KR20100077636A - Beam punching unit and beam punching method - Google Patents

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KR20100077636A
KR20100077636A KR1020080135643A KR20080135643A KR20100077636A KR 20100077636 A KR20100077636 A KR 20100077636A KR 1020080135643 A KR1020080135643 A KR 1020080135643A KR 20080135643 A KR20080135643 A KR 20080135643A KR 20100077636 A KR20100077636 A KR 20100077636A
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Abstract

PURPOSE: A light punching unit and a light punching method thereof are provided to prevent the physical damage of a chip mounting film by punching a chip mounting film with laser light. CONSTITUTION: A light punching unit comprises a chip identification part(100) and a light punching part(200). A chip identification part recognizes a punching region including each semiconductor chip mounted on a chip mounting film. The light punching part comprises a light source(210), an optical path guidance module(220), and a control module(230). The light source irradiates laser light. The optical path guidance module guides the laser light irradiated from the light source to the circumference of the punching region. The control module controls the operation of the light source and the optical path guidance module according to the information about the punching region, which is received from the chip identification part.

Description

광 펀칭 유니트 및 이를 사용한 광 펀칭 방법{BEAM PUNCHING UNIT AND BEAM PUNCHING METHOD}Optical punching unit and optical punching method using the same {BEAM PUNCHING UNIT AND BEAM PUNCHING METHOD}

본 발명은 광 펀칭 유니트에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 다수의 반도체 칩들이 수납되는 칩 실장 필름에서 반도체 칩들의 다양한 사이즈에 대응되는 펀칭 영역을 레이저 광을 사용하여 펀칭할 수 있는 광 펀칭 유니트 및 이를 사용한 광 펀칭 방법에 관한 것이다.The present invention relates to an optical punching unit, and more particularly, to an optical punching unit capable of punching punching regions corresponding to various sizes of semiconductor chips using laser light in a chip mounting film in which a plurality of semiconductor chips are housed. It relates to the optical punching method used.

근래에 들어, 반도체 집적기술의 비약적인 발전에 힘입어 LSI(Large Scale Integration), VLSI(Very Large Scale Integrated Circuit)을 넘어선 ULSI(Ultra Large Scale Integration)급 반도체칩이 이미 상용화되었고, 이 같은 반도체칩의 조립 및 실장 기술 중 와이어리스 본딩(Wireless Bonding) 방식으로써 TCP(Tape Carrier Package) 기술이 널리 이용되고 있다.In recent years, thanks to the rapid development of semiconductor integrated technology, ULSI (Ultra Large Scale Integration) semiconductor chips beyond LSI (Large Scale Integration) and VLSI (Very Large Scale Integrated Circuit) have been commercialized. Tape Carrier Package (TCP) technology is widely used as a wireless bonding method among assembly and mounting technologies.

일반적으로 TCP란 좁은 의미로는 반도체칩을 테이프 형태의 필름에 접속시켜 수지(Resin)로 밀봉하는 TAB(Tape Automated Bonding) 기술을 활용한 패키지를 지칭하였지만, 필름 형태의 FPC(Flexible Printed Circuit)가 개발되면서 현재 TAB 기술은 COF(Chip On Film 또는 Chip On Flexible Printed Circuit)를 포함하는 개 념으로 사용되고 있으며, 통신기기의 경박단소화 추세에 따라 액정표시장치의 드라이버 회로 등을 접속시키기 위한 대표적인 패키징 기술로 활용되고 있다.In general, TCP refers to a package using a tape automated bonding (TAB) technology in which a semiconductor chip is connected to a film in a tape form and sealed with a resin, but a film-type flexible printed circuit (FPC) As it is developed, TAB technology is currently being used as a concept including a chip on film or chip on flexible printed circuit (COF), and is a representative packaging technology for connecting driver circuits of liquid crystal display devices according to the trend of thin and light communication devices. It is utilized as.

도 1은 종래의 펀칭된 TAB IC에 의하여 평판 디스플레이 글라스의 전극과 FPCB의 전극이 서로 연결된 것을 보여주는 사시도이다. 도 2는 종래의 TAB IC가 펀칭되는 것을 보여주는 사시도이다.1 is a perspective view showing that electrodes of a flat panel display glass and electrodes of an FPCB are connected to each other by a conventional punched TAB IC. 2 is a perspective view showing that a conventional TAB IC is punched out.

도 1을 참조 하면, TAB 제품(10)은 액티브 매트릭스 방식의 액정패널(2) 그리고 이의 화상구현에 필요한 신호를 출력하는 게이트 및 데이터드라이버 회로(4,6)를 연결하고 있다. 참고로, 상기 TAB 제품(10)이라는 명칭은 TCP 내지는 COF를 모두 포함하는 개념으로 사용되었고, 이 같은 TAB 제품(10) 중 반도체칩(14)이 안착된 모재필름을 편의상 TCP 필름(12)이라 지칭하는 바, 같은 맥락에서 이하에 언급되어질 TCP 필름(12)의 연속물을 TCP 릴이라 한다.Referring to FIG. 1, the TAB product 10 connects an active matrix liquid crystal panel 2 and gate and data driver circuits 4 and 6 that output signals necessary for image realization thereof. For reference, the name of the TAB product 10 was used as a concept including both TCP or COF, and the base film on which the semiconductor chip 14 is seated among the TAB products 10 is called a TCP film 12 for convenience. In the same context, a series of TCP films 12 which will be mentioned below in the same context is called a TCP reel.

한편, 이 같은 TAB 제품은 통상 자동화된 TAB 제조시스템을 통해 완성되는데, 첨부된 도 2는 일반적인 TAB 제조시스템의 일부를 간략하게 나타낸 측면도로서 TCP 릴(20)을 일 방향으로 진행시키기 위한 한 쌍의 스프라켓휠(40,50) 그리고 이들 사이에서 TCP 릴(20)을 반도체칩 별로 펀칭하여 TAB 제품을 얻는 TAB 펀칭장치(60)를 포함한다.On the other hand, such a TAB product is usually completed through an automated TAB manufacturing system, the accompanying Figure 2 is a side view showing a simplified portion of the general TAB manufacturing system a pair of to advance the TCP reel 20 in one direction Sprocket wheels 40 and 50 and a TAB punching device 60 to obtain a TAB product by punching the TCP reel 20 for each semiconductor chip therebetween.

보다 구체적으로, 먼저 한 쌍의 스프라켓휠(40,50)은 서로 동일한 방향으로 회전하면서 어느 하나에 감겨져 있던 TCP 릴(20)을 다른 하나로 옮겨 감는 방식을 취하며, 그 결과 TCP 릴(20)은 연속적으로 일 방향을 향해 진행된다.More specifically, first, the pair of sprocket wheels 40 and 50 rotate in the same direction and take a method of moving the TCP reel 20 wound on one to another, and as a result, the TCP reel 20 is It continues in one direction.

이때 TCP 릴(20)의 전달에 대한 정확도를 높이기 위하여 한 쌍의 스프라켓 휠(40,50) 각각의 외면 폭 방향의 양단 가장자리를 따라서는 2열의 스프라켓(42,52)이 둘러있고, TCP 릴(20) 역시 진행방향에 대해 수직한 폭 방향의 양단 가장자리를 따라 각 열의 스프라켓(42,52)이 삽입될 수 있는 2 열의 스프라켓홀(22)이 관통되어 있다.At this time, in order to increase the accuracy of the transmission of the TCP reel (20), two rows of sprockets (42, 52) are surrounded along both edges of the outer width direction of each pair of sprocket wheels (40, 50), TCP reel ( 20) Two rows of sprocket holes 22 through which sprockets 42 and 52 of each row are inserted are also penetrated along both edges of the width direction perpendicular to the traveling direction.

그리고 이들 한 쌍의 스프라켓 휠(40,50) 사이의 TCP 릴(20) 진행경로 중에는 TCP 릴(20)을 사이에 두고 상하로 대면되는 홀더(70)와 다이(90)를 구비한 TAB 펀칭장치(60)가 위치되는 바, 이중 홀더(70)는 상하로 승강 가능하며 다이(90)를 바라보는 배면으로부터 펀치(72)가 하방 돌출되어 있고, 다이(90)에는 홀더(70)의 펀치(72)가 삽입될 수 있는 펀치홀(92)이 상하방향으로 관통되어 있다.In the course of the TCP reel 20 between the pair of sprocket wheels 40 and 50, a TAB punching device having a die 70 and a holder 70 facing up and down with the TCP reel 20 interposed therebetween. As the 60 is positioned, the double holder 70 can be lifted up and down, and the punch 72 protrudes downward from the back facing the die 90, and the die 90 has a punch ( The punch hole 92 into which the 72 can be inserted penetrates in the vertical direction.

이에 TCP 릴(20)은 한 쌍의 스프라켓휠(40,50)에 의해 일 방향으로 이송되는 과정 중에 주기적으로 정지하고, 이의 정지 주기에 맞추어 TAB 펀칭장치(60)의 홀더(70)가 하강 및 상승함으로써 펀치(72)와 펀치홀(92)에 의한 펀칭 동작을 수행하여 반도체칩(14) 별로 TAB 제품(12)을 얻는다. 따라서 TCP 릴(20)의 진행방향에 대해서 펀치(72)를 기준으로 그 이전 단의 TCP 릴(20)에는 반도체칩(14)을 포함한 TAB 제품(12)이 존재하지만, 그 이후 단의 TCP 릴(20)에는 반도체칩 별(14)로 TAB 제품(12)이 펀칭 및 제거되어 일정간격의 구멍(H)만이 남아있게 되며, 이때 펀칭 되어진 TAB 제품(12)은 다이(90)의 펀치홀(92)을 통해서 외부로 인출된다.The TCP reel 20 is periodically stopped in the process of being transferred in one direction by a pair of sprocket wheels (40, 50), the holder 70 of the TAB punching device 60 is lowered and By raising, punching operations are performed by the punch 72 and the punch hole 92 to obtain the TAB product 12 for each semiconductor chip 14. Therefore, the TAB product 12 including the semiconductor chip 14 exists in the TCP reel 20 of the previous stage based on the punch 72 with respect to the advancing direction of the TCP reel 20, but the TCP reel of the subsequent stage is present. The TAB product 12 is punched and removed by the star 14 of the semiconductor chip 14 so that only holes H of a predetermined interval remain, and the punched TAB product 12 is punched out of the die 90. Through 92).

