TWI442072B - 用於測試無線收發器之裝置及方法 - Google Patents

Description

用於測試無線收發器之裝置及方法 發明領域

本揭露與無線通訊系統有關，更加特別地，與無線通訊系統的生產測試有關。

發明背景

隨著無線通訊系統的數目及用途的增加，對於這些系統的製造商而言，以一種更加時間有效的方式對嵌入在這些系統中的無線收發器執行生產測試變得愈來愈重要。

一種使測試時間最小化的方法是使用諸如在共同擁有的美國專利申請案11/422,475以及11/422,489中所揭露的一多封包測試技術。當使用這些技術時，待測裝置(DUT)與測試設備兩者包括用來改變DUT的性能且提供簡化的生產測試的一預定測試流程或序列。在測試期間，DUT可根據該預定測試流程傳送測試封包，以及測試設備可根據該預定測試流程選擇性地擷取期望的封包。

當DUT需要在諸如多發送/接收功率位準以及多調變技術的一寬操作參數範圍內操作時，這些技術可能產生的一個問題。當這些參數遭改變時，測試設備可能無法以足夠高的準確性測量測試封包，而這是不期望的。因此，有必要提供一種在測試於一寬操作參數範圍內操作的無線收發器時使測試時間最小化以及提供足夠高的準確性的方法與裝置。

發明概要

在一例子中，一種用於測試一通訊電路的裝置包括一動態範圍模組。該動態範圍模組包括信號強度調整模組及一控制模組。該信號強度調整模組根據一預定測試序列調整所傳送的測試封包的峰值信號強度。該控制模組選擇性地控制該信號強度調整模組以根據該預定測試序列調整峰值信號強度。同時也揭露了一種相關的方法。

在一例子中，該測試模組包括分析該等測試封包的一向量信號分析器。在一例子中，該測試模組包括可操作地耦接到該向量信號分析器且設定到一預定增益的一接收器。

在一例子中，該信號強度調整模組透過衰減峰值信號強度來調整該峰值信號強度。

在一例子中，該動態範圍模組包括檢測測試封包的一功率檢測模組。在一例子中，該控制模組根據該等所檢測的測試封包控制該信號強度調整模組。在一例子中，該控制模組計數所接收的測試封包。

在一個例子中，該控制模組控制該信號強度調整模組以基於根據該預定測試序列的功率位準改變和/或基於根據該預定測試序列的調變改變調整該等測試封包的峰值信號強度。

在一個例子中，該控制模組控制該信號強度調整模組以根據該預定測試序列在功率位準減小時增加峰值信號強 度。

在一個例子中，該控制模組控制該信號強度調整模組以根據該預定測試序列在功率位準增加時減小峰值信號強度。

圖式簡單說明

第1圖 是包括一待測裝置、一測試模組及一電腦的一測試設置的一示範性的功能方塊圖；第2圖 是該測試模組擷取一預定測試流程之一例子的一示範性時序圖；第3圖 是該測試模組擷取一預定測試流程之另一例子的一示範性時序圖；第4圖 是包括該測試模組和一動態範圍模組的一改進過的測試器具的一示範性的功能方塊圖；第5圖 是一描述示範性步驟的流程圖，其中在根據該第2圖的預定測試流程擷取封包時，該等示範性步驟可被該測試器具採用；第6圖 是該測試器具擷取該第2圖的預定測試流程的一例子的一示範性時序圖；第7圖 是一描述備選示範性步驟的流程圖，其中在根據該第2圖的預定測試流程擷取封包時，該等備選示範性步驟可被該測試器具採用；第8圖 是該測試器具使用第7圖的步驟擷取封包的一示範性時序圖；第9圖 是一描述示範性步驟的流程圖，其中在根據該第 3圖的預定測試流程擷取封包時，該等示範性步驟可被該測試器具採用；第10圖 是該測試裝置根據該第3圖的預定測試流程擷取封包的一示範性時序圖。

較佳實施例之詳細說明

下面的實施例描述的性質僅是示範性的，無論如何都不意欲限制本發明、其應用或者用途。為了清晰起見，相同的參考數字將被用來在該等圖式中確定類似的元件。該等實施例被充分詳細地描述以使在具有本技術領域具有通常知識者能實施該揭露，並且將理解的是，在不脫離本發明主題的精神或範圍前提下，其他實施例可具有一些變化地實施。

