KR20080051819A - Method for manufacturing organic light emitting device - Google Patents

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허종무
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Abstract

A method for manufacturing an organic light emitting display apparatus is provided to simplify a manufacturing process by patterning an ohmic contact member together with a signal line. A method for manufacturing an organic light emitting display apparatus includes the steps of: forming a switching control electrode, a driving voltage line, and a driving output electrode on a substrate(110); forming a driving semiconductor on an upper part or a lower part of the driving voltage line and driving output electrode; forming an ohmic contact member between the driving voltage line and driving output electrode and the driving semiconductor; forming a gate insulating film on an upper part of the driving voltage line, driving output electrode, and driving semiconductor; forming a switching semiconductor on the gate insulating film; forming a data line including a switching input electrode, a switching output electrode, and a driving control electrode on the gate insulating film and the switching semiconductor; forming a first electrode connected to the driving output electrode; forming a light emitting member on the first electrode; and forming a second electrode on the light emitting member.

Description

유기 발광 표시 장치의 제조 방법{METHOD FOR MANUFACTURING ORGANIC LIGHT EMITTING DEVICE}Manufacturing method of organic light emitting display device {METHOD FOR MANUFACTURING ORGANIC LIGHT EMITTING DEVICE}

도 1은 본 발명의 한 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치의 등가 회로도이고, 1 is an equivalent circuit diagram of an organic light emitting diode display according to an exemplary embodiment of the present invention.

도 2는 본 발명의 한 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치의 배치도이고, 2 is a layout view of an organic light emitting diode display according to an exemplary embodiment of the present invention.

도 3은 도 2의 유기 발광 표시 장치를 III-III 선을 따라 자른 단면도이다.3 is a cross-sectional view of the organic light emitting diode display of FIG. 2 taken along line III-III.

도 4 내지 도 10은 도 2 및 도 3의 유기 발광 표시 장치를 본 발명의 한 실시예에 따라 제조하는 방법을 차례로 도시한 단면도이고, 4 to 10 are cross-sectional views sequentially illustrating a method of manufacturing the organic light emitting diode display of FIGS. 2 and 3 according to an exemplary embodiment of the present invention.

도 11은 본 발명의 다른 한 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치의 배치도이고, 11 is a layout view of an organic light emitting diode display according to another exemplary embodiment.

도 12는 도 11의 유기 발광 표시 장치를 XI-XI 선을 따라 자른 단면도이고,FIG. 12 is a cross-sectional view of the organic light emitting diode display of FIG. 11 taken along the line XI-XI. FIG.

도 13 내지 도 19는 도 11 및 도 12의 유기 발광 표시 장치를 본 발명의 한 실시예에 따라 제조하는 방법을 차례로 도시한 단면도이다.13 to 19 are cross-sectional views sequentially illustrating a method of manufacturing the organic light emitting diode display of FIGS. 11 and 12 according to an exemplary embodiment of the present invention.

<도면 부호의 설명><Description of Drawing>

110: 절연 기판 121: 게이트선110: insulating substrate 121: gate line

124a: 스위칭 제어 전극 124b: 구동 제어 전극124a: switching control electrode 124b: drive control electrode

127: 유지 전극 129: 게이트선의 끝 부분127: sustain electrode 129: end of gate line

140, 142: 게이트 절연막 154a: 스위칭 반도체140 and 142: gate insulating film 154a: switching semiconductor

154b: 구동 반도체 163a,163b,165a,165b: 저항성 접촉 부재154b: driving semiconductors 163a, 163b, 165a, and 165b: ohmic contacts

171: 데이터선 172: 구동 전압선171: data line 172: driving voltage line

173a: 스위칭 입력 전극 173b: 구동 입력 전극173a: switching input electrode 173b: drive input electrode

175a: 스위칭 출력 전극 175b: 구동 출력 전극175a: switching output electrode 175b: driving output electrode

179: 데이터선의 끝 부분 81, 82: 접촉 보조 부재179: end of data line 81, 82: contact auxiliary member

85: 연결 부재85: connecting member

181, 182, 184, 185a, 185b: 접촉 구멍 181, 182, 184, 185a, 185b: contact hole

191: 화소 전극 270: 공통 전극191: pixel electrode 270: common electrode

361: 격벽 370: 유기 발광 부재 361: partition 370: organic light emitting member

PR: 감광막 PR: photoresist

Qs: 스위칭 트랜지스터 Qd: 구동 트랜지스터Qs: switching transistor Qd: driving transistor

LD: 유기 발광 다이오드 Vss: 공통 전압LD: organic light emitting diode Vss: common voltage

Cst: 유지 축전기Cst: retaining capacitor

본 발명은 유기 발광 표시 장치의 제조 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a method of manufacturing an organic light emitting display device.

최근 모니터 또는 텔레비전 등의 경량화 및 박형화가 요구되고 있으며, 이러한 요구에 따라 음극선관(cathode ray tube, CRT)이 액정 표시 장치(liquid crystal display, LCD)로 대체되고 있다.Recently, there is a demand for weight reduction and thinning of a monitor or a television, and according to such a demand, a cathode ray tube (CRT) has been replaced by a liquid crystal display (LCD).

그러나, 액정 표시 장치는 수발광 소자로서 별도의 백라이트(backlight)가 필요할 뿐만 아니라, 응답 속도 및 시야각 등에서 많은 문제점이 있다.However, the liquid crystal display device requires not only a separate backlight as a light emitting device, but also has many problems in response speed and viewing angle.

최근 이러한 문제점을 극복할 수 있는 표시 장치로서, 유기 발광 표시 장치(organic light emitting diode display, OLED display)가 주목 받고 있다. Recently, as a display device capable of overcoming such a problem, an organic light emitting diode display (OLED display) has attracted attention.

유기 발광 표시 장치는 두 개의 전극과 그 사이에 위치하는 발광층을 포함하며, 하나의 전극으로부터 주입된 전자(electron)와 다른 전극으로부터 주입된 정공(hole)이 발광층에서 결합하여 여기자(exciton)를 형성하고, 여기자가 에너지를 방출하면서 발광한다.The organic light emitting diode display includes two electrodes and a light emitting layer interposed therebetween, and electrons injected from one electrode and holes injected from another electrode are combined in the light emitting layer to form excitons. The excitons emit light while releasing energy.

유기 발광 표시 장치는 자체발광형으로 별도의 광원이 필요 없으므로 소비전력 측면에서 유리할 뿐만 아니라, 응답 속도, 시야각 및 대비비(contrast ratio)도 우수하다.The OLED display is self-luminous and does not require a separate light source, which is advantageous in terms of power consumption, and also has excellent response speed, viewing angle, and contrast ratio.

유기 발광 표시 장치는 구동 방식에 따라 단순 매트릭스 방식의 유기 발광 표시 장치(passive matrix OLED display)와 능동 매트릭스 방식의 유기 발광 표시 장치(active matrix OLED display)로 나눌 수 있다. The organic light emitting diode display may be classified into a passive matrix OLED display of a simple matrix type and an active matrix OLED display of an active matrix type according to a driving method.

이 중, 능동 매트릭스 방식의 유기 발광 표시 장치는 신호선에 연결되어 데이터 전압을 제어하는 스위칭 박막 트랜지스터(switching thin film transistor)와 이로부터 전달받은 데이터 전압을 게이트 전압으로 인가하여 발광 소자에 전류를 흘리는 구동 박막 트랜지스터(driving thin film transistor)를 포함한다. Among these, an active matrix type organic light emitting display device is a driving thin film transistor that is connected to a signal line to control a data voltage and a data voltage received therefrom as a gate voltage to drive current through the light emitting device. And driving thin film transistors.

그런데 유기 발광 표시 장치가 최적의 특성을 나타내기 위하여 스위칭 박막 트랜지스터와 구동 박막 트랜지스터에 요구되는 특성이 다르다. 스위칭 박막 트랜지스터는 높은 온/오프 전류 비(Ion/Ioff) 특성이 요구되는 반면, 구동 박막 트랜지스터는 발광 소자에 충분한 전류를 흘릴 수 있도록 높은 이동성(mobility) 및 안정성(stability)이 요구된다.However, the characteristics required for the switching thin film transistor and the driving thin film transistor are different in order for the organic light emitting diode display to exhibit optimal characteristics. Switching thin film transistors require high on / off current ratio (I on / I off ) characteristics, while driving thin film transistors require high mobility and stability to allow sufficient current to flow through the light emitting device.

스위칭 박막 트랜지스터에 오프 전류가 증가하는 경우 구동 박막 트랜지스터로 전달되는 데이터 전압이 감소되어 크로스 토크(cross talk)가 발생할 수 있고, 구동 박막 트랜지스터가 낮은 이동도 및 안정성을 가지는 경우 발광 소자에 흐르는 전류량이 감소하여 발광량이 감소하고 이미지 고착(image sticking) 및 수명 단축이 될 수 있다. 특히, 제조 공정시에 반도체가 손상되어 구동 박막 트랜지스터의 동작이 저하될 수 있다.When the off current increases in the switching thin film transistor, the data voltage transmitted to the driving thin film transistor decreases, thereby causing cross talk. When the driving thin film transistor has low mobility and stability, the amount of current flowing through the light emitting device is reduced. The amount of light emitted can be reduced, resulting in image sticking and shortening of lifespan. In particular, the semiconductor may be damaged during the manufacturing process, thereby degrading the operation of the driving thin film transistor.

따라서 본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는 이러한 문제점을 해결하기 위한 것으로서 스위칭 박막 트랜지스터 및 구동 박막 트랜지스터에 요구되는 특성을 동시에 충족하여 유기 발광 표시 장치의 특성을 개선하는 것이다. Accordingly, the technical problem to be solved by the present invention is to solve the above problems and to simultaneously meet the characteristics required for the switching thin film transistor and the driving thin film transistor, thereby improving the characteristics of the organic light emitting display device.

