KR20100077636A - Beam punching unit and beam punching method - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 광 펀칭 유니트에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 다수의 반도체 칩들이 수납되는 칩 실장 필름에서 반도체 칩들의 다양한 사이즈에 대응되는 펀칭 영역을 레이저 광을 사용하여 펀칭할 수 있는 광 펀칭 유니트 및 이를 사용한 광 펀칭 방법에 관한 것이다.The present invention relates to an optical punching unit, and more particularly, to an optical punching unit capable of punching punching regions corresponding to various sizes of semiconductor chips using laser light in a chip mounting film in which a plurality of semiconductor chips are housed. It relates to the optical punching method used.
근래에 들어, 반도체 집적기술의 비약적인 발전에 힘입어 LSI(Large Scale Integration), VLSI(Very Large Scale Integrated Circuit)을 넘어선 ULSI(Ultra Large Scale Integration)급 반도체칩이 이미 상용화되었고, 이 같은 반도체칩의 조립 및 실장 기술 중 와이어리스 본딩(Wireless Bonding) 방식으로써 TCP(Tape Carrier Package) 기술이 널리 이용되고 있다.In recent years, thanks to the rapid development of semiconductor integrated technology, ULSI (Ultra Large Scale Integration) semiconductor chips beyond LSI (Large Scale Integration) and VLSI (Very Large Scale Integrated Circuit) have been commercialized. Tape Carrier Package (TCP) technology is widely used as a wireless bonding method among assembly and mounting technologies.
일반적으로 TCP란 좁은 의미로는 반도체칩을 테이프 형태의 필름에 접속시켜 수지(Resin)로 밀봉하는 TAB(Tape Automated Bonding) 기술을 활용한 패키지를 지칭하였지만, 필름 형태의 FPC(Flexible Printed Circuit)가 개발되면서 현재 TAB 기술은 COF(Chip On Film 또는 Chip On Flexible Printed Circuit)를 포함하는 개 념으로 사용되고 있으며, 통신기기의 경박단소화 추세에 따라 액정표시장치의 드라이버 회로 등을 접속시키기 위한 대표적인 패키징 기술로 활용되고 있다.In general, TCP refers to a package using a tape automated bonding (TAB) technology in which a semiconductor chip is connected to a film in a tape form and sealed with a resin, but a film-type flexible printed circuit (FPC) As it is developed, TAB technology is currently being used as a concept including a chip on film or chip on flexible printed circuit (COF), and is a representative packaging technology for connecting driver circuits of liquid crystal display devices according to the trend of thin and light communication devices. It is utilized as.
도 1은 종래의 펀칭된 TAB IC에 의하여 평판 디스플레이 글라스의 전극과 FPCB의 전극이 서로 연결된 것을 보여주는 사시도이다. 도 2는 종래의 TAB IC가 펀칭되는 것을 보여주는 사시도이다.1 is a perspective view showing that electrodes of a flat panel display glass and electrodes of an FPCB are connected to each other by a conventional punched TAB IC. 2 is a perspective view showing that a conventional TAB IC is punched out.
도 1을 참조 하면, TAB 제품(10)은 액티브 매트릭스 방식의 액정패널(2) 그리고 이의 화상구현에 필요한 신호를 출력하는 게이트 및 데이터드라이버 회로(4,6)를 연결하고 있다. 참고로, 상기 TAB 제품(10)이라는 명칭은 TCP 내지는 COF를 모두 포함하는 개념으로 사용되었고, 이 같은 TAB 제품(10) 중 반도체칩(14)이 안착된 모재필름을 편의상 TCP 필름(12)이라 지칭하는 바, 같은 맥락에서 이하에 언급되어질 TCP 필름(12)의 연속물을 TCP 릴이라 한다.Referring to FIG. 1, the TAB product 10 connects an active matrix
한편, 이 같은 TAB 제품은 통상 자동화된 TAB 제조시스템을 통해 완성되는데, 첨부된 도 2는 일반적인 TAB 제조시스템의 일부를 간략하게 나타낸 측면도로서 TCP 릴(20)을 일 방향으로 진행시키기 위한 한 쌍의 스프라켓휠(40,50) 그리고 이들 사이에서 TCP 릴(20)을 반도체칩 별로 펀칭하여 TAB 제품을 얻는 TAB 펀칭장치(60)를 포함한다.On the other hand, such a TAB product is usually completed through an automated TAB manufacturing system, the accompanying Figure 2 is a side view showing a simplified portion of the general TAB manufacturing system a pair of to advance the
보다 구체적으로, 먼저 한 쌍의 스프라켓휠(40,50)은 서로 동일한 방향으로 회전하면서 어느 하나에 감겨져 있던 TCP 릴(20)을 다른 하나로 옮겨 감는 방식을 취하며, 그 결과 TCP 릴(20)은 연속적으로 일 방향을 향해 진행된다.More specifically, first, the pair of
이때 TCP 릴(20)의 전달에 대한 정확도를 높이기 위하여 한 쌍의 스프라켓 휠(40,50) 각각의 외면 폭 방향의 양단 가장자리를 따라서는 2열의 스프라켓(42,52)이 둘러있고, TCP 릴(20) 역시 진행방향에 대해 수직한 폭 방향의 양단 가장자리를 따라 각 열의 스프라켓(42,52)이 삽입될 수 있는 2 열의 스프라켓홀(22)이 관통되어 있다.At this time, in order to increase the accuracy of the transmission of the TCP reel (20), two rows of sprockets (42, 52) are surrounded along both edges of the outer width direction of each pair of sprocket wheels (40, 50), TCP reel ( 20) Two rows of sprocket holes 22 through which
