KR20090046918A - 주변 기기 장치, 주변 기기 장치의 집적 회로, 및 주변 기기 장치의 불량 해석 방법 - Google Patents

주변 기기 장치, 주변 기기 장치의 집적 회로, 및 주변 기기 장치의 불량 해석 방법 Download PDF

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KR20090046918A
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Abstract

본 발명의 주변 기기 장치는, 인터페이스 케이블(3)을 통해서 컴퓨터(200)와 접속되고, 주변 기기 장치(100)와 그 집적 회로(400)의 평가 프로그램(22)을 기억하는 제 2 기억 장치(13)와, 컴퓨터(200)로부터 송신되는, 모드 지시 신호가 테스트 모드를 나타내는 것인지, 통상 모드를 나타내는 것인지를 검출하는 검출부(10)와, 모드 지시 신호가 테스트 모드를 나타내는 것을 검출부(10)가 검출하면, 제 2 기억 장치(13)상의 평가 프로그램(22)을 기동하는 기동 수단(15)을 구비하는 것을 특징으로 한다. 이에 따라, 주변 기기 장치에 집적 회로를 실장한 상태로, 주변 기기 장치와 그 집적 회로를 불량 해석할 수 있는, 주변 기기 장치와 그 집적 회로, 및 주변 기기 장치의 불량 해석 방법을 제공할 수 있다.

Description

주변 기기 장치, 주변 기기 장치의 집적 회로, 및 주변 기기 장치의 불량 해석 방법{PERIPHERAL DEVICE, INTEGRATED CIRCUIT FOR PERIPHERAL DEVICE AND METHOD FOR ANALYZING FAILURE OF PERIPHERAL DEVICE}
본 발명은, 컴퓨터에 접속되는 주변 기기 장치와, 주변 기기 장치에 설치되는 집적 회로와, 주변 기기 장치의 불량 해석 방법에 관한 것이다.
최근, 퍼스널 컴퓨터에 접속되는 주변 기기 장치나 주변 기기 장치에 탑재되어 있는 부품수의 삭감에 따라, LSI의 대규모 집적화가 진행되어, 주변 기기 장치나 주변 기기 장치에 탑재되는 시스템 LSI의 검사나 불량 해석이 어려워지고 있다.
주변 기기 장치로서, 예컨대, 광 디스크 장치를 검사하는 방법의 예로서, 테스트 디스크를 재생하여 검사 대상이 되는 광 디스크 장치로부터 정보를 취득하는 방법이 있다(예컨대, 특허 문헌 1 참조).
또한, 주변 기기 장치에 실장되는 실장 기판의 검사 방법의 예로서, 프린트 기판상에 실장된 부품의 위치가 어긋나는 등의 실장 불량을, 레이저 광으로 전면 주사하여, 프린트 기판으로부터 반사되는 산란광을 이용하여 검출하는 방법이 있 다(예컨대, 특허 문헌 2 참조).
또한, 주변 기기 장치에 실장되는 기판 실장 메모리의 검사 방법의 예로서, 시스템 제어 마이크로 컴퓨터가, 복호용 LSI에 대하여, 선택기를 통하여, 검사기에 의한 검사 제어 실행으로의 선택 전환 지령을 행하는 것만으로, 검사기에 의해, 기판 실장 메모리의 검사를 행하는 방법이 있다(예컨대, 특허 문헌 3 참조).
종래의 주변 기기 장치 및 주변 기기 장치의 불량 해석 방법에 대하여, 광 디스크 장치 및 광 디스크 장치의 불량 해석 방법을 예로 들어 설명한다.
이하, 종래의 광 디스크 장치 및 광 디스크 장치의 불량 해석 방법에 대하여 도 29, 30을 이용하여 설명한다.
도 29는 종래의 광 디스크 장치의 구성도이다. 도 29에 있어서, 광 디스크 장치인 주변 기기 장치(1)는, 인터페이스 케이블(2816)을 통해서 컴퓨터(2)와 접속한다. 인터페이스 케이블(2816)로서는, 예컨대, ATA 케이블이나 USB, IEEE1394, Serial ATA, SCSI 등을 들 수 있다.
주변 기기 장치(1)는, 주변 기기 장치의 집적 회로(4)와, 시스템 제어 마이크로 컴퓨터용 펌웨어가 저장되어 있는 플래시 ROM(Flash ROM)(5)과, 디스크(2825)를 회전시키는 스핀들 모터(2824)와, 스핀들 모터(2824)를 구동하는 드라이버(6)와, 디스크(2825)에 레이저 광을 출사하여, 그 반사광을 수광하는 광 픽업(2826)과, 광 픽업(2826)의 레이저 광을 제어하는 레이저 다이오드 드라이버(LDD)(7)와, 광 픽업(2826)으로부터의 광 신호를 전기 신호(디지털 신호)로 변환하는 광 전자 집적 회로인 OEIC(optical Integrated Circuit)(8)와, OEIC(8)로부터의 신호를 전 처리하여, 집적 회로(4)에 출력하는 FEP(Front End Processor)(9)를 구비한다.
집적 회로(4)는, 구체적으로는 주변 기기 장치의 시스템 LSI이며, ROM인 제 1 기억 장치(12)와, 디스크(2825)로부터의 입출력 데이터와, 컴퓨터(2)로부터의 입출력 데이터를 일시적으로 저장하여 두는 버퍼 RAM인 제 2 기억 장치(DRAM)(13)와, 시스템 제어 마이크로 컴퓨터(14)와, CPU(17)와, FEP(9)로부터의 신호를 처리하는 디지털 리드 채널 회로(DRC)(2801)와, 아날로그 회로(2802)와, 드라이버(6)를 제어하는 서보 회로(2803)와, 호스트 회로(또는, ATAPI 회로)(2804)와, 오류 정정 회로(ECC)(2805)와, 호스트 회로(2804)와 컴퓨터(2)와 접속하는 커넥터 사이에 실장되어 있는 댐핑 저항(2806)을 구비한다.
또, 경로(2807, 2808, 2810, 2811, 2812, 2813)는 집적 회로(4)의 내부의 전용 회로끼리를 연결하는 것이다. 또한, 경로(2809)는 플래시 ROM(5)과 시스템 제어 마이크로 컴퓨터(14)를 연결하는 것이며, 경로(2817, 2818, 2819, 2820, 2821, 2822, 2823)는, 집적 회로(4)와 그 외부의 부품을 연결하는 것이며, 디스크계의 처리, 다시 말해, 디스크로부터의 데이터 입출력시에 제어되는 경로이다. 또한, 경로(2815, 2816)는, 집적 회로(4)와 그 외부 부품을 연결하는 것이며, 호스트계의 처리, 다시 말해, 컴퓨터(2)와 주변 기기 장치(1) 사이에서의 데이터 입출력시에 제어되는 경로이다.
이상과 같이 구성되는 주변 기기 장치(1)를 검사하는 경우, 컴퓨터(2)상에서 검사 툴(2901)을 사용하여, 컴퓨터(2)로부터 커맨드를 발행하여 주변 기기 장치(1)를 제어하고, 주변 기기 장치(1)로부터의 커맨드 발행에 대하여 컴퓨터(2)가 주변 기기 장치(1)로부터 수신하는 전송 데이터나 스테이터스 응답에 의해, 주변 기기 장치(1)를 검사한다. 여기서의 커맨드란, ATA/ATAPI 규격서에 기술되어 있는 커맨드 코드와 파라미터 표 중, 제품의 통상의 기능을 실현하기 위해 설치된 Write계 또는 Read계 등의 커맨드를 나타낸다.
도 30은 광 디스크 장치인 주변 기기 장치(1)의 불량 해석 장치의 도면이다. 도 29에 나타내는 주변 기기 장치와 같은 구성 요소에 대해서는, 동일 부호를 붙이고, 설명을 생략한다.
도 30에 있어서, 불량 해석 장치는, 광 디스크 장치(1)의 검사에서 불량을 판정했을 때, 컴퓨터(2)와 광 디스크 장치(1) 사이에 접속되어 있는 ATA 버스의 신호를 해석하는 ATA 버스 모니터(304)로 컴퓨터(2)와 광 디스크 장치(1) 사이에서 송수신되고 있는 신호를 해석한다. 또한, 광 디스크 장치(1)를 제어하고 있는 시스템 제어 마이크로 컴퓨터(14)의 펌웨어를 디버거(302)에 의해 디버깅하기 위해, 광 디스크 장치(1)는, 디버거(302)용의 커넥터(303)를 실장한다. 이 때문에 광 디스크 장치(1)의 실장 기판에 커넥터(303)를 부착하는 가공이 필요해진다. 또한, 광 디스크 장치(1)의 실장 기판에 실장되어 있는 부품의 단자에 프로브(305)를 대어 로직 애널라이저(또는 오실로스코프)(301)로 신호를 해석한다. 그러나, 이러한 방법으로는, 광 디스크 장치(1)에 실장되어 있는 집적 회로(LSI)(4)의 내부 동작까지 확인하기에는 한계가 있어, 불량을 판정했을 때, 광 디스크 장치의 문제인지, LSI의 문제인지를 확인하는 것이 곤란하다. 이 때문에, 다음에 나타내는 검사 흐름에 따라 불량 해석을 행하고 있다.
도 31은, 종래의, 광 디스크 장치의 검사에서 불량이 있다고 판정했을 때의 불량 해석 흐름도이다. 하기의 흐름의 설명에 있어서, 드라이브란 광 디스크 장치를 나타내고, LSI란 집적 회로를 나타낸다.
단계 S3101 : 컴퓨터(2)상에서 검사 툴을 이용하여 드라이브 검사를 행한다.
단계 S3102 : 단계 S3101에서의 드라이브 검사의 결과가 OK인지 NG인지를 판정한다.
단계 S3103 : 단계 S3102에서의 검사 결과가 OK이면 드라이브가 OK의 상태라 판정한다.
단계 S3104 : 단계 S3102에서, 드라이브 불량이라고 판정한 경우, 실장 기판을 검사한다. 예컨대, 프린트 기판상에 실장된 부품의 위치가 어긋나는 등의 실장 불량을, 레이저 광으로 전면 주사하여, 프린트 기판으로부터 반사되는 산란광을 이용하여 검출한다(예컨대, 특허 문헌 2 참조).
단계 S3105 : 단계 S3104에서의 실장 기판의 검사 결과가 OK인지 NG인지를 판정한다.
단계 S3106 : 단계 S3105에서의 실장 기판의 검사 결과가 OK라고 판정된 경우, 광 디스크 장치로부터 검사 대상인 집적 회로(LSI)를 떼어, 양품으로 미리 판정된 LSI를 광 디스크 장치에 바꿔 달고, 다시 드라이브 검사를 행한다.
단계 S3107 : 단계 S3105에서의 실장 기판의 검사 결과가 NG라고 판정된 경우, 실장 불량의 장소를 특정하여, 부품을 재실장한다.
단계 S3108 : 단계 S3106에서의 드라이브 검사의 결과가 OK인지 NG인지를 판 정한다.
단계 S3109 : 단계 S3108에서 드라이브 검사의 결과가 NG라고 판정된 경우, 드라이브의 NG로 단정하고, 양품으로 미리 판정된 드라이브에 검사 대상 LSI를 실장하여 드라이브 검사를 행한다.
단계 S3110 : 단계 S3109에서의 드라이브 검사의 결과가 OK인지 NG인지를 판정한다.
단계 S3111 : 단계 S3110에서 드라이브 검사의 결과가 OK라고 판정된 경우, 드라이브가 NG의 상태였다고 판정한다.
단계 S3112 : 단계 S3108에서 드라이브 검사의 결과가 OK라고 판정된 경우, 또는, 단계 S3110에서 드라이브 검사의 결과가 NG라고 판정된 경우, 검사 대상 LSI가 NG라고 단정하고, LSI를 떼어, LSI 평가 보드, 테스터로 LSI 검사를 행한다.
단계 S3113 : 단계 S3112에서의 LSI 검사의 결과가 OK인지 NG인지를 판정한다.
단계 S3114 : 단계 S3113에서 LSI 검사의 결과가 NG라고 판정된 경우, LSI가 NG라고 판정한다.
단계 S3115 : 단계 S3113에서 LSI 검사의 결과가 OK라고 판정된 경우, 드라이브와 LSI의 접속 불량이라고 판정하고, 재실장을 행하여, 드라이브를 재검사한다.
다음으로, 종래의 광 디스크 장치의 구체적인 불량 해석 방법으로서, (E1) 불량 원인이 LSI의 외부에 있는 경우, (E2) 불량 원인이 LSI 내부에 있는 경우, (E3) 불량 원인이 광 디스크 장치와 LSI의 접속부에 있는 경우에 대하여, 도 31을 이용하여 설명한다.
(E1) 불량 원인이 LSI의 외부에 있는 경우
E101 : 단계 S3101에서, 컴퓨터(2)상에서 검사 툴을 이용하여 드라이브 검사를 행한다.
E102 : 단계 S3102에서, 드라이브 검사의 결과가 OK인지 NG인지를 판정한다. 그 결과, NG라고 판정하고, 단계 S3104로 처리를 이행한다.
E103 : 단계 S3104에서 실장 기판의 검사를 행한다.
E104 : 단계 S3105에서 실장 기판의 검사 결과가 OK인지 NG인지를 판정한다. 그 결과, OK라고 판정한다.
E105 : 단계 S3106에서, 광 디스크 장치로부터 검사 대상인 LSI를 떼어, 양품으로 미리 판정된 LSI를 광 디스크 장치에 바꿔 달고, 다시 드라이브 검사를 행한다.
E106 : 단계 S3108에서, 드라이브 검사의 결과가 OK인지 NG인지를 판정한다. 그 결과, NG라고 판정한다.
E107 : 단계 S3108에서의 드라이브 검사의 결과가 NG라고 판정되므로, 단계 S3109에서, 드라이브의 NG로 단정하여 양품 드라이브에 검사 대상 LSI를 실장하여 드라이브 검사를 행한다.
E108 : 단계 S3110에서 드라이브 검사의 결과가 OK라고 판정한다.
E109 : 단계 S3111에서 드라이브가 NG라고 판정하고, 드라이브의 실장 기판 을 해석한다.
(E2) 불량 원인이 LSI 내부에 있는 경우
E110 : 단계 S3101에서, 컴퓨터(2)상에서 검사 툴을 이용하여 드라이브 검사를 행한다.
E111 : 단계 S3102에서, 단계 S3101에서의 드라이브 검사의 결과가 NG라고 판정하고, 단계 S3104로 처리를 이행한다.
E112 : 단계 S3102에서 드라이브의 불량이라고 판정되므로, 단계 S3104에서 실장 기판을 검사한다. 예컨대, 프린트 기판상에 실장된 부품의 위치가 어긋나는 등의 실장 불량을, 레이저 광으로 전면 주사하여, 프린트 기판으로부터 반사되는 산란광을 이용하여 검출한다(예컨대, 특허 문헌 2 참조).
E113 : 단계 S3105에서, 단계 S3104에서의 실장 기판의 검사 결과가 OK라고 판정한다.
E114 : 단계 S3105에서 실장 검사의 검사 결과가 OK라고 판정되므로, 단계 S3106에서, 광 디스크 장치로부터 검사 대상인 LSI를 떼어, 양품으로 미리 판정된 LSI를 광 디스크 장치에 바꿔 달고 드라이브 검사를 행한다.
E115 : 단계 S3108에서, 단계 S3106에서의 드라이브 검사의 결과가 OK라고 판정하고, 단계 S3112로 처리를 이행한다.
E116 : 단계 S3108에서 드라이브 검사의 결과가 OK라고 판정되므로, 단계 S3112에서, 검사 대상 LSI가 NG라고 단정하고, LSI를 떼어, 도 32에 나타내는 LSI 평가 보드, 테스터로 LSI 검사를 행한다.
E117 : 단계 S3113에서, 단계 S3112에서의 LSI 검사를 NG라고 판정한다.
E118 : 단계 S3114에서 LSI가 NG라고 판정한다.
(E3) 불량 원인이 LSI와의 접속부에 있는 경우
E120 : 단계 S3101에서, 컴퓨터(2)상에서 검사 툴을 이용하여 드라이브의 검사를 행한다.
E121 : 단계 S3102에서, 단계 S3101에서의 드라이브 검사의 결과를 NG라고 판정하고, 단계 S3104로 처리를 이행한다.
E122 : 단계 S3104에서, 단계 S3102에서, 드라이브가 불량이라고 판정되므로 실장 기판을 검사한다. 예컨대, 프린트 기판상에 실장된 부품의 위치가 어긋나는 등의 실장 불량을, 레이저 광으로 전면 주사하여, 프린트 기판으로부터 반사되는 산란광을 이용하여 검출한다(예컨대, 특허 문헌 2 참조).
E123 : 단계 S3105에서, 단계 S3104에서의 실장 기판의 검사 결과가 OK라고 판정한다.
E124 : 단계 S3105에서 실장 기판의 결과가 OK라고 판정되므로, 단계 S3106에서, 광 디스크 장치로부터 검사 대상인 LSI를 떼어, 양품으로 미리 판정한 LSI를 광 디스크 장치에 바꿔 달고, 다시 드라이브 검사를 행한다.
E125 : 단계 S3108에서, 단계 S3106에서의 드라이브 검사의 결과가 OK라고 판정하고, 단계 S3112로 처리를 이행한다.
E126 : 단계 S3108에서 드라이브 검사의 결과가 OK라고 판정되므로, 단계 S3112에서, 검사 대상 LSI가 NG로 단정하고, LSI를 떼어, 도 32에 나타내는 LSI 평 가 보드, 테스터로 LSI 검사를 행한다.