한편, 상술한 TAB 펀칭장치(60)의 정확한 펀칭동작을 위해서는 홀더(70)의 잦은 승강에도 불구하고 홀더(70)와 다이(90)의 정확한 얼라인이 보장되어야 하고, 이를 위해서 홀더(70) 배면으로는 기둥 형상을 나타내는 복수개의 포스트(74)가 하 방으로 돌출되어 있고, 다이(90)의 상면에는 각각의 포스트(74)가 삽입될 수 있는 파이프 형상의 포스트가이드(94)가 상방으로 돌출되어 있다. 따라서 각각의 포스트가이드(94)로 포스트(74)가 삽입되면서 홀더(70)와 다이(90) 간의 정확한 얼라인 상태를 유지한다.On the other hand, for the accurate punching operation of the above-described TAB punching device 60, despite the frequent lifting of the holder 70, the correct alignment of the holder 70 and the die 90 should be ensured, for this purpose holder 70 On the back side, a plurality of posts 74 having a columnar shape protrude downward, and a pipe-shaped post guide 94 into which each post 74 can be inserted is upward on the upper surface of the die 90. It protrudes. Accordingly, the post 74 is inserted into each post guide 94 to maintain the correct alignment between the holder 70 and the die 90.

아울러 TAB 펀칭장치(60)의 공정신뢰도를 높이기 위해서는 최소한 펀칭 동작 시점에서 휨 등이 발생되기 쉬운 연성재질의 TCP 릴(20)이 평평하게 펼쳐져야 함과 동시에 유동이 억제되어야 하는 바, 이를 위해서 홀더(70)의 배면으로부터는 TCP 릴(20)의 각 열 별 적어도 하나의 스프라켓홀(22)에 삽입되는 복수개의 파일롯트핀(76)이 동일한 길이로 하방 돌출되어 있고, 비록 명확하게 나타나지는 않았지만 다이(90)의 상면에는 각각의 파일롯트핀(76)이 삽입될 수 있는 핀홀이 구비되어 있다. 그리고 이들 파일롯트핀(76)은 펀치(72)와 포스트(74) 사이에 그 말단부가 위치되고, 따라서 펀치(72)가 TCP 릴(20)에 접촉하기 이전으로부터 펀칭 이후의 일정 시점까지 TCP 릴(20)의 각 열 별 적어도 하나의 스프라켓홀(22)로 각각 삽입되어 TCP 릴(20)을 평평하게 펼침과 동시에 유동을 억제한다.In addition, in order to increase the process reliability of the TAB punching device 60, at least the flexible TCP reel 20, which tends to bend at the time of punching operation, should be flattened and at the same time flow must be suppressed. From the back of the 70, a plurality of pilot pins 76 inserted into the at least one sprocket hole 22 for each row of the TCP reel 20 protrude downward with the same length, although not clearly shown The upper surface of the die 90 is provided with a pin hole into which each pilot pin 76 can be inserted. And these pilot pins 76 are located at their distal end between the punch 72 and the post 74, so that the TCP reel from before the punch 72 contacts the TCP reel 20 to a point after punching. At least one sprocket hole 22 for each row of 20 is inserted into the TCP reel 20 to flatten and simultaneously suppress flow.

그러나, COF(5)위에 반도체칩(6)이 본딩된 형태의 TAB-IC에서, 반도체 칩이나 COF(5)의 사이즈가 서로 다른 다양한 종류의 TAB제품이 적용될 경우에, 상기에 언급된 TAB-IC 펀칭장치를 구성하는 홀더(70)의 펀치홀(92)과 다이(90)의 펀치홀(92) 사이즈가 변경되어야 한다.However, in the TAB-IC in which the semiconductor chip 6 is bonded on the COF 5, when the various types of TAB products having different sizes of the semiconductor chip or the COF 5 are applied, the above-mentioned TAB- The punch hole 92 of the holder 70 constituting the IC punching device and the punch hole 92 of the die 90 should be changed.

따라서, 종래에는 TAB-IC의 종류가 변경될 때마다 홀더(70)와 다이(90)를 함께 변경하여야 하는 문제점을 갖는다.Therefore, in the related art, whenever the type of the TAB-IC is changed, the holder 70 and the die 90 must be changed together.

또한, 상기와 같은 문제점은 TAB제품의 종류를 변경 하는 때마다 상기 펀칭장치(60)의 홀더(70)와 다이(90)를 분리하고, 다른 종류의 홀더와 다이로 교체한 이후에 이들에 대한 위치의 미세 조정 및 테스트와 검증을 거쳐야 하기 때문에 이에 투입되는 교체/준비 시간으로 인한 공정 로스(Loss)가 발생하게 되는 문제점을 유발한다.In addition, the above problem is to remove the holder 70 and the die 90 of the punching device 60 each time the type of TAB product is changed, and after replacing them with a different type of holder and die for these Because of the fine tuning, testing and verification of the location, there is a problem of process loss due to replacement / preparation time.

또한, 고해상도가 요구되는 액정 표시 장치의 화상 구현에 필요한 신호를 액정 패널과 게이트 및 소스 드라이버회로를 연결해주는 TAB-IC의 신호선이 증가되기 때문에, 신호선 간의 미세피치화가 불가피하게 된다.In addition, since the signal line of the TAB-IC connecting the liquid crystal panel, the gate, and the source driver circuit to a signal necessary for realizing an image of a liquid crystal display requiring high resolution is increased, fine pitching between the signal lines is inevitable.

이러한 경우에, 종래의 펀치가 펀치홀(92)을 향해 하강여 기구적으로 COF릴(20)로부터 TAB-IC를 분리해내는 경우에, 펀치홀(90)의 절단되는 면에서 절삭 흔적(Burr)이 발생되는 문제가 발생되는데, 이는 인접한 리드간의 전기적인 쇼트를 유발하는 문제점을 갖는다.In this case, in the case where the conventional punch is lowered toward the punch hole 92 and mechanically separates the TAB-IC from the COF reel 20, the cutting marks Burr at the cut surface of the punch hole 90 ) Occurs, which has a problem of causing an electrical short between adjacent leads.

본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결할 수 있도록 안출된 것으로서, 본 발명의 목적은 다수의 반도체 칩들이 수납되는 칩 실장 필름에서 반도체 칩들의 다양한 사이즈에 대응되는 펀칭 영역을 광을 사용하여 펀칭할 수 있는 광 펀칭 유니트 및 이를 사용한 광 펀칭 방법을 제공함에 있다.The present invention has been made to solve the above problems, an object of the present invention is to punch a punching area corresponding to various sizes of the semiconductor chips using light in the chip mounting film in which a plurality of semiconductor chips are accommodated. An optical punching unit and an optical punching method using the same are provided.

본 발명의 다른 목적은 칩 실장 필름으로부터 반도체 칩을 포함한 일정 영역을 펀칭하는 경우에, 펀칭되는 펀칭 영역의 테두리에 물리적인 절삭 흔적이 발생되는 것을 방지할 수 있는 광 펀칭 유니트 및 이를 사용한 광 펀칭 방법을 제공함에 있다.Another object of the present invention, when punching a predetermined region including a semiconductor chip from the chip mounting film, the optical punching unit and the optical punching method using the same that can prevent the physical cutting traces generated on the edge of the punched punching region In providing.

본 발명은 상기와 같은 목적을 달성하기 위한 광 펀칭 유니트를 제공한다.The present invention provides an optical punching unit for achieving the above object.

상기 광 펀칭 유니트는 일정 길이의 칩 실장 필름에 수납되는 반도체 칩들 각각을 포함하는 펀칭 영역을 인식하는 칩 인식부와, 상기 칩 인식부로부터 상기 펀칭 영역에 대한 정보를 전송 받아 상기 펀칭 영역의 테두리를 따라 광을 조사하여 상기 칩 실장 필름을 펀칭하는 광 펀칭부를 포함한다.The optical punching unit may include a chip recognition unit recognizing a punching area including each of the semiconductor chips accommodated in a chip mounting film of a predetermined length, and receiving the information about the punching area from the chip recognition unit to form an edge of the punching area. And an optical punching unit for punching the chip mounting film by irradiating light.

여기서, 상기 광 펀칭부는 레이저 광을 발광하는 광원과, 상기 광원으로부터 발광되는 레이저 광을 상기 펀칭 영역의 테두리를 따라 조사되도록 안내하는 광 경로 안내 모듈과, 상기 칩 인식부로부터 상기 펀칭 영역에 대한 정보를 전송 받아 상기 광원 및 상기 광 경로 안내 모듈을 동작시키는 제어 모듈을 구비하는 것이 바 람직하다.Here, the optical punching unit, a light source for emitting a laser light, an optical path guide module for guiding the laser light emitted from the light source along the edge of the punching area, and information about the punching area from the chip recognition unit It is preferred to have a control module for receiving the light source and operating the light path guide module.

그리고, 상기 광 경로 안내 모듈은 상기 펀칭 영역으로 상기 광원으로부터 발광되는 레이저 광을 반사시키는 반사 미러와, 상기 반사 미러와 연결되며 상기 제어 모듈로부터 전기적 신호를 전송 받아 상기 반사되는 레이저 광을 상기 펀칭 영역의 테두리를 따라 조사되도록 상기 반사 미러를 회전 시키는 구동 모터를 구비하는 것이 바람직하다.The optical path guide module may include a reflection mirror reflecting laser light emitted from the light source to the punching area, and the punched area receiving the reflected laser light connected to the reflection mirror and receiving an electrical signal from the control module. It is preferable to have a drive motor for rotating the reflection mirror to be irradiated along the edge of.

