KR20080078499A

KR20080078499A - 지터 측정 장치 및 방법, 신호 주기 측정 장치 및 방법, 광디스크 재생 장치

Info

Publication number: KR20080078499A
Application number: KR1020070021148A
Authority: KR
Inventors: 황욱연; 박현수; 황인오; 이경근
Original assignee: 삼성전자주식회사
Priority date: 2007-02-22
Filing date: 2007-03-02
Publication date: 2008-08-27
Also published as: TW200844989A

Abstract

본 발명은 지터 측정 장치 및 방법, 광 디스크 재생 장치에 관한 것으로서, 본 발명에 따른 광디스크 신호의 지터를 측정하는 장치에 있어서, 입력 신호를 이진화하는 이치화부; 이치화부에서 이진화된 이진 신호를 입력받아, 광디스크의 채널 특성에 기초하여 잡음이 없는 이상 신호를 생성하는 이상 신호 생성부; 및 이진 신호 및 이상 신호에 기초하여, 입력 신호의 지터 값을 측정하는 지터 측정부를 포함함으로써, 신호의 정확한 지터를 측정하여 신호 품질을 평가할 수 있다.

지터, 주기 측정, 신호 품질, 이상 신호

Description

지터 측정 장치 및 방법, 신호 주기 측정 장치 및 방법, 광 디스크 재생 장치 {Apparatus and method for measuring jitter, apparatus and method for measuring signal period, and optical disc reproducing apparatus}

도 1은 일반적인 이치화 과정을 나타낸 기능 블록도이다.

도 2a 및 도 2b는 오프셋(offset)이 제거된 RF 신호와 시스템 클록간에 발생된 지터의 예를 도시한 참고도이다.

도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 지터 측정 장치를 도시한 블록도이다.

도 4는 도 3에 도시된 지터 측정 장치의 구체적 구성을 나타낸 블록도이다.

도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 레벨 검출기를 나타낸 블록도이다.

도 6은 PR(1, 2, 1) 채널의 하드웨어 구성 예시도이다.

도 7은 입력 신호의 이진 신호가 -1에서 1로 변할 때의 출력 그래프를 도시한 참고도이다.

도 8a 및 도 8b는 본 발명의 일 실시예에 따른 입력 신호의 시간축 오차 계산 방법을 나타낸 참고도이다.

도 9는 본 발명의 일 실시예에 따른 지터 측정 장치를 통해 파악된 시간축 오차가 나타나는 빈도수를 나타내는 그래프이다.

도 10은 본 발명의 일 실시예에 따른 지터 측정 방법을 도시한 플로우차트이 다.

도 11은 본 발명의 다른 실시예에 따른 지터 측정 방법을 도시한 플로우차트이다.

도 12는 본 발명의 일 실시예에 따른 광 디스크 재생 장치를 도시한 블록도이다.

도 13은 본 발명의 일 실시예에 따른 신호 주기 측정 장치를 도시한 블록도이다.

도 14는 도 13에 도시된 신호 주기 측정 장치의 구체적 구성을 나타낸 블록도이다.

도 15는 본 발명의 일 실시예에 따른 신호 주기 측정 장치를 통해 파악된 마크 길이에 대한 신호 크기를 나타내는 그래프이다.

도 16은 본 발명의 일 실시예에 따른 신호 주기 측정 방법을 도시한 플로우차트이다.

도 17은 본 발명의 다른 실시예에 따른 신호 주기 측정 방법을 도시한 플로우차트이다.

도 18은 본 발명의 일 실시예에 따른 광 디스크 재생 장치를 도시한 블록도이다.

본 발명은 지터 측정 장치 및 방법, 신호 주기 측정 장치 및 방법, 광 디스크 재생 장치에 관한 것이다.

광 디스크 재생 장치는 디스크 표면에 이진 신호를 기록한 다음, 레이저를 입사시켜 반사된 파형을 읽어 데이터를 재생한다. 이때 디스크 표면에서 읽은 신호를 RF(radio frequency) 신호라고 하는데, 디스크 표면에 이진 신호가 기록되어 있다고 하더라도 읽은 RF 신호는 디스크의 특성과 광학적인 특성으로 인해 아날로그 신호의 성질을 가지고 있다. 따라서, 아날로그 신호의 성질을 가지고 있는 RF 신호를 이진 신호로 바꾸기 위해서는 이치화 과정이 필요하다.

도 1은 일반적인 이치화 과정을 나타낸 기능 블록도이다. 도 1을 참조하면, 이치화 과정은 비교기(110)와 저역 통과 필터(120)를 이용하여 수행된다. 비교기(110)는 입력되는 RF 신호와 슬라이싱 레벨(slicing level)을 비교하고, 그 결과를 출력한다. 상기 입력되는 RF 신호는 디스크로부터 읽은 RF 신호이다. 비교기(110)의 출력은 다음 처리 블록으로 전송되면서 저역 통과 필터(120)로 전송된다. 저역 통과 필터(120)는 비교기(110)의 출력을 저역 통과 필터링한다. 저역 통과 필터(120)의 출력은 비교기(110)의 슬라이싱 레벨(slicing level)로 제공된다.

기존의 광 디스크 구동기는 도 1에 도시된 이치화 과정을 통해 디스크로부터 읽은 RF 신호를 이진 신호로 변환하고, 이진 신호로 변환된 신호를 위상 동기 루프(Phase Lock Loop)에 적용하여 시스템 클록을 만들고, 이진 신호와 시스템 클록을 사용해 디스크로부터 읽은 데이터를 재생한다. 이때 RF 신호와 시스템 클록간에 약간의 위상 차가 존재한다. 이를 지터(jitter)라고 한다.

도 2a 및 도 2b는 오프셋(offset)이 제거된 RF 신호와 시스템 클록간에 지터가 발생한 예로서, 시스템 클록의 하강 에지를 기준으로 한 것이다. 이상적인 경우에 시스템 클록의 에지(edge) 부분과 RF 신호의 영점 교차점이 정확히 일치한다. 그러나, 실제로 시스템 클록의 에지 부분과 RF 신호의 영점 교차점이 정확히 일치하지 않고, 시간적으로 약간의 차가 발생된다. 이 차를 지터라고 한다.

일반적으로 RF 신호와 시스템 클록간의 차인 지터 값을 RF 신호의 품질을 평가하는데 사용하고 있다. 즉, 이상적인 경우에 시스템 클록의 에지에 RF 신호의 영점 교차점이 정확하게 위치하므로 지터 값이 거의 측정되지 않는다. 그러나 RF 신호에 잡음이나 이상 상황이 발생할 경우에 시스템 클록의 에지에 RF 신호의 영점 교차점이 정확하게 위치하지 못하므로, 지터 값이 측정된다. 따라서 측정되는 지터 값을 토대로 RF 신호의 품질을 확인할 수 있다.

그러나 디스크의 기록 밀도가 높아짐에 따라 짧은 T(여기서 T는 1피트의 간격이다)의 이진 신호에 해당하는 RF 신호의 크기가 점점 작아지고 있다. 이에 따라 짧은 T의 이진 신호에 해당되는 RF 신호의 경우에, 약간의 잡음이 첨가되어도 신호의 왜곡이 상대적으로 크게 발생되거나 거의 영점 근처에 위치해 잘못된 지터 값이 측정될 수 있다. 따라서, 고밀도 디스크의 경우에, RF 신호와 시스템 클록간의 차를 토대로 측정된 지터 값을 이용하여 RF 신호에 대한 품질을 정확하게 평가하는 어렵다.

따라서 전술한 문제점을 해결하기 위한 본 발명의 목적은, 신호의 지터 값을 정확하게 측정하여 신호 품질을 평가하는 것이다.

또한, 신호의 주기를 측정하여 신호 품질을 평가하는 것을 목적으로 한다.

상기 기술적 과제는 본 발명에 따라 광디스크 신호의 지터를 측정하는 장치에 있어서, 입력 신호를 이진화하는 이치화부; 상기 이치화부에서 이진화된 이진 신호를 입력받아, 상기 광디스크의 채널 특성에 기초하여 잡음이 없는 이상 신호를 생성하는 이상 신호 생성부; 및 상기 이진 신호 및 상기 이상 신호에 기초하여, 상기 입력 신호의 지터 값을 측정하는 지터 측정부를 포함하는 것을 특징으로 하는 지터 측정 장치에 의해서 달성된다.

