KR20100063248A - Wafer plating apparatus and method for the same - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 반도체제조에 관한 것으로서, 보다 구체적으로는 금속배선을 위해 도금된 기판의 산화를 방지할 수 있는 기판도금장치에 관한 것이다. BACKGROUND OF THE
일반적으로 반도체를 구성하는 실리콘 기판 상에 금속배선을 형성하기 위해, 상기 기판의 전면에 금속막을 형성하여 이 금속막을 패터닝하게 된다. 이때, 상기 기판의 전면에 형성되는 금속막은 알루미늄 또는 구리에 의해 형성된다. 이 중, 상기 구리막은 상기 알루미늄막에 비해 녹는점이 높아 전기이동도에 대한 큰 저항력을 가짐으로써, 반도체 소자의 신뢰성 향상이 기여하는 장점을 가진다. 뿐만 아니라, 상기 구리막이 형성된 기판은 비저항이 낮아 신호전달 속도가 증가되는 이점을 가진다. 그로 인해, 상기 기판상에 형성되는 금속막은 알루미늄막 대신에 구리막이 일반적으로 주로 채택된다. In general, in order to form a metal wiring on a silicon substrate constituting a semiconductor, a metal film is formed on the entire surface of the substrate to pattern the metal film. At this time, the metal film formed on the entire surface of the substrate is formed of aluminum or copper. Among these, the copper film has a melting point higher than that of the aluminum film and has a large resistance to electric mobility, thereby improving the reliability of the semiconductor device. In addition, the substrate on which the copper film is formed has an advantage of low signal resistance and an increase in signal transmission speed. Therefore, as for the metal film formed on the said board | substrate, a copper film is generally mainly adopted instead of an aluminum film.
현재, 상기 기판 상에 구리막을 형성하여 이를 패터닝하기 위한 방법으로는 물리기상증착 또는 화학기상증착이 주로 채용되나, 전기 이동도에 대한 내성이 우수하고 제조비용이 저렴한 이유로 인해 화학기상증착 즉, 전기도금이 선호된다. Currently, as a method for forming and patterning a copper film on the substrate, physical vapor deposition or chemical vapor deposition is mainly employed, but chemical vapor deposition, that is, electrical resistance due to its excellent resistance to electrical mobility and low manufacturing cost, Plating is preferred.
상기 기판에 대한 구리 전기도금의 원리는, 처리챔버의 전해액 상으로 양극의 구리판과 음극의 기판을 침지시킨 후 전류를 인가함으로써, 상기 구리판으로부터 구리이온이 분리되어 기판상에 구리막을 형성시킨다. The principle of copper electroplating for the substrate is that copper ions are separated from the copper plate by forming a copper film on the substrate by dipping the copper plate of the anode and the substrate of the cathode onto the electrolyte solution of the processing chamber.
한편, 상기와 같은 구리 전기도금의 원리에 의해 구리막이 형성된 기판은, 세정 및 에칭공정을 위해 세정챔버로 이동된다. 이렇게 처리챔버로부터 벗어나 세정챔버로 이동되는 기판은 대기 중에 노출된다. 그로 인해, 상기 구리막이 형성된 기판은 대기 중에서 산화됨으로써, 기판의 품질 저하가 야기된다. On the other hand, the substrate on which the copper film is formed by the principle of copper electroplating as described above is moved to the cleaning chamber for the cleaning and etching process. The substrate thus moved out of the processing chamber to the cleaning chamber is exposed to the atmosphere. Therefore, the board | substrate with which the said copper film was formed is oxidized in air | atmosphere, and the quality fall of a board | substrate is caused.
본 발명은 상기와 같은 문제점을 감안하여 안출된 것으로, 도금된 기판의 산화를 방지할 수 있는 기판도금장치 및 그 방법을 제공하기 위한 것이다. SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above problems, and an object thereof is to provide a substrate plating apparatus and method for preventing oxidation of a plated substrate.
본 발명의 다른 목적은 도금된 기판에 인접하여 산화방지막을 형성시킬 수 있는 기판도금장치 및 그 방법을 제공하기 위한 것이다. Another object of the present invention is to provide a substrate plating apparatus and method for forming an antioxidant film adjacent to a plated substrate.
