KR20090035520A - 광 측정 장치 및 광 측정 장치를 포함한 조명 기구 - Google Patents

광 측정 장치 및 광 측정 장치를 포함한 조명 기구 Download PDF

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KR20090035520A
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에두아드 제이. 마이어
리팻 에이. 엠. 히크메트
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코닌클리즈케 필립스 일렉트로닉스 엔.브이.
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Abstract

본 발명은 광 측정 장치 및 이 장치를 포함한 조명 기구에 관한 것이다. 광 측정 장치는, 제1 위치에 배치된 제1 발광 장치로부터 나온 광을 측정하고, 제1 면, 제2 면 및 제3 면의 적어도 3개 면을 갖는 투광 장치 및 광 센서를 포함한다. 제1 면은 제1 위치로부터 광이 입사되도록 구성되며, 제2 면은 투광 장치 내에서 입사광을 반사시키도록 구성되고, 제3 면은 출사광이 광 센서 상으로 입사하도록 구성된다.
Figure P1020097000756
광 측정 장치, 광학 특성, LED, 각도 제한용 구조체

Description

광 측정 장치 및 광 측정 장치를 포함한 조명 기구{ANGLE SELECTIVE PHOTO SENSOR STRUCTURES FOR ACCURATE COLOR CONTROL, OUT COUPLING AND BACKGROUND REJECTION, IN LED LUMINARIES}
본 발명은 일반적으로 광 측정에 관한 것으로, 특히 광 측정 장치 및 광 측정 장치를 포함한 조명 기구에 관한 것이다.
조명 분야에서, 상이한 스펙트럼 특성을 갖는 다수의 발광 다이오드(LED)를 결합하여 백색 광을 달성하는 것은 잘 알려진 사실이다. 이를 실현하는 일반적인 방법은, 예를 들어, 적색, 청색 및 녹색 LED를 결합하는 것이다.
백색 광을 적절하게 유지하기 위해서는, 현존 LED 각각의 광학 특성이 변경되어서는 안 된다. 그러나, LED의 광학 특성은 온도, 순방향 전류 및 수명에 따라 변화한다.
온도 증가는 LED의 스펙트럼을 더 긴 파장으로 변이시키며(shift), 이는 LED의 색이 변화할 것임을 의미한다. 추가로, 스펙트럼 확장(broadening)이 발생할 것이며, 이는 LED의 색이 낮은 온도에서와 같이 뚜렷하게 되지 않을 것임을 의미한다. 게다가, LED의 광 세기는 온도 증가에 따라 감소할 것이다.
그러나, 순방향 전류의 증가는 LED의 스펙트럼을 더 짧은 파장으로 변이시키 며, 이는 적합치 않은 색 변화가 발생할 것임을 의미한다. 또한, 광 세기는 증가할 것이다.
LED의 노후화에 따라, 광 세기 감소 및 스펙트럼 변경이 발생할 것이며, 이는 또한 결합된 백색 광에 영향을 미친다.
다른 측면은 배치 투 배치(batch to batch) 변화인데, 이는, 예를 들어, 제조 환경으로 인해 피크 파장 확산 및 세기 확산이 변할 수 있음을 의미한다.
그래서, 상이한 스펙트럼 특성을 갖는 다수의 LED를 포함한 백색 광 조명 기구으로부터 적절한 백색 광을 제공하기 위해서는, LED의 온도, 순방향 전류 및 노후화에 대한 의존성을 고려해야 한다. 이는 조명 기구에 피드백 시스템을 도입함에 의해 행해질 수 있다.
피드백 시스템은 각 유형의 LED가 결합된 백색 광에 올바르게 기여하는 것을 확인하기 위해 LED로부터 나온 광의 특성을 연속적으로 판정한다.
광의 특성을 판정하기 위해, 각 유형의 LED, 또는 바람직하게는 각 개별 LED의 특성을 측정하도록 구성된 광 측정 장치(light measuring arrangement)를 사용한다. 측정을 가능한 정확하게 하기 위해, 주변 LED 및 주변 광의 영향은 가능한 적어야 한다.
