KR20100047995A - A probe pin - Google Patents

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Abstract

PURPOSE: A probe pin is provided to stably transfer electrical signal by maintaining identical impedance in a transfer path of the electrical signal. CONSTITUTION: A probe pin includes an upper contact unit(2) and a lower contact(3) unit which are elastically connected to each other. A sleeve(4) forms a cylindrical pipe. The upper contact unit has green onion shape upper side. The lower contact unit is cut at a pre-set position of a lateral side and includes a pre-set length and width. An elastic part is cut into a U shape.

Description

프로브핀{A Probe Pin}Probe Pin

본 발명은 프로브핀에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 소정거리로 분리된 외부연결단자들 사이의 전기신호를 연결하기 위한 프로브핀으로 특히 단시간내에 다량으로 생산할 수 있도록 하여 생산성을 향상시킬 수 있으며, 전기신호의 전달경로를 동일 임피던스를 유지하면서 전달할 수 있도록 하여 안정된 전기적 신호를 전달할 수 있고, 장시간 사용시에도 테스트보드의 테스트소켓과 접촉되는 하부접촉부의 탄성을 일정하게 유지할 수 있도록 된 프로브핀에 관한 것이다.The present invention relates to a probe pin, and more particularly, a probe pin for connecting an electrical signal between external connection terminals separated by a predetermined distance, so that the productivity can be improved by allowing a large amount to be produced in a short time. The present invention relates to a probe pin capable of transmitting a stable electrical signal by transmitting a signal transmission path while maintaining the same impedance, and maintaining a constant elasticity of a lower contact portion contacting a test socket of a test board even when used for a long time.

일반적으로 프로브핀은 단독 또는 다른 종류의 핀과 함께 웨이퍼에 형성된 소자와 반도체칩패키지를 테스트하기 위한 테스트소켓 등에 널리 사용되고 있다.In general, probe pins are widely used in test sockets for testing devices and semiconductor chip packages formed on a wafer alone or in combination with other types of pins.

프로브핀이 테스트소켓에 사용되는 예는 1999년 특허출원 제68258호(고안의 명칭: 패키지용 소켓), 2001년 실용신안등록출원 제31810호(고안의 명칭: 칩 검사용 소켓장치)등에 개시되어 있다.Examples of the use of probe pins in test sockets are disclosed in 1999 Patent Application No. 68258 (designation name: package socket) and 2001 Utility Model Registration Application No. 3318 (designation name: chip inspection socket device). have.

상기와 같은 프로브핀은 도전재질로 제작되며, 공보에 기재된 바와 같이, 양단에 상부걸림턱과 하부걸림턱이 내측을 향해 형성되는 슬리브와, 영역의 일부위가 상기 슬리브의 내부에 각각 장착되는 상부접촉부 및 하부접촉부와, 상부접촉부와 하부접촉부의 사이에 개재하도록 슬리브에 장착되는 코일스프링을 갖고 있다.The probe pin as described above is made of a conductive material, and as described in the publication, the upper catching jaw and the lower catching jaw are formed at both ends toward the inside, and a portion of the region is mounted on the inside of the sleeve, respectively And a coil spring mounted to the sleeve so as to be interposed between the contact portion and the lower contact portion and between the upper contact portion and the lower contact portion.

상기한 상부접촉부는 슬리브의 내부에 배치되는 상부바디부와, 상부바디부의 상면으로부터 수직으로 연장 형성되는 상부접촉핀을 갖고 있다.The upper contact portion has an upper body portion disposed inside the sleeve and an upper contact pin extending vertically from an upper surface of the upper body portion.

상기 상부접촉부는 상부바디부가 상부걸림턱에 의해 탈출이 저지되도록 슬리브에 장착된다.The upper contact portion is mounted to the sleeve such that the upper body portion is prevented from escaping by the upper locking jaw.

상기한 하부접촉부는 슬리브의 내부에 배치되는 하부바디부와 하부바디부의 저면으로부터 수직으로 연장형성되는 하부접촉핀을 갖고 있다.The lower contact portion has a lower body portion disposed inside the sleeve and a lower contact pin extending vertically from the bottom of the lower body portion.

