KR20100063248A - Wafer plating apparatus and method for the same - Google Patents

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Abstract

PURPOSE: A wafer plating apparatus and a method thereof are provided to form an anti-oxidation layer on a wafer with the minimum anti-oxidation solution. CONSTITUTION: A wafer plating apparatus comprises a plating part(30) for plating a wafer(W), a cleaning part which cleans the plated wafer, a supporting part which supports and rotates the wafer and transfers the wafer between the plating part and the cleaning part, and an anti-oxidation part(60) which forms an anti-oxidation layer on the wafer before the wafer leaves the plating part.

Description

기판도금장치 및 그 방법{WAFER PLATING APPARATUS AND METHOD FOR THE SAME}Substrate Plating Apparatus and its Method {WAFER PLATING APPARATUS AND METHOD FOR THE SAME}

본 발명은 반도체제조에 관한 것으로서, 보다 구체적으로는 금속배선을 위해 도금된 기판의 산화를 방지할 수 있는 기판도금장치에 관한 것이다. BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to semiconductor manufacturing, and more particularly, to a substrate plating apparatus capable of preventing oxidation of a substrate plated for metal wiring.

일반적으로 반도체를 구성하는 실리콘 기판 상에 금속배선을 형성하기 위해, 상기 기판의 전면에 금속막을 형성하여 이 금속막을 패터닝하게 된다. 이때, 상기 기판의 전면에 형성되는 금속막은 알루미늄 또는 구리에 의해 형성된다. 이 중, 상기 구리막은 상기 알루미늄막에 비해 녹는점이 높아 전기이동도에 대한 큰 저항력을 가짐으로써, 반도체 소자의 신뢰성 향상이 기여하는 장점을 가진다. 뿐만 아니라, 상기 구리막이 형성된 기판은 비저항이 낮아 신호전달 속도가 증가되는 이점을 가진다. 그로 인해, 상기 기판상에 형성되는 금속막은 알루미늄막 대신에 구리막이 일반적으로 주로 채택된다. In general, in order to form a metal wiring on a silicon substrate constituting a semiconductor, a metal film is formed on the entire surface of the substrate to pattern the metal film. At this time, the metal film formed on the entire surface of the substrate is formed of aluminum or copper. Among these, the copper film has a melting point higher than that of the aluminum film and has a large resistance to electric mobility, thereby improving the reliability of the semiconductor device. In addition, the substrate on which the copper film is formed has an advantage of low signal resistance and an increase in signal transmission speed. Therefore, as for the metal film formed on the said board | substrate, a copper film is generally mainly adopted instead of an aluminum film.

현재, 상기 기판 상에 구리막을 형성하여 이를 패터닝하기 위한 방법으로는 물리기상증착 또는 화학기상증착이 주로 채용되나, 전기 이동도에 대한 내성이 우수하고 제조비용이 저렴한 이유로 인해 화학기상증착 즉, 전기도금이 선호된다. Currently, as a method for forming and patterning a copper film on the substrate, physical vapor deposition or chemical vapor deposition is mainly employed, but chemical vapor deposition, that is, electrical resistance due to its excellent resistance to electrical mobility and low manufacturing cost, Plating is preferred.

상기 기판에 대한 구리 전기도금의 원리는, 처리챔버의 전해액 상으로 양극의 구리판과 음극의 기판을 침지시킨 후 전류를 인가함으로써, 상기 구리판으로부터 구리이온이 분리되어 기판상에 구리막을 형성시킨다. The principle of copper electroplating for the substrate is that copper ions are separated from the copper plate by forming a copper film on the substrate by dipping the copper plate of the anode and the substrate of the cathode onto the electrolyte solution of the processing chamber.

한편, 상기와 같은 구리 전기도금의 원리에 의해 구리막이 형성된 기판은, 세정 및 에칭공정을 위해 세정챔버로 이동된다. 이렇게 처리챔버로부터 벗어나 세정챔버로 이동되는 기판은 대기 중에 노출된다. 그로 인해, 상기 구리막이 형성된 기판은 대기 중에서 산화됨으로써, 기판의 품질 저하가 야기된다. On the other hand, the substrate on which the copper film is formed by the principle of copper electroplating as described above is moved to the cleaning chamber for the cleaning and etching process. The substrate thus moved out of the processing chamber to the cleaning chamber is exposed to the atmosphere. Therefore, the board | substrate with which the said copper film was formed is oxidized in air | atmosphere, and the quality fall of a board | substrate is caused.

본 발명은 상기와 같은 문제점을 감안하여 안출된 것으로, 도금된 기판의 산화를 방지할 수 있는 기판도금장치 및 그 방법을 제공하기 위한 것이다. SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above problems, and an object thereof is to provide a substrate plating apparatus and method for preventing oxidation of a plated substrate.

