KR20090012803A - 발광 표시 장치 및 그의 제조 방법 - Google Patents

발광 표시 장치 및 그의 제조 방법 Download PDF

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Abstract

본 발명은 발광 표시 장치 및 그의 제조 방법에 관한 것으로, 기판 상에 서로 교차되도록 형성된 복수의 제 1 신호라인 및 제 2 신호라인, 제 1 신호라인 및 제 2 신호라인 사이에 연결된 복수의 발광 소자, 발광 소자로 전원전압을 공급하는 전원공급라인 그리고 제 1 신호라인 및 제 2 신호라인 중 적어도 하나에 각각 연결된 복수의 검사용 신호라인을 포함한다. 전원공급라인과 교차되는 부분의 검사용 신호라인이 일부 개방되고, 개방된 양단이 검사용 신호라인 하부의 도전영역을 통해 연결됨으로써 전원공급라인과 검사용 신호라인 사이의 절연층 두께가 증가되어 정전기에 의한 절연 파괴가 방지될 수 있다.
발광 표시 장치, 신호라인, 전원공급라인, 도전영역, 정전기

Description

발광 표시 장치 및 그의 제조 방법 {Light emitting display device and method of manufacturing the same}
도 1은 본 발명에 따른 발광 표시 장치를 설명하기 위한 평면도.
도 2a는 도 1에 도시된 A 부분의 확대 평면도.
도 2b는 도 2a의 I1 - I2 부분을 절취한 단면도.
도 3a 내지 도 3d는 본 발명에 따른 발광 표시 장치의 제조 방법을 설명하기 위한 단면도.
도 4는 원장 단위로 제조된 본 발명에 따른 발광 표시 장치를 설명하기 위한 평면도.
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>
100: 기판 102: 화소 영역
104: 비화소 영역 110a: 활성영역
110b: 도전영역 112: 게이트 절연층
113, 117: 콘택홀 114a: 게이트 전극
114b: 데이터 라인 114c: 검사용 신호라인
115, 116: 절연층 118a 및 118b: 소스 및 드레인 전극
118c: 주사 라인 118d: 전원공급라인
120: 패드 150: 발광 소자
210: 주사 구동부 220: 데이터 구동부
1000: 원장 기판 1210: 공통전원공급라인
1220: 공통신호라인
본 발명은 발광 표시 장치 및 그의 제조 방법에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 정전기(electrostatic discharge; ESD)로 인한 신호라인의 피해를 방지할 수 있는 발광 표시 장치 및 그의 제조 방법에 관한 것이다.
유기전계발광 표시 장치는 자체발광 특성을 갖는 차세대 표시 장치로서, 액정 표시 장치에 비해 시야각, 콘트라스트(contrast), 응답속도, 소비전력 등의 측면에서 우수한 특성을 가지며, 백라이트가 필요하지 않아 경량 및 박형으로 제작이 가능하다.
그런데 유기전계발광 표시 장치는 기판이 유리 등으로 이루어지기 때문에 제조 과정에서 정전기가 많이 발생한다. 낮은 전압으로 고속 동작하는 유기전계발광 소자나 구동회로에 정전기가 유입되면 오동작이 발생되거나 전기적 영향에 의해 파 손될 수 있다. 외부에서 발생된 정전기가 내부의 신호라인을 통해 구동회로로 유입되면 동작이 순간적으로 정지되거나, 회로를 구성하는 신호라인이 단선 또는 단락(short)된다. 특히, 정전기에 의해 과도한 전압이 집중될 경우 신호라인과 신호라인이 교차하는 부분에서 절연 파괴에 의해 단락이 발생된다.
본 발명의 목적은 정전기로 인한 신호라인의 피해를 방지할 수 있는 발광 표시 장치 및 그의 제조 방법을 제공하는 데 있다.
본 발명의 다른 목적은 서로 교차하는 신호라인 간의 단락을 방지할 수 있는 발광 표시 장치 및 그의 제조 방법을 제공하는 데 있다.
