TWI483630B - 用以並行測試多重數位信號收發器之系統及方法 - Google Patents

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Description

用以並行測試多重數位信號收發器之系統及方法 相關申請案之交互參照
此申請案主張2009年10月19日提出申請的美國臨時申請案第61/252,893號案之優先權之利益，其全部內容在此併入以為參考資料。
發明領域
本發明有關於用以並行測試多重數位信號收發器的系統及方法，其利用預定義的上行鏈路(UL)測試序列、組態該UL測試序列之不同區段的測試設備量測，並由此減少總測試時間。
 發明背景
許多當今的手持裝置利用無線「連接」以供電話、數位資料發送、地理定位及諸如此類之用。儘管頻譜、調變方法及頻譜功率密度有所不同，無線連接標準使用同步的資料封包來發送及接收資料。
總的來說，所有這些無線連接性能(例如，無線保真(WiFi)、全球互通微波接取(WiMAX)、藍牙等)由指定具有此等連接性能的裝置必須遵守的參數及限制條件的工業認證標準(例如，IEEE 802.11及IEEE 802.16)來定義。
在裝置開發進程的任一點上，可能需要測試及驗證一裝置是在其標準規格內運作。測試花費時間，需要指定的儀器且增加了生產此類裝置的成本。因此，在毋需犧牲必需之嚴謹性下即可減少總測試時間的發明是非常值得期待的。
當多個裝置被同時(即並行)測試時，單位測試時間依裝置數目而減少。例如，若測試一單一裝置花費100秒，而使用實質上相同的量測設備同時測試四個裝置可在120秒內完成，則每個裝置的測試時間現在為30秒。
 發明概要
依據本發明，藉由預組態測試量測，並多路複用及交錯來自待測裝置(DUT)的資料封包部分使用同步資料封包之預定義UL測試序列，多重數位資料封包收發器可被同時測試。
依據目前申請專利之發明之一實施例，一種利用一資料信號分析器來測試多個資料信號發射器的方法包括以下步驟：同時從對應的複數N個資料信號發射器接收複數N個封包資料信號，其中每一該複數N個封包資料信號具有各別之複數個連續信號間隔，每一該複數個連續信號間隔具有一信號間隔時間I，且每一該複數N個封包資料信號在該各別的複數個連續信號間隔期間具有一各別的封包資料信號特性；從每一該複數N個封包資料信號中捕獲該各別之複數個連續信號間隔的一各別部分，以提供該各別之複數個連續信號間隔的複數N個捕獲部分，其中該各別之複數個連續信號間隔之每一該複數N個捕獲部分具有一捕獲信號期間C；及依據一具有一相關聯之測試期間T的信號測試來處理該等複數個連續信號間隔之每一該複數N個捕獲部分；其中該捕獲信號期間C
當該測試期間T大於該信號間隔時間I之一部分I/N時大於或等於該測試期間T，且當該測試期間T小於或等於該信號間隔時間I之該部分I/N時小於或等於該信號間隔時間I之該部分I/N。
依據目前申請專利之發明之另一實施例，一種利用一資料信號分析器來測試複數個資料信號發射器的方法包括以下步驟：同時從對應的複數N個資料信號發射器接收複數N個封包資料信號，其中每一該複數N個封包資料信號具有各別之複數個連續信號間隔，每一該複數個連續信號間隔具有一信號間隔時間I，且在每一該各別之複數個連續信號間隔期間，每一該複數N個封包資料信號具有一各別的封包資料信號特性；從每一該複數N個封包資料信號中捕獲該各別之複數個連續信號間隔之一各別部分，以提供各別之該複數個連續信號間隔之複數N個捕獲部分，其中該各別之複數個連續信號間隔之每一該複數N個捕獲部分具有一捕獲信號期間C；及依據一具有一相關聯之測試期間T的信號測試來處理每一該複數個連續信號間隔之該複數N個捕獲部分；其中該捕獲信號期間C為當該測試期間T大於該信號間隔時間I之一部分I/N時大於或等於該測試期間T，且當該測試期間T小於該信號間隔時間I之一部分I/N時小於或等於該測試期間T。