상기 이상 신호 생성부는, 상기 광디스크의 채널 특성을 이용하여 상기 이진 신호를 필터링하는 것에 의해 이상 신호를 생성하는 것이 바람직하다.

상기 이상 신호 생성부는, 사전 정의된 복수 개의 이진 신호에 기초하여, 상기 광디스크의 채널 특성을 나타내는 레벨을 선택하고, 상기 선택된 레벨의 신호를 이상 신호로 출력하는 것이 바람직하다.

상기 이진 신호에 기초하여, 상기 입력 신호의 레벨을 검출하는 레벨 검출부를 더 포함하며, 상기 이상 신호 생성부는, 사전 정의된 복수 개의 이진 신호에 기초하여, 상기 검출된 레벨 중 하나의 레벨을 선택하고, 상기 선택된 신호를 이상 신호로 출력하는 것이 바람직하다.

상기 레벨 검출부는 상기 입력 신호 및 이전 레벨의 평균값을 취함으로써, 레벨을 검출하는 것이 바람직하다.

상기 레벨 검출부는, 상기 이진 신호를 이용하여 상기 입력 신호를 복수 개의 레벨로 분리하는 입력 신호 분리부; 및 상기 복수 개의 레벨로 분리된 입력 신호 각각에 대한 레벨별 평균치를 구하는 필터링부를 포함하는 것이 바람직하다.

상기 입력 신호 분리부는 상기 입력 신호와 상기 이진 신호간의 동기를 맞추기 위해 상기 입력 신호를 지연시키는 지연기를 포함하는 것이 바람직하다.

상기 지터 측정부는, 상기 이진 신호가 변하는 시점에서의 상기 이상 신호에 대한 상기 입력 신호의 시간축 오차를 계산하고, 상기 시간축 오차를 상기 입력 신호의 지터로 하는 것이 바람직하다.

상기 시간축 오차는 상기 이진 신호가 변하는 시점에서의 이상 신호의 평균값에서 상기 이진 신호가 변하는 시점에서의 입력 신호의 평균값을 뺀 값을 상기 이진 신호가 변하는 시점에서의 이상 신호의 변화값으로 나눈 값인 것이 바람직하다.

한편, 상기 기술적 과제는 본 발명의 다른 특징에 따라 광디스크 신호의 지터를 측정하는 방법에 있어서, 입력 신호를 이진화하는 단계; 상기 이진화된 입력 신호인 이진 신호를 입력받아, 상기 광디스크의 채널 특성에 기초하여 잡음이 없는 이상 신호를 생성하는 단계; 및 상기 이진 신호 및 상기 이상 신호에 기초하여, 상기 입력 신호의 지터 값을 측정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 지터 측정 방법에 의해서도 달성된다.

상기 이상 신호 생성 단계는, 상기 광디스크의 채널 특성을 이용하여 상기 이진 신호를 필터링하는 것에 의해 이상 신호를 생성하는 것이 바람직하다.

상기 이상 신호 생성 단계는, 사전 정의된 복수 개의 이진 신호에 기초하여, 상기 광디스크의 채널 특성을 나타내는 레벨을 선택하고, 상기 선택된 레벨의 신호를 이상 신호로 출력하는 것이 바람직하다.

상기 이진 신호에 기초하여, 상기 입력 신호의 레벨을 검출하는 단계를 더 포함하며, 상기 이상 신호 생성 단계는, 사전 정의된 복수 개의 이진 신호에 기초하여, 상기 검출된 레벨 중 하나의 레벨을 선택하고, 상기 선택된 신호를 이상 신호로 출력하는 것이 바람직하다.

상기 레벨 검출 단계는 상기 입력 신호 및 이전 레벨의 평균값을 취함으로써, 레벨을 검출하는 것이 바람직하다.

상기 레벨 검출 단계는, 상기 이진 신호를 이용하여 상기 입력 신호를 복수 개의 레벨로 분리하는 단계; 및 상기 복수 개의 레벨로 분리된 입력 신호 각각에 대한 레벨별 평균치를 구하는 필터링 단계를 포함하는 것이 바람직하다.

상기 입력 신호 분리 단계는, 상기 입력 신호를 복수 개의 레벨로 분리하기에 앞서, 상기 입력 신호와 상기 이진 신호간의 동기를 맞추기 위해 상기 입력 신호를 지연시키는 단계를 포함하는 것이 바람직하다.

상기 시간축 오차는 상기 이진 신호가 변하는 시점에서의 이상 신호의 평균 값에서 상기 이진 신호가 변하는 시점에서의 입력 신호의 평균값을 뺀 값을 상기 이진 신호가 변하는 시점에서의 이상 신호의 변화값으로 나눈 값인 것이 바람직하다.

상기 기술적 과제는 광디스크를 재생하는 장치에 있어서, 상기 광디스크로부터 픽업된 신호를 등화하는 등화기; 상기 등화기의 출력을 입력받아 상기 신호의 주기를 측정하는 지터 측정기; 및 상기 측정된 주기를 이용하여 상기 신호의 품질을 평가하는 신호 품질 평가부를 포함하되, 상기 지터 측정기는, 입력 신호를 이진화하는 이치화부; 상기 이치화부에서 이진화된 이진 신호를 입력받아, 상기 광디스크의 채널 특성에 기초하여 잡음이 없는 이상 신호를 생성하는 이상 신호 생성부; 및 상기 이진 신호 및 상기 이상 신호에 기초하여, 상기 입력 신호의 지터 값을 측정하는 지터 측정부를 포함하는 것을 특징으로 하는 광디스크 재생 장치에 의해서 달성된다.

또한, 지터 측정 방법을 실행시키기 위한 프로그램을 기록한 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록 매체에 있어서, 상기 방법은 입력 신호를 이진화하는 단계; 상기 이진화된 입력 신호인 이진 신호를 입력받아, 상기 광디스크의 채널 특성에 기초하여 잡음이 없는 이상 신호를 생성하는 단계; 및 상기 이진 신호 및 상기 이상 신호에 기초하여, 상기 입력 신호의 지터 값을 측정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 기록 매체에 의해서도 달성된다.

상기 기술적 과제는 본 발명에 따라 광디스크의 신호 주기를 측정하는 장치에 있어서, 입력 신호를 이진화하는 이치화부; 상기 이치화부에서 이진화된 이진 신호를 입력받아, 상기 광디스크의 채널 특성에 기초하여 잡음이 없는 이상 신호를 생성하는 이상 신호 생성부; 및 상기 이진 신호 및 상기 이상 신호에 기초하여, 상기 입력 신호의 주기를 측정하는 주기 연산부를 포함하는 것을 특징으로 하는 신호 주기 측정 장치에 의해서 달성된다.

상기 주기 연산부는, 상기 이진 신호가 변하는 시점에서의 상기 이상 신호에 대한 상기 입력 신호의 시간축 오차를 계산하는 오차 계산부; 및 상기 이진 신호가 변하기 직전의 입력 신호의 주기에 상기 오차를 더하고, 상기 이진 신호가 변한 직후의 입력 신호의 주기에 상기 오차를 빼주어 입력 신호의 주기를 조정하는 것이 바람직하다.

상기 오차 계산부는, 상기 이진 신호가 변하는 시점에서의 이상 신호의 평균값에서 상기 이진 신호가 변하는 시점에서의 입력 신호의 평균값을 뺀 값을 전 상기 이진 신호가 변하는 시점에서의 이상 신호의 변화값을 나눈 값을 상기 입력 신호의 시간축 오차로 계산하는 것이 바람직하다.

한편, 상기 기술적 과제는 본 발명의 다른 특징에 따라 광디스크의 신호 주기를 측정하는 방법에 있어서, 입력 신호를 이진화하는 단계; 상기 이진화된 입력 신호인 이진 신호를 입력받아, 상기 광디스크의 채널 특성에 기초하여 잡음이 없는 이상 신호를 생성하는 단계; 및 상기 이진 신호 및 상기 이상 신호에 기초하여, 상기 입력 신호의 주기를 측정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 신호 주기 측정 방법에 의해서도 달성된다.

상기 주기 연산 단계는, 상기 이진 신호가 변하는 시점에서의 상기 이상 신호에 대한 상기 입력 신호의 시간축 오차를 계산하는 단계; 및 상기 이진 신호가 변하기 직전의 입력 신호의 주기에 상기 오차를 더하고, 상기 이진 신호가 변한 직후의 입력 신호의 주기에 상기 오차를 빼주어 입력 신호의 주기를 조정하는 단계를 포함하는 것이 바람직하다.

