JPH11196439A - 多チャンネル電子機器の試験装置及び試験方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 同一ロット内の全多チャンネル電子機器の試
験時間を短縮する。 【解決手段】 従来の試験装置10x に、信号源11からの
各チャンネルの試験用信号ＴＳのレベルを同一レベルで
一括調製する減衰器12と、多チャンネル電子機器内の全
チャンネルのトータルパワーレベルを一括測定するパワ
ーセンサ16及びパワーメータ17を付加して試験装置10と
する。この試験装置10を用いて同一ロット内の多チャン
ネル電子機器の試験を、各チャンネルの出力パワーが規
定レベルのときにその電気的特性を測定して行う場合
に、同一ロット内の１台目は、各チャンネルごとに出力
パワーレベルの測定及び調整を行い、かつ全チャンネル
のトータルパワーレベルの測定を行い、２台目以降は、
トータルパワーの測定及び１台目のトータルパワーレベ
ルと同一レベルへの調整を一括して行うようにする。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は多チャンネル電子機
器の試験装置及び試験方法に関し、特に同一ロットに含
まれる多チャンネル電子機器の各チャンネルの電気的性
能を試験するときの多チャンネル電子機器の試験装置及
び試験方法に属する。

【０００２】

【従来の技術】多数のチャンネルを内蔵する電子機器、
例えば、ＣＡＴＶ用の１１０チャンネルのＭＣＭ(Multi
Chip Module）型の増幅器の良否の判定を行うには、こ
れら多チャンネル電子機器内の各チャンネルに対し、所
定の電気的特性を規定の条件のものとに測定して規定の
範囲に入るか否かを判別する性能試験が必要である。例
えば、上述のＣＡＴＶ用のＭＣＭ増幅器では、Ｓパラメ
ータ、ＮＦ（雑音指数）、歪み率等の試験が行われる。
このような多チャンネル電子機器に対して行われる試験
の中には、例えば歪み率に関する試験のように、各チャ
ンネルの出力パワーのレベルを規定しておき、この規定
レベルのときの歪み率を測定する必要がある。この歪み
率に関する試験のように、各チャンネルの出力パワーが
規定されたレベルのときに、各チャンネルの電気的特性
を測定してそのチャンネルの良否を判別する試験を行う
場合に、従来から使用している試験装置及び試験方法の
一例について、図３及び図４を参照して説明する。

【０００３】この例の多チャンネル電子機器（被試験機
器２０）の試験装置１０ｘは、多チャンネル電子機器
（以下、被試験機器２０という）内の各チャンネルそれ
ぞれの試験用信号ＴＳを並列出力し、かつ、これら試験
用信号ＴＳのレベルを個々に調整するレベル調整手段を
備えた信号源１１と、この信号源１１からの各チャンネ
ルの試験用信号ＴＳを、信号源１１と被試験機器２０と
の間のインピーダンスの整合をとって被試験機器２０に
供給するインピーダンス変換器１３と、このインピーダ
ンス変換器１３からの試験用信号を受けた被試験機器２
０内の各チャンネルの出力信号をインピーダンス整合さ
せて受け取るインピーダンス変換器１４と、このインピ
ーダンス変換器１４で受け取った被試験機器２０内の各
チャンネルの出力信号のパワーレベルをそれぞれ測定す
るスペクトラムアナライザ１５と、このスペクトラムア
ナライザ１５で測定されたパワーレベルにおける被試験
機器２０の各チャンネルの電気的特性を測定する特性測
定部１８とを備えて構成される。

【０００４】この試験装置１０ｘを用いて被試験機器２
０の各チャンネルの歪み率に関する試験を行う方法につ
いて説明する。被試験機器２０を前述のＣＡＴＶ用のＭ
ＣＭ増幅器とした場合、このＭＣＭ増幅器に含まれる１
１０チャンネルの歪み率を測定するときの各チャンネル
の出力信号のパワーレベル（出力パワーレベル）は図４
のように規定されている。この条件のもとに、ＭＣＭ増
幅器の各チャンネルの歪み率を測定するには、まず、第
１チャンネル（ＣＨ１）の出力パワーのレベルを、スペ
クトラムアナライザ１５で計測しながら信号源１１の第
１チャンネル（ＣＨ１）の試験用信号ＴＳのレベルを調
整して図４に示されたレベルにし、この出力パワーレベ
ルにおける第１チャンネルの歪み率の測定を特性測定部
１８で測定する。以下、同様の調整及び測定を、第２チ
ャンネル，第３チャンネル，……，第１１０チャンネル
に対し順次行い、これら各チャンネルの測定結果（歪み
率）が規定の範囲内にあるか否かを判別する。

