KR20080060616A - The circuit for detecting voltage level of power supply - Google Patents
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Abstract
Description
도 1은 통상적인 전압 레벨 감지회로를 도시한 회로도이다.1 is a circuit diagram illustrating a conventional voltage level sensing circuit.
도 2는 통상적인 전압 레벨 감지회로의 동작을 도시한 그래프이다.2 is a graph illustrating the operation of a conventional voltage level sensing circuit.
도 3은 본원 발명의 일실시예에 따른 전압 레벨 감지회로를 도시한 회로도 이다.3 is a circuit diagram illustrating a voltage level sensing circuit according to an embodiment of the present invention.
도 4는 본원발명의 일 실시예에 따른 전압 레벨 감지회로의 동작을 도시한 그래프이다.4 is a graph illustrating an operation of a voltage level sensing circuit according to an embodiment of the present invention.
<도면의 주요 부분에 대한 설명>Description of the main parts of the drawing
310: 입력전압 생성부310: input voltage generator
320: 기준전압 생성부320: reference voltage generator
330: 기준전압 보상부330: reference voltage compensation unit
340: 비교부340: comparison unit
본원 발명은 전원 전압 레벨 감지회로에 관한 것이다.The present invention relates to a power supply voltage level sensing circuit.
일반적인 메모리 회로나 시스템 IC 등을 동작시키기 위해 상기 장치들의 전원이 꺼진 상태에서 전원을 인가할 경우, 각 장치의 내부 회로들이 정상적인 동작을 하도록 초기화를 시켜야 한다. 상기 전원 전압 레벨 감지회로는 이와 같이 초기 전원 인가시에 전원 전압이 일정 레벨이상으로 상승할 경우 리셋 신호를 발생시키는 회로이다. When power is applied while the devices are turned off to operate a general memory circuit or system IC, the internal circuits of each device must be initialized to operate normally. The power supply voltage level detection circuit is a circuit that generates a reset signal when the power supply voltage rises above a predetermined level when the initial power supply is applied.
즉, 외부에서 전원이 인가될 때 전원의 특정 전압 레벨을 감지하여 칩이 정상적인 동작을 할 수 있는 레벨에 이르면, 리셋 신호를 발생시키게 된다.That is, when a power source is applied from the outside, a specific voltage level of the power source is sensed and a reset signal is generated when the chip reaches a level at which the chip can operate normally.
다만, 종래의 전원 전압 레벨 감지회로의 경우 기준전압을 생성하기 위하여 다이오드 접속된 NMOS 트랜지스터를 다수 포함하게 되는데, 공정조건의 변화에 따라 문턱전압의 변화가 발생하게 되고, 이에 따라 기준전압의 레벨에도 변화가 생기게 되어, 리셋 신호가 발생하는 시점도 변화하는 문제점이 있다.However, the conventional power supply voltage level detection circuit includes a plurality of diode-connected NMOS transistors to generate a reference voltage, and the threshold voltage changes according to the change of the process conditions. There is a problem that a change occurs, and a time point at which a reset signal is generated also changes.
상술한 문제점을 해결하기 위하여, 본원 발명은 공정조건의 변화에도 불구하고 일정한 레벨의 기준전압을 생성하도록 기준전압 보상부를 포함하는 전원 전압 레벨 감지회로를 제공하는 것을 목적으로 한다.In order to solve the above problems, an object of the present invention is to provide a power supply voltage level detection circuit including a reference voltage compensator to generate a reference voltage of a constant level despite a change in process conditions.
상술한 목적을 달성하기 위한 본원 발명의 전원 전압 레벨 감지회로는 하이레벨의 전압원과 접지전원 사이에 직렬로 접속된 제1 저항 및 제2 저항을 이용하여 입력전압을 출력하는 입력전압 생성부와, 상기 하이레벨의 전압원과 접지전원 사이에 직렬로 접속된 제3 저항 및 직렬로 다이오드 접속된 다수의 NMOS 트랜지스터를 이용하여 기준전압을 출력하는 기준전압 생성부와, 상기 하이레벨의 전압원과 상기 기준전압 생성부의 기준전압이 출력되는 출력단 사이에 직렬로 접속된 제4 저항 및 다이오드 접속된 NMOS 트랜지스터를 이용하여 상기 기준전압의 레벨을 보상하는 기준전압 보상부와, 상기 생성된 입력전압과 상기 보상된 기준전압을 비교하는 비교부를 포함하는 것을 특징으로 한다.The power supply voltage level detection circuit of the present invention for achieving the above object comprises an input voltage generator for outputting an input voltage using a first resistor and a second resistor connected in series between a high-level voltage source and a ground power supply; A reference voltage generator for outputting a reference voltage using a third resistor connected in series between the high level voltage source and a ground power supply and a plurality of NMOS transistors connected in series with the diode; and the high level voltage source and the reference voltage. A reference voltage compensator for compensating the level of the reference voltage by using a fourth resistor and a diode-connected NMOS transistor connected in series between the output terminal of the generator and the output of the reference voltage; and the generated input voltage and the compensated reference It characterized in that it comprises a comparison unit for comparing the voltage.