본 발명의 또 다른 목적은 도금된 기판이 도금부로부터 인출되기 이전에 산화방지막을 형성시킬 수 있는 기판도금장치 및 그 방법을 제공하기 위한 것이다. Still another object of the present invention is to provide a substrate plating apparatus and method for forming an antioxidant film before the plated substrate is drawn out from the plating portion.
상기와 같은 목적을 달성하기 위한 기판도금장치는, 기판을 도금시키는 도금부, 상기 도금된 기판을 세정하는 세정부, 상기 기판을 지지 및 회전시키며, 상기 도금부와 세정부 사이에서 상기 기판을 이송시키는 지지부 및, 상기 도금된 기판이 상기 도금부로부터 벗어나기 이전에, 상기 기판에 산화방지막을 형성시키는 산화방지부를 포함한다. A substrate plating apparatus for achieving the above object, a plating portion for plating a substrate, a cleaning portion for cleaning the plated substrate, supporting and rotating the substrate, transfer the substrate between the plating portion and the cleaning portion And an oxidation preventing portion for forming an anti-oxidation film on the substrate before the plated substrate leaves the plating portion.
본 발명에 의하면, 상기 도금부는 상기 기판이 침지되는 전해액이 수용되는 도금챔버, 상기 도금챔버 내의 전해액에 침지되는 타켓부재 및, 상기 기판과 타켓부재로 각각 음극과 양극을 인가하는 전극인가부를 포함한다. According to the present invention, the plating part includes a plating chamber in which the electrolyte solution in which the substrate is immersed is received, a target member immersed in the electrolyte solution in the plating chamber, and an electrode applying part for applying a cathode and an anode to the substrate and the target member, respectively. .
본 발명에 의하면, 상기 산화방지부는, 상기 지지부에 설치되어 상기 기판의 도금면으로 산화방지액을 분사하는 분사노즐을 포함한다. 이러한 산화방지부는 상기 도금된 기판이 상기 도금챔버에 수용된 전해액으로부터 인상되자 마자, 상기 산 화방지액을 분사함으로써, 상기 기판의 대기 노출을 최소화한다. 또한, 상기 기판이 상기 지지부에 의해 회전될 때, 상기 분사노즐로부터 상기 산화방지액이 분사됨으로써, 최소량의 순수로 상기 기판에 산화방지막을 형성시킨다. 참고로, 상기 산화방지부가 분사하는 산화방지액은 순수(DI Water)를 포함한다. According to the present invention, the anti-oxidation part includes a spray nozzle which is provided on the support part and sprays the anti-oxidant liquid onto the plated surface of the substrate. The anti-oxidation portion minimizes the air exposure of the substrate by spraying the anti-oxidation liquid as soon as the plated substrate is pulled out of the electrolyte contained in the plating chamber. In addition, when the substrate is rotated by the support, the antioxidant solution is injected from the injection nozzle, thereby forming an antioxidant film on the substrate with a minimum amount of pure water. For reference, the antioxidant solution sprayed by the antioxidant part includes pure water (DI Water).
본 발명의 다른 측면에 의한 기판도금장치는, 양극이 인가되는 타켓부재와 음극이 인가되는 기판이 침지되는 전해액을 수용하는 도금챔버를 구비하여, 상기 기판 상에 금속막을 형성시키는 도금부, 상기 금속막이 형성된 기판을 세정하는 세정부, 상기 기판을 지지 및 회전시키며, 상기 도금부와 세정부 사이로 상기 기판을 이송시키는 지지부 및, 상기 금속막이 형성된 기판이 상기 전해액으로부터 인상되면, 상기 기판의 금속막으로 순수(DI Water)를 분사하는 분사노즐를 포함한다. According to another aspect of the present invention, there is provided a substrate plating apparatus including a plating chamber configured to include a target member to which an anode is applied and an electrolyte solution in which a substrate to which a cathode is applied is immersed, thereby forming a metal film on the substrate. A cleaning part for cleaning the substrate on which the film is formed, a supporting part for supporting and rotating the substrate, and transferring the substrate between the plating part and the cleaning part, and a substrate on which the metal film is formed is pulled out of the electrolyte solution, And a spray nozzle for spraying DI water.