또한, 상기 칩 실장 필름은 상기 제어 모듈로부터 전기적 신호를 전송 받아 구동되는 이동 모듈에 의하여 일정 간격으로 이동 위치되되, 상기 이동 모듈은 상기 칩 실장 필름의 양단을 외감하는 한 쌍의 구동휠들과, 상기 제어 모듈로부터 전기적 신호를 전송 받아 상기 구동 휠들 중 어느 하나를 일정 간격으로 회전 시키는 회전 모터를 구비하는 것이 바람직하다.In addition, the chip mounting film is moved at a predetermined interval by a moving module driven by receiving an electrical signal from the control module, the moving module is a pair of drive wheels to surround both ends of the chip mounting film, It is preferable to include a rotary motor for receiving any electrical signal from the control module to rotate any one of the drive wheels at regular intervals.

또한, 상기 칩 실장 필름의 양측단에는 일정 간격으로 피치홀들이 형성되고, 상기 구동휠들의 양측단 외주에는 일정 간격으로 상기 피치홀들이 끼워지는 피치 돌기들이 형성되되, 상기 회전 모터의 회전 간격은 상기 피치홀들의 간격 또는 상기 피치 돌기들의 간격으로 상기 제어 모듈에 설정되는 것이 바람직하다.In addition, pitch holes are formed at both ends of the chip mounting film at predetermined intervals, and pitch protrusions at which the pitch holes are fitted at predetermined intervals are formed at outer peripheries of both side ends of the driving wheels. Preferably, the control module is set at intervals of pitch holes or intervals of the pitch protrusions.

또한, 상기 칩 인식부는 상기 제어 모듈과 전기적으로 연결되는 비젼 카메라이며, 상기 비젼 카메라는 상기 칩 실장 필름의 상부에서 상기 일정 간격으로 이동되는 칩 실장 필름의 영상을 취득하여 상기 영상을 상기 제어 모듈로 전송하고, 상기 제어 모듈은 상기 영상으로부터 상기 반도체 칩들의 수납 유무를 판정하고, 상기 반도체 칩들이 수납되는 경우에 상기 제어 모듈에 기설정되는 펀칭 위치에 위치 되는 칩 실장 필름의 펀칭 영역을 펀칭하도록 상기 광원 및 상기 광 경로안내 모듈을 동작시키는 것이 바람직하다.The chip recognition unit may be a vision camera electrically connected to the control module, and the vision camera acquires an image of a chip mounting film which is moved at a predetermined interval from an upper portion of the chip mounting film and transfers the image to the control module. And the control module determines whether the semiconductor chips are accommodated from the image, and punches a punching area of the chip mounting film positioned at a punching position preset to the control module when the semiconductor chips are accommodated. It is preferable to operate the light source and the optical path guide module.

또한, 상기 칩 인식부는 상기 제어 모듈과 전기적으로 연결되는 비젼 카메라이며, 상기 펀칭 영역은 상기 반도체 칩을 포함하도록 기형성되는 정렬 마크들의 위치 좌표들이 서로 연결되어 형성되는 영역이고, 상기 비젼 카메라는 상기 펀칭 영역의 위치 좌표를 인식하고, 상기 인식된 반도체 칩들을 포함하도록 일정 폭과 너비를 갖는 영역을 상기 펀칭 영역으로 인식하는 것이 바람직하다.The chip recognizing unit may be a vision camera electrically connected to the control module, and the punching area is an area in which position coordinates of alignment marks that are previously formed to include the semiconductor chip are connected to each other. It is preferable to recognize the position coordinates of the punching area and to recognize the area having a predetermined width and width as the punching area so as to include the recognized semiconductor chips.

본 발명은 상기와 같은 목적을 달성하기 위한 광 펀칭 유니트를 사용한 광 펀칭 방법을 제공한다.The present invention provides an optical punching method using an optical punching unit for achieving the above object.

상기 광 펀칭 방법은 칩 인식부를 사용하여 일정 길이의 칩 실장 필름에 수납되는 반도체 칩들 각각을 포함하는 펀칭 영역을 인식하는 칩 인식 단계와, 상기 칩 인식부와 전기적으로 연결되는 광 펀칭부를 사용하여, 상기 칩 인식부로부터 상기 펀칭 영역에 대한 정보를 전송 받아 상기 펀칭 영역의 테두리를 따라 광을 조사하여 상기 칩 실장 필름을 펀칭하는 광 펀칭 단계를 포함한다.The optical punching method may include a chip recognition step of recognizing a punching area including each of the semiconductor chips accommodated in a chip mounting film having a predetermined length using a chip recognition unit, and an optical punching unit electrically connected to the chip recognition unit. And an optical punching step of receiving the information about the punching region from the chip recognition unit and irradiating light along an edge of the punching region to punch the chip mounting film.

상기 광 펀칭 단계는, 제어 모듈을 사용하여 광원을 동작시켜 상기 광원을 통하여 레이저 광을 발광하고, 상기 제어 모듈을 사용하여 광 경로 안내 모듈로 상기 칩 인식부로부터 상기 펀칭 영역에 대한 정보를 전송 하고, 상기 제어 모듈을 사용하여 상기 광 경로 안내 모듈을 동작시켜 상기 광원으로부터 발광되는 레이저 광을 상기 펀칭 영역의 테두리를 따라 조사되도록 안내한다.In the optical punching step, the laser light is emitted through the light source by operating a light source using a control module, and transmitting information about the punching area from the chip recognition unit to the optical path guide module using the control module. By using the control module, the optical path guide module is operated to guide the laser light emitted from the light source to be irradiated along the edge of the punching area.

그리고, 상기 광 경로 안내 모듈은 반사 미러를 사용하여 상기 펀칭 영역으 로 상기 광원으로부터 발광되는 레이저 광을 반사시키고, 상기 반사 미러와 연결되며 상기 제어 모듈로부터 전기적 신호를 전송 받아 회전 구동되는 구동 모터를 사용하여 상기 반사되는 레이저 광을 상기 펀칭 영역의 테두리를 따라 조사되도록 상기 반사 미러를 회전 시킨다.The optical path guide module reflects laser light emitted from the light source to the punching area using a reflection mirror, and is connected to the reflection mirror and receives a driving signal that is rotated by receiving electrical signals from the control module. Rotate the reflective mirror to irradiate the reflected laser light along an edge of the punching area.

또한, 상기 칩 실장 필름은 상기 제어 모듈로부터 전기적 신호를 전송 받아 구동되는 이동 모듈에 의하여 일정 간격으로 이동 위치되되, 상기 이동 모듈은 상기 칩 실장 필름의 양단을 외감하는 한 쌍의 구동휠들과, 상기 제어 모듈로부터 전기적 신호를 전송 받아 상기 구동 휠들 중 어느 하나를 일정 간격으로 회전 시키는 회전 모터를 구비하는 것이 바람직하다.In addition, the chip mounting film is moved at a predetermined interval by a moving module driven by receiving an electrical signal from the control module, the moving module is a pair of drive wheels to surround both ends of the chip mounting film, It is preferable to include a rotary motor for receiving any electrical signal from the control module to rotate any one of the drive wheels at regular intervals.

또한, 상기 칩 실장 필름의 양측단에는 일정 간격으로 피치홀들이 형성되고, 상기 구동휠들의 양측단 외주에는 일정 간격으로 상기 피치홀들이 끼워지는 피치 돌기들이 형성되되, 상기 회전 모터의 회전 간격은 상기 피치홀들의 간격 또는 상기 피치 돌기들의 간격으로 상기 제어 모듈에 설정되는 것이 바람직하다.In addition, pitch holes are formed at both ends of the chip mounting film at predetermined intervals, and pitch protrusions at which the pitch holes are fitted at predetermined intervals are formed at outer peripheries of both side ends of the driving wheels. Preferably, the control module is set at intervals of pitch holes or intervals of the pitch protrusions.

또한, 상기 칩 인식부는 상기 제어 모듈과 전기적으로 연결되는 비젼 카메라이며, 상기 비젼 카메라는 상기 칩 실장 필름의 상부에서 상기 일정 간격으로 이동되는 칩 실장 필름의 영상을 취득하여 상기 영상을 상기 제어 모듈로 전송하고, 상기 제어 모듈은 상기 영상으로부터 상기 반도체 칩들의 수납 유무를 판정하고, 상기 반도체 칩들이 수납되는 경우에 상기 제어 모듈에 기설정되는 펀칭 위치에 위치되는 칩 실장 필름의 펀칭 영역을 펀칭하도록 상기 광원 및 상기 광 경로안내 모듈을 동작시키는 것이 바람직하다.The chip recognition unit may be a vision camera electrically connected to the control module, and the vision camera acquires an image of a chip mounting film which is moved at a predetermined interval from an upper portion of the chip mounting film and transfers the image to the control module. And the control module determines whether the semiconductor chips are accommodated from the image, and punches a punching area of the chip mounting film located at a punching position preset to the control module when the semiconductor chips are accommodated. It is preferable to operate the light source and the optical path guide module.

또한, 상기 칩 인식부는 상기 제어 모듈과 전기적으로 연결되는 비젼 카메라이며, 상기 펀칭 영역은 상기 반도체 칩을 포함하도록 기형성되는 정렬 마크들의 위치 좌표들이 서로 연결되어 형성되는 영역이고, 상기 비젼 카메라는 상기 펀칭 영역의 위치 좌표를 인식하고, 상기 인식된 반도체 칩들을 포함하도록 일정 폭과 너비를 갖는 영역을 상기 펀칭 영역으로 인식하는 것이 바람직하다.The chip recognizing unit may be a vision camera electrically connected to the control module, and the punching area is an area in which position coordinates of alignment marks that are previously formed to include the semiconductor chip are connected to each other. It is preferable to recognize the position coordinates of the punching area and to recognize the area having a predetermined width and width as the punching area so as to include the recognized semiconductor chips.

본 발명은 다수의 반도체 칩들이 수납되는 칩 실장 필름에서 반도체 칩들의 다양한 사이즈에 대응되는 펀칭 영역을 레이저 광을 사용하여 펀칭할 수 있는 효과를 갖는다.The present invention has the effect of punching the punching region corresponding to the various sizes of the semiconductor chips using a laser light in the chip mounting film that accommodates a plurality of semiconductor chips.