상기 하부접촉부는 하부바디부가 하부걸림턱에 의해 탈출이 저지되도록 슬리부에 장착된다.The lower contact portion is mounted to the sleeve so that the lower body portion is prevented from escaping by the lower locking jaw.

상기한 상부접촉핀과 하부접촉핀의 종단은 외부연결단자의 형태에 항상 맞춤된다.The ends of the upper contact pin and the lower contact pin are always adapted to the shape of the external connection terminal.

예를들면, 테스트소켓에 장착하여 프로브핀을 사용하는 경우 반도체칩패키지의 외부연결단자가 볼(Ball)타입이면 상부접촉핀의 상단은 하향곡선을 갖도록 형성된다.For example, when the probe pin is used in the test socket, if the external connection terminal of the semiconductor chip package is a ball type, the upper end of the upper contact pin is formed to have a downward curve.

상기와 같은 종래의 프로브핀은 상부접촉부 및 하부접촉부에 압력이 인가될 때 상부접촉부와 하부접촉부는 슬리브의 내부에서 상대방을 향해 슬라이딩 이동된다.In the conventional probe pin as described above, when pressure is applied to the upper contact portion and the lower contact portion, the upper contact portion and the lower contact portion are slid toward the other side in the sleeve.

상기와 같이 상부접촉부와 하부접촉부가 슬라이딩이동됨에 따라 코일스프링은 수축하고, 상부접촉핀과 하부접촉핀은 각각 대향하는 한 쌍의 외부연결단자에 탄성 접촉된다.As described above, as the upper contact portion and the lower contact portion slide, the coil spring contracts, and the upper contact pin and the lower contact pin are elastically contacted with a pair of opposing external connection terminals, respectively.

상기와 같이 상부접촉핀 및 하부접촉핀이 각각 외부연결단자에 각각 탄성 접촉된 상태에서 전기신호는 하부접촉부, 슬리브 및 상부접촉부로 구성되는 도전경로를 따라 전달된다.As described above, in the state in which the upper contact pin and the lower contact pin are elastically contacted with the external connection terminals, respectively, the electrical signal is transmitted along the conductive path including the lower contact part, the sleeve, and the upper contact part.

그러나, 상기와 같은 종래의 프로브핀은 구성되는 일부품인 슬리브의 제조가 봉재를 일일이 통상의 드릴머신으로 드릴링하여 제작하는 관계로 인하여 불량의 발생이 높아 비경제적이며, 그 내경의 폭(대략 0.4㎜)이 대단히 작아 작업이 불편하며 자동화하기 어려워 생산성이 떨어져 생산단가가 상승하는 비효율적인 문제점이 있었다.However, the conventional probe pin as described above is uneconomical due to high occurrence of defects due to the manufacture of the sleeve, which is a part of the sleeve, by drilling the rod with a conventional drill machine, and the width of the inner diameter (approximately 0.4) ㎜) was very small, the work is inconvenient and difficult to automate, there is an inefficient problem that the production cost increases due to the productivity is low.

또한 종래의 프로브핀은 상부접촉부와 하부접촉부와 슬리브 및 코일스프링 등으로 구성되어져 있어 각각의 구성품들의 임피던스값에 따른 편차에 의해 안정된 전기신호를 전달하지못하고 불안정하게 전달하므로서 검사의 신뢰성을 떨어뜨리는 문제점을 유발하였다.In addition, the conventional probe pin consists of an upper contact portion, a lower contact portion, a sleeve and a coil spring, etc., thereby failing to transmit a stable electrical signal due to a variation in the impedance value of each component, thereby unstablely delivering a problem of reducing reliability of inspection. Induced.