본 발명의 한 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치의 제조 방법은 기판 위에 스위칭 제어 전극, 구동 전압선 및 구동 출력 전극을 형성하는 단계, 구동 전압선 및 구동 출력 전극 상부 또는 하부에 구동 반도체를 형성하는 단계, 구동 전압선 및 구동 출력 전극과 구동 반도체 사이에 저항성 접촉 부재를 형성하는 단계, 구동 전압선, 구동 출력 전극 및 구동 반도체 상부에 게이트 절연막을 형성하는 단계, 게이트 절연막 위에 스위칭 반도체를 형성하는 단계, 게이트 절연막 및 스위칭 반도체 위에 스위칭 입력 전극을 포함하는 데이터선, 스위칭 출력 전극 및 구동 제어 전극을 형성하는 단계, 구동 출력 전극과 연결되어 있는 제1 전극을 형성하는 단계, 제1 전극 위에 발광 부재를 형성하는 단계, 그리고 발광 부재 위에 제2 전극을 형성하는 단계를 포함한다. 이때, 저항성 접촉 부재를 형성하기 위해서는 기판 상부에 감광막을 선택적으로 형성하고, 기판 및 감광막 위에 저항성 접촉층을 적층한 다음 감광막 상부의 저항성 접촉층에 균열을 발생시킨다. 이어, 균열을 통하여 감광막에 용제를 침투시켜, 감광막 및 그 상부의 저항성 접촉층을 제거한다.According to an embodiment of the present invention, a method of manufacturing an organic light emitting display device may include forming a switching control electrode, a driving voltage line, and a driving output electrode on a substrate, forming a driving semiconductor on or below the driving voltage line and the driving output electrode; Forming an ohmic contact between the driving voltage line and the driving output electrode and the driving semiconductor, forming a gate insulating film on the driving voltage line, the driving output electrode and the driving semiconductor, forming a switching semiconductor on the gate insulating film, a gate insulating film, and Forming a data line including a switching input electrode, a switching output electrode, and a driving control electrode on the switching semiconductor; forming a first electrode connected to the driving output electrode; forming a light emitting member on the first electrode; And forming a second electrode on the light emitting member. . At this time, in order to form the ohmic contact member, a photoresist film is selectively formed on the substrate, the ohmic contact layer is laminated on the substrate and the photoresist film, and then a crack is generated in the ohmic contact layer on the photoresist film. Then, the solvent penetrates the photosensitive film through the crack to remove the photosensitive film and the ohmic contact layer thereon.

스위칭 제어 전극, 구동 전압선 및 구동 출력 전극은 저항성 접촉 부재와 함께 형성할 수 있으며, 이를 위해서는 기판 및 저항성 접촉층 상부 또는 하부에 금속층을 적층하고 금속층의 일부를 상기 저항성 접촉층과 함께 제거하여 형성하는 것이 바람직하다.The switching control electrode, the driving voltage line, and the driving output electrode may be formed together with the ohmic contact member. The switching control electrode, the driving voltage line, and the driving output electrode may be formed by stacking a metal layer on or under the substrate and the ohmic contact layer and removing a part of the metal layer together with the ohmic contact layer. It is preferable.

저항성 접촉층은 100 내지 500도 범위의 온도에서 적층하고, 1,000 내지 3,000?? 범위의 두께로 적층하는 것이 바람직하다.The ohmic contact layer is laminated at a temperature in the range of 100 to 500 degrees, and 1,000 to 3,000 ° C. It is preferable to laminate | stack to the thickness of the range.

저항성 접촉층은 미세 결정으로 형성하는 것이 바람직하다.The ohmic contact layer is preferably formed of fine crystals.

저항성 접촉층을 적층한 다음 열처리 공정을 실시하는 단계를 더 포함하고, 기판을 냉각시키는 단계를 더 포함할 수 있다.The method may further include performing a heat treatment process after stacking the ohmic contact layer, and further cooling the substrate.

이하, 첨부한 도면을 참고로 하여 본 발명의 실시예에 대하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다. 그러나 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예에 한정되지 않는다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings so that those skilled in the art may easily implement the present invention. As those skilled in the art would realize, the described embodiments may be modified in various different ways, all without departing from the spirit or scope of the present invention.

먼저 본 발명의 한 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치에 대하여 도 1을 참고로 상세하게 설명한다.First, an organic light emitting diode display according to an exemplary embodiment of the present invention will be described in detail with reference to FIG. 1.

도 1은 본 발명의 한 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치의 등가 회로도이다.1 is an equivalent circuit diagram of an organic light emitting diode display according to an exemplary embodiment of the present invention.

도 1을 참고하면, 본 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치는 복수의 신호선(121, 171, 172)과 이들에 연결되어 있으며 대략 행렬(matrix)의 형태로 배열된 복수의 화소(pixel)를 포함한다.Referring to FIG. 1, the organic light emitting diode display according to the present exemplary embodiment includes a plurality of signal lines 121, 171, and 172, and a plurality of pixels connected to them and arranged in a substantially matrix form. do.

신호선은 게이트 신호(또는 주사 신호)를 전달하는 복수의 게이트선(gate line)(121), 데이터 신호를 전달하는 복수의 데이터선(data line)(171) 및 구동 전압을 전달하는 복수의 구동 전압선(driving voltage line)(172)을 포함한다. 게이트선(121)은 대략 행 방향으로 뻗어 있으며 서로가 거의 평행하고 데이터선(171)과 구동 전압선(172)은 대략 열 방향으로 뻗어 있으며 서로가 거의 평행하다.The signal line includes a plurality of gate lines 121 for transmitting a gate signal (or scan signal), a plurality of data lines 171 for transmitting a data signal, and a plurality of driving voltage lines for transmitting a driving voltage. and a driving voltage line 172. The gate lines 121 extend substantially in the row direction, and are substantially parallel to each other, and the data line 171 and the driving voltage line 172 extend substantially in the column direction, and are substantially parallel to each other.

각 화소(PX)는 스위칭 트랜지스터(switching transistor)(Qs), 구동 트랜지스터(driving transistor)(Qd), 유지 축전기(storage capacitor)(Cst) 및 유기 발광 다이오드(organic light emitting diode, OLED)(LD)를 포함한다.Each pixel PX includes a switching transistor Qs, a driving transistor Qd, a storage capacitor Cst, and an organic light emitting diode OLED. It includes.

스위칭 트랜지스터(Qs)는 제어 단자(control terminal), 입력 단자(input terminal) 및 출력 단자(output terminal)를 가지는데, 제어 단자는 게이트선(121)에 연결되어 있고, 입력 단자는 데이터선(171)에 연결되어 있으며, 출력 단자는 구 동 트랜지스터(Qd)에 연결되어 있다. 스위칭 트랜지스터(Qs)는 게이트선(121)에 인가되는 주사 신호에 응답하여 데이터선(171)에 인가되는 데이터 신호를 구동 트랜지스터(Qd)에 전달한다.The switching transistor Qs has a control terminal, an input terminal, and an output terminal. The control terminal is connected to the gate line 121, and the input terminal is a data line 171. ), And the output terminal is connected to the driving transistor (Qd). The switching transistor Qs transfers the data signal applied to the data line 171 to the driving transistor Qd in response to the scan signal applied to the gate line 121.

구동 트랜지스터(Qd) 또한 제어 단자, 입력 단자 및 출력 단자를 가지는데, 제어 단자는 스위칭 트랜지스터(Qs)에 연결되어 있고, 입력 단자는 구동 전압선(172)에 연결되어 있으며, 출력 단자는 유기 발광 다이오드(LD)에 연결되어 있다. 구동 트랜지스터(Qd)는 제어 단자와 출력 단자 사이에 걸리는 전압에 따라 그 크기가 달라지는 출력 전류(ILD)를 흘린다.The driving transistor Qd also has a control terminal, an input terminal and an output terminal, the control terminal being connected to the switching transistor Qs, the input terminal being connected to the driving voltage line 172, and the output terminal being the organic light emitting diode. It is connected to (LD). The driving transistor Qd flows an output current I LD whose magnitude varies depending on the voltage applied between the control terminal and the output terminal.

축전기(Cst)는 구동 트랜지스터(Qd)의 제어 단자와 입력 단자 사이에 연결되어 있다. 이 축전기(Cst)는 구동 트랜지스터(Qd)의 제어 단자에 인가되는 데이터 신호를 충전하고 스위칭 트랜지스터(Qs)가 턴 오프(turn-off)된 뒤에도 이를 유지한다.The capacitor Cst is connected between the control terminal and the input terminal of the driving transistor Qd. The capacitor Cst charges the data signal applied to the control terminal of the driving transistor Qd and maintains it even after the switching transistor Qs is turned off.

유기 발광 다이오드(LD)는 구동 트랜지스터(Qd)의 출력 단자에 연결되어 있는 애노드(anode)와 공통 전압(Vss)에 연결되어 있는 캐소드(cathode)를 가진다. 유기 발광 다이오드(LD)는 구동 트랜지스터(Qd)의 출력 전류(ILD)에 따라 세기를 달리하여 발광함으로써 영상을 표시한다.The organic light emitting diode LD has an anode connected to the output terminal of the driving transistor Qd and a cathode connected to the common voltage Vss. The organic light emitting diode LD displays an image by emitting light having a different intensity depending on the output current I LD of the driving transistor Qd.

스위칭 트랜지스터(Qs) 및 구동 트랜지스터(Qd)는 n-채널 전계 효과 트랜지스터(field effect transistor, FET)이다. 그러나 스위칭 트랜지스터(Qs)와 구동 트랜지스터(Qd) 중 적어도 하나는 p-채널 전계 효과 트랜지스터일 수 있다. 또한, 트랜지스터(Qs, Qd), 축전기(Cst) 및 유기 발광 다이오드(LD)의 연결 관계가 바뀔 수 있다.The switching transistor Qs and the driving transistor Qd are n-channel field effect transistors (FETs). However, at least one of the switching transistor Qs and the driving transistor Qd may be a p-channel field effect transistor. In addition, the connection relationship between the transistors Qs and Qd, the capacitor Cst, and the organic light emitting diode LD may be changed.

이하 도 1에 도시한 유기 발광 표시 장치에 대하여 도면을 참조하여 다양한 실시예를 보인다. Hereinafter, various embodiments of the organic light emitting diode display illustrated in FIG. 1 will be described with reference to the accompanying drawings.

도면에서 여러 층 및 영역을 명확하게 표현하기 위하여 두께를 확대하여 나타내었다. 명세서 전체를 통하여 유사한 부분에 대해서는 동일한 도면 부호를 붙였다. 층, 막, 영역, 판 등의 부분이 다른 부분 "위에" 있다고 할 때, 이는 다른 부분 "바로 위에" 있는 경우뿐 아니라 그 중간에 또 다른 부분이 있는 경우도 포함한다. 반대로 어떤 부분이 다른 부분 "바로 위에" 있다고 할 때에는 중간에 다른 부분이 없는 것을 뜻한다.In the drawings, the thickness of layers, films, panels, regions, etc., are exaggerated for clarity. Like parts are designated by like reference numerals throughout the specification. When a part of a layer, film, region, plate, etc. is said to be "on" another part, this includes not only the other part being "right over" but also another part in the middle. On the contrary, when a part is "just above" another part, there is no other part in the middle.

[실시예 1]Example 1

그러면 도 1에 도시한 유기 발광 표시 장치의 상세 구조에 대하여 도 2 및 도 3을 도 1과 함께 참고하여 상세하게 설명한다.Next, detailed structures of the organic light emitting diode display illustrated in FIG. 1 will be described in detail with reference to FIGS. 2 and 3.

도 2는 본 발명의 한 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치의 배치도이고, 도 3은 도 2의 유기 발광 표시 장치를 III-III 선을 따라 자른 단면도이다.FIG. 2 is a layout view of an organic light emitting diode display according to an exemplary embodiment, and FIG. 3 is a cross-sectional view of the organic light emitting diode display of FIG. 2 taken along line III-III.

