KR20060065381A - 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 서스테인 기간에서 인가되는 서스테인 펄스를 개선하도록 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법에 관한 것으로, 형광체 포화에 의한 휘도감소를 억제함으로써 플라즈마 디스플레이 패널의 구동효율을 높이는 효과가 있다.
이러한 목적을 이루기 위한 본 발명은, 리셋 기간, 어드레스 기간 및 서스테인 기간에 어드레스 전극, 스캔 전극 및 서스테인 전극에 신호가 인가되는 서브필드의 조합에 의하여 화상을 표현하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동 방법에 있어서, 서스테인 기간에는 복수의 서스테인 방전이 발생하고, 복수의 서스테인 방전 중에서 적어도 어느 하나의 서스테인 방전 이후 다음 서스테인 방전이 발생할 때까지의 방전시점간의 시간차는 다른 서스테인 방전 이후 다음 서스테인 방전이 발생할 때까지의 방전시점간의 시간차와 서로 다른 것을 특징으로 한다.
플라즈마 디스플레이 패널, 형광체, 휘도포화, 서스테인 방전, 방전시점, 휘도

Description

플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법{Driving Method for Plasma Display Panel}
도 1은 일반적인 플라즈마 디스플레이 패널의 구조를 나타낸 도.
도 2는 종래 플라즈마 디스플레이 패널의 화상 계조를 구현하는 방법을 나타낸 도.
도 3은 종래 플라즈마 디스플레이 패널의 구동 방법에 따른 구동파형을 나타낸 도.
도 4는 도 3의 구동파형에서 서스테인 기간의 서스테인 파형을 좀 더 상세히 설명하기 위한 도.
도 5는 일반적인 플라즈마 디스플레이 패널의 형광체의 휘도포화특성을 설명하기 위한 도.
도 6은 일반적인 듀얼 스캔 방식을 설명하기 위한 도.
도 7은 듀얼 스캔 방식에서 싱글 스캔 방식으로 스캐닝 방식이 전환될 경우에의 어드레스 기간 및 서스테인 기간을 설명하기 위한 도.
도 8a 내지 도 8d는 본 발명의 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법에 따른 제 1 실시예를 설명하기 위한 도.
도 9는 본 발명의 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법에 따른 휘도 특성곡 선을 나타낸 도.
도 10a 내지 도 10d는 본 발명의 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법에 따른 제 2 실시예를 설명하기 위한 도.
도 11a 내지 도 11b는 본 발명의 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법에 따른 제 3 실시예를 설명하기 위한 도.
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>
100 : 전면 기판 101 : 전면 글라스
102 : 스캔 전극 103 : 서스테인 전극
104 : 상부 유전체층 105 : 보호층
110 : 후면 기판 111 : 후면 글라스
112 : 격벽 113 : 어드레스 전극
114 : 형광체층 115 : 하부 유전체층
a : 투명 전극 b : 버스 전극
본 발명은 플라즈마 디스플레이 패널에 관한 것으로, 보다 상세하게는 서스테인 기간에서 인가되는 서스테인 펄스를 개선하여 구동효율을 높이는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법에 관한 것이다.
일반적으로 플라즈마 디스플레이 패널은 전면기판과 후면기판 사이에 형성된 격벽이 하나의 단위 셀을 이루는 것으로, 각 셀 내에는 네온(Ne), 헬륨(He) 또는 네온 및 헬륨의 혼합기체(Ne+He)와 같은 주 방전 기체와 소량의 크세논을 함유하는 불활성 가스가 충진되어 있다. 고주파 전압에 의해 방전이 될 때, 불활성 가스는 진공자외선(Vacuum Ultraviolet rays)을 발생하고 격벽 사이에 형성된 형광체를 발광시켜 화상이 구현된다. 이와 같은 플라즈마 디스플레이 패널은 얇고 가벼운 구성이 가능하므로 차세대 표시장치로서 각광받고 있다.
도 1은 일반적인 플라즈마 디스플레이 패널의 구조를 나타낸 도이다.
도 1에 도시된 바와 같이, 플라즈마 디스플레이 패널은 화상이 디스플레이 되는 표시면인 전면 글라스(101)에 스캔 전극(102)과 서스테인 전극(103)이 쌍을 이뤄 형성된 복수의 유지전극쌍이 배열된 전면기판(100) 및 배면을 이루는 후면 글라스(111) 상에 전술한 복수의 유지전극쌍과 교차되도록 복수의 어드레스 전극(113)이 배열된 후면기판(110)이 일정거리를 사이에 두고 평행하게 결합된다.
전면기판(100)은 하나의 방전셀에서 상호 방전시키고 셀의 발광을 유지하기 위한 스캔 전극(102) 및 서스테인 전극(103), 즉 투명한 ITO 물질로 형성된 투명 전극(a)과 금속재질로 제작된 버스 전극(b)으로 구비된 스캔 전극(102) 및 서스테인 전극(103)이 쌍을 이뤄 포함된다. 스캔 전극(102) 및 서스테인 전극(103)은 방전 전류를 제한하며 전극 쌍 간을 절연시켜주는 하나 이상의 유전체층(104)에 의해 덮혀지고, 상부 유전체층(104) 상면에는 방전 조건을 용이하게 하기 위하여 산화마그네슘(MgO)을 증착한 보호층(105)이 형성된다.
후면기판(110)은 복수개의 방전 공간 즉, 방전셀을 형성시키기 위한 스트라 이프 타입(또는 웰 타입)의 격벽(112)이 평행을 유지하여 배열된다. 또한, 어드레스 방전을 수행하여 진공자외선을 발생시키는 다수의 어드레스 전극(113)이 격벽(112)에 대해 평행하게 배치된다. 후면기판(110)의 상측면에는 어드레스 방전시 화상표시를 위한 가시광선을 방출하는 R, G, B 형광체(114)가 도포된다. 어드레스 전극(113)과 형광체(114) 사이에는 어드레스 전극(113)을 보호하기 위한 하부 유전체층(115)이 형성된다.
이와 같은 플라즈마 디스플레이 패널에서 화상 계조를 구현하는 방법은 다음 도 2와 같다.
도 2는 종래 플라즈마 디스플레이 패널의 화상 계조를 구현하는 방법을 나타낸 도이다.
도 2에 도시된 바와 같이, 종래 플라즈마 디스플레이 패널의 화상 계조(Gray Level) 표현 방법은 한 프레임을 발광횟수가 다른 여러 서브필드로 나누고, 각 서브필드는 다시 모든 셀들을 초기화시키기 위한 리셋 기간(RPD), 방전될 셀을 선택하기 위한 어드레스 기간(APD) 및 방전횟수에 따라 계조를 구현하는 서스테인 기간(SPD)으로 나뉘어진다. 예를 들어, 256 계조로 화상을 표시하고자 하는 경우에 1/60 초에 해당하는 프레임기간(16.67ms)은 도 2와 같이 8개의 서브필드들(SF1 내지 SF8)로 나누어지고, 8개의 서브 필드들(SF1 내지 SF8) 각각은 리셋 기간, 어드레스 기간 및 서스테인 기간으로 다시 나누어지게 된다.
