KR20100086708A - 유연한 와이어를 이용한 접촉식 프로브 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 접촉식 와이어 프로브에 관한 것으로서, 유연성을 갖는 와이어의 횡단면 형상을 스캔방향의 관성모멘트가 그 직각방향의 관성모멘트보다 작게 함으로써 굽힘 하중을 가하여 스캔방향으로 휘어지게 한 상태에서 쓸면서 스캔할 때 스캔방향으로의 방향성을 높일 수 있을 뿐만 아니라 유연 와이어가 휘어진 상태에서 스캔됨에 따라 휘어진 길이만큼의 높이 마진을 확보하여 측정대상물의 높이변화에 대한 적응력을 높일 수 있으며, 유연 와이어가 작은 굽힘 하중으로도 스캔방향으로 휘어짐에 따라 스캔할 때 측정대상물과의 마찰력이 감소하여 유연 와이어의 마모 및 측정대상물의 마모를 줄일 수 있다.
패턴전극, 해상도, 유연성, 와이어, 접촉식, 프로브, 굽힘하중, 스캔

Description

유연한 와이어를 이용한 접촉식 프로브{CONTACT TYPE PROBE USING FLEXIBLE WIRE}
본 발명은 접촉식 와이어 프로브에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 유연성을 갖는 와이어를 패턴전극에 접촉한 상태에서 굽힘 하중을 가하여 스캔방향으로 휘어지게 한 상태에서 쓸면서 스캔하여 단선 및 단락을 검사하기 위한 유연한 와이어를 이용한 접촉식 프로브에 관한 것이다.
현재 사용되고 있는 화상표시소자로는 음극선관(CRT)과 평판 표시소자인 액정표시소자(LCD), 플라즈마 디스플레이 패널(PDP) 등이 있다.
위의 화상표시소자 중 음극선관은 화질 및 밝기의 측면에서 다른 소자에 비해 월등히 우수한 성능을 갖고 있다. 그러나 부피가 크고 무겁기 때문에 대형 스크린을 필요로 하는 용도로는 적합하지 않다는 단점이 있다.
반면에, 평판 표시소자는 음극선관에 비해 부피와 무게가 매우 작다는 장점이 있어 그 용도가 점차로 확대되고 있는 추세이며, 차세대용 표시소자로서 그에 대한 연구가 활발하게 진행되고 있다.
일반적으로 PDP(Plasma Display Panel)는 상판 글라스와 하판 글라스 및 그 사이의 칸막이에 의해 밀폐된 유리사이에 Ne+Ar, Ne+Xe 등의 가스를 넣어 양극과 음극의 전극에 의해 전압을 인가하여 네온광을 발광시켜 표시광으로 이용하는 전자표시장치를 말하는 것이다.
따라서, 플라즈마 디스플레이는 마주보는 상판 글라스와 하판 글라스의 세로 패턴전극과 가로 패턴전극 사이에 구성 교차점을 방전셀로 형성하여 방전을 온오프함으로써 갖가지 문자나 패턴을 표시한다.
따라서, PDP는 발광형으로 선명한 대형표시가 가능하기 때문에 FA(공장자동화)용으로 많이 사용되었으나 현재는 표시장치의 소형 경량화, 고성능화와 함께 퍼스널 컴퓨터 등 OA(사무자동화) 등으로 많이 활용하고 있으며 대형 표시장치 패널로 표시품위가 높을 뿐만 아니라 응답속도가 빠르기 때문에 벽걸이TV로 채용되면서 수요가 급증하고 있다.
또한, 액정은 취급이 용이하고 외부 전계인가 여부에 의해 결정의 배열이 변화되는 고유의 특성이 있기 때문에 액정을 이용하는 표시소자, 예를 들어 FLCD(Ferroelectric Liquid Crystal Device), TN(Twisted Nematic)-LCD, STN(Super Twisted Nematic)-LCD, TFT(Thin Film Transistor)-LCD, 플라스틱 (Plastic)-LCD, EL(Electro Luminescence ; 전계발광소자) 등에서 널리 사용되고 있다.
일반적으로 이러한 평판 디스플레이 패널을 구동하기 위한 구동 드라이버 IC들은 COG(Chip on Glass) 형태로 직접 장착되거나 FPC (Flexible PCB)나 TS(Tape Substrate)에 미리 조립된 TCP(Tape Carrier Package)형태로 패널에 장착되게 된다.