본 발명의 다른 목적은 도금된 기판에 인접하여 산화방지막을 형성시킬 수 있는 기판도금장치 및 그 방법을 제공하기 위한 것이다. Another object of the present invention is to provide a substrate plating apparatus and method for forming an antioxidant film adjacent to a plated substrate.

본 발명의 또 다른 목적은 도금된 기판이 도금부로부터 인출되기 이전에 산화방지막을 형성시킬 수 있는 기판도금장치 및 그 방법을 제공하기 위한 것이다. Still another object of the present invention is to provide a substrate plating apparatus and method for forming an antioxidant film before the plated substrate is drawn out from the plating portion.

상기와 같은 목적을 달성하기 위한 기판도금장치는, 기판을 도금시키는 도금부, 상기 도금된 기판을 세정하는 세정부, 상기 기판을 지지 및 회전시키며, 상기 도금부와 세정부 사이에서 상기 기판을 이송시키는 지지부 및, 상기 도금된 기판이 상기 도금부로부터 벗어나기 이전에, 상기 기판에 산화방지막을 형성시키는 산화방지부를 포함한다. A substrate plating apparatus for achieving the above object, a plating portion for plating a substrate, a cleaning portion for cleaning the plated substrate, supporting and rotating the substrate, transfer the substrate between the plating portion and the cleaning portion And an oxidation preventing portion for forming an anti-oxidation film on the substrate before the plated substrate leaves the plating portion.

본 발명에 의하면, 상기 도금부는 상기 기판이 침지되는 전해액이 수용되는 도금챔버, 상기 도금챔버 내의 전해액에 침지되는 타켓부재 및, 상기 기판과 타켓부재로 각각 음극과 양극을 인가하는 전극인가부를 포함한다. According to the present invention, the plating part includes a plating chamber in which the electrolyte solution in which the substrate is immersed is received, a target member immersed in the electrolyte solution in the plating chamber, and an electrode applying part for applying a cathode and an anode to the substrate and the target member, respectively. .

본 발명에 의하면, 상기 산화방지부는, 상기 지지부에 설치되어 상기 기판의 도금면으로 산화방지액을 분사하는 분사노즐을 포함한다. 이러한 산화방지부는 상기 도금된 기판이 상기 도금챔버에 수용된 전해액으로부터 인상되자 마자, 상기 산 화방지액을 분사함으로써, 상기 기판의 대기 노출을 최소화한다. 또한, 상기 기판이 상기 지지부에 의해 회전될 때, 상기 분사노즐로부터 상기 산화방지액이 분사됨으로써, 최소량의 순수로 상기 기판에 산화방지막을 형성시킨다. 참고로, 상기 산화방지부가 분사하는 산화방지액은 순수(DI Water)를 포함한다. According to the present invention, the anti-oxidation part includes a spray nozzle which is provided on the support part and sprays the anti-oxidant liquid onto the plated surface of the substrate. The anti-oxidation portion minimizes the air exposure of the substrate by spraying the anti-oxidation liquid as soon as the plated substrate is pulled out of the electrolyte contained in the plating chamber. In addition, when the substrate is rotated by the support, the antioxidant solution is injected from the injection nozzle, thereby forming an antioxidant film on the substrate with a minimum amount of pure water. For reference, the antioxidant solution sprayed by the antioxidant part includes pure water (DI Water).

본 발명의 다른 측면에 의한 기판도금장치는, 양극이 인가되는 타켓부재와 음극이 인가되는 기판이 침지되는 전해액을 수용하는 도금챔버를 구비하여, 상기 기판 상에 금속막을 형성시키는 도금부, 상기 금속막이 형성된 기판을 세정하는 세정부, 상기 기판을 지지 및 회전시키며, 상기 도금부와 세정부 사이로 상기 기판을 이송시키는 지지부 및, 상기 금속막이 형성된 기판이 상기 전해액으로부터 인상되면, 상기 기판의 금속막으로 순수(DI Water)를 분사하는 분사노즐를 포함한다. According to another aspect of the present invention, there is provided a substrate plating apparatus including a plating chamber configured to include a target member to which an anode is applied and an electrolyte solution in which a substrate to which a cathode is applied is immersed, thereby forming a metal film on the substrate. A cleaning part for cleaning the substrate on which the film is formed, a supporting part for supporting and rotating the substrate, and transferring the substrate between the plating part and the cleaning part, and a substrate on which the metal film is formed is pulled out of the electrolyte solution, And a spray nozzle for spraying DI water.

