KR20080109612A - Abnormality detection system and method for coaxial cable, and processing apparatus equipped with said system - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 동축 케이블의 이상을 검지하는 동축 케이블의 이상 검지 시스템과 그 이상 검지 방법, 및 그 이상 검지 시스템을 구비한 처리 장치에 관한 것이다. The present invention relates to a coaxial cable abnormality detection system for detecting abnormality of a coaxial cable, an abnormality detection method, and a processing apparatus including the abnormality detection system.
플랫 패널 디스플레이나 반도체 장치의 제조에 있어서는 플라즈마 에칭 처리나 CVD 성막 처리 등, 고주파 전력을 사용하는 처리 장치를 이용한 공정이 존재한다. 고주파 전력은 RF 제네레이터에서 발생되고, 발생된 고주파 전력은 급전선으로서의 동축 케이블에 입력되어, 동축 케이블의 임피던스와 처리 장치의 임피던스를 정합시키는 정합기를 거친 후, 처리 장치에 공급된다. In the manufacture of flat panel displays and semiconductor devices, there are steps using a processing device that uses high frequency power, such as a plasma etching process or a CVD film forming process. The high frequency power is generated by the RF generator, and the generated high frequency power is input to the coaxial cable as a feed line, passes through a matcher for matching the impedance of the coaxial cable with the impedance of the processing apparatus, and then is supplied to the processing apparatus.
플랫 패널 디스플레이나 반도체 장치의 제조에 사용되는 처리 장치는 커서, 처리 장치 본체에 설치된 정합기에서 RF 제네레이터까지의 거리도 멀어지는 일이 있다. 특히, 플랫 패널 디스플레이의 제조에 사용되는 처리 장치의 동축 케이블의 길이는 20m에서 30m에 이르는 경우가 많이 있다. 동축 케이블의 길이가 길어지면, 공장 내에의 장치 시공시나, 동축 케이블을 이동시켰을 때 등에 동축 케이블이 뜻하지 않게 꺾여져서, 동축 케이블 안의 내부 도체가 단선되어 버리는 일이 있다. 내부 도체가 단선되면, 고주파 전력을 처리 장치에 공급할 수 없게 되어, 처리 장치에서 플라즈마가 발생하지 않게 된다. The processing apparatus used for manufacturing a flat panel display or a semiconductor device is large, and the distance from the matching unit provided in the processing apparatus main body to the RF generator may be too long. In particular, the length of the coaxial cable of the processing apparatus used for the manufacture of flat panel displays often ranges from 20 m to 30 m. If the length of the coaxial cable becomes long, the coaxial cable may be unintentionally bent at the time of installation of the equipment in the factory or when the coaxial cable is moved, and the internal conductor in the coaxial cable may be disconnected. When the internal conductor is disconnected, high frequency power cannot be supplied to the processing apparatus, and plasma is not generated in the processing apparatus.
내부 도체가 단선된 동축 케이블은, 단선된 부분에서 특성 임피던스가 어긋나는 현상이 일어난다. 이 현상을 이용하여, 외부 측정 기기, 예컨대, 네트워크 애널라이저를 이용하여 동축 케이블의 특성 임피던스를 측정하면, 단선 발생의 유무, 및 단선된 부분을 검지할 수 있다. In the coaxial cable in which the inner conductor is disconnected, a characteristic impedance shift occurs at the disconnected portion. By using this phenomenon, if the characteristic impedance of the coaxial cable is measured using an external measuring device such as a network analyzer, the presence or absence of disconnection can be detected and the disconnected portion can be detected.
이 측정 및 검지에 있어서는 동축 케이블을 RF 제네레이터 및 정합기로부터 분리하여, 동축 케이블의 한쪽 단부를 네트워크 애널라이저에 연결하고, 다른 단부를 종단 저항을 거쳐서 접지한다. 동축 케이블의 특성 임피던스가 50Ω이라면, 종단 저항을 50Ω로 해서 동축 케이블의 특성 임피던스를 측정한다. 이 때에, 특성 임피던스가 50Ω에서 크게 변화되는 부분이 보일 때가 있다. 이러한 동축 케이블은 내부 도체에 단선을 일으킨 것으로, 특성 임피던스가 크게 변화된 곳이 단선된 부분이다. In this measurement and detection, the coaxial cable is separated from the RF generator and matching device, one end of the coaxial cable is connected to the network analyzer, and the other end is grounded through a termination resistor. If the characteristic impedance of the coaxial cable is 50Ω, the characteristic impedance of the coaxial cable is measured with the termination resistance set to 50Ω. At this time, a part where the characteristic impedance greatly changes in 50? Such a coaxial cable causes the internal conductor to be disconnected, and is a part where the characteristic impedance is greatly changed.