투명한 유리 또는 플라스틱 따위로 만들어진 절연 기판(110) 위에 스위칭 제어 전극(124a) 및 끝 부분(129)을 포함하는 게이트선(121), 구동 입력 전극(173b)을 포함하는 구동 전압선(172) 및 구동 출력 전극(175b)이 형성되어 있다.A gate line 121 including a switching control electrode 124a and an end portion 129, a driving voltage line 172 including a driving input electrode 173b, and a driving on an insulating substrate 110 made of transparent glass or plastic. The output electrode 175b is formed.

게이트선(121)은 게이트 신호를 전달하며 주로 가로 방향으로 뻗어 있다. 각 게이트선(121)은 다른 층 또는 외부 구동 회로와의 접속을 위하여 면적이 넓은 끝 부분(129)을 포함하며, 스위칭 제어 전극(124a)은 게이트선(121)으로부터 위로 뻗어 있다. 게이트 신호를 생성하는 게이트 구동 회로(도시하지 않음)가 기판(110) 위에 집적되어 있는 경우 게이트선(121)이 연장되어 게이트 구동 회로와 직접 연결될 수 있다.The gate line 121 transmits a gate signal and mainly extends in a horizontal direction. Each gate line 121 includes a wide end portion 129 for connection with another layer or an external driving circuit, and the switching control electrode 124a extends upward from the gate line 121. When a gate driving circuit (not shown) generating a gate signal is integrated on the substrate 110, the gate line 121 may extend to be directly connected to the gate driving circuit.

구동 전압선(172)은 구동 전압을 전달하며 주로 가로 방향으로 뻗어 게이트선(121)과 평행하다. 각 구동 전압선(172)은 복수의 구동 입력 전극(173b)을 포함한다.The driving voltage line 172 transfers a driving voltage and mainly extends in a horizontal direction to be parallel to the gate line 121. Each driving voltage line 172 includes a plurality of driving input electrodes 173b.

구동 출력 전극(175b)은 게이트선(121) 및 구동 전압선(172)과 분리되어 있다.The driving output electrode 175b is separated from the gate line 121 and the driving voltage line 172.

게이트선(121), 구동 전압선(172) 및 구동 출력 전극(175b)은 알루미늄(Al)이나 알루미늄 합금 등 알루미늄 계열 금속, 은(Ag)이나 은 합금 등 은 계열 금속, 구리(Cu)나 구리 합금 등 구리 계열 금속, 몰리브덴(Mo)이나 몰리브덴 합금 등 몰리브덴 계열 금속, 크롬(Cr), 탄탈륨(Ta) 및 티타늄(Ti) 따위로 만들어질 수 있다. 그러나 이들은 물리적 성질이 다른 두 개의 도전막(도시하지 않음)을 포함하는 다중막 구조를 가질 수도 있다. The gate line 121, the driving voltage line 172, and the driving output electrode 175b may be formed of aluminum-based metal such as aluminum (Al) or aluminum alloy, silver-based metal such as silver (Ag) or silver alloy, copper (Cu), or copper alloy. Copper-based metal, molybdenum-based metals such as molybdenum (Mo) and molybdenum alloys, and may be made of chromium (Cr), tantalum (Ta) and titanium (Ti). However, they may have a multilayer structure including two conductive films (not shown) having different physical properties.

게이트선(121), 구동 전압선(172) 및 구동 출력 전극(175b)의 측면은 기판(110) 면에 대하여 경사져 있으며 그 경사각은 약 30ㅀ내지 약 80ㅀ인 것이 바람직하다.Side surfaces of the gate line 121, the driving voltage line 172, and the driving output electrode 175b are inclined with respect to the surface of the substrate 110, and the inclination angle thereof is preferably about 30 kPa to about 80 kPa.

서로 인접한 구동 입력 전극(173b) 및 구동 출력 전극(175b) 상의 일부에는 각각 복수 쌍의 저항성 접촉 부재(ohmic contact)(163b, 165b)가 형성되어 있다. 저항성 접촉 부재(163b, 165b)는 섬 모양이며, 인(P) 따위의 n형 불순물이 고농도 로 도핑되어 있는 미세 결정질 규소 또는 다결정 규소의 물질로 만들어질 수 있다.A plurality of pairs of ohmic contacts 163b and 165b are formed on portions of the driving input electrode 173b and the driving output electrode 175b which are adjacent to each other. The ohmic contacts 163b and 165b may have an island shape, and may be made of a material of fine crystalline silicon or polycrystalline silicon doped with a high concentration of n-type impurities such as phosphorus (P).

각 쌍의 저항성 접촉 부재(ohmic contact)(163b, 165b) 및 이들 사이의 기판(110) 상부에는 미세 결정질 규소(microcrystalline silicon) 또는 다결정 규소(polycrystalline silicon)로 만들어진 구동 반도체(154b)가 형성되어 있다.A drive semiconductor 154b made of microcrystalline silicon or polycrystalline silicon is formed on each pair of ohmic contacts 163b and 165b and the substrate 110 therebetween. .

구동 반도체(154b)는 구동 입력 전극(173b) 및 구동 출력 전극(175b)과 일부 중첩되어 있으며, 저항성 접촉 부재(163b, 165b)는 구동 반도체(154b)와 구동 입력 전극(173b) 및 구동 출력 전극(175b)이 중첩하는 사이에만 위치한다.The driving semiconductor 154b partially overlaps the driving input electrode 173b and the driving output electrode 175b, and the ohmic contacts 163b and 165b may include the driving semiconductor 154b, the driving input electrode 173b, and the driving output electrode. Located only between 175b overlaps.

게이트선(121), 구동 전압선(172), 구동 출력 전극(175b) 및 구동 반도체(154b) 위에는 게이트 절연막(140)이 형성되어 있다.The gate insulating layer 140 is formed on the gate line 121, the driving voltage line 172, the driving output electrode 175b, and the driving semiconductor 154b.

게이트 절연막(140) 위에는 수소화 비정질 규소로 만들어진 복수의 스위칭 반도체(154a)가 형성되어 있다. 스위칭 반도체(154a)는 스위칭 제어 전극(124a)과 중첩되어 있다.A plurality of switching semiconductors 154a made of hydrogenated amorphous silicon are formed on the gate insulating layer 140. The switching semiconductor 154a overlaps the switching control electrode 124a.

스위칭 반도체(154a) 및 게이트 절연막(140) 위에는 스위칭 입력 전극(173a) 및 끝 부분(179)을 포함하는 데이터선(171), 스위칭 출력 전극(175a) 및 구동 제어 전극(124b)이 형성되어 있다.A data line 171 including a switching input electrode 173a and an end portion 179, a switching output electrode 175a, and a driving control electrode 124b are formed on the switching semiconductor 154a and the gate insulating layer 140. .

데이터선(171)은 데이터 신호를 전달하며 주로 세로 방향으로 뻗어 게이트선(121) 및 구동 전압선(172)과 교차한다. 각 데이터선(171)은 스위칭 제어 전극(124a)을 향하여 뻗은 복수의 스위칭 입력 전극(switching input electrode)(173a)과 다른 층 또는 외부 구동 회로와의 접속을 위하여 면적이 넓은 끝 부분(179)을 포함한다. 데이터 신호를 생성하는 데이터 구동 회로(도시하지 않 음)가 기판(110) 위에 집적되어 있는 경우, 데이터선(171)이 연장되어 데이터 구동 회로와 직접 연결될 수 있다.The data line 171 transmits a data signal and mainly extends in the vertical direction to cross the gate line 121 and the driving voltage line 172. Each data line 171 has a wide end portion 179 for connection with a plurality of switching input electrodes 173a extending toward the switching control electrode 124a and another layer or an external driving circuit. Include. When a data driving circuit (not shown) generating a data signal is integrated on the substrate 110, the data line 171 may be extended to be directly connected to the data driving circuit.

스위칭 출력 전극(175a)은 데이터선(171)과 분리되어 있다. 스위칭 입력 전극(173a) 및 스위칭 출력 전극(175a)은 스위칭 반도체(154a)와 일부 중첩되어 있으며, 스위칭 반도체(154a)를 중심으로 서로 마주한다.The switching output electrode 175a is separated from the data line 171. The switching input electrode 173a and the switching output electrode 175a partially overlap the switching semiconductor 154a and face each other with respect to the switching semiconductor 154a.

구동 제어 전극(124b)은 섬형이며, 가로 방향으로 길게 뻗은 유지 전극(storage capacitor)(127)을 포함한다.The drive control electrode 124b is island-shaped and includes a storage capacitor 127 extending in the horizontal direction.

구동 제어 전극(124b)은 구동 입력 전극(173b)과 구동 출력 전극(175b) 사이에 위치하여 구동 반도체(154b)와 중첩하고 있으며, 구동 입력 전극(173b) 및 구동 출력 전극(175b)과도 일부 중첩되어 있다.The driving control electrode 124b is positioned between the driving input electrode 173b and the driving output electrode 175b to overlap the driving semiconductor 154b, and partially overlaps with the driving input electrode 173b and the driving output electrode 175b. It is.

데이터선(171) 및 스위칭 출력 전극(175a)의 측면은 기판(110) 면에 대하여 경사져 있으며 그 경사각은 약 30ㅀ 내지 약 80ㅀ 인 것이 바람직하다.Side surfaces of the data line 171 and the switching output electrode 175a are inclined with respect to the surface of the substrate 110, and the inclination angle is preferably about 30 kPa to about 80 kPa.

스위칭 반도체(154a)와 스위칭 입력 전극(173a) 사이 및 스위칭 반도체(154a)와 스위칭 출력 전극(175a) 사이에는 각각 복수 쌍의 저항성 접촉 부재(163a, 165a)가 형성되어 있다. 저항성 접촉 부재(163a, 165a)는 섬 모양이며, 인(P) 따위의 불순물이 고동도로 도핑되어 있는 n+ 수소화 비정질 규소 따위로 만들어질 수 있다.A plurality of pairs of ohmic contacts 163a and 165a are formed between the switching semiconductor 154a and the switching input electrode 173a and between the switching semiconductor 154a and the switching output electrode 175a, respectively. The ohmic contacts 163a and 165a may have an island shape, and may be made of n + hydrogenated amorphous silicon in which impurities such as phosphorus (P) are highly doped.

데이터선(171), 스위칭 출력 전극(175a) 및 구동 제어 전극(124b) 위에는 보호막(180)이 형성되어 있다.The passivation layer 180 is formed on the data line 171, the switching output electrode 175a, and the driving control electrode 124b.

