KR100885242B1 - Apparatus for treating substrates, and method for treating substrates using the same - Google Patents

Apparatus for treating substrates, and method for treating substrates using the same Download PDF

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Abstract

An apparatus for treating substrate and a method thereof are provided to perform function of a substrate reversing unit in a substrate transferring unit by installing a driving part capable of reversing a substrate in the substrate transferring unit. An apparatus for treating substrate comprises a substrate treating part, a substrate transferring unit(35), and a transferring guide. A substrate is provided from outside to the substrate treating part by the substrate transferring unit. A moving route of the substrate transferring unit is guided by the transferring guide. The substrate transferring unit includes a base body(115), an arm part(118), a pocket part(117), and a driving part(116). The arm part is coupled with the base body. The pocket part is coupled with the arm part. The driving part is coupled with at least one among the pocket part and the arm part. The substrate is loaded on the pocket part. The substrate is reversed by the driving part.

Description

기판 처리 장치, 및 이를 이용한 기판 처리 방법{APPARATUS FOR TREATING SUBSTRATES, AND METHOD FOR TREATING SUBSTRATES USING THE SAME}Substrate processing apparatus, and substrate processing method using the same {APPARATUS FOR TREATING SUBSTRATES, AND METHOD FOR TREATING SUBSTRATES USING THE SAME}

본 발명은 기판 처리 장치, 및 이를 이용한 기판 처리 방법에 관한 것이다. The present invention relates to a substrate processing apparatus and a substrate processing method using the same.

반도체 기판을 처리하는 기판 처리 장치는 기판에 대해 소정의 처리 공정을 수행하는 챔버를 구비한다. 예컨대, 상기 처리 공정이 세정 공정인 경우, 상기 챔버 내에는 반도체 기판에 대해 세정 공정을 수행하는 세정 유닛이 구비된다. A substrate processing apparatus for processing a semiconductor substrate includes a chamber for performing a predetermined processing process on the substrate. For example, when the treatment process is a cleaning process, a cleaning unit that performs a cleaning process on the semiconductor substrate is provided in the chamber.

상기 세정 유닛 중 매엽식 세정 유닛은, 외부로부터 반도체 기판을 제공받고, 반도체 기판을 반전시켜 상기 세정 유닛 측으로 제공하는 기판 반전 유닛을 구비한다. Among the cleaning units, the single wafer cleaning unit includes a substrate reversing unit that receives a semiconductor substrate from the outside and inverts the semiconductor substrate to provide the cleaning unit side.

그러나, 동일시간 안에 처리되는 반도체 기판의 수를 증가하기 위하여 기판 처리 장치가 다수의 챔버들을 구비하는 경우, 각 챔버에 상기 기판 반전 유닛이 설치되어야 하고, 이에 따라, 상기 기판 반전 유닛의 설치하고, 유지하는 비용이 증가한다. However, when the substrate processing apparatus includes a plurality of chambers in order to increase the number of semiconductor substrates processed in the same time, the substrate inversion unit must be installed in each chamber, and thus, the substrate inversion unit is installed, The cost of maintenance increases.

본 발명의 목적은 제조 비용을 절감할 수 있는 기판 처리 장치, 및 이를 이용한 기판 처리 방법을 제공하는 데 있다. An object of the present invention is to provide a substrate processing apparatus that can reduce the manufacturing cost, and a substrate processing method using the same.

기판을 처리하는 기판 처리 장치에 있어서, 상기한 과제를 달성하기 위한 본 발명에 따른 기판 처리 장치는, 상기 기판을 처리하는 기판처리부, 상기 기판을 외부로부터 제공받아 상기 기판처리부 측으로 제공하는 기판 이송 유닛, 및 상기 기판 이송 유닛과 결합하여 상기 기판 이송 유닛의 이동 경로를 가이드하는 이송 가이드를 포함하고, 상기 기판 이송 유닛은 베이스 몸체, 상기 베이스 몸체와 결합된 적어도 하나의 암부, 상기 암부와 결합하고 기판이 놓이는 포켓부, 및 상기 포켓부 및 상기 암부 중 적어도 어느 하나와 결합되어 상기 포켓부에 놓인 상기 기판을 반전시키는 구동부를 포함하는 것을 특징으로 한다. In a substrate processing apparatus for processing a substrate, a substrate processing apparatus according to the present invention for achieving the above object includes a substrate processing unit for processing the substrate, a substrate transfer unit for receiving the substrate from the outside and providing the substrate to the substrate processing unit side. And a transfer guide coupled with the substrate transfer unit to guide a movement path of the substrate transfer unit, wherein the substrate transfer unit is coupled to the base and the base body, at least one arm coupled to the base body, and the substrate And a driving part coupled to at least one of the pocket part and the arm part to reverse the substrate placed on the pocket part.

