KR20090128024A - Solid state disk loading apparatus - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 SSD 로딩장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 캐리어 트레이에 수납된 SSD를 테스트 트레이에 로딩 시 캐리어 트레이에 수납된 다수개의 SSD를 테스트 트레이로 동시에 낙하시켜 로딩할 수 있는 SSD 로딩장치에 관한 것이다.The present invention relates to an SSD loading device, and more particularly, to an SSD loading device capable of simultaneously loading a plurality of SSDs stored in a carrier tray onto a test tray when loading an SSD stored in a carrier tray into a test tray. will be.
에스에스디(Solid State Disk: 이하, SSD로 칭함)는 컴퓨터에 사용되는 하드디스크(hard disk)나 이동 단말기에 사용되는 미니(mini) 하드디스크를 대체하기 위해 사용된다. SSD는 플래쉬 메모리(flash memory)와 같은 소자가 적용되어 프로그램의 실행속도가 빠르고, 부팅 디스크(booting disk)로 사용 시 하드디스크에 비해 부팅시간이 단축되는 장점을 가지고 있다. 이러한 SSD를 첨부된 도면을 참조하여 설명하면 다음과 같다.Solid State Disk (hereinafter referred to as SSD) is used to replace a hard disk used in a computer or a mini hard disk used in a mobile terminal. SSD has the advantage that the program execution speed is faster by using devices such as flash memory, and the boot time is shorter than the hard disk when used as a boot disk. This SSD will be described with reference to the accompanying drawings.
도 1은 SSD의 사시도이다. 도 1에서와 같이 SSD는 인쇄회로기판(1), 다수개의 플래쉬 메모리(2), 제어기(3), 입출력제어기(4) 및 커넥터(connector)(5)로 구성된다. 인쇄회로기판(1)은 양측면에 홈(1a)이 형성되며, 다수개의 플래쉬 메모리(2), 제어기(3), 입출력제어기(4) 및 커넥터(connector)(5)는 각각 인쇄회로기판(1)에 실장된다. 제어기(3)는 SSD를 전반적으로 제어하며, 입출력제어기(4)는 커 넥터(5)를 통해 입출력되는 데이터의 입출력을 제어한다. 다수개의 플래쉬 메모리(2)는 제어기(3)의 제어에 따라 입출력제어기(4)에서 입력되는 데이터를 저장하고, 출력할 데이터를 입출력제어기(4)로 출력한다. 입출력제어기(4)는 데이터를 커넥터(5)를 통해 외부로 출력하거나 수신되도록 제어한다. 데이터가 입출력되는 커넥터(5)는 다수개의 커넥트 핀(5a)이 구성되어 컴퓨터나 이동단말기의 입출력단자(도시 않음)에 연결된다.1 is a perspective view of an SSD. As shown in FIG. 1, the SSD includes a printed
상기 구성을 갖는 SSD의 조립이 완료되면 전기적인 테스트를 실시하게 되며, 이러한 SSD의 전기적인 특성을 테스트하기 위해 SSD 테스트 핸들러가 개발되고 있다. 이러한 종래의 SSD 테스트 핸들러는 캐리어 트레이에 수납된 SSD를 테스트 트레이로 로딩 시 SSD 픽커가 연속적으로 이동하여 캐리어 트레이에 수납된 SSD를 테스트 트레이로 로딩한 후 테스트 트레이를 테스트장치로 이송하여 SSD를 테스트 하였다. When the assembly of the SSD having the above configuration is completed, an electrical test is performed, and an SSD test handler is being developed to test the electrical characteristics of the SSD. In the conventional SSD test handler, when the SSD stored in the carrier tray is loaded into the test tray, the SSD picker continuously moves to load the SSD stored in the carrier tray into the test tray, and then transfers the test tray to the test apparatus to test the SSD. It was.
종래와 같이 캐리어 트레이에 수납된 다수개의 SSD를 SSD 픽커를 이용하여 테스트 트레이로 이송하는 경우에 SSD 픽커가 반복 이동하여 SSD를 테스트 트레이로 로딩함으로써 SSD 로딩시간이 길어지게 되어 SSD 테스트 작업의 생산성이 저하되는 문제점이 있다.In the case of transferring a plurality of SSDs stored in a carrier tray to a test tray using an SSD picker as in the related art, the SSD picker repeatedly moves and loads the SSD into the test tray, thereby increasing the SSD loading time, thereby increasing productivity of SSD test work. There is a problem of deterioration.