상기한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 일측면에 따른 발광 표시 장치는 기판, 상기 기판 상에 서로 교차되도록 형성된 복수의 제 1 신호라인 및 제 2 신호라인, 상기 제 1 신호라인 및 제 2 신호라인 사이에 연결된 복수의 발광 소자, 상기 발광 소자로 전원전압을 공급하는 전원공급라인, 그리고 상기 제 1 신호라인 및 제 2 신호라인 중 적어도 하나에 각각 연결된 복수의 검사용 신호라인을 포함하며, 상기 전원공급라인과 교차되는 부분의 상기 검사용 신호라인이 개방되고, 개방된 양단이 상기 검사용 신호라인 하부의 도전영역을 통해 연결된 것을 특징으로 한다.
상기한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 다른 일측면에 따른 발광 표시 장치 의 제조 방법은 기판 상에 박막 트랜지스터의 활성영역과 검사용 신호라인의 도전영역을 형성하는 단계, 전체 상부면에 게이트 절연층을 형성하고 상기 도전영역의 양측이 노출되도록 콘택홀을 각각 형성하는 단계, 상기 활성영역 상부의 상기 게이트 절연층 상에 게이트 전극 및 제 1 신호라인과, 상기 제 1 신호라인과 연결되며 상기 콘택홀을 통해 상기 도전영역의 양측과 연결되는 상기 검사용 신호라인을 형성하는 단계, 전체 상부면에 절연층을 형성하고 상기 활성영역의 양측이 노출되도록 콘택홀을 형성하는 단계, 상기 콘택홀을 통해 상기 활성영역의 양측과 각각 연결되는 소스 및 드레인 전극, 상기 제 1 신호라인과 교차되는 제 2 신호라인 및 상기 도전영역과 교차되는 전원공급라인을 형성하는 단계, 및 상기 소스 또는 드레인 전극과 연결되도록 발광 소자를 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 또 다른 일측면에 따른 발광 표시 장치는 서로 교차되는 스크라이브 라인에 의해 복수의 표시 패널이 정의되는 원장 기판, 상기 복수의 표시 패널에 각각 형성된 발광 표시 장치, 상기 발광 표시 장치 사이의 상기 원장 기판에 형성된 복수의 제 1 공통신호라인 및 상기 발광 표시 장치 사이의 상기 원장 기판에 상기 제 1 공통신호라인과 교차되도록 형성된 복수의 제 2 공통신호라인을 포함하고, 상기 발광 표시 장치는 상기 원장 기판 상에 서로 교차되도록 형성된 복수의 제 1 신호라인 및 제 2 신호라인, 상기 제 1 신호라인 및 제 2 신호라인 사이에 연결된 복수의 발광 소자, 상기 복수의 제 1 공통신호라인 중 적어도 하나와 연결되며, 상기 발광 소자로 전원전압을 공급하는 전원공급라인 및 상기 복수의 제 2 공통신호라인과 연결되며, 상기 제 1 신호라인 및 제 2 신호라인 중 적어도 하나에 각각 연결된 복수의 검사용 신호라인을 포함하며, 상기 전원공급라인과 교차되는 부분의 상기 검사용 신호라인이 개방되고, 개방된 양단이 상기 검사용 신호라인 하부의 도전영역을 통해 연결된 것을 특징으로 한다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 상세히 설명하기로 한다. 이하의 실시예는 이 기술 분야에서 통상적인 지식을 가진 자에게 본 발명이 충분히 이해되도록 제공되는 것으로서, 여러 가지 형태로 변형될 수 있으며, 본 발명의 범위가 다음에 기술되는 실시예에 한정되는 것은 아니다.
도 1은 본 발명에 따른 발광 표시 장치의 일 실시예를 설명하기 위한 평면도이다.
본 발명의 발광 표시 장치는 기판(100) 상에 서로 교차되도록 형성된 복수의 주사 라인(118c) 및 데이터 라인(114b), 복수의 주사 라인(118c) 및 데이터 라인(114b) 사이에 연결된 복수의 발광 소자(150), 발광 소자(150)로 전원전압을 공급하는 전원공급라인(118d) 그리고 주사 라인(118c) 및 데이터 라인(114b) 중 적어도 하나에 각각 연결된 복수의 검사용 신호라인(114c)을 포함한다.