본 발명의 목적을 달성하기 위한 기판도금방법은, 기판에 금속막을 형성시키는 단계, 상기 기판의 금속막에 산화방지막을 형성시키는 단계 및, 상기 기판을 세정시키는 단계를 포함한다. 보다 구체적으로, 상기 금속막 형성단계는 양극이 인가되는 타켓부재가 침지된 전해액을 수용하는 도금챔버의 내부에서 이루어지며, 상기 산화방지막 형성단계는 상기 기판이 상기 도금챔버를 벗어나기 이전에 이루어진다. A substrate plating method for achieving the object of the present invention includes the steps of forming a metal film on the substrate, forming an antioxidant film on the metal film of the substrate, and cleaning the substrate. More specifically, the metal film forming step is performed in the plating chamber containing the electrolyte in which the target member to which the anode is applied is immersed, and the antioxidant film forming step is performed before the substrate leaves the plating chamber.

상기와 같은 구성을 가지는 본 발명에 의하면, 첫째, 도금된 기판에 산화방지막을 형성시킴으로써, 도금된 기판이 대기 중에 노출되어도 산화가 발생되지 않는다. 그로 인해, 제조되는 기판의 품질이 향상된다. According to the present invention having the above configuration, first, by forming an antioxidant film on the plated substrate, even if the plated substrate is exposed to the atmosphere does not occur oxidation. Thereby, the quality of the board | substrate manufactured is improved.

둘째, 산화방지부가 기판을 지지하여 이송시키는 지지부에 설치됨으로써, 기 판에 인접하여 산화방지부가 산화방지액을 분사할 수 있게 된다. 그로 인해, 최소량의 산화방지액으로 기판의 표면에 산화방지막을 형성시킬 수 있어, 전해액의 농도를 저하시키지 않는다. Second, the anti-oxidation unit is installed in the support portion for supporting and transporting the substrate, the anti-oxidation portion can be injected to the substrate adjacent to the substrate. Therefore, an antioxidant film can be formed in the surface of a board | substrate with a minimum amount of antioxidant liquid, and it does not reduce the density | concentration of electrolyte solution.

셋째, 전해액에 침지되어 도금된 기판이 전해액으로부터 인상되자 마자 순수를 분사하여 산화방지막을 형성시킴으로써, 기판이 도금챔버로부터 인출되기 이전에 기판의 표면을 처리할 수 있게 된다. 그로 인해, 도금된 기판의 대기 노출을 최소화할 수 있을 뿐만 아니라, 기판이 세정부로 이송되어도 기판의 표면에서의 산화발생이 방지된다. Third, as soon as the substrate immersed in the electrolyte and plated is pulled out of the electrolyte, pure water is sprayed to form an antioxidant film, thereby treating the surface of the substrate before the substrate is withdrawn from the plating chamber. This not only minimizes the atmospheric exposure of the plated substrate, but also prevents oxidation on the surface of the substrate even when the substrate is transferred to the cleaning portion.

이하, 본 발명의 바람직한 일 실시예를 첨부된 도면을 참고하여 설명한다. Hereinafter, a preferred embodiment of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.

도 1을 참고하면, 본 발명에 의한 기판도금장치(1)는 보관부(10), 이송로봇(20), 도금부(30), 세정부(40), 지지부(50) 및 산화방지부(60)를 포함한다. Referring to FIG. 1, the substrate plating apparatus 1 according to the present invention includes a storage unit 10, a transfer robot 20, a plating unit 30, a cleaning unit 40, a support unit 50, and an anti-oxidation unit ( 60).

상기 보관부(10)는 도금될 기판(W)을 보관하는 곳으로서, 복수개의 기판(W)을 수용하여 낱장의 기판(W)을 후술할 도금부(30)로 공급한다. The storage unit 10 is a place for storing the substrate (W) to be plated, and receives a plurality of substrates (W) to supply a single substrate (W) to the plating unit 30 to be described later.

상기 이송로봇(20)은 상기 보관부(10)와 상기 도금부(30) 사이에서 상기 기판(W)을 낱장으로 이송시킨다. 즉, 상기 이송로봇(20)은 상기 보관부(10)에 보관된 기판(W)을 낱장으로 픽업하여 상기 도금부(30) 측으로 이송시킨다. The transfer robot 20 transfers the substrate W in a sheet between the storage part 10 and the plating part 30. That is, the transfer robot 20 picks up the substrate W stored in the storage unit 10 in a sheet and transfers it to the plating unit 30.

상기와 같은 보관부(10) 및 이송로봇(20)의 기술구성은 공지의 기술로부터 이해 가능하므로, 자세한 설명 및 도시를 생략한다. Since the technical configuration of the storage unit 10 and the transfer robot 20 as described above can be understood from a known technique, detailed description and illustration are omitted.

