KR20100063210A - 플라즈마 디스플레이 패널 격벽 수정용 조성물 - Google Patents

플라즈마 디스플레이 패널 격벽 수정용 조성물 Download PDF

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KR20100063210A
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Abstract

본 발명은 유기물을 포함하는 플라즈마 디스플레이 패널 격벽 수정용 조성물에 있어서, 상기 유기물은 우레탄 아크릴레이트를 포함하는 플라즈마 디스플레이 패널 격벽 수정용 조성물을 제공한다.
격벽, 수정용 조성물

Description

플라즈마 디스플레이 패널 격벽 수정용 조성물{Composition For Repairing Barrier Rib Of Plasma Display Panel}
본 발명은 플라즈마 디스플레이 패널에 관한 것으로, 보다 자세하게는 플라즈마 디스플레이 패널 격벽 수정용 조성물에 관한 것이다.
일반적으로 플라즈마 디스플레이 패널(Plasma Display Panel)은 전면 기판과 후면 기판 사이에 형성된 격벽(Barrier Rib)이 하나의 단위 셀을 이루는 것으로, 각 셀 내에는 네온(Ne), 헬륨(He) 또는 네온 및 헬륨의 혼합기체(Ne+He)와 같은 주방전 기체와 소량의 크세논(Xe)을 함유하는 불활성 가스가 충진되어 있다.
따라서, 고주파 전압에 의해 방전이 될 때, 불활성 가스는 진공자외선(Vacuum Ultraviolet rays)을 발생하고 격벽 사이에 형성된 형광체를 발광시켜 화상이 구현된다. 이와 같은 플라즈마 디스플레이 패널은 박막화와 대형화가 용이할 뿐만 아니라 최근의 기술 개발에 힘입어 크게 향상된 화질을 제공하여 차세대 표시장치로서 각광받고 있다.
이 중, 격벽은 기판 상에 격벽을 형성하는 공정에서 외부 충격 또는 소성 중에 격벽의 일부가 파손되는 경우가 발생한다. 이 때, 일반적으로 격벽의 파손부위에 격벽 조성물을 도포하여 격벽을 형성하고 있다.
그러나, 격벽의 파손부위에 수정된 격벽의 경우 그 강도가 약하기 때문에 다시 파손되는 문제점이 있다.
따라서, 본 발명은 강도가 향상된 플라즈마 디스플레이 패널 격벽 수정용 조성물을 제공한다.
상기한 목적을 달성하기 위해, 본 발명의 일 실시 예에 따른 플라즈마 디스플레이 패널 격벽 수정용 조성물은 유기물을 포함하는 플라즈마 디스플레이 패널 격벽 수정용 조성물에 있어서, 상기 유기물은 우레탄 아크릴레이트를 포함할 수 있다.
상기 우레탄 아크릴레이트는 전체 조성물 100 중량부에 대해 0 초과 2.5 중량부 이하로 포함될 수 있다.
상기 우레탄 아크릴레이트는 열 경화제일 수 있다.
상기 조성물은 글라스 프릿, 필러, 바인더 및 용제를 포함할 수 있다.
상기 글라스 프릿은 산화붕소(B2O3), 산화아연(ZnO), 산화바륨(BaO), 산화인(P2O5), 산화나트륨(Na2O) 및 산화규소(SiO2)로 이루어진 군에서 선택된 어느 하나 이상을 포함할 수 있다.
상기 글라스 프릿은 글라스 프릿 100 중량부에 대해 각각 32 내지 39 중량부의 산화붕소(B2O3), 35 내지 45 중량부의 산화아연(ZnO), 2 내지 8 중량부의 산화바 륨(BaO), 1 내지 8 중량부의 산화인(P2O5), 3 내지 10 중량부의 산화나트륨(Na2O) 및 1 내지 7 중량부의 산화규소(SiO2)를 포함할 수 있다.
상기 글라스 프릿은 상기 조성물 100 중량부에 대해 35 내지 45 중량부로 포함될 수 있다.
상기 필러는 산화알루미늄(Al2O3), 산화티타늄(TiO2), 산화크롬(CrO), 산화구리(CuO)로 이루어진 군에서 선택된 어느 하나 이상을 포함할 수 있다.