보호막(180)에는 스위칭 출력 전극(175a), 구동 제어 전극(124b) 및 데이터 선(171)의 끝 부분(179)을 드러내는 복수의 접촉 구멍(185a, 184, 182)이 형성되어 있으며, 보호막(180) 및 게이트 절연막(140)에는 게이트선(121)의 끝 부분(129) 및 구동 출력 전극(175b)을 드러내는 복수의 접촉 구멍(181, 185b)이 형성되어 있다.The passivation layer 180 is formed with a plurality of contact holes 185a, 184, and 182 exposing the switching output electrode 175a, the driving control electrode 124b, and the end portion 179 of the data line 171. The contact holes 181 and 185b exposing the end portion 129 of the gate line 121 and the driving output electrode 175b are formed in the 180 and the gate insulating layer 140.

보호막(180) 위에는 복수의 화소 전극(191), 연결 부재(85) 및 복수의 접촉 보조 부재(81, 82)가 형성되어 있다. A plurality of pixel electrodes 191, a connection member 85, and a plurality of contact assistants 81 and 82 are formed on the passivation layer 180.

화소 전극(191)은 접촉 구멍(185b)를 통하여 구동 출력 전극(175b)과 전기적으로 연결되어 있다.The pixel electrode 191 is electrically connected to the driving output electrode 175b through the contact hole 185b.

연결 부재(85)는 접촉 구멍(185a, 184)을 통하여 스위칭 출력 전극(175a) 및 구동 제어 전극(124b)에 연결되어 있다.The connecting member 85 is connected to the switching output electrode 175a and the drive control electrode 124b through the contact holes 185a and 184.

접촉 보조 부재(81, 82)는 각각 접촉 구멍(181, 182)을 통하여 게이트선(121)의 끝 부분(129) 및 데이터선(171)의 끝 부분(179)과 연결된다. 접촉 보조 부재(81, 82)는 게이트선(121) 및 데이터선(171)의 끝 부분(129, 179)과 외부 장치와의 접착성을 보완하고 이들을 보호한다.The contact auxiliary members 81 and 82 are connected to the end portion 129 of the gate line 121 and the end portion 179 of the data line 171 through the contact holes 181 and 182, respectively. The contact auxiliary members 81 and 82 compensate for and protect the adhesion between the end portions 129 and 179 of the gate line 121 and the data line 171 and the external device.

화소 전극(191), 연결 부재(85) 및 접촉 보조 부재(81, 82)는 ITO 또는 IZO 따위의 투명 도전체로 만들어질 수 있으며, 전면 발광(top emission)인 경우에는 알루미늄 또는 알루미늄 합금, 높은 일 함수(work function)를 가지는 금(Au), 백금(Pt), 니켈(Ni), 구리(Cu), 텅스텐(W) 또는 이들의 합금 따위의 불투명 도전체로 만들어질 수 있다.The pixel electrode 191, the connection member 85, and the contact assistants 81 and 82 may be made of a transparent conductor such as ITO or IZO, and in the case of top emission, aluminum or an aluminum alloy, high work It may be made of an opaque conductor such as gold (Au), platinum (Pt), nickel (Ni), copper (Cu), tungsten (W) or alloys thereof having a work function.

화소 전극(191), 연결 부재(85) 및 접촉 보조 부재(81, 82) 위에는 격벽(partition)(361)이 형성되어 있다. 격벽(361)은 화소 전극(191) 가장자리 주변 을 둑(bank)처럼 둘러싸서 개구부(opening)(365)를 정의한다. 격벽(361)은 아크릴 수지(acrylic resin), 폴리이미드 수지(polyimide resin) 따위의 내열성 및 내용매성을 가지는 유기 절연물 또는 산화규소(SiO2), 산화티탄(TiO2) 따위의 무기 절연물로 만들어질 수 있으며, 2층 이상일 수 있다. 격벽(361)은 또한 검정색 안료를 포함하는 감광재로 만들어질 수 있는데, 이 경우 격벽(361)은 차광 부재의 역할을 하며 그 형성 공정이 간단하다. A partition 361 is formed on the pixel electrode 191, the connection member 85, and the contact auxiliary members 81 and 82. The partition 361 defines an opening 365 by surrounding the edge of the pixel electrode 191 like a bank. The partition 361 may be made of an organic insulator such as acrylic resin, polyimide resin, or an inorganic insulator such as silicon oxide (SiO 2 ) or titanium oxide (TiO 2 ). It may be, and may be two or more layers. The partition 361 may also be made of a photosensitive material containing black pigment, in which case the partition 361 serves as a light blocking member and the forming process is simple.

격벽(361)이 정의하는 화소 전극(191) 위의 개구부(365)에는 유기 발광 부재(organic light emitting member)(370)가 형성되어 있다. An organic light emitting member 370 is formed in the opening 365 on the pixel electrode 191 defined by the partition 361.

유기 발광 부재(370)는 빛을 내는 발광층(emitting layer)(도시하지 않음) 외에 발광층의 발광 효율을 향상하기 위한 부대층(auxiliary layer)(도시하지 않음)을 포함하는 다층 구조를 가질 수 있다. The organic light emitting member 370 may have a multilayer structure including an auxiliary layer (not shown) for improving the light emitting efficiency of the light emitting layer in addition to the light emitting layer (not shown) for emitting light.

발광층은 적색, 녹색, 청색의 삼원색 등 기본색(primary color) 중 어느 하나의 빛을 고유하게 내는 고분자 물질 또는 저분자 물질 또는 이들의 혼합물로 만들어질 수 있다. 고분자 물질에는 예컨대 폴리플루오렌(polyfluorene) 유도체, (폴리)파라페닐렌비닐렌((poly)paraphenylenevinylene) 유도체, 폴리페닐렌(polyphenylene) 유도체, 폴리비닐카바졸(polyvinylcarbazole), 폴리티오펜(polythiophene) 유도체 등이 포함될 수 있다. 또한 저분자 물질에는 9,10-디페닐안트라센(9,10-diphenylanthracene)과 같은 안트라센(anthracene), 테트라페닐부타디엔(tetraphenylbutadiene)과 같은 부타디엔(butadiene), 테트라센(tetracene), 디스티릴아릴렌(distyrylarylene) 유도체, 벤자졸(benzazole) 유도체 및 카바졸(carbazole) 유도체 등이 포함될 수 있다. 또는 상술한 고분자 물질 또는 저분자 물질을 호스트(host) 재료로 하고, 여기에 예컨대 크산텐(xanthene), 페릴렌(perylene), 쿠마린(cumarine), 로더민(rhodamine), 루브렌(rubrene), 디시아노메틸렌피란(dicyanomethylenepyran) 화합물, 티오피란(thiopyran) 화합물, (티아)피릴리움((thia)pyrilium) 화합물, 페리플란텐(periflanthene) 유도체, 인데노페릴렌(indenoperylene) 유도체, 카보스티릴(carbostyryl) 화합물, 나일 레드(Nile red), 퀴나크리돈(quinacridone) 따위의 도펀트(dopant)를 도핑하여 발광 효율을 높일 수도 있다. 유기 발광 표시 장치는 발광층에서 내는 기본색 색광의 공간적인 합으로 원하는 영상을 표시한다. 부대층에는 전자와 정공의 균형을 맞추기 위한 전자 수송층(electron transport layer)(도시하지 않음) 및 정공 수송층(hole transport layer)(도시하지 않음)과 전자와 정공의 주입을 강화하기 위한 전자 주입층(electron injecting layer)(도시하지 않음) 및 정공 주입층(hole injecting layer)(도시하지 않음) 등이 있으며, 이 중에서 선택된 하나 또는 둘 이상의 층을 포함할 수 있다. 정공 수송층 및 정공 주입층은 화소 전극(191)과 발광층의 중간 정도의 일 함수를 가지는 재료로 만들어지고, 전자 수송층과 전자 주입층은 공통 전극(270)과 발광층의 중간 정도의 일 함수를 가지는 재료로 만들어진다. 예컨대 정공 수송층 또는 정공 주입층으로는 다이아민류, MTDATA ([4,4',4"-tris(3-methylphenyl)phenylamino]triphenylamine), TPD (N,N'-diphenyl-N, N'-di(3-methylphenyl)-1,1'-biphenyl-4,4'-diamine), 1,1-비스(4-디-p-톨릴아미노페닐)시 클로헥산(1,1-bis(4-di-p-tolylaminophenyl)cyclohexane), N,N,N',N'-테트라(2-나프틸)-4,4"-디아미노-p-터페닐(N,N,N',N'-tetra(2-naphthyl)-4,4"-diamino-p-terphenyl), 4,4',4"-트리스[(3-메틸페닐)페닐아미노]트리페닐아민(4,4',4"-tris[(3-methylphenyl)phenylamino]triphenylamine), 폴리피롤(polypyrrole), 폴리아닐린(polyaniline), 폴리에틸렌디옥시티오펜과 폴리스티렌술폰산의 혼합물(poly-(3,4-ethylenedioxythiophene: polystyrenesulfonate, PEDOT:PSS) 따위를 사용할 수 있다.The light emitting layer may be made of a polymer material or a low molecular material or a mixture thereof that uniquely emits light of any one of primary colors such as three primary colors of red, green, and blue. Polymeric materials include, for example, polyfluorene derivatives, (poly) paraphenylenevinylene derivatives, polyphenylene derivatives, polyvinylcarbazole, polythiophene Derivatives and the like. In addition, low molecular weight materials include anthracene such as 9,10-diphenylanthracene, butadiene such as tetraphenylbutadiene, tetratracene, and distyrylarylene. ) Derivatives, benzazole derivatives and carbazole derivatives. Or the above-mentioned high molecular material or low molecular material as a host material, for example, xanthene, perylene, coumarin, rhodamine, rubrene, dish Aminomethylenepyran compound, thiopyran compound, (thia) pyrilium compound, periflanthene derivative, indenoperylene derivative, carbostyryl Dopant such as a compound, nile red, and quinacridone may be used to increase luminous efficiency. The organic light emitting diode display displays a desired image by using a spatial sum of primary color light emitted from the emission layer. The auxiliary layer includes an electron transport layer (not shown) and a hole transport layer (not shown) for balancing electrons and holes, and an electron injection layer for enhancing the injection of electrons and holes ( electron injecting layer (not shown) and hole injecting layer (hole injecting layer) (not shown) and the like, and may include one or two or more layers selected from them. The hole transport layer and the hole injection layer are made of a material having a work function that is about the middle of the pixel electrode 191 and the light emitting layer, and the electron transport layer and the electron injection layer have a work function that is about the middle of the common electrode 270 and the light emitting layer. Is made with. For example, the hole transport layer or the hole injection layer may include diamines, MTDATA ([4,4 ', 4 "-tris (3-methylphenyl) phenylamino] triphenylamine), TPD (N, N'-diphenyl-N, N'-di ( 3-methylphenyl) -1,1'-biphenyl-4,4'-diamine), 1,1-bis (4-di-p-tolylaminophenyl) cyclohexane (1,1-bis (4-di- p-tolylaminophenyl) cyclohexane), N, N, N ', N'-tetra (2-naphthyl) -4,4 "-diamino-p-terphenyl (N, N, N', N'-tetra ( 2-naphthyl) -4,4 "-diamino-p-terphenyl), 4,4 ', 4" -tris [(3-methylphenyl) phenylamino] triphenylamine (4,4', 4 "-tris [( 3-methylphenyl) phenylamino] triphenylamine), polypyrrole, polyaniline, a mixture of polyethylenedioxythiophene and polystyrenesulfonic acid (poly- (3,4-ethylenedioxythiophene: polystyrenesulfonate, PEDOT: PSS) may be used.