각 서브필드의 리셋 기간 및 어드레스 기간은 각 서브필드마다 동일하다. 방전될 셀을 선택하기 위한 어드레스방전은 어드레스 전극과 스캔 전극인 투명전극 사이의 전압차에 의해 일어난다. 서스테인 기간은 각 서브필드에서 2n(단, n = 0, 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7)의 비율로 증가된다. 이와 같이 각 서브필드에서 서스테인 기간이 달라지게 되므로 각 서브필드의 서스테인 기간 즉, 서스테인 방전 횟수를 조절하여 화상의 계조를 표현하게 된다. 이러한 플라즈마 디스플레이 패널의 구동 방법에 따른 구동파형을 살펴보면 다음 도 3과 같다.
도 3은 종래 플라즈마 디스플레이 패널의 구동 방법에 따른 구동파형을 나타낸 도면이다.
도 3에 도시된 바와 같이, 플라즈마 디스플레이 패널은 모든 셀들을 초기화시키기 위한 리셋 기간, 방전할 셀을 선택하기 위한 어드레스 기간, 선택된 셀의 방전을 유지시키기 위한 서스테인 기간 및 방전된 셀 내의 벽전하를 소거하기 위한 소거 기간으로 나뉘어 구동된다.
리셋 기간에 있어서, 셋업 기간에는 모든 스캔 전극들에 상승 램프파형(Ramp-up)이 동시에 인가된다. 이 상승 램프파형에 의해 전화면의 방전셀들 내에는 약한 암방전(Dark Discharge)이 일어난다. 이 셋업 방전에 의해 어드레스 전극과 서스테인 전극 상에는 정극성 벽전하가 쌓이게 되며, 스캔 전극 상에는 부극성의 벽전하가 쌓이게 된다.
셋다운 기간에는 상승 램프파형이 공급된 후, 상승 램프파형의 피크전압보다 낮은 정극성 전압에서 떨어지기 시작하여 그라운드(GND)레벨 전압 이하의 특정 전압레벨까지 떨어지는 하강 램프파형(Ramp-down)이 셀들 내에 미약한 소거방전을 일 으킴으로써 스캔 전극에 과도하게 형성된 벽 전하를 충분히 소거시키게 된다. 이 셋다운 방전에 의해 어드레스 방전이 안정되게 일어날 수 있을 정도의 벽전하가 셀들 내에 균일하게 잔류된다.
어드레스 기간에는 부극성 스캔 펄스가 스캔 전극들에 순차적으로 인가됨과 동시에 스캔 펄스에 동기되어 어드레스 전극에 정극성의 데이터 펄스가 인가된다. 이 스캔 펄스와 데이터 펄스의 전압 차와 리셋 기간에 생성된 벽 전압이 더해지면서 데이터 펄스가 인가되는 방전셀 내에는 어드레스 방전이 발생된다. 어드레스 방전에 의해 선택된 셀들 내에는 서스테인 전압(Vs)이 인가될 때 방전이 일어날 수 있게 하는 정도의 벽전하가 형성된다. 서스테인 전극에는 셋다운 기간과 어드레스 기간 동안에 스캔 전극과의 전압차를 줄여 스캔 전극과의 오방전이 일어나지 않도록 정극성 전압(Vz)이 공급된다.
서스테인 기간에는 스캔 전극과 서스테인 전극들에 교번적으로 서스테인 펄스(Sus)가 인가된다. 어드레스 방전에 의해 선택된 셀은 셀 내의 벽 전압과 서스테인 펄스가 더해지면서 매 서스테인 펄스가 인가될 때 마다 스캔 전극과 서스테인 전극 사이에 서스테인 방전 즉, 표시방전이 일어나게 된다.
서스테인 방전이 완료된 후, 소거 기간에서는 펄스폭과 전압레벨이 작은 소거 램프파형(Ramp-ers)의 전압이 서스테인 전극에 공급되어 전화면의 셀들 내에 잔류하는 벽 전하를 소거시키게 된다.
이러한 구동파형에서 서스테인 기간에 인가되는 서스테인 파형을 좀 더 상세히 살펴보면 다음 도 4와 같다.
도 4는 도 3의 구동파형에서 서스테인 기간의 서스테인 파형을 좀 더 상세히 설명하기 위한 도면이다.
도 4에 도시된 바와 같이, 예컨대 서스테인 전극(Z)에 그라운드 레벨(GND)의 전압이 인가되는 상태에서 스캔 전극(Y)에 서스테인 전압(Vs)이 인가되면, 스캔 전극(Y)에 의한 서스테인 방전이 발생된다. 이와는 반대로 스캔 전극(Y)에 그라운드 레벨(GND)의 전압이 인가되는 상태에서 서스테인 전극(Z)에 서스테인 전압(Vs)이 인가되면, 서스테인 전극(Z)에 의한 서스테인 방전이 발생된다. 이와 같이, 서스테인 방전은 스캔 전극(Y)과 서스테인 전극(Z)에 의해 교번하여 발생한다. 또한, 이러한 종래의 서스테인 파형은 스캔 전극(Y)과 서스테인 전극(Z)에 의해 교번하여 발생하는 각각의 서스테인 방전들 사이의 방전시점간의 시간차이가 모두 동일하다. 예컨대, 하나의 서스테인 방전이 10㎲(마이크로초)의 시점에서 발생하였다고 가정하면, 그 다음 서스테인 방전은 11㎲(마이크로초)의 시점에서 발생하고, 그 다음 서스테인 방전은 12㎲(마이크로초), 그 다음은 13㎲(마이크로초), 그 다음은 14㎲(마이크로초)의 순서로 각각의 서스테인 방전간의 방전시점간의 시간차이는 1㎲(마이크로초)로 모두 동일한 것이다. 이와 같은 서스테인 방전들은 실제로 연속적으로 발생한다고 할 수 있다.
이러한 서스테인 방전은 플라즈마 디스플레이 패널의 주 표시 방전으로 강한 세기의 방전으로 방전셀 내의 형광체층으로 하여금 상대적으로 강한 광을 발산하도록 한다.
한편, 전술한 방전셀 내의 형광체층(도 1의 114)은 서스테인 펄스의 개수가 증가하면 할수록 더 많은 광을 발생시키는 것이 아니고, 소정 지점에서 포화되는 휘도포화특성을 갖는다. 이러한 형광체의 휘도포화특성을 살펴보면 다 음 도 5와 같다.
도 5는 일반적인 플라즈마 디스플레이 패널의 형광체의 휘도포화특성을 설명하기 위한 도면이다.
도 5에 도시된 바와 같이, 일반적인 플라즈마 디스플레이 패널의 형광체는 서스테인 펄스의 개수가 증가하면 할수록 계속해서 더 많은 광량을 발생시키는 것이 아니고, 소정 휘도 지점(a)에서 포화된다. 예를 들어, 형광체가 휘도포화되는 지점이 서스테인 펄스 개수가 300개인 지점이라고 가정하면, 서스테인 펄스의 개수를 500개 인가하더라도 해당 형광체는 서스테인 펄스의 개수가 300개인 지점의 휘도만큼의 광량이 발생시킨다. 이러한 형광체의 휘도포화는 연속적으로 서스테인 펄스가 인가되는 경우에 발생한다.