그리고 이들 한 쌍의 스프라켓 휠(40,50) 사이의 TCP 릴(20) 진행경로 중에는 TCP 릴(20)을 사이에 두고 상하로 대면되는 홀더(70)와 다이(90)를 구비한 TAB 펀칭장치(60)가 위치되는 바, 이중 홀더(70)는 상하로 승강 가능하며 다이(90)를 바라보는 배면으로부터 펀치(72)가 하방 돌출되어 있고, 다이(90)에는 홀더(70)의 펀치(72)가 삽입될 수 있는 펀치홀(92)이 상하방향으로 관통되어 있다.In the course of the
이에 TCP 릴(20)은 한 쌍의 스프라켓휠(40,50)에 의해 일 방향으로 이송되는 과정 중에 주기적으로 정지하고, 이의 정지 주기에 맞추어 TAB 펀칭장치(60)의 홀더(70)가 하강 및 상승함으로써 펀치(72)와 펀치홀(92)에 의한 펀칭 동작을 수행하여 반도체칩(14) 별로 TAB 제품(12)을 얻는다. 따라서 TCP 릴(20)의 진행방향에 대해서 펀치(72)를 기준으로 그 이전 단의 TCP 릴(20)에는 반도체칩(14)을 포함한 TAB 제품(12)이 존재하지만, 그 이후 단의 TCP 릴(20)에는 반도체칩 별(14)로 TAB 제품(12)이 펀칭 및 제거되어 일정간격의 구멍(H)만이 남아있게 되며, 이때 펀칭 되어진 TAB 제품(12)은 다이(90)의 펀치홀(92)을 통해서 외부로 인출된다.The
한편, 상술한 TAB 펀칭장치(60)의 정확한 펀칭동작을 위해서는 홀더(70)의 잦은 승강에도 불구하고 홀더(70)와 다이(90)의 정확한 얼라인이 보장되어야 하고, 이를 위해서 홀더(70) 배면으로는 기둥 형상을 나타내는 복수개의 포스트(74)가 하 방으로 돌출되어 있고, 다이(90)의 상면에는 각각의 포스트(74)가 삽입될 수 있는 파이프 형상의 포스트가이드(94)가 상방으로 돌출되어 있다. 따라서 각각의 포스트가이드(94)로 포스트(74)가 삽입되면서 홀더(70)와 다이(90) 간의 정확한 얼라인 상태를 유지한다.On the other hand, for the accurate punching operation of the above-described TAB punching device 60, despite the frequent lifting of the
아울러 TAB 펀칭장치(60)의 공정신뢰도를 높이기 위해서는 최소한 펀칭 동작 시점에서 휨 등이 발생되기 쉬운 연성재질의 TCP 릴(20)이 평평하게 펼쳐져야 함과 동시에 유동이 억제되어야 하는 바, 이를 위해서 홀더(70)의 배면으로부터는 TCP 릴(20)의 각 열 별 적어도 하나의 스프라켓홀(22)에 삽입되는 복수개의 파일롯트핀(76)이 동일한 길이로 하방 돌출되어 있고, 비록 명확하게 나타나지는 않았지만 다이(90)의 상면에는 각각의 파일롯트핀(76)이 삽입될 수 있는 핀홀이 구비되어 있다. 그리고 이들 파일롯트핀(76)은 펀치(72)와 포스트(74) 사이에 그 말단부가 위치되고, 따라서 펀치(72)가 TCP 릴(20)에 접촉하기 이전으로부터 펀칭 이후의 일정 시점까지 TCP 릴(20)의 각 열 별 적어도 하나의 스프라켓홀(22)로 각각 삽입되어 TCP 릴(20)을 평평하게 펼침과 동시에 유동을 억제한다.In addition, in order to increase the process reliability of the TAB punching device 60, at least the
그러나, COF(5)위에 반도체칩(6)이 본딩된 형태의 TAB-IC에서, 반도체 칩이나 COF(5)의 사이즈가 서로 다른 다양한 종류의 TAB제품이 적용될 경우에, 상기에 언급된 TAB-IC 펀칭장치를 구성하는 홀더(70)의 펀치홀(92)과 다이(90)의 펀치홀(92) 사이즈가 변경되어야 한다.However, in the TAB-IC in which the
따라서, 종래에는 TAB-IC의 종류가 변경될 때마다 홀더(70)와 다이(90)를 함께 변경하여야 하는 문제점을 갖는다.Therefore, in the related art, whenever the type of the TAB-IC is changed, the
또한, 상기와 같은 문제점은 TAB제품의 종류를 변경 하는 때마다 상기 펀칭장치(60)의 홀더(70)와 다이(90)를 분리하고, 다른 종류의 홀더와 다이로 교체한 이후에 이들에 대한 위치의 미세 조정 및 테스트와 검증을 거쳐야 하기 때문에 이에 투입되는 교체/준비 시간으로 인한 공정 로스(Loss)가 발생하게 되는 문제점을 유발한다.In addition, the above problem is to remove the
또한, 고해상도가 요구되는 액정 표시 장치의 화상 구현에 필요한 신호를 액정 패널과 게이트 및 소스 드라이버회로를 연결해주는 TAB-IC의 신호선이 증가되기 때문에, 신호선 간의 미세피치화가 불가피하게 된다.In addition, since the signal line of the TAB-IC connecting the liquid crystal panel, the gate, and the source driver circuit to a signal necessary for realizing an image of a liquid crystal display requiring high resolution is increased, fine pitching between the signal lines is inevitable.
이러한 경우에, 종래의 펀치가 펀치홀(92)을 향해 하강여 기구적으로 COF릴(20)로부터 TAB-IC를 분리해내는 경우에, 펀치홀(90)의 절단되는 면에서 절삭 흔적(Burr)이 발생되는 문제가 발생되는데, 이는 인접한 리드간의 전기적인 쇼트를 유발하는 문제점을 갖는다.In this case, in the case where the conventional punch is lowered toward the
본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결할 수 있도록 안출된 것으로서, 본 발명의 목적은 다수의 반도체 칩들이 수납되는 칩 실장 필름에서 반도체 칩들의 다양한 사이즈에 대응되는 펀칭 영역을 광을 사용하여 펀칭할 수 있는 광 펀칭 유니트 및 이를 사용한 광 펀칭 방법을 제공함에 있다.The present invention has been made to solve the above problems, an object of the present invention is to punch a punching area corresponding to various sizes of the semiconductor chips using light in the chip mounting film in which a plurality of semiconductor chips are accommodated. An optical punching unit and an optical punching method using the same are provided.
본 발명의 다른 목적은 칩 실장 필름으로부터 반도체 칩을 포함한 일정 영역을 펀칭하는 경우에, 펀칭되는 펀칭 영역의 테두리에 물리적인 절삭 흔적이 발생되는 것을 방지할 수 있는 광 펀칭 유니트 및 이를 사용한 광 펀칭 방법을 제공함에 있다.Another object of the present invention, when punching a predetermined region including a semiconductor chip from the chip mounting film, the optical punching unit and the optical punching method using the same that can prevent the physical cutting traces generated on the edge of the punched punching region In providing.
본 발명은 상기와 같은 목적을 달성하기 위한 광 펀칭 유니트를 제공한다.The present invention provides an optical punching unit for achieving the above object.