依據目前申請專利之發明之另一實施例，一種利用一資料信號分析器來測試複數個資料信號發射器的方法包括以下步驟：同時從對應的複數N個資料信號發射器接收複數N個封包資料信號，其中每一該複數N個封包資料信號具有各別之複數個連續信號間隔，每一該複數個連續信號間隔具有一信號間隔時間I，且在該每一各別之複數個連續信號間隔期間，每一該複數N個封包資料信號具有一各自之封包資料信號特性；從每一該複數N個封包資料信號中捕獲各別之複數個連續信號間隔之一各別部分，以提供該各別之複數個連續信號間隔的複數N個捕獲部分，其中該各別之複數個連續信號間隔之該每一複數N個捕獲部分具有一捕獲信號期間C；及依據一具有一相關聯之測試期間T的信號測試來處理該等複數個連續信號間隔之每一該複數N個捕獲部分；其中當該測試期間T小於或等於該信號間隔時間I之該部分I/N時，該捕獲信號期間C小於或等於該信號間隔時間I之該部分I/N。
圖式簡單說明
第1圖是一描繪一種用以測試一利用諸如WCDMA的一無線標準的待測裝置(DUT)之發送(TX)功能的習知方法的圖式，其中已發送序列被發送至一向量信號分析器(VSA)以供分析。
第2圖是一描繪一預定義的測試序列的圖式，其中最大功率在5個時槽內被發送；中程功率在5個時槽內被發送；且低功率在5個時槽內被發送。接著，對次75個發生的單槽持續時間而言，信號功率從一高功率等增量逐步降至一低功率極限。
第3圖是一描繪UL封包中的一不同的預定義序列的圖式。此處，最大功率在5個時槽內被發送，中功率在5個時槽內被發送，且一序列單槽功率位準被發送，它們在二特定功率極限之間首先降低接著增加。
第4圖是一描繪一種從一向量信號產生器(VSG)發送一觸發信號的方法的圖式，該信號產生器啟動一被發送至一VSA以供分析的發送序列。
第5圖是一描繪發送同一預定義TX序列的多重DUT的圖式。
第6圖是一描繪多重DUT的圖式，其中一VSG同時發送一觸發信號至每一個DUT，以同步化TX預定義序列。
第7圖是一描繪第6圖之組態中所使用的時分多工的圖式。
第8圖是一描繪一將能夠實現多重DUT之並行測試的預定義TX序列的圖式。
第9A-9C圖描繪用於頻分雙工(FDD)捕獲的信號頻分多工。
第10A-10C圖描繪與FDD捕獲組合來測試多重DUT之時分雙工(TDD)。
 較佳實施例之詳細說明
以下詳細說明為目前申請專利之發明的示範性實施例參照附圖的說明。此說明欲為說明性的且對於本發明之範圍是非限制性的。此等實施例被充分詳細地加以描述以使熟於此技者能夠實施本發明，且將理解的是其他實施例在不背離本發明之精神或範圍下也可以某些變化型式來實施。
本揭露全文中，在未清楚指示與前後文相反之下，將被理解的是所述的個別電路元件在數目上可以是單數或複數的。例如，「電路(circuit)」與「電路(circuitry)」二詞可包括一單一組件或多個組件，該等組件可為主動的及/或被動的且被連接或被耦合在一起(例如，成為一或更多個積體電路晶片)以提供所述功能。此外，「信號」一詞可指一或更多電流、一或更多電壓或一資料信號。在該等圖式中，類似的或相關的元件將具有類似的或相關的字母、數字或字母與數字指示符。而且，儘管本發明已依據使用離散電子電路(較佳的是呈一或更多個積體電路晶片的形式)的實施態樣被加以討論，可選擇地是，依將被處理的信號頻率或資料率而定，此電路之任何部分之功能可以使用一或更多個適當程式化的處理器來實施。