기판을 처리하는 기판 처리 방법에 있어서, 상기한 과제를 달성하기 위한 본 발명에 따른 기판 처리 방법은, 상기 기판이 놓이는 포켓부와 상기 포켓부와 결합되어 상기 포켓부를 반전시키는 구동부를 구비하는 기판 이송 유닛을 이용하여 기판을 기판처리부 측으로 이송하는 단계, 및 상기 기판 이송 유닛에 의해 이송된 상기 기판을 상기 기판처리부에서 처리하는 단계를 포함하고, 상기 기판을 기판처리부 측으로 이송하는 단계에서, 상기 포켓부에 놓인 상기 기판은 상기 구동부에 의해 반전되어 상기 기판처리부 측으로 이송되는 것을 특징으로 한다. In the substrate processing method for processing a substrate, the substrate processing method according to the present invention for achieving the above object is a substrate transfer having a pocket portion on which the substrate is placed and a driving portion coupled with the pocket portion to reverse the pocket portion. Transferring the substrate to the substrate processing unit using a unit, and processing the substrate transferred by the substrate transfer unit at the substrate processing unit, and transferring the substrate to the substrate processing unit; The substrate placed on the inverted by the driving unit is characterized in that it is transferred to the substrate processing unit side.

본 발명에 따른 기판 처리 장치, 및 이를 이용한 기판 처리 방법에 따르면, 기판 처리부 측으로 기판을 제공하는 기판 이송 유닛은 포켓부에 놓인 기판을 반전시킬 수 있는 구동부를 포함한다. 따라서, 기판 이송 유닛은 기판 처리부 내에서 기판을 반전시키는 기판 반전 유닛의 기능을 대신할 수 있다. According to the substrate processing apparatus and the substrate processing method using the same according to the present invention, the substrate transfer unit for providing the substrate to the substrate processing unit side includes a driving unit capable of inverting the substrate placed in the pocket portion. Thus, the substrate transfer unit can replace the function of the substrate inversion unit that inverts the substrate in the substrate processing portion.

이하 첨부한 도면들을 참조하여 본 발명의 실시예를 상세히 살펴보기로 한다. 상기한 본 발명의 목적, 특징 및 효과는 첨부된 도면과 관련된 실시예들을 통해서 용이하게 이해될 것이다. 다만 본 발명은 여기서 설명되는 실시예들에 한정되지 않고 다양한 형태로 응용되어 변형될 수도 있다. 오히려 아래의 실시예들은 본 발명에 의해 개시된 기술 사상을 보다 명확히 하고 나아가 본 발명이 속하는 분야에서 평균적인 지식을 가진 당업자에게 본 발명의 기술 사상이 충분히 전달될 수 있도록 제공되는 것이다. 따라서 본 발명의 범위가 아래에서 상술하는 실시예들로 인해 한정되는 것으로 해석되어서는 안 될 것이다. 한편, 하기 실시예와 함께 제시된 도면은 명확한 설명을 위해서 다소 간략화되거나 과장된 것이며, 도면상에 동일한 참조번호들은 동일한 구성요소들을 나타낸다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. The objects, features and effects of the present invention described above will be readily understood through embodiments related to the accompanying drawings. However, the present invention is not limited to the embodiments described herein and may be applied and modified in various forms. Rather, the following embodiments are provided to clarify the technical spirit disclosed by the present invention, and furthermore, to fully convey the technical spirit of the present invention to those skilled in the art having an average knowledge in the field to which the present invention belongs. Therefore, the scope of the present invention should not be construed as limited by the embodiments described below. On the other hand, the drawings presented in conjunction with the following examples are somewhat simplified or exaggerated for clarity, the same reference numerals in the drawings represent the same components.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 기판 처리 장치의 평면도이다. 1 is a plan view of a substrate processing apparatus according to an embodiment of the present invention.

도 1을 참조하면, 상기 기판 처리 장치(10)는 인덱서(20) 및 공정처리부(30)를 포함하고, 상기 공정처리부(30)는 제 1 처리부(31) 및 상기 제 1 처리부(31)와 마주보는 제 2 처리부(32)를 포함한다. Referring to FIG. 1, the substrate processing apparatus 10 includes an indexer 20 and a process processor 30, and the process processor 30 includes a first processor 31 and a first processor 31. It includes a second processing unit 32 facing.