또한, 본 발명은 칩 실장 필름으로부터 반도체 칩을 포함한 일정 영역을 펀칭하는 경우에, 펀칭되는 펀칭 영역의 테두리에 물리적인 절삭 흔적이 발생되는 것을 방지할 수 있는 효과를 갖는다.In addition, the present invention has the effect of preventing the physical cutting traces generated on the edge of the punched punched region when punching a predetermined region including the semiconductor chip from the chip mounting film.

또한, 본 발명은 종래의 물리적인 접촉에 의하여 펀칭을 하지 않고 레이저 광을 조사하여 펀칭함으로써, 종래의 장시간 물리적 접촉에 따른 기구적인 물리적 손상 문제를 해소하여 펀칭되어 제조되는 TAB IC의 품질을 향상시킬 수 있는 효과를 갖는다.In addition, the present invention improves the quality of the TAB IC manufactured by punching by punching by irradiating laser light without punching by conventional physical contact, thereby eliminating the mechanical damage problem caused by the conventional long-term physical contact. Has the effect.

이하, 첨부되는 도면들을 참조로 하여, 본 발명의 광 펀칭 유니트 및 이를 사용한 광 펀칭 방법을 설명하도록 한다.Hereinafter, an optical punching unit and an optical punching method using the same will be described with reference to the accompanying drawings.

도 3은 본 발명의 광 펀칭 유니트를 사용하여 반도체 칩의 펀칭 영역이 펀칭 되는 것을 보여주는 사시도이다. 도 4는 도 3의 광 경로 안내 모듈을 보여주는 도면이다. 도 5는 도 3의 반도체 칩이 포함되는 펀칭 영역 및 이를 갖는 칩 실장 필름의 일부를 보여주는 평면도이다. 도 6은 본 발명의 광 펀칭 유니트의 구성들 간의 전기적 연결을 보여주는 블록도이다.3 is a perspective view showing that the punching region of the semiconductor chip is punched using the optical punching unit of the present invention. 4 is a diagram illustrating the light path guide module of FIG. 3. FIG. 5 is a plan view illustrating a punching area in which the semiconductor chip of FIG. 3 is included and a portion of a chip mounting film having the same. 6 is a block diagram showing the electrical connection between the components of the optical punching unit of the present invention.

먼저, 본 발명의 광 펀칭 유니트의 구성을 설명하도록 한다.First, the configuration of the optical punching unit of the present invention will be described.

도 2를 참조 하면, 상기 광 펀칭 유니트는 크게 칩 인식부(100)와, 상기 칩 인식부(100)와 전기적으로 연결되는 광 펀칭부(200)로 구성된다.Referring to FIG. 2, the optical punching unit includes a chip recognition unit 100 and an optical punching unit 200 electrically connected to the chip recognition unit 100.

여기서, 상기 칩 인식부(200)는 일정 길이의 칩 실장 필름(600)에 수납되는 반도체 칩들(600) 각각을 포함하는 펀칭 영역(PA)을 인식할 수 있는 비젼 카메라(vision camera) 일 수 있다.The chip recognition unit 200 may be a vision camera capable of recognizing a punching area PA including each of the semiconductor chips 600 accommodated in the chip mounting film 600 having a predetermined length. .

그리고, 비젼 카메라인 칩 인식부(100)는 상기 칩 실장 필름(500)에 수납되는 반도체 칩들(600)의 위치 좌표를 인식하고, 상기 인식된 반도체 칩들(600)을 포함하도록 일정 폭과 너비를 갖는 영역을 상기 펀칭 영역(PA)으로 인식할 수 있다.In addition, the chip recognition unit 100, which is a vision camera, recognizes position coordinates of the semiconductor chips 600 accommodated in the chip mounting film 500, and sets a predetermined width and width to include the recognized semiconductor chips 600. The area having the edge can be recognized as the punching area PA.

여기서, 도 5를 참조 하면, 상기 반도체 칩(600)을 포함하는 칩 실장 필름(500) 상에는 반도체 칩(600)을 에워싸는 정렬 마크들(AMa,AMb,AMc,AMd)이 기 형성된다. 상기 정렬 마크들(AMa,AMb,AMc,AMd) 각각은 위치 좌표를 갖는다.Here, referring to FIG. 5, alignment marks AMa, AMb, AMc, and AMd surrounding the semiconductor chip 600 may be formed on the chip mounting film 500 including the semiconductor chip 600. Each of the alignment marks AMa, AMb, AMc, and AMd has a position coordinate.

즉, 상기 정렬 마크 AMa 는 위치 좌표 Xa,Ya를 형성하고, 정렬 마크 AMb 는 위치 좌표 Xb,Yb를 형성하고, 정렬 마크 AMc 는 위치 좌표 Xc,Yc를 형성하고, 정렬 마크 AMd 는 위치 좌표 Xd,Yd를 형성한다.That is, the alignment mark AMa forms position coordinates Xa, Ya, the alignment mark AMb forms position coordinates Xb, Yb, the alignment mark AMc forms position coordinates Xc, Yc, and the alignment mark AMd forms position coordinates Xd, Forms Yd.

따라서, 상기에 언급된 위치 좌표를 서로 연결하면, 사각 형상의 일정 영역 이 형성되고, 이 영역 내부에는 반도체 칩(600)이 위치된다. 본 발명에서는 상기 위치 좌표들로 이루어지는 영역을 펀칭 영역(PA)이라고 한다. 이에 더하여, 상기 펀칭 영역(PA)의 테두리(610)는 후술되는 레이저 광의 조사에 의하여 펀칭 또는 절단되는 부분이다.Therefore, when the above-mentioned position coordinates are connected to each other, a rectangular area is formed, and the semiconductor chip 600 is located inside the area. In the present invention, a region consisting of the position coordinates is called a punching region PA. In addition, the edge 610 of the punching area PA is a portion that is punched or cut by irradiation of laser light, which will be described later.

이에 따라, 상기 정렬 마크들(AMa,AMb,AMc,AMd)의 위치 좌표들이 서로 연결되는 반도체 칩(600)을 포함하는 영역이 상기 펀칭 영역(PA)이 될 수 있다.Accordingly, the punching area PA may be an area including the semiconductor chip 600 in which the position coordinates of the alignment marks AMa, AMb, AMc, and AMd are connected to each other.

이러한 펀칭 영역(PA)은 반도체 칩들(600)의 사이즈(size)에 비례하여 증가되고, 이와 같이 비례 증가 또는 감소되는 펀칭 영역(PA)의 정렬 마크들(AMa,AMb,AMc,AMd)은 칩 실장 필름(500)에 기 형성될 수 있다.The punching area PA is increased in proportion to the size of the semiconductor chips 600, and the alignment marks AMa, AMb, AMc, and AMd of the punching area PA that are increased or decreased in proportion to each other are chips. The mounting film 500 may be pre-formed.

또한, 도면에 도시되지는 않았지만, 상기 펀칭 영역(PA) 내에는 상기 반도체 칩(600)으로부터 방사형으로 연장되는 전기적 연결 신호선인 다수의 리드선들이 마련된다.Although not shown in the drawing, a plurality of lead wires, which are electrically connected signal lines extending radially from the semiconductor chip 600, are provided in the punching area PA.

다시 도 3 및 도 4를 참조 하면, 상기 광 펀칭부(200)는 상기 칩 인식부(100)로부터 상기 펀칭 영역(PA)에 대한 정보를 전송 받아 상기 펀칭 영역(PA)의 테두리(610)를 따라 광을 조사하여 상기 칩 실장 필름(500)을 펀칭할 수 있다.Referring to FIGS. 3 and 4 again, the optical punching unit 200 receives information about the punching area PA from the chip recognition unit 100 and cuts the edge 610 of the punching area PA. Accordingly, the chip mounting film 500 may be punched by irradiating light.

여기서, 상기 칩 실장 필름(500)은 일정 길이 및 폭을 갖도록 형성되고, 여기에는 다수개의 반도체 칩들(600)이 일정 간격으로 수납된다. 상기 칩 실장 필름(500)의 양측단에는 일정 간격을 이루는 피치홀들(510)이 형성된다. 상기 피치홀(510)의 형성 간격은 상기 반도체 칩들(600)의 사이즈에 따라서 결정된다. 즉, 상기 피치홀(510)의 간격은 상기 반도체 칩(600)의 사이즈의 크기에 비례하여 형성 될 수 있다.Here, the chip mounting film 500 is formed to have a predetermined length and width, and a plurality of semiconductor chips 600 are received at regular intervals. Pitch holes 510 having a predetermined interval are formed at both ends of the chip mounting film 500. The formation intervals of the pitch holes 510 are determined according to the sizes of the semiconductor chips 600. That is, the interval of the pitch hole 510 may be formed in proportion to the size of the size of the semiconductor chip 600.

또한, 상기 칩 실장 필름(500)은 이동 모듈(300)에 의하여 일정 간격으로 이동 경로(a)를 따라 이동될 수 있다. 여기서, 상기 이동 모듈(300)은 상기 광 펀칭부(200)의 제어 모듈(230)과 전기적으로 연결되고, 상기 제어 모듈(230)로부터 전기적 신호를 받아 작동된다.In addition, the chip mounting film 500 may be moved along the movement path (a) at a predetermined interval by the movement module 300. Here, the moving module 300 is electrically connected to the control module 230 of the optical punching unit 200, and operates by receiving an electrical signal from the control module 230.

