KR20080034418A - 신호 발생기에 의해 송신된 신호의 다수의 파라미터들을측정하기 위한 방법 - Google Patents

신호 발생기에 의해 송신된 신호의 다수의 파라미터들을측정하기 위한 방법 Download PDF

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Abstract

신호 발생기에 의해 발생된 신호의 하나 이상의 파라미터들을 측정하기 위한 방법이 개시된다. 본 방법은 하나 이상의 파라미터들에 대한 측정값을 얻기 위해서 하나의 송신으로부터의 데이터 패킷 열 또는 다른 형태의 신호들을 캡처 및 분석하는 단계를 이용한다. 얻어진 측정값은 신호 발생기의 조정을 평가하거나 신호 발생기의 이미 조정된 값을 확인하는데 사용될 수 있다. 상기의 실시예들에 따라서, 데이터 패킷 열은 상이한 속성을 갖는 패킷들을 포함한다.

Description

신호 발생기에 의해 송신된 신호의 다수의 파라미터들을 측정하기 위한 방법{METHOD FOR MEASURING MULTIPLE PARAMETERS OF A SIGNAL TRANSMITTED BY A SIGNAL GENERATOR}
본 발명은 송신기(본원에서는 데이터 신호 발생기라고 언급됨) 및/또는 수신기(본원에서는 데이터 신호 수신기라고 언급됨)의 조정(calibration) 및 시험에 관한 것이며, 보다 구체적으로는, 피시험 장치(device under test; DUT)에 의해 송신된 신호 및/또는 DUT에 의해 수신된 신호의 하나 이상의 파라미터 또는 속성의 측정을 수행하기 위한 시험 시간의 감소에 관한 것이다.
전자 송신기 및/또는 수신기는 일반적으로 휴대폰, 무선 개인용 컴퓨터(PCs), 및 무선 장치에서 기본적인 부품이 된다. 통상적으로 무선 장치는 생산 시설에서 출하되기 전에 만족스러운 성능인지에 대해 시험된다. 예를 들면, 무선 장치의 시험 단계의 일부는 무선 장치의 출력인 송신된 신호와 관련되는 품질 파라미터들 및/또는 무선 장치의 수신기에 의해 송신된 신호의 수용 능력을 측정하는 단계를 포함한다.
전통적으로, 송신기 및/또는 수신기 장치의 생산 시험은, 한 번에 송신된 또는 신호의 일 속성을 시험하는, 순차적인 흐름에 따랐다. 시험 장비의 측정 능력 은 시험의 순차적인 흐름에 대해 필요한 것을 부분적으로 제공하였다. 예를 들면, 측정 시스템의 응답 시간 때문에, 속성의 정확한 측정을 얻기 위해, 통상적으로 수많은 데이터 패킷 신호 또는 패킷들은 측정될 속성 - 예컨대 출력 전력 - 에 있어서 동일한 송신기 설정 또는 값으로 송신된다. 예를 들면, 전력계(power meter)로부터 정확한 결과를 얻기 위해서, 피시험 장치(DUT) 또는 송신기는 동일한 데이터 패킷 신호 또는 패킷을 반복적으로 전송해야만 하며, 그 때 전력계는 수집된 측정치들을 평균함으로써 전력을 측정한다. 결과는 테스트 시스템에 의해 다시 판독되고, 결론은 다음 단계의 시험에 관해서 만들어진다. 만약 전력계가 동일한 전력 레벨로 패킷들의 송신을 수신한 경우와 비교할 때 출력 전력이 변하는 데이터 패킷 신호들의 송신을 수신하였다면, 전력계는 각각의 송신 패킷의 출력 전력의 측정치를 얻지 않고 간단히 결과를 평균할 수 있을 것이다. 유사한 시나리오들이, 고주파 시스템을 시험하기 위한 스펙트럼 분석기 및 기타 통상적인 생산 측정 장비와 같은, 다른 시험 장비에 대해서 존재한다.
그러나 상기와 같은 순차적인 방식으로 시험하는 것은 전체 시험 시간을 증가시킨다. 예를 들면, 주어진 출력 전력에서 패킷들의 패킷 열 - 예컨대 수백 패킷 - 의 송신 후에, 전력계는 송신기의 주어진 출력 전력 설정을 위해 출력 전력 측정치를 제공한다. 이러한 전력 설정을 위해 송신기의 오류 벡터 크기(error vector magnitude; EVM)를 얻기 위해서, 동일한 송신기 전력 설정으로 수백 패킷의 별도의 송신이 EVM 측정 장비에 의해 측정되기 위해 출력된다. EVM 장비가 송신기의 주어진 출력 전력 설정으로 송신된 패킷들에 대해서 EVM 값을 얻은 후에, 스펙 트럼 분석 장비는 미리 정해진 대역폭을 벗어난 스펙트럼 마스크(spectral mask) 또는 스펙트럼 소실(spectral dissipation)을 측정하기 위해 이용될 수 있다. 스펙트럼 분석 장비가 주어진 출력 전력으로 송신된 패킷들에 대한 스펙트럼 마스크 상의 판독을 얻게 하기 위해서, 다시 수백 패킷이 송신기의 주어진 전력 설정으로 송신 된다
송신 장비 및/또는 수신 장비를 시험하기 위한 시험 시간을 증가시키는데 기여하는 추가적인 문제는, 더 많은 모뎀 송신기 및 수신기가 다양한 주파수 또는 데이터 속도로 데이터 패킷 신호들을 송신하고 수신할 수 있어야 한다는 것이다. 따라서 측정될 소정의 속성들 - 예컨대 출력 전력, EVM, 및 스펙트럼 마스크 - 은 다양한 주파수, 게다가 다양한 출력 전력 레벨에서 측정될 필요가 있다.
이러한 관점에서, 시기적절한 방식으로 패킷들의 송신을 수신하기 위해 송신기에 의한 패킷들의 송신, 및/또는 수신기에 의한 수신 능력에 관한 다수의 파라미터 또는 속성들에 대한 측정값을 결정하는데 개선이 필요하다. 과거의 종래 시험 방식에 의해 제공되었던 시간보다 현저하게 짧은 시간에 필요한 측정값들을 생성하고자 하는 필요가 존재한다.
신호 발생기에 의해 발생된 신호의 하나 이상의 파라미터들을 측정하기 위한 방법이 개시된다. 본 방법은 하나 이상의 파라미터들에 대한 측정값들을 얻기 위해서 하나의 송신으로부터의 데이터 패킷 열 또는 다른 형태의 신호들을 캡처 및 분석하는 단계를 이용한다. 얻어진 측정값은 신호 발생기의 조정을 평가하거나 신호 발생기의 이미 조정된 값을 확인하는데 사용될 수 있다. 바람직한 실시예들에 따라서, 데이터 패킷 열은 상이한 속성을 갖는 패킷들을 포함한다.
