KR20080059751A - Unit for collecting liquid and apparatus for processing a substrate including the same - Google Patents

Unit for collecting liquid and apparatus for processing a substrate including the same Download PDF

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KR20080059751A
KR20080059751A KR1020060133426A KR20060133426A KR20080059751A KR 20080059751 A KR20080059751 A KR 20080059751A KR 1020060133426 A KR1020060133426 A KR 1020060133426A KR 20060133426 A KR20060133426 A KR 20060133426A KR 20080059751 A KR20080059751 A KR 20080059751A
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Abstract

A liquid recovery unit and a substrate processing apparatus including the same are provided to suppress contamination of a substrate by preventing the rebound of a scattered liquid rebounded from a substrate. A substrate processing apparatus includes a stage for supporting a substrate, a liquid supply unit for supplying a liquid onto the substrate, a liquid recovery unit(20) disposed adjacent to the stage for recovering the liquid. The liquid recovery unit has a liquid recovery duct(21) having an inlet portion for receiving the liquid scattered from the substrate, and a rebound preventing member(25) disposed adjacent to the inlet portion for suppressing rebound of the liquid from the substrate.

Description

액체 회수 유닛 및 이를 포함하는 기판 처리 장치{UNIT FOR COLLECTING LIQUID AND APPARATUS FOR PROCESSING A SUBSTRATE INCLUDING THE SAME}Liquid recovery unit and substrate processing apparatus including same {UNIT FOR COLLECTING LIQUID AND APPARATUS FOR PROCESSING A SUBSTRATE INCLUDING THE SAME}

도 1은 종래의 액체 회수 유닛을 설명하기 위한 구성도이다.1 is a configuration diagram for explaining a conventional liquid recovery unit.

도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 액체 회수 유닛을 설명하기 위한 단면도이다.2 is a cross-sectional view illustrating a liquid recovery unit according to an embodiment of the present invention.

도 3은 도2에 도시된 리바운드 방지 부재를 설명하기 위한 부분 확대 평면도이다.FIG. 3 is a partially enlarged plan view for describing the rebound prevention member shown in FIG. 2.

도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 기판 처리 장치를 설명하기 위한 단면도이다.4 is a cross-sectional view illustrating a substrate processing apparatus according to an embodiment of the present invention.

도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 기판 처리 장치를 설명하기 위한 단면도이다.5 is a cross-sectional view illustrating a substrate processing apparatus according to an embodiment of the present invention.

<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명><Description of the symbols for the main parts of the drawings>

20, 30, 200 : 액체 회수 유닛 21 : 액체 회수 덕트20, 30, 200: liquid recovery unit 21: liquid recovery duct

31a, 31b, 31c : 바울 22, 32a, 32b, 32c: 몸체부31a, 31b, 31c: Paul 22, 32a, 32b, 32c: body

23, 33a, 33b, 33c : 경사부 25, 35a, 35b, 35c: 리바운드 방지 부재23, 33a, 33b, 33c: inclined portions 25, 35a, 35b, 35c: rebound prevention member

300 : 기판 처리 장치 350 : 스테이지300: substrate processing apparatus 350: stage

360 : 회전 척 370 : 지지 핀360: rotating chuck 370: support pin

380 : 구동 축 390 : 구동부380: drive shaft 390: drive

W : 기판W: Substrate

본 발명은 액체 회수 유닛 및 이를 포함하는 기판 처리 장치에 관한 것으로써, 보다 상세하게는 기판을 처리하기 위한 액체를 회수하기 위한 액체 회수 유닛 및 이를 포함하는 기판 처리 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a liquid recovery unit and a substrate processing apparatus including the same, and more particularly, to a liquid recovery unit for recovering a liquid for processing a substrate and a substrate processing apparatus including the same.

일반적으로 반도체 장치는 웨이퍼 상에 전기적인 회로를 형성하는 팹(FAB) 공정과, 상기 팹 공정에서 형성된 반도체 장치들의 전기적인 특성을 검사하는 EDS(electrical die sorting) 공정과, 상기 반도체 장치들을 각각 에폭시 수지로 봉지하고 개별화시키기 위한 패키지 조립 공정을 통해 제조된다.In general, a semiconductor device includes a Fab (FAB) process for forming an electrical circuit on a wafer, an electrical die sorting (EDS) process for inspecting electrical characteristics of the semiconductor devices formed in the fab process, and the semiconductor devices are epoxy. It is manufactured through a package assembly process for encapsulating and individualizing with resin.

상기 팹 공정은 다양한 단위 공정들을 포함하며, 상기 단위 공정들은 반도체 기판 상에 전기적 소자를 형성하기 위하여 반복적으로 수행된다. 상기 단위 공정들은 증착 공정, 포토리소그래피 공정, 식각 공정, 화학적 기계적 연마 공정, 이온 주입 공정, 세정 공정 등을 포함한다. The fab process includes various unit processes, and the unit processes are repeatedly performed to form an electrical device on a semiconductor substrate. The unit processes include a deposition process, a photolithography process, an etching process, a chemical mechanical polishing process, an ion implantation process, a cleaning process, and the like.