參照第1圖，一用以測試諸如WCDMA的一無線標準的習知的測試系統將藉由發送信號至一VSA以供分析來測試DUT 101之已發送序列。在一典型方案中，DUT 101將經由一或更多個控制信號(圖未示)由VSA 102控制。可選擇地，DUT 101及VSA 102可經由一或更多個各自的控制信號(圖未示)由例如一個人電腦(PC)的一控制器(圖未示)來控制。
參照第2圖，一由DUT 101提供給VSA 102的TX封包，如先前圖式中所描述者，可依據某一工業標準(例如，WCDMA)而預組態成能夠實現特定參數測試。UL序列之第一部分201將在一特定期間內在最大功率下發送一信號。在此情況下，使用WCDMA來說明，UL可被細分為多個時槽，其中在一10毫秒的期間中，15個相等的槽將表示每個槽0.67毫秒。例如，一5時槽期間將為5*0.67毫秒，且其長度足以支援一功率頻譜密度(PSD)遮蔽評估。相似地，在次一組5個槽中，一中間功率信號202被發送，且一低功率信號部分將在次5-槽期間203中被發送。接著，與內環功率控制(ILPC)的測試一致，一序列單槽是以1dBm步進從+25dBm至-50dBm功率位準被發送。應指出的是在沒有一預定義UL序列的情況下，這些1dBm功率位準的期間通常比1個槽時間要長，且測試設備(例如，VSG或VSA)與DUT之間將在每一步階之前通訊而增加延遲時間至總測試時間上。
如將容易瞭解地，依所欲測試者而定，每一時槽將具有其自身各別的封包資料信號特性(例如，峰值功率、平均功率、功率頻率密度、調變等)，其中每一者在不同時槽間可能是不同的或類似的，或不同於或類似於任一其他先前的或後續的時槽之封包資料信號特性。對於在任何時槽期間由任何DUT發送的信號此亦可為真。
參照第3圖，一不同的預定義TX序列被繪示出來，其中僅二功率位準(高及中)在連續的5-槽信號期間301、302內被發送，之後是從+25dBm逐步降至-50dBm，接著從-50dBm逐步升至+25dBm的一序列單槽信號功率位準。量測功率步進減少且接著步進增加是一種識別一者相對另一者產生不同結果的裝置的方式。在此種裝置中，有可能一下降功率步進測試能滿足規格而上升功率步進測試不能滿足規格。因此，此序列例如可用以測試符合一標準的ILPC規格。將再度指出的是在測試設備與DUT之間不需要支援整個序列301、302、303的中介通訊。所需的只是測試設備與DUT同步化使得UL序列與適當的測試量測組態相對應。
參照第4圖，此圖繪示一使用VSA 401與VSG 402的一組合的測試系統如何可用以發送一觸發信號至一DUT 403且引出一預定義TX序列404。
參照第5圖，除非適當控制，例如，例如經由從一VSA(圖未示)或一PC(圖未示)提供給各DUT 501的一或更多個各別的控制信號(圖未示)，由該等DUT發送的各別TX序列將不是同步的且甚至不能是大致同步的。依據目前申請專利之發明，多重TX序列最好是同步的以便在時間上相對應。
參照第6圖，此處一組多重DUT被連接至一測試系統，其中一VSG經由信號路由電路602(例如，信號切換或組合電路)同時發送一觸發信號至所有DUT，從而同步化它們的預定義TX序列。若這些序列在不同頻率下被發送，則可以使用數位信號處理(例如，可將該等信號分為多重個別信號且單獨分析它們，或使用其他習知的技術)將結果加和602且獲得可靠的測試結果。若該等序列在同一頻率下被發送，則使用習知的時分多工或時分雙工(TDD)技術，來自每一DUT的信號部分可被捕獲且所有該等DUT可被並行測試，例如，藉由輸入時間交錯信號部分至VSA 601以供分析(在下文中更加詳細地加以討論)。
