KR20080059751A - Unit for collecting liquid and apparatus for processing a substrate including the same - Google Patents
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Abstract
Description
도 1은 종래의 액체 회수 유닛을 설명하기 위한 구성도이다.1 is a configuration diagram for explaining a conventional liquid recovery unit.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 액체 회수 유닛을 설명하기 위한 단면도이다.2 is a cross-sectional view illustrating a liquid recovery unit according to an embodiment of the present invention.
도 3은 도2에 도시된 리바운드 방지 부재를 설명하기 위한 부분 확대 평면도이다.FIG. 3 is a partially enlarged plan view for describing the rebound prevention member shown in FIG. 2.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 기판 처리 장치를 설명하기 위한 단면도이다.4 is a cross-sectional view illustrating a substrate processing apparatus according to an embodiment of the present invention.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 기판 처리 장치를 설명하기 위한 단면도이다.5 is a cross-sectional view illustrating a substrate processing apparatus according to an embodiment of the present invention.
<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명><Description of the symbols for the main parts of the drawings>
20, 30, 200 : 액체 회수 유닛 21 : 액체 회수 덕트20, 30, 200: liquid recovery unit 21: liquid recovery duct
31a, 31b, 31c : 바울 22, 32a, 32b, 32c: 몸체부31a, 31b, 31c: Paul 22, 32a, 32b, 32c: body
23, 33a, 33b, 33c : 경사부 25, 35a, 35b, 35c: 리바운드 방지 부재23, 33a, 33b, 33c:
300 : 기판 처리 장치 350 : 스테이지300: substrate processing apparatus 350: stage
360 : 회전 척 370 : 지지 핀360: rotating chuck 370: support pin
380 : 구동 축 390 : 구동부380: drive shaft 390: drive
W : 기판W: Substrate
본 발명은 액체 회수 유닛 및 이를 포함하는 기판 처리 장치에 관한 것으로써, 보다 상세하게는 기판을 처리하기 위한 액체를 회수하기 위한 액체 회수 유닛 및 이를 포함하는 기판 처리 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a liquid recovery unit and a substrate processing apparatus including the same, and more particularly, to a liquid recovery unit for recovering a liquid for processing a substrate and a substrate processing apparatus including the same.
일반적으로 반도체 장치는 웨이퍼 상에 전기적인 회로를 형성하는 팹(FAB) 공정과, 상기 팹 공정에서 형성된 반도체 장치들의 전기적인 특성을 검사하는 EDS(electrical die sorting) 공정과, 상기 반도체 장치들을 각각 에폭시 수지로 봉지하고 개별화시키기 위한 패키지 조립 공정을 통해 제조된다.In general, a semiconductor device includes a Fab (FAB) process for forming an electrical circuit on a wafer, an electrical die sorting (EDS) process for inspecting electrical characteristics of the semiconductor devices formed in the fab process, and the semiconductor devices are epoxy. It is manufactured through a package assembly process for encapsulating and individualizing with resin.
상기 팹 공정은 다양한 단위 공정들을 포함하며, 상기 단위 공정들은 반도체 기판 상에 전기적 소자를 형성하기 위하여 반복적으로 수행된다. 상기 단위 공정들은 증착 공정, 포토리소그래피 공정, 식각 공정, 화학적 기계적 연마 공정, 이온 주입 공정, 세정 공정 등을 포함한다. The fab process includes various unit processes, and the unit processes are repeatedly performed to form an electrical device on a semiconductor substrate. The unit processes include a deposition process, a photolithography process, an etching process, a chemical mechanical polishing process, an ion implantation process, a cleaning process, and the like.
상기 세정 공정은 수 ㎛ 이하의 미세한 패턴들이 형성되는 반도체 장치에서 다양한 문제점을 유발시킬 수 있는 오염원을 웨이퍼로부터 제거하는 공정이다. 상기 오염원 중에 주된 관심의 대상이 되는 것은 금속 오염, 파티클, 폴리머 등이 있다.The cleaning process is a process of removing contaminants from the wafer, which may cause various problems in a semiconductor device in which fine patterns of several micrometers or less are formed. Among the pollutants, the main concern is metal contamination, particles, polymers and the like.