일 실시예에서, 데이터 패킷 신호 발생기에서 발생된 출력 신호의 하나 이상의 속성들을 측정하는 방법이 제공된다. 이 방법은 데이터 패킷 신호 발생기에 의해 다수의 데이터 패킷 신호를 발생시키는 단계를 포함하며, 다수의 데이터 패킷 신호의 일부는 데이터 패킷 신호 발생기의 조정 범위에 대해 값이 변경하는 적어도 하나의 속성을 갖는다. 다수의 데이터 패킷 신호의 상기 일부는 분석을 위해 데이터 패킷 신호 발생기로부터 수신된다. 다수의 데이터 패킷 신호의 상기 수신된 일부에 대한 적어도 하나의 속성 값을 측정하는 단계에서 측정값을 생성한다.
다른 실시예에서, 데이터 패킷 신호 발생기에 의해 발생된 출력 신호의 하나 이상의 속성을 측정하기 위한 방법이 제공된다. 이 방법은 데이터 패킷 신호 발생기에 의해 발생되듯이, 데이터 패킷 신호의 출력 전력 및 데이터 속도를 변경시킴으로써 다수의 데이터 패킷 신호를 발생시키는 단계를 포함한다. 다수의 데이터 패킷 신호는 분석을 위해 수신된다. 수신된 다수의 데이터 패킷 신호의 일부는 상기 일부의 데이터 패킷 신호의 적어도 하나의 속성에 대한 측정값을 생성하기 위해서 측정된다.
다음의 설명을 고찰함에 있어서 아래의 도면들을 수반하는 경우 본 발명이 더욱 쉽게 이해될 수 있을 것이며, 동일한 도면 번호는 동일한 구성요소를 나타낸다.
도 1은 데이터 패킷 신호 발생기에 의해 발생되고, 분석 장치에 의해 수신된 것과 같은, 다수의 데이터 패킷 신호들의 예시적인 실시예를 나타내는 그래프를 도시한다.
도 2는 데이터 패킷 신호 발생기에 의해 발생된 출려 신호의 하나 이상의 속성들을 측정하기 위한 방법의 예시를 설명하는 흐름도를 도시한다.
도 3은 데이터 패킷 신호 발생기에 의해 발생되고, 분석 장치에 의해 수신된 것과 같은, 다수의 데이터 패킷 신호들의 예시적인 실시예를 나타내는 다른 그래프를 도시한다.
도 4는 데이터 패킷 신호 발생기에 의해 발생된 출력 신호의 하나 이상의 속성들을 측정하는 방법의 예시를 설명하는 흐름도를 도시한다.
도 5는 데이터 패킷 신호 수신기에 의해 수신된 것과 같은, 다수의 데이터 패킷 신호의 예시적인 실시예를 나타내는 그래프를 도시한다.
도 6은 데이터 패킷 신호 수신기에 의해 수신된 것과 같은, 다수의 데이터 패킷 신호의 예시적인 실시예를 나타내는 다른 그래프를 도시한다.
도 7은 데이터 패킷 신호 수신기에 의해 수신된 것과 같은, 다수의 데이터 패킷 신호의 예시적인 실시예를 나타내는 또 다른 그래프를 도시한다.
도 8은 다수의 데이터 속도에서 수신하기 위한 데이터 패킷 신호 수신기의 성능을 결정하기 위한 방법의 예시를 설명하는 흐름도를 도시한다.
다음의 논의에서, 예시의 일관성과 간략화를 위해, 발생된 송신 신호는 일반 적으로 데이터 패킷 신호라는 용어로 기술된다. 그러나 현재 청구되고 있는 본 발명에 따라서, 데이터 신호가 필수적으로 패킷 데이터 형태여야만 할 필요는 없다. 대안적으로, 발생된 송신 신호는 지속파(CW) 신호와 같이 다른 일반적으로 사용되는 형태일 수 있으며, 이는 측정되거나, 제어되거나, 감시되거나, 또는 시험되고자 하는 특정 데이터, 제어, 파라미터, 또는 특성을 나타내거나, 또는 그렇지 않으면 이와 대응한다.
또한 다음의 논의는 신호 품질 측정의 예시로서 EVM을 사용한다. 그러나 송신 신호 품질의 다른 측정도 현재 청구되고 있는 본 발명에 따라서 사용될 수 있다는 것이 이해되어야만 한다. 예를 들면, 다양한 형태의 변조를 구비한 다양한 송신기들이 예를 들어 MIMO(다중 입력 다중 출력) 시스템에서 결함 신호(combined signal)를 생성하는 경우에 신호의 품질을 분석할 수 있으며, 이 경우 종래의 EVM은 신호들 간의 상호 간섭에 의해서 유용하다고 할 수 없지만, 일부 형태의 복합(composite) EVM은 송신기 품질을 나타내는데 이용될 수 있다. 유사하게, 종래 GSM 송신기에 대한 송신 품질을 측정하는 경우, 품질은 일반적으로 EVM 보다는 누적 위상 에러(integrated phase error)의 관점에서 표현될 수 있다.
예를 들어 벡터 신호 분석기(VSA) 및/또는 벡터 신호 발생기(VSG)와 같은, 보다 현대적인 시험 장비들의 출현으로, 데이터 패킷 신호 발생기에 의한 송신 속성 및 데이터 패킷 신호 수신기의 수신 성능의 종래의 순차적인 시험 및 측정에 대한 대안에 시험 시간 감소에 있어서의 향상이 제공될 수 있다. 예를 들어 VSA와 같은 보다 현대적인 시험 장비의 사용으로, 예를 들어 출력 전력, EVM, 및 스펙트 럼 마스크와 같은 다수의 속성들이 하나의 송신 또는 패킷 열의 개별 패킷에 대해 측정 될 수 있는 시험 절차 및 방법이 사용될 수 있다.
다음의 설명은 데이터 패킷 신호 발생기를 시험하기 위한 시험 시간에 있어서의 향상에 관계된 도 1 내지 4, 및 데이터 패킷 신호 수신기를 시험하기 위한 시험 시간에 있어서의 향상에 관계된 도 5 내지 8과 함께 기술된다.