參照第7圖，使用第6圖中的DUT 604所產生的同時TX封包707a-d UL3a、UL3b、UL3c、UL3d可藉一經由一或更多個由例如一VSA或一PC的一控制器(圖未示)提供的控制信號(圖未示)被控制的切換電路708被多路複用，因此僅有各該四個TX封包的一部分在一單一封包之總期間內被實際地連續切換。故，例如，對一100毫秒之切換取樣間隔而言，每一TX封包之一部分將由開關708連續轉換而產生一交錯封包709，其信號由原始TX封包707a-d之一序列100毫秒的部分t1、t2、t3、t4組成。此處，此切換方法再一次是說明性而非排他性的。例如，一個1：4開關可被使用，或一對1:2開關可被使用，或一可程式化衰減器可經程式化以實現同一結果。VSA 710接收時間交錯封包709且可經由同步化，例如，依據一或更多個由例如一VSA或一PC的一控制器(圖未示)提供的控制信號(圖未示)分辨出已接收封包之哪一部分由TX封包707a-d中的哪一者提供。對功率量測而言，例如，僅封包的一小部分需要被量測。藉由交錯四TX封包707a-d之小部分，VSA能夠以一0.67毫秒間隔測試所有四個DUT之功率輸出。功率量測是DUT校準之一關鍵組成部分，且通常是較長的測試流程之一。透過與時間交錯捕獲組合的並行測試來縮短校準測試之主要組成部分可對測試時間效率產生一顯著影響。
參照第8圖，此圖式描繪一TX封包可經預定義以容許如第7圖之說明中所描述者同時測試四DUT的一種方式。間隔801之期間為容許有足夠的時間來捕獲及處理用於每一DUT的信號部分來滿足一超長PSD測試之要求的20個槽時間。在間隔802中，由於同一原因，期間同樣是20個槽時間。然而，可能不需要20個時槽。若頻譜性質可在4.25個時槽中被量測，例如，將僅需要17個時槽(即4*4.25)。相似地，若將被進行的測試需要少於全部但多於半個時槽(例如，0.75)，則將需要較少但仍為多重時槽(例如，4*0.75=3個時槽)。在間隔803中，ILPC被驗證，單槽時間足以容許所有四個DUT在該單槽持續期間內被測試。由於通常不能細分該等時槽，故在一單一DUT測試中，將需要為PSD量測指定5個時槽，因此即使在資訊超出最小時槽的情況下，發送時間也不需要隨著被並行測試的裝置數目線性地增加。此一預定義TX序列與頻分或時分多工之組合將實現測試時間的減少。
因此，對於以一時分多工或時分雙工(TDD)方式測試N個發送具有時槽期間I的信號來執行一需要一時間T來完成的測試(例如，PSD)的DUT而言，捕獲信號期間C之期間C將是：當該測試時間T大於該時槽期間I之一部分I/N時，大於或等於該測試時間T；且當該測試時間T小於或等於該時槽期間I之此部分I/N時，小於或等於該時槽期間I之此部分I/N。
進一步依據目前申請專利之發明，上文所討論的TDD或依序捕獲技術可與FDD捕獲組合，其中多重DUT並行但在不同頻率下運作。
參照第9A圖，當在一FDD運作中執行頻譜量測時，來自相鄰(頻率)DUT的信號通常將與被採用作為測試目的之頻率範圍部分重疊。然而，參照第9B-9C圖，藉由對接收信號(第9B圖)應用一濾波器函數，例如，藉由利用硬體濾波器來將信號濾波或利用數位濾波器來處理該等信號，濾波信號(第9C圖)可被產生以供評估帶內信號性質，例如誤差向量幅度(EVM)等。如在下文中更加詳細地加以討論者，這可用以進一步減少測試時間。