상기 광 펀칭 유니트는 일정 길이의 칩 실장 필름에 수납되는 반도체 칩들 각각을 포함하는 펀칭 영역을 인식하는 칩 인식부와, 상기 칩 인식부로부터 상기 펀칭 영역에 대한 정보를 전송 받아 상기 펀칭 영역의 테두리를 따라 광을 조사하여 상기 칩 실장 필름을 펀칭하는 광 펀칭부를 포함한다.The optical punching unit may include a chip recognition unit recognizing a punching area including each of the semiconductor chips accommodated in a chip mounting film of a predetermined length, and receiving the information about the punching area from the chip recognition unit to form an edge of the punching area. And an optical punching unit for punching the chip mounting film by irradiating light.
여기서, 상기 광 펀칭부는 레이저 광을 발광하는 광원과, 상기 광원으로부터 발광되는 레이저 광을 상기 펀칭 영역의 테두리를 따라 조사되도록 안내하는 광 경로 안내 모듈과, 상기 칩 인식부로부터 상기 펀칭 영역에 대한 정보를 전송 받아 상기 광원 및 상기 광 경로 안내 모듈을 동작시키는 제어 모듈을 구비하는 것이 바 람직하다.Here, the optical punching unit, a light source for emitting a laser light, an optical path guide module for guiding the laser light emitted from the light source along the edge of the punching area, and information about the punching area from the chip recognition unit It is preferred to have a control module for receiving the light source and operating the light path guide module.
그리고, 상기 광 경로 안내 모듈은 상기 펀칭 영역으로 상기 광원으로부터 발광되는 레이저 광을 반사시키는 반사 미러와, 상기 반사 미러와 연결되며 상기 제어 모듈로부터 전기적 신호를 전송 받아 상기 반사되는 레이저 광을 상기 펀칭 영역의 테두리를 따라 조사되도록 상기 반사 미러를 회전 시키는 구동 모터를 구비하는 것이 바람직하다.The optical path guide module may include a reflection mirror reflecting laser light emitted from the light source to the punching area, and the punched area receiving the reflected laser light connected to the reflection mirror and receiving an electrical signal from the control module. It is preferable to have a drive motor for rotating the reflection mirror to be irradiated along the edge of.
또한, 상기 칩 실장 필름은 상기 제어 모듈로부터 전기적 신호를 전송 받아 구동되는 이동 모듈에 의하여 일정 간격으로 이동 위치되되, 상기 이동 모듈은 상기 칩 실장 필름의 양단을 외감하는 한 쌍의 구동휠들과, 상기 제어 모듈로부터 전기적 신호를 전송 받아 상기 구동 휠들 중 어느 하나를 일정 간격으로 회전 시키는 회전 모터를 구비하는 것이 바람직하다.In addition, the chip mounting film is moved at a predetermined interval by a moving module driven by receiving an electrical signal from the control module, the moving module is a pair of drive wheels to surround both ends of the chip mounting film, It is preferable to include a rotary motor for receiving any electrical signal from the control module to rotate any one of the drive wheels at regular intervals.
또한, 상기 칩 실장 필름의 양측단에는 일정 간격으로 피치홀들이 형성되고, 상기 구동휠들의 양측단 외주에는 일정 간격으로 상기 피치홀들이 끼워지는 피치 돌기들이 형성되되, 상기 회전 모터의 회전 간격은 상기 피치홀들의 간격 또는 상기 피치 돌기들의 간격으로 상기 제어 모듈에 설정되는 것이 바람직하다.In addition, pitch holes are formed at both ends of the chip mounting film at predetermined intervals, and pitch protrusions at which the pitch holes are fitted at predetermined intervals are formed at outer peripheries of both side ends of the driving wheels. Preferably, the control module is set at intervals of pitch holes or intervals of the pitch protrusions.
또한, 상기 칩 인식부는 상기 제어 모듈과 전기적으로 연결되는 비젼 카메라이며, 상기 비젼 카메라는 상기 칩 실장 필름의 상부에서 상기 일정 간격으로 이동되는 칩 실장 필름의 영상을 취득하여 상기 영상을 상기 제어 모듈로 전송하고, 상기 제어 모듈은 상기 영상으로부터 상기 반도체 칩들의 수납 유무를 판정하고, 상기 반도체 칩들이 수납되는 경우에 상기 제어 모듈에 기설정되는 펀칭 위치에 위치 되는 칩 실장 필름의 펀칭 영역을 펀칭하도록 상기 광원 및 상기 광 경로안내 모듈을 동작시키는 것이 바람직하다.The chip recognition unit may be a vision camera electrically connected to the control module, and the vision camera acquires an image of a chip mounting film which is moved at a predetermined interval from an upper portion of the chip mounting film and transfers the image to the control module. And the control module determines whether the semiconductor chips are accommodated from the image, and punches a punching area of the chip mounting film positioned at a punching position preset to the control module when the semiconductor chips are accommodated. It is preferable to operate the light source and the optical path guide module.
또한, 상기 칩 인식부는 상기 제어 모듈과 전기적으로 연결되는 비젼 카메라이며, 상기 펀칭 영역은 상기 반도체 칩을 포함하도록 기형성되는 정렬 마크들의 위치 좌표들이 서로 연결되어 형성되는 영역이고, 상기 비젼 카메라는 상기 펀칭 영역의 위치 좌표를 인식하고, 상기 인식된 반도체 칩들을 포함하도록 일정 폭과 너비를 갖는 영역을 상기 펀칭 영역으로 인식하는 것이 바람직하다.The chip recognizing unit may be a vision camera electrically connected to the control module, and the punching area is an area in which position coordinates of alignment marks that are previously formed to include the semiconductor chip are connected to each other. It is preferable to recognize the position coordinates of the punching area and to recognize the area having a predetermined width and width as the punching area so as to include the recognized semiconductor chips.
본 발명은 상기와 같은 목적을 달성하기 위한 광 펀칭 유니트를 사용한 광 펀칭 방법을 제공한다.The present invention provides an optical punching method using an optical punching unit for achieving the above object.
상기 광 펀칭 방법은 칩 인식부를 사용하여 일정 길이의 칩 실장 필름에 수납되는 반도체 칩들 각각을 포함하는 펀칭 영역을 인식하는 칩 인식 단계와, 상기 칩 인식부와 전기적으로 연결되는 광 펀칭부를 사용하여, 상기 칩 인식부로부터 상기 펀칭 영역에 대한 정보를 전송 받아 상기 펀칭 영역의 테두리를 따라 광을 조사하여 상기 칩 실장 필름을 펀칭하는 광 펀칭 단계를 포함한다.The optical punching method may include a chip recognition step of recognizing a punching area including each of the semiconductor chips accommodated in a chip mounting film having a predetermined length using a chip recognition unit, and an optical punching unit electrically connected to the chip recognition unit. And an optical punching step of receiving the information about the punching region from the chip recognition unit and irradiating light along an edge of the punching region to punch the chip mounting film.
