최저 전압보다 낮은 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법.
  18. 제 17 항에 있어서,
    상기 제 1 서브필드의 어드레스 기간에서 상기 홀수 번째 스캔 전극들 중 마지막 홀수 번째 스캔 전극에 공급되는 스캔 신호와 상기 짝수 번째 스캔 전극들 중 첫 짝수 번째 스캔 전극에 공급되는 스캔 신호의 시간 차이 및 상기 제 2 서브필드의 어드레스 기간에서 상기 짝수 번째 스캔 전극들 중 마지막 짝수 번째 스캔 전극에 공급되는 스캔 신호와 상기 홀수 번째 스캔 전극들 중 첫 홀수 번째 스캔 전극에 공급되는 스캔 신호의 시간 차이는 다른 임의의 두 개의 스캔 신호 간의 시간 차이보다 큰 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법.
  19. 제 18 항에 있어서,
    상기 제 1 서브필드의 어드레스 기간에서 상기 홀수 번째 스캔 전극들 중 마지막 홀수 번째 스캔 전극에 공급되는 스캔 신호와 상기 짝수 번째 스캔 전극들 중 첫 짝수 번째 스캔 전극에 공급되는 스캔 신호의 시간 차이 및 상기 제 2 서브필드의 어드레스 기간에서 상기 짝수 번째 스캔 전극들 중 마지막 짝수 번째 스캔 전극에 공급되는 스캔 신호와 상기 홀수 번째 스캔 전극들 중 첫 홀수 번째 스캔 전극에 공급되는 스캔 신호의 시간 차이는 하나의 상기 스캔 신호의 펄스폭보다 큰 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법.
  20. 복수의 스캔 전극을 포함하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법에 있어서,
    복수의 서브필드(Sub-Field) 중 임의의 두 개의 서브필드의 어드레스 기간에 서 상기 스캔 전극에 스캔 신호를 공급하는 순서를 다르게 하는 과정;
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