상기 이동 모듈(300)은 한 쌍의 구동휠들(311, 312)과, 상기 구동휠을 일정 간격으로 회전시키는 회전 모터(320)로 구성된다. 여기서, 상기 칩 실장 필름(500)의 일단은 제 1구동휠(311)에 외감되고, 상기 칩 실장 필름(500)의 타단은 제 2구동휠(312)에 외감된다. 이때, 상기 제 1,2구동휠(311, 312)의 양측단 외주에는 상기 피치홀(510)에 끼워질 있는 피치 돌기들(311a, 312a)이 형성된다. 그리고, 상기 구동 모터(320)는 상기 제 1,2구동휠(311, 312) 중 어느 하나와 연결될 수 있고, 이하에서는 상기 회전 모터(320)가 제 2구동휠(312)에 연결된 구성을 기초로 한다. 물론, 상기 회전 모터(320)는 상기 제 1,2구동휠(311, 312) 모두에 연결될 수도 있다.The moving module 300 includes a pair of driving wheels 311 and 312 and a rotating motor 320 for rotating the driving wheel at a predetermined interval. Here, one end of the chip mounting film 500 is wound around the first driving wheel 311, and the other end of the chip mounting film 500 is wound around the second driving wheel 312. In this case, pitch protrusions 311a and 312a that are fitted to the pitch hole 510 are formed at outer peripheries of both side ends of the first and second driving wheels 311 and 312. In addition, the driving motor 320 may be connected to any one of the first and second driving wheels 311 and 312, and hereinafter, the rotary motor 320 is based on a configuration connected to the second driving wheel 312. Shall be. Of course, the rotary motor 320 may be connected to both the first and second driving wheels 311 and 312.

여기서, 상기 회전 모터(320)의 회전 위치 가변 간격은 상기 피치홀들(510)의 간격 또는 상기 피치 돌기들(312a)의 간격을 기준으로 상기 제어 모듈(230)에 설정된다.Here, the variable rotation position of the rotary motor 320 is set to the control module 230 on the basis of the interval of the pitch holes 510 or the interval of the pitch projections (312a).

한편, 상기 광 펀칭부(200)는 상기 칩 인식부(100)의 일측에 배치된다.On the other hand, the optical punching unit 200 is disposed on one side of the chip recognition unit 100.

상기 광 펀칭부(200)는 레이저 광을 발광하는 광원(210)과, 상기 광원(210)으로부터 발광되는 레이저 광을 상기 펀칭 영역(PA)의 테두리(610)를 따라 조사되 도록 안내하는 광 경로 안내 모듈(220)과, 상기 칩 인식부(100)로부터 상기 펀칭 영역(PA)에 대한 정보를 전송 받아 상기 광원(210) 및 상기 광 경로 안내 모듈(220)을 동작시키는 제어 모듈(230)로 구성된다.The light puncher 200 may include a light source 210 that emits laser light, and an optical path that guides the laser light emitted from the light source 210 along the edge 610 of the punching area PA. The control module 230 for operating the light source 210 and the optical path guide module 220 by receiving the information about the punching area PA from the guide module 220 and the chip recognition unit 100. It is composed.

도 4를 참조하면, 상기 광 경로 안내 모듈(220)은 상기 광원(210)으로부터 발광되는 레이저 광을 상기 펀칭 영역(PA)으로 반사시키는 반사 미러(221, 222)와, 상기 반사 미러(221, 222)와 연결되며 상기 제어 모듈(230)로부터 전기적 신호를 전송 받아 상기 반사되는 레이저 광을 상기 펀칭 영역(PA)의 테두리(610)를 따라 조사되도록 상기 반사 미러(221, 222)를 회전 시키는 구동 모터(223, 224)를 구비한다.Referring to FIG. 4, the optical path guide module 220 may include reflection mirrors 221 and 222 reflecting the laser light emitted from the light source 210 to the punching area PA, and the reflection mirrors 221, 222 and a drive to rotate the reflection mirrors 221 and 222 to receive the electrical signal from the control module 230 and to irradiate the reflected laser light along the edge 610 of the punching area PA. And motors 223 and 224.

좀 더 상세하게는, 상기 광원(210)은 발광 되는 레이저 광을 안내하는 광 파이버(225)와 연결된다. 상기 광 파이버(225)는 상기 안내되는 레이저 광을 평행광으로 이루어주는 콜리미네이터(226)와 연결되고, 상기 콜리미네이터(226)는 내부에 일정 공간을 갖는 하우징(228)과 연결된다.More specifically, the light source 210 is connected to the optical fiber 225 for guiding the laser light emitted. The optical fiber 225 is connected to a collimator 226 which makes the guided laser light into parallel light, and the collimator 226 is connected to a housing 228 having a predetermined space therein.

그리고, 상기 하우징(228)의 내부에는 상기 반사 미러(221, 222)가 설치된다. 상기 반사 미러(221, 222)는 제 1,2반사 미러(221, 222)로 구성될 수 있다.The reflection mirrors 221 and 222 are installed in the housing 228. The reflection mirrors 221 and 222 may be configured of first and second reflection mirrors 221 and 222.

상기 제 1반사 미러(221)는 상기 콜리미네이터(226)를 통과한 레이저 광을 다른 방향으로 반사하고, 상기 제 2반사 미러(222)는 상기 제 1반사 미러(221)에서 반사된 레이저 광을 또 다른 방향 즉, 하우징(228)의 하부로 반사할 수 있다.The first reflection mirror 221 reflects the laser light passing through the collimator 226 in a different direction, and the second reflection mirror 222 reflects the laser light reflected from the first reflection mirror 221. May be reflected in another direction, ie, under the housing 228.

상기 하우징(228)의 하부에는 상기 제 2반사 미러(222)로부터 반사되는 레이저 광을 수직을 이루는 광으로 형성하여 칩 실장 필름(500)으로 초점을 조절하는 렌즈(227)가 배치된다.A lens 227 is disposed below the housing 228 to adjust the focus to the chip mounting film 500 by forming the laser light reflected from the second reflection mirror 222 into vertical light.

이에 더하여, 상기 제 1,2반사 미러(221, 222) 각각은 제어 모듈(230)로부터 전기적 신호를 받아 회전 구동되는 제 1,2구동 모터(223, 224)와 연결된다.In addition, each of the first and second reflection mirrors 221 and 222 is connected to the first and second driving motors 223 and 224 that are rotationally driven by receiving an electrical signal from the control module 230.

한편, 비젼 카메라인 칩 인식부(100)는 상기 칩 실장 필름(500)의 상부에서 상기 일정 간격으로 이동 경로(a)를 따라 이동되는 칩 실장 필름(500)의 영상을 취득하여 상기 영상을 상기 제어 모듈(230)로 전송한다.Meanwhile, the chip recognition unit 100, which is a vision camera, acquires an image of the chip mounting film 500 which is moved along the movement path a at a predetermined interval from the top of the chip mounting film 500, and displays the image. Send to the control module 230.

그리고, 상기 제어 모듈(230)은 상기 영상으로부터 상기 반도체 칩들(600)의 수납 유무를 판정하고, 상기 반도체 칩들(600)이 수납되는 경우에 상기에 언급된 정렬 마크들의 위치 좌표들로 이루어지는 펀칭 영역을 설정하고, 이 펀칭 영역의 테두리를 따라 레이저 광을 조사하여 펀칭 영역을 절단할 수 있도록 상기 광원(210) 및 상기 광 경로 안내 모듈(220)을 동작시킨다.The control module 230 determines whether the semiconductor chips 600 are stored from the image, and a punching area including the position coordinates of the alignment marks mentioned above when the semiconductor chips 600 are accommodated. The light source 210 and the optical path guide module 220 are operated to cut the punching area by irradiating laser light along the edge of the punching area.

이에 더하여, 상기 제어 모듈(230)은 상기 반도체 칩들(600)이 수납되는 경우에 상기 제어 모듈(230)에 기설정되는 펀칭 위치에 위치되는 칩 실장 필름(500)의 펀칭 영역(PA)을 펀칭하도록 상기 광원(210) 및 상기 광 경로 안내 모듈(220)을 동작시킬 수도 있다. 이러한 경우에, 상기 제어 모듈(230)에는 상기 펀칭 영역(PA)이 기설정되는 경우이다.In addition, the control module 230 punches the punching area PA of the chip mounting film 500 positioned at the punching position preset in the control module 230 when the semiconductor chips 600 are accommodated. The light source 210 and the optical path guide module 220 may be operated to operate. In this case, the punching area PA is preset in the control module 230.

한편, 도 8은 본 발명의 광 펀칭 유니트의 다른 예를 보여주고 있다.Meanwhile, FIG. 8 shows another example of the optical punching unit of the present invention.

도 8에 도시된 바와 같이, 본 발명은 상기와 같이 구성되는 광 경로 안내 모듈(200, 200', 200")을 다수개로 구비할 수도 있다. 상기 광 경로 안내 모듈(200, 200', 200")은 각각 광원들(210, 210',210")과 연결된다.As shown in Fig. 8, the present invention may include a plurality of optical path guide modules 200, 200 ', and 200 "configured as described above. The optical path guide module 200, 200', 200" may be provided. Are connected to the light sources 210, 210 ', and 210 ", respectively.

이러한 경우에, 상기 다수의 광 경로 안내 모듈(200, 200', 200")은 칩 실장 필름(500)의 상부에 배치되되, 상기 칩 실장 필름(500)에 형성되는 다수의 펀칭 영역들(PA)의 상부에 각각 배치될 수 있다.In this case, the plurality of optical path guide modules 200, 200 ′, 200 ″ are disposed on the chip mounting film 500, and the plurality of punching areas PA formed in the chip mounting film 500. It may be disposed on top of each).

이에 따라, 다수개의 반도체 칩(600)을 포함하는 펀칭 영역들(PA)은 상기 다수의 광 경로 안내 모듈(200, 200', 200")에 의하여 상기 칩 실장 필름(500)에서 동시에 절단될 수 있다.Accordingly, the punching regions PA including the plurality of semiconductor chips 600 may be simultaneously cut from the chip mounting film 500 by the plurality of optical path guide modules 200, 200 ′, and 200 ″. have.

이의 경우에, 상기 펀칭되는 다수의 펀칭 영역들(PA)을 픽업할 수 있도록 도 3에 도시된 바와 같은 픽업 모듈(400)은 다수개로 칩 실장 필름(500)의 측부에 배치될 수 있다.In this case, a plurality of pickup modules 400 as shown in FIG. 3 may be disposed on the side of the chip mounting film 500 so as to pick up the punched plurality of punching areas PA.