이하, 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시 예를 살펴보기로 한다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.
도 1은 통상적인 전압 레벨 감지회로를 도시한 회로도이다.1 is a circuit diagram illustrating a conventional voltage level sensing circuit.
상기 전압 레벨 감지회로는 입력전압 생성부(110), 기준전압 생성부(120), 상기 생성된 입력전압(V1)을 반전단자(-)로 입력받고 기준전압(V2)을 비반전단자(+)로 입력받는 비교부(120)를 포함한다.The voltage level sensing circuit receives an
상기 입력전압 생성부(110)는 제1 저항(R1) 및 제2 저항(R2)을 이용하여 전압원(Vcc)을 분배함으로써 입력전압(V1)을 생성시킨다. 따라서, 외부 전압원의 상승에 따라, 상기 입력전압(V1)은 일정하게 상승하게 된다. The
상기 기준전압 생성부(120)는 제3 저항(R3) 및 직렬로 다이오드 접속된 다수의 NMOS 트랜지스터들(M1, M2)을 포함하며, 상기 제3 저항(R3)과 다이오드 접속된 NMOS 트랜지스터(M1)의 접속 노드의 전압레벨이 기준전압(V2)이 된다.The
상기 비교부(130)는 비반전단자(+)로 입력되는 기준전압(V2)과 반전단자(-)로 입력되는 입력전압(V1)을 비교하여 출력하는데, 반전단자(-)로 입력되는 전압이 비반전단자(+)로 입력되는 전압보다 큰 경우 로우레벨(0V) 전압을 출력한다.The
도 2는 상기 전압 레벨 감지회로의 동작을 도시한 그래프이다.2 is a graph illustrating the operation of the voltage level sensing circuit.
전압원(Vcc)의 상승에 따라 입력전압(V1)이 일정하게 상승하게 되며, 입력전압이 기준전압(V2) 보다 커지는 시점에 로우레벨(0V) 전압을 출력하게된다.As the voltage source Vcc rises, the input voltage V1 constantly rises, and outputs a low level (0V) voltage when the input voltage becomes larger than the reference voltage V2.
다만, 다이오드 접속된 트랜지스터들의 경우 공정조건의 변화에 의해 문턱전압이 미세하게 변화될 수 있다. 즉, 문턱전압이 기준값에 비해 일부 증가될 경우 기준전압 생성부(120)의 출력전압(V2)도 일부 상승하게 되며, 이에 따라 비교부(120)의 출력이 로우레벨로 떨어지는 시점이 기준점에 비해 늦춰질 수 있다. 이와 반대로 문턱전압이 기준값에 비해 일부 감소될 경우 기준전압 생성부(120)의 추력전압(V2)도 일부 감소되며, 이에 따라 비교(120)의 출력이 로우레벨로 떨어지는 시점이 기준점에 비해 빨라질 수 있다.However, in the case of diode-connected transistors, the threshold voltage may be minutely changed due to a change in process conditions. That is, when the threshold voltage is partially increased compared to the reference value, the output voltage V2 of the
즉, 공정조건의 변화에 따라, 초기화 시점이 달라지는 문제점이 발생한다.In other words, there is a problem that the initialization time is different according to the change of the process conditions.
도 3은 본원 발명의 일실시예에 따른 전압 레벨 감지회로를 도시한 회로도 이다.3 is a circuit diagram illustrating a voltage level sensing circuit according to an embodiment of the present invention.