이런 해결책은 US 2003/0030808에 제시되어 있으며, 여기서는 적색, 녹색 및 청색 LED의 어레이 및 피드백 장치를 포함하여 원하는 색 균형을 유지하는 LED 조명 기구가 개시되어 있다. LED 어레이의 결합된 출력 경로에 배치된 부분 반사용 소자로부터 반사되는 광을 차단하는 단일의 포토다이오드 또는 포토다이오드 어레 이가 배치된다. LED 및 포토다이오드를 펄싱(pulsing)함에 의해, 또는 컬러 필터의 사용을 통해 개개의 색이 순차로 측정된다.
상기한 점을 감안해 볼 때, 본 발명의 목적은 다른 LED, 다른 조명 기구 및 주변 광 등의 외부 소스에 의해 덜 영향을 받는, LED로부터 출력된 광을 측정하는 장치를 제공하는 데 있다.
간략히 기술하자면, 한 관점에서 보면, 본 발명은 개별 LED의 광 출력을 측정하는 장치로서 기술될 수 있으며, 여기서 장치의 특성은 펄싱 등과 같은 LED의 특별 거동을 요구함이 없이 외부 광의 효과를 줄인다.
본 발명의 제1 측면은 제1 면, 제2 면 및 제3 면의 적어도 3개 면을 갖는 투광 장치 및 광 센서를 포함하여, 제1 위치에 배치된 제1 발광 장치로부터의 광을 측정하는 장치로서, 제1 면은 제1 위치로부터 광이 입사되도록 구성될 수 있으며, 제2 면은 투광 장치 내에서 입사광을 반사하도록 구성될 수 있으며, 제3 면은 출사광이 광 센서 상으로 입사되도록 구성될 수 있다.
유리하게도, 투광 장치의 제2 면은 상기 투광 장치 외부의 또 다른 위치로부터의 입사광을 반사하도록 구성될 수 있어, 상기 또 다른 위치로부터의 상기 광은 상기 광 센서의 외부로 입사된다.
본 발명의 이러한 측면에서의 이점은, 한 방향, 즉 제1 위치가 정해지는 방향으로부터 나온 광이 광 센서에 전달되지만, 다른 방향으로부터 나오는 광은 광 센서에서 멀리 반사된다는 것이다. 이는 주위 광 및 다른 광원의 영향이 줄어든다는 것을 의미한다.
본 발명의 제1 측면의 일 실시예에서, 광 센서의 길이는 제3 면의 길이보다 짧을 수 있다.
이 실시예에서의 이점은, 광 센서 상으로 직접 입사되는 광이 적어지게 되는데, 즉 환언하자면, 광 센서 상에 충돌하는 광은 광 센서 상으로 입사하기 전에 투광 장치의 제2 면 상에서 대부분은 반사된다. 이는 광 센서 상에 충돌하는 광은 대부분은 집적됨을 의미한다.
다른 이점은, 제1 면을 통해 들어와 제3 면 상에서 광각으로 인해 반사된 후에 제2 면 상에서 반사되어 제3 면으로 아래로 진행하는 주위 광이 대부분은 줄어든다는 것이다.
제1 측면의 다른 실시예에서, 투광 장치의 제3 면과 광 센서 간에 개구부를 갖는 광학 배리어(optical barrier)를 설치할 수 있다.
이 실시예의 이점은 제3 면의 길이보다 짧을 수 있는 광 센서를 갖는 경우에도 동일하다.
유리하게는, 제2 면은 반사층으로 코팅될 수 있다.
이것의 이점은, 광이 대부분은 반사된다는 것이다.
또한, 반사층은 금속층, 예컨대, 알루미늄층일 수 있다.
또 다른 실시예에서, 장치는 파장 범위 내에서 광을 선택하는 간섭 필터를 포함하며, 여기서 간섭 필터는 상기 투광 장치의 상기 제3 면과 상기 광 센서 사이에 설치될 수 있다.