상기 용제는 메틸에틸케톤, 에탄올, 크실렌, 텍사놀, 테르피네올, 부틸셀로솔브, 톨루엔, 프로필렌글리콜모노메틸에테르, 이소프로필알코올, 아세톤, 트리클로로에탄, 부탄올, 메틸이소부틸케톤, 부틸아세테이트, 시클로헥사논 및 물로 이루어진 군에서 선택된 어느 하나 이상을 포함할 수 있다.
따라서, 본 발명의 플라즈마 디스플레이 패널 격벽 수정용 조성물은 파손부위가 수정된 격벽의 강도를 향상시켜 신뢰성이 우수한 플라즈마 디스플레이 패널을 제공할 수 있는 이점이 있다.
이하, 첨부한 도면들을 참조하여 본 발명의 실시 예들을 상세하게 설명하도록 한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 플라즈마 디스플레이 패널을 설명하기 위한 도면이다.
도 1을 살펴보면, 본 발명의 일 실시예에 따른 플라즈마 디스플레이 패널은 전면 기판(101)에 스캔 전극(102)과 서스테인 전극(103)이 형성된 전면 패널(100)과, 배면을 이루는 후면 기판(111) 상에 전술한 스캔 전극(102) 및 서스테인 전극(103)과 교차 되도록 복수의 어드레스 전극(113)이 배열된 후면 패널(110)이 일정거리를 사이에 두고 나란하게 위치한다.
상기 전면 패널(100)은 방전 공간, 즉 방전 셀(Cell)에서 방전과 방전 셀의 발광을 유지하기 위한 스캔 전극(102) 및 서스테인 전극(103)이 위치한다. 보다 자세하게는 투명한 ITO 물질로 형성된 투명 전극(102a)과 불투명 금속재질로 제작된 버스 전극(102b)을 포함하는 스캔 전극(102) 및 서스테인 전극(103)이 쌍을 이뤄 포함된다. 상기 스캔 전극(102) 및 서스테인 전극(103)은 방전 전류를 제한하며 전극 쌍 간을 절연시켜주는 하나 이상의 상부 유전체 층(104)에 의해 덮혀진다. 상기 상부 유전체 층(104) 상에는 방전 조건을 용이하게 하기 위하여 산화마그네슘(MgO)을 증착한 보호 층(105)이 위치한다.
상기 후면 패널(110)은 복수 개의 방전 공간 즉, 방전 셀을 구획하기 위한 웰 타입(Well Type) 또는 스트라이프 타입의 오픈형의 폐쇄형 격벽(112)을 포함한다. 또한, 데이터 펄스를 공급하기 위한 다수의 어드레스 전극(113)이 위치한다.
이러한, 격벽(112)에 의해 구획된 복수의 방전 셀 내에는 어드레스 방전 시 화상표시를 위한 가시 광을 방출하는 형광체 층(114), 바람직하게는 적색(Red : R), 녹색(Green : G), 청색(Blue : B) 형광체 층이 위치한다.
그리고, 어드레스 전극(113)과 형광체 층(114) 사이에는 하부 유전체 층(115)이 위치한다.
여기서, 상부 유전체 층(104)과 하부 유전체 층(115)이 각 전면 기판(101)과 후면 기판(111) 상에 형성되는 것은 한정되지 않으며, 이와는 반대로 전면 기판(101)과 후면 기판(110) 상에 하부 유전체 층(115)과 상부 유전체 층(104)이 형성되는 것도 가능하다.
도 1에서는 플라즈마 디스플레이 패널의 일례만을 도시하고 설명한 것으로써, 본 발명이 도 1의 구조의 플라즈마 디스플레이 패널에 한정되는 것은 아니다. 예를 들면, 도 1의 플라즈마 디스플레이 패널에는 스캔 전극(102), 서스테인 전극(103), 어드레스 전극(113)이 형성된 것을 도시하고 있지만, 본 발명의 플라즈마 디스플레이 패널에서는 스캔 전극(102), 서스테인 전극(103) 또는 어드레스 전극(113) 중 하나 이상이 생략될 수도 있다.
또한, 도 1에서는 방전 셀을 구획하기 위한 격벽(112)이 후면 기판(111) 상에 형성된 경우만을 도시하고 있지만, 이와는 다르게 격벽(112)이 전면 기판(101) 상에 형성되는 것도 가능하며, 전면 기판(101)과 후면 기판(112)에 각각 형성될 수 있다.