이러한 형광체의 휘도포화특성이 발생하는 이유를 살펴보면, 소정의 형광체는 방전셀 내에서 초기에 안정된 상태로 존재하다가, 서스테인 방전이 발생한 이후에 상대적으로 불안정한 상태로 되면서 소정의 빛을 발광하고 이후, 소정의 시간이 경과하면 다시 안정된 상태로 되돌아온다. 즉, 서스테인 방전이 발생하면 형광체는 불안정한 상태가 되었다가 소정 시간이 지난 이후에야 다시 안정된 상태로 복귀하는 것이다. 이러한 특성의 형광체에 연속적으로 서스테인 펄스, 즉 연속적인 서스테인 방전을 발생시키면 안정된 상태로 복귀하기도 전에 형광체에 서스테인 방전이 다시 형광체를 불안정하게 만들고, 이러한 과정이 계속되면 형광체가 불안정한 상 태로 계속 유지됨으로써 포화되는 것이다. 결국, 서스테인 펄스가 증가하여도 형광체포화특성으로 인해 발생되는 광의 양이 증가하지 않게 되어 플라즈마 디스플레이 패널의 휘도가 저감되어 구동효율이 감소하는 문제점이 있다.
한편, 최근에는 플라즈마 디스플레이 패널의 대형화가 되면서 하나의 화면을 두 개의 영역으로 나누고, 이렇게 나눈 각 영역별로 서로 다른 구동모듈을 이용하여 스캐닝하는 듀얼 스캔(Dual Scan)방식이 적용되고 있다. 이러한 듀얼 스캔 방식을 일례를 살펴보면 다음 도 6과 같다.
도 6은 일반적인 듀얼 스캔 방식을 설명하기 위한 도면이다.
도 6에 도시된 바와 같이, 일반적인 듀얼 스캔 방식은 하나의 플라즈마 디스플레이 패널(500)을 두 개의 영역, 즉 A영역과 B영역으로 나누고 이렇게 나눈 A영역과 B영역을 각각 다른 구동모듈(미도시)로서 스캐닝한다. 이에 따라, 각각의 개별적인 구동모듈(미도시)은 플라즈마 디스플레이 패널(500)의 일부, 즉 각각 WA길이 또는 WB만큼만 스캐닝하게 되어 스캐닝시간이 줄어들게 되어 보다 효율적인 구동이 가능하다.
그러나 이러한 듀얼 스캔 방식은 두 개의 구동모듈을 사용하게 되어 그 만큼 제조 단가가 상승하는 문제점이 있다. 이에 따라, 제조 단가를 줄이기 위해 최근에는 하나의 구동모듈로 플라즈마 디스플레이 패널(500) 전체를 스캐닝하는 싱글 스캔(Single Scan)방식이 적용되고 있다.
그러나 이러한 싱글 스캔 방식은 제조 단가는 상대적으로 낮지만, 하나의 구 동모듈로 전체 플라즈마 디스플레이 패널(500)을 스캐닝해야 하므로 어드레스 기간이 길어져 구동효율이 감소하는 문제점이 있다. 또한 어드레스 기간이 길어짐에 따라 총 서브필드의 개수가 감소하여 하나의 서스테인 기간에 포함되는 서스테인 펄스의 수가 증가한다. 이렇게 듀얼 스캔 방식에 싱글 스캔 방식으로 스캐닝 방식이 전환될 때의 어드레스 기간 및 서스테인 기간이 길어지는 일례를 살펴보면 다음 도 7과 같다.
도 7은 듀얼 스캔 방식에서 싱글 스캔 방식으로 스캐닝 방식이 전환될 경우에의 어드레스 기간 및 서스테인 기간을 설명하기 위한 도면이다.
도 7에 도시된 바와 같이, 듀얼 스캔 방식(a)에서는 총 5개의 서브필드를 이용하여 구동펄스를 플라즈마 디스플레이 패널에 인가한다고 하면, 싱글 스캔 방식(b)에서는 동일한 크기의 플라즈마 디스플레이 패널을 구동시키기 위해서는 예컨대, 총 4개의 서브필드를 이용하여 구동펄스를 플라즈마 디스플레이 패널에 인가해야 한다. 그 이유는 도 6에서 설명한 바와 같이, 싱글 스캔 방식에서는 하나의 구동모듈이 스캐닝하는 플라즈마 디스플레이 패널의 면적이 듀얼 스캔 방식에서의 하나의 구동모듈이 스캐닝하는 플라즈마 디스플레이 패널 면적의 두 배 크기이기 때문에 듀얼 스캔 방식에 비해 상대적으로 어드레스 기간의 길이가 더 길어지기 때문이다.
이와 같이, 싱글 스캔에서 총 서브필드의 개수가 감소함에 따라 하나의 서브필드의 서스테인 기간의 길이 및 서스테인 펄스의 개수가 증가한다. 이에 따라, 하나의 서브필드의 서스테인 기간에서의 서스테인 펄스가 증가함으로써 더욱 용이하 게 형광체가 휘도포화된다.
도 5에서 전술한 바와 같이, 서스테인 펄스의 개수를 계속해서 증가시키면 소정의 휘도 지점에서 포화되는 형광체의 휘도포화특성으로 인해 도 7과 같이 하나의 서스테인 기간에 포함되는 서스테인 펄스의 개수가 증가하게 되면 인가되는 서스테인 펄스 대비 발생하는 광량이 감소하여 결국 플라즈마 디스플레이 패널의 구동효율이 감소하는 문제점이 있다.
이러한 문제점을 해결하기 위해 본 발명은 하나의 서스테인 기간의 서스테인 펄스의 개수를 증가시키더라도 형광체가 휘도포화되는 것을 억제하여 구동효율을 높이는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법을 제공하는데 그 목적이 있다.
이러한 목적을 이루기 위한 본 발명은, 리셋 기간, 어드레스 기간 및 서스테인 기간에 어드레스 전극, 스캔 전극 및 서스테인 전극에 신호가 인가되는 서브필드의 조합에 의하여 화상을 표현하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동 방법에 있어서, 서스테인 기간에는 복수의 서스테인 방전이 발생하고, 복수의 서스테인 방전 중에서 적어도 어느 하나의 서스테인 방전 이후 다음 서스테인 방전이 발생할 때까지의 방전시점간의 시간차는 다른 서스테인 방전 이후 다음 서스테인 방전이 발생할 때까지의 방전시점간의 시간차와 서로 다른 것을 특징으로 한다.
여기서, 복수의 서스테인 방전 중에서 적어도 어느 하나의 서스테인 방전 이후 다음 서스테인 방전이 발생할 때까지의 방전시점간의 시간차는 다른 서스테인 방전 이후 다음 서스테인 방전이 발생할 때까지의 방전시점간의 시간차 보다 더 큰 것을 특징으로 한다.