이에 더하여, 상기 다수개의 픽업 모듈(400)은 진공 흡착기들(420)의 저부에 위치되는 셔틀(430)을 구비할 수 있고, 상기 셔틀(430)은 가이드 레일(440)을 따라 이동될 수 있다. 여기서, 상기 셔틀(430)은 가이드 레일(440)을 따라 도시되지 않은 구동 장치(예컨대 구동 모터)에 의하여 이동될 수 있다. 또한, 상기 셔틀(430) 이외에 외부로부터 동력을 전달받아 구동되는 컨베이어밸트(미도시)와 같은 장치가 적용될 수도 있다.In addition, the plurality of pickup modules 400 may include a shuttle 430 located at the bottom of the vacuum adsorbers 420, and the shuttle 430 may be moved along the guide rail 440. . Here, the shuttle 430 may be moved by a driving device (for example, a driving motor) not shown along the guide rail 440. In addition, in addition to the shuttle 430, a device such as a conveyor belt (not shown) driven by receiving power from the outside may be applied.

다음은, 상기와 같은 구성을 갖는 광 펀칭 유니트의 작용을 통하여 광 펀칭 방법을 설명하도록 한다.Next, the optical punching method will be described through the operation of the optical punching unit having the above configuration.

도 7은 본 발명의 광 펀칭 유니트를 사용한 광 펀칭 방법을 보여주는 흐름도이다. 7 is a flowchart showing an optical punching method using the optical punching unit of the present invention.

도 3 및 도 7을 참조 하면, 이동 모듈(300)을 사용하여 칩 실장 필름(500)을 이동 경로(a)를 따라 일정 피치 간격으로 이동시킨다(S100). 3 and 7, the chip mounting film 500 is moved at a predetermined pitch along the moving path a using the moving module 300 (S100).

여기서, 상기 칩 실장 필름(500)에는 다수개의 반도체 칩들(600)이 일정 간격을 이루어 수납되고, 상기 반도체 칩들(600)이 수납되는 영역에는 상기 반도체 칩들(600) 각각을 포함하는 일정 면적을 갖는 펀칭될 펀칭 영역(PA)이 형성된다. 여기서, 상기 펀칭 영역(PA)은 정렬 마크들(AM)의 위치 좌표들(X,Y)의 연결로 이루어진다(도 5참조).Here, a plurality of semiconductor chips 600 are accommodated at predetermined intervals in the chip mounting film 500, and a region including each of the semiconductor chips 600 is provided in an area in which the semiconductor chips 600 are accommodated. The punching area PA to be punched is formed. Here, the punching area PA consists of a connection of the position coordinates X and Y of the alignment marks AM (see FIG. 5).

즉, 제어 모듈(230)은 제 2구동휠(312)에 연결되는 회전 모터(320)로 동작 신호를 전송한다. 상기 회전 모터(320)는 제 2구동휠(312)을 일정 피치 간격으로 회전 동작시킨다. 따라서, 제 1,2구동휠(311, 312)의 피치 돌기(311a, 312a)에 끼워지는 피치홀(510)을 갖는 칩 실장 필름(500)은 일정 피치 간격으로 이동될 수 있다.That is, the control module 230 transmits an operation signal to the rotary motor 320 connected to the second driving wheel 312. The rotary motor 320 rotates the second driving wheel 312 at a predetermined pitch interval. Therefore, the chip mounting film 500 having the pitch holes 510 fitted into the pitch protrusions 311a and 312a of the first and second driving wheels 311 and 312 may be moved at a predetermined pitch interval.

여기서, 상기 제어 모듈(230)에는 상기 피치홀들(510)의 간격 및 구동휠(311, 312)의 피치 돌기들(311a, 312a)의 간격이 기설정될 수 있으며, 상기 제어 모듈(230)은 상기 일정 피치 간격으로 칩 실장 필름(500)이 이동될 수 있도록 회전 모터(320)의 회전 동작을 제어할 수 있다.Here, the control module 230 may be preset the interval of the pitch holes 510 and the interval of the pitch protrusions (311a, 312a) of the driving wheels (311, 312), the control module 230 May control a rotation operation of the rotary motor 320 to move the chip mounting film 500 at the predetermined pitch interval.

이어, 칩 인식부(100) 및 제어 모듈(230)을 사용하여 반도체 칩(600)의 존재 유무를 판단한다(S200).Subsequently, the presence of the semiconductor chip 600 is determined using the chip recognition unit 100 and the control module 230 (S200).

칩 인식부(100)는 그 하부에서 이동되는 칩 실장 필름(500)에 반도체 칩(600)이 있는지의 여부를 인식할 수 있다. 상기 칩 인식부(100)는 비젼 카메라일 수 있다.The chip recognizing unit 100 may recognize whether the semiconductor chip 600 is in the chip mounting film 500 moved below. The chip recognition unit 100 may be a vision camera.

상기 칩 인식부(100)는 이동 모듈(300)에 의하여 이동되는 펀칭 영역(PA)에 대한 영상 정보(정렬 마크 포함)를 취득한다. 이어, 상기 칩 인식부(100)는 상기 취득된 영상 정보를 제어 모듈(230)로 전송한다. 따라서, 상기 제어 모듈(230)은 상기 영상 정보에 반도체 칩(600)이 존재하는 지의 유무를 판단한다.The chip recognition unit 100 acquires image information (including an alignment mark) of the punching area PA that is moved by the moving module 300. Subsequently, the chip recognition unit 100 transmits the acquired image information to the control module 230. Accordingly, the control module 230 determines whether the semiconductor chip 600 exists in the image information.

이어, 펀칭 영역(PA)을 인식한다(S300).Next, the punching area PA is recognized (S300).

상기 반도체 칩(600)이 존재하는 경우에, 상기 제어 모듈(230)은 상기 영상 정보로부터 정렬 마크들(AM)의 위치 좌표들(X,Y)을 사용하여 반도체 칩(600)을 포함하는 일정 크기를 갖는 펀칭 영역(PA)을 설정할 수 있다.When the semiconductor chip 600 is present, the control module 230 may include a semiconductor chip 600 using the position coordinates X and Y of the alignment marks AM from the image information. A punching area PA having a size can be set.

이에 더하여, 상기 제어 모듈(230)은 반도체 칩(600)이 존재하는 경우에, 상기 영상 정보로부터 반도체 칩(600)의 위치 정보를 산출할 수도 있고, 이에 따라 상기 제어 모듈(230)은 상기 영상 정보로부터 반도체 칩(600)의 위치 정보를 산출할 수도 있다. 여기서, 상기 위치 정보는 상기 반도체 칩(600)의 사이즈를 결정하는 좌표값일 수 있다. 이어, 상기 제어 모듈(230)은 상기 위치 정보를 기초로 상기 반도체 칩(600)을 포함하는 일정 크기를 갖는 펀칭 영역(PA)을 설정할 수도 있다.In addition, when the semiconductor chip 600 is present, the control module 230 may calculate position information of the semiconductor chip 600 from the image information, and accordingly, the control module 230 may generate the image. The positional information of the semiconductor chip 600 may be calculated from the information. Here, the location information may be a coordinate value that determines the size of the semiconductor chip 600. Subsequently, the control module 230 may set a punching area PA having a predetermined size including the semiconductor chip 600 based on the position information.

이어, 상기 칩 인식부(100)와 전기적으로 연결되는 광 펀칭부(200)를 사용하여, 상기 칩 인식부(100)로부터 상기 펀칭 영역(PA)에 대한 정보를 전송 받아 상기 펀칭 영역(PA)의 테두리(610)를 따라 레이저 광을 조사하여 상기 칩 실장 필름(500)을 펀칭하는 광 펀칭 단계를 거친다(S400).Subsequently, the punching area PA is received by receiving information about the punching area PA from the chip recognition unit 100 using the optical punching unit 200 electrically connected to the chip recognition unit 100. Irradiating laser light along the edge 610 of the chip mounting film 500 is punched through an optical punching step (S400).

좀 더 상세하게, 도 4 및 도 6,7을 참조하면, 상기 펀칭 영역(PA)이 인식된 반도체 칩(600)은 하우징(228)의 저부 일정 위치에 위치될 수 있다. 상기 일정 위치는 펀칭되는 위치일 수 있다.More specifically, referring to FIGS. 4 and 6 and 7, the semiconductor chip 600 in which the punching area PA is recognized may be located at a bottom of the housing 228. The predetermined position may be a position to be punched.

그리고 상기 제어 모듈(230)은 광원(210)으로 전기적 신호를 전송하고, 상기 광원(210)은 일정 조도를 이루는 레이저 광을 발광한다.In addition, the control module 230 transmits an electrical signal to the light source 210, the light source 210 emits a laser light of a constant illuminance.

상기 발광된 레이저 광은 광 파이버(225)를 통하여 콜리미네이터(226)로 안내된다. 상기 콜리미네이터(226)는 상기 안내된 레이저 광을 평행광으로 형성하여 하우징(228) 내부에 마련되는 제 1반사 미러(221)로 안내한다.The emitted laser light is guided to the collimator 226 through the optical fiber 225. The collimator 226 forms the guided laser light as parallel light and guides it to the first reflection mirror 221 provided in the housing 228.

이어, 상기 제 1반사 미러(221)로 안내된 레이저 광은 제 2반사 미러(222)에 의하여 반사되고, 상기 제 2반사 미러(222)에서 반사된 레이저 광은 렌즈(227)를 통과하면서 초점이 설정됨과 아울러 펀칭 위치에 위치된 반도체 칩(600)을 포함하는 펀칭 영역(PA)의 테두리(610)를 향하여 조사될 수 있다.Subsequently, the laser light guided to the first reflection mirror 221 is reflected by the second reflection mirror 222, and the laser light reflected by the second reflection mirror 222 is focused while passing through the lens 227. In addition to this, it may be irradiated toward the edge 610 of the punching area PA including the semiconductor chip 600 located at the punching position.

이때, 상기 제어 모듈(230)은 상기 렌즈(227)를 통하여 조사되는 레이저 광의 조사 경로를 상기 펀칭 영역(PA)의 테두리(610)를 따라 순차적으로 조사되도록 할 수 있다.In this case, the control module 230 may sequentially irradiate the irradiation path of the laser light irradiated through the lens 227 along the edge 610 of the punching area PA.