이하, 본 발명의 일 실시 예에 따른 플라즈마 디스플레이 패널 격벽 수정용 조성물에 대해 설명한다.
본 발명의 일 실시 예에 따른 플라즈마 디스플레이 패널 격벽 수정용 조성물은 글라스 프릿, 필러, 바인더, 용제 및 우레탄 아크릴레이트를 포함할 수 있다.
본 발명의 일 실시 예에 따른 플라즈마 디스플레이 패널 유전체용 조성물은 글라스 프릿을 포함하며, 상기 글라스 프릿은 무연(Non-Pb) 글라스 프릿일 수 있다.
상기 무연 글라스 프릿은 글라스 프릿 100 중량부에 대해 각각 32 내지 39 중량부의 산화붕소(B2O3), 35 내지 45 중량부의 산화아연(ZnO), 2 내지 8 중량부의 산화바륨(BaO), 1 내지 8 중량부의 산화인(P2O5), 3 내지 10 중량부의 산화나트륨(Na2O) 및 1 내지 7 중량부의 산화규소(SiO2)로 이루어진 군에서 선택된 어느 하나 이상을 포함할 수 있으며, 0 초과 1 중량부 이하의 산화세륨(CeO2) 또는 0 초과 1 중량부 이하의 산화구리(CuO)를 더 포함할 수 있다.
상기 격벽 수정용 조성물은 글라스 프릿 100 중량부에 대해 32 내지 39 중량부의 산화붕소(B2O3)를 포함할 수 있다. 상기 산화붕소(B2O3)는 격벽 수정용 조성물의 망목 구조를 형성하는 역할을 한다.
따라서, 상기 산화붕소(B2O3)의 함량이 글라스 프릿 100 중량부에 대해 32 중량부 이상일 경우에는 조성물의 망목 구조를 충분히 형성할 수 있으며, 39 중량부 이하일 경우에는 조성물의 전이 온도가 상승되는 것을 방지할 수 있으므로, 상기 산화붕소(B2O3)는 32 내지 39 중량부로 포함될 수 있다.
상기 격벽 수정용 조성물은 글라스 프릿 100 중량부에 대해 35 내지 45 중량부의 산화아연(ZnO)을 포함할 수 있다. 상기 산화 아연(ZnO)은 수정된 격벽의 유리전이온도(Tg) 및 유리연화온도(Ts)를 감소시키는 역할을 한다.
따라서, 상기 산화 아연(ZnO)의 함량이 글라스 프릿 100 중량부에 대하여 35 중량부 이상일 경우에는 유리전이온도(Tg) 및 유리연화온도(Ts)를 감소시키는데에 충분한 효과를 얻을 수 있으며, 45 중량부 이하일 경우에는 조성물로 인해 형성되는 유리의 결정화 발생 가능성을 방지할 수 있으므로, 상기 산화 아연(ZnO)은 35 내지 45 중량부로 포함될 수 있다.
상기 격벽 수정용 조성물은 글라스 프릿 100 중량부에 대해 2 내지 8 중량부의 산화바륨(BaO)을 포함할 수 있다. 상기 산화 바륨(BaO)은 격벽 수정용 조성물의 열팽창계수(CTE)를 조절하는 역할을 한다.
따라서, 상기 산화 바륨(BaO)의 함량이 글라스 프릿 100 중량부에 대하여 2 중량부 이상일 경우에는 열팽창계수가 안정된 조성물을 얻을 수 있으며, 8 중량부 이하일 경우에는 열팽창계수(CTE)가 증가하여 격벽의 형태안정성을 저하되는 것을 방지할 수 있으므로, 상기 산화 바륨(BaO)은 2 내지 8 중량부로 포함될 수 있다.
상기 격벽 수정용 조성물은 글라스 프릿 100 중량부에 대해 1 내지 8 중량부의 산화인(P2O5)을 포함할 수 있다. 상기 산화인(P2O5)은 밝은색을 나타내는 유리형성제로서 조성물의 유리전이온도(Tg)를 약간 높이는 효과가 있으며, 겔화 빈도를 약간 낮추는 역할을 한다.
