KR20090125487A - Scribing apparatus and method - Google Patents

Scribing apparatus and method Download PDF

Info

Publication number
KR20090125487A
KR20090125487A KR1020080051621A KR20080051621A KR20090125487A KR 20090125487 A KR20090125487 A KR 20090125487A KR 1020080051621 A KR1020080051621 A KR 1020080051621A KR 20080051621 A KR20080051621 A KR 20080051621A KR 20090125487 A KR20090125487 A KR 20090125487A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
substrate
polishing
unit
mother substrate
corner
Prior art date
Application number
KR1020080051621A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR100964328B1 (en
Inventor
이춘호
Original Assignee
세메스 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 세메스 주식회사 filed Critical 세메스 주식회사
Priority to KR1020080051621A priority Critical patent/KR100964328B1/en
Publication of KR20090125487A publication Critical patent/KR20090125487A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR100964328B1 publication Critical patent/KR100964328B1/en

Links

Images

Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B24GRINDING; POLISHING
    • B24BMACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
    • B24B9/00Machines or devices designed for grinding edges or bevels on work or for removing burrs; Accessories therefor
    • B24B9/02Machines or devices designed for grinding edges or bevels on work or for removing burrs; Accessories therefor characterised by a special design with respect to properties of materials specific to articles to be ground
    • B24B9/06Machines or devices designed for grinding edges or bevels on work or for removing burrs; Accessories therefor characterised by a special design with respect to properties of materials specific to articles to be ground of non-metallic inorganic material, e.g. stone, ceramics, porcelain
    • B24B9/08Machines or devices designed for grinding edges or bevels on work or for removing burrs; Accessories therefor characterised by a special design with respect to properties of materials specific to articles to be ground of non-metallic inorganic material, e.g. stone, ceramics, porcelain of glass
    • B24B9/10Machines or devices designed for grinding edges or bevels on work or for removing burrs; Accessories therefor characterised by a special design with respect to properties of materials specific to articles to be ground of non-metallic inorganic material, e.g. stone, ceramics, porcelain of glass of plate glass
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03BMANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
    • C03B33/00Severing cooled glass
    • C03B33/02Cutting or splitting sheet glass or ribbons; Apparatus or machines therefor
    • C03B33/023Cutting or splitting sheet glass or ribbons; Apparatus or machines therefor the sheet or ribbon being in a horizontal position
    • C03B33/033Apparatus for opening score lines in glass sheets
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03BMANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
    • C03B33/00Severing cooled glass
    • C03B33/02Cutting or splitting sheet glass or ribbons; Apparatus or machines therefor
    • C03B33/023Cutting or splitting sheet glass or ribbons; Apparatus or machines therefor the sheet or ribbon being in a horizontal position
    • C03B33/03Glass cutting tables; Apparatus for transporting or handling sheet glass during the cutting or breaking operations
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/18Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
    • H01L21/30Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
    • H01L21/302Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to change their surface-physical characteristics or shape, e.g. etching, polishing, cutting
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02PCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
    • Y02P40/00Technologies relating to the processing of minerals
    • Y02P40/50Glass production, e.g. reusing waste heat during processing or shaping
    • Y02P40/57Improving the yield, e-g- reduction of reject rates

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
  • Ceramic Engineering (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)

Abstract

PURPOSE: A scribing apparatus, and a scribing method are provided to reduce the tact time of the polishing process, thereby improving productivity. CONSTITUTION: A scribing apparatus comprises a first scribing part which forms a scribe line on the upper side of a mother substrate(1); a shift part which turns over the mother substrate having the scribe line formed at the upper side; a second scribing part which forms a scribe line on the lower side of the mother substrate; a shift polishing part which turns over the mother substrate having the scribe line formed at the lower side, and polishes the corner where the edges of the mother substrate cross; and an edge polishing part which polishes the edges of the mother substrate.

Description

스크라이빙 장치 및 방법{SCRIBING APPARATUS AND METHOD}Scribing device and method {SCRIBING APPARATUS AND METHOD}

본 발명은 평판 디스플레이 패널의 제조에 사용되는 장치 및 방법에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 복수의 단위 기판들이 형성된 모 기판에 스크라이브 라인을 형성하는 스크라이빙 장치 및 방법에 관한 것이다.The present invention relates to an apparatus and method for use in the manufacture of a flat panel display panel, and more particularly, to a scribing apparatus and method for forming a scribe line on a mother substrate having a plurality of unit substrates.

최근 들어, 정보 처리 기기는 다양한 형태의 기능과 더욱 빨라진 정보 처리 속도를 갖도록 급속하게 발전하고 있다. 이러한 정보 처리 기기는 가동된 정보를 표시하는 디스플레이(Display)를 가진다. 종래에는 디스플레이로서 주로 브라운관(Cathode Ray Tube) 모니터가 사용되었으나, 최근에는 가볍고 공간을 작게 차지하는 박막 트랜지스터-액정 디스플레이(Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display Panel)나 유기 다이오드 디스플레이(Organic Light Emitting Diodes display)와 같은 평판 디스플레이의 사용이 크게 증대하고 있다. Recently, information processing devices have been rapidly developed to have various types of functions and faster information processing speeds. Such information processing apparatus has a display for displaying the activated information. Conventionally, a cathode ray tube monitor is mainly used as a display, but recently, a light and space-saving thin film transistor-liquid crystal display panel or organic light emitting diodes display The use of such flat panel displays is greatly increasing.

일반적으로, 평판 디스플레이 등에 사용되는 패널은 보통 취성 기판을 이용하여 제작되며, 패널은 한 장으로 구성된 단판 기판이나 2장의 기판이 접합된 접합 기판으로 대별된다.In general, a panel used for a flat panel display or the like is usually manufactured using a brittle substrate, and the panel is roughly classified into a single plate substrate composed of one sheet or a bonded substrate bonded to two substrates.