如上文所討論者，功率量測已經可在一單一時槽內使用TDD被執行。儘管也可以藉由濾波信號使用FDD來量測個別DUT之信號功率，但由於濾波該等信號所需要的分析通常將比簡單的功率量測複雜且測試期間無變化(一個時槽)，故其可能不比使用TDD有利。
然而，對EVM測試而言，由於典型的信號品質，通常需要一完整的時槽或更多時槽來執行必要的量測，此量測可使用FDD藉由在不同頻率下並行操作DUT來執行。(然而，其他量測，例如，遮蔽，通常將需要使用TDD，如上文所討論者，其提供在多重時槽上操作的潛在益處)。
參照第10A圖，例如，在頻率f1及f3下各需要3.5個時槽的二遮蔽量測，及在頻率f1、f2、f3及f4下各需要一完整時槽的四個EVM量測被描繪。為了以下範例的目的，四DUT DUT 1、DUT 2、DUT 3、DUT 4(圖未示)正在運作，且在第一範例中，它們相繼地運作。遮蔽量測將需要四個時槽，如上文所討論者。
參照第10B圖，使用TDD技術，如上文所討論者，可使每一遮蔽量測減少至14個時槽(4*3.5)，但是每一EVM量測將需要與完整的順序量測相同的時間。然而，某些優勢仍然可由現在執行下游並行分析的能力而被實現，如上文所討論者。
參照第10C圖，上文所討論的TDD及FDD技術可被組合。該遮蔽使用TDD技術被量測，從而佔用14個時槽(4*3.5)。EVM使用FDD技術，隨同頻率旋轉(f1,f2,f3,f4,f1,f2,f3,f4,...)被量測。例如，DUT 1將首先在f1下，接著在f2下，接著在f3下且接著在f4下量測EVM。同時，DUT 2將首先在f2下，接著在f3下，接著在f4下且接著在f1下量測EVM。相似地，DUT 3將首先在f3下，接著在f4下，接著在f1下且接著在f2下量測EVM，且DUT 4將首先在f4下，接著在f1下，接著在f2下且接著在f3下量測EVM。將易於理解的是只要每一DUT不在同一頻率下同時發送，這些頻率序列就可被不同地實施。
這些範例描述一較佳方案，其中所要求的EVM量測數目等於DUT之數目。若要求的EVM量測數目少於DUT之數目，則較大數目(即等於DUT之數目)的EVM量測數目將被要求供擷取較少頻率之下的EVM(假定EVM將在同一頻率下針對所有DUT被量測)。例如，若在例如頻率f1、f2及f3下測試四DUT時要求三EVM量測，則仍將採用四EVM量測擷取三頻率之下的EVM。
儘管實施上文所討論之FDD技術可能更強調DUT硬體。例如，發送四高埠頻率至一儀器中通常將使功率位準增加大約6dB，且除非高儀器線性度可被保持，否則互調變產物將可能產生。然而，在頻率規劃中的最有害的互調變產物可藉由選擇EVM量測之最佳適用頻率來處理。可選擇地，同時被量測的發射器的數目可減少。因此，組合FDD與TDD技術，如上文所討論者，甚至可產生更低的測試時間(假設濾波所花費時間不比以其他方式，例如藉由使用硬體濾波，所獲得的時間優勢長)，然而可能需要更加複雜的測試序列(每一DUT進行一不同的序列)，且應該實行頻率規劃以避免互調變產物影響量測的發送品質或其他需要的量測。
在不背離本發明之範圍及精神下對此發明之結構及操作方法所做的各種不同的其他修改及變更對熟於此技者將是顯而易見的。儘管本發明已與較佳實施例相關聯地加以描述，應理解的是所申請專利之本發明不應不當地被限制於此類特定實施例。以下請求項意圖定義本發明之範圍，且在此等請求項內的結構及方法暨其等同物意圖由其涵蓋。
101、403、501、604．．．DUT
102、401、601、710．．．VSA
201．．．UL序列之第一部分
202．．．中間功率信號
203．．．5-槽期間