상기 세정 공정을 수행하기 위하여 세정액을 기판에 제공하고 상기 세정액을 이용하여 기판을 세정하는 방법이 알려져 있다.In order to perform the cleaning process, a method of providing a cleaning liquid to a substrate and cleaning the substrate using the cleaning liquid is known.
도 1은 종래의 기판 처리 장치를 설명하기 위한 개략적인 단면도이다.1 is a schematic cross-sectional view for explaining a conventional substrate processing apparatus.
도 1을 참조하면, 종래의 기판 세정 장치(100)는 기판(W)을 지지하고 회전 가능한 스테이지(150) 및 회전하는 기판(W)에 공급된 액체를 회수하는 액체 회수 유닛(110)을 포함한다.Referring to FIG. 1, a conventional
액체 회수 유닛(110)은 복수의 바울들(111, 112, 113)을 포함하는 다단 구조를 가질 수 있다. 기판 처리 공정이 여러 가지 종류의 액체들을 순차적으로 공급할 경우 상기 복수의 바울들(111, 112, 113)은 각각의 액체가 공급되는 위치에서의 기판(W)에 대응하는 높이를 가진다. 따라서, 높이가 조절된 복수의 바울들(111, 112, 113)은 각각의 액체의 종류에 따라 액체를 분리시킬 수 있다.The
한편, 스테이지(150)의 회전에 따라 기판(W)은 회전하게 되고, 액체는 비산할 수 있다. 따라서, 액체의 비산을 억제하기 위한 상기 복수의 바울들(111, 112, 113)은 기판(W)을 향하여 기울어진 경사부(111a, 112a, 113a)를 가진다. 비산된 액체은 경사부(111a, 112a, 113a)에 의하여 바울들(111, 112, 113)의 내부에 형성된 회수 통로로 유입된다. 하지만, 비산된 액체가 기판(W)을 향하여 리바운드될 수 있다. 리바운드된 액체은 기판(W)의 표면을 오염시킬 수 있다. 따라서, 기판 세정 장치를 이용하는 기판 처리 공정의 공정 효율이 감소할 수 있다.Meanwhile, as the
본 발명의 일 목적은 액체의 기판으로의 리바운드를 억제할 수 있는 액체 회 수 유닛을 제공하는데 있다.One object of the present invention is to provide a liquid recovery unit that can suppress the rebound of the liquid to the substrate.
본 발명의 다른 목적은 액체의 기판으로의 리바운드를 억제할 수 있는 액체 회수 유닛을 포함하는 기판 처리 장치를 제공하는데 있다.Another object of the present invention is to provide a substrate processing apparatus including a liquid recovery unit capable of suppressing rebound of liquid to a substrate.
상기 일 목적을 달성하기 위한 본 발명의 일 실시예에 따른 액체 회수 유닛은 기판으로부터 비산된 액체를 유입하는 유입부를 구비하고 상기 유입부를 통하여 비산된 액체를 회수하는 액체 회수 덕트 및 상기 유입부에 인접하여 배치되어, 상기 액체의 상기 기판으로의 리바운드를 억제하기 위한 리바운드 방지 부재를 포함한다. 여기서, 상기 리바운드 방지 부재는 메쉬 구조를 가질 수 있다. 또한, 상기 액체 회수 덕트는 복수의 바울들로 구성된 다단 구조이며, 상기 리바운드 방지 부재는 각각의 바울에 위치할 수 있다.Liquid recovery unit according to an embodiment of the present invention for achieving the above object is provided with an inlet for introducing the liquid splashed from the substrate and the liquid recovery duct for recovering the liquid splashed through the inlet and the inlet portion And a rebound prevention member for suppressing rebound of the liquid to the substrate. Here, the rebound prevention member may have a mesh structure. In addition, the liquid recovery duct is a multi-stage structure composed of a plurality of pauls, the rebound preventing member may be located in each of the pauls.