도 1은 데이터 패킷 신호 발생기에 의해 발생되고 분석 장비에 의해 수신된 것과 같은, 다수의 데이터 패킷 신호(110)의 예시적인 실시예를 나타내는 그래프(100)을 도시한다. 여기서, 데이터 패킷 신호도 단지 패킷 또는 데이터 패킷과 같이 언급된다. 도 1의 그래프(100)는 본원에서 개시된 것과 같은 측정 방법 또는 방법들에 다라서 시간에 대한 패킷 전력 레벨의 도표를 도시한다. 도 1에서 도시된 것과 같이, 다수의 데이터 패킷 신호(110)의 일부(120)는 주기적으로 반복되며, 예를 들어 데이터 패킷 1(DP1), 데이터 패킷 2(DP2), ..., 및 데이터 패킷 6(DP6)은 시간 t7에서 다시 시작함으로써 반복된다. 일부(120)가 6개의 데이터 패킷으로 도시되어 있지만, 일부는 6개의 데이터 패킷보다 더 많거나 적을 수도 있다. 6개의 데이터 패킷(DP1 내지 DP6)의 시퀀스는 시간 t1에서 시작하는 것으로 도시되며, 시간 t7에서 다시 시작함으로써 반복한다. 패킷(DP1)은 시간 t1 및 t7에서 시작하고, 패킷(DP2)는 시간 t2 및 t8에서 시작하며, ..., 시간 t1 < 시간 t2 < 시간 t3 < ... 이다. 또한 도 1의 예시는 패킷들(DP1 내지 DP6)은 출력 전력 레벨에 있어서 점진적으로 증가하는 것으로 도시하며, 예를 들면, 패킷(DP1)은 전력 레벨(P1)을 가지고, 패킷(DP2)은 전력 레벨(P2)을 가지며, 패킷(DP3)는 전력 레벨(P3)을 가 지고, ..., 또한 P1 < P2 < P3 < ... 이다. 다수의 데이터 패킷 신호(110)의 각각의 패킷은, 예를 들어 패킷(DP1)의 패킷 폭(130)과 같이, 동일하거나 일정한 패킷 폭을 가지는 것으로 도시된다. 동일한 폭을 가진 패킷들은 예를 들어 54 Mbps와 같이 동일한 데이터 속도로 송신된 패킷을 나타낸다. 다수의 데이터 패킷 신호(110)의 각각은 동일한 데이터 또는 무작위 데이터를 가질 수 있지만, 도 1의 예시에서 각각은 동일한 크기이고 동일한 데이터 속도로 송신되는 것으로 가정된다.
그러나 도 1에서 예시된 것과 다른 실시예들도 본원에서 개시된 방법에 사용될 수 있다. 예를 들면, 일부(120) 내의 데이터 패킷 수는 6일 필요가 없다. 패킷(DP1 내지 DP6)에 대응하는 출력 전력 레벨(P1 내지 P6)은 증가할 필요가 없으며, 일부(120)의 둘 이상의 패킷은 심지어 동일한 출력 레벨을 가질 수도 있다. 데이터 패킷 신호 발생기는 일부(120)의 적어도 둘 패킷에서 측정될 속성 또는 속성들임에도 변해야만 한다.
도 1의 다수의 데이터 패킷 신호(110)는 측정값으로 조정이 필요하거나 또는 측정값에 대해 조정값을 확인할 필요가 있는 데이터 패킷 신호 발생기 또는 송신기에 의해 발생된다. 벡터 신호 분석기(VSA)와 같은 분석 장치는 다수의 데이터 패킷 신호(110) 중 일부(120)를 캡처하는데 사용될 수 있다. 예를 들면, VSA는 다수의 데이터 패킷 신호(110)를 수신하고, 일부(120)를 메모리 내에 저장하고, 다시 분석을 위해 메모리로부터 저장되고 수신된 일부(120)를 복구(retrieve)할 수 있다. 일부(120)의 캡처는 주어진 패킷의 패킷 속성 - 예컨대 전력 레벨 - 에 대한 개시(triggering) 및 동일한 속성 값 - 예컨대 동일한 전력 레벨)을 가지 패킷이 검출될 때 까지 패킷들을 수용(accepting)함으로써 수행될 수 있다. 동일한 속성 값을 가진 패킷은 반복된 다른 일부(120)의 시작을 신호한다. 예와 같이, VSA는 전력 레벨(P2)을 가진 패킷 - 예컨대 시간 t2에서의 데이터 패킷(DP2) - 이 검출될 때 패킷들의 캡처를 시작하도록 개시할 수 있다. 패킷들은 캡처되고, 전력 레벨(P2)을 가진 다른 패킷 - 예를 들어 시간 t8에서의 데이터 패킷(DP2) - 이 검출될 때까지 나중의 분석을 위해 메모리 내에 저장된다. 이 방법에서, VSA는 나중의 분석을 위해 패킷들(DP2, DP3, DP4, DP5, DP6, 및 DP1)을 캡처하고 저장할 수 있다. 대안적으로 VSA는 전력 레벨(P5)을 가진 패킷에 대해 개시하도록 설정될 수 있다. 이 경우, 패킷들(DP5, DP6, DP1, DP2, DP3, 및 DP4)이 일부(120)로써 캡처되고 저장될 수 있다.
VSA는 일부(120)를 개시 및 수집하기 전에 소정의 미리 결정된 수의 패킷 열 또는 일부들(120)이 지나가는 것을 허용할 수 있다. 종종 송신기는 평형상태에 정착 또는 도달할 시간이 필요하므로, VSA는 송신기의 정착을 허용하도록 충분한 시간이 지나갈 때 까지 패킷들을 수집 또는 캡처(개시)를 시작하지 않을 수 있다. 대안적으로, VSA는 개시로 시작되지 않을 수도 있지만, 자유 구동 모드(free running mode)에서 사용될 수 있으며, 패킷들을 수집하기 위한 시간은 완결된 패킷 열의 완결된 패킷들의 수집을 보장하도록 패킷 열 또는 일부(120)에 대한 것보다 더 길 수 있다. 시스템의 안정(settling)을 보장하기 위해서 패킷들의 수집 전에 충분한 시간이 지나가는 것이 허용된다. 측정을 취하기 전에 시스템을 안정시키는 것은 임의의 패킷이 측정 시스템을 개시할 수 있는 것만큼 패킷 열의 시작의 검출 을 더욱 어렵게 할 수 있다. 그러나 패킷의 형태 및 패킷의 순서를 아는 것은 이 순서 내의 주어진 위치의 패킷을 식별하는 일을 쉽게 할 수 있다. 캡처 시간은 패킷 열이 캡처되는 시간과 비교할 때 동일하거나 다소 길어야만 한다.
패킷 캡처가 송신된 일부 - 예컨대 일부(120) - 에 대해 완료되자마자, VSA 또는 측정 시스템은 다음 주파수 또는 데이터 속도에서 다른 일부(120)를 캡처하는 단계로 진행할 수 있으며, 이 때 이전 주파수 또는 데이터 속도에서 캡처된 패킷들은 분석된다. 이 방법에서, 다수의 데이터 속도 또는 주파수로 송신할 수 있는 송신기의 시험에 대한 시험 시간은 감소될 수 있다.