기판(100)은 화소 영역(102)과 비화소 영역(104)으로 구분된다. 화소 영역(102)의 기판(100)에는 주사 라인(118c) 및 데이터 라인(114b) 사이에 배치되어 화소를 구성하는 발광 소자(150)가 형성된다. 패시브 매트릭스(passive matrix) 방식의 경우 주사 라인(118c) 및 데이터 라인(114b) 사이에 발광 소자(150)가 매트릭스 방식으로 연결되고, 액티브 매트릭스(active matrix) 방식의 경우 발광 소 자(150)의 동작을 제어하기 위한 박막 트랜지스터(Thin Film Transistor; TFT) 및 신호를 유지시키기 위한 캐패시터(capacitor)가 더 포함된다.
비화소 영역(104)은 화소 영역(102)의 주변 영역으로, 비화소 영역(104)의 기판(100)에는 입력 패드(120)를 통해 외부로부터 제공된 신호를 처리하여 주사 라인(118c) 및 데이터 라인(114b)으로 공급하는 주사 구동부(210) 및 데이터 구동부(220), 발광 소자(150)로 전원전압을 공급하는 전원공급라인(118d) 그리고 주사 라인(118c) 및 데이터 라인(114b)으로 검사용 신호를 공급하는 검사용 신호라인(114c)이 형성된다.
주사 구동부(210) 및 데이터 구동부(220)는 발광 소자(150)의 제조 과정에서 비화소 영역(104)의 기판(100) 상에 형성되거나, 별도의 집적회로 반도체 칩(chip)으로 제조된 후 칩 온 글라스(Chip On Glass) 또는 와이어 본딩(wire bonding) 방법 등으로 주사 라인(118c) 및 데이터 라인(114b)과 연결되도록 기판(100)에 부착될 수 있다.
전원공급라인(118d)은 비화소 영역(104)에 형성된 전원버스라인으로부터 화소 영역(102)의 발광 소자(150)로 전원전압이 분배되어 제공되도록 형성되고, 검사용 신호라인(114c)은 비화소 영역(104)에 형성된 신호버스라인으로부터 화소 영역(102)의 주사 라인(118c) 또는 데이터 라인(114b)으로 검사용 신호가 분배되어 제공되도록 형성된다.
본 발명의 발광 표시 장치는 화소 영역(102)의 주사 라인(118c) 및 데이터 라인(114b)으로 검사용 신호를 제공하기 위한 검사용 신호라인(114c)을 구비한다. 검사용 신호라인(114c)은 다수의 표시 패널이 하나의 기판에 제조되는 원장(mother) 단위의 제조 과정에서 다수의 표시 패널을 효율적으로 검사하기 위한 것으로, 각 표시 패널의 적색(R), 녹색(G) 또는 청색(B) 발광 소자(150)로 신호를 공급하여 발광 상태, 휘도 등을 검사하는 데 이용된다. 도면에는 하나의 검사용 신호라인(114c)만을 도시하였으나, 복수의 데이터 라인(114b) 각각에 검사용 신호라인(114c)이 연결되어 동일 열 또는 모든 열의 적색(R), 녹색(G) 또는 청색(B) 발광 소자(150)가 동시에 구동되도록 할 수 있다.
그런데 상기와 같은 구조에서는 기판(100)의 비화소 영역(104)에 형성된 검사용 신호라인(114c)이 화소 영역(102)의 주사 라인(118c) 또는 데이터 라인(114b)과 연결되기 때문에 비화소 영역(104)에서 전원공급라인(118d)과 교차될 수 있다. 따라서 전원공급라인(118d)과 검사용 신호라인(114c) 사이의 절연층이 얇은 두께로 형성되거나 정전기 등에 의해 과도한 전압이 집중될 경우 전원공급라인(118d)과 검사용 신호라인(114c)이 교차되는 부분에서 절연 파괴에 의해 단락이 발생될 수 있다.