如於此所使用的術語“模組”、電路和/或裝置是指一特定應用積體電路(ASIC)、一電氣電路、一處理器(共享、專用或分組)以及執行一或多個軟體或韌體程式的記憶體、一組合邏輯電路以及/或者提供所述功能的其他合適元件。在沒有明確指示與該上下文相反的情況下，將理解的是，所述的個別電路元件可以是單數或複數。例如，術語“電路”可包括一單一元件或多個元件，其中該元件是主動和/或被動的以及被連接或耦接在一起(例如作為一或多個積體電路晶片)以提供所述的功能。此外，術語“信號”可指一或多個電流、一或多個電壓或一資料信號。片語A、B及C中的至少一個應被理解為意指使用一非專屬邏輯的一邏輯(A或 B或C)。此外，儘管本揭露已在使用離散電子電路(較佳地以一或多個積體電路晶片的形式)之實施的上下文中進行討論，這種電路之任一部分的功能可選擇性地使用一或多個被合適規劃的處理器來實施，這取決於要處理的信號頻率或資料傳輸率。

現參考第1圖，一典型的測試設置包括一待測裝置(DUT)100、一測試模組102以及一電腦104。該DUT 100藉由介面106和108分別被可操作地耦接到該測試模組102和該電腦104。該測試模組102和該電腦104藉由介面110被可操作地耦接。

如在於此整體併入參考的共同擁有的美國專利申請案11/422,475與11/422,489中所揭露，一種使用一預定測試流程或序列來改變該DUT 100的性能的測試方法提供簡化的生產測試以及使測試時間最小化。該測試模組102與該DUT 100兩者都可包括該預定測試流程或序列，用以改變該DUT 100的性能以及提供簡化的生產測試。在測試期間，該DUT 100可根據該預定測試流程傳送測試封包，以及該測試模組102可根據該預定測試流程選擇性地擷取期望的封包。

現參考第2圖，該測試模組102擷取一預定測試流程的一例子的一示範性時序圖大致在200確定。在這個例子中，該測試模組102以一預定的固定增益操作，以提高測試測量的準確性。該測試模組102根據該預定測試流程200接收和擷取由該DUT 100在不同預定功率位準傳送的測試封包。更加特別地，該DUT 100在一第一預定功率位準傳送一第 一系列的封包202，以及在一第二預定功率位準傳送一第二系列的封包204，以及在一第三預定功率位準傳送一第三系列的封包206。儘管在這個例子中，該預定測試流程200包括三個系列的封包，但是具有通常知識者的技工將理解的是，較多或較少個系列的封包可根據本揭露被使用。

在時間間隔208中，該測試模組102可擷取封包210或封包210之一些部分的一或多個功率量值，諸如在第2圖中所示的一IEEE 802.11信號的一長訓練序列部分。在一例子中，該測試模組102可擷取該8封包210之每一封包的7μs部分以及串連那些已擷取的部分。該等功率量值可被求平均以決定封包210的一平均功率量值。在時間間隔212中，該預定測試流程200可包括封包214、216。如在第2圖中所示，該測試模組102可以一串連形式擷取封包214、216，以及移除由該預定測試流程引起的封包之間的任何時間間距。該測試模組102可分析封包214、216，以決定諸如錯誤向量振幅、相位不匹配、振幅不匹配的調變資訊，以及/或者其他合適的調變資訊。

在時間間隔218中，該測試模組102可擷取封包210或封包210之一些部分的一或多個功率量值，諸如在第2圖中所示的一IEEE 802.11信號的一長訓練序列部分。在一例子中，該測試模組102可擷取該8封包220之每一封包的7μs部分以及串連那些已擷取的部分。該等功率量值可被求平均以決定封包220的一平均功率量值。在時間間隔222中，該預定測試流程200可包括封包224、226。如在第2圖中所示， 該測試模組102可以一串連形式擷取封包224、226，以及移除由該預定測試流程引起的封包之間的任何時間間距。該測試模組102可分析封包224、226，以決定諸如錯誤向量振幅、相位不匹配、振幅不匹配的調變資訊，以及/或者其他合適的調變資訊。