E127 : 단계 S3113에서, 단계 S3112에서의 LSI 검사를 OK라고 판정한다.
E128 : 단계 S3115에서, LSI가 OK라고 판정하고, 드라이브와 LSI의 접속 불량이라고 판정하여, 재실장을 행하고, 드라이브를 재검사한다.
다음으로, LSI를 평가하는 LSI 평가 보드와, LSI의 불량 해석 방법에 대하여 도 32를 이용하여 설명한다. 도 29에 나타내는 광 디스크 장치와 같은 구성 요소에 대해서는, 동일 부호를 붙이고, 설명을 생략한다.
도 32는, LSI 평가 보드(320)의 일 구성예를 나타내는 도면이고, LSI 평가 보드(320)는, 평가 대상인 집적 회로(LSI)(4)와, 가상 호스트 메모리(321)와, 가상 디스크 메모리(322)와, 가상 시스템 컴퓨터 메모리(323)로 이루어진다. 가상 호스트 메모리(321)는, 주변 기기 장치에 접속하는 컴퓨터(2)와 같은 동작을 시킬 수 있도록 회로를 실장한 FPGA(Field Programmable Gate Array) 메모리이다. 가상 디스크 메모리(322)는, 디스크에 대하여 데이터를 읽고 쓰도록 회로를 실장한 FPGA 메모리이다. 가상 시스템 컴퓨터 메모리(323)는, 가상 디스크 메모리(322)와 가상 호스트 메모리(321)를 제어하고, 또한, 시스템 제어 마이크로 컴퓨터(14)를 제어하기 위한 프로그램을 저장하여 두는 메모리를 포함하여, 평가 대상인 LSI를 제어한다. 각각 가상 호스트 메모리(321), 가상 디스크 메모리(322), 가상 시스템 컴퓨터 메모리(323)는 평가 대상인 LSI와 접속되어 있다. 이 LSI 평가 보드(320)에 의해, CPU(17), DRC(2801), 아날로그 회로(2802), 서보 회로(2803), 제 2 기억 장치(13), 호스트 회로(2804), ECC(2805), 시스템 제어 마이크로 컴퓨터(시스템 컴퓨 터)(14), 및 경로(2807, 2808, 2810, 2811, 2812, 2813, 2827)를, 검사, 평가할 수 있다.
(특허 문헌 1) 일본 특허 공개 제 2002-216437 호 공보
(특허 문헌 2) 일본 특허 공개 평 2-114156 호 공보
(특허 문헌 3) 일본 특허 공개 제 2002-252332 호 공보
(발명이 해결하고자 하는 과제)
종래의 광 디스크 장치의 불량 해석 방법에서는, 집적 회로(LSI)의 검사나, 광 디스크 장치(드라이브)의 재검사를 행할 때에, 광 디스크 장치의 LSI를 바꿔 다는 작업이 발생한다(도 31의 단계 S3106, 단계 S3109). 이 때문에, LSI를 실장 기판으로부터 떼어, 실장 기판에 남은 땜납을 빨아들이고, 새로운 LSI를 납땜질하는 작업이 필요해진다. 이 작업은 통상 수작업으로 행해지므로, 작업 불량이 발생하기 쉽다. 또한, 다핀화에 대응한 FBGA(Fine pitch Ball Grid Array Package) 등의 LSI의 경우, 그 형상 때문에 바꿔 다는 작업이 곤란하다.
또한, 실장 기판의 검사를 행할 때(도 31의 단계 S3104), 예컨대, 특허 문헌 2의 방법을 채용하여, 프린트 기판상에 실장된 부품의 위치가 어긋나는 등의 실장 불량을, 레이저 광으로 전면 주사하여, 프린트 기판으로부터 반사되는 산란광을 이용하여 검출하지만, 이 방법으로는, 실장 부품 자체의 불량을 자동 검사로 예측, 발견할 수 없다고 하는 과제가 있다.
또한, 광 디스크 장치의 불량 해석을 행하는 경우, 예컨대, 특허 문헌 3에 나타내는 기판 실장 메모리 검사 장치를 채용하면, 시스템 제어 마이크로 컴퓨터와 복호용 LSI가 광 디스크 장치의 기판에 실장되므로, 컴퓨터(2)로부터 선택기를 제어할 수 없어, 광 디스크 장치의 불량인지 LSI의 불량인지를 확인하는 것이 불가능하여, 광 디스크 장치로부터 LSI를 떼는 공정이 필요해진다.
또한, 종래의 광 디스크 장치의 불량 해석 방법에서는, 상술한 바와 같이, 불량 원인이 광 디스크 장치와 LSI의 접속부에 있는 경우(E3), LSI를 떼어, LSI 평가 보드(321)로 검사를 행하고(E126), 그 후, LSI 검사를 OK라고 판정하므로(E127), 그 후의 단계에서 불량 부분을 특정할 수 없다. 따라서, LSI를 재실장하여 드라이브 재검사를 행할 필요가 있어, 처리 단계수가 늘어나게 된다.
본 발명은, 이상과 같은 문제점을 해결하기 위해, 주변 기기 장치에 집적 회로를 실장한 상태로, 주변 기기 장치와 그 집적 회로를 불량 해석할 수 있는, 주변 기기 장치, 주변 기기 장치의 집적 회로, 및 주변 기기 장치의 불량 해석 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.
(과제를 해결하기 위한 수단)
본 발명은, 인터페이스를 통해서 컴퓨터에 접속되는 주변 기기 장치에 있어서, 상기 컴퓨터로부터 출력되는, 상기 주변 기기 장치가 통상 모드로 동작하는 것인지, 테스트 모드로 동작하는 것인지를 나타내는 모드 지시 신호를 입력하여, 상기 모드 지시 신호가 통상 모드를 나타내는 것인지, 테스트 모드를 나타내는 것인지를 검출하는 검출부와, 상기 주변 기기 장치가 통상 모드에서 실행하는 프로그램을 저장하는 제 1 기억부와, 상기 컴퓨터로부터 송신되는 상기 주변 기기 장치, 및 상기 주변 기기 장치의 집적 회로에 대한 평가 프로그램을 저장하는 제 2 기억부와, 상기 통상 모드인 것을 상기 검출부가 검출했을 때에는, 상기 제 1 기억부상의 프로그램을 기동하고, 상기 테스트 모드인 것을 상기 검출부가 검출했을 때에는, 상기 제 2 기억부상의 상기 주변 기기 장치, 및 상기 주변 기기 장치의 집적 회로에 대한 평가 프로그램을 기동하는 기동 수단을 구비하는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명은, 인터페이스를 통해서 컴퓨터에 접속되는 주변 기기 장치에 있어서, 상기 컴퓨터로부터 출력되는 커맨드를 수신하는 커맨드 수신부와, 상기 주변 기기 장치가 통상 모드에서 실행하는 프로그램을 저장하는 제 1 기억부와, 상기 컴퓨터로부터 송신되는 상기 주변 기기 장치, 및 상기 주변 기기 장치의 집적 회로에 대한 평가 프로그램을 저장하는 제 2 기억부와, 상기 커맨드 수신부가 통상 커맨드를 수신했을 때에는, 상기 제 1 기억부상의 프로그램을 기동하고, 상기 커맨드 수신부가, 테스트 모드인 것을 나타내는 테스트 커맨드를 수신했을 때에는, 상기 제 2 기억부상의 상기 주변 기기 장치, 및 상기 주변 기기 장치의 집적 회로에 대한 평가 프로그램을 기동하는 기동 수단을 구비하는 것을 특징으로 한다.
본 발명은, 상기 테스트 모드인 것을 상기 검출부가 검출했을 때, 상기 컴퓨터로부터 상기 주변 기기 장치, 및 상기 주변 기기 장치의 집적 회로에 대한 평가 프로그램을 수신하여, 상기 제 2 기억부에 전송하는 전송 수단을 구비하는 것을 특징으로 한다.
본 발명은, 상기 모드 지시 신호가, ATA 인터페이스 버스의 신호인 것을 특징으로 한다.
본 발명은, 상기 커맨드 수신부가 테스트 커맨드를 수신했을 때, 상기 컴퓨터로부터 상기 주변 기기 장치, 및 상기 주변 기기 장치의 집적 회로에 대한 평가 프로그램을 수신하여, 상기 제 2 기억부에 전송하는 전송 수단을 구비하는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명은, 인터페이스를 통해서 컴퓨터에 접속되는 주변 기기 장치의 집적 회로에 있어서, 상기 컴퓨터로부터 출력되는, 상기 주변 기기 장치가 통상 모드로 동작하는 것인지, 테스트 모드로 동작하는 것인지를 나타내는 모드 지시 신호를 입력하여, 상기 모드 지시 신호가 통상 모드인 것인지, 테스트 모드인 것인지를 검출하는 검출부와, 상기 주변 기기 장치가 통상 모드에서 실행하는 프로그램을 저장하는 제 1 기억부와, 상기 컴퓨터로부터 송신되는 상기 주변 기기 장치, 및 상기 주변 기기 장치의 집적 회로에 대한 평가 프로그램을 저장하는 제 2 기억부와, 상기 통상 모드인 것을 상기 검출부가 검출했을 때에는, 상기 제 1 기억부상의 프로그램을 기동하고, 상기 테스트 모드인 것을 상기 검출부가 검출했을 때에는, 상기 제 2 기억부상의 상기 주변 기기 장치, 및 상기 주변 기기 장치의 집적 회로에 대한 평가 프로그램을 기동하는 기동 수단을 구비하는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명은, 인터페이스를 통해서 컴퓨터에 접속되는 주변 기기 장치의 집적 회로에 있어서, 상기 컴퓨터로부터의 커맨드를 수신하는 커맨드 수신부와, 상기 주변 기기 장치가 통상 모드에서 실행하는 프로그램을 저장하는 제 1 기억부와, 상기 컴퓨터로부터 송신되는 상기 주변 기기 장치, 및 상기 주변 기기 장치의 집적 회로에 대한 평가 프로그램을 저장하는 제 2 기억부와, 상기 커맨드 수신부가 통상 커맨드를 수신했을 때에는, 상기 제 1 기억부상의 프로그램을 기동하고, 상기 커맨드 수신부가, 테스트 모드인 것을 나타내는 테스트 커맨드를 수신했을 때에는, 상기 제 2 기억부상의 상기 주변 기기 장치, 및 상기 주변 기기 장치의 집적 회로에 대한 평가 프로그램을 기동하는 기동 수단을 구비하는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명은, 상기 테스트 모드인 것을 상기 검출부가 검출하면, 상기 컴퓨터로부터 상기 주변 기기 장치, 및 상기 주변 기기 장치의 집적 회로에 대한 평가 프로그램을 수신하여, 상기 제 2 기억부에 전송하는 전송 수단을 구비하는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명은, 상기 커맨드 수신 수단이 상기 테스트 커맨드를 수신했을 때, 상기 컴퓨터로부터 상기 주변 기기 장치, 및 상기 주변 기기 장치의 집적 회로에 대한 평가 프로그램을 수신하여, 상기 제 2 기억부에 전송하는 전송 수단을 구비하는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명은, 주변 기기 장치, 및 상기 주변 기기 장치의 집적 회로의 불량 해석을 행하는 불량 해석 장치에 있어서, 상기 주변 기기 장치, 및 상기 주변 기기 장치의 집적 회로에 대한 평가 프로그램을 상기 주변 기기 장치에 전송하는 제 1 전송 수단과, 상기 주변 기기 장치가 통상 모드로 동작하는 것인지, 테스트 모드로 동작하는 것인지를 나타내는 모드 지시 신호를 상기 주변 기기 장치에 출력하는 모드 구동 수단과, 상기 평가 프로그램에 의한 상기 주변 기기 장치 및 상기 집적 회로의 평가 결과를 판정하는 판정 수단을 갖는 컴퓨터를 구비하되, 상기 주변 기기 장치가, 상기 컴퓨터로부터 출력되는 상기 모드 지시 신호를 입력하여, 상기 모드 지시 신호가 통상 모드인 것인지, 테스트 모드인 것인지를 검출하는 검출부와, 상기 주변 기기 장치가 통상 모드에서 실행하는 프로그램을 저장하는 제 1 기억부와, 상기 컴퓨터로부터 송신되는 상기 주변 기기 장치, 및 상기 주변 기기 장치의 집적 회로에 대한 평가 프로그램을 저장하는 제 2 기억부와, 상기 테스트 모드인 것을 상기 검출부가 검출했을 때에는, 상기 컴퓨터로부터 상기 주변 기기 장치, 및 상기 주변 기기 장치의 집적 회로에 대한 평가 프로그램을 수신하여, 상기 제 2 기억부에 전송하는 제 2 전송 수단과, 상기 통상 모드인 것을 상기 검출부가 검출했을 때에는, 상기 제 1 기억부상의 프로그램을 기동하고, 상기 테스트 모드인 것을 상기 검출부가 검출했을 때에는, 상기 제 2 기억부상의 상기 주변 기기 장치, 및 상기 주변 기기 장치의 집적 회로에 대한 평가 프로그램을 기동하는 기동 수단과, 상기 평가 프로그램에 의한 상기 주변 기기 장치와 상기 집적 회로의 평가 결과를 상기 컴퓨터에 통지하는 통지 수단을 갖고, 상기 컴퓨터의 판정 수단이, 상기 주변 기기 장치와 상기 집적 회로의 평가 결과를 수신하면, 상기 컴퓨터의 평가 프로그램을 기동하고, 상기 평가 결과에 근거하여 상기 주변 기기 장치와 상기 집적 회로의 상태를 판정하는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명은, 주변 기기 장치, 및 상기 주변 기기 장치의 집적 회로의 불량 해석을 행하는 불량 해석 장치에 있어서, 상기 주변 기기 장치, 및 상기 주변 기기 장치의 집적 회로에 대한 평가 프로그램을 상기 주변 기기 장치에 전송하는 제 1 전송 수단과, 커맨드를 상기 주변 기기 장치에 출력하는 커맨드 발행 수단과, 상기 평가 프로그램에 의한 상기 주변 기기 장치 및 상기 집적 회로의 평가 결과를 판정하는 판정 수단을 갖는 컴퓨터를 구비하되, 상기 주변 기기 장치가, 상기 컴퓨터로부터 출력되는 상기 커맨드를 수신하는 커맨드 수신부와, 상기 주변 기기 장치가 통상 모드에서 실행하는 프로그램을 저장하는 제 1 기억부와, 상기 컴퓨터로부터 송신되는 상기 주변 기기 장치, 및 상기 주변 기기 장치의 집적 회로에 대한 평가 프로그램을 저장하는 제 2 기억부와, 상기 커맨드 수신부가 테스트 모드인 것을 나타내는 테스트 커맨드를 수신했을 때, 상기 컴퓨터로부터 상기 주변 기기 장치, 및 상기 주변 기기 장치의 집적 회로에 대한 평가 프로그램을 수신하여, 상기 제 2 기억부에 전송하는 제 2 전송 수단과, 상기 커맨드 수신부가 통상 커맨드를 수신했을 때에는, 상기 제 1 기억부상의 프로그램을 기동하고, 상기 커맨드 수신부가, 상기 테스트 커맨드를 수신했을 때에는, 상기 제 2 기억부상의 상기 주변 기기 장치, 및 상기 주변 기기 장치의 집적 회로에 대한 평가 프로그램을 기동하는 기동 수단을 갖고, 상기 컴퓨터의 판정 수단은, 상기 주변 기기 장치와 상기 집적 회로의 평가 결과를 수신하면, 상기 컴퓨터의 평가 프로그램을 기동하고, 상기 평가 결과에 근거하여 상기 주변 기기 장치와 상기 집적 회로의 상태를 판정하는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명은, 인터페이스를 통해서 컴퓨터에 접속되는 주변 기기 장치, 및 상기 주변 기기 장치의 집적 회로의 불량 해석을 행하는 불량 해석 방법에 있어서, 상기 인터페이스를 통해서 상기 컴퓨터로부터 상기 주변 기기 장치에, 상기 주변 기기 장치가 통상 모드로 동작하는 것인지, 테스트 모드로 동작하는 것인지를 나타내는 모드 지시 신호를 송신하는 송신 단계와, 상기 주변 기기 장치, 및 상기 주변 기기 장치의 집적 회로에 대한 평가 프로그램을 상기 컴퓨터로부터 상기 주변 기기 장치에 전송하는 전송 단계와, 상기 모드 지시 신호가 통상 모드를 나타내는 것인지 테스트 모드를 나타내는 것인지를 검출하는 검출 단계와, 상기 주변 기기 장치에서 상기 평가 프로그램을 수신하는 수신 단계와, 상기 모드 지시 신호가 테스트 모드를 나타내는 것이 상기 검출 단계에서 검출되었을 때, 상기 주변 기기 장치를 테스트 모드로 이행하는 모드 이행 단계와, 상기 테스트 모드로 이행하면, 상기 주변 기기 장치에서 실행중인 프로그램을 리셋하고, 상기 주변 기기 장치, 및 상기 주변 기기 장치의 집적 회로에 대한 평가 프로그램을 기동하는 기동 단계와, 상기 주변 기기 장치, 및 상기 주변 기기 장치의 집적 회로에 대한 평가 프로그램에 의해 상기 주변 기기 장치 및 상기 집적 회로를 평가하는 평가 단계와, 상기 평가 단계에 의한 평가 결과를 상기 주변 기기 장치로부터 상기 컴퓨터에 통지하는 통지 단계와, 상기 컴퓨터가 상기 평가 결과를 상기 주변 기기 장치로부터 수신하지 않았을 때에는, 상기 컴퓨터와 상기 주변 기기 장치의 접속 에러라고 판정하고, 상기 컴퓨터가 상기 평가 결과를 상기 주변 기기 