KR20100058901A - 플라즈마 디스플레이 장치 및 그의 구동방법 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 플라즈마 디스플레이 장치 및 그의 구동방법에 관한 것이다.
본 발명에 따른 플라즈마 디스플레이 장치는 스캔 전극, 서스테인 전극, 어드레스 전극, 스캔 전극 및 서스테인 전극과 어드레스 전극이 교차하는 지점에 배치되는 복수의 방전셀을 포함하며, 복수의 선택적 소거 서브필드(Selective Erase Subfield)를 포함하는 복수의 프레임(Frame)으로 영상을 구현하는 플라즈마 디스플레이 패널 및 복수의 선택적 소거 서브필드 중 첫 번째 오프 선택적 소거 서브필드를 제외한 나머지 오프 선택적 소거 서브필드의 어드레스 기간에서는 선택적으로 데이터 신호를 공급하는 구동부를 포함할 수 있다.

Description

플라즈마 디스플레이 장치 및 그의 구동방법{Plasma Display Apparatus and Method for Driving thereof}
본 발명은 플라즈마 디스플레이 장치 및 그의 구동방법에 관한 것이다.
플라즈마 디스플레이 장치는 플라즈마 디스플레이 패널을 포함한다.
플라즈마 디스플레이 패널은 격벽으로 구획된 방전 셀(Cell) 내에 형성된 형광체 층을 포함하고, 아울러 복수의 전극(Electrode)을 포함한다.
플라즈마 디스플레이 패널의 전극에 구동 신호를 공급하면, 방전 셀 내에서는 공급되는 구동 신호에 의해 방전이 발생한다. 여기서, 방전 셀 내에서 구동 신호에 의해 방전이 될 때, 방전 셀 내에 충진 되어 있는 방전 가스가 진공자외선(Vacuum Ultraviolet rays)을 발생하고, 이러한 진공 자외선이 방전 셀 내에 형성된 형광체를 발광시켜 가시 광을 발생시킨다. 이러한 가시 광에 의해 플라즈마 디스플레이 패널의 화면상에 영상이 표시된다.
본 발명은 오프(Off)되는 선택적 소거 서브필드의 어드레스 기간에서 어드레스 전극의 논리(Logic) 레벨의 변화 횟수를 줄이기 위해 어드레스 전극에 선택적으로 데이터 신호를 공급하는 플라즈마 디스플레이 장치 및 그의 구동방법을 제공하는데 그 목적이 있다.
본 발명에 따른 플라즈마 디스플레이 장치는 스캔 전극, 서스테인 전극, 어드레스 전극, 스캔 전극 및 서스테인 전극과 어드레스 전극이 교차하는 지점에 배치되는 복수의 방전셀을 포함하며, 복수의 선택적 소거 서브필드(Selective Erase Subfield)를 포함하는 복수의 프레임(Frame)으로 영상을 구현하는 플라즈마 디스플레이 패널 및 복수의 선택적 소거 서브필드 중 첫 번째 오프 선택적 소거 서브필드를 제외한 나머지 오프 선택적 소거 서브필드의 어드레스 기간에서는 선택적으로 데이터 신호를 공급하는 구동부를 포함할 수 있다.
아울러, 구동부는 인접하는 임의의 두 개의 방전셀에 스캔 신호가 공급되는 동안 어드레스 전극의 논리(Logic) 레벨이 유지되도록 하기 위해 복수의 선택적 소거 서브필드 중 첫 번째 오프 선택적 소거 서브필드를 제외한 나머지 오프 선택적 소거 서브필드의 어드레스 기간에서는 선택적으로 데이터 신호를 공급할 수 있다.
또한, 임의의 두 개의 방전셀은 제 1 방전셀과 제 1 방전셀 보다 스캔 순서가 늦은 제 2 방전셀을 포함하고, 구동부는 제 1 방전셀에 스캔 신호에 대응되는 데이터 신호의 공급 여부에 따라 복수의 적어도 하나의 오프 선택적 소거 서브필드에서 제 2 방전셀에 선택적으로 데이터 신호를 공급할 수 있다.
또한, 복수의 선택적 소거 서브필드 중 제 1 선택적 소거 서브필드에서는 제 1 방전셀이 온되고, 제 2 방전셀이 오프되고, 제 1 선택적 소거 서브필드와 연속되며 시간적으로 뒤에 배치되는 제 2 선택적 소거 서브필드에서는 제 1 방전셀과 제 2 방전셀이 모두 오프되는 경우, 제 2 선택적 소거 서브필드의 어드레스 기간에서 제 1 방전셀과 제 2 방전셀에 데이터 신호를 공급할 수 있다.
또한, 제 2 선택적 소거 서브필드에서 제 1 방전셀과 제 2 방전셀에 데이터 신호가 공급되는 동안 어드레스 전극의 논리 레벨은 1(High Level)을 유지할 수 있다.
또한, 제 2 선택적 소거 서브필드의 어드레스 기간에서 제 1 방전셀에서 방전이 발생하고, 제 2 방전셀에서는 방전이 발생하지 않을 수 있다.
또한, 제 1 선택적 소거 서브필드의 어드레스 기간에서는 제 1 방전셀에 데이터 신호가 공급되지 않고, 제 2 방전셀에는 데이터 신호가 공급되거나 또는 공급되지 않을 수 있다.
또한, 선택적 소거 서브필드는 어드레스 기간에서 어드레스 전극에 데이터 신호가 공급된 방전셀을 어드레스 기간 이후의 서스테인 기간에서 오프(Off)시키는 서브필드일 수 있다.
또한, 프레임은 적어도 하나의 선택적 쓰기 서브필드(Selective Writing Sub-Field)를 포함할 수 있다.
또한, 선택적 쓰기 서브필드는 프레임의 복수의 서브필드 중 최초의 서브필드일 수 있다.
또한, 선택적 쓰기 서브필드는 어드레스 기간에서 어드레스 전극에 데이터 신호가 공급된 방전셀을 어드레스 기간 이후의 서스테인 기간에서 오프(Off)시키는 서브필드일 수 있다.
또한, 오프 선택적 소거 서브필드는 서스테인 기간에서 서스테인 방전이 발생하지 않는 선택적 소거 서브필드일 수 있다.
본 발명에 따른 다른 플라즈마 디스플레이 장치는 스캔 전극, 서스테인 전극, 어드레스 전극, 스캔 전극 및 서스테인 전극과 어드레스 전극이 교차하는 지점에 배치되는 복수의 방전셀을 포함하며, 복수의 선택적 소거 서브필드(Selective Erase Subfield)를 포함하는 복수의 프레임(Frame)으로 영상을 구현하는 플라즈마 디스플레이 패널 및 복수의 방전셀 중 동일한 어드레스 전극 상에서 스캔 순서가 연속인 임의의 두 개의 방전셀 중 어느 하나의 방전셀이 이전 선택적 소거 서브필드에서는 온되고, 현재 선택적 소거 서브필드에서는 오프되며 다른 하나의 방전셀이 이전 선택적 소거 서브필드에서 오프되는 경우에 현재 서브필드에서 다른 하나의 방전셀에 데이터 신호를 공급할 수 있다.
본 발명에 따른 플라즈마 디스플레이 장치의 구동방법은 복수의 선택적 소거 서브필드 중 임의의 제 1 선택적 소거 서브필드의 어드레스 기간에서 복수의 스캔 전극 중 임의의 제 1 스캔 전극에 제 1 스캔 신호를 공급하고, 제 1 스캔 전극과 스캔 순서가 연속인 제 2 스캔 전극에는 제 1 스캔 신호보다 공급시점이 늦은 제 2 스캔 신호를 공급하는 단계와, 제 1 스캔 신호가 공급되는 동안 복수의 어드레스 전극 중 임의의 제 1 어드레스 전극에 데이터 신호를 공급하지 않고, 제 2 스캔 신호가 공급되는 동안에는 제 1 어드레스 전극에 데이터 신호를 공급하는 단계와, 복수의 선택적 소거 서브필드 중 제 1 선택적 소거 서브필드와 연속하며 시간적으로 뒤에 배치되는 제 2 선택적 소거 서브필드의 어드레스 기간에서 제 1 스캔 전극에 제 3 스캔 신호를 공급하고, 제 2 스캔 전극에는 제 3 스캔 신호보다 공급시점이 늦은 제 4 스캔 신호를 공급하는 단계 및 제 3 스캔 신호가 공급되는 동안에 제 1 어드레스 전극에 데이터 신호를 공급하고, 제 4 스캔 신호가 공급되는 동안에도 제 1 어드레스 전극에 데이터 신호를 공급하는 단계를 포함할 수 있다.