본 발명은 이러한 종래기술의 문제점을 감안하여 안출된 것으로, 그 목적은 테스트될 다수개의 SSD가 캐리어 트레이에 수납되면 이를 테스트 트레이로 동시에 이송시켜 로딩할 수 있는 SSD 로딩장치를 제공함에 있다.The present invention has been made in view of the problems of the prior art, and its object is to provide a SSD loading device that can be transported and loaded simultaneously to a test tray when a plurality of SSDs to be tested are accommodated in a carrier tray.
본 발명의 다른 목적은 캐리어 트레이에 수납된 다수개의 SSD를 테스트 트레이에 동시에 이송시켜 로딩할 수 있도록 함으로써 SSD 이송시간을 줄여 SSD 테스트 작업의 생산성을 개선시킬 수 있는 SSD 로딩장치를 제공함에 있다.Another object of the present invention is to provide a SSD loading device that can improve the productivity of the SSD test by reducing the SSD transfer time by allowing a plurality of SSDs stored in the carrier tray to be simultaneously transported and loaded in the test tray.
본 발명의 SSD 로딩장치는 베이스 프레임(base frame)의 일측에 설치되는 제1이송로봇과, 베이스 프레임의 타측에 설치되는 제2이송로봇과, 제1이송로봇에 설치되어 다수개의 SSD를 수납하는 테스트 트레이(test tray)와, 제2이송로봇에 설치되어 수납된 다수개의 SSD를 테스트 트레이로 낙하시키는 캐리어 트레이(carrier tray)와, 제1이송로봇의 하측에 위치되도록 베이스 프레임에 설치되어 캐리어 트레이에 수납된 SSD의 낙하 시 이를 지지하여 테스트 트레이로 낙하시켜 로딩(loading)시키는 SSD 로딩부로 구성됨을 특징으로 한다.SSD loading apparatus of the present invention is a first transport robot is installed on one side of the base frame (base frame), a second transport robot is installed on the other side of the base frame, and the first transport robot is installed to accommodate a plurality of SSD A test tray, a carrier tray for dropping a plurality of SSDs installed in the second transport robot into the test tray, and a carrier tray installed in the base frame so as to be positioned below the first transport robot. It is characterized by consisting of an SSD loading unit for loading and dropping by dropping to the test tray to support it when the SSD stored in the drop.
본 발명의 SSD 로딩장치는 캐리어 트레이에 수납된 다수개의 SSD를 테스트 트레이로 동시에 낙하시켜 로딩할 수 있도록 함으로써 SSD 이송시간을 줄여 SSD 테스트 작업의 생산성을 개선시킬 수 있는 이점을 제공한다.The SSD loading apparatus of the present invention provides an advantage of improving SSD productivity by reducing SSD transfer time by loading and dropping a plurality of SSDs stored in a carrier tray onto a test tray at the same time.
(실시예)(Example)
본 발명의 SSD 로딩장치의 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 설명하면 다음과 같다.An embodiment of the SSD loading apparatus of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.
도 2는 본 발명의 SSD 테스트 핸들러의 개략 구성도이고, 도 3은 도 2에 도시된 SSD 로딩장치의 분리 조립 사시도이다.2 is a schematic configuration diagram of the SSD test handler of the present invention, Figure 3 is an exploded assembly perspective view of the SSD loading apparatus shown in FIG.