따라서, 상기 산화인(P2O5)의 함량이 글라스 프릿 100 중량부에 대하여 1 중량부 이상일 경우에는 조성물의 유리전이온도(Tg)를 약간 높이는 효과가 있고, 8 중량부 이하일 경우에는 조성물의 겔화 빈도를 낮출 수 있으므로, 상기 산화인(P2O5)은 1 내지 8 중량부포 포함될 수 있다.
상기 격벽 수정용 조성물은 글라스 프릿 100 중량부에 대해 3 내지 10 중량부의 산화나트륨(Na2O)을 포함할 수 있다. 상기 산화나트륨(Na2O)은 노란색을 나타내는 유리수식제로서 조성물의 유리전이온도(Tg)를 낮춤으로써 소성온도를 제어할 수 있고, 열팽창계수(CTE)를 약간 높이는 역할을 한다.
따라서, 상기 산화나트륨(Na2O)의 함량이 전체 글라스 프릿 100 중량부에 대하여 3 중량부 이상일 경우에는 유리전이온도(Tg)를 낮춰 소성온도를 제어하기 용이한 이점이 있고, 10 중량부 이하일 경우에는 조성물의 열팽창계수를 높여 소성을 용이하게 할 수 있으므로, 상기 산화나트륨(Na2O)은 3 내지 10 중량부로 포함될 수 있다.
상기 격벽 수정용 조성물은 글라스 프릿 100 중량부에 대해 1 내지 7 중량부의 산화규소(SiO2)를 포함할 수 있다. 상기 산화규소(SiO2)는 유리 형성 성분으로서 유리를 화학적, 광학적으로 안정화시키는 역할을 하며, 유리전이온도(Tg) 및 유리연화온도(Ts)를 크게 높이는 역할을 한다.
따라서, 상기 산화규소(SiO2)의 함량이 글라스 프릿 100 중량부에 대해 1 중 량부 이상일 경우에는 격벽을 화학적 및 광학적으로 안정화시킬 수 있으며, 7 중량부 이하일 경우에는 유리전이온도(Tg)가 과도하게 상승되는 것을 방지할 수 있으므로, 상기 산화규소(SiO2)는 1 내지 7 중량부로 포함될 수 있다.
또한, 상기 격벽 수정용 조성물은 글라스 프릿 100 중량부에 대해 각각 0 초과 1 중량부 이하의 산화세륨(CeO2) 또는 0 초과 1 중량부 이하의 산화구리(CuO)를 더 포함할 수 있다. 상기 산화구리(CuO) 및 산화세륨(CeO)은 격벽이 변색되는 것을 방지하고 적절한 색을 유지하는 기능을 한다.
따라서, 산화구리(CuO) 및 산화세륨(CeO)의 함량은 글라스 프릿 100 중량부에 대해 각각 0 초과일 경우에는 격벽의 변색을 방지할 수 있는 이점이 있고, 1 중량부 이하일 경우에는 격벽이 산화구리에 착색되는 것을 방지할 수 있으므로, 상기 산화구리(CuO) 및 산화세륨(CeO)은 0 초과 1 중량부 이하로 포함될 수 있다.
상기와 같은, 본 발명의 일 실시 예에 따른 플라즈마 디스플레이 패널 격벽 수정용 조성물의 글라스 프릿은 전체 조성물 100 중량부에 대해 35 내지 45 중량부로 포함될 수 있다.
이상과 같이, 본 발명의 일 실시 예에 따른 플라즈마 디스플레이 패널 격벽 수정용 조성물은 글라스 프릿을 포함하며, 글라스 프릿은 산화붕소(B2O3), 산화아연(ZnO), 산화바륨(BaO), 산화인(P2O5), 산화나트륨(Na2O) 및 산화규소(SiO2)로 이루어진 군에서 선택된 어느 하나 이상을 포함할 수 있으며, 산화세륨(CeO2) 또는 산화 구리(CuO)를 더 포함할 수 있다.
본 발명의 일 실시 예에 따른 플라즈마 디스플레이 패널 격벽 수정용 조성물은 바인더를 포함할 수 있으며, 전체 조성물 100 중량부에 대해 2 내지 6 중량부로 포함될 수 있다.