상기 세정 공정은 수 ㎛ 이하의 미세한 패턴들이 형성되는 반도체 장치에서 다양한 문제점을 유발시킬 수 있는 오염원을 웨이퍼로부터 제거하는 공정이다. 상기 오염원 중에 주된 관심의 대상이 되는 것은 금속 오염, 파티클, 폴리머 등이 있다.The cleaning process is a process of removing contaminants from the wafer, which may cause various problems in a semiconductor device in which fine patterns of several micrometers or less are formed. Among the pollutants, the main concern is metal contamination, particles, polymers and the like.

상기 세정 공정을 수행하기 위하여 세정액을 기판에 제공하고 상기 세정액을 이용하여 기판을 세정하는 방법이 알려져 있다.In order to perform the cleaning process, a method of providing a cleaning liquid to a substrate and cleaning the substrate using the cleaning liquid is known.

도 1은 종래의 기판 처리 장치를 설명하기 위한 개략적인 단면도이다.1 is a schematic cross-sectional view for explaining a conventional substrate processing apparatus.

도 1을 참조하면, 종래의 기판 세정 장치(100)는 기판(W)을 지지하고 회전 가능한 스테이지(150) 및 회전하는 기판(W)에 공급된 액체를 회수하는 액체 회수 유닛(110)을 포함한다.Referring to FIG. 1, a conventional substrate cleaning apparatus 100 includes a liquid recovery unit 110 that supports a substrate W, and recovers a liquid supplied to a rotatable stage 150 and a rotating substrate W. FIG. do.

액체 회수 유닛(110)은 복수의 바울들(111, 112, 113)을 포함하는 다단 구조를 가질 수 있다. 기판 처리 공정이 여러 가지 종류의 액체들을 순차적으로 공급할 경우 상기 복수의 바울들(111, 112, 113)은 각각의 액체가 공급되는 위치에서의 기판(W)에 대응하는 높이를 가진다. 따라서, 높이가 조절된 복수의 바울들(111, 112, 113)은 각각의 액체의 종류에 따라 액체를 분리시킬 수 있다.The liquid recovery unit 110 may have a multi-stage structure including a plurality of pauls 111, 112, and 113. When the substrate treating process sequentially supplies various kinds of liquids, the plurality of pauls 111, 112, and 113 have a height corresponding to the substrate W at a position where the respective liquids are supplied. Therefore, the plurality of height-adjusted pauls 111, 112, and 113 may separate the liquid according to the type of each liquid.

한편, 스테이지(150)의 회전에 따라 기판(W)은 회전하게 되고, 액체는 비산할 수 있다. 따라서, 액체의 비산을 억제하기 위한 상기 복수의 바울들(111, 112, 113)은 기판(W)을 향하여 기울어진 경사부(111a, 112a, 113a)를 가진다. 비산된 액체은 경사부(111a, 112a, 113a)에 의하여 바울들(111, 112, 113)의 내부에 형성된 회수 통로로 유입된다. 하지만, 비산된 액체가 기판(W)을 향하여 리바운드될 수 있다. 리바운드된 액체은 기판(W)의 표면을 오염시킬 수 있다. 따라서, 기판 세정 장치를 이용하는 기판 처리 공정의 공정 효율이 감소할 수 있다.Meanwhile, as the stage 150 rotates, the substrate W may rotate, and the liquid may scatter. Thus, the plurality of pauls 111, 112, 113 for suppressing the scattering of the liquid have inclined portions 111a, 112a, 113a inclined toward the substrate W. As shown in FIG. The scattered liquid flows into the recovery passage formed inside the pauls 111, 112 and 113 by the inclined portions 111a, 112a and 113a. However, the splashed liquid may be rebound towards the substrate W. Rebound liquid may contaminate the surface of the substrate (W). Therefore, the process efficiency of the substrate processing process using a substrate cleaning apparatus can be reduced.

본 발명의 일 목적은 액체의 기판으로의 리바운드를 억제할 수 있는 액체 회 수 유닛을 제공하는데 있다.One object of the present invention is to provide a liquid recovery unit that can suppress the rebound of the liquid to the substrate.

본 발명의 다른 목적은 액체의 기판으로의 리바운드를 억제할 수 있는 액체 회수 유닛을 포함하는 기판 처리 장치를 제공하는데 있다.Another object of the present invention is to provide a substrate processing apparatus including a liquid recovery unit capable of suppressing rebound of liquid to a substrate.

상기 일 목적을 달성하기 위한 본 발명의 일 실시예에 따른 액체 회수 유닛은 기판으로부터 비산된 액체를 유입하는 유입부를 구비하고 상기 유입부를 통하여 비산된 액체를 회수하는 액체 회수 덕트 및 상기 유입부에 인접하여 배치되어, 상기 액체의 상기 기판으로의 리바운드를 억제하기 위한 리바운드 방지 부재를 포함한다. 여기서, 상기 리바운드 방지 부재는 메쉬 구조를 가질 수 있다. 또한, 상기 액체 회수 덕트는 복수의 바울들로 구성된 다단 구조이며, 상기 리바운드 방지 부재는 각각의 바울에 위치할 수 있다.Liquid recovery unit according to an embodiment of the present invention for achieving the above object is provided with an inlet for introducing the liquid splashed from the substrate and the liquid recovery duct for recovering the liquid splashed through the inlet and the inlet portion And a rebound prevention member for suppressing rebound of the liquid to the substrate. Here, the rebound prevention member may have a mesh structure. In addition, the liquid recovery duct is a multi-stage structure composed of a plurality of pauls, the rebound preventing member may be located in each of the pauls.