상기 제 1 처리부(31) 및 상기 제 2 처리부(32) 각각은 복수의 챔버들(40)을 포함한다. 상기 제 1 처리부(31) 및 상기 제 2 처리부(32) 각각에는 제 1 방향(D1)으로 상기 챔버들(40)이 배치되고, 상기 제 1 처리부(31) 및 상기 제 2 처리부(32) 각각은 복수의 층들로 구획되어 각 층에 상기 챔버들(40)이 구비된다. 상기 챔버들(40) 각각은 기판(W)에 대해 소정의 공정을 진행한다. Each of the first processor 31 and the second processor 32 includes a plurality of chambers 40. The chambers 40 are disposed in the first direction D1 in the first processing unit 31 and the second processing unit 32, respectively, and the first processing unit 31 and the second processing unit 32, respectively. Is divided into a plurality of layers and the chambers 40 are provided in each layer. Each of the chambers 40 performs a predetermined process on the substrate W.

본 발명의 실시예에서는, 상기 챔버들(40)은 상기 기판(W)에 대해 세정 공정을 진행한다. 따라서, 상기 챔버들(40)은 기판(W)에 대해 약액을 이용하여 상기 기판(W)을 세정하는 모듈, 및 기판(W)에 대해 린스액을 이용하여 상기 기판(W)을 세정하는 모듈 등이 제공될 수 있다. In the embodiment of the present invention, the chambers 40 perform a cleaning process with respect to the substrate (W). Accordingly, the chambers 40 may be a module for cleaning the substrate W using a chemical liquid with respect to a substrate W, and a module for cleaning the substrate W using a rinse liquid with respect to the substrate W. And the like can be provided.

상기 인덱서(20)는 상기 기판(W)에 대한 유저(user)와 상기 공정처리부(30)와의 인터페이스를 목적으로 하는 부분이다. 상기 인덱서(20)는 상기 제 1 처리부(31) 및 상기 제 2 처리부(32)의 전단부에 설치되며, 카세트(C)가 놓여지는 로드포트(22) 및 인덱서 로봇(100)을 포함한다. 상기 인덱서 로봇(100)은 상기 로드포트(22)와 상기 공정처리부(30) 간의 기판 이송을 전담하게 된다. The indexer 20 is a part for the purpose of the interface between the user (user) to the substrate (W) and the process processor 30. The indexer 20 is installed at the front end of the first processing unit 31 and the second processing unit 32, and includes a load port 22 and an indexer robot 100 on which the cassette C is placed. The indexer robot 100 is responsible for transferring the substrate between the load port 22 and the process processor 30.

또한, 상기 제 1 처리부(31) 및 상기 제 2 처리부(32) 사이에는 기판 이송 유닛(35)이 배치된다. 상기 기판 이송 유닛(35)은 수평 이송 가이드(80), 및 수직 이송 가이드(82)에 의해 상기 제 1 방향(D1), 지면에 수직인 방향으로 이동할 수 있다. 따라서, 상기 기판 이송 유닛(35)은 상기 인덱서 로봇(100)으로부터 제공받은 상기 기판(W)을 상기 챔버(40) 측으로 이송할 수 있다. In addition, a substrate transfer unit 35 is disposed between the first processing unit 31 and the second processing unit 32. The substrate transfer unit 35 may move in the first direction D1 and in a direction perpendicular to the ground by the horizontal transfer guide 80 and the vertical transfer guide 82. Therefore, the substrate transfer unit 35 may transfer the substrate W provided from the indexer robot 100 to the chamber 40.

한편, 상기 기판 이송 유닛(35)이 이동하는 영역의 상부에는 팬필터 유 닛(60)이 구비될 수 있다. 상기 팬필터 유닛(60)은 내부에 필터를 구비하고, 하강 기류를 발생시켜 상기 영역을 정화시킨다. Meanwhile, the fan filter unit 60 may be provided at an upper portion of the region where the substrate transfer unit 35 moves. The fan filter unit 60 includes a filter therein and generates a downward airflow to purify the region.

상기한 구조를 갖는 상기 기판 처리 장치(10)는 오퍼레이터(또는 AGP)에 의해 상기 로드포트(22)의 카세트(C)에 상기 기판(W)이 제공되면, 상기 인덱서 로봇(100)은 상기 로드포트(22)에 적재된 카세트(C)로부터 상기 기판(W)을 인출하여 상기 기판(W)을 상기 기판 이송 유닛(35) 측으로 제공한다. If the substrate processing apparatus 10 having the above structure is provided with the substrate W in the cassette C of the load port 22 by an operator (or AGP), the indexer robot 100 may load the rod. The substrate W is taken out from the cassette C loaded in the port 22 to provide the substrate W to the substrate transfer unit 35.

