KR20080087652A - 자기 기억 장치, 제어 장치 및 부상량 제어 방법 - Google Patents

자기 기억 장치, 제어 장치 및 부상량 제어 방법 Download PDF

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KR20080087652A
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겐 야쿠와
츠요시 다카하시
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후지쯔 가부시끼가이샤
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Abstract

본 발명의 과제는 자기디스크에 기인한 문제점, 즉 자기 특성의 불균일에 주목하여 헤드의 부상량을 보다 정확히 제어하여 기록 성능, 독출 성능을 향상시키고, 고밀도화를 한층 더 도모하여 기억 용량을 향상시킬 수 있는 자기 디스크 장치를 제공하는 것이다.
본 발명에 따르면, 자기 기억 매체의 부상량의 보정을 행하는 단위로 자기 기억 매체의 자기 특성에 대응한 부상량 제어 수단의 제어값을 저장해 두는 저장부로부터, 기록 또는 독출을 행하는 위치에 대응한 제어값을 얻어 부상량 제어 수단의 제어를 행하여 헤드의 부상량을 제어한다. 그 때문에, 자기 기억 매체의 자기 특성을 고려하여 헤드의 부상량을 정확히 제어하여 기록 성능, 독출 성능을 향상시키고, 고밀도화를 한층 더 도모하여 기억 용량을 향상시킬 수 있게 된다.

Description

자기 기억 장치, 제어 장치 및 부상량 제어 방법{MAGNETIC DEVICE, METHOD OF CONTROLLING MAGNETIC DEVICE, AND METHOD OF CONTROLLING FLYING HEIGHT}
본 발명은 헤드의 기억 매체에 대한 부상량의 제어에 관한 것이다.
자기 디스크 장치(HDD: Hard Disk Drive)는 데스크탑형 퍼스널 컴퓨터, 노트북형 퍼스널 컴퓨터, 서버, 네비게이션 장치, AV(Audio Visual) 기기 등의 여러 가지 제품에 탑재되어 있다. HDD의 기억 용량의 증가 요구에 따라 자기 디스크의 기록 밀도의 증가가 요구되고 있다. 기록 밀도를 높이기 위해서는 자기 디스크의 비트 사이를 좁게 하여 기록할 수 있는 신호를 증가시킬 필요가 있다.
반면, 자기 디스크의 비트 밀도(BPI)가 높아지면, 정보의 기록 또는 독출을 행하기 위한 헤드의 부상량을 더욱 낮추어 헤드를 자기 디스크에 근접시킬 필요가 있다.
헤드의 부상량을 제어하는 기술에 관한 선행 기술 문헌으로서는 하기의 것이 있다.
[특허 문헌 1] 일본 특허 공개 평성 제5-20635호 공보
[특허 문헌 2] 일본 특허 공개 제2006-24289호 공보
헤드의 부상량을 저하시키고, 헤드를 자기 디스크에 근접시키면, 자기 디스크의 대략 원주 방향에서 생기는 자기 특성의 불균일이 정보의 기록 성능, 독출 성능에 부여하는 영향이 커진다.
구체적으로는, 자성층에 자기 이방성을 부여하기 위해서 자기 디스크의 기판 표면에 대략 원주 방향으로 형성되는 텍스쳐의 영향이나 막 두께 분포에 의해 대략 원주 방향으로 자기 특성의 불균일이 발생한다.
본 발명은 자기 디스크에 기인한 문제점, 즉 자기 특성의 불균일에 주목하여 헤드의 부상량을 보다 정확히 제어하여 기록 성능, 독출 성능을 향상시키고, 고밀도화를 한층 더 도모하여 기억 용량을 향상시키는 것을 목적으로 한다.
본 발명은 자기 기억 매체에 정보의 기록 또는 독출을 행하는 헤드와, 상기 헤드의 부상량을 제어하는 부상량 제어부와, 상기 자기 기억 매체에 있어서의 상기 헤드의 부상량의 보정을 행하는 단위로 상기 자기 기억 매체의 자기 특성에 대응한 상기 부상량 제어부의 제어값을 저장해 두는 저장부와, 기록 또는 독출을 행하는 위치에 대응한 제어값을 상기 저장부로부터 얻어 상기 부상량 제어부의 제어를 행하여 상기 헤드의 부상량을 제어하는 제어부를 갖는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명은, 상기 자기 특성이 상기 헤드의 상기 자기 기억 매체에 대한 정보의 기록 특성인 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명은, 상기 자기 특성이 상기 헤드의 상기 자기 기억 매체에 대한 정보의 독출 특성인 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명은, 자기 기억 매체에 정보의 기록 또는 독출을 행하는 헤드와, 상기 헤드의 상기 자기 기억 매체면측의 위치를 바꿀 수 있는 위치 제어 수단과, 상기 헤드가 상기 기억 매체로부터 독출한 에러 레이트의 값에 기초하여 상기 위치 제어 수단을 제어하여 상기 헤드의 부상량을 변경하는 제어부를 갖는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명은, 헤드의 자기 기억 매체에 대한 부상량을 부상량 제어부에 의해 제어하는 부상량 제어 방법에 있어서, 상기 자기 기억 매체에 있어서의 상기 헤드의 부상량의 보정을 행하는 단위로 상기 기억 매체의 자기 특성에 대응한 상기 부상량 제어부의 제어값을 저장하는 저장부로부터, 기록 또는 독출을 행하는 위치에 대응한 제어값을 얻는 제1 공정과, 얻어진 상기 제어값에 의해 상기 부상량 제어부의 제어를 행하여 상기 헤드의 부상량을 제어하는 제2 공정을 갖는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명은, 상기 자기 특성이 상기 헤드의 상기 자기 기억 매체에 대한 정보의 기록 특성인 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명은, 상기 자기 특성이 상기 헤드의 상기 자기 기억 매체에 대한 정보의 독출 특성인 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명은 헤드의 자기 기억 매체에 대한 부상량을 부상량 제어부에 의해 제어하는 제어 장치에 있어서, 상기 자기 기억 매체에 있어서의 상기 부상량 의 보정을 행하는 단위로, 상기 기억 매체의 자기 특성에 대응한 상기 부상량 제어부의 제어값을 저장하는 저장부로부터, 기록 또는 독출을 행하는 위치에 대응한 제어값을 얻고, 얻어진 상기 제어값에 의해 상기 부상량 제어부의 제어를 행하여 상기 헤드의 부상량을 제어하는 것을 특징으로 한다.
본 발명에 따르면, 자기 기억 매체의 자기 특성을 고려하여 헤드의 부상량을 정확히 제어하여 기록 성능, 독출 성능을 향상시키고, 고밀도화를 한층 더 도모하여 기억 용량을 향상시킬 수 있게 된다.