본 발명은 상기와 같은 종래의 문제점들을 해결하기 위하여 안출된 것으로서, 본 발명의 목적은 소정거리로 분리된 외부연결단자들 사이의 전기신호를 연결하기 위한 프로브핀으로 특히 단시간내에 다량으로 생산할 수 있도록 하여 생산성을 향상시킬 수 있으며, 전기신호의 전달경로를 동일 임피던스를 유지하면서 전달할 수 있도록 하여 안정된 전기적 신호를 전달할 수 있어 신뢰성이 향상되고 장시간 사용시에도 테스트보드의 테스트소켓과 접촉되는 하부접촉부의 탄성을 일정하게 유지할 수 있도록 된 프로브핀을 제공하는데 있다.The present invention has been made to solve the above-described problems, the object of the present invention is to produce a large amount in a short time as a probe pin for connecting the electrical signal between the external connection terminals separated by a predetermined distance It is possible to improve productivity, and it is possible to transmit the electric signal transmission path while maintaining the same impedance, so that it can transmit stable electric signal, which improves the reliability and improves the elasticity of the lower contact part which is in contact with the test socket of the test board even after long use To provide a probe pin that can be kept constant.

상기와 같은 본 발명의 목적을 달성하기 위한 본 발명의 프로브핀은 외부연 결단자가 접촉하도록 상부에 마련되는 상부접촉부와 하부에 마련되는 하부접촉부가 마련되며 상기 상부접촉부와 하부접촉부는 탄성적으로 결합되어 있고 중앙의 수직상 일정부위에 외측으로 돌출된 돌턱부가 형성된 슬리브를 포함하는 통상의 프로브핀에 있어서;Probe pin of the present invention for achieving the object of the present invention as described above is provided with an upper contact portion provided on the upper portion and a lower contact portion provided on the bottom so that the external connection terminal contact and the upper contact portion and the lower contact portion is elastically coupled A conventional probe pin comprising a sleeve which is formed and has a protrusion formed to protrude outwardly in a vertical vertical portion of the center;

상기한 슬리브는 원통상의 관체로 이루어지며 상단은 파형상으로 이루어지는 상부접촉부를 구성하고, 측면의 일정 위치에서 하부로 절개되면서 일정한 길이와 폭을 가지도록 형성되어 내측으로 "Ｓ" 자 형상으로 구브러지면서 하단이 관체의 하부로 일정한 길이를 가지면서 돌출되어 하부접촉부를 구성하도록 내입되는 탄성핀을 구비하며, 상기 탄성핀의 대향되는 관체의 일정한 크기의 부위에 "∪" 자 형상으로 절개하여 이루어지는 탄성편을 가지도록 된 것을 특징으로 하고 있다.The sleeve is formed of a cylindrical tubular body and the upper end constitutes an upper contact portion formed in a corrugated shape, and is formed to have a constant length and width while being cut downward from a predetermined position of the side surface and formed into an “S” shape inward. The lower end is provided with an elastic pin protruded while having a predetermined length to the lower portion of the tubular body to form a lower contact portion, and made by cutting in a "∪" shape in a portion of a predetermined size of the tubular body facing the elastic pin. It is characterized by having an elastic piece.

상기한 슬리브는 원통상의 관체로 이루어지며 상부면의 일정 위치에서 상부로 절개되면서 일정한 길이와 폭을 가지도록 형성되어 내측 하방으로 "Ｓ" 자 형상으로 구브러지면서 하단이 관체의 하부로 일정한 길이를 가지면서 돌출되어 하부접촉부를 구성하도록 내입되는 탄성핀을 구비하며, 상기 탄성핀의 대향되는 관체의 일정한 크기의 부위에 "∪" 자 형상으로 절개된 것을 특징으로 하고 있다.The sleeve is made of a cylindrical tubular body and is cut to a predetermined length and width while being cut from a predetermined position of the upper surface to be bent in a "S" shape downward to the inner side and the lower end of the tubular body to a constant length. It has an elastic pin protruding to have a lower contact portion while protruding, characterized in that the elastic pin is cut in a "∪" shape in a portion of a predetermined size of the opposite tube body.

