KR20100003718U - Thin type grasp structure of circuit board tester - Google Patents

Thin type grasp structure of circuit board tester Download PDF

Info

Publication number
KR20100003718U
KR20100003718U KR2020080013065U KR20080013065U KR20100003718U KR 20100003718 U KR20100003718 U KR 20100003718U KR 2020080013065 U KR2020080013065 U KR 2020080013065U KR 20080013065 U KR20080013065 U KR 20080013065U KR 20100003718 U KR20100003718 U KR 20100003718U
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
arm
circuit board
active
clamp structure
fixed
Prior art date
Application number
KR2020080013065U
Other languages
Korean (ko)
Inventor
마오-시앙 우
Original Assignee
퀵 테스트 코포레이션 리미티드
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 퀵 테스트 코포레이션 리미티드 filed Critical 퀵 테스트 코포레이션 리미티드
Priority to KR2020080013065U priority Critical patent/KR20100003718U/en
Publication of KR20100003718U publication Critical patent/KR20100003718U/en

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/04Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/04Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G01R1/0408Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
    • G01R31/2806Apparatus therefor, e.g. test stations, drivers, analysers, conveyors
    • G01R31/2808Holding, conveying or contacting devices, e.g. test adapters, edge connectors, extender boards

Abstract

본 고안은 회로판 테스트기의 얇은 형 집게구조에 관한 것이다. 본 고안의 얇은 형 집게구조는 작업대, 베이스, 활동팔 및 전동조로 구성된다. 이 집게구조를 회로판 테스트기에 이용해서 집게구조가 더욱 얇아지며 부피를 적게 할 수 있다. 이 집게구조를 사용할 때 전동조가 축의 움직임으로 활동팔의 집게부를 느슨하게 한 후, 회로판을 두 개의 활동팔의 중심구역에 설치하고, 전동조가 다시 축의 움직임으로 이 집게부를 긴밀하게 하여 회로판이 이 두 개의 활동팔의 중심구역에 고정되어 균일하고 충분한 힘을 받게 된다. The present invention relates to a thin clamp structure of a circuit board tester. The thin clamp structure of the present invention is composed of a workbench, a base, an active arm, and an electric motor. This tong structure can be used for circuit board testers to make the tong structure thinner and less bulky. When using this tongs structure, the motors loosen the tongs of the active arm by the movement of the shaft, and then the circuit board is installed in the center area of the two active arms. It is fixed in the center of the arm and receives a uniform and sufficient force.

회로판, 테스트, 작업대, 베이스, 활동팔, 전동조, 집게 Circuit board, test, workbench, base, activity arm, power train, tongs

Description

회로판 테스트기의 얇은 형 집게구조{Thin type grasp structure of circuit board tester}Thin type grasp structure of circuit board tester

본 고안은 회로판 테스트기에 관한 것으로, 특히 회로판에 사용하는 얇은 형 집게구조에 관한 것이다. The present invention relates to a circuit board tester, and more particularly to a thin clamp structure used in the circuit board.

전자산업의 하루가 다른 발달로 전자제품의 설계 역시 나날이 복잡해 지고 있는데 회로판이 생산된 후 원래의 설계와 동일한 기능을 가지고 있는가를 알기 위해서는 정확한 회로판 테스트 기구로 측정을 해 보아야 한다. The development of electronic products is complicated by the development of the electronic industry one by one. In order to know whether the circuit board has the same function as the original design after production, it is necessary to measure with an accurate circuit board test apparatus.

회로판은 하나의 복잡한 회로를 가진 전자제품이다. 회로판 테스트기의 집게구조가 가지는 3가지 문제점은 다음과 같다. Circuit boards are electronics with one complex circuit. The three problems of the clamp structure of the circuit board tester are as follows.

「첫째, 어떻게 하면 간단한 부품조립을 통해 부피가 지나치게 커지는 것을 방지할 것인가, 둘째, 어떻게 회로판을 집는 힘이 충분하게 할 것인가, 셋째, 어떻게 이 집게구조를 빠른 시간 내에 조립할 것인가」하는 것이다. "First, how to prevent excessive bulkiness through simple assembly of parts, second, how to make enough force to hold the circuit board, and third, how to assemble this clamp structure in a short time."