장치로부터 수신했을 때에는, 상기 컴퓨터의 평가 프로그램을 기동하고, 상기 평가 결과에 근거하여 상기 주변 기기 장치와 상기 집적 회로의 상태를 판정하는 판정 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명은, 상기 전송 단계가, 상기 송신 단계에 의해 상기 테스트 모드를 나타내는 모드 지시 신호가 송신된 후, 상기 주변 기기 장치, 및 상기 주변 기기 장치의 집적 회로에 대한 평가 프로그램을 상기 컴퓨터로부터 상기 주변 기기 장치에 전송하여, 상기 수신 단계가, 상기 모드 지시 신호가 테스트 모드를 나타내는 것이 상기 검출 단계에서 검출되었을 때, 상기 컴퓨터로부터 송신되는 상기 주변 기기 장치, 및 상기 주변 기기 장치의 집적 회로에 대한 평가 프로그램을 수신하고, 상기 모드 이행 단계가, 상기 주변 기기 장치, 및 상기 주변 기기 장치의 집적 회로에 대한 평가 프로그램의 수신이 종료되면, 상기 주변 기기 장치를 테스트 모드로 이행하는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명은, 상기 송신 단계가, 상기 전송 단계에 의한 상기 주변 기기 장치, 및 상기 주변 기기 장치의 집적 회로에 대한 평가 프로그램의 전송이 종료된 후, 상기 테스트 모드를 나타내는 모드 지시 신호를 상기 컴퓨터로부터 상기 주변 기기 장치에 송신하고, 상기 모드 이행 단계가, 상기 모드 지시 신호가 테스트 모드를 나타내는 것이 상기 검출 단계에서 검출되었을 때, 상기 주변 기기 장치를 테스트 모드로 이행하는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명은, 상기 평가 프로그램이, 상기 집적 회로의 상태를 평가하는 집적 회로 평가 프로그램과, 상기 주변 기기 장치의 상태를 평가하는 주변 기기 장치 평가 프로그램을 포함하고, 상기 평가 단계가, 상기 집적 회로 평가 프로그램에 의해, 상기 집적 회로가 양품인지 여부를 판정하는 집적 회로 평가 단계와, 상기 집적 회로 평가 단계에서 상기 집적 회로가 양품이라고 판정되었을 때, 상기 주변 기기 장치 평가 프로그램에 의해 상기 주변 기기 장치가 양품인지 여부를 판정하는 주변 기기 장치 평가 단계와, 상기 주변 기기 장치 평가 단계에서 상기 주변 기기 장치가 불량이라고 판정되었을 때, 상기 주변 기기 장치의 실장 검사를 행하는 실장 검사 단계와, 상기 실장 검사 단계에서 실장 불량이라고 판정되었을 때, 상기 주변 기기 장치의 실장 불량 부분을 특정하는 특정 단계와, 상기 실장 검사 단계에서 양품이라고 판정되었을 때, 상기 주변 기기 장치의 실장 불량 부분을 특정하는 평가 프로그램을 작성하는 작성 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명은, 상기 주변 기기 장치 평가 프로그램이, 상기 주변 기기 장치와 상기 집적 회로 사이의 경로를 평가하는 평가 프로그램을 포함하는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명은, 인터페이스를 통해서 컴퓨터에 접속되는 주변 기기 장치, 및 상기 주변 기기 장치의 집적 회로의 불량 해석을 행하는 불량 해석 방법에 있어서, 상기 컴퓨터로부터 상기 주변 기기 장치에 대하여 테스트 커맨드를 발행하는 커맨드 발행 단계와, 상기 주변 기기 장치에서 상기 커맨드를 수신하는 커맨드 수신 단계와, 상기 주변 기기 장치, 및 상기 주변 기기 장치의 집적 회로에 대한 평가 프로그램을 상기 컴퓨터로부터 상기 주변 기기 장치에 전송하는 전송 단계와, 상기 주변 기기 장치에서 상기 주변 기기 장치, 및 상기 주변 기기 장치의 집적 회로에 대한 평가 프로그램을 수신하는 프로그램 수신 단계와, 상기 커맨드 수신 단계에서 테스트 모드인 것을 나타내는 테스트 커맨드를 수신했을 때, 상기 주변 기기 장치에서 실행중인 프로그램을 리셋하고, 상기 주변 기기 장치, 및 상기 주변 기기 장치의 집적 회로에 대한 평가 프로그램을 기동하는 기동 단계와, 상기 평가 프로그램에 의해 상기 주변 기기 장치 및 상기 집적 회로를 평가하는 평가 단계와, 상기 평가 단계에 의한 평가 결과를 상기 주변 기기 장치로부터 상기 컴퓨터에 통지하는 통지 단계와, 상기 컴퓨터가 상기 평가 결과를 상기 주변 기기 장치로부터 수신하지 않았을 때에는, 상기 컴퓨터와 상기 주변 기기 장치의 접속 에러라고 판정하고, 상기 컴퓨터가 상기 평가 결과를 상기 주변 기기 장치로부터 수신했을 때에는, 상기 컴퓨터의 평가 프로그램을 기동하고, 상기 평가 결과에 근거하여 상기 집적 기기 장치 및 상기 집적 회로의 상태를 판정하는 판정 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명은, 상기 전송 단계가, 상기 커맨드 발행 단계에서 테스트 커맨드가 발행된 후에, 상기 주변 기기 장치, 및 상기 주변 기기 장치의 집적 회로에 대한 평가 프로그램을 상기 컴퓨터로부터 상기 주변 기기 장치에 전송하고, 상기 프로그램 수신 단계가, 상기 커맨드 수신 단계에서 테스트 커맨드가 수신되면, 상기 주변 기기 장치, 및 상기 주변 기기 장치의 집적 회로에 대한 평가 프로그램을 수신하고, 상기 테스트 모드 이행 단계가, 상기 주변 기기 장치, 및 상기 주변 기기 장치의 집적 회로에 대한 평가 프로그램의 수신이 완료되면, 상기 주변 기기 장치를 테스트 모드로 이행하는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명은, 상기 커맨드 발행 단계가, 상기 전송 단계에서 상기 주변 기기 장치, 및 상기 주변 기기 장치의 집적 회로에 대한 평가 프로그램이 상기 컴퓨터로부터 상기 주변 기기 장치에 전송된 후, 상기 테스트 커맨드를 발행하고, 상기 모드 이행 단계가, 상기 커맨드 수신 단계에서 상기 테스트 커맨드가 수신되면, 상기 주변 기기 장치를 테스트 모드로 이행하는 것을 특징으로 한다.
(발명의 효과)
본 발명에 의하면, 주변 기기 장치의 불량 해석에 있어서, 테스트 모드시에, 컴퓨터로부터 송신되어, 상기 주변 기기 장치의 제 2 기억부에 저장된 평가 프로그램을 기동하고, 상기 주변 기기 장치의 평가 프로그램에 의해 상기 주변 기기 장치를 평가하여, 집적 회로의 평가 프로그램에 의해 상기 주변 기기 장치의 집적 회로를 평가하므로, 상기 주변 기기 장치를 상기 집적 회로로부터 떼는 공정을 마련하는 일 없이, 상기 집적 회로와 상기 주변 기기 장치를 접속한 상태로, 상기 집적 회로와 상기 주변 기기 장치를 평가할 수 있다. 그 결과, 상기 주변 기기 장치에 대하여 상기 집적 회로를 바꿔 다는 공정에서 생기는 작업 불량을 줄일 수 있다.
또한, 본 발명에 의하면, 상기 주변 기기 장치의 실장 부품에 불량이 존재하는 경우에, 상기 주변 기기 장치의 평가 프로그램에 의해, 상기 주변 기기 장치의 불량을 판정할 수 있으므로, 불량 부분이 주변 기기 장치에 존재하는 것인지, 집적 회로에 존재하는 것인지를 예측할 수 있고, 그 결과, 불량 부분의 범위를 좁히는 것이 가능해진다.
또한, 본 발명에 의하면, 테스트 모드시에, 컴퓨터로부터 주변 기기 장치에 주변 기기 장치와 그 집적 회로의 평가 프로그램이 송신되어, 상기 집적 회로의 평가 프로그램에 의해 상기 집적 회로가 양품인지 여부를 판정하고, 상기 집적 회로가 양품이라고 판정되었을 때에는, 상기 주변 기기 장치의 평가 프로그램에 의해 상기 주변 기기 장치가 양품인지 여부를 판정하여, 불량이라고 판정되었을 때에는, 상기 주변 기기 장치의 실장 검사를 행하고, 상기 실장 검사에서 불량이라고 판정되었을 때에는 실장 불량 부분을 특정하고, 상기 실장 검사에서 양품이라고 판정되었을 때에는 실장 불량 부분을 특정하는 평가 프로그램을 작성하여, 그 평가 프로그램에 의해, 상기 주변 기기 장치와 상기 집적 회로를 재평가하므로, 상기 주변 기기 장치를 상기 집적 회로로부터 떼는 공정을 마련하는 일 없이, 상기 집적 회로와 상기 주변 기기 장치를 평가할 수 있다. 그 결과, 상기 컴퓨터와 상기 주변 기기 장치를 접속한 상태로, 상기 주변 기기 장치와 그 집적 회로의 불량 해석을 행할 수 있다. 또한, 상기 주변 기기 장치와 상기 집적 회로를 재검사하는 경우에도, 상기 주변 기기 장치를 상기 집적 회로로부터 떼는 공정을 마련하는 일 없이, 새로운 평가 프로그램에 의해, 재검사를 행할 수 있다.
또한, 본 발명에 의하면, 주변 기기 장치를 평가하기 위한 주변 기기 장치 평가 프로그램은, 상기 주변 기기 장치와 상기 집적 회로 사이의 경로를 평가하는 평가 프로그램을 포함하므로, 상기 주변 기기 장치와 상기 집적 회로의 접속부에 불량이 존재하는 경우에는, 상기 주변 기기 장치 평가 프로그램에 의해 주변 기기 장치의 불량이라고 판정하고, 그 후, 실장 검사를 하여, 실장 불량이라고 판정할 수 있으므로, 상기 주변 기기 장치와 상기 집적 회로의 접속부에 불량이 존재하는 경우에도, 상기 주변 기기 장치에 대하여 집적 회로를 바꿔 다는 공정을 마련하는 일 없이, 상기 주변 기기 장치와 그 집적 회로를 불량 해석할 수 있다.
도 1은, 본 발명의 실시예 1에 따른 주변 기기 장치와 그 집적 회로, 및 주변 기기 장치에 접속되는 컴퓨터의 구성예를 나타내는 도면,
도 2는, 본 발명의 실시예 2에 따른 주변 기기 장치와 그 집적 회로, 및 주변 기기 장치에 접속되는 컴퓨터의 구성예를 나타내는 도면,
도 3은, 본 발명의 실시예 1에 따른 주변 기기 장치의 불량 해석 방법을 설명하기 위한 흐름도,
도 4는, 본 발명의 실시예 1에 따른 주변 기기 장치의 불량 해석 방법에 있어서의 제 1 주변 기기 장치 평가 루틴을 설명하기 위한 흐름도,
도 5는, 본 발명의 실시예 1에 따른 주변 기기 장치의 불량 해석 방법에 있어서의 제 2 주변 기기 장치 평가 루틴을 설명하기 위한 흐름도,
도 6은, 본 발명의 실시예 2에 따른 주변 기기 장치의 불량 해석 방법을 설명하기 위한 흐름도,
도 7은, 본 발명의 실시예 2에 따른 주변 기기 장치의 불량 해석 방법에 있어서의 제 1 주변 기기 평가 루틴을 설명하기 위한 흐름도,
도 8은, 본 발명의 실시예 2에 따른 주변 기기 장치의 불량 해석 방법에 있어서의 제 2 주변 기기 평가 루틴을 설명하기 위한 흐름도,
도 9는, 본 발명의 실시예 1에 따른 주변 기기 장치와 컴퓨터의 접속 상태와, 주변 기기 장치의 집적 회로 내의 CPU와, 제 1 기억 장치 및 제 2 기억 장치의 접속 상태를 나타내는 도면,
도 10은, 본 발명의 실시예 1에 따른 주변 기기 장치의 디코더의 동작을 설명하기 위한 도면,
도 11은, 본 발명의 실시예 1에 따른 주변 기기 장치의 디코더의 동작을 설명하기 위한 도면,
도 12는, 본 발명의 실시예 1에 따른 주변 기기 장치의 CPU에 의해 액세스되는 어드레스 맵을 나타내는 도면,
도 13은, 본 발명의 실시예 1에 따른 주변 기기 장치의 불량 해석 방법에 있어서 이용되는 LSI 평가 프로그램의 도면,
도 14(a)는, 본 발명의 실시예 1에 따른 주변 기기 장치의 불량 해석 방법에 있어서 이용되는 드라이브 평가 프로그램(디스크계)의 흐름도이며, 도 14(b)는, 본 발명의 실시예 1에 따른 주변 기기 장치의 불량 해석 방법에 있어서 이용되는 드라이브 평가 프로그램(호스트계)의 흐름도,
도 15는, 도 13에 나타내는 기능 평가 프로그램의 흐름도,
도 16은, 본 발명의 실시예 1에 따른 주변 기기 장치의 집적 회로의 어드레스 맵을 나타내는 도면,
도 17은, 도 13에 나타내는 기능 평가 프로그램이 동작한 결과로 얻어지는 기능 평가 결과를 나타내는 도면,
도 18은, 본 실시예 1에 따른 주변 기기 장치의 집적 회로의 LSI 스테이터스 레지스터의 방법을 나타내는 도면,
도 19는, 도 13에 나타내는 Flash ROM 평가 프로그램의 흐름도,
도 20은, 도 13에 나타내는 버퍼 RAM 평가 프로그램의 흐름도,
도 21은, 본 발명의 실시예 1에 있어서, 컴퓨터로부터 액세스할 수 있는 주변 기기 장치의 집적 회로의 ATA 레지스터의 어드레스 할당을 나타내는 도면,
도 22는, 본 발명의 실시예 1에 따른 주변 기기 장치의 시스템 제어 마이크로 컴퓨터로부터 액세스할 수 있는 ATA 레지스터의 어드레스 할당 도면,
도 23은, 본 발명의 실시예 1에 따른 불량 해석 방법에 있어서, ATA/ATAPI 프로토콜상의 평가 결과를 나타내는 도면,
도 24는, 본 발명의 실시예 1에 따른 불량 해석 방법의 흐름도,
도 25는, 본 발명의 실시예 1에 따른 불량 해석 방법에 있어서, 불량 원인이 집적 회로(LSI)의 외부에 있는 경우의 스테이터스 레지스터의 값을 나타내는 도면,
도 26은, 본 발명의 실시예 1에 따른 불량 해석 방법에 있어서, 불량 원인이 집적 회로(LSI)의 내부에 있는 경우의 스테이터스 레지스터의 값을 나타내는 도면,
도 27은, 본 발명의 실시예 1에 따른 불량 해석 방법에 있어서, 불량 원인이 집적 회로(LSI) 내의 각 회로 사이의 접속부에 있는 경우의 스테이터스 레지스터의 값을 나타내는 도면,
도 28은, 본 발명의 실시예 1에 따른 주변 기기 장치 내의 평가 경로를 나타내는 도면,
도 29는, 종래의 광 디스크 장치의 구성도,
도 30은, 종래의, 광 디스크 장치의 불량 해석 장치의 구성예를 나타내는 도면,
도 31은, 종래의, 광 디스크 장치의 불량 해석 방법의 흐름도,
도 32는, 종래의 광 디스크 장치의 LSI 평가 보드의 구성예를 나타내는 도면,
도 33은, 본 발명의 실시예 2에 따른 주변 기기 장치의 불량 해석 방법을 설명하기 위한 도면이다.
도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명
1, 100, 100a : 주변 기기 장치 2, 200, 200a : 컴퓨터
3 : 인터페이스 케이블 4, 400, 400a : 집적 회로
5 : Flash ROM 6 : 드라이버
7 : LDD 8 : OEIC
9 : FEP 10 : 검출부
11 : 제어 회로 12 : 제 1 기억 장치
13 : 제 2 기억 장치 14 : 시스템 제어 마이크로 컴퓨터
15, 15a : 기동 수단 16 : 제 1 전송 수단
17 : CPU 18 : 제 1 어드레스 변환 수단
19 : 송신 수단 20 : 모드 구동 수단
21 : 제 2 전송 수단 22 : 평가 프로그램
23 : 판정 수단 24 : 신호선
25 : 테스트 커맨드 발행 수단 26 : 커맨드 수신부
27 : 제 2 어드레스 변환 수단 28 : 컨트롤러
29 : ATAPI 회로 30 : 디코더
31 : 모드 전환 회로 32 : 어드레스 버스
33 : 데이터 버스 34 : 테스트 모드 신호
35 : 제어 신호선 36 : IOCS 신호선
37 : 어드레스 버스 38 : 데이터 버스
39 : 제어 신호 40 : IOCS16 신호
41 : 칩 셀렉트 신호 42 : 어드레스 신호
43 : 데이터 신호 101, 2825 : 광 디스크
102, 2824 : 스핀들 모터 103, 2826 : 광 픽업
301 : 로직 애널라이저 302 : 디버거
303 : 커넥터 304 : ATA 버스 모니터
305 : 프로브 320 : LSI 평가 보드
321 : 가상 호스트 메모리 322 : 가상 디스크 메모리
323 : 가상 시스템 컴퓨터 메모리 2801 : DRC
2802 : 아날로그 회로 2803 : 서보 회로
2804 : 호스트 회로 2805 : ECC
2806 : 댐핑 저항 2807~2824 : 경로
2901 : 검사 툴
본 발명의 실시예에 대하여, 도면을 참조하여 설명한다.