상기 전압 레벨 감지회로는 입력전압 생성부(310), 기준전압 생성부(320), 상기 기준전압 생성부(320)의 출력전압인 기준전압(V2)의 레벨을 보상하는 기준전압 보상부(330), 상기 생성된 입력전압(V1)을 반전단자(-)로 입력받고 기준전압(V2)을 비반전단자(+)로 입력받는 비교부(340)를 포함한다.The voltage level sensing circuit includes a
상기 입력전압 생성부(310)는 하이레벨의 전압원(Vcc)과 접지전원사이에 직 렬접속된 제1 저항(R1) 및 제2 저항(R2)을 포함한다. 즉, 상기 제1 저항(R1) 및 제2 저항(R2)을 이용하여 전압원(Vcc)을 분배함으로써 입력전압(V1)을 생성시킨다. 따라서, 상기 제1 저항(R1)과 제2 저항(R2)의 접속노드의 전압이 입력전압(V1)이 된다. 이와 같은 구성에 따라, 외부 전압원이 상승하면 상기 입력전압(V1)은 일정하게 상승하게 된다. The
상기 기준전압 생성부(320)는 하이레벨의 전압원(Vcc)과 접지전원사이에 직렬접속된 제3 저항(R3) 및 직렬로 다이오드 접속된 다수의 NMOS 트랜지스터들(M1, M2)을 포함한다. 이때, 상기 제3 저항(R3)과 다이오드 접속된 NMOS 트랜지스터(M1)의 접속 노드의 전압레벨이 기준전압(V2)이 된다.The
상기 기준전압 보상부(330)는 전압원(Vcc)과 상기 기준전압 생성부(320)의 기준전압이 출력되는 출력단 사이에 직렬접속된 제4 저항(R4) 및 다이오드 접속된 NMOS 트랜지스터(M3)를 포함한다. 따라서, 상기 기준전압 보상부(330)는 상기 다이오드 접속된 NMOS 트랜지스터(M3)의 문턱전압 레벨에 따라 제4 저항을 통해 흐르는 전류의 양을 조절시켜 상기 기준전압의 레벨을 보상한다.The
상기 기준전압 보상부(330)와 상기 기준전압 생성부(320)에 포함된 NMOS 트랜지스터들은 각각 동일한 공정조건에 의해 형성되므로, 공정조건의 변화에도 불구하고 거의 동일한 문턱전압을 갖게된다.Since the NMOS transistors included in the
따라서, 공정조건의 변화에 따라 상기 NMOS 트랜지스터들의 문턱전압이 감소하는 경우에는 앞서 설명한 바와 같이 기준전압(V2)의 전압레벨도 감소하게 된다. 그러나, 기준전압 보상부(330)에 포함된 NMOS 트랜지스터의 문턱전압도 역시 감소 하므로, 기준전압 보상부(330)에 포함된 저항(R4)를 통해 흐르는 전류는 증가하게 되어 기준전압(V2)의 전압레벨을 일정부분 상승시키게 된다.Therefore, when the threshold voltage of the NMOS transistors decreases according to the change of process conditions, the voltage level of the reference voltage V2 also decreases as described above. However, since the threshold voltage of the NMOS transistor included in the
이와 반대로, NMOS 트랜지스터들의 문턱전압이 증가하는 경우에는 앞서 설명한 바와 같이 기준전압(V2)의 전압레벨도 증가하게 된다. 그러나, 기준전압 보상부(330)에 포함된 NMOS 트랜지스터의 문턱전압도 역시 증가하므로, 기준전압 보상부(330)에 포함된 저항(R4)를 통해 흐르는 전류는 감소하게 되어 기준전압(V2)의 전압레벨을 증가시키지 못하거나, 그 증가량이 미세하게 된다.On the contrary, when the threshold voltages of the NMOS transistors increase, the voltage level of the reference voltage V2 also increases as described above. However, since the threshold voltage of the NMOS transistor included in the
즉, 상기와 같은 동작원리에 따라 공정조건의 변화에도 불구하고 기준전압(V2)의 레벨차가 크지 않도록 한다.That is, according to the operation principle as described above, the level difference of the reference voltage V2 is not large despite the change of the process conditions.
상기 비교부(330)는 상기 기준전압(V2)을 비반전단자(+)로 입력받고, 상기 입력전압(V1)을 반전단자(-)로 입력받는 OP 앰프를 포함한다. 따라서, 비반전단자(+)로 입력되는 기준전압(V2)과 반전단자(-)로 입력되는 입력전압(V1)을 비교하여 출력하는데, 반전단자(-)로 입력되는 전압이 비반전단자(+)로 입력되는 전압보다 큰 경우 로우레벨(0V) 전압을 출력한다. 이러한, 로우레벨(0V) 신호가 초기화 신호로 사용된다.The
도 4는 본원발명의 일 실시예에 따른 전압 레벨 감지회로의 동작을 도시한 그래프이다.4 is a graph illustrating an operation of a voltage level sensing circuit according to an embodiment of the present invention.
공정조건의 변화에 따른 문턱전압의 차이가 발생하더라도, 앞서 설명한 기준 전압 보상부(330)가 기준전압(V2)의 레벨을 일정하게 유지시키게 된다. 따라서, 도 2의 경우와 비교할때, 비교부(340)의 출력전압이 로우레벨(0V)로 되는 시점이 큰 차이가 나지 않게 된다. Even if a threshold voltage difference occurs due to a change in process conditions, the
상술한 본원 발명의 구성에 따라, 공정조건의 변화에도 불구하고 일정한 레벨의 기준전압을 발생하는 전압 레벨 감지회로를 구성할 수 있다. 따라서, 전원 전압이 상승하여 기준전압을 초과하는 시점도 일정하게 되므로, 초기화 신호가 발생하는 시점도 일정하게 된다.According to the configuration of the present invention described above, it is possible to configure a voltage level detection circuit for generating a reference voltage of a constant level in spite of a change in process conditions. Therefore, the timing at which the power supply voltage rises and exceeds the reference voltage is also constant, so that the timing at which the initialization signal is generated is also constant.
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