종래의 회로판 테스트기, 예를 들어 중화민국 공고 제540703호의 회로판 테스트기는 상술한 개선되어야 할 문제를 안고 있는데, 회로판의 규격이 달라 어떻게 빠른 속도로 회로판 크기의 적당한 거리를 조정할 것인가 하는 것도 개선해야 할 문제점이다.The conventional circuit board tester, for example, the circuit board tester of the Republic of China Publication No. 540703 has the problem to be improved as described above, and the problem of how to adjust the proper distance of the circuit board size at a high speed due to different circuit board specifications to be.

상술한 종래 기술을 자세히 살펴보면 회로판 테스트기에 사용하는 구조가 비록 회로판이 테스트 작업을 완성할 수 있게 하지만, 그러나 각각 결점과 불편함을 가지고 있어 부피가 지나치게 크고 구조가 복잡하며 효율이 낮은 점 등이다. Looking at the above-described prior art in detail, the structure used in the circuit board tester, although the circuit board can complete the test work, but each has its drawbacks and inconveniences, such as excessive volume, complicated structure and low efficiency.

따라서 본 고안의 목적은 회로판 테스트기의 얇은 형 집게구조를 제공하는데 있으며 구조면적이 더욱 얇은 집게구조가 되게 한다. Therefore, an object of the present invention is to provide a thin clamp structure of a circuit board tester, and to make the structure area thinner.

본 고안의 또 다른 목적은 회로판 테스트기의 얇은 형 집게구조를 제공하는데 있으며 빠른 속도로 각종 다른 규격의 회로판을 조정하게 하고 나아가 집게구조가 필요로 하는 시간을 더욱 적게 줄이게 된다. Another object of the present invention is to provide a thin clamp structure of a circuit board tester, and it is possible to adjust circuit boards of various specifications at high speed and further reduce the time required by the clamp structure.

본 고안의 또 다른 목적은 회로판 테스트기의 얇은 형 집게구조를 제공하는데 있으며 회로판이 접어진 후 더욱 안정되어 회로판이 테스트기를 통과할 때 더욱 정확하게 테스트를 받을 수 있게 된다. Another object of the present invention is to provide a thin clamp structure of the circuit board tester, which is more stable after the circuit board is folded so that the circuit board can be more accurately tested when passing through the tester.

본 고안의 또 다른 목적은 회로판 테스트기의 얇은 형 집게구조를 제공하는데 있으며 회로판을 집을 때 그 잡는 힘이 더욱 균일하고 충분하게 된다. Another object of the present invention is to provide a thin clamp structure of the circuit board tester, the holding force is more uniform and sufficient when picking up the circuit board.

상술한 고안의 목적에서 보듯이 본 고안은 회로판 테스트기의 얇은 형 집게구조를 제공하는데, 이 얇은 형 집게구조는 작업대, 베이스, 활동팔, 및 전동조로 구성되어 있다. As seen from the object of the above invention, the present invention provides a thin clamp structure of a circuit board tester, which is composed of a workbench, a base, an active arm, and an electric motor.

상기 집게구조를 회로판 테스트기에 이용해서 집게구조가 더욱 얇아지며 부피를 적게 할 수 있다. 이 집게구조를 사용할 때 전동조가 축의 움직임으로 활동팔의 집게부를 느슨하게 한 후, 회로판을 두 개의 활동팔의 중심구역에 설치하고, 전동조가 다시 축의 움직임으로 이 집게부를 긴밀하게 하여 회로판이 두 개의 활동팔의 중심구역에 고정되어 균일하고 충분한 힘을 받게 된다. The tongs structure can be used in a circuit board tester to make the tongs structure thinner and reduce the volume. When using this tongs structure, the power train loosens the tongs of the active arm by the movement of the shaft, and then the circuit board is installed in the center area of the two active arms. It is fixed in the center of the arm and receives even and sufficient force.