(실시예 1)
도 1은, 본 발명의 실시예 1에 따른 주변 기기 장치, 그 집적 회로, 및 주변 기기 장치에 접속하는 컴퓨터의 일 구성예를 나타내는 도면이다. 도 29에 나타내는 주변 기기 장치 및 집적 회로와 동일한 구성 요소에 대해서는, 동일 부호를 붙이고, 그 설명을 생략한다.
도 1에서는, 주변 기기 장치(100)와 컴퓨터(200)가 인터페이스 케이블(3)에 의해 접속되어 있다. 여기서, 인터페이스 케이블(3)은, 구체적으로는 ATA/ATAPI, SCSI, USB, IEEE1394 등의 인터페이스 케이블을 나타낸다. 인터페이스 케이블(3)은 1가닥 이상의 신호선으로 구성되어 있고, 그 중 1가닥은, 주변 기기 장치(100)가 테스트 모드로 동작하는 것인지, 테스트 모드로 동작하는 것인지를 나타내는 모드 지시 신호의 송신용의 신호선(24)이다.
또한, 주변 기기 장치(100)로서는, DVD 플레이어/디코더, CD 플레이어/디코더 등의 광 디스크 장치, 하드 디스크, 프린터, 디지털 비디오 카메라, 디지털 카메라, 스캐너 등을 들 수 있다. 여기서는, 주변 기기 장치(100)로서 광 디스크 장치를 예로 들어 설명한다.
우선, 주변 기기 장치(100)의 구성에 대하여 설명한다.
주변 기기 장치(100)는, 주변 기기 장치(100)를 제어하는 집적 회로(400)와 주변 기기 장치(100)를 제어하기 위한 펌웨어를 저장하고 있는 Flash ROM(5)을 구 비한다. 또한, 주변 기기 장치(100)가 광 디스크 장치인 경우, 주변 기기 장치(100)는, 디스크(2825)를 회전시키는 스핀들 모터(2824)와, 스핀들 모터(2824)를 구동하는 드라이버(6)와, 디스크(2825)에 레이저 광을 출사하고, 그 반사광을 수광하는 광 픽업(2823)과, 광 픽업(2823)의 레이저 광을 제어하는 LDD(7)와, 광 픽업(2823)으로부터의 광 신호를 전기 신호(디지털 신호)로 변환하는 OEIC(8)와, OEIC(8)에서 변환된 디지털 신호의 전처리를 행하는 FEP(9)를 더 구비한다.
집적 회로(400)는, 검출부(10)와, 제어 회로(11)와, 제 1 기억 장치(12)와, 제 2 기억 장치(13)를 구비한다. 집적 회로(400)는 구체적으로는 CPU(17)와 주변회로를 포함한 시스템 LSI이다. 시스템 LSI에서는, 시스템 제어 마이크로 컴퓨터(14)가 내장되어 있는 경우도, 외부에 부착되어 있는 경우도 생각할 수 있다. 주변 기기 장치(100)가 광 디스크 장치인 경우, 집적 회로(400)는, DRC(2801)와, 아날로그 회로(2802)와, 서보 회로(2803)를 더 구비한다.
검출부(10)는, 인터페이스 케이블(3)의 신호선(24)을 통해서 컴퓨터(200)의 모드 구동 수단(20)으로부터 송신되는 모드 지시 신호가, 통상 모드를 나타내는 것인지, 테스트 모드를 나타내는 것인지를 검출한다.
제어 회로(11)는, 시스템 제어 마이크로 컴퓨터(14), 기동 수단(15), 제 1 전송 수단(16), CPU(17), 및 어드레스 변환 수단(18)을 구비하고, 집적 회로(400)를 제어한다.
제 1 기억 장치(12)는, 통상 모드의 프로그램을 기억하는 ROM 메모리이며, 집적 회로(400)를 제어하는 마이크로 코드 등이 기억되어 있다.
제 2 기억 장치(13)는, 제어 회로(11)를 경유하여 송수신되는 데이터를 1차 기억하여 두는 버퍼 RAM이며, 컴퓨터(200)로부터 송신되는 주변 기기 장치(100)와 집적 회로(400)의 평가 프로그램(22)을 기억한다.
시스템 제어 마이크로 컴퓨터(14)는, Flash ROM(5)에 저장되어 있는 펌웨어에 의해, 주변 기기 장치(100)의 집적 회로(400)나 주변 IC를 제어한다. 예컨대, 주변 기기 장치(100)가 광 디스크 장치인 경우, 광 디스크 장치의 집적 회로(400), 드라이버(6), LDD(7), 및 FEP(9)를 제어한다.
기동 수단(15)은, 모드 지시 신호가 통상 모드를 나타낼 때에는, 제 1 기억 장치(12)상의 통상 프로그램을 기동한다. 한편, 컴퓨터(200)로부터 테스트 모드를 나타내는 모드 지시 신호가 송신되어, 집적 회로(400)가 테스트 모드로 이행할 때에는, 실행중인 프로그램을 리셋하고, 컴퓨터(200)로부터 송신된 제 2 기억 장치(13)상의 평가 프로그램(22)을 기동한다.
제 1 전송 수단(16)은, 평가 프로그램(22)을 컴퓨터(200)로부터 수신하여, 제 2 기억 장치(13)에 전송한다.
CPU(17)는, 집적 회로(400)를 제어하는 마이크로 코드를 실행하는 중앙 처리 장치이다.
제 1 어드레스 변환 수단(18)은, 검출부(10)가 테스트 모드인 것을 검출하면, CPU(17)로부터 기억 장치에 액세스하는 어드레스를 제 1 기억 장치(12)로부터 제 2 기억 장치(13)로 전환한다. 이에 따라, 통상 모드시에는, CPU(17)가 제 1 기억 장치(12)로부터 명령을 액세스하고 있었던 것이, 테스트 모드시에는, CPU(17)가 제 2 기억 장치(13)로부터 명령을 액세스하게 된다.
송신 수단(19)은, 검출부(10)에 포함되고, 컴퓨터(200)로부터 송신되는 모드 지시 신호가 테스트 모드를 나타내는 것이 검출되면, 테스트 모드를 나타내는 신호를 수신한 것을 나타내는 스테이터스를 컴퓨터(200)에 송신한다. 주변 기기 장치(100)로부터 컴퓨터(200)에 스테이터스를 송신하는 경우, 시스템 제어 마이크로 컴퓨터(14)가 도 22의 ASTA 레지스터에 값을 기입한다. 이에 따라, 컴퓨터(200)에 인터럽트가 발생하여, 컴퓨터(200)가 도 21에 나타내는 스테이터스 레지스터를 읽어들인다.
다음으로, 컴퓨터(200)의 구성에 대하여 설명한다.
컴퓨터(200)는, 모드 구동 수단(20)과, 제 2 전송 수단(21)과, 평가 프로그램(22)과, 판정 수단(23)을 구비한다.
모드 구동 수단(20)은, 주변 기기 장치(100)에 테스트 모드를 나타내는 모드 지시 신호를 송신하여, 주변 기기 장치(100)를 테스트 모드로 한다.
제 2 전송 수단(21)은, 테스트 모드시에, 주변 기기 장치(100)와 집적 회로(400)를 평가하기 위한 평가 프로그램(22)을 주변 기기 장치(100)에 전송한다.
판정 수단(23)은, 주변 기기 장치(100)로부터 스테이터스를 수신했을 때에는 평가 프로그램(22)을 기동하고, 스테이터스를 수신하지 않으면 접속 불량이라고 판정한다.
다음으로, 주변 기기 장치(100) 및 컴퓨터(200)에 의한 주변 기기 장치(100)와 집적 회로(400)의 불량 해석 방법에 대하여, 도 3의 흐름을 이용하여 설명한다.
단계 S1 : 컴퓨터(200)의 모드 구동 수단(20)이 테스트 모드를 나타내는 모드 지시 신호를 송신하여, 컴퓨터(200)가 스테이터스 수신의 대기 상태가 된다.
단계 S2 : 주변 기기 장치(100)의 검출부(10)가, 모드 지시 신호가 테스트 모드를 나타내는 것을 검출하여, 단계 S3으로 처리를 이행한다.
단계 S3 : 주변 기기 장치(100)의 송신 수단(19)이, 스테이터스를 컴퓨터(200)에 송신한다. 구체적으로는 도 22에 나타내는 ATAPI의 데이터 레지스터(ADAT 레지스터), 또는 스테이터스 레지스터(ASTA 레지스터)에 테스트 모드를 나타내는 모드 지시 신호의 수신을 나타내는 값을 기입한다.
단계 S4 : 컴퓨터(200)의 판정 수단(23)이, 주변 기기 장치(100)로부터 스테이터스를 수신했는지를 판정하여, 스테이터스를 수신하지 않으면 접속 불량이라고 판정한다.
단계 S5 : 판정 수단(23)은, 단계 S4에서, 스테이터스를 수신했다고 판정한 경우, 평가 프로그램(22)의 주변 기기 장치의 평가 루틴을 기동한다. 주변 기기 장치의 평가 루틴에 대해서는 후술한다.
단계 S6 : 컴퓨터(200)는, 주변 기기 장치의 평가 루틴을 기동하여, 평가 결과가 집적 회로(LSI) 불량을 나타내는 값을 주변 기기 장치(100)로부터 수신하면, LSI 에러라고 판정하고, 그렇지 않으면 양품이라고 판정한다.
다음으로, 도 3에 나타내는 주변 기기 장치의 평가 루틴의 상세에 대하여 설명한다. 실시예 1에서는, 주변 기기 장치의 평가 루틴은 다음 2가지이다.
도 4는, 주변 기기 장치(100)의 제 1 평가 루틴의 흐름도이다.
단계 S7 : 컴퓨터(200)의 모드 구동 수단(20)이, 테스트 모드를 나타내는 모드 지시 신호를 송신한다.
단계 S8 : 주변 기기 장치(100)의 검출부(10)가, 모드 지시 신호가 테스트 모드를 나타내는 것을 검출한다.
단계 S9 : 컴퓨터(200)의 제 2 전송 수단(21)이, 주변 기기 장치(100)에 데이터 전송 커맨드를 송신한다. 구체적으로는 ATA/ATAPI 커맨드의 Write계 커맨드를 송신한다.
단계 S10 : 주변 기기 장치(100)가 컴퓨터(200)로부터 송신된 데이터 전송 커맨드를 수신한다.
단계 S11 : 컴퓨터(200)의 제 2 전송 수단(21)이, 평가 프로그램(22)을 주변 기기 장치(100)에 전송한다.
단계 S12 : 주변 기기 장치(100)의 제 1 전송 수단(16)이 컴퓨터(200)로부터 송신된 평가 프로그램을 수신하여, 제 2 기억 장치(13)에 전송한다.
단계 S13 : 주변 기기 장치(100)가 컴퓨터(200)에 종료 스테이터스를 송신한다. 구체적으로는 주변 기기 장치(100)가 도 22에 나타낸 ASTA 레지스터에, 예컨대, 0x00이라는 값을 기입하고, 그것을 컴퓨터(200)는 도 21에 나타내는 스테이터스 레지스터로부터 판독한다.
단계 S14 : 컴퓨터(200)가 종료 스테이터스를 수신하여, 평가 결과 대기 상태로 이행한다.
단계 S15 : 주변 기기 장치(100)의 어드레스 변환 수단(18)이 테스트 모드로 이행한다. 이에 따라, CPU(17)가 액세스하는 어드레스를 제 1 기억 장치(12)로부터 제 2 기억 장치(13)로 전환한다.
단계 S16 : 주변 기기 장치(100)의 기동 수단(15)이, 실행중인 프로그램을 리셋하고, 평가 프로그램(22)을 기동한다.
단계 S17 : 평가 프로그램(22)에 의해 주변 기기 장치(100)와 집적 회로(400)의 상태를 평가하여, 송신 수단(19)이 평가 결과를 컴퓨터(200)에 송신한다.
단계 S18 : 컴퓨터(200)의 판정 수단(23)이 평가 결과를 수신했는지를 판정한다.
단계 S19 : 판정 수단(23)은, 단계 S18에서 평가 결과를 수신한 경우, 평가 프로그램을 기동하여 평가 결과를 판정한다.
이어서, 주변 기기 장치(100)의 제 2 평가 루틴에 대하여 설명한다. 도 5는, 주변 기기 장치의 제 2 평가 루틴의 흐름도이다.
단계 S20 : 컴퓨터(200)의 제 2 전송 수단(21)이, 주변 기기 장치(100)에 데이터 전송 커맨드를 송신한다. 구체적으로는 ATA/ATAPI 커맨드의 Write계 커맨드를 송신한다.
단계 S21 : 주변 기기 장치(100)가 컴퓨터(200)로부터 송신된 데이터 전송 커맨드를 수신한다.
단계 S22 : 컴퓨터(200)의 제 2 전송 수단(21)이, 평가 프로그램(22)을 주변 기기 장치(100)에 전송한다.
단계 S23 : 주변 기기 장치(100)의 제 1 전송 수단(16)이, 컴퓨터(200)로부터 송신된 평가 프로그램(22)을 수신하여, 제 2 기억 장치(13)에 전송한다.
단계 S24 : 주변 기기 장치(100)가 컴퓨터(200)에 종료 스테이터스를 송신한다.
단계 S25 : 컴퓨터(200)가 종료 스테이터스를 수신한다.
단계 S26 : 컴퓨터(200)의 모드 구동 수단(20)이, 테스트 모드를 나타내는 모드 지시 신호를 송신하고, 컴퓨터(200)는 평가 결과의 수신 대기 상태로 이행한다.
단계 S27 : 주변 기기 장치(100)의 검출부(10)가, 모드 지시 신호가 테스트 모드를 나타내는 것을 검출한다.
단계 S28 : 주변 기기 장치(100)의 어드레스 변환 수단(18)이 테스트 모드로 이행한다. 이에 따라, CPU(17)가 액세스하는 어드레스가 제 1 기억 장치(12)로부터 제 2 기억 장치(13)로 전환된다.
단계 S29 : 주변 기기 장치(100)의 기동 수단(15)이, 실행중인 프로그램을 리셋하고, 제 2 기억 장치(13)상의 평가 프로그램(22)을 기동시킨다.
단계 S30 : 평가 프로그램(22)이 주변 기기 장치(100)와 집적 회로(400)의 상태를 평가하고, 송신 수단(19)이 평가 결과를 컴퓨터(200)에 송신한다.
단계 S31 : 컴퓨터(200)의 판정 수단(23)이 평가 결과를 수신하여 판정한다.
단계 S32 : 판정 수단(23)은, 단계 S31에서 평가 결과가 수신된 경우, 평가 프로그램(22)을 기동하여 평가 결과를 판정한다.
다음으로, 모드 구동 수단(20)이, 테스트 모드를 나타내는 모드 지시 신호를 주변 기기 장치(100)에 송신하여, 주변 기기 장치(100)를 테스트 모드로 이행시키는 구체적인 방법에 대하여 도 9를 이용하여 설명한다.
도 9는, 주변 기기 장치(100)와 컴퓨터(200)의 접속 상태와, 집적 회로(400) 내의 CPU(17)와, 제 1 기억 장치(12) 및 제 2 기억 장치(13)의 접속 상태를 나타내는 도면이다. 도 9는, 주변 기기 장치(100)와 컴퓨터(200)가 ATA/ATAPI 버스로 접속되어 있는 경우의 예를 나타낸다.
도 9에 있어서, 컨트롤러(28)는, 컴퓨터(200) 또는 컨트롤러(200)의 호스트 컨트롤러이며, 주변 기기 장치(100)와 인터페이스 케이블(3)을 통해서 접속되어 있고, 주변 기기 장치(100)와의 사이에서 데이터의 송수신을 행한다.
주변 기기 장치(100)는 컨트롤러(28)와 ATA/ATAPI 버스로 접속되므로, 집적 회로(400)는, ATAPI(Attachment Packet Interface) 회로(29)를 갖는 검출부(10)와, 모드 전환 회로(31)를 구비한다. ATAPI 회로(29)는, 퍼스널 컴퓨터에 주변 기기를 접속하기 위한 데이터 전송 방식인 ATAPI 규격에 준한 회로이며, 디코더(30)를 갖는다. 디코더(30)는 컨트롤러(28)로부터 송신되는 제어 신호를 해석하여, 모드 전환 회로(31)를 제어한다. 디코더(30)는, 컨트롤러(28)로부터 송신되는 제어 신호를 해석하여, 모드 지시 신호가 테스트 모드를 나타내는 것을 검출하면, 테스트 모드 신호(34)를 ON 상태로 하여 출력한다. 모드 전환 회로(31)는, 디코더(30)로부터 출력된 테스트 모드 신호(34)가 ON 상태일 때, 어드레스 변환 수단(18)을 테스트 모드로 전환한다. 이에 따라, CPU(17)로부터 제 1 기억 장치(12)로의 액세스 가, CPU(17)로부터 제 2 기억 장치(13)로의 액세스로 전환된다. CPU(17)는, 제 1 기억 장치(12), 제 2 기억 장치(13), 또는 ATAPI 회로(29)에 액세스할 때에는, 어드레스 버스(32)를 통해서, 어드레스 신호를 출력한다. 또한, CPU(17)는, 제 1 기억 장치(12), 제 2 기억 장치(13), 또는 ATAPI 회로(29)의 사이에서 데이터를 입출력할 때에는, 데이터 버스(33)를 통해서 데이터 신호를 입출력한다.