유기 발광 부재(370)는 각 화소별로 적색, 녹색 및 청색 따위의 색을 발광하는 발광층을 각각 배열하여 화소별로 원하는 색을 구현할 수도 있고, 하나의 화소에 적색, 녹색 및 청색의 발광층을 수직 또는 수평 형성하여 백색(white) 발광층을 형성하고 백색 발광층의 하부 또는 상부에 적색, 녹색 및 청색의 색을 구현하는 색 필터를 형성하여 원하는 색을 구현할 수도 있다. 이 때, 색 필터는 하부 발광 구조(bottom emission)인 경우에는 발광층의 하부에 위치할 수 있고, 상부 발광 구조(top emission)인 경우에는 발광층의 상부에 위치할 수 있다. The organic light emitting member 370 may implement a desired color for each pixel by arranging light emitting layers emitting colors such as red, green, and blue colors for each pixel, and vertically or horizontally arrange the red, green, and blue light emitting layers on one pixel. By forming a white light emitting layer to form a color filter for implementing the colors of red, green and blue on the bottom or top of the white light emitting layer may implement a desired color. In this case, the color filter may be positioned under the light emitting layer in the case of the bottom emission structure, and may be positioned above the light emitting layer in the case of the top emission structure.

또한 적색, 녹색 및 청색 화소를 포함한 3색 구조 외에, 적색, 녹색, 청색 및 백색 화소를 포함한 4색 구조를 스트라이프(stripe) 또는 바둑판 형태로 배치하여 휘도를 개선할 수 있다. In addition to the three-color structure including the red, green, and blue pixels, the four-color structure including the red, green, blue, and white pixels may be arranged in the form of a stripe or a checkerboard to improve luminance.

유기 발광 부재(370) 위에는 공통 전극(common electrode)(270)이 형성되어 있다. 공통 전극(270)은 기판의 전면(全面)에 형성되어 있으며, 화소 전극(191)과 쌍을 이루어 유기 발광 부재(370)에 전류를 흘려 보낸다.The common electrode 270 is formed on the organic light emitting member 370. The common electrode 270 is formed on the entire surface of the substrate, and pairs with the pixel electrode 191 to send a current to the organic light emitting member 370.

이러한 유기 발광 표시 장치에서, 게이트선(121)에 연결되어 있는 스위칭 제어 전극(124a), 데이터선(171)에 연결되어 있는 스위칭 입력 전극(173a) 및 스위칭 출력 전극(175a)은 스위칭 반도체(154a)와 함께 스위칭 박막 트랜지스터(switching TFT)(Qs)를 이루며, 스위칭 박막 트랜지스터(Qs)의 채널(channel)은 스위칭 입력 전극(173a)과 스위칭 출력 전극(175a) 사이의 스위칭 반도체(154a)에 형성된다. 스위칭 출력 전극(175a)에 연결되어 있는 구동 제어 전극(124b), 구동 전압선(172)에 연결되어 있는 구동 입력 전극(173b) 및 화소 전극(191)에 연결되어 있는 구동 출력 전극(175b)은 구동 반도체(154b)와 함께 구동 박막 트랜지스터(driving TFT)(Qd)를 이루며, 구동 박막 트랜지스터(Qd)의 채널은 구동 입력 전극(173b)과 구동 출력 전극(175b) 사이의 구동 반도체(154b)에 형성된다.In the organic light emitting diode display, the switching control electrode 124a connected to the gate line 121, the switching input electrode 173a connected to the data line 171, and the switching output electrode 175a are connected to the switching semiconductor 154a. ) And a switching TFT Qs, and a channel of the switching TFT Qs is formed in the switching semiconductor 154a between the switching input electrode 173a and the switching output electrode 175a. do. The driving control electrode 124b connected to the switching output electrode 175a, the driving input electrode 173b connected to the driving voltage line 172, and the driving output electrode 175b connected to the pixel electrode 191 are driven. A driving TFT Qd is formed together with the semiconductor 154b, and a channel of the driving TFT Qd is formed in the driving semiconductor 154b between the driving input electrode 173b and the driving output electrode 175b. do.

전술한 바와 같이, 스위칭 반도체(154a)는 비정질 반도체로 만들어지고, 구동 반도체(155b)는 미세 결정질 또는 다결정 반도체로 만들어진다. 즉, 스위칭 박막 트랜지스터의 채널은 비정질 반도체에 형성되고, 구동 박막 트랜지스터의 채널은 미세 결정질 또는 다결정 반도체에 형성된다.As described above, the switching semiconductor 154a is made of an amorphous semiconductor, and the driving semiconductor 155b is made of a fine crystalline or polycrystalline semiconductor. That is, the channel of the switching thin film transistor is formed in the amorphous semiconductor, and the channel of the driving thin film transistor is formed in the fine crystalline or polycrystalline semiconductor.

이와 같이 본 발명에서 스위칭 박막 트랜지스터와 구동 박막 트랜지스터의 채널은 결정질이 다른 반도체에 형성되며, 이에 따라 각 박막 트랜지스터에서 요구되는 특성을 동시에 만족할 수 있다.As described above, the channels of the switching thin film transistor and the driving thin film transistor are formed in semiconductors having different crystalline properties, thereby satisfying the characteristics required for each thin film transistor.

구동 박막 트랜지스터의 채널을 미세 결정질 또는 다결정 반도체에 형성함으로써 높은 전하 이동도(carrier mobility) 및 안정성(stability)을 가질 수 있고, 이에 따라 발광 소자에 흐르는 전류량을 늘릴 수 있어서 휘도를 높일 수 있다. 또 한, 구동 박막 트랜지스터의 채널을 미세 결정질 또는 다결정 반도체에 형성함으로써 구동시 계속적인 양(positive) 전압의 인가에 의해 발생하는 문턱 전압 이동 현상(Vth shift)을 방지하여 이미지 고착(image sticking) 및 수명 단축을 방지할 수 있다. By forming the channel of the driving thin film transistor in the microcrystalline or polycrystalline semiconductor, the carrier thin film may have high carrier mobility and stability, thereby increasing the amount of current flowing through the light emitting device, thereby increasing luminance. In addition, by forming a channel of the driving thin film transistor in a microcrystalline or polycrystalline semiconductor, image sticking is prevented by preventing a Vth shift caused by continuous application of positive voltage during driving. It can prevent the life shortening.

한편, 스위칭 박막 트랜지스터는 데이터 전압을 제어하는 역할을 하기 때문에 온/오프(on/off) 특성이 중요하며, 특히 오프 전류(off current)를 줄이는 것이 중요하다. 그런데, 미세 결정질 또는 다결정 반도체는 오프 전류(off current)가 크기 때문에 스위칭 박막 트랜지스터를 통과하는 데이터 전압이 감소하고 크로스 토크가 발생할 수 있다. 따라서, 본 발명에서 스위칭 박막 트랜지스터는 오프 전류가 작은 비정질 반도체로 형성함으로써 데이터 전압의 감소를 방지하고 크로스 토크를 줄일 수 있다.On the other hand, since the switching thin film transistor plays a role of controlling the data voltage, on / off characteristics are important, and in particular, it is important to reduce the off current. However, since the microcrystalline or polycrystalline semiconductor has a large off current, the data voltage passing through the switching thin film transistor may decrease and crosstalk may occur. Therefore, in the present invention, the switching thin film transistor is formed of an amorphous semiconductor having a small off current, thereby preventing a decrease in data voltage and reducing cross talk.

본 실시예에서는 스위칭 박막 트랜지스터 1개와 구동 박막 트랜지스터 1개만을 도시하였지만 이들 외에 적어도 하나의 박막 트랜지스터 및 이를 구동하기 위한 복수의 배선을 더 포함함으로써, 장시간 구동하여도 유기 발광 다이오드(LD) 및 구동 트랜지스터(Qd)가 열화되는 것을 방지하거나 보상하여 유기 발광 표시 장치의 수명이 단축되는 것을 방지할 수 있다. Although only one switching thin film transistor and one driving thin film transistor are shown in the present embodiment, at least one thin film transistor and a plurality of wirings for driving the same are further included, so that the organic light emitting diode LD and the driving transistor may be driven even for a long time. It is possible to prevent or compensate for deterioration of the Qd so as to shorten the lifespan of the organic light emitting display device.

화소 전극(191), 유기 발광 부재(370) 및 공통 전극(270)은 유기 발광 다이오드(LD)를 이루며, 화소 전극(191)이 애노드(anode), 공통 전극(270)이 캐소드(cathode)가 되거나 반대로 화소 전극(191)이 캐소드, 공통 전극(270)이 애노드가 된다. 또한 서로 중첩하는 유지 전극(127)과 구동 전압선(172)은 유지 축전 기(storage capacitor)(Cst)를 이룬다. The pixel electrode 191, the organic light emitting member 370, and the common electrode 270 form an organic light emitting diode LD, and the pixel electrode 191 is an anode and the common electrode 270 is a cathode. Alternatively, the pixel electrode 191 becomes a cathode and the common electrode 270 becomes an anode. In addition, the storage electrode 127 and the driving voltage line 172 overlapping each other form a storage capacitor Cst.

그러면 도 2 및 도 3에 도시한 유기 발광 표시 장치를 제조하는 방법에 대하여 도 4 내지 도 10을 참고하여 상세하게 설명한다.Next, a method of manufacturing the organic light emitting diode display illustrated in FIGS. 2 and 3 will be described in detail with reference to FIGS. 4 to 10.

도 4 내지 도 10은 도 2 및 도 3의 유기 발광 표시 장치를 본 발명의 한 실시예에 따라 제조하는 방법을 차례로 도시한 단면도이다. 4 to 10 are cross-sectional views sequentially illustrating a method of manufacturing the organic light emitting diode display of FIGS. 2 and 3 according to an exemplary embodiment of the present invention.