도 2는 데이터 패킷 신호 발생기에 의해 발생된 출력 신호의 하나 이상의 속성을 측정하기 위한 방법(200)의 예시를 설명하는 흐름도를 도시한다. 도 2의 예시적인 방법은 블록(210)에서 시작하며, 데이터 패킷 신호 발생기가 다수의 데이터 패킷 신호를 생성하도록 준비한다. 블록(220)에서, 미리 정해진 주파수 또는 송신 속성(예를 들어 데이터 속도)이 다수의 데이터 패킷 신호(110)의 발생을 위해 선택된다. 송신 속성으로써 다수의 데이터 속도를 갖는 패킷 - 예컨대 지속파 신호의 일부분(section) - 을 발생시키는 것도 가능하다. 예를 들어 도 5에서 패킷들(510, 520, 530, 540, 550, 및 560)과 같이 본원에서 "데이터 패킷" 또는 "패킷"이라는 용어가 사용되었을지라도, "데이터 패킷" 또는 "패킷"이라는 용어는 지속파(CW) 신호의 일부분을 지칭하는 것일 수 있음을 이해해야 한다. 블록(230)에서, 다수의 데이터 패킷 신호(110)는 데이터 패킷 신호 발생기에 의해 선택된 미리 결정된 주파수 또는 송신 속성으로 발생된다. 발생된 다수의 데이터 패킷 신호(110) 의 일부(120)는 데이터 패킷 신호 발생기의 조정 범위 - 예컨대 눈금(graduation)을 가진 범위 - 에 대해 값이 변하는 적어도 하나의 속성을 갖는다. 예를 들면, 적어도 하나의 속성은 패킷 출력 전력을 포함할 수 있으며, 이는 예를 들어 도 1에서 도시된 것과 같은 전력 레벨(P1)에서 전력 레벨(P6)까지의 출력 전력 범위에 대해 변하게 될 수 있다. 발생된 일부(120)의 출력 전력 레벨(P1 내지 P6)은 데이터 패킷 신호 발생기의 조정 - 예컨대 눈금 세트 - 에 미치며(span), 조정은 측정값을 기초로 확인된 값으로 할당되거나 할당되었던 것이다. 일 실시예에서, 이 방법은 측정값들을 조정 범위로 매칭 시키고, 측정값들 사이의 조정 범위의 점들에 대한 조정 범위에 대해서 값들을 추정한다. 다른 실시예에서, 본 방법은 데이터 패킷 신호 발생기의 조정 범위의 값들을 적어도 하나의 속성의 측정값에 대해 확인한다. 또 다른 실시예에서, 일부(120) 내의 각각의 데이터 패킷 신호는 적어도 하나의 속성(예컨대 출력 전력)에 대해 상이한 값을 가지며, 상이한 값들은 데이터 패킷 신호 발생기의 조정 범위에 미친다(span).
블록(240)에서, 다수의 데이터 패킷 신호(110)의 일부(120)는 수신 분석 장치 - 예컨대 VSA -에 의해 수신된다. 블록(250)에서, VSA는 측정값을 생성하기 위해서 일부(120)의 수신된 패킷에 대한 적어도 하나의 속성 값을 측정한다.
블록(250)에서 생성된 측정값은 다수의 속성에 대한 값들을 포함할 수 있다. 예를 들면, 측정값은 일부(120) 패킷들의 출력 전력, 에러 벡터 크기(EVM), 및 스펙트럼 크기(content) 또는 마스크에 대한 값들을 포함할 수 있다. 정교한 측정 장치 - 예컨대 VSA -의 사용으로, 다수의 패킷 속성들의 측정은 일부(120) 패킷들 에 대해 만들어질 수 있다. 전자 송신기의 생산 시험을 위한 시험 시간은 다수의 데이터 패킷 신호(110)의 캡처된 일부(120) 내의 개별 패킷들의 다수의 속성들을 측정함으로써 감소될 수 있다.
블록(260)에서, 시험은 측정들이 다른 미리 결정된 송신 주파수 또는 송신 속성들에서도 필요한지를 결정하기 위해서 수행된다. 만약 그렇다면, 블록(270)에서 다른 미리 결정된 송신 주파수 또는 속성이 데이터 패킷들의 다른 송신에 대해서 선택된다. 그 후 진행은 블록(270)에서 블록(230)으로 향하고, 블록(230, 240, 및 250)에 대해 진행 블록들을 반복한다. 만약 블록(260)에서 추가적인 측정이 필요하지 않다면, 진행은 측정값을 사용자 또는 시험자에게 이용 가능하도록 함으로써 블록(280)에서 끝난다. 측정 동작이 다음 캡처(발생 및 수신) 동작과 병렬적으로 이뤄질 수 있도록 두 개의 병렬적인 동작들이 도 2에 대해 수행될 수 있다는 것을 이해해야 한다.
도 3은 데이터 패킷 신호 발생기에 의해 발생되고 분석 장치에 의해 수신된 것과 같은, 다수의 데이터 패킷 신호(310)의 예시적인 실시예를 나타내는 다른 그래프(300)를 도시한다. 도 3의 그래프(300)는 다수의 전력 레벨에서 다수의 데이터 속도로 송신할 수 있는 장치의 성능을 확인하기 위한 측정 방법에서 사용될 수 있는 패킷 열을 도시한다. 도 3에서, 도 1과 비교할 때, 주파수 또는 데이터 속도가 변할 뿐만 아니라, 다수의 데이터 패킷 신호(310)의 일부(320)의 송신된 패킷의 출력 전력도 변한다. 데이터 패킷 11(DP11)의 폭(330)과 같은 패킷 폭은 예를 들어 DP11에 대한 54 bps와 같이 패킷의 데이터 속도를 나타낸다. 따라서 도 3에서 도시된 것과 같이 DP11의 폭(330) (54 Mbps를 나타냄)은 데이터 패킷 14(DP14)의 폭(340) (24 Mbps를 나타냄)과 상이하다. 또한 패킷들의 송신의 패킷들 사이의 시간도 필요한 분석에 따라서 변할 수 있다. 예를 들면, 스펙트럼 마스크 측정의 경우에, 스펙트럼 마스크의 희망하는 평균을 얻기 위해서 더 긴 캡처 신간 또는 캡처 윈도우(350)가 필요할 수 있다. 최적의 동작을 위해, 패킷 길이는 측정 속성 - 예컨대 EVM 측정 - 에 따를 수 있으며, 모든 패킷들은 데이터 속도와 무관하게 동일한 길이일 수 있다(EVM은 X 심볼에 대해 측정되며, 데이터 속도는 동일한 심볼 길이를 사용한다.). 전력에 대해서, 동일한 것은 사실이지만, 패킷 길이는 상이한 전력 레벨에 대해 상이할 수 있다.