즉, 상기 제어 모듈(230)은 상기 제 1반사 미러(221)와 제 2반사 미러(222)를 회전시키는 제 1,2구동 모터(223, 224)의 동작을 각각 제어하면서, 상기 제 2반사 미러(222)를 통하여 수직광을 형성하는 레이저 광 조사 경로를 상기 펀칭 영역(PA)의 테두리(610)를 따르도록 할 수 있다.That is, the control module 230 controls the operations of the first and second drive motors 223 and 224 to rotate the first reflection mirror 221 and the second reflection mirror 222, respectively, A laser light irradiation path for forming vertical light through the mirror 222 may be along the edge 610 of the punching area PA.

이에 따라, 도 5에 도시된 바와 같이, 반도체 칩(600)을 포함하는 펀칭 영역(PA)은 피치홀(510)이 형성되는 칩 실장 필름(500)의 영역과 분리될 수 있다. 즉, 상기 펀칭 영역(PA)은 상기 레이저 광의 조사에 의하여 칩 실장 필름(500)으로부터 절단될 수 있다.Accordingly, as illustrated in FIG. 5, the punching area PA including the semiconductor chip 600 may be separated from the area of the chip mounting film 500 in which the pitch hole 510 is formed. That is, the punching area PA may be cut from the chip mounting film 500 by irradiation of the laser light.

이와 같이 펀칭된 펀칭 영역(PA)은 픽업 모듈(400)에 의하여 외부로 언로딩 또는 배출될 수 있다(S500).The punching area PA punched as described above may be unloaded or discharged to the outside by the pickup module 400 (S500).

즉, 상기 제어 모듈(230)은 실린더(410)의 실린더 축(411)을 펀칭 위치에 이르도록 신장시키고, 이에 따라 실린더 축(411)의 끝단에 배치되는 진공 흡착기는 상기 펀칭 위치의 상부에 위치될 수 있다. 여기서, 상기 실린더(410)는 외부로부터 공압을 제공받아 실린더 축(411)의 신장 또는 신축 시키는 공압 실린더 일 수 있다. 따라서, 상기 제어 모듈(230)은 실질적으로 공압을 제공하는 장치(미도시)를 제어할 수 있다.That is, the control module 230 extends the cylinder shaft 411 of the cylinder 410 to reach the punching position, and thus the vacuum adsorber disposed at the end of the cylinder shaft 411 is positioned above the punching position. Can be. Here, the cylinder 410 may be a pneumatic cylinder that is provided with air pressure from the outside to expand or contract the cylinder shaft 411. Thus, the control module 230 may control a device (not shown) that substantially provides pneumatic pressure.

이어, 상기 진공 흡착기(420)는 실린더 축(411)의 끝단에 설치되는 엑츄에이터(421)의 하강에 의하여 펀칭 위치에서 펀칭되어 대기 중인 반도체 칩(600)을 포함한 펀칭 영역(PA)의 상면을 흡착하고, 원위치로 복귀가능하다.Subsequently, the vacuum adsorber 420 sucks the upper surface of the punching area PA including the semiconductor chip 600 which is punched at the punching position by the lowering of the actuator 421 installed at the end of the cylinder shaft 411. And return to the original position.

그리고, 상기 실린더 축(411)의 동작에 의하여 상기 펀칭된 반도체 칩 펀칭 영역(PA)은 외부 일정 위치로 이송되어 적재될 수 있다.In addition, the punched semiconductor chip punching area PA may be transported to an external predetermined position and loaded by an operation of the cylinder shaft 411.

이어, 상기 펀칭된 펀칭 영역(PA)의 후단에 위치되는 반도체 칩들(600)은 이동 모듈(300)의 동작에 의하여 순차적으로 펀칭 위치로 이동되어 위치되고, 광 펀칭부(200)에 의하여 일정의 펀칭 영역(PA)들은 순차적으로 펀칭되고, 이 펀칭된 펀칭 영역(PA)들은 상기 픽업 모듈(400)에 의하여 순차적으로 외부로 배출되어 적재될 수 있다.Subsequently, the semiconductor chips 600 positioned at the rear end of the punched punching area PA are sequentially moved to the punching positions by an operation of the moving module 300, and are fixed by the optical punching part 200. The punching areas PA may be sequentially punched, and the punched punching areas PA may be sequentially discharged and stacked by the pickup module 400.

한편, 상기 칩 인식부(100)에 의하여 칩 실장 필름(500) 상에 반도체 칩(600)이 인식되지 않는 경우에, 제어 모듈(230)은 상기의 펀칭 공정을 중지할 수 있다. 즉, 상기 제어 모듈(230)은 이동 모듈(300)과 광 펀칭부(200) 및 픽업 모듈(400)의 동작을 중지시킬 수 있다.Meanwhile, when the semiconductor chip 600 is not recognized by the chip recognition unit 100 on the chip mounting film 500, the control module 230 may stop the punching process. That is, the control module 230 may stop the operation of the moving module 300, the optical punching unit 200, and the pickup module 400.

도 1은 종래의 펀칭된 TAB IC에 의하여 평판 디스플레이 글라스의 전극과 FPCB의 전극이 서로 연결된 것을 보여주는 사시도이다.1 is a perspective view showing that electrodes of a flat panel display glass and electrodes of an FPCB are connected to each other by a conventional punched TAB IC.

도 2는 종래의 TAB IC가 펀칭되는 것을 보여주는 사시도이다.2 is a perspective view showing that a conventional TAB IC is punched out.

도 3은 본 발명의 광 펀칭 유니트를 사용하여 반도체 칩의 펀칭 영역이 펀칭되는 것을 보여주는 사시도이다.3 is a perspective view showing that the punching region of the semiconductor chip is punched using the optical punching unit of the present invention.

도 4는 도 3의 광 경로 안내 모듈을 보여주는 도면이다.4 is a diagram illustrating the light path guide module of FIG. 3.

도 5는 도 3의 반도체 칩이 포함되는 펀칭 영역 및 이를 갖는 칩 실장 필름의 일부를 보여주는 평면도이다.FIG. 5 is a plan view illustrating a punching area in which the semiconductor chip of FIG. 3 is included and a portion of a chip mounting film having the same.

도 6은 본 발명의 광 펀칭 유니트의 구성들 간의 전기적 연결을 보여주는 블록도이다.6 is a block diagram showing the electrical connection between the components of the optical punching unit of the present invention.

도 7은 본 발명의 광 펀칭 유니트를 사용한 광 펀칭 방법을 보여주는 흐름도이다.7 is a flowchart showing an optical punching method using the optical punching unit of the present invention.

도 8은 본 발명의 광 펀칭 유니트의 다른 예를 보여주는 사시도이다.8 is a perspective view showing another example of the optical punching unit of the present invention.

*도면의 주요부분에 대한 부호설명** Description of Signs of Main Parts of Drawings *

100 : 칩 인식부100: chip recognition unit

200 : 광 펀칭부200: optical punching unit

210 : 광원210: light source

220 : 광 경로 안내 모듈220: optical path guide module

230 : 제어 모듈230: control module

300 : 이동 모듈300: moving module

400 : 픽업 모듈400: pickup module

Claims (14)