이하에 도면을 이용하여 본 발명의 실시 형태에 대해서 설명한다.
(실시예 1)
(HDD의 하드웨어 구성도)
도 1은 본 발명에 실시 형태에 있어서의 HDD의 하드웨어 구성의 일례를 간략하게 도시한 블록도이다. 도 1에 도시된 바와 같이 HDD(100)는 HDD(100) 전체의 제어 및 호스트 장치(도시하지 않음)와의 호스트 인터페이스를 통한 송수신을 제어하는 프린트 회로부(PCA: Printed Circuit Assembly)(11)와, 디스크 인크로져(DE: Disk Enclosure)(12)로 이루어진다.
PCA(11)는 하드디스크 컨트롤러(HDC: Hard Disk Controller)(111), 마이크로 컨트롤 유닛(MCU: Micro Control Unit)(112), 리드 채널(RDC: Read Channel)(113), RAM(Random Access Memory)(114), ROM(Read Only Memoty)(115) 및 서보 콤보 칩(SVC: Servo Combo Chip)(116)을 갖는다. HDC(111)는 인터페이스 프로토콜 제어, 데이터 버퍼 제어, 디스크 포맷 제어 등의 제어를 행한다. MCU(112)는 연산 처리를 행하여 HDC(111), RDC(113) 및 SVC(116)의 제어와, RAM(114) 및 ROM(115) 등의 HDD(100) 내의 메모리의 관리를 행한다. RDC(113)는 기억 매체인 자기 디스크(125)에 대한 데이터의 기록 또는 독출을 위한 처리인 부호화 또는 복호화 등을 행한다. HDC(111), MCU(112) 및 RDC(113)는 제어부(110)를 구성한다. RAM(114)는 MCU(112)가 이루는 연산 처리의 중간 데이터를 포함한 각종 데이터를 저장한다. ROM(115)은 MCU(112)가 실행하는 프로그램이나 데이터 등을 저장한다. SVC(116)는 MCU(112)로부터의 지시에 기초하여 DE(12) 내의 보이스 코일 모터(VCM: Voice Coil Motol)(122) 및 스핀들 모터(SPM: Spindle Motor)(124)에 대한 구동 전류 제어를 행한다.
DE(12)는 프리앰프 IC(121), VCM(122), 액츄에이터(123), SPM(124), 자기 디스크(125), 자기 헤드(126) 및 온도 센서(TSNS: Temperature Sensor Nodes)(127)를 갖는다. 도 1에는 2장의 자기 디스크(125)가 설치되고, 각 자기 디스크(125)에 대하여 한 쌍의 자기 헤드(126)가 설치되어 있는 경우가 도시되어 있지만, 자기 디스크(125)의 수와 자기 헤드(126)의 수는 도 1의 경우에 한정되는 것은 아니다. 프리앰프 IC(121)는 라이트 신호를 증폭하여 자기 헤드(126)에 공급하는 라이트 드라이버(121W)와, 자기 헤드(126)로부터의 리드 신호를 증폭하는 리드 드라이버(121R)와, 자기 헤드(126) 내의 히터(도시하지 않음)를 구동하는 히터 드라이버(121H)를 자기 헤드(126)의 수 N에 해당하는 채널수 N만큼 가지며, 이들의 동작/비동작을 선 택적으로 전환한다. VCM(122)은 자기 헤드(126)를 지지하는 액츄에이터(123)를 자기 디스크의 대략 반경 방향으로 구동한다. SPM(124)은 자기 디스크(125)를 소정의 회전수에 따라 회전시킨다. 자기 헤드(126)는, 도 2에 있어서 후술하지만, 대응하는 자기 디스크(125)에 대하여 라이트 신호를 기록하는 라이트 헤드와, 대응하는 자기 디스크(125)로부터 리드 신호를 독출하는 리드 헤드와 히터를 갖는다. 온도 센서(127)는 DE(12) 내의 온도, 즉, HDD(100)의 환경 온도를 검출하는 것으로, 예컨대 서미스터이다.
(자기 헤드의 내부 구조)
도 2는 RDC(113) 및 프리앰프 IC(121)를 자기 헤드(126)의 내부 구조와 함께 도시한 도면이다. 도 2에 도시된 바와 같이, 프리앰프 IC(121) 내에는 히터 제어 회로(121A)가 설치되어 있고, 자기 헤드(126)에는 리드 헤드(126R), 라이트 헤드(126W) 및 코일로 구성된 히터(126H)를 갖는다. 리드 헤드(126R)가 자기 디스크(125)로부터 읽어들인 리드 신호는 리드 프리앰프(121)로 증폭하여 RDC(113)에 공급한다. 라이트 헤드(126W)는 RDC(113)로부터의 라이트 신호를 라이트 드라이버(121W)를 통해 수신하고, 자기 디스크(125)에 기록한다. 히터(126H)는 히터 제어 회로(121A)에 의해 히터 드라이버(121H)를 통해 그 발열량이 제어된다. 또한, 히터(126H)를 코일로 구성함으로써, 박막 자기 헤드의 공정에 있어서 히터를 제조할 수 있다고 하는 이점이 있다. 또한, 코일은 전류가 흐르고 나서 발열할 때까지 걸리는 시간이 짧고, 응답 특성이 좋다고 하는 이점이 있다.
(자기 헤드의 단면도)
도 3은 자기 헤드(126)의 주요부를 도시한 단면도이다. 도 2에 도시된 라이트 헤드(126W)는 예컨대 도 3에 도시한 바와 같이 상부 자극(1261)과 하부 자극(1262)에 코일(1263)이 감긴 구조를 갖는다. 코일(1263)에 전류가 공급되면 자계가 라이트 갭에 발생하고, 자기 디스크(125)로의 라이트 신호의 기록이 행해진다. 리드 헤드(126R)는 예컨대 도 3에 도시된 바와 같이 알루미나로서 알려진 산화알루미늄(Al2O3)을 이용한 절연층 안에 상부 실드겸 전극(1265), 하부 실드겸 전극(1266)을 형성하고, 매체 상대면(1268)의 리드 갭이 되는 위치에 리드 소자(1267)를 배치한 구조를 갖고 있다. 상부 실드겸 전극(1265), 하부 실드겸 전극(1266)은 리드 소자(1267)에 유입시켜야 할 자속(磁束) 이외의 자속을 흡수한다. 리드 소자(1267)는 자속의 유입에 기초하여 저항값이 변화된다. 이 저항값의 변화를 이용하여 리드 헤드(126R)는 신호를 판독하고 있다. 히터(126H)는 공급되는 히터 전류에 의해 발열량이 제어되어 그 발열량에 따라 히터 주위의 절연재(세라믹재 등) 자기 헤드 수지부(1264)를 포함한 자기 헤드(126)의 각부가 도 3에 있어서 점선으로 도시한 팽창부(1269)와 같이 열팽창한다. 이 열팽창은 자기 헤드(126)의 부상면, 즉, 자기 디스크(125)를 향하는 방향으로 발생한다. 이 열팽창한 부분의 값은 자기 헤드 팽창량(돌출량)이라 불린다. 통상은 자기 헤드(126)의 부상량은 F1로 유지되고 있다. 히터 전류를 공급함으로써, 히터 전력에 따른 열팽창이 도 3에 있어서 점선으로 도시한 바와 같이 발생하고, 히터 전력에 따라 팽창량(PQ)이 변화된다. 따라서, 자기 헤드(126)의 매체측 선단부(1260)와 매체와의 스페이싱은 이 자 기 헤드 팽창량(PQ)분만큼 저하되어 도 3에 도시한 F2가 된다. 또한, 스페이싱에 대해서는 도 9를 이용하여 후술한다.
