KR101636346B1 - 전기적 도전성 재료로 만들어진 검사 물체에서 맴돌이 전류 디스플레이들, 특히 크랙들을 결정 및 평가하기 위한 방법 - Google Patents

전기적 도전성 재료로 만들어진 검사 물체에서 맴돌이 전류 디스플레이들, 특히 크랙들을 결정 및 평가하기 위한 방법 Download PDF

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Abstract

본 발명은 전기 도전성 재료로 만들어진 검사 물체에서 맴돌이 전류 디스플레이들(eddy-current displays), 특히 크랙(crack)들을 결정 및 평가하기 위한 방법에 관한 것이고, 상기 방법은:
미리 결정된 일정하거나 가변하는 주파수(f)의 교류 전자기장을 검사 물체에 인가하는 단계,
검사 물체의 표면 부분(10) 상에서 미리 결정된 병렬 측정 트랙들(measurement tracks)(cn, cn+1, cn+2, cn+3, cn+4)을 따라 검사 물체에 유도된 맴돌이 전류들을 검출하는 단계,
맴돌이 전류 신호들(x1, x2, x3, x4, x5)을 제공하는 단계 - 각각의 맴돌이 전류 신호(x1, x2, x3, x4, x5)는 측정 트랙(cn, cn+1, cn+2, cn+3, cn+4)에 할당됨 -,
맴돌이 전류 신호들(x1, x2, x3, x4, x5)을 컨디셔닝(conditioning)하고(14), 측정 트랙(cn, cn+1, cn+2, cn+3, cn+4), 주파수(f) 및 상기 측정 트랙(cn, cn+1, cn+2, cn+3, cn+4)을 따른 위치(s)의 함수로서, 컨디셔닝된 측정 변수들(u1, u2, u3, u4, u5)을 제공하는 단계,
적어도 하나의 인접한 측정 트랙(cn, cn+1, cn+2, cn+3, cn+4)의 컨디셔닝된 측정 변수들(u1, u2, u3, u4, u5)을 사용하여, 컨디셔닝된 측정 변수들(u1, u2, u3, u4, u5)을 해석하는 단계(16), 및
컨디셔닝된 측정 변수들과 비교할 때 수정된 진폭 및/또는 트랙 위치(track position)를 가지는 합성 크랙 신호들(v1, v2, v3, v4, v5)을 제공하는 단계를 가진다.

Description

전기적 도전성 재료로 만들어진 검사 물체에서 맴돌이 전류 디스플레이들, 특히 크랙들을 결정 및 평가하기 위한 방법{METHOD FOR DETERMINING AND EVALUATION EDDY-CURRENT DISPLAYS, IN PARTICULAR CRACKS, IN A TEST OBJECT MADE FROM AN ELECTRICALLY CONDUCTIVE MATERIAL}
본 발명은 전기적 도전성 재료로 만들어진 검사 물체에서 맴돌이 전류 디스플레이들(eddy-current displays), 특히 크랙(crack)들을 결정 및 평가하기 위한 방법에 관한 것이다.
많은 재료 검사들의 경우에 비파과적 방법들이 요구된다. 예시들은 부식, 산화, 확산 및 추가 노화 과정들을 초래하는 환경에 빈번하게 노출된, 금속으로 이루어진 부품(component)들의 표면들이다. 크랙들은 또한 기계적 스트레스들(mechanical stresses)에 의해 부품의 표면에 발생될 수 있다.
예를 들어, 이것은 또한, 특히 기계적 및 열적 부하(load)들로 인한 크랙 형성에 표면이 노출되는, 가스 터빈(gas turbine)의 이동 블레이드(moving blade) 및 가이드 블레이드(guide blade)에 적용된다. 이러한 블레이드 휠(blade wheel)의 현재 상태를 검사할 수 있도록, 비파괴적인 검사 방법들이 요구된다.
적당한 비파괴적 검사 방법들은 맴돌이 전류 원리를 적용하여 수행될 수 있다. 이 경우, 검사 물체는, 설정될 수 있는 주파수를 가진 교류 전자기장에 노출된다. 이에 따라 맴돌이 전류들이 검사 물체에 유도된다. 맴돌이 전류들에 의해 형성된 전자기장, 또는 상기 전자기장의 유도 전압이 검출된다. 이 경우, 상기 유도된 전압의 진폭(amplitude) 및 위상 각도(phase angle)이 결정될 수 있다.