본 발명의 이런 측면에서의 이점은, 제2 면 상에서 반사되는 광이 제3 면 상으로 입사되어 더 많이 집적되는 데, 이는 간섭 필터의 각 의존성이 줄어든다는 것을 의미한다.
유리하게는, 간섭 필터는 파브리-페롯(Parbry-Perot) 필터이다.
또 다른 실시예에서, 장치는 투광 장치 내에 위치된 각도 제한용 구조체를 더 포함한다.
이 실시예에서의 이점은 광 센서 상으로 입사하는 광이 훨씬 더 많이 집적된다는 것이다.
유리하게는, 각도 제한용 구조체는 반구형 렌즈 구조체이다.
일 실시예에서, 장치는 각도 제한용 구조체 상에 배치된 각도 제한용 구조체 간섭 필터를 더 포함한다.
유리하게는, 투광 장치는 아크릴레이트로 만들어진다.
유리하게는, 제2 면 및 제3 면은 각을 형성하고, 제1 면은 그 각에 대면한다.
본 발명의 제2 측면은 광원, 상기 광원으로부터 방출된 광을 측정하는 청구항에 따른 장치, 및 상기 측정된 광이 소정의 기간 내에 있는가를 판정하는 전기 장치를 포함하는 조명 기구이다.
이 측면에서의 이점은, 광원의 변화를 검출할 수 있다는 것이다. 이는, 광 요건이 매우 높은 응용분야에서, 예를 들어, 다수의 LED로부터 나온 광을 백색 광으로 혼합하는 상황에서, 매우 유용하다.
일 실시예에서, 조명 기구는 상기 전기 장치에 의한 상기 판단에 기초하여 상기 광원을 제어하는 제어기를 더 포함한다.
이 실시예에서의 이점은, 광의 특성이 소정의 요건을 다하도록 제어될 수 있다는 것이다.
본 발명의 다른 목적, 특징 및 이점들은 첨부된 청구범위 및 도면을 참조하여 기술한 상세한 설명으로부터 명백해질 것이다.
일반적으로, 청구범위에 사용되는 모든 용어들은 본원에서 달리 명시적으로 언급하지 않는 한, 기술 분야에서의 통상의 의미에 따라 해석되어야 한다. "하나의[소자, 장치, 부품, 수단, 단계 등]"에 대한 모든 참조는 달리 특별히 언급하지 않는 한, 상기 소자, 장치, 부품, 수단, 단계 등의 적어도 하나의 예를 일컫는 것으로 해석되어야 한다. 본원에 개시된 임의 방법의 단계들은 명시적으로 기술되지 않는한, 기술된 그 순서대로 수행될 필요는 없다.
상술한 것들 뿐 아니라, 본 발명의 추가적인 목적, 특징 및 이점들이 동일한 참조부호가 동일한 요소에 대해 사용될 첨부 도면을 참조하여, 이하의 본 발명의 바람직한 실시예들의 예시적이고 제한적이지 않은 상세한 설명을 통해 보다 잘 이해될 것이다.
도 1은 다수의 LED 및 광을 측정하는 장치를 포함하는 조명 기구의 전반적인 원리를 개략적으로 도시한 도면.
도 2는 보다 상세화된 광 측정 장치 및, 장치의 투광 장치를 통해 전달되는 광의 광로를 개략적으로 도시한 도면.
도 3은 본 발명의 제1 실시예의 개략도.
도 4는 본 발명의 제2 실시예의 개략도.
도 5는 본 발명의 제3 실시예의 개략도.
도 6은 본 발명의 제4 실시예의 개략도.
도 7은 반구형 렌즈 형태의 각도 제한용 구조체의 개략도.
도 8은 본 발명의 제5 실시예의 개략도.
도 9는 본 발명의 제6 실시예의 개략도.
도 10은 본 발명의 제7 실시예의 개략도.