(대응 관계를 나타낸 도면)
이하에, 각종 대응 관계를 나타낸 도면에 대해서 설명한다. 각 도면은 후술하는 자기 디스크의 트랙의 원주 방향으로 소정수로 분할된 각 섹터와 각 섹터에 있어서의 히터 전류의 대응 관계를 작성하는 처리에 있어서 사용된다.
도 4에 히터(126H)의 저항값이 100[Ω]인 경우의 히터 전류와 히터 전력의 대응 관계를 나타낸다.
도 5에 히터 전력과 자기 헤드 팽창량의 대응 관계를 나타낸다. 도 5에서 사각으로 플롯된 점은 자기 헤드에 있어서 리드 동작이 행해지고 있는 경우의, 히터 전력과 자기 헤드 팽창량의 관계를 나타낸다. 한편, 도 5에서 삼각으로 플롯된 점은 자기 헤드에 있어서 라이트 동작이 행해지고 있는 경우의, 히터 전력과 자기 헤드 팽창량의 관계를 나타낸다. 이와 같이, 리드 동작이 행해지고 있는 경우와, 라이트 동작이 행해지고 있는 경우에, 대응 관계가 다른 것은 라이트 동작이 행해지고 있는 경우, 라이트용 코일에 전류를 공급하고 있기 때문에, 라이트용 코일로부터의 발열과 히터의 발열의 양자에 의해 자기 헤드가 팽창하기 때문이다.
도 6에 자기 헤드 부상량이 변화된 경우의 자기 헤드 부상량과 리드 헤드(126R)로부터 독출되는 리드 신호의 SN비(Signal to Noise ratio)의 대응 관계를 나타낸다. 도 6으로부터 알 수 있는 바와 같이, 자기 헤드 부상량이 높아지면 SN비는 저하되고, 자기 헤드 부상량이 낮아지면 SN비가 향상되어 신호 품질이 향상된 다.
도 7에 SN비와 에러 레이트의 대응 관계를 나타낸다. 에러 레이트란 테스트 데이터를 자기 디스크에 기록하고 나서, 상기 테스트 데이터를 읽어들인 경우에, 기록한 횟수에 대하여 정상적으로 읽어들일 수 없던 횟수의 비율이다. 도 7로부터 알 수 있는 바와 같이, SN비가 높아지면, 즉, 자기 헤드 부상량이 낮아지면 에러 레이트는 낮아진다. 그 결과, 리드 신호의 오류율이 저하되어 신호 품질이 향상된다. 한편, SN비가 낮아지면, 즉, 자기 헤드 부상량이 높아지면, 에러 레이트가 높아진다. 그 결과, 리드 신호의 오류율이 증대되어 신호 품질이 저하된다.
도 8은 자기 기억 매체에 있어서의 보자력의 불균일을 나타내고 있다. 동일한 보자력의 값을 등고선 모양으로 나타내고 있다. 일점쇄선 또는 점선이 동일한 보자력의 값의 분포를 나타내고 있다. 이와 같이 보자력에 불균일이 있는 경우는, 동일 원주 상에서의 SN비에 영향이 발생한다. 또한, 보자력의 불균일은 자기 기억 매체를 제조할 때의 막 두께의 불균일에도 기인하고 있다. 자기 기억 매체는 유리나 알루미늄 등의 기판 위에 하지막, 자성막(기록막), 보호막 및 윤활막이 순차적으로 적층되어 구성된다. 자기 디스크의 막 두께의 불균일은 자기 헤드의 부상량이 낮아짐으로써 무시할 수 없게 되고 있고, 특히, 보호막 및 윤활막의 막 두께의 불균일에 크게 의존한다. 보호막의 두께는 예컨대 4.0 ㎚로 되어 있고, 또한, 윤활막의 두께는 예컨대 1.0 ㎚로 되어 있다. 윤활막, 보호막의 막 두께에 불균일이 있음으로써 자기 기억 매체의 기록막과 자기 헤드와의 간격이 변화되어 전술한 SN비에 영향을 준다. 예컨대, 보호막의 두께가 ±0.5 ㎚의 범위에서 변동하면, SN비는 ± 0.3 dB의 범위에서 변동한다.
도 9는 자기 헤드(126) 및 자기 디스크(125)의 일부분을 확대하여 도시한 도면이다. 도 9에 도시된 바와 같이, 자기 디스크(125)는 텍스쳐 가공된 알루미늄 등으로 이루어진 기판 위의 하지막에 중첩되어 형성된 단층 또는 다층으로 구성된 기록막(125a)의 표면에 보호막(125b)이 적층되고, 보호막(125b)의 표면에 윤활막(125c)을 더 포함한다. 기판이 텍스쳐 가공되어 있기 때문에, 각 층의 경계도 완전히 평활하지 않고, 도 9에 도시된 바와 같이, 자기 디스크(125)의 표면에도 미소한 요철이 보인다. 여기서, 도 3에 있어서 설명한 선단부(1260)와 자기 디스크(125) 표면과의 거리(F2)를 스페이싱이라 정의한 데 반하여, 선단부(1260)와 기록막(125a) 표면과의 거리(PQ')를 자기 스페이싱이라 정의한다. 도 8에 있어서 설명한 바와 같이, 보자력 등의 자기 특성이 근사적으로 원주 방향으로 불균일해지는 원인으로서, 기판의 대략 원주 방향으로 형성된 텍스쳐가 영향을 미치고 있다고 생각된다.
(테이블의 작성 처리의 전체 흐름)
이하에, 도 10을 이용하여 트랙의 섹터와 히터 전류를 대응시킨 테이블의 작성 처리에 대해서 설명한다. 테이블은, 예컨대, HDD의 내부 온도가 저온(0℃), 상온(40℃), 고온(60℃)일 때의 것이 작성된다. HDD가 사용되는 환경에 따라 자기 헤드의 특성에 영향을 미치기 때문이다. 또한, 테이블은 자기 디스크 장치가 갖는 각 자기 헤드와 각 자기 헤드에 대응한 기억 매체의 트랙 단위로 작성된다. 이 테이블 작성 처리는 예컨대 제조 공정에 의해 행해진다.