상기 일 목적을 달성하기 위한 본 발명의 일 실시예에 따른 기판 처리 장치는 기판을 지지하는 스테이지, 상기 기판에 액체를 공급하는 액체 공급 유닛 및 상기 스테이지에 인접하여 배치되며, 상기 액체를 회수하는 액체 회수 유닛을 포함하고, 상기 액체 회수 유닛은, 상기 기판으로부터 비산된 액체를 유입하는 유입부를 구비하고 상기 유입부를 통하여 비산된 액체를 회수하는 액체 회수 덕트 및 상기 유입부에 인접하여 배치되어, 상기 액체의 상기 기판으로의 리바운드를 억제하기 위한 리바운드 방지 부재를 포함한다. 여기서, 상기 리바운드 방지 부재는 메쉬 구조를 가질 수 있다. 또한, 상기 액체 회수 덕트는 복수의 바울들로 구성된 다단 구조이며, 상기 리바운드 방지 부재는 각각의 바울에 위치할 수 있다.A substrate processing apparatus according to an embodiment of the present invention for achieving the above object is a stage for supporting a substrate, a liquid supply unit for supplying a liquid to the substrate and a liquid disposed adjacent to the stage, the liquid for recovering the liquid And a recovery unit, the liquid recovery unit having an inlet for introducing liquid scattered from the substrate and disposed adjacent to the inlet and a liquid recovery duct for recovering the liquid scattered through the inlet; And a rebound prevention member for suppressing rebound to the substrate. Here, the rebound prevention member may have a mesh structure. In addition, the liquid recovery duct is a multi-stage structure composed of a plurality of pauls, the rebound preventing member may be located in each of the pauls.
본 발명의 액체 회수 유닛 및 기판 처리 장치에 의하면 리바운드 방지 부재가 액체 회수 덕트의 일측에 배치됨에 따라 액체가 기판으로 리바운드되는 것이 억제될 수 있다. 따라서, 기판으로 리바운드 되는 액체에 의하여 발생할 수 있는 기판의 오염을 억제할 수 있다. According to the liquid recovery unit and the substrate processing apparatus of the present invention, as the rebound prevention member is disposed on one side of the liquid recovery duct, the rebound of the liquid to the substrate can be suppressed. Therefore, it is possible to suppress the contamination of the substrate which may be caused by the liquid rebound to the substrate.
이하, 첨부한 도면들을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명하기로 한다. 그러나, 본 발명은 여기서 설명되어지는 실시예에 한정되지 않고 다른 형태로 구체화될 수도 있다. 오히려, 여기서 소개되는 실시예는 개시된 내용이 철저하고 완전해질 수 있도록 그리고 당업자에게 본 발명의 사상이 충분히 전달될 수 있도록 하기 위해 제공되어지는 것이다. 제1, 제2 등의 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성요소들은 상기 용어들에 의해 한정되어서는 안 될 것이다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다. 예를 들어, 본 발명의 권리 범위로부터 이탈되지 않은 채 제1 구성요소는 제2 구성요소로 명명될 수 있고, 유사하게 제2 구성요소도 제1 구성요소로 명명될 수 있다. 어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "연결되어" 있다거나 "접속되어" 있다고 언급된 때에는, 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결되어 있거나 또는 접속되어 있을 수도 있지만, 중간에 다른 구성요소가 존재할 수도 있다고 이해되어야 할 것이다. 반면에, 어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "직접 연결되어" 있다거나 "직접 접속되어" 있다고 언급된 때에는, 중간에 다른 구성요소가 존재하지 않는 것으로 이해되어야 할 것이다. 구성요소들 간의 관계를 설명하는 다른 표현들, 즉 "~사이에"와 "바로 ~사이에" 또는 "~에 이웃하는"과 "~에 직접 이웃하 는" 등도 마찬가지로 해석되어야 한다. 또한, 본 발명의 실시예에서는 반도체 기판을 대상으로 한정하고 있지만, 유리 기판, 인쇄 회로 기판 등에도 본 발명의 실시예를 확장시킬 수도 있다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. However, the present invention is not limited to the embodiments described herein but may be embodied in other forms. Rather, the embodiments introduced herein are provided to ensure that the disclosed subject matter is thorough and complete, and that the spirit of the present invention to those skilled in the art will fully convey. Terms such as first and second may be used to describe various components, but the components should not be limited by the terms. The terms are used only for the purpose of distinguishing one component from another. For example, without departing from the scope of the present invention, the first component may be referred to as the second component, and similarly, the second component may also be referred to as the first component. When a component is referred to as being "connected" or "connected" to another component, it may be directly connected to or connected to that other component, but it may be understood that other components may be present in between. Should be. On the other hand, when a component is said to be "directly connected" or "directly connected" to another component, it should be understood that there is no other component in between. Other expressions describing the relationship between components, such as "between" and "immediately between" or "neighboring to" and "directly neighboring", should be interpreted as well. In addition, although the Example of this invention limits a semiconductor substrate, the Example of this invention can also be extended also to a glass substrate, a printed circuit board, etc.