상기 일 목적을 달성하기 위한 본 발명의 일 실시예에 따른 기판 처리 장치는 기판을 지지하는 스테이지, 상기 기판에 액체를 공급하는 액체 공급 유닛 및 상기 스테이지에 인접하여 배치되며, 상기 액체를 회수하는 액체 회수 유닛을 포함하고, 상기 액체 회수 유닛은, 상기 기판으로부터 비산된 액체를 유입하는 유입부를 구비하고 상기 유입부를 통하여 비산된 액체를 회수하는 액체 회수 덕트 및 상기 유입부에 인접하여 배치되어, 상기 액체의 상기 기판으로의 리바운드를 억제하기 위한 리바운드 방지 부재를 포함한다. 여기서, 상기 리바운드 방지 부재는 메쉬 구조를 가질 수 있다. 또한, 상기 액체 회수 덕트는 복수의 바울들로 구성된 다단 구조이며, 상기 리바운드 방지 부재는 각각의 바울에 위치할 수 있다.A substrate processing apparatus according to an embodiment of the present invention for achieving the above object is a stage for supporting a substrate, a liquid supply unit for supplying a liquid to the substrate and a liquid disposed adjacent to the stage, the liquid for recovering the liquid And a recovery unit, the liquid recovery unit having an inlet for introducing liquid scattered from the substrate and disposed adjacent to the inlet and a liquid recovery duct for recovering the liquid scattered through the inlet; And a rebound prevention member for suppressing rebound to the substrate. Here, the rebound prevention member may have a mesh structure. In addition, the liquid recovery duct is a multi-stage structure composed of a plurality of pauls, the rebound preventing member may be located in each of the pauls.

본 발명의 액체 회수 유닛 및 기판 처리 장치에 의하면 리바운드 방지 부재가 액체 회수 덕트의 일측에 배치됨에 따라 액체가 기판으로 리바운드되는 것이 억제될 수 있다. 따라서, 기판으로 리바운드 되는 액체에 의하여 발생할 수 있는 기판의 오염을 억제할 수 있다. According to the liquid recovery unit and the substrate processing apparatus of the present invention, as the rebound prevention member is disposed on one side of the liquid recovery duct, the rebound of the liquid to the substrate can be suppressed. Therefore, it is possible to suppress the contamination of the substrate which may be caused by the liquid rebound to the substrate.

이하, 첨부한 도면들을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명하기로 한다. 그러나, 본 발명은 여기서 설명되어지는 실시예에 한정되지 않고 다른 형태로 구체화될 수도 있다. 오히려, 여기서 소개되는 실시예는 개시된 내용이 철저하고 완전해질 수 있도록 그리고 당업자에게 본 발명의 사상이 충분히 전달될 수 있도록 하기 위해 제공되어지는 것이다. 제1, 제2 등의 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성요소들은 상기 용어들에 의해 한정되어서는 안 될 것이다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다. 예를 들어, 본 발명의 권리 범위로부터 이탈되지 않은 채 제1 구성요소는 제2 구성요소로 명명될 수 있고, 유사하게 제2 구성요소도 제1 구성요소로 명명될 수 있다. 어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "연결되어" 있다거나 "접속되어" 있다고 언급된 때에는, 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결되어 있거나 또는 접속되어 있을 수도 있지만, 중간에 다른 구성요소가 존재할 수도 있다고 이해되어야 할 것이다. 반면에, 어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "직접 연결되어" 있다거나 "직접 접속되어" 있다고 언급된 때에는, 중간에 다른 구성요소가 존재하지 않는 것으로 이해되어야 할 것이다. 구성요소들 간의 관계를 설명하는 다른 표현들, 즉 "~사이에"와 "바로 ~사이에" 또는 "~에 이웃하는"과 "~에 직접 이웃하 는" 등도 마찬가지로 해석되어야 한다. 또한, 본 발명의 실시예에서는 반도체 기판을 대상으로 한정하고 있지만, 유리 기판, 인쇄 회로 기판 등에도 본 발명의 실시예를 확장시킬 수도 있다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. However, the present invention is not limited to the embodiments described herein but may be embodied in other forms. Rather, the embodiments introduced herein are provided to ensure that the disclosed subject matter is thorough and complete, and that the spirit of the present invention to those skilled in the art will fully convey. Terms such as first and second may be used to describe various components, but the components should not be limited by the terms. The terms are used only for the purpose of distinguishing one component from another. For example, without departing from the scope of the present invention, the first component may be referred to as the second component, and similarly, the second component may also be referred to as the first component. When a component is referred to as being "connected" or "connected" to another component, it may be directly connected to or connected to that other component, but it may be understood that other components may be present in between. Should be. On the other hand, when a component is said to be "directly connected" or "directly connected" to another component, it should be understood that there is no other component in between. Other expressions describing the relationship between components, such as "between" and "immediately between" or "neighboring to" and "directly neighboring", should be interpreted as well. In addition, although the Example of this invention limits a semiconductor substrate, the Example of this invention can also be extended also to a glass substrate, a printed circuit board, etc.

액체 회수 유닛Liquid recovery unit

도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 액체 회수 유닛을 설명하기 위한 단면도이다. 도 3은 도 2에 도시된 리바운드 방지 부재를 설명하기 위한 평면도이다.2 is a cross-sectional view illustrating a liquid recovery unit according to an embodiment of the present invention. 3 is a plan view illustrating the rebound prevention member illustrated in FIG. 2.