본 발명의 목적을 달성하기 위한 기판도금방법은, 기판에 금속막을 형성시키는 단계, 상기 기판의 금속막에 산화방지막을 형성시키는 단계 및, 상기 기판을 세정시키는 단계를 포함한다. 보다 구체적으로, 상기 금속막 형성단계는 양극이 인가되는 타켓부재가 침지된 전해액을 수용하는 도금챔버의 내부에서 이루어지며, 상기 산화방지막 형성단계는 상기 기판이 상기 도금챔버를 벗어나기 이전에 이루어진다. A substrate plating method for achieving the object of the present invention includes the steps of forming a metal film on the substrate, forming an antioxidant film on the metal film of the substrate, and cleaning the substrate. More specifically, the metal film forming step is performed in the plating chamber containing the electrolyte in which the target member to which the anode is applied is immersed, and the antioxidant film forming step is performed before the substrate leaves the plating chamber.
상기와 같은 구성을 가지는 본 발명에 의하면, 첫째, 도금된 기판에 산화방지막을 형성시킴으로써, 도금된 기판이 대기 중에 노출되어도 산화가 발생되지 않는다. 그로 인해, 제조되는 기판의 품질이 향상된다. According to the present invention having the above configuration, first, by forming an antioxidant film on the plated substrate, even if the plated substrate is exposed to the atmosphere does not occur oxidation. Thereby, the quality of the board | substrate manufactured is improved.
둘째, 산화방지부가 기판을 지지하여 이송시키는 지지부에 설치됨으로써, 기 판에 인접하여 산화방지부가 산화방지액을 분사할 수 있게 된다. 그로 인해, 최소량의 산화방지액으로 기판의 표면에 산화방지막을 형성시킬 수 있어, 전해액의 농도를 저하시키지 않는다. Second, the anti-oxidation unit is installed in the support portion for supporting and transporting the substrate, the anti-oxidation portion can be injected to the substrate adjacent to the substrate. Therefore, an antioxidant film can be formed in the surface of a board | substrate with a minimum amount of antioxidant liquid, and it does not reduce the density | concentration of electrolyte solution.
셋째, 전해액에 침지되어 도금된 기판이 전해액으로부터 인상되자 마자 순수를 분사하여 산화방지막을 형성시킴으로써, 기판이 도금챔버로부터 인출되기 이전에 기판의 표면을 처리할 수 있게 된다. 그로 인해, 도금된 기판의 대기 노출을 최소화할 수 있을 뿐만 아니라, 기판이 세정부로 이송되어도 기판의 표면에서의 산화발생이 방지된다. Third, as soon as the substrate immersed in the electrolyte and plated is pulled out of the electrolyte, pure water is sprayed to form an antioxidant film, thereby treating the surface of the substrate before the substrate is withdrawn from the plating chamber. This not only minimizes the atmospheric exposure of the plated substrate, but also prevents oxidation on the surface of the substrate even when the substrate is transferred to the cleaning portion.
이하, 본 발명의 바람직한 일 실시예를 첨부된 도면을 참고하여 설명한다. Hereinafter, a preferred embodiment of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.
도 1을 참고하면, 본 발명에 의한 기판도금장치(1)는 보관부(10), 이송로봇(20), 도금부(30), 세정부(40), 지지부(50) 및 산화방지부(60)를 포함한다. Referring to FIG. 1, the
상기 보관부(10)는 도금될 기판(W)을 보관하는 곳으로서, 복수개의 기판(W)을 수용하여 낱장의 기판(W)을 후술할 도금부(30)로 공급한다. The
상기 이송로봇(20)은 상기 보관부(10)와 상기 도금부(30) 사이에서 상기 기판(W)을 낱장으로 이송시킨다. 즉, 상기 이송로봇(20)은 상기 보관부(10)에 보관된 기판(W)을 낱장으로 픽업하여 상기 도금부(30) 측으로 이송시킨다. The
상기와 같은 보관부(10) 및 이송로봇(20)의 기술구성은 공지의 기술로부터 이해 가능하므로, 자세한 설명 및 도시를 생략한다. Since the technical configuration of the
참고로, 본 발명에서 설명하는 기판(W)은 반도체 기판이 되는 실리콘 웨이퍼 로 예시하나, 꼭 이를 한정하는 것은 아니다. 즉, 상기 기판(W)은 LCD(Liquid Crystal Display) 또는 PDP(Plasma Display Panel)와 같은 평판 디스플레이 장치용 유리기판이 채용될 수 있음은 당연하다. For reference, the substrate W described in the present invention is exemplified as a silicon wafer to be a semiconductor substrate, but is not limited thereto. That is, the substrate W may be a glass substrate for a flat panel display device such as a liquid crystal display (LCD) or a plasma display panel (PDP).