네트워크 애널라이저를 이용한 측정 및 검지에서는 동축 케이블의 내부 도체가 단선하는 등, 완전히 이상인 상태가 되지 않으면, 그 이상을 검지할 수가 없다. In the measurement and detection using a network analyzer, abnormality cannot be detected unless the internal conductor of the coaxial cable is completely abnormal, such as disconnection.
동축 케이블의 꺾임은 내부 도체가 완전히 이상인 상태에 이르지 않는 것 같은 좌굴이나 크랙을 발생시키는 일이 있다. 내부 도체에 좌굴이나 크랙이 발생한 동축 케이블은 완전한 이상을 초래한 동축 케이블과는 달리, 정상적인 동축 케이블과 같이 처리 장치에 대하여 고주파 전력을 공급할 수 있다. 즉, 처리 장치에 있어서는 정상으로 플라즈마가 발생한다. 이 때문에, 내부 도체에 좌굴이나 크랙이 발생한 동축 케이블은 정상적인 동축 케이블과 구별이 되지 않는다. The bending of the coaxial cable may cause buckling and cracks that do not lead to a state in which the inner conductor is completely abnormal. Coaxial cables, which have buckled or cracked internal conductors, can provide high frequency power to the processing device, just like normal coaxial cables, unlike coaxial cables that have caused complete anomalies. That is, in the processing apparatus, plasma is generated normally. For this reason, a coaxial cable in which buckling or cracking occurs in the inner conductor is indistinguishable from a normal coaxial cable.
좌굴이나 크랙은 약간의 이상일지도 모르지만, 좌굴이나 크랙은 동축 케이블에 있어서 특이점임은 틀림없다. 특이점을 갖은 동축 케이블을 계속 쓰고 있으면, 결국 동축 케이블에 불량을 발생시켜 버릴 가능성이 있다. Buckling and cracking may be a bit of anomalies, but buckling and cracking must be the singularity of coaxial cables. If the coaxial cable having a singular point is used continuously, there is a possibility that the coaxial cable will eventually be defective.
그러나, 좌굴이나 크랙은 동축 케이블의 특성 임피던스를 크게 변화시키지 않는다. 이 때문에, 좌굴이나 크랙은 네트워크 애널라이저로서는 검지하는 것이 곤란하다. 더구나, 네트워크 애널라이저와 같은 외부 측정 기기를 이용한 측정 및 검지에서는 동축 케이블을 RF 제네레이터 및 정합기로부터 분리하고, 다시 외부 측정 기기에 연결해야 한다. 이 때문에, 처리 장치는 정지하지 않을 수 없다. However, buckling and cracking do not significantly change the characteristic impedance of the coaxial cable. For this reason, buckling and cracking are difficult to detect with a network analyzer. Furthermore, measurements and detection using external measurement devices such as network analyzers require that the coaxial cable be disconnected from the RF generator and matcher and then connected to the external measurement device. For this reason, the processing apparatus is forced to stop.
본 발명은 좌굴이나 크랙과 같은 약간의 이상도 검지할 수 있고, 또한 약간의 이상을, 처리 장치를 정지시키지 않고 검지하는 것이 가능한 동축 케이블의 이 상 검지 시스템과 해당 이상 검지 방법, 및 해당 이상 검지 시스템을 구비한 처리 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다. The present invention can detect a slight abnormality such as buckling or cracking, and can detect a slight abnormality without stopping the processing apparatus, the abnormality detecting system of the coaxial cable, and the abnormality detecting method, and the abnormality detecting method. It is an object to provide a processing apparatus having a system.