참고로, 본 발명에서 설명하는 기판(W)은 반도체 기판이 되는 실리콘 웨이퍼 로 예시하나, 꼭 이를 한정하는 것은 아니다. 즉, 상기 기판(W)은 LCD(Liquid Crystal Display) 또는 PDP(Plasma Display Panel)와 같은 평판 디스플레이 장치용 유리기판이 채용될 수 있음은 당연하다. For reference, the substrate W described in the present invention is exemplified as a silicon wafer to be a semiconductor substrate, but is not limited thereto. That is, the substrate W may be a glass substrate for a flat panel display device such as a liquid crystal display (LCD) or a plasma display panel (PDP).

상기 도금부(30)는 도 2의 도시와 같이, 상기 이송로봇(20)에 의해 낱장으로 공급되는 기판(W)에 금속막(M)을 도금시킨다. 이러한 도금부(30)는 도금챔버(31), 타켓부재(32), 전류인가부(33) 등을 포함한다. As shown in FIG. 2, the plating part 30 plate the metal film M on the substrate W, which is supplied to the sheet by the transfer robot 20. The plating unit 30 includes a plating chamber 31, a target member 32, a current applying unit 33, and the like.

상기 도금챔버(31)는 전해액(S)이 수용되며, 기판(W)이 선택적으로 침지된다. 이러한 도금챔버(31)는 상기 기판(W)의 출입을 위해 상부가 개방된 원통의 욕조(bath) 형상을 가진다. 그러나, 꼭 이를 한정하는 것은 아니며, 상기 도금챔버(31)의 상부가 커버에 의해 선택적으로 개방되거나 일측면이 개방되는 것과 같이, 기판(W)이 침지될 수 있는 용량의 전해액(S)을 수용함과 아울러, 기판(W)이 선택적으로 출입될 수 있는 다양한 형상 중 어느 하나가 채용될 수 있음은 당연하다. The plating chamber 31 is accommodated with the electrolyte (S), the substrate (W) is selectively immersed. The plating chamber 31 has a cylindrical bath shape in which an upper portion of the plating chamber 31 is opened for access of the substrate W. As shown in FIG. However, the present invention is not necessarily limited thereto, and thus, the upper portion of the plating chamber 31 may be selectively opened by a cover or one side may be opened to accommodate the electrolyte S having a capacity in which the substrate W may be immersed. In addition, it is obvious that any one of various shapes in which the substrate W may be selectively moved in and out may be employed.

상기 타켓부재(32)는 상기 전해액(S)에 침지되며, 상기 기판(W)에 금속막을 형성시키는 금속이온을 함유한다. 본 실시예에서는 상기 타켓부재(32)가 구리 플레이트인 것으로 예시한다. 그로 인해, 상기 전해액(S)은 상기 타켓부재(32)로부터 분리된 구리이온을 상기 기판(W)으로 전달하는 이온전달매체로써, 황산구리액인 것으로 예시한다. The target member 32 is immersed in the electrolyte (S), and contains metal ions for forming a metal film on the substrate (W). In this embodiment, the target member 32 is illustrated as being a copper plate. Therefore, the electrolyte (S) is an ion transfer medium for transferring the copper ions separated from the target member 32 to the substrate (W), exemplified as a copper sulfate solution.

상기 전류인가부(33)는 상기 전해액(S)에 침지되는 타켓부재(32)와 기판(W)에 각각 양극과 음극을 인가하는 것으로써, 양극인가체(34)와 음극인가체(35)를 포함한다. 상기 양극인가체(34)는 상기 타켓부재(32)와 접촉되어 이를 양극화시키며, 상기 음극인가체(35)는 상기 기판(W)과의 접촉에 의해 기판(W)을 음극화시킨다. The current applying unit 33 applies a positive electrode and a negative electrode to the target member 32 and the substrate W, which are immersed in the electrolyte S, respectively, so that the positive electrode applying body 34 and the negative electrode applying body 35 are applied. It includes. The anode applying body 34 contacts the target member 32 to anodize it, and the cathode applying body 35 cathodes the substrate W by contact with the substrate W. As shown in FIG.

이러한 구성을 가지는 전류인가부(33)에 의해 타켓부재(32)와 기판(W)에 각각 양극과 음극이 인가되면, 상기 타켓부재(32)의 환원반응에 의해 발생된 구리이온이 전해액(S)을 거쳐 기판(W)으로 전달되어 산화반응에 의해 금속막(M)을 형성시키게 된다. When the positive electrode and the negative electrode are applied to the target member 32 and the substrate W by the current applying unit 33 having the above configuration, the copper ions generated by the reduction reaction of the target member 32 are electrolytic solution S It is transferred to the substrate (W) to form a metal film (M) by the oxidation reaction.

