KR20090084221A - 스마트 카드 시스템 및 그것의 동작 방법 - Google Patents

스마트 카드 시스템 및 그것의 동작 방법 Download PDF

Info

Publication number
KR20090084221A
KR20090084221A KR1020080010268A KR20080010268A KR20090084221A KR 20090084221 A KR20090084221 A KR 20090084221A KR 1020080010268 A KR1020080010268 A KR 1020080010268A KR 20080010268 A KR20080010268 A KR 20080010268A KR 20090084221 A KR20090084221 A KR 20090084221A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
input
capacitance
reader
smart card
output pad
Prior art date
Application number
KR1020080010268A
Other languages
English (en)
Inventor
김의승
김종철
Original Assignee
삼성전자주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 삼성전자주식회사 filed Critical 삼성전자주식회사
Priority to KR1020080010268A priority Critical patent/KR20090084221A/ko
Priority to US12/353,364 priority patent/US8104690B2/en
Publication of KR20090084221A publication Critical patent/KR20090084221A/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06K—GRAPHICAL DATA READING; PRESENTATION OF DATA; RECORD CARRIERS; HANDLING RECORD CARRIERS
    • G06K19/00—Record carriers for use with machines and with at least a part designed to carry digital markings
    • G06K19/06—Record carriers for use with machines and with at least a part designed to carry digital markings characterised by the kind of the digital marking, e.g. shape, nature, code
    • G06K19/067—Record carriers with conductive marks, printed circuits or semiconductor circuit elements, e.g. credit or identity cards also with resonating or responding marks without active components
    • G06K19/07—Record carriers with conductive marks, printed circuits or semiconductor circuit elements, e.g. credit or identity cards also with resonating or responding marks without active components with integrated circuit chips
    • G06K19/073—Special arrangements for circuits, e.g. for protecting identification code in memory
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06K—GRAPHICAL DATA READING; PRESENTATION OF DATA; RECORD CARRIERS; HANDLING RECORD CARRIERS
    • G06K17/00—Methods or arrangements for effecting co-operative working between equipments covered by two or more of main groups G06K1/00 - G06K15/00, e.g. automatic card files incorporating conveying and reading operations
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06K—GRAPHICAL DATA READING; PRESENTATION OF DATA; RECORD CARRIERS; HANDLING RECORD CARRIERS
    • G06K19/00—Record carriers for use with machines and with at least a part designed to carry digital markings
    • G06K19/06—Record carriers for use with machines and with at least a part designed to carry digital markings characterised by the kind of the digital marking, e.g. shape, nature, code
    • G06K19/067—Record carriers with conductive marks, printed circuits or semiconductor circuit elements, e.g. credit or identity cards also with resonating or responding marks without active components
    • G06K19/07—Record carriers with conductive marks, printed circuits or semiconductor circuit elements, e.g. credit or identity cards also with resonating or responding marks without active components with integrated circuit chips

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Security & Cryptography (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Logic Circuits (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Storage Device Security (AREA)

Abstract

본 발명에 따른 스마트 카드 시스템은, 외부 공격을 검출하기 위한 보안 로직을 포함하는 스마트 카드, 그리고 상기 스마트 카드와 통신하기 위한 리더를 포함하고, 상기 보안 로직은 상기 스마트 카드의 입출력 패드를 통해 외부 입력 커패스턴스를 측정하고, 상기 측정된 외부 입력 커패시턴스와 상기 리더의 입력 커패시턴스를 비교하여 외부 공격을 검출하는 것을 특징으로 한다. 본 발명에 따르면, 스마트 카드 시스템의 보안성이 향상될 수 있다.