상기 과제를 해결하기 위해서, 본 발명의 실시예 1에 관한 동축 케이블의 이상 검지 시스템은 한쪽 단부를 RF 제네레이터의 출력에 접속하고, 다른쪽 단부를 정합기의 입력에 접속한 동축 케이블과, 상기 동축 케이블의 상기 RF 제네레이터의 출력에 있어서의 반사파 R을 검출하는 제 1 반사파 검출 수단과, 상기 동축 케이블의 상기 정합기의 입력에 있어서의 반사파 r을 검출하는 제 2 반사파 검출 수단과, 상기 반사파 R과 상기 반사파 r을 비교하여, 상기 반사파 R과 상기 반사파 r의 관계가 R>r이고, 상기 반사파 R과 상기 반사파 r의 차분이 규정값을 넘을 때에 상기 동축 케이블 중의 이상 발생을 검지하는 검지기를 구비한다. In order to solve the said subject, the coaxial cable abnormality detection system which concerns on Example 1 of this invention is a coaxial cable which connected one end to the output of an RF generator, and the other end to the input of a matcher, and the said coaxial. First reflected wave detection means for detecting reflected wave R at the output of said RF generator of the cable, second reflected wave detecting means for detecting reflected wave r at the input of said matcher of said coaxial cable, and said reflected wave R; The reflection wave r is compared with each other, and a detector is provided for detecting an abnormality in the coaxial cable when the relationship between the reflection wave R and the reflection wave r is R> r and the difference between the reflection wave R and the reflection wave r exceeds a prescribed value. .
또한, 본 발명의 실시예 2에 관한 동축 케이블의 이상 검지 방법은 동축 케이블의 한쪽 단부를 RF 제네레이터의 출력에 접속하고, 상기 동축 케이블의 다른쪽 단부를 정합기의 입력에 접속하며, 상기 동축 케이블의 상기 RF 제네레이터의 출력에 있어서의 반사파 R을 검출하고, 상기 동축 케이블의 상기 정합기의 입력에 있어서의 반사파 r을 검출하며, 상기 반사파 R과 상기 반사파 r을 비교하여, 상기 반사파 R과 상기 반사파 r의 관계가 R>r이고, 상기 반사파 R과 상기 반사파 r의 차분이 규정값을 넘을 때에 상기 동축 케이블 중의 이상 발생을 검지한다. Moreover, the abnormality detection method of the coaxial cable which concerns on Example 2 of this invention connects one end of a coaxial cable to the output of an RF generator, and connects the other end of the coaxial cable to the input of a matcher, and said coaxial cable Detects the reflected wave R at the output of the RF generator, detects the reflected wave r at the input of the matcher of the coaxial cable, compares the reflected wave R with the reflected wave r, and compares the reflected wave R with the reflected wave When the relationship of r is R> r and the difference between the reflected wave R and the reflected wave r exceeds a prescribed value, abnormality occurrence in the coaxial cable is detected.
또한, 본 발명의 실시예 3에 관한 동축 케이블의 이상 검지 시스템을 구비한 처리 장치는 고주파 전력을 발생하는 RF 제네레이터와, 피처리기체에 처리를 실시하는 처리 장치와, 상기 RF 제네레이터의 출력에 한쪽 단부를 접속한다, 상기 RF 제네레이터로부터의 고주파 전력을 상기 처리 장치에 급전하는 급전선으로서의 동축 케이블과, 입력을 상기 동축 케이블의 다른쪽 단부에 접속하여, 출력을 상기 처리 장치에 접속하는 상기 동축 케이블의 임피던스와 상기 처리 장치의 임피던스를 정합시키는 정합기와, 상기 정합기를 제어하는 컨트롤러와, 상기 동축 케이블의 상기 RF 제네레이터의 출력에 있어서의 반사파 R을 검출하는 제 1 반사파 검출 수단과, 상기 동축 케이블의 상기 정합기의 입력에 있어서의 반사파 r을 검출하는 제 2 반사파 검출 수단과, 상기 반사파 R과 상기 반사파 r을 비교하여, 상기 반사파 R과 상기 반사파 r의 관계가 R>r이고, 상기 반사파 R과 상기 반사파 r의 차분이 규정값을 넘을 때에 상기 동축 케이블 중의 이상 발생을 검지하는 검지기를 구비한다.Moreover, the processing apparatus provided with the abnormality detection system of the coaxial cable which concerns on Example 3 of this invention is an RF generator which generate | occur | produces a high frequency electric power, the processing apparatus which processes a to-be-processed body, and the output of the said RF generator. The coaxial cable serving as a feeder for feeding the high frequency power from the RF generator to the processing apparatus, and the coaxial cable connecting the input to the other end of the coaxial cable and connecting the output to the processing apparatus. A matcher for matching an impedance with an impedance of the processing apparatus, a controller for controlling the matcher, first reflected wave detection means for detecting reflected wave R at an output of the RF generator of the coaxial cable, and the coaxial cable Second reflected wave detecting means for detecting reflected wave r at the input of the matching unit; Comparing the reflected wave R with the reflected wave r and detecting an abnormality in the coaxial cable when the relationship between the reflected wave R and the reflected wave r is R> r and the difference between the reflected wave R and the reflected wave r exceeds a prescribed value. A detector is provided.