액체 회수 유닛Liquid recovery unit
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 액체 회수 유닛을 설명하기 위한 단면도이다. 도 3은 도 2에 도시된 리바운드 방지 부재를 설명하기 위한 평면도이다.2 is a cross-sectional view illustrating a liquid recovery unit according to an embodiment of the present invention. 3 is a plan view illustrating the rebound prevention member illustrated in FIG. 2.
도 2 및 도 3을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 액체 회수 유닛(20)는 액체 회수 덕트(21) 및 리바운드 방지 부재(25)를 포함한다.2 and 3, the
액체 회수 덕트(21)는 기판으로부터 비산된 액체를 회수시킨다. 약액 회수 덕트(21)는 몸체부(22) 및 유입부(23)를 포함한다. 여기서 사용되는 액체는 기판을 세정하기 위한 세정액, 포토레지스트 패턴을 형성하기 위한 감광액, 기판에 형성된 박막을 식각하기 위한 식각액 등을 포함할 수 있다. The
몸체부(22)는 기판 주위를 감싸고 상부가 개방된 원기둥 형상을 가진다. 몸체부(22)는 기판에 대하여 처리 공정 중 비산된 액체를 수용할 수 있는 공간을 제공한다. 유입부(23)는 상기 비산된 액체를 회수하기 위하여 몸체부(22)의 단부로부터 기판을 향하여 연장된다.The
리바운드 방지 부재(25)는 액체 회수 덕트(21) 중 상기 비산된 액체가 유입되는 유입부에 배치된다. 예를 들면, 리바운드 방지 부재(25)는 유입부(23)의 단부에 형성된다.The
한편, 리바운드 방지 부재(25)에는 상기 비산된 액체를 통과시킬 수 있는 홀이 형성된다. 따라서, 리바운드 방지 부재(25)는 상기 비산된 액체를 통과시키는 반면에 기판을 향하여 상기 비산된 액체가 리바운드되는 것을 억제한다.On the other hand, the
본 발명의 일 실시예에 있어서, 리바운드 방지 부재(25)는 복수의 홀들이 형성된 메쉬 구조를 가진다. 메쉬 구조를 갖는 리바운드 방지 부재(25)는 상기 기판으로부터 비산된 액체를 일차적으로 통과시키고, 비산된 액체의 유동 속도를 감소시킨다. 따라서, 리바운드 방지 부재(25)를 통과하여 비산된 액체는 유입부(23)의 측벽에 부딪히며 중력에 의하여 하방으로 반사된다. 결과적으로, 리바운드 방지 부재(25)는 비산된 액체가 기판으로 리바운드되는 것을 억제할 수 있다.In one embodiment of the present invention, the
본 발명의 일 실시예에 있어서, 액체 회수 유닛(20)은 액체 회수 덕트(21)와 연결된 회수 라인(27)을 더 포함할 수 있다. 회수 라인(27)은 액체 회수 덕트(21)와 액체를 저장하는 컨테이너(미도시)를 연결시킨다. 따라서, 회수 라인을 통하여 비산된 액체는 상기 콘테이너로 저장된다.In one embodiment of the invention, the
언급한 기판의 예로서는 반도체 기판, 유리 기판, 인쇄회로 기판 등을 들 수 있고, 다만 본 발명의 일 실시예에서는 반도체 기판을 한정하여 설명할 뿐이다. 그러므로, 본 발명의 일 실시예에 따른 장치는 반도체 기판, 유리 기판, 인쇄회로 기판 등의 세정에 모두 적용할 수 있다.Examples of the substrate mentioned may include a semiconductor substrate, a glass substrate, a printed circuit board, and the like. However, in the exemplary embodiment of the present invention, only the semiconductor substrate is described. Therefore, the apparatus according to the embodiment of the present invention can be applied to all cleaning of semiconductor substrates, glass substrates, printed circuit boards and the like.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 액체 회수 유닛을 설명하기 위한 단면도이다. 본 발명의 일 실시예에 따른 액체 회수 유닛은 액체 회수 덕트가 복수의 바 울을 포함하는 것을 제외하면 도2에 도시된 액체 회수 유닛과 실질적으로 동일하므로 이에 대한 상세한 설명은 생략하기로 한다.4 is a cross-sectional view illustrating a liquid recovery unit according to an embodiment of the present invention. Since the liquid recovery unit according to an embodiment of the present invention is substantially the same as the liquid recovery unit shown in FIG. 2 except that the liquid recovery duct includes a plurality of bowls, detailed description thereof will be omitted.