컨트롤러(28)와 집적 회로(400)의 ATAPI 회로(29)란, 제어 신호선(35), IOCS(input-output control system) 신호선(36), 어드레스 버스(37), 데이터 버스(38)에 의해, 상호 접속된다.
제어 신호선(35)에 의해, 송수신되는 제어 신호(39)는, 예컨대, ATA 규격의 DIOW, DIOR, DMARQ, DMACK 등의 제어 신호이며, 데이터 송수신을 제어하기 위한 신호이다. IOCS 신호선(36)을 통해서 송수신되는 신호는, IOCS16 신호(40)이며, ATA-2 규격 이전에 사용되고 있었지만, 현재에는 폐지된 신호이다. 어드레스 버스(37)를 통해서 송수신되는 신호는, ATA 규격에서의 칩 셀렉트 신호(41)(CS[0:1](=CS0, CS1))와, ATA 규격에서의 어드레스 신호(42)(DA[0:2](=DA0, DA1, DA2))이다. 데이터 버스(38)는, ATA 규격에서의 8비트 또는 16비트의 데이터 버스 DD이다.
다음으로, 컨트롤러(28)와 디코더(30)의 구체적 동작에 대하여 설명한다.
컨트롤러(28)는 ATA/ATAPI 버스의 칩 셀렉트 신호(41)(CS0, CS1), 어드레스 신호(42)(DA0, DA1, DA2), 데이터 신호(43)(DD[0:15])를 송신하고, 디코더(30)가 이들 신호를 디코딩하여 테스트 모드 신호(34)를 ON 상태로 하여 모드 전환 회 로(31)에 출력한다.
디코더(30)가 테스트 모드 신호(34)를 ON 상태로 하는 방법에는 다음 3가지의 방법이 있다.
(예 1) 제 1 방법에서는, 도 10에 나타내는 바와 같이, ATA 규격의 ATA 레지스터에서 할당되어 있지 않은 비트를 이용한다. 예컨대, Device/Head 레지스터의 7비트째 obs는 폐지된 비트이므로, 이것을 이용하여, Device/Head 레지스터를 가리키는 칩 셀렉트 신호(41), 어드레스 신호(42)가 CS0=Low, CS1=High, DA0=Low, DA1=DA2=High이고, ATA의 Device/Head 레지스터의 7비트째에 0b1xxxxxxx가 쓰여졌을 때, DD7=1의 신호가 구동된 것을 디코딩하여, 테스트 모드 신호(34)를 ON 상태로 하여 모드 전환 회로(31)에 출력한다.
(예 2) 제 2 방법에서는, 도 11에 나타내는 바와 같이, ATA 규격의 ATA 레지스터의 어드레스 할당에서, 폐지 영역의 레지스터를 이용하여, CS0=Low, CS1=Low, DA0=DA1=DA2=High이고, ATA의 데이터 레지스터에 0x01이 쓰여졌을 때, DD0=1, DD1~DD15=0의 신호가 구동된 것을 디코딩하여, 테스트 모드 신호(34)를 ON 상태로 하여 모드 전환 회로(31)에 출력한다.
(예 3) 제 3 방법에서는, 도 9에 나타내는 ATA/ATAPI 버스의 IOCS16 신호(40)가 High일 때, 테스트 모드 신호(34)를 ON 상태로 하여 모드 전환 회로(31)에 출력한다.
이상과 같이, 디코더(30)가 테스트 모드 신호(34)를 ON 상태로 하면, 모드 전환 회로(31)가 제 1 어드레스 변환 수단(18)을 테스트 모드로 전환하여, CPU(17) 가 액세스하는 어드레스가, 제 1 기억 장치(12)로부터 제 2 기억 장치(13)로 전환된다.
이하, 이 어드레스의 전환 동작에 대하여 도 12를 이용하여 설명한다.
우선, 통상 모드시에는, 디코더(30)는 OFF 상태의 테스트 모드 신호(34)를 모드 전환 회로(31)에 출력하고, 이때의 CPU(17)로부터 액세스되는 어드레스 맵은 도 12(a)와 같이 된다. 도 12(a)에 있어서, 0x40000000번지는 제 1 기억 장치(12)에 배치되므로, CPU(17)는 0x40000000번지로부터 액세스하게 되고, CPU(17)는 제 1 기억 장치(12)상의 마이크로 코드를 기동한다.
다음으로, 테스트 모드시에는, 컴퓨터(200)의 제 2 전송 수단(21)으로부터 평가 프로그램(22)이 주변 기기 장치(100)에 송신되고, 송신된 평가 프로그램(22)은 집적 회로(400)의 제 1 전송 수단(16)에 의해 제 2 기억 장치(13)에 전송된다. 이때의 CPU(17)로부터 액세스되는 어드레스 맵은 도 12(b)와 같이 된다. 즉, 평가 프로그램(22)은 0x80000000번지의 선두에 배치되게 된다.
다음으로, 디코더(30)는 ON 상태의 테스트 모드 신호(34)를 모드 전환 회로(31)에 출력하고, 이때의 CPU(17)로부터 액세스되는 어드레스 맵은 도 12(c)와 같이 된다. 도 12(c)에 있어서, 0x40000000번지는 제 2 기억 장치(13)에 배치되므로, CPU(17)는 0x40000000번지로부터 액세스하게 되고, 미리 평가 프로그램(22)을 제 2 기억 장치(13)에 전송하여 둠으로써, CPU(17)는 제 2 기억 장치(13)상의 평가 프로그램(22)을 기동할 수 있다. 테스트 모드시에는, 이 평가 프로그램(22)이 기동하여, 주변 기기 장치(100)의 평가가 행해진다.
다음으로, 평가 프로그램(22)의 구체적인 동작에 대하여 설명한다.
평가 프로그램(22)에는, 도 13에 나타내는, 집적 회로(LSI)의 불량을 검증하는 LSI 평가 프로그램과, 도 14에 나타내는, 광 디스크 장치(드라이브)의 불량을 검증하는 드라이브 평가 프로그램이 있다.
우선, 도 13의 LSI 평가 프로그램에 대하여 설명한다.
LSI 평가 프로그램은, LSI의 개개의 기능을 평가하는 프로그램으로 구성되어 있고, DRC 기능 평가 프로그램(131), 아날로그 기능 평가 프로그램(132), 호스트 기능 평가 프로그램(133), ECC 기능 평가 프로그램(134), 서보 기능 평가 프로그램(135), 시스템 컴퓨터(시스템 제어 마이크로 컴퓨터) 기능 평가 프로그램(136), Flash ROM 기능 평가 프로그램(137), 버퍼 RAM 기능 평가 프로그램(138)을 포함한다.
이들 프로그램은 도 28에 나타내는 집적 회로(400)의 각 회로와 그 경로를 각각 평가하는 프로그램이다.
DRC 기능 평가 프로그램(131)은 DRC 회로(2801)와 경로(2807), 아날로그 기능 평가 프로그램(132)은 아날로그 회로(2802)와 경로(2808), 호스트 기능 평가 프로그램(133)은 호스트 회로(2804)와 경로(2813), ECC 기능 평가 프로그램(134)은 ECC 회로(2805)와 경로(2812), 서보 기능 평가 프로그램(135)은 서보 회로(2803)와 경로(2810), 시스템 컴퓨터 기능 평가 프로그램(136)은 시스템 제어 마이크로 컴퓨터(14)와 경로(2827), Flash ROM 기능 평가 프로그램(137)은 Flash ROM(5)과 경로(2809), 버퍼 RAM 기능 평가 프로그램(138)은 제 2 기억 장치(13)와 경로(2811) 를 평가하는 프로그램이다.
각각의 기능 평가 프로그램의 처리에 대하여 도 15에 나타내는 흐름을 이용하여 설명한다.
단계 S151 : 기동 레지스터를 설정한다.
단계 S152 : 기능이 정상 동작했는지 이상 동작했는지를 판정한다.
단계 S153 : 기능이 정상 동작했다면, OK 스테이터스를 결과 레지스터에 기입한다.
단계 S154 : 기능이 이상 동작했다면, NG 스테이터스를 결과 레지스터에 기입한다.
상술한 기입 동작에 대하여 도 16을 이용하여 설명한다.
도 16은, 주변 기기 장치의 집적 회로(400)의 어드레스 맵이다. 도 16 중, 0x40000000~오프셋 0xFFFF까지는 명령 ROM 영역인 것을 나타낸다. 0x80000000~오프셋 0xFFFFF까지는 버퍼 RAM 영역인 것을 나타낸다. 0x88000000으로부터는 레지스터 영역이며, 0x88000010은 시스템 컴퓨터 레지스터이고, 시스템 컴퓨터를 기동하기 위한 설정치가 0x10인 것을 나타낸다. 시스템 컴퓨터를 기동한 결과, 정상 동작하면, 시스템 컴퓨터 결과 레지스터에 0x10이 기입되고, 이상 동작하면, 시스템 컴퓨터 결과 레지스터에 0xFF가 기입된다. 0x88000020은 DRC 기동 레지스터이고, DRC를 기동하기 위한 설정치가 0x10인 것을 나타낸다. DRC를 기동한 결과, 정상 동작하면, DRC 결과 레지스터에 0x10이 기입되고, 이상 동작하면, DRC 결과 레지스터에 0xFF가 기입된다. 마찬가지로, 0x88000030은 아날로그 기동 레지스터이 고, 아날로그 회로를 기동하기 위한 설정치가 0x10인 것을 나타낸다. 아날로그 회로를 기동한 결과, 정상 동작하면, 아날로그 결과 레지스터에 0x10이 기입되고, 이상 동작하면, 아날로그 결과 레지스터에 0xFF가 기입된다. 서보 회로, 호스트 회로, ECC도 같다.
시스템 컴퓨터 기능 평가 프로그램 및 DRC 기능 평가 프로그램의 구체적인 처리에 대하여, 도 15의 흐름을 이용하여 설명한다. 또, 여기서 OK 스테이터스를 나타내는 값은 0x10, NG 스테이터스를 나타내는 값은 0xFF인 것으로 한다.
(1510) 단계 S151에서, 시스템 컴퓨터 레지스터 0x88000010에 0x10을 기입한다.
(1511) 단계 S152에서, 시스템 컴퓨터 기능이 정상 동작했는지, 이상 동작했는지 판정한다.
(1512) 단계 S152의 판정 결과가 정상 동작이면, 단계 S153에서, OK 스테이터스 0x10을 시스템 컴퓨터 결과 레지스터 0x88000018에 기입한다.
(1513) 단계 S152의 판정 결과가 이상 동작이면, 단계 S154에서 NG 스테이터스 0xFF를 시스템 컴퓨터 결과 레지스터 0x88000018에 기입한다. 마찬가지로, DRC 기능의 평가를 행하기 위해서는, 이하의 순서로 행한다.
(1521) 단계 S151에서, DRC 레지스터 0x88000010에 0x10을 기입한다.
(1522) 단계 S152에서, DRC 기능이 정상 동작했는지, 이상 동작했는지 판정한다.
(1523) 단계 S152의 판정 결과가 정상 동작이면, 단계 S153에서, OK 스테이 터스 0x10을 DRC 결과 레지스터 0x88000028에 기입한다.
(1524) 단계 S152의 판정 결과가 이상 동작이면, 단계 S154에서, NG 스테이터스 0xFF를 DRC 결과 레지스터 0x88000028에 기입한다.
아날로그 기능 평가 프로그램(132), 호스트 기능 평가 프로그램(133), ECC 기능 평가 프로그램(134), 서보 기능 평가 프로그램(135)도 마찬가지로, 도 16에 나타내는 어드레스 맵에 의해, 각각 아날로그 기동 레지스터, 호스트 기동 레지스터, ECC 기동 레지스터, 서보 기동 레지스터에 값을 설정하고, 각각의 기능이 정상 동작하면 값 0x10을, 이상 동작하면 값 0xFF를, 각각의 아날로그 결과 레지스터, 호스트 결과 레지스터, ECC 결과 레지스터, 서보 결과 레지스터에 기입한다.
이상의 각 기능 평가 프로그램이 동작한 결과, 도 17에 나타내는 바와 같이, 각 기능 결과가 저장된다. 도 17에 있어서는, DRC 결과 레지스터, 서보 결과 레지스터, ECC 결과 레지스터의 값이 0xff로 되어 있으므로 DRC 기능, 서보 기능, ECC 기능에 불량이 있다고 판정할 수 있다.
도 18은 0x88000078번지의 LSI 스테이터스 레지스터의 방법을 나타낸다. 레지스터의 비트 0의 값은 Flash ROM에 불량이 있으면 1, OK이면 0을 나타낸다. 비트 1의 값은 버퍼 RAM에 불량이 있으면 1, OK이면 0을 나타낸다. 비트 4의 값은 디스크계 경로에 불량이 있으면 1, OK이면 0을 나타낸다. 비트 5의 값은 호스트 경로에 불량이 있으면 1, OK이면 0을 나타낸다. 예컨대, 0x88000078번지의 LSI 스테이터스 레지스터의 값이 0x33이면 비트 0, 비트 1, 비트 4, 비트 5가 모두 1이므로 Flash ROM, 버퍼 RAM, 디스크계 경로, 호스트 경로에 불량이 있는 것을 나타낸 다.
다음으로, Flash ROM 평가 프로그램(137), 버퍼 RAM 평가 프로그램(138)의 동작에 대하여 도 19, 도 20을 이용하여 설명한다.
도 19는 Flash ROM 기능 평가 프로그램(137)의 처리 흐름도이다.
단계 S191 : Flash ROM의 선두로부터 최후까지 연속하여 데이터를 기입한다.
단계 S192 : Flash ROM의 선두로부터 최후까지 순차적으로, 데이터를 판독하고, 기대치 데이터와 비교하여, 판독한 데이터와 기대치 데이터가 일치하는지를 판정한다.
단계 S193 : 판독한 모든 데이터가 기대치 데이터와 일치하면 OK 스테이터스를 LSI 스테이터스 레지스터에 기입한다. 즉, 0x88000078번지의 LSI 스테이터스 레지스터의 비트 0에 0을 기입한다.
단계 S194 : 판독한 모든 데이터 중 하나라도 기대치 데이터와 불일치하면 NG 스테이터스를 LSI 스테이터스 레지스터에 기입한다. 즉, 0x88000078번지의 LSI 스테이터스 레지스터의 비트 0에 1을 기입한다.
도 20은 버퍼 RAM 평가 프로그램(138)의 처리 흐름도이다.
단계 S201 : 버퍼 RAM의 선두로부터 최후까지 연속하여 데이터를 기입한다.
단계 S202 : 버퍼 RAM의 선두로부터 최후까지 순차적으로, 데이터를 판독하고, 기대치 데이터와 비교하여, 판독한 데이터와 기대치 데이터가 일치하는지를 판정한다.
단계 S203 : 판독한 모든 데이터가 기대치 데이터와 일치하면 OK 스테이터스 를 LSI 스테이터스 레지스터에 기입한다. 즉, 0x88000078번지의 LSI 스테이터스 레지스터의 비트 1에 0을 기입한다.
단계 S204 : 판독한 모든 데이터 중 하나라도 기대치와 불일치하면 NG 스테이터스를 LSI 스테이터스 레지스터에 기입한다. 즉, 0x88000078번지의 LSI 스테이터스 레지스터의 비트 1에 1을 기입한다.
다음으로, 드라이브의 불량인지 여부를 검증하는 드라이브 평가 프로그램에 대하여 설명한다. 여기서, 드라이브 평가 프로그램이란, 주변 기기 장치(100)의 복수의 부품에 걸친 시스템 평가 프로그램이다.
도 14는 드라이브의 불량을 검증하는 드라이브 평가 프로그램의 처리 흐름도이다.
도 14(a)는, 디스크와 시스템 LSI 사이의 경로의 검증을 하는 디스크계의 드라이브 평가 프로그램이다.
드라이브 평가 프로그램에 의해 평가되는 경로에 대하여 도 28을 이용하여 설명한다.
도 28에 있어서, 디스크계 처리의 평가 프로그램은, 경로(2810)→서보 회로(2803)→경로(2817)→드라이버(6)→경로(2821)→스핀들 모터(2824)의 경로와, 경로(2808)→아날로그 회로(2802)→경로(2818)→LDD(7)→경로(2822)→광 픽업(2826)→경로(2823)→OEIC(8)→경로(2820)→FEP(9)→경로(2819)⇔DRC(2801)⇔경로(2807)를 평가한다.
이하, 처리 흐름에 대하여 설명한다.
단계 S1401 : 서보 기동 레지스터에 0x10을 설정함으로써 서보 기능을 기동한다.
단계 S1402 : 아날로그 기동 레지스터에 0x10을 설정함으로써 아날로그 기능을 기동한다.
단계 S1403 : DRC 기동 레지스터에 0x10을 설정함으로써 DRC 기능을 기동한다.
단계 S1404 : 서보 기능, 아날로그 기능, 및 DRC 기능이 기동됨으로써, 디스크(2825)로부터 데이터가 판독되어, 버퍼 RAM에 저장된다.
단계 S1405 : 버퍼 RAM에 저장된 데이터와 기대치 데이터를 비교한다.
단계 S1406 : 버퍼 RAM에 저장된 데이터와 기대치 데이터가 전부 일치하면 OK 스테이터스를 LSI 스테이터스 레지스터에 기입한다. 즉, 0x88000078번지의 LSI 스테이터스 레지스터의 비트 4에 0을 기입한다.
단계 S1407 : 버퍼 RAM에 저장된 데이터와 기대치 데이터를 비교하여 불일치 데이터가 존재하면, NG 스테이터스를 LSI 스테이터스 레지스터에 기입한다. 즉, 0x88000078번지의 LSI 스테이터스 레지스터의 비트 4에 1을 기입한다.