본 발명에 의하면, 좌굴이나 크랙과 같은 약간의 이상도 검지할 수 있고, 또한 약간의 이상을 처리 장치를 정지시키지 않고 검지하는 것이 가능한 동축 케이블 이상 검지 시스템과 해당 이상 검지 방법, 및 해당 이상 검지 시스템을 구비한 처리 장치를 제공할 수 있다. According to the present invention, a slight abnormality such as buckling or cracking can be detected and a slight abnormality can be detected without stopping the processing apparatus, a coaxial cable abnormality detection system, the abnormality detection method, and the abnormality detection system. The processing apparatus provided with this can be provided.
이하, 첨부 도면을 참조하여 지렛대의 발명의 일 실시예에 대하여 구체적으 로 설명한다. Hereinafter, with reference to the accompanying drawings will be described in detail an embodiment of the invention of the lever.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 관한 동축 케이블의 이상 검지 시스템을 구비한 처리 장치의 일례를 나타내는 구성도이다. BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS It is a block diagram which shows an example of the processing apparatus provided with the abnormality detection system of the coaxial cable which concerns on one Embodiment of this invention.
도 1에 도시하는 바와 같이 일 실시예에 관한 동축 케이블의 이상 검지 시스템을 구비한 처리 장치는 고주파 전력을 발생하는 RF 제네레이터(1)와, 피처리기체에 처리를 실시하는 처리 장치(2)와, RF 제네레이터(1)로부터의 고주파 전력을 처리 장치(2)에 급전하는 급전선으로서의 동축 케이블(3)과, 동축 케이블(3)의 임피던스와 처리 장치(2)의 임피던스를 정합시키는 정합기(4)와, 이 정합기(4)를 제어하는 컨트롤러(5)와, 동축 케이블 중의 이상 발생을 검지하는 검지기(6)를 구비한다.As shown in FIG. 1, a processing apparatus including an abnormality detection system for a coaxial cable according to an embodiment includes an
처리 장치(2)의 예로서는 플랫 패널 디스플레이나 반도체 장치의 제조에 사용되는 플라즈마 드라이 에칭 장치나 플라즈마 CVD 장치 등을 들 수 있다. 도 1에서는 일례로서 플랫 패널 디스플레이(FPD) 플라즈마 드라이 에칭 장치를 나타낸다. FPD 플라즈마 드라이 에칭 장치는 예컨대 피처리기체(21)인 유리 기판상의 박막을 제거하여, 회로 패턴을 에칭에 의해 형성하는 공정 등에 사용된다. 고주파 전력은 피처리기체(21), 본 예에서는 유리 기판이 탑재되는 탑재대(22)에 공급된다. 에칭 가스는 피처리기체(21)의 윗쪽에 마련된 샤워 헤드(23)로부터 챔버(24) 내부에 공급된다. 샤워 헤드(23)는 접지되어 있고, 탑재대(22)의 대향 전극으로서 기능한다. As an example of the
동축 케이블(3)은 한쪽 단부를 RF 제네레이터(1)의 출력(11)에 접속하고, 다 른쪽 단부를 정합기(4)의 입력(41)에 접속한다. 정합기(4)의 출력(42)은 처리 장치(2)에 접속된다.The
검지기(6)는 동축 케이블(3)의 RF 제네레이터(1)의 출력(11)에 있어서의 반사파 R과, 마찬가지로 동축 케이블(3)의 정합기(4)의 입력(41)에 있어서의 반사파 r을 비교한다. 검지기(6)는 반사파 R과 반사파 r의 관계가 R>r이고, 또한 반사파 R과 반사파 r의 차분이 규정값을 넘을 때에, 동축 케이블(3) 중에 이상이 발생한 것을 검지한다.The
반사파 R 및 반사파 r은, 이들을 검출하는 반사파 검출 수단을 별도 마련하고 별도 마련한 검출 수단을 이용하여 검출해도 되지만, 본 예에서는 RF 제네레이터(1) 및 정합기(4)에 구비되어 있는 정재파비 검출 기판(VSWR(Voltage Standing Wave Ratio) 기판)이 검출한 반사파를 이용한다. 즉, 본 예에서는 반사파 R은 RF 제네레이터(1)에 구비된 정재파비 검출 기판(VSWR 기판)(12)이 검출한 반사파 R을 이용하고, 반사파 r은 정합기(4)에 구비된 정재파비 검출 기판(VSWR 기판)(43)이 검출한 반사파 r을 이용한다. Although the reflected wave R and the reflected wave r may be separately detected by using the reflection means which separately provided the reflection wave detection means which detects these, and in this example, the standing wave ratio detection board | substrate with which the
또한, 규정값의 일례는 다음과 같다. In addition, an example of a prescribed value is as follows.