일정 길이의 칩 실장 필름에 수납되는 반도체 칩들 각각을 포함하는 펀칭 영역을 인식하는 칩 인식부; 및A chip recognition unit recognizing a punching area including each of the semiconductor chips accommodated in a chip mounting film of a predetermined length; And 상기 칩 인식부로부터 상기 펀칭 영역에 대한 정보를 전송 받아 상기 펀칭 영역의 테두리를 따라 광을 조사하여 상기 칩 실장 필름을 펀칭하는 광 펀칭부를 포함하는 것을 특징으로 하는 광 펀칭 유니트.And an optical punching unit for receiving the information about the punching region from the chip recognition unit and irradiating light along an edge of the punching region to punch the chip mounting film. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 광 펀칭부는 레이저 광을 발광하는 광원과, 상기 광원으로부터 발광되는 레이저 광을 상기 펀칭 영역의 테두리를 따라 조사되도록 안내하는 광 경로 안내 모듈과, 상기 칩 인식부로부터 상기 펀칭 영역에 대한 정보를 전송 받아 상기 광원 및 상기 광 경로 안내 모듈을 동작시키는 제어 모듈을 구비하는 것을 특징으로 하는 광 펀칭 유니트.The optical punching unit, a light source for emitting laser light, an optical path guide module for guiding the laser light emitted from the light source along the edge of the punching area, and transmits information about the punching area from the chip recognition unit. And a control module for receiving the light source and operating the light path guide module. 제 2항에 있어서,3. The method of claim 2, 상기 광 경로 안내 모듈은 상기 펀칭 영역으로 상기 광원으로부터 발광되는 레이저 광을 반사시키는 반사 미러와, 상기 반사 미러와 연결되며 상기 제어 모듈로부터 전기적 신호를 전송 받아 상기 반사되는 레이저 광을 상기 펀칭 영역의 테두리를 따라 조사되도록 상기 반사 미러를 회전 시키는 구동 모터를 구비하는 것을 특징으로 하는 광 펀칭 유니트.The optical path guide module includes a reflection mirror that reflects the laser light emitted from the light source to the punching area, and an edge of the punching area that is connected to the reflection mirror and receives an electrical signal from the control module. And a driving motor for rotating the reflection mirror to be irradiated along the surface of the optical punching unit. 제 2항에 있어서,3. The method of claim 2, 상기 칩 실장 필름은 상기 제어 모듈로부터 전기적 신호를 전송 받아 구동되는 이동 모듈에 의하여 일정 간격으로 이동 위치되되,The chip mounting film is moved at a predetermined interval by a moving module driven by receiving an electrical signal from the control module, 상기 이동 모듈은 상기 칩 실장 필름의 양단을 외감하는 한 쌍의 구동휠들과, 상기 제어 모듈로부터 전기적 신호를 전송 받아 상기 구동 휠들 중 어느 하나를 일정 간격으로 회전 시키는 회전 모터를 구비하는 것을 특징으로 하는 광 펀칭 유니트.The moving module includes a pair of driving wheels that surround both ends of the chip mounting film, and a rotating motor that receives an electrical signal from the control module and rotates any one of the driving wheels at a predetermined interval. Optical punching unit. 제 4항에 있어서,The method of claim 4, wherein 상기 칩 실장 필름의 양측단에는 일정 간격으로 피치홀들이 형성되고,Pitch holes are formed at both ends of the chip mounting film at regular intervals, 상기 구동휠들의 양측단 외주에는 일정 간격으로 상기 피치홀들이 끼워지는 피치 돌기들이 형성되되,Pitch protrusions in which the pitch holes are fitted at predetermined intervals are formed at outer peripheries of both ends of the driving wheels. 상기 회전 모터의 회전 간격은 상기 피치홀들의 간격 또는 상기 피치 돌기들의 간격으로 상기 제어 모듈에 설정되는 것을 특징으로 하는 광 펀칭 유니트.And a rotation interval of the rotary motor is set in the control module at intervals of the pitch holes or intervals of the pitch protrusions. 제 4항에 있어서,The method of claim 4, wherein 상기 칩 인식부는 상기 제어 모듈과 전기적으로 연결되는 비젼 카메라이며,The chip recognition unit is a vision camera electrically connected to the control module, 상기 비젼 카메라는 상기 칩 실장 필름의 상부에서 상기 일정 간격으로 이동 되는 칩 실장 필름의 영상을 취득하여 상기 영상을 상기 제어 모듈로 전송하고,The vision camera acquires an image of the chip mounting film that is moved at the predetermined interval from the top of the chip mounting film and transmits the image to the control module, 상기 제어 모듈은 상기 영상으로부터 상기 반도체 칩들의 수납 유무를 판정하고, 상기 반도체 칩들이 수납되는 경우에 상기 제어 모듈에 기설정되는 펀칭 위치에 위치되는 칩 실장 필름의 펀칭 영역을 펀칭하도록 상기 광원 및 상기 광 경로안내 모듈을 동작시키는 것을 특징으로 하는 광 펀칭 유니트.The control module determines whether the semiconductor chips are received from the image, and when the semiconductor chips are accommodated, the light source and the light source to punch the punching region of the chip mounting film located at a punching position preset to the control module. Optical punching unit, characterized in that for operating the optical path guide module. 제 2항에 있어서,3. The method of claim 2, 상기 칩 인식부는 상기 제어 모듈과 전기적으로 연결되는 비젼 카메라이며,The chip recognition unit is a vision camera electrically connected to the control module, 상기 펀칭 영역은 상기 반도체 칩을 포함하도록 기형성되는 정렬 마크들의 위치 좌표들이 서로 연결되어 형성되는 영역이고,The punching area is an area in which position coordinates of alignment marks which are previously formed to include the semiconductor chip are connected to each other. 상기 비젼 카메라는 상기 펀칭 영역의 위치 좌표를 인식하고, 상기 인식된 반도체 칩들을 포함하도록 일정 폭과 너비를 갖는 영역을 상기 펀칭 영역으로 인식하는 것을 특징으로 하는 광 펀칭 유니트.And the vision camera recognizes the position coordinates of the punching region and recognizes the region having a predetermined width and width as the punching region to include the recognized semiconductor chips. 칩 인식부를 사용하여 일정 길이의 칩 실장 필름에 수납되는 반도체 칩들 각각을 포함하는 펀칭 영역을 인식하는 칩 인식 단계; 및A chip recognition step of recognizing a punching area including each of the semiconductor chips accommodated in a chip mounting film of a predetermined length by using a chip recognition unit; And 상기 칩 인식부와 전기적으로 연결되는 광 펀칭부를 사용하여, 상기 칩 인식부로부터 상기 펀칭 영역에 대한 정보를 전송 받아 상기 펀칭 영역의 테두리를 따라 광을 조사하여 상기 칩 실장 필름을 펀칭하는 광 펀칭 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 광 펀칭 유니트를 사용한 광 펀칭 방법.An optical punching step of punching the chip mounting film by receiving information about the punching area from the chip recognition unit by using an optical punching unit electrically connected to the chip recognition unit to irradiate light along an edge of the punching area; Optical punching method using an optical punching unit comprising a. 제 8항에 있어서,The method of claim 8, 상기 광 펀칭 단계는,The optical punching step, 제어 모듈을 사용하여 광원을 동작시켜 상기 광원을 통하여 레이저 광을 발광하고,Operating a light source using a control module to emit laser light through the light source, 상기 제어 모듈을 사용하여 광 경로 안내 모듈로 상기 칩 인식부로부터 상기 펀칭 영역에 대한 정보를 전송 하고,Transmits the information about the punching area from the chip recognition unit to the optical path guide module using the control module, 상기 제어 모듈을 사용하여 상기 광 경로 안내 모듈을 동작시켜 상기 광원으로부터 발광되는 레이저 광을 상기 펀칭 영역의 테두리를 따라 조사되도록 안내하는 것을 특징으로 하는 광 펀칭 유니트를 사용한 광 펀칭 방법.And operating the optical path guide module using the control module to guide the laser light emitted from the light source to be irradiated along the edge of the punching area. 제 9항에 있어서,The method of claim 9, 상기 광 경로 안내 모듈은The optical path guide module 반사 미러를 사용하여 상기 펀칭 영역으로 상기 광원으로부터 발광되는 레이저 광을 반사시키고,Reflecting laser light emitted from the light source into the punching region using a reflecting mirror, 상기 반사 미러와 연결되며 상기 제어 모듈로부터 전기적 신호를 전송 받아 회전 구동되는 구동 모터를 사용하여 상기 반사되는 레이저 광을 상기 펀칭 영역의 테두리를 따라 조사되도록 상기 반사 미러를 회전 시키는 것을 특징으로 하는 광 펀칭 유니트를 사용한 광 펀칭 방법.Light punching, characterized in that for rotating the reflection mirror so that the reflected laser light is irradiated along the edge of the punching area using a drive motor connected to the reflection mirror and receives the electrical signal from the control module to rotate the drive. Optical punching method using the unit. 제 9항에 있어서,The method of claim 9, 상기 칩 실장 필름은 상기 제어 모듈로부터 전기적 신호를 전송 받아 구동되는 이동 모듈에 의하여 일정 간격으로 이동 위치되되,The chip mounting film is moved at a predetermined interval by a moving module driven by receiving an electrical signal from the control module, 상기 이동 모듈은 상기 칩 실장 필름의 양단을 외감하는 한 쌍의 구동휠들과, 상기 제어 모듈로부터 전기적 신호를 전송 받아 상기 구동 휠들 중 어느 하나를 일정 간격으로 회전 시키는 회전 모터를 구비하는 것을 특징으로 하는 광 펀칭 유니트를 사용한 광 펀칭 방법.The moving module includes a pair of driving wheels that surround both ends of the chip mounting film, and a rotating motor that receives an electrical signal from the control module and rotates any one of the driving wheels at a predetermined interval. Optical punching method using an optical punching unit. 제 11항에 있어서,The method of claim 11, 상기 칩 실장 필름의 양측단에는 일정 간격으로 피치홀들이 형성되고,Pitch holes are formed at both ends of the chip mounting film at regular intervals, 상기 구동휠들의 양측단 외주에는 일정 간격으로 상기 피치홀들이 끼워지는 피치 돌기들이 형성되되,Pitch protrusions in which the pitch holes are fitted at predetermined intervals are formed at outer peripheries of both ends of the driving wheels. 상기 회전 모터의 회전 간격은 상기 피치홀들의 간격 또는 상기 피치 돌기들의 간격으로 상기 제어 모듈에 설정되는 것을 특징으로 하는 광 펀칭 유니트를 사용한 광 펀칭 방법.And a rotation interval of the rotary motor is set in the control module at intervals of the pitch holes or intervals of the pitch protrusions. 제 11항에 있어서,The method of claim 11, 상기 칩 인식부는 상기 제어 모듈과 전기적으로 연결되는 비젼 카메라이며,The chip recognition unit is a vision camera electrically connected to the control module, 상기 비젼 카메라는 상기 칩 실장 필름의 상부에서 상기 일정 간격으로 이동되는 칩 실장 필름의 영상을 취득하여 상기 영상을 상기 제어 모듈로 전송하고,The vision camera acquires an image of the chip mounting film which is moved at the predetermined interval from the top of the chip mounting film and transmits the image to the control module, 상기 제어 모듈은 상기 영상으로부터 상기 반도체 칩들의 수납 유무를 판정하고, 상기 반도체 칩들이 수납되는 경우에 상기 제어 모듈에 기설정되는 펀칭 위치에 위치되는 칩 실장 필름의 펀칭 영역을 펀칭하도록 상기 광원 및 상기 광 경로안내 모듈을 동작시키는 것을 특징으로 하는 광 펀칭 유니트를 사용한 광 펀칭 방법.The control module determines whether the semiconductor chips are received from the image, and when the semiconductor chips are accommodated, the light source and the light source to punch the punching region of the chip mounting film located at a punching position preset to the control module. Optical punching method using an optical punching unit, characterized in that for operating the optical path guide module. 제 9항에 있어서,The method of claim 9, 상기 칩 인식부는 상기 제어 모듈과 전기적으로 연결되는 비젼 카메라이며,The chip recognition unit is a vision camera electrically connected to the control module, 상기 펀칭 영역은 상기 반도체 칩을 포함하도록 기형성되는 정렬 마크들의 위치 좌표들이 서로 연결되어 형성되는 영역이고,The punching area is an area in which position coordinates of alignment marks which are previously formed to include the semiconductor chip are connected to each other. 상기 비젼 카메라는 상기 펀칭 영역의 위치 좌표를 인식하고, 상기 인식된 반도체 칩들을 포함하도록 일정 폭과 너비를 갖는 영역을 상기 펀칭 영역으로 인식하는 것을 특징으로 하는 광 펀칭 유니트를 사용한 광 펀칭 방법.And the vision camera recognizes the position coordinates of the punching region and recognizes the region having a predetermined width and width as the punching region to include the recognized semiconductor chips as the punching region.
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JP2021100096A (en) * 2019-12-19 2021-07-01 ▲き▼邦科技股▲分▼有限公司 Circuit board and board separated from the same

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