상기 오차 계산 단계는, 상기 이진 신호가 변하는 시점에서의 이상 신호의 평균값에서 상기 이진 신호가 변하는 시점에서의 입력 신호의 평균값을 뺀 값을 전 상기 이진 신호가 변하는 시점에서의 이상 신호의 변화값을 나눈 값을 상기 입력 신호의 시간축 오차로 계산하는 것이 바람직하다.

상기 기술적 과제는 광디스크를 재생하는 장치에 있어서, 상기 광디스크로부터 픽업된 신호를 등화하는 등화기; 상기 등화기의 출력을 입력받아 상기 신호의 주기를 측정하는 신호 주기 측정부; 및 상기 측정된 주기를 이용하여 상기 신호의 품질을 평가하는 신호 품질 평가부를 포함하되, 상기 신호 주기 측정부는, 입력 신호를 이진화하는 이치화부; 상기 이치화부에서 이진화된 이진 신호를 입력받아, 상기 광디스크의 채널 특성에 기초하여 잡음이 없는 이상 신호를 생성하는 이상 신호 생성부; 및 상기 이진 신호 및 상기 이상 신호에 기초하여, 상기 입력 신호의 주기를 측정하는 주기 연산부를 포함하는 것을 특징으로 하는 광디스크 재생 장치에 의해서 달성된다.

또한, 신호 주기 측정 방법을 실행시키기 위한 프로그램을 기록한 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록 매체에 있어서, 상기 방법은 입력 신호를 이진화하는 단계; 상기 이진화된 입력 신호인 이진 신호를 입력받아, 상기 광디스크의 채널 특성에 기초하여 잡음이 없는 이상 신호를 생성하는 단계; 및 상기 이진 신호 및 상기 이상 신호에 기초하여, 상기 입력 신호의 주기를 측정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 기록 매체에 의해서도 달성된다.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명하기로 한다.

도 3을 참조하면, 본 발명에 따른 지터 측정 장치는 이치화부(310), 이상 신 호 생성부(320) 및 지터 측정부(330)를 포함한다. 지터 측정 장치는 광 디스크 재생 장치 내에 포함되어 있을 수도 있고, 광 디스크 재생 장치와는 별도의 장치일 수 있다.

이치화부(310)는 입력되는 RF 신호를 이진 신호로 바꾼다. 광 디스크 표면에 이진 신호가 기록되어 있더라도 디스크로부터 픽업된 신호인 RF 신호는 디스크의 특성과 광학적인 특성으로 인해 아날로그 신호의 성질을 가지고 있다. 따라서 이러한 입력 RF 신호를 이치화부(310)에서 이진 신호로 바꾼다. 이치화부(310)는 도 1에서 나타난 것과 동일한 방법으로 슬라이싱 회로를 통해 이진 신호를 생성할 수 있다. 또한 PRML(Partial Response Maximum Likelyhood)와 같은 비터비 디코더 방식을 통해서 이진 신호를 생성하는 것도 가능하다.

이상 신호 생성부(320)에서는 이치화부(310)에서 이진화된 이진 신호를 입력 받아, 광디스크의 채널 특성에 기초하여 잡음이 없는 이상적인 신호를 생성한다. 이상 신호는 광 디스크의 채널 특성을 이용하여 이진 신호를 필터링하는 것에 의해서 생성될 수 있다. 예를 들어, x(n)이 이상 신호에 입력되는 이진 신호이고, h(n)이 광 디스크의 채널 특성을 나타내는 함수라고 하는 경우, 수학식 1과 같은 식에 의해서 이상 신호를 구할 수 있다.

*는 컨볼루션 연산을 나타내며, y(n)이 출력되는 이상 신호이다.

이상 신호를 생성하는 다른 방법으로는, 입력 신호의 특성을 나타내는 레벨을 이용하는 방법이 있다. 이 방법은 사전 정의된 복수 개의 이진 신호에 기초하여, 광디스크의 채널 특성을 나타내는 레벨을 선택하고, 선택된 레벨의 신호를 이상 신호로 출력하는 것이다. 여기서 사전 정의된 복수 개의 이진 신호라 함은 이상 신호 생성부(320)에 입력되는 이진 신호를 복수 개의 지연기를 통해 동기화 과정을 거쳐서 얻어진 이진 신호를 의미한다. 얻어진 이진 신호를 다중화한 신호에 기초하여, 레벨을 선택한다. 레벨을 선택하기 위해서는 입력 신호가 복수 개의 레벨로 분류되어 있어야한다.

지터 측정부(330)에서는 이치화부(310)의 출력인 이진 신호 및 이상 신호 생성부(320)의 출력인 이상 신호에 기초하며, 입력 RF 신호의 정확한 지터를 측정한다.

도 4를 참조하면, 지터 측정 장치는 이치화부(310), 이상 신호 생성부(320), 레벨 검출부(410) 및 지터 측정부(330)를 포함하며, 레벨 검출부(410)는 입력 신호 분리부(412) 및 필터링부(414)를 포함한다.

이치화부(310)에서는 입력되는 RF 신호를 이진화하고, 이상 신호 생성부(320)에서는 이치화부(310)에서 이진화된 이진 신호를 입력받아, 광디스크 채널 특성에 기초하여, 잡음이 없는 이상 신호를 생성한다. 이상 신호는 사전 정의된 복수 개의 이진 신호에 기초하여, 광디스크의 채널 특성을 나타내는 레벨을 선택하고, 선택된 레벨의 신호를 이상 신호로 출력한다. 이를 위해서는 복수 개의 레벨이 분류되고 레벨의 값 또는 신호가 정해져 있어야한다.

레벨 검출부(410)는 이진 신호에 기초하여, 입력 신호의 레벨을 검출한다. 레벨 검출부(410)의 입력 신호 분리부(412)는 이진 신호를 이용하여 입력 신호를 복수 개의 레벨로 분리한다. 필터링부(414)는 분리된 레벨만큼의 평균치 필터를 포함하여, 복수 개의 레벨로 분리된 입력 신호 각각에 대한 레벨별 평균치를 구한다. 레벨 검출부(410)의 구체적 구성에 대해서는 도 5와 관련하여 후술한다.

지터 측정부(330)는 이진 신호 및 이상 신호에 기초하여, 입력 신호의 정확한 지터 값을 측정한다. 지터 측정부(330)에 입력되는 입력 신호는 지연기를 통해 동기를 맞춘 다음에 입력된다. 입력 신호의 정확한 지터를 측정하여야, 신호의 품질을 정확하게 평가할 수 있다. 우선, 이진 신호가 변하는 시점에서 이상 신호에 대한 입력 신호의 시간축 오차를 계산하고, 계산된 시간축 오차를 지터로 출력한다. 시간축 오차는 이진 신호가 변하는 시점에서의 이상 신호의 평균값에서 이진 신호가 변하는 시점에서의 입력 신호의 평균값을 뺀 값을 상기 이진 신호가 변하는 시점에서의 이상 신호의 변화값으로 나누어서 계산할 수 있다.

레벨 검출기(410)는 입력 신호 분리부(412) 및 필터링부(414)를 포함한다. 입력 신호 분리부(412)는 입력 신호를 지연시키는 n개의 지연기(413_1~413_n)를 포함하는데, 이는 입력 신호와 이진 신호의 동기를 맞추기 위한 것이다. 또한 입력 신호 분리부(412)은 이진 신호를 지연시키는 k개의 지연기(415_1~415_k)와 선택 신호 생성부(416)를 포함하는데, 선택 신호 생성부(416)는 입력되는 이진 신호로 조 합된 선택 신호를 출력한다. 이진 신호를 지연시키는 지연기는 총 k개이므로, 선택 신호 생성부(416)는 2^k+1개의 선택 신호를 생성할 수 있다. 예를 들어, k가 2인 경우에는, 선택 신호 생성부(416)는 2³개의 선택 신호를 생성할 수 있다. 생성될 수 있는 2³개의 선택 신호는 000, 001, 010, 011, 100, 101, 110, 111이다.