접합 기판은 휴대 전화의 액정 표시기용의 패널과 같이 소형인 것부터 TV나 디스플레이 등의 패널과 같은 대형의 다양한 크기로 가공되어 사용되기 때문에, 대형의 모 기판으로부터 소정 크기의 단위 기판으로 절단되어 각각의 패널로 이용된다.Since the bonded substrate is processed into small and various sizes, such as a panel for a liquid crystal display of a mobile phone, to a large size such as a panel such as a TV or a display, the bonded substrate is cut into a unit substrate having a predetermined size from a large parent substrate, Used as a panel.

모 기판을 절단하는 방법으로는, 미세한 다이아몬드가 박혀있는 스크라이브 휠(Scribe Wheel)을 이용하여 절단하는 방법 및 레이저빔을 이용하여 절단하는 방법 등이 있다.As a method of cutting a mother substrate, there are a method of cutting using a scribe wheel (Scribe Wheel) in which fine diamonds are embedded, and a method of cutting using a laser beam.

스크라이브 휠을 이용하여 모 기판을 절단하는 방법은 스크라이브 휠을 모 기판의 절단 예정선에 접촉한 후 절단 예정선을 따라 소정 깊이의 스크라이브 라인(Scribe Line)을 형성하는 스크라이빙 공정과, 모 기판에 물리적인 충격을 가하여 스크라이브 라인을 따라 크랙(Crack)이 전파되도록 함으로써 모 기판을 단위 기판으로 절단하는 브레이킹 공정으로 이루어진다.A method of cutting a mother substrate using a scribe wheel includes a scribing process of contacting a scribe wheel with a cutting target line of the mother substrate and forming a scribe line having a predetermined depth along the cutting target line, and a mother substrate. A cracking process propagates along a scribe line by applying a physical impact to the breaker to break the parent substrate into a unit substrate.

레이저 빔을 이용하여 모 기판을 절단하는 방법은 모 기판의 절단 예정선을 따라 스크라이브용 레이저 빔을 조사하여 스크라이브 라인을 형성하고 가열된 스크라이브 라인을 급냉시키는 스크라이빙 공정과, 스크라이브 라인을 따라 브레이크용 레이저 빔을 조사하여 모 기판을 단위 기판으로 절단하는 브레이킹 공정으로 이루어진다.A method of cutting a mother substrate using a laser beam includes a scribing process of irradiating a scribe laser beam along a cutting line of the mother substrate to form a scribe line and quenching the heated scribe line, and a brake along the scribe line. It is made of a braking step of cutting the parent substrate into a unit substrate by irradiating a laser beam for.

본 발명은 공정 시간의 단축을 통해 생산성을 향상시킬 수 있는 스크라이빙 장치 및 방법을 제공하기 위한 것이다.It is an object of the present invention to provide a scribing apparatus and method capable of improving productivity through shortening of process time.

본 발명의 목적은 여기에 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 목적들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.The object of the present invention is not limited thereto, and other objects not mentioned will be clearly understood by those skilled in the art from the following description.

상기한 과제를 달성하기 위하여 본 발명에 의한 스크라이빙 장치는 모 기판의 상면에 스크라이브 라인을 형성하는 제 1 스크라이빙부; 상면에 스크라이브 라인이 형성된 상기 모 기판을 반전시키는 반전부; 상기 모 기판의 하면에 스크라이브 라인을 형성하는 제 2 스크라이빙부; 하면에 스크라이브 라인이 형성된 상기 모 기판을 반전시키고, 상기 모 기판의 모서리들이 교차하는 코너를 연마하는 반전-연마부; 및 상기 모 기판의 모서리들을 연마하는 모서리 연마부를 포함하는 것을 특징으로 한다.In order to achieve the above object, the scribing apparatus according to the present invention comprises a first scribing unit for forming a scribe line on the upper surface of the parent substrate; An inverting unit for inverting the mother substrate on which a scribe line is formed; A second scribing unit forming a scribe line on a lower surface of the mother substrate; An inverted-polishing unit for inverting the mother substrate having a scribe line formed on a lower surface thereof, and polishing a corner at which edges of the mother substrate cross each other; And an edge polishing part for polishing the edges of the mother substrate.

상술한 바와 같은 구성을 가지는 본 발명에 의한 스크라이빙 장치에 있어서, 상기 반전-연마부는 상기 제 2 스크라이빙부로부터 전달되는 상기 모 기판을 상기 모서리 연마부로 인계하며, 코너 연마시 상기 모 기판을 접촉 지지하는 이송 유닛; 상기 이송 유닛의 상측에 이격 배치되며, 상기 모 기판을 반전시키는 반전 유닛; 및 상기 이송 유닛 후단의 양측에 각각 배치되며, 상기 모 기판의 코너를 연마하는 연마 유닛을 포함할 수 있다.In the scribing apparatus according to the present invention having the configuration as described above, the inverted-polishing portion takes over the mother substrate transferred from the second scribing portion to the corner polishing portion, and at the corner polishing, A conveying unit for contact supporting; An inversion unit spaced above the transfer unit and inverting the mother substrate; And a polishing unit disposed at both sides of the rear end of the transfer unit and polishing a corner of the mother substrate.

상기 연마 유닛은 회전 중심 축이 상기 모 기판의 평면에 나란하게 배치되는 연마 석; 상기 연마 석을 회전시키는 회전 구동기; 및 상기 회전 구동기를 상기 모 기판의 이동 방향에 수직한 방향으로 직선 이동시키는 직선 구동기를 포함할 수 있다.The polishing unit includes: a polishing stone having a rotational center axis disposed side by side in the plane of the parent substrate; A rotary driver for rotating the abrasive stone; And a linear driver for linearly moving the rotary driver in a direction perpendicular to the moving direction of the parent substrate.

상기 이송 유닛에 의해 지지된 상기 모 기판의 모서리들과 접촉하여 상기 모 기판을 정렬시키는 정렬 롤러를 더 포함할 수 있다.The apparatus may further include an alignment roller which contacts the edges of the mother substrate supported by the transfer unit to align the mother substrate.

상기한 과제를 달성하기 위하여 본 발명에 의한 스크라이빙 방법은 모 기판의 상면에 스크라이브 라인을 형성하는 단계; 하면이 위 방향을 향하도록 상기 모 기판을 반전시키는 단계; 상기 모 기판의 하면에 스크라이브 라인을 형성하는 단계; 상기 모 기판의 어느 일 측의 모서리 양쪽에 위치하는 코너를 연마하고, 상면이 위 방향을 향하도록 상기 모 기판을 반전시킨 후 상기 모 기판의 상기 일 측 모서리와 대향하는 타 측 모서리의 양쪽에 위치하는 코너를 연마하는 단계; 및 상기 모 기판의 모서리들을 연마하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 한다.In order to achieve the above object, the scribing method according to the present invention comprises the steps of forming a scribe line on the upper surface of the parent substrate; Inverting the parent substrate such that a lower surface thereof faces upward; Forming a scribe line on a bottom surface of the parent substrate; Grind the corners located on both sides of the corner of any one side of the parent substrate, invert the mother substrate so that the upper surface is facing upwards, and then located on both sides of the other side opposite the one corner of the mother substrate Polishing the corners; And polishing edges of the parent substrate.

상술한 바와 같은 구성을 가지는 본 발명에 의한 스크라이빙 방법에 있어서, 상기 모 기판의 코너를 연마하는 단계 이전에 상기 모 기판의 기울어짐을 보정하는 정렬 단계를 더 포함할 수 있다.In the scribing method according to the present invention having the configuration as described above, the method may further include an alignment step of correcting the inclination of the mother substrate before the polishing of the corners of the mother substrate.

본 발명에 의하면, 에지 연마부에서 수행되던 기판의 코너 연마 공정을 에지 연마부의 전단에 배치된 반전부에서 수행함으로써 공정 시간(Tact Time)을 단축시킬 수 있으며, 이를 통해 생산성을 향상시킬 수 있다.According to the present invention, the process time (Tact Time) can be shortened by performing the corner polishing process of the substrate, which was performed in the edge polishing unit, in the inverting unit disposed at the front end of the edge polishing unit, thereby improving productivity.

이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시 예에 따른 스크라이빙 장치 및 방법을 상세히 설명하기로 한다. 우선 각 도면의 구성 요소들에 참조 부호를 부가함에 있어서, 동일한 구성 요소들에 대해서는 비록 다른 도면상에 표시 되더라도 가능한 한 동일한 부호를 가지도록 하고 있음에 유의해야 한다. 또한, 본 발명을 설명함에 있어, 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략한다.Hereinafter, a scribing apparatus and a method according to a preferred embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. First, in adding reference numerals to the components of each drawing, it should be noted that the same reference numerals have the same reference numerals as much as possible even if displayed on different drawings. In addition, in describing the present invention, when it is determined that the detailed description of the related well-known configuration or function may obscure the gist of the present invention, the detailed description thereof will be omitted.

( 실시 예 )(Example)

도 1은 모 기판의 일 예를 보여주는 도면이다.1 is a diagram illustrating an example of a mother substrate.

도 1을 참조하면, 모 기판(1)은 박막 트랜지스터-액정 디스플레이(Thin Film Transistor - Liquid Crystal Display, TFT-LCD)용 패널일 수 있다. 모 기판(1)은 대체로 사각형의 판 형상을 가지는 제 1 모 기판(2)과 제 2 모 기판(3)으로 이루어진다. 제 1 모 기판(2)과 제 2 모 기판(3)은 상하로 적층된다. 제 1 및 제 2 모 기판(2,3)에는 복수 개의 단위 기판들(2a,3a)이 형성되고, 단위 기판들(2a,3a)은 제 1 및 제 2 모 기판(2,3)의 평면상에 격자 모양으로 배열될 수 있다. 제 1 모 기판(2)은 컬러 필터(CF) 기판이 형성된 기판이고, 제 2 모 기판(3)은 박막 트랜지스터(TFT) 기판이 형성된 기판일 수 있다. 한편, 모 기판(1)은 평판 디스플레이용 패널의 일종인 유기 발광 다이오드(Organic Light Emitting Diodes, OLED) 디스플레이용 패널 등일 수 있다. Referring to FIG. 1, the mother substrate 1 may be a panel for a thin film transistor-liquid crystal display (TFT-LCD). The mother substrate 1 is composed of a first mother substrate 2 and a second mother substrate 3 having a generally rectangular plate shape. The first mother substrate 2 and the second mother substrate 3 are stacked up and down. A plurality of unit substrates 2a and 3a are formed on the first and second mother substrates 2 and 3, and the unit substrates 2a and 3a are planes of the first and second mother substrates 2 and 3. It may be arranged in a grid shape on the phase. The first mother substrate 2 may be a substrate on which a color filter (CF) substrate is formed, and the second mother substrate 3 may be a substrate on which a thin film transistor (TFT) substrate is formed. The mother substrate 1 may be a panel for organic light emitting diodes (OLED) display, which is a kind of panel for a flat panel display.

도 2는 본 발명에 따른 스크라이빙 장치의 구성을 개략적으로 보여주는 도면이다.2 is a view schematically showing the configuration of a scribing apparatus according to the present invention.

도 2를 참조하면, 스크라이빙 장치는 모 기판(도 1의 도면 참조 번호 1)을 복수 개의 단위 기판들로 분리하기 위한 것으로, 로딩부(10), 제 1 스크라이빙부(20), 반전부(30), 제 2 스크라이빙부(40), 버퍼부(50), 반전-연마부(60), 모서리 연마부(70), 세정부(80), 그리고 언로딩부(90)를 포함한다. 로딩부(10), 제 1 스크라이빙부(20), 반전부(30), 제 2 스크라이빙부(40), 버퍼부(50), 반전-연마부(60), 모서리 연마부(70), 세정부(80), 그리고 언로딩부(90)는 일렬로 순차적으로 배치될 수 있다. Referring to FIG. 2, the scribing apparatus is used to separate a parent substrate (reference numeral 1 of FIG. 1) into a plurality of unit substrates, and includes a loading unit 10, a first scribing unit 20, and a van. All 30, second scribing portion 40, buffer portion 50, inverted-polishing portion 60, corner polishing portion 70, cleaning portion 80, and unloading portion 90 do. Loading part 10, first scribing part 20, inverting part 30, second scribing part 40, buffer part 50, inverted-polishing part 60, edge grinding part 70 The cleaning unit 80 and the unloading unit 90 may be sequentially arranged in a row.

모 기판(1)은 로딩부(10)를 통해 스크라이빙 장치(1)로 반입되고, 제 1 스크라이빙부(20), 반전부(30), 그리고 제 2 스크라이빙부(40)를 순차적으로 거쳐 복수 개의 단위 기판들로 분리하기 위한 스크라이브 라인이 모 기판(1)에 형성된다. 제 1 스크라이빙부(20)는 제 1 모 기판(2), 즉 컬러 필터(CF) 기판상에 스크라이브 라인을 형성하고, 제 2 스크라이빙부(40)는 제 2 모 기판(3), 즉 박막 트랜지스터(TFT) 기판상에 스크라이브 라인을 형성한다. 그리고, 반전부(30)는 제 1 스크라이빙부(20)에서 제 1 모 기판(2)에 대해 스크라이브 라인이 형성된 후, 제 1 모 기판(2), 즉 컬러 필터(CF) 기판이 아래 방향을 향하도록 모 기판(1)을 반전시키며, 이와 같은 상태에서 모 기판(1)이 제 2 스크라이빙부(40)로 전달된다.The mother substrate 1 is loaded into the scribing apparatus 1 through the loading unit 10, and sequentially the first scribing unit 20, the inverting unit 30, and the second scribing unit 40 are sequentially loaded. A scribe line for separating into a plurality of unit substrates is formed in the mother substrate 1 through the above. The first scribing unit 20 forms a scribe line on the first mother substrate 2, that is, the color filter CF substrate, and the second scribing unit 40 is the second mother substrate 3, that is, A scribe line is formed on a thin film transistor (TFT) substrate. In the inverting unit 30, after a scribe line is formed with respect to the first mother substrate 2 in the first scribing unit 20, the first mother substrate 2, that is, the color filter CF substrate, moves downward. The mother substrate 1 is inverted to face the mother substrate 1, and in this state, the mother substrate 1 is transferred to the second scribing unit 40.

제 2 스크라이빙부(40)에서 박막 트랜지스터(TFT) 기판상에 스크라이브 라인이 형성된 후, 모 기판(1)은 박막 트랜지스터(TFT) 기판이 위쪽 방향을 향한 상태로 버퍼부(50)로 전달된다. 버퍼부(50)는 모 기판(1)을 일시 보관하고, 반전-연마부(60)로 모 기판을 전달한다. 반전-연마부(60)는 모 기판의 모서리들이 교차하는 4 곳의 코너를 연마하는 공정을 진행하며, 코너 연마 공정의 중간 단계에서 컬러 필터(CF) 기판이 위쪽 방향을 향하도록 모 기판을 반전시킨다. 이에 대한 상세한 설명은 후술하기로 한다. 반전-연마부(60)에서 코너 연마 공정이 진행된 모 기판은 모서리 연마부(70)로 이송되고, 모서리 연마부(70)는 제 1 및 제 2 모 기판의 네 변의 모서리들을 연마한다. 모서리 연마 공정이 완료된 모 기판은 세정부(80)로 이송되어 세정 처리된 후 언로딩부(90)를 통해 장치(1)의 외부로 반출된다.After the scribe line is formed on the thin film transistor (TFT) substrate in the second scribing unit 40, the mother substrate 1 is transferred to the buffer unit 50 with the thin film transistor (TFT) substrate facing upward. . The buffer unit 50 temporarily stores the mother substrate 1 and transfers the mother substrate to the inverted-polishing unit 60. The inversion-polishing part 60 performs a process of polishing four corners at which the edges of the mother substrate cross each other, and inverts the mother substrate so that the color filter (CF) substrate faces upward in the middle of the corner polishing process. Let's do it. Detailed description thereof will be described later. The mother substrate subjected to the corner polishing process in the inverse-polishing unit 60 is transferred to the corner polishing unit 70, and the corner polishing unit 70 polishes four edges of the first and second mother substrates. After the corner polishing process is completed, the mother substrate is transferred to the cleaning unit 80 and cleaned, and then transported to the outside of the apparatus 1 through the unloading unit 90.

도 3은 도 2의 반전-연마부(60)의 측면도이고, 도 4는 도 2의 반전-연마부(60)의 평면도이다. 도 3 및 도 4를 참조하면, 반전 연마부(60)는 이송 유닛(100), 반전 유닛(200), 그리고 연마 유닛(300)을 포함한다. 3 is a side view of the inversion-polishing portion 60 of FIG. 2, and FIG. 4 is a plan view of the inversion-polishing portion 60 of FIG. 2. 3 and 4, the reverse polishing unit 60 includes a transfer unit 100, a reverse unit 200, and a polishing unit 300.

이송 유닛(100)은 버퍼부(50)를 통해 제 2 스크라이빙부(40)로부터 전달되는 모 기판을 모서리 연마부(70)로 인계하며, 코너 연마 공정의 진행시 모 기판을 접촉 지지한다. 이송 유닛(100)은 이송 축들(110), 이송 롤러들(120), 그리고 지지 부재(130)를 포함한다. 이송 축들(110)은 길이 방향이 기판(S)의 이송 방향에 수직한 방향을 향하고, 기판(S)의 이송 방향을 따라 좌우 양측에 나란하게 배치된다. 이송 축들(110)은 지지 부재(130)에 회전 가능하게 결합될 수 있으며, 이송 축들(110)에는 기판(S)의 하면에 접촉되어 회전하는 이송 롤러들(120)이 삽입 설치된다. The transfer unit 100 takes over the mother substrate transferred from the second scribing unit 40 through the buffer unit 50 to the corner polishing unit 70, and contacts and supports the mother substrate during the progress of the corner polishing process. The conveying unit 100 includes conveying shafts 110, conveying rollers 120, and a support member 130. The conveying axes 110 are arranged in a length direction in a direction perpendicular to the conveying direction of the substrate S, and are arranged side by side on both left and right sides along the conveying direction of the substrate S. FIG. The conveying shafts 110 may be rotatably coupled to the support member 130, and the conveying rollers 110 are inserted into and installed in the conveying shafts 110 to be in contact with the lower surface of the substrate S.

그리고, 이송 유닛(100)에 의해 지지되는 기판(S)은 긴 변(S1)이 이송 축들(110)에 수직하고, 짧은 변(S2)이 이송 축들(110)에 평행하도록 정렬되어야 한다. 이를 위해 정렬 롤러들(140, 150)이 제공된다. 정렬 롤러들(140)은 기판(S)의 짧은 변(S2)과 접촉하고, 정렬 롤러들(150)은 기판(S)의 긴 변(S1)과 접촉하여 기 판(S)이 기울어지지 않도록 정렬시킨다. 정렬 롤러들(140,150)은 이송 수단(미도시)에 의해 기판(S)의 긴 변(S1) 또는 짧은 변(S2)으로/으로부터 직선 이동될 수 있다.In addition, the substrate S supported by the transfer unit 100 should be aligned such that the long side S1 is perpendicular to the transfer axes 110 and the short side S2 is parallel to the transfer axes 110. Alignment rollers 140, 150 are provided for this purpose. The alignment rollers 140 are in contact with the short side S2 of the substrate S, and the alignment rollers 150 are in contact with the long side S1 of the substrate S so that the substrate S is not inclined. Align it. The alignment rollers 140, 150 may be linearly moved to / from the long side S1 or the short side S2 of the substrate S by a conveying means (not shown).

반전 유닛(200)은 이송 유닛(100)의 상측에 이격 배치되며, 이송 유닛(100)에 의해 지지된 기판(S)을 반전시킨다. 버퍼부(50)로부터 반전-연마부(60)로 전달되는 기판은 박막 트랜지스터(TFT) 기판이 위쪽 방향을 향한 상태이며, 이 상태에서 기판(S) 일 측의 코너에 대한 연마 공정이 진행된다. 그리고, 반전 유닛(200)은 컬러 필터(CF) 기판이 위쪽 방향을 향하도록 기판(S)을 반전시키고, 이 상태에서 기판(S) 타 측의 코너에 대한 연마 공정이 진행된다.The inversion unit 200 is spaced apart from the upper side of the transfer unit 100 and inverts the substrate S supported by the transfer unit 100. The substrate transferred from the buffer unit 50 to the inverted-polishing unit 60 has a thin film transistor (TFT) substrate facing upwards, and in this state, a polishing process for one corner of the substrate S is performed. . In addition, the inversion unit 200 inverts the substrate S so that the color filter CF substrate is directed upward, and in this state, the polishing process for the corner of the other side of the substrate S is performed.

연마 유닛(300)은 기판의 코너를 연마하며, 이송 유닛(100)의 후단 양측에 각각 배치된다. 연마 유닛(300)은 연마 석(310)과, 회전 구동기(320), 그리고 직선 구동기(330)를 포함한다. 연마 석(310)은 원판 형상을 가질 수 있으며, 일 측 모서리부분이 기판의 코너 연마 공정을 위해 모따기된 형상으로 이루어질 수 있다. 연마 석(310)은 회전 중심 축이 기판(S)의 평면에 나란하도록 배치되며, 연마 석(310)에는 회전 구동력을 제공하기 위한 회전 구동기(320), 즉 모터가 연결된다. 그리고, 회전 구동기(320)에는 회전 구동기(320)를 기판의 이동 방향에 수직한 방향, 즉 이송 축들(110)의 길이 방향으로 직선 이동시키기 위한 직선 구동기(330)가 연결된다. 직선 구동기(330)로는 실린더가 사용될 수 있으며, 이 밖에 모터와 기어의 조합으로 이루어진 어셈블리가 사용될 수 있다.The polishing unit 300 polishes the corners of the substrate and is disposed at both sides of the rear end of the transfer unit 100, respectively. The polishing unit 300 includes an abrasive stone 310, a rotation driver 320, and a linear driver 330. The abrasive stone 310 may have a disc shape, and one side edge portion may have a chamfered shape for the corner polishing process of the substrate. The abrasive stone 310 is disposed so that the rotational center axis is parallel to the plane of the substrate S, and the abrasive stone 310 is connected to a rotary driver 320, that is, a motor, to provide a rotational driving force. In addition, the rotary driver 320 is connected to the linear driver 330 for linearly moving the rotary driver 320 in a direction perpendicular to the moving direction of the substrate, that is, in the longitudinal direction of the transfer axes 110. A cylinder may be used as the linear driver 330, and an assembly composed of a combination of a motor and a gear may be used.

상기와 같은 구성을 가지는 반전-연마부를 이용하여 기판의 코너를 연마하는 공정을 설명하면 다음과 같다.Referring to the process of polishing the corner of the substrate using the inverted-polishing portion having the configuration as described above are as follows.

도 5a 내지 도 5d는 본 발명에 따른 반전-연마부를 이용하여 모 기판의 코너를 연마하는 과정을 보여주는 도면들이다.5A to 5D are views illustrating a process of polishing a corner of a parent substrate using an inverted-polishing unit according to the present invention.

먼저, 스크라이빙 공정이 진행된 기판이 버퍼부(50)로부터 전달되고, 기판(S)은 이송 유닛(100)에 의해 지지된다. 이때, 기판(S)은 박막 트랜지스터(TFT) 기판이 위쪽 방향을 향한 상태이다.(도 4a) First, the substrate subjected to the scribing process is transferred from the buffer unit 50, and the substrate S is supported by the transfer unit 100. At this time, the substrate S is a state in which the thin film transistor TFT substrate is directed upward (Fig. 4A).

이후, 정렬 롤러(140)가 기판의 짧은 변(S2)과 접촉하고, 정렬 롤러(150)가 기판의 긴 변(S1)과 접촉하여 기판(S)을 정렬시킨다. 이 상태에서 연마 유닛(300)이 기판(S)의 코너(C1, C2)를 향해 이동하고, 연마 석(310)이 회전 구동기(320)의 회전력을 전달받아 회전하면서 기판(S)의 코너(C1, C2)를 연마한다.(도 4b)Thereafter, the alignment roller 140 contacts the short side S2 of the substrate, and the alignment roller 150 contacts the long side S1 of the substrate to align the substrate S. In this state, the polishing unit 300 moves toward the corners C1 and C2 of the substrate S, and the abrasive stone 310 is rotated under the rotational force of the rotation driver 320 while rotating the corners of the substrate S. C1 and C2) are polished (FIG. 4B).

기판(S)의 코너(C1, C2)에 대한 연마 공정이 완료되면, 연마 유닛(300)은 직선 구동기(330)에 의해 후퇴하고, 기판(S)은 반전 유닛(200)에 의해 컬러 필터(CF) 기판이 위쪽 방향을 향하도록 반전된다. 이때, 기판(S)은 반전에 의해 기판(S)의 코너(C3, C4)가 연마 유닛(300) 측에 위치한 상태가 된다. 그리고, 이 상태에서 정렬 롤러(140)가 기판의 짧은 변(S2)과 접촉하고, 정렬 롤러(150)가 기판의 긴 변(S1)과 접촉하여 기판(S)을 정렬시킨다.(도 4c)When the polishing process for the corners C1 and C2 of the substrate S is completed, the polishing unit 300 is retracted by the linear driver 330, and the substrate S is removed by the inversion unit 200. CF) The substrate is reversed to face upward. At this time, the substrate S is in a state where the corners C3 and C4 of the substrate S are located on the polishing unit 300 side by inversion. In this state, the alignment roller 140 contacts the short side S2 of the substrate, and the alignment roller 150 contacts the long side S1 of the substrate to align the substrate S (FIG. 4C).

기판이 정렬된 상태에서, 연마 유닛(300)은 기판(S)의 코너(C3, C4)를 향해 이동하고, 연마 석(310)이 회전 구동기(320)의 회전력을 전달받아 회전하면서 기판(S)의 코너(C3, C4)를 연마한다.(도 4d) In the state in which the substrates are aligned, the polishing unit 300 moves toward the corners C3 and C4 of the substrate S, and the abrasive stone 310 is rotated by receiving the rotational force of the rotation driver 320. The corners C3 and C4 are polished (FIG. 4D).

이와 같이 기판의 코너들(C1, C2, C3, C4)들에 대한 연마 공정이 완료되면, 기판(S)은 모서리 연마부(도 2의 도면 참조 번호 70)으로 전달되고, 모서리 연마부(70)에서 기판(S) 상하면의 모서리들에 대한 연마 공정이 진행된다. As such, when the polishing process for the corners C1, C2, C3, and C4 of the substrate is completed, the substrate S is transferred to the edge polishing portion (reference numeral 70 of FIG. 2), and the corner polishing portion 70 ), The polishing process is performed on the edges of the upper and lower surfaces of the substrate S.

상술한 바와 같이, 본 발명은 기판의 코너들에 대한 연마 공정은 모서리 연마부(70)의 전단에 배치된 반전-연마부(60)에서 진행되고, 기판의 모서리들에 대한 연마 공정은 반전-연마부(60) 후단의 모서리 연마부(70)에서 별도의 공정으로 진행되는 것을 특징으로 가진다. 이와 같이 기판의 코너 연마 공정과 기판의 모서리 연마 공정이 분리된 상태에서 진행되면, 기판의 코너들과 모서리들에 대한 연마 공정이 하나의 연마부에서 진행되는 종래의 경우와 비교하여 공정 시간을 단축시킬 수 있다. 이는 종래에는 반전부와 연마부가 인접하게 배치되지만, 반전부에서의 공정 시간과 비교하여 연마부에서의 공정 시간이 길기 때문에, 연마부에서 공정의 병목 현상이 일어나기 때문이다. 이러한 병목 현상을 줄이기 위해, 본 발명은 기판의 연마 공정 중 일부, 즉 기판의 코너 연마 공정을 연마부의 전단에 배치된 반전부에서 진행하기 때문에, 종래의 경우와 같은 공정의 병목 현상을 해소할 수 있다.As described above, in the present invention, the polishing process for the corners of the substrate is performed in the inversion-polishing unit 60 disposed at the front end of the corner polishing unit 70, and the polishing process for the corners of the substrate is inverted- The polishing unit 60 is characterized in that it proceeds in a separate process in the corner polishing unit 70 of the rear end. As described above, when the corner polishing process of the substrate and the corner polishing process of the substrate are separated, the process time is shortened as compared with the conventional case in which the polishing process for the corners and corners of the substrate is performed in one polishing unit. You can. This is because the inverted part and the polished part are conventionally arranged, but the process bottleneck occurs in the polished part because the process time in the polished part is longer than the process time in the inverted part. In order to reduce such a bottleneck, the present invention proceeds a part of the polishing process of the substrate, that is, the corner polishing process of the substrate in the inverted portion disposed at the front end of the polishing portion, thereby eliminating the bottleneck of the conventional process. have.

이상의 설명은 본 발명의 기술 사상을 예시적으로 설명한 것에 불과한 것으로서, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 다양한 수정 및 변형이 가능할 것이다. 따라서, 본 발명에 개시된 실시 예들은 본 발명의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이고, 이러한 실시 예에 의하여 본 발명의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다. 본 발명의 보호 범위는 아래의 청구범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 발명의 권리범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.The above description is merely illustrative of the technical idea of the present invention, and those skilled in the art to which the present invention pertains may make various modifications and changes without departing from the essential characteristics of the present invention. Therefore, the embodiments disclosed in the present invention are not intended to limit the technical idea of the present invention but to describe the present invention, and the scope of the technical idea of the present invention is not limited by these embodiments. The scope of protection of the present invention should be interpreted by the following claims, and all technical ideas within the scope equivalent thereto should be construed as being included in the scope of the present invention.

이하에 설명된 도면들은 단지 예시의 목적을 위한 것이고, 본 발명의 범위를 제한하기 위한 것이 아니다.The drawings described below are for illustrative purposes only and are not intended to limit the scope of the invention.

도 1은 모 기판의 일 예를 보여주는 도면,1 is a view showing an example of a mother substrate,

도 2는 본 발명에 따른 스크라이빙 장치의 구성을 개략적으로 보여주는 도면,2 is a view schematically showing the configuration of a scribing apparatus according to the present invention;

도 3은 도 2의 반전-연마부의 측면도,3 is a side view of the inverted-polishing part of FIG. 2;

도 4는 도 2의 반전-연마부의 평면도,4 is a plan view of the inverted-polishing part of FIG. 2;

도 5a 내지 도 5d는 본 발명에 따른 반전-연마부를 이용하여 모 기판의 코너를 연마하는 과정을 보여주는 도면들이다.5A to 5D are views illustrating a process of polishing a corner of a parent substrate using an inverted-polishing unit according to the present invention.

< 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 ><Description of Symbols for Main Parts of Drawings>

20, 40 : 스크라이빙부 60 : 반전-연마부20, 40: scribing unit 60: inverted-polishing unit

70 : 모서리 연마부 100 : 이송 유닛70: corner grinding unit 100: transfer unit

200 : 반전 유닛 300 : 연마 유닛200: reversal unit 300: polishing unit

Claims (6)

모 기판의 상면에 스크라이브 라인을 형성하는 제 1 스크라이빙부;A first scribing unit forming a scribe line on an upper surface of the parent substrate; 상면에 스크라이브 라인이 형성된 상기 모 기판을 반전시키는 반전부;An inverting unit for inverting the mother substrate on which a scribe line is formed; 상기 모 기판의 하면에 스크라이브 라인을 형성하는 제 2 스크라이빙부;A second scribing unit forming a scribe line on a lower surface of the mother substrate; 하면에 스크라이브 라인이 형성된 상기 모 기판을 반전시키고, 상기 모 기판의 모서리들이 교차하는 코너를 연마하는 반전-연마부; 및An inverted-polishing unit for inverting the mother substrate having a scribe line formed on a lower surface thereof, and polishing a corner at which edges of the mother substrate cross each other; And 상기 모 기판의 모서리들을 연마하는 모서리 연마부를 포함하는 것을 특징으로 하는 스크라이빙 장치.And a corner polishing portion for polishing the corners of the parent substrate. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 반전-연마부는,The reverse-polishing part, 상기 제 2 스크라이빙부로부터 전달되는 상기 모 기판을 상기 모서리 연마부로 인계하며, 코너 연마시 상기 모 기판을 접촉 지지하는 이송 유닛;A transfer unit which takes over the mother substrate transferred from the second scribing unit to the corner polishing unit and contacts and supports the mother substrate during corner polishing; 상기 이송 유닛의 상측에 이격 배치되며, 상기 모 기판을 반전시키는 반전 유닛; 및An inversion unit spaced above the transfer unit and inverting the mother substrate; And 상기 이송 유닛 후단의 양측에 각각 배치되며, 상기 모 기판의 코너를 연마하는 연마 유닛을 포함하는 것을 특징으로 하는 스크라이빙 장치.And a polishing unit disposed at both sides of the rear end of the transfer unit, the polishing unit polishing the corner of the mother substrate. 제 2 항에 있어서,The method of claim 2, 상기 연마 유닛은,The polishing unit, 회전 중심 축이 상기 모 기판의 평면에 나란하게 배치되는 연마 석과;An abrasive stone having a rotational center axis disposed side by side in the plane of the parent substrate; 상기 연마 석을 회전시키는 회전 구동기와;A rotary driver for rotating the abrasive stone; 상기 회전 구동기를 상기 모 기판의 이동 방향에 수직한 방향으로 직선 이동시키는 직선 구동기를 포함하는 것을 특징으로 하는 스크라이빙 장치.And a linear driver for linearly moving the rotary driver in a direction perpendicular to the moving direction of the parent substrate. 제 2 항에 있어서,The method of claim 2, 상기 이송 유닛에 의해 지지된 상기 모 기판의 모서리들과 접촉하여 상기 모 기판을 정렬시키는 정렬 롤러를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 스크라이빙 장치.And an alignment roller that contacts the edges of the parent substrate supported by the transfer unit to align the parent substrate. 모 기판의 상면에 스크라이브 라인을 형성하는 단계;Forming a scribe line on the top surface of the parent substrate; 하면이 위 방향을 향하도록 상기 모 기판을 반전시키는 단계;Inverting the parent substrate such that a lower surface thereof faces upward; 상기 모 기판의 하면에 스크라이브 라인을 형성하는 단계;Forming a scribe line on a bottom surface of the parent substrate; 상기 모 기판의 어느 일 측의 모서리 양쪽에 위치하는 코너를 연마하고, 상면이 위 방향을 향하도록 상기 모 기판을 반전시킨 후 상기 모 기판의 상기 일 측 모서리와 대향하는 타 측 모서리의 양쪽에 위치하는 코너를 연마하는 단계; 및Grind the corners located on both sides of the corner of any one side of the parent substrate, invert the mother substrate so that the upper surface is facing upwards, and then located on both sides of the other side opposite the one corner of the mother substrate Polishing the corners; And 상기 모 기판의 모서리들을 연마하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 스크라이빙 방법.And grinding edges of the parent substrate. 상기 모 기판의 코너를 연마하는 단계 이전에 상기 모 기판의 기울어짐을 보 정하는 정렬 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 스크라이빙 방법.And an alignment step of correcting the inclination of the parent substrate before polishing the corners of the parent substrate.
KR1020080051621A 2008-06-02 2008-06-02 Scribing apparatus and method KR100964328B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020080051621A KR100964328B1 (en) 2008-06-02 2008-06-02 Scribing apparatus and method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020080051621A KR100964328B1 (en) 2008-06-02 2008-06-02 Scribing apparatus and method

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20090125487A true KR20090125487A (en) 2009-12-07
KR100964328B1 KR100964328B1 (en) 2010-06-17

Family

ID=41686984

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020080051621A KR100964328B1 (en) 2008-06-02 2008-06-02 Scribing apparatus and method

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100964328B1 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20130248932A1 (en) * 2012-03-26 2013-09-26 Fujitsu Limited Manufacturing method of semiconductor device, semiconductor device, and semiconductor crystal growth substrate

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20020054872A (en) * 2000-12-28 2002-07-08 구본준, 론 위라하디락사 Device for grinding a panel and method for grinding the same
KR101003610B1 (en) 2003-09-24 2010-12-23 엘지디스플레이 주식회사 Apparatus for cutting liquid crystal display panel and method for cutting thereof
KR20050093300A (en) * 2004-03-18 2005-09-23 엘지.필립스 엘시디 주식회사 Apparatus for cutting liquid crystal display panel and method for cutting thereof
KR20070062240A (en) * 2005-12-12 2007-06-15 삼성전자주식회사 Chemical mechanical polishing equipment

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20130248932A1 (en) * 2012-03-26 2013-09-26 Fujitsu Limited Manufacturing method of semiconductor device, semiconductor device, and semiconductor crystal growth substrate
US9136344B2 (en) * 2012-03-26 2015-09-15 Fujitsu Limited Manufacturing method of semiconductor device, semiconductor device, and semiconductor crystal growth substrate

Also Published As

Publication number Publication date
KR100964328B1 (en) 2010-06-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4563351B2 (en) Method for cutting liquid crystal display panel and method for manufacturing liquid crystal display panel using the same
JP4198601B2 (en) Method of dividing brittle material substrate and cutting apparatus using the method
WO2010131581A1 (en) Substrate washing method and substrate washing apparatus
JP4839411B2 (en) Mask blank substrate, mask blank and photomask
KR20030067998A (en) Cutter of liquid crystal panel and cutting method thereof
JP2003241173A (en) Method for cutting liquid crystal display panel
JP2003275955A (en) Grinding table for liquid crystal display panel and grinding apparatus utilizing the same
KR101296808B1 (en) grinding apparatus for plat display panel and grinding method
US8047898B2 (en) Grinder wheel for liquid crystal display device and method of fabricating liquid crystal display device using the same
KR100855876B1 (en) A scribing unit and an apparatus scribing a panel with the unit, and a scribing method and a method manufacturing substrates
KR20140127742A (en) Substrate processing system and substrate processing method
JP6109551B2 (en) Liquid crystal panel polishing method
KR100964328B1 (en) Scribing apparatus and method
TWI448358B (en) Grinding apparatus and method for fabrication of liquid crystal display device
KR100978858B1 (en) Apparatus for and method of scribing panel
KR100672631B1 (en) Cleaning Device Used For Fabricating Liquid Crystal Display Device
JP2003200336A (en) Chamfering method for liquid crystal display panel
KR101034377B1 (en) Apparatus and method for cutting a glass
KR20100055769A (en) Substrate grinding apparatus and method for grinding the substrate using the same
KR100772169B1 (en) Apparatus for breaking and picking of substrate
JP6525395B2 (en) Glass plate and method of manufacturing the same
KR100691216B1 (en) Apparatus for transfering substrate
KR101226953B1 (en) Apparatusfor polishing substrates
KR101101161B1 (en) Apparutus and method for grinding panel
KR20160123454A (en) Scribing apparatus

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
LAPS Lapse due to unpaid annual fee