도 2 및 도 3을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 액체 회수 유닛(20)는 액체 회수 덕트(21) 및 리바운드 방지 부재(25)를 포함한다.2 and 3, the liquid recovery unit 20 according to an embodiment of the present invention includes a liquid recovery duct 21 and a rebound prevention member 25.

액체 회수 덕트(21)는 기판으로부터 비산된 액체를 회수시킨다. 약액 회수 덕트(21)는 몸체부(22) 및 유입부(23)를 포함한다. 여기서 사용되는 액체는 기판을 세정하기 위한 세정액, 포토레지스트 패턴을 형성하기 위한 감광액, 기판에 형성된 박막을 식각하기 위한 식각액 등을 포함할 수 있다. The liquid recovery duct 21 recovers the liquid scattered from the substrate. The chemical liquid recovery duct 21 includes a body portion 22 and an inlet portion 23. The liquid used herein may include a cleaning liquid for cleaning the substrate, a photoresist for forming a photoresist pattern, an etchant for etching a thin film formed on the substrate, and the like.

몸체부(22)는 기판 주위를 감싸고 상부가 개방된 원기둥 형상을 가진다. 몸체부(22)는 기판에 대하여 처리 공정 중 비산된 액체를 수용할 수 있는 공간을 제공한다. 유입부(23)는 상기 비산된 액체를 회수하기 위하여 몸체부(22)의 단부로부터 기판을 향하여 연장된다.The body portion 22 has a cylindrical shape surrounding the substrate and having an open top. The body portion 22 provides a space for the substrate to accommodate the liquid splashed during the processing process. The inlet 23 extends from the end of the body 22 towards the substrate to recover the scattered liquid.

리바운드 방지 부재(25)는 액체 회수 덕트(21) 중 상기 비산된 액체가 유입되는 유입부에 배치된다. 예를 들면, 리바운드 방지 부재(25)는 유입부(23)의 단부에 형성된다.The rebound prevention member 25 is disposed at an inlet portion of the liquid recovery duct 21 into which the scattered liquid flows. For example, the rebound prevention member 25 is formed at the end of the inflow portion 23.

한편, 리바운드 방지 부재(25)에는 상기 비산된 액체를 통과시킬 수 있는 홀이 형성된다. 따라서, 리바운드 방지 부재(25)는 상기 비산된 액체를 통과시키는 반면에 기판을 향하여 상기 비산된 액체가 리바운드되는 것을 억제한다.On the other hand, the rebound prevention member 25 is formed with a hole through which the scattered liquid can pass. Thus, the rebound prevention member 25 suppresses the rebound of the scattered liquid toward the substrate while passing the scattered liquid.

본 발명의 일 실시예에 있어서, 리바운드 방지 부재(25)는 복수의 홀들이 형성된 메쉬 구조를 가진다. 메쉬 구조를 갖는 리바운드 방지 부재(25)는 상기 기판으로부터 비산된 액체를 일차적으로 통과시키고, 비산된 액체의 유동 속도를 감소시킨다. 따라서, 리바운드 방지 부재(25)를 통과하여 비산된 액체는 유입부(23)의 측벽에 부딪히며 중력에 의하여 하방으로 반사된다. 결과적으로, 리바운드 방지 부재(25)는 비산된 액체가 기판으로 리바운드되는 것을 억제할 수 있다.In one embodiment of the present invention, the rebound prevention member 25 has a mesh structure formed with a plurality of holes. The rebound prevention member 25 having the mesh structure primarily passes the liquid splashed from the substrate and reduces the flow rate of the liquid splashed. Therefore, the liquid scattered through the rebound prevention member 25 hits the side wall of the inflow portion 23 and is reflected downward by gravity. As a result, the rebound prevention member 25 can suppress the rebound of the scattered liquid to the substrate.

본 발명의 일 실시예에 있어서, 액체 회수 유닛(20)은 액체 회수 덕트(21)와 연결된 회수 라인(27)을 더 포함할 수 있다. 회수 라인(27)은 액체 회수 덕트(21)와 액체를 저장하는 컨테이너(미도시)를 연결시킨다. 따라서, 회수 라인을 통하여 비산된 액체는 상기 콘테이너로 저장된다.In one embodiment of the invention, the liquid recovery unit 20 may further comprise a recovery line 27 connected to the liquid recovery duct 21. The recovery line 27 connects the liquid recovery duct 21 and a container (not shown) for storing the liquid. Thus, the liquid scattered through the recovery line is stored in the container.

언급한 기판의 예로서는 반도체 기판, 유리 기판, 인쇄회로 기판 등을 들 수 있고, 다만 본 발명의 일 실시예에서는 반도체 기판을 한정하여 설명할 뿐이다. 그러므로, 본 발명의 일 실시예에 따른 장치는 반도체 기판, 유리 기판, 인쇄회로 기판 등의 세정에 모두 적용할 수 있다.Examples of the substrate mentioned may include a semiconductor substrate, a glass substrate, a printed circuit board, and the like. However, in the exemplary embodiment of the present invention, only the semiconductor substrate is described. Therefore, the apparatus according to the embodiment of the present invention can be applied to all cleaning of semiconductor substrates, glass substrates, printed circuit boards and the like.