상기한 상부접촉부는 상기 탄성핀의 상단에 상측으로 연장형성되며 상부면에 파형상의 요철부가 구비된 연장편으로 이루어져 있는 것을 특징으로 하고 있다.The upper contact portion extends upward on the upper end of the elastic pin and is characterized by consisting of an extension piece provided with a wavy concave-convex portion on the upper surface.

상기와 같이 이루어지는 본 고안의 프로브핀은 하나의 가공판이 성형과 가공에 의한 단순화된 공정으로 그 구성부품 갯수가 줄어들어 자동화가 쉬워 단시간내 에 다량으로 생산할 수 있어 생산성이 향상되며, 특히 외부연결단자와 연결되는 삽부접촉부와 하부접촉부 및 탄성부가 단일 개체로 이루어져 있어 동일한 임피던스를 유지하므로서 안정적으로 전기적 신호를 상호 교통할 수 있어 신뢰성을 현저히 향상시킬 수 있으며, 장시간 사용시에도 테스트보드의 테스트소켓과 접촉되는 하부접촉부가 탄성편에 의해 탄성적으로 지지되어 자체탄성력이 훼손되어도 탄성력을 일정하게 유지할 수 있는 효과가 있다.Probe pin of the present invention made as described above is a simplified process by forming and processing a single plate, the number of its components is reduced, easy automation and can be produced in large quantities in a short time to improve productivity, in particular with external connection terminals The insert contact part, the bottom contact part, and the elastic part connected to each other are composed of a single object, so that the same impedance can be maintained and the electrical signals can be stably communicated with each other, thereby improving reliability significantly. The contact part is elastically supported by the elastic piece, so that the elastic force can be kept constant even if the self-elastic force is damaged.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 바람직한 실시예의 프로브핀을 상세히 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings will be described in detail a probe pin of a preferred embodiment according to the present invention.

도 1 내지 도 6은 본 발명에 따른 일 실시예에 의한 프로브핀을 보인 도면으로서, 본 실시예의 프로브핀(1)은 외부연결단자가 접촉하도록 상부에 마련되는 상부접촉부(2)와 하부에 마련되는 하부접촉부(3)가 마련되며 상기 상부접촉부(2)와 하부접촉부(3)는 탄성적으로 결합되어 있는 슬리브(4)를 가지고 있다.1 to 6 is a view showing a probe pin according to an embodiment according to the present invention, the probe pin 1 of the present embodiment is provided in the upper contact portion 2 and the lower portion provided in the upper portion so that the external connection terminal is in contact with The lower contact portion 3 is provided, and the upper contact portion 2 and the lower contact portion 3 have a sleeve 4 that is elastically coupled.

또한 상기한 슬리브(4)는 원통상의 관체로 이루어지며 상단은 파형상으로 이루어지는 상부접촉부(2)를 구성하도록 되어 있다.In addition, the sleeve 4 is made of a cylindrical tube and the upper end is configured to form an upper contact portion 2 made of a wave shape.

그리고 상기한 슬리브(4)의 측면의 일정 위치에서 하부로 절개되면서 일정한 길이와 폭을 가지도록 형성되어 내측으로 "Ｓ" 자 형상으로 구브러지면서 하단이 관체의 하부로 일정한 길이를 가지면서 돌출되어 하부접촉부(3)를 구성하도록 내입되는 탄성핀(5)을 구비하고 있다.And it is formed to have a predetermined length and width while being cut in a predetermined position of the side of the sleeve 4 is bent inward "S" shape while being protruded while having a constant length to the bottom of the tubular body It is provided with an elastic pin (5) embedded in the lower contact portion (3).

또한 상기 탄성핀(5)의 대향되는 관체의 일정한 크기의 부위에 "∪" 자 형상 으로 절개하여 이루어지는 탄성편(6)을 가지고 있다.In addition, the elastic pin 5 has an elastic piece 6 formed by cutting in a “∪” shape at a portion having a predetermined size of an opposite tube body.