단계 SO01에 있어서, 모든 자기 헤드가 측정되었는지 여부를 판정한다. 모든 자기 헤드가 측정되지 않은 경우는, 처리는 단계 S002로 이행한다.
단계 S002에 있어서, 측정해야 할 자기 헤드가 선택된다. 처리는 단계 S003으로 이행한다.
단계 S003에 있어서, 자기 디스크(125) 상의 모든 트랙에 있어서 테이블이 작성되었는지 여부를 판정한다. 모든 트랙에서 테이블이 작성되지 않은 경우는, 처리는 단계 S004로 이행한다.
단계 S004에 있어서, 측정해야 할 트랙이 선택된다. 처리는 단계 S0O5로 이행한다.
단계 S005에 있어서, 단계 S004에서 선택된 트랙에 있어서의 모든 섹터에 대해서 리드 체크가 행해졌는지 여부가 판정된다. 모든 섹터에 대해서 리드 체크가 행해진 경우는, 처리는 단계 S007로 이행한다. 한편, 모든 섹터에 대해서 리드 체크가 행해지지 않은 경우는, 처리는 단계 S006으로 이행한다.
단계 S006에 있어서, 리드 체크가 행해진다. 리드 체크는 자기 헤드(126)의 라이트 헤드가 테스트 데이터를 자기 디스크에 기록하고, 자기 헤드(126)의 리드 헤드가 기록된 테스트 데이터를 독출함으로써 행한다. 이 리드 체크를 각 트랙의 각 섹터에서 행한다. 모든 섹터에 대해서 리드 체크가 행해지면 처리는 단계 S007로 이행하고, 어떤 트랙에 있어서의 섹터와 에러 레이트의 대응 정보가 작성된다. 도 11에 어떤 트랙의 에러 레이트와 섹터의 대응 정보를 나타낸다. 처리는 단계 S008로 이행한다.
단계 S008에 있어서, 단계 S007에서 작성된 대응 정보에 기초하여 어떤 자기 헤드가 어떤 트랙에 있어서의 섹터와 히터 전력을 나타낸 테이블을 작성한다. 이하, 도 12를 이용하여 단계 S008에 있어서의 처리를 상세히 설명한다.
(테이블의 작성 처리의 상세한 흐름(그 1))
단계 SA01에 있어서, 단계 S007에 있어서 작성된 대응 정보로부터 에러 레이트의 최소값을 구할 수 있다. 또한, 에러 레이트의 최소값에 있어서의 자기 헤드의 부상량이 기준 부상량이 된다. 처리는 단계 SA02로 이행한다.
단계 SA02에 있어서, 모든 섹터에 있어서의 에러 레이트의 값과 단계 SA01에 있어서 구해진 에러 레이트의 최소값의 차분값이 산출되었는지 여부가 판정된다. 모든 섹터에 대해서 상기 차분값이 산출된 경우는, 처리는 도 10의 단계 S003으로 이행한다. 한편, 모든 섹터에 대해서 상기 차분값이 산출되지 않은 경우는, 처리는 단계 SA03으로 이행한다.
단계 SA03에 있어서, 어떤 섹터의 에러 레이트와 단계 SA01에 있어서 구해진 에러 레이트의 최소값의 차분값이 산출된다. 또한, 상기 차분값의 산출은 섹터의 번호가 이른 순서로 행해지면 좋다. 처리는 단계 SA04로 이행한다.
단계 SA04에 있어서, 단계 SA01에서 산출된 에러 레이트의 차분값과, 도 7을 이용하여 설명한 에러 레이트와 SN비의 대응 관계로부터, 어떤 섹터에 있어서의 소요 SN비를 구할 수 있다. 예컨대, 도 11에 있어서, 에러 레이트의 최소값은 「3.2」이다. 여기서, 에러 레이트가 「3.4」인 섹터와의 차분을 산출하는 것을 생각한다. 도 7에 있어서, 에러 레이트가 「3.2」와 「3.4」에 대응하는 SN비는 각각 「 16.5」, 「13.7」이 된다. 처리는 단계 SA05로 이행한다.
단계 SA05에 있어서, 단계 SA04에서 구한 소요 SN비와, 도 6을 이용하여 설명한 SN비와 자기 헤드 부상량의 대응 관계로부터 소요 부상량을 구할 수 있다. 소요 SN비는 「2.8」이 된다. 도 6에 있어서, SN비가 「16.5」와 「13.7」에 대응하는 부상량은 각각 「7.2」, 「9.2」가 되고, 자기 헤드의 부상량을 「2.0」더 낮추면 좋다. 처리는 단계 SA06으로 이행한다.
단계 SA06에 있어서, 단계 SA05에서 구한 소요 부상량의 차분과, 도 5를 이용하여 설명한 자기 헤드의 팽창량과 히터 전력의 대응 관계로부터 소요 히터 전력을 구할 수 있다. 여기서, 팽창시켜야 할 자기 헤드의 팽창량은 「2.0」이기 때문에, 도 5로부터 자기 헤드를 「2.0」 팽창시키는 데 필요한 히터 전력은 30[mW]으로 구해진다. 또한, 단계 SA06에 있어서는, 도 5에 있어서 설명한 바와 같이, 자기 헤드에 라이트 전류가 공급되어 있는 경우에 있어서의 소요 히터 전력도 구할 수 있다. 처리는 단계 SA07로 이행한다.
단계 SA07에 있어서, 단계 SA06에서 구한 소요 히터 전력과, 도 4를 이용하여 설명한 히터 전력과 히터 전류의 대응 관계로부터 소요 히터 전류를 구할 수 있다. 필요한 히터 전력은 30[mW]이기 때문에, 히터 전류는 0.65[mA]가 된다. 처리는 단계 SA08로 이행한다.
단계 SA08에 있어서, 단계 SA07에서 구한 히터 전류와 섹터가 대응된 테이블이 작성된다. 도 13에 히터 전류와 섹터가 대응된 테이블을 도시한다. 테이블로부터는, 예컨대, 트랙 2의 섹터 2에서는, 히터에 전류 I(2,2)를 공급하여 전력 W(2, 2)로 하면 좋은 것을 알 수 있다. 처리는 단계 SA02로 되돌아간다. 이와 같이, 어떤 트랙의 각 섹터와, 각 섹터에 있어서의 히터 전력이 대응된 테이블이 작성된다. 또한, 단계 SA05에 있어서 설명한 바와 같이, 테이블은 라이트시와 리드시의 양쪽에 대해서 작성된다. 어떤 트랙에 대해서 섹터와 에러 레이트의 테이블이 작성되면, 다음 트랙에 있어서의 테이블을 작성하기 위해서 처리는 단계 S003으로 되돌아간다.
