KR20090073772A - Array substrate of liquid crystal display device and method for fabricating the same - Google Patents

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Abstract

An array substrate of a liquid crystal display device and a method for manufacturing the same are provided to apply a reverse TFT structure in which locations of an array substrate and a color filter substrate are reverse, thereby removing a process of forming a black matrix through a blocking design of a gate line and a data line by using a barrier pattern. A TFT(Thin Film Transistor) is made on an intersection point of a gate line(120) and a data line(130). A pixel electrode(170) is contacted with the thin film transistor. The first barrier pattern(151) has wider width than width of the gate line correspondingly to a lower part of the gate line. The second barrier pattern(152) has wider width than width of the data line in a lower part overlapped with the data line.

Description

액정표시장치용 어레이 기판 및 그 제조방법{Array Substrate of Liquid Crystal Display Device and Method for fabricating the same}Array Substrate of Liquid Crystal Display Device and Manufacturing Method Thereof {Array Substrate of Liquid Crystal Display Device and Method for fabricating the same}

본 발명은 액정표시장치 및 그 제조방법에 관한 것으로, 보다 자세하게는 액정표시장치의 공정 단계의 단축을 통해 생산 수율을 개선하는 것에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a liquid crystal display and a method for manufacturing the same, and more particularly, to improving production yield through shortening of a process step of a liquid crystal display.

일반적으로 액정표시장치의 구동원리는 액정의 광학적 이방성과 분극성질을 이용한다. 상기 액정은 구조가 가늘고 길기 때문에 분자의 배열에 방향성을 갖고 있으며, 인위적으로 액정에 전기장을 인가하여 분자배열의 방향을 제어할 수 있다.In general, the driving principle of the liquid crystal display device uses the optical anisotropy and polarization of the liquid crystal. Since the liquid crystal is thin and long in structure, the liquid crystal has directivity in the arrangement of molecules, and the direction of the molecular arrangement can be controlled by artificially applying an electric field to the liquid crystal.

따라서, 상기 액정의 분자배열 방향을 임의로 조절하면, 액정의 분자배열이 변하게 되고, 광학적 이방성에 의하여 상기 액정의 분자배열 방향으로 빛이 굴절하여 화상정보를 표현할 수 있다.Accordingly, when the molecular arrangement direction of the liquid crystal is arbitrarily adjusted, the molecular arrangement of the liquid crystal is changed, and light is refracted in the molecular arrangement direction of the liquid crystal due to optical anisotropy to express image information.

현재에는 박막트랜지스터와 상기 박막트랜지스터에 연결된 화소 전극이 행렬 방식으로 배열된 능동행렬 액정표시장치(Active Matrix LCD: AM-LCD)가 해상도 및 동영상 구현능력이 우수하여 가장 주목받고 있다.Currently, active matrix LCDs (AM-LCDs) in which thin film transistors and pixel electrodes connected to the thin film transistors are arranged in a matrix manner have attracted the most attention due to their excellent resolution and ability to implement video.

이하, 첨부한 도면을 참조하여 종래에 따른 액정표시장치에 대해 설명하도록 한다.Hereinafter, a liquid crystal display according to the related art will be described with reference to the accompanying drawings.

도 1은 종래에 따른 액정표시장치용 어레이 기판의 단위 화소를 나타낸 평면도이고, 도 2는 도 1의 Ⅱ-Ⅱ'선을 따라 절단하여 나타낸 단면도이다.1 is a plan view illustrating a unit pixel of a conventional array substrate for a liquid crystal display device, and FIG. 2 is a cross-sectional view taken along the line II-II ′ of FIG. 1.

도 1과 도 2에 도시한 바와 같이, 기판(10) 상의 일 방향으로 게이트 배선(20)과, 상기 게이트 배선(20)에서 연장된 게이트 전극(25)이 형성된다. 상기 게이트 배선(20)과 수직 교차하는 데이터 영역(D)에 대응하여 배리어 패턴(52)이 형성되는 바, 상기 배리어 패턴(52)은 전기적으로 절연된 아일랜드 형태로 설계된다.1 and 2, the gate wiring 20 and the gate electrode 25 extending from the gate wiring 20 are formed in one direction on the substrate 10. The barrier pattern 52 is formed to correspond to the data region D perpendicular to the gate wiring 20, and the barrier pattern 52 is designed to have an electrically insulated island shape.

이때, 상기 게이트 배선(20)과 게이트 전극(25)과 배리어 패턴(52)은 동일층에서 구리(Cu), 알루미늄(Al), 알루미늄 합금(AlNd) 및 크롬(Cr)과 같은 도전성 금속 그룹 중 선택된 하나로 형성된다.In this case, the gate wiring 20, the gate electrode 25, and the barrier pattern 52 may be formed of a conductive metal group such as copper (Cu), aluminum (Al), aluminum alloy (AlNd), and chromium (Cr) in the same layer. It is formed into one selected.

상기 게이트 배선(20)과 게이트 전극(25)과 배리어 패턴(52) 상에는 산화 실리콘(SiO2)과 질화 실리콘(SiNx)을 포함하는 무기절연물질 그룹 중 선택된 하나로 게이트 절연막(45)이 형성된다.On the gate line 20, the gate electrode 25, and the barrier pattern 52, a gate insulating layer 45 is formed of one selected from the group of inorganic insulating materials including silicon oxide (SiO 2 ) and silicon nitride (SiNx).

상기 게이트 전극(25)과 중첩된 게이트 절연막(45) 상에는 액티브층(40)과 오믹 콘택층(41)이 차례로 적층 형성된다. 상기 액티브층(40)과 오믹 콘택층(41)은 반도체층(42)을 이룬다. 이때, 상기 액티브층(40)은 순수 비정질 실리콘(a-Si:H)으로, 상기 오믹 콘택층(41)은 불순물을 포함하는 비정질 실리콘(n+ a-Si:H)으로 각각 형성된다.The active layer 40 and the ohmic contact layer 41 are sequentially stacked on the gate insulating layer 45 overlapping the gate electrode 25. The active layer 40 and the ohmic contact layer 41 form a semiconductor layer 42. In this case, the active layer 40 is formed of pure amorphous silicon (a-Si: H), and the ohmic contact layer 41 is formed of amorphous silicon (n + a-Si: H) containing impurities.

상기 반도체층(42) 상에는 게이트 배선(20)과 수직 교차하여 화소 영역(P)을 정의하는 데이터 배선(30)과, 상기 데이터 배선(30)에서 연장된 소스 전극(32)과, 상기 소스 전극(32)과 이격된 드레인 전극(34)이 형성된다. 상기 게이트 전극(25)과 반도체층(42)과 소스 및 드레인 전극(32, 34)을 포함하여 박막트랜지스터(T)라 한다.On the semiconductor layer 42, a data line 30 perpendicularly intersecting with the gate line 20 to define a pixel region P, a source electrode 32 extending from the data line 30, and the source electrode A drain electrode 34 spaced apart from the 32 is formed. The gate electrode 25, the semiconductor layer 42, and the source and drain electrodes 32 and 34 are referred to as a thin film transistor T.

상기 데이터 배선(30)과 소스 및 드레인 전극(32, 34) 상에는 드레인 전극(34)의 일부를 노출하는 드레인 콘택홀(CH1)을 포함하는 보호막(55)이 형성된다. 상기 보호막(55)은 게이트 절연막(45)과 동일 물질로 구성되는 것이 일반적이다.A passivation layer 55 including a drain contact hole CH1 exposing a part of the drain electrode 34 is formed on the data line 30 and the source and drain electrodes 32 and 34. The passivation layer 55 is generally made of the same material as the gate insulating layer 45.

상기 드레인 콘택홀(CH1)을 포함하는 보호막(55) 상에는 드레인 전극(34)과 접촉된 화소 전극(70)이 화소 영역(P)에 대응하여 구성된다.On the passivation layer 55 including the drain contact hole CH1, the pixel electrode 70 in contact with the drain electrode 34 is configured to correspond to the pixel region P.

도 3은 도 2의 Ⅲ-Ⅲ'선을 따라 절단하여 나타낸 단면도로, 어레이 기판과 컬러필터 기판이 대향 합착된 상태를 나타낸 것으로, 이를 참조하여 상세히 설명하도록 한다.3 is a cross-sectional view taken along line III-III ′ of FIG. 2 and illustrates a state in which an array substrate and a color filter substrate are opposed to each other, and will be described in detail with reference to this.