또한, 복수의 서스테인 방전 중에서 적어도 어느 하나의 서스테인 방전 이후 다음 서스테인 방전이 발생할 때까지의 방전시점간의 시간차는 10㎲(마이크로초)이상 500㎲(마이크로초)이하인 것을 특징으로 한다.
또한, 복수의 서스테인 방전 중에서 서스테인 방전 이후 다음 서스테인 방전이 발생할 때까지의 방전시점간의 시간차가 10㎲(마이크로초)이상 500㎲(마이크로초)이하인 서스테인 방전은 개수는 1개인 것을 특징으로 한다.
또한, 방전시점간의 시간차는 형광체의 휘도포화특성에 따라 조절되는 것을 특징으로 한다. 여기서, 방전시점간의 시간차는 형광체의 휘도포화특성이 심화됨에 따라 증가하는 것을 특징으로 한다.
또한 이러한 목적을 이루기 위한 본 발명은, 리셋 기간, 어드레스 기간 및 서스테인 기간에 어드레스 전극, 스캔 전극 및 서스테인 전극에 신호가 인가되는 복수의 서브필드의 조합에 의하여 화상을 표현하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동 방법에 있어서, 서스테인 기간에는 복수의 서스테인 방전이 발생하고, 복수의 서스테인 방전들을 복수개의 방전그룹으로 나누고, 복수의 서브필드 중에서 적어도 어느 하나의 서브필드에서는 서스테인 기간에 상기 복수개의 방전그룹 내에 포함된 서스테인 방전들 사이의 방전시점간의 차이와, 각각의 방전그룹 사이의 방전시점간의 차이는 서로 다른 것을 특징으로 한다.
여기서, 복수의 서브필드 중 서스테인 기간에 복수개의 방전그룹 내에 포함 된 서스테인 방전들 사이의 방전시점간의 차이와, 각각의 방전그룹 사이의 방전시점간의 차이가 서로 다른 서브필드는 하나의 프레임에 포함된 모든 서브필드인 것을 특징으로 한다.
또한, 복수의 서브필드 중 서스테인 기간에 복수개의 방전그룹 내에 포함된 서스테인 방전들 사이의 방전시점간의 차이와, 각각의 방전그룹 사이의 방전시점간의 차이가 서로 다른 서브필드는 마지막 서브필드로부터 임의의 서브필드까지인 것을 특징으로 한다.
또한, 복수의 각 방전그룹 사이의 방전시점간의 차이는 복수개의 방전그룹 내에 포함된 서스테인 방전들 사이의 방전시점간의 차이 보다 더 큰 것을 특징으로 한다.
또한, 각 방전그룹 내에 포함된 서스테인 방전들 사이의 방전시점간의 차이는 동일한 것을 특징으로 한다.
또한, 각 방전그룹 사이의 방전시점간의 차이의 합은 10㎲(마이크로초)이상 500㎲(마이크로초)이하인 것을 특징으로 한다.
또한, 방전그룹 사이의 방전시점간의 시간차의 합은 형광체의 휘도포화특성에 따라 조절되는 것을 특징으로 한다.
또한, 방전그룹 사이의 방전시점간의 시간차의 합은 형광체의 휘도포화특성이 심화됨에 따라 증가하는 것을 특징으로 한다.
또한, 방전그룹의 개수는 두 개인 것을 특징으로 한다.
또한, 두 개의 방전그룹 사이의 방전시점간의 차이는 10㎲(마이크로초)이상 500㎲(마이크로초)이하인 것을 특징으로 한다.
또한, 두 개의 방전그룹 중 하나의 방전그룹 내에 포함된 서스테인 방전들 사이의 방전시점간의 차이와, 다른 방전그룹 내에 포함된 서스테인 방전들 사이의 방전시점간의 차이는 동일한 것을 특징으로 한다.
또한, 두 개의 방전그룹에 포함된 서스테인 방전의 총 개수가 N개이고, 두 개의 방전그룹 중 어느 하나의 방전그룹은 2개 이상 (N-2)개 이하의 방전 개수를 갖는 것을 특징으로 한다.
또한, 두 개의 방전그룹에 포함된 서스테인 방전의 개수는 각각 동일한 것을 특징으로 한다.
또한, 방전그룹 사이의 방전시점간의 시간차는 형광체의 휘도포화특성에 따라 조절되는 것을 특징으로 한다.
또한, 방전그룹 사이의 방전시점간의 시간차는 형광체의 휘도포화특성이 심화됨에 따라 증가하는 것을 특징으로 한다.
이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법의 실시예를 상세히 설명한다.
<제 1 실시예>
도 8a 내지 도 8d는 본 발명의 제 1 실시예를 설명하기 위한 도면이다.
도 8a 내지 도 8d에 도시된 바와 같이, 본 발명의 제 1 실시예는 서스테인 기간에는 복수의 서스테인 방전이 발생하고, 복수의 서스테인 방전 중에서 적어도 어느 하나의 서스테인 방전 이후 다음 서스테인 방전이 발생할 때까지의 방전시점간의 시간차는 다른 서스테인 방전 이후 다음 서스테인 방전이 발생할 때까지의 방전시점간의 시간차와 서로 다르다.
여기서, 복수의 서스테인 방전 중에서 적어도 어느 하나의 서스테인 방전 이후 다음 서스테인 방전이 발생할 때까지의 방전시점간의 시간차는 다른 서스테인 방전 이후 다음 서스테인 방전이 발생할 때까지의 방전시점간의 시간차 보다 더 큰 것이 더욱 바람직하다.
예를 들면, 도 8a와 같이, 하나의 서브필드의 서스테인 기간에 스캔 전극 또는 서스테인 전극으로 인가되는 서스테인 펄스 중 소정 개수의 서스테인 펄스(80)를 선택, 즉 서스테인 기간에 발생하는 복수의 서스테인 방전 중에서 소정 개수의 서스테인 방전을 선택하고, 선택한 서스테인 방전 이후 다음 서스테인 방전이 발생할 때까지의 방전시점간의 시간차를 다른 서스테인 방전 이후 다음 서스테인 방전이 발생할 시점까지의 방전시점간의 시간차 보다 더 크게 한다.
한편, 서스테인 기간에서는 스캔 전극(Y) 및 서스테인 전극(Z)에 서스테인 펄스가 교번적으로 인가된다. 예컨대 스캔 전극(Y)으로 인가되는 서스테인 펄스 중 두 개의 서스테인 펄스를 선택하고 이렇게 선택한 서스테인 펄스의 인가시점간의 차이, 펄스간의 간격을 WL이라하고, 다른 펄스간의 간격을 Ws라고 하면, 전술한 WL이 Ws보다 더 크게 설정된다. 이러한 펄스간의 간격은 서스테인 전극에서도 동일하게 설정된다. 여기 도 8a와 같이, 이러한 펄스간의 간격이 WL과 Ws를 모두 갖는 서 스테인 펄스가 스캔 전극 및 서스테인 전극에 교번적으로 인가되면, 스캔 전극 및 서스테인 전극에 교번적으로 인가되는 서스테인 펄스로 인해 전술한 간격 WL사이의 서스테인 펄스가 인가되는 시점에서 스캔 전극 또는 서스테인 전극에 의한 방전시점 TL의 차이를 갖는 두 개의 방전이 발생한다. 이때 다른 서스테인 펄스에 의해 발생되는 서스테인 방전의 방전시점의 차이는 Ts로서 전술한 TL보다 작다.