도 3은 송신기의 표준 - 예컨대 IEEE 802.11g 표준 - 으로의 조건 합치(compliance)를 시험하는데 사용될 수 있는 통상적인 패킷 열을 예시한다. 전력과 EVM은 54 Mps(예를 들어 DP11), 48 Mbps(예를 들어 DP12), 및 36 Mbps(예를 들어 DP13)에서 발생된 패킷들에 대해 측정될 수 있다. 또한, 일부(320)는 전력, EVM 및 스펙트럼 마스크에 대해 측정될 수 있는 패킷 14(DP14) (24 Mbps), 전력 및 스펙트럼 마스크에 대해 측정될 수 있는 패킷 15(DP15) (6Mbps)를 포함할 수 있다. 24 Mbps 및 6 Mbps에서 송신된 패킷들은 통상적으로 동일한 전력 레벨이며, 이는 스펙트럼 마스크의 제한들이 통상적으로 출력 레벨이 충분히 낮게 유지되어 허용된 스펙트럼 대역폭을 벗어난 스펙트럼 소실이 제한된 한계 내에서 유지될 것을 요구하기 때문이다. 따라서 전력은 24 Mbps 이하의 송신 속도를 가진 패킷들에 대해 더 증가되지 않을 것이다. 도 3에서 도시된 것과 같이, DP11 내지 DP13은 대응하 는 전력 레벨(P11 내지 P13)을 가지며, DP14 및 DP15는 동일한 전력 레벨(P14)을 갖는다. 따라서 연속적인 패킷들(DP11, DP12, DP13, DP14, 및 DP15)을 갖는 패킷 열 또는 일부(320)는 하나의 송신으로 상기 언급된 패킷 파라미터들 또는 속성들 모두를 측정하고 다양한 데이터 속도로 송신된 패킷들의 캡처하는데 사용될 수 있다.
도 4는 데이터 패킷 신호 발생기에 의해 발생된 출력 신호의 하나 이상의 속성을 측정하는 방법(400)의 예를 나타내는 흐름도를 도시한다. 예시 방법(400)은 블록(410)에서 시작하며, 데이터 패킷 신호 발생기가 다수의 데이터 패킷 신호 - 예컨대 도 3의 다수의 데이터 패킷 신호(310) - 를 발생시키도록 준비한다. 도 3에 대해 상술되었듯이, 다수의 데이터 패킷 신호(310)의 일부(320)는 그 일부(320)의 다른 데이터 패킷 신호와 송신 데이터 속도 및 출력 전력 모두에 있어서 상이한 데이터 패킷 신호를 갖는다. 그 일부(320)의 데이터 패킷 신호의 각각은 데이터 속도 및 출력 전력 모두에 있어서 변할 수 있음을 나타낸다. 블록(420)에서, 다수의 데이터 패킷 신호 - 예컨대 다수의 데이터 패킷 신호(310) -는 데이터 패킷 신호 발생기에 의해 발생되듯이 데이터 패킷 신호의 출력 전력 및 데이터 속도를 변화시킴으로써 발생된다. 블록(430)에서 다수의 데이터 패킷 신호는 분석을 위해 수신된다. 블록(440)에서 일부, 즉 수신된 다수의 데이터 패킷 신호 중 일부(320)는 그 일부의 데이터 패킷 신호의 적어도 하나의 속성에 대해 측정값을 생성하기 위해서 측정된다.
블록(440)에서 생성된 측정값들은 다수의 속성들에 대한 값들을 포함할 수 있다. 예를 들면, 측정값들은 그 일부(320)의 패킷들에 대한 출력 전력, 에러 벡터 크기(EVM), 및 스펙트럼 크기(content) 또는 마스크에 대한 값 값들을 포함할 수 있다. 정교한 측정 장비 - 예컨대 VSA - 의 사용으로 다수의 패킷 속성들의 측정은 그 일부(320)의 패킷들에 대해서 만들어질 수 있다.
블록(450)에서, 방법(400)의 진행은 끝나고, 측정값들이 사용자 또는 시험자에게 이용 가능하도록 한다. 측정값들은 예를 들어 데이터 패킷 신호 발생기의 조정 범위의 값들을 확인하는데 사용될 수 있다.
분석을 위해 데이터 패킷 신호 발생기에 의해 패킷 속성들이 변하는 패킷들의 다수 패킷 송신의 사용과 유사하게, 데이터 패킷 신호 수신기에 의해 패킷 속성들이 변하는 패킷들의 다수 패킷 수용을 이용하는 것도 가능하다. 패킷 속성들이 변하는 패킷들의 일 다수 패킷 송신의 사용은 데이터 패킷 신호 발생기 및 데이터 패킷 신호 수신기 모두에 대해 시험 시간에 있어서의 감소를 제공 할 수 있다.
2005년 6월 1일에 출원된 미국 특허 출원 제 10/908,946호(이의 내용은 본원에 참조로써 통합됨)의 논의에 따라서, 패킷 속성들이 변하는 패킷들로 구성된 송신 신호 또는 다수-패킷 열은 데이터 패킷 신호 수신기의 성능 또는 민감도의 시기적절한 결정을 하는데 사용될 수 있다. 현재 청구되는 본 발명에 따라서, 변하는 패킷 속성들로 구성된 송신 신호 또는 다수-패킷 열은 다수의 데이터 속도를 수용하기 위해서 데이터 패킷 신호 수신기의 수용 성능을 시기적절하게 결정하는데 사용될 수 있다. 또한, 이 개시는 데이터 패킷 신호 수신기의 수신 신호 세기 지시기(RSSI)의 정확도를 시험/조절(예를 들어 조정)하는데 다수 전력 레벨의 패킷들의 패킷 열을 가진 신호의 사용을 기술한다.
수신기의 생산 시험은 통상적으로 수신기의 민감도를 결정하고 명세(specification)에 따른 장치 성능을 보장하기 위한 시험 시간이 필요할 수 있다. 명세에 따른 수신도 및 성능은 아날로그 전단부의 잡음 특성과 모뎀에서의 디지털 신호 처리의 성능 확인을 조합하여 측정될 수 있다.
최근 수신기는 주어진 신호 레벨에 대해 가능한 최상의 데이터 처리량을 얻기 위해서 다수의 데이터 속도를 지원할 수 있다. 이의 예는 IEEE 802.11g 표준이며, 여기서 대부분의 시스템들(송신기 및 수신기)은 1, 2, 5.5, 6, 9, 11, 12, 18, 24, 36, 48, 및 54 Mbps 데이터 속도를 지원한다. 이 경우의 기본적인 차이점은 이러한 데이터 속도를 달성하는데 사용하는 변조(modulation) 및 부호화(coding)이다. 수신기는 어떤 데이터 패킷이 첫 번째로, 그 다음 두 번째로 등등 수신될지를 알 수 없을 것이기 때문에, 수신기는 모든 가능한 수신 패킷에 대해 일치하는 수신기의 아날로그(무선 주파수 또는 RF) 부분을 가져야만 하며, 따라서 오직 모뎁(디지털 신호 처리(DSP)) 부분이 다를 것이다. 따라서 데이터 패킷 신호 수신기의 시험은 단지 단일 변조 또는 데이터 속도에서의 민감도를 체크하고, 나머지 데이터 속도에서의 모뎀 동작을 확인하는 것이 필요할 수 있다.
통상적인 생산 시험에서, 수신기는 수신기가 간단히 패킷들을 수신하고, 좋은 패킷과 나쁜 패킷들을 계수하는 모두에서 동작될 수 있다. 좋은 패킷과 나쁜 패킷들의 계수로부터, 수신기 성능(민감도 및 데이터 속도 능력)은 결정될 수 있다.