도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 액체 회수 유닛을 설명하기 위한 단면도이다. 본 발명의 일 실시예에 따른 액체 회수 유닛은 액체 회수 덕트가 복수의 바 울을 포함하는 것을 제외하면 도2에 도시된 액체 회수 유닛과 실질적으로 동일하므로 이에 대한 상세한 설명은 생략하기로 한다.4 is a cross-sectional view illustrating a liquid recovery unit according to an embodiment of the present invention. Since the liquid recovery unit according to an embodiment of the present invention is substantially the same as the liquid recovery unit shown in FIG. 2 except that the liquid recovery duct includes a plurality of bowls, detailed description thereof will be omitted.

도 4를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 액체 회수 유닛(30)은 복수의 바울들(31a, 31b, 31c)을 갖는 액체 회수 덕트(34) 및 상기 복수의 바울들(31a, 31b, 31c)에 대하여 각각 배치된 복수의 리바운드 방지 부재들(35a, 35b, 35c)을 포함한다.Referring to FIG. 4, the liquid recovery unit 30 according to an embodiment of the present invention includes a liquid recovery duct 34 having a plurality of pauls 31a, 31b, and 31c and the plurality of pauls 31a and 31b. , A plurality of rebound prevention members 35a, 35b, 35c disposed with respect to 31c, respectively.

액체 회수 덕트(34)는 복수의 바울들(31a, 31b, 31c)을 포함하는 다단 구조를 가질 수 있다. 특히, 세정 공정에 있어서 여러 가지 종류의 세정액이 개별적으로 기판에 제공될 경우, 액체 회수 덕트(34)는 상기 여러 가지 종류의 세정액들을 그 종류별로 분리하여 회수함이 바람직하다. 따라서, 액체 회수 덕트(34)는 복수의 바울들(31a, 31b, 31c)을 포함하여 복수의 바울들(31a, 31b, 31c)이 여러 가지 종류의 세정액들을 분리하여 회수할 수 있다.The liquid recovery duct 34 may have a multistage structure that includes a plurality of pauls 31a, 31b, 31c. Particularly, in the cleaning process, when various kinds of cleaning liquids are individually provided on the substrate, the liquid recovery duct 34 is preferably to separate and recover the various kinds of cleaning liquids by their types. Therefore, the liquid recovery duct 34 may include the plurality of Pauls 31a, 31b, and 31c, and the plurality of Pauls 31a, 31b, and 31c may separate and recover various types of cleaning solutions.

본 발명의 일 실시예에 있어서, 액체 회수 덕트(34)는 제1 바울(31a), 제2 바울(31b) 및 제3 바울(31c)을 포함한다. 제1 내지 제3 바울들(31a, 31b, 31c)은 제1 내지 제3 몸체부들(32a, 32b, 32c) 및 제1 내지 제3 유입부들(33a, 33b, 33c)을 각각 포함한다.In one embodiment of the invention, the liquid recovery duct 34 includes a first Paul 31a, a second Paul 31b and a third Paul 31c. The first to third pauls 31a, 31b and 31c include first to third body portions 32a, 32b and 32c and first to third inlets 33a, 33b and 33c, respectively.

리바운드 방지 부재들(35a, 35b, 35c)은 상기 제1 내지 3 유입부들(35a, 35b, 35c)의 단부에 각각 배치된다. 세정 공정에 있어서 여러 가지 종류의 세정액이 순차적으로 기판에 제공되고 기판에 제공된 세정액이 기판으로부터 비산할 경우, 리바운드 방지 부재들(35a, 35b, 35c)을 통하여 비산된 세정액는 순차적으로 액체 회수 덕트(34)의 내부로 회수된다. Rebound preventing members 35a, 35b, 35c are disposed at the ends of the first to third inlets 35a, 35b, 35c, respectively. In the cleaning process, when various kinds of cleaning liquids are sequentially provided to the substrate and the cleaning liquids provided on the substrate are scattered from the substrate, the cleaning liquids scattered through the rebound prevention members 35a, 35b, and 35c are sequentially disposed in the liquid recovery duct 34 ) Is recovered inside.

본 발명의 일 실시예에 있어서, 리바운드 방지 부재들(35a, 35b, 35c)은 제1 내지 제3 리바운드 방지 부재들(35a, 35b, 35c)을 포함한다. 제1 내지 제3 리바운드 방지 부재들(35a, 35b, 35c)은 제1 내지 제3 유입부(33a, 33b, 33c)의 단부에 각각 위치할 수 있다.In one embodiment of the present invention, the rebound prevention members 35a, 35b, 35c include first to third rebound prevention members 35a, 35b, 35c. The first to third rebound prevention members 35a, 35b, and 35c may be positioned at ends of the first to third inlets 33a, 33b and 33c, respectively.

본 발명의 일 실시예에 있어서, 리바운드 방지 부재(35a, 35b, 35c)는 복수의 홀들이 형성된 메쉬 구조를 가진다. 메쉬 구조를 갖는 리바운드 방지 부재(35a, 35b, 35c)는 상기 기판으로부터 비산된 액체를 일차적으로 통과시키고, 비산된 액체의 유동 속도를 감소시킨다. 따라서, 리바운드 방지 부재(35a, 35b, 35c)를 통과하여 비산된 액체는 유입부(33a, 33b, 33c)에 부딪히며 중력에 의하여 하방으로 반사된다. 결과적으로, 리바운드 방지 부재(35a, 35b, 35c)는 비산된 액체가 기판으로 리바운드되는 것을 억제할 수 있다.In one embodiment of the present invention, the rebound prevention members 35a, 35b, 35c have a mesh structure in which a plurality of holes are formed. The rebound prevention members 35a, 35b, 35c having a mesh structure primarily pass the liquid splashed from the substrate and reduce the flow rate of the scattered liquid. Therefore, the liquid scattered through the rebound prevention members 35a, 35b, 35c hits the inlets 33a, 33b, 33c and is reflected downward by gravity. As a result, the rebound prevention members 35a, 35b, 35c can suppress the rebound of the scattered liquid into the substrate.