도 11은 본 발명의 제8 실시예의 개략도.
도 12는 광 측정 장치를 포함한 조명 기구의 개략도.
도 1에서, 광 측정 장치(100)의 전반적인 원리를 예시한다.
LED로부터 나온 광을 측정하는 장치(100)는 투광 장치(101) 및 광 센서(112), 및 유리하게는 간섭 필터(110)를 포함할 수 있다.
투광 장치(101)는 회로 기판(102) 상에 배치되며 웨지(wedge) 형상을 가져, 제1 면, 제2 면 및 제3 면을 포함한다. 투광 장치(101)의 제3 면은 회로 기판 쪽을 향하고 있고, 제1 면은 제1 LED(104) 쪽을 향하고 있고, 제2 면은 제1 면과 제3 면을 연결한다.
제1 LED(104)는 제1 위치에 놓여 있고, 또한 측정될 광원이다. 제1 LED(104)로부터 방출된 광은 투광 장치(101) 상으로 입사되고, 광 빔 A로 도시된다.
제1 위치는 제1 LED(104)로부터 방출된 광이 장치(100)에 쉽사리 입사되는 정도이며, 이는 제1 위치가 투광 장치(101)의 제1 면 앞에 있음을 의미한다.
제2 LED(106)가 제2 위치에 배치된다. 제2 LED(106)로부터 방출된 광은 광 빔 B로 도시된다.
제2 위치는 제2 LED(106)로부터 방출된 투광 장치(101)의 제2 면 상으로 입사되어, 장치(100)에서 멀어지게 반사되는 정도이다.
다른 광원들로부터 주위 광 또는 미광(stray light)이 발생할 수 있으며, 광 빔 C로 도시된다. 도시된 예에서, 광 빔은 제2 면 상으로 입사되어 장치(100)로부터 멀리 반사된다.
제2 면의 반사율을 개선하기 위해, 제2 면은 금속층(108)으로 코팅될 수 있다. 이 금속층은, 예를 들어, 알루미늄층일 수 있다.
제2 면은 광 빔 B로 도시된 제2 LED(106)로부터 나온 광, 또는 광 빔 C로 도시된 주위 광 등의 외부 광뿐 아니라, 광 빔 A로 도시된 제1 LED(104)로부터 나온 광과 같은 투광 장치(101) 내의 광도 반사한다.
광 빔 A로 도시된 제1 LED(104)로부터 나온 광이 제2 면 상에서 반사된 후에는, 간섭 필터(110) 상으로 입사될 수 있다. 간섭 필터의 목적은 제1 LED(104)가 520㎚의 파장을 갖는 녹색 LED인 경우 520㎚와 같은 소정의 파장을 갖는 광을 필터링하여 제거시키기 위한 것이다. 간섭 필터는, 예를 들어, 파브리-페롯 간섭 계(interferometer)일 수 있다.
간섭 필터 상으로 입사하는 광은 제1 면을 통해 투광 장치(101) 내로 들어가 제2 면 상에서 반사되기 때문에, 간섭 필터 상으로 입사하는 광에 대한 입사각 간격은 더 협소해진다. 이는 도 2에 관련하여 더 기술하기로 할 것이다.
광이 더 협소한 간격의 입사각을 가짐으로써, 간섭 필터(110)의 필터 응답의 각도 의존성을 경감시킬 수 있다.
광이 간섭 필터(110)를 통해 전달된 후, 광량을 등록하는 광 센서(112) 상으로 입사한다.
도 2에는, 장치(200)의 투광 장치(201) 및 제1 LED(204)가 상세히 도시되어 있다.
제1 LED(204)에서 발원되어 장치(200)의 제1 면 상으로 입사하는 광은 서로 다른 두 광 빔 A1 및 A2로 예시된다. 광 빔 A1은 제1 면 상에 직접 입사하는 광이 제2 면 상에 각도 β1로 충돌하는 것을 나타내며, 광 빔 A2는 제1 면의 단부 근처에 입사하는 광이 제2 면 상에 각도 β2로 충돌하는 것을 나타낸다.