상기 수평 이송 가이드(80)는 상기 제 1 방향(D1)으로 연장되고, 상기 수평 이송 가이드(80)는 이송 벨트(미도시)를 포함하는 수평 방향 구동부(미도시)와 결합하여 상기 기판 이송 유닛(35)의 이동 경로를 가이드 한다. 또한, 상기 수직 이송 가이드(82)는 지면과 수직인 방향으로 연장되고, 상기 수직 이송 가이드(82)는 이송 벨트(미도시)를 포함하는 수직 방향 구동부(미도시)와 결합하여 상기 기판 이송 유닛(35)의 이동 경로를 가이드 한다. The horizontal transfer guide 80 extends in the first direction D1, and the horizontal transfer guide 80 is coupled to a horizontal driving unit (not shown) including a transfer belt (not shown) to transfer the substrate. Guide the movement path of (35). In addition, the vertical transfer guide 82 extends in a direction perpendicular to the ground, and the vertical transfer guide 82 is coupled to a vertical driving unit (not shown) including a transfer belt (not shown) to transfer the substrate. Guide the movement path of (35).

따라서, 상기 기판 이송 유닛(35)은 상기 수평 이송 가이드(80), 상기 수평 방향 구동부, 상기 수직 이송 가이드(82), 및 상기 수직 방향 구동부에 의해 상기 제 1 방향(D1), 및 지면과 수직인 방향으로 이동할 수 있고, 그 결과, 상기 기판 이송 유닛(35)은 상기 제 1 방향(D1)으로 배치되고, 복수의 층으로 배치된 상기 챔버들(40)에 상기 기판(W)을 제공할 수 있다. Therefore, the substrate transfer unit 35 is perpendicular to the first direction D1 and the ground by the horizontal transfer guide 80, the horizontal direction driver, the vertical transfer guide 82, and the vertical direction driver. In the in-direction, and as a result, the substrate transfer unit 35 is disposed in the first direction D1 and provides the substrate W to the chambers 40 arranged in a plurality of layers. Can be.

도 2a는 도 1에 도시된 기판 처리 장치의 챔버 내부와 챔버에 기판을 이송하는 기판 이송 유닛을 나타낸 도면이고, 도 2b는 도 2a의 B부분을 확대하여 나타낸 도면이다. 2A is a view showing a substrate transfer unit for transferring a substrate into a chamber and a chamber of the substrate processing apparatus shown in FIG. 1, and FIG. 2B is an enlarged view of a portion B of FIG. 2A.

도 2a 및 도 2b를 참조하면, 챔버들(40)이 지면과 수직인 방향인 제 2 방향(D2)으로 배치되고, 각각의 챔버들(40)에서 기판(W)에 대해 세정 공정이 진행된다. 2A and 2B, the chambers 40 are disposed in a second direction D2 that is perpendicular to the ground, and a cleaning process is performed on the substrate W in each of the chambers 40. .

각각의 챔버들(40) 내부에는 기판 세정 유닛(105)이 구비된다. 상기 기판 세정 유닛(105)은 하우징(110), 기판 지지부재(120), 세정액 회수부재(130), 제 1 구동부(142), 그리고 노즐(144)을 포함한다.Each chamber 40 is provided with a substrate cleaning unit 105. The substrate cleaning unit 105 includes a housing 110, a substrate support member 120, a cleaning liquid recovery member 130, a first driver 142, and a nozzle 144.

상기 하우징(110)은 내부에 상기 기판(W)를 세정하는 공간을 제공한다. 상기 하우징(110)은 상부가 개방된 원통형상을 가진다. 하우징(110)의 개방된 상부는 상기 공간으로 상기 기판(W)이 출입되기 위한 통로로 사용된다.The housing 110 provides a space for cleaning the substrate W therein. The housing 110 has a cylindrical shape with an open top. An open upper portion of the housing 110 is used as a passage for the substrate W to enter and exit the space.

상기 기판 지지부재(120)는 공정시 하우징(110) 내부 공간에서 상기 기판(W)을 지지한다. 상기 기판 지지부재(120)로는 스핀척(spin chuck)이 사용된다. 상기 기판 지지부재(120)는 스핀헤드(spin head)(122) 및 회전축(rotating shaft)(124)을 포함한다. The substrate support member 120 supports the substrate W in an inner space of the housing 110 during the process. A spin chuck is used as the substrate support member 120. The substrate support member 120 includes a spin head 122 and a rotating shaft 124.