도 4를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 액체 회수 유닛(30)은 복수의 바울들(31a, 31b, 31c)을 갖는 액체 회수 덕트(34) 및 상기 복수의 바울들(31a, 31b, 31c)에 대하여 각각 배치된 복수의 리바운드 방지 부재들(35a, 35b, 35c)을 포함한다.Referring to FIG. 4, the
액체 회수 덕트(34)는 복수의 바울들(31a, 31b, 31c)을 포함하는 다단 구조를 가질 수 있다. 특히, 세정 공정에 있어서 여러 가지 종류의 세정액이 개별적으로 기판에 제공될 경우, 액체 회수 덕트(34)는 상기 여러 가지 종류의 세정액들을 그 종류별로 분리하여 회수함이 바람직하다. 따라서, 액체 회수 덕트(34)는 복수의 바울들(31a, 31b, 31c)을 포함하여 복수의 바울들(31a, 31b, 31c)이 여러 가지 종류의 세정액들을 분리하여 회수할 수 있다.The
본 발명의 일 실시예에 있어서, 액체 회수 덕트(34)는 제1 바울(31a), 제2 바울(31b) 및 제3 바울(31c)을 포함한다. 제1 내지 제3 바울들(31a, 31b, 31c)은 제1 내지 제3 몸체부들(32a, 32b, 32c) 및 제1 내지 제3 유입부들(33a, 33b, 33c)을 각각 포함한다.In one embodiment of the invention, the
리바운드 방지 부재들(35a, 35b, 35c)은 상기 제1 내지 3 유입부들(35a, 35b, 35c)의 단부에 각각 배치된다. 세정 공정에 있어서 여러 가지 종류의 세정액이 순차적으로 기판에 제공되고 기판에 제공된 세정액이 기판으로부터 비산할 경우, 리바운드 방지 부재들(35a, 35b, 35c)을 통하여 비산된 세정액는 순차적으로 액체 회수 덕트(34)의 내부로 회수된다. Rebound preventing
본 발명의 일 실시예에 있어서, 리바운드 방지 부재들(35a, 35b, 35c)은 제1 내지 제3 리바운드 방지 부재들(35a, 35b, 35c)을 포함한다. 제1 내지 제3 리바운드 방지 부재들(35a, 35b, 35c)은 제1 내지 제3 유입부(33a, 33b, 33c)의 단부에 각각 위치할 수 있다.In one embodiment of the present invention, the
본 발명의 일 실시예에 있어서, 리바운드 방지 부재(35a, 35b, 35c)는 복수의 홀들이 형성된 메쉬 구조를 가진다. 메쉬 구조를 갖는 리바운드 방지 부재(35a, 35b, 35c)는 상기 기판으로부터 비산된 액체를 일차적으로 통과시키고, 비산된 액체의 유동 속도를 감소시킨다. 따라서, 리바운드 방지 부재(35a, 35b, 35c)를 통과하여 비산된 액체는 유입부(33a, 33b, 33c)에 부딪히며 중력에 의하여 하방으로 반사된다. 결과적으로, 리바운드 방지 부재(35a, 35b, 35c)는 비산된 액체가 기판으로 리바운드되는 것을 억제할 수 있다.In one embodiment of the present invention, the
본 발명의 일 실시예에 있어서, 액체 회수 유닛(30)은 액체 회수 덕트(34)와 연결된 회수 라인(미도시)을 더 포함할 수 있다. 상기 회수 라인은 액체 회수 덕트(34)와 액체를 저장하는 컨테이너(미도시)를 연결시킨다. 따라서, 상기 회수 라인을 통하여 비산된 액체는 상기 콘테이너로 저장된다.In one embodiment of the invention, the
기판 처리 장치Substrate processing equipment
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 기판 처리 장치를 설명하기 위한 단면도이다.5 is a cross-sectional view illustrating a substrate processing apparatus according to an embodiment of the present invention.