Description

스마트 카드 시스템 및 그것의 동작 방법{SMART CARD SYSTEM AND OPERATING METHOD THEREOF}
본 발명은 스마트 카드 시스템 및 그것의 동작 방법에 관한 것으로, 더 상세하게는 외부 공격을 검출하는 스마트 카드 시스템 및 그것의 동작 방법에 관한 것이다.
일반적으로 스마트카드라고 불리는 IC 카드는 기존의 마그네틱 스트립 카드(magnetic stripe card)와 같은 모양과 크기를 갖는다. 마이크로 프로세서가 내장되지 않은 스마트 카드는 메모리형 스마트 카드로 불린다. 메모리형 스마트 카드는 데이터의 보관을 위해 이용된다. 마이크로 프로세서가 내장된 스마트 카드는 마이크로 프로세세 및 메모리를 이용하여, 판단, 연산, 그리고 데이터 보호와 같은 고도의 기능을 수행할 수 있다. 대화형 스마트 카드는 마이크로 프로세서, 메모리, 입출력 프로토콜, 그리고 응용 프로그램을 내장하며, 정보의 쌍방향 전달을 수행할 수 있다.
스마트 카드는 개인 정보를 저장하거나, 전자 지갑(E-purse)으로 이용될 수 있다. 따라서, 외부 공격으로부터 스마트 카드에 저장되어 있는 데이터를 보호하기 위해, 고도의 보안성이 요구된다. 그런데, 스마트 카드가 리더(Reader)와 통신하는 경우, 스마트 카드와 리더 사이의 통신 회선에 오실로 스코프와 같은 측정 장치가 연결되면, 스마트 카드와 리더 사이의 데이터 통신이 감청될 수 있다. 스마트 카드 및 리더 사이의 데이터 통신이 감청되면, 스마트 카드에 저장되어 있는 데이터가 유출될 수 있다. 스마트 카드의 보안성을 향상시키기 위하여, 스마트 카드 및 리더 사이의 통신의 감청을 방지할 수 있는 기술이 요구되고 있다.
본 발명의 목적은 외부 공격을 검출하는 스마트 카드 시스템을 제공하는 데에 있다.
본 발명에 따른 스마트 카드 시스템은, 외부 공격을 검출하기 위한 보안 로직을 포함하는 스마트 카드; 및 상기 스마트 카드와 통신하기 위한 리더를 포함하고, 상기 보안 로직은 상기 스마트 카드의 입출력 패드를 통해 외부 입력 커패스턴스를 측정하고, 상기 측정된 외부 입력 커패시턴스와 상기 리더의 입력 커패시턴스를 비교하여 외부 공격을 검출하는 것을 특징으로 한다.
실시 예로서, 상기 보안 로직은 상기 입출력 패드에 일정한 전류를 제공하기 위한 입출력 드라이버; 및 상기 입출력 패드에 미리 설정된 시간동안 전류를 제공하도록 상기 입출력 드라이버를 제어하고, 상기 입출력 패드에 미리 설정된 시간 동안 일정한 전류가 제공된 후, 상기 입출력 패드의 전압 레벨이 기준 전압 레벨보 다 낮으면 상기 리더와의 통신을 비활성화하기 위한 제어 신호를 발생하는 커패시턴스 측정기를 포함한다. 상기 입출력 드라이버는 상기 입출력 패드에 일정한 전류를 제공하기 위한 전류 소스; 및 상기 입출력 패드에 접지 전압을 제공하기 위한 스위치부를 포함한다.
실시 예로서, 상기 커패시턴스 측정기는 상기 입출력 드라이버로부터 상기 입출력 패드에 전류가 제공되는 시간을 측정하기 위한 카운터를 포함한다. 상기 커패시턴스 측정기는 커패시턴스 측정 신호에 응답하여, 상기 카운터를 인에이블하는 것을 특징으로 한다. 상기 커패시턴스 측정기는 상기 카운터의 카운트 값이 미리 설정된 값에 도달하면 상기 입출력 패드의 전압을 상기 기준 전압과 비교하고, 상기 입출력 패드의 전압 레벨이 상기 기준 전압 레벨보다 낮으면 상기 제어 신호를 발생한다.
실시 예로서, 상기 스마트 카드는 미리 설정되어 있는 커패시턴스 값을 상기 리더에 전달하고, 상기 리더는 상기 전달된 커패시턴스 값에 따라 상기 리더의 입력 커패시턴스를 조절한다.
스마트 카드 및 리더를 포함하는 스마트 카드 시스템의 본 발명에 따른 동작 방법은, 입출력 패드를 통해 외부 입력 커패시턴스를 측정하는 단계; 상기 측정된 외부 입력 커패시턴스를 상기 리더의 입력 커패시턴스와 비교하는 단계; 및 상기 측정된 외부 입력 커패시턴스가 상기 리더의 입력 커패시턴스와 상이하면 상기 리더와의 통신을 비활성화하는 단계를 포함한다.
실시 예로서, 상기 측정하는 단계는 미리 설정된 시간동안 상기 입출력 패드 에 일정한 전류를 제공하는 것을 특징으로 한다. 상기 비교하는 단계는 상기 입출력 패드의 전압 레벨을 기준 전압 레벨과 비교하는 것을 특징으로 한다. 실시 예로서, 상기 비활성화하는 단계는 상기 입출력 패드의 전압 레벨이 상기 기준 전압 레벨보다 낮은 경우, 상기 스마트 카드를 리셋하는 것을 특징으로 한다.
실시 예로서, 상기 측정하는 단계 이전에, 상기 리더에 미리 설정된 커패시턴스 값을 전달하여, 상기 리더의 입력 커패시턴스를 상기 미리 설정된 커패시턴스로 조절하는 단계를 더 포함한다.
본 발명에 따른 스마트 카드 시스템은 입출력 패드를 통해 외부 입력 커패시턴스를 측정하고, 외부 입력 커패시턴스 및 리더의 입력 커패시턴스를 비교하여 외부 공격을 검출한다. 따라서, 스마트 카드 시스템의 보안성이 향상될 수 있다.
본 발명에 따른 스마트 카드 시스템은 입출력 패드를 통해 외부 입력 커패시턴스를 측정하고, 외부 입력 커패시턴스 및 리더의 입력 커패시턴스를 비교하여 외부 공격을 검출한다. 본 발명에 따르면, 외부 공격이 검출될 수 있으므로, 스마트 카드 시스템의 보안성이 향상될 수 있다.
이하에서, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명의 기술적 사상을 용이하게 실시할 수 있을 정도로 상세히 설명하기 위하여, 본 발명의 실시 예를 첨부된 도면을 참조하여 설명하기로 한다.
도 1은 본 발명에 따른 스마트 카드 시스템(10)을 보여주는 블록도이다. 도 1을 참조하면, 본 발명에 따른 스마트 카드 시스템(10)은 측정 장치(100), 리더(200), 그리고 스마트 카드(300)를 포함한다.
측정 장치(100)는 리더(200) 및 스마트 카드(300) 사이의 통신을 감청하는 장치이다. 측정 장치(100)는 리더(200) 및 스마트 카드(300) 사이의 통신회선(12)에 연결된다. 측정 장치(100)는 리더(200) 및 스마트 카드(300) 사이의 통신 패턴을 분석하여, 스마트 카드(300)를 해킹(hacking)할 수 있다. 예시적으로, 측정 장치(100)는 프로브(14)를 통해 리더(200) 및 스마트 카드(300)의 통신 회선(12)에 연결된 오실로 스코프(oscilloscope)일 수 있다.
리더(200)는 통신 회선(12)을 통해 스마트 카드(300)와 통신한다. 리더(200)는 스마트 카드(300)와 쌍방향 정보 전달을 수행할 수 있다.
스마트 카드(300)는 통신 회선(12)을 통해 리더(200)와 통신한다. 스마트 카드(300)는 리더(200)와 쌍방향 정보 전달을 수행할 수 있다. 본 발명에 따른 스마트 카드(300)는 외부 입력 커패시턴스를 측정한다. 스마트 카드(300)에 리더(200)만 연결되어 있는 경우, 리더(200)의 입력 커패시턴스가 측정될 수 있다. 스마트 카드(300) 및 리더(200) 사이의 통신 회선(12)에 측정 장치(100)가 추가적으로 연결되어 있는 경우, 리더(200)의 입력 커패시턴스 및 측정 장치(100)의 입력 커패시턴스의 합이 측정될 수 있다.