【０００５】前述のＣＡＴＶ用のＭＣＭ増幅器などで
は、同一ロットで製造されたＦＥＴを使用したものを同
一ロットとし、その１ロットは数百台（例えば８００台
程度）となっている。そして、この１ロット数百台のＭ
ＣＭ増幅器それぞれに対し、同様の試験がくり返えされ
る。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】上述した従来の多チャ
ンネル電子機器の試験装置及び試験方法において、その
試験装置１０ｘは、多チャンネル電子機器（２０）内の
各チャンネルそれぞれの試験用信号ＴＳを、そのレベル
が個々に調整できるようにして信号源１１から並列出力
し、これら試験用信号ＴＳをインピーダンス変換器１３
を介して多チャンネル電子機器（２０）に供給し、この
多チャンネル電子機器（２０）からの各チャンネルの出
力パワーのレベルを、インピーダンス変換器１４を介し
てそれぞれスペクトラムアナライザ１５により測定し、
かつ各チャンネルの電気的特性を特性測定部１８で測定
する構成となっており、この試験装置を用いて、各チャ
ンネルの出力パワーを規定レベルに設定してこれら各チ
ャンネルの電気的特性を測定し、多チャンネル電子機器
の電気的性能の試験を行うには、多チャンネル電子機器
の各チャンネルごとに、信号源１１からの試験用信号Ｔ
Ｓのレベル調整、及びスペクトラムアナライザ１５によ
る電気的特性の測定という動作をくり返えすようになっ
ており、しかもこの動作を、同一ロット内の全ての多チ
ャンネル電子機器に対して行う必要があるため、全ての
多チャンネル電子機器にほぼ同一の長い試験時間が必要
となり、１ロットの全ての多チャンネル電子機器の試験
が終了するまでの時間が多大になるという問題点があ
る。

【０００７】本発明の目的は、上記従来技術の問題点に
鑑みて、１ロットの全ての多チャンネル電子機器の試験
が終了するまでの時間を短縮することができる多チャン
ネル電子機器の試験装置及び試験方法を提供することに
ある。

【０００８】

【課題を解決するための手段】本発明の多チャンネル電
子機器の試験装置は、多チャンネル電子機器内の各チャ
ンネルそれぞれに試験用信号を供給してこれら各チャン
ネルを試験する多チャンネル電子機器の試験装置であっ
て、上記の目的を達成するために次の各構成を有するこ
とを特徴とする。 （イ） 前記多チャンネル電子機器内の各チャンネルそ
れぞれの試験用信号を、そのレベルを個々に調整して並
列出力する信号源 （ロ） 前記信号源からの各チャンネルそれぞれの試験
用信号のレベルを、同一調整量で一括調整するレベル一
括調整回路 （ハ） 前記レベル一括調整回路からの試験用信号を前
記多チャンネル電子機器内の各チャンネルに供給する試
験信号供給回路 （ニ） 前記多チャンネル電子機器内の各チャンネルの
出力パワーのレベルをそれぞれ測定する出力パワー測定
部 （ホ） 前記多チャンネル電子機器内の全チャンネルの
出力パワーの合計のレベルを一括測定するトータルパワ
ー測定部 （ヘ） 前記多チャンネル電子機器内の各チャンネルの
電気的特性を測定する特性測定部