맴돌이 전류 방법은, 부품의 표면에서의 크랙들을 결정하기 위하여 사용될 수 있다. 이론적으로는, 맴돌이 전류 방법의 도움으로 크랙 깊이가 결정될 수 있다. 그러나, 어떻게 하나의 크랙과 다수의 가깝게 인접한 크랙들을 구별할 수 있는지 알려지지 않았다.
본 발명의 목적은, 전기 도전성 부품 내에서 하나 이상의 맴돌이 전류 디스플레이들 특히 크랙들을 결정 및 평가하기 위한, 그리고 또한 하나의 크랙과 다수의 인접한 크랙들을 신뢰성 있게 구별할 수 있는, 개선된 방법을 제공하는 것이다.
이 목적은 청구항 제 1 항에 따른 요지에 의해 달성된다.
전기적 도전성 재료로 만들어진 검사 물체 내의 맴돌이 전류 디스플레이들, 특히 크랙들을 결정 및 평가하기 위한 본 발명의 방법은 다음 단계들을 가진다:
- 검사 물체에 미리 결정된 일정하거나 가변하는 주파수의 교류 전자기장을 인가하는 단계,
- 검사 물체의 표면 부분 상에서 미리 결정된 평행한 측정 트랙(measurement track)들을 따라 검사 물체에 유도된 맴돌이 전류들을 검출하는 단계,
- 맴돌이 전류 신호들을 제공하는 단계 - 각각의 맴돌이 전류 신호는 측정 트랙에 할당됨 -,
- 맴돌이 전류 신호들을 컨디셔닝(conditioning)하고, 측정 트랙, 주파수 및 상기 측정 트랙을 따른 위치의 함수로서, 컨디셔닝된 측정 변수들을 제공하는 단계,
- 적어도 하나의 인접한 측정 트랙의 컨디셔닝된 측정 변수들을 사용하여 컨디셔닝된 측정 변수들을 해석하는 단계, 및
- 컨디셔닝된 측정 변수들과 비교할 때 수정된 진폭 및/또는 트랙 위치(track position)를 가진 합성 크랙 신호들을 제공하는 단계.
본 발명의 핵심은, 검사 물체의 표면 또는 표면 부분이 평행한 측정 트랙들을 따라 스캔(scan)된다는 사실에 있다. 검사 물체의 표면 또는 표면 부분은 이에 따라 효과적으로 스캔된다. 이 경우, 검사 물체에 유도된 맴돌이 전류들이 검출된다. 검출된 측정 데이터(measured data)는 인접한 측정 트랙들의 측정 데이터와 결합된다. 이런 방식으로, 인접한 측정 트랙들의 측정 데이터를 고려하여 측정 트랙의 검출된 측정 데이터를 수정하는 것이 가능하다. 마찬가지로, 측정 트랙의 모호한 측정 데이터가 인접한 측정 트랙들의 측정 데이터를 고려하여 명백하게 해석되는 것이 가능하다.
유리하게는, 맴돌이 전류에 의해 유도된 전압이 검출된다. 이 경우, 맴돌이 전류들에 의해 유도된 전압의 진폭 및 위상이 검출될 수 있다. 검사 물체 내 크랙들은 국부적으로 다른 전기 특성들, 예를 들어, 검사 물체 재료보다 낮은 전기 도전성을 유도한다. 이런 방식으로, 유도된 전압이 영향을 받고 크랙들이 검출된다.
바람직하게는, 컨디셔닝된 측정 변수들이 미리 결정된 평가 알고리즘(evaluation algorithm)을 바탕으로 해석된다.
예를 들어, 평가 알고리즘은 경험적으로 결정된 규칙(rule)들의 세트(set)에 기초한다. 이런 목적을 위하여, 특히 알려진 특성들을 가지는 검사 물체의 복제본(copy)들에 상에서 기준 측정들을 수행하고, 이로부터 캘리브레이션(calibration) 함수들을 생성하는 것이 가능하다.
선택적으로 또는 부가적으로, 평가 알고리즘은 자기 학습(self learning) 방법, 특히 신경망의 사용에 기초할 수 있다.
측정 기술의 측면들에서, 다중채널 센서(multichannel sensor)가 맴돌이 전류들을 검출하기 위하여 사용되고, 각각의 채널에 측정 트랙이 할당된다. 다중채널 센서는 다양한 측정들이 동시에 이루어지게 한다.
특히, 평행한 측정 트랙들이 동시에 스캔될 수 있다.