도 4에 도시한 바와 같이, 기판(110) 위에 음성 또는 양성의 감광성을 가지는 감광막을 도포하고 마스크를 이용한 사진 공정으로 역 테이퍼(reversed taper) 구조를 가자는 감광막 패턴(PR1)을 형성한다. 이어, 그 상부에 금속층(170)과 불순물 비정질 규소 또는 불순물 미세 결정질 규소로 이루어진 규소층(160)을 적층한 후 냉각시킨다. 규소층(160)은 미세 결정질과 같이 고밀도를 가지며, 100도 내지 500도 범위의 온도에서 1,000 내지 3,000?? 범위의 두께로 적층하는 것이 바람직하다. 이와 같이 유기막(PR1) 상부에 무기막(160)을 고밀도로 100도 이상으로 적층하고 냉각시키면, 하부의 유기막(PR1)은 팽창되고 유기막(PR1) 상부에 위치하는 무기막(160)은 팽창에 의한 응력으로 인하여 갈라져 균열이 발생한다. As shown in FIG. 4, a photosensitive film having negative or positive photosensitivity is coated on the substrate 110, and a photosensitive film pattern PR1 for forming a reversed taper structure by a photo process using a mask is formed. Subsequently, the metal layer 170 and the silicon layer 160 made of impurity amorphous silicon or impurity fine crystalline silicon are stacked on the upper portion and cooled. The silicon layer 160 has a high density, such as microcrystalline, and has a temperature of 1,000 to 3,000 ° C. at a temperature ranging from 100 degrees to 500 degrees. It is preferable to laminate | stack to the thickness of the range. As such, when the inorganic layer 160 is stacked on the organic layer PR1 at a high density of 100 degrees or more and cooled, the lower organic layer PR1 is expanded and the inorganic layer 160 is positioned above the organic layer PR1. Is cracked due to stress caused by expansion.

이어, 감광막(PR1)을 제거하기 위해 기판(110)을 감광막 용제에 담그면 용제는 감광막(PR1)의 노출된 측면 또는 규소층(160)의 갈라진 틈을 통하여 감광막(PR1)으로 침투하고 이에 따라 감광막(PR1)은 제거된다. 이때, 감광막(PR1) 위에 위치하는 금속층(170) 및 규소층(160) 또한 리프트-오프(lift-off) 방식으로 감광막(PR1)과 함께 떨어져 나가므로, 결국 도 5에서 보는 바와 같이, 스위칭 제어 전극(124a) 및 끝 부분(129)을 포함하는 게이트선(121), 구동 입력 전극(173b)을 포함하는 구동 전압선(172), 구동 출력 전극(175b) 및 이들의 상부에 저항성 접촉층(164b)을 형성한다.Subsequently, when the substrate 110 is immersed in the photoresist solvent to remove the photoresist film PR1, the solvent penetrates into the photoresist film PR1 through an exposed side surface of the photoresist film PR1 or a crack in the silicon layer 160. (PR1) is removed. At this time, since the metal layer 170 and the silicon layer 160 positioned on the photoresist film PR1 also fall off together with the photoresist film PR1 in a lift-off manner, as shown in FIG. 5, switching control. The gate line 121 including the electrode 124a and the end portion 129, the driving voltage line 172 including the driving input electrode 173b, the driving output electrode 175b, and the ohmic contact layer 164b thereon. ).

이러한 감광막(PR1)에서 내측으로 들어가는 역 테이퍼 정도는 노광 에너지와 열처리 조건에 따라 달라지는데, 노광 에너지가 감소할수록 감광막(PR1)의 상부에서 받는 에너지와 하부에서 받는 에너지의 차가 커지게 되어 역 테이퍼 정도가 커진다.The degree of reverse taper entering the inside of the photoresist film PR1 varies depending on the exposure energy and the heat treatment condition. As the exposure energy decreases, the difference between the energy received from the upper part of the photoresist film PR1 and the energy received from the lower part increases, so that the reverse taper degree increases. Gets bigger

이때, 갈라짐 현상을 보다 효과적으로 유도하기 위하여 재열처리 공정을 추가할 수도 있으며, 금속층(170)은 응력이 강한 물질로 형성하여 열 팽창에 대한 응력을 증가시킬 수도 있다. In this case, a reheating process may be added to more effectively induce a cracking phenomenon, and the metal layer 170 may be formed of a material having a strong stress to increase the stress on thermal expansion.

다음, 도 6에 도시한 바와 같이, 기판(110) 위에 비정질 규소층을 적층한 후 저항성 접촉층(164b)과 함께 사진 식각하여 저항성 접촉 부재(163b, 165b) 및 구동 반도체(154b)를 형성한다. Next, as shown in FIG. 6, an amorphous silicon layer is stacked on the substrate 110 and then photoetched together with the ohmic contact layer 164b to form the ohmic contacts 163b and 165b and the driving semiconductor 154b. .

이때, 구상 반도체(154b)를 비정질 규소로 형성하는 경우에는 고상 결정화 따위의 결정화 방법을 이용하여 구동 반도체(154b)를 결정화하는 것이 바람직하다. In this case, when the spherical semiconductor 154b is formed of amorphous silicon, it is preferable to crystallize the driving semiconductor 154b using a crystallization method such as solid crystallization.

한편, 리프트-오프 공정으로 저항성 접촉 부재(163b, 165b)만을 형성하고 구동 반도체(154b)를 형성할 수도 있다.Meanwhile, only the ohmic contacts 163b and 165b may be formed by the lift-off process, and the driving semiconductor 154b may be formed.

다음, 도 7에 도시한 바와 같이, 기판(110), 게이트선(121) 및 구동 반도체(154b) 위에 게이트 절연막(140), 진성 비정질 규소층 및 불순물이 도핑된 비정질 규소층을 연속하여 적층한 후 사진 식각하여 스위칭 반도체(154a) 및 저항성 접촉층(164a)를 형성한다.Next, as shown in FIG. 7, the gate insulating layer 140, the intrinsic amorphous silicon layer, and the amorphous silicon layer doped with impurities are successively stacked on the substrate 110, the gate line 121, and the driving semiconductor 154b. The photolithography is performed to form the switching semiconductor 154a and the ohmic contact layer 164a.

다음, 도 8에 도시한 바와 같이, 게이트 절연막(140) 및 저항성 접촉층(164a) 위에 금속층을 적층하고 사진 식각하여 스위칭 입력 전극(173a) 및 끝 부분(179)을 포함하는 데이터선(171), 스위칭 출력 전극(175a) 및 구동 제어 전극(124b)을 형성한다.Next, as shown in FIG. 8, a metal layer is stacked on the gate insulating layer 140 and the ohmic contact layer 164a and etched to form a data line 171 including a switching input electrode 173a and an end portion 179. The switching output electrode 175a and the driving control electrode 124b are formed.

이어서, 스위칭 입력 전극(173a) 및 스위칭 출력 전극(175a)을 마스크로 하여 저항성 접촉층(164a)을 식각하여 한 쌍의 저항성 접촉 부재(163a, 165a)를 형성한다.Subsequently, the ohmic contact layer 164a is etched using the switching input electrode 173a and the switching output electrode 175a as a mask to form a pair of ohmic contacts 163a and 165a.

다음, 도 9에 도시한 바와 같이, 기판 전면에 보호막(180)을 적층하고 사진 식각하여 복수의 접촉 구멍(181, 182, 184, 185a, 185b)을 형성한다.Next, as shown in FIG. 9, the protective layer 180 is stacked on the entire surface of the substrate and photo-etched to form a plurality of contact holes 181, 182, 184, 185a, and 185b.

다음, 도 10에 도시한 바와 같이, 보호막(180) 위에 ITO를 증착한 후 사진 식각하여 복수의 화소 전극(191), 연결 부재(85) 및 복수의 접촉 보조 부재(81, 82)를 형성한다.Next, as shown in FIG. 10, after the ITO is deposited on the passivation layer 180, photo etching is performed to form the plurality of pixel electrodes 191, the connection member 85, and the plurality of contact assistants 81 and 82. .

다음, 도 2 및 도 3에 도시한 바와 같이, 화소 전극(191), 연결 부재(85), 복수의 접촉 보조 부재(81, 82) 및 보호막(180) 위에 감광성 유기막을 도포한 후 노광 및 현상하여 복수의 개구부(365)를 가지는 격벽(361)을 형성한다.Next, as shown in FIGS. 2 and 3, after the photosensitive organic layer is coated on the pixel electrode 191, the connection member 85, the plurality of contact auxiliary members 81 and 82, and the passivation layer 180, exposure and development are performed. As a result, a partition 361 having a plurality of openings 365 is formed.

이어서, 개구부(365)에 정공 수송층(도시하지 않음) 및 발광층(도시하지 않음)을 포함한 발광 부재(370)를 형성한다. 발광 부재(370)는 잉크젯 인쇄(inkjet printing) 방법 등의 용액 방법(solution process) 또는 증착(deposition)으로 형성할 수 있으며, 그 중 잉크젯 헤드(inkjet head)(도시하지 않음)를 이동시키며 개구부(365)에 용액을 적하하는 잉크젯 인쇄방법이 바람직하며, 이 경우 각 층의 형 성 후 건조 단계가 뒤따른다. Subsequently, a light emitting member 370 including a hole transport layer (not shown) and a light emitting layer (not shown) is formed in the opening 365. The light emitting member 370 may be formed by a solution process or deposition, such as an inkjet printing method, among which an inkjet head (not shown) is moved and an opening ( Inkjet printing method is preferred to drop the solution in 365, in which case a drying step is followed after the formation of each layer.

마지막으로, 격벽(361) 및 발광 부재(370) 위에 공통 전극(270)을 형성한다.Finally, the common electrode 270 is formed on the partition 361 and the light emitting member 370.

이러한 본 발명의 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치의 제조 방법에서는 리프트-오프공정으로 저항성 접촉 부재(163b, 165b)를 분리하여 완성함으로써 저항성 접촉 부재(163b, 165b)의 잔류하거나 불균일하게 식각되는 것을 방지할 수 있다. 또한, 저항성 접촉 부재(163b, 165b)를 형성한 다음 구동 반도체(154b)를 형성함으로써 구동 박막 트랜지스터가 손상되는 것을 방지할 수 있어 구동 박막 트랜지스터의 특성을 안정적으로 확보할 수 있다. 또한, 신호선을 구동 반도체(154b)를 형성하기 전에 형성함으로써 구동 반도체(154b)가 오염되는 것을 방지할 수 있다.In the method of manufacturing the organic light emitting diode display according to the exemplary embodiment of the present invention, the resistive contact members 163b and 165b are left or unevenly etched by separating and completing the ohmic contacts 163b and 165b by a lift-off process. You can prevent it. In addition, by forming the ohmic contacts 163b and 165b and then forming the driving semiconductor 154b, the driving thin film transistors can be prevented from being damaged, thereby stably securing the characteristics of the driving thin film transistors. In addition, the signal line is formed before the driving semiconductor 154b is formed to prevent the driving semiconductor 154b from being contaminated.

[실시예 2]Example 2

이하, 도 1에 도시한 유기 발광 표시 장치의 또 다른 구조에 대하여 도 11 및 도 12를 도 1과 함께 참고하여 상세하게 설명한다.Hereinafter, another structure of the OLED display illustrated in FIG. 1 will be described in detail with reference to FIGS. 11 and 12 together with FIG. 1.

전술한 실시예와 동일한 내용은 생략한다.The same content as in the above-described embodiment is omitted.