도 2 및 도 3에서와 같이 본 발명의 SSD 로딩장치는 제1이송로봇(20), 제2이송로봇(30), 테스트 트레이(40), 캐리어 트레이(50) 및 SSD 로딩부(60)로 구성되며, 각각의 상세한 구성을 설명하면 다음과 같다.2 and 3, the SSD loading apparatus of the present invention includes a
제1이송로봇(20)은 베이스 프레임(10)의 일측에 설치되며, 제2이송로봇(30)은 베이스 프레임(10)의 타측에 설치된다. 이러한 제1이송로봇(20)과 제2이송로봇(30)은 각각 리니어모터나 볼스크류 이송기구와 같은 직선이송기구가 적용된다.The
테스트 트레이(40)는 제1이송로봇(20)에 설치되어 다수개의 SSD를 수납하며, 캐리어 트레이(50)는 제2이송로봇(30)에 설치되어 테스트 트레이(40)의 상측으로 이송되면 수납된 다수개의 SSD를 테스트 트레이(40)로 낙하시킨다. SSD 로딩부(60)는 제1이송로봇(20)의 하측에 위치되도록 베이스 프레임(10)에 설치되어 캐리어 트레이(50)에 수납된 SSD의 낙하 시 이를 지지하여 테스트 트레이(40)로 낙하시켜 로딩시킨다. The
상기 구성 중 테스트 트레이(40), 캐리어 트레이(50) 및 SSD 로딩부(60)의 구성을 보다 상세히 설명하면 다음과 같다.The configuration of the test tray 40, the carrier tray 50 and the
테스트 트레이(40)는 도 3 및 도 4에서와 같이 모듈안착부재(41), 다수개의 보조프레임(42) 및 다수개의 소켓모듈(43)로 구성된다. The
모듈안착부재(41)는 제1이송로봇(20)에 설치되며, 다수개의 보조프레임(42)은 모듈안착부재(41)에 설치된다. 즉, 도 3에서와 같이 다수개의 보조 프레임(42) 은 모듈안착부재(41)에 각각 일정 간격으로 이격되어 설치된다. 다수개의 소켓모듈(43)은 다수개의 보조프레임(42)에 각각 설치되어 SSD를 수납하며, 하측에 관통홈(43a)이 형성된다. The
SSD를 수납하는 다수개의 소켓모듈(43)은 도 4에서와 같이 SSD 수납부재(43b)와 다수개의 래치부재(43c)로 이루어진다. SSD 수납부재(43b)는 SSD를 수납하고, 저면에 SSD 로딩부(60)의 지지부재(64)가 삽입되어 수직방향으로 승/하강될 수 있도록 관통홈(43a)이 형성되며, 다수개의 래치부재(43c)는 SSD 수납부재(43b)의 양단에 각각 설치되어 SSD를 지지하거나 해제한다.The plurality of
캐리어 트레이(50)는 도 3 및 도 5에서와 같이 SSD 수납부재(51) 및 래치기구(52)로 구성된다.The
SSD 수납부재(51)는 제2이송로봇(30)에 설치되며 다수개의 수납홈(51a)이 형성된다. 래치기구(52)는 SSD 수납부재(51)의 하측에 설치되어 다수개의 수납홈(51a)의 양측을 커버하거나 해제하여 SSD가 낙하되도록 한다. 이러한 래치기구(52)는 제1바이송기구(52a)와 제2바이송기구(52b)로 이루어진다. The SSD accommodating
제1바이송기구(52a)는 SSD 수납부재(51)의 하측에 설치되어 다수개의 수납홈(51a)의 일측을 커버하거나 해제한다. 즉, 제1바이송기구(52a)는 도 5에 도시된 화살표 a1,a2방향으로 이동하여 SSD 수납부재(51)의 하측에 설치되어 다수개의 수납홈(51a)의 일측을 커버하거나 해제한다. 이러한 제1바이송기구(52a)는 다수개의 제1연결부재(111), 다수개의 제1바(112), 다수개의 제1탄성부재(113) 및 제1공압실린더(114)로 구성된다. The
다수개의 제1연결부재(111)는 제1바이송기구(52a)를 각각 전반적으로 지지하며, 다수개의 제1바(112)는 다수개의 제1연결부재(111)와 연동되도록 각각 설치되어 다수개의 수납홈(51a)의 일측을 커버하거나 해제한다. 다수개의 제1탄성부재(113)는 각각 다수개의 제1연결부재(111)와 SSD 수납부재(51)에 각각 설치되어 다수개의 제1바(112)에 의해 다수개의 수납홈(51a)의 일측이 커버되도록 탄성력을 제공한다. 즉, 도 5에서와 같이 다수개의 제1탄성부재(113)는 압축 스프링이 적용되어 다수개의 제1바(112)를 화살표 a1방향으로 이동시켜 다수개의 수납홈(51a)의 일측을 항상 커버하여 SSD가 수납되도록 한다. The plurality of