상기 바인더는 격벽 제조에 사용되는 통상적인 바인더를 사용할 수 있으며, 바람직하게는 에틸셀룰로오스계 수지를 사용할 수 있다.
본 발명의 일 실시 예에 따른 플라즈마 디스플레이 패널 격벽 수정용 조성물은 필러를 포함할 수 있으며, 전체 조성물 100 중량부에 대해 25 내지 35 중량부로 포함될 수 있다.
상기 필러는 산화알루미늄(Al2O3), 산화티타늄(TiO2), 산화크롬(CrO), 산화구리(CuO)로 이루어진 군에서 선택된 어느 하나 이상을 포함할 수 있다.
본 발명의 일 실시 예에 따른 플라즈마 디스플레이 패널 격벽 수정용 조성물은 용제를 포함할 수 있으며, 전체 조성물 100 중량부에 대해 18 내지 30 중량부로 포함될 수 있다.
상기 용제는 격벽 제조에 사용되는 통상적인 용제를 사용할 수 있으며, 예를 들어, 메틸에틸케톤, 에탄올, 크실렌, 텍사놀, 테르피네올, 부틸 셀로솔브, 톨루엔, 프로필렌 글리콜 모노메틸 에테르, 이소 프로필 알코올, 아세톤, 트리 클로로 에탄, 부탄올, 메틸 이소부틸 케톤, 부틸 아세테이트, 시클로 헥사논 및 물로 이루어진 군에서 선택된 어느 하나 이상을 사용할 수 있다.
그리고, 본 발명의 일 실시 예에 따른 플라즈마 디스플레이 패널 격벽 수정용 조성물은 우레탄 아크릴레이트로 이루어진 경화제를 포함할 수 있다.
상기 우레탄 아크릴레이트는 수정용 조성물로 수정된 격벽의 강도를 향상시키는 역할을 하는 것으로 전체 조성물 100 중량부에 대해 0 초과 2.5 중량부 이하로 포함될 수 있다.
여기서, 우레탄 아크릴레이트의 함량이 전체 조성물 100 중량부에 대해 0 초과일 경우에는 수정된 격벽의 강도를 향상시킬 수 있는 이점이 있고, 2.5 중량부 이하일 경우에는 오히려 수정된 격벽의 강도가 저하되는 것을 방지할 수 있는 이점이 있다.
따라서, 본 발명의 일 실시 예에 따른 플라즈마 디스플레이 패널 격벽 수정용 조성물은 우레탄 아크릴레이트를 소량 포함함으로써, 수정된 격벽의 강도를 향상시켜 수정된 부분이 다시 파손되는 것을 방지할 수 있는 이점이 있다.
이하, 전술한 본 발명의 일 실시 예에 따른 플라즈마 디스플레이 패널 격벽 수정용 조성물을 이용하여, 플라즈마 디스플레이 패널의 파손된 격벽을 수정하는 공정을 설명하면 다음과 같다.
도 2는 본 발명의 일 실시 예에 따른 플라즈마 디스플레이 패널의 파손된 격벽을 수정하는 공정을 나타낸 도면이다.
도 2를 참조하면, (a) 기판(100) 상에 파손된 영역(A)을 갖는 격벽(110)이 위치한다. 이러한 파손된 격벽(110)은 검사 공정에서 육안 검사, 확대경을 이용하 거나 검사 장치 등을 이용하여 파손된 영역(A)의 판별할 수 있다.
이어, (b) 상기 격벽(110)의 파손된 영역(A)을 판별한 후, 전술한 격벽 수정용 조성물(120)을 격벽(110)의 파손된 영역(A)에 탐침 혹은 노즐을 사용하여 매운다. 이 때, 파손된 영역(A)에 격벽 수정용 조성물(120)의 접착력을 향상시키기 위해 접착제 등을 미리 발라둘 수도 있다.
다음, (c) 격벽(110)의 파손된 영역(A)에 도포된 격벽 수정용 조성물(120)을 건조, 소성 및 경화하는 단계를 거쳐 격벽(110)을 수정한다. 이후에 격벽(110)의 파손된 영역(A)의 수정 여부를 육안 검사, 확대경 또는 검사 장치를 이용하여 확인하는 과정을 거치게 된다.