한편, 상기 타켓부재(32)로부터 발생된 금속이온 즉, 구리이온의 전달을 보다 효율적으로 구현하기 위해, 상기 타켓부재(32)와 기판(W) 사이에는 도금조(36), 제 1 및 제 2 필터(37)(39)가 설치된다. On the other hand, the plating bath 36, the first and the first between the target member 32 and the substrate (W) in order to more efficiently implement the transfer of metal ions, that is, copper ions generated from the target member 32 2 filters 37 and 39 are provided.

상기 도금조(36)는 상기 타켓부재(32)의 에지부를 지지하며 그 상부가 기판(W)을 향해 개방된다. 그로 인해, 상기 기판(W)와 타켓부재(32)는 상호 대면하게 된다. The plating bath 36 supports the edge portion of the target member 32 and the upper portion thereof is opened toward the substrate W. Therefore, the substrate W and the target member 32 face each other.

상기 제 1 및 제 2 필터(37)(39)는 상기 타켓부재(32)로부터 발생된 구리이온을 순차적으로 필터링한 후 상기 기판(W) 상으로 골고루 공급시킨다. 이를 위해, 상기 제 1 필터(37)는 깔때기와 같은 형상을 가지고 필터축(38)을 중심으로 회전함으로써, 상기 전해액(S) 상의 구리이온를 필터링함과 동시에 농도를 균일하게 한다. 아울러, 상기 제 2 필터(39)는 상기 기판(W)의 도금면과 마주하도록 설치되어, 상기 1차 필터링된 구리이온을 상기 기판(W) 상으로 골고루 분배시킨다. 그로 인해, 상기 기판(W)에 형성되는 금속막(M)의 두께가 균일해진다. The first and second filters 37 and 39 sequentially filter copper ions generated from the target member 32 and then uniformly supply the same to the substrate W. To this end, the first filter 37 has a shape such as a funnel and rotates about the filter shaft 38, thereby filtering copper ions on the electrolyte S and making the concentration uniform. In addition, the second filter 39 is installed to face the plating surface of the substrate W, and evenly distributes the first filtered copper ions onto the substrate W. Therefore, the thickness of the metal film M formed in the said board | substrate W becomes uniform.

상기 세정부(40)는 상기 도금부(30)로부터 인출된 기판(W)을 세정시킨다. 즉, 상기 세정부(40)는 상기 금속막(M)이 형성된 기판(W)을 세정한다. 보다 구체적 으로, 상기 세정부(40)는 상기 기판(W)을 세정한 후 건조시키는 SRD(Spin-Rinse-Dry)공정 및, 상기 기판(W)의 에지부에 형성된 구리막을 제거하는 EBR(Edge Bead Removal)공정을 수행한다. 이를 위해, 상기 세정부(40)는 상기 기판(W) 상으로 세정제와 에칭제를 공급하는 별도의 노즐을 구비하나, 이러한 세정부(40)의 기술구성은 공지의 기술로부터 이해 가능하므로, 자세한 설명 및 도시를 생략한다. 참고로, 상기 세정부(40)에서 분사되는 세정제는 순수(DI Water)를 포함한다. The cleaning part 40 cleans the substrate W drawn from the plating part 30. That is, the cleaning part 40 cleans the substrate W on which the metal film M is formed. More specifically, the cleaning unit 40 cleans the substrate (W) and then dryes a spin-rinse-dry (SRD) process, and removes a copper film formed at an edge of the substrate (W). Bead Removal process is performed. To this end, the cleaning unit 40 is provided with a separate nozzle for supplying the cleaning agent and the etching agent on the substrate (W), but the technical configuration of the cleaning unit 40 can be understood from the known technology, Description and illustration are omitted. For reference, the cleaning agent sprayed from the cleaning unit 40 includes pure water (DI Water).

상기 지지부(50)는 상기 도금부(30)와 세정부(40) 사이로 상기 기판(W)을 이송시키며, 상기 도금부(30)와 세정부(40)에 의한 도금 및 세정공정시 기판(W)을 지지한다. 보다 구체적으로, 상기 지지부(50)는 상기 기판(W)을 지지하는 척(51)과 이 척(51)과 연결되는 축(52)을 포함하여, 상기 기판(W)을 승하강 또는 회전 구동시킴과 아울러, 도금부(30)와 세정부(40)의 내외로 이송시킨다. The support part 50 transfers the substrate W between the plating part 30 and the cleaning part 40, and the substrate W during the plating and cleaning process by the plating part 30 and the cleaning part 40. ). More specifically, the support part 50 includes a chuck 51 supporting the substrate W and a shaft 52 connected to the chuck 51 to drive the substrate W up or down. In addition, the plated portion 30 and the cleaning portion 40 is transferred into and out.