본원에서는 α로 참조된 제1 면과 제2 면 사이의 각, 본원에서 a로 참조된 웨지의 길이, 본원에서 h로 참조된 웨지의 높이, 및 본원에서 x로 참조된 장치의 제2 면과 제1 LED 간의 거리를 선택함으로써, 간섭 필터 상으로의 입사각 간격을 조정할 수 있다.
제1 LED(204)가 점광원(point source)-본질적으로는 LED임-인 것으로 하고, 제1 LED가 또한 웨지 높이의 중간에 위치되는 것으로 하면, 간섭 필터(210) 상에 충돌하는 극입사각(extreme angles of incidnece)은 다음과 같이 주어진다. 즉,
Figure 112009002361184-PCT00001
웨지의 길이를 10㎛(a=10㎛)로, 제1 면과 제2 면 간의 각을 44°(α=44°)로, 제1 면과 제1 LED 간의 거리를 138㎛(x=138㎛)로 선택함으로써, 입사각의 변동은 4°보다 작다. 도 3에서, 본 발명의 제1 실시예가 예시된다.
본 발명의 다른 실시예에서, 광 센서(312)는 단지 투광 장치(301)의 제3 면의 길이의 일부만을 커버한다. 제3 면의 일부만을 커버함으로써, 제1 LED로부터는 더 적은 광이 광 센서(312) 상으로 입사하게 되고, 우선 제3 면 상에서, 그 후에는 제2 면 상에서, 최종으로는 광 센서(312) 상에서 더 적은 광이 반사될 것이다.
도 4에서, 본 발명의 제2 실시예가 예시된다.
이 실시예는 간섭 필터(410)가 광 센서(412)를 커버하는 것을 제외하고는 제1 실시예와 동일하다.
간섭 필터(410)를 가짐에 의해, 소정의 파장을 갖는 광만이 광 센서(412)에 전달될 것이다.
도 5에서, 본 발명의 제3 실시예가 도시된다.
이 실시예에서는, 광 센서(512)의 부분들이 광학 배리어(514)에 의해 커버된다. 이는 제2 실시예의 대안이며, 도 4에 도시된 제2 실시예와 동일한 이점을 갖는다.
도 6에서, 본 발명의 또 다른 실시예가 도시된다.
이 실시예는 간섭 필터(610)가 광 센서(612)를 커버하는 것을 제외하고는 제3 실시예와 동일하다.
간섭 필터(610)를 가짐에 의해, 소정의 파장을 갖는 광만이 광 센서(612)에 전달될 것이다.
도 7에서, 반구형 구조체 형태의 각도 제한용 구조체(700)가 예시된다.
투광 장치를 웨지로서 형성하는 이유들 중 하나는, 광 센서 상에 충돌하는 광에 대한 입사각 간격이 더 협소해지기 때문이다. 이것의 효과는 간섭 필터의 각 의존성이 감소한다는 것이다. 각도 제한용 구조체(700)를 도입함에 의해, 각 의존성은 더욱 줄어든다.
반구형 렌즈의 구면 상에 구면 렌즈가 배치되며, 반구형 렌즈의 평면 상에서 광 센서(712)가 렌즈의 중심에 배치된다. 이러한 설계에 의해, 반구형 렌즈의 구면에 대해 작은 각으로 충돌하는 광만이 광 센서(712)에 도달할 것이다. 바람직하게는, 센서 길이는 반구형 렌즈의 직경보다 짧다.
예시된 4 개의 광 빔 D1, D2, D3 및 D4가 도시된다.
D1은 반구형 렌즈 상에 입사각 0°및 반구형 렌즈의 중심선으로부터 거리 x1에서 충돌한다. 광 빔 D1은 반구형 렌즈에 입사할 때 굴절하여 광 센서(712)의 한 단부에서 충돌한다.