본 발명에 따른 다른 플라즈마 디스플레이 장치의 구동방법은 복수의 선택적 소거 서브필드 중 제 1 선택적 소거 서브필드에서는 복수의 방전셀 중 동일한 어드레스 전극 상에서 서로 인접하게 배치되는 임의의 두 개의 방전셀 중 제 1 방전셀에는 데이터 신호를 공급하지 않고, 제 2 방전셀에는 데이터 신호를 공급하는 단계 및 복수의 선택적 소거 서브필드 중 제 1 선택적 소거 서브필드보다 시간적으로 뒤에 배치되는 제 2 선택적 소거 서브필드에서는 복수의 제 1, 2 방전셀에 데이터 신호를 공급할 수 있다.
본 발명에 따른 플라즈마 디스플레이 장치 및 그의 구동방법은 오프(Off)되는 선택적 소거 서브필드의 어드레스 기간에서 어드레스 전극에 선택적으로 데이터 신호를 공급함으로써 어드레스 전극의 논리(Logic) 레벨의 변화 횟수를 줄일 수 있 고, 이에 따라 변위 전류의 발생을 줄여 구동 안정성을 높이고, 구동 효율을 향상시키는 효과가 있다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 플라즈마 디스플레이 장치 및 그의 구동방법을 상세히 설명한다.
도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 플라즈마 디스플레이 장치의 구성에 대해 설명하기 위한 도면이다.
도 1을 살펴보면, 본 발명의 일실시예에 따른 플라즈마 디스플레이 장치는 플라즈마 디스플레이 패널(100)과 구동부(110)를 포함할 수 있다.
플라즈마 디스플레이 패널(100)은 서로 나란한 스캔 전극(Y1~Yn)과 서스테인 전극(Z1~Zn)을 포함하고, 아울러 스캔 전극 및 서스테인 전극과 교차하는 어드레스 전극(X1~Xm)을 포함하고, 스캔 전극 및 서스테인 전극과 어드레스 전극이 교차하는 지점에 배치되는 복수의 방전셀을 포함할 수 있다.
아울러, 플라즈마 디스플레이 패널(100)은 적어도 하나의 선택적 소거 서브필드(Selective Erasing Subfield)를 포함하는 프레임으로 영상을 구현할 수 있다. 또한, 영상 구현을 위한 프레임은 선택적 소거 서브필드 이외에 적어도 하나의 선택적 쓰기 서브필드(Selective Writing Subfield)를 포함할 수 있다. 이러한 경우, 선택적 쓰기 서브필드는 선택적 소거 서브필드 이전에 배치되는 배치될 수 있다.
구동부(110)는 플라즈마 디스플레이 패널(100)의 스캔 전극, 서스테인 전극 또는 어드레스 전극 중 적어도 하나로 구동신호를 공급하여, 플라즈마 디스플레이 패널(100)의 화면에 영상이 구현되도록 할 수 있다. 바람직하게는, 구동부(110)는 복수의 선택적 소거 서브필드 중 첫 번째 오프 선택적 소거 서브필드를 제외한 나머지 오프 선택적 소거 서브필드의 어드레스 기간에서는 선택적으로 데이터 신호를 공급할 수 있다. 여기서, 오프 선택적 소거 서브필드의 어드레스 기간에서 어드레스 전극으로 선택적으로 데이터 신호를 공급하는 이유는 인접하는 임의의 두 개의 방전셀에 스캔 신호가 공급되는 동안 어드레스 전극의 논리(Logic) 레벨이 유지되도록 하기 위함일 수 있다.
여기, 도 1에서는 구동부(110)가 하나의 보드(Board) 형태로 이루어지는 경우만 도시하고 있지만, 본 발명에서 구동부(110)는 플라즈마 디스플레이 패널(100)에 형성된 전극에 따라 복수개의 보드 형태로 나누어지는 것도 가능하다. 예를 들면, 구동부(110)는 플라즈마 디스플레이 패널(100)의 스캔 전극을 구동시키는 제 1 구동부(미도시)와, 서스테인 전극을 구동시키는 제 2 구동부와, 어드레스 전극을 구동시키는 제 3 구동부(미도시)로 나누어질 수 있는 것이다.
도 2는 플라즈마 디스플레이 패널의 구조에 대해 설명하기 위한 도면이다.
도 2를 살펴보면, 플라즈마 디스플레이 패널(100)은 서로 나란한 스캔 전극(202, Y)과 서스테인 전극(203, Z)이 형성되는 전면 기판(201)과, 스캔 전극(202, Y) 및 서스테인 전극(203, Z)과 교차하는 어드레스 전극(213, X)이 형성되는 후면 기판(211)을 포함할 수 있다.
스캔 전극(202, Y)과 서스테인 전극(203, Z)이 형성된 전면 기판(201)에는 스캔 전극(202, Y) 및 서스테인 전극(203, Z)의 방전 전류를 제한하며 스캔 전극(202, Y)과 서스테인 전극(203, Z) 간을 절연시키는 상부 유전체 층(204)이 배치될 수 있다.
상부 유전체 층(204)이 형성된 전면 기판(201)에는 방전 조건을 용이하게 하기 위한 보호 층(205)이 형성될 수 있다. 이러한 보호 층(205)은 2차 전자 방출 계수가 높은 재질, 예컨대 산화마그네슘(MgO) 재질을 포함할 수 있다.
후면 기판(211) 상에는 어드레스 전극(213, X)이 형성되고, 이러한 어드레스 전극(213, X)이 형성된 후면 기판(211)의 상부에는 어드레스 전극(213, X)을 덮으며 어드레스 전극(213, X)을 절연시키는 하부 유전체 층(215)이 형성될 수 있다.
하부 유전체 층(215)의 상부에는 방전 공간 즉, 방전 셀을 구획하기 위한 스트라이프 타입(Stripe Type), 웰 타입(Well Type), 델타 타입(Delta Type), 벌집 타입 등의 격벽(212)이 형성될 수 있다. 이에 따라, 전면 기판(201)과 후면 기판(211)의 사이에서 적색(Red : R)광을 방출하는 제 1 방전 셀, 청색(Blue : B)광을 방출하는 제 2 방전 셀 및 녹색(Green : G)광을 방출하는 제 3 방전 셀 등이 형성될 수 있다.
한편, 방전셀에서는 어드레스 전극(213)이 스캔 전극(202) 및 서스테인 전극(203)과 교차할 수 있다. 즉, 방전셀은 어드레스 전극(213)이 스캔 전극(202) 및 서스테인 전극(203)과 교차하는 지점에 형성되는 것이다.
또한, 격벽(212)은 서로 교차하는 제 1 격벽(212b)과 제 2 격벽(212a)을 포함하고, 여기서 제 1 격벽(212b)의 높이와 제 2 격벽(212a)의 높이가 서로 다를 수 있다. 바람직하게는. 제 1 격벽(212b)의 높이가 제 2 격벽(212a)의 높이보다 더 낮을 수 있다.
격벽(212)에 의해 구획된 방전 셀 내에는 소정의 방전 가스가 채워질 수 있다.
아울러, 격벽(212)에 의해 구획된 방전 셀 내에는 어드레스 방전 시 화상표시를 위한 가시 광을 방출하는 형광체 층(214)이 형성될 수 있다. 예를 들면, 적색 광을 발생시키는 제 1 형광체 층, 청색 광을 발생시키는 제 2 형광체 층 및 녹색 광을 발생시키는 제 3 형광체 층이 형성될 수 있다.
또한, 후면 기판(211) 상에 형성되는 어드레스 전극(213)은 폭이나 두께가 실질적으로 일정할 수도 있지만, 방전 셀 내부에서의 폭이나 두께가 방전 셀 외부에서의 폭이나 두께와 다를 수도 있을 것이다. 예컨대, 방전 셀 내부에서의 폭이나 두께가 방전 셀 외부에서의 그것보다 더 넓거나 두꺼울 수 있을 것이다.