在時間間隔228中，該測試模組102可擷取封包230或封包230之一些部分的一或多個功率量值，諸如在第2圖中所示的一IEEE 802.11信號的一長訓練序列部分。在一例子中，該測試模組102可擷取該8封包230之每一封包的7μs部分以及串連那些已擷取的部分。該等功率量值可被求平均以決定封包230的一平均功率量值。在時間間隔232中，該預定測試流程200可包括封包234、236。如在第2圖中所示，該測試模組102可以一串連形式擷取封包234、236，以及移除由該預定測試流程引起的封包之間的任何時間間距。該測試模組102可分析封包234、236，以決定諸如錯誤向量振幅、相位不匹配、振幅不匹配的調變資訊，以及/或者其他合適的調變資訊。

為了提高功率測量的相對準確性，期望的是以一預定的恆定增益操作該測試模組102。然而，如圖所示，該預定序列200包括一寬峰值信號強度範圍(例如封包202、204、206)，當該測試模組102以該預定恆定增益操作時，這可能降低功率和/或調變測量的準確性。

現參考第3圖，該測試模組102擷取一預定測試流程之另一例子的一示範性時序圖大致在300確定。如前面的例 子，該測試模組102以一預定的固定增益操作，以提高測試測量的準確性。該測試模組102根據該預定測試流程300接收由該DUT 100以不同預定調變傳送的測試封包。在這個例子中，該DUT 100使用正交分頻多工(OFDM)傳送一或多個封包302，以及使用直接序列展頻(DSSS)傳送一或多個封包304。儘管在這個例子中，封包302和304使用OFDM和DSSS被調變，然而也可以使用其他調變技術，如果期望的話。

在時間間隔306中，該測試模組102可分析一或多個封包302以決定諸如頻譜遮罩、錯誤向量振幅、相位不匹配、振幅不匹配的調變資訊，以及/或者該第一調變類型(例如OFDM)的其他合適調變資訊。在時間間隔308中，該測試模組102可分析一或多個封包304以決定諸如頻譜遮罩、錯誤向量振幅、相位不匹配、振幅不匹配的調變資訊，以及/或者該第二調變類型(例如DSSS)的其他合適調變資訊。

如圖所示，當調變從OFDM改變到DSSS時，該預定測試流程300的動態範圍被減小5－6dB。當測量DSSS信號時，該減小有效地增加了該測試模組102的雜訊層(noise floor)，這透過該測試模組102為頻譜遮罩測量帶來了不利影響。

一種用來提高在第2及3圖中所討論的功率和調變測量的準確性的方法是根據該預定測試流程改變該測試模組102的增益。例如，該測試模組102可根據該預定測試流程且基於該DUT 100用來傳送一測試封包的功率位準中的預 期變化來改變其增益。更加特別地，測試設備可在預計DUT將減小用來傳送一測試封包的功率位準時增加其增益，以及在預計DUT將增加用來傳送一測試封包的功率位準時減小其增益。此外，該測試模組102可根據該預定測試流程基於一測試封包調變的預期變化來改變其增益。例如，該測試模組102可在預計DUT 100從OFDM變化到DSSS時增加其增益，以及在預期DUT 100從DSSS變化到OFDM時減小其增益。

然而，根據該預定測試流程的不同封包類型來調整該測試模組102的增益，對於改變該增益而言所需要的時間可能太長。一種用來克服這個問題的方法是對該預定測試流程中的每一種類型的封包增加DUT 100的傳送時間，而由於總的測試時間也將增加，所以這是不期望的。此外，一些DUT，諸如根據IEEE 802.11進行操作的那些不被設計以一時間同步方式操作，這對準確地控制該預定測試流程中之每一類型封包的傳送時間寬度的能力產生影響。

現參考第4圖，其描述了能夠改變測試封包之峰值信號強度(例如增益)的一已改進的測試器具400。該測試器具400包括該測試模組102及一動態範圍模組402。該測試模組102包括一測試控制模組404和一收發器模組410，其中該測試控制模組404包括該預定測試流程，該收發器模組410包括一向量信號產生器(VSG)406、一向量信號分析器(VSA)408、一發射機412以及接收器414。該控制模組404被可操作地耦接到該VSG 406、該VSA 408、該收發器模組 410以及該電腦150(藉由路徑161)。該VSG 406被可操作地耦接到該發射機412，以及該VSA 408被可操作地耦接到該接收器414。該發射機412及接收器414被可操作地耦接到一開關415，該開關415可藉由信號417被控制，以選擇性地通過一發送或接收信號。此外，該測試控制模組404發送一調整增益信號416以將該收發器模組410的增益設定到一預定的固定增益。