전통적으로, 미리 결정된 수의 패킷들 - 예컨대 1000 패킷 - 은 민감도를 시험하기 위해서 주어진 전력 레벨(또는 상기 언급된 미국 특허 출원 제 10/908,946호에서 기술되었듯이, 다수의 전력 레벨)로 송신된다. 만약 합격 제한이 10% 패킷 에러율(PER)이라면, 900 패킷 이상이 민감도 시험을 통과하도록 수신되어야만 한다.
일단 민감도 시험을 통과하면, 노이즈 특성은 수용 가능하고, 모뎀은 주어진 데이터 속도에서 올바르게 동작한다고 가정될 수 있다. 다수 데이터 속도 수신기의 경우에, 남는 것은 나머지 데이터 속도들을 시험할 것이다. 전통적으로, 새로운 데이터 속도에서 송신이 시작할 것이고, 그 데이터 속도에서 수신기의 올바른 동작을 확인할 것이다. 시스템을 재구성하는 것이 새로운 데이터 속도에서 송신하고 수신하는 것에 대해 필요하기 때문에 이는 효율적이지 않다. 송신기 시스템 및 수신기 시스템을 재구성하는 시간을 줄이기 위해서, 다수 패킷 송신 및 수신 시험이 이뤄질 수 있으며, 시스템은 다수 데이터 속도에서의 패킷들을 가진 패킷들의 파열(wave train)들을 송신하고 수신하도록 구성된다.
동일한 패킷을 여러 번 송신하는 것보다는, 도 5의 예시는 시험될 각각의 변조 또는 데이터 속도를 갖는 하나의 패킷을 포함하는 패킷들의 파열(500)의 송신 및 수신을 도시한다. 예를 들면, 도 5는 전형적인 IEEE 802.11g 표준 수신기에서의 기본파(fundamental waveform)를 도시한다. 48 Mbps 패킷은 도 5에서 도시되지 않았으며, 이는 54Mbps 패킷(510)과 48Mbps 패킷(미도시)는 모뎀 또는 변조(직교 주파수-분할 다중화(OFDM) - 이에 대한 데이터 속도는 54, 48, 35, 24, 18, 12, 9 및 6 Mbps임 - )에 대해서 동일하며 오직 부호화에 있어서만 상이하기 때문이다. 유사하게, 12Mbps 패킷도 도 5에서 도시되지 않았으며, 이는 18Mbps 패킷(540)과 12Mbps 패킷(미도시)도 모뎀 또는 변조(OFDM)에 대해서는 동일하지만, 부호화에 있어서만 상이하기 때문이다. 유사하게, 11Mbps 패킷(520)과 5.5Mbps 패킷(직접 시퀀스 확산 스펙트럼(DSSS) 변조 - 이의 데이터 속도는 11, 5.5, 2 및 1 Mbps임 - 와 상보 코드(CCK) 부호화를 가짐)(미도시)에 대해서도 동일함은 사실이며, 36Mbps 패킷(530)과 a 24Mbps 패킷(OFDM) (미도시), 등도 마찬가지다. 도 5의 예에서, 송신된 신호 또는 파열(500)은 모두 실질적으로 동일한 송신 전력 레벨에서의 송신된 패킷들을 갖는다.
도 5의 예에서, 파열(500)의 모든 패킷들은 동일한 전력 레벨을 갖기 때문에, 만약 패킷들이 54Mbps 패킷들에 대한 수신 민감도에 대해 수용 가능한 전력 레벨로 송신된다면, 모든 나머지 패킷들도 만약 모뎀들이 이들의 데이터 속도에서 올바르게 동작한다면 문제없이 수신되어야만 하며, 따라서 더 낮은 데이터 속도들은 54Mbps보다 낮은 신호 대 잡음 비율(SNR) 요구를 갖는다.
도 5의 예시에서, 만약 파열(500)의 1000개가 송신되고, 따라서 파열(500) 내에 도시된 패킷들로 구성된 각각에 대해 1000개가 있다면, 6000 패킷들이 수신기에 의해 수신되기 위해 송신된다. 이 경우 오직 54Mbps 패킷들만이 실패할 것이라고 기대되고, 54Mbps에 대한 10%의 패킷 에러율(PER)의 민감도라면, 오직 1000개의 54Mbps 패킷들 중 100개가 실패할 것이라고 기대될 것이다. 6000개의 송신된 패킷들 중 5900개 또는 패킷들의 98.33%가, 수신기 모뎀이 다수의 데이터 속도에 대해 정상적으로 동작하는 경우, 정상적으로 수신될 것이라고 기대될 것이다. 만약 한 가지 패킷 형태 또는 데이터 속도에 대해 정상적으로 동작하지 않는다면, 추가적인 1000개의 패킷들은 이 경우에 사라지기 쉬울 것이기 때문에 이를 쉽게 알 수 있을 것이다. 이 방법에서, 하나의 송신 또는 파열에 대해 정상적으로 수신된 패킷들의 총 수의 계수는, 데이터 패킷 신호 수신기가 시험되고 있는 수신기에 대한 모든 데이터 속도에서 정상적으로 동작하고 있는지를 결정하는데 사용될 수 있다.
도 5의 예시에서, 패킷 파열(500)의 도시된 패킷들은 더욱 짧게 만들어진 중요하지 않은(non-critical) 패킷들을 가질 수도 있다. 중요하지 않은 패킷들은 이들과 관련된 데이터 속도에 대해서 민감도 레벨이 시험되지 않은 것들이며, 따라서 이는 중요하지 않은 패킷들이 다른 민감도에서 시험된 데이터 속도에 대해 얼마나 긴지는 중요하지 않아야 한다. 따라서 도 5의 54Mbps 데이터 패킷들은 필요하다면 민감도에 대해서 시험될 수 있으며, 만약 그렇다면, 이는 수신기의 민감도를 결정하는데 사용하기 위해서 중요하다. 이상적으로, 데이터 패킷 신호 수신기는 각각의 데이터 속도에 대해서 통계자료를 제출해야한다. 이것이 그런 경우였다면, 나쁜 데이터 패킷 신호 수신기는 보다 쉽게 식별될 수 있을 것이다.