【０００９】また、本発明の多チャンネル電子機器の試
験方法は、前記試験装置を用いて、同一ロットに含まれ
る多チャンネル電子機器内の各チャンネルの試験を、こ
れら各チャンネルの出力パワーが規定されたレベルにあ
るときの電気的特性を測定して行う多チャンネル電子機
器の試験方法であって、上記の目的を達成するために次
の各手順を含むことを特徴とする。 （イ） 同一ロットに含まれる多チャンネル電子機器の
うちの１台目に対し、各チャンネルごとに、その出力パ
ワーのレベルを前記出力パワー測定部で測定してこの出
力パワーが規定されたレベルとなるように前記信号源か
ら出力される試験用信号のレベルを調整する試験用信号
レベル調整手順 （ロ） 前記試験用信号のレベルが調整済みの１台目の
多チャンネル電子機器内の全チャンネルの出力パワーの
合計のレベルを前記トータルパワー測定部で一括測定す
る１台目トータルパワー測定手順 （ハ） 前記１台目の多チャンネル電子機器内の各チャ
ンネルの出力パワーが規定されたレベルにあるときの各
チャンネルの電気的特性を前記特性測定部で測定する１
台目特性測定手順 （ニ） 同一ロットに含まれる２台目以降の多チャンネ
ル電子機器それぞれに対し、全チャンネルの出力パワー
の合計のレベルを前記トータルパワー測定部で一括測定
してこの合計のレベルが前記１台目の多チャンネル電子
機器の全チャンネルの合計のレベルと同一になるように
前記レベル一括調整回路で一括調整する一括レベル調整
手順 （ホ） 前記全チャンネルの出力パワーの合計のレベル
が調整済みの２台目以降の多チャンネル電子機器それぞ
れの各チャンネルの電気的特性を前記特性測定部で測定
する２台目以降特性測定手順

【００１０】

【発明の実施の形態】本発明の実施の形態においては、
まず試験装置を次のとおりの構成とする。従来の試験装
置の信号源１１とインピーダンス変換器１３との間に、
信号源１１からの各チャンネルそれぞれの試験用信号Ｔ
Ｓと、同一調整量で一括調整するレベル一括調整回路を
設け、かつ、多チャンネル電子機器内の各チャンネルの
出力パワーのレベルを測定するスペクトラムアナライザ
１５の他に、全チャンネルの出力パワーの合計のレベル
を一括測定するトータルパワー計測部を設ける。そし
て、この試験装置を用いて、同一ロットに含まれる多チ
ャンネル電子装置の試験を、これら各チャンネルの出力
パワーの規定されたレベルにおける電気的特性を測定し
て行う場合に、次の方法により行う。

【００１１】まず、同一ロットに含まれる多チャンネル
電子機器のうちの１台目に対し、各チャンネルごとに、
その出力パワーのレベルをスペクトラムアナライザ１５
で測定してこの出力パワーが規定レベルとなるように信
号源１１から出力される試験用信号ＴＳのレベルを調整
する。次に、この調整済みの１台目の多チャンネル電子
機器内の各チャンネルの出力パワーの合計のレベルを上
記トータルパワー測定部で一括測定する。そして、この
１台目の多チャンネル電子機器内の各チャンネルの規定
レベルの出力パワーに対する電気的特性を特性測定部１
８で測定する。次に、同一ロットに含まれる２台目以降
の多チャンネル電子機器それぞれに対し、全チャンネル
の出力パワーの合計のレベルを上記トータルパワー測定
部で一括測定してこの合計のレベルが１台目の合計のレ
ベルと同一になるように上記レベル一括調整回路で一括
調整する。そして、全チャンネルの出力パワーの合計の
レベルが調整済みの２台目以降の多チャンネル電子機器
それぞれの各チャンネルの電気的特性を特性測定部１８
で測定する。

【００１２】このような試験装置及び試験方法とするこ
とにより、同一ロット内の多チャンネル電子機器の試験
を行う際に、各チャンネルの電気的特性を測定する前
の、その出力レベルを規定レベルに調整するとき、１台
目は各チャンネルごとに、かつトータルパワーレベルを
測定する必要があるが、２台目以降は、同一ロット内の
多チャンネル電子機器に対する各チャンネルを含む範囲
の周波数特性が同一となることに着目して、全チャンネ
ルの出力パワーレベルを一括測定し、かつ各チャンネル
の試験用信号のレベルを一括調整すればよいので、試験
時間を大幅に短縮することができる。

【００１３】

【実施例】次に本発明の実施例について図面を参照して
説明する。図１は本発明の一実施例の多チャンネル電子
機器の試験装置のブロック図、図２はこの試験装置を用
いて同一ロットに含まれる多チャンネル電子機器の試験
を、各チャンネルの出力パワーが規定されたレベルにあ
るときの電気的特性を測定して行う場合の、試験方法を
説明するための手順の流れ図である。この実施例におけ
る多チャンネル電子機器の試験装置１０は、従来の試験
装置１０ｘに対し、その信号源１１とインピーダンス変
換器１３（試験信号供給回路）との間に、信号源１１か
らの各チャンネルそれぞれの試験用信号ＴＳのレベル
を、同一レベルで一括調整する減衰器１２（レベル一括
調整回路、具体的にはステップアッテネータ等）を備
え、かつ、各チャンネルの出力パワーのレベルを測定す
るスペクトラムアナライザ１５（出力パワー測定部）の
ほかに、全チャンネルの出力パワーの合計のレベル（ト
ータルパワー）を一括測定するパワーセンサ１６及びパ
ワーメータ１７（トータルパワー測定部）を備えてい
る。