동축 케이블(3)이 정상적인 상태에서는 반사파 R과 반사파 r의 관계는 "R≒r"이다. 반사파 R과 반사파 r의 차분은 동축 케이블(3)의 길이나 고주파 전력의 크기로 변하지만, 대략 100W 미만이다. In the normal state of the
이에 반해, 동축 케이블(3)의 내부 도체에 이상이 있는 상태에서는 반사파 R과 반사파 r의 관계가 "R>r"로 된다. 또한, 반사파 R과 반사파 r의 차분이 동축 케이블(3)의 길이나 고주파 전력의 크기로 변하지만, 대략 100W 이상 200W 정도까지 확대한다. 따라서, 규정값은 100W 이상 200W 이하로 한다. 예컨대, 규정값을 101W로 설정한 경우에는 검지기(6)는 반사파 R과 반사파 r의 관계가 R>r로 되고, 반사파 R과 반사파 r의 차분이 101W 이상, 또는 101W를 넘을 때에 동축 케이블(3) 중에 이상이 발생했다고 검지한다. On the other hand, in the state where the internal conductor of the
동축 케이블(3)의 내부 도체에 이상이 있으면, 반사파 R과 반사파 r의 관계가 "R>r"가 되고, 또한 반사파 R과 반사파 r의 차분이 100W 이상으로 확대하는 이유 중 하나를 이하에 나타낸다. If there is an abnormality in the inner conductor of the
도 2(a)는 동축 케이블(3)이 정상적인 상태일 때의 반사파 R과 반사파 r의 관계를 도시한 도면, 도 2(b)는 동축 케이블(3)의 내부 도체에 이상이 있을 때의 반사파 R과 반사파 r의 관계를 도시하는 도면이다. FIG. 2 (a) shows the relationship between the reflected wave R and the reflected wave r when the
도 2(a)에 도시하는 바와 같이 동축 케이블(3)이 정상적인 상태일 때에는 RF 제네레이터(1)로부터의 고주파 전력은 거의 그대로 정합기(4)의 입력(41)에 입력된다. 이 때, 입력(41) 부분에서 반사파 r가 생기지만, 이 반사파 r도 거의 그대로 RF 제네레이터(1)의 출력(11)에 도달한다. 이 때문에, RF 제네레이터(1)의 출력(11)에 있어서의 반사파 R과, 정합기(4)의 입력에 있어서의 반사파 r은 거의 같아진다. 즉, RF 제네레이터(1) 측의 정재파비 검출 기판(VSWR 기판)(12)이 검출하는 반사파 R과, 정합기(4)측의 정재파비 검출 기판(43)이 검출하는 반사파 r의 관계는 "R≒r"이 된다. As shown in Fig. 2A, when the
이에 반해서, 동축 케이블(3)의 내부 도체에 이상이 있을 때에는 도 2(b)에 도시하는 바와 같이 RF 제네레이터(1)로부터의 고주파 전력의 일부가, 이상 부분(7)에서 반사한다. 이 때문에, 정합기(4)의 입력(41)에 입력되는 고주파 전력은 정상적인 상태인 경우에 비해서 감소한다. 그 결과, 반사파 r도 정상적인 상태의 경우에 비해서 감소한다. On the other hand, when there is an abnormality in the inner conductor of the
또한, RF 제네레이터(1)의 출력(11)에는 반사파 r에 더해서, 이상 부분(7)에서 반사한 반사파 r'가 도달한다. 그 결과, RF 제네레이터(1)의 출력(11)에 있어서의 반사파 R은 반사파 r보다 커진다. 따라서, RF 제네레이터(1)측의 정재파비 검출 기판(VSWR 기판)(12)이 검출하는 반사파 R과, 정합기(4)측의 정재파비 검출 기판(43)이 검출하는 반사파 r의 관계는 "R>r"가 되고, 반사파 R과 반사파 r의 차분도 예컨대, 100W 이상으로 확대한다. In addition to the reflected wave r, the
이와 같이, 본 일 실시예에서는 도 2(a) 및 도 2(b)에 나타낸 관계를 이용하여, 동축 케이블(3)의 내부 도체에 이상이 발생했는지 여부를 검지한다. As described above, in the present embodiment, whether or not an abnormality has occurred in the inner conductor of the