그리고 상기한 슬리브(4)의 수직상 중앙의 일정부위에는 외측으로 돌출된 돌턱부(7)가 형성되어 있다.In addition, at a predetermined portion of the vertical center of the sleeve 4, a protrusion 7 protruding outward is formed.

상기와 같이 이루어지는 본 실시예의 프로브핀은 도 1 내지 도 4에서 도시된 바와 같이 하나의 가공판으로 성형 및 가공하여 이루어지는 단순화된 공정으로 제조됨으로써 그 구성부품 갯수가 줄어들어 자동화가 쉬워 단시간내에 다량으로 생산할 수 있도록 되어 있다.Probe pin of the present embodiment made as described above is manufactured in a simplified process formed by forming and processing into one processed plate as shown in Figures 1 to 4 by reducing the number of its components and easy to produce a large amount in a short time It is supposed to be.

상술한 바와 같이 본 실시예의 프로브핀은 도전재질로 일정한 크기를 가지는 판상의 가공판을 일측면부위를 일정한 폭으로 절개하면서 하부로 일정한 길이를 가지면서 연장되도록 된 탄성핀(5)과 성형시 상기 탄성핀(5)과 대응되는 위치를 구성하는 부위를 "∪" 상으로 절개하여 탄성편(6)으로 형성되도록 재단하고(도1 참조), 상기한 가공판의 수직상 중앙 일정 부위를 프레싱(Pressing)하여 테스트소켓(104)의 하부핀홀더(103)의 상부면에 지지되어 외부로 이탈되지 않도록 되는 돌턱부(7)를 형성하며, 상기 탄성핀(5)이 "S" 자 형상을 가지면서 내측으로 내입되도록 한 후 양측단을 서로 밀착되게 원통형상으로 접으면 본 실시예의 프로브핀의 제조가 완료된다.As described above, the probe pin of the present embodiment is formed by cutting the plate-shaped processed plate having a constant size as a conductive material with one side portion at a predetermined width and extending while having a predetermined length below the elastic pin 5. The part constituting the position corresponding to the elastic pin 5 is cut into the "∪" shape and cut to form the elastic piece 6 (see FIG. 1), and pressing a predetermined vertical center portion of the processed plate ( Pressing) to be supported on the upper surface of the lower pin holder 103 of the test socket 104 to form a stepped portion (7) which does not escape to the outside, the elastic pin (5) has a "S" shape While being inwardly inside, the both ends are folded in close contact with each other in a cylindrical shape to manufacture the probe pin of the present embodiment.

상기와 같이 이루어진 본 실시예의 프로브핀은 단일 개체인 가공판을 절개 및 절단하여 성형한 후 구브리어 형성하도록 하여 제조되어 그 공정이 단순하여 자동화에 유리하며 빠른시간에 다량의 제조될 수 있도록 되어 있다.The probe pin of the present embodiment made as described above is manufactured by cutting and cutting a single object processed plate and then forming a Gubre, so that the process is simple, which is advantageous for automation and can be manufactured in large quantities in a short time. have.

상기와 같은 본 실시예의 프로브핀(1)은 도 5에서 도시된 바와 같이 다수의 핀공(101)이 형성된 상부핀홀더(102)) 및 하부핀홀더(103)를 가지는 통상의 테스트소켓(104)에 설치되어 사용된다.The probe pin 1 of the present embodiment as described above has a conventional test socket 104 having an upper pin holder 102 and a lower pin holder 103 in which a plurality of pin holes 101 are formed. Installed and used on

즉 상기한 슬리브(4)의 하단부가 하부핀홀더(103)에 접촉지지되며, 상기 상부접촉부는 상부핀홀더에(102) 지지되도록 각각의 핀공(101)에 각각 설치된다.That is, the lower end of the sleeve 4 is supported by the lower pin holder 103, the upper contact portion is installed in each pin hole 101 to be supported by the upper pin holder (102).

상기와 같이 프로브핀(1)이 설치된 테스트소켓(104)은 하부핀홀더(103)의 저면이 테스트보드(105)의 상면에 접촉하도록 장착된다.The test socket 104 in which the probe pin 1 is installed as described above is mounted such that the bottom surface of the lower pin holder 103 contacts the upper surface of the test board 105.