본 발명에 따른 스마트 카드(300)는 측정된 외부 입력 커패시턴스 및 리더(200)의 입력 커패시턴스를 비교하여, 측정 장치(100)가 통신 회선(12)에 연결되어 있는지 판별할 수 있다. 즉, 본 발명에 따른 스마트 카드(300)는 외부 공격을 검출할 수 있다. 측정 장치(100)가 통신 회선(12)에 연결되어 있는 것으로 판별되면, 스마트 카드(300)는 리더(200)와의 통신을 비활성화 할 수 있다.
도 2는 도 1의 스마트 카드 시스템(10)을 더 상세하게 보여주는 다이어그램이다. 도 1에 도시된 것과 마찬가지로, 본 발명에 따른 스마트 카드 시스템(10)은 측정 장치(100), 리더(200), 그리고 스마트 카드(300)를 포함한다.
측정 장치(100)는 내부 회로(110) 및 입력 커패시터(120)를 포함한다. 내부 회로(110)는 프로브(14)를 통해, 리더(200) 및 스마트 카드(300) 사이의 통신 패턴을 분석한다. 입력 커패시터(120)는 측정 장치(100)의 입력 커패시턴스 값을 갖는 커패시터이다. 도 2에서, 측정 장치(100)는 별도의 입력 커패시터(120)를 갖는 것으로 도시되어 있다. 그러나, 측정 장치(120)는 별도의 입력 커패시터(120)를 갖는 것으로 한정되지 않는다. 측정 장치(120)의 입력 커패시터(120)는, 측정장치(120)로부터 입출력 패드(330)에 적용되는 커패시턴스에 대응하는 커패시턴스 값을 갖는, 가상의 커패시터일 수 있다는 것은 이 분야에 숙련된 기술을 가진 자들에게 이해될 것이다.
리더(200)는 내부 회로(210) 및 입력 커패시터(220)를 포함한다. 내부 회로(210)는 스마트 카드(300)와 통신한다. 입력 커패시터(220)는 리더(200)의 입력 커패시턴스 값을 갖는 커패시터이다. 도 2에서, 리더(200)는 별도의 입력 커패시터(220)를 갖는 것으로 도시되어 있다. 그러나, 리더(120)는 별도의 입력 커패시터(220)를 갖는 것으로 한정되지 않는다. 리더(220)의 입력 커패시터(220)는, 리더(200)로부터 입출력 패드(330)에 적용되는 커패시턴스에 대응하는 커패시턴스 값을 갖는, 가상의 커패시터일 수 있다는 것은 이 분야에 숙련된 기술을 가진 자들에게 이해될 것이다.
스마트 카드(300)는 내부 회로(310), 입출력 버퍼(320), 입출력 패드(330), 그리고 보안 로직(340)을 포함한다. 내부 회로(310)는 입출력 버퍼(320) 및 보안 로직(340)에 연결된다. 내부 회로(310)는 입출력 버퍼(320), 입출력 패드(330), 그리고 통신 회선(12)을 통해 리더(200)와 통신한다. 보안 로직(340)으로부터 제어 신호(EXC)가 전달되면, 내부 회로(310)는 리더(200)와의 통신을 비활성화한다. 예시적으로, 보안 로직(340)으로부터 제어 신호(EXC)가 전달되면, 내부 회로(310)는 리셋(Reset) 동작을 수행할 수 있다. 다른 예로써, 내부 회로(310)는 측정 장치(100)가 연결되어 있음을 리더(200)에 알리고, 통신을 비활성화할 수 있다. 즉, 제어 신호(EXC)는 스마트 카드(300) 및 리더(200) 사이의 통신을 비활성화 하기 위한 인터럽트(Interrupt) 신호로서 내부 회로(310)에 제공될 수 있다. 내부 회로(310)는 마이크로 프로세서, 메모리, 입출력 프로토콜, 그리고 응용 프로그램 등을 포함할 수 있다. 예시적으로, 스마트 카드(300) 및 리더(200) 사이의 통신을 비활성화 하는 것은 마이크로 프로세서에 의해 수행될 수 있다.
입출력 버퍼(320)는 내부 회로(310) 및 입출력 패드(330)에 연결된다. 입출력 버퍼(320)는 내부 회로(310)로부터 전달되는 데이터를 입출력 패드(330)에 전달한다. 입출력 버퍼(320)는 입출력 패드(330)로부터 전달되는 데이터를 내부 회로(310)에 전달한다. 입출력 버퍼(320)는 입력 버퍼 그리고/또는 출력 버퍼(미도시)를 포함할 수 있다.
입출력 패드(330)는 리더(200), 입출력 버퍼(320), 그리고 보안 로직(340)에 연결된다. 입출력 패드(330)는 입출력 패드(330)는 입출력 버퍼(320)로부터 전달되는 데이터를 통신 회선(12)을 통해 리더(200)에 전달된다. 입출력 패드(330)는 통신 회선(12)을 통해 리더(200)로부터 전달되는 데이터를 입출력 버퍼(320)에 전달한다. 입출력 패드(330)는 외부 공격을 검출하기 위한 신호들을 보안 로직(350)으로부터 제공받는다.
보안 로직(340)은 내부 회로(310) 및 입출력 패드(330)에 연결된다. 보안 로직(340)은 입출력 패드(330)를 통해 외부 입력 커패시턴스를 측정한다. 예를 들면, 스마트 카드(300)에 리더(200)만 연결되어 있는 경우, 리더(200)의 입력 커패시턴스가 측정될 수 있다. 다른 예로써, 스마트 카드(300)에 측정 장치(100) 및 리더(200)가 연결되어 있는 경우, 측정 장치(100)의 입력 커패시턴스 및 리더(200)의 입력 커패시턴스의 합이 측정될 수 있다. 보안 로직(340)은 측정된 외부 입력 커패시턴스 및 리더(200)의 입력 커패시턴스를 비교한다. 외부 입력 커패시턴스와 리더(200)의 입력 커패시턴스가 상이한 경우, 보안 로직(340)은 제어 신호(EXC)를 발생한다.
보안 로직(340)은 입출력 드라이버(350) 및 커패시턴스 측정기(360)를 포함한다. 입출력 드라이버(350)는 입출력 패드(330)에 일정한 전류를 제공한다. 커패시턴스 측정기(360)는 입출력 패드(330)에 미리 설정된 시간 동안 전류가 제공되도록 입출력 드라이버(350)를 제어한다. 미리 설정된 시간 동안 일정한 전류가 입출력 패드(330)에 제공된 후, 커패시턴스 측정기(360)는 입출력 패드(330)의 전압 레 벨을 측정한다. 입출력 패드(330)의 전압 레벨이 기준 전압 레벨보다 높은 경우, 커패시턴스 측정기(360)는 제어 신호(EXC)를 비활성화한다. 즉, 스마트 카드(300)는 리더(200)와 통신을 수행한다. 입출력 패드(330)의 전압 레벨이 기준 전압 레벨보다 낮은 경우, 커패시턴스 측정기(360)는 제어 신호(EXC)를 활성화한다. 제어 신호(EXC)는 내부 회로(310)에 제공된다.
요약하면, 보안 로직(340)은 미리 설정된 시간 동안 입출력 패드(330)에 일정한 전류를 제공한다. 따라서, 입출력 패드(330)의 전압 레벨이 상승한다. 이때, 스마트 카드(300)에 리더(200)만 연결된 경우 및 스마트 카드(300)에 리더(200)와 측정 장치(100)가 연결된 경우의 전압 상승치는 다를 수 있다. 스마트 카드(300)에 리더(200)만 연결되어 있는 경우, 입출력 패드(330)는 리더(200)의 입력 커패시터(220)에 연결되어 있는 것으로 이해될 수 있다. 이때, 입출력 패드(330)의 전압 상승치는 상대적으로 클 수 있다.
스마트 카드(300)에 측정 장치(100) 및 리더(200)가 연결되어 있는 경우, 입출력 패드(330)는 측정 장치(100)의 입력 커패시터(120) 및 리더(200)의 입력 커패시터(220)에 연결되어 있는 것으로 이해될 수 있다. 이때, 입출력 패드(330)의 전압 상승치는 스마트 카드(300)에 리더(200)만 연결되어 있는 경우보다 작을 수 있다. 입출력 패드(330)에 측정 장치(100) 및 리더(200)가 연결되어 있는 경우의 외부 입력 커패시턴스가, 입출력 패드(330)에 리더(200)만 연결되어 있는 경우의 외부 입력 커패시턴스보다 크기 때문이다.
본 발명에 따른 보안 로직(340)은, 미리 설정된 시간 동안 입출력 패드(330) 에 일정한 전류를 제공하고, 입출력 패드(330)의 전압 상승치를 측정하여, 스마트 카드(300)에 측정 장치(100)가 연결되어 있는지 판별한다. 즉, 본 발명에 따른 보안 로직(340)은 외부 공격을 검출할 수 있다.
도 3은 도 2의 보안 로직의 실시 예를 보여주는 회로도이다. 도 3을 참조하면, 입출력 패드(330), 입출력 드라이버(350), 커패시턴스 측정기(360), 그리고 외부 입력 커패시터(370)가 도시되어 있다. 입출력 패드(330)는 도 2를 참조하여 설명되었으므로, 더 이상의 설명은 생략된다.
외부 입력 커패시터(370)는 입출력 패드(330)에 적용되는 커패시턴스에 대응하는 커패시턴스 값을 갖는 가상의 커패시터인 것으로 이해될 수 있다. 예시적으로, 입출력 패드(330)에 리더(200, 도 2 참조)가 연결되어 있는 경우, 외부 입력 커패시터(370)는 리더(200)의 입력 커패시터(220)의 커패시턴스에 대응하는 커패시턴스를 갖는다. 다른 예로써, 입출력 패드(330)에 측정 장치(100) 및 리더(200)가 연결되어 있는 경우, 외부 입력 커패시터(370)는 측정 장치(100)의 입력 커패시터(120)의 커패시턴스 및 리더(200)의 입력 커패시터(220)의 커패시턴스의 합에 대응하는 커패시턴스를 가질 수 있다. 결론적으로, 외부 입력 커패시터(370)는 입출력 패드(330)에 측정 장치(100)가 연결되어 있는지의 여부에 따라, 상이한 커패시턴스를 가질 수 있다.
입출력 드라이버(350)는 커패시턴스 측정기(360)의 제어에 응답하여, 미리 설정된 시간 동안 입출력 패드(330)에 일정한 전류를 제공한다. 입출력 드라이버(350)는 일정한 전류를 제공하기 위한 전류 소스(352) 및 스위치부(354)를 포함할 수 있다. 전류 소스(352)는 일정한 전류를 제공한다. 도 3에서, 전류 소스(352)는 한 쌍의 트랜지스터들(TR1, TR2)로 구성된 전류 미러(Current Mirror)인 것으로 도시되어 있다. 그러나, 본 발명에 따른 전류 소스(352)는 전류 미러로 한정되지 않으며, 일정한 전류를 제공하는 다양한 장치들로 변경 그리고/또는 응용될 수 있다. 전류 미러(352)는 바이어스 전류(Ibias)에 대응하는 전류를 입출력 패드(330)에 제공한다.
스위치부(354)는 커패시턴스 측정기(360)의 제어에 응답하여, 전류 소스(352)로부터 제공되는 전류를 미리 설정된 시간 동안 입출력 패드(330)에 전달한다. 스위치부(354)는 한 쌍의 트랜지스터들(TR3, TR4) 및 인버터(INV1)를 포함한다. 커패시턴스 측정기(360)로부터 전달되는 테스트 신호(TEST)가 로직 하이인 경우, 스위치부(354)의 트랜지스터(TR3)는 턴 온 되고, 트랜지스터(TR4)는 턴 오프 된다. 즉, 전류 소스(352)로부터 제공되는 전류가 입출력 패드(330)에 전달된다. 테스트 신호(TEST)가 로직 로우인 경우, 트랜지스터(TR3)는 턴 오프 되고 트랜지스터(TR4)는 턴 온 된다. 즉, 입출력 패드(330)는 접지 전압에 연결되고, 방전된다.
도 3에서, 스위치부(354)는 한 쌍의 트랜지스터들(TR3, TR4) 및 인버터(INV1)로 구성되어 있다. 그러나, 본 발명에 따른 스위치부(354)는 다양하게 변경 그리고/또는 응용될 수 있음이 이해될 것이다.
커패시턴스 측정기(360)는 미리 설정된 시간 동안 일정한 전류를 입출력 패드(330)에 제공하도록 입출력 드라이버(350)를 제어한다. 미리 설정된 시간 동안 입출력 패드(330)에 일정한 전류가 제공된 후, 커패시턴스 측정기(360)는 입출력 패드(330)의 전압 레벨을 기준 전압 레벨과 비교한다. 입출력 패드(330)의 전압 레벨이 기준 전압 레벨보다 낮은 경우, 커패시턴스 측정기(360)는 입출력 패드(330)에 측정 장치(100, 도 2 참조)가 연결되어 있는 것으로 판별하고, 리더(200)와의 통신을 비활성화 하기 위한 제어 신호(EXC)를 발생할 수 있다.
커패시턴스 측정기(360)는 플립 플롭들(361, 364), 카운터(362), 펄스 발생기(363), 딜레이(365), AND 게이트(366), 그리고 인버터들(INV2, INV3)을 포함할 수 있다. 플립 플롭(361)의 클럭 입력에 커패시턴스 측정 신호(IO_C)가 전달된다. 플립 플롭(361)은 전원 전압(Vcc)을 입력받고, 테스트 신호(TEST)를 출력한다. 테스트 신호(TEST)는 카운터(362) 및 입출력 드라이버(350)에 전달된다. 플립 플롭(361)의 리셋 노드(RN)는 AND 게이트(366)의 출력에 연결된다.
커패시턴스 측정 신호(IO_C)는 내부 회로(310, 도 2 참조)로부터 제공될 수 있다. 커패시턴스 측정 신호(IO_C)는, 입출력 패드(330)에 측정 장치(100, 도 2 참조)가 연결되어 있는지 판별하기 위한 동작을 시작하도록 커패시턴스 측정기(360)를 제어한다. 스마트 카드(300) 및 리더(200) 사이의 통신이 교란되는 것을 방지하기 위해, 커패시턴스 측정 신호(IO_C)는 스마트 카드(300) 및 리더(200) 사이의 통신이 유휴 상태(Idle)인 경우에 그리고/또는 통신이 시작되기 직전에 수행될 수 있다.
커패시턴스 측정 신호(IO_C)는 클럭의 한 사이클에 대응하는 시간 동안 하이 레벨을 갖는 유닛 펄스(Unit Pulse) 형태일 수 있다. 즉, 플립 플롭(361)에 커패시턴스 측정 신호(IO_C)가 전달되는 것은, 플립 플롭(361)의 클럭 입력에 한 사이클(Cycle)의 클럭이 제공되는 것으로 이해될 수 있다. 플립 플롭(361)의 입력(D)은 전원 전압(Vcc)에 연결되어 있으므로, 커패시턴스 측정 신호(IO_C)가 전달되면, 플립 플롭(361)은 하이 레벨을 갖는 테스트 신호(TEST)를 출력한다. 플립 플롭(361)의 리셋 노드(RN)는 AND 게이트(366)의 출력에 연결되어 있다. 따라서, AND 게이트(366)의 출력이 로직 로우인 경우, 플립 플롭(361)은 로우 레벨을 갖는 테스트 신호(TEST)를 출력한다.