스캔 전극(202), 서스테인 전극(203) 및 어드레스 전극(213) 중 적어도 하나로 소정의 신호가 공급되면 방전셀 내에서는 방전이 발생할 수 있다. 이와 같이, 방전셀 내에서 방전이 발생하게 되면, 방전셀 내에 채워진 방전 가스에 의해 자외선이 발생할 수 있고, 이러한 자외선이 형광체층(214)의 형광체 입자에 조사될 수 있다. 그러면, 자외선이 조사된 형광체 입자가 가시광선을 발산함으로써 플라즈마 디스플레이 패널(100)의 화면에는 소정의 영상이 표시될 수 있는 것이다.
도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 플라즈마 디스플레이 장치에서 영상의 계조를 구현하기 위한 영상 프레임(Frame)에 대해 설명하기 위한 도면이다.
도 3을 살펴보면 영상의 계조(Gray Level)를 구현하기 위한 프레임은 복수의 서브필드(Subfield, SF1~SF8)를 포함할 수 있다.
아울러, 복수의 서브필드는 방전셀을 방전이 발생하지 않을 방전셀을 선택하거나 혹은 방전이 발생하는 방전셀을 선택하기 위한 어드레스 기간(Address Period) 및 방전횟수에 따라 계조를 구현하는 서스테인 기간(Sustain Period)을 포함할 수 있다.
예를 들어, 256 계조로 영상을 표시하고자 하는 경우에 예컨대 하나의 프레임은 도 3과 같이 8개의 서브필드들(SF1 내지 SF8)로 나누어지고, 8개의 서브 필드들(SF1 내지 SF8) 각각은 어드레스 기간과 서스테인 기간을 포함할 수 있다.
또는, 프레임의 복수의 서브필드 중 적어도 하나의 서브필드는 초기화를 위한 리셋 기간을 더 포함하는 것도 가능하다.
아울러, 프레임의 복수의 서브필드 중 적어도 하나의 서브필드는 서스테인 기간을 포함하지 않을 수 있다.
한편, 서스테인 기간에 공급되는 서스테인 신호의 개수를 조절하여 해당 서브필드의 가중치를 설정할 수 있다. 즉, 서스테인 기간을 이용하여 각각의 서브필드에 소정의 가중치를 부여할 수 있다. 예를 들면, 제 1 서브필드의 가중치를 20으로 설정하고, 제 2 서브필드의 가중치를 21로 설정하는 방법으로 각 서브필드의 가중치가 2n(단, n = 0, 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7)의 비율로 증가되도록 설정할 수 있다. 이와 같이 각 서브필드에서 가중치에 따라 각 서브필드의 서스테인 기간에서 공급 되는 서스테인 신호의 개수를 조절함으로써 다양한 영상의 계조를 구현할 수 있다.
여기, 도 3에서는 하나의 영상 프레임이 8개의 서브필드로 이루어진 경우만으로 도시하고 설명하였지만, 이와는 다르게 하나의 영상 프레임을 이루는 서브필드의 개수는 다양하게 변경될 수 있다. 예를 들면, 제 1 서브필드부터 제 12 서브필드까지의 12개의 서브필드로 하나의 영상 프레임을 구성할 수도 있고, 10개의 서브필드로 하나의 영상 프레임을 구성할 수도 있는 것이다.
또한, 여기 도 3에서는 하나의 영상 프레임에서 가중치의 크기가 증가하는 순서에 따라 서브필드들이 배열되었지만, 이와는 다르게 하나의 영상 프레임에서 서브필드들이 가중치가 감소하는 순서에 따라 배열될 수도 있고, 또는 가중치에 관계없이 서브필드들이 배열될 수도 있는 것이다.
한편, 프레임에 포함된 복수의 서브필드 중 적어도 하나는 선택적 소거 서브필드(Selective Erase Subfield, SE)이고, 아울러 복수의 서브필드 중 적어도 하나는 선택적 쓰기 서브필드(Selective Write Subfield, SW)인 것도 가능하다.
하나의 프레임이 적어도 하나의 선택적 소거 서브필드와 선택적 쓰기 서브필드를 포함하는 경우에는, 프레임의 복수의 서브필드 중 첫 번째 서브필드 또는 첫 번째 서브필드와 두 번째 서브필드가 선택적 쓰기 서브필드이고, 나머지는 선택적 소거 서브필드인 것이 바람직할 수 있다.
여기서, 선택적 소거 서브필드는 어드레스 기간에서 어드레스 전극에 데이터 신호(Data)가 공급된 방전셀을 어드레스 기간 이후의 서스테인 기간에서 오프(Off)시키는 서브필드이다.
이러한 선택적 소거 서브필드는 오프시킬 방전셀을 선택하기 위한 어드레스 기간과 어드레스 기간에서 선택되지 않은 방전셀에서 서스테인 방전을 발생시키는 서스테인 기간을 포함할 수 있다.
선택적 쓰기 서브필드는 어드레스 기간에서 어드레스 전극에 데이터 신호(Data)가 공급된 방전셀을 어드레스 기간 이후의 서스테인 기간에서 온(On)시키는 서브필드이다.
이러한 선택적 쓰기 서브필드는 방전셀들을 초기화하기 위한 리셋 기간, 온시킬 방전셀을 선택하기 위한 어드레스 기간 및 어드레스 기간에서 선택된 방전셀에서 서스테인 방전을 발생시키는 서스테인 기간을 포함할 수 있다.
도 4a 내지 도 4c는 플라즈마 디스플레이 장치의 동작의 일례를 설명하기 위한 도면이다. 이하에서 설명될 구동신호들은 앞선 도 1의 구동부(110)가 공급하는 것일 수 있다.
먼저, 도 4a에는 복수의 프레임 중에서 임의의 제 1 프레임(Frame1)의 구성이 도시되어 있다.
도 4a를 살펴보면, 선택적 쓰기 서브필드(SW)에서는 리셋 기간(RP) 이전의 프리 리셋 기간(PRS)에서 스캔 전극(Y)에 전압이 점진적으로 하강하는 제 1 신호(S1)를 공급할 수 있다.
아울러, 프리 리셋 기간에서는 서스테인 전극(Z)에 제 1 신호(S1)와 역극성인 제 2 신호(S2)를 공급할 수 있다. 제 2 신호(S2)의 전압은 이후의 서스테인 기간에서 스캔 전극 및 서스테인 전극 중 적어도 하나로 공급되는 서스테인 신 호(SUS)의 최대 전압, 즉 서스테인 전압(Vs)과 실질적으로 동일할 수 있다.
이러한 프리 리셋 기간에서 스캔 전극에 제 1 신호(S1)가 공급되고, 서스테인 전극에는 제 1 신호(S1)와 중첩되는 제 2 신호(S2)가 공급되면, 방전셀 내에서는 프리 리셋 방전이 발생한다. 그러면, 방전셀 내에는 이후의 리셋 기간에서 충분히 사용가능한 수준의 벽전하(Wall Charge)가 형성될 수 있다.
선택적 쓰기 서브필드의 리셋 기간에서는 스캔 전극으로 정극성의 리셋 신호(RS)를 공급할 수 있다.
여기서, 리셋 신호(RS)는 전압이 점진적으로 상승하는 상승신호(Ramp-Up, RU)와 전압이 점진적으로 하강하는 하강신호(Ramp-Down, RD)를 포함할 수 있다.
스캔 전극으로 상승신호가 공급되면, 상승신호에 의해 방전 셀 내에는 약한 암방전(Dark Discharge), 즉 셋업 방전이 발생할 수 있다. 이 셋업 방전에 의해 방전 셀 내에는 어느 정도의 벽 전하(Wall Charge)가 쌓일 수 있다.
이후, 상승신호 이후에 상승신호와 반대 극성의 하강신호가 스캔 전극에 공급될 수 있다. 그러면, 방전 셀 내에서 미약한 소거 방전(Erase Discharge), 즉 셋다운 방전이 발생할 수 있다. 이 셋다운 방전에 의해 방전 셀 내에는 어드레스 방전이 안정되게 일어날 수 있을 정도의 벽전하가 균일하게 잔류될 수 있다.
리셋 기간 이후의 어드레스 기간에서는 하강신호의 최저 전압보다는 높은 전압, 즉 제 2 스캔 기준 전압(Vsc2)을 갖는 제 2 스캔 기준 신호(Ybias2)가 스캔 전극에 공급될 수 있다.
아울러, 제 2 스캔 기준 전압(Vsc2)으로부터 하강하는 제 2 스캔 신호(Sc2) 가 스캔 전극에 공급될 수 있다.