상기와 같이 테스트소켓(104)이 테스트보드(105)에 설치될 때, 프로브핀(1)은 상기 테스트보드(105)의 상면과 하부접촉부(3)와의 밀착에 따라 상기 하부핀홀더(103)를 가이드하여 상승하고 이로 인해 상부접촉부(2)가 외부로 돌출된다.When the test socket 104 is installed on the test board 105 as described above, the probe pin 1 is in contact with the upper surface of the test board 105 and the lower contact portion 3, the lower pin holder 103 It rises by guiding and this causes the upper contact part 2 to protrude outside.

상기와 같이 테스트보드(105)에 테스트소켓(104)이 설치되면 상기 테스트소켓(104)의 상부로 반도체칩치패키지(106)가 탑재되며, 이때 반도체칩패키지(106)의 외부연결단자(100)의 저면은 상기 상부접촉부(2)를 가압하면서 접촉하게 되고, 이에 따라 슬리브(4)의 내부에 마련된 탄성핀(5)의 탄성부에 의해 탄성력이 증가되면서 슬리브(4)가 하방으로 이동되어 탄력적으로 외부연결단자(100)와 접촉되도록 되어 있다.When the test socket 104 is installed on the test board 105 as described above, the semiconductor chip package package 106 is mounted on the test socket 104, and the external connection terminal 100 of the semiconductor chip package 106 is installed. The bottom of the contact is pressed while pressing the upper contact portion 2, thereby increasing the elastic force by the elastic portion of the elastic pin 5 provided inside the sleeve 4, the sleeve 4 is moved downward to be elastic It is to be in contact with the external connection terminal (100).

이때 상기 탄성핀(4)의 굴곡부위가 외측으로 밀리어 상기 탄성편(6)과 밀착하면서의 탄성편(6)을 외측으로 가압하면서 탄성편(6)으로부터 탄성력이 인가되어 일정한 탄성력을 유지하도록 되어있다.At this time, the bending portion of the elastic pin 4 is pushed outward while pressing the elastic piece 6 while being in close contact with the elastic piece 6 so that the elastic force is applied from the elastic piece 6 to maintain a constant elastic force. It is.

상기와 같이 반도체칩패키지(106)의 외부연결단자(100)와 테스트보드(105)의 외부연결단자가 프로브핀(1)에 의해 연결되면 테스트보드(105)로부터의 테스트신호 및 반도체칩패키지(106)로부터의 응답신호는 상부접촉부(2)와 슬리브(4)의 몸체와 하부접촉부(3)를 통해 이루어지는 도전경로를 따라 전달된다.As described above, when the external connection terminal 100 of the semiconductor chip package 106 and the external connection terminal of the test board 105 are connected by the probe pin 1, the test signal from the test board 105 and the semiconductor chip package ( The response signal from 106 is transmitted along the conductive path made through the upper contact portion 2 and the body of the sleeve 4 and the lower contact portion 3.

도 7 및 도 8은 본 발명에 따른 다른 실시예에 의한 프로브핀을 보인 도면으로서, 본 실시예의 프로브핀(1)은 상기한 슬리브(4)는 원통상의 관체로 이루어지며 상부면의 일정 위치에서 상부로 절개되면서 일정한 길이와 폭을 가지도록 형성되어 내측 하방으로 "Ｓ" 자 형상으로 구브러지면서 하단이 관체의 하부로 일정한 길이를 가지면서 돌출되어 하부접촉(3)를 구성하도록 내입되는 탄성핀(5)을 구비하며, 상기 탄성핀(5)의 대향되는 관체의 일정한 크기의 부위에 "∪" 자 형상으로 절개된 것으로 이루어져 있다.7 and 8 is a view showing a probe pin according to another embodiment according to the present invention, the probe pin 1 of the present embodiment, the sleeve 4 is made of a cylindrical tubular body and a predetermined position of the upper surface It is formed to have a predetermined length and width while being cut in the upper portion is bent in an inner downward "S" shape while the lower end is protruding while having a constant length to the lower portion of the tubular body to form the lower contact (3) It is provided with a pin (5), it consists of a cut in a "∪" shape on a portion of a certain size of the tube facing the elastic pin (5).