該動態範圍模組402包括一調整模組418、一調整控制模組420，以及在一些實施例中還包括一功率檢測模組422。該調整模組418藉由路徑424被可操作地耦接到該收發器模組410，以及藉由路徑101被可操作地耦接到該DUT 100，以及被可操作地耦接到該調整控制模組420。在具有該功率檢測模組422的實施例中，該調整控制模組420被可操作地耦接到該功率檢測模組422，而該功率檢測模組422藉由路徑101被可操作地耦接到該DUT 100。

在操作期間，該DUT 100基於該預定測試流程將一或多個測試封包藉由路徑101發送到該動態範圍模組402。該調整控制模組420透過追蹤該預定測試流程預計該DUT 100傳送測試封包所使用的功率和/或調變的改變。該調整控制模組420以這種方式選擇性地控制該調整模組418，以基於該預定測試流程調整藉由路徑101接收的測試封包的峰值信號強度。在一些實施例中，該預定測試流程可被包括在該調整控制模組420中。在其他實施例中，該測試控制模組404可藉由路徑426將該預定測試流程傳送至該調整控 制模組420。在又一些其他實施例中，該測試控制模組404可直接控制該調整模組418。

如先前所述，該測試控制模組404可將該收發器模組410設定到一預定的固定增益。因此，在一些實施例中，對被用在該預定測試流程中的測試封包的動態範圍，該預定的固定增益可被設定到一最大增益。該調整控制模組420可選擇性地控制該調整模組418，以根據該預定測試流程衰減該等測試封包的峰值信號增益。因此，在這些實施例中，該調整模組418可以是任何所知的衰減電路，諸如具有一快速衰減回應時間的一固態衰減電路。

在其他實施例中，該調整模組418可包括多個增益級，一增益級可被設定到一恆定增益以及被可操作地耦接到多個衰減器級，以產生一總正增益。

該功率檢測模組422可被用來檢測從該DUT 100接收到的測試封包的峰值信號強度是增加還是減小。因此，當該DUT 100沒有傳送測試封包時，該功率檢測模組422不檢測信號強度。因此，當該功率檢測模組422不檢測信號強度(例如接收測試封包)時，該調整控制模組420不需要控制該調整模組418，如果期望的話。在一些實施例中，該功率檢測模組422可被用來在如在於此整體併入參考的共同擁有的美國專利申請案11/839,828及11/839,814中所揭露的一封包錯誤率測試或靈敏度測試期間計數確認封包。

現參考第5圖，當執行諸如在第2圖中所描述的預定測試流程200的一測試時，可被測試器具400採用的示範性步 驟大致在500被確定。當該預定測試被初始化(例如該測試器具400及DUT 100的預定測試流程被使同步)時，流程在第502步開始。在第504步，該測試控制模組404將該收發器模組410的增益調整到一預定的固定增益(例如在該預定測試流程中所使用的測試封包的動態範圍的一最大增益)。在第506步，該調整控制模組420基於該預定測試流程決定該DUT 100所傳送的測試封包的峰值功率位準是否有改變。更加特別地，該調整控制模組420根據該預定測試流程(例如透過追蹤該預定測試流程)決定該DUT 100是否要在與該DUT 100目前傳送測試封包不相同的一功率位準傳送測試封包。

若該調整控制模組420決定接下來的測試封包的功率位準沒有改變，則流程返回到第506步。然而，若該調整控制模組420決定該等測試封包的功率位準將有變化，則在第508步該調整控制模組420控制該調整模組418以根據功率位準的改變調整該等測試封包的峰值信號強度。例如，若功率位準的改變是功率位準減小，則該調整控制模組420控制該調整模組以增加由VSA接收到的測試封包的峰值信號強度。此外，若功率位準的改變是功率位準增加，則該調整控制模組420控制該調整模組以減小該等測試封包的峰值信號強度。

在第510步，該調整控制模組420決定在該預定測試流程中是否有另一功率位準要測試。若在該預定測試流程中有另一功率位準要測試，則流程返回到第506步。若在該預 定測試流程中沒有另一功率位準要測試，則流程在第512步結束。

現參考第6圖，測試器具400擷取第2圖的預定測試流程200的一例子的一示範性時序圖大致在600被確定。在這個例子中，該測試模組102在一預定的固定增益操作，而該動態範圍模組402基於該預定測試流程選擇性地調整測試封包的峰值信號強度。該測試器具400根據該預定測試流程200接收由該DUT 100在不同預定功率位準傳送的測試封包。更加特別地，該DUT 100在一第一預定功率位準傳送一第一系列的封包602，以及在一第二預定功率位準傳送一第二系列的封包604，以及在一第三預定功率位準傳送一第三系列的封包606。如圖所示，該動態範圍模組402選擇性地調整該等測試封包602、604、606的峰值信號強度，藉此由該測試模組102接收的測試封包的功率位準具有大約相同的峰值信號強度。

現參考第7圖，當執行諸如在第2圖中所述的預定測試流程200的一測試時，可被測試器具400採用的備選示範性步驟大致在700被確定。當預定測試被初始化(例如該測試器具400及DUT 100的預定測試流程被使同步)時，流程在第702步開始。在第704步，該測試控制模組404將該收發器模組410的增益調整到一預定的固定增益(例如在該預定測試流程中所使用的測試封包的動態範圍的一最大或最小增益)。在第706步，該調整控制模組420決定該預定測試流程的目前測試是否需要調整動態範圍。例如，在一些實施例 中，當測量功率時，諸如在第2圖的時間間隔208、212、228中，該測試器具400可使用一預定的固定增益來擷取一或多個封包。此外，在一些實施例中，該測試器具400可在分析該等封包時調整一或多個封包的峰值信號強度，以決定諸如錯誤向量振幅、相位不匹配、振幅不匹配的調變資訊，以及/或者在第2圖的時間間隔212、222、232中的其他合適的調變資訊。

若該調整控制模組420決定該預定測試流程的目前測試確實需要調整動態範圍，則流程返回到第706步。然而，若該調整控制模組420決定該預定測試流程的目前測試不需要相對於初始動態範圍調整動態範圍，則在第710步該調整控制模組420控制該調整模組418以根據調變的改變調整測試封包的峰值信號強度。

在第712步，該調整控制模組420決定該預定測試流程是否包括另一測試。若存在根據該預定測試流程的另一測試，則流程返回到第706步。若在該預定測試流程中沒有另一測試，則流程在第714步結束。

現參考第8圖，測試器具400根據第7圖的步驟擷取第2圖的預定測試流程200的一示範性時序圖大致在800被確定。在這個例子中，該測試模組102在一預定的固定增益操作，而該動態範圍模組402根據該預定測試流程選擇性地調整測試封包的峰值信號強度。該測試器具400根據該預定測試流程200接收由該DUT 100在不同預定功率位準傳送的測試封包。更加特別地，該DUT 100在一第一預定功率位 準傳送一第一系列的封包802，以及在一第二預定功率位準傳送一第二系列的封包804，以及在一第三預定功率位準傳送一第三系列的封包806。如圖所示，該動態範圍模組402選擇性地將測試封包808、810、812、814的峰值信號強度調整具有與封包214、216大約相同的峰值信號強度。此外，在這個例子中，該動態範圍模組402不調整封包210、220、230，藉此該測試模組102可用一恆定增益擷取該等測試封包，而這有助於決定一相對準確性。該相對準確性可被用來，例如校正DUT 100的發送功率而不從增益改變引入錯誤，而這在將輸入功率正規化到一最大信號雜訊比時可能會存在。

現參考9圖，當執行諸如在第3圖中所述的預定測試流程300的一測試時，可被測試器具400採用的示範性步驟大致在900被確定。當預定測試被初始化(例如該測試器具400及DUT 100的預定測試流程被使同步)時，流程在第902步開始。在第904步，該測試控制模組將該收發器模組410的增益調整到一預定的固定增益(例如在該預定測試流程中所使用的測試封包的動態範圍的一最大增益)。在第906步，該調整控制模組420基於該預定測試流程決定由該DUT 100傳送的測試封包的調變(例如OFDM到DSSS或反之亦然)是否有改變。更加特別地，該調整控制模組420根據該預定測試流程決定該DUT 100是否要使用與該DUT 100目前傳送測試封包所使用的調變技術不相同的調變技術傳送測試封包。

若該調整控制模組420決定測試封包的調變沒有改變，則流程返回到第906步。然而，若該調整控制模組420決定測試封包的調變有改變(例如從OFDM到DSSS或反之亦然)，則在第908步該調整控制模組控制該調整模組418以根據調變的改變調整測試封包的峰值信號強度。例如，若調變是從OFDM改變到DSSS，則該調整控制模組420控制該調整模組以增加該等測試封包的峰值信號強度。然而，若調變是從DSSS改變到OFDM，則該調整控制模組420控制該調整模組以減小該等測試封包的峰值信號強度。

在第910步，該調整控制模組420決定在該預定測試流程中是否有另一調變改變。若在該預定測試流程中有另一調變改變，則流程返回到第906步。若在該預定測試流程中沒有另一調變改變，則流程在第914步結束。

現參考第10圖，測試器具400擷取第3圖的預定測試流程300的一示範性時序圖大致在1000被確定。在這個例子中，該測試模組102在一預定的固定增益操作，而該動態範圍模組402基於該預定測試流程選擇性地調整測試封包的峰值信號強度。該測試器具400根據該預定測試流程300接收該DUT 100使用諸如OFDM與DSSS的不同調變技術傳送的測試封包。更加特別地，在這個例子中，該DUT 100使用OFDM傳送一第一系列的封包302，以及使用DSSS傳送一第二系列的封包1002。如圖所示，該動態範圍模組402選擇性地將測試封包1002的峰值信號強度調整與封包302的峰值信號強度大約相同。因此，封包1002的峰值信號強度相 對於封包302被有效地增加，以最佳化動態範圍以及提供一改進過的測量以決定該DUT 100的頻譜遮罩。

如上所述，除了其他優點以外，測試時間可透過用一預定測試流程來預先規劃一無線收發機來減小，而這使生產成本最小化。此外，透過根據該預定測試流程或多或少暫態地改變測試封包的峰值信號強度，測試測量的動態範圍可被最佳化，而這提高了功率和/或調變測試測量的準確性。其他優點將得到在本技術領域的那些通常知識者的公認。

在不脫離本發明之範圍與精神的前提下，在本發明的操作的結構與方法中的各種其他的修改與改變對於在本技術領域的那些通常知識者而言將是清晰可見的。儘管本發明已相關特定的較佳實施例進行了描述，但是應理解的是，所請發明不應過分地受到這些特定實施例的限制。其所意欲的是，以下申請專利範圍定義本發明的範圍，以及在這些申請專利範圍的範圍中的結構與方法及其等價從而被涵蓋。

100‧‧‧待測裝置(DUT)

101‧‧‧路徑

102‧‧‧測試模組

104‧‧‧電腦

106、108、110‧‧‧介面

161‧‧‧路徑

200‧‧‧測試流程

202、204、206‧‧‧封包

208‧‧‧時間間隔

210‧‧‧封包

212‧‧‧時間間隔

214、216‧‧‧封包

218‧‧‧時間間隔

220‧‧‧封包

222‧‧‧時間間隔

224、226‧‧‧封包

228‧‧‧時間間隔

230‧‧‧封包

232‧‧‧時間間隔

234、236‧‧‧封包

300‧‧‧測試流程

302、304‧‧‧封包

306、308‧‧‧時間間隔

400‧‧‧測試器具

402‧‧‧動態範圍模組

404‧‧‧測試控制模組

406‧‧‧向量信號產生器(VSG)

408‧‧‧向量信號分析器(VSA)

410‧‧‧收發器模組

412‧‧‧發射機

414‧‧‧接收器

415‧‧‧開關

416、417‧‧‧信號

418‧‧‧調整模組

420‧‧‧調整控制模組

422‧‧‧功率檢測模組

424、426‧‧‧路徑

500‧‧‧流程圖

502~512‧‧‧流程步驟

600‧‧‧時序圖

602~606‧‧‧封包

700‧‧‧流程圖

702~714‧‧‧流程步驟

800‧‧‧時序圖

802~814‧‧‧封包

900‧‧‧流程圖

902~912‧‧‧流程步驟

1000‧‧‧時序圖

1002‧‧‧封包

第1圖 是包括一待測裝置、一測試模組及一電腦的一測試設置的一示範性的功能方塊圖；第2圖 是該測試模組擷取一預定測試流程之一例子的一示範性時序圖；第3圖 是該測試模組擷取一預定測試流程之另一例子的一示範性時序圖； 第4圖 是包括該測試模組和一動態範圍模組的一改進過的測試器具的一示範性的功能方塊圖；第5圖 是一描述示範性步驟的流程圖，其中在根據該第2圖的預定測試流程擷取封包時，該等示範性步驟可被該測試器具採用；第6圖 是該測試器具擷取該第2圖的預定測試流程的一例子的一示範性時序圖；第7圖 是一描述備選示範性步驟的流程圖，其中在根據該第2圖的預定測試流程擷取封包時，該等備選示範性步驟可被該測試器具採用；第8圖 是該測試器具使用第7圖的步驟擷取封包的一示範性時序圖；第9圖 是一描述示範性步驟的流程圖，其中在根據該第3圖的預定測試流程擷取封包時，該等示範性步驟可被該測試器具採用；第10圖 是該測試裝置根據該第3圖的預定測試流程擷取封包的一示範性時序圖。