현재, 42인치 PDP의 경우 전극패턴 하나의 선폭과 피치(pitch)가 각각 50㎛ 및 300㎛에 이르고 있고, TFT-LCD 패널의 전극패턴 피치도 70㎛ 정도에 이르고 있어 대형화에 따라 이에 대응하여 구동 IC를 탑재한 회로기판의 전극패턴들도 미세화 되어 가고 있으며 다핀화 되어 가고 있다.
위와 같이 패널에 형성된 패턴전극이나 TS 회로기판에 형성된 패턴전극의 단선 및 단락을 검사하기 위해서는 도 1에 도시된 바와 같이 다수개의 핀 프로브(30)를 배열시켜 프로브 블록(20)을 형성하여 패턴전극(15)에 가압 접촉시킨 후 신호발생기(미도시)로부터 발생시킨 신호를 패턴전극(15)의 한쪽에서 신호를 전송한 후 다른 쪽에서 측정하여 단선 및 단락을 검사한다.
위에서 설명한 기술은 본 발명이 속하는 기술분야의 배경기술을 의미하며, 종래기술을 의미하는 것은 아니다.
그러나 위와 같이 핀 프로브에 의한 패턴전극의 검사방식은 다음과 같은 문제점이 있다.
첫째, 핀 프로브는 반복적인 접촉 작업에 의해 핀 프로브의 접촉다리가 변 형을 일으켜 접촉 불량이 발생하는 문제점이 있다.
둘째, 이러한 문제점을 해결하기 위해 고해상력의 협소한 전극의 접촉면에 대응하도록 핀 프로브의 직경을 현재보다 아주 작은 것을 사용할 경우 핀 프로브의 강성문제로 굽힘 모멘트에 취약하여 와이어에 굽힘 변형이 생겨 전극의 접촉면에 접촉 불량이 발생하는 문제점이 있다.
셋째, 핀 프로브에 의한 검사방식은 핀 프로브와 패턴전극과의 가압접촉 방식이기 때문에 고가이면서도 내구성이 없는 핀 프로브가 가압 접촉시 쉽게 손상될 뿐만 아니라 교체에 따른 많은 비용이 소요되는 문제점이 있다.
넷째, 제품모델이나 설계가 변경되어 패턴전극의 위치 및 피치 등이 바뀌게 될 경우 핀 프로브의 위치 및 피치가 고정되어 있기 때문에 이와 연관된 기구부를 모두 교체해야 하는 문제점으로 모델이나 설계변경에 대한 대응성이 없어 범용적으로 사용할 수 없는 문제점이 있다.
다섯째, 핀 프로브를 패턴전극에 가압 접촉시켜야 하기 때문에 접촉에 따른 스크래치(scratch)로 인하여 패턴전극의 손상으로 인한 또 다른 불량요인이 발생되는 문제점이 있다.
최근에는 회로기판의 패턴전극의 간격이 25㎛ 이하로 감소하여 더욱더 해상도가 높아지고 있어 일반적인 접촉식 프로브를 통해서는 주변의 다른 패턴전극과의 간섭이 발생하여 정확한 단선이나 단락을 검사할 수 없는 문제점이 있다.
본 발명은 상기와 같은 문제점을 개선하기 위해 창작된 것으로서, 본 발명은 유연성을 갖는 와이어를 패턴전극에 접촉한 상태에서 굽힘 하중을 가하여 진행 방향으로 휘어지게 한 상태에서 쓸면서 스캔하여 단선 및 단락을 검사하기 위한 유연한 와이어를 이용한 접촉식 프로브를 제공하는데 그 목적이 있다.
상기와 같은 목적을 실현하기 위한 본 발명의 일 측면에 따른 유연한 와이어를 이용한 접촉식 프로브는 단선이나 단락 검사를 위해 스캔하는 스캔방향 관성모멘트가 스캔방향의 수직방향 관성모멘트보다 적은 횡단면을 갖는 유연 와이어인 것을 특징으로 한다.
본 발명에서 유연 와이어는 원형 와이어를 압연하여 형성한 것을 특징으로 한다.