【００１４】そして、この試験装置１０を用いて、同一
ロット内に含まれる多チャンネル電子機器（被試験機器
２０）の試験を、各チャンネルの出力パワーが規定され
たレベルにあるときの各チャンネルの電気的特性を測定
して行う場合、次のような手順により行う。まず、同一
ロットに含まれる多チャンネル電子機器のうちの１台目
の多チャンネル電子機器に対し、各チャンネルごとに、
その出力パワーのレベルをスペクトラムアナライザ１５
で測定してこの出力パワーが規定されたレベルとなるよ
うに信号源１１から出力される試験用信号ＴＳのレベル
を調整する（図２のステップＳ１）。

【００１５】次に、試験用信号ＴＳのレベルが調整済み
の１台目の多チャンネル電子機器（２０）内の全チャン
ネルの出力パワーの合計のレベルをパワーセンサ１６及
びパワーメータ１７で一括測定し、１台目のトータルパ
ワーレベルとする（ステップＳ２）。そして、１台目の
多チャンネル電子機器（２０）の各チャンネルの出力パ
ワーが規定されたレベルにあるときの各チャンネルの電
気的特性を特性測定部１８で測定する（ステップＳ
３）。

【００１６】次に、同一ロットに含まれる２台目以降の
多チャンネル電子機器それぞれに対し、全チャンネルの
出力パワーの合計のレベル（トータルパワーレベル）を
パワーセンサ１６及びパワーメータ１７で一括測定して
このトータルパワーレベルが１台目の多チャンネル電子
機器のトータルパワーレベルと同一になるように減衰器
１２で一括調整する（ステップＳ４）。そして、全チャ
ンネルのトータルパワーが調整済みの２台目以降の多チ
ャンネル電子機器それぞれの各チャンネルの電気的特性
を特性測定部１８で測定する（ステップＳ５）。

【００１７】従って、この実施例においては、各チャン
ネルの出力パワーのレベルを規定レベルに調整すると
き、１台目は、各チャンネルごとにその出力パワーレベ
ルを測定しながら調整し、かつ、全チャンネルのトータ
ルパワーレベルを測定する必要があるため、トータルパ
ワーレベルを測定する分、極めてわずかではあるが、従
来技術より時間がかかるが、２台目以降は、それぞれ、
全チャンネルのトータルパワーレベルの一括測定、全チ
ャンネルの試験用信号のレベルの一括調整で済むので、
同一ロット内の全チャンネル機器の試験時間を大幅に短
縮することができる。

【００１８】なお、この実施例において、１台目の電気
的特性の測定（Ｓ３）は、トータルパワーレベルの測定
（Ｓ２）の後になっているが、その後でもよいことは明
白である。また、同一ロット内の多チャンネル電子機器
が同一の周波数特性を有する場合には、全チャンネルの
トータルパワーレベルの代わりに、特定の１チャンネル
のみの出力パワーを同一に調整するようにしても良いよ
うに思われるが、同一の周波数特性を有するといって
も、機器ごとに多少のばらつきはあるので、全チャンネ
ルのトータルパワーレベルで調整する方が、特定の１チ
ャンネルのみの場合に比べ、より正確に、各チャンネル
の出力パワーのレベルを規定レベルとすることができ
る。

【００１９】

【発明の効果】以上説明したように本発明は、試験装置
に、信号源からの各チャンネルの試験用信号のレベルを
同一レベルで一括調整するレベル一括調整回路と、多チ
ャンネル電子機器内の全チャンネルのトータルパワーの
レベルを一括測定するトータルパワーレベル測定部とを
付加し、同一ロット内の多チャンネル電子機器の試験
を、各チャンネルの出力パワーが規定レベルのときにそ
の電気的特性を測定して行う場合に、同一ロット内の１
台目に対しては、その各チャンネルごとに出力パワーレ
ベルの測定及び規定レベルの調整を行い、かつ全チャン
ネルのトータルパワーレベルの一括測定を行い、２台目
以降は、トータルパワーレベルを一括測定し、その１台
目のトータルパワーレベルと同一レベルへの調整をレベ
ル調整回路により一括調整する構成とすることにより、
１台目は従来技術とほぼ同程度の試験時間であるもの
の、２台目以降は従来技術より大幅に短縮することがで
きるので、同一ロット内の全多チャンネル電子機器の試
験に要する時間を大幅に短縮することができる効果があ
る。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の多チャンネル電子機器の試験装置の一
例を示すブロック図である。

【図２】図１に示された試験装置を用いて同一ロット内
の多チャンネル電子機器の試験を行う場合の試験方法を
説明するための手順の流れ図である。

【図３】従来の多チャンネル電子機器の試験装置の一例
を示すブロック図である。

【図４】多チャンネル電子機器の試験を行う際の各チャ
ンネルの出力パワーの規定レベルを示す図である。

【符号の説明】

１０ 試験装置 １０ｘ 試験装置 １１ 信号源 １２ 減衰器 １３ インピーダンス変換器 １４ インピーダンス変換器 １５ スペクトラムアナライザ １６ パワーセンサ １７ パワーメータ １８ 特性測定部 ２０ 被試験機器 Ｓ１〜Ｓ５ ステップ

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 多チャンネル電子機器内の各チャンネル
   それぞれに試験用信号を供給してこれら各チャンネルを
   試験する多チャンネル電子機器の試験装置であって、次
   の各構成を有することを特徴とする多チャンネル電子機
   器の試験装置。 （イ） 前記多チャンネル電子機器内の各チャンネルそ
   れぞれの試験用信号を、そのレベルを個々に調整して並
   列出力する信号源 （ロ） 前記信号源からの各チャンネルそれぞれの試験
   用信号のレベルを、同一調整量で一括調整するレベル一
   括調整回路 （ハ） 前記レベル一括調整回路からの試験用信号を前
   記多チャンネル電子機器内の各チャンネルに供給する試
   験信号供給回路 （ニ） 前記多チャンネル電子機器内の各チャンネルの
   出力パワーのレベルをそれぞれ測定する出力パワー測定
   部 （ホ） 前記多チャンネル電子機器内の全チャンネルの
   出力パワーの合計のレベルを一括測定するトータルパワ
   ー測定部 （ヘ） 前記多チャンネル電子機器内の各チャンネルの
   電気的特性を測定する特性測定部
2. 【請求項２】 請求項１記載の多チャンネル電子機器の
   試験装置を用いて、同一ロットに含まれる多チャンネル
   電子機器内の各チャンネルの試験を、これら各チャンネ
   ルの出力パワーが規定されたレベルにあるときの電気的
   特性を測定して行う多チャンネル電子機器の試験方法で
   あって、次の各手順を含むことを特徴とする多チャンネ
   ル電子機器の試験方法。 （イ） 同一ロットに含まれる多チャンネル電子機器の
   うちの１台目に対し、各チャンネルごとに、その出力パ
   ワーのレベルを前記出力パワー測定部で測定してこの出
   力パワーが規定されたレベルとなるように前記信号源か
   ら出力される試験用信号のレベルを調整する試験用信号
   レベル調整手順 （ロ） 前記試験用信号のレベルが調整済みの１台目の
   多チャンネル電子機器内の全チャンネルの出力パワーの
   合計のレベルを前記トータルパワー測定部で一括測定す
   る１台目トータルパワー測定手順 （ハ） 前記１台目の多チャンネル電子機器内の各チャ
   ンネルの出力パワーが規定されたレベルにあるときの各
   チャンネルの電気的特性を前記特性測定部で測定する１
   台目特性測定手順 （ニ） 同一ロットに含まれる２台目以降の多チャンネ
   ル電子機器それぞれに対し、全チャンネルの出力パワー
   の合計のレベルを前記トータルパワー測定部で一括測定
   してこの合計のレベルが前記１台目の多チャンネル電子
   機器の全チャンネルの合計のレベルと同一になるように
   前記レベル一括調整回路で一括調整する一括レベル調整
   手順 （ホ） 前記全チャンネルの出力パワーの合計のレベル
   が調整済みの２台目以降の多チャンネル電子機器それぞ
   れの各チャンネルの電気的特性を前記特性測定部で測定
   する２台目以降特性測定手順