따라서 본 발명은 전원공급라인(118d)과 교차되는 부분의 검사용 신호라인(114c)이 일부 개방되고, 개방된 양단이 검사용 신호라인(114c) 하부의 도전영역을 통해 연결되도록 한다.
도 2a 및 도 2b는 전원공급라인(118d)과 검사용 신호라인(114c)이 교차되는 부분(도 1의 A 부분)을 확대 도시한 평면도 및 단면도로서, 전원전압(ELVDD)이 공급되는 전원공급라인(118d)과 검사용 데이터 신호(VDATA)가 공급되는 검사용 신호 라인(114c)을 도시한다.
도 2a 및 도 2b를 참조하면, 검사용 신호라인(114c)은 전원공급라인(118d)보다 하부에 형성되고, 절연층(112, 115 및 116)에 의해 전원공급라인(118d)과 전기적으로 절연된다.
전원공급라인(118d)과 교차되는 부분(도 2b의 B 부분)의 검사용 신호라인(114c)은 일부 개방되고, 개방된 양단이 검사용 신호라인(114c) 하부에 형성된 도전영역(110b)을 통해 연결된다. 이 때 검사용 신호라인(114c)의 개방된 양단은 검사용 신호라인(114c)과 전원공급라인(118d) 사이의 절연층(112)에 형성된 콘택홀(113)을 통해 도전영역(110b)과 연결된다.
검사용 신호라인(114c)의 개방된 양단 간의 거리는 전원공급라인(118d)의 폭보다 큰 것이 바람직하며, 도전영역(110b)은 양측부가 검사용 신호라인(114c)의 양단부와 충분히 중첩되는 크기를 갖는 것이 바람직하다.
그러면 상기와 같이 구성된 본 발명에 따른 발광 표시 장치의 제조 방법을 도 3a 내지 도 3d를 통해 설명하기로 한다.
도 3a 내지 도 3d는 본 발명에 따른 발광 표시 장치의 제조 방법을 설명하기 위한 단면도로서, 발광 소자(150)가 형성된 화소 영역(102) 및 전원공급라인(118d)과 검사용 신호라인(114c)이 교차되는 비화소 영역(104)을 개략적으로 도시한다.
도 3a를 참조하면, 화소 영역(102) 및 비화소 영역(104)으로 정의된 기판(100)을 준비한다. 기판(100)의 화소 영역(102)에는 박막 트랜지스터의 활성영역(110a)을 형성하고, 비화소 영역(104)에는 검사용 신호라인(114c)의 도전영 역(110b)을 형성한다. 활성영역(110a) 및 도전영역(110b)은 폴리실리콘과 같은 반도체층으로 형성한다. 활성 영역(110a)은 박막 트랜지스터의 소스 및 드레인 영역과 채널 영역으로 이용되고, 도전영역(110b)은 전도성을 가지도록 P형 또는 N형 불순물 이온으로 도핑될 수 있다. 또한, 활성영역(110a) 및 도전영역(110b)을 형성하기 전에 기판(100) 상에 실리콘 산화막이나 실리콘 질화막 등으로 버퍼층(도시안됨)을 형성할 수 있다.
활성영역(110a) 및 도전영역(110b)을 포함하는 전체 상부면에 게이트 절연층(112)을 형성한 후 도전영역(110b)의 양측이 소정 부분 노출되도록 콘택홀(113)을 형성한다.
도 3b를 참조하면, 활성영역(110a) 상부의 게이트 절연층(112) 상에는 게이트 전극(114a) 및 게이트 전극(114a)과 연결되는 데이터 라인(114b)을 형성하고, 도전영역(110b) 양측의 게이트 절연층(112) 상에는 콘택홀(113)을 통해 도전영역(110b)의 양측과 각각 연결되는 검사용 신호라인(114c)을 형성한다. 게이트 전극(114a)과 검사용 신호라인(114c)은 폴리실리콘이나 금속으로 형성할 수 있다.