도 6의 예시에서, 파열(600)의 개별 패킷들은 이들의 전송 전력 레벨 내로 스케일링 된다. 파열(600)의 각 패킷은 패킷 데이터 속도에 대한 관련 민감도에서 전력 레벨로 스케일링 되거나 송신되며, 따라서 합격 레벨은 올바르게 동작하는 모뎀을 갖춘 수신기에 대해 90%의 좋은 패킷들일 것으로 기대된다. 다시, 만약 모뎀이 주어진 패킷 형태에 대해 실패한다면, 추가적인 900 나쁜 패킷들이 기대될 수 있다. 따라서 실패한 모뎀은 여전히 분리 가능해야만 한다. 예를 들면, 도 6에서 각각의 도시된 패킷 중 100개가 이들의 민감도 레벨로 송신된다면, 그리고 각각의 수신된 데이터 속도에서 10% 실패율(PER)이라면, 6 * 900 또는 5400개의 패킷들이 정상적으로 수신될 것이라고 기대할 것이다(90% 성공률). 만약 모뎀이 실패하였다면, 900개 이상의 패킷들은 정상적으로 수신되지 않을 것이며, 정상적으로 4500 패킷들이 수신되었다는 결과 또는 75%의 성공률을 나을 것이다. 이 방법에서, 하나의 전송 또는 파열(600)에 대해 정상적으로 수신도니패킷들의 총수의 계수는 데이터 패킷 신호 수신기가 시험되는 수신기에 대한 모둔 데이터 속도에서 정상적으로 동작하고 있는지를 결정하는 사용될 수 있다. 그러나 도 6의 예에 관해서, 너무 많은 데이터 패킷 속도를 부가하거나 시험하는 것에 주의해야만 하며, 이는 좋은 수신기는 하나의 데이터 속도를 실패한 모뎀을 잠재적으로 숨길 수 있기 때문이다. 예를 들면, 10개의 패킷으로 이루어진 패킷 열 또는 파열 - 각각은 상이한 데이터 속도를 가짐 - 은, 하나 만을 제외한 모든 패킷들이 완벽하게 수신된 경우에, 100% 실패한 하나를 숨길 수 있을 것이다. 예를 들면 상이한 데이터 속도들을 가진 파열 내의 10개의 패킷으로 구성된 1000개의 파열이 전송되고 수신되었으며, 9개의 데이터 속도는 완벽히 수신되고( 9 * 1000 = 9000 패킷들은 정상적으로 수신됨), 한 모뎀은 완전히 실패(따라서 1000개의 패킷은 수신되지 않음)한 경우, 그 결과는 여전히 10000개의 패킷 중 9000가 정상적으로 수신된 것이며, 또는 10%의 실패율(10% PER)이다. 따라서 90%의 성공률을 가진 좋은 수신기로 표시된 것은, 주어진 데이터 속도에서 완전히 실패하는 실질적으로 실패한 수신기이다.
본 기술분야의 당업자는 일부 패킷들은 스케일링 되고, 일부는 그렇지 않은 다른 조합들을 쉽게 실현시킬 수 있다는 것을 이해해야 한다. 예를 들면, 도 7은 패킷 또는 파열(700)을 도시하며, 여기서 두 패킷(770 및 780), 예컨대 두 데이터 속도는 파열 패킷들(710, 720, 730, 740, 750, 및 760) 중 나머지와 상이한 전력 레벨로 있을 수 있으며, 파열 패킷들 중 나머지는 동일한 전력 레벨로 있다. 예를 들면, 패킷들(770 및 780)은 관련 데이터 패킷 속도에 대한 민감도에 대응하는 전력 레벨로 있을 수 있다.
본 기술분야의 일반적인 지식의 하나는, 주어진 패킷의 민감도를 측정할 뿐만 아니라 다수 데이터 속도를 측정하기 위해서, 상기 언급된 미국 특허 출원 제 10/908,946호에서 개시된 방법에 따라서 사용되는 스케일링된 전력 및 다수 데이터 속도 패킷들의 조합들을 추가로 결정할 수 있다. 이들을 조합하는 것의 장점은 모든 기능을 시험하는데 사용되는 오직 하나의 파열만이 필요하다는 것이며, 따라서 전체 시험 시간을 감소시킬 수 있다는 것이다. 하나가 모든 데이터가 실패하기 쉬운 데이터 속도를 가질 것이기 때문에 민감도를 시험하기 위해서 변하는 데이터 속도를 조합하는 것은 어려울 수 있으며, 이 경우에 모든 패킷들이 이미 실패하기 때문에 동시에 모뎀의 기능을 아마 시험하지 않을 것이라는 것에 주의해야만 한다. 그러나 도 7의 예시에서 제공되었듯이, 다수 데이터 속도 패킷들은 그래도 "성공 측(pass side)" 상에서 시험될 수 있다.
도 8은 다수의 데이터 속도에서 수신되기 위한 데이터 패킷 신호 수신기의 능력을 결정하기 위한 방법의 예시를 설명하는 흐름도를 도시한다. 흐름도(800) 는, 예를 들어 도 5의 파열(500)과 같이, 소정의 미리 결정된 횟수로 파열의 송신과 함께 810에서 시작한다. 820에서 데이터 패킷 신호 수신기는 다수의 데이터 패킷 신호들을 수신하며, 여기서 수신된 다수의 데이터 패킷 신호들의 일부의 적어도 제 1 및 제 2 신호는 각각 적어도 2개의 수신기가 지원하는 데이터 속도 중 제 1 및 제 2 속도를 갖는다. 830에서 정상적으로 수신된 데이터 패킷 신호의 총 수는 수신된 일부으로부터 결정된다. 840에서 정상적으로 수신된 데이터 패킷 신호의 총 수는 미리 결정된 숫자와 비교된다. 적어도 두 개의 수신기가 지원하는 데이터 속도에서의 데이터 패킷 신호 수신기의 올바른 동작은 비교의 결과로서 결정될 수 있다. 그리고 850에서 흐름도(800)의 진행은 사용자에게 이용 가능하게 만들어진 결과와 함께 종료한다.
많은 장점들 중에서, 본원에서 개시된 실시예들은 하나의 송신 패킷 열 또는 파열의 패킷들에 대해서 변하는 다수의 속성들 또는 파라미터들에 대한 측정값들을 결정함으로써 송신기/수신기 시스템에 대한 시험 시간에 있어서 감소를 제공한다. 시험 시간은 하나 이상의 패킷 속성들 - 예컨대 출력 전력, EVM, 및 스펙트럼 마스크 -을 측정함으로써 감소되며, 이러한 속성들은 하나의 단일 패킷 파열 송신 내의 값에 있어서 변화된다. 게다가, 다수의 패킷 속성들은 단일 패킷 열 송신에서 측정될 수 있으며, 여기서 패킷들은 상이한 데이터 속도로 송신된다. 많은 현대 데이터 패킷 신호 수신기들은 다수의 데이터 속도에서 수신할 수 있으며(예를 들어 다수의 모뎀들을 구비함), 하나의 패킷 열 송신 및 수신에 의해 모든 데이터 속도가 시험될 수 있다. 따라서 보다 현대적인 시험 장비 - 예컨대 VSA 및/또는 VSG - 와 함께 본원에 개시된 방법들을 사용함으로써, 복합 고주파 송신기 및 수신기 모두에 대한 시험 시간을 감소시키기 위해서 현대적인 생산 측정 장비가 하나의 가변 다수-패킷 파열 또는 송신을 제공하는데 사용되고 구성될 수 있다.
본 발명의 상기 상세한 설명과 본원에 개시된 예시들은, 한정의 목적이 아닌, 오직 예시와 설명의 목적으로 제출되었다. 예를 들면, 기술된 동작들은 임의의 적절한 방법으로 수행될 수 있다. 본 방법의 단계들은 기술된 동작과 결과를 여전히 제공하는 임의의 적절한 순서로 이뤄질 수 있다. 따라서 본 발명은 상기와 같이 개시되고 본원에서 청구되는 기본적이고 기초적인 원리의 사상 및 범위 내에 포함될 임의의 그리고 모든 변경물, 변형물 또는 동등물을 포함할 수 있다는 것을 고려해야 한다.