이상에서 설명한 방전시점간의 차이 TL은 10㎲(마이크로초)이상 500㎲(마이크로초)이하인 것이 바람직하다. 이는 한 서브필드의 서스테인 기간의 길이가 무한정 길어질 수 없기 때문에 서스테인 마진을 확보하기 위해 최대 500㎲(마이크로초)이하의 시간을 방전시점간의 차이 TL로 설정하는 것이고 또한, 최소한 10㎲(마이크로초)이상의 시간을 방전시점간의 차이 TL로 설정하여야 형광체의 휘도포화특성에 의한 휘도가 저감되는 것을 억제하여 구동효율을 높일 수 있기 때문이다.
여기서, 서스테인 마진의 확보의 측면에서 보면 복수의 서스테인 방전 중에서 서스테인 방전 이후 다음 서스테인 방전이 발생할 때까지의 방전시점간의 시간차가 10㎲(마이크로초)이상 500㎲(마이크로초)이하인 서스테인 방전은 개수, 즉 방전시점간의 차이 TL을 유발시키는 서스테인 방전의 개수는 1개인 것이 바람직하다.
도 8b를 살펴보면 전술한 도 8a와는 다르게, 전술한 방전시점간의 차이 TL이 서스테인 펄스 내에서 1번만 포함되어 있다. 즉, 서스테인 기간에서 스캔 전극 또는 서스테인 전극으로 인가되는 복수의 서스테인 펄스 중 부호 81번의 서스테인 펄 스에 의한 서스테인 방전과 그 다음 서스테인 펄스에 의한 서스테인 방전간의 서스테인 방전시점간의 차이가 상대적으로 긴 TL의 시간차를 갖는다. 이때 다른 서스테인 방전간의 시간차는 Ts로 유지된다.
이러한 상대적으로 긴 시간차 TL은 서스테인 펄스 사이에 포함되는데, 이러한 TL이 포함되는 위치는 서스테인 펄스 사이에서 임의로 선택될 수 있다. 예를 들면, 도 8c와 같이, 서스테인 기간에서 스캔 전극(Y)에 인가되는 첫 번째 서스테인 펄스 이후에 방전시점간의 차이 TL이 삽입될 수도 있고, 도 8d와 같이, 서스테인 기간에서 스캔 전극(Y)에 인가되는 마지막 서스테인 펄스 이후에 방전시점간의 차이 TL이 삽입될 수도 있다.
이러한, 방전시점간의 시간차 TL은 형광체의 휘도포화특성에 따라 조절되는데, 예컨대, 방전시점간의 시간차 TL은 형광체의 휘도포화특성이 심화됨에 따라 전술한 10㎲(마이크로초)이상 500㎲(마이크로초)이하의 범위 내에서 증가한다.
이렇게 하나의 서스테인 기간에서의 적어도 어느 하나의 서스테인 방전 이후 다음 서스테인 방전이 발생할 때까지의 방전시점간의 시간차를 다른 서스테인 방전 이후 다음 서스테인 방전이 발생할 때까지의 방전시점간의 시간차 보다 더 크게 설정함으로써, 즉 서스테인 기간에서 스캔 전극 또는 서스테인 전극으로 인가되는 서스테인 펄스의 사이에 방전시점간의 시간차 TL을 삽입함으로써, 형광체의 휘도포화특성에 의한 플라즈마 디스플레이 패널의 구동효율의 저감을 억제할 수 있는데, 이 러한 특성곡선을 살펴보면 다음 도 9와 같다.
도 9는 본 발명의 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법에 따른 휘도 특성곡선을 나타낸 도면이다.
도 9에 도시된 바와 같이, 본 발명의 구동파형에 의해 종래의 도 5에 비해 형광체가 포화되는 정도가 저감된다. 즉, 본 발명이 구동파형에서는 종래의 도 5에 비해 형광체포화가 발생되지 않거나 또는 형광체가 포화되더라도 종래의 도 5에 비해 좀 더 높은 휘도에서 포화된다. 결국, 본 발명의 구동파형은 종래에 비해 더 많은 광을 발생시킨다. 이에 따라 동일한 개수의 서스테인 방전, 즉 서스테인 펄스 대비 발생하는 광의 양이 증가하여 구동효율을 향상시킨다. 예를 들어, 종래의 구동파형에서 형광체가 포화되는 지점이 서스테인 방전, 즉 서스테인 펄스 개수가 300개인 지점이라고 가정하면, 종래에는 서스테인 방전의 개수를 500개 인가하더라도 해당 형광체는 서스테인 방전의 개수가 300개인 지점의 휘도만큼의 광량이 발생시킨다. 그러나 본 발명의 구동파형에서는 형광체가 포화되지 않아 500개의 서스테인 방전에 해당하는 광량이 발생되거나 또는 형광체가 포화되더라도 종래의 300개의 서스테인 방전보다 더 많은 수의 서스테인 방전의 지점에서 포화되기 때문에 발생하는 광량이 증가한다.
이와 같이, 종래와 같이 동일한 개수의 서스테인 방전이 발생하는 경우에 종래에 비해 더 많은 광이 발생하는 이유는 서스테인 방전이 연속적으로 발생하는 도중에 상대적으로 긴 시간동안 방전이 발생되지 않는 상태가 유지되어 불안정한 상태의 형광체를 안정시킬 수 있을 만큼의 충분한 시간이 확보된다. 이에 따라 형광 체가 안정화된 이후에 다시 광을 발생시키게 됨으로써 하나의 서스테인 기간에 발생하는 총 광량이 증가한다. 결국, 서스테인 펄스가 증가하여도 형광체의 휘도포화특성으로 인한 플라즈마 디스플레이 패널의 휘도 저하가 억제되어 구동효율이 증가한다.
이상의 본 발명이 제 1 실시예에서는 서스테인 기간에서의 적어도 어느 하나의 서스테인 방전 이후 다음 서스테인 방전이 발생할 때까지의 방전시점간의 시간차를 다른 서스테인 방전 이후 다음 서스테인 방전이 발생할 때까지의 방전시점간의 시간차 보다 더 크게 설정하였지만, 이와는 다르게 서스테인 기간에서 발생하는 서스테인 방전들을 소정의 그룹으로 나누고, 이렇게 나눈 그룹별로 방전시점간의 차이를 조절할 수도 있는데, 이를 살펴보면 다음 제 2 실시예와 같다.
<제 2 실시예>
도 10a 내지 도 10d는 본 발명의 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법에 따른 제 2 실시예를 설명하기 위한 도면이다.