단계 S003에 있어서, 자기 디스크(125) 상의 모든 트랙에서 테이블이 작성되었다고 판정되면, 처리는 단계 SO01로 되돌아가고, 나머지 자기 헤드에 대해서 상세히 전술한 처리가 행해지며, 테이블이 작성된다.
이상 설명한 바와 같이, 자기 디스크 장치의 각 헤드에 대해서, 자기 디스크의 모든 트랙에 관해서, 히터 전류와 섹터가 대응된 테이블이 작성된다. 그리고, 이들 테이블은 ROM이나 자기 디스크 등의 저장부에 저장해 두면 좋다.
(부상량 제어 처리의 전체 흐름)
이하에 도 14를 이용하여 전술한 처리에서 작성된 테이블의 제어값에 기초하여 자기 헤드의 자기 디스크에 대한 부상량을 제어하는 처리에 대해서 설명한다. 본 실시예에서는, 자기 헤드의 부상량의 보정을 행하는 단위로서 섹터를 이용한다.
단계 S101에 있어서, 제어부(110)는 호스트 인터페이스를 통해 호스트 장치로부터 리드 또는 라이트의 요구가 있었는지 여부를 판정한다. 또한, 제어부(110)는 호스트 장치로부터의 요구가 있으면, 그 요구를 RAM(114)에 저장한다. 호스트 장치로부터의 요구가 있었을 경우, 처리는 단계 S102로 이행한다.
단계 S102에 있어서, 제어부(110)는 호스트 장치로부터의 요구가 리드 요구인지 라이트 요구인지를 판정한다. 전술한 바와 같이, 라이트 요구인 경우는, 전류가 코일에 공급됨으로써 자기 헤드가 팽창하기 때문에, 후술하는 단계 S106에 있어서 라이트시에 있어서의 테이블이 선택된다. 처리는 단계 S103으로 이행한다.
단계 S103에 있어서, 제어부(110)는 온도 센서(127)를 통해 자기 디스크 장치 내의 온도를 취득한다. 자기 디스크 장치 내의 온도에 따라 히터 전력과 열팽창량의 관계가 다르기 때문이다. 처리는 단계 S104로 이행한다.
단계 S104에 있어서, 제어부(110)는 호스트 장치로부터의 요구에 기초하여 자기 헤드를 선택한다. 그리고, 제어부(110)는 선택한 자기 헤드의 정보를 SVC(116)로 전달한다. 또한, SVC(116)는 수취한 자기 헤드의 정보에 기초하여 VCM(123)을 제어한다. 처리는 단계 S105로 이행한다.
단계 S105에 있어서, 제어부(110)는 호스트 장치로부터의 요구에 기초하여 트랙을 선택한다. 그리고, 제어부(110)는 선택한 트랙 정보를 SVC(116)로 전달한다. 또한, SVC(116)는 수취한 트랙 정보에 기초하여 VCM(123) 및 SPM(124)을 제어한다. 처리는 단계 S106으로 이행한다.
단계 S106에 있어서, 제어부(110)는 단계 S102 내지 단계 S105에 기초하여 RAM(114)으로부터 테이블을 선택한다. 테이블은, 자기 디스크에 저장되어 있고, 자기 디스크 장치가 기동되었을 때에 제어부(110)에 의해 RAM(114)에 독출된다. 처리는 단계 S107로 이행한다.
단계 S107에 있어서, 제어부(110)는 자기 헤드가 목표 섹터로부터 일정수 앞 의 섹터에 도달했는지 여부를 판정한다. 히터에 전류를 공급하더라도 자기 헤드가 팽창할 때까지는 시간이 필요하다. 그 때문에, 제어부(110)는 리드 또는 라이트를 행해야 할 목표 섹터로부터 일정수 앞의 섹터에 도달했을 때에 히터에 전류를 공급한다. 그 일정수는 파라미터로서 자기 디스크에 저장되어 있고, 자기 디스크 장치가 기동되었을 때에 제어부(110)에 의해 RAM(114)에 독출된다. 또한, 제어부(110)는 자기 헤드의 위치에 관한 정보를 SVC(116)로부터 취득함으로써, 자기 헤드가 목표 섹터로부터 일정수 앞의 섹터에 도달했는지 여부를 판정하고 있다. 처리는 단계 S108로 이행한다.
단계 S108에 있어서, 제어부(110)는 테이블에 기초하여 자기 헤드의 히터(126H)에 전류를 공급한다. 구체적으로는, 우선, 제어부(110)가 히터 제어 회로(121A)에 공급해야 할 전류의 정보를 전달한다. 다음에, 히터 제어 회로(121A)는 상기 정보에 기초하여 히터 드라이버(121H)를 통해 히터(126H)에 전류를 공급한다. 처리는 단계 S109로 이행한다.
단계 S109에 있어서, 제어부(110)는 RAM(114)에 저장되어 있는 호스트로부터의 요구에 관한 정보와 SVC(116)로부터 취득하는 자기 헤드의 위치에 관한 정보를 비교함으로써, 자기 헤드가 목표 섹터에 도달했는지 여부를 판정한다. 자기 헤드가 목표 섹터에 도달한 경우는, 처리는 단계 S110으로 이행한다.
단계 S110에 있어서, 제어부(110)는 RAM(114)에 저장되어 있는 호스트로부터의 요구에 관한 정보에 기초하여 리드 또는 라이트를 실행한다. 처리는 종료된다.
이것에 따르면, 동일 트랙 상에 있어서, 에러 레이트가 높은 섹터에서 자기 헤드를 팽창시킬 수 있다. 그 때문에, 에러 레이트가 높은 섹터에서는, 자기 헤드의 부상량을 낮출 수 있어 SN비를 향상시킬 수 있다.
(실시예 2)
실시예 1에서는, 자기 헤드(126)의 라이트 헤드가, 테스트 데이터를 자기 디스크에 기록하고, 자기 헤드(126)의 리드 헤드가 기록된 데이터를 독출함으로써 산출된 에러 레이트에 기초하여 부상량을 제어하였다. 그 때문에, 산출된 에러 레이트는 라이트 성능 및 리드 성능이 종합적으로 평가된 것이었다. 실시예 2에서는, 라이트시에는 라이트 성능을 평가하는 오버라이트 특성에 기초하여 부상량을 제어하는 예에 대해서 설명한다.
(테이블의 작성 처리의 전체 (제1 ) 흐름)
이하에, 도 15를 이용하여 트랙의 섹터와 히터 전류를 대응시킨 테이블의 작성 처리에 대해서 설명한다.