상기 도금부(30)는 도 2의 도시와 같이, 상기 이송로봇(20)에 의해 낱장으로 공급되는 기판(W)에 금속막(M)을 도금시킨다. 이러한 도금부(30)는 도금챔버(31), 타켓부재(32), 전류인가부(33) 등을 포함한다. As shown in FIG. 2, the
상기 도금챔버(31)는 전해액(S)이 수용되며, 기판(W)이 선택적으로 침지된다. 이러한 도금챔버(31)는 상기 기판(W)의 출입을 위해 상부가 개방된 원통의 욕조(bath) 형상을 가진다. 그러나, 꼭 이를 한정하는 것은 아니며, 상기 도금챔버(31)의 상부가 커버에 의해 선택적으로 개방되거나 일측면이 개방되는 것과 같이, 기판(W)이 침지될 수 있는 용량의 전해액(S)을 수용함과 아울러, 기판(W)이 선택적으로 출입될 수 있는 다양한 형상 중 어느 하나가 채용될 수 있음은 당연하다. The
상기 타켓부재(32)는 상기 전해액(S)에 침지되며, 상기 기판(W)에 금속막을 형성시키는 금속이온을 함유한다. 본 실시예에서는 상기 타켓부재(32)가 구리 플레이트인 것으로 예시한다. 그로 인해, 상기 전해액(S)은 상기 타켓부재(32)로부터 분리된 구리이온을 상기 기판(W)으로 전달하는 이온전달매체로써, 황산구리액인 것으로 예시한다. The
상기 전류인가부(33)는 상기 전해액(S)에 침지되는 타켓부재(32)와 기판(W)에 각각 양극과 음극을 인가하는 것으로써, 양극인가체(34)와 음극인가체(35)를 포함한다. 상기 양극인가체(34)는 상기 타켓부재(32)와 접촉되어 이를 양극화시키며, 상기 음극인가체(35)는 상기 기판(W)과의 접촉에 의해 기판(W)을 음극화시킨다. The current applying
이러한 구성을 가지는 전류인가부(33)에 의해 타켓부재(32)와 기판(W)에 각각 양극과 음극이 인가되면, 상기 타켓부재(32)의 환원반응에 의해 발생된 구리이온이 전해액(S)을 거쳐 기판(W)으로 전달되어 산화반응에 의해 금속막(M)을 형성시키게 된다. When the positive electrode and the negative electrode are applied to the
한편, 상기 타켓부재(32)로부터 발생된 금속이온 즉, 구리이온의 전달을 보다 효율적으로 구현하기 위해, 상기 타켓부재(32)와 기판(W) 사이에는 도금조(36), 제 1 및 제 2 필터(37)(39)가 설치된다. On the other hand, the
상기 도금조(36)는 상기 타켓부재(32)의 에지부를 지지하며 그 상부가 기판(W)을 향해 개방된다. 그로 인해, 상기 기판(W)와 타켓부재(32)는 상호 대면하게 된다. The
상기 제 1 및 제 2 필터(37)(39)는 상기 타켓부재(32)로부터 발생된 구리이온을 순차적으로 필터링한 후 상기 기판(W) 상으로 골고루 공급시킨다. 이를 위해, 상기 제 1 필터(37)는 깔때기와 같은 형상을 가지고 필터축(38)을 중심으로 회전함으로써, 상기 전해액(S) 상의 구리이온를 필터링함과 동시에 농도를 균일하게 한다. 아울러, 상기 제 2 필터(39)는 상기 기판(W)의 도금면과 마주하도록 설치되어, 상기 1차 필터링된 구리이온을 상기 기판(W) 상으로 골고루 분배시킨다. 그로 인해, 상기 기판(W)에 형성되는 금속막(M)의 두께가 균일해진다. The first and
상기 세정부(40)는 상기 도금부(30)로부터 인출된 기판(W)을 세정시킨다. 즉, 상기 세정부(40)는 상기 금속막(M)이 형성된 기판(W)을 세정한다. 보다 구체적 으로, 상기 세정부(40)는 상기 기판(W)을 세정한 후 건조시키는 SRD(Spin-Rinse-Dry)공정 및, 상기 기판(W)의 에지부에 형성된 구리막을 제거하는 EBR(Edge Bead Removal)공정을 수행한다. 이를 위해, 상기 세정부(40)는 상기 기판(W) 상으로 세정제와 에칭제를 공급하는 별도의 노즐을 구비하나, 이러한 세정부(40)의 기술구성은 공지의 기술로부터 이해 가능하므로, 자세한 설명 및 도시를 생략한다. 참고로, 상기 세정부(40)에서 분사되는 세정제는 순수(DI Water)를 포함한다. The
상기 지지부(50)는 상기 도금부(30)와 세정부(40) 사이로 상기 기판(W)을 이송시키며, 상기 도금부(30)와 세정부(40)에 의한 도금 및 세정공정시 기판(W)을 지지한다. 보다 구체적으로, 상기 지지부(50)는 상기 기판(W)을 지지하는 척(51)과 이 척(51)과 연결되는 축(52)을 포함하여, 상기 기판(W)을 승하강 또는 회전 구동시킴과 아울러, 도금부(30)와 세정부(40)의 내외로 이송시킨다. The