본 고안은 회로판 테스트기의 얇은 형 집게구조이다. 다음은 이 회로판 테스트기의 얇은 형 집게구조의 사용방법을 설명하기로 한다. The present invention is a thin clamp structure of a circuit board tester. The following describes how to use the thin clamp structure of this circuit board tester.

도 1에서 3을 참고하면, 이는 본 고안의 얇은 형 집게구조의 구체적인 실시예로 적어도 하나의 작업대(1), 두 개의 베이스(2), 두 개의 활동팔(3)과 두 개의 전동조(5)로 구성된다. 1 to 3, this is a specific embodiment of the thin clamp structure of the present invention at least one workbench (1), two bases (2), two active arms (3) and two transmission tanks (5) It consists of.

상기 두 개의 베이스(2)는 서로 평행으로 작업대(1)에 설치되며, 상기 두 개의 활동팔(3)의 팔몸체(31)에는 열리거나 혹은 닫힌 상태의 집게부(32)가 설치된다.  The two bases 2 are installed on the worktable 1 in parallel with each other, and the tongs 32 in the open or closed state are installed in the arm bodies 31 of the two active arms 3.

상기 두 개의 전동조(5)는 각각 하나의 기압 항아리(51), 하나의 연축기(52)와 하나의 축막대(53)를 포함하며, 이 전동조(5)는 활동팔(3)의 윗부분에 고정되어 있어 집게부(32)를 축 움직임으로 움직일 수 있고 이러한 조합을 통해 얇은 형 집게구조가 이루어진다. Each of the two transmission tanks 5 includes one air pressure jar 51, one spatula 52, and one shaft bar 53, which are fixed to an upper portion of the active arm 3, respectively. It is possible to move the tongs 32 in the axial movement and through this combination is made of a thin type tongs structure.

상기 활동팔(3)에는 하나의 조정부품(6)이 있고, 이 조정부품(6)은 하나의 미끄럼 궤도조(61), 두 개의 이끔부품(62)과 하나의 나선막대(63)를 가지고 있어 활동팔(3)의 위치이동을 조정하며, 상기 미끄럼 궤도조는 두 개의 미끄럼 궤도(611)와 하나의 궤도(612)로 구성되며, 이 미끄럼 궤도(611)는 활동팔(3)의 적당한 위치에 고정되고, 이끔부품(62)은 나선막대(63)의 양 단에 축설되어 있으며, 각각 활동팔(3)의 미끄럼 궤도조의 아래부분(61)에 고정되어 있고, 상기 미끄럼 궤도조(61)는 이끔부품(62)과 함께 동시에 활동팔(3)의 위치이동을 작동시키고, 이끔부품(62)에는 하나의 조정버튼(64)과 하나의 고정부품(65)이 설치되어 있는데, 상기 조정버튼(64)은 나선막대(63)의 한 측에 설치되어 있어 이로써 이끔부품(62)의 위치이동을 조정하고, 상기 고정부품(65)은 이끔부품(62)과 조정버튼(64) 사이에 축설되어 활동팔(3)이 이동하지 않게 고정하며, 상기 조정버튼(64)에는 거리 눈금이 이 설치되어 고정부품(65)이 나선조임 방식으로 활동팔(3)을 긴밀히 고정한다. The active arm 3 has one adjusting part 6, which has one sliding track 61, two leading parts 62 and one spiral rod 63. Adjust the position movement of the active arm (3), the sliding track is composed of two sliding tracks (611) and one track (612), the sliding track (611) is the proper position of the active arm (3) And the part 62 is arranged at both ends of the spiral rod 63, respectively, and is fixed to the lower portion 61 of the sliding raceway of the active arm 3, and the sliding raceway 61 is fixed thereto. With this part 62 is operated at the same time to move the position of the active arm (3), this part 62 is provided with one adjustment button 64 and one fixed part 65, the adjustment button 64 is provided on one side of the spiral rod 63, thereby adjusting the positional movement of the part 62, and the fixing part 65 is the part 62 And the adjustment button 64 is fixed between the active arm (3) is fixed so as not to move, the adjustment button 64 is a distance scale is installed is fixed part 65 is the spiral arm fastening method (3) Tighten the