단계 S201에 있어서, 모든 자기 헤드가 측정되었는지 여부를 판정한다. 모든 자기 헤드가 측정되지 않은 경우는, 처리는 단계 S202로 이행한다.
단계 S202에 있어서, 측정해야 할 자기 헤드가 선택된다. 처리는 단계 S203으로 이행한다.
단계 S203에 있어서, 자기 디스크(125) 상의 모든 트랙에 있어서 테이블이 작성되었는지 여부를 판정한다. 모든 트랙에서 테이블이 작성되지 않은 경우는, 처리는 단계 S204로 이행한다.
단계 S204에 있어서, 측정해야 할 트랙이 선택된다. 처리는 단계 S205로 이 행한다.
단계 S205에 있어서, 단계 S204에서 선택된 트랙에 있어서의 모든 섹터에 대해서 라이트 체크가 행해졌는지 여부가 판정된다. 모든 섹터에 대해서 라이트 체크가 행해진 경우는, 처리는 단계 S207로 이행한다. 한편, 모든 섹터에 대해서 라이트 체크가 행해지지 않은 경우는, 처리는 단계 S206으로 이행한다.
단계 S206에 있어서, 라이트 체크가 행해진다. 라이트 체크는 우선 자기 헤드(126)의 라이트 헤드가 어떤 주파수 fa의 데이터를 자기 디스크에 기록한다. 다음에, 예컨대, RDC(113)의 하모닉 센서로 주파수 fa의 데이터의 레벨(Vfa)을 측정한다. 또한, 주파수 fa의 데이터가 기록되어 있는 상태로부터 다른 주파수 fb의 데이터를 기록한다. 다음에, 주파수 fa의 데이터의 레벨 Vfa'를 측정한다. 마지막으로, Vfa와 Vfa'와의 비율을 오버라이트 특성으로서 산출한다. 오버라이트 특성은 자기 헤드의 부상량과 상관이 있다. 도 18에 오버라이트 특성과 부상량의 대응 관계를 나타낸다. 이 라이트 체크를 각 트랙의 각 섹터에서 행한다. 모든 섹터에 대해서 라이트 체크가 행해지면 처리는 단계 S207로 이행하고, 어떤 트랙에 있어서의 섹터와 오버라이트 특성의 대응 정보가 작성된다. 도 16에 어떤 트랙의 오버라이트 특성과 섹터의 대응 정보를 나타낸다. 처리는 단계 S208로 이행한다. 이하, 도 17을 이용하여 단계 S008에 있어서의 처리를 상세하게 설명한다.
(테이블 작성 처리의 상세한 흐름(그 2))
단계 SB01에 있어서, 단계 S207에 있어서 작성된 대응 정보로부터 오버라이트 특성의 최소값을 구할 수 있다. 또한, 오버라이트 특성의 최소값에 있어서의 자 기 헤드의 부상량이 기준 부상량이 된다. 처리는 단계 SB02로 이행한다.
단계 SB02에 있어서, 모든 섹터에 있어서의 오버라이트 특성의 값과 단계 SB01에 있어서 구해진 오버라이트 특성의 최소값의 차분값이 산출되었는지 여부가 판정된다. 모든 섹터에 대해서 상기 차분값이 산출된 경우는, 처리는 도 15의 단계 S203으로 이행한다. 한편, 모든 섹터에 대해서 상기 차분값이 산출되지 않은 경우는, 처리는 단계 SB03으로 이행한다.
단계 SB03에 있어서, 어떤 섹터의 오버라이트 특성과 단계 SB01에 있어서 구해진 오버라이트 특성의 최소값과의 차분값이 산출된다. 또한, 상기 차분값의 산출은 섹터의 번호가 이른 순서로 행해지면 좋다. 처리는 단계 SB04로 이행한다.
단계 SB04에 있어서, 단계 SB01에서 산출된 오버라이트 특성의 차분값과, 도 18에 도시된 오버라이트 특성과 부상량의 대응 관계로부터, 어떤 섹터에 있어서의 소요 부상량을 구할 수 있다. 예컨대, 도 16에 있어서, 오버라이트 특성의 최소값은 「-33」이다. 여기서, 오버라이트 특성이 「-30」인 섹터와의 차분을 산출하는 것을 생각한다. 도 18에 있어서, 오버라이트 특성이 「-33」과 「-30」에 대응하는 부상량은 각각 「8.0」, 「12.0」이 된다. 소요 부상량의 차분은 「4.0」이 된다.
처리는 단계 SB05로 이행한다.
단계 SB05에 있어서, 단계 SB04에서 구한 소요 부상량과, 도 5를 이용하여 설명한 자기 헤드의 팽창량과 히터 전력의 대응 관계로부터 소요 히터 전력을 구할 수 있다. 여기서, 소요 부상량의 차분은 「4.0」이기 때문에, 팽창시켜야 할 팽창량은 「4.0」으로 구해진다. 또한, 도 5로부터 라이트시에 자기 헤드를 「4.0」팽 창시키는데 필요한 히터 전력은 25[mW]로 구해진다. 처리는 단계 SB06으로 이행한다.
단계 SB06에 있어서, 단계 SB05에서 구한 소요 히터 전력과, 도 4를 이용하여 설명한 히터 전력과 히터 전류의 대응 관계로부터 소요 히터 전류를 구할 수 있다. 필요한 히터 전력은 25[mW]이기 때문에, 히터 전류는 0.45[mA]가 된다. 처리는 단계 SB07로 이행한다.
단계 SB07에 있어서, 단계 SB06에서 구한 히터 전류와 섹터가 대응된 테이블이 작성된다. 도 19에 히터 전류와 섹터가 대응된 테이블을 도시한다. 도 19로부터, 예컨대 트랙 1의 섹터 n에서, 히터에 공급해야 할 전류는 IW(1, n)이고, 전력은 WW(1, n)가 되는 것을 알 수 있다. 처리는 단계 SB02로 되돌아간다. 이와 같이, 어떤 트랙의 각 섹터와, 각 섹터에 있어서의 히터 전류가 대응된 테이블이 작성된다. 어떤 트랙에 대해서 섹터와 오버라이트 특성의 테이블이 작성되면, 다음 트랙에 있어서의 테이블을 작성하기 위해서 처리는 단계 S203으로 되돌아간다.
실시예 1에 있어서 도 14를 이용하여 설명한 단계 S106에 있어서, 호스트 장치로부터 라이트의 요구가 있었다고 판정된 경우는, 오버라이트 특성에 기초하여 작성된 테이블에 기초하여 히터에 공급하는 전류를 제어한다. 이것에 따르면, 라이트시에는 자기 헤드의 자기 디스크에 대한 정보의 기록 특성에 대응하여 부상량을 제어할 수 있다.