도 10a 내지 도 10d에 도시된 바와 같이, 서스테인 기간에는 복수의 서스테인 방전이 발생하고, 복수의 서스테인 방전들을 복수개의 방전그룹으로 나누고, 복수개의 방전그룹 내에 포함된 서스테인 방전들 사이의 방전시점간의 차이와, 각각의 방전그룹 사이의 방전시점간의 차이는 서로 다르다. 즉, 서스테인 기간에서 스캔 전극 또는 서스테인 전극으로 인가되어 서스테인 방전을 발생시키는 서스테인 펄스를 그룹별로 구분하고, 이렇게 구분한 그룹별로 방전시점을 다르게 한다.
여기서 바람직하게는 복수의 각 방전그룹 사이의 방전시점간의 차이는 복수개의 방전그룹 내에 포함된 서스테인 방전들 사이의 방전시점간의 차이 보다 더 크다.
예를 들면, 도 10a와 같이, 하나의 서브필드의 서스테인 기간에 포함되는 서스테인 펄스들을 소정 개수씩 묶어 복수의 방전그룹(100, 101, 102)으로 구분하고, 이렇게 구분한 각 방전그룹(100, 101, 102)내에서는 각 방전그룹(100, 101, 102)별로 서스테인 펄스들 사이의 인가시점간의 차이(Ws)는 동일하고, 방전그룹(100, 101, 102) 사이의 두 개의 서스테인 펄스의 인가시점간의 차이(WL)는 다른 서스테인 펄스들의 인가시점간의 차이(WS)보다 더 크게 한다.
다르게 표현하면, 하나의 서스테인 펄스는 한 번의 서스테인 방전을 의미하므로, 서스테인 기간에서 발생하는 복수의 서스테인 방전들을 도 10a와 같이 세 개의 방전그룹(100, 101, 102)으로 나눈다고 가정하면, 각각의 방전그룹(100, 101, 102) 내에 포함된 서스테인 방전들 사이의 방전시점간의 차이(TS)는 동일하고, 세 개의 각 방전그룹(100, 101, 102) 사이의 두 개의 서스테인 방전의 방전시점간의 차이(TL)는 즉 각각의 방전그룹(100, 101, 102) 내에 포함된 서스테인 방전들 사이의 방전시점간의 차이(TS)보다 더 크다. 이때의 각각의 방전 그룹(100, 101, 102)에 포함된 서스테인 방전의 개수, 즉 서스테인 펄스의 개수는 도 10a와 같이 서로 다르게 설정할 수도 있고, 동일하게 설정할 수도 있다.
여기서, 각 방전그룹(100, 101, 102) 사이의 방전시점간의 차이(TL)의 합은 10㎲(마이크로초)이상 500㎲(마이크로초)이하인 것이 바람직하다.
이와 같이 각 방전그룹(100, 101, 102) 사이의 방전시점간의 차이(TL)의 합을 10㎲(마이크로초)이상 500㎲(마이크로초)이하로 설정한 이유는 본 발명의 제 1 실시예에서 전술한 바와 같이, 형광체 휘도포화특성을 저감시킴과 동시에 구동 시 서스테인 마진을 확보하기 위해서이다.
여기서, 각 방전그룹(100, 101, 102) 사이의 방전시점간의 시간차(TL)의 합은 형광체의 휘도포화특성에 따라 조절되는데, 이러한 방전그룹(100, 101, 102) 사이의 방전시점간의 시간차(TL)의 합은 형광체의 휘도포화특성이 심화됨에 따라 10㎲(마이크로초)이상 500㎲(마이크로초)이하의 범위 내에서 증가하는 것이 바람직하다.
여기서, 구동 시 서스테인 마진의 확보를 더욱 효과적으로 수행하기 위해 서스테인 기간에 인가되는 서스테인 펄스들을 두 개의 그룹으로 나누어 구동하는 방법 더욱 바람직한데, 이를 살펴보면 도 10b와 같다.
도 10b를 살펴보면, 하나의 서브필드의 서스테인 기간에 포함되는 서스테인 펄스들을 두 개의 그룹(103, 104)으로 나누고, 각각의 그룹(103, 104) 내에 포함된 서스테인 펄스들 사이의 인가시점간의 차이(WS)는 동일하고, 두 개의 그룹(103, 104) 사이의 두 개의 서스테인 펄스의 인가시점간의 차이(WL)를 다른 서스테인 펄스 들의 인가시점간의 차이(WS)보다 더 크게 한다.
다르게 표현하면, 전술한 바와 같이 하나의 서스테인 펄스는 한 번의 서스테인 방전을 의미하므로, 서스테인 기간에서 발생하는 복수의 서스테인 방전들을 두 개의 방전그룹(103, 104)으로 나눈다고 가정하면, 각각의 방전그룹(103, 104) 내에 포함된 서스테인 방전들 사이의 방전시점간의 차이(TS)는 동일하고, 두 개의 방전그룹(103, 104)간의 방전시점간의 차이(TL)는 즉 각각의 방전그룹 내에 포함된 서스테인 방전들 사이의 방전시점간의 차이(TS)보다 더 크다.
여기서, 각각의 그룹(103, 104)에 포함된 서스테인 펄스의 개수는 형광체의 휘도특성에 따라 조절될 수 있다.
예컨대, 전술한 두 개의 방전그룹(103, 104)에 포함된 서스테인 방전의 총 개수가 N개라고 가정하면, 두 개의 방전그룹(103, 104) 중 어느 하나의 방전그룹은 2개 이상 (N-2)개 이하의 방전 개수를 갖는다. 여기서 더욱 바람직하게는 두 개의 방전그룹(103, 104)에 포함된 서스테인 방전의 개수는 각각 동일하다.
이러한 두 개의 방전그룹(103, 104) 사이의 두 개의 서스테인 방전의 방전시점간의 차이, 즉 두 개의 방전그룹(103, 104)간의 방전시점간의 차이(TL)는 10㎲(마이크로초)이상 500㎲(마이크로초)이하인 것이 바람직하다. 이는 전술한 바와 같이 한 서브필드의 서스테인 기간의 길이가 무한정 길어질 수 없기 때문에 서스테인 마진을 확보하기 위해 최대 500㎲(마이크로초)이하의 시간을 방전그룹(103, 104) 사 이의 두 개의 서스테인 방전의 방전시점간의 차이(TL)로 설정하는 것이고 또한, 최소한 10㎲(마이크로초)이상의 시간을 방전그룹(103, 104) 사이의 두 개의 서스테인 방전의 방전시점간의 차이(TL)로 설정하여야 형광체의 휘도포화특성에 의한 휘도가 저감되는 것을 억제하여 구동효율을 높일 수 있기 때문이다.
여기서, 전술한 두 개의 방전그룹(103, 104) 사이의 방전시점간의 차이(TL)는 10㎲(마이크로초)이상 500㎲(마이크로초)이하인 것이 바람직하다.