참고로, 상기 지지부(50)는 상기 기판(W)을 도금부(30) 및 세정부(40) 내외로 출입시키기 위해 기판(W)을 승하강시키며, 상기 기판(W)의 도금공정 및 세정공정 시에는 기판(W)을 회전시킨다. For reference, the support part 50 raises and lowers the substrate W in order to enter and exit the substrate W into and out of the plating part 30 and the cleaning part 40, and the plating process and cleaning of the substrate W are performed. In the process, the substrate W is rotated.

상기 산화방지부(60)는 도 3의 도시와 같이, 상기 도금부(30)에서 도금된 기판(W)의 금속막(M)에 산화방지막을 형성시킨다. 여기서, 상기 산화방지부(60)는 순수(DI Water)를 기판(W)으로 분사하는 분사노즐로 구성되며, 이러한 산화방지부(60)는 상기 기판(W)의 에지부와 마주하도록 한 쌍으로 마련된다. 한편, 상기 산화방지부(60)는 순수공급부(61)와 연결되어 순수를 공급받는다. As shown in FIG. 3, the antioxidant part 60 forms an antioxidant film on the metal film M of the substrate W plated by the plating part 30. Here, the anti-oxidation unit 60 is composed of a spray nozzle for spraying DI water to the substrate (W), the anti-oxidation unit 60 is a pair to face the edge of the substrate (W) Is prepared. On the other hand, the oxidation prevention unit 60 is connected to the pure water supply unit 61 receives the pure water.

상기와 같은 산화방지부(60)는 상기 금속막(M)이 형성된 기판(W)이 전해 액(S)으로부터 인상되어 상기 도금챔버(31)로부터 인출되기 이전에, 상기 순수를 기판(W) 상으로 분사한다. 그로 인해, 상기 산화방지부(60)는 기판(W)이 세정부(40)로 이송되는 도중에 발생되었던 금속막(M)의 대기 노출에 의한 산화현상을 방지한다. As described above, the anti-oxidation part 60 includes the pure water before the substrate W on which the metal film M is formed is pulled out of the electrolyte S and drawn out from the plating chamber 31. Spray onto the bed. Therefore, the anti-oxidation part 60 prevents the oxidation phenomenon due to the air exposure of the metal film M generated during the transfer of the substrate W to the cleaning part 40.

이러한 산화방지부(60)는 상기 금속막(M)의 에지부와 인접하도록 상기 지지부(50)에 설치된다. 이때, 상기 지지부(50)는 상기 기판(W)을 회전시키며, 이렇게 회전되는 기판(W) 상으로 적은 양의 순수가 산화방지부(60)를 통해 분사된다. 그로 인해, 상기 기판(W) 상으로 적은 양의 순수가 분사되어도, 상기 기판(W)의 원심력에 의해 금속막(M)을 덮을 수 있는 산화방지막이 형성된다. The anti-oxidation part 60 is installed on the support part 50 so as to be adjacent to the edge part of the metal film M. At this time, the support part 50 rotates the substrate W, and a small amount of pure water is injected through the anti-oxidation part 60 onto the substrate W thus rotated. Therefore, even if a small amount of pure water is injected onto the substrate W, an anti-oxidation film that can cover the metal film M by the centrifugal force of the substrate W is formed.

참고로, 상기 산화방지부(60)를 통해 분사되는 순수 중 산화방지막을 형성하지 못한 나머지는 상기 전해액(S)으로 낙하되어 전해액(S)에 희석된다. 그러나, 상기 전해액(S)에 희석되는 순수의 양이 매우 미비하며 도금챔버(31)로 전해액(S)이 지속적으로 공급되므로, 전해액(S)의 농도는 일정하게 유지된다. For reference, the rest of the pure water sprayed through the anti-oxidation unit 60 may not be formed and fall into the electrolyte (S) to be diluted in the electrolyte (S). However, since the amount of pure water diluted in the electrolyte S is very small and the electrolyte S is continuously supplied to the plating chamber 31, the concentration of the electrolyte S is kept constant.

상기와 같은 구성을 가지는 본 발명에 의한 기판도금장치(1)의 동작을 도 1 내지 도 4를 참고하여 설명한다. An operation of the substrate plating apparatus 1 according to the present invention having the above configuration will be described with reference to FIGS. 1 to 4.

우선, 도 4의 도시와 같이, 상기 기판(W)에 도금부(30)에서 금속막(M)이 형성된다(S10). 여기서, 상기 기판(W)은 상기 보관부(10)로부터 이송로봇(20)에 의해 낱장 인출되어 도금부(30)로 이송되며, 이렇게 이송된 기판(W)은 지지부(50)에 의해 지지된 상태로 도금챔버(31)의 내부로 삽입된다. First, as shown in FIG. 4, a metal film M is formed in the plating part 30 on the substrate W (S10). Here, the substrate W is pulled out by the transfer robot 20 from the storage unit 10 and transferred to the plating unit 30, and the substrate W thus transported is supported by the support unit 50. It is inserted into the plating chamber 31 in the state.