도 14(b)는 컴퓨터(200)와 시스템 LSI 사이의 경로의 검증을 하는 드라이브 평가 프로그램이다.
도 28에 있어서, 호스트계 처리의 평가 프로그램은, 경로(2813)⇔호스트 회로(2804)⇔경로(2815)⇔댐핑 저항(2806)⇔경로(2816)에 대하여 평가한다.
단계 S1411 : 호스트 기동 레지스터에 0x10을 설정함으로써 호스트 기능을 기동한다.
단계 S1412 : ATA/ATAPI 레지스터에 값을 설정함으로써, ATAPI 기능이 기동된다.
단계 S1413 : 호스트 기능 및 ATA/ATAPI 기능이 기동됨으로써 컴퓨터(200)로부터 데이터가 읽혀져, 버퍼 RAM(제 2 기억 장치(13))에 저장된다.
단계 S1414 : 버퍼 RAM(제 2 기억 장치(13))에 저장된 데이터와 기대치 데이터를 비교한다.
단계 S1415 : 버퍼 RAM(제 2 기억 장치(13))에 저장된 데이터와 기대치 데이터가 전부 일치하면, OK 스테이터스를 LSI 스테이터스 레지스터에 기입한다. 즉, 0x88000078번지의 LSI 스테이터스 레지스터의 비트 5에 0을 기입한다.
단계 S1416 : 버퍼 RAM(제 2 기억 장치(13))에 저장된 데이터와 기대치 데이터를 비교하여 불일치 데이터가 존재하면, NG 스테이터스를 스테이터스 레지스터에 기입한다. 즉, 0x88000078번지의 LSI 스테이터스 레지스터의 비트 5에 1을 기입한다.
이상과 같이, LSI 평가 프로그램과 드라이브 평가 프로그램을 동작시키면, 시스템 컴퓨터 결과 레지스터, DRC 결과 레지스터, 아날로그 결과 레지스터, 서보 결과 레지스터, 호스트 결과 레지스터, ECC 결과 레지스터, LSI 스테이터스 레지스터의 값은, 예컨대, 도 17, 도 18에 나타내는 바와 같이 된다.
도 21은 컴퓨터(200)로부터 액세스할 수 있는 ATA 레지스터의 어드레스 할당을 나타내는 도면이다. 도 22는 시스템 제어 마이크로 컴퓨터(14)로부터 액세스할 수 있는 ATA 레지스터의 어드레스 할당을 나타내는 도면이다. 예컨대, 컴퓨터(200)로부터 어드레스 0x1F0에 데이터를 기입한 값을, 시스템 제어 마이크로 컴퓨터(14)의 어드레스 0x800000c0의 ADAT 레지스터로부터 판독할 수 있다. 반대로, 시스템 제어 마이크로 컴퓨터(14)로부터 어드레스 0x800000c0의 ADAT 레지스터에 기입한 값을, 컴퓨터(200)의 DATA 레지스터(어드레스 0x1F0)로부터 판독할 수 있다.
마찬가지로, 컴퓨터(200)로부터 액세스할 수 있는 Feature 레지스터에 대하여, 시스템 제어 마이크로 컴퓨터(14)의 AFEA 레지스터, 컴퓨터(200)의 Error 레지스터에 대하여 시스템 제어 마이크로 컴퓨터(14)의 AERR 레지스터, 컴퓨터(200)의 InterruptReason/SectorCount 레지스터에 대하여 시스템 제어 마이크로 컴퓨터(14)의 AIRR 레지스터, 컴퓨터(200)의 SectorNumber 레지스터에 대하여 시스템 제어 마이크로 컴퓨터(14)의 ASN 레지스터, 컴퓨터(200)의 CylinderLow 레지스터에 대하여 시스템 제어 마이크로 컴퓨터(14)의 ACL 레지스터, 컴퓨터(200)의 CylinderHigh 레지스터에 대하여 시스템 제어 마이크로 컴퓨터(14)의 ACH 레지스터, 컴퓨터(200)의 Device/Head 레지스터에 대하여 시스템 제어 마이크로 컴퓨터(14)의 ADH 레지스터, 컴퓨터(200)의 Command 레지스터에 대하여 시스템 제어 마이크로 컴퓨터(14)의 ACOM 레지스터, 컴퓨터(200)의 Status 레지스터에 대하여 시스템 제어 마이크로 컴퓨터(14)의 ASTA 레지스터, 컴퓨터(200)의 DeviceControl 레지스터에 대하여 시스템 제어 마이크로 컴퓨터(14)의 ADC 레지스터, 컴퓨터(2)의 AlternateStatus 레지스터에 대하여 시스템 제어 마이크로 컴퓨터(14)의 ALTS 레지스터가 대응하고 있 다.
도 17에 나타낸 이들 레지스터의 값을, 순차적으로, 집적 회로(400)의 ATAPI 회로(29)의 ASTA 레지스터(0x880000C7번지)에 연속하여 기입한다. 그 결과, 컴퓨터(200)로부터 Status 레지스터를 연속하여 판독함으로써, 예컨대, ATA/ATAPI 프로토콜상의 평가 결과는 도 23의 (231)~(237)에 나타내는 바와 같이 된다. (231)은 시스템 컴퓨터의 평가 결과가 OK, (232)는 DRC의 평가 결과가 NG, (233)은 아날로그 회로의 평가 결과가 OK, (234)는 서보 회로의 평가 결과가 NG, (235)는 호스트 회로의 평가 결과가 OK, (236)은 ECC의 평가 결과가 NG, (237)은 디스크 경로가 OK인 것을 나타내고 있다.
도 24는, 불량을 판정했을 때의 불량 해석 흐름이다. 하기의 흐름의 설명에 있어서, 드라이브란 주변 기기 장치(광 디스크 장치)를 나타내고, LSI란 집적 회로를 나타낸다.
단계 S2401 : 컴퓨터(200)로부터 LSI 평가 프로그램을 주변 기기 장치(100)에 전송하여, LSI의 검사를 행한다.
단계 S2402 : 단계 S2401에서의 LSI 검사의 결과가 OK인지 NG인지를 판정한다.
단계 S2403 : 단계 S2402에서의 검사 결과가 NG이면, 검사 대상인 LSI가 NG라고 단정하고, LSI를 떼어 LSI 평가 보드, 테스터로 검사를 행한다.
단계 S2404 : 단계 S2402에서의 검사 결과가 OK이면, 컴퓨터(200)로부터 드라이브 평가 프로그램을 주변 기기 장치(100)에 전송하여, 드라이브 검사를 행한 다.
단계 S2405 : 단계 S2404에서의 드라이브 검사의 결과가 OK인지 NG인지를 판정한다.
단계 S2406 : 단계 S2404에서의 검사 결과가 드라이브 OK이면, 드라이브가 양품이라고 판정한다.
단계 S2407 : 단계 S2405에서의 검사 결과가 드라이브 NG이면, 실장 기판을 검사한다. 예컨대, 프린트 기판상에 실장된 부품의 위치가 어긋나는 등의 실장 불량을 레이저 광으로 전면 주사하여, 프린트 기판으로부터 반사되는 산란광을 이용하여 검출한다(예컨대, 특허 문헌 2 참조).
단계 S2408 : 단계 S2407에서의 실장 기판 검사의 결과가 OK인지 NG인지를 판정한다.
단계 S2409 : 단계 S2408에서 실장 기판 검사의 결과가 NG라고 판정된 경우, 실장 불량 부분을 특정하여, 부품을 재실장한다.
단계 S2410 : 단계 S2408에서 실장 기판 검사의 결과가 OK라고 판정된 경우, 드라이브 보드의 실장 부품에 불량이 없는지를 해석한다.
단계 S2411 : 단계 S2410에서의 해석 결과에 의해, 드라이브 보드에 불량이 있는지 여부를 판정한다.
단계 S2412 : 단계 S2411에서, 부품에 불량이 있다고 판정된 경우, 드라이브가 NG라고 판정한다.
단계 S2413 : 단계 S2411에서, 부품에 불량이 없다고 판정된 경우, 불량 부 분을 특정하는 평가 프로그램을 작성하여, 단계 S2401로 처리를 되돌려, 재평가를 행한다.
다음으로, 본 실시예 1에 따른 주변 기기 장치의 불량 해석 방법에 있어서, (E4) 불량 원인이 LSI의 외부에 있는 경우, (E5) 불량 원인이 LSI 내부에 있는 경우, (E6) 불량 원인이 LSI와의 접속부에 있는 경우의 구체적인 해석 방법에 대하여 도 24를 이용하여 설명한다.
(E4) 불량 원인이 LSI의 외부에 있는 경우
E401 : 단계 S2401에서, 컴퓨터(200)로부터 LSI 평가 프로그램을 주변 기기 장치(100)에 전송하여, LSI의 검사를 행한다.
E402 : 단계 S2402에서, LSI 검사의 결과가 OK인지 NG인지를 판정한다. 이때, 컴퓨터(200)로부터 읽어들인 Status 레지스터의 값은 도 25와 같이 된다. 여기서, 도 25의 위에서부터 (251)이 시스템 컴퓨터 결과 레지스터, (252)가 DRC 결과 레지스터, (253)이 아날로그 결과 레지스터, (254)가 서보 결과 레지스터, (255)가 호스트 결과 레지스터, (256)이 ECC 결과 레지스터이며, 전부 0x10으로 불량이 없음을 나타내고 있다. 따라서, 검사 결과를 OK라고 판정하여, 단계 S2404로 처리를 이행한다.
E403 : 단계 S2404에서, 컴퓨터(200)로부터 드라이브 평가 프로그램을 주변 기기 장치(100)에 전송하여, 드라이브 검사를 행한다.
E404 : 단계 S2405에서, 드라이브 검사의 결과가 OK인지 NG인지를 판정한다. 이때, 컴퓨터(200)로부터 판독한 Status 레지스터의 값은 도 25의 (257)과 같이 된 다. 도 25에 있어서, Status 레지스터의 값은 0xFF를 나타내고 있어, 디스크계 경로 불량을 나타내고 있다. 따라서, 검사 결과를 NG라고 판정하여, 단계 S2407로 처리를 이행한다.
E405 : 단계 S2405에서 드라이브가 NG라고 판정되므로, 단계 S2407에서, 실장 기판을 검사한다. 예컨대, 프린트 기판상에 실장된 부품의 위치가 어긋나는 등의 실장 불량을, 레이저 광으로 전면 주사하여, 프린트 기판으로부터 반사되는 산란광을 이용하여 검출한다(예컨대, 특허 문헌 2 참조).
E406 : 단계 S2408에서 실장 기판 검사의 결과가 OK인지 NG인지를 판정한다.
E407 : 단계 S2408에서 실장 기판 검사의 결과가 NG라고 판정된 경우, 단계 S2409에서, 실장 불량의 장소를 특정하여, 부품을 재실장한다.
E408 : 단계 S2410에서 드라이브 보드의 실장 부품에 불량이 없는지를 해석한다.
E409 : 단계 S2410의 해석 결과에 근거하여, 단계 S2411에서 드라이브 보드의 실장 부품에 불량이 있는지 여부를 판정한다. 그 결과, 불량이 있다고 판정되므로, 단계 S2412로 처리를 이행한다.
E410 : 단계 S2411에서 단계 부품에 불량이 있다고 판정되므로, 단계 S2402에서 드라이브가 NG라고 판정한다.
(E5) 불량 원인이 LSI 내부에 있는 경우
E501 : 단계 S2401에서, 컴퓨터(200)로부터 LSI 평가 프로그램을 주변 기기 장치(100)에 전송하여, LSI의 검사를 행한다.
E502 : 단계 S2402에서, LSI 검사의 결과가 OK인지 NG인지를 판정한다. 이때, Status 레지스터의 값은 도 26과 같이 된다. 도 26에 있어서, DRC 결과 레지스터(262), 서보 결과 레지스터(264), ECC 결과 레지스터(266)가 0xFF로, DRC 기능, 서보 기능, 및 ECC 기능에 불량이 있는 것을 나타내고 있으므로, LSI가 NG라고 판정한다.
E503 : 단계 S2402에서의 검사 결과가 NG이므로, 단계 S2403에서 검사 대상인 LSI를 NG로 단정하여, LSI를 떼어 LSI 평가 보드, 테스터로 검사를 행한다.
(E6) 불량 원인이 LSI와의 접속부에 있는 경우
E601 : 단계 S2401에서, 컴퓨터(200)로부터 LSI 평가 프로그램을 주변 기기 장치(100)에 전송하여, LSI의 검사를 행한다.
E602 : 단계 S2402에서, LSI 검사의 결과가 OK인지 NG인지를 판정한다. 이때, 컴퓨터(200)로부터 읽어 들인 Status 레지스터의 값은 도 27과 같이 된다. 도 27에 있어서, 시스템 컴퓨터 결과 레지스터(271), DRC 결과 레지스터(272), 아날로그 결과 레지스터(273), 서보 결과 레지스터(274), 호스트 결과 레지스터(275), ECC 결과 레지스터(276)는, 전부 0x10으로 불량이 없음을 나타내고 있으므로, LSI의 검사 결과가 OK라고 판정하여, 단계 S2404로 처리를 이행한다.
E603 : 단계 S2404에서, 컴퓨터(200)로부터 드라이브 평가 프로그램을 주변 기기 장치(100)에 전송하여, 드라이브 검사를 행한다.
E604 : 단계 S2405에서, 드라이브 검사의 결과가 OK인지 NG인지를 판정한다. 이때, 컴퓨터(200)로부터 읽어 들인 Status 레지스터의 값은 도 27의 (277)과 같이 된다. 도 27에 있어서, Status 레지스터의 값은 0xFF를 나타내고 있어, 디스크계 경로 불량을 나타내고 있으므로, 드라이브 검사의 결과가 NG라고 판정하여, 단계 S2407로 처리를 이행한다.
E605 : 단계 S2405에서 드라이브가 NG라고 판정되므로, 단계 S2407에서, 실장 기판을 검사한다. 예컨대, 프린트 기판상에 실장된 부품의 위치가 어긋나는 등의 실장 불량을, 레이저 광으로 전면 주사하여, 프린트 기판으로부터 반사되는 산란광을 이용하여 검출한다(예컨대, 특허 문헌 2 참조).
E606 : 단계 S2408에서, 실장 기판 검사의 결과가 OK인지 NG인지를 판정한다. 그 결과, NG라고 판정한다.
E607 : 단계 S2408에서 실장 기판 검사의 결과가 NG라고 판정되므로, 단계 S2409에서, 실장 불량의 장소를 특정하여, 부품을 재실장한다.
이상과 같이 본 실시예 1에 따른 주변 기기 장치에 의하면, 컴퓨터(200)와 인터페이스 케이블(3)을 통해서 접속되고, 컴퓨터(200)로부터 송신되는 모드 지시 신호가 테스트 모드를 나타내는 것인지, 통상 모드를 나타내는 것인지를 검출하는 검출부(10)와, 컴퓨터(200)로부터 송신되는 주변 기기 장치와 그 집적 회로의 평가 프로그램을 저장하는 제 2 기억 장치(13)와, 검출부(10)가 테스트 모드를 검출하여, 집적 회로(400)가 테스트 모드로 이행하면, 실행중인 프로그램을 리셋하여, 제 2 기억 장치(13)상의 평가 프로그램(22)을 기동시키는 기동 수단(15)을 구비하여, 테스트 모드시에는, 평가 프로그램(22)에 의해, 주변 기기 장치(100)와 집적 회로(400)의 상태를 평가하여, 컴퓨터(200)에 통지하므로, 주변 기기 장치(100)(드라 이브)로부터 집적 회로(400)(LSI)를 떼는 일 없이, 주변 기기 장치(100)와 집적 회로(400)를 접속한 상태로, 주변 기기 장치(100)와 집적 회로(400)의 불량 해석을 행하는 것이 가능해진다.
또한, 본 실시예 1에 따른 주변 기기 장치의 불량 해석 방법에 의하면, LSI 평가 프로그램에 의해, 집적 회로(400)가 양품인지 여부를 판정하고, 집적 회로(400)가 양품인 경우, 드라이브 평가 프로그램에 의해, 주변 기기 장치(100)가 양품인지 여부를 판정하고, 주변 기기 장치(100)가 불량품인 경우, 주변 기기 장치(100)의 실장 검사를 행하고, 실장 검사에서 실장 불량이라고 판정한 경우는, 실장 불량의 부분을 특정하고, 실장 검사에서 실장 불량이 없다고 판정한 경우, 불량 부분을 특정하는 새로운 평가 프로그램을 작성하여, 주변 기기 장치(100)와 집적 회로(400)의 재평가를 행하도록 했으므로, 주변 기기 장치(100)에 대하여 집적 회로(400)를 바꿔 다는 공정을 마련하는 일 없이, 컴퓨터(200)와 주변 기기 장치(100)를 접속한 상태로, 주변 기기 장치(100)와 집적 회로(400)의 불량 해석을 행할 수 있다.
또한, 종래의 불량 해석 방법으로는, 주변 기기 장치의 실장 부품 자체의 불량에 대해서는 자동 검사로 예측, 발견은 할 수 없었지만, 본 실시예 1에 따른 불량 해석 방법으로는, 주변 기기 장치(100)의 실장 부품 자체에 불량이 존재하는 경우, 드라이브 평가 프로그램에 의한 드라이브 검사의 처리 단계(단계 S2404, 단계 S2405)에서, 주변 기기 장치(100)의 불량을 판정할 수 있으므로, 불량 부분이 주변 기기 장치(100)에 존재하는 것인지, 집적 회로(400)에 존재하는 것인지를 예측할 수 있어, 불량 부분의 범위를 좁히는 것이 가능해진다.