상기 광 펀칭 단계는, 제어 모듈을 사용하여 광원을 동작시켜 상기 광원을 통하여 레이저 광을 발광하고, 상기 제어 모듈을 사용하여 광 경로 안내 모듈로 상기 칩 인식부로부터 상기 펀칭 영역에 대한 정보를 전송 하고, 상기 제어 모듈을 사용하여 상기 광 경로 안내 모듈을 동작시켜 상기 광원으로부터 발광되는 레이저 광을 상기 펀칭 영역의 테두리를 따라 조사되도록 안내한다.In the optical punching step, the laser light is emitted through the light source by operating a light source using a control module, and transmitting information about the punching area from the chip recognition unit to the optical path guide module using the control module. By using the control module, the optical path guide module is operated to guide the laser light emitted from the light source to be irradiated along the edge of the punching area.
그리고, 상기 광 경로 안내 모듈은 반사 미러를 사용하여 상기 펀칭 영역으 로 상기 광원으로부터 발광되는 레이저 광을 반사시키고, 상기 반사 미러와 연결되며 상기 제어 모듈로부터 전기적 신호를 전송 받아 회전 구동되는 구동 모터를 사용하여 상기 반사되는 레이저 광을 상기 펀칭 영역의 테두리를 따라 조사되도록 상기 반사 미러를 회전 시킨다.The optical path guide module reflects laser light emitted from the light source to the punching area using a reflection mirror, and is connected to the reflection mirror and receives a driving signal that is rotated by receiving electrical signals from the control module. Rotate the reflective mirror to irradiate the reflected laser light along an edge of the punching area.
또한, 상기 칩 실장 필름은 상기 제어 모듈로부터 전기적 신호를 전송 받아 구동되는 이동 모듈에 의하여 일정 간격으로 이동 위치되되, 상기 이동 모듈은 상기 칩 실장 필름의 양단을 외감하는 한 쌍의 구동휠들과, 상기 제어 모듈로부터 전기적 신호를 전송 받아 상기 구동 휠들 중 어느 하나를 일정 간격으로 회전 시키는 회전 모터를 구비하는 것이 바람직하다.In addition, the chip mounting film is moved at a predetermined interval by a moving module driven by receiving an electrical signal from the control module, the moving module is a pair of drive wheels to surround both ends of the chip mounting film, It is preferable to include a rotary motor for receiving any electrical signal from the control module to rotate any one of the drive wheels at regular intervals.
또한, 상기 칩 실장 필름의 양측단에는 일정 간격으로 피치홀들이 형성되고, 상기 구동휠들의 양측단 외주에는 일정 간격으로 상기 피치홀들이 끼워지는 피치 돌기들이 형성되되, 상기 회전 모터의 회전 간격은 상기 피치홀들의 간격 또는 상기 피치 돌기들의 간격으로 상기 제어 모듈에 설정되는 것이 바람직하다.In addition, pitch holes are formed at both ends of the chip mounting film at predetermined intervals, and pitch protrusions at which the pitch holes are fitted at predetermined intervals are formed at outer peripheries of both side ends of the driving wheels. Preferably, the control module is set at intervals of pitch holes or intervals of the pitch protrusions.
또한, 상기 칩 인식부는 상기 제어 모듈과 전기적으로 연결되는 비젼 카메라이며, 상기 비젼 카메라는 상기 칩 실장 필름의 상부에서 상기 일정 간격으로 이동되는 칩 실장 필름의 영상을 취득하여 상기 영상을 상기 제어 모듈로 전송하고, 상기 제어 모듈은 상기 영상으로부터 상기 반도체 칩들의 수납 유무를 판정하고, 상기 반도체 칩들이 수납되는 경우에 상기 제어 모듈에 기설정되는 펀칭 위치에 위치되는 칩 실장 필름의 펀칭 영역을 펀칭하도록 상기 광원 및 상기 광 경로안내 모듈을 동작시키는 것이 바람직하다.The chip recognition unit may be a vision camera electrically connected to the control module, and the vision camera acquires an image of a chip mounting film which is moved at a predetermined interval from an upper portion of the chip mounting film and transfers the image to the control module. And the control module determines whether the semiconductor chips are accommodated from the image, and punches a punching area of the chip mounting film located at a punching position preset to the control module when the semiconductor chips are accommodated. It is preferable to operate the light source and the optical path guide module.
또한, 상기 칩 인식부는 상기 제어 모듈과 전기적으로 연결되는 비젼 카메라이며, 상기 펀칭 영역은 상기 반도체 칩을 포함하도록 기형성되는 정렬 마크들의 위치 좌표들이 서로 연결되어 형성되는 영역이고, 상기 비젼 카메라는 상기 펀칭 영역의 위치 좌표를 인식하고, 상기 인식된 반도체 칩들을 포함하도록 일정 폭과 너비를 갖는 영역을 상기 펀칭 영역으로 인식하는 것이 바람직하다.The chip recognizing unit may be a vision camera electrically connected to the control module, and the punching area is an area in which position coordinates of alignment marks that are previously formed to include the semiconductor chip are connected to each other. It is preferable to recognize the position coordinates of the punching area and to recognize the area having a predetermined width and width as the punching area so as to include the recognized semiconductor chips.
본 발명은 다수의 반도체 칩들이 수납되는 칩 실장 필름에서 반도체 칩들의 다양한 사이즈에 대응되는 펀칭 영역을 레이저 광을 사용하여 펀칭할 수 있는 효과를 갖는다.The present invention has the effect of punching the punching region corresponding to the various sizes of the semiconductor chips using a laser light in the chip mounting film that accommodates a plurality of semiconductor chips.
또한, 본 발명은 칩 실장 필름으로부터 반도체 칩을 포함한 일정 영역을 펀칭하는 경우에, 펀칭되는 펀칭 영역의 테두리에 물리적인 절삭 흔적이 발생되는 것을 방지할 수 있는 효과를 갖는다.In addition, the present invention has the effect of preventing the physical cutting traces generated on the edge of the punched punched region when punching a predetermined region including the semiconductor chip from the chip mounting film.
또한, 본 발명은 종래의 물리적인 접촉에 의하여 펀칭을 하지 않고 레이저 광을 조사하여 펀칭함으로써, 종래의 장시간 물리적 접촉에 따른 기구적인 물리적 손상 문제를 해소하여 펀칭되어 제조되는 TAB IC의 품질을 향상시킬 수 있는 효과를 갖는다.In addition, the present invention improves the quality of the TAB IC manufactured by punching by punching by irradiating laser light without punching by conventional physical contact, thereby eliminating the mechanical damage problem caused by the conventional long-term physical contact. Has the effect.