Claims (17)

  1. 신호 발생기에 의해 발생된 출력 신호의 하나 이상의 속성을 측정하기 위한 방법으로써,
    상기 신호 발생기에 의해 다수의 신호를 발생시키는 단계 - 상기 다수의 신호 중 일부는 상기 신호 발생기의 조정 범위에 대해 값으로 변하는 적어도 하나의 속성을 가짐 - ;
    분석을 위해 상기 신호 발생기로부터 상기 다수의 신호 중 상기 일부를 수신하는 단계; 및
    다수의 측정값을 생성하기 위해서, 상기 다수의 신호들 중 상기 수신된 일부에 대한 상기 적어도 하나의 속성의 값을 측정하는 단계를 포함하는, 신호 발생기에 의해 발생된 출력 신호의 하나 이상의 속성을 측정하기 위한 방법.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 다수의 측정값을 상기 조정 범위에 매핑하는 단계를 더 포함하는, 신호 발생기에 의해 발생된 출력 신호의 하나 이상의 속성을 측정하기 위한 방법.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 신호 발생기의 상기 조정 범위의 값들을 상기 적어도 하나의 속성에 대한 상기 다수의 측정값에 대해 비교하는 단계를 더 포함하는, 신호 발생기에 의해 발생된 출력 신호의 하나 이상의 속성을 측정하기 위한 방법.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 다수의 측정값들 중 적어도 하나는 출력 전력, 스펙트럼 마스크(spectral mask), 및 신호 품질 중 하나에 대응하는, 신호 발생기에 의해 발생된 출력 신호의 하나 이상의 속성을 측정하기 위한 방법.
  5. 제3항에 있어서,
    상기 다수의 신호들 중 적어도 제 1 및 제 2 신호는 각각 동일하지 않은 제 1 및 제 2 데이터 속도 및 동일하지 않은 제 1 및 제 2 전력 레벨을 구비한 제 1 및 제 2 데이터 패킷을 포함하는, 신호 발생기에 의해 발생된 출력 신호의 하나 이상의 속성을 측정하기 위한 방법.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 다수의 신호들 중 적어도 제 1 및 제 2 신호는 각각 상기 적어도 하나의 속성의 동일하지 않은 제 1 및 제 2 값을 포함하는, 신호 발생기에 의해 발생된 출력 신호의 하나 이상의 속성을 측정하기 위한 방법.
  7. 제1항에 있어서,
    상기 적어도 하나의 속성은 출력 전력, 스펙트럼 마스크, 및 신호 품질 중 적어도 하나를 포함하는, 신호 발생기에 의해 발생된 출력 신호의 하나 이상의 속성을 측정하기 위한 방법.
  8. 제1항에 있어서,
    상기 다수의 발생된 신호 중 상기 일부의 각각의 신호는 미리 결정된 개수의 데이터를 포함하는, 신호 발생기에 의해 발생된 출력 신호의 하나 이상의 속성을 측정하기 위한 방법.
  9. 제1항에 있어서,
    상기 다수의 발생된 신호 중 상기 일부의 적어도 제 1 및 제 2 신호는 각각 제 1 및 제 2 의 다수의 상이한 데이터를 포함하는, 신호 발생기에 의해 발생된 출력 신호의 하나 이상의 속성을 측정하기 위한 방법.
  10. 제1항에 있어서,
    상기 다수의 신호들 중 적어도 제 1 및 제 2 신호는 각각 동일한 제 1 및 제 2 데이터 속도를 구비한 제 1 및 제 2 데이터 패킷 신호를 포함하는, 신호 발생기에 의해 발생된 출력 신호의 하나 이상의 속성을 측정하기 위한 방법.
  11. 제1항에 있어서,
    상기 다수의 신호는 다수의 데이터 패킷 신호를 포함하고;
    상기 발생하는 단계, 수신하는 단계, 및 측정하는 단계는 다수의 미리 결정된 데이터 속도의 각각에 대해 되풀이되는, 신호 발생기에 의해 발생된 출력 신호의 하나 이상의 속성을 측정하기 위한 방법.
  12. 제1항에 있어서,
    상기 다수의 데이터 패킷 신호 중 적어도 제 1 및 제 2 신호는 각각 동일하지 않은 제 1 및 제 2 데이터 속도 및 동일하지 않은 제 1 및 제 2 전력 레벨을 구비한 제 1 및 제 2 데이터 패킷 신호를 포함하는, 신호 발생기에 의해 발생된 출력 신호의 하나 이상의 속성을 측정하기 위한 방법.
  13. 제1항에 있어서,
    상기 다수의 신호들의 상기 수신된 일부를 메모리에 저장하는 단계를 더 포함하는, 신호 발생기에 의해 발생된 출력 신호의 하나 이상의 속성을 측정하기 위한 방법.
  14. 제13항에 있어서,
    상기 메모리로부터 상기 저장된 일부를 복구하는(retrieving) 단계를 더 포함하는, 신호 발생기에 의해 발생된 출력 신호의 하나 이상의 속성을 측정하기 위한 방법.
  15. 다수의 데이터 속도를 지원하는 데이터 신호 수신기를 시험하기 위한 방법으로써,
    상기 데이터 신호 수신기에 의해 다수의 데이터 신호를 수신하는 단계 - 상기 다수의 데이터 신호의 일부 중 적어도 제 1 및 제 2 신호는 각각 적어도 2 개의 수신기가 지원하는 데이터 속도 중 제 1 및 제 2 데이터 속도를 가짐 - ;
    상기 수신된 일부으로부터 올바르게 수신된 데이터 신호의 총 수를 결정하는 단계; 및
    상기 올바르게 수신된 데이터 신호의 총 수를 미리 결정된 수와 비교하는 단계를 포함하는, 다수의 데이터 속도를 지원하는 데이터 신호 수신기를 시험하기 위한 방법.
  16. 제15항에 있어서,
    상기 수신하는 단계는 실질적으로 동일한 제 1 및 제 2 전력 레벨로 상기 다수의 데이터 신호의 상기 수신된 일부 중 적어도 제 1 및 제 2 데이터 신호를 각각 수신하는 단계를 포함하는, 다수의 데이터 속도를 지원하는 데이터 신호 수신기를 시험하기 위한 방법.
  17. 제15항에 있어서,
    상기 수신하는 단계는 상이한 제 1 및 제 2 전력 레벨로 제 1 및 제 2 상이한 수신기가 지원하는 데이터 속도로, 상기 다수의 데이터 신호의 상기 수신된 일 부 중 적어도 제 1 및 제 2 데이터 신호를 각각 수신하는 단계를 포함하는, 다수의 데이터 속도를 지원하는 데이터 신호 수신기를 시험하기 위한 방법.
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