본 발명에서 유연 와이어의 횡단면은 직사각형상이나 타원형상 중 어느 하나인 것을 특징으로 한다.
상기한 바와 같이 본 발명은 유연성을 갖는 와이어의 스캔방향 관성모멘트가 적은 횡단면 형상을 가짐으로써 굽힘 하중을 가하여 스캔방향으로 휘어지게 한 상태에서 쓸면서 스캔할 때 스캔방향으로의 방향성을 높일 수 있다.
또한, 유연 와이어가 휘어진 상태에서 스캔됨에 따라 휘어진 길이만큼의 높이 마진을 확보하여 측정대상물의 높이변화에 대한 적응력을 높일 수 있다.
또한, 유연 와이어가 작은 굽힘 하중으로도 스캔방향으로 휘어짐에 따라 스캔할 때 측정대상물과의 마찰력이 감소하여 유연 와이어의 마모 및 측정대상물의 마모를 줄일 수 있다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 유연한 와이어를 이용한 접촉식 프로브의 실시예를 설명한다. 이 과정에서 도면에 도시된 선들의 두께나 구성요소의 크기 등은 설명의 명료성과 편의상 과장되게 도시되어 있을 수 있다. 또한, 후술되는 용어들은 본 발명에서의 기능을 고려하여 정의된 용어들로서 이는 사용자, 운용자의 의도 또는 관례에 따라 달라질 수 있다. 그러므로, 이러한 용어들에 대한 정의는 본 명세서 전반에 걸친 내용을 토대로 내려져야 할 것이다.
도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 유연한 와이어를 이용한 접촉식 프로브의 사용 상태를 나타낸 사시도이고, 도 3은 측면도이다.
여기에 도시된 바와 같이 유연한 와이어를 이용한 접촉식 프로브는 패턴전극(15)의 단선 및 단락 검사장치(미도시)의 가압 이송수단(50)과 체결되어 패턴전극(15)과 유연 와이어(40)를 접촉시켜 가압한 상태에서 스캔방향으로 휘어지게 한 상태로 패턴전극(15)의 수직방향으로 스캔함에 따라 패턴전극(15)위를 쓸면서 접촉되어 단선이나 단락을 검사하게 된다.
도 4는 본 발명의 일실시예에 따른 유연한 와이어를 이용한 접촉식 프로브의 유연 와이어를 나타낸 도면이고, 도 5는 본 발명의 실시예에 따른 유연한 와이어를 이용한 접촉식 프로브의 유연 와이어에 작용하는 힘을 설명하기 위한 도면이 다.
도 4에 도시된 바와 같이 유연한 와이어를 이용한 접촉식 프로브의 유연 와이어(40)는 단선이나 단락 검사를 위해 스캔하는 스캔방향길이(h)가 스캔방향의 수직방향길이(w)보다 짧은 횡단면을 갖도록 형성되어 적은 가압력으로도 스캔방향으로 굽힘이 발생할 뿐만 아니라 스캔방향의 수직방향으로는 강성이 강화되어 휘어지는 방향성을 높임으로써 측면 방향의 위치 정밀도를 향상시킬 수 있다.
즉, 유연 와이어(40)의 강성(k)은
Figure 112009004762192-PAT00001
와 같이 단순화할 수 있다.
이때 관성모멘트는 스캔방향 관성모멘트(Iy)의 경우
Figure 112009004762192-PAT00002
와 같이 나타낼 수 있고 스캔방향의 수직방향인 측면방향 관성모멘트(Ix)의 경우
Figure 112009004762192-PAT00003
와 같이 나타낼 수 있다.
유연 와이어(40)의 횡단면 형상이 b=5h의 조건을 적용할 경우 스캔방향 관성모멘트(Iy)는
Figure 112009004762192-PAT00004
와 같이 되고, 측면방향 관성모멘트(Ix)는
Figure 112009004762192-PAT00005
와 같이 된다.
이와 같이 Ix=25Iy의 결과에 따라 측면강성이 향상되어 유연 와이어(40)의 스캔동작시 유연 와이어(40)의 측면방향에 대한 위치 정밀도를 향상시킬 수 있으며 스캔방향의 방향성을 향상시킬 수 있다.