상기 활동팔(3)의 팔몸체(31)에는 하나의 도랑홈(311)이 설치되어 축막대(53)가 설치되게 제공하며, 이 활동팔(3)의 집게부(32)는 팔동팔(3)의 적당한 위치에 상감으로 설치되고, 축막대(53)는 집게부(32)의 한 측에 축 뚫음으로 설치된다. 상기 집게부(32)의 축 뚫음 곳의 양 단에는 각각 하나의 베어링(321)이 설치되어 축막대(53)가 뚫고 설치되게 제공한다. 상기 팔몸체(31)의 서로 마주보는 측에는 하나의 회로판 양변이 삽입설치되는 모서리(33)가 설치되게 한다. One ditch groove 311 is provided in the arm body 31 of the active arm 3 to provide a shaft bar 53 to be installed, and the forceps 32 of the active arm 3 are the arm arm ( 3) is installed inlaid in the appropriate position, the shaft rod 53 is installed on one side of the tongs 32 by the shaft piercing. Both bearings 321 are provided at both ends of the shaft hole of the forceps 32 to provide the shaft rod 53 to be installed. On the side facing each other of the arm body 31, one edge of the circuit board both sides is inserted is installed is installed.

상기 기압 항아리(51)는 하나의 공기진입 밸브(511)와 하나의 공기배출 밸브(512)에 연접되어 있으며 축 움직임으로 집게부(32)의 열림과 닫힘을 통제한다. The air pressure jar 51 is connected to one air inlet valve 511 and one air outlet valve 512 and controls the opening and closing of the forceps 32 by axial movement.

따라서 이렇게 본 고안의 회로판 테스트기의 얇은 형 집게구조는 작업대, 베이스, 활동팔 및 전동조로 구성된다. Therefore, the thin clamp structure of the circuit board tester of the present invention is composed of a workbench, a base, an active arm, and an electric transmission tank.

이 집게구조를 회로판 테스트기에 이용해서 집게구조가 더욱 얇아지며 부피를 적게 할 수 있다. 이 집게구조를 사용할 때 전동조가 축의 움직임으로 활동팔의 집게부를 느슨하게 한 후 회로판을 두 개의 활동팔의 중심구역에 설치하고, 전동조가 다시 축의 움직임으로 이 집게부를 긴밀하게 하여 회로판이 두 개의 활동팔의 중심구역에 고정되어 균일하고 충분한 힘을 받게 된다.This tong structure can be used for circuit board testers to make the tong structure thinner and less bulky. When using this tongs structure, the motors loosen the tongs of the active arm by the movement of the shaft, and then install the circuit board in the center area of the two active arms, and the motors again tighten this tongs by the movement of the shaft. It is fixed in the center area of the to receive uniform and sufficient force.

도 1은 본 고안의 구체적인 실시예의 회로판 테스트기의 얇은 형 집게구조의 입체도. 1 is a three-dimensional view of the thin clamp structure of the circuit board tester of a specific embodiment of the present invention.

도 2는 본 고안의 구체적인 실시예의 회로판 테스트기의 얇은 형 집게구조의 집게부가 열린 상태의 개략도. Figure 2 is a schematic view of the open state of the tongs of the thin clamp structure of the circuit board tester of a specific embodiment of the present invention.

도 3은 본 고안 구체적인 실시예의 회로판 테스트기의 얇은 형 집게구조의 집게부가 긴밀히 닫힌 상태의 개략도. Figure 3 is a schematic view of a closed state of the clamp portion of the thin clamp structure of the circuit board tester of a specific embodiment of the present invention.