또한, 도 2(b)에 나타낸 이상 부분(7)에 있어서의 반사 현상은 내부 도체에 발생한 약간의 이상, 예컨대 좌굴이나 크랙으로도 나타나기 때문에, 좌굴이나 크랙과 같은 약간의 이상이라도 검지할 수 있다.In addition, since the reflection phenomenon in the
검지기(4)에 이상이 검지된 때에는 예컨대, RF 제네레이터(1) 및 처리 장치(2)를 정지시켜 동축 케이블(3)을 교환한다. RF 제네레이터(1), 및 처리 장치(2)는 검지기(6)로부터의 직접의 명령에 의해서 정지시켜도 되고, 예컨대 처리 장치(2)를 조작하는 조작 장치(8)의 디스플레이(81)에 "이상의 발생"을 표시하거나, 또는 경보기(10)를 울려서 "이상의 발생"을 통지하기도 해서, "이상의 발생"을 조작자에게 알려서, 조작자 자신에 의해 RF 제네레이터(1) 및 처리 장치(2)를 정 지시키도록 해도 된다. When abnormality is detected by the
상기 "이상의 발생"의 표시나, 상기 "이상의 발생"의 통보는 필요에 따라서 채용되면 되고, 채용하는 경우에는 어느 하나만, 또는 쌍방을 채용해도 된다. The display of the above abnormal occurrence and the notification of the above abnormal occurrence may be employed as necessary. In the case of employing, only one or both may be employed.
또한, 본 예의 검지기(6)는 정합기(4)를 제어하는 컨트롤러(5)에, 검지기(6)의 기능을 부가하고, 검지기(6)를 컨트롤러(5)에 내장하도록 했지만, 검지기(6)는 예컨대, 컨트롤러(5)의 외부 부착 기기여도 된다. In addition, although the
도 1에 나타내는 장치에 있어서는 동축 케이블의 이상 검지 시스템(100)으로서 기능하는 부분은 동축 케이블(3), 동축 케이블(3)의 RF 제네레이터(1)의 출력(11)에 있어서의 반사파 R을 검출하는 제 1 반사파 검출 수단(본 예에서는 정재파비 검출 기판(VSWR 기판)(12)), 동축 케이블(3)의 정합기(4)의 입력(41)에 있어서의 반사파 r을 검출하는 제 2 반사파 검출 수단(본 예에서는 정재파비 검출 기판(VSWR 기판)(43)), 및 반사파 R과 반사파 r을 비교하여, 반사파 R과 반사파 r의 관계가 R>r이고, 반사파 R과 반사파 r의 차분이 규정값을 넘을 때에 동축 케이블(3) 중의 이상 발생을 검지하는 검지기(6)의 부분이다. In the apparatus shown in FIG. 1, the portion functioning as the
이러한 이상 검지 시스템(100)에는 상술한 바와 같이 "이상의 발생"을 표시하는 디스플레이(81)나, "이상의 발생"을 통보하는 경보기(10)를 필요에 따라서 부착할 수 있다.As described above, the
다음으로, 이상 검지 시스템(100)의 조작 순서의 일례에 대하여 설명한다.Next, an example of the operation procedure of the
도 3은 이상 검지 시스템(100)의 조작순서의 일례를 나타내는 플로우 차트이 다.3 is a flowchart showing an example of an operation procedure of the
우선, RF 제네레이터(1)의 온에서부터의 딜레이 시간을 설정한다(ST. 1).First, the delay time from the ON of the
이 딜레이 시간은 RF 제네레이터(1)가 온하고, 고주파 전력이 안정되서 정합기(4)에 공급되기까지의 대기 시간이다. 딜레이 시간은 동축 케이블(3)의 길이나 고주파 전력의 크기에 따라 변하지만, 일례를 들면 10초이다.This delay time is a waiting time until the
다음으로, 반사파 R과 반사파 r의 차분, 즉 규정값을 설정한다(ST. 2).Next, the difference between the reflected wave R and the reflected wave r, that is, a prescribed value, is set (ST. 2).