도 5를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 기판 처리 장치(300)는 스테이지(350), 액체 공급 유닛(390), 액체 회수 유닛(200)을 포함한다.Referring to FIG. 5, the
스테이지(350)는 기판(W)을 지지한다. 스테이지(350)는 기판(W)의 이면을 직접 접촉하여 지지할 수 있다. 이와 다르게, 스테이지(350)는 기판(W)의 이면과 이격되어 기판(W)을 지지할 수 있다.The
액체 공급 유닛(390)은 스테이지(350)의 상부에 배치된다. 이와 다르게 액체 공급 유닛(390)은 스테이지(350)의 하부에 배치되어 기판(W)의 이면에 액체를 공급할 수 있다.The
액체 공급 유닛(390)은 기판(W)의 상부 또는 하부에 액체를 공급한다. 액체 공급 유닛(390)은, 예를 들면, 세정액, 식각액 또는 현상액을 기판에 제공할 수 있다. The
본 발명의 일 실시예에 있어서, 액체 공급 유닛(390)은 액체를 저장하는 저장 탱크(미도시), 상기 저장 탱크로부터 연결되어 액체를 기판(W)에 제공하는 공급 라인(395) 및 상기 공급 라인(395)과 연결되어 상기 액체를 기판(W)의 상부로 제공하는 분사부(397)를 포함할 수 있다. In one embodiment of the invention, the
액체 회수 유닛(200)은 스테이지(350)에 인접하여 배치된다. 액체 회수 유닛(200)은 스테이지(350)에 의하여 지지되는 기판(W)으로부터 비산된 액체를 회수한다. The
액체 회수 유닛(200)은 액체 회수 덕트(205) 및 리바운드 방지 부재(241, 242, 243)를 포함한다.The
액체 회수 덕트(205)는 기판(W)으로부터 비산된 액체를 회수한다. 약체 회수 덕트(205)는 제1 내지 제3 바울들(210, 220, 230)을 포함한다. 제1 내지 제3 바울들(210, 220, 230)들은 각각 몸체부(211, 221, 231) 및 유입부(213, 223, 233)를 포함한다. 여기서 사용되는 액체는 기판(W)을 세정하기 위한 세정액, 포토레지스트 패턴을 형성하기 위한 감광액, 기판(W)에 형성된 박막을 식각하기 위한 식각액 등을 포함할 수 있다. The
몸체부(211, 221, 231)는 기판(W) 주위를 감싸고 상부가 개방된 원기둥 형상을 가진다. 따라서, 기판(W)에 대하여 처리 공정 중 비산된 액체를 회수한다. 유입부(213, 223, 233)는 상기 비산된 액체를 회수하기 위하여 몸체부(211, 221, 231)의 단부로부터 기판(W)을 향하여 연장된다.The
본 발명의 일 실시예에 있어서, 액체 회수 덕트(205)는 복수의 바울들(210, 220, 230)을 포함하는 다단 구조를 가질 수 있다. 특히, 세정 공정에 있어서 여러 가지 종류의 세정액이 개별적으로 기판(W)에 제공될 경우, 액체 회수 덕트(205)는 상기 여러 가지 종류의 세정액들을 그 종류별로 분리하여 회수함이 바람직하다. 따라서, 액체 회수 덕트(205)는 복수의 바울들(210, 220, 230)을 포함하여 복수의 바울들(211, 221, 231)이 여러 가지 종류의 세정액들을 분리하여 회수할 수 있다.In one embodiment of the present invention, the
본 발명의 일 실시예에 있어서, 액체 회수 덕트(205)는 제1 내지 제3 바울들(210, 220, 230)을 포함한다. 제1 내지 제3 바울들(210, 220, 230)은 제1 내지 제3 몸체부들(211, 221, 231) 및 제1 내지 제3 유입부들(213, 223, 233)을 각각 포함한다.In one embodiment of the invention, the
리바운드 방지 부재(241, 242, 243)는 액체 회수 덕트(205) 중 상기 비산된 액체가 유입되는 유입부에 배치된다. 예를 들면, 리바운드 방지 부재(241, 242, 243)는 유입부(213, 223, 233)의 단부에 형성된다.The
한편, 리바운드 방지 부재(241, 242, 243)에는 상기 비산된 액체를 통과시킬 수 있는 홀이 형성된다. 따라서, 리바운드 방지 부재(241, 242, 243)는 상기 비산된 액체를 통과시켜 기판(W)을 향하여 상기 비산된 액체가 리바운드되는 것을 억제한다.Meanwhile, the
본 발명의 일 실시예에 있어서, 리바운드 방지 부재(241, 242, 243)는 복수의 홀들이 형성된 메쉬 구조를 가진다. 메쉬 구조를 갖는 리바운드 방지 부재(241, 242, 243)는 상기 기판(W)으로부터 비산된 액체를 일차적으로 통과시키고, 비산된 액체의 유동 속도를 감소시킨다. 따라서, 리바운드 방지 부재(241, 242, 243)를 통과하여 비산된 액체는 유입부(213, 223, 233)에 부딪히며 중력에 의하여 하방으로 반사된다. 결과적으로, 리바운드 방지 부재(241, 242, 243)는 비산된 액체가 기판(W)으로 리바운드되는 것을 억제할 수 있다.In one embodiment of the present invention, the