본 발명의 일 실시예에 있어서, 액체 회수 유닛(30)은 액체 회수 덕트(34)와 연결된 회수 라인(미도시)을 더 포함할 수 있다. 상기 회수 라인은 액체 회수 덕트(34)와 액체를 저장하는 컨테이너(미도시)를 연결시킨다. 따라서, 상기 회수 라인을 통하여 비산된 액체는 상기 콘테이너로 저장된다.In one embodiment of the invention, the liquid recovery unit 30 may further comprise a recovery line (not shown) connected with the liquid recovery duct 34. The recovery line connects the liquid recovery duct 34 to a container (not shown) for storing liquid. Thus, the liquid scattered through the recovery line is stored in the container.

기판 처리 장치Substrate processing equipment

도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 기판 처리 장치를 설명하기 위한 단면도이다.5 is a cross-sectional view illustrating a substrate processing apparatus according to an embodiment of the present invention.

도 5를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 기판 처리 장치(300)는 스테이지(350), 액체 공급 유닛(390), 액체 회수 유닛(200)을 포함한다.Referring to FIG. 5, the substrate processing apparatus 300 according to the exemplary embodiment includes a stage 350, a liquid supply unit 390, and a liquid recovery unit 200.

스테이지(350)는 기판(W)을 지지한다. 스테이지(350)는 기판(W)의 이면을 직접 접촉하여 지지할 수 있다. 이와 다르게, 스테이지(350)는 기판(W)의 이면과 이격되어 기판(W)을 지지할 수 있다.The stage 350 supports the substrate W. The stage 350 may directly support the back surface of the substrate W. Alternatively, the stage 350 may be spaced apart from the back surface of the substrate W to support the substrate W.

액체 공급 유닛(390)은 스테이지(350)의 상부에 배치된다. 이와 다르게 액체 공급 유닛(390)은 스테이지(350)의 하부에 배치되어 기판(W)의 이면에 액체를 공급할 수 있다.The liquid supply unit 390 is disposed above the stage 350. Alternatively, the liquid supply unit 390 may be disposed under the stage 350 to supply liquid to the rear surface of the substrate W. FIG.

액체 공급 유닛(390)은 기판(W)의 상부 또는 하부에 액체를 공급한다. 액체 공급 유닛(390)은, 예를 들면, 세정액, 식각액 또는 현상액을 기판에 제공할 수 있다. The liquid supply unit 390 supplies the liquid to the top or the bottom of the substrate (W). The liquid supply unit 390 may provide, for example, a cleaning solution, an etching solution or a developing solution to the substrate.

본 발명의 일 실시예에 있어서, 액체 공급 유닛(390)은 액체를 저장하는 저장 탱크(미도시), 상기 저장 탱크로부터 연결되어 액체를 기판(W)에 제공하는 공급 라인(395) 및 상기 공급 라인(395)과 연결되어 상기 액체를 기판(W)의 상부로 제공하는 분사부(397)를 포함할 수 있다. In one embodiment of the invention, the liquid supply unit 390 is a storage tank (not shown) for storing liquid, a supply line 395 connected from the storage tank to provide a liquid to the substrate (W) and the supply It may include an injection unit 397 connected to the line 395 to provide the liquid to the upper portion of the substrate (W).

액체 회수 유닛(200)은 스테이지(350)에 인접하여 배치된다. 액체 회수 유닛(200)은 스테이지(350)에 의하여 지지되는 기판(W)으로부터 비산된 액체를 회수한다. The liquid recovery unit 200 is disposed adjacent to the stage 350. The liquid recovery unit 200 recovers the liquid scattered from the substrate W supported by the stage 350.

액체 회수 유닛(200)은 액체 회수 덕트(205) 및 리바운드 방지 부재(241, 242, 243)를 포함한다.The liquid recovery unit 200 includes a liquid recovery duct 205 and rebound prevention members 241, 242, and 243.

액체 회수 덕트(205)는 기판(W)으로부터 비산된 액체를 회수한다. 약체 회수 덕트(205)는 제1 내지 제3 바울들(210, 220, 230)을 포함한다. 제1 내지 제3 바울들(210, 220, 230)들은 각각 몸체부(211, 221, 231) 및 유입부(213, 223, 233)를 포함한다. 여기서 사용되는 액체는 기판(W)을 세정하기 위한 세정액, 포토레지스트 패턴을 형성하기 위한 감광액, 기판(W)에 형성된 박막을 식각하기 위한 식각액 등을 포함할 수 있다. The liquid recovery duct 205 recovers the liquid scattered from the substrate W. As shown in FIG. The drug recovery duct 205 includes first to third pauls 210, 220, 230. The first to third pauls 210, 220, and 230 include body portions 211, 221, and 231 and inlets 213, 223, and 233, respectively. The liquid used herein may include a cleaning liquid for cleaning the substrate W, a photoresist for forming a photoresist pattern, an etchant for etching a thin film formed on the substrate W, and the like.