도 11은 본 발명의 다른 한 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치의 배치도이고, 도 12는 도 11의 유기 발광 표시 장치를 XII-XII 선을 따라 자른 단면도이다.FIG. 11 is a layout view of an organic light emitting diode display according to another exemplary embodiment. FIG. 12 is a cross-sectional view of the organic light emitting diode display of FIG. 11 taken along a line XII-XII.

절연 기판(110) 위에 미세 결정질 반도체 또는 다결정 반도체로 만들어진 구동 반도체(154b)가 형성되어 있다. A driving semiconductor 154b made of a microcrystalline semiconductor or a polycrystalline semiconductor is formed on the insulating substrate 110.

기판(110) 및 구동 반도체(154b) 위에는 스위칭 제어 전극(124a) 및 끝 부분(129)을 포함하는 복수의 게이트선(121), 구동 입력 전극(173b)을 포함하는 구동 전압선(172) 및 구동 출력 전극(175b)이 형성되어 있다.On the substrate 110 and the driving semiconductor 154b, a plurality of gate lines 121 including a switching control electrode 124a and an end portion 129, a driving voltage line 172 including a driving input electrode 173b, and driving The output electrode 175b is formed.

구동 반도체(154b)와 구동 전압선(172) 사이 및 구동 반도체(154b)와 구동 출력 전극(175b) 사이에는 각각 복수 쌍의 저항성 접촉 부재(163b, 165b)가 형성되어 있다. 이 때, 저항성 접촉 부재(163b, 165b)는 구동 전압선(172) 및 구동 출력 전극(175b)과 실질적으로 다른 평면 모양을 가지지만, 동일한 평면 모양을 가질 수 있다.A plurality of pairs of ohmic contacts 163b and 165b are formed between the driving semiconductor 154b and the driving voltage line 172 and between the driving semiconductor 154b and the driving output electrode 175b, respectively. In this case, the ohmic contacts 163b and 165b may have substantially different planar shapes from the driving voltage line 172 and the driving output electrode 175b, but may have the same planar shape.

게이트선(121), 구동 전압선(172) 및 구동 출력 전극(175b) 위에는 게이트 절연막(140)이 형성되어 있다.The gate insulating layer 140 is formed on the gate line 121, the driving voltage line 172, and the driving output electrode 175b.

게이트 절연막(140) 위에는 수소화 비정질 규소로 만들어진 복수의 스위칭 반도체(154a)가 형성되어 있다. 스위칭 반도체(154a)는 스위칭 제어 전극(124a)과 중첩되어 있다.A plurality of switching semiconductors 154a made of hydrogenated amorphous silicon are formed on the gate insulating layer 140. The switching semiconductor 154a overlaps the switching control electrode 124a.

스위칭 반도체(154a) 및 게이트 절연막(140) 위에는 스위칭 입력 전극(173a) 및 끝 부분(179)을 포함하는 데이터선(171), 스위칭 출력 전극(175a) 및 구동 제어 전극(124b)이 형성되어 있다.A data line 171 including a switching input electrode 173a and an end portion 179, a switching output electrode 175a, and a driving control electrode 124b are formed on the switching semiconductor 154a and the gate insulating layer 140. .

스위칭 입력 전극(173a) 및 스위칭 출력 전극(175a)은 스위칭 제어 전극(124a)과 일부 중첩되어 있으며, 스위칭 반도체(154a)를 중심으로 서로 마주한다.The switching input electrode 173a and the switching output electrode 175a partially overlap the switching control electrode 124a and face each other with respect to the switching semiconductor 154a.

구동 제어 전극(124b)은 구동 입력 전극(173b) 및 구동 출력 전극(175b) 상부에서 구동 반도체(154b)와 일부 중첩되어 있다.The driving control electrode 124b partially overlaps the driving semiconductor 154b on the driving input electrode 173b and the driving output electrode 175b.

스위칭 반도체(154a)와 스위칭 입력 전극(173a) 사이 및 스위칭 반도체(154a)와 스위칭 출력 전극(175a) 사이에는 각각 복수 쌍의 저항성 접촉 부 재(163a, 165a)가 형성되어 있다. 저항성 접촉 부재(163a, 165a)는 인(P) 따위의 n형 불순물이 고농도로 도핑되어 있는 비정질 규소 따위로 만들어질 수 있다.A plurality of pairs of ohmic contacts 163a and 165a are formed between the switching semiconductor 154a and the switching input electrode 173a and between the switching semiconductor 154a and the switching output electrode 175a, respectively. The ohmic contacts 163a and 165a may be made of amorphous silicon in which n-type impurities such as phosphorus (P) are heavily doped.

데이터선(171), 스위칭 출력 전극(175a) 및 구동 제어 전극(124b) 위에는 보호막(180)이 형성되어 있다.The passivation layer 180 is formed on the data line 171, the switching output electrode 175a, and the driving control electrode 124b.

보호막(180)에는 스위칭 출력 전극(175a), 구동 제어 전극(124b) 및 데이터선(171)의 끝 부분(179)을 드러내는 복수의 접촉 구멍(185a, 184, 182)이 형성되어 있으며, 보호막(180) 및 게이트 절연막(140)에는 게이트선(121)의 끝 부분(129) 및 구동 출력 전극(175b)을 드러내는 복수의 접촉 구멍(181, 185b)이 형성되어 있다.The passivation layer 180 is formed with a plurality of contact holes 185a, 184, and 182 exposing the switching output electrode 175a, the driving control electrode 124b, and the end portion 179 of the data line 171. The contact holes 181 and 185b exposing the end portion 129 of the gate line 121 and the driving output electrode 175b are formed in the 180 and the gate insulating layer 140.

보호막(180) 위에는 복수의 화소 전극(191), 연결 부재(85) 및 복수의 접촉 보조 부재(81, 82)가 형성되어 있다. A plurality of pixel electrodes 191, a connection member 85, and a plurality of contact assistants 81 and 82 are formed on the passivation layer 180.

화소 전극(191)은 구동 출력 전극(175b)과 전기적으로 연결되어 있으며, 연결 부재(85)는 스위칭 출력 전극(175a) 및 구동 제어 전극(124b)에 연결되어 있다.The pixel electrode 191 is electrically connected to the driving output electrode 175b, and the connection member 85 is connected to the switching output electrode 175a and the driving control electrode 124b.

화소 전극(191), 연결 부재(85) 및 접촉 보조 부재(81, 82) 위에는 개구부(365)를 가지는 격벽(361)이 형성되어 있다. A partition 361 having an opening 365 is formed on the pixel electrode 191, the connection member 85, and the contact auxiliary members 81 and 82.

격벽(361)이 정의하는 화소 전극(191) 위의 개구부(365)에는 유기 발광 부재(370)가 형성되어 있고, 격벽(361) 및 유기 발광 부재(370) 위에는 공통 전극(270)이 형성되어 있다. An organic light emitting member 370 is formed in the opening 365 on the pixel electrode 191 defined by the partition 361, and a common electrode 270 is formed on the partition 361 and the organic light emitting member 370. have.

그러면 도 10 및 도 11에 도시한 유기 발광 표시 장치를 제조하는 방법에 대하여 도 12 내지 도 19를 참고하여 상세하게 설명한다.Next, a method of manufacturing the OLED display illustrated in FIGS. 10 and 11 will be described in detail with reference to FIGS. 12 to 19.

도 13 내지 도 19는 도 11 및 도 12의 유기 발광 표시 장치를 본 발명의 한 실시예에 따라 제조하는 방법을 차례로 도시한 단면도이다.13 to 19 are cross-sectional views sequentially illustrating a method of manufacturing the organic light emitting diode display of FIGS. 11 and 12 according to an exemplary embodiment of the present invention.

도 13에 도시한 바와 같이, 기판(110) 위에 결정 규소층 또는 비정질 규소층을 적층한 후 마스크를 이용한 사진 식각 공정으로 패터닝하여 구동 반도체(154b)를 형성한다.As shown in FIG. 13, the driving semiconductor 154b is formed by stacking a crystalline silicon layer or an amorphous silicon layer on the substrate 110 and patterning the same by a photolithography process using a mask.

이어서, 도 14에 도시한 바와 같이, 기판(110) 및 구동 반도체(154b) 위에 양성의 감광성을 가지는 감광성 유기막을 도포하고 사진 공정으로 패터닝하여 감광막(PR2)를 형성한다. 이어 그 상부에 고밀도를 가지며 불순물이 도핑된 미세 결정 규소층(160)을 100 내지 500도의 범위의 온도에서 1,000-3,000?? 범위의 두께로 적층한 냉각시킨다. 그러면, 앞의 실시예와 동일하게 감광막(PR2) 상부에 위치하는 규소층(160)에서는 균열이 발생한다. 이어, 기판(110)을 감광막 용제에 담그면 용제는 규소층(160)의 갈라진 틈을 통하여 감광막(PR2)으로 침투하고 이에 따라 감광막(PR2) 및 그 상부의 규소층(160)은 제거된다. 여기서, 도면에서 빗금 친 부분은 감광막(PR2) 및 규소층(160)이 제거되는 부분을 나타낸 것이다.Subsequently, as illustrated in FIG. 14, a photosensitive organic film having positive photosensitivity is coated on the substrate 110 and the driving semiconductor 154b and patterned by a photo process to form the photosensitive film PR2. Subsequently, the microcrystalline silicon layer 160 having a high density and doped with impurities is formed at a temperature of 1,000 to 3,000 ° C at a temperature ranging from 100 to 500 degrees. Cooling laminated to the thickness of the range. Then, cracking occurs in the silicon layer 160 positioned on the photoresist film PR2 as in the previous embodiment. Subsequently, when the substrate 110 is immersed in the photoresist film solvent, the solvent penetrates into the photoresist film PR2 through a crack in the silicon layer 160, thereby removing the photoresist film PR2 and the silicon layer 160 thereon. Here, the hatched portion in the drawing shows a portion where the photosensitive film PR2 and the silicon layer 160 are removed.

한편, 구동 반도체(154b)가 비정질 규소인 경우에는 저항성 접촉 부재(163b, 165b)를 완성한 다음, 고상 결정화 따위의 결정화 방법을 이용하여 구동 반도체(154b)를 결정화하는 것이 바람직하다.On the other hand, when the driving semiconductor 154b is amorphous silicon, it is preferable to complete the ohmic contact members 163b and 165b and then crystallize the driving semiconductor 154b using a crystallization method such as solid phase crystallization.

다음, 도 15에 도시한 바와 같이, 기판(110) 위에 금속층을 적층하고 마스크를 이용한 사진 식각 공정으로 패터닝하여 스위칭 제어 전극(124a) 및 끝 부분(129)을 포함하는 게이트선(121), 구동 입력 전극(173b)을 포함하는 구동 전압선(172) 및 구동 출력 전극(175b)을 형성한다.Next, as illustrated in FIG. 15, the gate line 121 including the switching control electrode 124a and the end portion 129 is driven by stacking a metal layer on the substrate 110 and patterning the photolithography process using a mask. The driving voltage line 172 including the input electrode 173b and the driving output electrode 175b are formed.