이하, 첨부되는 도면들을 참조로 하여, 본 발명의 광 펀칭 유니트 및 이를 사용한 광 펀칭 방법을 설명하도록 한다.Hereinafter, an optical punching unit and an optical punching method using the same will be described with reference to the accompanying drawings.
도 3은 본 발명의 광 펀칭 유니트를 사용하여 반도체 칩의 펀칭 영역이 펀칭 되는 것을 보여주는 사시도이다. 도 4는 도 3의 광 경로 안내 모듈을 보여주는 도면이다. 도 5는 도 3의 반도체 칩이 포함되는 펀칭 영역 및 이를 갖는 칩 실장 필름의 일부를 보여주는 평면도이다. 도 6은 본 발명의 광 펀칭 유니트의 구성들 간의 전기적 연결을 보여주는 블록도이다.3 is a perspective view showing that the punching region of the semiconductor chip is punched using the optical punching unit of the present invention. 4 is a diagram illustrating the light path guide module of FIG. 3. FIG. 5 is a plan view illustrating a punching area in which the semiconductor chip of FIG. 3 is included and a portion of a chip mounting film having the same. 6 is a block diagram showing the electrical connection between the components of the optical punching unit of the present invention.
먼저, 본 발명의 광 펀칭 유니트의 구성을 설명하도록 한다.First, the configuration of the optical punching unit of the present invention will be described.
도 2를 참조 하면, 상기 광 펀칭 유니트는 크게 칩 인식부(100)와, 상기 칩 인식부(100)와 전기적으로 연결되는 광 펀칭부(200)로 구성된다.Referring to FIG. 2, the optical punching unit includes a
여기서, 상기 칩 인식부(200)는 일정 길이의 칩 실장 필름(600)에 수납되는 반도체 칩들(600) 각각을 포함하는 펀칭 영역(PA)을 인식할 수 있는 비젼 카메라(vision camera) 일 수 있다.The
그리고, 비젼 카메라인 칩 인식부(100)는 상기 칩 실장 필름(500)에 수납되는 반도체 칩들(600)의 위치 좌표를 인식하고, 상기 인식된 반도체 칩들(600)을 포함하도록 일정 폭과 너비를 갖는 영역을 상기 펀칭 영역(PA)으로 인식할 수 있다.In addition, the
여기서, 도 5를 참조 하면, 상기 반도체 칩(600)을 포함하는 칩 실장 필름(500) 상에는 반도체 칩(600)을 에워싸는 정렬 마크들(AMa,AMb,AMc,AMd)이 기 형성된다. 상기 정렬 마크들(AMa,AMb,AMc,AMd) 각각은 위치 좌표를 갖는다.Here, referring to FIG. 5, alignment marks AMa, AMb, AMc, and AMd surrounding the
즉, 상기 정렬 마크 AMa 는 위치 좌표 Xa,Ya를 형성하고, 정렬 마크 AMb 는 위치 좌표 Xb,Yb를 형성하고, 정렬 마크 AMc 는 위치 좌표 Xc,Yc를 형성하고, 정렬 마크 AMd 는 위치 좌표 Xd,Yd를 형성한다.That is, the alignment mark AMa forms position coordinates Xa, Ya, the alignment mark AMb forms position coordinates Xb, Yb, the alignment mark AMc forms position coordinates Xc, Yc, and the alignment mark AMd forms position coordinates Xd, Forms Yd.
따라서, 상기에 언급된 위치 좌표를 서로 연결하면, 사각 형상의 일정 영역 이 형성되고, 이 영역 내부에는 반도체 칩(600)이 위치된다. 본 발명에서는 상기 위치 좌표들로 이루어지는 영역을 펀칭 영역(PA)이라고 한다. 이에 더하여, 상기 펀칭 영역(PA)의 테두리(610)는 후술되는 레이저 광의 조사에 의하여 펀칭 또는 절단되는 부분이다.Therefore, when the above-mentioned position coordinates are connected to each other, a rectangular area is formed, and the
이에 따라, 상기 정렬 마크들(AMa,AMb,AMc,AMd)의 위치 좌표들이 서로 연결되는 반도체 칩(600)을 포함하는 영역이 상기 펀칭 영역(PA)이 될 수 있다.Accordingly, the punching area PA may be an area including the
이러한 펀칭 영역(PA)은 반도체 칩들(600)의 사이즈(size)에 비례하여 증가되고, 이와 같이 비례 증가 또는 감소되는 펀칭 영역(PA)의 정렬 마크들(AMa,AMb,AMc,AMd)은 칩 실장 필름(500)에 기 형성될 수 있다.The punching area PA is increased in proportion to the size of the
또한, 도면에 도시되지는 않았지만, 상기 펀칭 영역(PA) 내에는 상기 반도체 칩(600)으로부터 방사형으로 연장되는 전기적 연결 신호선인 다수의 리드선들이 마련된다.Although not shown in the drawing, a plurality of lead wires, which are electrically connected signal lines extending radially from the
다시 도 3 및 도 4를 참조 하면, 상기 광 펀칭부(200)는 상기 칩 인식부(100)로부터 상기 펀칭 영역(PA)에 대한 정보를 전송 받아 상기 펀칭 영역(PA)의 테두리(610)를 따라 광을 조사하여 상기 칩 실장 필름(500)을 펀칭할 수 있다.Referring to FIGS. 3 and 4 again, the
여기서, 상기 칩 실장 필름(500)은 일정 길이 및 폭을 갖도록 형성되고, 여기에는 다수개의 반도체 칩들(600)이 일정 간격으로 수납된다. 상기 칩 실장 필름(500)의 양측단에는 일정 간격을 이루는 피치홀들(510)이 형성된다. 상기 피치홀(510)의 형성 간격은 상기 반도체 칩들(600)의 사이즈에 따라서 결정된다. 즉, 상기 피치홀(510)의 간격은 상기 반도체 칩(600)의 사이즈의 크기에 비례하여 형성 될 수 있다.Here, the
또한, 상기 칩 실장 필름(500)은 이동 모듈(300)에 의하여 일정 간격으로 이동 경로(a)를 따라 이동될 수 있다. 여기서, 상기 이동 모듈(300)은 상기 광 펀칭부(200)의 제어 모듈(230)과 전기적으로 연결되고, 상기 제어 모듈(230)로부터 전기적 신호를 받아 작동된다.In addition, the