제 2 스캔 신호가 스캔 전극으로 공급될 때, 스캔 신호에 대응되게 어드레스 전극(X)에 제 2 데이터 신호(Dt2)가 공급될 수 있다.
제 2 스캔 신호와 제 2 데이터 신호가 공급되면, 제 2 스캔 신호와 제 2 데이터 신호 간의 전압 차와 리셋 기간에 생성된 벽 전하들에 의한 벽 전압이 더해지면서 데이터 신호가 공급되는 방전 셀 내에는 어드레스 방전, 즉 쓰기 어드레스 방전이 발생될 수 있다.
그러면, 방전셀 내에는 서스테인 신호가 공급될 때 서스테인 방전을 발생시킬 수 있을 만큼의 충분한 양의 벽전하가 형성될 수 있다.
어드레스 기간에서 서스테인 전극(Z)의 간섭에 의해 어드레스 방전이 불안정해지는 것을 방지하기 위해 제 2 서스테인 기준 전압(Vz2)을 갖는 제 2 서스테인 기준 신호(Zbias2)가 서스테인 전극으로 공급될 수 있다.
이후, 영상 표시를 위한 서스테인 기간에서는 스캔 전극 또는 서스테인 전극 중 적어도 하나에 서스테인 신호(SUS)가 공급될 수 있다. 예를 들면, 스캔 전극과 서스테인 전극에 교번적으로 서스테인 신호가 공급될 수 있다.
이러한 서스테인 신호가 공급되면, 어드레스 방전에 의해 선택된 방전 셀은 방전 셀 내의 벽 전압과 서스테인 신호의 서스테인 전압(Vs)이 더해지면서 서스테인 신호가 공급될 때 스캔 전극과 서스테인 전극 사이에 서스테인 방전 즉, 표시방전이 발생될 수 있다.
한편, 적어도 하나의 서브필드에서는 서스테인 기간에서 복수의 서스테인 신 호가 공급되고, 복수의 서스테인 신호 중 적어도 하나의 서스테인 신호의 펄스폭은 다른 서스테인 신호의 펄스폭과 다를 수 있다. 예를 들면, 복수의 서스테인 신호 중 가장 먼저 공급되는 서스테인 신호의 펄스폭이 다른 서스테인 신호의 펄스폭보다 클 수 있다. 그러면, 서스테인 방전이 더욱 안정될 수 있다.
선택적 쓰기 서브필드(SW)와 연속되며 시간상으로 뒤에 배치되는, 즉 선택적 쓰기 서브필드를 뒤따르는 선택적 소거 서브필드(SE)에서는 리셋 기간이 생략될 수 있다. 혹은, 선택적 소거 서브필드에 리셋 기간이 구비되는 경우에는 리셋 기간에서 스캔 전극에 정극성의 리셋 신호가 공급되지 않을 수 있다. 즉, 선택적 쓰기 서브필드의 서스테인 기간에서 서스테인 신호 중 마지막 서스테인 신호가 공급된 이후부터 선택적 쓰기 서브필드를 뒤따르는 선택적 소거 서브필드(SE)의 어드레스 기간에서 스캔 전극에 제 1 스캔 기준 전압(Vsc1)이 공급되기 이전까지의 기간에서는 스캔 전극에 정극성의 신호를 공급하지 않는 것이다.
이와 같이, 선택적 소거 서브필드에서 리셋 기간이 생략되거나 혹은 리셋 기간에서 스캔 전극에 정극성의 리셋 신호가 공급되지 않는 경우에는 불필요한 광의 발생을 줄일 수 있어서 구현되는 영상의 콘트라스트 특성을 향상시키는 것이 가능하다.
아울러, 선택적 소거 서브필드의 어드레스 기간에서는 스캔 전극에 제 1 스캔 기준 전압(Vsc1)을 갖는 제 1 스캔 기준 신호(Ybias1)가 공급되고, 제 1 스캔 기준 전압으로부터 하강하는 제 1 스캔 신호(Sc1)가 공급될 수 있다.
또한. 어드레스 전극에는 제 1 스캔 신호와 대응되는 제 1 데이터 신호(Dt1) 가 공급될 수 있다.
그러면, 선택적 소거 서브필드의 어드레스 기간에서 제 1 스캔 신호와 제 1 데이터 신호의 전압 차이에 의해 어드레스 방전, 즉 소거 어드레스 방전이 발생할 수 있다.
아울러, 어드레스 기간에서 서스테인 전극(Z)의 간섭에 의해 어드레스 방전이 불안정해지는 것을 방지하기 위해 제 1 서스테인 기준 전압(Vz1)을 갖는 제 1 서스테인 기준 신호(Zbias1)가 서스테인 전극으로 공급될 수 있다.
이후, 영상 표시를 위한 서스테인 기간에서는 스캔 전극 또는 서스테인 전극 중 적어도 하나에 서스테인 신호(SUS)가 공급될 수 있다. 예를 들면, 스캔 전극과 서스테인 전극에 교번적으로 서스테인 신호가 공급될 수 있다.
이러한 서스테인 신호가 공급되면, 소거 어드레스 방전이 발생하지 않은 방전셀 내에서 스캔 전극과 서스테인 전극 사이에 서스테인 방전이 발생될 수 있다.
한편, 선택적 쓰기 서브필드와 선택적 소거 서브필드의 어드레스 기간을 비교하면, 선택적 쓰기 서브필드의 어드레스 기간에서는 서스테인 기간에서 온되는 방전셀을 선택해야 하므로, 어드레스 방전 시 충분한 양의 벽전하들이 형성되어야 한다. 따라서, 선택적 쓰기 서브필드의 어드레스 기간에서 스캔 전극으로 공급되는 스캔 신호의 펄스폭은 충분히 넓거나 그 전압의 크기가 충분히 큰 것이 바람직할 수 있다.
반면에, 선택적 소거 서브필드의 어드레스 기간에서는 서스테인 기간에서 오프되는 방전셀을 선택해야 하므로, 어드레스 방전 시 충분한 양의 벽전하들이 소거 되어야 한다. 따라서 선택적 소거 서브필드의 어드레스 기간에서 스캔 전극으로 공급되는 스캔 신호의 펄스폭은 충분히 작거나 그 전압의 크기가 충분히 작은 것이 바람직할 수 있다.
따라서 도 4b와 같이 제 1 스캔 신호(Sc1)의 펄스폭(W2)은 제 2 스캔 신호(Sc2)의 펄스폭(W1)보다 작은 것이 바람직할 수 있다. 또는, 도 4c와 같이 제 1 스캔 신호(Sc1)의 전압의 크기(△V11)는 제 2 스캔 신호(Sc2)의 전압의 크기(△V10)보다 더 작은 것이 바람직할 수 있다.
또는, 선택적 소거 서브필드의 어드레스 기간에서 벽전하를 소거시키는 어드레스 방전, 즉 소거 어드레스 방전을 발생시키고, 선택적 쓰기 서브필드의 어드레스 기간에서는 벽전하를 형성하는 어드레스 방전, 즉 쓰기 어드레스 방전을 발생시키기 위해 제 2 스캔 기준 전압(Vsc2)을 제 1 스캔 기준 전압(Vsc1)보다 더 낮게 하는 것도 가능하다.
또는, 선택적 소거 서브필드의 어드레스 기간에서 어드레스 전극으로 공급되는 데이터 신호를 선택적 쓰기 서브필드의 어드레스 기간에서 어드레스 전극으로 공급되는 데이터 신호에 비해, 그 펄스폭이 충분히 작거나 그 전압의 크기가 충분히 작게 하는 방법도 가능할 수 있다.
한편, 선택적 소거 서브필드의 어드레스 기간에서 스캔 전극과 서스테인 전극간에 강방전이 발생하는 것을 방지하고, 벽전하를 보다 균일하게 소거하기 위하여 서스테인 전극에 제 2 서스테인 기준 신호(Zbias2)보다 전압이 더 낮은 제 1 서스테인 기준 신호(Zbias1)를 공급할 수 있다.
제 2 서스테인 기준 신호(Zbias2)의 전압(Vzb2)은 그라운드 레벨(GND)보다는 높고, 서스테인 기간에서 스캔 전극 및 서스테인 전극 중 적어도 하나로 공급되는 서스테인 신호(SUS)의 전압(Vs)보다는 낮을 수 있다. 아울러, 제 1 서스테인 기준 신호(Zbias1)의 전압은 제 2 서스테인 기준 신호(Zbias2)의 전압(Vzb2)보다 낮을 수 있다.