301~303．．．序列
301、302．．．5-槽信號期間/序列
402．．．VSG
404．．．預定義TX序列
602．．．信號路由電路/加和
707a-d．．．TX封包/原始TX封包
708．．．切換電路/開關
709．．．交錯封包/時間交錯封包
801~803．．．間隔
第1圖是一描繪一種用以測試一利用諸如WCDMA的一無線標準的待測裝置(DUT)之發送(TX)功能的習知方法的圖式，其中已發送序列被發送至一向量信號分析器(VSA)以供分析。
第2圖是一描繪一預定義的測試序列的圖式，其中最大功率在5個時槽內被發送；中程功率在5個時槽內被發送；且低功率在5個時槽內被發送。接著，對次75個發生的單槽持續時間而言，信號功率從一高功率等增量逐步降至一低功率極限。
第3圖是一描繪UL封包中的一不同的預定義序列的圖式。此處，最大功率在5個時槽內被發送，中功率在5個時槽內被發送，且一序列單槽功率位準被發送，它們在二特定功率極限之間首先降低接著增加。
第4圖是一描繪一種從一向量信號產生器(VSG)發送一觸發信號的方法的圖式，該信號產生器啟動一被發送至一VSA以供分析的發送序列。
第5圖是一描繪發送同一預定義TX序列的多重DUT的圖式。
第6圖是一描繪多重DUT的圖式，其中一VSG同時發送一觸發信號至每一個DUT，以同步化TX預定義序列。
第7圖是一描繪第6圖之組態中所使用的時分多工的圖式。
第8圖是一描繪一將能夠實現多重DUT之並行測試的預定義TX序列的圖式。
第9A-9C圖描繪用於頻分雙工(FDD)捕獲的信號頻分多工。
第10A-10C圖描繪與FDD捕獲組合來測試多重DUT之時分雙工(TDD)。
601．．．VSA
602．．．信號路由電路/加和
604．．．DUT

Claims (18)

  1. 一種利用一資料信號分析器來測試複數個資料信號發射器的方法，其包含以下步驟：同時從對應的複數N個資料信號發射器接收複數N個封包資料信號，其中每一該複數N個封包資料信號具有各別的複數個連續信號間隔，每一該複數個連續信號間隔具有一信號間隔時間I，且每一該複數N個封包資料信號在相應的每一該各別複數個連續信號間隔期間具有一各別的封包資料信號特性；從每一該複數N個封包資料信號中捕獲該各別的複數個連續信號間隔之一各別部分，以提供該各別的複數個連續信號間隔之複數N個捕獲部分，其中該各別的複數個連續信號間隔之每一該複數N個捕獲部分具有一捕獲信號期間C；及依據一具有一相關聯之測試期間T的信號測試來處理該複數個連續信號間隔之每一該複數N個捕獲部分；其中該捕獲信號期間C為當該測試期間T大於該信號間隔時間I之一部分I/N時大於或等於該測試期間T，且當該測試期間T小於或等於該信號間隔時間I之該部分I/N時小於或等於該信號間隔時間I之該部分I/N。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之方法，其中該各別的複數個連續信號間隔包含各別的複數個連續信號時槽。
  3. 如申請專利範圍第1項所述之方法，其進一步包含由該複數個資料信號發射器來啟動同時發送該對應的複數個封包資料信號。
  4. 如申請專利範圍第1項所述之方法，其進一步包含由該複數個資料信號發射器來啟動同步發送該對應的複數個封包資料信號。
  5. 如申請專利範圍第1項所述之方法，其進一步包含藉由同時發送一觸發信號至每一該複數個資料信號發射器而由該複數個資料信號發射器來啟動發送該對應的複數個封包資料信號。
  6. 如申請專利範圍第1項所述之方法，其中該各別的複數個連續的信號間隔之該複數N個捕獲部分包含各別的複數個連續信號間隔之複數N個時間交錯部分。