카운터(362)의 클럭 입력에 클럭(CLK)이 제공된다. 클럭(CLK)은 스마트 카드(300)에서 이용되는 일반적인 클럭일 수 있다. 클럭(CLK)은 별도의 클럭 발생기(미도시)로부터 제공될 수 있다. 카운터(362)는 테스트 신호(TEST)에 응답하여 인에이블(Enable)된다. 테스트 신호(TEST)가 로직 하이인 경우, 카운터(362)는 카운트를 시작한다. 카운터(362)의 카운트 값이 미리 설정된 값에 도달하면, 카운터(362)는 카운트 값이 미리 설정된 값에 도달하였음을 나타내는 카운트 신호(N)를 출력한다. 예시적으로, 카운트 신호(N)는 카운터(362)의 최상위 비트일 수 있다. 카운터(362)는 인버터(INV3)의 출력에 응답하여 카운트 값을 초기화한다.
펄스 발생기(363)는 카운트 신호(N)에 응답하여 전압 비교 신호(CK_L)를 출력한다. 전압 비교 신호(CK_L)는 클럭의 한 사이클에 대응하는 시간 동안 하이 레벨을 갖는 유닛 펄스 형태일 수 있다. 즉, 전압 비교 신호(CK_L)는 한 사이클의 클럭에 대응하는 것으로 이해될 수 있다.
전압 비교 신호(CK_L)는 플립 플롭(364) 및 딜레이(365)에 전달된다.
펄스 발생기(364)로부터 출력된 전압 비교 신호(CK_L)는 플립 플롭(364)의 클럭 입력에 전달된다. 플립 플롭(364)은 입출력 패드(330)의 전압(VIO) 레벨을 입력받는다. 즉, 전압 비교 신호(CK_L)가 클럭 입력에 전달된 때에, 입출력 패드(330)의 전압(VIO) 레벨이 기준 전압보다 낮으면, 플립 플롭(364)은 로직 로우를 출력한다. 전압 비교 신호(CK_L)가 클럭 입력에 전달된 때에, 입출력 패드(330)의 전압(VIO) 레벨이 기준 전압보다 높으면, 플립 플롭(364)은 로직 하이를 출력한다. 플립 플롭(364)의 출력은 인버터(INV2)를 통해, 입출력 패드(330)에 측정 장치(100, 도 2 참조)가 연결되었는지의 여부를 나타내는 제어 신호(EXC)로서 출력된다.
플립 플롭(364)의 셋 노드(SN)에 글로벌 리셋 바 신호(G_RSTB)가 제공된다. 스마트 카드(300)가 리셋되는 경우, 글로벌 리셋 바 신호(G_RSTB)는 로우 레벨을 가지며, 그 이외의 경우에 하이 레벨을 갖는다. 즉, 스마트 카드(300)가 리셋되면, 플립 플롭(364)의 출력은 로직 하이로 설정되고, 제어 신호(EXC)는 로직 로우로 설정된다.
딜레이(365)는 펄스 발생기(363)로부터 전압 비교 신호(CK_L)를 전달받는다. 딜레이(365)의 출력은 인버터(INV3)를 통해 카운터(362) 및 AND 게이트(366)에 전달된다. AND 게이트(366)는 글로벌 리셋 바 신호(G_RSTB) 및 인버터의 출력(INV3)을 입력받는다. AND 게이트(366)의 출력은 플립 플롭(361)의 리셋 노드(RN)에 연결된다.
도 4a는 입출력 패드(330)에 리더(200)만 연결된 경우의 보안 로직(340)의 동작을 보여주는 타이밍도이다. 도 4b는 입출력 패드(330)에 리더(200) 및 측정 장 치(100)가 연결된 경우의 보안 로직(340)의 동작을 보여주는 타이밍도이다. 도 5는 보안 로직의 동작을 설명하기 위한 순서도이다.
이하에서, 도 2, 3, 4a, 그리고 5를 참조하여, 스마트 카드(300)에 리더(200)가 연결된 경우의 보안 로직(340)의 동작이 상세하게 설명된다. 우선, 스마트 카드(300)가 리더(200)에 연결되면, 글로벌 리셋 신호(미도시) 및 글로벌 리셋 바 신호(G_RSTB)가 발생된다. 예시적으로, 글로벌 리셋 신호 및 글로벌 리셋 바 신호(G_RSTB)는 파워-온 리셋(Power-On Reset)에 대응하는 신호일 수 있다.
글로벌 리셋 바 신호(G_RSTB)가 발생되면, 플립 플롭(364)의 셋 노드(SN)에 로직 하이가 전달되므로, 플립 플롭(364)은 로직 하이를 출력한다. 따라서, 제어 신호(EXC)는 로직 로우로 설정된다. AND 게이트(366)의 출력은 로직 로우 이므로, 플립 플롭(361)의 출력인 테스트 신호(TEST)는 로직 로우로 설정된다.
S110 단계에서, 입출력 패드(330)를 통해 외부 입력 커패시턴스를 측정하기 위해, 커패시턴스 측정 신호(IO_C)가 발생된다. 도 4a에서, 커패시턴스 측정 신호(IO_C)는 제 1 시간(T1)에 발생되는 것으로 도시되어 있다. 커패시턴스 측정 신호(IO_C)는 내부 회로(310)에서 발생될 수 있다. 리더(200) 및 스마트 카드(300) 사이의 통신이 교란되는 것을 방지하기 위해, 외부 입력 커패시턴스의 측정은 리더(200) 및 스마트 카드(300) 사이의 통신이 유휴 상태(Idle)인 경우에 그리고/또는 통신이 시작되기 전에 수행될 수 있다.
커패시턴스 측정 신호(IO_C)는 플립 플롭(361)의 클럭 입력에 제공된다. 플립 플롭(361)의 입력(D)은 전원 전압(Vcc)에 연결되어 있으므로, 플립 플롭(361)은 로직 하이를 출력한다. 즉, 테스트 신호(TEST)는 로직 하이로 설정된다. 테스트 신호(TEST)는 카운터(362) 및 입출력 드라이버(350)에 제공된다. 카운터(362)는 테스트 신호(TEST)에 응답하여, 카운트를 시작한다.
스위치부(354)는 테스트 신호(TEST)에 응답하여, 트랜지스터(TR3)를 턴 온 하고, 트랜지스터(TR4)를 턴 오프 한다. 즉, 전류 소스(352)로부터 제공되는 일정한 전류는 입출력 패드(330)에 전달된다. 따라서, 입출력 패드(330)의 전압(VIO) 레벨은 상승하기 시작한다.
S120 단계에서, 카운터(362)의 카운트 값이 미리 설정된 값에 도달하면, 입출력 패드(330)의 전압(VIO) 레벨이 측정된다. 제 2 시간(T2)에서, 카운터(362)의 카운트 값이 미리 설정된 값에 도달하면, 카운터(362)는 카운트 신호(N)를 출력한다. 펄스 발생기(363)는 카운트 신호(N)에 응답하여, 전압 비교 신호(CK_L)를 발생한다. 전압 비교 신호(CK_L)는 플립 플롭(364) 및 딜레이(365)에 전달된다.
S130 단계에서, 입출력 패드(330)의 전압(VIO) 레벨이 로직 하이인지 판별된다. 플립 플롭(364)의 클럭 입력에 전압 비교 신호(CK_L)가 제공되면, 플립 플롭(364)은 입출력 패드(330)의 전압(VIO) 레벨에 따라 출력 신호를 발생한다. 입출력 패드(330)의 전압(VIO) 레벨이 로직 하이인 경우, 즉, 입출력 패드(330)의 전압(VIO) 레벨이 기준 전압보다 높은 경우, 플립 플롭(364)은 로직 하이를 출력한다. 따라서, 제어 신호(EXC)는 로직 로우로 설정되고, 입출력 패드(330)에 측정 장치(100)가 연결되어 있지 않은 것으로 판별된다.
입출력 패드(330)에 미리 설정된 시간 동안 일정한 전류가 제공된 후, 입출 력 패드(330)의 전압(VIO) 레벨이 로직 하이로 판별되도록, 카운터(362)의 카운트 횟수가 설정될 수 있다. 또한, 입출력 패드(330)에 미리 설정된 시간 동안 일정한 전류가 제공된 후, 입출력 패드(330)의 전압(VIO) 레벨이 로직 하이로 판별되도록, 플립 플롭(364)의 바이어스(Bias) 그리고/또는 오프셋(Offset)이 설정될 수 있다. 따라서, 입출력 패드(330)에 측정 장치(100)가 연결되어 있지 않은 경우, 플립 플롭(364)이 로직 하이를 출력하도록 보안 로직(340)이 설정될 수 있음은 이 분야에 숙련된 기술을 가진 자들에게 이해될 것이다.