도 5 내지 도 9는 본 발명에 따른 플라즈마 디스플레이 장치의 구동방법을 상세히 설명하기 위한 도면이다.
도 5에서 1은 어드레스 기간에서 어드레스 전극으로 데이터 신호(Dt)가 공급되는 것을 의미하고, 0은 어드레스 기간에서 어드레스 전극으로 데이터 신호가 공급되지 않는다는 것을 의미한다.
아울러, 0부터 8까지의 계조 레벨(Gray Level : GL)은 구현되는 영상의 계조의 레벨을 표시한 것으로, 구현되는 영상의 계조값 자체를 표시하는 것은 아닐 수 있다.
먼저, 도 5는 하나의 프레임(Frame)이 8개의 서브필드(SF1~SF8)로 이루어지고, 이러한 8개의 서브필드 중 제 1 서브필드(SF1)는 선택적 쓰기 서브필드이고, 제 2 서브필드(SF2)부터 제 8 서브필드(SF8)는 선택적 소거 서브필드인 경우이다. 도 5에서는 프레임이 선택적 쓰기 서브필드와 선택적 소거 서브필드를 포함하는 것으로 도시하고 있지만, 프레임이 선택적 쓰기 서브필드를 포함하지 않고 선택적 소거 서브필드만으로 구성되는 것도 가능할 수 있다.
도 5를 살펴보면, 0 계조 레벨을 구현하는 경우에는 모든 서브필드의 어드레 스 기가에서 어드레스 전극에 데이터 신호를 공급하지 않을 수 있다.
또한, 1 계조 레벨을 구현하는 경우에는 제 1 서브필드(SF1)와 제 2 서브필드(SF2)의 어드레스 기간에서 어드레스 전극으로 데이터 신호를 공급할 수 있다.
이러한 경우에는, 제 1 서브필드(SF1)는 선택적 쓰기 서브필드이기 때문에 데이터 신호가 공급되어 어드레스 방전(쓰기 어드레스 방전)이 발생함으로써 이후의 서스테인 기간에서 서스테인 방전이 발생할 수 있다. 즉, 제 1 서브필드는 온(On)되는 것이다.
제 2 서브필드(SF2)는 선택적 소거 서브필드이기 때문에 데이터 신호가 공급되면 어드레스 방전(소거 어드레스 방전)이 발생함으로써 이후의 서스테인 기간에서 서스테인 방전이 발생하지 않을 수 있다. 즉 제 2 서브필드는 오프(Off)되는 것이다.
또한, 2 계조 레벨을 구현하는 경우에는 제 1 서브필드(SF1)와 제 3 서브필드(SF3)의 어드레스 기간에서 어드레스 전극으로 데이터 신호를 공급할 수 있다.
또한, 3 계조 레벨을 구현하는 경우에는 제 1 서브필드(SF1)와 제 4 서브필드(SF4)의 어드레스 기간에서 어드레스 전극으로 데이터 신호를 공급할 수 있다.
이러한 방법을 이용하여 총 9가지의 계조 레벨을 구현할 수 있고, 이러한 9가지의 계조 레벨과 디더링(Dithering) 또는 오차확산(Error Diffusion) 등과 같은 하프톤 방법을 이용하여 영상의 다양한 계조를 구현하는 것이 가능하다.
한편, 복수의 선택적 소거 서브필드 중 첫 번째 오프 선택적 소거 서브필드를 제외한 나머지 오프 선택적 소거 서브필드, 즉 오프되는 선택적 소거 서브필드 중 최초로 오프되는 서브필드를 제외한 나머지 서브필드의 어드레스 기간에서는 어드레스 전극에 데이터 신호를 공급하는 것도 가능하고, 데이터 신호를 공급하지 않는 것도 가능할 수 있다. 여기서, 오프 선택적 소거 서브필드는 서스테인 기간에서 서스테인 방전이 발생하지 않는 선택적 소거 서브필드를 의미한다.
바람직하게는, 인접하는 임의의 두 개의 방전셀에 스캔 신호가 공급되는 동안 어드레스 전극의 논리(Logic) 레벨이 유지되도록 하기 위해 복수의 선택적 소거 서브필드 중 첫 번째 오프 선택적 소거 서브필드를 제외한 나머지 오프 선택적 소거 서브필드의 어드레스 기간에서 어드레스 전극으로 선택적으로 데이터 신호를 공급할 수 있다.
더욱, 바람직하게는 임의의 두 개의 방전셀, 즉 제 1 방전셀과 제 1 방전셀 보다 스캔 순서가 늦은 제 2 방전셀 중 제 1 방전셀에 데이터 신호의 공급 여부에 따라 복수의 적어도 하나의 오프 선택적 소거 서브필드에서 제 2 방전셀에 선택적으로 데이터 신호를 공급할 수 있다.
이에 대해 보다 상세히 설명한 아래와 같다.
먼저, 도 6의 경우와 같이 어드레스 기간에서 스캔 신호(Sc)는 제 1 스캔 전극(Y1), 제 2 스캔 전극(Y2), 제 3 스캔 전극(Y3)......제 n 스캔 전극(Yn)의 순서로 공급되는 것으로 가정하여 보자.
여기서는, 스캔 신호(Sc)가 Y1, Y2, Y3......Yn의 순서로 공급되는 경우만을 도시하고 있지만, 이와는 다른 순서로 스캔 신호를 공급하는 것도 가능한 것이다. 다만, 설명의 편의의 위해 이하에서는 스캔 신호가 Y1, Y2, Y3......Yn의 순서로 공급되는 것으로 가정한다.
이러한 경우, 제 1 스캔 전극(Y1)은 제 2 스캔 전극(Y2)보다 스캔 순서가 빠르고, 제 2 스캔 전극(Y2)는 제 3 스캔 전극(Y3)보다 스캔 순서가 빠르다고 할 수 있다.
아울러, 도 7의 (a)와 같이 제 1 스캔 전극(Y1), 제 1 서스테인 전극(Z1) 및 제 1 어드레스 전극(X1)이 교차하는 지점에 제 1 방전셀(700)이 배치되고, 제 2 스캔 전극(Y2), 제 2 서스테인 전극(Z2) 및 제 2 어드레스 전극(X2)이 교차하는 지점에 제 2 방전셀(710)이 배치되는 경우에는, 제 1 스캔 전극(Y1)의 스캔 순서가 제 2 스캔 전극(Y2)의 스캔 순서에 비해 더 빠르기 때문에 제 1 방전셀(700)의 스캔 순서가 제 2 방전셀(710)의 스캔 순서에 비해 더 빠르다고 할 수 있다. 즉, 동일한 하나의 어드레스 전극(X1)에 배치되는 제 1 방전셀(700)과 제 2 방전셀(710) 중 제 1 방전셀(700)의 스캔 순서가 제 2 방전셀(710)의 스캔 순서보다 빠른 것이다.
여기서, 도 7의 (b)의 경우와 같이 제 1 방전셀(700)에는 5 계조 레벨에 따른 데이터가 공급되고, 제 2 방전셀(710)에는 제 3 계조 레벨에 따른 데이터가 공급된다고 가정하자.
이러한 경우, 제 2 방전셀(710)에 공급되는 제 3 계조 레벨에 따른 데이터에 따라 (a)와 같이 제 4 서브필드(SF4)에서는 제 2 방전셀(710)을 오프시켜야 하고, 따라서 도 8의 경우와 같이 제 2 방전셀(710)에는 데이터 신호(Dt)를 공급한다.
아울러, 제 1 방전셀(700)에 공급되는 제 5 계조 레벨에 따른 데이터에 따라 제 4 서브필드(SF4)에서는 제 1 방전셀(700)은 온시켜야 하고, 따라서 제 1 방전 셀(700)에는 데이터 신호를 공급하지 않는다.
여기서, 제 2 방전셀(710)에 데이터 신호(Dt)를 공급한다는 의미는 제 2 방전셀(710)에서 제 1 어드레스 전극(X1)의 논리(Logic) 레벨이 1(High Level)이고, 제 1 방전셀(700)에 데이터 신호를 공급하지 않는다는 의미는 제 1 방전셀(700)에서 제 1 어드레스 전극(X1)의 논리 레벨이 0(Low Level)인 것을 의미할 수 있다. 이러한 논리 레벨의 값을 도면에 1과 0으로 표시하였다.