도시한 바와 같이, 표시 영역(AA)과 비표시 영역(NAA)으로 각각 구분된 컬러필터 기판(5)과 어레이 기판(10)이 대향 합착하고 있으며, 상기 컬러필터 기판(5)과 어레이 기판(10)의 이격된 사이 공간에는 액정층(15)이 개재된다. 상기 컬러필터 및 어레이 기판(5, 10)과 액정층(15)은 액정 패널(90)을 이룬다. 상기 어레이 기판(10)의 이격된 배면에는 광원의 역할을 하는 백라이트 유닛(95)이 위치한다.As illustrated, the color filter substrate 5 and the array substrate 10 respectively divided into the display area AA and the non-display area NAA are opposed to each other, and the color filter substrate 5 and the array substrate ( The liquid crystal layer 15 is interposed in the spaced apart space of 10). The color filters, the array substrates 5 and 10, and the liquid crystal layer 15 form a liquid crystal panel 90. The backlight unit 95 serving as a light source is positioned on the rear surface of the array substrate 10.

상기 컬러필터 기판(5)의 투명 기판(1) 하부 면에는 비표시 영역(NAA)에 대응 구성된 블랙 매트릭스(12)와, 상기 블랙 매트릭스(12)를 경계로 순차적으로 패 턴된 적(R) 서브 컬러필터(미도시)와 녹(G) 서브 컬러필터(16b)와 청(B) 서브 컬러필터(16c)를 포함하는 컬러필터층(16)과, 상기 컬러필터층(16) 하부 전면에 대응된 공통 전극(85)과, 상기 공통 전극(85) 하부에서 컬러필터 기판(5)과 어레이 기판(10) 간의 균일한 셀갭을 확보하기 위해 패턴된 컬럼 스페이서(미도시)와, 상기 컬럼 스페이서를 덮는 상부 배향막(18)이 차례로 위치한다.On the lower surface of the transparent substrate 1 of the color filter substrate 5, a black matrix 12 corresponding to the non-display area NAA and a red sub R sequentially patterned around the black matrix 12 are provided. A color filter layer 16 including a color filter (not shown), a green (G) sub color filter 16b, and a blue (B) sub color filter 16c, and a common color corresponding to the entire lower surface of the color filter layer 16. A patterned column spacer (not shown) to secure a uniform cell gap between the color filter substrate 5 and the array substrate 10 under the electrode 85, the common electrode 85, and an upper portion covering the column spacer. The alignment film 18 is located in order.

일반적으로, 상기 컬럼 스페이서는 유기절연물질 그룹 중 선택된 하나로, 게이트 배선(도 1의 20)과 대응된 위치에 형성된다.In general, the column spacer is selected from the group of organic insulating materials, and is formed at a position corresponding to the gate line 20 of FIG. 1.

한편, 상기 어레이 기판(10)의 투명 기판(2) 상부 면에는 전기적으로 절연된 배리어 패턴(52)과, 상기 배리어 패턴(52)을 덮는 게이트 절연막(45)과, 상기 게이트 절연막(45) 상의 데이터 영역(D)에 대응된 데이터 배선(30)과, 상기 데이터 배선(30) 상의 보호막(55)과, 상기 보호막(55) 상의 양측 화소 영역(P)에 각각 대응된 다수의 화소 전극(70)과, 상기 다수의 화소 전극(70) 상의 하부 배향막(19)이 차례로 위치한다.On the other hand, an upper surface of the transparent substrate 2 of the array substrate 10 has an electrically insulated barrier pattern 52, a gate insulating film 45 covering the barrier pattern 52, and a gate insulating film 45. A plurality of pixel electrodes 70 respectively corresponding to the data line 30 corresponding to the data area D, the passivation layer 55 on the data line 30, and both pixel regions P on the passivation layer 55. ) And lower alignment layers 19 on the plurality of pixel electrodes 70 are sequentially disposed.

이때, 상기 컬러필터 기판(5)은 블랙 매트릭스(12)를 형성하는 제 1 마스크 공정 단계와, 상기 블랙 매트릭스(12) 상에 적(R) 서브 컬러필터를 형성하는 제 2 마스크 공정 단계와, 녹(G) 서브 컬러필터(16b)를 형성하는 제 3 마스크 공정 단계와, 청(B) 서브 컬러필터(16c)를 형성하는 제 4 마스크 공정 단계와, 공통 전극(85) 상의 컬럼 스페이서를 형성하는 제 5 마스크 공정 단계를 포함한다. 상기 공통 전극(85)은 컬러필터 기판(5)의 전면에 대응된 판상으로 설계되므로 마스크 패턴 공정을 필요로 하지 않게 된다.In this case, the color filter substrate 5 may include a first mask process step of forming a black matrix 12, a second mask process step of forming a red (R) sub color filter on the black matrix 12, A third mask process step of forming the green (G) sub color filter 16b, a fourth mask process step of forming the blue (B) sub color filter 16c, and a column spacer on the common electrode 85. And a fifth mask process step. Since the common electrode 85 is designed in a plate shape corresponding to the entire surface of the color filter substrate 5, the common electrode 85 does not require a mask pattern process.

전술한 구성은 어레이 기판(10)에 구성된 배리어 패턴(52)이 데이터 배선(30)을 차폐하는 역할을 하는 데, 이러한 배리어 패턴(52)은 백라이트 유닛(95)으로부터 입사되는 정면의 빛은 완전히 차폐할 수 있는 장점이 있으나, 어레이 기판(10)과 컬러필터 기판(5) 자체의 두께 및 일정한 높이로 설계된 셀갭에 의해 측면으로부터 입사되는 빛을 완전히 차폐하는 데 한계가 있다.In the above-described configuration, the barrier pattern 52 formed on the array substrate 10 serves to shield the data line 30. In this barrier pattern 52, the front light incident from the backlight unit 95 is completely prevented. Although there is an advantage to shield, there is a limit to completely shield the light incident from the side by the cell gap designed to the thickness and constant height of the array substrate 10 and the color filter substrate 5 itself.

이러한 이유로, 비표시 영역(NAA)에 대응하여 컬러필터 기판(5)에 블랙 매트릭스(12)를 설계하고 있다.For this reason, the black matrix 12 is designed in the color filter substrate 5 corresponding to the non-display area NAA.

또한, 종래에 따른 어레이 기판에 구성된 게이트 배선과 게이트 전극은 주로 구리나 구리 합금 계열의 도전성 금속 물질로 제작하고 있으나, 구리나 구리 합금 계열의 물질은 기판과의 계면 간 접촉 특성이 나빠 증착 불량이 다발하고 있는 바, 이로 인해 표시 소자의 신뢰성이 저하되고 있는 상황이다.In addition, the gate wiring and the gate electrode formed in the array substrate according to the prior art are mainly made of a conductive metal material of copper or copper alloy series, but the copper or copper alloy series materials have poor contact characteristics between interfaces with the substrate, resulting in poor deposition. As a result, the reliability of the display element is deteriorated.

본 발명은 전술한 문제를 해결하기 위해 안출된 것으로, 액정표시장치의 제조 과정에서 마스크 공정 수의 단축을 통해 생산 수율을 개선하는 것을 목적으로 한다.The present invention has been made to solve the above-mentioned problem, and an object of the present invention is to improve the production yield by shortening the number of mask processes in the manufacturing process of the liquid crystal display.

전술한 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 액정표시장치는 기판과; 상기 기판 상의 일 방향으로 구성된 게이트 배선과; 상기 게이트 배선과 수직 교차 구성된 데이터 배선과; 상기 게이트 배선과 데이터 배선의 교차지점에 구성된 박막트랜지스터와; 상기 박막트랜지스터에 접촉된 화소 전극과; 상기 게이트 배선 하부에 대응하여 상기 게이트 배선의 폭 보다 넓은 폭으로 구성된 제 1 배리어 패턴과; 상기 데이터 배선과 중첩된 하부로 상기 데이터 배선의 폭 보다 넓은 폭으로 구성된 제 2 배리어 패턴을 포함한다.According to an aspect of the present invention, a liquid crystal display device includes: a substrate; A gate wiring formed in one direction on the substrate; A data line configured to vertically cross the gate line; A thin film transistor configured at an intersection point of the gate line and the data line; A pixel electrode in contact with the thin film transistor; A first barrier pattern configured to have a width wider than a width of the gate wiring corresponding to a lower portion of the gate wiring; And a second barrier pattern configured to have a width wider than the width of the data line below the data wire.

이때, 상기 게이트 배선 및 전극과 제 1 및 제 2 배리어 패턴은 동일층에 구성되며, 상기 제 1 및 제 2 배리어 패턴은 몰리브덴과 몰리브덴 합금을 포함하는 도전성 물질 그룹 중 선택된 하나로 구성된 것을 특징으로 한다. 상기 제 1 및 제 2 배리어 패턴은 빛을 차폐하는 기능을 한다.In this case, the gate wiring, the electrode, and the first and second barrier patterns are formed on the same layer, and the first and second barrier patterns are selected from a group of conductive materials including molybdenum and molybdenum alloys. The first and second barrier patterns function to shield light.

또한, 상기 제 1 및 제 2 배리어 패턴은 상기 기판과 게이트 배선 및 전극의 계면 간 접촉 특성을 개선하는 기능을 하는 것을 특징으로 한다.In addition, the first and second barrier patterns may function to improve contact characteristics between interfaces between the substrate, the gate wiring, and the electrode.

상기 게이트 배선 및 전극은 구리, 몰리브덴, 알루미늄, 알루미늄 합금 및 크롬과 같은 도전성 금속 그룹 중 선택된 하나로 구성된다.The gate wiring and the electrode are composed of one selected from the group of conductive metals such as copper, molybdenum, aluminum, aluminum alloy and chromium.

상기 화소 전극은 전단의 게이트 배선으로 연장 구성하여, 상기 전단의 게이트 배선을 제 1 전극으로 하고, 상기 제 1 전극과 중첩된 상기 화소 전극을 제 2 전극으로 하며, 상기 제 1 및 제 2 전극의 중첩된 사이 공간에 개재된 절연막을 유전체층으로 하는 스토리지 커패시터가 구성된다.The pixel electrode extends with the gate wiring at the front end, the gate wiring at the front end as the first electrode, the pixel electrode overlapped with the first electrode as the second electrode, and the first and second electrodes. A storage capacitor is constituted by using an insulating film interposed in the overlapped interspace as a dielectric layer.

상기 어레이 기판과; 상기 어레이 기판과 대향 합착되며, 표시 영역과 비표시 영역으로 정의된 컬러필터 기판과; 상기 어레이 및 컬러필터 기판의 이격된 사 이 공간에 개재된 액정층과; 상기 컬러필터 기판과 이격된 배면에 위치하는 백라이트 유닛과; 상기 컬러필터 기판 상의 상기 비표시 영역을 경계로 차례로 패턴된 적, 녹, 청 서브 컬러필터와; 상기 적, 녹, 청 서브 컬러필터 상의 공통 전극을 포함하는 액정표시장치가 구성된다.The array substrate; A color filter substrate opposed to the array substrate and defined as a display area and a non-display area; A liquid crystal layer interposed in spaced spaces between the array and the color filter substrate; A backlight unit positioned on a rear surface of the color filter substrate spaced apart from the back surface; Red, green, and blue sub color filters sequentially patterned on the non-display area on the color filter substrate; A liquid crystal display device including a common electrode on the red, green, and blue sub color filters is configured.

전술한 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 액정표장치용 어레이 기판의 제조방법은 기판 상의 일 방향으로 구성된 게이트 배선과 상기 게이트 배선에서 연장된 게이트 전극을 형성하는 단계와; 상기 게이트 배선 및 전극의 하부에 대응하여 상기 게이트 배선 및 전극의 폭 보다 넓은 폭을 갖는 제 1 배리어 패턴과, 상기 데이터 영역에 대응하여 아일랜드 형태로 패턴된 제 2 배리어 패턴을 형성하는 단계와; 상기 게이트 배선 및 전극과 제 1 및 제 2 배리어 패턴이 형성된 기판 상에 게이트 절연막을 형성하는 단계와; 상기 게이트 절연막 상에 상기 게이트 배선과 수직 교차하는 데이터 배선과, 상기 데이터 배선에서 연장된 소스 전극과, 상기 소스 전극과 이격된 드레인 전극과, 상기 소스 및 드레인 전극 하부의 반도체층을 형성하는 단계와; 상기 반도체층과 소스 및 드레인 전극과 데이터 배선이 형성된 기판 상에 상기 드레인 전극의 일부가 노출된 보호막을 형성하는 단계와; 상기 보호막 상에 상기 드레인 전극과 접촉된 화소 전극을 형성하는 단계를 포함한다.According to an aspect of the present invention, there is provided a method of manufacturing an array substrate for a liquid crystal display device, the method including: forming a gate wiring formed in one direction on the substrate and a gate electrode extending from the gate wiring; Forming a first barrier pattern having a width wider than that of the gate wiring and the electrode corresponding to a lower portion of the gate wiring and the electrode, and a second barrier pattern patterned in an island shape corresponding to the data area; Forming a gate insulating film on the substrate on which the gate wiring and the electrode and the first and second barrier patterns are formed; Forming a data line perpendicular to the gate line, a source electrode extending from the data line, a drain electrode spaced apart from the source electrode, and a semiconductor layer under the source and drain electrodes on the gate insulating layer; ; Forming a protective film exposing a portion of the drain electrode on a substrate on which the semiconductor layer, the source and drain electrodes, and the data wiring are formed; Forming a pixel electrode in contact with the drain electrode on the passivation layer.

이때, 상기 제 1 및 제 2 배리어 패턴은 몰리브덴과 몰리브덴 합금을 포함하는 도전성 물질 그룹 중 선택된 하나로 형성되고, 상기 게이트 배선 및 전극은 구리, 몰리브덴, 알루미늄, 알루미늄 합금 및 크롬과 같은 도전성 금속 그룹 중 선택된 하나로 형성된다.In this case, the first and second barrier patterns are formed of one selected from the group of conductive materials including molybdenum and molybdenum alloy, and the gate wire and the electrode are selected from conductive metal groups such as copper, molybdenum, aluminum, aluminum alloy and chromium. It is formed as one.

상기 화소 전극은 전단의 게이트 배선으로 연장 구성하여, 상기 전단의 게이트 배선을 제 1 전극으로 하고, 상기 제 1 전극과 중첩된 상기 화소 전극을 제 2 전극으로 하며, 상기 제 1 및 제 2 전극의 중첩된 사이 공간에 개재된 절연막을 유전체층으로 하는 스토리지 커패시터가 형성된다.The pixel electrode extends with the gate wiring at the front end, the gate wiring at the front end as the first electrode, the pixel electrode overlapped with the first electrode as the second electrode, and the first and second electrodes. A storage capacitor is formed which uses an insulating film interposed in the overlapped interspace as a dielectric layer.

본 발명에서는 첫째, 어레이 기판과 컬러필터 기판의 위치가 상반된 역 TFT 구조를 적용함으로써, 배리어 패턴으로 게이트 배선과 데이터 배선을 차폐 설계하는 것을 통해 블랙 매트릭스의 형성 공정을 생략할 수 있는 효과가 있다.In the present invention, first, by applying an inverted TFT structure in which the positions of the array substrate and the color filter substrate are opposite, the black matrix formation process can be omitted by shielding the gate wiring and the data wiring with a barrier pattern.

둘째, 기판과의 계면 간 접촉 특성이 좋은 배리어 패턴을 게이트 배선 및 전극 하부에 구성하는 것을 통해 게이트 배선 및 전극의 들뜸 불량을 개선할 수 있다.Second, the failure of lifting of the gate wiring and the electrode can be improved by forming a barrier pattern having good contact characteristics between interfaces with the substrate under the gate wiring and the electrode.

--- 실시예 ------ Example ---

본 발명은 어레이 기판과 컬러필터 기판의 위치가 상반된 역 TFT 구조로 액정표시장치를 제작하는 것을 통해 블랙 매트릭스 형성 공정을 삭제할 수 있는 것을 특징으로 한다.The present invention is characterized in that the black matrix forming process can be eliminated by fabricating the liquid crystal display device with an inverted TFT structure in which the positions of the array substrate and the color filter substrate are opposite.

이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명에 따른 액정표시장치에 대해 설명하도록 한다.Hereinafter, a liquid crystal display according to the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.

도 4는 본 발명에 따른 액정표시장치용 어레이 기판의 단위 화소를 나타낸 평면도이다.4 is a plan view illustrating unit pixels of an array substrate for a liquid crystal display according to the present invention.

도시한 바와 같이, 기판(110) 상의 일 방향으로 게이트 배선(120)과, 상기 게이트 배선(120)에서 연장된 게이트 전극(125)을 구성한다. 상기 게이트 배선(120)과 수직 교차하여 화소 영역(P)을 정의하는 데이터 배선(130)을 구성한다.As shown, the gate wiring 120 and the gate electrode 125 extending from the gate wiring 120 are formed in one direction on the substrate 110. The data line 130 is formed to vertically cross the gate line 120 to define the pixel area P. Referring to FIG.

상기 게이트 배선(120)과 중첩된 하부에 게이트 배선(120)의 폭 보다 넓은 폭으로 제 1 배리어 패턴(151)을 구성한다. 또한, 상기 데이터 배선(130)과 중첩된 하부에 데이터 배선(130)의 폭 보다 넓은 폭으로 제 2 배리어 패턴(152)을 구성하는 바, 상기 제 2 배리어 패턴(152)은 게이트 배선(120)과 이격 설계한다.The first barrier pattern 151 is formed to have a width wider than that of the gate wiring 120 at a lower portion overlapping the gate wiring 120. In addition, a second barrier pattern 152 is formed at a lower portion overlapping with the data line 130 to have a width wider than that of the data line 130, and the second barrier pattern 152 is a gate line 120. And spaced apart design.

즉, 상기 제 1 및 제 2 배리어 패턴(151, 152)은 데이터 배선(130)과 게이트 배선(120) 각각의 외부로 돌출 구성된다. 특히, 상기 제 1 배리어 패턴(151)은 기판(110)과 게이트 배선 및 전극(120, 125) 간의 접촉 특성을 향상시키는 기능을 한다.That is, the first and second barrier patterns 151 and 152 may protrude to the outside of each of the data line 130 and the gate line 120. In particular, the first barrier pattern 151 functions to improve contact characteristics between the substrate 110, the gate wirings, and the electrodes 120 and 125.

상기 게이트 배선(120)과 데이터 배선(130)의 교차지점에는 박막트랜지스터(T)를 구성한다. 상기 박막트랜지스터(T)는 게이트 전극(125)과, 상기 게이트 전극(125)과 중첩된 상부에 구성된 반도체층(미도시)과, 상기 반도체층과 접촉되고 데이터 배선(130)에서 연장된 소스 전극(132)과, 상기 소스 전극(132)과 이격된 드레인 전극(134)을 포함한다.A thin film transistor T is formed at an intersection point of the gate line 120 and the data line 130. The thin film transistor T may include a gate electrode 125, a semiconductor layer (not shown) formed on an upper portion of the gate electrode 125, and a source electrode contacting the semiconductor layer and extending from the data line 130. 132 and a drain electrode 134 spaced apart from the source electrode 132.

상기 반도체층은 순수 비정질 실리콘(a-Si:H)으로 이루어진 액티브층(140)과, 불순물을 포함하는 비정질 실리콘(n+ a-Si:H)으로 이루어진 오믹 콘택층(미도 시)을 포함한다. 상기 액티브층(140) 및 오믹 콘택층에서 각각 연장된 제 1 비정질 패턴(171) 및 제 2 비정질 패턴(미도시)은 데이터 배선(130) 하부로 연장 구성된다. 특히, 상기 제 1 비정질 패턴(171)은 데이터 배선(130)의 외부로 돌출 구성된다.The semiconductor layer includes an active layer 140 made of pure amorphous silicon (a-Si: H), and an ohmic contact layer (not shown) made of amorphous silicon (n + a-Si: H) containing impurities. The first amorphous pattern 171 and the second amorphous pattern (not shown) extending from the active layer 140 and the ohmic contact layer, respectively, extend below the data line 130. In particular, the first amorphous pattern 171 protrudes out of the data line 130.

상기 드레인 전극(134)의 일부를 노출하는 드레인 콘택홀(CH2)을 통해 드레인 전극(134)과 접촉된 화소 전극(170)을 화소 영역(P)에 대응하여 구성한다.The pixel electrode 170 in contact with the drain electrode 134 through the drain contact hole CH2 exposing a part of the drain electrode 134 is configured to correspond to the pixel region P. Referring to FIG.

상기 화소 전극(170)은 전단의 게이트 배선(120)으로 연장 구성하여, 상기 전단의 게이트 배선(120)을 제 1 전극으로 하고, 상기 제 1 전극과 중첩된 화소 전극(170)을 제 2 전극으로 하며, 상기 제 1 및 제 2 전극의 중첩된 사이 공간에 개재된 절연막을 유전체층으로 하는 스토리지 커패시터(Cst)를 구성한다.The pixel electrode 170 extends to the gate wiring 120 at the front end, the gate wiring 120 at the front end is the first electrode, and the pixel electrode 170 overlapping the first electrode is the second electrode. A storage capacitor Cst having an insulating layer interposed between the first and second electrodes overlapped with each other is formed as a dielectric layer.

전술한 구성에서 특징적인 것은 데이터 배선과 게이트 배선의 중첩된 하부에 대응하여 제 1 및 제 2 배리어 패턴을 구성하는 것을 통해, 컬러필터 기판에 대응된 블랙 매트릭스의 형성 공정을 생략할 수 있게 되는 바, 이에 대해서는 후술하기로 한다.The characteristic feature of the above-described configuration is that by forming the first and second barrier patterns corresponding to the overlapped lower portions of the data lines and the gate lines, the process of forming the black matrix corresponding to the color filter substrate can be omitted. This will be described later.

본 발명에 따른 액정표시장치용 어레이 기판은 4 마스크 공정으로 제작된다.The array substrate for a liquid crystal display device according to the present invention is manufactured in a four mask process.

도 5a 내지 도 5h는 도 4의 Ⅴ-Ⅴ'선을 따라 절단하여 공정 순서에 따라 나타낸 공정 단면도로, 이를 참조하여 상세히 설명하도록 한다.5A through 5H are cross-sectional views illustrating a process sequence by cutting along the line VV ′ of FIG. 4, which will be described in detail with reference to the drawings.

도 5a 내지 도 5e는 제 1 마스크 공정 단계를 나타낸 공정 단면도이다.5A through 5E are cross-sectional views illustrating a first mask process step.

도 5a에 도시한 바와 같이, 기판(110) 상에 스위칭 영역(S), 화소 영역(P), 게이트 영역(G)과 데이터 영역(D)을 정의하는 단계를 진행한다.As shown in FIG. 5A, a step of defining a switching region S, a pixel region P, a gate region G, and a data region D is performed on the substrate 110.

상기 스위칭 영역(S)과 화소 영역(P)과 게이트 영역(G)과 데이터 영역(D)이 정의된 기판(110) 상에 몰리브덴 및 몰리브덴 합금을 포함하는 도전성 금속 물질 그룹 중 선택된 하나로 제 1 금속층(120a)을 형성한다. 연속하여, 상기 제 1 금속층(120a) 상에 구리(Cu), 몰리브덴(Mo), 알루미늄(Al), 알루미늄 합금(AlNd) 및 크롬(Cr)과 같은 도전성 금속 그룹 중 선택된 하나로 제 2 금속층(121a)을 형성한다.The first metal layer is selected from the group of conductive metal materials including molybdenum and molybdenum alloy on the substrate 110 in which the switching region S, the pixel region P, the gate region G, and the data region D are defined. Form 120a. Subsequently, the second metal layer 121a is selected from the group of conductive metals such as copper (Cu), molybdenum (Mo), aluminum (Al), aluminum alloy (AlNd), and chromium (Cr) on the first metal layer 120a. ).

이때, 상기 제 1 금속층(120a)은 제 2 금속층(121a)과 기판(110)의 계면 간 접촉 특성을 개선하기 위한 목적으로 형성하게 된다. 특히, 상기 제 1 금속층(120a)은 제 2 금속층(121a)이 구리 및 구리 합금으로 형성될 경우, 기판(110)과의 접촉 불량으로 들뜸이 발생되는 것을 미연에 방지하는 기능을 한다.In this case, the first metal layer 120a is formed for the purpose of improving contact characteristics between the interface between the second metal layer 121a and the substrate 110. In particular, when the second metal layer 121a is formed of copper and a copper alloy, the first metal layer 120a prevents the occurrence of lifting due to poor contact with the substrate 110.

도 5b에 도시한 바와 같이, 상기 제 1 금속층(120a)과 제 2 금속층(121a)이 형성된 기판(110) 상에 포토레지스트를 도포하여 감광층(180)을 형성한다. 다음으로, 상기 감광층(180)이 형성된 기판(110)과 이격된 상부에 투과부(T1), 반투과부(T2) 및 차단부(T3)로 구성된 하프톤 마스크(HTM)를 정렬하는 단계를 진행한다.As shown in FIG. 5B, a photoresist is formed on the substrate 110 on which the first metal layer 120a and the second metal layer 121a are formed to form a photosensitive layer 180. Next, a step of aligning the halftone mask HTM including the transmissive part T1, the transflective part T2, and the blocking part T3 is spaced apart from the substrate 110 on which the photosensitive layer 180 is formed. do.

상기 하프톤 마스크(HTM)는 상기 반투과부(T2)에 반투명막을 형성하여 빛의 강도를 낮추거나 빛의 투과량을 낮추어 감광층(180)이 불완전 노광될 수 있도록 하는 기능을 한다. 이때, 상기 하프톤 마스크(HTM) 이외에 상기 반투과부(T2)에 슬릿 형상을 두어 빛의 투과량을 조절하는 슬릿 마스크가 이용될 수 있다.The halftone mask HTM forms a semi-transparent film on the transflective portion T2 to lower the intensity of light or to reduce the amount of light transmitted so that the photosensitive layer 180 may be incompletely exposed. In this case, in addition to the halftone mask HTM, a slit mask may be used to control the amount of light transmitted by placing a slit shape on the transflective portion T2.

또한, 상기 차단부(T3)는 빛을 완전히 차단하는 기능을 하고, 상기 투과부(T1)는 빛을 투과시켜 빛에 노출된 감광층(180)의 화학적 변화로 완전 노광하는 기능을 한다.In addition, the blocking unit T3 functions to completely block light, and the transmitting unit T1 transmits light and completely exposes the light by chemical change of the photosensitive layer 180 exposed to the light.

이때, 상기 스위칭 영역(S)의 일부에 대응하여 양측의 반투과부(T2) 사이에 차단부(T1), 상기 게이트 영역(G)에 대응하여 양측의 반투과부(T2) 사이에 차단부(T3), 상기 데이터 영역(D)에 대응하여 반투과부(T2), 그리고 이를 제외한 전 영역은 투과부(T1)가 위치하도록 한다.In this case, the blocking portion T1 is disposed between the semi-transparent portions T2 on both sides of the switching region S, and the blocking portion T3 is disposed between the semi-transparent portions T2 on both sides of the gate region G. ), The transflective portion T2 is disposed in the transflective portion T2 and all regions except for the transmissive portion T1 corresponding to the data region D. FIG.

다음으로, 도 5c에 도시한 바와 같이, 상기 마스크(도 5b의 HTM) 상부에서 노광 및 현상 공정을 진행하여, 스위칭 영역(S)에 대응하여 양측으로는 두께가 절반 정도 낮아지고 중앙에서는 두께 변화가 없는 제 1 감광 패턴(182)과, 상기 게이트 영역(G)에 대응하여 양측으로는 두께가 절반 정도로 낮아지고 중앙에서는 두께 변화가 없는 제 2 감광 패턴(184)과, 상기 데이터 영역(D)에 대응하여 두께가 절반 정도로 낮아진 제 3 감광 패턴(186)을 각각 형성하고, 이를 제외한 전 영역에 대응된 감광층(도 5b의 180)은 모두 제거하여 그 하부의 제 2 금속층(도 5b의 121a)이 노출되도록 한다.Next, as shown in FIG. 5C, an exposure and development process is performed on the mask (HTM of FIG. 5B), and the thickness is reduced by about half on both sides corresponding to the switching region S and the thickness is changed on the center. The first photosensitive pattern 182 having no gap, the second photosensitive pattern 184 having a thickness lowered by about half on both sides, and having no change in thickness at the center corresponding to the gate region G, and the data region D The third photosensitive pattern 186 having a thickness lowered by about half is formed, respectively, and all the photosensitive layers (180 of FIG. 5B) corresponding to the entire region except for this are removed to remove the second metal layer (121a of FIG. 5B). ) Is exposed.

다음으로, 상기 제 1 내지 제 3 감광 패턴(182, 184, 186)을 마스크로 이용하고 상기 노출된 제 2 금속층과 상기 제 2 금속층 하부의 제 1 금속층(도 5b의 120a)을 차례로 패턴하여, 일 방향으로 게이트 배선(120)과 상기 게이트 배선(120)에서 연장된 게이트 전극(125)과 데이터 영역(D)에 대응하여 아일랜드 형태로 패턴된 배리어 금속 패턴(150a)을 각각 형성한다.Next, using the first to third photosensitive patterns 182, 184, and 186 as masks, the exposed second metal layer and the first metal layer (120a of FIG. 5B) under the second metal layer are sequentially patterned. Barrier metal patterns 150a patterned in an island shape are formed to correspond to the gate line 120, the gate electrode 125 extending from the gate line 120, and the data area D in one direction.

이때, 상기 게이트 배선 및 전극(120, 125)의 하부에는 게이트 배선 및 전극(120, 125)과 동일한 폭으로 패턴된 제 1 배리어 패턴(151)이 형성된다. 한편, 상기 배리어 금속 패턴(152a)은 제 1 금속 패턴(120b)과 제 2 금속 패턴(121b)이 차례로 적층된 상태이다.In this case, a first barrier pattern 151 patterned with the same width as the gate lines and the electrodes 120 and 125 is formed under the gate lines and the electrodes 120 and 125. In the barrier metal pattern 152a, the first metal pattern 120b and the second metal pattern 121b are sequentially stacked.

다음으로, 도 5d에 도시한 바와 같이, 상기 제 1 내지 제 3 감광 패턴(도 5c 182, 184, 186)을 애싱하는 단계를 진행하여, 상기 제 1 및 제 2 감광 패턴(182, 184)의 두께가 절반 정도로 낮아지도록 하고, 상기 제 3 감광 패턴은 모두 제거하여 그 하부의 제 2 금속 패턴(121b)이 노출되도록 한다. 이때, 상기 제 1 및 제 2 감광 패턴(282, 284) 각각의 양측으로 게이트 배선 및 전극(120, 125)의 일부가 노출된다.Next, as illustrated in FIG. 5D, ashing of the first to third photosensitive patterns (FIGS. 5C 182, 184, and 186) may be performed to determine the first and second photosensitive patterns 182 and 184. The thickness is reduced to about half, and the third photosensitive pattern is removed to expose the lower second metal pattern 121b. In this case, a portion of the gate line and the electrodes 120 and 125 are exposed to both sides of each of the first and second photosensitive patterns 282 and 284.

도 5e에 도시한 바와 같이, 상기 제 1 및 제 2 감광 패턴(도 5d의 182, 184)을 마스크로 이용하고 상기 노출된 제 2 금속 패턴(도 5d의 121b)과 게이트 배선 및 전극(120, 125)을 패턴하여, 데이터 영역(D)에 대응된 제 2 배리어 패턴(152)을 형성한다. 이때, 상기 게이트 배선 및 전극(120, 125)의 일부가 제거되어 제 1 배리어 패턴(151)이 외부로 노출된다.As shown in FIG. 5E, the first and second photosensitive patterns (182 and 184 of FIG. 5D) are used as masks, and the exposed second metal patterns (121b of FIG. 5D), the gate wirings, and the electrodes 120, 125 is patterned to form a second barrier pattern 152 corresponding to the data area D. FIG. In this case, a portion of the gate line and the electrodes 120 and 125 are removed to expose the first barrier pattern 151 to the outside.

이러한 제 1 및 제 2 배리어 패턴(151, 152)은 게이트 배선(120)과 데이터 배선(130)의 중첩된 하부에서 백라이트 유닛(미도시)으로부터 입사되는 빛을 차폐하는 기능을 한다.The first and second barrier patterns 151 and 152 may function to shield light incident from a backlight unit (not shown) at an overlapping lower portion of the gate line 120 and the data line 130.

다음으로, 상기 제 1 및 제 2 감광 패턴(도 5d의 182, 184)을 스트립 공정으로 제거하는 단계를 진행한다. 이를 통해, 제 1 마스크 공정 단계가 최종적으로 완료된다.Next, the first and second photosensitive patterns (182 and 184 of FIG. 5D) are removed by a strip process. In this way, the first mask process step is finally completed.

도 5f는 제 2 마스크 공정 단계를 나타낸 공정 단면도이다.5F is a process cross sectional view showing a second mask process step;

도 5f에 도시한 바와 같이, 게이트 배선(120)과 게이트 전극(125)과 제 1 및 제 2 배리어 패턴(151, 152)이 형성된 기판(110) 상에 산화 실리콘(SiO2)과 질화 실리콘(SiNx)을 포함하는 무기절연물질 그룹 중에서 선택된 하나로 게이트 절연막(145)을 형성한다.As shown in FIG. 5F, silicon oxide (SiO 2 ) and silicon nitride (I) are formed on the substrate 110 on which the gate wiring 120, the gate electrode 125, and the first and second barrier patterns 151 and 152 are formed. The gate insulating layer 145 is formed of one selected from the group of inorganic insulating materials including SiNx.

다음으로, 상기 게이트 절연막(145) 상에 게이트 배선(120)과 수직 교차하여 화소 영역(P)을 정의하는 데이터 배선(130)과, 상기 데이터 배선(130)에서 연장된 소스 전극(132)과 상기 소스 전극(132)과 이격된 드레인 전극(134)을 형성한다. 이때, 상기 소스 및 드레인 전극(132, 134) 하부에는 순수 비정질 실리콘(a-Si:H)으로 이루어진 액티브층(140)과, 불순물을 포함하는 비정질 실리콘층(n+ a-Si:H)으로 이루어진 오믹 콘택층(141)이 차례로 적층 형성된다. 상기 액티브층(140)과 오믹 콘택층(141)을 포함하여 반도체층(142)이라 한다.Next, a data line 130 on the gate insulating layer 145 perpendicular to the gate line 120 to define the pixel region P, a source electrode 132 extending from the data line 130, and A drain electrode 134 spaced apart from the source electrode 132 is formed. In this case, an active layer 140 made of pure amorphous silicon (a-Si: H) and an amorphous silicon layer (n + a-Si: H) containing impurities are formed below the source and drain electrodes 132 and 134. The ohmic contact layer 141 is sequentially stacked. The active layer 140 and the ohmic contact layer 141 are referred to as a semiconductor layer 142.

또한, 상기 액티브층(140)과 오믹 콘택층(141)에서 각각 연장된 제 1 비정질 패턴(171) 및 제 2 비정질 패턴(172)은 데이터 배선(130) 하부로 연장 형성된다. 특히, 상기 제 1 비정질 패턴(171)은 데이터 배선(130)의 외부로 돌출 형성된다. 상기 게이트 전극(125)과 반도체층(142)과 소스 및 드레인 전극(132, 134)을 포함하여 박막트랜지스터(T)라 한다.In addition, the first amorphous pattern 171 and the second amorphous pattern 172 that extend from the active layer 140 and the ohmic contact layer 141, respectively, extend below the data line 130. In particular, the first amorphous pattern 171 protrudes to the outside of the data line 130. The gate electrode 125, the semiconductor layer 142, and the source and drain electrodes 132 and 134 are referred to as a thin film transistor T.

도 5g는 제 3 마스크 공정 단계를 나타낸 공정 단면도이다.5G is a process cross sectional view showing a third mask process step;

도 5g에 도시한 바와 같이, 상기 데이터 배선(130)과 박막트랜지스터(T)가 형성된 기판(110) 상에 상부 전면에 질화 실리콘(SiNx)과 산화 실리콘(SiO2)을 포함하는 무기절연물질 그룹 중 선택된 하나, 또는 아크릴계 수지와 벤조사이클로부 텐(benzocyclobutene: BCB)을 포함하는 유기절연물질 그룹 중 선택된 하나로 보호막(155)을 형성한다.As shown in FIG. 5G, an inorganic insulating material group including silicon nitride (SiNx) and silicon oxide (SiO 2 ) on an entire upper surface of the substrate 110 on which the data line 130 and the thin film transistor T are formed. The passivation layer 155 is formed of one selected from the group consisting of one or a group of organic insulating materials including acrylic resin and benzocyclobutene (BCB).

다음으로, 상기 드레인 전극(134)에 대응된 보호막(155)을 패턴하여, 상기 드레인 전극(134)의 일부를 노출하는 드레인 콘택홀(CH2)을 형성한다.Next, the passivation layer 155 corresponding to the drain electrode 134 is patterned to form a drain contact hole CH2 exposing a part of the drain electrode 134.

도 5h는 제 4 마스크 공정 단계를 나타낸 공정 단면도이다.5H is a process sectional view showing a fourth mask process step;

도 5h에 도시한 바와 같이, 상기 드레인 콘택홀(CH2)을 포함하는 보호막(155) 상에 인듐-틴-옥사이드(ITO) 또는 인듐-징크-옥사이드(IZO)와 같은 투명한 도전성 금속 그룹 중에서 선택된 하나로 투명 금속층(미도시)을 형성하고 이를 패턴하여, 상기 드레인 전극(134)과 접촉된 화소 전극(170)을 화소 영역(P)에 대응하여 형성한다.As shown in FIG. 5H, one selected from a group of transparent conductive metals such as indium tin oxide (ITO) or indium zinc oxide (IZO) is formed on the passivation layer 155 including the drain contact hole CH2. A transparent metal layer (not shown) is formed and patterned to form the pixel electrode 170 in contact with the drain electrode 134 corresponding to the pixel region P. Referring to FIG.

상기 화소 전극(170)은 전단의 게이트 배선(120)과 중첩되도록 연장 구성하여, 상기 전단의 게이트 배선(120)을 제 1 전극으로 하고, 상기 제 1 전극과 중첩된 화소 전극(170)을 제 2 전극으로 하며, 상기 제 1 및 제 2 전극의 중첩된 사이 공간에 개재된 게이트 절연막(145)과 보호막(155)을 유전체층으로 하는 스토리지 커패시터(Cst)를 형성한다.The pixel electrode 170 extends to overlap the gate wiring 120 of the front end, and the pixel wiring 170 of the front end is the first electrode, and the pixel electrode 170 overlapping the first electrode is removed. A storage capacitor Cst is formed as a second electrode, and the gate insulating layer 145 and the passivation layer 155 interposed between the overlapping spaces of the first and second electrodes are formed as dielectric layers.

이상으로, 본 발명에 따른 액정표시장치용 어레이 기판을 4 마스크 공정으로 제작할 수 있다.As described above, the array substrate for a liquid crystal display device according to the present invention can be produced by a four mask process.

전술한 4 마스크 공정으로 제작된 어레이 기판은 컬러필터 기판과 대향 합착하는 셀 공정 단계를 통해 액정 패널로 완성되는 바, 이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명에 따른 액정표시장치에 대해 상세히 설명하도록 한다.The array substrate manufactured by the aforementioned four mask process is completed as a liquid crystal panel through a cell process step of opposing the color filter substrate. Hereinafter, the liquid crystal display according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. do.

도 6은 도 4의 Ⅵ-Ⅵ'선을 따라 절단하여 나타낸 단면도로, 어레이 기판과 대향 합착된 컬러필터 기판을 함께 나타내고 있다.FIG. 6 is a cross-sectional view taken along the line VI-VI 'of FIG. 4, and shows the color filter substrate bonded together with the array substrate.