D2는 반구형 렌즈 상에 입사각 0°로 반구형 렌즈의 중심선에서 충돌한다. 이 광 빔은 굴절 없이 반구형 렌즈 상에 연속 입사하여 광 센서(712)의 중간에 충돌한다.
D3는 반구형 렌즈 상에 입사각 0°로 반구형 렌즈의 중심선으로부터 거리 x3에서 충돌한다. 이 광 빔은 입사각이 입사 위치에서 반구형 렌즈의 각에 대응하므로 굴절 없이 반구형 렌즈 상에 연속 입사하여, 광 센서(712)의 중간에 충돌한다.
D4는 반구형 렌즈 상에 입사각 30°및 반구형 렌즈의 중심선으로부터 거리 x4에서 충돌한다. 입사각은 현 지점에서 반구형 렌즈의 각에 대응하지 않으므로, 이 광 빔은 광 센서(712)에 충돌하기 전에 굴절된다.
도 8에서, 본 발명의 제5 실시예가 도시된다.
본 실시예는 여기서 반구형 렌즈로 도시된 각도 제한용 구조체(816)가 투광 장치(801) 내에 존재하는 것을 제외하고는, 도 5에 도시된 제3 실시예와 동일하다. 각도 제한용 구조체(816)를 가짐으로써, 광 센서(812) 상에 충돌하는 광의 입사각은 훨씬 더 협소해진다.
도 9에서, 본 발명의 제6 실시예가 도시된다.
본 실시예는 각도 제한용 구조체 간섭 필터(918)가 각도 제한용 구조체(916)의 투광 장치(901)의 제2 면 쪽에 위치된 면 상에 위치되는 것을 제외하고는, 도 8에 도시된 제5 실시예와 동일하다. 각도 제한용 구조체(916)가 반구형 렌즈이면, 이 면은 반구형 렌즈의 구면이다.
각도 제한용 구조체(916)를 가짐으로써, 간섭 필터에 대응하는 소정의 파장 을 갖는 광만이 각도 제한용 구조체(916)를 통해 전달되는 데, 이는 측정될 광원과 동일한 파장을 갖지 않는 광은 간섭 필터(916)를 통해 전달되는 것이 대부분은 방해를 받는다는 것을 의미한다.
도 10에서, 본 발명의 제7 실시예가 도시된다.
본 실시예는 간섭 필터(1010)가 각도 제한용 구조체(1016)와 광 센서(1012) 사이에 위치되는 것을 제외하고는, 도 8에 도시된 제5 실시예와 동일하다.
간섭 필터(1010)가 각도 제한용 구조체(1016)와 광 센서(1012) 사이에 위치됨으로써, 간섭 필터(1010)에 대응하는 소정의 파장 내의 광만이 광 센서(1012)에 전달되는 데, 이는 측정될 광원과 동일한 파장을 갖지 않는 광 대부분은 전달에 방해를 받는다는 것을 의미한다.
도 11에서, 본 발명의 제8 실시예가 도시된다.
본 실시예는, 제6 실시예에서와 같은 각도 제한용 구조체 간섭 필터(1118) 및 제7 실시예에서와 같은 간섭 필터(1110) 모두 존재하는 방식으로, 제6 실시예와 제7 실시예의 결합이다.
광이 각도 제한용 구조체(1116)에 입사하기 전의 간섭 필터와 광이 각도 제한용 구조체(1116)를 떠난 후의 간섭 필터인 두 간섭 필터를 가짐에 의해, 광원과 동일한 파장을 갖지 않는 광 대부분은 광 센서 상에 충돌하는 것이 방해를 받게 될 것이다.
도 2에서, 광원(1200), 광원(1200)으로부터 나온 광을 측정하는 상기 실시예에 따른 장치(1202), 및 측정된 광이 소정 레벨 내에 있는가를 판단하는 전기 장 치(1204)를 포함하는 조명 기구가 도시된다.
또한, 조명 기구는 전기 장치(1204)의 판단에 기초하여 광원(1200)을 제어하는 제어기(1206)를 더 포함할 수 있다.