아울러, 제 5 서브필드(SF5)에서는 (b)와 같이 제 2 방전셀(710)을 오프시켜야 하고, 제 1 방전셀(700)은 온시켜야 하기 때문에 제 1, 2 방전셀(700, 710)에는 데이터 신호(Dt)를 공급하지 않을 수 있다.
이러한 경우는, 제 1, 2 방전셀(700, 710)에서 제 1 어드레스 전극(X1)의 논리 레벨은 모두 0이다.
아울러, 제 6 서브필드(SF6)에서는 (c)와 같이 제 1 방전셀(700)을 오프시켜야 하기 때문에 제 1 방전셀(700)에 데이터 신호(Dt)를 공급한다. 반면에, 제 2 방전셀(710)은 제 4, 5 서브필드(SF4, SF5)에서 오프되었기 때문에 제 6 서브필드(SF6)에서도 계속 오프된 상태를 유지해야 하는데, 이를 위해 제 2 방전셀(710)에도 데이터 신호(Dt)를 공급한다.
제 6 서브필드(SF6)의 이전 서브필드, 즉 제 4, 5 서브필드(SF4, SF5)에서 제 2 방전셀(710)은 이미 오프되었기 때문에 더 이상 제 2 방전셀(710)에는 데이터 신호를 공급하지 않아도 계속 오프된 상태를 유지할 수 있다.
그러나 본 발명에서는 도 8의 경우와 같이 이전 서브필드에서 이미 오프된 제 2 방전셀(710)에 데이터 신호를 공급하는 것이다. 즉, 제 6 서브필드(SF6)에서는 제 1 방전셀(700)에 데이터 신호가 공급됨으로서 소거 어드레스 방전이 발생하는데 반해, 제 2 방전셀(710)에서는 데이터 신호가 공급되더라도 소거 어드레스 방전이 발생하지 않는 것이다.
이러한 경우에는, 제 1, 2 방전셀(700, 710)에서 제 1 어드레스 전극(X1)의 논리 레벨은 모두 1로서 동일할 수 있다.
이와 같이, 제 1 방전셀(700)과 제 2 방전셀(710)의 논리 레벨이 동일하다는 것은 도 8의 (c)의 경우와 같이 제 1 어드레스 전극(X1)의 전압을 데이터 전압(Va)으로 그대로 유지할 수 있다는 것을 의미할 수 있다. 이러한 경우에는, 제 1 어드레스 전극(X1)에 데이터 신호를 공급하기 위한 데이터 집적회로(Data IC)가 수행해야할 스위칭(Switching) 동작의 횟수가 감소할 수 있으며, 이에 따라 어드레스 기간에서 데이터 집적회로에 흐르는 변위 전류의 크기가 감소할 수 있고, 이로 인해 데이터 집적회로의 동작이 안정될 수 있으며, 데이터 집적회로를 손상으로부터 보호할 수 있다.
즉, 본 발명에서는 인접하는 임의의 두 개의 방전셀에 스캔 신호가 공급되는 동안 어드레스 전극의 논리(Logic) 레벨이 유지되도록 하기 위해 복수의 선택적 소거 서브필드 중 첫 번째 오프 선택적 소거 서브필드를 제외한 나머지 오프 선택적 소거 서브필드의 어드레스 기간에서는 선택적으로 데이터 신호를 공급하는 것이다.
바람직하게는, 제 1 방전셀(700)과 제 2 방전셀(710) 중에서 스캔 순서가 상대적으로 빠른 제 1 방전셀(700)에 데이터 신호의 공급 여부에 따라 적어도 하나의 오프 선택적 소거 서브필드에서 제 2 방전셀(710)에 선택적으로 데이터 신호를 공급하는 것이다. 즉, 적어도 하나의 오프 선택적 소거 서브필드에서 제 2 방전셀(710)에 데이터 신호가 공급되는지의 여부는 제 2 방전셀(710)보다 스캔 순서가 빠른 제 1 방전셀(700)에 데이터 신호가 공급되는지의 여부인 것으로서, 임의의 오프 선택적 소거 서브필드에서 제 1 방전셀(700)에 데이터 신호가 공급되어 어드레스 전극의 논리 레벨이 1인 경우에 제 2 방전셀(710)이 오프되는 방전셀 이더라도 데이터 신호를 공급하여 제 1 방전셀(700)과 제 2 방전셀(710)에 스캔 신호가 공급되는 동안 어드레스 전극의 논리 레벨이 실질적으로 1로 유지되도록 하는 것이다.
다르게 표현하면, 복수의 방전셀 중 동일한 어드레스 전극 상에서 스캔 순서가 연속인 임의의 두 개의 방전셀 중 어느 하나의 방전셀이 이전 선택적 소거 서브필드에서는 온되고, 현재 선택적 소거 서브필드에서는 오프되며 다른 하나의 방전셀이 이전 선택적 소거 서브필드에서 오프되는 경우에, 현재 서브필드에서 다른 하나의 방전셀에 데이터 신호를 공급함으로써, 임의의 두 개의 방전셀에 스캔 신호가 공급되는 동안 어드레스 전극의 논리 레벨이 실질적으로 동일하게 유지되도록 할 수 있다.
상기와 동일한 이유로, 제 5 서브필드(SF5)에서는 도 9의 경우와 같이 제 2 방전셀(710)에 데이터 신호가 공급되는 것도 가능할 수 있다.
그러나 도 9의 경우와 같이 제 5 서브필드(SF5)에서 제 1 방전셀(700)에는 데이터 신호가 공급되지 않아 어드레스 전극의 논리 레벨이 0인 경우에는 제 2 방전셀(710)에도 데이터 신호를 공급하지 않는 것이 바람직할 수 있다. 이러한 경 우, 제 5 서브필드(SF5)에서 제 1 방전셀(700)과 제 2 방전셀(710)에 스캔 신호가 공급되는 동안 제 1 어드레스 전극(X1)의 논리 레벨이 실질적으로 0으로 유지되도록 할 수 있다.
도 10 내지 도 12는 본 발명과 비교 예를 비교하기 위한 도면이다.
먼저, 도 10을 살펴보면 복수의 선택적 소거 서브필드 중 첫 번째 오프 서브필드를 제외한 나머지 모든 오프 서브필드의 어드레스 기간에서 어드레스 전극에 데이터 신호를 공급하지 않는 제 1 비교 예가 도시되어 있다.
예를 들어, 제 3 계조 레벨을 구현하는 경우에 제 1 서브필드(SF1)부터 제 8 서브필드(SF8) 중 제 1 서브필드(SF1)와 제 4 서브필드(SF4)에서 어드레스 전극에 데이터 신호를 공급하고, 제 5 서브필드(SF5)부터 제 8 서브필드(SF8)에서는 어드레스 전극에 데이터 신호를 공급하지 않을 수 있는 것이다.
이러한 경우에는, 제 5 서브필드(SF5)부터 제 8 서브필드(SF8)는 모두 오프되기 때문에 어드레스 전극에 데이터 신호를 공급하지 않아도 제 3 계조 레벨을 구현하는 것은 가능하다.
이러한 제 1 비교 예에서 앞선 도 7의 경우와 같이 제 1 방전셀(700)에는 5 계조 레벨에 따른 데이터를 공급하고, 제 2 방전셀(710)에는 제 3 계조 레벨에 따른 데이터를 공급하는 경우를 가정하여 보자.
이러한 경우에는, 제 2 방전셀(710)에 공급되는 제 3 계조 레벨에 따른 데이터에 따라 도 11의 (a)와 같이 제 4 서브필드(SF4)에서는 제 2 방전셀(710)에는 데이터 신호(Dt)를 공급하고, 제 1 방전셀(700)에는 데이터 신호를 공급하지 않는다.
아울러, 제 5 서브필드(SF5)에서는 (b)와 같이 제 1, 2 방전셀(700, 710)에는 데이터 신호(Dt)를 공급하지 않을 수 있다.
반면에, 제 6 서브필드(SF6)에서는 (c)와 같이 제 1 방전셀(700)을 오프시켜야 하기 때문에 제 1 방전셀(700)에 데이터 신호(Dt)를 공급하고, 제 2 방전셀(710)은 제 4, 5 서브필드(SF4, SF5)에서 오프되었기 때문에 제 6 서브필드(SF6)에서도 계속 오프된 상태를 유지하기 위해 제 2 방전셀(710)에는 데이터 신호(Dt)를 공급하지 않는다.
이와 같이, 제 1 비교 예에서는 제 6 서브필드(SF6)에서 제 2 방전셀(710)을 오프시키기 위해 어드레스 전극에 데이터 신호를 공급하지 않기 때문에 제 1, 2 방전셀(700, 710)에서 제 1 어드레스 전극(X1)의 논리 레벨은 서로 다를 수 있다.
이러한 도 11의 제 1 비교 예를 본 발명과 비교하면, 본 발명은 도 8 내지 도 9의 경우와 같이 제 6 서브필드(SF6)에서는 데이터 집적회로가 스위칭 동작을 수행하지 않는데 반해, 제 1 비교 예에서는 도 11의 경우와 같이 제 6 서브필드(SF6)에서 데이터 집적회로의 스위칭 동작이 필요하다.
즉, 제 1 비교 예는 본 발명에 비해 데이터 집적회로의 스위칭 동작의 횟수가 더 많은 것이다.
만약, 제 3 계조 레벨과 제 5 계조 레벨의 영상이 반복적으로 공급된다면 제 1 비교 예의 경우에는 데이터 집적회로의 스위칭 횟수가 급격하게 증가함으로써 데이터 집적회로가 오동작을 일으키거나 심지어는 데이터 집적회로의 온도가 급격하게 상승함으로써 열적 손상을 입을 수 있다.
반면에, 본 발명에서는 제 3 계조 레벨과 제 5 계조 레벨의 영상이 반복적으로 공급되는 경우에도 제 1 비교 예에 비해 데이터 집적회로의 스위칭 횟수를 절반 수준으로 유지할 수 있기 때문에 데이터 집적회로의 동작을 안정시킬 수 있을 뿐만 아니라, 데이터 집적회로의 손상을 방지할 수 있는 것이다.
다음, 도 12에는 제 2 비교 예가 도시되어 있다.
도 12를 살펴보면, 복수의 선택적 소거 서브필드 중 모든 오프 서브필드의 어드레스 기간에서 어드레스 전극에 데이터 신호를 공급할 수 있다.
예를 들어, 제 3 계조 레벨을 구현하는 경우에 제 1 서브필드(SF1), 제 4 서브필드(SF1)~제 8 서브필드(SF4)에서 어드레스 전극에 데이터 신호를 공급하고, 다만 온 선택적 소거 서브필드인 제 2 서브필드(SF2), 제 3 서브필드(SF3)에서는 어드레스 전극에 데이터 신호를 공급하지 않는 것이다. 여기서, 온 선택적 소거 서브필드는 서스테인 기간에서 서스테인 방전이 발생하는 선택적 소거 서브필드인 것이다.
이러한 제 2 비교 예도 제 1 비교 예의 경우와 같이, 제 5 서브필드(SF5)부터 제 8 서브필드(SF8)는 모두 오프되기 때문에 어드레스 전극에 데이터 신호를 공급하지 않아도 제 3 계조 레벨을 구현하는 것은 가능하다.
그러나 이러한 제 2 비교 예의 경우에 스캔 순서가 빠른 제 1 방전셀에 제 2 계조 레벨에 따른 데이터가 공급되고, 제 1 방전셀에 비해 스캔 순서가 늦은 제 2 방전셀에는 제 7 계조 레벨에 따른 데이터가 공급되는 경우에 오히려 데이터 집적회로의 스위칭 횟수가 급격하게 증가할 수 있다. 따라서 데이터 집적회로의 동작 을 안정시키고 데이터 집적회로를 손상을 방지하는 측면에서 불리하다.
도 13은 본 발명을 스캔 신호와 데이터 신호의 관점에서 설명하기 위한 도면이다. 이하에서는 이상에서 상세히 설명한 내용에 대해서는 그 설명을 생략하기로 한다. 아울러, 여기 도 13에서는 앞선 도 8 내지 도 9의 제 4 서브필드(SF4)와 제 6 서브필드(SF6)를 예로 들어 설명한다.
도 13을 살펴보면, 복수의 선택적 소거 서브필드 중 임의의 한 선택적 소거 서브필드(SF4)의 어드레스 기간에서는 (a)와 같이 복수의 스캔 전극 중 임의의 제 1 스캔 전극(Y1)에 제 1 스캔 신호(Sc1)를 공급하고, 제 1 스캔 전극(Y1)과 스캔 순서가 연속인 제 2 스캔 전극(Y2)에는 제 1 스캔 신호(Sc1)보다 공급시점이 늦은 제 2 스캔 신호(Sc2)를 공급할 수 있다.
아울러, 제 1 스캔 신호(Sc1)가 공급되는 동안 복수의 어드레스 전극 중 임의의 제 1 어드레스 전극(X1)에 데이터 신호를 공급하지 않고, 제 2 스캔 신호(Sc2)가 공급되는 동안에는 제 1 어드레스 전극(X1)에 데이터 신호(Dt)를 공급할 수 있다.
즉, (a)에서는 제 1 스캔 전극(Y1)과 제 1 어드레스 전극(X1)이 교차하는 지점에 배치되는 제 1 방전셀이 온되고, 제 2 스캔 전극(Y2)과 제 1 어드레스 전극(X1)이 교차하는 지점에 배치되는제 2 방전셀이 오프되는 것이다.
복수의 선택적 소거 서브필드 중 다른 선택적 소거 서브필드(SF6)의 어드레스 기간에서는 (b)와 같이 제 1 스캔 전극(Y1)에 제 3 스캔 신호(Sc3)를 공급하고, 제 2 스캔 전극(Y2)에는 제 3 스캔 신호(Sc3)보다 공급시점이 늦은 제 4 스캔 신 호(Sc4)를 공급할 수 있다.
아울러, 제 3 스캔 신호(Sc3)가 공급되는 동안에 제 1 어드레스 전극(X1)에 데이터 신호(Dt)를 공급하고, 제 4 스캔 신호(Sc4)가 공급되는 동안에도 제 1 어드레스 전극(X1)에 데이터 신호(Dt)를 공급할 수 있다.
즉, (b)에서는 제 1 스캔 전극(Y1)과 제 1 어드레스 전극(X1)이 교차하는 지점에 배치되는 제 1 방전셀이 오프되고, 제 2 스캔 전극(Y2)과 제 1 어드레스 전극(X1)이 교차하는 지점에 배치되는제 2 방전셀도 오프되는 것이다.
아울러, 제 1, 2 방전셀이 모두 오프되는 (b)에서는 제 1 방전셀과 제 2 방전셀에 데이터 신호를 공급함으로써, 제 3, 4 스캔 신호(Sc3, Sc4)가 공급되는 동안 제 1 어드레스 전극(X1)의 논리 레벨이 변하지 않고 실질적으로 유지될 수 있다.
이와 같이, 상술한 본 발명의 기술적 구성은 본 발명이 속하는 기술분야의 당업자가 본 발명의 그 기술적 사상이나 필수적 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다.
그러므로 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적인 것이 아닌 것으로서 이해되어야 하고, 본 발명의 범위는 전술한 상세한 설명보다는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어지며, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 등가개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.
도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 플라즈마 디스플레이 장치의 구성에 대해 설명하기 위한 도면.
도 2는 플라즈마 디스플레이 패널의 구조에 대해 설명하기 위한 도면.
도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 플라즈마 디스플레이 장치에서 영상의 계조를 구현하기 위한 영상 프레임(Frame)에 대해 설명하기 위한 도면.
도 4a 내지 도 4c는 플라즈마 디스플레이 장치의 동작의 일례를 설명하기 위한 도면.
도 5 내지 도 9는 본 발명에 따른 플라즈마 디스플레이 장치의 구동방법을 상세히 설명하기 위한 도면.
도 10 내지 도 12는 본 발명과 비교 예를 비교하기 위한 도면.
도 13은 본 발명을 스캔 신호와 데이터 신호의 관점에서 설명하기 위한 도면.

Claims (15)

  1. 스캔 전극, 서스테인 전극, 어드레스 전극, 상기 스캔 전극 및 상기 서스테인 전극과 상기 어드레스 전극이 교차하는 지점에 배치되는 복수의 방전셀을 포함하며, 복수의 선택적 소거 서브필드(Selective Erase Subfield)를 포함하는 복수의 프레임(Frame)으로 영상을 구현하는 플라즈마 디스플레이 패널; 및
    복수의 상기 선택적 소거 서브필드 중 첫 번째 오프 선택적 소거 서브필드를 제외한 나머지 오프 선택적 소거 서브필드의 어드레스 기간에서는 선택적으로 데이터 신호를 공급하는 구동부;
    를 포함하는 플라즈마 디스플레이 장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 구동부는 인접하는 임의의 두 개의 방전셀에 스캔 신호가 공급되는 동안 상기 어드레스 전극의 논리(Logic) 레벨이 유지되도록 복수의 상기 선택적 소거 서브필드 중 첫 번째 오프 선택적 소거 서브필드를 제외한 나머지 오프 선택적 소거 서브필드의 어드레스 기간에서는 선택적으로 데이터 신호를 공급하는 플라즈마 디스플레이 장치.
  3. 제 1 항에 있어서,
    임의의 두 개의 상기 방전셀은 제 1 방전셀과 상기 제 1 방전셀 보다 스캔 순서가 늦은 제 2 방전셀을 포함하고,
    상기 구동부는 상기 제 1 방전셀에 상기 스캔 신호에 대응되는 데이터 신호의 공급 여부에 따라 복수의 적어도 하나의 오프 선택적 소거 서브필드에서 상기 제 2 방전셀에 선택적으로 데이터 신호를 공급하는 플라즈마 디스플레이 장치.
  4. 제 3 항에 있어서,
    복수의 상기 선택적 소거 서브필드 중 제 1 선택적 소거 서브필드에서는 상기 제 1 방전셀이 온되고, 상기 제 2 방전셀이 오프되고,
    상기 제 1 선택적 소거 서브필드와 연속되며 시간적으로 뒤에 배치되는 제 2 선택적 소거 서브필드에서는 상기 제 1 방전셀과 상기 제 2 방전셀이 모두 오프되는 경우,
    상기 제 2 선택적 소거 서브필드의 어드레스 기간에서 상기 제 1 방전셀과 상기 제 2 방전셀에 데이터 신호를 공급하는 플라즈마 디스플레이 장치.
  5. 제 4 항에 있어서,
    상기 제 2 선택적 소거 서브필드에서 상기 제 1 방전셀과 상기 제 2 방전셀에 데이터 신호가 공급되는 동안 상기 어드레스 전극의 논리 레벨은 1(High Level)을 유지하는 플라즈마 디스플레이 장치.
  6. 제 4 항에 있어서,
    상기 제 2 선택적 소거 서브필드의 어드레스 기간에서 상기 제 1 방전셀에서 방전이 발생하고, 상기 제 2 방전셀에서는 방전이 발생하지 않는 플라즈마 디스플레이 장치.
  7. 제 4 항에 있어서,
    제 1 선택적 소거 서브필드의 어드레스 기간에서는 상기 제 1 방전셀에 데이터 신호가 공급되지 않고, 상기 제 2 방전셀에는 데이터 신호가 공급되거나 또는 공급되지 않는 플라즈마 디스플레이 장치.
  8. 제 1 항에 있어서,
    상기 선택적 소거 서브필드는 어드레스 기간에서 상기 어드레스 전극에 데이터 신호가 공급된 방전셀을 상기 어드레스 기간 이후의 서스테인 기간에서 오프(Off)시키는 서브필드인 플라즈마 디스플레이 장치.
  9. 제 1 항에 있어서,
    상기 프레임은 적어도 하나의 선택적 쓰기 서브필드(Selective Writing Sub-Field)를 포함하는 플라즈마 디스플레이 장치.
  10. 제 9 항에 있어서,
    상기 선택적 쓰기 서브필드는 프레임의 복수의 서브필드 중 최초의 서브필드 인 플라즈마 디스플레이 장치.
  11. 제 9 항에 있어서,
    상기 선택적 쓰기 서브필드는 어드레스 기간에서 상기 어드레스 전극에 데이터 신호가 공급된 방전셀을 상기 어드레스 기간 이후의 서스테인 기간에서 오프(Off)시키는 서브필드인 플라즈마 디스플레이 장치.
  12. 제 1 항에 있어서,
    상기 오프 선택적 소거 서브필드는 서스테인 기간에서 서스테인 방전이 발생하지 않는 선택적 소거 서브필드인 플라즈마 디스플레이 장치.
  13. 스캔 전극, 서스테인 전극, 어드레스 전극, 상기 스캔 전극 및 상기 서스테인 전극과 상기 어드레스 전극이 교차하는 지점에 배치되는 복수의 방전셀을 포함하며, 복수의 선택적 소거 서브필드(Selective Erase Subfield)를 포함하는 복수의 프레임(Frame)으로 영상을 구현하는 플라즈마 디스플레이 패널; 및
    복수의 상기 방전셀 중 동일한 어드레스 전극 상에서 스캔 순서가 연속인 임의의 두 개의 방전셀 중 어느 하나의 방전셀이 이전 선택적 소거 서브필드에서는 온되고, 현재 선택적 소거 서브필드에서는 오프되며 다른 하나의 방전셀이 이전 선택적 소거 서브필드에서 오프되는 경우에 상기 현재 서브필드에서 상기 다른 하나의 방전셀에 데이터 신호를 공급하는 플라즈마 디스플레이 장치.
  14. 복수의 스캔 전극, 서스테인 전극 및 어드레스 전극을 포함하며, 복수의 선택적 소거 서브필드(Selective Erase Subfield)를 포함하는 복수의 프레임(Frame)으로 영상을 구현하는 플라즈마 디스플레이 장치의 구동방법에 있어서,
    복수의 상기 선택적 소거 서브필드 중 임의의 제 1 선택적 소거 서브필드의 어드레스 기간에서 복수의 상기 스캔 전극 중 임의의 제 1 스캔 전극에 제 1 스캔 신호를 공급하고, 상기 제 1 스캔 전극과 스캔 순서가 연속인 제 2 스캔 전극에는 상기 제 1 스캔 신호보다 공급시점이 늦은 제 2 스캔 신호를 공급하는 단계;
    상기 제 1 스캔 신호가 공급되는 동안 복수의 상기 어드레스 전극 중 임의의 제 1 어드레스 전극에 데이터 신호를 공급하지 않고, 상기 제 2 스캔 신호가 공급되는 동안에는 상기 제 1 어드레스 전극에 데이터 신호를 공급하는 단계;
    복수의 상기 선택적 소거 서브필드 중 상기 제 1 선택적 소거 서브필드와 연속하며 시간적으로 뒤에 배치되는 제 2 선택적 소거 서브필드의 어드레스 기간에서 상기 제 1 스캔 전극에 제 3 스캔 신호를 공급하고, 상기 제 2 스캔 전극에는 상기 제 3 스캔 신호보다 공급시점이 늦은 제 4 스캔 신호를 공급하는 단계; 및
    상기 제 3 스캔 신호가 공급되는 동안에 상기 제 1 어드레스 전극에 데이터 신호를 공급하고, 상기 제 4 스캔 신호가 공급되는 동안에도 상기 제 1 어드레스 전극에 데이터 신호를 공급하는 단계;
    를 포함하는 플라즈마 디스플레이 장치의 구동방법.
  15. 스캔 전극, 서스테인 전극, 어드레스 전극, 상기 스캔 전극 및 상기 서스테인 전극과 상기 어드레스 전극이 교차하는 지점에 배치되는 복수의 방전셀을 포함하며, 복수의 선택적 소거 서브필드(Selective Erase Subfield)를 포함하는 복수의 프레임(Frame)으로 영상을 구현하는 플라즈마 디스플레이 장치의 구동방법에 있어서,
    복수의 상기 선택적 소거 서브필드 중 제 1 선택적 소거 서브필드에서는 복수의 상기 방전셀 중 동일한 어드레스 전극 상에서 서로 인접하게 배치되는 임의의 두 개의 방전셀 중 제 1 방전셀에는 데이터 신호를 공급하지 않고, 제 2 방전셀에는 데이터 신호를 공급하는 단계; 및
    복수의 상기 선택적 소거 서브필드 중 상기 제 1 선택적 소거 서브필드보다 시간적으로 뒤에 배치되는 제 2 선택적 소거 서브필드에서는 복수의 상기 제 1, 2 방전셀에 데이터 신호를 공급하는 플라즈마 디스플레이 장치의 구동방법.
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