101‧‧‧路徑

102‧‧‧試模組

161‧‧‧路徑

400‧‧‧測試器具

402‧‧‧動態範圍模組

404‧‧‧測試控制模組

406‧‧‧向量信號產生器(VSG)

408‧‧‧向量信號分析器(VSA)

410‧‧‧收發器模組

412‧‧‧發射機

414‧‧‧接收器

415‧‧‧開關

416‧‧‧信號

417‧‧‧信號

418‧‧‧調整模組

420‧‧‧調整控制模組

422‧‧‧功率檢測模組

424‧‧‧路徑

426‧‧‧路徑

Claims (19)

1. 一種用於測試一通訊電路的裝置，其包含：一動態範圍模組，其包含：一信號強度調整模組，該信號強度調整模組可操作以根據一預定測試序列調整所傳送的測試封包的一峰值信號強度；以及一控制模組，該控制模組可操作以選擇性地控制該信號強度調整模組以基於該預定測試序列調整該峰值信號強度。
2. 如申請專利範圍第1項所述之裝置，其進一步包含一測試模組，該測試模組包括可操作以分析該等測試封包的一向量信號分析器。
3. 如申請專利範圍第2項所述之裝置，其進一步包含可操作地耦接到該向量信號分析器的一接收器，其中該接收器被設定到一預定增益。
4. 如申請專利範圍第1項所述之裝置，其中該信號強度調整模組可操作以透過衰減該峰值信號強度調整該峰值信號強度。
5. 如申請專利範圍第1項所述之裝置，其中該動態範圍模組包括可操作以檢測該等測試封包的一功率檢測模組。
6. 如申請專利範圍第5項所述之裝置，其中該控制模組可操作以基於該等已檢測的測試封包控制該信號強度調整模組。
7. 如申請專利範圍第5項所述之裝置，其中該控制模組可 操作以計數該等已接收的測試封包。
8. 如申請專利範圍第1項所述之裝置，其中該控制模組可操作以控制該信號強度調整模組以基於根據該預定測試序列的一功率位準改變以及根據該預定測試序列的一調變改變中的至少一個調整該等測試封包的該峰值信號強度。
9. 如申請專利範圍第8項所述之裝置，其中該控制模組可操作以控制該信號強度調整模組，以根據該預定測試序列在該功率位準減小時增加該峰值信號強度。
10. 如申請專利範圍第8項所述之裝置，其中該控制模組可操作以控制該信號強度調整模組，以根據該預定測試序列在該功率位準增加時減小該峰值信號強度。
11. 一種用於測試一通訊電路的方法，其包含以下步驟：根據一預定測試序列接收測試封包；以及基於該預定測試序列選擇性地調整該等測試封包的一峰值信號強度。
12. 如申請專利範圍第11項所述之方法，其進一步包含以下步驟：執行對該等測試封包的分析。
13. 如申請專利範圍第11項所述之方法，其中該峰值信號強度透過衰減該峰值信號強度遭調整。
14. 如申請專利範圍第11項所述之方法，其進一步包含以下步驟：檢測該等測試封包的該峰值信號強度。
15. 如申請專利範圍第14項所述之方法，其進一步包含以下步驟：基於該等測試封包調整該峰值信號強度。
16. 如申請專利範圍第14項所述之方法，其進一步包含以下步驟：計數該等已接收的測試封包。
17. 如申請專利範圍第11項所述之方法，其進一步包含以下步驟：基於根據該預定測試序列的一功率位準改變以及根據該預定測試序列的一調變改變中的至少一個，調整該等測試封包的該峰值信號強度。
18. 如申請專利範圍第17項所述之方法，其進一步包含以下步驟：根據該預定測試序列在該功率位減小時增加該峰值信號強度。
19. 如申請專利範圍第17項所述之方法，其進一步包含以下步驟：根據該預定測試序列在該功率位增加時減小該峰值信號強度。