이에 대한 대안으로서, 단일 센서(single sensor)가 맴돌이 전류들을 검출하기 위하여 사용될 수 있고, 평행한 측정 트랙들은 순차적으로 스캔된다.
예를 들어, 복수의 이산(discrete) 주파수들을 가지는 교류 전자기장이 검사 물체에 인가된다. 교류 전기장의 특정 특성들이 주파수의 함수이기 때문에, 검사 물체에 관한 부가적인 정보를 얻는 것이 가능하다.
마찬가지로, 연속적인 주파수 스펙트럼(continuous frequency spectrum)을 가지는 교류 전자기장이 검사 물체에 인가될 수 있다. 다시, 주파수 스펙트럼은 특성 구조를 가지며 검사 물체의 물리적 특성들이 추론되게 한다.
합성 크랙 신호들은 주로 하나 이상의 크랙들의 기하학적 특성들을 결정하기 위하여 사용된다.
특히 합성 크랙 신호들이 하나 이상의 크랙들의 깊이를 결정하기 위하여 사용되는 것이 제공된다. 크랙의 깊이는 많은 예들에서 검사 물체가 새로 교체(renew)되어야 하는지 또는 수리되어야 하는지 여부에 관하여 결정적이다.
게다가, 맴돌이 전류 신호들은 전기 도전성을 결정하기 위하여 사용될 수 있다. 또한, 크랙들의 기하학적 구조에 관한 정보는 전기 도전성으로부터 얻어질 수 있다.
본 발명의 바람직한 실시예에서, 기계적 가이드(guide) 수단은 검사 물체의 표면 부분 상에서 측정 트랙들을 따른 맴돌이 전류 센서(eddy-current sensor)의 이동을 설정하기 위하여 사용된다. 상기 방법은 이에 따라 재생될 수 있다. 특히 단일 센서를 적용하는 경우, 기계적 가이드는 정의된 트랙 공간들을 보장하기에 유리하다. 기준 측정들은 예를 들어 평가 알고리즘 또는 캘리브레이션 곡선들을 결정하기 위하여 수행될 수 있다.
이런 목적을 위해 기계적 가이드 수단이 검사 물체의 기하학적 모양에 따라 조정되었거나 조정되는 것이 바람직하다.
특히, 상기 방법은 검사 물체의 표면 영역 상의 그리고/또는 상기 표면 영역 내의 크랙들을 결정 및 평가하기 위하여 제공된다. 검사 물체의 표면은 동작 동안 특히 기계적 및 화학적 부하(load)들에 노출된다.
마지막으로, 교류 전자기장의 측정 범위 내에서 검사 물체 표면 아래 크랙들을 결정 및 평가하기 위해 방법을 사용하는 것이 제공된다. 검사 물체 표면 아래 크랙들은 또한 전기 특성들에 영향을 미치고, 따라서 맴돌이 전류들을 형성한다.
본 발명의 추가 특징들, 장점들 및 특정 실시예들은 종속항들의 요지이다.
본 발명에 따른 방법은 바람직한 실시예들 및 첨부된 도면들을 참조하여 도면들의 상세한 설명 아래에서 상세히 설명된다.
도 1은 본 발명의 방법의 바람직한 실시예에 따라 검사 물체의 표면 부분(10) 상에서 맴돌이 전류 신호들(x1, x2, x3, x4, x5)을 검출하여 평가하는 개략도를 도시한다. 검사 물체의 표면 부분(10)을 스캔하기 위하여 맴돌이 전류 센서(12)가 사용된다.
검사 물체는 설정될 수 있는 주파수(f)를 가진 교류 전자기장에 노출된다. 하나 이상의 특정 주파수들(f)이 제공될 수 있다. 유사하게, 미리 결정된 컷오프 주파수들(cutoff frequencies)을 가진 연속적인 주파수 스펙트럼이 사용될 수 있다. 교류 전자기장에 의해 검사 물체에 맴돌이 전류들이 유도된다. 맴돌이 전류들에 의해 형성된 전자기장 또는 상기 전자기장의 유도 전압이 맴돌이 전류 센서(12)에 의해 검출된다.
맴돌이 전류 센서(12)는 단일 센서 또는 다중채널 센서로서 형성될 수 있다. 이 특정 실시예의 경우, 맴돌이 전류 센서(12)는 다중 채널 센서로서 설계되고 5 개의 채널(channel)들(cn, cn+1, cn+2, cn+3, cn+4)을 포함한다. 이동 방향에 따른 맴돌이 전류 센서(12)의 이동에 의한 측정 트랙이 각각의 하나의 센서에 할당된다. 측정 트랙들은 표면 부분(10)에서 서로 평행하게 배열된다. 이와 같이, 각각의 채널들(cn, cn+1, cn+2, cn+3, cn+4)이 각각의 측정 트랙에 할당된다.
선택적으로 단일 채널 센서를 사용하는 경우, 평행하게 연장하는 표면 부분(10) 상의 측정 트랙들은 동일한 센서를 이용하여 순차적으로 스캔된다.
각각의 채널들(cn, cn+1, cn+2, cn+3, cn+4)의 맴돌이 전류 신호들(x1, x2, x3, x4, x5)은 신호 컨디셔닝(signal conditioning)(14) 및 추후 논리 결합(16)으로 처리된다.
먼저, 각각의 채널들(cn, cn+1, cn+2, cn+3, cn+4)의 맴돌이 전류 신호들(x1, x2, x3, x4, x5)은 신호 컨디셔닝(14)된다. 신호 컨디셔닝(14) 동안, 각각의 채널(cn, cn+1, cn+2, cn+3, cn+4)에 대해, 컨디셔닝된 측정 변수들(u1, u2, u3, u4, u5)이 생성된다. 컨디셔닝된 측정 변수들(u1, u2, u3, u4, u5)은 채널(cn, cn+1, cn+2, cn+3, cn+4), 주파수(f) 및 측정 위치(s)의 함수이다. 측정 위치(s)는 각각의 측정 트랙 상의 지점을 정의한다.
맴돌이 전류 신호들(x1, x2, x3, x4, x5)의 신호 컨디셔닝(14)은 각각의 채널(cn, cn+1, cn+2, cn+3, cn+4) 및 각각의 주파수(f)에 대해 독립적으로 수행된다.
추후 논리 결합(16)에서, 컨디셔닝된 측정 변수들(u1, u2, u3, u4, u5)은 미리 결정된 기준을 사용하여 해석된다.
여기서, 각각의 측정 위치(s)에 대하여, 하나 이상의 선택된 컨디셔닝된 측정 변수들(u1, u2, u3, u4, u5)의 값이 인접한 위치들과 비교된다. 게다가, 다양한 주파수들(f)에 대하여, 선택된 컨디셔닝된 측정 변수들(u1, u2, u3, u4, u5)의 값이 인접한 위치들의 변수들과 비교될 수 있다.
이 경우 경험적으로 결정된 규칙들의 세트에 기초하여 또는 자기 학습 방법을 통하여 평가 알고리즘을 적용함으로써, 합성 크랙 신호들(v1, v2, v3, v4, v5)이 생성된다. 합성 크랙 신호들(v1, v2, v3, v4, v5)에서, 검사 크랙(cn)에 대한 할당 및 진폭이 수정된다. 이런 방식으로 수정된 크랙 신호들(v1, v2, v3, v4, v5)은 크랙들의 위치와 수에 관련된 설명(statement)을 개선하고 크랙의 깊이를 결정하기 위해 사용될 수 있다.
검사 물체의 표면 부분(10)을 스캐닝함으로써 맴돌이 전류 신호들(x1, x2, x3, x4, x5)의 선형 표현 또는 이차원 표현이 생성된다. 그러므로, 맴돌이 전류 신호들(x1, x2, x3, x4, x5)은 측정 트랙을 따른 위치(s), 또는 표면 부분(10) 상의 위치의 함수이다.
기계적 가이드 장치는 재생 가능하게 미리 결정된 측정 트랙을 따라 맴돌이 전류 센서(12)를 움직이기 위하여 제공된다.
복수의 전자기 변수들이 주파수에 종속되기 때문에, 복수의 주파수들(f)의 사용은 크랙의 특성들과 관련한 부가적인 정보를 가능하게 한다. 다양한 주파수들(f)이 동시에 또는 순차적으로 검사 물체에 인가될 수 있다.
도 2는 본 발명의 방법의 바람직한 실시예에 따른 신호 컨디셔닝(12) 후의 그리고 논리 결합(16) 전의 컨디셔닝된 측정 변수들(u1, u2, u3, u4, u5)의 개략적이고 예시적인 그래프(graph) 도면이다. 컨디셔닝된 측정 변수들(u1, u2, u3, u4, u5)은 각각 대응하는 맴돌이 전류 신호들(x1, x2, x3, x4, x5)로부터 나온다.
맴돌이 전류 신호들(x1, x2, x3, x4, x5)의 신호 컨디셔닝(14)은 각각의 채널(cn, cn+1, cn+2, cn+3, cn+4) 및 각각의 주파수(f)에 대해 독립적으로 수행된다. 대응하는 컨디셔닝된 측정 변수들(u1, u2, u3, u4, u5)은 신호 컨디셔닝(14) 동안 각각의 채널(cn, cn+1, cn+2, cn+3, cn+4)에 대해 생성된다. 결과적인 컨디셔닝된 측정 변수들(u1, u2, u3, u4, u5)은 채널(cn, cn+1, cn+2, cn+3, cn+4), 주파수(f) 및 측정 위치(s)의 함수들이다.
도 3은 본 발명의 방법의 바람직한 실시예에 따른 논리 결합(16) 후의 합성 크랙 신호들(v1, v2, v3, v4, v5)의 개략적이고 예시적인 그래프를 도시한다. 합성 크랙 신호들(v1, v2, v3, v4, v5)은 컨디셔닝된 측정 변수들(u1, u2, u3, u4, u5)로부터 나온다. 대응하는 컨디셔닝된 측정 변수(u3) 및 적어도 인접한 컨디셔닝된 측정 변수들(u2 및 u4)이 합성 크랙 신호(u3)를 결정하는데 사용된다. 인접한 컨디셔닝된 측정 변수들(u1 및 u5)의 평가는 채널들 사이에 위치하는 단일 신호의 결과를 유도한다.
본 발명의 방법은 검사 물체의 표면 내의 크랙들을 입증하고, 상기 크랙들을 평가하는데 특히 유효한 방법이다. 게다가, 하나의 크랙이 있는지 또는 서로 나란히 놓이는 2 이상의 크랙들이 있는지를 입증함으로써, 크랙들의 추가적인 기하학적 특성들이 결정될 수 있다.
도 1은 본 발명의 방법의 바람직한 실시예에 따른 맴돌이 전류 신호들의 검출 및 평가를 위한 개략도이다.
도 2는, 평가 알고리즘을 적용하기 전의, 본 발명의 방법의 바람직한 실시예에 따른 신호 컨디셔닝 후의 컨디셔닝된 측정 신호들의 개략적이고 예시적인 그래프를 도시한다.
도 3은, 평가 알고리즘을 적용한 후의, 본 발명의 방법의 바람직한 실시예에 따른 논리 결합 후의 합성 크랙 신호들의 개략적인 예시적인 그래프를 도시한다.
*도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명*
10 : 검사 물체 표면 부분 12 : 맴돌이 전류 센서

Claims (17)

  1. 전기적 도전성 재료로 만들어진 검사 물체 내에서 맴돌이 전류(eddy-current)에 기초하여 크랙(crack)들을 결정 및 평가하기 위한 방법으로서,
    상기 검사 물체에 미리 결정된 일정하거나 가변하는 주파수(f)의 교류 전자기장을 인가하는 단계,
    상기 검사 물체에 유도된 맴돌이 전류들을, 상기 검사 물체의 표면 부분(10) 상에서 미리 결정된 평행한 측정 트랙들(measurement tracks)(cn, cn+1, cn+2, cn+3, cn+4)을 따라 검출하는 단계,
    맴돌이 전류 신호들(x1, x2, x3, x4, x5)을 제공하는 단계 ― 각각의 맴돌이 전류 신호들(x1, x2, x3, x4, x5)은 각각의 측정 트랙들(cn, cn+1, cn+2, cn+3, cn+4)에 할당됨 ―,
    상기 맴돌이 전류 신호들(x1, x2, x3, x4, x5)을 컨디셔닝(conditioning)하고(14) 상기 컨디셔닝된 측정 변수들(u1, u2, u3, u4, u5)을 제공하는 단계 ― 상기 컨디셔닝된 측정 변수들(u1, u2, u3, u4, u5)은, 상기 측정 트랙(cn, cn+1, cn+2, cn+3, cn+4), 상기 주파수(f) 및 상기 측정 트랙(cn, cn+1, cn+2, cn+3, cn+4)을 따른 위치(s)의 함수의 값들임 ―,
    각각의 컨디셔닝된 측정 변수들(u1, u2, u3, u4, u5) 및 적어도 하나의 인접한 측정 트랙(cn, cn+1, cn+2, cn+3, cn+4)의 컨디셔닝된 측정 변수들(u1, u2, u3, u4, u5)을 이용하여, 합성 크랙 신호들(v1, v2, v3, v4, v5)을 합성하는 단계 ― 상기 합성 크랙 신호들(v1, v2, v3, v4, v5)은, 상기 컨디셔닝된 측정 변수들(u1, u2, u3, u4, u5)과 비교할 때, 수정된 진폭(amplitude) 또는 수정된 트랙 위치 중 적어도 하나를 가짐 ―, 및
    상기 합성 크랙 신호들(v1, v2, v3, v4, v5)을 제공하는 단계
    를 포함하는,
    크랙들을 결정 및 평가하기 위한 방법.
  2. 제 1 항에 있어서,
    교류 자기장에 의해 유도된 맴돌이 전류의 진폭 및 위상이 검출되는,
    크랙들을 결정 및 평가하기 위한 방법.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 컨디셔닝된 측정 변수들(u1, u2, u3, u4, u5)은 미리 결정된 평가 알고리즘(algorithm)을 기초로 해석되는(16),
    크랙들을 결정 및 평가하기 위한 방법.
  4. 삭제
  5. 삭제
  6. 제 1 항에 있어서,
    다중채널 센서(multichannel sensor)(12)가 상기 맴돌이 전류들을 검출하기 위하여 사용되고, 각각의 채널(cn, cn+1, cn+2, cn+3, cn+4)이 측정 트랙에 할당되는,
    크랙들을 결정 및 평가하기 위한 방법.
  7. 제 6 항에 있어서,
    상기 평행한 측정 트랙들(cn, cn+1, cn+2, cn+3, cn+4)은 동시에 스캔(scan)되는,
    크랙들을 결정 및 평가하기 위한 방법.
  8. 제 1 항에 있어서,
    단일 센서가 상기 맴돌이 전류들을 검출하기 위하여 사용되고, 상기 평행한 측정 트랙들(cn, cn+1, cn+2, cn+3, cn+4)은 순차적으로 스캔되는,
    크랙들을 결정 및 평가하기 위한 방법.
  9. 제 1 항에 있어서,
    복수의 이산(discrete) 주파수들(f)을 가지는 교류 전자기장이 상기 검사 물체에 인가되는,
    크랙들을 결정 및 평가하기 위한 방법.
  10. 제 1 항에 있어서,
    연속적인 주파수 스펙트럼(continuous frequency spectrum)을 가지는 교류 전자기장이 상기 검사 물체에 인가되는,
    크랙들을 결정 및 평가하기 위한 방법.
  11. 제 1 항에 있어서,
    상기 합성 크랙 신호들(v1, v2, v3, v4, v5)은 하나 이상의 크랙들의 기하학적 특성들을 결정하기 위하여 사용되는,
    크랙들을 결정 및 평가하기 위한 방법.
  12. 제 1 항에 있어서,
    상기 합성 크랙 신호들(v1, v2, v3, v4, v5)은 하나 이상의 크랙들의 깊이를 결정하기 위하여 사용되는,
    크랙들을 결정 및 평가하기 위한 방법.
  13. 제 1 항에 있어서,
    상기 맴돌이 전류 신호들(x1, x2, x3, x4, x5)은 전기 도전성을 결정하기 위하여 사용되는,
    크랙들을 결정 및 평가하기 위한 방법.
  14. 제 6 항 내지 제 13 항 중 어느 한 항에 있어서,
    기계적 가이드(guide) 수단이 상기 검사 물체의 표면 부분(10) 상에서 측정 트랙들을 따른 맴돌이 전류 센서(12)의 이동을 설정하기 위하여 사용되는,
    크랙들을 결정 및 평가하기 위한 방법.
  15. 제 14 항에 있어서,
    상기 기계적 가이드 수단은 상기 검사 물체의 기하학적 모양에 따라 조정되었거나 조정되는,
    크랙들을 결정 및 평가하기 위한 방법.
  16. 제 1 항 내지 제 3 항, 제 6 항 내지 제 13 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 방법은 상기 검사 물체의 표면 영역 상의 그리고/또는 상기 표면 영역 내의 크랙들을 결정 및 평가하기 위하여 제공되는,
    크랙들을 결정 및 평가하기 위한 방법.
  17. 제 1 항 내지 제 3 항, 제 6 항 내지 제 13 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 방법은 상기 검사 물체의 표면 아래의 크랙들을 결정 및 평가하기 위하여 제공되는,
    크랙들을 결정 및 평가하기 위한 방법.
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