이하, 본 발명의 플라즈마 디스플레이 패널 격벽 수정용 조성물의 제조방법에 따른 실시예를 개시한다. 다만, 하기의 실시 예는 본 발명의 바람직한 일 실시 예일 뿐, 본 발명이 하기의 실시 예에 의해 한정되는 것은 아니다.
실험 1: 우레탄 아크릴레이트의 함량에 따른 수정된 격벽의 강도 특성 측정.
<실시예 1>
산화붕소(B2O3) 31g, 산화아연(ZnO) 36g, 산화규소(SiO2) 7g, 산화바륨(BaO) 8g, 산화인(P2O5) 8g, 산화바륨(BaO) 5g, 산화나트륨(Na2O) 3g, 산화세륨(CeO2) 1g 및 산화구리(CuO) 1g의 글라스 프릿 물질을 혼합한 후, 상기 혼합물을 용광로에서 1200℃의 온도로 용융시켰다. 상기 용융된 혼합물을 건식 급냉 시킨 후, 분쇄하여 40g의 글라스 프릿을 형성하였다.
바인더인 에틸셀룰로오스 4g, 필러인 산화알루미늄(Al2O3) 30g, 경화제인 우레탄 아크릴레이트 0.5g 및 용제인 톨루엔 25.5g의 용제를 준비하여, 상기 제조된 글라스 프릿 분말 40g과 혼합하여 격벽 수정용 조성물을 제조하였다.
다음, 격벽의 파손된 영역에 격벽 수정용 조성물을 탐침을 이용하여 도포한후, 건조하고 500℃의 온도에서 소성 및 경화하여 격벽을 수정하였다.
<실시예 2>
전술한 실시예 1과 동일한 공정 조건하에, 경화제인 우레탄 아크릴레이트 1g과 용제인 톨루엔 25g의 조성만을 달리하여 조성물을 제조한 후 격벽을 수정하였다.
<실시예 3>
전술한 실시예 1과 동일한 공정 조건하에, 경화제인 우레탄 아크릴레이트 1.5g과 용제인 톨루엔 24.5g의 조성만을 달리하여 조성물을 제조한 후 격벽을 수정하였다.
<실시예 4>
전술한 실시예 1과 동일한 공정 조건하에, 경화제인 우레탄 아크릴레이트 2g과 용제인 톨루엔 24g의 조성만을 달리하여 조성물을 제조한 후 격벽을 수정하였다.
<실시예 5>
전술한 실시예 1과 동일한 공정 조건하에, 경화제인 우레탄 아크릴레이트 2.5g과 용제인 톨루엔 23.5g의 조성만을 달리하여 조성물을 제조한 후 격벽을 수정하였다.
<비교예 1>
전술한 실시예 1과 동일한 공정 조건하에, 경화제인 우레탄 아크릴레이트를 첨가하지 않고, 용제인 톨루엔 26g의 조성만을 달리하여 조성물을 제조한 후 격벽을 수정하였다.
<비교예 2>
전술한 실시예 1과 동일한 공정 조건하에, 경화제인 우레탄 아크릴레이트 3g과 용제인 톨루엔 23g의 조성만을 달리하여 조성물을 제조한 후 격벽을 수정하였다.
상기 실시예 1 내지 5 및 비교예 1 및 2에 따라 제조된 격벽 수정용 조성물의 점도와 수정된 격벽의 강도를 측정하여 하기 표 1에 나타내었다.
우레탄아크릴레이트의 함량(g) 점도(Pa.s/20rpm) 수정된 격벽의 강도 특성
비교예1 0 43 NG
실시예1 0.5 42 OK
실시예2 1.0 40 OK
실시예3 1.5 41 OK
실시예4 2.0 39 OK
실시예5 2.5 38 OK
비교예2 3.0 37 NG
상기 표 1을 참조하면, 본 발명의 일 실시예들 및 비교예들에 따라 제조된 격벽 수정용 조성물의 점도의 경우에는, 경화제인 우레탄 아크릴레이트의 함량이 늘어날수록 미세하게 저하되나 제조하는데에는 큰 영향을 미치지 않는 것을 알 수 있다.
그리고, 실시예 1 내지 5에 따라 수정된 격벽의 강도 특성의 경우에는 우레탄 아크릴레이트를 첨가하면서부터 강도 특성이 향상되는 것을 알 수 있다.