몸체부(211, 221, 231)는 기판(W) 주위를 감싸고 상부가 개방된 원기둥 형상을 가진다. 따라서, 기판(W)에 대하여 처리 공정 중 비산된 액체를 회수한다. 유입부(213, 223, 233)는 상기 비산된 액체를 회수하기 위하여 몸체부(211, 221, 231)의 단부로부터 기판(W)을 향하여 연장된다.The body parts 211, 221, and 231 have a cylindrical shape that wraps around the substrate W and has an open upper portion. Therefore, the liquid scattered during the treatment process with respect to the substrate W is recovered. The inlets 213, 223, 233 extend from the ends of the body parts 211, 221, 231 toward the substrate W to recover the scattered liquid.

본 발명의 일 실시예에 있어서, 액체 회수 덕트(205)는 복수의 바울들(210, 220, 230)을 포함하는 다단 구조를 가질 수 있다. 특히, 세정 공정에 있어서 여러 가지 종류의 세정액이 개별적으로 기판(W)에 제공될 경우, 액체 회수 덕트(205)는 상기 여러 가지 종류의 세정액들을 그 종류별로 분리하여 회수함이 바람직하다. 따라서, 액체 회수 덕트(205)는 복수의 바울들(210, 220, 230)을 포함하여 복수의 바울들(211, 221, 231)이 여러 가지 종류의 세정액들을 분리하여 회수할 수 있다.In one embodiment of the present invention, the liquid recovery duct 205 may have a multi-stage structure including a plurality of pauls (210, 220, 230). Particularly, in the cleaning process, when various kinds of cleaning liquids are individually provided on the substrate W, the liquid recovery duct 205 may separate and recover the various kinds of cleaning liquids by their types. Accordingly, the liquid recovery duct 205 may include the plurality of the pauls 210, 220, and 230, and the plurality of the pauls 211, 221, and 231 may separate and recover various types of cleaning liquids.

본 발명의 일 실시예에 있어서, 액체 회수 덕트(205)는 제1 내지 제3 바울들(210, 220, 230)을 포함한다. 제1 내지 제3 바울들(210, 220, 230)은 제1 내지 제3 몸체부들(211, 221, 231) 및 제1 내지 제3 유입부들(213, 223, 233)을 각각 포함한다.In one embodiment of the invention, the liquid recovery duct 205 includes first to third pauls 210, 220, 230. The first to third pauls 210, 220, and 230 include first to third body parts 211, 221, and 231 and first to third inlets 213, 223, and 233, respectively.

리바운드 방지 부재(241, 242, 243)는 액체 회수 덕트(205) 중 상기 비산된 액체가 유입되는 유입부에 배치된다. 예를 들면, 리바운드 방지 부재(241, 242, 243)는 유입부(213, 223, 233)의 단부에 형성된다.The rebound prevention members 241, 242, and 243 are disposed at an inlet portion of the liquid recovery duct 205 into which the scattered liquid flows. For example, the rebound prevention members 241, 242, 243 are formed at the ends of the inlets 213, 223, 233.

한편, 리바운드 방지 부재(241, 242, 243)에는 상기 비산된 액체를 통과시킬 수 있는 홀이 형성된다. 따라서, 리바운드 방지 부재(241, 242, 243)는 상기 비산된 액체를 통과시켜 기판(W)을 향하여 상기 비산된 액체가 리바운드되는 것을 억제한다.Meanwhile, the rebound prevention members 241, 242, and 243 are formed with holes through which the scattered liquid passes. Accordingly, the rebound prevention members 241, 242, and 243 pass the scattered liquid and suppress the rebound of the scattered liquid toward the substrate W. FIG.

본 발명의 일 실시예에 있어서, 리바운드 방지 부재(241, 242, 243)는 복수의 홀들이 형성된 메쉬 구조를 가진다. 메쉬 구조를 갖는 리바운드 방지 부재(241, 242, 243)는 상기 기판(W)으로부터 비산된 액체를 일차적으로 통과시키고, 비산된 액체의 유동 속도를 감소시킨다. 따라서, 리바운드 방지 부재(241, 242, 243)를 통과하여 비산된 액체는 유입부(213, 223, 233)에 부딪히며 중력에 의하여 하방으로 반사된다. 결과적으로, 리바운드 방지 부재(241, 242, 243)는 비산된 액체가 기판(W)으로 리바운드되는 것을 억제할 수 있다.In one embodiment of the present invention, the rebound prevention members 241, 242, 243 have a mesh structure in which a plurality of holes are formed. The rebound prevention members 241, 242, and 243 having the mesh structure primarily pass the liquid splashed from the substrate W and reduce the flow rate of the scattered liquid. Therefore, the liquid scattered through the rebound prevention members 241, 242, and 243 hits the inlets 213, 223, and 233 and is reflected downward by gravity. As a result, the rebound prevention members 241, 242, 243 can suppress the rebound of the scattered liquid to the substrate W. As shown in FIG.