스핀헤드(122)는 대체로 판(plate) 형상을 갖고, 스핀헤드(122)는 하우징(110) 내부에서 회전가능하도록 설치된다. 스핀헤드(122)의 상부면에는 기판(W)을 상기 스핀헤드(122)에 지지시키는 척킹핀(chucking pin)(122a)들, 및 지지핀들(122b)이 설치된다. 척킹핀(122a)들은 공정시 웨이퍼(W) 가장자리 일부를 척킹(chucking)하여 스핀헤드(122) 상에 상기 기판(W)을 고정시킨다. The spin head 122 generally has a plate shape, and the spin head 122 is installed to be rotatable inside the housing 110. The upper surface of the spin head 122 is provided with chucking pins 122a and support pins 122b for supporting the substrate W to the spin head 122. The chucking pins 122a fix the substrate W on the spin head 122 by chucking a portion of the edge of the wafer W during the process.

회전축(124)은 스핀헤드(122)의 회전을 위해 제공된다. 회전축(124)의 상단은 스핀헤드(122)의 하부 중앙에 결합되고, 하단은 제 1 구동부(142)와 결합한다. The axis of rotation 124 is provided for rotation of the spin head 122. The upper end of the rotation shaft 124 is coupled to the lower center of the spin head 122, and the lower end is coupled to the first driver 142.

회수부재(130)는 공정시 기판(W)으로 공급되는 처리액을 회수한다. 회수부재(140)는 적어도 하나의 회수통들을 구비한다. 본 발명의 실시예에서는, 회수부재(130)는 제1 회수통(first recovery canister)(132) 및 제2 회수통(second recovery canister)(134)를 가진다. The recovery member 130 recovers the processing liquid supplied to the substrate W during the process. The recovery member 140 has at least one recovery container. In an embodiment of the present invention, recovery member 130 has a first recovery canister 132 and a second recovery canister 134.

제1 회수통(132)은 공정시 기판(W) 표면의 이물질을 제거하기 위한 세정액을 회수하고, 제2 회수통(134)은 공정시 기판(W) 표면에 잔류하는 세정액을 린스(rinse)하기 위한 린스액을 회수한다. 제1 회수통(132) 및 제2 회수통(134)은 공정시 기판(W)으로부터 비산되는 처리액이 유입되는 유입구(132a, 134a)가 상하로 적층되도록 설치된다. The first recovery container 132 recovers a cleaning liquid for removing foreign substances on the surface of the substrate W during the process, and the second recovery container 134 rinses the cleaning liquid remaining on the surface of the substrate W during the process. A rinse liquid for recovery is recovered. The first recovery container 132 and the second recovery container 134 are installed such that the inlets 132a and 134a into which the processing liquid scattered from the substrate W flows are stacked up and down.

제1 회수통(132)에는 세정액 회수라인(132b)이 연결되고, 제2 회수통(134)에는 린스액 회수라인(134b)이 연결된다. 세정액 회수라인(132b)은 공정시 제1 회수통(132) 내부로 회수된 세정액을 처리액 재생부(미도시됨)으로 회수시키고, 린스액 회수라인(134b)은 공정시 제2 회수통(134)으로 회수된 린스액으로 처리액 재생부로 회수시킨다. 처리액 재생부는 공정에 사용된 처리액을 재사용이 가능하도록 재생시키는 설비이다.The cleaning liquid recovery line 132b is connected to the first recovery container 132, and the rinse liquid recovery line 134b is connected to the second recovery container 134. The cleaning liquid recovery line 132b recovers the cleaning liquid recovered into the first recovery container 132 during the process to a processing liquid regeneration unit (not shown), and the rinse liquid recovery line 134b is connected to the second recovery container ( The rinse liquid recovered in step 134) is recovered to the treatment liquid regeneration unit. The treatment liquid regeneration unit is a facility for reusing the treatment liquid used in the process to be reused.

노즐(144)은 공정시 기판 지지부재(120)에 놓여진 기판 (W)의 처리면으로 처리액을 분사한다. 노즐(144)은 세정액, 린스액, 및 건조가스를 각각 분사할 수 있도록 복수개로 구비될 수 있다. 노즐(144)은 공정시 이송부재(미도시됨)에 의해 다양한 각도로 회전하거나 스윙 운동하면서 처리액을 분사할 수 있다. 여기서, 세정액으로는 다양한 종류의 약액(chemical)이 사용되고, 린스액으로는 초순 수(DIW:Deionized Water)가 사용되며, 건조가스로는 이소프로필 알코올 가스(IPA gas:Isopropyl alcohol gas)가 사용될 수 있다.The nozzle 144 sprays the processing liquid onto the processing surface of the substrate W placed on the substrate supporting member 120 during the process. The nozzle 144 may be provided in plurality in order to spray the cleaning liquid, the rinse liquid, and the dry gas, respectively. The nozzle 144 may spray the treatment liquid while rotating or swinging at various angles by a transfer member (not shown) during the process. Here, various kinds of chemicals are used as the cleaning liquid, deionized water (DIW) is used as the rinse liquid, and isopropyl alcohol gas (IPA gas) may be used as the drying gas. .