또한 상기한 상부접촉부(2)는 상기 탄성핀(5)의 상단에 상측으로 연장형성되며 상부면에 파형상의 요철부(8)가 구비된 연장편으로 이루어져 있다.In addition, the upper contact portion 2 is formed to extend upwards on the upper end of the elastic pin (5) consists of an extension piece provided with a wavy concave-convex portion (8) on the upper surface.

따라서 상기한 탄성핀(5)이 절곡될 때 상단이 상부로 돌출되면서 절곡되어 탄성핀(5)의 최상단이 탄성을 가지는 상부접촉부(2)를 구성하도록 되어 있어 별도의 상부접촉부를 구성할 필요가 없어 작업이 보다 간편하게 되어있다.Therefore, when the elastic pin 5 is bent, the upper end of the elastic pin 5 is bent to form an upper contact portion 2 having the elasticity of the upper end of the elastic pin 5 so as to form a separate upper contact portion. This makes the work easier.

상술한 바와 같이 본 발명의 프로브핀은 단일체의 가공판을 일정한 형상으로 제단단 후 가공하여 프로브핀을 제조할 때 상부접촉부와 슬로브와 탄성부 및 하부접촉부를 단일체로하여 제조되고 형성되도록 되어 있어 구성부품이 간단하며 제조공정이 단순하여 자동화를 유리하게 할 수 있어 대량 생산을 통한 생산성의 향상을 가지며, 소정거리로 분리된 외부연결단자들 사이의 전기신호를 연결하기 위한 프로브핀으로 특히 단시간내에 다량으로 생산할 수 있도록 하여 생산성을 향상시킬 수 있으며, 전기신호의 전달경로를 동일 임피던스를 유지하면서 전달할 수 있도록 하여 안정된 전기적 신호를 전달할 수 있어 신뢰성이 향상되고 장시간 사용시에도 테스트보드의 테스트소켓과 접촉되는 하부접촉부의 탄성을 일정하게 유지할 수 있도록 된 것을 기술적 특징으로 하는 것으로, 본 발명은 상술한 특정의 바람직한 실시예에 한정되지 아니하며, 청구범위에서 청구하는 본 발명의 요지를 벗어남이 없이 당해 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 누구든지 다양한 변형실시가 가능한 것은 물론이고, 그와 같은 변경은 청구범위 기재의 범위 내에 있게 됨을 부언한다.As described above, the probe pin of the present invention is manufactured by being formed and formed by uniting the upper contact portion, the slope, the elastic portion, and the lower contact portion as a single body when manufacturing a probe pin by cutting the monolithic plate into a predetermined shape. Simple parts and simple manufacturing process can be advantageous for automation, improving productivity through mass production, and probe pins for connecting electrical signals between external connection terminals separated by a certain distance. Productivity can be improved by making it possible to produce the product, and stable electric signal can be transmitted by transmitting the electric signal transmission path while maintaining the same impedance, so that the reliability is improved and the lower part which is in contact with the test socket of the test board even in a long time use To keep the elasticity of the contact constant As a technical feature, the present invention is not limited to the above-described specific preferred embodiment, and any person having ordinary skill in the art to which the present invention pertains without departing from the gist of the present invention claimed in the claims. Various modifications are possible, of course, and such changes are intended to be within the scope of the claims.