상기 이동 모듈(300)은 한 쌍의 구동휠들(311, 312)과, 상기 구동휠을 일정 간격으로 회전시키는 회전 모터(320)로 구성된다. 여기서, 상기 칩 실장 필름(500)의 일단은 제 1구동휠(311)에 외감되고, 상기 칩 실장 필름(500)의 타단은 제 2구동휠(312)에 외감된다. 이때, 상기 제 1,2구동휠(311, 312)의 양측단 외주에는 상기 피치홀(510)에 끼워질 있는 피치 돌기들(311a, 312a)이 형성된다. 그리고, 상기 구동 모터(320)는 상기 제 1,2구동휠(311, 312) 중 어느 하나와 연결될 수 있고, 이하에서는 상기 회전 모터(320)가 제 2구동휠(312)에 연결된 구성을 기초로 한다. 물론, 상기 회전 모터(320)는 상기 제 1,2구동휠(311, 312) 모두에 연결될 수도 있다.The moving
여기서, 상기 회전 모터(320)의 회전 위치 가변 간격은 상기 피치홀들(510)의 간격 또는 상기 피치 돌기들(312a)의 간격을 기준으로 상기 제어 모듈(230)에 설정된다.Here, the variable rotation position of the
한편, 상기 광 펀칭부(200)는 상기 칩 인식부(100)의 일측에 배치된다.On the other hand, the
상기 광 펀칭부(200)는 레이저 광을 발광하는 광원(210)과, 상기 광원(210)으로부터 발광되는 레이저 광을 상기 펀칭 영역(PA)의 테두리(610)를 따라 조사되 도록 안내하는 광 경로 안내 모듈(220)과, 상기 칩 인식부(100)로부터 상기 펀칭 영역(PA)에 대한 정보를 전송 받아 상기 광원(210) 및 상기 광 경로 안내 모듈(220)을 동작시키는 제어 모듈(230)로 구성된다.The
도 4를 참조하면, 상기 광 경로 안내 모듈(220)은 상기 광원(210)으로부터 발광되는 레이저 광을 상기 펀칭 영역(PA)으로 반사시키는 반사 미러(221, 222)와, 상기 반사 미러(221, 222)와 연결되며 상기 제어 모듈(230)로부터 전기적 신호를 전송 받아 상기 반사되는 레이저 광을 상기 펀칭 영역(PA)의 테두리(610)를 따라 조사되도록 상기 반사 미러(221, 222)를 회전 시키는 구동 모터(223, 224)를 구비한다.Referring to FIG. 4, the optical path guide
좀 더 상세하게는, 상기 광원(210)은 발광 되는 레이저 광을 안내하는 광 파이버(225)와 연결된다. 상기 광 파이버(225)는 상기 안내되는 레이저 광을 평행광으로 이루어주는 콜리미네이터(226)와 연결되고, 상기 콜리미네이터(226)는 내부에 일정 공간을 갖는 하우징(228)과 연결된다.More specifically, the
그리고, 상기 하우징(228)의 내부에는 상기 반사 미러(221, 222)가 설치된다. 상기 반사 미러(221, 222)는 제 1,2반사 미러(221, 222)로 구성될 수 있다.The reflection mirrors 221 and 222 are installed in the
상기 제 1반사 미러(221)는 상기 콜리미네이터(226)를 통과한 레이저 광을 다른 방향으로 반사하고, 상기 제 2반사 미러(222)는 상기 제 1반사 미러(221)에서 반사된 레이저 광을 또 다른 방향 즉, 하우징(228)의 하부로 반사할 수 있다.The
상기 하우징(228)의 하부에는 상기 제 2반사 미러(222)로부터 반사되는 레이저 광을 수직을 이루는 광으로 형성하여 칩 실장 필름(500)으로 초점을 조절하는 렌즈(227)가 배치된다.A
이에 더하여, 상기 제 1,2반사 미러(221, 222) 각각은 제어 모듈(230)로부터 전기적 신호를 받아 회전 구동되는 제 1,2구동 모터(223, 224)와 연결된다.In addition, each of the first and second reflection mirrors 221 and 222 is connected to the first and
한편, 비젼 카메라인 칩 인식부(100)는 상기 칩 실장 필름(500)의 상부에서 상기 일정 간격으로 이동 경로(a)를 따라 이동되는 칩 실장 필름(500)의 영상을 취득하여 상기 영상을 상기 제어 모듈(230)로 전송한다.Meanwhile, the
그리고, 상기 제어 모듈(230)은 상기 영상으로부터 상기 반도체 칩들(600)의 수납 유무를 판정하고, 상기 반도체 칩들(600)이 수납되는 경우에 상기에 언급된 정렬 마크들의 위치 좌표들로 이루어지는 펀칭 영역을 설정하고, 이 펀칭 영역의 테두리를 따라 레이저 광을 조사하여 펀칭 영역을 절단할 수 있도록 상기 광원(210) 및 상기 광 경로 안내 모듈(220)을 동작시킨다.The
이에 더하여, 상기 제어 모듈(230)은 상기 반도체 칩들(600)이 수납되는 경우에 상기 제어 모듈(230)에 기설정되는 펀칭 위치에 위치되는 칩 실장 필름(500)의 펀칭 영역(PA)을 펀칭하도록 상기 광원(210) 및 상기 광 경로 안내 모듈(220)을 동작시킬 수도 있다. 이러한 경우에, 상기 제어 모듈(230)에는 상기 펀칭 영역(PA)이 기설정되는 경우이다.In addition, the
한편, 도 8은 본 발명의 광 펀칭 유니트의 다른 예를 보여주고 있다.Meanwhile, FIG. 8 shows another example of the optical punching unit of the present invention.
도 8에 도시된 바와 같이, 본 발명은 상기와 같이 구성되는 광 경로 안내 모듈(200, 200', 200")을 다수개로 구비할 수도 있다. 상기 광 경로 안내 모듈(200, 200', 200")은 각각 광원들(210, 210',210")과 연결된다.As shown in Fig. 8, the present invention may include a plurality of optical path guide
이러한 경우에, 상기 다수의 광 경로 안내 모듈(200, 200', 200")은 칩 실장 필름(500)의 상부에 배치되되, 상기 칩 실장 필름(500)에 형성되는 다수의 펀칭 영역들(PA)의 상부에 각각 배치될 수 있다.In this case, the plurality of optical path guide
이에 따라, 다수개의 반도체 칩(600)을 포함하는 펀칭 영역들(PA)은 상기 다수의 광 경로 안내 모듈(200, 200', 200")에 의하여 상기 칩 실장 필름(500)에서 동시에 절단될 수 있다.Accordingly, the punching regions PA including the plurality of
이의 경우에, 상기 펀칭되는 다수의 펀칭 영역들(PA)을 픽업할 수 있도록 도 3에 도시된 바와 같은 픽업 모듈(400)은 다수개로 칩 실장 필름(500)의 측부에 배치될 수 있다.In this case, a plurality of
이에 더하여, 상기 다수개의 픽업 모듈(400)은 진공 흡착기들(420)의 저부에 위치되는 셔틀(430)을 구비할 수 있고, 상기 셔틀(430)은 가이드 레일(440)을 따라 이동될 수 있다. 여기서, 상기 셔틀(430)은 가이드 레일(440)을 따라 도시되지 않은 구동 장치(예컨대 구동 모터)에 의하여 이동될 수 있다. 또한, 상기 셔틀(430) 이외에 외부로부터 동력을 전달받아 구동되는 컨베이어밸트(미도시)와 같은 장치가 적용될 수도 있다.In addition, the plurality of
다음은, 상기와 같은 구성을 갖는 광 펀칭 유니트의 작용을 통하여 광 펀칭 방법을 설명하도록 한다.Next, the optical punching method will be described through the operation of the optical punching unit having the above configuration.