한편, 상기 기판 이송 유닛(35)은 몸체부(115), 상기 몸체부(115)와 결합하는 로봇암(118), 상기 기판(W)을 그립하는 포켓부(117), 상기 포켓부(117)에 구비되어 상기 기판(W)을 상기 포켓부(117)에 지지하는 지지부(111,112), 수직 이송 가이드(82)와 결합하여 상기 몸체부(115)를 지지하는 지지판(113), 및 상기 포켓부(117) 및 상기 로봇암(118)과 결합하여 상기 포켓부(117)에 지지된 상기 기판(W)을 반전시키는 제 2 구동부(116)를 포함한다. Meanwhile, the substrate transfer unit 35 includes a body 115, a robot arm 118 coupled with the body 115, a pocket 117 for gripping the substrate W, and the pocket 117. And a support plate (111, 112) for supporting the substrate (W) to the pocket portion 117, the support plate 113 for supporting the body portion 115 by combining with the vertical transfer guide 82, and the pocket And a second driving unit 116 coupled to the unit 117 and the robot arm 118 to invert the substrate W supported by the pocket unit 117.

기판 이송 유닛(35)은 상기 수직 이송 가이드(82)를 따라 제 2 방향(D2)으로 이동한 후, 상기 기판 이송 유닛(35)의 상기 포켓부(117) 및 상기 로봇암(117)이 기판 출입구(41)를 통해 상기 챔버(41) 내부로 출입한다.  After the substrate transfer unit 35 moves in the second direction D2 along the vertical transfer guide 82, the pocket part 117 and the robot arm 117 of the substrate transfer unit 35 move to the substrate. Entering and exiting the chamber 41 through the entrance 41.

상기 포켓부(117)에는 상기 기판(W)의 제 1 표면(S1)이 상방을 향하고, 제 2 표면(S2)가 하방을 향하도록 상기 기판(W)이 놓인다. 상기 제 1 표면(S1)은 상기 노즐(144)로부터 제공되는 처리액에 의해 처리되는 상기 기판(W)의 처리면이다. 상기 기판(W)이 상기 스핀 헤드(122)에 지지될 때, 상기 노즐(144)은 상기 스핀 헤드(122)의 상부에 위치하므로 상기 제 1 표면(S1)이 외부에 노출되도록 상기 스핀 헤드(122)에 위치하여야 한다. The substrate W is placed on the pocket portion 117 such that the first surface S1 of the substrate W faces upward and the second surface S2 faces downward. The first surface S1 is a processing surface of the substrate W to be processed by the processing liquid provided from the nozzle 144. When the substrate W is supported by the spin head 122, the nozzle 144 is positioned above the spin head 122, so that the first surface S1 is exposed to the outside so that the spin head may be exposed to the outside. 122).

도 3a는 도 2a에 도시된 기판 이송 유닛의 측면도이고, 도 3b는 도 3a의 B부분을 확대하여 나타낸 도면이다. 3A is a side view of the substrate transfer unit shown in FIG. 2A, and FIG. 3B is an enlarged view of a portion B of FIG. 3A.

도 3a 및 도 3b를 참조하면, 기판 이송 유닛(35)의 제 2 구동부(116)는 포켓 부(117)를 반전시킨다. 그 결과, 상기 포켓부(117)에 지지된 상기 기판(W)의 제 1 표면(S1)은 하방을 향하게 되고, 제 2 표면(S2)은 상방을 향하게 된다. 3A and 3B, the second driver 116 of the substrate transfer unit 35 inverts the pocket portion 117. As a result, the first surface S1 of the substrate W supported by the pocket portion 117 faces downward, and the second surface S2 faces upward.

상기 제 2 구동부(116)가 상기 포켓부(117)에 지지된 상기 기판(W)을 반전시킨 후, 상기 기판 이송 유닛(35)은 스핀 헤드(122) 위에 상기 기판(W)이 놓이도록 상기 기판(W)을 이송한다. 따라서, 상기 스핀 헤드(122) 위에 상기 제 1 표면(S1)이 상방을 향하도록 상기 기판(W)이 위치할 수 있고, 그 결과, 상기 제 1 표면(S1)은 상기 노즐(144)로부터 처리액을 공급받아 소정의 세정공정이 진행될 수 있다. After the second driving unit 116 inverts the substrate W supported by the pocket part 117, the substrate transfer unit 35 moves the substrate W so that the substrate W is placed on the spin head 122. The substrate W is transferred. Accordingly, the substrate W may be positioned above the spin head 122 such that the first surface S1 faces upward, and as a result, the first surface S1 is processed from the nozzle 144. A predetermined washing process may be performed by receiving the liquid.