딜레이(365)는 전압 비교 신호(CK_L)를 지연시켜 출력한다. 제 3 시간(T3)에, 딜레이(365)의 출력은 인버터(INV3)를 통해 카운터(362) 및 AND 게이트(366)에 전달된다. 카운터(362)는 인버터(INV3)의 출력에 응답하여, 카운트 값을 초기화한다. AND 게이트(366)는 인버터(INV3)의 출력에 응답하여, 플립 플롭(361)의 출력인 테스트 신호(TEST)를 로직 로우로 설정한다. 테스트 신호(TEST)에 응답하여, 스위치부(354)의 트랜지스터(TR3)는 턴 오프 되고, 트랜지스터(TR4)는 턴 온 된다. 따라서, 입출력 패드(330)는 접지 전압에 연결되고, 방전된다.
S130 단계에서, 입출력 패드(330)에 측정 장치(100)가 연결되어 있지 않은 것으로 판별되었으므로, S140 단계가 수행된다. S140 단계에서, 스마트 카드(300)는 리더(200)와의 통신을 수행한다.
이하에서, 도 2, 3, 4b, 그리고 5를 참조하여, 입출력 패드(330)에 리더(200) 및 측정 장치(100)가 연결되어 있는 경우의 보안 로직(340)의 동작이 설명된다. S110 및 S120 단계는 입출력 패드(330)에 측정 장치(100)가 연결되어 있지 않은 경우와 동일하게 수행된다. 따라서, 설명의 편의를 위하여, 상세한 설명은 생략된다.
S130 단계에서, 입출력 패드(330)의 전압(VIO) 레벨이 로직 하이인지 판별된다. 플립 플롭(364)의 클럭 입력에 전압 비교 신호(CK_L)가 제공되면, 플립 플롭(364)은 입출력 패드(330)의 전압(VIO) 레벨에 따라 출력 신호를 발생한다. 입출력 패드(330)의 전압(VIO) 레벨이 로직 로우인 경우, 즉, 입출력 패드(330)의 전압(VIO) 레벨이 기준 전압보다 낮은 경우, 플립 플롭(364)은 로직 로우를 출력한다. 따라서, 제어 신호(EXC)는 로직 하이로 설정되고, 입출력 패드(330)에 측정 장치(100)가 연결되어 있는 것으로 판별된다.
입출력 패드(330)에 리더(200)만 연결되어 있는 경우, 외부 입력 커패시터(370)의 커패시턴스는 리더(200)의 입력 커패시터(220)에 대응한다. 입출력 패드(330)에 리더(200) 및 측정 장치(100)가 연결되어 있는 경우, 외부 입력 커패시터(370)의 커패시턴스는 리더(200) 및 측정 장치(100)의 입력 커패시터들(120, 220)의 커패시턴스들에 대응한다. 입출력 패드(330)에 측정 장치(100) 및 리더(200)가 연결되어 있는 경우의 외부 입력 커패시터(370)의 커패시턴스는, 입출력 패드(330)에 리더(200)만 연결되어 있는 경우의 외부 입력 커패시터(370)의 커패시턴스보다 크다. 따라서, 입출력 패드(330)에 측정 장치(100) 및 리더(200)가 연결되어 있는 경우의 입출력 패드(330)의 전압(VIO) 레벨은, 입출력 패드(330)에 리더(200)만 연결되어 있는 경우의 입출력 패드(330)의 전압(VIO) 레벨보다 느리게 상승한다.
입출력 패드(330)에 리더(200)만 연결되어 있는 경우, 미리 설정된 시간 동안 입출력 패드(330)에 일정한 전류가 제공되면, 입출력 패드(330)의 전압(VIO) 레벨이 로직 하이로 판별되도록, 카운터(362)의 카운트 횟수 그리고/또는 플립 플롭(364)의 바이어스(Bias) 그리고/또는 오프셋(Offset)이 설정될 수 있다.
반면, 입출력 패드(330)에 측정 장치(100) 및 리더(200)가 연결되어 있는 경우, 미리 설정된 시간 동안 입출력 패드(330)에 일정한 전류가 제공되면, 입출력 패드(330)의 전압(VIO) 레벨이 로직 로우로 판별되도록, 카운터(362)의 카운트 횟수 그리고/또는 플립 플롭(364)의 바이어스(Bias) 그리고/또는 오프셋(Offset)이 설정될 수 있다.
따라서, 입출력 패드(330)에 측정 장치(100)가 연결되어 있는지의 여부에 따라 플립 플롭(364)의 출력 레벨이 달라지도록 보안 로직(340)이 설정될 수 있음은 이 분야에 숙련된 기술을 가진 자들에게 이해될 것이다.
입출력 패드(330)에 측정 장치(100) 및 리더(200)가 연결되어 있으면, 입출력 패드(330)의 전압(VIO) 레벨은 로직 로우로 판별된다. 따라서, S150 단계에서, 제어 신호(EXC)가 발생된다. 이때, 입출력 패드(330)에 리더(200)만 연결되어 있는 경우와 마찬가지로, 카운터(363)의 카운트 값, 테스트 신호(TEST), 그리고 입출력 패드(330)의 전압(VIO) 레벨은 초기화된다.
제어 신호(EXC)가 발생되면, 즉, 입출력 패드(330)에 측정 장치(100)가 연결되어 있는 것으로 판별되면, 스마트 카드(300)는 리더(200)와의 통신을 비활성화한다. 예시적으로, 스마트 카드(300)는 리셋될 수 있다. 다른 예로써, 스마트 카드(300)는 측정 장치(200)가 연결되어 있음을 리더(200)에 통보하고, 통신을 비활성화 할 수 있다.
커패시턴스 측정 신호(IO_C)가 발생되면, 스마트 카드(300)는 미리 설정된 커패시턴스 값을 리더(200)에 전달할 수 있다. 리더(200)는 미리 설정된 커패시턴스 값을 전달받고, 리더(200)의 입력 커패시터(220)의 커패시턴스를 미리 설정된 커패시턴스로 조절할 수 있다. 이때, 입출력 패드(330)에 리더(200)만 연결되어 있는 경우에 제어 신호(EXC)가 로직 로우로 설정되고, 입출력 패드(330)에 측정 장치(100) 및 리더(200)가 연결되어 있는 경우에 제어 신호(EXC)가 로직 하이로 설정될 수 있다. 즉, 본 발명에 따른 스마트 카드 시스템 및 그것의 동작 방법은, 상이한 입력 커패시턴스들을 갖는 리더들을 포함하는 스마트 카드 시스템에도 적용 그리고/또는 응용될 수 있음이 이해될 것이다.
상술한 바와 같이, 본 발명에 따른 스마트 카드 시스템은 입출력 패드를 통해 외부 입력 커패시턴스를 측정하고, 외부 입력 커패시턴스 및 리더의 입력 커패시턴스를 비교하여 외부 공격을 검출한다. 본 발명에 따르면, 외부 공격이 검출될 수 있으므로, 스마트 카드 시스템의 보안성이 향상될 수 있다.
본 발명의 상세한 설명에서는 구체적인 실시 예에 관하여 설명하였으나, 본 발명의 범위와 기술적 사상에서 벗어나지 않는 한도 내에서 여러 가지 변형이 가능함은 자명하다. 그러므로 본 발명의 범위는 상술한 실시 예에 국한되어 정해져서는 안되며 후술하는 특허청구범위뿐만 아니라 이 발명의 특허청구범위와 균등한 것들에 의해 정해져야 한다.
도 1은 본 발명에 따른 스마트 카드 시스템을 보여주는 블록도이다.
도 2는 도 1의 스마트 카드 시스템을 더 상세하게 보여주는 다이어그램이다.
도 3은 도 2의 보안 로직의 실시 예를 보여주는 회로도이다.
도 4a는 입출력 패드에 리더만 연결된 경우의 보안 로직의 동작을 보여주는 타이밍도이다.
도 4b는 입출력 패드(330)에 리더 및 측정 장치가 연결된 경우의 보안 로직의 동작을 보여주는 타이밍도이다.
도 5는 보안 로직의 동작을 설명하기 위한 순서도이다.

Claims (12)

  1. 외부 공격을 검출하기 위한 보안 로직을 포함하는 스마트 카드; 및
    상기 스마트 카드와 통신하기 위한 리더를 포함하고,
    상기 보안 로직은 상기 스마트 카드의 입출력 패드를 통해 외부 입력 커패스턴스를 측정하고, 상기 측정된 외부 입력 커패시턴스와 상기 리더의 입력 커패시턴스를 비교하여 외부 공격을 검출하는 스마트 카드 시스템.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 보안 로직은
    상기 입출력 패드에 일정한 전류를 제공하기 위한 입출력 드라이버; 및
    상기 입출력 패드에 미리 설정된 시간동안 전류를 제공하도록 상기 입출력 드라이버를 제어하고, 상기 입출력 패드에 미리 설정된 시간 동안 일정한 전류가 제공된 후, 상기 입출력 패드의 전압 레벨이 기준 전압 레벨보다 낮으면 상기 리더와의 통신을 비활성화하기 위한 제어 신호를 발생하는 커패시턴스 측정기를 포함하는 스마트 카드 시스템.
  3. 제 2 항에 있어서,
    상기 입출력 드라이버는
    상기 입출력 패드에 일정한 전류를 제공하기 위한 전류 소스; 및
    상기 입출력 패드에 접지 전압을 제공하기 위한 스위치부를 포함하는 스마트 카드 시스템.
  4. 제 2 항에 있어서,
    상기 커패시턴스 측정기는
    상기 입출력 드라이버로부터 상기 입출력 패드에 전류가 제공되는 시간을 측정하기 위한 카운터를 포함하는 스마트 카드 시스템.
  5. 제 4 항에 있어서,
    상기 커패시턴스 측정기는
    커패시턴스 측정 신호에 응답하여, 상기 카운터를 인에이블하는 것을 특징으로 하는 스마트 카드 시스템.
  6. 제 4 항에 있어서,
    상기 커패시턴스 측정기는
    상기 카운터의 카운트 값이 미리 설정된 값에 도달하면 상기 입출력 패드의 전압을 상기 기준 전압과 비교하고, 상기 입출력 패드의 전압 레벨이 상기 기준 전압 레벨보다 낮으면 상기 제어 신호를 발생하는 스마트 카드 시스템.
  7. 제 1 항에 있어서,
    상기 스마트 카드는 미리 설정되어 있는 커패시턴스 값을 상기 리더에 전달하고, 상기 리더는 상기 전달된 커패시턴스 값에 따라 상기 리더의 입력 커패시턴스를 조절하는 스마트 카드 시스템.
  8. 스마트 카드 및 리더를 포함하는 스마트 카드 시스템의 동작 방법에 있어서:
    입출력 패드를 통해 외부 입력 커패시턴스를 측정하는 단계;
    상기 측정된 외부 입력 커패시턴스를 상기 리더의 입력 커패시턴스와 비교하는 단계; 및
    상기 측정된 외부 입력 커패시턴스가 상기 리더의 입력 커패시턴스와 상이하면 상기 리더와의 통신을 비활성화하는 단계를 포함하는 동작 방법.
  9. 제 8 항에 있어서,
    상기 측정하는 단계는
    미리 설정된 시간동안 상기 입출력 패드에 일정한 전류를 제공하는 것을 특징으로 하는 동작 방법.
  10. 제 9 항에 있어서,
    상기 비교하는 단계는
    상기 입출력 패드의 전압 레벨을 기준 전압 레벨과 비교하는 것을 특징으로 하는 스마트 카드의 동작 방법.
  11. 제 10 항에 있어서,
    상기 비활성화하는 단계는
    상기 입출력 패드의 전압 레벨이 상기 기준 전압 레벨보다 낮은 경우, 상기 스마트 카드를 리셋하는 것을 특징으로 하는 스마트 카드의 동작 방법.
  12. 제 8 항에 있어서,
    상기 측정하는 단계 이전에,
    상기 리더에 미리 설정된 커패시턴스 값을 전달하여, 상기 리더의 입력 커패시턴스를 상기 미리 설정된 커패시턴스로 조절하는 단계를 더 포함하는 동작 방법.
KR1020080010268A 2008-01-31 2008-01-31 스마트 카드 시스템 및 그것의 동작 방법 KR20090084221A (ko)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020080010268A KR20090084221A (ko) 2008-01-31 2008-01-31 스마트 카드 시스템 및 그것의 동작 방법
US12/353,364 US8104690B2 (en) 2008-01-31 2009-01-14 Smart card system and operating method thereof

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020080010268A KR20090084221A (ko) 2008-01-31 2008-01-31 스마트 카드 시스템 및 그것의 동작 방법

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20090084221A true KR20090084221A (ko) 2009-08-05

Family

ID=40930700

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020080010268A KR20090084221A (ko) 2008-01-31 2008-01-31 스마트 카드 시스템 및 그것의 동작 방법

Country Status (2)

Country Link
US (1) US8104690B2 (ko)
KR (1) KR20090084221A (ko)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101141600B1 (ko) * 2009-08-19 2012-05-17 한국전자통신연구원 부채널 분석을 위한 전원 신호 측정 및 트리거 발생 장치 및 그 방법
KR101408619B1 (ko) * 2013-01-14 2014-06-17 충북대학교 산학협력단 커패시터 용량 편차 기반 물리적 복제 방지 기능 시스템

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8973824B2 (en) * 2007-12-24 2015-03-10 Dynamics Inc. Cards and devices with magnetic emulators with zoning control and advanced interiors
JP2012013446A (ja) * 2010-06-29 2012-01-19 Advantest Corp ピンエレクトロニクス回路およびそれを用いた試験装置
US11240047B2 (en) 2019-12-16 2022-02-01 Analog Devices International Unlimited Company Capacitor based physical unclonable function
US11734459B2 (en) * 2020-08-05 2023-08-22 Analog Devices International Unlimited Company Monitoring a physical unclonable function
US11394566B2 (en) * 2020-08-05 2022-07-19 Analog Devices International Unlimited Company Physical unclonable function configuration and readout

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB9307252D0 (en) * 1993-04-07 1993-06-02 Plessey Telecomm Method and apparatus for verifying the integrity of a smart card
KR970071358A (ko) 1996-04-17 1997-11-07 윤학범 Ic카드리더의 ic카드 데이터 위 · 변조 방지방법 및 장치
US6535136B1 (en) * 1998-02-26 2003-03-18 Best Lock Corporation Proximity card detection system
US6507913B1 (en) 1999-12-30 2003-01-14 Yeda Research And Development Co. Ltd. Protecting smart cards from power analysis with detachable power supplies
JP2003332649A (ja) * 2002-05-14 2003-11-21 Alps Electric Co Ltd 磁気検出素子
KR100528464B1 (ko) 2003-02-06 2005-11-15 삼성전자주식회사 스마트카드의 보안장치
KR100554175B1 (ko) 2003-12-06 2006-02-22 한국전자통신연구원 비접촉 ｉｃ 카드의 전자기장 분석공격 방지 장치 및 그방법
US7202782B2 (en) * 2004-08-04 2007-04-10 Agere Systems Inc. Method and apparatus for disabling an integrated circuit (IC) when an attempt is made to bypass security on the IC
US8099783B2 (en) * 2005-05-06 2012-01-17 Atmel Corporation Security method for data protection
US7352203B1 (en) * 2006-12-26 2008-04-01 Atmel Corporation Method to reduce power in active shield circuits that use complementary traces

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101141600B1 (ko) * 2009-08-19 2012-05-17 한국전자통신연구원 부채널 분석을 위한 전원 신호 측정 및 트리거 발생 장치 및 그 방법
KR101408619B1 (ko) * 2013-01-14 2014-06-17 충북대학교 산학협력단 커패시터 용량 편차 기반 물리적 복제 방지 기능 시스템

Also Published As

Publication number Publication date
US8104690B2 (en) 2012-01-31
US20090194598A1 (en) 2009-08-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR20090084221A (ko) 스마트 카드 시스템 및 그것의 동작 방법
EP2954615B1 (en) Integrated circuit identification and dependability verification using ring oscillator based physical unclonable function and age detection circuitry
EP2573716B1 (en) Secure device anti-tampering circuit
US8060664B2 (en) Integrated circuit having a plurality of interfaces and integrated circuit card having the same
US11151826B2 (en) Circuit and method for using capacitive touch to further secure information in RFID documents
JP2004280817A (ja) セカンダリーコミュニケーションポートを使用してデバッグ及びソフトウエア開発を行うべく形態特定可能なスマートカード
US6978322B2 (en) Embedded controller for real-time backup of operation states of peripheral devices
US6138918A (en) Portable data carrier and method for selecting operating mode thereof
BRPI0922923B1 (pt) etiqueta de rfid e método para operar uma etiqueta de rfid
US9342685B2 (en) Electric circuit and terminal
US6848049B1 (en) Method and apparatus for the authentication of integrated circuits
US6883103B2 (en) Data carrier for the adaptation of a consumption time interval to the power consumption of the data carrier
KR0139494B1 (ko) 스마트카드의 데이타 통신장치 및 방법
US8046634B2 (en) Integrated circuit card with condition detector
US9495315B2 (en) Information processing device and data communication method
JP2016085520A (ja) 携帯可能電子装置
US7172129B2 (en) Integrated circuit card capable of automatically transmitting NULL byte information without intervention by CPU
KR19980703078A (ko) 휴대용 데이타 매체와 데이타 교환 장치간의 통신을 처리하기 위한 커플러 및 그의 데이타 교환 장치
KR100725092B1 (ko) 반도체 메모리 장치의 칩 내부 신호선 감지장치
US20240061926A1 (en) Circuit and method for detecting a fault injection attack in an integrated circuit
KR100486938B1 (ko) 콤비형 집적회로 카드
KR20100109222A (ko) 집적 회로 카드 시스템 및 이에 따른 데이터의 전송 방법
CN104143354A (zh) 存储器设备
KR100213206B1 (ko) 반도체 메모리의 라이트 보호 수단
Song et al. Smart card terminal systems using ISO/IEC 7816-3 interface and 8051 microprocessor based on the System-on-Chip

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right