(실시예 3)
실시예 3에서는, 리드시에는 리드 성능이 평가된 에러 레이트에 기초하여 부 상량을 제어하는 예에 대해서 설명한다.
실시예 3에서는, 실시예 1에 있어서, 도 10의 단계 S006에 있어서 설명한 리드 체크가 상이하고, 그 밖의 처리는 동일하므로, 그 설명을 생략한다.
본 실시예에 있어서의 리드 체크에서는, 자기 헤드의 리드 헤드가 자기 디스크에 미리 기록되어 있는 서보 프레임을 독출한다. 이 리드 체크를 각 트랙의 서보 프레임이 기록되어 있는 섹터에서 행한다. 서보 프레임이 기록되어 있는 모든 섹터에 대해서 리드 체크가 행해지면, 어떤 트랙의 서보 프레임이 기록되어 있는 섹터와 에러 레이트의 대응 정보가 작성된다. 도 20에 어떤 트랙의 서보 프레임이 기록되어 있는 섹터와 에러 레이트의 대응 정보를 나타낸다. 도 20에 도시된 바와 같이, 20 섹터 간격으로 에러 레이트가 플롯되어 있는 것은 서보 프레임이 예컨대 20 섹터 간격으로 형성되어 있기 때문이다. 그리고, 서보 프레임 사이의 섹터의 에러 레이트는 선형과 근사함으로써, 어떤 트랙에 있어서의 섹터와 에러 레이트의 대응 정보를 작성한다. 이와 같이 작성된 대응 정보에 기초하여 도 10을 이용하여 설명한 처리가 행해짐으로써, 서보 프레임을 독출함에 따라 산출된 에러 레이트에 기초한 테이블이 작성된다. 도 21에 테이블을 도시한다. 도 21로부터는, 예컨대, 트랙 N-1의 섹터 1에 있어서, 히터에 공급하는 전류는 IR(N-1, 1)이고, 전력은 WR(N-1, 1)이 되는 것을 알 수 있다.
실시예 1에 있어서, 도 14를 이용하여 설명한 단계 S106에 있어서, 호스트 장치로부터 리드의 요구가 있었다고 판정된 경우는, 서보 프레임을 독출함으로써 산출된 에러 레이트에 기초하여 작성된 테이블에 기초하여 히터에 공급하는 전류를 제어한다. 이것에 따르면, 리드시에는 자기 헤드의 자기 디스크에 대한 정보의 독출 특성에 대응하여 부상량을 제어할 수 있다.
이상의 실시 형태는 본 발명을 보다 잘 이해시키기 위해서 구체적으로 설명한 것으로서, 별도의 형태를 제한하는 것은 아니다. 따라서, 발명의 취지를 변경하지 않는 범위에서 변경할 수 있다. 본 실시예에서는, 부상량 제어부로서 히터를 이용하였지만, 압전 소자를 이용하여도 좋다. 또한, 본 실시예에서는, 자기 디스크의 모든 트랙에 대해서 히터 전류와 섹터가 대응된 테이블을 작성하였지만, 트랙의 집합체인 영역에 대해서 히터 전류와 섹터가 대응된 테이블을 작성하여도 좋다. 또한, 예컨대, 히터 전류와 연속되는 섹터 3개가 대응된 테이블을 작성하는 등, 히터 전류와 임의의 수의 섹터가 대응된 테이블을 작성하여도 좋다.
다음에, 이상에 설명한 실시 형태로부터 생성되는 기술적 사상을 청구항의 기재 형식에 준하여 부기로서 열거한다. 본 발명에 따른 기술적 사상은 상위 개념에서 하위 개념까지, 여러 가지 레벨이나 다양성에 의해 파악될 수 있는 것으로서, 이하의 부기로 본 발명이 한정되는 것은 아니다.
(부기 1)
자기 기억 매체에 정보의 기록 또는 독출을 행하는 헤드와,
상기 헤드의 부상량을 제어하는 부상량 제어부와,
상기 자기 기억 매체에 있어서의 상기 헤드의 부상량의 보정을 행하는 단위로 상기 자기 기억 매체의 자기 특성에 대응한 상기 부상량 제어부의 제어값을 저장해 두는 저장부와,
기록 또는 독출을 행하는 위치에 대응한 제어값을 상기 저장부로부터 얻어 상기 부상량 제어부의 제어를 행하여 상기 헤드의 부상량을 제어하는 제어부
를 갖는 것을 특징으로 하는 자기 기억 장치.
(부기 2)
부기 1에 있어서, 상기 자기 특성은 상기 헤드의 상기 자기 기억 매체에 대한 정보의 기록 특성인 것을 특징으로 하는 자기 기억 장치.
(부기 3)
부기 1에 있어서, 상기 자기 특성은 상기 헤드의 상기 자기 기억 매체에 대한 정보의 독출 특성인 것을 특징으로 하는 자기 기억 장치.
(부기 4)
헤드의 자기 기억 매체에 대한 부상량을 부상량 제어부에 의해 제어하는 부상량 제어 방법에 있어서,
상기 자기 기억 매체에 있어서의 상기 헤드의 부상량의 보정을 행하는 단위로 상기 기억 매체의 자기 특성에 대응한 상기 부상량 제어부의 제어값을 저장하는 저장부로부터, 기록 또는 독출을 행하는 위치에 대응한 제어값을 얻는 제1 공정과,
얻어진 상기 제어값에 의해 상기 부상량 제어부의 제어를 행하여 상기 헤드의 부상량을 제어하는 제2 공정을 갖는 것을 특징으로 하는 부상량 제어 방법.
(부기 5)
부기 4에 있어서, 상기 자기 특성은 상기 헤드의 상기 자기 기억 매체에 대한 정보의 기록 특성인 것을 특징으로 하는 부상량 제어 방법.
(부기 6)
부기 4에 있어서, 상기 자기 특성은 상기 헤드의 상기 자기 기억 매체에 대한 정보의 독출 특성인 것을 특징으로 하는 부상량 제어 방법.
(부기 7)
헤드의 자기 기억 매체에 대한 부상량을 부상량 제어부에 의해 제어하는 제어 장치에 있어서,
상기 자기 기억 매체에 있어서의 상기 부상량의 보정을 행하는 단위로, 상기 기억 매체의 자기 특성에 대응한 상기 부상량 제어부의 제어값을 저장하는 저장부로부터, 기록 또는 독출을 행하는 위치에 대응한 제어값을 얻고,
얻어진 상기 제어값에 의해 상기 부상량 제어부의 제어를 행하여 상기 헤드의 부상량을 제어하는 것을 특징으로 하는 제어 장치.
(부기 8)
부기 7에 있어서, 상기 자기 특성은 상기 헤드의 상기 자기 기억 매체에 대한 정보의 기록 특성인 것을 특징으로 하는 제어 장치.