이상 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허청구범위의 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다. Although described with reference to the above embodiments, those skilled in the art can be variously modified and changed within the scope of the present invention without departing from the spirit and scope of the invention described in the claims below. I can understand.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 기판 처리 장치의 평면도이다. 1 is a plan view of a substrate processing apparatus according to an embodiment of the present invention.

도 2a는 도 1에 도시된 기판 처리 장치의 챔버 내부와 챔버에 기판을 이송하는 기판 이송 유닛을 나타낸 도면이다. FIG. 2A is a view illustrating a substrate transfer unit for transferring a substrate into a chamber and a chamber of the substrate processing apparatus illustrated in FIG. 1.

도 2b는 도 2a의 A부분을 확대하여 나타낸 도면이다. FIG. 2B is an enlarged view of portion A of FIG. 2A.

도 3a는 도 2a에 도시된 기판 이송 유닛의 포켓부가 반전된 것을 나타낸 도면이다. 3A is a view showing that the pocket part of the substrate transfer unit shown in FIG. 2A is reversed.

도 3b는 도 3a의 B부분을 확대하여 나타낸 도면이다. FIG. 3B is an enlarged view of a portion B of FIG. 3A.

*도면의 주요부분에 대한 부호의 설명** Description of the symbols for the main parts of the drawings *

10 -- 기판 처리 장치 20 -- 인덱서10-Substrate Processing Unit 20-Indexer

30 -- 공정처리부 35 -- 기판 이송 유닛30-process section 35-substrate transfer unit

40 -- 챔버 80 -- 수평 이송 가이드40-chamber 80-horizontal transfer guide

82 -- 수직 이송 가이드 105 -- 기판 세정 유닛82-Vertical Transfer Guide 105-Substrate Cleaning Unit

116 -- 제 2 구동부 117 -- 포켓부116-Second drive section 117-Pocket section

118 -- 로봇암 120 -- 기판 지지부재118-Robot Arm 120-Board Support Member

122 -- 스핀 헤드 144 -- 노즐122-Spin Head 144-Nozzle

W -- 기판 W-Board

Claims (7)