도 7은 본 발명의 광 펀칭 유니트를 사용한 광 펀칭 방법을 보여주는 흐름도이다. 7 is a flowchart showing an optical punching method using the optical punching unit of the present invention.
도 3 및 도 7을 참조 하면, 이동 모듈(300)을 사용하여 칩 실장 필름(500)을 이동 경로(a)를 따라 일정 피치 간격으로 이동시킨다(S100). 3 and 7, the
여기서, 상기 칩 실장 필름(500)에는 다수개의 반도체 칩들(600)이 일정 간격을 이루어 수납되고, 상기 반도체 칩들(600)이 수납되는 영역에는 상기 반도체 칩들(600) 각각을 포함하는 일정 면적을 갖는 펀칭될 펀칭 영역(PA)이 형성된다. 여기서, 상기 펀칭 영역(PA)은 정렬 마크들(AM)의 위치 좌표들(X,Y)의 연결로 이루어진다(도 5참조).Here, a plurality of
즉, 제어 모듈(230)은 제 2구동휠(312)에 연결되는 회전 모터(320)로 동작 신호를 전송한다. 상기 회전 모터(320)는 제 2구동휠(312)을 일정 피치 간격으로 회전 동작시킨다. 따라서, 제 1,2구동휠(311, 312)의 피치 돌기(311a, 312a)에 끼워지는 피치홀(510)을 갖는 칩 실장 필름(500)은 일정 피치 간격으로 이동될 수 있다.That is, the
여기서, 상기 제어 모듈(230)에는 상기 피치홀들(510)의 간격 및 구동휠(311, 312)의 피치 돌기들(311a, 312a)의 간격이 기설정될 수 있으며, 상기 제어 모듈(230)은 상기 일정 피치 간격으로 칩 실장 필름(500)이 이동될 수 있도록 회전 모터(320)의 회전 동작을 제어할 수 있다.Here, the
이어, 칩 인식부(100) 및 제어 모듈(230)을 사용하여 반도체 칩(600)의 존재 유무를 판단한다(S200).Subsequently, the presence of the
칩 인식부(100)는 그 하부에서 이동되는 칩 실장 필름(500)에 반도체 칩(600)이 있는지의 여부를 인식할 수 있다. 상기 칩 인식부(100)는 비젼 카메라일 수 있다.The
상기 칩 인식부(100)는 이동 모듈(300)에 의하여 이동되는 펀칭 영역(PA)에 대한 영상 정보(정렬 마크 포함)를 취득한다. 이어, 상기 칩 인식부(100)는 상기 취득된 영상 정보를 제어 모듈(230)로 전송한다. 따라서, 상기 제어 모듈(230)은 상기 영상 정보에 반도체 칩(600)이 존재하는 지의 유무를 판단한다.The
이어, 펀칭 영역(PA)을 인식한다(S300).Next, the punching area PA is recognized (S300).
상기 반도체 칩(600)이 존재하는 경우에, 상기 제어 모듈(230)은 상기 영상 정보로부터 정렬 마크들(AM)의 위치 좌표들(X,Y)을 사용하여 반도체 칩(600)을 포함하는 일정 크기를 갖는 펀칭 영역(PA)을 설정할 수 있다.When the
이에 더하여, 상기 제어 모듈(230)은 반도체 칩(600)이 존재하는 경우에, 상기 영상 정보로부터 반도체 칩(600)의 위치 정보를 산출할 수도 있고, 이에 따라 상기 제어 모듈(230)은 상기 영상 정보로부터 반도체 칩(600)의 위치 정보를 산출할 수도 있다. 여기서, 상기 위치 정보는 상기 반도체 칩(600)의 사이즈를 결정하는 좌표값일 수 있다. 이어, 상기 제어 모듈(230)은 상기 위치 정보를 기초로 상기 반도체 칩(600)을 포함하는 일정 크기를 갖는 펀칭 영역(PA)을 설정할 수도 있다.In addition, when the
이어, 상기 칩 인식부(100)와 전기적으로 연결되는 광 펀칭부(200)를 사용하여, 상기 칩 인식부(100)로부터 상기 펀칭 영역(PA)에 대한 정보를 전송 받아 상기 펀칭 영역(PA)의 테두리(610)를 따라 레이저 광을 조사하여 상기 칩 실장 필름(500)을 펀칭하는 광 펀칭 단계를 거친다(S400).Subsequently, the punching area PA is received by receiving information about the punching area PA from the
좀 더 상세하게, 도 4 및 도 6,7을 참조하면, 상기 펀칭 영역(PA)이 인식된 반도체 칩(600)은 하우징(228)의 저부 일정 위치에 위치될 수 있다. 상기 일정 위치는 펀칭되는 위치일 수 있다.More specifically, referring to FIGS. 4 and 6 and 7, the
그리고 상기 제어 모듈(230)은 광원(210)으로 전기적 신호를 전송하고, 상기 광원(210)은 일정 조도를 이루는 레이저 광을 발광한다.In addition, the
상기 발광된 레이저 광은 광 파이버(225)를 통하여 콜리미네이터(226)로 안내된다. 상기 콜리미네이터(226)는 상기 안내된 레이저 광을 평행광으로 형성하여 하우징(228) 내부에 마련되는 제 1반사 미러(221)로 안내한다.The emitted laser light is guided to the
이어, 상기 제 1반사 미러(221)로 안내된 레이저 광은 제 2반사 미러(222)에 의하여 반사되고, 상기 제 2반사 미러(222)에서 반사된 레이저 광은 렌즈(227)를 통과하면서 초점이 설정됨과 아울러 펀칭 위치에 위치된 반도체 칩(600)을 포함하는 펀칭 영역(PA)의 테두리(610)를 향하여 조사될 수 있다.Subsequently, the laser light guided to the
이때, 상기 제어 모듈(230)은 상기 렌즈(227)를 통하여 조사되는 레이저 광의 조사 경로를 상기 펀칭 영역(PA)의 테두리(610)를 따라 순차적으로 조사되도록 할 수 있다.In this case, the
즉, 상기 제어 모듈(230)은 상기 제 1반사 미러(221)와 제 2반사 미러(222)를 회전시키는 제 1,2구동 모터(223, 224)의 동작을 각각 제어하면서, 상기 제 2반사 미러(222)를 통하여 수직광을 형성하는 레이저 광 조사 경로를 상기 펀칭 영역(PA)의 테두리(610)를 따르도록 할 수 있다.That is, the
이에 따라, 도 5에 도시된 바와 같이, 반도체 칩(600)을 포함하는 펀칭 영역(PA)은 피치홀(510)이 형성되는 칩 실장 필름(500)의 영역과 분리될 수 있다. 즉, 상기 펀칭 영역(PA)은 상기 레이저 광의 조사에 의하여 칩 실장 필름(500)으로부터 절단될 수 있다.Accordingly, as illustrated in FIG. 5, the punching area PA including the
이와 같이 펀칭된 펀칭 영역(PA)은 픽업 모듈(400)에 의하여 외부로 언로딩 또는 배출될 수 있다(S500).The punching area PA punched as described above may be unloaded or discharged to the outside by the pickup module 400 (S500).