반면, 우레탄 아크릴레이트를 첨가하지 않은 수정용 조성물로 격벽을 수정한 경우에는 강도 특성이 좋지 않게 나타났으며, 우레탄 아크릴레이트의 함량이 3g 이상일 경우에는 오히려 수정된 격벽의 강도 특성이 저하되는 것을 알 수 있다.
실험 2: 글라스 프릿 및 필러의 함량에 따른 수정된 격벽의 강도 특성 측정.
<실시예 6>
산화붕소(B2O3) 31g, 산화아연(ZnO) 36g, 산화규소(SiO2) 7g, 산화바륨(BaO) 8g, 산화인(P2O5) 8g, 산화바륨(BaO) 5g, 산화나트륨(Na2O) 3g, 산화세륨(CeO2) 1g 및 산화구리(CuO) 1g의 글라스 프릿 물질을 혼합한 후, 상기 혼합물을 용광로에서 1200℃의 온도로 용융시켰다. 상기 용융된 혼합물을 건식 급냉 시킨 후, 분쇄하여 35g의 글라스 프릿을 형성하였다.
바인더인 에틸셀룰로오스 4g, 필러인 산화알루미늄(Al2O3) 25g, 경화제인 우레탄 아크릴레이트 1.5g 및 용제인 톨루엔 34.5g의 용제를 준비하여, 상기 제조된 글라스 프릿 분말 35g과 혼합하여 격벽 수정용 조성물을 제조하였다.
다음, 격벽의 파손된 영역에 격벽 수정용 조성물을 탐침을 이용하여 도포한후, 건조하고 500℃의 온도에서 소성 및 경화하여 격벽을 수정하였다.
<실시예 7>
전술한 실시예 6과 동일한 공정 조건하에, 글라스 프릿 40g, 필러 30g 및 용제 24.5g의 조성만을 달리하여 조성물을 제조한 후 격벽을 수정하였다.
<실시예 8>
전술한 실시예 6과 동일한 공정 조건하에, 글라스 프릿 50g, 필러 30g 및 용제 14.5g의 조성만을 달리하여 조성물을 제조한 후 격벽을 수정하였다.
<비교예 3>
전술한 실시예 6과 동일한 공정 조건하에, 글라스 프릿 30g, 필러 20g 및 용제 44.5g의 조성만을 달리하여 조성물을 제조한 후 격벽을 수정하였다.
<비교예 4>
전술한 실시예 6과 동일한 공정 조건하에, 글라스 프릿 60g, 필러 30g 및 용제 4.5g의 조성만을 달리하여 조성물을 제조한 후 격벽을 수정하였다.
상기 실시예 6 내지 8 및 비교예 3 및 4에 따라 제조된 격벽 수정용 조성물의 점도 및 용제와의 용해성, 그리고 수정된 격벽의 강도 특성을 측정하여 하기 표 2에 나타내었다. (실시예 6 내지 8 및 비교예 3 및 4에 따라 제조된 격벽 수정용 조성물은 우레탄 아크릴레이트의 함량을 1.5g으로 고정하고 실험하였다.)
글라스 프릿의 함량(g) 필러의 함량(g) 우레탄 아크릴레이트의 함량(g) 조성물의 점도(Pa.s/20rpm) 용제와의 용해성 수정된 격벽의 강도 특성
비교예3 30 20 1.5 15 OK NG
실시예6 35 25 1.5 29 OK OK
실시예7 40 30 1.5 40 OK OK
실시예8 50 30 1.5 57 OK OK
비교예4 60 30 1.5 64 NG OK
상기 표 2를 참조하면, 실시예 6 내지 8에 따라 제조된 격벽 수정용 조성물은 글라스 프릿의 함량이 35 내지 50 중량부로 포함된 것으로, 점도와 용제와의 용해성이 적절하게 나타난 것을 알 수 있다.
반면, 글라스 프릿의 함량이 30 중량부로 포함된 비교예 3의 경우에는 용제와의 용해성은 적절하나 조성물의 점도가 너무 낮아 격벽의 파손된 영역에 도포하기 어려운 것을 알 수 있다. 그리고 수정된 격벽의 강도 특성도 좋지 않은 것을 알 수 있다.