상기 도금챔버(31)에 삽입된 기판(W)은 도 2의 도시와 같이, 전해액(S)에 침 지되어 양극이 인가되는 타켓부재(32)로부터 분리된 금속이온 즉, 구리이온에 의해 도금된다. 이때, 상기 기판(W)은 음극인가체(35)와 접촉되어 음극화된 상태이다. As illustrated in FIG. 2, the substrate W inserted into the plating chamber 31 is plated by a metal ion, ie, copper ion, immersed in the electrolyte S and separated from the target member 32 to which the anode is applied. do. At this time, the substrate W is in contact with the negative electrode applying body 35 and is in a negative state.

이렇게 금속막(M)이 기판(W)상에 형성되면(S10), 도 3의 도시와 같이, 상기 기판(W)은 전해액(S)으로부터 인상된다. 그러면, 상기 산화방지부(60)가 상기 기판(W)의 에지부에 소정량의 순수를 분사하며, 이 분사된 순수는 회전하는 기판(W)의 원심력에 의해 기판(W)의 표면으로 퍼져 산화방지막을 형성한다(S20). When the metal film M is thus formed on the substrate W (S10), as shown in FIG. 3, the substrate W is pulled out of the electrolyte S. As shown in FIG. Then, the anti-oxidation unit 60 sprays a predetermined amount of pure water on the edge portion of the substrate W, and the sprayed pure water is spread to the surface of the substrate W by the centrifugal force of the rotating substrate W. An antioxidant film is formed (S20).

이렇게, 상기 금속막(M)이 형성된 기판(W)상에 산화방지막까지 형성되면(S20), 상기 기판(W)은 도금챔버(31)로부터 인출되어 세정부(40)에서 세정된다(S30). 이때, 상기 세정부(40)로 상기 기판(W)이 이송되기 위해 대기중에 노출되어도, 상기 금속막(M)이 산화방지막에 의해 보호되는 상태이므로, 상기 금속막(M)이 산화되지 않는다. When the anti-oxidation film is formed on the substrate W on which the metal film M is formed (S20), the substrate W is withdrawn from the plating chamber 31 and cleaned by the cleaning unit 40 (S30). . In this case, even when the substrate W is exposed to the air to be transferred to the cleaning part 40, the metal film M is protected by the anti-oxidation film, and thus the metal film M is not oxidized.

상술한 바와 같이, 본 발명의 바람직한 실시예를 참조하여 설명하였지만 해당 기술분야의 숙련된 당업자라면 하기의 청구범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.As described above, although described with reference to a preferred embodiment of the present invention, those skilled in the art will be variously modified and changed without departing from the spirit and scope of the invention described in the claims below I can understand that you can.

도 1은 본 발명의 바람직한 일 실시예에 의한 기판도금장치를 개략적으로 도시한 구성도, 1 is a configuration diagram schematically showing a substrate plating apparatus according to an embodiment of the present invention,

도 2는 도 1에 도시된 도금부에서의 기판도금공정을 개략적으로 도시한 단면도, FIG. 2 is a cross-sectional view schematically illustrating a substrate plating process in the plating unit illustrated in FIG. 1;

도 3은 도금된 기판에 산화방지막을 형성시키는 공정을 개략적으로 도시한 단면도, 그리고, 3 is a cross-sectional view schematically showing a process of forming an antioxidant film on a plated substrate, and

도 4는 본 발명에 의한 기판도금방법을 개략적으로 도시한 플로우챠트이다. 4 is a flowchart schematically showing a substrate plating method according to the present invention.

<도면의 주요 부분에 대한 부호 설명><Description of the symbols for the main parts of the drawings>

1: 기판도금장치 10: 보관부1: Substrate Plating Device 10: Storage

20: 이송로봇 30: 도금부20: transfer robot 30: plating part

31: 도금챔버 40: 세정부31: plating chamber 40: cleaning part

50: 지지부 60: 산화방지부50: support 60: antioxidant

Claims (10)