참고로, 상기 지지부(50)는 상기 기판(W)을 도금부(30) 및 세정부(40) 내외로 출입시키기 위해 기판(W)을 승하강시키며, 상기 기판(W)의 도금공정 및 세정공정 시에는 기판(W)을 회전시킨다. For reference, the
상기 산화방지부(60)는 도 3의 도시와 같이, 상기 도금부(30)에서 도금된 기판(W)의 금속막(M)에 산화방지막을 형성시킨다. 여기서, 상기 산화방지부(60)는 순수(DI Water)를 기판(W)으로 분사하는 분사노즐로 구성되며, 이러한 산화방지부(60)는 상기 기판(W)의 에지부와 마주하도록 한 쌍으로 마련된다. 한편, 상기 산화방지부(60)는 순수공급부(61)와 연결되어 순수를 공급받는다. As shown in FIG. 3, the
상기와 같은 산화방지부(60)는 상기 금속막(M)이 형성된 기판(W)이 전해 액(S)으로부터 인상되어 상기 도금챔버(31)로부터 인출되기 이전에, 상기 순수를 기판(W) 상으로 분사한다. 그로 인해, 상기 산화방지부(60)는 기판(W)이 세정부(40)로 이송되는 도중에 발생되었던 금속막(M)의 대기 노출에 의한 산화현상을 방지한다. As described above, the
이러한 산화방지부(60)는 상기 금속막(M)의 에지부와 인접하도록 상기 지지부(50)에 설치된다. 이때, 상기 지지부(50)는 상기 기판(W)을 회전시키며, 이렇게 회전되는 기판(W) 상으로 적은 양의 순수가 산화방지부(60)를 통해 분사된다. 그로 인해, 상기 기판(W) 상으로 적은 양의 순수가 분사되어도, 상기 기판(W)의 원심력에 의해 금속막(M)을 덮을 수 있는 산화방지막이 형성된다. The
참고로, 상기 산화방지부(60)를 통해 분사되는 순수 중 산화방지막을 형성하지 못한 나머지는 상기 전해액(S)으로 낙하되어 전해액(S)에 희석된다. 그러나, 상기 전해액(S)에 희석되는 순수의 양이 매우 미비하며 도금챔버(31)로 전해액(S)이 지속적으로 공급되므로, 전해액(S)의 농도는 일정하게 유지된다. For reference, the rest of the pure water sprayed through the
상기와 같은 구성을 가지는 본 발명에 의한 기판도금장치(1)의 동작을 도 1 내지 도 4를 참고하여 설명한다. An operation of the
우선, 도 4의 도시와 같이, 상기 기판(W)에 도금부(30)에서 금속막(M)이 형성된다(S10). 여기서, 상기 기판(W)은 상기 보관부(10)로부터 이송로봇(20)에 의해 낱장 인출되어 도금부(30)로 이송되며, 이렇게 이송된 기판(W)은 지지부(50)에 의해 지지된 상태로 도금챔버(31)의 내부로 삽입된다. First, as shown in FIG. 4, a metal film M is formed in the
상기 도금챔버(31)에 삽입된 기판(W)은 도 2의 도시와 같이, 전해액(S)에 침 지되어 양극이 인가되는 타켓부재(32)로부터 분리된 금속이온 즉, 구리이온에 의해 도금된다. 이때, 상기 기판(W)은 음극인가체(35)와 접촉되어 음극화된 상태이다. As illustrated in FIG. 2, the substrate W inserted into the
이렇게 금속막(M)이 기판(W)상에 형성되면(S10), 도 3의 도시와 같이, 상기 기판(W)은 전해액(S)으로부터 인상된다. 그러면, 상기 산화방지부(60)가 상기 기판(W)의 에지부에 소정량의 순수를 분사하며, 이 분사된 순수는 회전하는 기판(W)의 원심력에 의해 기판(W)의 표면으로 퍼져 산화방지막을 형성한다(S20). When the metal film M is thus formed on the substrate W (S10), as shown in FIG. 3, the substrate W is pulled out of the electrolyte S. As shown in FIG. Then, the
이렇게, 상기 금속막(M)이 형성된 기판(W)상에 산화방지막까지 형성되면(S20), 상기 기판(W)은 도금챔버(31)로부터 인출되어 세정부(40)에서 세정된다(S30). 이때, 상기 세정부(40)로 상기 기판(W)이 이송되기 위해 대기중에 노출되어도, 상기 금속막(M)이 산화방지막에 의해 보호되는 상태이므로, 상기 금속막(M)이 산화되지 않는다. When the anti-oxidation film is formed on the substrate W on which the metal film M is formed (S20), the substrate W is withdrawn from the