** 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 **DESCRIPTION OF REFERENCE NUMERALS

1:작업대 2:베이스1: Workbench 2: Base

3:활동팔 31:팔몸체3: Active arm 31: Arm body

32:집게부 311:도랑홈32: Tongs section 311: Ditch groove

321:베어링 33:모서리321: Bearing 33: Corner

5:전동조 51:기압 항아리5: Electric tank 51: Pressure jar

511:공기진입 밸브 512:공기배출 밸브511: air inlet valve 512: air exhaust valve

52:연축기 53:축막대52: grinder 53: shaft rod

6:조정부품 61:미끄럼 궤도조6: adjusting part 61: sliding track

611:미끄럼 궤도 612 : 궤도611: sliding track 612: track

62:이끔부품 63:나선막대62 : Sometimes parts 63 : Spiral bar

64:조정버튼 65:고정부품64: adjustment button 65: fixed parts

Claims (8)

회로판의 테스트에 사용되는 하나의 작업대, 두 개의 베이스, 두 개의 활동판 및 두 개의 전동조를 포함하되, Includes one workbench, two bases, two active plates and two power trains used for testing circuit boards, 상기 두 개의 베이스는 서로 평행되게 작업대에 설치되며, The two bases are installed on the workbench parallel to each other, 상기 두 개의 활동팔은 거리를 두고 하나의 열린 상태와 닫힌 상태를 보여주는 집게부가 설치되며, The two active arms are provided with a forceps unit showing one open and closed state at a distance, 상기 두 개의 전동조는 하나의 기압 항아리, 하나의 연축기 및 하나의 축막대를 포함하며, 이 전동조는 상기 활동팔의 윗부분에 고정되어 축 움직임으로 상기 집게부를 움직이는 것을 특징으로 하는 회로판 테스트기의 얇은 형 집게구조.The two electromotive tanks include one air pressure jar, one softener, and one shaft rod, which are fixed to the upper part of the active arm and move the tongs by axial movement. rescue. 제1항에 있어서, 상기 활동팔에는 하나의 조정부품이 있고, 이 조정부품은 하나의 미끄럼 궤도조, 두 개의 이끔부품과 하나의 나선막대를 가지고 있어 활동팔의 위치이동을 조정하며, 상기 미끄럼 궤도조는 두 개의 미끄럼 궤도와 하나의 궤도로 구성되며, 상기 미끄럼 궤도는 활동팔에 고정되고, 상기 이끔부품은 나선막대의 양 단에 축설되어 미끄럼 궤도조의 아래부분에 고정되어 있고, 상기 미끄럼 궤도조는 이끔부품과 함께 동시에 활동팔의 위치이동을 작동시키는 것을 특징으로 하는 회로판 테스트기의 얇은 형 집게구조.2. The active arm of claim 1, wherein the active arm has one adjusting part, the adjusting part has one sliding track, two connecting parts and one spiral rod to adjust the movement of the active arm. The track is composed of two sliding tracks and one track, the sliding track is fixed to the active arm, the part is arranged on both ends of the spiral rod is fixed to the lower portion of the sliding track, the sliding track is Thin clamp structure of the circuit board tester, characterized in that the movement of the position of the active arm at the same time with the components. 제1항에 있어서, 상기 이끔부품에는 하나의 조정버튼과 하나의 고정부품이 설치되어 있는데, 상기 조정버튼은 나선막대의 한 측에 설치되어 있어 이로써 이끔부품의 위치이동을 조정하고, 상기 고정부품은 이끔부품과 조정버튼 사이에 축설되어 활동팔이 이동하지 않게 고정하는 것을 특징으로 하는 회로판 테스트기의 얇은 형 집게구조.According to claim 1, wherein the one part is provided with one adjustment button and one fixed part, the adjustment button is provided on one side of the spiral bar thereby adjusting the positional movement of the part, the fixed part This is a thin clamp structure of the circuit board tester, which is arranged between the parts and the adjustment button is fixed so that the active arm does not move. 제1항에 있어서, 상기 활동팔의 팔몸체에는 하나의 도랑홈이 설치되어 축막대가 설치되는 것을 특징으로 하는 회로판 테스트기의 얇은 형 집게구조.The thin clamp structure of claim 1, wherein one arm groove is installed in the arm body of the active arm, and a shaft rod is installed. 제1항에 있어서, 상기 활동팔의 집게부는 활동팔에 상감으로 설치되고, 축막대는 집게부의 한 측에 축 뚫음으로 설치되는 것을 특징으로 하는 회로판 테스트기의 얇은 형 집게구조.2. The thin clamp structure of claim 1, wherein the forceps of the activity arm are installed in the inlet of the force arm, and the rod is installed on one side of the forceps by shaft drilling. 제5항에 있어서, 상기 집게부의 축뚫음 곳의 양 단에는 각각 하나의 베어링이 설치되어 축막대가 뚫고 설치되는 것을 특징으로 하는 회로판 테스트기의 얇은 형 집게구조.[6] The thin clamp structure of claim 5, wherein one end of each bearing is installed at both ends of the shaft piercing portion of the tongs to penetrate the shaft rod. 제4항에 있어서, 상기 팔몸체의 서로 마주보는 측에는 하나의 회로판 양변이 삽입설치되는 모서리가 설치되는 것을 특징으로 하는 회로판 테스트기의 얇은 형 집게구조.The thin clamp structure of claim 4, wherein corners on which opposite sides of one circuit board are inserted are installed at opposite sides of the arm body. 제1항에 있어서, 상기 기압 항아리는 하나의 공기진입 밸브와 하나의 공기배출 밸브에 연접되어 있으며 축 움직임으로 집게부의 열림과 닫힘을 통제하는 것을 특징으로 하는 회로판 테스트기의 얇은 형 집게구조.The thin clamp structure of claim 1, wherein the air pressure jar is connected to one air inlet valve and one air outlet valve and controls opening and closing of the forceps by axial movement.
KR2020080013065U 2008-09-29 2008-09-29 Thin type grasp structure of circuit board tester KR20100003718U (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR2020080013065U KR20100003718U (en) 2008-09-29 2008-09-29 Thin type grasp structure of circuit board tester