본 발명의 일 실시예에 있어서, 리바운드 방지 부재들(241, 242, 243)은 상기 복수의 유입부들(213, 223, 233)의 단부에 각각 배치된다. 세정 공정에 있어서 여러 가지 종류의 세정액이 순차적으로 기판(W)에 제공되고 기판(W)에 제공된 세정액이 기판(W)으로부터 비산할 경우, 리바운드 방지 부재들(241, 242, 243)을 지나서 비산된 세정액을 순차적으로 액체 회수 덕트(205)의 내부로 회수한다. In one embodiment of the invention, the
예를 들면, 리바운드 방지 부재들(241, 242, 243)은 제1 내지 제3 리바운드 방지 부재들(241, 242, 243)을 포함한다. 제1 내지 제3 리바운드 방지 부재들(241, 242, 243)은 제1 내지 제3 유입부(213, 223, 233)의 단부에 각각 위치할 수 있다.For example, the
언급한 바와 같이, 본 발명의 액체 회수 유닛 및 기판 처리 장치에 의하면 리바운드 방지 부재가 액체 회수 덕트에 배치됨으로써 기판 상에 공급된 액체가 유입부에 부딪혀서 기판으로 리바운드 되는 것이 억제된다. 따라서, 리바운드된 액체에 의하여 발생할 수 있는 기판의 오염이 억제될 수 있다.As mentioned, according to the liquid recovery unit and the substrate processing apparatus of the present invention, the rebound prevention member is disposed in the liquid recovery duct so that the liquid supplied on the substrate hits the inlet and rebounds to the substrate. Therefore, contamination of the substrate which may be caused by the rebounded liquid can be suppressed.
상기에서는 본 발명의 바람직한 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허 청구 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.While the foregoing has been described with reference to preferred embodiments of the present invention, those skilled in the art will be able to variously modify and change the present invention without departing from the spirit and scope of the invention as set forth in the claims below. It will be appreciated.
Claims (6)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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KR1020060133426A KR20080059751A (en) | 2006-12-26 | 2006-12-26 | Unit for collecting liquid and apparatus for processing a substrate including the same |
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CN112670207A (en) * | 2020-12-21 | 2021-04-16 | 长江存储科技有限责任公司 | Wafer edge processing equipment and processing method of wafer structure to be processed |
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- 2006-12-26 KR KR1020060133426A patent/KR20080059751A/en not_active Application Discontinuation
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CN112670207B (en) * | 2020-12-21 | 2023-10-31 | 长江存储科技有限责任公司 | Edge wafer processing equipment and processing method of wafer structure to be processed |
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