한편, 전술한 두 개의 방전그룹(103, 104) 중 하나의 방전그룹, 예컨대 부호 103의 방전그룹 내에 포함된 서스테인 방전들 사이의 방전시점간의 차이와, 다른 방전그룹, 예컨대 부호 104의 방전그룹 내에 포함된 서스테인 방전들 사이의 방전시점간의 차이는 동일하게 설정하는 것이 바람직하다. 그러나 이러한 전술한 두 개의 방전그룹(103, 104) 중 하나의 방전그룹 내에 포함된 서스테인 방전들 사이의 방전시점간의 차이와, 다른 방전그룹 내에 포함된 서스테인 방전들 사이의 방전시점간의 차이는 서로 다르게 설정할 수도 있다.
여기서, 전술한 방전그룹 사이의 방전시점간의 시간차(TL)는 형광체의 휘도포화특성에 따라 조절되는데, 바람직하게는 방전그룹 사이의 방전시점간의 시간차(TL)는 형광체의 휘도포화특성이 심화됨에 따라 증가한다.
여기 도 10b에서는 각각의 방전 그룹(103, 104)에 포함된 서스테인 방전, 즉 서스테인 펄스의 수를 각각의 그룹(103, 104)에서 동일하게 설정하였는데, 이와는 다르게 각각의 그룹(103, 104) 중 어느 하나에 포함된 서스테인 방전의 개수, 즉 서스테인 펄스의 수를 적거나 많게 설정할 수도 있다.
도 10c를 살펴보면 도 10b와는 다르게 부호 105의 방전그룹에 포함된 서스테인 방전의 개수를 부호 106의 방전그룹에 포함된 서스테인 방전의 개수에 비해 적게 설정하였다. 예를 들면, 하나의 서스테인 방전, 즉 하나의 서스테인 펄스 또는 한 쌍의 서스테인 방전, 즉 한 쌍의 서스테인 펄스만을 부호 105의 방전그룹에 포함시키고, 나머지 서스테인 방전, 즉 서스테인 펄스를 부호 106의 방전그룹에 포함시킬 수 있다.
또는, 도 10d와 같이, 부호 108의 방전그룹에 포함된 서스테인 방전의 개수를 부호 107의 방전그룹에 포함된 서스테인 방전의 개수에 비해 적게 설정하였다. 예를 들면, 하나의 서스테인 방전, 즉 하나의 서스테인 펄스 또는 한 쌍의 서스테인 방전, 즉 한 쌍의 서스테인 펄스만을 부호 108의 방전그룹에 포함시키고, 나머지 서스테인 방전, 즉 서스테인 펄스를 부호 107의 방전그룹에 포함시킬 수 있다.
이렇게 하나의 서스테인 기간에서의 서스테인 방전들을 그룹별로 나누어 구동시킴으로서 형광체의 휘도포화특성에 의한 플라즈마 디스플레이 패널의 구동효율의 저감을 억제한다.
이러한 본 발명의 제 2 실시예는 전술한 제 1 실시예와 실질적으로 동일하므로 더 이상의 중복되는 설명은 생략한다.
이상의 본 발명의 제 1 실시예 또는 제 2 실시예에서는 하나의 서브필드에서만 서스테인 기간에 서스테인 방전 사이의 방전시간간의 차이를 조절하는 것 만을 도시하고 설명하였지만, 이와는 다르게 하나의 프레임 내에서 소정의 서브필드를 선택하고, 이렇게 선택한 서브필드에서만 서스테인 기간에 서스테인 방전 사이의 방전시간간의 차이를 조절하는 것도 가능한데, 이러한 구동파형을 살펴보면 다음 제 3 실시예와 같다.
<제 3 실시예>
도 11a 내지 도 11b는 본 발명의 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법에 따른 제 3 실시예를 설명하기 위한 도면이다.
도 11a 내지 도 11b에 도시된 바와 같이, 본 발명의 제 3 실시예는 서스테인 기간에는 복수의 서스테인 방전이 발생하고, 복수의 서스테인 방전들을 복수개의 방전그룹으로 나누면, 복수의 서브필드 중에서 적어도 어느 하나의 서브필드에서는 서스테인 기간에 복수개의 방전그룹 내에 포함된 서스테인 방전들 사이의 방전시점간의 차이와, 각각의 방전그룹 사이의 방전시점간의 차이는 서로 다르다.
도 11a를 살펴보면 여기 본 발명의 제 3 실시예에서는 제 1 실시예 또는 제 2 실시예에서와는 다르게 하나의 프레임을 이루는 서브필드 중에서 소정 개수의 서브필드(E, F)를 선택하고, 이렇게 선택한 서브필드(E, F)의 서스테인 기간에서만 복수개의 방전그룹 내에 포함된 서스테인 방전들 사이의 방전시점간의 차이와, 각각의 방전그룹 사이의 방전시점간의 차이는 서로 다르게 설정되는 것이다. 여기서, 서스테인 기간에 복수개의 방전그룹 내에 포함된 서스테인 방전들 사이의 방전시점간의 차이와, 각각의 방전그룹 사이의 방전시점간의 차이는 서로 다르게 설정되는 서브필드를 선택하는 것은 서스테인 기간에서의 서스테인 방전의 개수, 즉 서스테인 펄스의 개수에 따라 선택될 수 있다. 예를 들면, 한 프레임의 모든 서브필드에서 서스테인 기간에 복수개의 방전그룹 내에 포함된 서스테인 방전들 사이의 방전시점간의 차이와, 각각의 방전그룹 사이의 방전시점간의 차이는 서로 다르게 설정될 수 있다.
또는 복수의 서브필드 중 마지막 서브필드로부터 임의의 서브필드까지의 서스테인 기간에 복수개의 방전그룹 내에 포함된 서스테인 방전들 사이의 방전시점간의 차이와, 각각의 방전그룹 사이의 방전시점간의 차이는 서로 다르게 설정하는 것도 가능하다. 이렇게 마지막 서브필드로부터 임의의 서브필드까지의 서브필드를 선택하는 방법의 일례가 도 10b에 나타나 있다.
도 10b를 살펴보면, 복수의 서브필드 중 마지막 서브필드의 서스테인 기간에서만 복수개의 방전그룹 내에 포함된 서스테인 방전들 사이의 방전시점간의 차이와, 각각의 방전그룹 사이의 방전시점간의 차이는 서로 다르도록 설정하였다. 여기 도 10b에서는 마지막 서브필드에서만 서스테인 기간에 복수개의 방전그룹 내에 포함된 서스테인 방전들 사이의 방전시점간의 차이와, 각각의 방전그룹 사이의 방전시점간의 차이는 서로 다르도록 하였지만, 마지막 서브필드로부터 2번째의 서브필드까지 또는 마지막 서브필드로부터 3번째 서브필드까지의 서브필드의 서스테인 기간에 복수개의 방전그룹 내에 포함된 서스테인 방전들 사이의 방전시점간의 차이와, 각각의 방전그룹 사이의 방전시점간의 차이는 서로 다르도록 하는 것도 가능한 것이다.
여기서, 하나의 프레임에 포함된 중 마지막 서브필드로부터 임의의 서브필드까지의 서스테인 기간에 복수개의 방전그룹 내에 포함된 서스테인 방전들 사이의 방전시점간의 차이와, 각각의 방전그룹 사이의 방전시점간의 차이는 서로 다르게 설정하는 이유는 상대적으로 서스테인 방전의 개수, 즉 서스테인 펄스의 개수가 많은 뒤쪽 서브필드에서 형광체가 포화되어 구동효율이 저감될 수 있는 가능성이 더욱 커지기 때문이다.