즉, 상기 제어 모듈(230)은 실린더(410)의 실린더 축(411)을 펀칭 위치에 이르도록 신장시키고, 이에 따라 실린더 축(411)의 끝단에 배치되는 진공 흡착기는 상기 펀칭 위치의 상부에 위치될 수 있다. 여기서, 상기 실린더(410)는 외부로부터 공압을 제공받아 실린더 축(411)의 신장 또는 신축 시키는 공압 실린더 일 수 있다. 따라서, 상기 제어 모듈(230)은 실질적으로 공압을 제공하는 장치(미도시)를 제어할 수 있다.That is, the
이어, 상기 진공 흡착기(420)는 실린더 축(411)의 끝단에 설치되는 엑츄에이터(421)의 하강에 의하여 펀칭 위치에서 펀칭되어 대기 중인 반도체 칩(600)을 포함한 펀칭 영역(PA)의 상면을 흡착하고, 원위치로 복귀가능하다.Subsequently, the
그리고, 상기 실린더 축(411)의 동작에 의하여 상기 펀칭된 반도체 칩 펀칭 영역(PA)은 외부 일정 위치로 이송되어 적재될 수 있다.In addition, the punched semiconductor chip punching area PA may be transported to an external predetermined position and loaded by an operation of the
이어, 상기 펀칭된 펀칭 영역(PA)의 후단에 위치되는 반도체 칩들(600)은 이동 모듈(300)의 동작에 의하여 순차적으로 펀칭 위치로 이동되어 위치되고, 광 펀칭부(200)에 의하여 일정의 펀칭 영역(PA)들은 순차적으로 펀칭되고, 이 펀칭된 펀칭 영역(PA)들은 상기 픽업 모듈(400)에 의하여 순차적으로 외부로 배출되어 적재될 수 있다.Subsequently, the
한편, 상기 칩 인식부(100)에 의하여 칩 실장 필름(500) 상에 반도체 칩(600)이 인식되지 않는 경우에, 제어 모듈(230)은 상기의 펀칭 공정을 중지할 수 있다. 즉, 상기 제어 모듈(230)은 이동 모듈(300)과 광 펀칭부(200) 및 픽업 모듈(400)의 동작을 중지시킬 수 있다.Meanwhile, when the
도 1은 종래의 펀칭된 TAB IC에 의하여 평판 디스플레이 글라스의 전극과 FPCB의 전극이 서로 연결된 것을 보여주는 사시도이다.1 is a perspective view showing that electrodes of a flat panel display glass and electrodes of an FPCB are connected to each other by a conventional punched TAB IC.
도 2는 종래의 TAB IC가 펀칭되는 것을 보여주는 사시도이다.2 is a perspective view showing that a conventional TAB IC is punched out.
도 3은 본 발명의 광 펀칭 유니트를 사용하여 반도체 칩의 펀칭 영역이 펀칭되는 것을 보여주는 사시도이다.3 is a perspective view showing that the punching region of the semiconductor chip is punched using the optical punching unit of the present invention.
도 4는 도 3의 광 경로 안내 모듈을 보여주는 도면이다.4 is a diagram illustrating the light path guide module of FIG. 3.
도 5는 도 3의 반도체 칩이 포함되는 펀칭 영역 및 이를 갖는 칩 실장 필름의 일부를 보여주는 평면도이다.FIG. 5 is a plan view illustrating a punching area in which the semiconductor chip of FIG. 3 is included and a portion of a chip mounting film having the same.
도 6은 본 발명의 광 펀칭 유니트의 구성들 간의 전기적 연결을 보여주는 블록도이다.6 is a block diagram showing the electrical connection between the components of the optical punching unit of the present invention.
도 7은 본 발명의 광 펀칭 유니트를 사용한 광 펀칭 방법을 보여주는 흐름도이다.7 is a flowchart showing an optical punching method using the optical punching unit of the present invention.
도 8은 본 발명의 광 펀칭 유니트의 다른 예를 보여주는 사시도이다.8 is a perspective view showing another example of the optical punching unit of the present invention.
*도면의 주요부분에 대한 부호설명** Description of Signs of Main Parts of Drawings *
100 : 칩 인식부100: chip recognition unit
200 : 광 펀칭부200: optical punching unit
210 : 광원210: light source
220 : 광 경로 안내 모듈220: optical path guide module
230 : 제어 모듈230: control module
300 : 이동 모듈300: moving module
400 : 픽업 모듈400: pickup module
Claims (14)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020080135643A KR20100077636A (en) | 2008-12-29 | 2008-12-29 | Beam punching unit and beam punching method |
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Family Applications (1)
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN112655079A (en) * | 2018-09-03 | 2021-04-13 | 贝斯荷兰有限公司 | Method and device for selectively separating electronic components from a carrier with electronic components |
JP2021100096A (en) * | 2019-12-19 | 2021-07-01 | ▲き▼邦科技股▲分▼有限公司 | Circuit board and board separated from the same |
-
2008
- 2008-12-29 KR KR1020080135643A patent/KR20100077636A/en not_active Application Discontinuation
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