본 발명의 일 실시예에 있어서, 리바운드 방지 부재들(241, 242, 243)은 상기 복수의 유입부들(213, 223, 233)의 단부에 각각 배치된다. 세정 공정에 있어서 여러 가지 종류의 세정액이 순차적으로 기판(W)에 제공되고 기판(W)에 제공된 세정액이 기판(W)으로부터 비산할 경우, 리바운드 방지 부재들(241, 242, 243)을 지나서 비산된 세정액을 순차적으로 액체 회수 덕트(205)의 내부로 회수한다. In one embodiment of the invention, the rebound preventing members 241, 242, 243 are disposed at the ends of the plurality of inlets 213, 223, 233, respectively. In the cleaning process, when various kinds of cleaning liquids are sequentially provided to the substrate W and the cleaning liquid provided to the substrate W is scattered from the substrate W, it is scattered past the rebound prevention members 241, 242, and 243. The cleaned solution is sequentially collected into the liquid recovery duct 205.

예를 들면, 리바운드 방지 부재들(241, 242, 243)은 제1 내지 제3 리바운드 방지 부재들(241, 242, 243)을 포함한다. 제1 내지 제3 리바운드 방지 부재들(241, 242, 243)은 제1 내지 제3 유입부(213, 223, 233)의 단부에 각각 위치할 수 있다.For example, the rebound prevention members 241, 242, and 243 include first to third rebound prevention members 241, 242, and 243. The first to third rebound prevention members 241, 242, and 243 may be located at ends of the first to third inlets 213, 223, and 233, respectively.

언급한 바와 같이, 본 발명의 액체 회수 유닛 및 기판 처리 장치에 의하면 리바운드 방지 부재가 액체 회수 덕트에 배치됨으로써 기판 상에 공급된 액체가 유입부에 부딪혀서 기판으로 리바운드 되는 것이 억제된다. 따라서, 리바운드된 액체에 의하여 발생할 수 있는 기판의 오염이 억제될 수 있다.As mentioned, according to the liquid recovery unit and the substrate processing apparatus of the present invention, the rebound prevention member is disposed in the liquid recovery duct so that the liquid supplied on the substrate hits the inlet and rebounds to the substrate. Therefore, contamination of the substrate which may be caused by the rebounded liquid can be suppressed.

상기에서는 본 발명의 바람직한 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허 청구 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.While the foregoing has been described with reference to preferred embodiments of the present invention, those skilled in the art will be able to variously modify and change the present invention without departing from the spirit and scope of the invention as set forth in the claims below. It will be appreciated.

Claims (6)

기판으로부터 비산된 액체를 유입하는 유입부를 구비하고, 상기 유입부를 통하여 비산된 액체를 회수하는 액체 회수 덕트; 및A liquid recovery duct having an inlet for introducing liquid scattered from the substrate and recovering the liquid scattered through the inlet; And 상기 유입부에 인접하여 배치되어, 상기 액체의 상기 기판으로의 리바운드를 억제하기 위한 리바운드 방지 부재를 포함하는 것을 특징으로 하는 액체 회수 유닛.And a rebound preventing member disposed adjacent said inlet to suppress rebound of said liquid to said substrate. 제1항에 있어서, 상기 리바운드 방지 부재는 메쉬 구조를 갖는 것을 특징으로 하는 액체 회수 유닛.The liquid recovery unit according to claim 1, wherein the rebound prevention member has a mesh structure. 제1항에 있어서, 상기 액체 회수 덕트는 복수의 바울들로 구성된 다단 구조이며, 상기 리바운드 방지 부재는 각각의 바울에 위치하는 것을 특징으로 하는 액체 회수 유닛.The liquid recovery unit according to claim 1, wherein the liquid recovery duct is a multistage structure composed of a plurality of pauls, and the rebound preventing member is located at each of the pauls. 기판을 지지하는 스테이지;A stage for supporting the substrate; 상기 기판에 액체를 공급하는 액체 공급 유닛; 및A liquid supply unit supplying a liquid to the substrate; And 상기 스테이지에 인접하여 배치되며, 상기 액체를 회수하는 액체 회수 유닛을 포함하고, 상기 액체 회수 유닛은, A liquid recovery unit disposed adjacent to the stage and recovering the liquid, wherein the liquid recovery unit includes: 상기 기판으로부터 비산된 액체를 유입하는 유입부를 구비하고, 상기 유입부 를 통하여 비산된 액체를 회수하는 액체 회수 덕트; 및A liquid recovery duct having an inlet for introducing liquid scattered from the substrate and recovering the liquid scattered through the inlet; And 상기 유입부에 인접하여 배치되어, 상기 액체의 상기 기판으로의 리바운드를 억제하기 위한 리바운드 방지 부재를 포함하는 것을 특징으로 하는 기판 처리 장치.And a rebound prevention member disposed adjacent said inlet to suppress rebound of said liquid to said substrate. 제4항에 있어서, 상기 리바운드 방지 부재는 메쉬 구조를 갖는 것을 특징으로 하는 액체 회수 유닛.The liquid recovery unit according to claim 4, wherein the rebound preventing member has a mesh structure. 제4항에 있어서, 상기 액체 회수 덕트는 복수의 바울들로 구성된 다단 구조이며, 상기 리바운드 방지 부재는 각각의 바울에 위치하는 것을 특징으로 하는 액체 회수 유닛.5. The liquid recovery unit according to claim 4, wherein the liquid recovery duct is a multistage structure composed of a plurality of pauls, and the rebound preventing member is located at each of the pauls.
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