(부기 9)
부기 7에 있어서, 상기 자기 특성은 상기 헤드의 상기 자기 기억 매체에 대한 정보의 독출 특성인 것을 특징으로 하는 제어 장치.
도 1은 본 발명의 기억 장치의 일 실시예의 기본 구성을 도시한 블록도.
도 2는 RDC 및 프리앰프 IC를 자기 헤드의 내부 구조와 함께 도시한 도면.
도 3은 자기 헤드의 단면도.
도 4는 히터의 저항값이 100Ω인 경우의 히터 전류와 히터 전력의 관계를 나타낸 도면.
도 5는 히터 전류와 자기 헤드의 팽창량의 관계를 나타낸 도면.
도 6은 자기 헤드의 부상량과 SN비의 관계를 나타낸 도면.
도 7은 SN비와 에러 레이트의 관계를 나타낸 도면.
도 8은 자기 기억 매체의 보자력의 불균일을 도시한 도면.
도 9는 자기 헤드 및 자기 디스크의 일부분을 확대하여 도시한 도면.
도 10은 원주 방향의 각 섹터와 히터 전류의 관계를 나타낸 테이블을 작성하는 처리의 (제1) 흐름도.
도 11은 원주 방향의 각 섹터와 에러 레이트의 대응 정보를 나타낸 (제1) 도면.
도 12는 원주 방향의 각 섹터에 있어서의 소요 히터 전류를 산출하는 처리의 상세한 (제1) 흐름도.
도 13은 원주 방향의 각 섹터와 히터 전류의 관계를 나타낸 (제1) 테이블.
도 14는 실시예의 동작을 설명한 흐름도.
도 15는 원주 방향의 각 섹터와 히터 전류의 관계를 나타낸 테이블을 작성하 는 처리의 상세한 (제2) 흐름도.
도 16은 원주 방향의 각 섹터와 오버라이트 특성의 대응 정보를 나타낸 도면.
도 17은 원주 방향의 각 섹터에 있어서의 소요 히터 전류를 산출하는 처리의 상세한 (제2) 흐름도.
도 18은 자기 헤드의 부상량과 오버라이트 특성의 관계를 나타낸 도면.
도 19는 원주 방향의 각 섹터와 히터 전류의 관계를 나타낸 (제2) 테이블.
도 20은 원주 방향의 각 섹터와 에러 레이트의 대응 정보를 나타낸 (제2)도면.
도 21은 원주 방향의 각 섹터와 히터 전류의 관계를 나타낸 (제3) 테이블.
〈부호의 설명〉
11 : PCA
12 : DE
100 : HDD
110 : 제어부
111 : HDC
112 : MCU
113 : RDC
114 : RAM
115 : ROM
116 : SVC
121 : 프리앰프
121A : 히터 제어 회로
121H : 히터 드라이버
121R : 리드 드라이버
121W : 라이트 드라이버
122 : VCM
123 : 액츄에이터
124 : SPM
125 : 자기 디스크
125a : 기록막
125b : 보호막
125c : 윤활막
126 : 자기 헤드
1260 : 선단부
1261 : 상부 자극
1262 : 하부 자극
1263 : 코일
1264 : 자기 헤드 수지부
1265 : 상부 실드겸 전극
1266 : 하부 실드겸 전극
1267 : 리드 소자
1268 : 매체 상대면
1269 : 팽창부
126H : 히터
126R : 리드 헤드
126W : 라이트 헤드
127 : TSNS

Claims (8)

  1. 자기 기억 매체에 정보의 기록 또는 독출을 행하는 헤드와,
    상기 헤드의 부상량을 제어하는 부상량 제어부와,
    상기 자기 기억 매체에 있어서의 상기 헤드의 부상량의 보정을 행하는 단위로 상기 자기 기억 매체의 자기 특성에 대응한 상기 부상량 제어부의 제어값을 저장해 두는 저장부와,
    기록 또는 독출을 행하는 위치에 대응한 제어값을 상기 저장부로부터 얻어 상기 부상량 제어부의 제어를 행하여 상기 헤드의 부상량을 제어하는 제어부
    를 갖는 것을 특징으로 하는 자기 기억 장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 자기 특성은 상기 헤드의 상기 자기 기억 매체에 대한 정보의 기록 특성인 것을 특징으로 하는 자기 기억 장치.
  3. 제1항에 있어서, 상기 자기 특성은 상기 헤드의 상기 자기 기억 매체에 대한 정보의 독출 특성인 것을 특징으로 하는 자기 기억 장치.
  4. 자기 기억 매체에 정보의 기록 또는 독출을 행하는 헤드와,
    상기 헤드의 상기 자기 기억 매체면측의 위치를 바꿀 수 있는 위치 제어 수단과,
    상기 헤드가 상기 기억 매체로부터 독출한 에러 레이트의 값에 기초하여 상기 위치 제어 수단을 제어하여 상기 헤드의 부상량을 변경하는 제어부
    를 갖는 것을 특징으로 하는 자기 기억 장치.
  5. 헤드의 자기 기억 매체에 대한 부상량을 부상량 제어부에 의해 제어하는 부상량 제어 방법에 있어서,
    상기 자기 기억 매체에 있어서의 상기 헤드의 부상량의 보정을 행하는 단위로 상기 기억 매체의 자기 특성에 대응한 상기 부상량 제어부의 제어값을 저장하는 저장부로부터, 기록 또는 독출을 행하는 위치에 대응한 제어값을 얻는 제1 공정과,
    얻어진 상기 제어값에 의해 상기 부상량 제어부의 제어를 행하여 상기 헤드의 부상량을 제어하는 제2 공정
    을 갖는 것을 특징으로 하는 부상량 제어 방법.
  6. 제5항에 있어서, 상기 자기 특성은 상기 헤드의 상기 자기 기억 매체에 대한 정보의 기록 특성인 것을 특징으로 하는 부상량 제어 방법.
  7. 제5항에 있어서, 상기 자기 특성은 상기 헤드의 상기 자기 기억 매체에 대한 정보의 독출 특성인 것을 특징으로 하는 부상량 제어 방법.
  8. 헤드의 자기 기억 매체에 대한 부상량을 부상량 제어부에 의해 제어하는 제 어 장치에 있어서,
    상기 자기 기억 매체에 있어서의 상기 부상량의 보정을 행하는 단위로, 상기 기억 매체의 자기 특성에 대응한 상기 부상량 제어부의 제어값을 저장하는 저장부로부터, 기록 또는 독출을 행하는 위치에 대응한 제어값을 얻고,
    얻어진 상기 제어값에 의해 상기 부상량 제어부의 제어를 행하여 상기 헤드의 부상량을 제어하는 것을 특징으로 하는 제어 장치.
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