기판을 도금시키는 도금부; A plating unit for plating a substrate; 상기 도금된 기판을 세정하는 세정부;A cleaning unit for cleaning the plated substrate; 상기 기판을 지지 및 회전시키며, 상기 도금부와 세정부 사이에서 상기 기판을 이송시키는 지지부; 및A support part for supporting and rotating the substrate and transferring the substrate between the plating part and the cleaning part; And 상기 도금된 기판이 상기 도금부로부터 벗어나기 이전에, 상기 기판에 산화방지막을 형성시키는 산화방지부; An anti-oxidation unit forming an anti-oxidation film on the substrate before the plated substrate leaves the plating unit; 를 포함하는 기판도금장치. Substrate plating apparatus comprising a. 제 1 항에 있어서, The method of claim 1, 상기 산화방지부는,The antioxidant part, 상기 지지부에 설치되어, 상기 기판의 도금면으로 산화방지액을 분사하는 분사노즐을 포함하는 것을 특징으로 하는 기판도금장치. And a spray nozzle which is provided in the support part and sprays an antioxidant solution to the plating surface of the substrate. 제 2 항에 있어서, The method of claim 2, 상기 도금부는, The plating part, 상기 기판이 침지되는 전해액이 수용되는 도금챔버; A plating chamber in which an electrolyte solution in which the substrate is immersed is accommodated; 상기 도금챔버 내의 전해액에 침지되는 타켓부재; 및A target member immersed in the electrolyte in the plating chamber; And 상기 기판과 타켓부재로 각각 음극과 양극을 인가하는 전극인가부;An electrode applying unit for applying a cathode and an anode to the substrate and the target member, respectively; 를 포함하는 것을 특징으로 하는 기판도금장치. Substrate plating apparatus comprising a. 제 3 항에 있어서, The method of claim 3, wherein 상기 산화방지부는, The antioxidant part, 상기 도금된 기판이 상기 전해액으로부터 인상되자 마자, 상기 산화방지액을 분사하는 것을 특징으로 하는 기판도금장치. And as soon as the plated substrate is pulled out of the electrolyte, spraying the antioxidant solution. 제 4 항에 있어서, The method of claim 4, wherein 상기 기판이 상기 지지부에 의해 회전될 때, 상기 분사노즐로부터 상기 산화방지액을 공급받는 것을 특징으로 하는 기판도금장치. And the antioxidant solution is supplied from the injection nozzle when the substrate is rotated by the support part. 제 1 항 내지 제 5 항 중 어느 한 항에 있어서, 6. The method according to any one of claims 1 to 5, 상기 산화방지부는 순수(DI Water)를 상기 기판의 금속막으로 분사하는 것을 특징으로 하는 기판도금장치. And the anti-oxidation unit sprays DI water onto the metal film of the substrate. 양극이 인가되는 타켓부재와 음극이 인가되는 기판이 침지되는 전해액을 수용하는 도금챔버를 구비하여, 상기 기판 상에 금속막을 형성시키는 도금부;A plating unit including a target member to which an anode is applied and a plating chamber to receive an electrolyte solution in which a substrate to which the cathode is applied is immersed, thereby forming a metal film on the substrate; 상기 금속막이 형성된 기판을 세정하는 세정부; A cleaning unit for cleaning the substrate on which the metal film is formed; 상기 기판을 지지 및 회전시키며, 상기 도금부와 세정부 사이로 상기 기판을 이송시키는 지지부; 및A support part for supporting and rotating the substrate and transferring the substrate between the plating part and the cleaning part; And 상기 금속막이 형성된 기판이 상기 전해액으로부터 인상되면, 상기 기판의 금속막으로 순수(DI Water)를 분사하는 분사노즐; A spray nozzle for spraying DI water onto the metal film of the substrate when the substrate on which the metal film is formed is pulled out of the electrolyte solution; 을 포함하는 기판도금장치. Substrate plating apparatus comprising a. 제 7 항에 있어서, The method of claim 7, wherein 상기 분사노즐은 상기 지지부에 설치되어, 상기 기판의 회전시 상기 금속막의 에지부 인근에 상기 순수를 분사하는 것을 특징으로 하는 기판도금장치. The spray nozzle is installed on the support portion, the substrate plating apparatus, characterized in that for spraying the pure water near the edge portion of the metal film during the rotation of the substrate. 기판에 금속막을 형성시키는 단계; Forming a metal film on the substrate; 상기 기판의 금속막에 산화방지막을 형성시키는 단계; 및Forming an anti-oxidation film on the metal film of the substrate; And 상기 기판을 세정시키는 단계; Cleaning the substrate; 를 포함하는 기판도금방법. Substrate plating method comprising a. 제 9 항에 있어서, The method of claim 9, 상기 금속막 형성단계는 양극이 인가되는 타켓부재가 침지된 전해액을 수용하는 도금챔버의 내부에서 이루어지며, The metal film forming step is made in the plating chamber for receiving the electrolyte immersed in the target member to which the anode is applied, 상기 산화방지막 형성단계는 상기 기판이 상기 도금챔버를 벗어나기 이전에 이루어지는 것을 특징으로 하는 기판도금방법. The anti-oxidation film forming step is performed before the substrate leaves the plating chamber.
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