또한, 종래의 불량 해석 방법으로는, 주변 기기 장치(1)와 집적 회로(4)의 접속부에 불량이 존재하는 경우, 집적 회로(4)를 주변 기기 장치(1)로부터 떼어, LSI 평가 보드로, 테스터 검사를 행하고, 테스터 검사의 결과가 OK인 경우, 집적 회로를 재실장하여, 주변 기기 장치(1)를 재검사할 필요가 있었지만, 본 실시예 1에 따른 불량 해석 방법에서는, 드라이브 평가 프로그램이, 주변 기기 장치(100)와 집적 회로(400) 사이의 경로를 검증하는 프로그램을 포함하므로, 주변 기기 장치(100)와 집적 회로(400)의 접속부에 불량이 존재하는 경우, 드라이브 평가 프로그램에서 드라이브 불량이라고 판정하고, 그 후, 실장 검사를 행하여, 실장 불량이라고 판정하여, 불량 부분을 특정하므로, 주변 기기 장치(100)와 집적 회로(400)의 접속부에 불량이 존재하는 경우에도, 주변 기기 장치(100)에 대하여 집적 회로(400)를 바꿔 다는 공정을 마련하는 일 없이, 불량 부분을 특정할 수 있다.
또, 본 실시예 1에서는, 평가 프로그램(22)에 의해, 주변 기기 장치(100) 및 그 집적 회로(400)를 평가하는 경우에 대하여 설명했지만, 본 발명은 이것에 한정되는 것이 아니고, 주변 기기 장치(100)가, 평가 프로그램(22)과 동등한 동작을 하는 평가 회로를 구비하고, 이 평가 회로가, 주변 기기 장치(100)와 집적 회로(400)를 평가하더라도 좋다.
(실시예 2)
본 발명의 실시예 2에 따른 주변 기기 장치, 그 집적 회로 및 주변 기기 장치의 불량 해석 방법에 대하여 설명한다.
도 2는, 본 실시예 2에 따른 주변 기기 장치, 그 집적 회로, 및 주변 기기 장치에 접속하는 컴퓨터의 일 구성예를 나타내는 도면이다.
실시예 2에 따른 주변 기기 장치(100a)와, 주변 기기 장치(100a)에 접속되는 컴퓨터(200a)는, 이하의 점에서, 실시예 1에 따른 주변 기기 장치(100)와, 주변 기기 장치(100)에 접속되는 컴퓨터(200)와는 다르다.
컴퓨터(200a)는, 모드 구동 수단(20) 대신에, 테스트 커맨드 발행 수단(25)을 구비한다. 테스트 커맨드 발행 수단(25)은, 테스트 커맨드를 발행하여, 주변 기기 장치(100a)에 송신한다. 여기서, 테스트 커맨드란, 구체적으로는, ATA/ATAPI 규격서의 커맨드 코드와 파라미터 표에 표시되어 있는 사용자가 독자적으로 사용하는 사용자 정의 커맨드(Vendor Specific Commands 또는 Vendor Unique Commands)의 하나에 테스트 커맨드를 할당하고, 그 기능으로서, 평가 프로그램을 기동하는 것으로 한다.
주변 기기 장치(100a)의 집적 회로(400a)는, 검출부(10) 대신에, 커맨드 수신부(26)를 구비한다. 커맨드 수신부(26)는, 테스트 커맨드 발행 수단(25)이 발행한 커맨드를 수신한다. 또한, 어드레스 변환 수단(18) 대신에, 제 2 어드레스 변환 수단(27)을 구비한다. 제 2 어드레스 변환 수단(27)은, 커맨드 수신부(26)가 테스트 커맨드를 수신하면 테스트 모드로 이행한다. 또한, 기동 수단(15a)은, 커맨드 수신부(26)가 통상 커맨드를 수신했을 때에는, 제 1 기억 장치(12)상의 프로그램을 기동하고, 커맨드 수신부(26)가 테스트 커맨드를 수신했을 때에는, 제 2 기억 장치(13)상의 프로그램을 기동한다.
다음으로, 실시예 2에 따른 주변 기기 장치(100a)와, 주변 기기 장치(100a)와 접속하는 컴퓨터(200a)의 동작에 대하여, 도 6의 흐름을 이용하여 설명한다.
단계 S33 : 컴퓨터(200a)의 테스트 커맨드 발행 수단(25)이, 주변 기기 장치(100a)에 테스트 커맨드를 발행하고, 컴퓨터(200a)는 스테이터스 수신 대기 상태가 된다.
단계 S34 : 주변 기기 장치(100a)의 커맨드 수신부(26)가, 테스트 커맨드를 수신하여, 처리를 단계 S35로 이행한다.
단계 S35 : 주변 기기 장치(100a)의 송신 수단(19)이, 스테이터스를 컴퓨터(200a)에 송신한다. 구체적으로는 도 22에 나타내는 ATAPI의 데이터 레지스터(ADAT 레지스터), 또는 스테이터스 레지스터(ASTA 레지스터)에 테스트 커맨드의 수신을 나타내는 값을 기입한다.
단계 S36 : 컴퓨터(200a)의 판정 수단(23)이, 주변 기기 장치(100a)로부터 스테이터스를 수신했는지를 판정하여, 스테이터스를 수신하지 않으면 접속 불량이라고 판정한다.
단계 S37 : 컴퓨터(200a)의 판정 수단(23)은, 단계 S34에서, 스테이터스를 수신했다고 판정한 경우, 평가 프로그램(22)의 주변 기기 장치의 평가 루틴을 기동한다. 주변 기기 장치의 평가 루틴에 대해서는 후술한다.
단계 S38 : 컴퓨터(200a)의 판정 수단(23)은, 주변 기기 장치의 평가 루틴의 평가 결과가 집적 회로(LSI) 불량을 나타내는 값을 주변 기기 장치(100a)로부터 수신하면, LSI 에러라고 판정하고, 그렇지 않으면 양품이라고 판정한다.
다음으로, 도 6에 나타내는 주변 기기 장치의 평가 루틴의 상세에 대해서 설명한다. 실시예 2에서는, 주변 기기 장치의 평가 루틴은 다음 2가지가 있다.
도 7은, 실시예 2에 있어서의 주변 기기 장치의 제 1 평가 루틴의 흐름도이다.
단계 S39 : 컴퓨터(200a)의 제 2 전송 수단(21)이, 주변 기기 장치(100a)에 데이터 전송 커맨드를 송신한다. 구체적으로는 ATA/ATAPI 커맨드의 Write계 커맨드를 송신한다.
단계 S40 : 주변 기기 장치(100a)가 컴퓨터(200a)로부터 송신된 데이터 전송 커맨드를 수신한다.
단계 S41 : 컴퓨터(200a)의 제 2 전송 수단(21)이, 평가 프로그램(22)을 주변 기기 장치(100)a에 전송한다.
단계 S42 : 주변 기기 장치(100a)가 컴퓨터(200a)로부터 송신된 평가 프로그램(22)을 수신하고, 제 1 전송 수단(16)이 평가 프로그램(22)을 제 2 기억 장치(13)에 전송한다.
단계 S43 : 주변 기기 장치(100a)가 컴퓨터(200a)에 종료 스테이터스를 송신한다.
단계 S44 : 컴퓨터(200a)가 종료 스테이터스를 수신한다.
단계 S45 : 컴퓨터(200a)의 테스트 커맨드 발행 수단(25)이, 테스트 커맨드를 송신한다.
단계 S46 : 주변 기기 장치(100a)의 테스트 커맨드 수신부(26)가 테스트 커 맨드를 수신한다.
단계 S47 : 주변 기기 장치(100a)의 제 2 어드레스 변환 수단(27)이 테스트 모드로 이행한다. 이에 따라, CPU(17)가 액세스하는 어드레스를 제 1 기억 장치(12)로부터 제 2 기억 장치(13)로 전환한다.
단계 S48 : 주변 기기 장치(100a)의 기동 수단(15a)이 실행중인 프로그램을 리셋하고, 평가 프로그램(22)을 기동한다.
단계 S49 : 평가 프로그램(22)에 의해 집적 회로(400a)의 상태를 평가하여, 평가 결과를 컴퓨터(200a)에 송신한다.
단계 S50 : 컴퓨터(200a)의 판정 수단(23)이 평가 결과를 수신했는지 여부를 판정한다.
단계 S51 : 판정 수단(23)은, 단계 S50에서 평가 결과를 수신한 경우, 평가 프로그램(22)을 기동하여 평가 결과를 판정한다.
다음으로, 실시예 2에 있어서의 주변 기기 장치의 제 2 평가 루틴에 대하여 설명한다. 도 8은, 제 2 주변 기기 장치의 평가 루틴의 흐름도이다.
단계 S52 : 컴퓨터(200a)의 테스트 커맨드 발행 수단(25)이, 테스트 커맨드를 발행한다.
단계 S53 : 주변 기기 장치(100a)의 테스트 커맨드 수신부(26)가 테스트 커맨드를 수신한다.
단계 S54 : 컴퓨터(200a)의 제 2 전송 수단(21)이, 주변 기기 장치(100a)에 데이터 전송 커맨드를 송신한다. 구체적으로는 ATA/ATAPI 커맨드의 Write계 커맨 드를 송신한다.
단계 S55 : 주변 기기 장치(100a)가 컴퓨터(200a)로부터 송신된 데이터 전송 커맨드를 수신한다.
단계 S56 : 컴퓨터(200a)의 제 2 전송 수단(21)이, 평가 프로그램(22)을 주변 기기 장치(100a)에 전송한다.
단계 S57 : 주변 기기 장치(100a)의 제 1 전송 수단(16)이 컴퓨터(200a)로부터 송신된 평가 프로그램(22)을 수신하여, 제 2 기억 장치(13)에 전송한다.
단계 S58 : 주변 기기 장치(100a)가 컴퓨터(200a)에 종료 스테이터스를 송신한다.
단계 S59 : 컴퓨터(200a)가 종료 스테이터스를 수신한다.
단계 S60 : 주변 기기 장치(100a)의 제 2 어드레스 변환 수단(27)이 테스트 모드로 이행한다. 이에 따라, CPU(17)가 액세스하는 어드레스를 제 1 기억 장치(12)로부터 제 2 기억 장치(13)로 전환한다.
단계 S61 : 주변 기기 장치(100a)의 기동 수단(15)이 실행중인 프로그램을 리셋하고, 평가 프로그램(22)을 기동한다.
단계 S62 : 평가 프로그램(22)이 집적 회로(400a)의 상태를 평가하여, 평가 결과를 컴퓨터(200a)에 송신한다.
단계 S63 : 컴퓨터(200a)의 판정 수단(23)이 평가 결과를 수신했는지 여부를 판정한다.
단계 S64 : 판정 수단(23)은, 단계 S63에서 평가 결과를 수신한 경우, 평가 프로그램을 기동하여 평가 결과를 판정한다.
다음으로, 본 실시예 2에 따른 주변 기기 장치의 불량 해석 방법에 대하여 도 33을 이용하여 설명한다. 도 33은, 주변 기기 장치(100a)와 컴퓨터(200a) 사이의 ATA/ATAPI 프로토콜을 나타내는 도면이다. 여기서는, 도 6과 도 8의 흐름에 따라, 불량 해석 방법의 처리 단계에 대하여 설명한다.
(331) 도 6에 나타내는 단계 S31에서, 컴퓨터(200a)의 테스트 커맨드 발행 수단(25)이, 주변 기기 장치(100a)에 테스트 커맨드를 발행한다.
(332) 도 6에 나타내는 단계 S35, S36에서 어드레스 0x1F7에 0x01을 취득한다.
(333) 도 8에 나타내는 단계 S52에서, 컴퓨터(200a)의 제 2 전송 수단(21)이, ATA 커맨드의 패킷 커맨드를 발행한다.
(334)~(345) 도 8에 나타내는 단계 S54에서, 컴퓨터(200a)의 제 2 전송 수단(21)이, ATAPI 커맨드의 Write(10) 커맨드, 파라미터(LBA, 전송 길이)를 발행한다.
(346)~(348) 도 8에 나타내는 단계 S56에서, 컴퓨터(200a)의 제 2 전송 수단(21)이, 평가 프로그램(22)을 주변 기기 장치(100a)에 전송한다.
(349) 도 8에 나타내는 단계 S58에서, 주변 기기 장치(100a)가 종료 스테이터스 0x00을 송신한다.
(350)~(356) 도 8에 나타내는 단계 S63에서, 컴퓨터(200a)의 판정 수단(23)이 평가 결과를 수신한다. 도 33에 있어서는, 수신한 평가 결과가, 시스템 컴퓨터 의 평가 결과가 OK(350)이고, DRC의 평가 결과가 NG(351)이고, 아날로그 회로의 평가 결과가 OK(352)이고, 서보 회로의 평가 결과가 NG(353)이고, 호스트 회로의 평가 결과가 OK(354)이고, ECC의 평가 결과가 NG(355)이고, 디스크 경로의 평가 결과가 NG(356)인 것을 나타내고 있다. 이상과 같은 평가 결과를, 도 8에 나타내는 단계 S64에서, 컴퓨터(200a)의 판정 수단(23)이 판정한다.
이상과 같이 본 실시예 2에 따른 주변 기기 장치에 의하면, 주변 기기 장치(100a)와 컴퓨터(200a)가 인터페이스 케이블(3)을 통해서 접속되고, 주변 기기 장치(100a)는, 컴퓨터(200a)의 테스트 커맨드 발행 수단(25)에 의해 발행되는 테스트 커맨드를 수신하는 커맨드 수신부(26)와, 컴퓨터(200a)로부터 송신되는 평가 프로그램(22)을 저장하는 제 2 기억 장치(13)와, 커맨드 수신부(26)가 테스트 커맨드를 수신하면, 통상 모드의 프로그램을 리셋하고, 제 2 기억 장치(13)상의 평가 프로그램(22)을 기동하는 기동 수단(15a)을 구비하고, 테스트 모드시에는, 평가 프로그램(22)에 의해, 주변 기기 장치(100a)와 집적 회로(400a)의 상태를 평가하여, 컴퓨터(200a)에 통지하므로, 주변 기기 장치(100a)(드라이브)로부터 집적 회로(400a)(LSI)를 떼는 일 없이, 주변 기기 장치(100a)와 집적 회로(400a)를 접속한 상태로 주변 기기 장치(100a)와 집적 회로(400a)의 불량 해석을 행할 수 있다.
본 발명은, DVD 플레이어/레코더나 CD 플레이어/레코더 등의 광 디스크 장치, 하드 디스크, 프린터, 디지털 비디오 카메라, 디지털 카메라, 스캐너 등의 주 변 기기 장치와, 그 주변 기기 장치의 집적 회로의 불량 해석 방법으로서 유용하다. 또한, 본 발명은, 논리 회로 중의 순서 회로 테스트 모드용의 패스(스캔 패스)를 통해서 제어하여, 하나의 시프트 레지스터로서 동작시키는 스캔 설계에도 응용할 수 있다.

Claims (19)

  1. 인터페이스를 통해서 컴퓨터에 접속되는 주변 기기 장치에 있어서,
    상기 컴퓨터로부터 출력되는, 상기 주변 기기 장치가 통상 모드로 동작하는 것인지, 테스트 모드로 동작하는 것인지를 나타내는 모드 지시 신호를 입력하여, 상기 모드 지시 신호가 통상 모드를 나타내는 것인지, 테스트 모드를 나타내는 것인지를 검출하는 검출부와,
    상기 주변 기기 장치가 통상 모드에서 실행하는 프로그램을 저장하는 제 1 기억부와,
    상기 컴퓨터로부터 송신되는 상기 주변 기기 장치, 및 상기 주변 기기 장치의 집적 회로에 대한 평가 프로그램을 저장하는 제 2 기억부와,
    상기 통상 모드인 것을 상기 검출부가 검출했을 때에는, 상기 제 1 기억부상의 프로그램을 기동하고, 상기 테스트 모드인 것을 상기 검출부가 검출했을 때에는, 상기 제 2 기억부상의 상기 주변 기기 장치, 및 상기 주변 기기 장치의 집적 회로에 대한 평가 프로그램을 기동하는 기동 수단
    을 구비하는 것을 특징으로 하는 주변 기기 장치.
  2. 인터페이스를 통해서 컴퓨터에 접속되는 주변 기기 장치에 있어서,
    상기 컴퓨터로부터 출력되는 커맨드를 수신하는 커맨드 수신부와,
    상기 주변 기기 장치가 통상 모드에서 실행하는 프로그램을 저장하는 제 1 기억부와,
    상기 컴퓨터로부터 송신되는 상기 주변 기기 장치, 및 상기 주변 기기 장치의 집적 회로에 대한 평가 프로그램을 저장하는 제 2 기억부와,
    상기 커맨드 수신부가 통상 커맨드를 수신했을 때에는, 상기 제 1 기억부상의 프로그램을 기동하고, 상기 커맨드 수신부가, 테스트 모드인 것을 나타내는 테스트 커맨드를 수신했을 때에는, 상기 제 2 기억부상의 상기 주변 기기 장치, 및 상기 주변 기기 장치의 집적 회로에 대한 평가 프로그램을 기동하는 기동 수단
    을 구비하는 것을 특징으로 하는 주변 기기 장치.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 테스트 모드인 것을 상기 검출부가 검출했을 때, 상기 컴퓨터로부터 상기 주변 기기 장치, 및 상기 주변 기기 장치의 집적 회로에 대한 평가 프로그램을 수신하여, 상기 제 2 기억부에 전송하는 전송 수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 주변 기기 장치.