도 3c를 참조하면, 게이트 전극(114a) 및 검사용 신호라인(114c)을 포함하는 전체 상부면에 층간 절연막(115 및 116)을 형성한다. 그리고 층간 절연막(115 및 116)과 게이트 절연층(112)을 패터닝하여 활성영역(110a)의 소스 및 드레인 영역이 노출되도록 콘택홀(117)을 형성한다. 층간 절연막(115 및 116)은 절연 및 평탄화를 위한 것으로, 도면에는 이층 구조를 도시하였으나, 단일층 또는 이층 이상의 다층 구조로도 형성할 수 있다.
도 3d를 참조하면, 화소 영역(102)에는 콘택홀(117)을 통해 활성영역(110a)의 소스 및 드레인 영역과 연결되는 소스 및 드레인 전극(118a 및 118b) 그리고 소스 및 드레인 전극(118a 및 118b)과 연결되는 주사 라인(118c)을 형성하고, 비화소 영역(104)에는 전원공급라인(118d)을 형성한다. 이 때 전원공급라인(118d)의 일부분은 검사용 신호라인(114c)의 도전영역(110b)과 교차되도록 형성된다.
이 후 소스 또는 드레인 전극(118a 또는 118b)과 연결되도록 발광 소자(150)를 형성한다. 발광 소자(150)는 애노드 전극, 유기 박막층 및 캐소드 전극을 포함하며, 유기 박막층은 정공 수송층, 유기 발광층 및 전자 수송층이 적층된 구조로 형성되거나, 정공 주입층과 전자 주입층을 더 포함할 수 있다. 유기전계발광 소자의 제조 과정은 대한민국 공개특허 제2003-0092873호(2003. 12. 06. 공개)를 참조할 수 있다.
도 4는 원장 단위로 제조된 본 발명에 따른 발광 표시 장치의 개략적인 평면도로서, 원장 기판(1000)의 일부를 도시한다.
원장 기판(1000)은 서로 교차되는 스크라이브 라인(scribe line; 1100)에 의해 복수의 표시 패널로 구분된다. 각 표시 패널에는 도 1과 같이 발광 표시 장치가 형성된다. 이 때 동일 방향으로 배열된 각 표시 패널의 검사용 신호라인(114c) 및 전원공급라인(118d)은 원장 기판(1000)에 서로 교차되도록 배열된 복수의 공통신호라인 중 공통전원공급라인(1210) 및 공통신호라인(1220)에 공통으로 연결된다. 따라서 원장 기판(1000)의 가장자리에 형성되는 패드부(도시안됨)를 통해 공통전원공급라인(1210) 및 공통신호라인(1220)으로 전원전압 및 검사용 신호를 공급함으로써 각 표시 패널의 발광 소자(150)를 검사할 수 있다. 이 때 공통전원공급라인(1210) 및 공통신호라인(1220)을 적절하게 배열하면 각 표시 패널을 선택적으로 검사할 수 있음은 물론이다.
각 발광 표시 장치의 검사가 완료되면 스크라이브 라인(1100)을 따라 원장 기판(1000)을 절단하여 복수의 표시 패널을 각각 분리한다. 이 때 스크라이브 라인(1100)을 따라 원장 기판(1000)이 절단됨으로써 공통전원공급라인(1210)과 전원공급라인(118d) 그리고 공통신호라인(1220)과 검사용 신호라인(114c)은 전기적으로 서로 분리된다. 분리된 표시 패널의 기판(100) 가장자리에서 전원공급라인(118d) 및 검사용 신호라인(114c)의 단면이 노출될 수 있다.
분리된 표시 패널에서 검사용 신호라인(114c)은 전기적으로 플로팅(floating) 상태를 유지하지만, 발광 표시 장치의 안정적인 동작을 위해서는 주사 라인(118c) 또는 데이터 라인(114b)과 검사용 신호라인(114c)이 박막 트랜지스터 등으로 이루어진 스위치(도시안됨)를 통해 연결되도록 하여 주사 라인(118c) 또는 데이터 라인(114b)과 검사용 신호라인(114c)이 전기적으로 완전히 분리되도록 하는 것이 바람직하다.