선택부(418)는 선택 신호 생성부(416)로부터 출력되는 신호에 따라 동기화된 입력 신호를 선택한다. 예를 들어, 선택 신호로서 000값이 출력되면, 선택부(418)는 동기화된 입력 신호에 대해 레벨 0을 출력한다. 또한, 선택 신호로서 111값이 출력되면, 선택부(418)는 동기화된 입력 신호에 대해 레벨 m을 출력한다. 이때, 레벨 m은 레벨 7에 해당된다.

이와 같이 입력 신호 분리부(412)로부터 이진 신호에 대응되는 입력 신호의 레벨(레벨 0에서 레벨 m 중 하나)이 출력된다. 이때, 입력 신호 분리부(412)로부터 출력되는 레벨은 이상적인 신호의 추정치로 간주할 수 있다. 입력 신호 분리부(412)로부터 출력되는 레벨은 필터링부(414)로 전송된다.

필터링부(414)에서는 레벨 수만큼의 평균치 필터를 포함하여, 레벨별로 평균치를 구하고, 구한 평균치를 입력 신호의 레벨값으로 검출한다. 이를 위하여 필터링부(414)는 m+1개의 평균치 필터를 포함한다. 평균치 필터는 입력되는 레벨에 대해 긴 구간동안 평균치를 구할 수 있다. 또한, 평균치 필터는 저역 통과 필터를 사용하여 평균치를 구하도록 구성할 수 있다. 평균화된 입력 신호의 레벨 값은 이상 신호 생성부(320)의 입력이 된다.

이상적인 입력 신호로부터 어떻게 신호 품질을 얻어내는지에 대한 원리를 살펴보면 다음과 같다. 간단한 예를 들어 입력 신호가 생성되는 원리를 살펴보도록 하자. 일단 PR(partial response) 채널에 대해 살펴보면, PR(1,2,1) 채널은 이진 신호가 들어올 경우 필터 계수가 1,2,1인 디지털 필터를 통과한 신호를 얻을 수 있다는 것을 의미한다. 이를 하드웨어적인 구성으로 살펴보면 도 6과 같다. 도 6은 PR(1, 2, 1) 채널의 하드웨어 구성 예시도이다. 이 때, 입력되는 이진 신호는 편의상 DC 값이 0이 되도록 -1 또는 1이 들어간다고 가정하면, 이진 신호 3개가 하나의 출력을 구성하므로 모든 경우의 수를 고려하면 2³만큼의 경우의 수가 생긴다. 이 때의 출력 신호는 표 1과 같다.

표 1에서 3번째와 6번째는 1T가 나오는 경우인데 BD(Bluray Disc)나 HD-DVD(High Definition-DVD)의 경우는 이진 신호 자체에 1T가 존재하지 않기 때문에 0이란 출력은 나올 수가 없다. 예를 들어 입력 신호의 이진 신호가 다음과 같을 때, 도 6의 디지털 필터로부터 출력되는 신호는 아래와 같다.

이진 신호(binary data): -1 -1 -1 -1 +1 +1 -1 -1 -1 +1 +1 +1 +1 +1 +1

출력 신호(output data) : -4 -4 -2 +2 +2 -2 -4 -2 +2 +4 +4 +4 +4

이진 신호가 -1에서 1로 변할 때의 출력 신호의 그래프를 도시하면, 도 7과 같다. 도 7은 이진 신호가 -1에서 1로 변할 때의 출력 신호의 그래프이다. 도 7에서 점선으로 표시된 신호가 이진 신호이고, 실선으로 표시된 신호가 출력 신호이다. 이진 신호가 -1에서 1로 갈 때의 응답 특성은 일반적으로 스텝 응답(Step response)라고 불리는데 이진 신호가 변함에 따라 출력 신호가 바로 변하는 것이 아니라 길이 3만큼의 응답 특성(3탭이므로)을 가지고 있고 탭의 계수에 의해 결정된 모양 특성을 갖는다.

일반적으로 ISI(Inter symbol interference)라고 하면 사전적 의미로는 부호간 간섭이지만 이에 대한 구체적 의미는 도 7과 같이 스텝 입력이 들어간 경우에 출력 신호가 같이 나오는 것이 아니라 앞 뒤 신호의 영향을 받아 길이 3과 그에 해당하는 모양만큼의 변형이 생기는 것을 의미한다. ISI는 광디스크의 경우 레이저 스팟 모양과 피트 길이에 따른 변수이기 때문에 동일 스팟 모양의 경우 ISI의 길이는 디스크의 저장 용량에 정확히 비례한다. 그렇다면 ISI가 존재하는 경우 이상적인 이진 신호를 얻어내는 관점에서 보았을 때 이상 신호는 어떠한 분포를 가지고 있어야 하는지 분석할 필요가 있다.

이를 분석하기 위해 PR(1,2,1)에서 1비트 시프트된 이진 신호가 입력될 때 출력 신호의 파형을 체크한다. 특히, 입력되는 이진 신호가 1비트 시프트 된 경우 도 6의 출력 신호 역시 1비트 시프트 된 결과가 얻어지게 된다. 이 경우 실제 회로에서 얻어진 입력 신호(도 6의 출력 신호)의 경우 도 7의 실선으로 구성된 신호와 점선으로 구성된 신호 사이에 위치하게 된다. 최근 많이 사용되는 PRML(Partial Response Maximum Likelyhood)을 사용할 경우에 실제로 입력 신호가 점선과 실선중 어느 쪽에 더 가까운지를 보고 신호 판별을 하게 된다.

이때 이상적 입력 신호가 가져야 될 분포에 에러가 날 확률은 도 7의 실선 파형과 점선 파형간의 거리가 멀수록 적어진다. 그 이유는 입력 신호가 도 7의 실선에 가까운지 또는 점선에 가까운지 판별하는 것이 PRML의 기본 원리인데 기본적으로 도 7의 실선 파형과 점선 파형의 거리가 멀면 멀수록 실제 입력 신호가 어느 쪽에 가까운지를 명확히 판별할 수 있기 때문이다.

도 8a 및 도 8b는 본 발명의 일 실시예에 따른 입력 신호의 시간축 오차 계산 방법을 나타낸 참고도이다. 도 8a는 이진 신호가 0에서 1로 바뀌는 경우이고, 도 8b는 이진 신호가 1에서 0으로 바뀌는 경우이다.

도 8a를 참조하면, 시간 i에서의 이상 신호를 idealrf(i)라고 하고, 시간 i+1에서의 이상 신호를 idealrf(i+1)로 하는 경우, 시간 i+0.5에서의 이상 신호의 평균값은

로 표현될 수 있다. 이때의 시간 i와 i+1은 이진 신호가 0에서 1로 변하는 순간을 나타낸다. 시간 i에서의 입력 신호를 realrf(i)라고 하고, 시간 i+1에서의 입력 신호를 realrf(i+1)라고 하면, i+0.5에서의 입력 신호의 값은

로 표현될 수 있다. 이 두 평균값의 차를 구하면, 이진 신호가 0에서 1로 바뀌는 순간의 이상 신호와 실제 입력 신호의 차이를 얻게 되고, 이를 입력 신호가 변한 양으로 나누어주면 어느 정도의 오차가 있는지 파악할 수 있다. 이를 식으로 나타내면, 수학식 2와 같다.

도 8b를 참조하면, 이진 신호가 1에서 0으로 변하는 순간에서의 시간축 오차를 구하는 방법이 나타나 있다. 도 8b의 경우에도, 도 8a와 마찬가지로 수학식 2를 통해서 시간축 오차를 계산할 수 있으며, 계산된 시간축 오차가 지터가 된다.

도 9는 본 발명의 일 실시예에 따른 지터 측정 장치를 통해 파악된 시간축 오차가 나타나는 빈도수를 나타내는 그래프이다. 즉, 시간축 오차가 0이되는 빈도수는 전 입력 신호를 통틀어, 약 67000번이 되는 것이다. 본 발명에 의하면, 정밀한 지터 측정이 이루어져, 도 9와 같은 히스토그램을 그릴 수 있다는 장점이 있고, 이 결과를 이용해서 신호 품질 평가 지표로 활용할 수 있다.

도 10은 본 발명의 일 실시예에 따른 지터 측정 방법을 도시한 플로우차트이다.