규정값은 상술한 바와 같이, 동축 케이블(3)의 길이나 고주파 전력의 크기에 따라 변하지만 일례를 들면 100W 이상 200W 이하다. As described above, the prescribed value varies depending on the length of the
다음으로, 검출 시간을 설정한다(ST. 3).Next, the detection time is set (ST. 3).
검출 시간은 반사파 R과 반사파 r을 비교하여, 반사파 R과 반사파 r의 관계가 R>r이고, 반사파 R과 반사파 r의 차분이 규정값을 넘는지 여부를 모니터하는 시간이다. 이 검출 시간도 동축 케이블(3)의 길이나 고주파 전력의 크기에 따라 변하지만, 일례를 들면 대략 5초 이상 10초 이하다. The detection time is a time for comparing the reflected wave R with the reflected wave r, and monitoring whether the relationship between the reflected wave R and the reflected wave r is R> r and the difference between the reflected wave R and the reflected wave r exceeds a prescribed value. This detection time also varies depending on the length of the
이러한 순서 ST. 1∼ST. 3를 밟음으로써 이상 검지 시스템(100)에, 딜레이 시간, 규정값 및 검출 시간의 검지 데이터가 세트된다. 이들 데이터는 예컨대, 도 1에 나타내는 조작 장치(8)의 입력 수단(예컨대 키보드)(82)으로부터 입력되어, 이상 검지 시스템(100)의 검지기(6)에 세트된다. This order ST. 1 to ST.
또한, 검지 데이터의 설정 순서는 도 3에 나타내는 순서에 한하지 않고 임의여도 된다. In addition, the setting order of detection data is not limited to the procedure shown in FIG. 3, and may be arbitrary.
또한, 설정된 검지 데이터를 컨트롤러(5), 또는 주사 장치(8)에 기억시킴으 로써, 데이터의 변경이 없는 한, 순서 ST. 1∼ST. 3는 한번의 실시로 좋다.Also, by storing the set detection data in the
검지 데이터를 세트한 후, RF 제네레이터(1)를 온하고(ST. 4), 고주파 전력을 처리 장치(2)에 공급하여, 피처리기체(21)에 대한 처리를 시작한다(ST. 5). 또한, RF 제네레이터(1)가 온한 후, 딜레이 시간 경과 후에, 동축 케이블(3)에 대한 이상 검지를 시작한다(ST. 6). 본 일 실시예에서는 동축 케이블(3)에 대한 이상 검지가, 피처리기체(21)에 대한 처리와 병행하여 실행된다. After the detection data is set, the
이와 같이, 본 실시예에 관한 이상 검지 시스템(100)은 동축 케이블(3)에 대한 이상 검지를, 피처리기체(21)의 처리와 병행하여 실행할 수 있기 때문에, 좌굴이나 크랙과 같은 약간의 이상을 검지할 수 있을 뿐만 아니라, 이 약간의 이상을 처리 장치(2)를 정지시키지 않고 검지할 수 있다. 더구나, 동축 케이블(3)에 대한 이상 검지를, 피처리기체(21)에 대한 처리와 병행하여 실행하기 때문에, 처리 장치(2)의 스루풋도 방해하지 않는다. As described above, since the
또한, 이상 검지 시스템(100)은 피처리기체(21)에 대한 처리간, 검지를 반복하면서 상시 가동시켜도 되고, 간헐적으로, 예컨대, 수 분 사이들 두고 가동시켜도 된다. In addition, the
다음으로, 동축 케이블(3)의 일례에 대하여 설명한다. Next, an example of the
도 4는 동축 케이블(3)의 일례를 나타내는 사시도이다. 4 is a perspective view illustrating an example of the
플랫 패널 디스플레이나 반도체 장치의 제조에 사용되는 플라즈마 드라이 에칭 장치나 플라즈마 CVD 장치에 사용하는 동축 케이블(3)의 하나로서, 경량화를 위해, 내부 도체(31)를 중공(中空) 형상으로 한 동축 케이블(3')이 있다. 이 동축 케이블(3')의 일례를 도 4에 나타낸다. 중공 형상의 도체로서는 동파이프나, 알루미늄파이프 등이 사용된다. One of the
그러나, 내부 도체(31)를 중공 형상의 도체로 한 동축 케이블(3')은 도 5(a)에 도시하는 바와 같이 극단적으로 꺾어 버리면, 도 5(b)에 도시하는 바와 같이 꺾여진 부분에 좌굴(32)이 일어나기 쉽다. 좌굴(32)이 일어나 버리면, 본래의 상태에 되돌아가는 것은 거의 생각할 수 없기 때문에, 동축 케이블(3') 중의 특이점으로서, 거의 영구적으로 남아 버린다. However, if the coaxial cable 3 'with the
이러한 내부 도체(31)가 좌굴하기 쉬운 동축 케이블(3')에 있어서도, 본 실시예에 관한 이상 검지 시스템(100)을 이용하면, 좌굴(32)이 발생했는지 여부를 간단히 검지할 수 있기 때문에, 좌굴하기 쉬운 동축 케이블(3)'이여도 안전하게 사용할 수 있다. Also in the coaxial cable 3 'which such an