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR2020080013065U KR20100003718U (en) 2008-09-29 2008-09-29 Thin type grasp structure of circuit board tester

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20100003718U true KR20100003718U (en) 2010-04-07

Family

ID=49294092

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR2020080013065U KR20100003718U (en) 2008-09-29 2008-09-29 Thin type grasp structure of circuit board tester

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR20100003718U (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108414797A (en) * 2016-11-02 2018-08-17 王飞 A kind of power distribution cabinet copper bar bus line quality testing auxiliary device

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108414797A (en) * 2016-11-02 2018-08-17 王飞 A kind of power distribution cabinet copper bar bus line quality testing auxiliary device
CN108414797B (en) * 2016-11-02 2020-05-12 江苏凯欣电气设备有限公司 Switch board copper bar generating line quality testing auxiliary device

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN201984086U (en) Clamp used for clamping patch-type resistance capacitance device
CN105527602B (en) A kind of electrical energy meter calibration platform
EP1826575A3 (en) Electronic device test set and contact used therein
CN104296791B (en) Printed circuit board test probe clamping device
ATE361458T1 (en) PROBE FOR WORKPIECES TO BE MACHINED
TW200734665A (en) Electronic component testing apparatus and electronic component testing method
CN104034921A (en) PCB (Printed Circuit Board) test fixture having orientating function
KR20100003718U (en) Thin type grasp structure of circuit board tester
CA2625190A1 (en) Apparatus and method for measuring deflection of a printed circuit board
CN110044231A (en) A kind of valve-face jack value measuring device
PT1599305E (en) Method and device for controlling the position of bore bushings
JP2008039725A5 (en)
CN211877373U (en) Dynamic load fatigue testing machine for testing coupler
CN203798479U (en) Torsion tester with vibration eliminating function
WO2008120518A1 (en) Tcp handling apparatus
CN207991440U (en) Concentricity detecting tool
MY143637A (en) Test apparatus for the testing of electronic components
CN205784964U (en) Torque arm suspension bracket cubing after a kind of CVT electromotor
CN103852201B (en) There is the torque force testing instrument that function is eliminated in vibrations
CN208477071U (en) A kind of pcb board detection device
EP1811313A3 (en) Electrical regenerator easurement probe
CN108789190A (en) A kind of grafting steel construction piece fixed fixture
JP2005077176A (en) Drop impact testing machine and clamping device of jig used therein
CN201867430U (en) Positioning structure of test bench
CN220626467U (en) Burn-in test fixed bolster of PCB board

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E601 Decision to refuse application