도 1 내지 도 4는 본 발명에 따른 일 실시예에 의한 프로브핀이 제조되는 것을 보인 개략예시도,1 to 4 is a schematic view showing that the probe pin is manufactured according to an embodiment according to the present invention,

도 5는 본 발명에 따른 일 실시예에 의한 프로브핀의 단면예시도,5 is a cross-sectional view of a probe pin according to an embodiment of the present invention,

도 6은 동 사용상태 일부 절취 개략 예시도6 is a schematic illustration of the cut part of the state of use

[도면중 중요한 부분에 대한 부호의 설명][Explanation of symbols for important parts of the drawings]

1 : 프로브핀, 2 : 상부접촉부,1: probe pin, 2: upper contact,

3 : 하부접촉부, 4 : 슬리브,3: lower contact portion, 4: sleeve,

5 : 탄성핀, 6 : 탄성편,5: elastic pin, 6: elastic piece,

7 : 돌턱부, 8 : 연장편.7: Jaw portion, 8: Extension piece.

Claims (3)

외부연결단자가 접촉하도록 상부에 마련되는 상부접촉부와 하부에 마련되는 하부접촉부가 마련되며 상기 상부접촉부와 하부접촉부는 탄성적으로 결합되어 있고 중앙의 수직상 일정부위에 외측으로 돌출된 돌턱부가 형성된 슬리브를 포함하는 통상의 프로브핀에 있어서;An upper contact portion provided at an upper portion and a lower contact portion provided at a lower portion to contact an external connection terminal are provided, and the upper contact portion and the lower contact portion are elastically coupled, and a sleeve having a protrusion formed to protrude outward at a predetermined vertical portion in the center thereof. In the conventional probe pin comprising; 상기한 슬리브는 원통상의 관체로 이루어지며 상단은 파형상으로 이루어지는 상부접촉부를 구성하고, 측면의 일정 위치에서 하부로 절개되면서 일정한 길이와 폭을 가지도록 형성되어 내측으로 "Ｓ" 자 형상으로 구브러지면서 하단이 관체의 하부로 일정한 길이를 가지면서 돌출되어 하부접촉부를 구성하도록 내입되는 탄성핀을 구비하며, 상기 탄성핀의 대향되는 관체의 일정한 크기의 부위에 "∪" 자 형상으로 절개하여 이루어지는 탄성편을 가지도록 된 것을 특징으로 하는 프로브핀The sleeve is formed of a cylindrical tubular body and the upper end constitutes an upper contact portion formed in a corrugated shape, and is formed to have a constant length and width while being cut downward from a predetermined position of the side surface and formed into an “S” shape inward. The lower end is provided with an elastic pin protruded while having a predetermined length to the lower portion of the tubular body to form a lower contact portion, and made by cutting in a "∪" shape in a portion of a predetermined size of the tubular body facing the elastic pin. Probe pin, characterized in that to have an elastic piece 제 1항에 있어서;The method of claim 1; 상기한 슬리브는 원통상의 관체로 이루어지며 상부면의 일정 위치에서 상부로 절개되면서 일정한 길이와 폭을 가지도록 형성되어 내측 하방으로 "Ｓ" 자 형상으로 구브러지면서 하단이 관체의 하부로 일정한 길이를 가지면서 돌출되어 하부접촉부를 구성하도록 내입되는 탄성핀을 구비하며, 상기 탄성핀의 대향되는 관체의 일정한 크기의 부위에 "∪" 자 형상으로 절개된 것을 특징으로 하는 프로브핀The sleeve is made of a cylindrical tubular body and is cut to a predetermined length and width while being cut from a predetermined position of the upper surface to be bent in a "S" shape downward to the inner side and the lower end of the tubular body to a constant length. Probe having an elastic pin which is protruded while forming a lower contact portion, the probe pin characterized in that the incision in the "∪" shape on a portion of a certain size of the tube facing the elastic pin 제 2항에 있어서;The method of claim 2; 상기한 상부접촉부는 상기 탄성핀의 상단에 상측으로 연장형성되며 상부면에 파형상의 요철부가 구비된 연장편으로 이루어져 있는 것을 특징으로 하는 프로브핀The upper contact portion extends upwardly on the upper end of the elastic pin and the probe pin, characterized in that consisting of an extension piece provided with a wavy concave-convex portion on the upper surface
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