  7. 一種利用一資料信號分析器來測試複數個資料信號發射器的方法，其包含以下步驟：同時從對應的複數N個資料信號發射器接收複數N個封包資料信號，其中每一該複數N個封包資料信號具有各別的複數個連續信號間隔，每一該複數個連續信號間隔具有一信號間隔時間I，且每一該複數N個封包資料信號在每一該各別的複數個連續信號間隔期間具有一各別的封包資料信號特性；從每一該複數N個封包資料信號中捕獲該各別的複數個連續信號間隔之一各別部分，以提供該各別的複數個連續信號間隔之複數N個捕獲部分，其中每一該複數個連續信號間隔之每一該複數N個捕獲部分具有一捕獲信號期間C；及依據一具有一相關聯之測試期間T的信號測試來處理該複數個連續信號間隔之每一該複數N個捕獲部分；其中當該測試期間T大於該信號間隔時間I之一部分I/N時，該捕獲信號期間C大於或等於該測試期間T。
  8. 如申請專利範圍第7項所述之方法，其中各別的複數個連續信號間隔包含各別的複數個連續信號時槽。
  9. 如申請專利範圍第7項所述之方法，其進一步包含由該複數個資料信號發射器來啟動同時發送該對應的複數個封包資料信號。
  10. 如申請專利範圍第7項所述之方法，其進一步包含由該複數個資料信號發射器來啟動同步發送該對應的複數個封包資料信號。
  11. 如申請專利範圍第7項所述之方法，其進一步包含藉由同時發送一觸發信號至每一該複數個資料信號發射器而由該複數個資料信號發射器啟動發送該對應的複數個封包資料信號。
  12. 如申請專利範圍第7項所述之方法，其中該各別的複數個連續信號間隔之該等複數N個捕獲部分包含該各別的複數個連續信號間隔之複數N個時間交錯部分。
  13. 一種利用一資料信號分析器來測試複數個資料信號發射器的方法，其包含以下步驟：同時從各別的複數N個資料信號發射器接收複數N個封包資料信號，其中每一該複數N個封包資料信號具有各別的複數個連續信號間隔，每一該複數個連續信號間隔具有一信號間隔時間I，且每一該複數N個封包資料信號在每一該各別的複數個連續信號間隔期間具有一各別的封包資料信號特性；從每一該複數N個封包資料信號中捕獲該各別的複數個連續信號間隔之一各別部分，以提供該各別的複數個連續信號間隔之複數N個捕獲部分，其中該各別的複數個連續信號間隔之該每一複數N個捕獲部分具有一捕獲信號期間C；及依據一具有一相關聯之測試期間T的信號測試來處理該複數個連續信號間隔之每一該複數N個捕獲部分；其中當該測試期間T小於或等於該信號間隔時間I之該部分I/N時，該捕獲信號期間C小於或等於該信號間隔時間I之該部分I/N。
  14. 如申請專利範圍第13項所述之方法，其中該各別的複數個連續信號間隔包含各別的複數個連續信號時槽。
  15. 如申請專利範圍第13項所述之方法，其進一步包含由該複數個資料信號發射器來啟動同時發送該對應的複數個封包資料信號。
  16. 如申請專利範圍第13項所述之方法，其進一步包含由該複數個資料信號發射器來啟動同步發送該對應的複數個封包資料信號。
  17. 如申請專利範圍第13項所述之方法，其進一步包含藉由同時發送一觸發信號至該每一該複數個資料信號發射器而由該複數個資料信號發射器啟動發送對應的複數個封包資料信號。
  18. 如申請專利範圍第13項所述之方法，其中該各別的複數個連續信號間隔之該複數N個捕獲部分包含該各別的複數個連續信號間隔之複數N個時間交錯部分。
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