삭제delete 기판을 처리하는 기판 처리 장치에 있어서, In the substrate processing apparatus which processes a board | substrate, 상기 기판을 처리하는 기판처리부; A substrate processing unit processing the substrate; 상기 기판을 외부로부터 제공받아 상기 기판처리부 측으로 제공하는 기판 이송 유닛; 및 A substrate transfer unit receiving the substrate from the outside and providing the substrate to the substrate processing unit; And 상기 기판 이송 유닛과 결합하여 상기 기판 이송 유닛의 이동 경로를 가이드하는 이송 가이드를 포함하되, It includes a transfer guide coupled to the substrate transfer unit to guide the movement path of the substrate transfer unit, 상기 기판 이송 유닛은, The substrate transfer unit, 베이스 몸체; Base body; 상기 베이스 몸체와 결합된 적어도 하나의 암부; At least one arm coupled to the base body; 상기 암부와 결합하고, 기판이 놓이는 포켓부; 및A pocket part coupled to the arm part and on which the substrate is placed; And 상기 포켓부 및 상기 암부 중 적어도 어느 하나와 결합되어 상기 포켓부에 놓인 상기 기판을 반전시키는 구동부를 포함하며,A driving part coupled to at least one of the pocket part and the arm part to invert the substrate placed on the pocket part, 상기 기판처리부는 다수의 챔버들을 포함하고, The substrate processing unit includes a plurality of chambers, 상기 다수의 챔버들 각각은, Each of the plurality of chambers, 기판을 처리하는 공정이 수행되는 공간을 제공하는 하우징; A housing providing a space in which a process of processing a substrate is performed; 상기 하우징 내부에 위치하는 스핀 척; A spin chuck positioned within the housing; 상기 스핀 척에 구비되어 상기 기판을 상기 스핀 척에 지지시키는 기판 지지부재; 및A substrate support member provided on the spin chuck to support the substrate on the spin chuck; And 상기 기판 지지부재에 지지된 상기 기판의 처리면 측으로 처리액을 제공하는 노즐을 포함하고, A nozzle providing a processing liquid to a processing surface side of the substrate supported by the substrate supporting member, 상기 기판 이송 유닛은 상기 스핀 척으로 상기 기판을 이송하는 것을 특징으로 하는 기판 처리 장치. The substrate transfer unit transfers the substrate to the spin chuck. 제 2 항에 있어서, 상기 노즐은 상기 스핀 척 상부에 위치하여 상기 스핀 척에 지지된 상기 기판의 상기 처리면 측으로 상기 처리액을 제공하고, 상기 기판 이송 유닛은 상기 처리면이 노출되도록 상기 기판을 상기 스핀 척 측으로 이송하는 것을 특징으로 하는 기판 처리 장치. 3. The substrate of claim 2, wherein the nozzle is positioned above the spin chuck to provide the processing liquid toward the processing surface of the substrate supported by the spin chuck, and the substrate transfer unit moves the substrate so that the processing surface is exposed. The substrate processing apparatus characterized by the above-mentioned. 기판을 처리하는 기판 처리 장치에 있어서, In the substrate processing apparatus which processes a board | substrate, 상기 기판을 처리하는 기판처리부; A substrate processing unit processing the substrate; 상기 기판을 외부로부터 제공받아 상기 기판처리부 측으로 제공하는 기판 이송 유닛; 및 A substrate transfer unit receiving the substrate from the outside and providing the substrate to the substrate processing unit; And 상기 기판 이송 유닛과 결합하여 상기 기판 이송 유닛의 이동 경로를 가이드하는 이송 가이드를 포함하되, It includes a transfer guide coupled to the substrate transfer unit to guide the movement path of the substrate transfer unit, 상기 기판 이송 유닛은, The substrate transfer unit, 베이스 몸체; Base body; 상기 베이스 몸체와 결합된 적어도 하나의 암부; At least one arm coupled to the base body; 상기 암부와 결합하고, 기판이 놓이는 포켓부; 및A pocket part coupled to the arm part and on which the substrate is placed; And 상기 포켓부 및 상기 암부 중 적어도 어느 하나와 결합되어 상기 포켓부에 놓인 상기 기판을 반전시키는 구동부를 포함하며,A driving part coupled to at least one of the pocket part and the arm part to invert the substrate placed on the pocket part, 상기 기판처리부는, The substrate processing unit, 제 1 방향 및 상기 제 1 방향과 수직인 제 2 방향으로 배치된 챔버들을 구비하는 제 1 처리부; 및A first processor having chambers arranged in a first direction and a second direction perpendicular to the first direction; And 상기 제 1 처리부와 이격되어 상기 제 1 처리부와 마주보고, 상기 제 1 방향 및 상기 제 2 방향으로 배치된 챔버들을 구비하는 제 2 처리부를 포함하고, A second processing part spaced apart from the first processing part and facing the first processing part and having chambers disposed in the first direction and the second direction, 상기 기판 이송 유닛은 상기 제 1 처리부 및 상기 제 2 처리부 사이에서 상기 제 1 방향 및 상기 제 2 방향으로 연장된 상기 이송 가이드를 따라 이동하는 것을 특징으로 하는 기판 처리 장치. And the substrate transfer unit moves along the transfer guide extending in the first direction and the second direction between the first processor and the second processor. 삭제delete 기판을 처리하는 기판 처리 방법에 있어서, In the substrate processing method of processing a substrate, 상기 기판이 놓이는 포켓부와 상기 포켓부와 결합되어 상기 포켓부를 반전시키는 구동부를 구비하는 기판 이송 유닛을 이용하여 기판을 기판처리부 측으로 이송하는 단계; 및Transferring the substrate to the substrate processing unit by using a substrate transfer unit having a pocket on which the substrate is placed and a driving unit coupled to the pocket and inverting the pocket; And 상기 기판 이송 유닛에 의해 이송된 상기 기판을 상기 기판처리부에서 처리하는 단계를 포함하되, Processing the substrate transferred by the substrate transfer unit in the substrate processing unit; 상기 기판을 기판처리부 측으로 이송하는 단계에서, 상기 포켓부에 놓인 상기 기판은 상기 구동부에 의해 반전되어 상기 기판처리부 측으로 이송되고,In the step of transferring the substrate to the substrate processing unit side, the substrate placed in the pocket portion is inverted by the driving unit is transferred to the substrate processing unit side, 상기 기판을 상기 기판처리부에서 처리하는 단계는, The step of processing the substrate in the substrate processing unit, 상기 기판처리부 내부에 구비된 스핀척에 상기 기판을 지지하는 단계; 및Supporting the substrate on a spin chuck provided in the substrate processing unit; And 상기 기판의 처리면 측으로 상기 기판의 상부에서 처리액을 제공하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 기판 처리 방법. And providing a processing liquid from an upper portion of the substrate to a processing surface side of the substrate. 제 6 항에 있어서, 상기 기판 이송 유닛은 상기 처리면이 노출되도록 상기 기판을 상기 스핀 척 측으로 이송하는 것을 특징으로 하는 기판 처리 방법.7. The substrate processing method of claim 6, wherein the substrate transfer unit transfers the substrate to the spin chuck so that the processing surface is exposed.
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