그리고, 글라스 프릿의 함량이 60 중량부로 포함된 비교예 4의 경우에는 점도나 수정된 격벽의 강도 특성이 우수하나 용제와의 용해성이 좋지 않아 제조하기 어려운 것을 알 수 있다.
상기와 같이, 본 발명의 일 실시 예에 따른 플라즈마 디스플레이 패널 격벽 수정용 조성물은 우레탄 아크릴레이트를 포함하여 수정된 격벽의 강도를 향상시킬 수 있는 이점이 있다.
또한, 적절한 글라스 프릿의 함량을 설계하여 제조 공정이 용이한 플라즈마 디스플레이 패널 격벽 수정용 조성물을 제공할 수 있다.
이상 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 설명하였지만, 상술한 본 발명의 기술적 구성은 본 발명이 속하는 기술 분야의 당업자가 본 발명의 그 기술적 사상이나 필수적 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시 예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적인 것이 아닌 것으로서 이해되어야 한다. 아울러, 본 발명의 범위는 상기 상세한 설명보다는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어진다. 또한, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 등가 개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.
도 1은 본 발명의 일 실시 예에 따른 플라즈마 디스플레이 패널을 나타낸 도면.
도 2는 본 발명의 일 실시 예에 따른 플라즈마 디스플레이 패널의 파손된 격벽을 수정하는 공정을 나타낸 도면.

Claims (9)

  1. 유기물을 포함하는 플라즈마 디스플레이 패널 격벽 수정용 조성물에 있어서,
    상기 유기물은 우레탄 아크릴레이트를 포함하는 플라즈마 디스플레이 패널 격벽 수정용 조성물.
  2. 제 1항에 있어서,
    상기 우레탄 아크릴레이트는 전체 조성물 100 중량부에 대해 0 초과 2.5 중량부 이하로 포함되는 플라즈마 디스플레이 패널 격벽 수정용 조성물.
  3. 제 1항에 있어서,
    상기 우레탄 아크릴레이트는 열 경화제인 플라즈마 디스플레이 패널 격벽 수정용 조성물.
  4. 제 1항에 있어서,
    상기 조성물은 글라스 프릿, 필러, 바인더 및 용제를 포함하는 플라즈마 디스플레이 패널 격벽 수정용 조성물.
  5. 제 4항에 있어서,
    상기 글라스 프릿은 산화붕소(B2O3), 산화아연(ZnO), 산화바륨(BaO), 산화인(P2O5), 산화나트륨(Na2O) 및 산화규소(SiO2)로 이루어진 군에서 선택된 어느 하나 이상을 포함하는 플라즈마 디스플레이 패널 격벽 수정용 조성물.
  6. 제 5항에 있어서,
    상기 글라스 프릿은 글라스 프릿 100 중량부에 대해 각각 32 내지 39 중량부의 산화붕소(B2O3), 35 내지 45 중량부의 산화아연(ZnO), 2 내지 8 중량부의 산화바륨(BaO), 1 내지 8 중량부의 산화인(P2O5), 3 내지 10 중량부의 산화나트륨(Na2O) 및 1 내지 7 중량부의 산화규소(SiO2)를 포함하는 플라즈마 디스플레이 패널 격벽 수정용 조성물.
  7. 제 4항에 있어서,
    상기 글라스 프릿은 상기 조성물 100 중량부에 대해 35 내지 45 중량부로 포 함되는 플라즈마 디스플레이 패널 격벽 수정용 조성물.
  8. 제 4항에 있어서,
    상기 필러는 산화알루미늄(Al2O3), 산화티타늄(TiO2), 산화크롬(CrO), 산화구리(CuO)로 이루어진 군에서 선택된 어느 하나 이상을 포함하는 플라즈마 디스플레이 패널 격벽 수정용 조성물.
  9. 제 4항에 있어서,
    상기 용제는 메틸에틸케톤, 에탄올, 크실렌, 텍사놀, 테르피네올, 부틸셀로솔브, 톨루엔, 프로필렌글리콜모노메틸에테르, 이소프로필알코올, 아세톤, 트리클로로에탄, 부탄올, 메틸이소부틸케톤, 부틸아세테이트, 시클로헥사논 및 물로 이루어진 군에서 선택된 어느 하나 이상을 포함하는 플라즈마 디스플레이 패널 격벽 수정용 조성물.
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