이러한 본 발명의 제 3 실시예는 실질적으로 본 발명의 제 1 실시예 또는 제 2 실시예와 동일하므로 더 이상의 중복되는 설명은 생략한다.
이상에서 보는 바와 같이, 본 발명이 속하는 기술분야의 당업자는 본 발명이 그 기술적 사상이나 필수적 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다.
그러므로 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적인 것이 아닌 것으로서 이해되어야 하고, 본 발명의 범위는 상기 상세한 설명보다는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어지며, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 등가개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.
이상에서 상세히 설명한 바와 같이, 본 발명의 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법은 서스테인 방전들 사이의 방전시점간의 시간차를 서스테인 기간에서 형광체의 휘도포화특성에 따라 조절하여, 플라즈마 디스플레이 패널의 구동효율을 높 인다.

Claims (21)

  1. 리셋 기간, 어드레스 기간 및 서스테인 기간에 어드레스 전극, 스캔 전극 및 서스테인 전극에 신호가 인가되는 서브필드의 조합에 의하여 화상을 표현하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동 방법에 있어서,
    상기 서스테인 기간에는 복수의 서스테인 방전이 발생하고,
    상기 복수의 서스테인 방전 중에서 적어도 어느 하나의 서스테인 방전 이후 다음 서스테인 방전이 발생할 때까지의 방전시점간의 시간차는 다른 서스테인 방전 이후 다음 서스테인 방전이 발생할 때까지의 방전시점간의 시간차와 서로 다른 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 복수의 서스테인 방전 중에서 적어도 어느 하나의 서스테인 방전 이후 다음 서스테인 방전이 발생할 때까지의 방전시점간의 시간차는 다른 서스테인 방전 이후 다음 서스테인 방전이 발생할 때까지의 방전시점간의 시간차 보다 더 큰 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 복수의 서스테인 방전 중에서 적어도 어느 하나의 서스테인 방전 이후 다음 서스테인 방전이 발생할 때까지의 방전시점간의 시간차는 10㎲(마이크로초)이 상 500㎲(마이크로초)이하인 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법.
  4. 제 3 항에 있어서,
    상기 복수의 서스테인 방전 중에서 서스테인 방전 이후 다음 서스테인 방전이 발생할 때까지의 방전시점간의 시간차가 10㎲(마이크로초)이상 500㎲(마이크로초)이하인 서스테인 방전은 개수는 1개인 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법.
  5. 제 1 항 내지 제 4 항 중 어느 하나의 항에 있어서,
    상기 방전시점간의 시간차는 형광체의 휘도포화특성에 따라 조절되는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법.
  6. 제 5 항에 있어서,
    상기 방전시점간의 시간차는 형광체의 휘도포화특성이 심화됨에 따라 증가하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법.
  7. 리셋 기간, 어드레스 기간 및 서스테인 기간에 어드레스 전극, 스캔 전극 및 서스테인 전극에 신호가 인가되는 복수의 서브필드의 조합에 의하여 화상을 표현하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동 방법에 있어서,
    상기 서스테인 기간에는 복수의 서스테인 방전이 발생하고,
    상기 복수의 서스테인 방전들을 복수개의 방전그룹으로 나누고,
    상기 복수의 서브필드 중에서 적어도 어느 하나의 서브필드에서는 서스테인 기간에 상기 복수개의 방전그룹 내에 포함된 서스테인 방전들 사이의 방전시점간의 차이와, 각각의 방전그룹 사이의 방전시점간의 차이는 서로 다른 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법.
  8. 제 7 항에 있어서,
    상기 복수의 서브필드 중 서스테인 기간에 상기 복수개의 방전그룹 내에 포함된 서스테인 방전들 사이의 방전시점간의 차이와, 각각의 방전그룹 사이의 방전시점간의 차이가 서로 다른 서브필드는 하나의 프레임에 포함된 모든 서브필드인 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법.
  9. 제 7 항에 있어서,
    상기 복수의 서브필드 중 서스테인 기간에 상기 복수개의 방전그룹 내에 포함된 서스테인 방전들 사이의 방전시점간의 차이와, 각각의 방전그룹 사이의 방전시점간의 차이가 서로 다른 서브필드는 마지막 서브필드로부터 임의의 서브필드까지인 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법.
  10. 제 7 항 내지 제 9 항 중 어느 하나의 항에 있어서,
    상기 복수의 각 방전그룹 사이의 방전시점간의 차이는 상기 복수개의 방전그룹 내에 포함된 서스테인 방전들 사이의 방전시점간의 차이 보다 더 큰 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법.
  11. 제 7 항 내지 제 9 항 중 어느 하나의 항에 있어서,
    상기 각 방전그룹 내에 포함된 서스테인 방전들 사이의 방전시점간의 차이는 동일한 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법.
  12. 제 7 항 내지 제 9 항 중 어느 하나의 항에 있어서,
    상기 각 방전그룹 사이의 방전시점간의 차이의 합은 10㎲(마이크로초)이상 500㎲(마이크로초)이하인 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법.
  13. 제 12 항에 있어서,
    상기 방전그룹 사이의 방전시점간의 시간차는 형광체의 휘도포화특성에 따라 조절되는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법.
  14. 제 13 항에 있어서,
    상기 방전그룹 사이의 방전시점간의 시간차는 형광체의 휘도포화특성이 심화됨에 따라 증가하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법.
  15. 제 7 항 내지 제 9 항 중 어느 하나의 항에 있어서,
    상기 방전그룹의 개수는 두 개인 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법.
  16. 제 15 항에 있어서,
    상기 두 개의 방전그룹 사이의 방전시점간의 차이는 10㎲(마이크로초)이상 500㎲(마이크로초)이하인 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법.
  17. 제 15 항에 있어서,
    상기 두 개의 방전그룹 중 하나의 방전그룹 내에 포함된 서스테인 방전들 사이의 방전시점간의 차이와, 다른 방전그룹 내에 포함된 서스테인 방전들 사이의 방전시점간의 차이는 동일한 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법.
  18. 제 15 항에 있어서,
    상기 두 개의 방전그룹에 포함된 서스테인 방전의 총 개수가 N개이고,
    상기 두 개의 방전그룹 중 어느 하나의 방전그룹은 2개 이상 (N-2)개 이하의 방전 개수를 갖는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법.
  19. 제 15 항에 있어서,
    상기 두 개의 방전그룹에 포함된 서스테인 방전의 개수는 각각 동일한 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법.
  20. 제 16 항에 있어서,
    상기 방전그룹 사이의 방전시점간의 시간차는 형광체의 휘도포화특성에 따라 조절되는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법.
  21. 제 20 항에 있어서,
    상기 방전그룹 사이의 방전시점간의 시간차는 형광체의 휘도포화특성이 심화됨에 따라 증가하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 구동방법.
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