제1공압실린더(114)는 다수개의 제1연결부재(111)에 설치되어 다수개의 제1바(112)에 의해 커버된 다수개의 수납홈(51a)의 일측이 해제되도록 다수개의 제1연결부재(111)를 이동시켜 다수개의 수납홈(51a)에 수납된 SSD가 자유 낙하될 수 있도록 한다. 즉, 도 5에서와 같이 제1공압실린더(114)는 다수개의 수납홈(51a)의 일측을 커버하고 있는 다수개의 제1바(112)를 화살표 a2방향으로 이동시켜 SSD가 자유 낙하되도록 한다.The first
제2바이송기구(52b)는 SSD 수납부재(51)의 하측에 설치되어 다수개의 수납홈(51a)의 타측을 커버하거나 해제한다. 즉, 제2바이송기구(52b)는 도 5에 도시된 화살표 b1,b2방향으로 이동하여 SSD 수납부재(51)의 하측에 설치되어 다수개의 수납홈(51a)의 타측을 커버하거나 해제한다. 이러한, 제2바이송기구(52b)는 제2바이송기구(52b)는 다수개의 제2연결부재(121), 다수개의 제2바(122), 다수개의 제2탄성부재(123) 및 제2공압실린더(124)로 구성된다. The
다수개의 제2연결부재(121)는 제2바이송기구(52b)를 각각 전반적으로 지지하며, 다수개의 제2바(122)는 다수개의 제2연결부재(121)와 연동되도록 각각 설치되어 다수개의 수납홈(51a)의 타측을 커버하거나 해제한다. 다수개의 제2탄성부재(123)는 각각 다수개의 제2연결부재(121)와 SSD 수납부재(51)에 각각 설치되어 다수개의 제2바(122)에 의해 다수개의 수납홈(51a)의 타측이 커버되도록 탄성력을 제공한다. 즉, 도 5에서와 같이 다수개의 제2탄성부재(123)는 압축 스프링이 적용되어 다수개의 제2바(122)를 화살표 b1방향으로 이동시켜 다수개의 수납홈(51a)의 타측을 항상 커버하여 SSD가 수납되도록 한다. The plurality of second connecting
제2공압실린더(124)는 다수개의 제2연결부재(121)에 설치되어 다수개의 제2바(122)에 의해 커버된 다수개의 수납홈(51a)의 타측이 해제되도록 다수개의 제2연결부재(121)를 이동시켜 다수개의 수납홈(51a)에 수납된 SSD가 자유 낙하될 수 있도록 한다. 즉, 도 5에서와 같이 제2공압실린더(124)는 다수개의 수납홈(51a)의 타측을 커버하고 있는 다수개의 제2바(122)를 화살표 b2방향으로 이동시켜 SSD가 자유 낙하되도록 한다.The second
SSD 로딩부(60)는 고정플레이트(61), 다수개의 가이드부싱(guide busing)(62), 이동플레이트(63), 다수개의 지지부재(64) 및 승강기구(65)로 구성된다. The
고정플레이트(61)는 베이스 프레임(10)에 설치되며, 다수개의 가이드부싱(62)은 고정플레이트(61)에 설치된다. 이동플레이트(63)는 다수개의 가이드부싱(62)에 설치되어 승/하강되며, 다수개의 지지부재(64)는 이동플레이트(63)에 연 동되도록 설치되어 SSD를 지지한다. 승강기구(65)는 고정플레이트(61)에 설치되어 캐리어 트레이(50)에 수납된 SSD 낙하 시 다수개의 지지부재(64)가 테스트 트레이(40)의 소켓모듈(43)에 형성된 관통홈(43a)을 통과하여 캐리어 트레이(50)에 수납된 SSD를 지지하여 테스트 트레이(40)에 로딩되도록 이동플레이트(63)를 승/하강시킨다. 이러한 승강기구(65)는 공압실린더나 볼스크류 이송기가 적용된다. The fixed
상기 구성을 갖는 본 발명의 SSD 로딩장치의 작용을 첨부된 도 6a 내지 도 6c를 참조하여 설명하면 다음과 같다.The operation of the SSD loading apparatus of the present invention having the above configuration will be described with reference to FIGS. 6A to 6C.