위와 같이 스캔방향 관성모멘트가 스캔방향의 수직방향 관성모멘트보다 적 은 특성을 갖는 유연 와이어(40)의 형상은 도 5의 (B)에 도시된 바와 같이 유연 와이어(40)의 횡단면이 직사각형상을 가질 수도 있으며, (C)에 도시된 바와 같이 타원형상을 가질 수 있으며, 이때 타원형상의 유연 와이어(40)는 원형 와이어를 압연하여 형성할 수도 있다.
또한, 유연 와이어(40)가 위와 같이 스캔방향의 강성이 감소됨에 따라 굽힘하중이 감소하여 측정대상물인 패턴전극과의 접촉시 반발력이 감소된다. 따라서 측정대상물과의 마찰력이 감소하여 유연 와이어(40)의 마모 및 측정대상물의 마모를 줄일 수 있다.
이를 구체적으로 살펴보면 유연 와이어(40)와 같은 외팔보의 굽힘하중(P)은
Figure 112009004762192-PAT00006
으로 정의된다.
이때 도 5의 (A)에 도시된 원형 와이어와 (C)에 도시된 압연에 의한 유연 와이어(40)의 처점량(δ)과 길이(L)가 동일할 경우 굽힘하중은 관성모멘트(I)와 비례하게 된다.
따라서 원형 와이어의 관성모멘트(Icylinder)는
Figure 112009004762192-PAT00007
으로 나타내고 유연 와이어의 관성모멘트(Irect)는
Figure 112009004762192-PAT00008
로 나타낼 수 있다.
이때 유연 와이어가 원형 와이어를 압연하여 형성할 경우 면적 손실이 없게 됨에 따라 면적(A)는
Figure 112009004762192-PAT00009
로 나타낼 수 있으며 유연와이어의 b와 h의 비율을 b=5h로 적용할 경우 원형 와이어의 관성모멘트(Icylinder)는
Figure 112009004762192-PAT00010
으로 정리되고 유연 와이어의 관성모멘트(Irect)는
Figure 112009004762192-PAT00011
로 정리된다.
따라서,
Figure 112009004762192-PAT00012
이므로 유연 와이어의 측정대상물에 대한 반발력은 원형 와이어와 비교하여 유연 와이어가 약 1/5로 감소되는 것을 알 수 있다.
이와 같이 반발력 감소는 스캔 동작시 유연 와이어의 마찰력을 감소시켜 유연 와이어의 마모량 및 측정대상물의 마모량을 줄일 수 있다.
본 발명은 도면에 도시된 실시예를 참고로 하여 설명되었으나, 이는 예시적인 것에 불과하며, 당해 기술이 속하는 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서 본 발명의 기술적 보호범위는 아래의 특허청구범위에 의해서 정하여져야 할 것이다.
도 1은 일반적인 핀 프로브 블록을 나타낸 도면이다.
도 2는 본 발명에 의한 유연한 와이어를 이용한 접촉식 프로브의 사용 상태를 나타낸 사시도이고, 도 3은 측면도이다.
도 4는 본 발명의 일실시예에 따른 유연한 와이어를 이용한 접촉식 프로브의 유연 와이어를 나타낸 도면이다.
도 5는 본 발명의 실시예에 따른 유연한 와이어를 이용한 접촉식 프로브의 유연 와이어에 작용하는 힘을 설명하기 위한 도면이다.
- 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 -
10 : 회로기판 15 : 패턴전극
20 : 프로브 블록 30 : 핀 프로브
40 : 유연 와이어 50 : 가압 이송수단

Claims (3)

  1. 단선이나 단락 검사를 위해 스캔하는 스캔방향 관성모멘트가 스캔방향의 수직방향 관성모멘트보다 적은 횡단면을 갖는 유연 와이어인 것을 특징으로 하는 유연한 와이어를 이용한 접촉식 프로브.
  2. 제 1항에 있어서, 상기 유연 와이어는 원형 와이어를 압연하여 형성한 것을 특징으로 하는 유연한 와이어를 이용한 접촉식 프로브.
  3. 제 1항에 있어서, 상기 유연 와이어의 횡단면은 직사각형상이나 타원형상 중 어느 하나인 것을 특징으로 하는 유연한 와이어를 이용한 접촉식 프로브.
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