지금까지, 본 발명은 주로 여러 실시예를 참조하면서 상술하였다. 그러나, 당업자라면 상술한 실시예 이외의 다른 실시예들도 첨부된 청구범위에 의해 한정된, 본 발명의 사상 내에서 균등하게 가능하다는 것을 쉽사리 인식할 수 있을 것이다.

Claims (16)

  1. 제1 위치에 배치된 제1 발광 장치(104)로부터 나온 광을 측정하기 위한 장치(100)로서,
    제1 면, 제2 면 및 제3 면의 적어도 3개 면을 갖는 투광 장치(101), 및
    광 센서(112)
    를 포함하며,
    상기 제1 면은 상기 제1 위치로부터 광이 입사되도록 구성되며,
    상기 제2 면은 상기 투광 장치(101) 내에서 입사광을 반사시키도록 구성되고,
    상기 제3 면은 출사광이 상기 광 센서(112) 상으로 입사하도록 구성되는
    광 측정 장치(100).
  2. 제1항에 있어서,
    상기 제2 면은 상기 투광 장치(101) 외부의 또 다른 위치로부터 입사하는 광을 반사하도록 구성되어 상기 또 다른 위치로부터의 상기 광은 상기 광 센서(112)의 외부로 입사되는 광 측정 장치(100).
  3. 제1항 또는 제2항에 있어서,
    상기 광 센서(112)의 길이는 상기 제3 면의 길이보다 짧은 광 측정 장 치(100).
  4. 제1항 또는 제2항에 있어서,
    개구부를 갖는 광학 배리어(514)가 상기 투광 장치(501)의 상기 제3 면과 상기 광 센서(512) 사이에 배치되는 광 측정 장치(500).
  5. 제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 제2 면은 반사층(108)으로 코팅되는 광 측정 장치(100).
  6. 제5항에 있어서,
    상기 반사층(108)은 금속층인 광 측정 장치.
  7. 제6항에 있어서,
    상기 금속층은 알루미늄층인 광 측정 장치(100).
  8. 제1항 내지 제7항 중 어느 한 항에 있어서,
    파장 범위 내의 광을 선택하기 위한 간섭 필터(110)를 더 포함하며,
    상기 간섭 필터(110)는 상기 투광 장치(101)의 상기 제3 면과 상기 광 센서(112) 사이에 배치되는 광 측정 장치(100).
  9. 제8항에 있어서,
    상기 간섭 필터(110)는 파브리-페롯(Pabry-Perot) 필터인 광 측정 장치.
  10. 제1항 내지 제9항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 투광 장치(801) 내에 배치되는 각도 제한용 구조체(816)를 더 포함하는 광 측정 장치(800).
  11. 제10항에 있어서,
    상기 각도 제한용 구조체(816)는 반구형 렌즈 구조체인 광 측정 장치(800).
  12. 제10항 또는 제11항에 있어서,
    상기 각도 제한용 구조체(916) 상에 각도 제한용 구조체 간섭 필터(916)가 배치되는 광 측정 장치(900).
  13. 제1항 내지 제12항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 투광 장치(101)는 아크릴레이트로 만들어지는 광 측정 장치(100).
  14. 제1항 내지 제13항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 제2 면 및 상기 제3 면은 각을 형성하고, 상기 제1 면은 상기 각에 대면하는 광 측정 장치(100).
  15. 조명 기구로서,
    광원(1200),
    상기 광원(1200)으로부터 방출된 광을 측정하기 위한, 제1항 내지 제14항 중 어느 한 항에 따른 장치(1202), 및
    상기 측정된 광이 소정 간격 내에 있는가를 판단하는 전기 장치(1204)
    를 포함하는 조명 기구.
  16. 제15항에 있어서,
    상기 전기 장치(1204)의 상기 판단에 기초하여 상기 광원(1200)을 제어하기 위한 제어기(1206)를 더 포함하는 조명 기구.
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