도 2에 도시된 제1이송로봇(20) 및 제2이송로봇(30)에 의해 테스트 트레이(40)가 로딩위치로 이송되고, 캐리어 트레이(50)가 테스트 트레이(40)의 상측에 위치되면 SSD 로딩부(60)의 다수개의 지지부재(64)는 도 6a에서와 같이 테스트 트레이(40)를 지나 캐리어 트레이(50)에 수납된 다수개의 SSD의 저면을 지지하기 위해 승강한다. When the
다수개의 지지부재(64)가 SSD를 지지하면 캐리어 트레이(50)의 래치기구(52)는 다수개의 수납홈(51a)의 양측을 커버하고 있는 상태를 해제하게 된다. 다수개의 수납홈(51a)의 커버 상태가 해제되면 다수개의 지지부재(64)는 도 6b에서와 같이 하강한다. 이러한 하강을 연속적으로 하여 다수개의 지지부재(64)가 도 6c에서와 같이 하강되면 SSD는 테스트 트레이(40)에 로딩되고, 다시 지지부재(64)는 테스트 트레이(40)의 하측으로 하강하여 로딩작업을 완료하게 된다. When the plurality of
SSD 로딩이 완료되면 테스트 트레이(40)는 테스트 트레이 이송로봇(11: 도 2에 도시됨)에 의해 화살표 방향으로 회전 및 직선 이송되어 테스트장치(12: 도 2에 도시됨)로 이송된다. 이와 같이 다수개의 지지부재(64)는 캐리어 트레이(50)가 수납된 SSD를 테스트 트레이(40)로 동시 이송시켜 로딩시킴으로써 SSD의 이송작업 시간을 개선시킬 수 있게 된다. When the SSD loading is completed, the
본 발명의 SSD 로딩장치는 SSD를 자동으로 테스트하는 SSD 테스트 핸들러 분야에 적용할 수 있다.SSD loading apparatus of the present invention can be applied to the field of SSD test handler for automatically testing the SSD.
도 1은 SSD의 사시도,1 is a perspective view of an SSD,
도 2는 본 발명의 SSD 테스트 핸들러의 개략 구성도,2 is a schematic structural diagram of an SSD test handler of the present invention;
도 3은 도 2에 도시된 SSD 로딩장치의 분리 조립 사시도,3 is an exploded perspective view of the SSD loading apparatus shown in FIG. 2;
도 4는 도 3에 도시된 소켓모듈의 분리 조립 사시도,4 is an exploded perspective view of the socket module shown in FIG. 3;
도 5는 도 3에 도시된 래치기구의 사시도,5 is a perspective view of the latch mechanism shown in FIG.
도 6a 내지 도 6c는 도 3에 도시된 SSD 로딩장치의 작동 상태를 나타낸 도.6a to 6c are views showing an operating state of the SSD loading apparatus shown in FIG.
* 도면의 주요 부분에 대한 부호 설명 *Explanation of symbols on the main parts of the drawings
10: 베이스 프레임 20: 제1이송로봇10: base frame 20: first transfer robot
30: 제2이송로봇 40: 테스트 트레이30: second transfer robot 40: test tray
41: 모듈안착부재 42: 보조프레임 41: module seating member 42: auxiliary frame
43: 소켓모듈 50: 캐리어 트레이 43: socket module 50: carrier tray
51: SSD 수납부재 52: 래치기구51: SSD storage member 52: latch mechanism
52a: 제1바이송기구 52b: 제2바이송기구52a:
60: SSD 로딩부 61: 고정플레이트 60: SSD loading unit 61: fixed plate
62: 가이드부싱 63: 이동플레이트62: guide bushing 63: moving plate
64: 지지부재 65: 승강기구64: support member 65: lifting mechanism
Claims (7)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020080054000A KR100958277B1 (en) | 2008-06-10 | 2008-06-10 | Solid state disk loading apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020080054000A KR100958277B1 (en) | 2008-06-10 | 2008-06-10 | Solid state disk loading apparatus |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20090128024A true KR20090128024A (en) | 2009-12-15 |
KR100958277B1 KR100958277B1 (en) | 2010-05-19 |
Family
ID=41688496
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020080054000A KR100958277B1 (en) | 2008-06-10 | 2008-06-10 | Solid state disk loading apparatus |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100958277B1 (en) |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100395366B1 (en) * | 2000-12-27 | 2003-08-21 | 미래산업 주식회사 | Handler for testing semiconductor |
-
2008
- 2008-06-10 KR KR1020080054000A patent/KR100958277B1/en not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR100958277B1 (en) | 2010-05-19 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |