KR20090121220A - 전기적 도전성 재료로 만들어진 검사 물체에서 맴돌이 전류 디스플레이들, 특히 크랙들을 결정 및 평가하기 위한 방법 - Google Patents

전기적 도전성 재료로 만들어진 검사 물체에서 맴돌이 전류 디스플레이들, 특히 크랙들을 결정 및 평가하기 위한 방법 Download PDF

Info

Publication number
KR20090121220A
KR20090121220A KR1020090043085A KR20090043085A KR20090121220A KR 20090121220 A KR20090121220 A KR 20090121220A KR 1020090043085 A KR1020090043085 A KR 1020090043085A KR 20090043085 A KR20090043085 A KR 20090043085A KR 20090121220 A KR20090121220 A KR 20090121220A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
eddy current
determining
evaluating
test object
current displays
Prior art date
Application number
KR1020090043085A
Other languages
English (en)
Other versions
KR101636346B1 (ko
Inventor
마티아스 융블루트
롤프 빌켄회너
Original Assignee
지멘스 악티엔게젤샤프트
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 지멘스 악티엔게젤샤프트 filed Critical 지멘스 악티엔게젤샤프트
Publication of KR20090121220A publication Critical patent/KR20090121220A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR101636346B1 publication Critical patent/KR101636346B1/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
    • G01N27/72—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
    • G01N27/82—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws
    • G01N27/90—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
    • G01N27/72—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
    • G01N27/82—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws
    • G01N27/90—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents
    • G01N27/9046—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents by analysing electrical signals
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B7/00—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
    • G01B7/16—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring the deformation in a solid, e.g. by resistance strain gauge
    • G01B7/24—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring the deformation in a solid, e.g. by resistance strain gauge using change in magnetic properties
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
    • G01N27/72—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
    • G01N27/82—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws
    • G01N27/90—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents
    • G01N27/9073—Recording measured data

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electrochemistry (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)

Abstract

본 발명은 전기 도전성 재료로 만들어진 검사 물체에서 맴돌이 전류 디스플레이들, 특히 크랙들을 결정 및 평가하기 위한 방법에 관한 것이고, 상기 방법은:
미리 결정된 일정하거나 가변하는 주파수(f)의 교류 전자기장을 검사 물체에 인가하는 단계,
검사 물체의 표면 부분(10) 상에서 미리 결정된 병렬 측정 트랙들(cn, cn +1, cn+2, cn +3, cn +4)을 따라 검사 물체에 유도된 맴돌이 전류들을 검출하는 단계,
맴돌이 전류 신호들(x1, x2, x3, x4, x5)을 제공하는 단계 - 각각의 맴돌이 전류 신호(x1, x2, x3, x4, x5)는 측정 트랙(cn, cn +1, cn +2, cn +3, cn +4)에 할당됨 -,
맴돌이 전류 신호들(x1, x2, x3, x4, x5)을 조절하고(14) 측정 트랙(cn, cn +1, cn+2, cn +3, cn +4), 주파수(f) 및 상기 측정 트랙(cn, cn +1, cn +2, cn +3, cn +4)을 따른 위치(s)의 함수로서 조절되고 측정된 변수들(u1, u2, u3, u4, u5)을 제공하는 단계,
적어도 하나의 인접한 측정 트랙(cn, cn +1, cn +2, cn +3, cn +4)의 조절되고 측정된 변수들(u1, u2, u3, u4, u5)을 사용하여 조절된 측정 변수들(u1, u2, u3, u4, u5)을 해석하는 단계(16), 및
조절되고 측정된 변수들과 비교에 의해 수정된 폭 및/또는 트랙 위치를 가진 합성 크랙 신호들(v1, v2, v3, v4, v5)을 제공하는 단계를 가진다.

Description

전기적 도전성 재료로 만들어진 검사 물체에서 맴돌이 전류 디스플레이들, 특히 크랙들을 결정 및 평가하기 위한 방법{METHOD FOR DETERMINING AND EVALUATION EDDY-CURRENT DISPLAYS, IN PARTICULAR CRACKS, IN A TEST OBJECT MADE FROM AN ELECTRICALLY CONDUCTIVE MATERIAL}
본 발명은 전기적 도전성 재료로 만들어진 검사 물체에서 맴돌이 전류 디스플레이들, 특히 크랙들을 결정 및 평가하기 위한 방법에 관한 것이다.
비파괴적인 방법들은 다수의 재료 검사들의 경우 요구된다. 예들은 부식, 산화, 확산 및 추가 노화 과정들을 초래하는 환경에 빈번하게 노출된 금속으로 이루어진 구성요소들의 표면들이다. 크랙들은 또한 기계적 스트레스들에 의해 구성요소의 표면 내에서 발생될 수 있다.
예를 들어 이것은 또한 가스 터빈의 이동 가능 가이드 블레이드들에 적용되고, 상기 블레이드들은 그 표면이 기계적 및 열적 부하들로 인해 특히 크랙 형성에 노출된다. 비파괴적인 검사 방법들은 블레이드 휠의 현재 상태를 검사하기 위해 요구된다.
적당한 비파괴적 검사 방법들은 맴돌이 전류 원리를 적용하여 수행될 수 있 다. 이 경우, 검사 물체는 설정될 수 있는 주파수를 가진 교류 전자기장에 노출된다. 이에 따라 맴돌이 전류들은 검사 물체에 유도된다. 맴돌이 전류들에 의해 형성된 전자기장, 또는 상기 전자기장의 유도 전압은 검출된다. 상기 유도된 전압의 진폭 및 위상 각도는 이 경우 결정될 수 있다.
맴돌이 전류 방법은 구성요소의 표면 내 크랙들을 결정하기 위하여 사용될 수 있다. 크랙 깊이는 본래 맴돌이 전류 방법의 도움으로 결정될 수 있다. 그러나, 단일 크랙들 및 다수의 밀접하게 인접한 크랙들 사이를 구별하는 방법은 공지되지 않았다.
본 발명의 목적은 단일 크랙 및 다수의 인접한 크랙들 사이를 신뢰성 있게 구별할 수 있는 전기 도전성 구성요소 내 하나 또는 그 이상의 맴돌이 전류 디스플레이들 특히 크랙들을 결정 및 평가하는 개선된 방법을 제공하는 것이다.
이 목적은 청구항 제 1 항에 따른 요지에 의해 달성된다.
전기적 도전성 재료로 만들어진 검사 물체 내 맴돌이 전류 디스플레이들, 특히 크랙들을 결정 및 평가하기 위한 본 발명의 방법은 다음 단계들을 가진다:
- 검사 물체에 미리 결정된 일정하거나 가변하는 주파수의 교류 전자기장을 인가하는 단계,
- 검사 물체의 표면 부분 상에서 미리 결정된 평행한 측정 트랙들을 따라 검사 물체에 유도된 맴돌이 전류들을 검출하는 단계,
- 맴돌이 전류 신호들을 제공하는 단계 - 각각의 맴돌이 전류 신호는 측정 트랙에 할당됨 -,
- 맴돌이 전류 신호들을 조절하고 측정 트랙, 주파수 및 상기 측정 트랙을 따른 위치의 함수로서 조절되고 측정된 변수들을 제공하는 단계,
- 적어도 하나의 인접한 측정 트랙의 조절되고 측정된 변수들의 사용으로 조절되고 측정된 변수들을 해석하는 단계, 및
- 조절되고 측정된 변수들과 비교하여 수정된 폭 및/또는 트랙 위치를 가진 합성 크랙 신호들을 제공하는 단계.
본 발명의 핵심은 검사 물체 표면 또는 표면 부분이 평행한 측정 트랙들을 따라 스캔된다는 사실에 있다. 검사 물체의 표면 또는 표면 부분은 이에 따라 효과적으로 스캔된다. 이 경우, 검사 물체에 유도된 맴돌이 전류들은 검출된다. 검출되고 측정된 데이터는 인접한 측정 트랙들의 측정된 데이터와 결합된다. 이런 방식으로 인접한 측정 트랙들의 측정된 데이터를 고려하여 측정 트랙의 검출되고 측정된 데이터를 수정하는 것은 가능하다. 마찬가지로 측정 트랙의 모호하게 측정된 데이터가 인접한 측정 트랙들의 측정된 데이터를 고려하여 명백하게 해석되는 것은 가능하다.
맴돌이 전류에 의해 유도된 전압은 바람직하게 검출된다. 이 경우 맴돌이 전류들에 의해 유도된 전압의 진폭 및 위상은 검출될 수 있다. 검사 물체 내 크랙들은 예를 들어 검사 물체 재료보다 낮은 전기 도전성인 국부적으로 다른 전기 특성들을 유도한다. 유도된 전압은 이런 방식으로 영향을 받고 크랙들은 검출된다.
조절되고 측정된 변수들은 바람직하게 미리 결정된 평가 알고리듬을 바탕으로 해석된다.
예를 들어, 평가 알고리듬은 경험적으로 결정된 룰(rule)들의 세트를 바탕으로 한다. 이런 목적을 위하여, 특히 공지된 특성들을 가진 검사 물체의 카피들에 대하여 기준 측정들을 수행하고, 이로부터 캘리브레이션(calibration) 함수들을 생성하는 것은 가능하다.
선택적으로 또는 부가적으로, 평가 알고리듬은 자기 학습 방법, 특히 신경망의 사용을 바탕으로 할 수 있다.
측정 기술의 측면들에서, 다중채널 센서는 맴돌이 전류들을 검출하기 위하여 사용되고, 각각의 채널에는 측정 트랙이 할당된다. 다중채널 센서는 다양한 측정들이 동시에 이루어지게 한다.
특히, 평행한 측정 트랙들은 동시에 스캔될 수 있다.
이에 대한 대안으로서, 단일 센서는 맴돌이 전류들을 검출하기 위하여 사용될 수 있고, 평행한 측정 트랙들은 순차적으로 스캔된다.
예를 들어, 교류 전자기장은 다수의 이산 주파수들을 검사 물체에 인가한다. 교류 전기장의 특정 특성들이 주파수의 함수이기 때문에, 검사 물체에 관한 부가적인 정보를 얻는 것은 가능하다.
마찬가지로, 교류 전자기장은 연속적인 주파수 스펙트럼을 검사 물체에 인가할 수 있다. 다시, 주파수 스펙트럼은 특성 구조를 가지며 검사 물체의 물리적 특성들이 추론되게 한다.
합성 크랙 신호들은 주로 하나 또는 그 이상의 크랙들의 기하학적 특성들을 결정하기 위하여 사용된다.
특히 합성 크랙 신호들이 하나 또는 그 이상의 크랙들의 깊이를 결정하기 위하여 사용되는 것은 제공된다. 크랙의 깊이는 많은 예들에서 검사 물체가 갱생되어야 하는지 수리되어야 하는지에 대해 결정한다.
게다가, 맴돌이 전류 신호들은 전기 도전성을 결정하기 위하여 사용될 수 있다. 또한, 크랙들의 기하학적 구조에 관한 정보는 전기 도전성으로부터 얻어질 수 있다.
본 발명의 바람직한 실시예에서, 기계적 가이드 수단은 검사 물체의 표면 부 분 상에서 측정 트랙들을 따라 맴돌이 전류 센서의 움직임을 설정하기 위하여 사용된다. 상기 방법은 이에 따라 재생될 수 있다. 특히 단일 센서를 적용하는 경우, 기계적 가이드는 정의된 트랙 공간들을 보장하기 위하여 바람직하다. 기준 측정들은 예를 들어 평가 알고리듬 또는 캘리브레이션 곡선들을 결정하기 위하여 수행될 수 있다.
이런 목적을 위해 기계적 가이드 수단이 검사 물체의 기하학적 모양에 적응되는 것은 바람직하다.
특히, 상기 방법은 검사 물체의 표면 영역 상 및/또는 상기 표면 영역 내 크랙들을 결정 및 평가하기 위하여 제공된다. 검사 물체의 표면은 특히 기계적 및 화학적 부하들에 동작 동안 특히 노출된다.
마지막으로, 교류 전자기장의 측정 범위 내에서 검사 물체 표면 아래 크랙들을 결정 및 평가하는 방법을 사용하는 것이 제공된다. 검사 물체 표면 아래 크랙들은 또한 전기 특성들에 영향을 미치고, 따라서 맴돌이 전류들을 형성한다.
본 발명의 추가 특징들, 장점들 및 특정 실시예들은 종속항들의 요지이다.
본 발명에 따른 방법은 바람직한 실시예들 및 첨부된 도면들을 참조하여 도면들의 상세한 설명 아래에서 상세히 설명된다.
도 1은 본 발명의 방법의 바람직한 실시예에 따라 검사 물체의 표면 부분(10) 상에서 맴돌이 전류 신호들(x1, x2, x3, x4 및 x5)을 검출하여 평가하는 개략 도를 도시한다. 맴돌이 전류 센서(12)는 검사 물체의 표면 부분(10)을 스캔하기 위하여 사용된다.
검사 물체는 설정될 수 있는 주파수(f)를 가진 교류 전자기장에 노출된다. 하나 또는 그 이상의 특정 주파수들(f)은 제공될 수 있다. 이와 같이, 미리 결정된 컷오프 주파수들을 가진 연속적인 주파수 스펙트럼은 사용될 수 있다. 맴돌이 전류들은 교류 전자기장에 의해 검사 물체에서 유도된다. 맴돌이 전류들에 의해 형성된 전자기장 또는 상기 전자기장의 유도 전압은 맴돌이 전류 센서(12)에 의해 검출된다.
맴돌이 전류 센서(12)는 단일 센서 또는 다중채널 센서로서 형성될 수 있다. 이런 특정 실시예의 경우, 맴돌이 전류 센서(12)는 다중 채널 센서로서 설계되고 5 개의 채널들(cn, cn +1, cn +2, cn +3 및 cn +4)을 포함한다. 각각의 단일 센서에는 움직임 방향에 따라 맴돌이 전류 센서(12)의 움직임에 의한 측정 트랙이 할당된다. 측정 트랙들은 표면 부분(10)에서 서로 평행하게 배열된다. 이와 같이, 각각의 채널들(cn, cn +1, cn +2, cn +3 및 cn +4)은 각각 측정 트랙에 할당된다.
선택적으로 단일 채널 센서를 사용하는 경우, 평행하게 연장하는 표면 부분(10) 상 측정 트랙들은 동일한 센서의 도움으로 순차적으로 스캔된다.
개별 채널들(cn, cn +1, cn +2, cn +3 및 cn +4)의 맴돌이 전류 신호들(x1, x2, x3, x4 및 x5)은 신호 조절(14) 및 추후 논리 결합(16)으로 처리된다.
첫째, 개별 채널들(cn, cn +1, cn +2, cn +3 및 cn +4)의 맴돌이 전류 신호들(x1, x2, x3, x4 및 x5)은 신호 조절(14)된다. 신호 조절(14) 동안, 조절되고 측정된 변수들(u1, u2, u3, u4 및 u5)은 각각의 채널(cn, cn +1, cn +2, cn +3 및 cn +4)에 대해 생성된다. 조절되고 측정된 변수들(u1, u2, u3, u4 및 u5)은 채널(cn, cn +1, cn +2, cn +3 및 cn+4), 주파수(f) 및 측정 위치(s)의 함수이다. 측정 위치(s)는 각각의 측정 트랙상 지점을 정의한다.
맴돌이 전류 신호들(x1, x2, x3, x4 및 x5)의 신호 조절(14)은 각각의 채널(cn, cn +1, cn +2, cn +3 및 cn +4) 및 각각의 주파수(f)에 대해 독립적으로 수행된다.
추후 논리 결합(16)에서, 조절되고 측정된 변수들(u1, u2, u3, u4 및 u5)은 미리 결정된 기준을 사용하여 해석된다.
여기서, 각각의 측정 위치(s)에 대해 하나 또는 그 이상의 선택되고 조절되고 측정된 변수들(u1, u2, u3, u4 및 u5)의 값은 인접한 위치들과 비교된다. 게다가, 선택되어 조절되고 측정된 변수들(u1, u2, u3, u4 및 u5)의 값은 다양한 주파수들(f)에 대해 인접한 위치들의 변수들과 비교될 수 있다.
합성 크랙 신호들(v1, v2, v3, v4 및 v5)은 이 경우 경험적으로 결정된 룰들의 세트를 바탕으로 또는 자기 학습 방법을 통하여 평가 알고리듬을 적용함으로써 생 성된다. 검사 크랙(cn) 및 폭에 대한 할당은 합성 크랙 신호들(v1, v2, v3, v4 및 v5)에서 수정된다. 이런 방식으로 수정된 크랙 신호들(v1, v2, v3, v4 및 v5)은 크랙들의 위치와 수에 관련된 언급(statement)을 개선하고 크랙의 깊이를 결정하기 위해 사용될 수 있다.
맴돌이 전류 신호들(x1, x2, x3, x4 및 x5)의 선형 표현 또는 이차원 표현은 검사 물체의 표면 부분(10)을 스캐닝함으로써 생성된다. 그러므로, 맴돌이 전류 신호들(x1, x2, x3, x4 및 x5)은 측정 트랙을 따른 위치(s), 또는 표면 부분(10) 상 위치의 함수이다.
기계적 가이드 장치는 재생 가능하게 미리 결정된 측정 트랙을 따라 맴돌이 전류 센서(12)를 움직이기 위하여 제공된다.
다수의 주파수들(f)의 사용은, 다수의 전자기 변수들이 주파수에 종속되기 때문에, 크랙의 특성들과 관련한 부가적인 정보를 가능하게 한다. 다양한 주파수들(f)은 동시에 또는 순차적으로 검사 물체에 인가될 수 있다.
도 2는 본 발명의 방법의 바람직한 실시예에 따라 신호 조절(12) 후 및 논리 결합(16) 전에 조절되고 측정된 변수들(u1, u2, u3, u4 및 u5)의 개략적이고 예시적인 그래프 도면이다. 조절되고 측정된 변수들(u1, u2, u3, u4 및 u5)은 각각의 경우 대응하는 맴돌이 전류 신호들(x1, x2, x3, x4 및 x5)로부터 나온다.
맴돌이 전류 신호들(x1, x2, x3, x4 및 x5)의 신호 조절(14)은 각각의 채 널(cn, cn +1, cn +2, cn +3 및 cn +4) 및 각각의 주파수(f)에 대해 독립적으로 수행된다. 대응하는 조절되고 측정된 변수들(u1, u2, u3, u4 및 u5)은 신호 조절(14) 동안 각각의 채널(cn, cn +1, cn +2, cn +3 및 cn +4)에 대해 생성된다. 결과적인 조절되고 측정된 변수들(u1, u2, u3, u4 및 u5)은 채널(cn, cn +1, cn +2, cn +3 및 cn +4), 주파수(f) 및 측정 위치(s)의 함수들이다.
도 3은 본 발명의 방법의 바람직한 실시예에 따라 논리 결합(16) 후 합성 크랙 신호들(v1, v2, v3, v4, v5)의 개략적이고 예시적인 그래프를 도시한다. 합성 크랙 신호들(v1, v2, v3, v4, v5)은 조절되고 측정된 변수들(u1, u2, u3, u4 및 u5)로부터 나온다. 대응하는 조절되고 측정된 변수(u3) 및 적어도 인접한 조절되고 측정된 변수들(u2 및 u4)은 합성 크랙 신호(u3)를 결정하는데 사용된다. 인접한 조절되고 측정된 변수들(u1 및 u5)의 평가는 채널들 사이에 배치된 단일 신호의 결과를 유도한다.
본 발명의 방법은 특히 검사 물체의 표면 내 크랙들을 입증하고, 상기 크랙들을 평가하는데 특히 유효한 방법이다. 게다가, 크랙들의 추가 기하학적 특성들은 단일 크랙 또는 서로 나란히 놓이는 둘 또는 그 이상의 크랙들이 있는지를 입증함으로써 결정될 수 있다.
도 1은 본 발명의 방법의 바람직한 실시예에 따라 맴돌이 전류 신호들의 검출 및 평가를 위한 개략도이다.
도 2는 평가 알고리듬을 적용하기 전에 본 발명의 방법의 바람직한 실시예에 따라 신호를 조절한 후 조절된 측정 신호들의 개략적이고 예시적인 그래프를 도시한다.
도 3은 평가 알고리듬을 적용한 후 본 발명의 방법의 바람직한 실시예에 따라 논리 결합 후 합성 크랙 신호들의 개략적인 예시적인 그래프를 도시한다.
*도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명*
10 : 검사 물체 표면 부분 12 : 맴돌이 전류 센서

Claims (17)

  1. 전기적 도전성 재료로 만들어진 검사 물체 내 맴돌이 전류 디스플레이들, 특히 크랙들을 결정 및 평가하기 위한 방법으로서,
    상기 검사 물체에 미리 결정된 일정하거나 가변하는 주파수(f)의 교류 전자기장을 인가하는 단계,
    상기 검사 물체의 표면 부분(10) 상에서 미리 결정된 평행한 측정 트랙들(cn, cn +1, cn +2, cn +3, cn +4)을 따라 검사 물체에 유도된 맴돌이 전류들을 검출하는 단계,
    맴돌이 전류 신호들(x1, x2, x3, x4, x5)을 제공하는 단계 - 각각의 맴돌이 전류 신호(x1, x2, x3, x4, x5)는 측정 트랙(cn, cn +1, cn +2, cn +3, cn +4)에 할당됨 -,
    상기 맴돌이 전류 신호들(x1, x2, x3, x4, x5)을 조절하고(14) 측정 트랙(cn, cn+1, cn +2, cn +3, cn +4), 주파수(f) 및 상기 측정 트랙(cn, cn +1, cn +2, cn +3, cn +4)을 따른 위치(s)의 함수로서 조절되고 측정된 변수들(u1, u2, u3, u4, u5)을 제공하는 단계,
    상기 적어도 하나의 인접한 측정 트랙(cn, cn +1, cn +2, cn +3, cn +4)의 조절되고 측정된 변수들(u1, u2, u3, u4, u5)을 사용하여 조절되고 측정된 변수들(u1, u2, u3, u4, u5)을 해석하는 단계(16), 및
    상기 조절되고 측정된 변수들(u1, u2, u3, u4, u5)과 비교하여 수정된 폭 및/또는 트랙 위치를 가진 합성 크랙 신호들(v1, v2, v3, v4, v5)을 제공하는 단계를 포함하는,
    맴돌이 전류 디스플레이들을 결정 및 평가하기 위한 방법.
  2. 제 1 항에 있어서, 교류 자기장에 의해 유도된 맴돌이 전류의 진폭 및 위상은 검출되는,
    맴돌이 전류 디스플레이들을 결정 및 평가하기 위한 방법.
  3. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서, 상기 조절되고 측정된 변수들(u1, u2, u3, u4, u5)은 미리 결정된 평가 알고리듬을 바탕으로 해석되는(16),
    맴돌이 전류 디스플레이들을 결정 및 평가하기 위한 방법.
  4. 제 3 항에 있어서, 상기 평가 알고리듬은 경험적으로 결정된 룰들의 세트를 바탕으로 하는,
    맴돌이 전류 디스플레이들을 결정 및 평가하기 위한 방법.
  5. 제 3 항 또는 제 4 항에 있어서, 상기 평가 알고리듬은 자기 학습 방법, 특히 신경망 사용을 바탕으로 하는,
    맴돌이 전류 디스플레이들을 결정 및 평가하기 위한 방법.
  6. 제 1 항 내지 제 5 항 중 어느 한 항에 있어서, 다중채널 센서(12)는 맴돌이 전류들을 검출하기 위하여 사용되고, 각각의 채널(cn, cn +1, cn +2, cn +3, cn +4)은 측정 트랙에 할당되는,
    맴돌이 전류 디스플레이들을 결정 및 평가하기 위한 방법.
  7. 제 6 항에 있어서, 상기 평행한 측정 트랙들(cn, cn +1, cn +2, cn +3, cn +4)은 동시에 스캔되는,
    맴돌이 전류 디스플레이들을 결정 및 평가하기 위한 방법.
  8. 제 1 항 내지 제 5 항 중 어느 한 항에 있어서, 단일 센서는 맴돌이 전류들을 검출하기 위하여 사용되고, 상기 평행한 측정 트랙들(cn, cn +1, cn +2, cn +3, cn +4)은 순차적으로 스캔되는,
    맴돌이 전류 디스플레이들을 결정 및 평가하기 위한 방법.
  9. 제 1 항 내지 제 9 항 중 어느 한 항에 있어서, 다수의 이산 주파수들(f)을 가진 상기 교류 전자기장은 검사 물체에 인가되는,
    맴돌이 전류 디스플레이들을 결정 및 평가하기 위한 방법.
  10. 제 1 항 내지 제 9 항 중 어느 한 항에 있어서, 연속적인 주파수 스펙트럼을 가진 상기 교류 전자기장은 검사 물체에 인가하는,
    맴돌이 전류 디스플레이들을 결정 및 평가하기 위한 방법.
  11. 제 1 항 내지 제 10 항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 합성 크랙 신호들(v1, v2, v3, v4, v5)은 하나 또는 그 이상의 크랙들의 기하학적 특성들을 결정하기 위하여 사용되는,
    맴돌이 전류 디스플레이들을 결정 및 평가하기 위한 방법.
  12. 제 1 항 내지 제 11 항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 합성 크랙 신호들(v1, v2, v3, v4, v5)은 하나 또는 그 이상의 크랙들의 깊이를 결정하기 위하여 사용되는,
    맴돌이 전류 디스플레이들을 결정 및 평가하기 위한 방법.
  13. 제 1 항 내지 제 12 항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 맴돌이 전류 신호들(x1, x2, x3, x4, x5)은 전기 도전성을 결정하기 위하여 사용되는,
    맴돌이 전류 디스플레이들을 결정 및 평가하기 위한 방법.
  14. 제 6 항 내지 제 13 항 중 어느 한 항에 있어서, 기계적 가이드 수단은 검사 물체의 표면 부분(10) 상에서 측정 트랙들을 따른 맴돌이 전류 센서(12)의 움직임을 설정하기 위하여 사용되는,
    맴돌이 전류 디스플레이들을 결정 및 평가하기 위한 방법.
  15. 제 14 항에 있어서, 상기 기계적 가이드 수단은 검사 물체의 기하학적 모양이거나 상기 기하학적 모양에 적응되는,
    맴돌이 전류 디스플레이들을 결정 및 평가하기 위한 방법.
  16. 제 1 항 내지 제 15 항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 방법은 검사 물체의 표면 영역 상 및/또는 상기 표면 영역 내 크랙들을 결정 및 평가하기 위하여 제공되는,
    맴돌이 전류 디스플레이들을 결정 및 평가하기 위한 방법.
  17. 제 1 항 내지 제 16 항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 방법은 검사 물체의 표면 아래 크랙들을 결정 및 평가하기 위하여 제공되는,
    맴돌이 전류 디스플레이들을 결정 및 평가하기 위한 방법.
KR1020090043085A 2008-05-20 2009-05-18 전기적 도전성 재료로 만들어진 검사 물체에서 맴돌이 전류 디스플레이들, 특히 크랙들을 결정 및 평가하기 위한 방법 KR101636346B1 (ko)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP08009323A EP2124044B1 (de) 2008-05-20 2008-05-20 Verfahren zum Bestimmen und Bewerten von Wirbelstromanzeigen, insbesondere von Rissen, in einem Prüfgegenstand aus einem elektrisch leitfähigen Material
EP08009323.0 2008-05-20

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20090121220A true KR20090121220A (ko) 2009-11-25
KR101636346B1 KR101636346B1 (ko) 2016-07-06

Family

ID=39789899

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020090043085A KR101636346B1 (ko) 2008-05-20 2009-05-18 전기적 도전성 재료로 만들어진 검사 물체에서 맴돌이 전류 디스플레이들, 특히 크랙들을 결정 및 평가하기 위한 방법

Country Status (7)

Country Link
US (1) US8125219B2 (ko)
EP (1) EP2124044B1 (ko)
JP (2) JP2009282027A (ko)
KR (1) KR101636346B1 (ko)
CN (1) CN101587097B (ko)
AT (1) ATE523780T1 (ko)
RU (1) RU2493562C2 (ko)

Families Citing this family (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9733625B2 (en) 2006-03-20 2017-08-15 General Electric Company Trip optimization system and method for a train
US10308265B2 (en) 2006-03-20 2019-06-04 Ge Global Sourcing Llc Vehicle control system and method
US9950722B2 (en) 2003-01-06 2018-04-24 General Electric Company System and method for vehicle control
US9956974B2 (en) 2004-07-23 2018-05-01 General Electric Company Vehicle consist configuration control
US9828010B2 (en) 2006-03-20 2017-11-28 General Electric Company System, method and computer software code for determining a mission plan for a powered system using signal aspect information
US8914171B2 (en) 2012-11-21 2014-12-16 General Electric Company Route examining system and method
US20130249540A1 (en) * 2012-03-22 2013-09-26 Olympus Ndt Inc. Eddy current array probe and method for lift-off compensation during operation without known lift references
JP5948003B2 (ja) * 2012-04-28 2016-07-06 東日本旅客鉄道株式会社 渦流探傷方法と渦流探傷装置
WO2014026091A2 (en) 2012-08-10 2014-02-13 General Electric Company Route examining system and method
WO2014146623A1 (de) * 2013-03-19 2014-09-25 BALLUF GmbH Induktiver wegmesssensor und verfahren zu seinem betrieb
US9255913B2 (en) 2013-07-31 2016-02-09 General Electric Company System and method for acoustically identifying damaged sections of a route
CN103454343B (zh) * 2013-09-13 2016-01-13 爱德森（厦门）电子有限公司 一种提高金属表面裂纹涡流检测极限灵敏度的方法
US10006877B2 (en) 2014-08-20 2018-06-26 General Electric Company Route examining system and method
RU2584726C1 (ru) * 2014-12-29 2016-05-20 Федеральное государственное унитарное предприятие "Научно-исследовательский институт стандартизации и унификации" Способ измерения параметров трещин в немагнитных электропроводящих объектах
US10775346B2 (en) * 2017-01-30 2020-09-15 Olympus America Inc. Virtual channels for eddy current array probes
CN111458403B (zh) * 2020-03-31 2021-06-08 湖北工业大学 阵列涡流检测方法及系统
KR102621824B1 (ko) * 2021-03-30 2024-01-10 (주)이너아이 파우치형 이차전지의 내부균열 비파괴 검사방법

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61120961A (ja) * 1984-11-19 1986-06-09 Teijin Ltd 導電性フイルムの検査装置
JP2000055889A (ja) * 1998-08-05 2000-02-25 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 信号処理装置
JP2002090345A (ja) * 2000-09-18 2002-03-27 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 渦電流検査信号識別方法及びこの方法を用いる装置
JP2005164516A (ja) * 2003-12-05 2005-06-23 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 欠陥検知方法

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2512959A1 (fr) * 1981-09-14 1983-03-18 Commissariat Energie Atomique Procede et dispositifs de controle d'une surface au moyen d'un capteur a courants de foucault
US4631533A (en) * 1984-06-15 1986-12-23 Westinghouse Electric Corp. Display of eddy current detector data
CN85104626A (zh) * 1985-06-15 1987-05-06 西屋电器公司 显示涡流电流检测器数据的方法和装置
CN2042965U (zh) * 1989-01-09 1989-08-16 钟国赤 用于生产线上的涡流探伤仪
US5182513A (en) * 1991-04-06 1993-01-26 General Electric Company Method and apparatus for a multi-channel multi-frequency data acquisition system for nondestructive eddy current inspection testing
DE4201502C2 (de) * 1992-01-21 1995-12-14 Siemens Ag Verfahren und Anordnung zur elektrischen Wirbelstromprüfung
JP3197193B2 (ja) * 1995-11-14 2001-08-13 三菱重工業株式会社 ２次元信号フィルタリング装置
KR20010089811A (ko) * 1999-11-11 2001-10-08 요트.게.아. 롤페즈 음성 인식 시스템
US7385392B2 (en) * 2000-11-13 2008-06-10 Jentek Sensors, Inc. Eddy current sensing arrays and system
US6784662B2 (en) * 2001-03-19 2004-08-31 Jentek Sensors, Inc. Eddy current sensor arrays having drive windings with extended portions
EP1394360A1 (de) * 2002-08-23 2004-03-03 Siemens Aktiengesellschaft Verfahren zur zerstörungsfreien Prüfung eines Bauteils sowie zur Herstellung einer Gasturbinenschaufel
RU2312333C1 (ru) * 2006-08-30 2007-12-10 Закрытое акционерное общество Научно-исследовательский институт интроскопии Московского научно-производственного объединения "Спектр" Вихретоковое устройство для обнаружения поверхностных и подповерхностных трещин в деталях из токопроводящих материалов

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61120961A (ja) * 1984-11-19 1986-06-09 Teijin Ltd 導電性フイルムの検査装置
JP2000055889A (ja) * 1998-08-05 2000-02-25 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 信号処理装置
JP2002090345A (ja) * 2000-09-18 2002-03-27 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 渦電流検査信号識別方法及びこの方法を用いる装置
JP2005164516A (ja) * 2003-12-05 2005-06-23 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 欠陥検知方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN101587097B (zh) 2012-08-08
RU2493562C2 (ru) 2013-09-20
EP2124044A1 (de) 2009-11-25
RU2009118970A (ru) 2010-11-27
ATE523780T1 (de) 2011-09-15
JP2009282027A (ja) 2009-12-03
CN101587097A (zh) 2009-11-25
US8125219B2 (en) 2012-02-28
EP2124044B1 (de) 2011-09-07
KR101636346B1 (ko) 2016-07-06
US20090289624A1 (en) 2009-11-26
JP2014211455A (ja) 2014-11-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR20090121220A (ko) 전기적 도전성 재료로 만들어진 검사 물체에서 맴돌이 전류 디스플레이들, 특히 크랙들을 결정 및 평가하기 위한 방법
JP2009282027A6 (ja) 導電性材料からなる試験対象物における特に亀裂の渦電流表示を判定して評価する方法
CA2711552C (en) Sensor assembly
US7451639B2 (en) Engine blade dovetail inspection
MX2012011507A (es) Metodo de prueba termografica y aparato de prueba para realizar el metodo de prueba.
US9304108B2 (en) Quenching depth measurement method and quenching depth measurement apparatus
CN105675657B (zh) 一种基于趋肤效应的样品表面覆膜无损检测方法及系统
JP2009282027A5 (ko)
CN107271485B (zh) 纤维复合材料的非接触式质量控制
US20140197825A1 (en) Arrangement For Crack Detection In Metallic Materials In A Metal Making Process
EP3356812B1 (en) Method and apparatus for detecting flaws in rails
US10132906B2 (en) Multi-element sensor array calibration method
Hamel et al. A LabVIEW-based real-time acquisition system for crack detection in conductive materials
Simm et al. Investigation of the magnetic field response from eddy current inspection of defects
KR102008105B1 (ko) 멀티 채널 와전류센서를 이용한 레일 결함 검출 장치, 센서 교정 방법 및 결함 검출 방법
JP2013019841A (ja) 構造物の欠陥評価方法
JP6015954B2 (ja) 電磁誘導型検査装置及び電磁誘導型検査方法
JP4831298B2 (ja) 焼き入れ深さ測定装置
JP4742757B2 (ja) 漏洩磁束探傷装置
CN105319444A (zh) 一种导电材料电导率均匀程度评估方法
KR102052849B1 (ko) 멀티 채널 와전류센서를 이용한 레일 결함 검출 장치, 센서 교정 방법 및 결함 검출 방법
KR101158411B1 (ko) 펄스 와전류를 이용한 도체두께 탐상장치
JPH05149927A (ja) 導電膜検査方法およびその装置
KR20180125748A (ko) 블레이드 표면검사방법 및 표면검사장치
KR20120108405A (ko) Ｐｅｃ를 이용한 대상물의 열처리 정상 유무 선별장치 및 방법

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant