KR20090057518A - System for testing circuit board and method for testing circuit board using the system - Google Patents

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Abstract

A system for testing a circuit board and a method for testing the circuit board using the system are provided to reduce a test time remarkably by testing only devices which are seem to be defect with a flying probe. A camera unit(40) comprises a camera position control motor(43), a camera position control module(42), and an infrared camera(41). The camera position control motor moves the infrared camera to Z-axis, and the camera position control module output a motor driving signal for driving the camera position control motor according to a camera position control signal. The infrared camera takes a picture of a target board and transmits a thermal image data to a controller(30), and the control senses a defect product based on the thermal image data.

Description

회로보드 테스트 시스템 및 이를 이용한 회로보드 테스트 방법 {SYSTEM FOR TESTING CIRCUIT BOARD AND METHOD FOR TESTING CIRCUIT BOARD USING THE SYSTEM}Circuit board test system and circuit board test method using the same {SYSTEM FOR TESTING CIRCUIT BOARD AND METHOD FOR TESTING CIRCUIT BOARD USING THE SYSTEM}

본 발명은 회로보드 테스트 시스템 및 이를 이용한 회로보드 테스트 방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 적외선 카메라를 이용하여 불량가능성이 있는 부품들을 가려내고, 이 부품들에 대해서만 플라잉 프로브에 의한 전기적 검사를 수행함으로써, 정밀한 전기적 테스트를 가능하게 하면서도 테스트 시간을 현저히 줄일 수 있는 회로보드 테스트 시스템 및 이를 이용한 회로보드 테스트 방법에 관한 것이다. The present invention relates to a circuit board test system and a circuit board test method using the same, and more particularly, by using an infrared camera to screen out defective parts, and by performing an electrical inspection by a flying probe only on these parts. In addition, the present invention relates to a circuit board test system and circuit board test method using the same, which can significantly reduce test time while enabling precise electrical test.

최근 과학기술이 발전함에 따라 표준 규격의 회로보드에 장착되는 부품의 종류와 수가 기하급수적으로 증가하고 있다. 이에 따라 회로보드에 포함되는 부품들의 양불량을 보다 쉽게 검출해내기 위한 노력이 활발히 진행되고 있다.Recently, with the development of science and technology, the type and number of components mounted on a circuit board of standard specifications are increasing exponentially. Accordingly, efforts have been actively made to more easily detect defects of components included in a circuit board.

회로보드의 부품들을 테스트하는 장치 중 하나로서 IR 인서키트 테스터가 있다. 상기 IR 인서키트 테스터는 지그에 회로보드를 고정시켜 이를 적외선 카메라를 이용하여 촬영한 후, 획득된 열 영상을 판독함으로써 회로보드 내의 열적 불량 부품을 검출해내는 방식이다. One device that tests components on a circuit board is an IR insert tester. The IR insert tester fixes a circuit board on a jig, photographs it using an infrared camera, and then reads the obtained thermal image to detect thermal defects in the circuit board.

그러나, 상기 IR 인서키트 테스터에서는 고정된 지그를 사용함으로써 측정하고자 하는 보드마다 고정지그를 만들기 위한 비용이 추가되며, 또한 어느 부분을 테스트포인트로 하여 지그를 고정시킬 것인가를 측정 전에 가능성이 있는 테스트포인트 부분 등을 미리 선정하여 고정지그를 만들어야 하는 문제가 대두되어, 적외선 카메라를 이용하여 측정한 결과와의 연관성 등이 불명확하다. However, in the IR insert tester, the cost of making a fixed jig is added for each board to be measured by using a fixed jig, and there is a possibility that a test point can be determined before measuring which part is to be fixed as a test point. The problem of making a fixed jig by selecting a part and the like is raised, and its association with a result measured using an infrared camera is unclear.

또한, 적외선 카메라만을 이용하여 회로보드를 테스트하므로 그 결과는 부품의 열 또는 온도에만 의존하게 되고, 이에 따라 정밀한 테스트가 불가능한 문제가 있다. 즉, 회로보드 내의 부품들은 전기적으로 검사하여야만 실제 불량 여부를 정확하게 알 수 있으나, 열 또는 온도에만 의존하므로, 현실적으로 각기 다른 테스트 환경에 놓여지는 부품에 있어서, 상기 환경 등의 모든 변수를 고려하여 열 또는 온도의 열 특성과 전기특성간의 관계를 특정하여 전기적 오류를 검출하기는 현실적으로 불가능하다. In addition, since the circuit board is tested using only the infrared camera, the result depends only on the heat or temperature of the component, and thus there is a problem that precise testing is impossible. In other words, the parts in the circuit board can be accurately determined whether or not the actual failure only by electrical inspection, but since it depends only on the heat or temperature, the parts placed in different test environments in reality, the heat or It is practically impossible to detect electrical errors by specifying the relationship between thermal and electrical properties of temperature.

또한, 열 또는 온도는 다른 부품에 의한 영향일 수도 있는데, 이러한 열 또는 온도만으로 오류 여부를 검출하게 되면 여러 부품들 중에서 실제 불량부품을 선정해 내기가 어려워진다. In addition, heat or temperature may be influenced by other components, and if such an error is detected only by the heat or temperature, it is difficult to select an actual defective part from several components.

또한, 소프트웨어의 잘못에 의해서도 달라지는 등 현실적인 문제가 대두되게 되어 분석을 어렵게 한다.In addition, realistic problems, such as changes caused by errors in the software, arise, making analysis difficult.

이러한 문제 때문에, 플라잉 프로브(flying probe)라고 불리는 이동형 측정 프로브를 이용하여 회로보드 내의 부품들에 대해 전기적 오류를 검출하는 방식이 제안되었다. Because of this problem, a method of detecting electrical errors on components in a circuit board using a moving measuring probe called a flying probe has been proposed.

상기 플라잉 프로브를 이용하는 회로보드 테스트 시스템은 전기적인 부품 검사를 정밀하게 수행할 수 있는 장점이 있으나, 소수의 플라잉 프루브로 보드상의 수많은 부품을 측정하여야 하기 때문에 상대적으로 많은 테스트시간을 요하며, 그 비용 또한 증가하는 문제가 있다. The circuit board test system using the flying probe has an advantage of precisely performing electrical component inspection, but requires a relatively large amount of test time because it requires measuring a large number of components on the board with a few flying probes. There is also an increasing problem.

따라서, 회로보드 내의 부품에 대해 정밀도 높은 전기적 검사를 실시할 수 있으면서도, 테스트시간을 절약하고 테스트 부품의 비용을 절감할 수 있는 기술에 대한 개발이 요구된다. Accordingly, there is a need for the development of a technology capable of conducting a highly accurate electrical inspection of the components in the circuit board while saving test time and reducing the cost of the test components.

본 발명은 상술한 문제를 해결하기 위해 안출한 것으로, 적외선 카메라를 이용하여 불량가능성이 있는 부품들을 가려내고, 이 부품들에 대해서만 플라잉 프로브에 의한 전기적 검사를 수행하므로, 정밀한 전기적 검사를 가능하게 하는 동시에 테스트 시간이 현저히 줄일 수 있는 회로보드 테스트 시스템 및 이를 이용한 회로보드 테스트 방법을 제공하는 데에 그 목적이 있다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-mentioned problems, and it is possible to precisely inspect electrical parts by using an infrared camera to screen out defective parts and to perform electrical inspection by only a flying probe on these components. At the same time, an object of the present invention is to provide a circuit board test system and a circuit board test method using the same, which can significantly reduce the test time.

또한, 본 발명의 다른 목적은, 플라잉 프로브라는 자유롭게 이동이 가능한 측정용 프루브를 이용함으로써 많은 테스트포인트를 위한 고정 지그의 필요성을 없에고, 신호인가를 위한 소규모의 지그시스템만을 사용하여 추가 비용의 문제를 없앨 수 있는 회로보드 테스트 시스템 및 이를 이용한 회로보드 테스트 방법을 제공하는 것이다. Another object of the present invention is to eliminate the need for a fixed jig for many test points by using a freely movable measuring probe called a flying probe, and to solve the problem of additional costs by using only a small jig system for signal application. The present invention provides a circuit board test system that can be eliminated and a circuit board test method using the same.

상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 일 실시형태에 따르면, 측정보드를 적외선 촬영하여 열 영상을 획득하는 카메라부, 측정보드 내의 부품에 전기 신호를 가하고 이에 따른 전기적 출력 신호를 측정하는 정밀 테스트부, 및 상기 카메라부에 의해 획득된 열 영상과 상기 정밀 테스트부에 의해 측정된 전기적 출력 신호를 기초로 상기 측정보드 내의 부품에 대한 열적 불량과 전기적 불량을 검출해내는 제어부를 포함하는 회로보드 테스트 시스템으로서, 상기 카메라부는, 상기 적외선 카메라를 Z축 방향으로 상하 이동시키는 카메라 위치제어 모터; 상기 제어부로부터의 카메라 위치제어신호에 따라 상기 카메라 위치제어 모터를 구동하는 모터구동신호를 출력하는 카메라 위치제어 모듈; 및 상기 카메라 위치제어 모터에 따라 위치가 제어되어 상기 측정보드를 적외선 촬영하고 획득된 열 영상정보를 상기 제어부로 전달하는 적외선 카메라를 포함하고, 상기 제어부는, 상기 열 영상정보를 기초로 열적 불량 부품을 검출해내고 정밀 테스트부가 상기 열적 불량 부품의 위치로 이동할 수 있도록 하는 제어신호를 출력하고, 상기 정밀 테스트부는, 상기 열적 불량 부품의 전기적 불량 여부를 검출하는 플라잉 프로브; 상기 제어신호에 따라 상기 플라잉 프로브를 X축 방향, Y축 방향, 또는 Z축 방향으로 이동시키는 모션 제어부; 상기 플라잉 프로브에 구비되며 상기 열적 불량 부품에 전기 신호를 가하고 이에 따른 전기적 출력신호를 획득하는 전기신호 측정부; 및 상기 획득된 전기적 출력신호를 상기 제어부로 전송하는 플라잉 인터페이스를 포함하는 것을 특징으로 하는, 회로보드 테스트 시스템이 제공된다. According to an embodiment of the present invention for achieving the above object, a camera unit for infrared imaging the measurement board to obtain a thermal image, a precision test unit for applying an electrical signal to the components in the measurement board and measuring the electrical output signal accordingly And a controller for detecting thermal and electrical defects of components in the measurement board based on the thermal image obtained by the camera unit and the electrical output signal measured by the precision test unit. The camera unit may include a camera position control motor configured to vertically move the infrared camera in a Z-axis direction; A camera position control module for outputting a motor driving signal for driving the camera position control motor according to the camera position control signal from the controller; And an infrared camera whose position is controlled according to the camera position control motor to infrared photograph the measurement board and transfer the obtained thermal image information to the controller, wherein the controller comprises a thermally defective component based on the thermal image information. A detection probe for outputting a control signal for detecting a state and allowing the precision test unit to move to the position of the thermal defective component, and the precision test unit comprises: a flying probe detecting whether the thermal defective component is electrically defective; A motion controller for moving the flying probe in an X-axis direction, a Y-axis direction, or a Z-axis direction according to the control signal; An electrical signal measuring unit provided in the flying probe and applying an electrical signal to the thermally defective component and acquiring an electrical output signal accordingly; And a flying interface for transmitting the obtained electrical output signal to the controller.

상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 다른 실시형태에 따르면, 적외선 카메라 및 플라잉 프로브 어셈블리를 이용하여 회로보드를 테스트하는 시스템으로서, 상기 적외선 카메라를 이용하여 측정보드의 열 영상을 획득하는 카메라부; 상기 열 영상을 기초로 상기 측정보드 내의 부품들 중 열적 불량 부품을 검출해내고, 상기 플라잉 프로브 어셈블리를 상기 열적 불량 부품의 위치로 이동시키기 위한 제어신호를 출력하는 제어부; 및 상기 플라잉 프로브 어셈블리를 포함하고, 상기 제어신호를 기초로 상기 열적 불량 부품의 위치로 이동하여 상기 열적 불량 부품에 전기 신호를 가하고 이에 따른 전기적 출력신호를 검출한 후 이를 상기 제어부로 전송하 여 상기 제어부가 상기 열적 불량 부품들 중 전기적 불량 부품을 검출할 수 있도록 하는 정밀 테스트부를 포함하는 것을 특징으로 하는, 회로보드 테스트 시스템이 제공된다. According to another embodiment of the present invention for achieving the above object, a system for testing a circuit board using an infrared camera and a flying probe assembly, comprising: a camera unit for obtaining a thermal image of the measurement board using the infrared camera; A controller which detects a thermal defective component among the components in the measurement board based on the thermal image, and outputs a control signal for moving the flying probe assembly to a position of the thermal defective component; And the flying probe assembly, moving to the position of the thermally defective component based on the control signal, applying an electrical signal to the thermally defective component, detecting an electrical output signal accordingly, and transmitting the electrical signal to the controller. Provided is a circuit board test system, characterized in that the control unit includes a precision test unit for detecting the electrical failure of the thermal failure parts.

상기 회로보드 테스트 시스템은, 상기 열적 불량 부품의 리스트 및 상기 전기적 불량 부품의 리스트를 출력하는 입출력부를 더 포함할 수 있다.The circuit board test system may further include an input / output unit configured to output the list of the thermal defective parts and the list of the electrical defective parts.

상기 제어부는, 상기 열 영상 또는 상기 전기적 출력신호를 기초로 열적 불량 부품 또는 전기적 불량 부품을 검출하는 데에 기준이 되는 열적 정상범위 또는 전기적 정상범위를 저장하는 데이터베이스를 포함할 수 있다. The controller may include a database storing a thermal normal range or an electrical normal range which is a reference for detecting a thermal defective component or an electrical defective component based on the thermal image or the electrical output signal.

상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 또 다른 실시형태에 따르면, 측정보드 내에 포함되는 부품들의 열적 불량 및 전기적 불량을 검출하는 데에 기준이 되는 열적 정상범위 데이터베이스 및 전기적 정상범위 데이터베이스를 구축하는, 회로보드 테스트 시스템의 기준 데이터베이스 구축 방법으로서, 상기 회로보드 테스트 시스템을 초기화단계; 상기 측정보드 내에 포함되는 부품종류 및 위치에 따른 부품정보 데이터베이스를 작성하여 측정보드의 정보를 입력하는 측정보드 정보입력단계; 상기 측정보드의 시험순서정보를 입력하기 위해 시험순서표 데이터베이스를 작성하는 시험순서표 작성단계; 학습용 보드를 인가하는 학습용보드 인가단계; 상기 학습용 보드들을 적외선으로 촬영하여 열 영상을 획득하는 단계; 상기 획득된 열 영상을 기초로 상기 학습용 보드 내의 부품들의 정상범위를 설정하여 각 부품의 열 정상범위 데이터베이스를 구축하는 단계; 플라잉 프로브를 이용하여 상기 학습용 보드 내의 부품들에 대한 전기적 특성을 측정하는 단계; 상기 측정된 전기적 특 성을 기초로 상기 학습용 보드 내의 부품들의 정상범위를 설정하여 각 부품의 전기적 정상범위 데이터베이스를 구축하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는, 회로보드 테스트 시스템의 기준 데이터베이스 구축 방법이 제공된다.According to another embodiment of the present invention for achieving the above object, to establish a thermal normal range database and an electrical normal range database as a reference for detecting thermal and electrical failure of the components included in the measurement board, A method of establishing a reference database of a circuit board test system, comprising: initializing the circuit board test system; A measurement board information input step of inputting information of the measurement board by creating a parts information database according to the type and position of the parts included in the measurement board; A test sequence table preparing step of creating a test sequence table database for inputting test sequence information of the measurement board; Learning board applying step of applying a learning board; Photographing the learning boards in infrared to obtain a thermal image; Setting a normal range of components in the learning board based on the obtained thermal image to construct a thermal normal range database of each component; Measuring electrical characteristics of components in the learning board using a flying probe; And establishing a normal range of components in the learning board based on the measured electrical characteristics to establish an electrical normal range database of each component. do.

상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 또 다른 실시형태에 따르면, 측정보드 내에서 열적 불량 부품 및 전기적 불량 부품을 검출하기 위한 카메라부 및 정밀 테스트를 포함하는 회로보드 테스트 시스템을 이용한 회로보드 테스트 방법으로서, 상기 회로보드 테스트 시스템을 초기화하는 단계; 상기 측정보드의 바코드를 판독하는 바코드 입력단계; 테스트하려는 상기 측정보드를 인가하는 측정보드 인가단계; 상기 측정보드의 전원부 단락검사를 하는 단락검사 단계; 상기 단락검사 단계의 검사결과, 상기 측정보드가 전원부단락검사에 통과하면, 상기 측정보드에 전원을 인가하는 전원 인가단계; 상기 전원 인가단계에서 전원이 인가된 상기 측정보드를 상기 카메라부에 포함되는 적외선카메라로 촬영하여 열 영상을 획득하는 열영상 획득단계; 상기 열영상 획득단계에서 얻어진 열 영상정보로부터 상기 측정보드의 부품별 온도계산을 하는 부품별 온도계산단계; 상기 부품별 온도계산단계의 계산결과를 기초로 상기 측정보드 내의 부품별 온도를 검사하는 온도검사단계; 상기 온도검사단계의 검사결과로부터 상기 측정보드에서 열적 정상범위를 벗어난 열적 오류 부품이 있으면, 상기 정밀 테스트부를 상기 열적 오류 부품이 위치하는 곳으로 이동시켜 상기 열적 오류 부품에 전기 신호를 입력하고 이에 따른 전기적 출력신호를 획득하는 전류/전압 측정 단계; 상기 전류/전압 측정 단계에서 획득된 전기적 출력신호를 기초로 상기 열적 오류 부품들에 대한 전기적 특성을 검사하는 전기 특성 검사 단계; 상기 전기 특성 검사 단계의 결과로부터 상기 측정보드에서 전기적 정상범위를 벗어난 전기적 오류 부품이 있으면 전기적 오류 부품임을 출력하는 전기적 오류 출력 단계; 및 상기 전기적 오류 부품을 수리하는 수리 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는, 회로보드 테스트 방법이 제공된다. According to yet another embodiment of the present invention for achieving the above object, a circuit board test method using a circuit board test system including a camera unit and a precision test for detecting thermal defective components and electrical defective components in the measurement board And initializing the circuit board test system; A barcode input step of reading a barcode of the measurement board; A measuring board applying step of applying the measuring board to be tested; A short circuit inspection step of performing a short circuit inspection of the power supply unit of the measurement board; A power applying step of applying power to the measuring board if the measuring board passes the power unit short-circuit test as a result of the test of the shorting test step; A thermal image acquiring step of acquiring a thermal image by photographing the measuring board to which power is applied in the power applying step with an infrared camera included in the camera unit; A part temperature calculation step of performing a part temperature calculation for each part of the measurement board from the thermal image information obtained in the thermal image acquisition step; A temperature inspection step of inspecting the temperature of each part in the measurement board based on the calculation result of the temperature calculation step of each part; If there is a thermal error part out of the thermal normal range on the measurement board from the test result of the temperature test step, the precision test part is moved to the location where the thermal error part is located, and an electrical signal is input to the thermal error part accordingly. A current / voltage measuring step of obtaining an electrical output signal; An electrical characteristic inspection step of examining electrical characteristics of the thermal error components based on the electrical output signal obtained in the current / voltage measurement step; An electrical error output step of outputting an electrical error component if there is an electrical error component out of an electrical normal range in the measurement board from a result of the electrical characteristic inspection step; And a repair step of repairing the electrical fault component.

상기 회로보드 테스트 방법은, 상기 단락검사 단계의 검사결과, 상기 측정보드가 전원부단락검사에 통과하지 못하면, 기 설정된 전압의 최대 인가시간 지연설정에 따라 전원부오류 메시지를 출력하고 종료하는 전원부오류 출력단계를 더 포함할 수 있다. The circuit board test method may further include outputting a power failure error message and outputting a power failure error message according to a preset maximum time delay of a predetermined voltage when the measurement board does not pass the power failure test. It may further include.

상기 온도검사 단계는, 상기 부품별 온도계산단계의 계산결과를 상기 부품의 열적 정상범위에 대한 데이터와 비교함으로써 수행될 수 있다. The temperature inspection step may be performed by comparing the calculation result of the temperature calculation step for each part with the data for the thermal normal range of the part.

상기 전기 특성 검사 단계는, 상기 부품별 전기적 출력신호를 상기 부품의 전기적 정상범위에 대한 데이터와 비교함으로써 수행될 수 있다. The electrical characteristic checking step may be performed by comparing the electrical output signal for each component with data on an electrical normal range of the component.

상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 또 다른 실시형태에 따르면, 적외선 카메라를 이용하여 측정보드의 열 영상을 획득하고, 열적 불량 부품의 리스트를 획득하는 열적 검사 단계; 플라잉 프로브를 이용하여 상기 열적 불량 부품들 중 전기적 불량 부품의 리스트를 획득하는 전기적 검사 단계; 및 상기 전기적 불량 부품을 수리하는 수리단계를 포함하는 것을 특징으로 하는, 회로보드 테스트 방법이 제공된다.According to another embodiment of the present invention for achieving the above object, a thermal inspection step of obtaining a thermal image of the measuring board using an infrared camera, and obtaining a list of thermal defective parts; An electrical inspection step of obtaining a list of electrical failure parts among the thermal failure parts by using a flying probe; And a repair step of repairing the electrically defective component.

상기 회로보드 테스트 방법은, 상기 수리단계 이후에, 적외선 카메라를 이용하여 상기 측정보드의 열 영상을 획득하여 최종적으로 양불량 여부를 판단하는 재 점검단계를 더 포함할 수 있다.The circuit board test method may further include, after the repairing step, a re-inspection step of finally obtaining a thermal image of the measurement board by using an infrared camera to determine whether there is a defect.

본 발명에 따르면, 적외선 카메라를 이용하여 불량가능성이 있는 부품들을 가려내고, 이 부품들에 대해서만 플라잉 프로브에 의한 전기적 검사를 수행하므로, 정밀한 전기적 검사가 가능한 동시에 플라잉 프로브가 모든 부품을 검사할 필요가 없어져 테스트 시간이 현저히 줄어든다.According to the present invention, since an infrared camera is used to screen out parts that are likely to be defective and perform electrical inspection by only the flying probes on these parts, precise electrical inspection is possible and the flying probe needs to inspect all the components. This reduces test time significantly.

또한, 플라잉 프로브라는 자유롭게 이동이 가능한 측정용 프루브를 이용함으로써 많은 테스트포인트를 위한 고정 지그의 필요성은 없어지게 되며, 신호인가를 위한 소규모의 지그시스템만이 필요하여 보드테스트시에 발생하는 추가 비용의 문제가 사라지게 된다.In addition, the use of freely movable measuring probes, called flying probes, eliminates the need for fixed jigs for many test points and eliminates the additional cost incurred during board testing by requiring only a small jig system for signaling. The problem goes away.

이하, 첨부되는 도면을 참조하여 본 발명의 다양한 실시형태를 상세히 설명한다. Hereinafter, various embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 1은 본 발명의 일 실시형태에 따른 회로 보드테스트 시스템의 구성을 나타내는 구성도이다.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS It is a block diagram which shows the structure of the circuit board test system which concerns on one Embodiment of this invention.

도 1에 도시되는 바와 같이, 본 발명의 회로 보드테스트 시스템은, 랙(rack)부(10), 제어부(30), 카메라부(40), 입출력부(50), 릴레이부(20), 정밀테스트부(70)를 포함한다.As shown in FIG. 1, the circuit board test system of the present invention includes a rack unit 10, a control unit 30, a camera unit 40, an input / output unit 50, a relay unit 20, and a precision unit. It includes a test unit 70.

랙부(10)는 디지털멀티미터(DMM; 11)와 전원공급장치(12)를 포함한다. 전원공급기(12)는 양불량을 측정하고자 하는 전기회로 보드(이하, '측정보드' 라 함)에 전원을 공급한다. 전원공급기(12)는 무정전 전원공급기(UPS)를 사용하며, 측정보드를 테스트하는 중 정전 등에 의해 측정보드의 부품이 망가지는 것을 예방한다. 한편, 전원공급기(12)에 의해 전원이 공급되면 측정보드는 동작을 하게 되고 온도가 상승하게 된다. 디지털멀티미터(11)는 테스트 중인 측정보드의 연결상태를 검사하여 측정보드가 단락(쇼트)되어 있는지 여부를 판단한다. 즉, 디지털멀티미터(11)는 지그(21)에 장착되는 측정보드에서 측정프로브를 통해 검출된 측정신호를 릴레이 세트(22)를 통해 수신하며, 이로부터 측정보드의 단락여부를 검출하고, 그 결과를 릴레이 인터페이스부(32)를 통해 연산처리부(33)로 전송한다.The rack unit 10 includes a digital multimeter (DMM) 11 and a power supply 12. The power supply 12 supplies power to an electric circuit board (hereinafter, referred to as a 'measurement board') to measure a defective quantity. The power supply 12 uses an uninterruptible power supply (UPS), and prevents the parts of the measuring board from being damaged by a power failure while testing the measuring board. On the other hand, when the power is supplied by the power supply 12, the measuring board is operated and the temperature rises. The digital multimeter 11 checks the connection state of the measuring board under test to determine whether the measuring board is short-circuited. That is, the digital multimeter 11 receives the measurement signal detected through the measuring probe from the measuring board mounted on the jig 21 through the relay set 22, and detects whether the measuring board is short-circuited from the measuring board. The result is transmitted to the operation processing unit 33 through the relay interface unit 32.

지그(21)는 측정보드를 고정하여 소정의 장소에 위치시킨다. 지그(21)는 연산처리부(33)로부터 릴레이 인터페이스(32), 릴레이제어부(23), 릴레이 세트(22)를 통해 수신되는 지그제어신호에 따라 소정의 위치로 이동하여 측정보드를 고정한다. 또한, 지그(21)는 전원공급 프로브를 구비하며, 이 프로브는 전원공급기(12)로부터 릴레이 세트(22)를 통해 전원공급 프로브로 전원을 송신하도록 연결되어 있으며, 또한 이 프로브는 측정보드의 전원부와도 연결되어 측정보드로 전원공급을 할 수 있다. The jig 21 is fixed to the measuring board and placed in a predetermined place. The jig 21 moves to a predetermined position in accordance with a jig control signal received from the arithmetic processing unit 33 through the relay interface 32, the relay control unit 23, and the relay set 22 to fix the measurement board. The jig 21 also has a power supply probe, which is connected to transmit power from the power supply 12 to the power supply probe through the relay set 22, which is also connected to the power supply section of the measurement board. It can also be connected to the power supply to the measurement board.

릴레이부(20)는 릴레이제어부(23) 및 릴레이세트(22)를 포함한다. 릴레이세트(22)는 측정보드마다 별도의 지그(21) 상에 놓여지게 하기 위한 것으로, 이는 릴레이제어부(23)로부터의 구동신호에 의해 동작 제어되며, 릴레이세트(22)위에 배선이 제어됨으로써 상기 동작이 수행될 수 있다. 릴레이제어부(23)는 제어부(30)로부터의 릴레이제어신호에 따라 릴레이세트(22)의 구동신호를 출력한다.The relay unit 20 includes a relay control unit 23 and a relay set 22. The relay set 22 is to be placed on a separate jig 21 for each measurement board, which is operated and controlled by a drive signal from the relay control unit 23, and the wiring is controlled on the relay set 22 so that The operation can be performed. The relay control unit 23 outputs the drive signal of the relay set 22 in accordance with the relay control signal from the control unit 30.

릴레이 세트(22)는 다수의 릴레이로 이루어져 있고, 크게 전원 릴레이와 신호 릴레이들로 나누어진다. 릴레이는 온/오프(ON/OFF)에 따라 도통과 불통을 하는 소자로, 전원 릴레이는 측정보드에 전원을 공급하기위한 것이고, 신호 릴레이는 측정 프로브가 접촉되어 있는 곳의 신호를 측정하고자 하는 것이다. 즉, 측정보드에 전원이 공급되어 측정보드가 작동되면, 이 동작중인 측정보드로부터 측정 프로브를 통해 신호를 측정하고, 이 측정된 신호는 릴레이 세트(22)를 통해 디지털멀티미터(11)로 송신된다. 또한, 릴레이 세트(22)는 연산처리부(33)로부터 릴레이 제어부(23)를 통해 수신된 지그제어신호를 지그(21)로 송신한다.The relay set 22 is composed of a plurality of relays, and is largely divided into a power relay and a signal relay. The relay is a device that can't conduct and turn on according to ON / OFF. The power relay is to supply power to the measurement board, and the signal relay is to measure the signal where the measuring probe is in contact. . That is, when the power is supplied to the measuring board and the measuring board is operated, the signal is measured by the measuring probe from the measuring board in operation, and the measured signal is transmitted to the digital multimeter 11 through the relay set 22. do. In addition, the relay set 22 transmits the jig control signal received from the arithmetic processing unit 33 through the relay control unit 23 to the jig 21.

릴레이 제어부(23)는 연산처리부(33)로부터의 릴레이 제어신호를 릴레이 인터페이스(32)를 통해 수신한다. 릴레이 제어부(23)는 마이크로프로세서를 구비하여 릴레이 세트(22)의 동작을 전반적으로 제어할 수 있다.The relay control unit 23 receives a relay control signal from the operation processing unit 33 through the relay interface 32. The relay controller 23 may include a microprocessor to control the overall operation of the relay set 22.

카메라부(40)는 동작 중 온도가 상승된 측정보드를 적외선카메라(41)를 이용하여 촬영하며, 측정보드의 열분포를 화상신호로 하여 제어부(30)로 출력한다. 카메라부(40)는 적외선카메라(41), 카메라 위치제어모듈(42), 카메라 위치제어 모터(43)를 구비한다. The camera unit 40 photographs the measuring board having the temperature increased during operation by using the infrared camera 41 and outputs the heat distribution of the measuring board as an image signal to the controller 30. The camera unit 40 includes an infrared camera 41, a camera position control module 42, and a camera position control motor 43.

적외선 카메라(41)는 카메라 위치제어 모터(43)에 의해 Z축 방향을 따라 상하로 이동하여 측정보드의 열 화상을 촬영할 수 있다. 적외선 카메라(41)에 의해 촬영되는 열화상은 제어부(30)의 외부장비제어부(31)로 전송된다.The infrared camera 41 may move up and down along the Z-axis direction by the camera position control motor 43 to capture a thermal image of the measuring board. The thermal image captured by the infrared camera 41 is transmitted to the external device control unit 31 of the control unit 30.

카메라 위치제어 모듈(42)은 제어부(30)로부터의 카메라 위치제어신호를 수신하고, 이에 따라 카메라 위치제어 모터(43)의 모터구동 신호를 출력한다. The camera position control module 42 receives the camera position control signal from the controller 30, and accordingly outputs a motor driving signal of the camera position control motor 43.

카메라 위치제어 모터(43)는 적외선 카메라(41)를 Z축 방향으로 상하 이동시키는 모터로서, 카메라 위치제어 모듈(42)로부터 수신된 모터구동신호에 따라 모터를 구동한다. 카메라 위치제어 모터(43)가 구동되면 그에 따라 적외선 카메라(41)는 상하로 이동하게 되며, 이렇게 함으로써 각 측정보드에 맞게 적외선 카메라(41)의 높낮이와 렌즈의 초점이 제어된다. 한편, 카메라부(40)는 측정보드의 열화상 촬영을 위한 온도센서 등을 포함할 수 있다.The camera position control motor 43 is a motor for moving the infrared camera 41 up and down in the Z-axis direction, and drives the motor according to the motor drive signal received from the camera position control module 42. When the camera position control motor 43 is driven, the infrared camera 41 moves up and down accordingly, thereby controlling the height of the infrared camera 41 and the focus of the lens in accordance with each measurement board. On the other hand, the camera unit 40 may include a temperature sensor for thermal imaging of the measurement board.

제어부(30)는 카메라부(40)로부터 수신된 열화상 신호를 연산처리하여 측정보드에 실장된 각 부품의 온도변화를 측정하여, 그 부품의 열적인 양불량과 신뢰성을 판별하고, 불량이 있다고 판단된 부품의 위치에 플라잉 프로브를 이동시켜 전기적인 테스트를 함으로써 정밀테스트를 가능하게 하며, 측정된 결과를 입출력부(50)에 있는 프린터(51) 등의 출력수단으로 출력한다.The controller 30 calculates the temperature change of each component mounted on the measurement board by processing the thermal image signal received from the camera unit 40 to determine thermal defects and reliability of the component, and indicates that there is a defect. By moving the flying probe to the position of the determined component to perform an electrical test, a precision test is possible, and the measured result is output to an output means such as a printer 51 in the input / output unit 50.

이러한 제어부(30)는 외부장비 제어부(31), 릴레이 인터페이스(32), 연산처리부(33), 카메라 인터페이스(34), 프린터 인터페이스(35), 바코드 리더 인터페이스(36)를 포함할 수 있다.The controller 30 may include an external device controller 31, a relay interface 32, an operation processor 33, a camera interface 34, a printer interface 35, and a barcode reader interface 36.

외부장비 제어부(31)는 적외선카메라(41)로부터 수신된 화상신호를 디지털 신호로 변환하여 연산처리부(33)로 전송한다. 또한, 외부장비 제어부(31)는 도시되지는 않았지만, 디지털멀티미터(11)와 상호작용하여 전원공급기(12)로부터의 전압, 전류 등을 읽어들여 연산처리부(33)로 전송할 수도 있다.The external device controller 31 converts the image signal received from the infrared camera 41 into a digital signal and transmits the digital signal to the calculation processor 33. In addition, although not shown, the external device controller 31 may interact with the digital multimeter 11 to read a voltage, a current, and the like from the power supply 12 and transmit the readout to the operation processor 33.

연산처리부(33)는 데이터베이스(D/B; 37)로부터 측정보드의 각 부품종류 및 위치에 대한 정보를 읽어들이고, 카메라부(40)로부터 외부장치 제어부(31)를 통해 수신된 화상신호를 연산처리하여 측정보드에 실장된 각 부품의 온도변화를 측정하여, 그 부품의 열적인 양불량과 신뢰성을 판별한다. 이러한 판별에 따라 열적 불량 부품의 리스트가 획득될 수 있다. 적외선 카메라(41)를 이용하여 판단한 열적인 양불량 상태의 결과는 입출력부(50)에 포함되는 프린터(51) 또는 서멀(thermal) 프린터 등의 출력수단을 통해 출력될 수 있다.The calculation processing unit 33 reads information on each component type and position of the measurement board from the database D / B 37 and calculates an image signal received from the camera unit 40 via the external device control unit 31. The temperature change of each component mounted on the measuring board is measured to determine thermal defects and reliability of the component. According to this determination, a list of thermally defective parts can be obtained. The result of the thermal failure status determined using the infrared camera 41 may be output through an output means such as a printer 51 or a thermal printer included in the input / output unit 50.

한편, 연산처리부(33)는 열적 불량 리스트에 포함되는 부품이 위치하는 곳으로 플라잉 프로브가 이동하여 전기적인 정밀검사를 가능하게 하기 위한 플라잉 프로브 어셈블리(75) 제어신호를 플라잉 인터페이스(71)에 출력한다. 이 제어신호에 따라 정밀 테스트부(70)의 플라잉 프로브 어셈블리(75)는 상기 불량가능성이 있는 부품이 위치하는 곳으로 이동하게 되고, 전기신호 측정부(77)는 상기 부품에 전기신호를 입력시키고 이에 따른 전기적 출력신호(진압, 전류 등)를 플라잉 인터페이스(71)를 통해 연산제어부(33)로 출력한다. 연산제어부(33)는 상기 전기적 출력신호를 기초로 하여 부품의 전기적 오류 여부를 판단한다. 부품의 오류 여부 또는 양불량 상태의 측정 결과는 입출력부(50)의 다양한 출력수단을 통해 출력될 수 있다. On the other hand, the calculation processing unit 33 outputs a flying probe assembly 75 control signal to the flying interface 71 to enable the flying probe to move to the place where the parts included in the thermal failure list are located. do. According to the control signal, the flying probe assembly 75 of the precision test unit 70 moves to the place where the defective component is located, and the electrical signal measuring unit 77 inputs an electrical signal to the component. Accordingly, the electrical output signal (suppression, current, etc.) is output to the operation control unit 33 through the flying interface 71. The operation control unit 33 determines the electrical error of the part based on the electrical output signal. The result of measuring the error or the defective state of the component may be output through various output means of the input / output unit 50.

또한, 연산처리부(33)는 카메라 인터페이스(34)를 통해 카메라 위치제어 모듈(42)로 적외선카메라(41)의 위치제어신호를 전송하며, 릴레이 인터페이스(32)를 통해 디지털멀티미터(11), 전원공급기(12), 릴레이제어부(23)로 각 제어신호를 전송하며, 플라잉 인터페이스(71)에 플라잉 프로브 어셈블리(75) 제어신호를 전송한다. In addition, the operation processor 33 transmits the position control signal of the infrared camera 41 to the camera position control module 42 through the camera interface 34, and the digital multimeter 11, through the relay interface 32. Each control signal is transmitted to the power supply 12 and the relay controller 23, and the control signal of the flying probe assembly 75 is transmitted to the flying interface 71.

데이터베이스(37)는 보드 도면파일 데이터베이스, 부품정보 데이터베이스, 시험순서표 데이터베이스, 정상범위 데이터베이스를 포함할 수 있다.The database 37 may include a board drawing file database, a parts information database, a test sequence table database, and a normal range database.

보드 도면파일 데이터베이스는 각 측정보드의 도면파일에 대한 데이터베이스이다. 부품정보 데이터베이스는 측정보드의 도면에서 각 위치에 따른 부품의 종류에 대한 데이터 베이스이다. 즉, 지그(21)에 의해 고정된 측정보드의 정보를 입력하기 위해, 보드 도면파일 데이터베이스로부터 그래픽 또는 영상변환정보를 설정하고, 캐드파일로서 위치정보인 부품종류 및 위치를 부품정보 데이터베이스로 작성한다. 부품정보 데이터베이스에는 각 부품에 대해 영역, 종류 및 열 정상범위에 대한 데이터베이스로서 영상으로는 시간별 열영상이 저장된다.The board drawing file database is a database of drawing files of each measurement board. The parts information database is a database of the types of parts according to each position in the drawing of the measurement board. That is, in order to input the information of the measurement board fixed by the jig 21, graphic or image conversion information is set from the board drawing file database, and the component type and position, which are position information, are created as a CAD file in the parts information database. . The parts information database stores a time-based thermal image as an image of a region, a type, and a thermal normal range for each component.

시험순서표 데이터베이스는 측정보드의 시험순서정보가 저장된 데이터베이스이다. 시험순서표 데이터베이스는 시각, 릴레이번호, 릴레이정보, 릴레이상태, 커런트 리미트, 측정항목, 최소값, 최대값 및 동작상태를 시각별로 나열한 표이다.The test sequence table database is a database in which the test sequence information of the measurement board is stored. The test sequence table database lists time, relay number, relay information, relay status, current limit, measurement items, minimum value, maximum value and operation status by time.

정상범위 데이터베이스는 부품의 열적 양불량 상태를 판단하기 위한 열정상범위 및 전기적 양불량 상태를 판단하기 위한 전기적정상범위를 저장한다. 열정상범위의 획득은 정상보드를 이용하여 열영상을 획득한 후 부품의 정상 온도데이터 범위를 구함으로써 이루어질 수 있고, 전기적정상범위의 획득은 각 부품의 제조사에서 주어지는 데이터북을 이용하거나 플라잉 프로브를 이용하여 정상보드의 각 부품을 전기적으로 측정함으로써 이루어질 수 있다. The normal range database stores the passion range for determining the thermal failure status of the component and the electrical normal range for determining the electrical failure status. The acquisition of the passion image range can be achieved by obtaining a thermal image using a normal board and then obtaining the normal temperature data range of the part. The acquisition of the electrical normal range can be performed using a data book provided by the manufacturer of each part or using a flying probe. This can be done by electrically measuring each part of the top board.

정밀 테스트부(70)는 카메라부(40)의 적외선 카메라(41)에 의해 획득된 측정보드의 열 영상을 기초로 연산처리부(33)에서 열적 불량으로 판단된 부품을 전기적으로 정밀 검사하기 위한 구성요소이다. The precision test unit 70 is configured to electrically inspect a component determined as a thermal defect in the calculation processing unit 33 based on the thermal image of the measurement board acquired by the infrared camera 41 of the camera unit 40. Element.

정밀 테스트부(70)는 플라잉 인터페이스(71), 모션 제어부(73), 프로브 어셈블리(75) 및 전기신호 측정부(77)를 포함한다.The precision test unit 70 includes a flying interface 71, a motion controller 73, a probe assembly 75, and an electric signal measuring unit 77.

플라잉 인터페이스(71)는 연산처리부(33)로부터의 플라잉 프로브 어셈블리(75) 제어신호를 모션제어부(73)로 전송한다. 연산처리부(33)는 카메라부(40)의 적외선 카메라(41)에 의해 얻어진 열 화상을 기초로 열적으로 불량 상태에 있는 부품을 검출해내고, 전기적 정밀검사를 위해 플라잉 프로브 어셈블리(75)가 그 부품의 위치로 이동할 수 있도록 하는 제어신호를 플라잉 인터페이스(71)로 전송한다.The flying interface 71 transmits the flying probe assembly 75 control signal from the operation processor 33 to the motion controller 73. The arithmetic processing unit 33 detects a component that is in a thermally defective state based on the thermal image obtained by the infrared camera 41 of the camera unit 40, and the flying probe assembly 75 is used for electrical inspection. The control signal is transmitted to the flying interface 71 to move to the position of the component.

모션 제어부(73)는 플라잉 프로브 어셈블리(75)를 열적 불량 상태에 있는 부품의 위치로 이동시킨다. 프로브 어셈블리(75)는 모터를 통해 로봇암 등에 연결될 수 있고, 모션 제어부(73)는 연산처리부(33)로부터의 제어신호에 따라 프로브 어셈블리(75)를 X축 방향, Y축 방향, 또는 Z축 방향으로 이동시켜 전기적으로 정밀 검사를 할 부품의 위치로 이동시킨다. The motion control unit 73 moves the flying probe assembly 75 to the position of the component in the thermal failure state. The probe assembly 75 may be connected to a robot arm or the like through a motor, and the motion controller 73 may move the probe assembly 75 in the X-axis direction, the Y-axis direction, or the Z-axis according to a control signal from the operation processor 33. Direction to the position of the component to be electrically inspected.

프로브 어셈블리(75)는 부품을 전기적으로 정밀 테스트하기 위한 전기신호 측정부(77)를 장착하고 있다. 프로브 어셈블리(75)가 테스트할 부품의 위치로 이동하면 전기신호 측정부(77)는 해당 부품에 전기적 신호를 입력하고 이에 대한 전기적 응답, 즉, 출력신호(전압, 전류 등)를 획득하여 플라잉 인터페이스(71)를 통해 연산처리부(33)로 전송한다. 연산처리부(33)는 상기 전기적 출력신호를 기초로 데이터베이스(37)에 저장된 전기적정상범위 데이터와 비교하여 해당 부품의 전기적 오류를 검출해낸다.The probe assembly 75 is equipped with an electrical signal measuring unit 77 for electrically precision testing the component. When the probe assembly 75 moves to the position of the component to be tested, the electrical signal measuring unit 77 inputs an electrical signal to the component, acquires an electrical response thereto, that is, an output signal (voltage, current, etc.) The processor 71 transmits the data to the computation processing unit 33 through 71. The arithmetic processing unit 33 detects an electrical error of the corresponding component by comparing the electrical normal range data stored in the database 37 based on the electrical output signal.

입출력부(50)는 프린터(51) 등의 출력수단 및 바코드 리더(52)를 포함한다. 프린터(51)는 연산처리부(33)로부터 프린터 인터페이스(35)를 통해 수신한 측정보드의 시험결과를 출력한다. 바코드 리더(52)는 측정보드들의 바코드를 판독하여 바코드리더 인터페이스(36)을 통해 마이컴 연산처리부(33)로 전송한다. The input / output unit 50 includes an output means such as a printer 51 and a barcode reader 52. The printer 51 outputs a test result of the measurement board received from the calculation processing unit 33 through the printer interface 35. The barcode reader 52 reads the barcodes of the measurement boards and transmits the barcodes to the microcomputer operation processor 33 through the barcode reader interface 36.

도 2는 본 발명의 회로보드 테스트 시스템의 회로 테스트를 위한 데이터베이스의 구축과정을 설명하는 흐름도이다. 2 is a flowchart illustrating a process of constructing a database for circuit testing of the circuit board test system of the present invention.

먼저, 릴레이 세트(22), 적외선 카메라(41), 플라잉 프로브 어셈블리(75), 및 프로브 전기신호 측정부(77) 등을 초기화 한다(S100). 즉, 운영자가 스타트 및 스톱 스위치를 통해 검사 시작 명령을 내리면, 제어부(30)의 연산처리부(33)는 릴레이 인터페이스(32)를 통해 릴레이 제어부(23)로 릴레이 제어신호의 초기설정치를 송신하여 초기화시키며, 카메라 인터페이스(34)를 통해 카메라 위치제어 모듈(42)로 카메라 위치제어신호의 초기설정치를 초기화시고, 플라잉 인터페이스(71)를 통해 프로브 어셈블리(75) 및 전기신호 측정부(77)를 초기화시킨다. 이에 따라 상기 구성요소들이 초기화될 수 있다.First, the relay set 22, the infrared camera 41, the flying probe assembly 75, and the probe electrical signal measuring unit 77 are initialized (S100). That is, when the operator issues a test start command through the start and stop switches, the calculation processing unit 33 of the control unit 30 transmits and initializes the initial set value of the relay control signal to the relay control unit 23 through the relay interface 32. The initial position of the camera position control signal is initialized by the camera position control module 42 through the camera interface 34, and the probe assembly 75 and the electric signal measuring unit 77 are initialized through the flying interface 71. Let's do it. Accordingly, the components can be initialized.

다음으로, 측정보드의 보드 도면파일 데이터베이스로부터 부품종류 및 위치에 따른 부품정보 데이터베이스를 작성하여 측정보드의 보드정보를 입력한다(S120). 즉 지그(21)에 고정된 측정보드정보를 입력하기 위해, 보드 도면파일 데이터베이스로부터 그래픽 또는 영상변환정보를 설정하고, 캐드파일로서 위치정보인 부품종류및 위치를 부품정보 데이터베이스에 작성한다.Next, a part information database is created according to the part type and location from the board drawing file database of the measurement board and the board information of the measurement board is input (S120). That is, in order to input the measurement board information fixed to the jig 21, graphic or image conversion information is set from the board drawing file database, and the component type and position, which are position information, are created in the parts information database as a CAD file.

그 후, 측정보드의 시험순서정보를 입력하기 위해 시험순서표 데이터베이스를 작성한다(S140). 시험순서표 데이터베이스는 시간별로 시험순서에 대해 작업자 에 의해 임의적으로 셋팅된다.After that, a test sequence table database is created to input test sequence information of the measurement board (S140). The test sequence table database is arbitrarily set by the operator for the test sequence over time.

다음으로, 학습용 보드를 인가한다(S160). 시간별 부품별 온도에 대한 정상범위를 검출하기위해, 이미 시험되어 정상 보드임이 확인된 약 20장 정도의 학습용 보드를 인가한다.Next, the learning board is applied (S160). In order to detect the normal range of temperature for each part by time, about 20 learning boards which have been tested and confirmed to be normal boards are applied.

인가된 학습용 보드들을 검사한 후 이에 따른 열영상정보를 제어부(30)의 연산처리부(33)에서 획득한다(S180). 그 후, 연산처리부(33)에서 획득된 정보들로부터 디지털멀티미터(11)에서 측정되는 부품의 정상범위를 설정하여 각 부품의 열적 정상범위 데이터베이스를 구축한다(S200). 이때, 각 부품의 열정상범위 데이터베이스들을 이용하여 각 부품별 온도정상 범위설정을 티칭화면으로 표시해줄 수도 있다.After checking the applied learning boards, the thermal image information is acquired by the operation processor 33 of the controller 30 (S180). Thereafter, the normal ranges of the parts measured by the digital multimeter 11 are set from the information obtained by the operation processor 33 to build a thermal normal range database of each part (S200). At this time, the temperature normal range setting for each part may be displayed as a teaching screen using the passion phase range databases of each part.

그 후, 학습용 보드들에 포함되는 부품들에 대한 전기적 특성에 대한 라이브러리가 있는지 여부를 판단한다(S210). Thereafter, it is determined whether there is a library for electrical characteristics of components included in the learning boards (S210).

만약, 전기적 특성 라이브러리가 있다면, 라이브러리 데이터를 설치하여(S220), 전기적 정상범위 데이터베이스를 구축한다.If there is an electrical characteristic library, the library data is installed (S220) to build an electrical normal range database.

반면, 전기적 특성 라이브러리가 없다면, 연산처리부(33)는 플라잉 인터페이스(71)를 통해 플라잉 프로브 어셈블리(75) 제어신호를 전송하고, 플라잉 프로브 어셈블리(75)는 각 부품의 위치로 이동하여 전기신호 측정부(77)를 통해 해당 부품의 전기적 입출력 특성을 획득한 후 연산처리부(33)로 전송하고, 연산처리부(33)는 이를 기초로 하여 부품의 전기적 특성을 측정한다(S230).On the other hand, if there is no electrical characteristic library, the calculation processing unit 33 transmits the flying probe assembly 75 control signal through the flying interface 71, the flying probe assembly 75 moves to the position of each component to measure the electrical signal After obtaining the electrical input and output characteristics of the corresponding part through the unit 77 is transmitted to the calculation processing unit 33, the calculation processing unit 33 measures the electrical characteristics of the component based on this (S230).

그 후, 연산처리부(33)에서 획득된 부품의 전기적 특성에 관한 정보들로부터 부품의 전기적 정상범위를 설정하여 각 부품의 전기적 정상범위 데이터베이스를 구축한다(S240). 이때, 전기적 정상범위 데이터 베이스는 셋업 화면 등을 통해 표시될 수 있다. Thereafter, the electrical normal range of the component is set from the information on the electrical characteristics of the component acquired by the operation processor 33 to build an electrical normal range database of each component (S240). In this case, the electrical normal range database may be displayed through a setup screen.

도 3은 본 발명의 회로보드 테스트 시스템의 동작을 설명하기 위한 흐름도이다.3 is a flowchart illustrating the operation of the circuit board test system of the present invention.

먼저, 회로보드 테스트 시스템을 초기화한다(S300). 즉, 새로운 지그(21)가 설계되면 회로보드 테스트 시스템으로 시험하기 위한 각종 정보를 셋업한다. 적외선카메라(41), 프로브 어셈블리(75), 및 전기신호 측정부(77) 등을 초기화한다.First, the circuit board test system is initialized (S300). That is, when a new jig 21 is designed, various kinds of information for testing with a circuit board test system are set up. The infrared camera 41, the probe assembly 75, and the electric signal measuring unit 77 are initialized.

그 후, 측정 보드의 바코드를 입력한다(S320). 바코드 리더(52)는 바코드리더 인터페이스(36)을 통해 측정보드의 바코드를 연산처리부(33)로 송신한다. 연산처리부(33)는 입력된 바코드로부터 측정보드의 아이디를 판독해낸다. After that, the barcode of the measurement board is input (S320). The barcode reader 52 transmits the barcode of the measurement board to the calculation processor 33 through the barcode reader interface 36. The calculation processing unit 33 reads out the ID of the measurement board from the input bar code.

다음으로, 테스트하려는 측정보드를 지그(21)위에 인가하고 스타트스위치를 누른다(S340). 이때 지그(21)가 록킹(locking) 되어 측정보드가 고정될 수 있다. 입력된 측정보드의 정보에서 가이드 홀위치와, 부품정보로써 각 부품위치, 크기, 종류 및 세부정보를 확인하게 된다. Next, the measuring board to be tested is applied on the jig 21 and the start switch is pressed (S340). At this time, the jig 21 may be locked and the measurement board may be fixed. From the information on the measurement board, the location of the guide hole and the parts information, each part location, size, type and details are checked.

그 후, 지그(21)에 인가된 측정보드의 전원부 단락검사를 한다(S360). 즉, 지그에 측정보드가 장착되고 스타트스위치가 눌러지면 도어가 닫히고 시험순서표 데이터베이스에 의거하여 전원부 단락검사, 즉 전원부 방전, 전원부 저항측정, 측정값이 정상범위 내에 있는 지의 여부를 측정한다. 여기서, 상기 시험순서표 데이터베이스는 시각, 릴레이번호, 릴레이정보, 릴레이상태, 커런트리미트, 측정항목, 최소값, 최대값 및 동작상태를 시각별로 나열한 표이다.Thereafter, a short circuit test of the power supply unit of the measuring board applied to the jig 21 is performed (S360). That is, when the measuring board is mounted on the jig and the start switch is pressed, the door is closed and the short circuit test of the power supply, ie, the power supply discharge, the power supply resistance measurement, and the measured value are measured within the normal range based on the test sequence table database. Here, the test sequence table database is a table listing time, relay number, relay information, relay state, current limit, measurement item, minimum value, maximum value and operation state by time.

만약, 측정보드가 전원부단락검사에 통과하지 못하면, 기 설정된 전압의 최대 인가시간 지연설정에 따라 전원부오류임을 프린터(51) 등의 출력수단으로 출력하고 테스트를 종료한다(S370). 이와 같은 전원부오류 메시지에는 측정보드에서 전원오류의 위치에 대한 정보를 포함할 수 있다.If the measurement board does not pass the power supply short-circuit test, it outputs a power supply failure to an output means such as a printer 51 according to the maximum application time delay setting of the preset voltage (S370). The power failure message may include information about the location of the power failure on the measurement board.

한편, 측정보드가 전원부단락검사에 통과하면, 측정보드에 전원을 인가한다(S380). 즉, 전원공급기(12)로부터 릴레이 세트(22)를 통해 지그(21)에 장착된 측정보드에 전원을 인가한다. 어떤 전원공급을 언제 인가할 것인지는 시험순서표 데이터베이스에 저장되어 있으며, 시험순서표 데이터베이스에 저장되어 있는 각 측정보드에 대한 데이터에 따라 각 측정보드에 전원이 인가된다.On the other hand, if the measurement board passes the power supply short circuit test, power is applied to the measurement board (S380). That is, power is applied from the power supply 12 to the measuring board mounted on the jig 21 through the relay set 22. Which power supply is applied and when is stored in the test sequence table database, and power is supplied to each measurement board according to the data for each measurement board stored in the test sequence table database.

그 후, 적외선 카메라(41)를 통해 측정보드의 열영상을 획득한다(S400). 즉, 측정보드에 전원이 인가되어 측정보드가 구동되면 측정보드의 온도가 올라가게 되는데, 적외선 카메라(41)는 측정보드를 열 촬영하여 외부장비 제어부(31)를 통해 연산처리부(33)로 열영상 정보를 송신한다.Thereafter, a thermal image of the measurement board is obtained through the infrared camera 41 (S400). That is, when power is applied to the measurement board and the measurement board is driven, the temperature of the measurement board is increased. The infrared camera 41 thermally photographs the measurement board and heats it to the operation processor 33 through the external device controller 31. Send video information.

연산처리부(33)는 부품정보 데이터베이스에 저장된 데이터를 이용하여 부품별 온도계산을 한다(S420). 즉, 연산처리부(33)는 적외선카메라(41)로부터 외부장비 제어부(31)를 통해 수신된 열영상 정보를 기초로 부품정보 데이터베이스를 이용하여 측정보드의 각 부품별 온도를 계산한다.The calculation processing unit 33 performs temperature calculation for each part using data stored in the parts information database (S420). That is, the calculation processing unit 33 calculates the temperature of each part of the measurement board using the parts information database based on the thermal image information received from the infrared camera 41 through the external device controller 31.

한편, 열정상범위 데이터베이스를 이용하여 부품별 온도검사를 수행한다(S440). 즉, 연산처리부(33)는 측정보드의 각 부품별 온도가 계산되면, 열적 정 상범위 데이터베이스를 이용하여 측정보드에 포함되는 각 부품이 열정상범위내에 있는지를 판단한다. 이에 따라, 측정보드에 포함되는 부품들 중 열적 정상범위를 벗어난 부품이 있는지 여부를 판단할 수 있다(S460).On the other hand, using the passion range database to perform a temperature test for each part (S440). That is, when the temperature of each component of the measurement board is calculated, the calculation processing unit 33 determines whether each component included in the measurement board is within the passion phase range by using the thermal normal range database. Accordingly, it is possible to determine whether any of the components included in the measurement board are outside the thermal normal range (S460).

만약, 측정보드에 열적 정상범위를 벗어난 부품이 없다면, 불량가능성이 있는 부품이 없다는 것이기 때문에, 회로 테스트를 종료한다. If there are no parts out of the thermal normal range on the measuring board, then there is no defective part, so the circuit test is terminated.

반면, 측정보드에 열적 정상범위를 벗어나는 부품이 있다면, 불량가능성이 있는 부품이 존재한다는 것이기 때문에, 정밀 테스트부(70)의 플라잉 프로브 어셈블리(75)와 전기신호 측정부(77)를 이용하여 상기 열적 정상범위를 벗어난 온도 오류 부품을 전기적으로 테스트하기 시작한다(S470).On the other hand, if there is a part out of the thermal normal range on the measuring board, because there is a part that may be defective, using the flying probe assembly 75 and the electrical signal measuring unit 77 of the precision test unit 70 The temperature error component outside the thermal normal range starts to be electrically tested (S470).

먼저, 연산처리부(33)로부터 플라잉 인터페이스(71)를 통한 플라잉 프로브 어셈블리 제어신호에 의해 프로브 어셈블리(75)가 온도 오류 부품들이 위치하는 곳으로 이동하게 되고, 전기신호 측정부(77)가 해당 부품에 전기적 신호(전류, 전압 등)를 입력하고 이에 따른 전기적 출력 신호를 측정하여(S480), 플라잉 인터페이스(71)를 통해 연산처리부(33)로 전송한다.First, the probe assembly 75 moves to the place where the temperature error components are located by the flying probe assembly control signal through the flying interface 71 from the operation processor 33, and the electrical signal measuring unit 77 moves to the corresponding component. An electrical signal (current, voltage, etc.) is input to the electrical output signal according to the measurement (S480), and is transmitted to the operation processor 33 through the flying interface 71.

연산처리부(33)는 측정된 전기적 신호, 즉, 전류 및 전압 신호를 기초로 하여 해당 부품의 전기적 특성을 검사한다(S490). 이때, 전기적 정상범위 데이터베이스의 데이터들과 비교하여 전기적 특성을 파악할 수 있다.The operation processor 33 checks the electrical characteristics of the corresponding component based on the measured electrical signals, that is, the current and voltage signals (S490). In this case, the electrical characteristics may be determined by comparing with the data of the electric normal range database.

연산처리부(33)는 상기 검사를 통해 온도 오류 부품들 중 전기적 정상범위를 벗어나는 부품이 있는지 여부를 판단한다(S500).The calculation processing unit 33 determines whether there are any parts out of the electric normal range among the temperature error parts through the inspection (S500).

만약, 전기적 정상범위를 벗어나는 부품이 없다면, 불량 부품이 없다는 것이 기 때문에 테스트를 종료한다. If no parts fall outside the normal range, the test is terminated because there are no defective parts.

한편, 전기적 정상범위를 벗어나는 부품이 있다면, 프린터(51) 등의 출력수단을 이용하여 해당 부품이 전기적 특성 오류임을 출력하고(S520), 오류 부품이 수리가능한지 여부를 판단한다(S540). On the other hand, if there is a part outside the electrical normal range, using the output means such as the printer 51 outputs that the corresponding part is an electrical characteristic error (S520), it is determined whether the error component is repairable (S540).

수리가 불가능하다면 테스트를 종료하고, 수리가 가능하다면 해당 부품을 수리한 후(S560), 회로 보드를 재차 인가(S340)함으로써, 재검사가 수행될 수 있다. If repair is not possible, the test is terminated, and if repair is possible, after repairing the corresponding part (S560), the application of the circuit board again (S340) may be carried out a retest.

이렇게 함으로써, 측정보드 내에 포함되는 부품들 중 열적 불량 가능성이 있는 부품들만을 대상으로 전기적 검사를 수행함으로써 정확한 전기적 불량 부품을 검출해낼 수 있다.By doing this, it is possible to detect accurate electrical defective parts by performing an electrical inspection on only those parts that are likely to be thermally defective among the components included in the measurement board.

또한, 플라잉 프로브라는 자유롭게 이동이 가능한 측정용 프루브를 이용함으로써 많은 테스트포인트를 위한 고정 지그의 필요성은 없어지게 되며, 신호인가를 위한 소규모의 지그시스템만이 필요하여 보드테스트시에 발생하는 추가 비용의 문제가 사라지게 된다. In addition, the use of freely movable measuring probes, called flying probes, eliminates the need for fixed jigs for many test points and eliminates the additional cost incurred during board testing by requiring only a small jig system for signaling. The problem goes away.

한편, 적외선 카메라를 이용하여 불량가능성이 있는 부품들을 가려내고, 이 부품들에 대해서만 플라잉 프로브에 의한 전기적 검사를 수행하므로, 플라잉 프로브가 모든 부품을 검사할 필요가 없어져 테스트 시간을 현저히 줄일 수 있는 경제적 효과가 있다.On the other hand, the infrared camera is used to screen out parts that may be defective and perform electrical inspection by the flying probe only on these parts, thereby eliminating the need for the flying probe to inspect all parts, thereby significantly reducing test time. It works.

이상 본 발명의 구체적 실시형태와 관련하여 본 발명을 설명하였으나 이는 예시에 불과하며 본 발명은 이에 제한되지 않는다. 당업자는 본 발명의 범위를 벗어나지 않고 설명된 실시형태를 변경 또는 변형할 수 있으며, 이러한 변경 또는 변 형도 본 발명의 범위에 속한다. 또한, 본 명세서에서 설명한 각 구성요소는 당업자가 공지된 다양한 구성요소들로부터 용이하게 선택하여 대체할 수 있다. 또한 당업자는 본 명세서에서 설명된 구성요소 중 일부를 성능의 열화 없이 생략하거나 성능을 개선하기 위해 구성요소를 추가할 수 있다. 따라서 본 발명의 범위는 설명된 실시형태가 아니라 특허청구범위 및 그 균등물에 의해 결정되어야 한다.The present invention has been described above in connection with specific embodiments of the present invention, but this is only an example and the present invention is not limited thereto. Those skilled in the art can change or modify the described embodiments without departing from the scope of the present invention, and such changes or modifications also fall within the scope of the present invention. In addition, each component described in the present specification can be easily selected and replaced from various known components by those skilled in the art. Those skilled in the art can also omit some of the components described herein without adding performance degradation or add components to improve performance. Therefore, the scope of the present invention should be determined not by the embodiments described, but by the claims and their equivalents.

도 1은 본 발명의 일 실시형태에 따른 회로 보드테스트 시스템의 구성을 나타내는 구성도이다.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS It is a block diagram which shows the structure of the circuit board test system which concerns on one Embodiment of this invention.

도 2는 본 발명의 회로보드 테스트 시스템의 회로 테스트를 위한 데이터베이스의 구축과정을 설명하는 흐름도이다. 2 is a flowchart illustrating a process of constructing a database for circuit testing of the circuit board test system of the present invention.

도 3은 본 발명의 회로보드 테스트 시스템의 동작을 설명하기 위한 흐름도이다.3 is a flowchart illustrating the operation of the circuit board test system of the present invention.

<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명><Description of the symbols for the main parts of the drawings>

10: 랙부 11: 디지털멀티메터(DMM)10: rack portion 11: digital multimeter (DMM)

12: 전원공급장치 20: 릴레이부12: power supply device 20: relay unit

21: 지그 22: 릴레이 세트21: Jig 22: Relay Set

23: 릴레이 제어부 30: 제어부23: relay control unit 30: control unit

31: 외부장비 제어부 32: 릴레이 인터페이스31: external device control unit 32: relay interface

33: 연산처리부 34: 카메라 인터페이스33: arithmetic processing unit 34: camera interface

35: 프린터 인터페이스 36: 바코드리더 인터페이스 35: printer interface 36: barcode reader interface

37: 데이터베이스 40: 카메라부 37: database 40: camera unit

41: 적외선 카메라 42: 카메라 위치제어모듈 41: infrared camera 42: camera position control module

43: 카메라 위치제어 모터 50: 입출력부 43: camera position control motor 50: input and output unit

51: 프린터 52: 바코드리더 51: printer 52: barcode reader

70: 정밀 테스트부 71: 플라잉 인터페이스70: precision test section 71: flying interface

73: 모션 제어부 75: 프로브 어셈블리73: motion control unit 75: probe assembly

77: 전기신호 측정부77: electric signal measuring unit

Claims (11)

측정보드를 적외선 촬영하여 열 영상을 획득하는 카메라부, 측정보드 내의 부품에 전기 신호를 가하고 이에 따른 전기적 출력 신호를 측정하는 정밀 테스트부, 및 상기 카메라부에 의해 획득된 열 영상과 상기 정밀 테스트부에 의해 측정된 전기적 출력 신호를 기초로 상기 측정보드 내의 부품에 대한 열적 불량과 전기적 불량을 검출해내는 제어부를 포함하는 회로보드 테스트 시스템으로서,Camera unit for acquiring a thermal image by infrared imaging of the measurement board, a precision test unit for applying an electrical signal to the components in the measurement board and measuring the electrical output signal according to, and the thermal image and the precision test unit obtained by the camera unit A circuit board test system including a control unit for detecting a thermal failure and an electrical failure for a component in the measurement board based on an electrical output signal measured by 상기 카메라부는, The camera unit, 상기 적외선 카메라를 Z축 방향으로 상하 이동시키는 카메라 위치제어 모터;A camera position control motor for vertically moving the infrared camera in the Z-axis direction; 상기 제어부로부터의 카메라 위치제어신호에 따라 상기 카메라 위치제어 모터를 구동하는 모터구동신호를 출력하는 카메라 위치제어 모듈; 및 A camera position control module for outputting a motor driving signal for driving the camera position control motor according to the camera position control signal from the controller; And 상기 카메라 위치제어 모터에 따라 위치가 제어되어 상기 측정보드를 적외선 촬영하고 획득된 열 영상정보를 상기 제어부로 전달하는 적외선 카메라를 포함하고,A position is controlled according to the camera position control motor, and includes an infrared camera for taking an infrared image of the measurement board and transferring the obtained thermal image information to the controller. 상기 제어부는, 상기 열 영상정보를 기초로 열적 불량 부품을 검출해내고 정밀 테스트부가 상기 열적 불량 부품의 위치로 이동할 수 있도록 하는 제어신호를 출력하고,The controller detects a thermally defective component based on the thermal image information, and outputs a control signal to allow the precision test unit to move to the position of the thermally defective component. 상기 정밀 테스트부는,The precision test unit, 상기 열적 불량 부품의 전기적 불량 여부를 검출하는 플라잉 프로브;A flying probe which detects whether the thermal defective component is electrically defective; 상기 제어신호에 따라 상기 플라잉 프로브를 X축 방향, Y축 방향, 또는 Z축 방향으로 이동시키는 모션 제어부;A motion controller for moving the flying probe in an X-axis direction, a Y-axis direction, or a Z-axis direction according to the control signal; 상기 플라잉 프로브에 구비되며 상기 열적 불량 부품에 전기 신호를 가하고 이에 따른 전기적 출력신호를 획득하는 전기신호 측정부; 및An electrical signal measuring unit provided in the flying probe and applying an electrical signal to the thermally defective component and acquiring an electrical output signal accordingly; And 상기 획득된 전기적 출력신호를 상기 제어부로 전송하는 플라잉 인터페이스를 포함하는 것을 특징으로 하는, 회로보드 테스트 시스템.And a flying interface for transmitting the obtained electrical output signal to the control unit. 적외선 카메라 및 플라잉 프로브 어셈블리를 이용하여 회로보드를 테스트하는 시스템으로서, A system for testing a circuit board using an infrared camera and a flying probe assembly. 상기 적외선 카메라를 이용하여 측정보드의 열 영상을 획득하는 카메라부;A camera unit for acquiring a thermal image of a measurement board using the infrared camera; 상기 열 영상을 기초로 상기 측정보드 내의 부품들 중 열적 불량 부품을 검출해내고, 상기 플라잉 프로브 어셈블리를 상기 열적 불량 부품의 위치로 이동시키기 위한 제어신호를 출력하는 제어부; 및A controller which detects a thermal defective component among the components in the measurement board based on the thermal image, and outputs a control signal for moving the flying probe assembly to a position of the thermal defective component; And 상기 플라잉 프로브 어셈블리를 포함하고, 상기 제어신호를 기초로 상기 열적 불량 부품의 위치로 이동하여 상기 열적 불량 부품에 전기 신호를 가하고 이에 따른 전기적 출력신호를 검출한 후 이를 상기 제어부로 전송하여 상기 제어부가 상기 열적 불량 부품들 중 전기적 불량 부품을 검출할 수 있도록 하는 정밀 테스트부를 포함하는 것을 특징으로 하는, 회로보드 테스트 시스템.The control unit includes the flying probe assembly, moves to the position of the thermally defective component based on the control signal, applies an electrical signal to the thermally defective component, detects an electrical output signal accordingly, and transmits it to the controller. And a precision test unit configured to detect an electrical defective component among the thermal defective components. 제1항 또는 제2항에 있어서, The method according to claim 1 or 2, 상기 열적 불량 부품의 리스트 및 상기 전기적 불량 부품의 리스트를 출력하 는 입출력부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는, 회로보드 테스트 시스템.And an input / output unit configured to output the list of the thermally defective parts and the list of the electrically defective parts. 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 제어부는,The method of claim 1 or 2, wherein the control unit, 상기 열 영상 또는 상기 전기적 출력신호를 기초로 열적 불량 부품 또는 전기적 불량 부품을 검출하는 데에 기준이 되는 열적 정상범위 또는 전기적 정상범위를 저장하는 데이터베이스를 포함하는 것을 특징으로 하는, 회로보드 테스트 시스템. And a database storing a thermal normal range or an electrical normal range as a reference for detecting a thermal defective component or an electrical defective component based on the thermal image or the electrical output signal. 측정보드 내에 포함되는 부품들의 열적 불량 및 전기적 불량을 검출하는 데에 기준이 되는 열적 정상범위 데이터베이스 및 전기적 정상범위 데이터베이스를 구축하는, 회로보드 테스트 시스템의 기준 데이터베이스 구축 방법으로서,A method of constructing a reference database of a circuit board test system for constructing a thermal normal range and an electrical normal range database as a reference for detecting thermal and electrical defects of components included in a measurement board. 상기 회로보드 테스트 시스템을 초기화단계; Initializing the circuit board test system; 상기 측정보드 내에 포함되는 부품종류 및 위치에 따른 부품정보 데이터베이스를 작성하여 측정보드의 정보를 입력하는 측정보드 정보입력단계;A measurement board information input step of inputting information of the measurement board by creating a parts information database according to the type and position of the parts included in the measurement board; 상기 측정보드의 시험순서정보를 입력하기 위해 시험순서표 데이터베이스를 작성하는 시험순서표 작성단계; A test sequence table preparing step of creating a test sequence table database for inputting test sequence information of the measurement board; 학습용 보드를 인가하는 학습용보드 인가단계; Learning board applying step of applying a learning board; 상기 학습용 보드들을 적외선으로 촬영하여 열 영상을 획득하는 단계;Photographing the learning boards in infrared to obtain a thermal image; 상기 획득된 열 영상을 기초로 상기 학습용 보드 내의 부품들의 정상범위를 설정하여 각 부품의 열 정상범위 데이터베이스를 구축하는 단계;Setting a normal range of components in the learning board based on the obtained thermal image to construct a thermal normal range database of each component; 플라잉 프로브를 이용하여 상기 학습용 보드 내의 부품들에 대한 전기적 특성을 측정하는 단계; Measuring electrical characteristics of components in the learning board using a flying probe; 상기 측정된 전기적 특성을 기초로 상기 학습용 보드 내의 부품들의 정상범위를 설정하여 각 부품의 전기적 정상범위 데이터베이스를 구축하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는, 회로보드 테스트 시스템의 기준 데이터베이스 구축 방법.And setting a normal range of the components in the learning board based on the measured electrical characteristics to establish an electrical normal range database of each component. 측정보드 내에서 열적 불량 부품 및 전기적 불량 부품을 검출하기 위한 카메라부 및 정밀 테스트를 포함하는 회로보드 테스트 시스템을 이용한 회로보드 테스트 방법으로서, A circuit board test method using a circuit board test system including a camera unit and a precision test for detecting thermal defective parts and electrical defective parts in a measuring board, 상기 회로보드 테스트 시스템을 초기화하는 단계;Initializing the circuit board test system; 상기 측정보드의 바코드를 판독하는 바코드 입력단계; A barcode input step of reading a barcode of the measurement board; 테스트하려는 상기 측정보드를 인가하는 측정보드 인가단계; A measuring board applying step of applying the measuring board to be tested; 상기 측정보드의 전원부 단락검사를 하는 단락검사 단계; A short circuit inspection step of performing a short circuit inspection of the power supply unit of the measurement board; 상기 단락검사 단계의 검사결과, 상기 측정보드가 전원부단락검사에 통과하면, 상기 측정보드에 전원을 인가하는 전원 인가단계; A power applying step of applying power to the measuring board if the measuring board passes the power unit short-circuit test as a result of the test of the shorting test step; 상기 전원 인가단계에서 전원이 인가된 상기 측정보드를 상기 카메라부에 포함되는 적외선카메라로 촬영하여 열 영상을 획득하는 열영상 획득단계; A thermal image acquiring step of acquiring a thermal image by photographing the measuring board to which power is applied in the power applying step with an infrared camera included in the camera unit; 상기 열영상 획득단계에서 얻어진 열 영상정보로부터 상기 측정보드의 부품별 온도계산을 하는 부품별 온도계산단계; A part temperature calculation step of performing a part temperature calculation for each part of the measurement board from the thermal image information obtained in the thermal image acquisition step; 상기 부품별 온도계산단계의 계산결과를 기초로 상기 측정보드 내의 부품별 온도를 검사하는 온도검사단계; A temperature inspection step of inspecting the temperature of each part in the measurement board based on the calculation result of the temperature calculation step of each part; 상기 온도검사단계의 검사결과로부터 상기 측정보드에서 열적 정상범위를 벗어난 열적 오류 부품이 있으면, 상기 정밀 테스트부를 상기 열적 오류 부품이 위치하는 곳으로 이동시켜 상기 열적 오류 부품에 전기 신호를 입력하고 이에 따른 전기적 출력신호를 획득하는 전류/전압 측정 단계;If there is a thermal error part out of the thermal normal range on the measurement board from the test result of the temperature test step, the precision test part is moved to the location where the thermal error part is located, and an electrical signal is input to the thermal error part accordingly. A current / voltage measuring step of obtaining an electrical output signal; 상기 전류/전압 측정 단계에서 획득된 전기적 출력신호를 기초로 상기 열적 오류 부품들에 대한 전기적 특성을 검사하는 전기 특성 검사 단계; An electrical characteristic inspection step of examining electrical characteristics of the thermal error components based on the electrical output signal obtained in the current / voltage measurement step; 상기 전기 특성 검사 단계의 결과로부터 상기 측정보드에서 전기적 정상범위를 벗어난 전기적 오류 부품이 있으면 전기적 오류 부품임을 출력하는 전기적 오류 출력 단계; 및An electrical error output step of outputting an electrical error component if there is an electrical error component out of an electrical normal range in the measurement board from a result of the electrical characteristic inspection step; And 상기 전기적 오류 부품을 수리하는 수리 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는, 회로보드 테스트 방법. A repair step of repairing the electrical fault component. 제6항에 있어서, The method of claim 6, 상기 단락검사 단계의 검사결과, 상기 측정보드가 전원부단락검사에 통과하지 못하면, 기 설정된 전압의 최대 인가시간 지연설정에 따라 전원부오류 메시지를 출력하고 종료하는 전원부오류 출력단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는, 회로보드 테스트 방법. And a power failure error output step of outputting and terminating a power failure error message according to a preset maximum time delay setting of a predetermined voltage if the measurement board does not pass the power failure test. Circuit board test method. 제6항에 있어서, The method of claim 6, 상기 온도검사 단계는, 상기 부품별 온도계산단계의 계산결과를 상기 부품의 열적 정상범위에 대한 데이터와 비교함으로써 수행되는 것을 특징으로 하는, 회로보드 테스트 방법.The temperature inspection step, characterized in that performed by comparing the calculation result of the temperature calculation step for each part with the data for the thermal normal range of the part, the circuit board test method. 제6항에 있어서, The method of claim 6, 상기 전기 특성 검사 단계는, 상기 부품별 전기적 출력신호를 상기 부품의 전기적 정상범위에 대한 데이터와 비교함으로써 수행되는 것을 특징으로 하는, 회로보드 테스트 방법.The electrical property checking step, characterized in that performed by comparing the electrical output signal for each component with the data for the electrical normal range of the component. 적외선 카메라를 이용하여 측정보드의 열 영상을 획득하고, 열적 불량 부품의 리스트를 획득하는 열적 검사 단계;A thermal inspection step of acquiring a thermal image of the measurement board using an infrared camera and obtaining a list of thermal defective parts; 플라잉 프로브를 이용하여 상기 열적 불량 부품들 중 전기적 불량 부품의 리스트를 획득하는 전기적 검사 단계; 및An electrical inspection step of obtaining a list of electrical failure parts among the thermal failure parts by using a flying probe; And 상기 전기적 불량 부품을 수리하는 수리단계를 포함하는 것을 특징으로 하는, 회로보드 테스트 방법.And repairing the defective electrical part. 제10항에 있어서, The method of claim 10, 상기 수리단계 이후에, 적외선 카메라를 이용하여 상기 측정보드의 열 영상을 획득하여 최종적으로 양불량 여부를 판단하는 재점검단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는, 회로보드 테스트 방법.After the repairing step, the circuit board test method, characterized in that further comprising a re-check step of finally determining whether or not to obtain a thermal image of the measuring board using an infrared camera.
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