이상에서와 같이 상세한 설명과 도면을 통해 본 발명의 최적 실시예를 개시하였다. 용어들은 단지 본 발명을 설명하기 위한 목적에서 사용된 것이지 의미 한정이나 특허청구범위에 기재된 본 발명의 범위를 제한하기 위하여 사용된 것은 아니다. 그러므로 본 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상에 의해 정해져야 할 것이다.
상술한 바와 같이 본 발명은 검사용 신호라인을 구비하는 발광 표시 장치를 제공한다. 검사용 신호라인은 전원공급라인과 교차되는 부분에서 일부 개방되고, 개방된 양단은 검사용 신호라인 하부에 형성된 도전영역을 통해 연결된다. 전원공급라인과 검사용 신호라인이 교차되는 부분에서 전원공급라인과 검사용 신호라인 사이의 간격이 증가됨으로써 절연층의 두께를 증가시킬 수 있다. 따라서 정전기에 의해 과도한 전압이 집중될 경우에도 절연 파괴가 방지될 수 있으므로 발광 표시 장치의 전기적 특성 및 신뢰성이 향상된다.

Claims (21)

  1. 기판;
    상기 기판 상에 서로 교차되도록 형성된 복수의 제 1 신호라인 및 제 2 신호라인;
    상기 제 1 신호라인 및 제 2 신호라인 사이에 연결된 복수의 발광 소자;
    상기 발광 소자로 전원전압을 공급하는 전원공급라인; 및
    상기 제 1 신호라인 및 제 2 신호라인 중 적어도 하나에 각각 연결된 복수의 검사용 신호라인을 포함하며,
    상기 전원공급라인과 교차되는 부분의 상기 검사용 신호라인이 개방되고, 개방된 양단이 상기 검사용 신호라인 하부의 도전영역을 통해 연결된 발광 표시 장치.
  2. 제 1 항에 있어서, 상기 검사용 신호라인의 개방된 양단 간의 거리가 상기 전원공급라인의 폭보다 큰 발광 표시 장치.
  3. 제 1 항에 있어서, 상기 검사용 신호라인의 개방된 양단은 상기 검사용 신호라인과 상기 전원공급라인 사이의 절연층에 형성된 콘택홀을 통해 상기 도전영역과 연결된 발광 표시 장치.
  4. 제 3 항에 있어서, 상기 절연층이 다층 구조로 형성된 발광 표시 장치.
  5. 제 1 항에 있어서, 상기 도전영역이 반도체층으로 이루어진 발광 표시 장치.
  6. 제 1 항에 있어서, 상기 제 1 신호라인 및 제 2 신호라인과 상기 발광 소자 사이에 연결된 박막 트랜지스터를 더 포함하는 발광 표시 장치.
  7. 제 6 항에 있어서, 상기 검사용 신호라인은 상기 박막 트랜지스터의 게이트 전극과 동일한 층으로 형성되고, 상기 전원공급라인은 상기 박막 트랜지스터의 소스 및 드레인 전극과 동일한 층으로 형성되며, 상기 도전영역은 상기 박막 트랜지스터의 활성영역과 동일한 층으로 형성된 발광 표시 장치.
  8. 제 7 항에 있어서, 상기 도전영역 및 상기 활성영역이 반도체층으로 이루어진 발광 표시 장치.
  9. 제 1 항에 있어서, 상기 기판의 가장자리에서 상기 검사용 신호라인의 단면이 노출되는 발광 표시 장치.
  10. 기판 상에 박막 트랜지스터의 활성영역과 검사용 신호라인의 도전영역을 형성하는 단계;
    전체 상부면에 게이트 절연층을 형성하고 상기 도전영역의 양측이 노출되도록 콘택홀을 각각 형성하는 단계;
    상기 활성영역 상부의 상기 게이트 절연층 상에 게이트 전극 및 제 1 신호라인과, 상기 제 1 신호라인과 연결되며 상기 콘택홀을 통해 상기 도전영역의 양측과 연결되는 상기 검사용 신호라인을 형성하는 단계;
    전체 상부면에 절연층을 형성하고 상기 활성영역의 양측이 노출되도록 콘택홀을 형성하는 단계;
    상기 콘택홀을 통해 상기 활성영역의 양측과 각각 연결되는 소스 및 드레인 전극, 상기 제 1 신호라인과 교차되는 제 2 신호라인 및 상기 도전영역과 교차되는 전원공급라인을 형성하는 단계; 및
    상기 소스 또는 드레인 전극과 연결되도록 발광 소자를 형성하는 단계를 포함하는 발광 표시 장치의 제조 방법.