이상, 본 발명을 일 실시예에 의해 설명했지만, 본 발명은 상기 일 실시예에 한정되지 않고 여러가지 변형이 가능하다. 또한, 본 발명의 실시예는 상기 일 실시예가 유일한 실시예도 아니다. As mentioned above, although one Example demonstrated this invention, this invention is not limited to the said Example, A various deformation | transformation is possible. In addition, the embodiment of the present invention is not the only embodiment described above.
예컨대, 상기 일 실시예에서는 처리 장치(2)로서, 플랫 패널디스플레이나 반도체 장치의 제조에 사용되는 플라즈마 드라이 에칭 장치나 플라즈마 CVD 장치를 설명했지만, 고주파 전력을 사용하는 처리 장치라면, 상기 장치에 한정되는 것이 아니다. For example, in the above embodiment, the plasma dry etching apparatus and the plasma CVD apparatus used for the manufacture of the flat panel display and the semiconductor apparatus are described as the
그 외에, 상기 일 실시예는 본 발명의 주지를 일탈하지 않는 범위에서 여러가지 변형이 가능하다. In addition, the above embodiment can be modified in various ways without departing from the spirit of the present invention.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 관한 동축 케이블의 이상 검지 시스템을 구비한 처리 장치의 일례를 나타내는 구성도,BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS The block diagram which shows an example of the processing apparatus provided with the abnormality detection system of the coaxial cable which concerns on one Embodiment of this invention.
도 2(a)는 동축 케이블(3)이 정상적인 상태일 때의 반사파 R과 반사파 r의 관계를 도시한 도면, 도 2(b)는 동축 케이블(3)의 내부 도체에 이상이 있을 때의 반사파 R과 반사파 r의 관계를 도시한 도면,FIG. 2 (a) shows the relationship between the reflected wave R and the reflected wave r when the
도 3은 이상 검지 시스템(100)의 조작 순서의 일례를 나타내는 플로우차트,3 is a flowchart showing an example of an operation procedure of the
도 4는 동축 케이블(3)의 일례를 나타내는 사시도,4 is a perspective view showing an example of the
도 5(a)는 동축 케이블(3')이 꺾여진 상태를 나타내는 단면도, 도 5(b)는 꺾여진 동축 케이블(3')에 좌굴(32)이 발생한 상태를 나타내는 단면도.Fig. 5A is a cross-sectional view showing a state where the coaxial cable 3 'is bent, and Fig. 5B is a cross-sectional view showing a state where the buckling 32 is generated in the bent coaxial cable 3'.
도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명Explanation of symbols for the main parts of the drawings
1 : RF 제네레이터 2 : 처리 장치1: RF Generator 2: Processing Unit
3,3' : 동축 케이블 4 : 정합기3,3 ': coaxial cable 4: matcher
5 : 컨트롤러 6 : 검지기5: controller 6: detector
8 : 조작 장치 10 : 경보기8: operating device 10: alarm
11 : RF 제네레이터의 출력 12 : 정재파비 검출 기판11: output of RF generator 12: standing wave ratio detection board
31 : 내부 도체 32 : 좌굴된 부분31: inner conductor 32: buckled portion
41 : 정합기의 입력 42 : 정합기의 출력41: input of matcher 42: output of matcher
43 : 정재파비 검출 기판43: standing wave ratio detection substrate
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