단계 1010에서는 입력 신호를 이진화한다. 입력 신호는 디스크로부터 픽업된 신호인 RF 신호이며, 입력 신호는 디스크의 특성과 광학적인 특성으로 인해 아날로그 신호의 성질을 가지므로, 이를 이진 신호로 바꿔줄 필요가 있다. 입력 신호를 이진화하는 방법에는 비교기와 저역 통과 필터를 포함하는 슬라이싱 회로를 통한 방법과 PRML(Partial Response Maximum Likelyhood)와 같은 비터비 디코더 방식을 통한 방법이 있을 수 있다.

단계 1020에서는 이진화된 입력 신호인 이진 신호를 입력받아, 광디스크의 채널 특성에 기초하여 잡음이 없는 이상 신호를 생성한다. 이상 신호는 광 디스크의 채널 특성을 이용하여 이진 신호를 필터링하는 것에 의해서 생성될 수 있다. 또한 입력 신호의 특성을 나타내는 레벨을 이용하는 방법에 의해서도 이상 신호가 생성될 수 있다. 레벨은 기존에 설정되어 있거나, 별도의 장치를 통해서 입력 신호로부터 검출될 수도 있다.

단계 1030에서는 이진 신호 및 생성된 이상 신호에 기초하여, 입력 신호의 정확한 지터를 측정한다.

단계 1110에서는 입력 신호를 이진화하여 이진 신호를 생성한다.

단계 1120에서는 이진화된 입력 신호인 이진 신호에 기초하여, 입력 신호의 레벨을 검출한다. 레벨 검출을 위해서는 우선, 이진 신호를 이용하여 입력 신호를 복수 개의 레벨로 분리한다. 다음으로 분리된 레벨만큼의 평균치 필터를 이용하여 복수 개의 레벨로 분리된 입력 신호 각각에 대한 레벨별 평균치를 구한다. 평균화된 레벨이 검출된 레벨이 되어 출력된다.

단계 1130에서는 사전 정의된 복수 개의 이진 신호에 기초하여, 검출된 레벨 중 하나의 레벨을 선택하고, 선택된 신호를 이상 신호로 출력한다. 여기서 사전 정의된 복수 개의 이진 신호라 함은 입력되는 이진 신호를 복수 개의 지연기를 통해 동기화 과정을 거쳐 얻어진 이진 신호를 의미한다. 복수 개의 이진 신호를 다중화한 신호에 기초하여, 레벨을 선택한다. 레벨은 단계 1120에서 검출된 레벨 중에서 선택하고, 선택된 신호가 이상 신호가 된다.

단계 1140에서는 이진 신호가 변하는 시점에서, 이상 신호에 대한 입력 신호의 시간축 오차를 계산한다. 시간축 오차의 계산은 수학식 2에 나타난 식에 의해서 수행될 수 있다.

단계 1150에서는 단계 1140에서 계산된 시간축 오차를 지터값으로 출력한다.

도 12를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 광 디스크 재생 장치는 픽업부(1210), 신호 변환기(1220), 증폭기(1230), 등화기(1240), 지터 측정기(1250) 및 신호 처리부(1260)를 포함한다.

픽업부(1210)에서는 광 디스크 표면에 레이저를 주사하고, 반사되는 신호를 받는다. 픽업된 신호는 신호 변환기(1220)에서 RF 신호로 변환되어 증폭부(130)에서 증폭된다. 등화기(1240)에서는 RF 신호를 필터링한다.

등화기에서 출력된 RF 신호가 지터 측정기(1250)의 입력 신호가 되는데, 지터 측정기(1250)는 이치화부(310), 이상 신호 생성부(320) 및 지터 측정부(330)를 포함한다. 이치화부(310)는 입력되는 RF 신호를 이진 신호로 바꾼다. RF 신호는 디 스크의 특성과 광학적인 특성으로 인해 아날로그 신호의 성질을 가지고 있기 때문이다. 이상 신호 생성부(320)에서는 이치화부(310)에서 이진화된 이진 신호를 입력 받아, 광디스크의 채널 특성에 기초하여 잡음이 없는 이상적인 신호를 생성한다. 이상 신호는 광 디스크의 채널 특성을 이용하여 이진 신호를 필터링하는 것에 의해서 생성될 수 있다. 또한, 입력 신호의 특성을 나타내는 레벨을 이용하여 생성될 수 있다. 지터 측정부(330)에서는 이치화부(310)의 출력인 이진 신호 및 이상 신호 생성부(320)의 출력인 이상 신호에 기초하며, 입력 RF 신호의 정확한 지터 값을 측정한다.

신호 처리부(1260)에서는 등화기(1240) 및 지터 측정기(1250)에서 측정된 RF 신호의 주기를 입력받아, 신호 품질을 파악하고, 복조 및 에러 정정 과정을 거쳐 디지털 데이터를 생성한다.

도 13을 참조하면, 본 발명에 따른 신호 주기 측정 장치는 이치화부(1310), 이상 신호 생성부(1320) 및 주기 연산부(1330)를 포함한다. 신호 주기 측정 장치는 광 디스크 재생 장치 내에 포함되어 있을 수도 있고, 광 디스크 재생 장치와는 별도의 장치일 수 있다.

이치화부(1310)는 도 3의 이치화부(310)와 동일한 기능을 하는데, 입력되는 RF 신호를 이진 신호로 바꾼다. 광 디스크 표면에 이진 신호가 기록되어 있더라도 디스크로부터 픽업된 신호인 RF 신호는 디스크의 특성과 광학적인 특성으로 인해 아날로그 신호의 성질을 가지고 있다. 따라서 이러한 입력 RF 신호를 이치화부(1310)에서 이진 신호로 바꾼다. 이치화부(1310)는 도 1에서 나타난 것과 동일한 방법으로 슬라이싱 회로를 통해 이진 신호를 생성할 수 있다. 또한 PRML(Partial Response Maximum Likelyhood)와 같은 비터비 디코더 방식을 통해서 이진 신호를 생성하는 것도 가능하다.

이상 신호 생성부(1320)에서는 이치화부(1310)에서 이진화된 이진 신호를 입력 받아, 광디스크의 채널 특성에 기초하여 잡음이 없는 이상적인 신호를 생성한다. 이상 신호는 광 디스크의 채널 특성을 이용하여 이진 신호를 필터링하는 것에 의해서 생성될 수 있다.

이상 신호를 생성하는 다른 방법으로는, 입력 신호의 특성을 나타내는 레벨을 이용하는 방법이 있다. 이 방법은 사전 정의된 복수 개의 이진 신호에 기초하여, 광디스크의 채널 특성을 나타내는 레벨을 선택하고, 선택된 레벨의 신호를 이상 신호로 출력하는 것이다. 여기서 사전 정의된 복수 개의 이진 신호라 함은 이상 신호 생성부(1320)에 입력되는 이진 신호를 복수 개의 지연기를 통해 동기화 과정을 거쳐서 얻어진 이진 신호를 의미한다. 얻어진 이진 신호를 다중화한 신호에 기초하여, 레벨을 선택한다. 레벨을 선택하기 위해서는 입력 신호가 복수 개의 레벨로 분류되어 있어야한다.

주기 연산부(1330)에서는 이치화부(1310)의 출력인 이진 신호 및 이상 신호 생성부(1320)의 출력인 이상 신호에 기초하며, 입력 RF 신호의 정확한 주기를 측정한다.

도 14를 참조하면, 신호 주기 측정 장치는 이치화부(1310), 이상 신호 생성부(1320), 레벨 검출부(1410) 및 주기 연산부(1330)를 포함하며, 레벨 검출부(1410)는 입력 신호 분리부(1412) 및 필터링부(1414)를 포함하며, 주기 연산부(1330)는 오차 계산부(1332) 및 주기 조정부(1334)를 포함한다.

이치화부(1310)에서는 입력되는 RF 신호를 이진화하고, 이상 신호 생성부(1320)에서는 이치화부(1310)에서 이진화된 이진 신호를 입력받아, 광디스크 채널 특성에 기초하여, 잡음이 없는 이상 신호를 생성한다. 이상 신호는 사전 정의된 복수 개의 이진 신호에 기초하여, 광디스크의 채널 특성을 나타내는 레벨을 선택하고, 선택된 레벨의 신호를 이상 신호로 출력한다. 이를 위해서는 복수 개의 레벨이 분류되고 레벨의 값 또는 신호가 정해져 있어야한다.

레벨 검출부(1410)는 이진 신호에 기초하여, 입력 신호의 레벨을 검출한다. 레벨 검출부(1410)의 입력 신호 분리부(1412)는 이진 신호를 이용하여 입력 신호를 복수 개의 레벨로 분리한다. 필터링부(1414)는 분리된 레벨만큼의 평균치 필터를 포함하여, 복수 개의 레벨로 분리된 입력 신호 각각에 대한 레벨별 평균치를 구한다. 레벨 검출부(1410)의 구체적 구성은 도 5에서 설명되어 있다.

주기 연산부(1330)는 이진 신호 및 이상 신호에 기초하여, 입력 신호의 정확한 주기를 측정한다. 주기 연산부(1330)에 입력되는 입력 신호는 지연기를 통해 동기를 맞춘 다음에 입력된다. 입력 신호의 정확한 주기를 측정하여야, 신호의 품질 을 정확하게 평가할 수 있다. 주기 연산부(1330)의 오차 계산부(1332)는 이진 신호가 변하는 시점에서 이상 신호에 대한 입력 신호의 시간축 오차를 계산한다. 주기 조정부(1334)에서는 이진 신호가 변하기 직전의 입력 신호의 주기에 오차 계산부(1332)에서 구한 시간축 오차를 더하고, 이진 신호가 변한 직후의 입력 신호의 주기에 오차를 빼주어 입력 신호의 주기를 조정한다.

예를 들어, 이진 신호가 0에서 1로 바뀌는 도 8a의 경우에는 수학식 2를 이용하여 주기를 조정해 줄 수 있다. 이진 신호가 0에서 1로 바뀌는 순간이 5T, 4T로 이루어져 있는 경우를 생각해보자. 이때의 T는 마크와 스페이스로 이루어진 입력 신호의 시간축에서의 마크 길이, 즉 주기라고 할 수 있다. 이전 5T의 경우에는 5T+시간축 오차, 새롭게 시작하는 4T의 경우에는 4T-시간축 오차로 주기를 조정해줄 수 있다.

이진 신호가 1에서 0으로 변하는 순간에서의 시간축 오차를 구하는 방법은 도 8b에 나타나 있다. 도 8b의 경우에도, 도 8a와 마찬가지로 수학식 2를 통해서 시간축 오차를 계산할 수 있으며, 이진 신호가 변하기 직전 주기에 계산된 시간축 오차를 더하고, 이진 신호가 변한 직후 주기에 계산된 시간축 오차를 빼줌으로써, 주기를 조정하여 정확한 주기를 계산할 수 있다.

광 디스크의 기록 밀도가 높아짐에 따라서, 짧은 주기의 입력 신호의 크기가 점점 작아져서, 지터값이 측정되기 어려우나, 본 발명에 의하면 정확한 주기를 얻 을 수 있어, 도 15와 같은 그래프를 얻을 수 있다. 도 15의 가로축은 마크 길이를 10배로 한 것이며, 세로축은 신호의 크기를 나타낸다.

단계 1610에서는 입력 신호를 이진화한다. 입력 신호는 디스크로부터 픽업된 신호인 RF 신호이며, 입력 신호는 디스크의 특성과 광학적인 특성으로 인해 아날로그 신호의 성질을 가지므로, 이를 이진 신호로 바꿔줄 필요가 있다. 입력 신호를 이진화하는 방법에는 비교기와 저역 통과 필터를 포함하는 슬라이싱 회로를 통한 방법과 PRML(Partial Response Maximum Likelyhood)와 같은 비터비 디코더 방식을 통한 방법이 있을 수 있다.

단계 1620에서는 이진화된 입력 신호인 이진 신호를 입력받아, 광디스크의 채널 특성에 기초하여 잡음이 없는 이상 신호를 생성한다. 이상 신호는 광 디스크의 채널 특성을 이용하여 이진 신호를 필터링하는 것에 의해서 생성될 수 있다. 또한 입력 신호의 특성을 나타내는 레벨을 이용하는 방법에 의해서도 이상 신호가 생성될 수 있다. 레벨은 기존에 설정되어 있거나, 별도의 장치를 통해서 입력 신호로부터 검출될 수도 있다.

단계 1630에서는 이진 신호 및 생성된 이상 신호에 기초하여, 입력 신호의 정확한 주기를 측정한다.

단계 1710에서는 입력 신호를 이진화하여 이진 신호를 생성한다.

단계 1720에서는 이진화된 입력 신호인 이진 신호에 기초하여, 입력 신호의 레벨을 검출한다. 레벨 검출을 위해서는 우선, 이진 신호를 이용하여 입력 신호를 복수 개의 레벨로 분리한다. 다음으로 분리된 레벨만큼의 평균치 필터를 이용하여 복수 개의 레벨로 분리된 입력 신호 각각에 대한 레벨별 평균치를 구한다. 평균화된 레벨이 검출된 레벨이 되어 출력된다.

단계 1730에서는 사전 정의된 복수 개의 이진 신호에 기초하여, 검출된 레벨 중 하나의 레벨을 선택하고, 선택된 신호를 이상 신호로 출력한다. 여기서 사전 정의된 복수 개의 이진 신호라 함은 입력되는 이진 신호를 복수 개의 지연기를 통해 동기화 과정을 거쳐 얻어진 이진 신호를 의미한다. 복수 개의 이진 신호를 다중화한 신호에 기초하여, 레벨을 선택한다. 레벨은 단계 1720에서 검출된 레벨 중에서 선택하고, 선택된 신호가 이상 신호가 된다.

단계 1740에서는 이진 신호가 변하는 시점에서, 이상 신호에 대한 입력 신호의 시간축 오차를 계산한다. 시간축 오차의 계산은 수학식 2에 나타난 식에 의해서 수행될 수 있다.

단계 1750에서는 이진 신호가 변하기 직전의 입력 신호 주기에 오차를 더하고, 이진 신호가 변한 직후의 입력 신호 주기에 오차를 빼줌으로써, 입력 신호의 주기를 조정한다. 이진 신호가 0에서 1로 바뀌는 순간이 5T, 4T로 이루어져 있는 경우를 생각해보자. 이때의 T는 마크와 스페이스로 이루어진 입력 신호의 시간축에서의 마크 길이, 즉 주기라고 할 수 있다. 이전 5T의 경우에는 5T+시간축 오차, 새 롭게 시작하는 4T의 경우에는 4T-시간축 오차로 주기를 조정해줄 수 있다.

도 18를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 광 디스크 재생 장치는 픽업부(1810), 신호 변환기(1820), 증폭기(1830), 등화기(1840), 신호 주기 측정부(1850) 및 신호 처리부(1860)를 포함한다.

픽업부(1810)에서는 광 디스크 표면에 레이저를 주사하고, 반사되는 신호를 받는다. 픽업된 신호는 신호 변환기(1820)에서 RF 신호로 변환되어 증폭부(1830)에서 증폭된다. 등화기(1840)에서는 RF 신호를 필터링한다.

등화기에서 출력된 RF 신호가 신호 주기 측정부(1850)의 입력 신호가 되는데, 신호 주기 측정부(1850)는 이치화부(1310), 이상 신호 생성부(1320) 및 주기 연산부(1330)를 포함한다. 이치화부(1310)는 입력되는 RF 신호를 이진 신호로 바꾼다. RF 신호는 디스크의 특성과 광학적인 특성으로 인해 아날로그 신호의 성질을 가지고 있기 때문이다. 이상 신호 생성부(1320)에서는 이치화부(1310)에서 이진화된 이진 신호를 입력 받아, 광디스크의 채널 특성에 기초하여 잡음이 없는 이상적인 신호를 생성한다. 이상 신호는 광 디스크의 채널 특성을 이용하여 이진 신호를 필터링하는 것에 의해서 생성될 수 있다. 또한, 입력 신호의 특성을 나타내는 레벨을 이용하여 생성될 수 있다. 주기 연산부(1330)에서는 이치화부(1310)의 출력인 이진 신호 및 이상 신호 생성부(1320)의 출력인 이상 신호에 기초하며, 입력 RF 신호의 정확한 주기를 측정한다.

신호 처리부(1860)에서는 등화기(1840) 및 신호 주기 측정부(1850)에서 측정된 RF 신호의 주기를 입력받아, 신호 품질을 파악하고, 복조 및 에러 정정 과정을 거쳐 디지털 데이터를 생성한다.

한편, 상술한 본 발명의 실시예들은 컴퓨터에서 실행될 수 있는 프로그램으로 작성가능하고, 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록매체를 이용하여 상기 프로그램을 동작시키는 범용 디지털 컴퓨터에서 구현될 수 있다.

상기 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록매체는 마그네틱 저장매체(예를 들면, 롬, 플로피 디스크, 하드디스크 등), 광학적 판독 매체(예를 들면, 시디롬, 디브이디 등) 및 캐리어 웨이브(예를 들면, 인터넷을 통한 전송)와 같은 저장매체를 포함한다.

이제까지 본 발명에 대하여 그 바람직한 실시예들을 중심으로 살펴보았다. 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자는 본 발명이 본 발명의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 변형된 형태로 구현될 수 있음을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 개시된 실시예들은 한정적인 관점이 아니라 설명적인 관점에서 고려되어야 한다. 본 발명의 범위는 전술한 설명이 아니라 특허청구범위에 나타나 있으며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 차이점은 본 발명에 포함된 것으로 해석되어야 할 것이다.

전술한 바와 같이 본 발명에 의하면, 신호의 정확한 지터를 측정하는 지터 측정 장치 및 방법, 신호 주기 측정 장치 및 방법, 광 디스크 재생 장치를 제공한 다.

또한 측정된 지터 값을 바탕으로, 정확한 신호 품질을 평가할 수 있으며, 신호의 주기를 측정하여서도 신호 품질을 평가할 수 있다.

Claims

광디스크 신호의 지터를 측정하는 장치에 있어서,

입력 신호를 이진화하는 이치화부;

상기 이치화부에서 이진화된 이진 신호를 입력받아, 상기 광디스크의 채널 특성에 기초하여 잡음이 없는 이상 신호를 생성하는 이상 신호 생성부; 및

상기 이진 신호 및 상기 이상 신호에 기초하여, 상기 입력 신호의 지터 값을 측정하는 지터 측정부를 포함하는 것을 특징으로 하는 지터 측정 장치.
제1항에 있어서,

상기 이상 신호 생성부는, 상기 광디스크의 채널 특성을 이용하여 상기 이진 신호를 필터링하는 것에 의해 이상 신호를 생성하는 것을 특징으로 하는 지터 측정 장치.
제1항에 있어서,

상기 이상 신호 생성부는, 사전 정의된 복수 개의 이진 신호에 기초하여, 상기 광디스크의 채널 특성을 나타내는 레벨을 선택하고, 상기 선택된 레벨의 신호를 이상 신호로 출력하는 것을 특징으로 하는 지터 측정 장치.
제1항에 있어서,

상기 이진 신호에 기초하여, 상기 입력 신호의 레벨을 검출하는 레벨 검출부를 더 포함하며,

상기 이상 신호 생성부는, 사전 정의된 복수 개의 이진 신호에 기초하여, 상기 검출된 레벨 중 하나의 레벨을 선택하고, 상기 선택된 신호를 이상 신호로 출력하는 것을 특징으로 하는 지터 측정 장치.
제4항에 있어서,

상기 레벨 검출부는 상기 입력 신호 및 이전 레벨의 평균값을 취함으로써, 레벨을 검출하는 것을 특징으로 하는 지터 측정 장치.
제4항에 있어서,

상기 레벨 검출부는,

상기 이진 신호를 이용하여 상기 입력 신호를 복수 개의 레벨로 분리하는 입력 신호 분리부; 및

상기 복수 개의 레벨로 분리된 입력 신호 각각에 대한 레벨별 평균치를 구하는 필터링부를 포함하는 것을 특징으로 하는 지터 측정 장치.
제6항에 있어서,

상기 입력 신호 분리부는 상기 입력 신호와 상기 이진 신호간의 동기를 맞추기 위해 상기 입력 신호를 지연시키는 지연기를 포함하는 것을 특징으로 하는 지터 측정 장치.
제1항에 있어서,

상기 지터 측정부는,

상기 이진 신호가 변하는 시점에서의 상기 이상 신호에 대한 상기 입력 신호의 시간축 오차를 계산하고, 상기 시간축 오차를 상기 입력 신호의 지터로 하는 것을 특징으로 하는 지터 측정 장치.
제8항에 있어서,

상기 시간축 오차는,

상기 이진 신호가 변하는 시점에서의 이상 신호의 평균값에서 상기 이진 신호가 변하는 시점에서의 입력 신호의 평균값을 뺀 값을 상기 이진 신호가 변하는 시점에서의 이상 신호의 변화값으로 나눈 값인 것을 특징으로 하는 지터 측정 장치.
광디스크 신호의 지터를 측정하는 방법에 있어서,

입력 신호를 이진화하는 단계;

상기 이진화된 입력 신호인 이진 신호를 입력받아, 상기 광디스크의 채널 특성에 기초하여 잡음이 없는 이상 신호를 생성하는 단계; 및

상기 이진 신호 및 상기 이상 신호에 기초하여, 상기 입력 신호의 지터 값을 측정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 지터 측정 방법.
제10항에 있어서,

상기 이상 신호 생성 단계는, 상기 광디스크의 채널 특성을 이용하여 상기 이진 신호를 필터링하는 것에 의해 이상 신호를 생성하는 것을 특징으로 하는 지터 측정 방법.
제10항에 있어서,

상기 이상 신호 생성 단계는, 사전 정의된 복수 개의 이진 신호에 기초하여, 상기 광디스크의 채널 특성을 나타내는 레벨을 선택하고, 상기 선택된 레벨의 신호를 이상 신호로 출력하는 것을 특징으로 하는 지터 측정 방법.
제10항에 있어서,

상기 이진 신호에 기초하여, 상기 입력 신호의 레벨을 검출하는 단계를 더 포함하며,

상기 이상 신호 생성 단계는, 사전 정의된 복수 개의 이진 신호에 기초하여, 상기 검출된 레벨 중 하나의 레벨을 선택하고, 상기 선택된 신호를 이상 신호로 출력하는 것을 특징으로 하는 지터 측정 방법.
제13항에 있어서,

상기 레벨 검출 단계는 상기 입력 신호 및 이전 레벨의 평균값을 취함으로써, 레벨을 검출하는 것을 특징으로 하는 지터 측정 방법.
제13항에 있어서,

상기 레벨 검출 단계는,

상기 이진 신호를 이용하여 상기 입력 신호를 복수 개의 레벨로 분리하는 단계; 및

상기 복수 개의 레벨로 분리된 입력 신호 각각에 대한 레벨별 평균치를 구하는 필터링 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 지터 측정 방법.
제15항에 있어서,

상기 입력 신호 분리 단계는, 상기 입력 신호를 복수 개의 레벨로 분리하기에 앞서, 상기 입력 신호와 상기 이진 신호간의 동기를 맞추기 위해 상기 입력 신호를 지연시키는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 지터 측정 방법.
제10항에 있어서,

상기 지터 측정 단계는,

상기 이진 신호가 변하는 시점에서의 상기 이상 신호에 대한 상기 입력 신호의 시간축 오차를 계산하고, 상기 시간축 오차를 상기 입력 신호의 지터로 하는 것을 특징으로 하는 지터 측정 방법.
제17항에 있어서,

상기 시간축 오차는,

상기 이진 신호가 변하는 시점에서의 이상 신호의 평균값에서 상기 이진 신호가 변하는 시점에서의 입력 신호의 평균값을 뺀 값을 상기 이진 신호가 변하는 시점에서의 이상 신호의 변화값으로 나눈 값인 것을 특징으로 하는 지터 측정 방법.
광디스크를 재생하는 장치에 있어서,

상기 광디스크로부터 픽업된 신호를 등화하는 등화기;

상기 등화기의 출력을 입력받아 상기 신호의 지터를 측정하는 지터 측정기; 및

상기 측정된 주기를 이용하여 상기 신호의 품질을 평가하는 신호 품질 평가부를 포함하되,

상기 지터 측정기는,

입력 신호를 이진화하는 이치화부;

상기 이치화부에서 이진화된 이진 신호를 입력받아, 상기 광디스크의 채널 특성에 기초하여 잡음이 없는 이상 신호를 생성하는 이상 신호 생성부; 및

상기 이진 신호 및 상기 이상 신호에 기초하여, 상기 입력 신호의 지터를 측정하는 지터 측정부를 포함하는 것을 특징으로 하는 광디스크 재생 장치.
지터 측정 방법을 실행시키기 위한 프로그램을 기록한 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록 매체에 있어서, 상기 방법은

입력 신호를 이진화하는 단계;

상기 이진화된 입력 신호인 이진 신호를 입력받아, 상기 광디스크의 채널 특성에 기초하여 잡음이 없는 이상 신호를 생성하는 단계; 및

상기 이진 신호 및 상기 이상 신호에 기초하여, 상기 입력 신호의 지터를 측정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 기록 매체.
광디스크의 신호 주기를 측정하는 장치에 있어서,

입력 신호를 이진화하는 이치화부;

상기 이치화부에서 이진화된 이진 신호를 입력받아, 상기 광디스크의 채널 특성에 기초하여 잡음이 없는 이상 신호를 생성하는 이상 신호 생성부; 및

상기 이진 신호 및 상기 이상 신호에 기초하여, 상기 입력 신호의 주기를 측정하는 주기 연산부를 포함하는 것을 특징으로 하는 신호 주기 측정 장치.
제21항에 있어서,

상기 이상 신호 생성부는, 상기 광디스크의 채널 특성을 이용하여 상기 이진 신호를 필터링하는 것에 의해 이상 신호를 생성하는 것을 특징으로 하는 신호 주기 측정 장치.
제21항에 있어서,

상기 이상 신호 생성부는, 사전 정의된 복수 개의 이진 신호에 기초하여, 상기 광디스크의 채널 특성을 나타내는 레벨을 선택하고, 상기 선택된 레벨의 신호를 이상 신호로 출력하는 것을 특징으로 하는 신호 주기 측정 장치.
제21항에 있어서,

상기 이진 신호에 기초하여, 상기 입력 신호의 레벨을 검출하는 레벨 검출부를 더 포함하며,

상기 이상 신호 생성부는, 사전 정의된 복수 개의 이진 신호에 기초하여, 상기 검출된 레벨 중 하나의 레벨을 선택하고, 상기 선택된 신호를 이상 신호로 출력하는 것을 특징으로 하는 신호 주기 측정 장치.
제24항에 있어서,

상기 레벨 검출부는 상기 입력 신호 및 이전 레벨의 평균값을 취함으로써, 레벨을 검출하는 것을 특징으로 하는 신호 주기 측정 장치.
제24항에 있어서,

상기 레벨 검출부는,

상기 이진 신호를 이용하여 상기 입력 신호를 복수 개의 레벨로 분리하는 입 력 신호 분리부; 및

상기 복수 개의 레벨로 분리된 입력 신호 각각에 대한 레벨별 평균치를 구하는 필터링부를 포함하는 것을 특징으로 하는 신호 주기 측정 장치.
제26항에 있어서,

상기 입력 신호 분리부는 상기 입력 신호와 상기 이진 신호간의 동기를 맞추기 위해 상기 입력 신호를 지연시키는 지연기를 포함하는 것을 특징으로 하는 신호 주기 측정 장치.
제21항에 있어서,

상기 주기 연산부는,

상기 이진 신호가 변하는 시점에서의 상기 이상 신호에 대한 상기 입력 신호의 시간축 오차를 계산하는 오차 계산부; 및

상기 이진 신호가 변하기 직전의 입력 신호의 주기에 상기 오차를 더하고, 상기 이진 신호가 변한 직후의 입력 신호의 주기에 상기 오차를 빼주어 입력 신호의 주기를 조정하는 주기 조정부를 포함하는 것을 특징으로 하는 신호 주기 측정 장치.
제28항에 있어서,

상기 오차 계산부는,

상기 이진 신호가 변하는 시점에서의 이상 신호의 평균값에서 상기 이진 신호가 변하는 시점에서의 입력 신호의 평균값을 뺀 값을 상기 이진 신호가 변하는 시점에서의 이상 신호의 변화값으로 나눈 값을 상기 입력 신호의 시간축 오차로 계산하는 것을 특징으로 하는 신호 주기 측정 장치.
광디스크의 신호 주기를 측정하는 방법에 있어서,

입력 신호를 이진화하는 단계;

상기 이진화된 입력 신호인 이진 신호를 입력받아, 상기 광디스크의 채널 특성에 기초하여 잡음이 없는 이상 신호를 생성하는 단계; 및

상기 이진 신호 및 상기 이상 신호에 기초하여, 상기 입력 신호의 주기를 측정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 신호 주기 측정 방법.
제30항에 있어서,

상기 이상 신호 생성 단계는, 상기 광디스크의 채널 특성을 이용하여 상기 이진 신호를 필터링하는 것에 의해 이상 신호를 생성하는 것을 특징으로 하는 신호 주기 측정 방법.
제30항에 있어서,

상기 이상 신호 생성 단계는, 사전 정의된 복수 개의 이진 신호에 기초하여, 상기 광디스크의 채널 특성을 나타내는 레벨을 선택하고, 상기 선택된 레벨의 신호 를 이상 신호로 출력하는 것을 특징으로 하는 신호 주기 측정 방법.
제30항에 있어서,

상기 이진 신호에 기초하여, 상기 입력 신호의 레벨을 검출하는 단계를 더 포함하며,

상기 이상 신호 생성 단계는, 사전 정의된 복수 개의 이진 신호에 기초하여, 상기 검출된 레벨 중 하나의 레벨을 선택하고, 상기 선택된 신호를 이상 신호로 출력하는 것을 특징으로 하는 신호 주기 측정 방법.
제33항에 있어서,

상기 레벨 검출 단계는 상기 입력 신호 및 이전 레벨의 평균값을 취함으로써, 레벨을 검출하는 것을 특징으로 하는 신호 주기 측정 방법.
제33항에 있어서,

상기 레벨 검출 단계는,

상기 이진 신호를 이용하여 상기 입력 신호를 복수 개의 레벨로 분리하는 단계; 및

상기 복수 개의 레벨로 분리된 입력 신호 각각에 대한 레벨별 평균치를 구하는 필터링 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 신호 주기 측정 방법.
제35항에 있어서,

상기 입력 신호 분리 단계는, 상기 입력 신호를 복수 개의 레벨로 분리하기에 앞서, 상기 입력 신호와 상기 이진 신호간의 동기를 맞추기 위해 상기 입력 신호를 지연시키는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 신호 주기 측정 방법.
제30항에 있어서,

상기 주기 연산 단계는,

상기 이진 신호가 변하는 시점에서의 상기 이상 신호에 대한 상기 입력 신호의 시간축 오차를 계산하는 단계; 및

상기 이진 신호가 변하기 직전의 입력 신호의 주기에 상기 오차를 더하고, 상기 이진 신호가 변한 직후의 입력 신호의 주기에 상기 오차를 빼주어 입력 신호의 주기를 조정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 신호 주기 측정 방법.
제37항에 있어서,

상기 오차 계산 단계는,

상기 이진 신호가 변하는 시점에서의 이상 신호의 평균값에서 상기 이진 신호가 변하는 시점에서의 입력 신호의 평균값을 뺀 값을 상기 이진 신호가 변하는 시점에서의 이상 신호의 변화값으로 나눈 값을 상기 입력 신호의 시간축 오차로 계산하는 것을 특징으로 하는 신호 주기 측정 방법.
광디스크를 재생하는 장치에 있어서,

상기 광디스크로부터 픽업된 신호를 등화하는 등화기;

상기 등화기의 출력을 입력받아 상기 신호의 주기를 측정하는 신호 주기 측정부; 및

상기 측정된 주기를 이용하여 상기 신호의 품질을 평가하는 신호 품질 평가부를 포함하되,

상기 신호 주기 측정부는,

입력 신호를 이진화하는 이치화부;

상기 이치화부에서 이진화된 이진 신호를 입력받아, 상기 광디스크의 채널 특성에 기초하여 잡음이 없는 이상 신호를 생성하는 이상 신호 생성부; 및

상기 이진 신호 및 상기 이상 신호에 기초하여, 상기 입력 신호의 주기를 측정하는 주기 연산부를 포함하는 것을 특징으로 하는 광디스크 재생 장치.
신호 주기 측정 방법을 실행시키기 위한 프로그램을 기록한 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록 매체에 있어서, 상기 방법은

입력 신호를 이진화하는 단계;

상기 이진화된 입력 신호인 이진 신호를 입력받아, 상기 광디스크의 채널 특성에 기초하여 잡음이 없는 이상 신호를 생성하는 단계; 및

상기 이진 신호 및 상기 이상 신호에 기초하여, 상기 입력 신호의 주기를 측정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 기록 매체.