도시한 바와 같이, 표시 영역(AA)과 비표시 영역(NAA)으로 각각 구분된 어레이 기판(110)과 컬러필터 기판(105)이 대향 합착하고 있으며, 상기 어레이 기판(110)과 컬러필터 기판(105)의 이격된 사이 공간에는 액정층(115)이 개재된다. 상기 어레이 기판(110)과 컬러필터 기판(105)과 액정층(115)은 액정 패널(190)을 이룬다. 상기 컬러필터(105)과 이격된 배면에는 광원의 역할을 하는 백라이트 유닛(195)이 위치한다.As illustrated, the array substrate 110 and the color filter substrate 105 each divided into the display area AA and the non-display area NAA are opposed to each other, and the array substrate 110 and the color filter substrate ( The liquid crystal layer 115 is interposed in the space between the gaps 105. The array substrate 110, the color filter substrate 105, and the liquid crystal layer 115 form a liquid crystal panel 190. The backlight unit 195 serving as a light source is positioned on the rear surface of the color filter 105.

상기 어레이 기판(110)의 투명 기판(102) 하부 면의 데이터 영역(D)을 차폐하는 배리어 패턴(152)과, 상기 제 2 배리어 패턴(152)을 덮는 게이트 절연막(145)과, 상기 게이트 절연막(145) 하부의 데이터 영역(D)에 대응된 데이터 배선(130)과 제 1 및 제 2 비정질 패턴(171, 172)을 포함하는 반도체 패턴(173)과, 상기 데이터 배선(130)을 덮는 보호막(155)과, 상기 보호막(155) 하부의 양측 화소 영역(P)에 각각 구성된 다수의 화소 전극(170)과, 상기 다수의 화소 전극(170) 하부의 하부 배향막(119)이 차례로 위치한다.A barrier pattern 152 that shields the data region D of the lower surface of the transparent substrate 102 of the array substrate 110, a gate insulating layer 145 that covers the second barrier pattern 152, and the gate insulating layer The semiconductor pattern 173 including the data line 130 corresponding to the data region D under the data region and the first and second amorphous patterns 171 and 172, and a protective layer covering the data line 130. 155, the plurality of pixel electrodes 170 respectively disposed in both pixel areas P under the passivation layer 155, and the lower alignment layer 119 under the plurality of pixel electrodes 170 are sequentially disposed.

한편, 상기 컬러필터 기판(105)의 투명 기판(101) 상부 면에는 비표시 영역(NAA)을 경계로 순차적으로 패턴된 적(R) 서브 컬러필터(미도시)와 녹(G) 서브 컬러필터(116b)와 청(B) 서브 컬러필터(116c)를 포함하는 컬러필터층(116)과, 상기 컬러필터층(116) 상부 전면에 대응된 공통 전극(185)과, 상기 공통 전극(185) 상부에서 어레이 기판(110)과 컬러필터 기판(105) 간의 균일한 셀갭을 확보하기 위해 패턴된 컬럼 스페이서(미도시)와, 상기 컬럼 스페이서를 덮는 상부 배향막(118)이 차례로 위치한다.On the other hand, the red (R) sub color filter (not shown) and the green (G) sub color filter sequentially patterned on the upper surface of the transparent substrate 101 of the color filter substrate 105 at the boundary of the non-display area (NAA). A color filter layer 116 including a 116b and a blue (B) sub color filter 116c, a common electrode 185 corresponding to the entire upper surface of the color filter layer 116, and an upper portion of the common electrode 185. In order to secure a uniform cell gap between the array substrate 110 and the color filter substrate 105, a patterned column spacer (not shown) and an upper alignment layer 118 covering the column spacer are sequentially disposed.

일반적으로, 상기 컬럼 스페이서는 유기절연물질 그룹 중 선택된 하나로, 게이트 배선(도 4의 120)과 대응된 위치에 형성된다.In general, the column spacer is selected from the group of organic insulating materials and is formed at a position corresponding to the gate wiring 120 (see FIG. 4).

전술한 구성은 어레이 기판(110)과 컬러필터 기판(105)의 위치가 상하 반전된 구조로 백라이트 유닛(195)으로부터 입사되는 빛이 컬러필터 기판(105)을 먼저 통과하게 된다.In the above-described configuration, since the positions of the array substrate 110 and the color filter substrate 105 are inverted up and down, light incident from the backlight unit 195 passes through the color filter substrate 105 first.

상세히 설명하면, 본 발명에서와 같이 어레이 기판(110)과 컬러필터 기판(105)의 위치가 상하 반전된 역 TFT 구조는 백라이트 유닛(195)으로부터 입사되는 빛이 적(미도시) 서브 컬러필터, 녹(G) 서브 컬러필터 및 청(B) 서브 컬러필터와 어레이 소자를 차례로 관통하여 영상을 구현하게 된다.In detail, the reverse TFT structure in which the positions of the array substrate 110 and the color filter substrate 105 are inverted up and down as in the present invention may include a sub-color filter having little light (not shown) incident from the backlight unit 195. The green (G) sub color filter, the blue (B) sub color filter, and the array element are sequentially penetrated to implement an image.

이때, 데이터 영역(D)을 차폐하는 제 2 배리어 패턴(152)이 상부에 위치하는 구조로 백라이트 유닛(95)으로부터 입사되는 정면과 좌우 측면으로부터 입사되는 빛을 완전히 차폐할 수 있게 된다.In this case, the second barrier pattern 152 that shields the data area D may be positioned at the top to completely shield light incident from the front and left and right sides incident from the backlight unit 95.

즉, 본 발명에서는 비표시 영역(NAA)에 대응된 제 1 배리어 패턴(도 4의 151)과 제 2 배리어 패턴(152)의 설계로 블랙 매트릭스(도 3의 12)를 설계하는 공정을 생략할 수 있는 장점을 갖는다.That is, in the present invention, a process of designing the black matrix (12 of FIG. 3) by designing the first barrier pattern 151 of FIG. 4 and the second barrier pattern 152 corresponding to the non-display area NAA will be omitted. Has the advantage.

따라서, 본 발명에서는 어레이 기판과 컬러필터 기판의 위치가 상반된 역 TFT 구조의 적용으로 블랙 매트릭스를 형성하는 단계를 생략할 수 있어 생산 수율을 개선할 수 있게 된다.Therefore, in the present invention, the step of forming a black matrix can be omitted by applying an inverted TFT structure in which the positions of the array substrate and the color filter substrate are opposite to each other, thereby improving production yield.

그러나, 본 발명은 상기 실시예에 한정되는 것은 아니며, 본 발명의 정신 및 사상을 벗어나지 않는 한도 내에서 다양하게 변경 및 변형할 수 있다는 것은 자명한 사실일 것이다.However, the present invention is not limited to the above embodiments, and it will be apparent that various changes and modifications can be made without departing from the spirit and the spirit of the present invention.

도 1은 종래에 따른 액정표시장치용 어레이 기판의 단위 화소를 나타낸 평면도.1 is a plan view showing a unit pixel of a conventional array substrate for a liquid crystal display device.

도 2는 도 1의 Ⅱ-Ⅱ'선을 따라 절단하여 나타낸 단면도.FIG. 2 is a cross-sectional view taken along the line II-II ′ of FIG. 1.

도 3은 도 2의 Ⅲ-Ⅲ'선을 따라 절단하여 나타낸 단면도.3 is a cross-sectional view taken along the line III-III ′ of FIG. 2.

도 4는 본 발명에 따른 액정표시장치용 어레이 기판의 단위 화소를 나타낸 평면도.4 is a plan view showing unit pixels of an array substrate for a liquid crystal display according to the present invention;

도 5a 내지 도 5h는 도 4의 Ⅴ-Ⅴ'선을 따라 절단하여 공정 순서에 따라 나타낸 공정 단면도.5A to 5H are cross-sectional views taken along the line VV ′ of FIG. 4 and shown in a process sequence.