  11. 제 10 항에 있어서, 상기 활성영역 및 상기 도전영역을 반도체층으로 형성하는 발광 표시 장치의 제조 방법.
  12. 제 10 항에 있어서, 상기 절연층을 다층 구조로 형성하는 발광 표시 장치의 제조 방법.
  13. 제 10 항에 있어서, 상기 검사용 신호라인을 상기 기판의 주변 영역에 형성 하는 발광 표시 장치의 제조 방법.
  14. 서로 교차되는 스크라이브 라인에 의해 복수의 표시 패널이 정의되는 원장 기판;
    상기 복수의 표시 패널에 각각 형성된 발광 표시 장치;
    상기 발광 표시 장치 사이의 상기 원장 기판에 형성된 복수의 제 1 공통신호라인; 및
    상기 발광 표시 장치 사이의 상기 원장 기판에 상기 제 1 공통신호라인과 교차되도록 형성된 복수의 제 2 공통신호라인을 포함하고,
    상기 발광 표시 장치는 상기 원장 기판 상에 서로 교차되도록 형성된 복수의 제 1 신호라인 및 제 2 신호라인;
    상기 제 1 신호라인 및 제 2 신호라인 사이에 연결된 복수의 발광 소자;
    상기 복수의 제 1 공통신호라인 중 적어도 하나와 연결되며, 상기 발광 소자로 전원전압을 공급하는 전원공급라인; 및
    상기 복수의 제 2 공통신호라인과 연결되며, 상기 제 1 신호라인 및 제 2 신호라인 중 적어도 하나에 각각 연결된 복수의 검사용 신호라인을 포함하며,
    상기 전원공급라인과 교차되는 부분의 상기 검사용 신호라인이 개방되고, 개방된 양단이 상기 검사용 신호라인 하부의 도전영역을 통해 연결된 발광 표시 장치.
  15. 제 14 항에 있어서, 상기 스크라이브 라인을 따라 상기 원장 기판이 절단됨으로써 상기 제 1 공통신호라인과 상기 전원공급라인 그리고 상기 제 2 공통신호라인과 상기 검사용 신호라인이 서로 분리되는 발광 표시 장치.
  16. 제 14 항에 있어서, 상기 검사용 신호라인의 개방된 양단 간의 거리가 상기 전원공급라인의 폭보다 큰 발광 표시 장치.
  17. 제 14 항에 있어서, 상기 검사용 신호라인의 개방된 양단은 상기 검사용 신호라인과 상기 전원공급라인 사이의 절연층에 형성된 콘택홀을 통해 상기 도전영역과 연결된 발광 표시 장치.
  18. 제 14 항에 있어서, 상기 도전영역이 반도체층으로 이루어진 발광 표시 장치.
  19. 제 14 항에 있어서, 상기 제 1 신호라인 및 제 2 신호라인과 상기 발광 소자 사이에 연결된 박막 트랜지스터를 더 포함하는 발광 표시 장치.
  20. 제 19 항에 있어서, 상기 검사용 신호라인은 상기 박막 트랜지스터의 게이트 전극과 동일한 층으로 형성되고, 상기 전원공급라인은 상기 박막 트랜지스터의 소스 및 드레인 전극과 동일한 층으로 형성되며, 상기 도전영역은 상기 박막 트랜지 스터의 활성영역과 동일한 층으로 형성된 발광 표시 장치.
  21. 제 20 항에 있어서, 상기 도전영역 및 상기 활성영역이 반도체층으로 이루어진 발광 표시 장치.
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