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 모드 지시 신호는, ATA 인터페이스 버스의 신호인 것을 특징으로 하는 주변 기기 장치.
  5. 제 2 항에 있어서,
    상기 커맨드 수신부가 테스트 커맨드를 수신했을 때, 상기 컴퓨터로부터 상기 주변 기기 장치, 및 상기 주변 기기 장치의 집적 회로에 대한 평가 프로그램을 수신하여, 상기 제 2 기억부에 전송하는 전송 수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 주변 기기 장치.
  6. 인터페이스를 통해서 컴퓨터에 접속되는 주변 기기 장치의 집적 회로에 있어서,
    상기 컴퓨터로부터 출력되는, 상기 주변 기기 장치가 통상 모드로 동작하는 것인지, 테스트 모드로 동작하는 것인지를 나타내는 모드 지시 신호를 입력하여, 상기 모드 지시 신호가 통상 모드를 나타내는 것인지, 테스트 모드를 나타내는 것인지를 검출하는 검출부와,
    상기 주변 기기 장치가 통상 모드에서 실행하는 프로그램을 저장하는 제 1 기억부와,
    상기 컴퓨터로부터 송신되는 상기 주변 기기 장치, 및 상기 주변 기기 장치의 집적 회로에 대한 평가 프로그램을 저장하는 제 2 기억부와,
    상기 통상 모드인 것을 상기 검출부가 검출했을 때에는, 상기 제 1 기억부상의 프로그램을 기동하고, 상기 테스트 모드인 것을 상기 검출부가 검출했을 때에는, 상기 제 2 기억부상의 상기 주변 기기 장치, 및 상기 주변 기기 장치의 집적 회로에 대한 평가 프로그램을 기동하는 기동 수단
    을 구비하는 것을 특징으로 하는 주변 기기 장치의 집적 회로.
  7. 인터페이스를 통해서 컴퓨터에 접속되는 주변 기기 장치의 집적 회로에 있어서,
    상기 컴퓨터로부터의 커맨드를 수신하는 커맨드 수신부와,
    상기 주변 기기 장치가 통상 모드에서 실행하는 프로그램을 저장하는 제 1 기억부와,
    상기 컴퓨터로부터 송신되는 상기 주변 기기 장치, 및 상기 주변 기기 장치의 집적 회로에 대한 평가 프로그램을 저장하는 제 2 기억부와,
    상기 커맨드 수신부가 통상 커맨드를 수신했을 때에는, 상기 제 1 기억부상의 프로그램을 기동하고, 상기 커맨드 수신부가, 테스트 모드인 것을 나타내는 테스트 커맨드를 수신했을 때에는, 상기 제 2 기억부상의 상기 주변 기기 장치, 및 상기 주변 기기 장치의 집적 회로에 대한 평가 프로그램을 기동하는 기동 수단
    을 구비하는 것을 특징으로 하는 주변 기기 장치의 집적 회로.
  8. 제 6 항에 있어서,
    상기 테스트 모드인 것을 상기 검출부가 검출하면, 상기 컴퓨터로부터 상기 주변 기기 장치, 및 상기 주변 기기 장치의 집적 회로에 대한 평가 프로그램을 수신하여, 상기 제 2 기억부에 전송하는 전송 수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 주변 기기 장치의 집적 회로.
  9. 제 7 항에 있어서,
    상기 커맨드 수신 수단이 상기 테스트 커맨드를 수신했을 때, 상기 컴퓨터로부터 상기 주변 기기 장치, 및 상기 주변 기기 장치의 집적 회로에 대한 평가 프로그램을 수신하여, 상기 제 2 기억부에 전송하는 전송 수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 주변 기기 장치의 집적 회로.
  10. 주변 기기 장치, 및 상기 주변 기기 장치의 집적 회로의 불량 해석을 행하는 불량 해석 장치에 있어서,
    상기 주변 기기 장치, 및 상기 주변 기기 장치의 집적 회로에 대한 평가 프로그램을 상기 주변 기기 장치에 전송하는 제 1 전송 수단과,
    상기 주변 기기 장치가 통상 모드로 동작하는 것인지, 테스트 모드로 동작하 는 것인지를 나타내는 모드 지시 신호를 상기 주변 기기 장치에 출력하는 모드 구동 수단과,
    상기 평가 프로그램에 의한 상기 주변 기기 장치 및 상기 집적 회로의 평가 결과를 판정하는 판정 수단을 갖는 컴퓨터
    를 구비하되,
    상기 주변 기기 장치는,
    상기 컴퓨터로부터 출력되는 상기 모드 지시 신호를 입력하여, 상기 모드 지시 신호가 통상 모드를 나타내는 것인지, 테스트 모드를 나타내는 것인지를 검출하는 검출부와,
    상기 주변 기기 장치가 통상 모드에서 실행하는 프로그램을 저장하는 제 1 기억부와,
    상기 컴퓨터로부터 송신되는 상기 주변 기기 장치, 및 상기 주변 기기 장치의 집적 회로에 대한 평가 프로그램을 저장하는 제 2 기억부와,
    상기 테스트 모드인 것을 상기 검출부가 검출했을 때에는, 상기 컴퓨터로부터 상기 주변 기기 장치, 및 상기 주변 기기 장치의 집적 회로에 대한 평가 프로그램을 수신하여, 상기 제 2 기억부에 전송하는 제 2 전송 수단과,
    상기 통상 모드인 것을 상기 검출부가 검출했을 때에는, 상기 제 1 기억부상의 프로그램을 기동하고, 상기 테스트 모드인 것을 상기 검출부가 검출했을 때에는, 상기 제 2 기억부상의 상기 주변 기기 장치, 및 상기 주변 기기 장치의 집적 회로에 대한 평가 프로그램을 기동하는 기동 수단과,
    상기 평가 프로그램에 의한 상기 주변 기기 장치와 상기 집적 회로의 평가 결과를 상기 컴퓨터에 통지하는 통지 수단
    을 갖고,
    상기 컴퓨터의 판정 수단은, 상기 주변 기기 장치와 상기 집적 회로의 평가 결과를 수신하면, 상기 컴퓨터의 평가 프로그램을 기동하고, 상기 평가 결과에 근거하여 상기 주변 기기 장치와 상기 집적 회로의 상태를 판정하는 것
    을 특징으로 하는 불량 해석 장치.
  11. 주변 기기 장치, 및 상기 주변 기기 장치의 집적 회로의 불량 해석을 행하는 불량 해석 장치에 있어서,
    상기 주변 기기 장치, 및 상기 주변 기기 장치의 집적 회로에 대한 평가 프로그램을 상기 주변 기기 장치에 전송하는 제 1 전송 수단과,
    커맨드를 상기 주변 기기 장치에 출력하는 커맨드 발행 수단과,
    상기 평가 프로그램에 의한 상기 주변 기기 장치 및 상기 집적 회로의 평가 결과를 판정하는 판정 수단을 갖는 컴퓨터
    를 구비하되,
    상기 주변 기기 장치는,
    상기 컴퓨터로부터 출력되는 상기 커맨드를 수신하는 커맨드 수신부와,
    상기 주변 기기 장치가 통상 모드에서 실행하는 프로그램을 저장하는 제 1 기억부와,
    상기 컴퓨터로부터 송신되는 상기 주변 기기 장치, 및 상기 주변 기기 장치의 집적 회로에 대한 평가 프로그램을 저장하는 제 2 기억부와,
    상기 커맨드 수신부가 테스트 모드인 것을 나타내는 테스트 커맨드를 수신했을 때, 상기 컴퓨터로부터 상기 주변 기기 장치, 및 상기 주변 기기 장치의 집적 회로에 대한 평가 프로그램을 수신하여, 상기 제 2 기억부에 전송하는 제 2 전송 수단과,
    상기 커맨드 수신부가 통상 커맨드를 수신했을 때에는, 상기 제 1 기억부상의 프로그램을 기동하고, 상기 커맨드 수신부가, 상기 테스트 커맨드를 수신했을 때에는, 상기 제 2 기억부상의 상기 주변 기기 장치, 및 상기 주변 기기 장치의 집적 회로에 대한 평가 프로그램을 기동하는 기동 수단
    을 갖고,
    상기 컴퓨터의 판정 수단은, 상기 주변 기기 장치와 상기 집적 회로의 평가 결과를 수신하면, 상기 컴퓨터의 평가 프로그램을 기동하고, 상기 평가 결과에 근거하여 상기 주변 기기 장치와 상기 집적 회로의 상태를 판정하는 것
    을 특징으로 하는 불량 해석 장치.
  12. 인터페이스를 통해서 컴퓨터에 접속되는 주변 기기 장치, 및 상기 주변 기기 장치의 집적 회로의 불량 해석을 행하는 불량 해석 방법에 있어서,
    상기 인터페이스를 통해서 상기 컴퓨터로부터 상기 주변 기기 장치에, 상기 주변 기기 장치가 통상 모드로 동작하는 것인지, 테스트 모드로 동작하는 것인지를 나타내는 모드 지시 신호를 송신하는 송신 단계와,
    상기 주변 기기 장치, 및 상기 주변 기기 장치의 집적 회로에 대한 평가 프로그램을 상기 컴퓨터로부터 상기 주변 기기 장치에 전송하는 전송 단계와,
    상기 모드 지시 신호가 통상 모드를 나타내는 것인지 테스트 모드를 나타내는 것인지를 검출하는 검출 단계와,
    상기 주변 기기 장치에서 상기 평가 프로그램을 수신하는 수신 단계와,
    상기 모드 지시 신호가 테스트 모드를 나타내는 것이 상기 검출 단계에서 검출되었을 때, 상기 주변 기기 장치를 테스트 모드로 이행하는 모드 이행 단계와,
    상기 테스트 모드로 이행하면, 상기 주변 기기 장치에서 실행중인 프로그램을 리셋하고, 상기 주변 기기 장치, 및 상기 주변 기기 장치의 집적 회로에 대한 평가 프로그램을 기동하는 기동 단계와,
    상기 주변 기기 장치, 및 상기 주변 기기 장치의 집적 회로에 대한 평가 프로그램에 의해 상기 주변 기기 장치 및 상기 집적 회로를 평가하는 평가 단계와,
    상기 평가 단계에 의한 평가 결과를 상기 주변 기기 장치로부터 상기 컴퓨터에 통지하는 통지 단계와,
    상기 컴퓨터가 상기 평가 결과를 상기 주변 기기 장치로부터 수신하지 않았을 때에는, 상기 컴퓨터와 상기 주변 기기 장치의 접속 에러라고 판정하고, 상기 컴퓨터가 상기 평가 결과를 상기 주변 기기 장치로부터 수신했을 때에는, 상기 컴 퓨터의 평가 프로그램을 기동하고, 상기 평가 결과에 근거하여 상기 주변 기기 장치와 상기 집적 회로의 상태를 판정하는 판정 단계
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 불량 해석 방법.
  13. 제 12 항에 있어서,
    상기 전송 단계는, 상기 송신 단계에 의해 상기 테스트 모드를 나타내는 모드 지시 신호가 송신된 후, 상기 주변 기기 장치, 및 상기 주변 기기 장치의 집적 회로에 대한 평가 프로그램을 상기 컴퓨터로부터 상기 주변 기기 장치에 전송하고,
    상기 수신 단계는, 상기 모드 지시 신호가 테스트 모드를 나타내는 것이 상기 검출 단계에서 검출되었을 때, 상기 컴퓨터로부터 송신되는 상기 주변 기기 장치, 및 상기 주변 기기 장치의 집적 회로에 대한 평가 프로그램을 수신하고,
    상기 모드 이행 단계는, 상기 주변 기기 장치, 및 상기 주변 기기 장치의 집적 회로에 대한 평가 프로그램의 수신이 종료되면, 상기 주변 기기 장치를 테스트 모드로 이행하는 것
    을 특징으로 하는 불량 해석 방법.
  14. 제 12 항에 있어서,
    상기 송신 단계는, 상기 전송 단계에 의한 상기 주변 기기 장치, 및 상기 주 변 기기 장치의 집적 회로에 대한 평가 프로그램의 전송이 종료된 후, 상기 테스트 모드를 나타내는 모드 지시 신호를 상기 컴퓨터로부터 상기 주변 기기 장치에 송신하고,
    상기 모드 이행 단계는, 상기 모드 지시 신호가 테스트 모드를 나타내는 것이 상기 검출 단계에서 검출되었을 때, 상기 주변 기기 장치를 테스트 모드로 이행하는 것
    을 특징으로 하는 불량 해석 방법.
  15. 제 12 항에 있어서,
    상기 평가 프로그램은, 상기 집적 회로의 상태를 평가하는 집적 회로 평가 프로그램과, 상기 주변 기기 장치의 상태를 평가하는 주변 기기 장치 평가 프로그램을 포함하고,
    상기 평가 단계는,
    상기 집적 회로 평가 프로그램에 의해, 상기 집적 회로가 양품인지 여부를 판정하는 집적 회로 평가 단계와,
    상기 집적 회로 평가 단계에서 상기 집적 회로가 양품이라고 판정되었을 때, 상기 주변 기기 장치 평가 프로그램에 의해 상기 주변 기기 장치가 양품인지 여부를 판정하는 주변 기기 장치 평가 단계와,
    상기 주변 기기 장치 평가 단계에서 상기 주변 기기 장치가 불량이라고 판정 되었을 때, 상기 주변 기기 장치의 실장 검사를 행하는 실장 검사 단계와,
    상기 실장 검사 단계에서 실장 불량이라고 판정되었을 때, 상기 주변 기기 장치의 실장 불량 부분을 특정하는 특정 단계와,
    상기 실장 검사 단계에서 양품이라고 판정되었을 때, 상기 주변 기기 장치의 실장 불량 부분을 특정하는 평가 프로그램을 작성하는 작성 단계
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 불량 해석 방법.
  16. 제 15 항에 있어서,
    상기 주변 기기 장치 평가 프로그램은, 상기 주변 기기 장치와 상기 집적 회로 사이의 경로를 평가하는 평가 프로그램을 포함하는 것을 특징으로 하는 불량 해석 방법.
  17. 인터페이스를 통해서 컴퓨터에 접속되는 주변 기기 장치, 및 상기 주변 기기 장치의 집적 회로의 불량 해석을 행하는 불량 해석 방법에 있어서,
    상기 컴퓨터로부터 상기 주변 기기 장치에 대하여 테스트 커맨드를 발행하는 커맨드 발행 단계와,
    상기 주변 기기 장치에서 상기 커맨드를 수신하는 커맨드 수신 단계와,
    상기 주변 기기 장치, 및 상기 주변 기기 장치의 집적 회로에 대한 평가 프 로그램을 상기 컴퓨터로부터 상기 주변 기기 장치에 전송하는 전송 단계와,
    상기 주변 기기 장치에서 상기 주변 기기 장치, 및 상기 주변 기기 장치의 집적 회로에 대한 평가 프로그램을 수신하는 프로그램 수신 단계와,
    상기 커맨드 수신 단계에서 테스트 모드인 것을 나타내는 테스트 커맨드를 수신했을 때, 상기 주변 기기 장치에서 실행중인 프로그램을 리셋하고, 상기 주변 기기 장치, 및 상기 주변 기기 장치의 집적 회로에 대한 평가 프로그램을 기동하는 기동 단계와,
    상기 평가 프로그램에 의해 상기 주변 기기 장치 및 상기 집적 회로를 평가하는 평가 단계와,
    상기 평가 단계에 의한 평가 결과를 상기 주변 기기 장치로부터 상기 컴퓨터에 통지하는 통지 단계와,
    상기 컴퓨터가 상기 평가 결과를 상기 주변 기기 장치로부터 수신하지 않았을 때에는, 상기 컴퓨터와 상기 주변 기기 장치의 접속 에러라고 판정하고, 상기 컴퓨터가 상기 평가 결과를 상기 주변 기기 장치로부터 수신했을 때에는, 상기 컴퓨터의 평가 프로그램을 기동하고, 상기 평가 결과에 근거하여 상기 집적 기기 장치 및 상기 집적 회로의 상태를 판정하는 판정 단계
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 불량 해석 방법.
  18. 제 17 항에 있어서,
    상기 전송 단계는, 상기 커맨드 발행 단계에서 테스트 커맨드가 발행된 후에, 상기 주변 기기 장치, 및 상기 주변 기기 장치의 집적 회로에 대한 평가 프로그램을 상기 컴퓨터로부터 상기 주변 기기 장치에 전송하고,
    상기 프로그램 수신 단계는, 상기 커맨드 수신 단계에서 테스트 커맨드가 수신되면, 상기 주변 기기 장치, 및 상기 주변 기기 장치의 집적 회로에 대한 평가 프로그램을 수신하고,
    상기 테스트 모드 이행 단계는, 상기 주변 기기 장치, 및 상기 주변 기기 장치의 집적 회로에 대한 평가 프로그램의 수신이 완료되면, 상기 주변 기기 장치를 테스트 모드로 이행하는 것
    을 특징으로 하는 불량 해석 방법.
  19. 제 17 항에 있어서,
    상기 커맨드 발행 단계는, 상기 전송 단계에서 상기 주변 기기 장치, 및 상기 주변 기기 장치의 집적 회로에 대한 평가 프로그램이 상기 컴퓨터로부터 상기 주변 기기 장치에 전송된 후, 상기 테스트 커맨드를 발행하고,
    상기 모드 이행 단계는, 상기 커맨드 수신 단계에서 상기 테스트 커맨드가 수신되면, 상기 주변 기기 장치를 테스트 모드로 이행하는 것
    을 특징으로 하는 불량 해석 방법.
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