도 6은 도 4의 Ⅵ-Ⅵ'선을 따라 절단하여 나타낸 단면도.6 is a cross-sectional view taken along the line VI-VI 'of FIG. 4.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명** Explanation of symbols for the main parts of the drawings *

110 : 기판 120 : 게이트 배선110: substrate 120: gate wiring

125 : 게이트 전극 130 : 데이터 배선125 gate electrode 130 data wiring

132 : 소스 전극 134 : 드레인 전극132: source electrode 134: drain electrode

140 : 액티브층 151, 152 : 제 1 및 제 2 배리어 패턴140: active layer 151, 152: first and second barrier patterns

170 : 화소 전극 171 : 제 1 비정질 패턴170: pixel electrode 171: first amorphous pattern

CH2 : 드레인 콘택홀 Cst : 스토리지 커패시터CH2: Drain contact hole Cst: Storage capacitor

Claims (12)

기판과;A substrate; 상기 기판 상의 일 방향으로 구성된 게이트 배선과;A gate wiring formed in one direction on the substrate; 상기 게이트 배선과 수직 교차 구성된 데이터 배선과;A data line configured to vertically cross the gate line; 상기 게이트 배선과 데이터 배선의 교차지점에 구성된 박막트랜지스터와;A thin film transistor configured at an intersection point of the gate line and the data line; 상기 박막트랜지스터에 접촉된 화소 전극과;A pixel electrode in contact with the thin film transistor; 상기 게이트 배선 하부에 대응하여 상기 게이트 배선의 폭 보다 넓은 폭으로 구성된 제 1 배리어 패턴과;A first barrier pattern configured to have a width wider than a width of the gate wiring corresponding to a lower portion of the gate wiring; 상기 데이터 배선과 중첩된 하부로 상기 데이터 배선의 폭 보다 넓은 폭으로 구성된 제 2 배리어 패턴A second barrier pattern configured to have a width wider than a width of the data line under the overlapping data line; 을 포함하는 액정표시장치용 어레이 기판.Array substrate for a liquid crystal display device comprising a. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 게이트 배선 및 전극과 제 1 및 제 2 배리어 패턴은 동일층에 구성된 것을 특징으로 하는 액정표시장치용 어레이 기판.And the gate wirings and the electrodes and the first and second barrier patterns are formed on the same layer. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 제 1 및 제 2 배리어 패턴은 몰리브덴과 몰리브덴 합금을 포함하는 도전성 물질 그룹 중 선택된 하나로 구성된 것을 특징으로 하는 액정표시장치용 어레이 기판.And the first and second barrier patterns are selected from a group of conductive materials including molybdenum and molybdenum alloys. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 제 1 및 제 2 배리어 패턴은 빛을 차폐하는 기능을 하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치용 어레이 기판.And the first and second barrier patterns function to shield light. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 제 1 및 제 2 배리어 패턴은 상기 기판과 게이트 배선 및 전극의 계면 간 접촉 특성을 개선하는 기능을 하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치용 어레이 기판.And the first and second barrier patterns have a function of improving contact characteristics between interfaces between the substrate, the gate lines, and electrodes. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 게이트 배선 및 전극은 구리, 몰리브덴, 알루미늄, 알루미늄 합금 및 크롬과 같은 도전성 금속 그룹 중 선택된 하나로 구성된 것을 특징으로 하는 액정표시장치용 어레이 기판.And the gate wiring and the electrode are selected from a group of conductive metals such as copper, molybdenum, aluminum, aluminum alloy, and chromium. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 화소 전극은 전단의 게이트 배선으로 연장 구성하여, 상기 전단의 게이트 배선을 제 1 전극으로 하고, 상기 제 1 전극과 중첩된 상기 화소 전극을 제 2 전극으로 하며, 상기 제 1 및 제 2 전극의 중첩된 사이 공간에 개재된 절연막을 유전체층으로 하는 스토리지 커패시터가 구성된 것을 특징으로 하는 액정표시장치용 어레이 기판.The pixel electrode extends with the gate wiring at the front end, the gate wiring at the front end as the first electrode, the pixel electrode overlapped with the first electrode as the second electrode, and the first and second electrodes. An array substrate for a liquid crystal display device, comprising a storage capacitor having an insulating layer interposed in an overlapping interspace as a dielectric layer. 상기 제 1 항에 의한 어레이 기판과;An array substrate according to claim 1; 상기 어레이 기판과 대향 합착되며, 표시 영역과 비표시 영역으로 정의된 컬러필터 기판과;A color filter substrate opposed to the array substrate and defined as a display area and a non-display area; 상기 어레이 및 컬러필터 기판의 이격된 사이 공간에 개재된 액정층과;A liquid crystal layer interposed between the array and the space between the color filter substrate; 상기 컬러필터 기판과 이격된 배면에 위치하는 백라이트 유닛과;A backlight unit positioned on a rear surface of the color filter substrate spaced apart from the back surface; 상기 컬러필터 기판 상의 상기 비표시 영역을 경계로 차례로 패턴된 적, 녹, 청 서브 컬러필터와;Red, green, and blue sub color filters sequentially patterned on the non-display area on the color filter substrate; 상기 적, 녹, 청 서브 컬러필터 상의 공통 전극Common electrode on the red, green and blue sub color filters 을 포함하는 액정표시장치.Liquid crystal display comprising a. 기판 상의 일 방향으로 구성된 게이트 배선과 상기 게이트 배선에서 연장된 게이트 전극을 형성하는 단계와;Forming a gate wiring formed in one direction on the substrate and a gate electrode extending from the gate wiring; 상기 게이트 배선 및 전극의 하부에 대응하여 상기 게이트 배선 및 전극의 폭 보다 넓은 폭을 갖는 제 1 배리어 패턴과, 상기 데이터 영역에 대응하여 아일랜드 형태로 패턴된 제 2 배리어 패턴을 형성하는 단계와;Forming a first barrier pattern having a width wider than that of the gate wiring and the electrode corresponding to a lower portion of the gate wiring and the electrode, and a second barrier pattern patterned in an island shape corresponding to the data area; 상기 게이트 배선 및 전극과 제 1 및 제 2 배리어 패턴이 형성된 기판 상에 게이트 절연막을 형성하는 단계와;Forming a gate insulating film on the substrate on which the gate wiring and the electrode and the first and second barrier patterns are formed; 상기 게이트 절연막 상에 상기 게이트 배선과 수직 교차하는 데이터 배선과, 상기 데이터 배선에서 연장된 소스 전극과, 상기 소스 전극과 이격된 드레인 전극과, 상기 소스 및 드레인 전극 하부의 반도체층을 형성하는 단계와;Forming a data line perpendicular to the gate line, a source electrode extending from the data line, a drain electrode spaced apart from the source electrode, and a semiconductor layer under the source and drain electrodes on the gate insulating layer; ; 상기 반도체층과 소스 및 드레인 전극과 데이터 배선이 형성된 기판 상에 상기 드레인 전극의 일부가 노출된 보호막을 형성하는 단계와;Forming a protective film exposing a portion of the drain electrode on a substrate on which the semiconductor layer, the source and drain electrodes, and the data wiring are formed; 상기 보호막 상에 상기 드레인 전극과 접촉된 화소 전극을 형성하는 단계Forming a pixel electrode in contact with the drain electrode on the passivation layer 를 포함하는 액정표시장치용 어레이 기판의 제조방법.Method of manufacturing an array substrate for a liquid crystal display device comprising a. 제 9 항에 있어서,The method of claim 9, 상기 제 1 및 제 2 배리어 패턴은 몰리브덴과 몰리브덴 합금을 포함하는 도전성 물질 그룹 중 선택된 하나로 형성된 것을 특징으로 하는 액정표시장치용 어레 이 기판.And the first and second barrier patterns are selected from a group of conductive materials including molybdenum and molybdenum alloys. 제 9 항에 있어서,The method of claim 9, 상기 게이트 배선 및 전극은 구리, 몰리브덴, 알루미늄, 알루미늄 합금 및 크롬과 같은 도전성 금속 그룹 중 선택된 하나로 형성된 것을 특징으로 하는 액정표시장치용 어레이 기판.And the gate wiring and the electrode are formed of one selected from a group of conductive metals such as copper, molybdenum, aluminum, aluminum alloy, and chromium. 제 9 항에 있어서,The method of claim 9, 상기 화소 전극은 전단의 게이트 배선으로 연장 구성하여, 상기 전단의 게이트 배선을 제 1 전극으로 하고, 상기 제 1 전극과 중첩된 상기 화소 전극을 제 2 전극으로 하며, 상기 제 1 및 제 2 전극의 중첩된 사이 공간에 개재된 절연막을 유전체층으로 하는 스토리지 커패시터가 형성된 것을 특징으로 하는 액정표시장치용 어레이 기판.The pixel electrode extends with the gate wiring at the front end, the gate wiring at the front end as the first electrode, the pixel electrode overlapping with the first electrode as the second electrode, and the first and second electrodes. An array substrate for a liquid crystal display device, characterized in that a storage capacitor having an insulating layer interposed in an overlapping interspace is formed as a dielectric layer.
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