상술한 바와 같이, 본 발명의 바람직한 실시예를 참조하여 설명하였지만 해당 기술분야의 숙련된 당업자라면 하기의 청구범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.As described above, although described with reference to a preferred embodiment of the present invention, those skilled in the art will be variously modified and changed without departing from the spirit and scope of the invention described in the claims below I can understand that you can.
도 1은 본 발명의 바람직한 일 실시예에 의한 기판도금장치를 개략적으로 도시한 구성도, 1 is a configuration diagram schematically showing a substrate plating apparatus according to an embodiment of the present invention,
도 2는 도 1에 도시된 도금부에서의 기판도금공정을 개략적으로 도시한 단면도, FIG. 2 is a cross-sectional view schematically illustrating a substrate plating process in the plating unit illustrated in FIG. 1;
도 3은 도금된 기판에 산화방지막을 형성시키는 공정을 개략적으로 도시한 단면도, 그리고, 3 is a cross-sectional view schematically showing a process of forming an antioxidant film on a plated substrate, and
도 4는 본 발명에 의한 기판도금방법을 개략적으로 도시한 플로우챠트이다. 4 is a flowchart schematically showing a substrate plating method according to the present invention.
<도면의 주요 부분에 대한 부호 설명><Description of the symbols for the main parts of the drawings>
1: 기판도금장치 10: 보관부1: Substrate Plating Device 10: Storage
20: 이송로봇 30: 도금부20: transfer robot 30: plating part
31: 도금챔버 40: 세정부31: plating chamber 40: cleaning part
50: 지지부 60: 산화방지부50: support 60: antioxidant
Claims (10)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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KR1020080121685A KR20100063248A (en) | 2008-12-03 | 2008-12-03 | Wafer plating apparatus and method for the same |
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ID=42363224
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101142323B1 (en) * | 2010-07-30 | 2012-05-02 | 주식회사 케이씨텍 | Apparatus for plating substrate |
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CN109911614A (en) * | 2019-04-03 | 2019-06-21 | 赵华勇 | A kind of medical rubber hose dipping machine |
KR102404457B1 (en) * | 2021-01-20 | 2022-06-07 | 가부시키가이샤 에바라 세이사꾸쇼 | Plating apparatus and method of measuring film thickness of substrate |
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2008
- 2008-12-03 KR KR1020080121685A patent/KR20100063248A/en not_active Application Discontinuation
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