한편, 구동 반도체(154b)를 형성한 다음, 앞의 실시예와 유사하게 도핑된 규층과 금속층을 연속으로 적층하고 리프트-오프 공정으로 게이트선(121), 구동 전압선(172) 및 구동 출력 전극(175b)과 저항성 접촉 부재(163b, 165b)를 함께 할 수 있다.On the other hand, after the driving semiconductor 154b is formed, the doped silica layer and the metal layer are successively stacked, and the gate line 121, the driving voltage line 172, and the driving output electrode ( 175b and the ohmic contacts 163b and 165b may be used together.

다음, 도 16에 도시한 바와 같이, 기판(110), 게이트선(121), 구동 전압선(172) 및 구동 출력 전극(175b) 위에 게이트 절연막(140), 진성 비정질 규소층 및 불순물 비정질 규소층을 연속하여 적층한 후 사진 식각하여 스위칭 반도체(154a) 및 저항성 접촉층(164a)을 형성한다.Next, as shown in FIG. 16, the gate insulating layer 140, the intrinsic amorphous silicon layer, and the impurity amorphous silicon layer are disposed on the substrate 110, the gate line 121, the driving voltage line 172, and the driving output electrode 175b. After sequentially stacking and photolithography, the switching semiconductor 154a and the ohmic contact layer 164a are formed.

다음, 도 17에 도시한 바와 같이, 게이트 절연막(140) 및 저항성 접촉층(164a) 위에 금속층을 적층하고 사진 식각하여 스위칭 입력 전극(173a) 및 끝 부분(179)을 포함하는 데이터선(171), 스위칭 출력 전극(175a) 및 구동 제어 전극(124b)을 형성한다.Next, as shown in FIG. 17, a metal layer is stacked and photo-etched on the gate insulating layer 140 and the ohmic contact layer 164a to include a switching input electrode 173a and an end portion 179. The switching output electrode 175a and the driving control electrode 124b are formed.

이어서, 데이터선(171) 및 스위칭 출력 전극(175a)을 마스크로 하여 저항성 접촉층(164a)을 식각하여 한 쌍의 저항성 접촉 부재(163a, 165a)를 형성한다.Next, the ohmic contact layer 164a is etched using the data line 171 and the switching output electrode 175a as a mask to form a pair of ohmic contacts 163a and 165a.

다음, 도 18에 도시한 바와 같이, 기판 전면에 보호막(180)을 적층하고 사진 식각하여 복수의 접촉 구멍(181, 182, 184, 185a, 185b)을 형성한다.Next, as shown in FIG. 18, the protective layer 180 is stacked on the entire surface of the substrate and photo-etched to form a plurality of contact holes 181, 182, 184, 185a and 185b.

다음, 도 19에 도시한 바와 같이, 보호막(180) 위에 ITO를 증착한 후 사진 식각하여 복수의 화소 전극(191), 연결 부재(85) 및 복수의 접촉 보조 부재(81, 82)를 형성한다.Next, as shown in FIG. 19, ITO is deposited on the passivation layer 180, and then photo-etched to form a plurality of pixel electrodes 191, a connection member 85, and a plurality of contact assistants 81 and 82. .

다음, 도 11 및 도 12에 도시한 바와 같이, 화소 전극(191), 연결 부재(85), 복수의 접촉 보조 부재(81, 82) 및 보호막(180) 위에 감광성 유기막을 도포한 후 노광 및 현상하여 복수의 개구부(365)를 가지는 격벽(361)을 형성한다.Next, as illustrated in FIGS. 11 and 12, after the photosensitive organic layer is coated on the pixel electrode 191, the connection member 85, the plurality of contact auxiliary members 81 and 82, and the passivation layer 180, exposure and development are performed. As a result, a partition 361 having a plurality of openings 365 is formed.

이어서, 개구부(365)에 정공 수송층(도시하지 않음) 및 발광층(도시하지 않음)을 포함한 발광 부재(370)를 형성한다. Subsequently, a light emitting member 370 including a hole transport layer (not shown) and a light emitting layer (not shown) is formed in the opening 365.

마지막으로, 격벽(361) 및 발광 부재(370) 위에 공통 전극(270)을 형성한다.Finally, the common electrode 270 is formed on the partition 361 and the light emitting member 370.

이와 같은 본 실시예에 따른 유기 발광 표시 장치의 제조 방법에서는 응력을 이용한 리프트-오프 공정으로 형성함으로써 저항성 접촉 부재(163b, 165b)를 균일하게 패터닝할 수 있으며, 구동 반도체(154b)의 표면이 손상되는 것을 방지할 수 있다. 따라서, 박막 트랜지스터의 특성을 균일하고 안정적으로 확보할 수 있다. In the method of manufacturing the organic light emitting diode display according to the present exemplary embodiment, the resistive contact members 163b and 165b may be uniformly patterned by forming a lift-off process using stress, and the surface of the driving semiconductor 154b may be damaged. Can be prevented. Therefore, the characteristics of the thin film transistor can be secured uniformly.

이상에서 본 발명의 바람직한 실시예들에 대하여 상세하게 설명하였지만 본 발명의 권리 범위는 이에 한정되는 것은 아니고 다음의 청구 범위에서 정의하고 있는 본 발명의 기본 개념을 이용한 당업자의 여러 변형 및 개량 형태 또한 본 발명의 권리 범위에 속하는 것이다.Although the preferred embodiments of the present invention have been described in detail above, the scope of the present invention is not limited thereto, and various modifications and improvements of those skilled in the art using the basic concepts of the present invention defined in the following claims are also provided. It belongs to the scope of the invention.

이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명에서는 저항성 접촉 부재를 응력을 이용한 리프트-오프 공정으로 패터닝함으로써 구동 박막 트랜지스터의 특성을 균일하게 향상시킬 수 있으며, 신호선과 함께 패터닝함으로써 제조 공정을 단순화할 수 있다. As described above, in the present invention, the resistive contact member may be patterned by a lift-off process using stress to uniformly improve the characteristics of the driving thin film transistor, and the patterning together with the signal line may simplify the manufacturing process.

Claims (8)

기판 위에 스위칭 제어 전극, 구동 전압선 및 구동 출력 전극을 형성하는 단계,Forming a switching control electrode, a driving voltage line and a driving output electrode on the substrate, 상기 구동 전압선 및 상기 구동 출력 전극 상부 또는 하부에 구동 반도체를 형성하는 단계,Forming a driving semiconductor above or below the driving voltage line and the driving output electrode; 상기 구동 전압선 및 상기 구동 출력 전극과 상기 구동 반도체 사이에 저항성 접촉 부재를 형성하는 단계,Forming an ohmic contact between the driving voltage line and the driving output electrode and the driving semiconductor; 상기 구동 전압선, 상기 구동 출력 전극 및 상기 구동 반도체 상부에 게이트 절연막을 형성하는 단계,Forming a gate insulating layer on the driving voltage line, the driving output electrode, and the driving semiconductor; 상기 게이트 절연막 위에 스위칭 반도체를 형성하는 단계,Forming a switching semiconductor on the gate insulating layer; 상기 게이트 절연막 및 상기 스위칭 반도체 위에 스위칭 입력 전극을 포함하는 데이터선, 스위칭 출력 전극 및 구동 제어 전극을 형성하는 단계,Forming a data line, a switching output electrode, and a driving control electrode including a switching input electrode on the gate insulating layer and the switching semiconductor; 상기 구동 출력 전극과 연결되어 있는 제1 전극을 형성하는 단계,Forming a first electrode connected to the driving output electrode; 상기 제1 전극 위에 발광 부재를 형성하는 단계, 그리고Forming a light emitting member on the first electrode, and 상기 발광 부재 위에 제2 전극을 형성하는 단계Forming a second electrode on the light emitting member 를 포함하며,Including; 상기 저항성 접촉 부재 형성 단계는The ohmic contact forming step 상기 기판 상부에 감광막을 선택적으로 형성하는 단계,Selectively forming a photoresist film on the substrate; 상기 기판 및 감광막 위에 저항성 접촉층을 적층하는 단계,Stacking an ohmic contact layer on the substrate and the photoresist; 상기 감광막 상부의 상기 저항성 접촉층에 균열을 발생시키는 단계,Causing a crack in the ohmic contact layer on the photosensitive layer; 균열을 통하여 상기 감광막에 용제를 침투시키는 단계, 그리고Penetrating the solvent through the photosensitive film through cracks, and 상기 감광막 및 상기 감광막 상부의 상기 저항성 접촉층을 제거하는 단계를 포함하는Removing the photoresist and the ohmic contact layer on the photoresist; 유기 발광 표시 장치의 제조 방법.A method of manufacturing an organic light emitting display device. 제1항에서,In claim 1, 상기 스위칭 제어 전극, 구동 전압선 및 구동 출력 전극은 상기 저항성 접촉 부재와 함께 형성하는 유기 발광 표시 장치의 제조 방법.The switching control electrode, the driving voltage line, and the driving output electrode are formed together with the ohmic contact member. 제2항에서,In claim 2, 상기 스위칭 제어 전극, 구동 전압선 및 구동 출력 전극은 상기 기판 및 저항성 접촉층 상부 또는 하부에 금속층을 적층하고 상기 금속층의 일부를 상기 저항성 접촉층과 함께 제거하여 형성하는 유기 발광 표시 장치의 제조 방법.The switching control electrode, the driving voltage line, and the driving output electrode are formed by stacking a metal layer on or below the substrate and the ohmic contact layer, and removing a portion of the metal layer together with the ohmic contact layer. 제1항에서,In claim 1, 상기 저항성 접촉층은 100 내지 500도 범위의 온도에서 적층하는 유기 발광 표시 장치의 제조 방법.The ohmic contact layer is laminated at a temperature in a range of 100 to 500 degrees. 제4항에서,In claim 4, 상기 저항성 접촉층은 1,000 내지 3,000?? 범위의 두께로 적층하는 유기 발광 표시 장치의 제조 방법.The ohmic contact layer is 1,000 to 3,000 ?? A method of manufacturing an organic light emitting display device laminated with a thickness in the range. 제1항에서,In claim 1, 상기 저항성 접촉층은 미세 결정으로 형성하는 유기 발광 표시 장치의 제조 방법.The ohmic contact layer is formed of fine crystals. 제1항에서,In claim 1, 상기 저항성 접촉층을 적층한 다음 열처리 공정을 실시하는 단계를 더 포함하는 유기 발광 표시 장치의 제조 방법.Stacking the ohmic contact layer and then performing a heat treatment process. 제1항에서,In claim 1, 상기 저항성 접촉층을 적층한 다음 상기 기판을 냉각시키는 단계를 더 포함하는 유기 발광 표시 장치의 제조 방법.Stacking the ohmic contact layer and then cooling the substrate.
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